JP2011018717A - Apparatus and method for resist application - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は被転写体の表面に微細構造を形成するナノインプリント装置において、被転写体の表面にレジストを塗布する装置及びレジストを塗布する方法に関する。更に詳細には、本発明はドーナツ形の円盤状ディスク基板などの被転写体の表面に微細構造を形成するナノインプリント装置において、円盤状ディスク基板の両面に同時にレジストを塗布する装置及びレジストを塗布する方法に関する。 The present invention relates to an apparatus for applying a resist to the surface of a transfer object and a method for applying the resist in a nanoimprint apparatus that forms a fine structure on the surface of the transfer object. More specifically, the present invention relates to a nanoimprint apparatus for forming a fine structure on the surface of a transfer object such as a donut-shaped disk-shaped disk substrate, and a device for simultaneously applying a resist on both sides of the disk-shaped disk substrate and the resist. Regarding the method.
コンピュータなどの各種情報機器の目覚ましい機能向上により、使用者が扱う情報量は増大の一途を辿り、ギガからテラ単位領域に達している。このような環境下において、これまでよりも一層記録密度の高い情報記憶・再生装置やメモリーなどの半導体装置に対する需要が益々増大している。 With the remarkable improvement in functions of various information devices such as computers, the amount of information handled by users is steadily increasing and has reached the tera unit range from giga. Under such circumstances, there is an increasing demand for semiconductor devices such as information storage / reproduction devices and memories having higher recording density than before.
記録密度を増大させるには、一層微細な加工技術が必要となる。露光プロセスを用いた従来の光リソグラフィー法は、一度に大面積を微細加工することができるが、光の波長以下の分解能を持たないため、自ずから光の波長以下(例えば、100nm以下)の微細構造の作製には適さない。光の波長以下の微細構造の加工技術として、電子線を用いた露光技術、X線を用いた露光技術及びイオン線を用いた露光技術などが存在する。しかし、電子線描画装置によるパターン形成は、i線、エキシマレーザ等の光源を使用した一括露光方式によるものと異なって、電子線で描画するパターンが多ければ多いほど、描画(露光)時間がかかる。従って、記録密度が増大するにつれて、微細パターンの形成に要する時間が長くなり、製造スループットが著しく低下する。一方、電子線描画装置によるパターン形成の高速化を図るために、各種形状のマスクを組み合わせてそれらに一括して電子線を照射する一括図形照射法の開発が進められているが、一括図形照射法を使用する電子線描画装置は大型化すると共に、マスクの位置を一層高精度に制御する機構が更に必要になり、描画装置自体のコストが高くなり、結果的に、媒体製造コストが高くなるなどの問題点がある。 In order to increase the recording density, a finer processing technique is required. The conventional photolithographic method using an exposure process can finely process a large area at a time, but since it does not have resolution below the wavelength of light, it naturally has a microstructure below the wavelength of light (for example, 100 nm or less). It is not suitable for making. As a processing technique for a fine structure having a wavelength equal to or less than the wavelength of light, there are an exposure technique using an electron beam, an exposure technique using an X-ray, an exposure technique using an ion beam, and the like. However, the pattern formation by the electron beam drawing apparatus is different from the batch exposure method using a light source such as i-line or excimer laser, and the more patterns to be drawn by the electron beam, the longer the drawing (exposure) time is. . Therefore, as the recording density increases, the time required to form a fine pattern becomes longer, and the manufacturing throughput is significantly reduced. On the other hand, in order to increase the speed of pattern formation by an electron beam lithography system, the development of a collective figure irradiation method that irradiates an electron beam in a batch by combining masks of various shapes is progressing. The size of the electron beam drawing apparatus using the method is increased, and a mechanism for controlling the position of the mask with higher accuracy is further required, which increases the cost of the drawing apparatus itself and consequently increases the medium manufacturing cost. There are problems such as.
光の波長以下の微細構造の加工技術として、従来のような露光技術に代えて、プリント技術による方法が提案されている。例えば、特許文献1には、「ナノインプリントリソグラフィー(NIL)技術」に関する発明が記載されている。ナノインプリントリソグラフィー(NIL)技術は、前もって電子線露光技術等の光の波長以下の微細構造の加工技術を用いて、所定の微細構造パターンを形成した原版(モールド)をレジスト塗布被転写基板に加圧しながら押し当て、原版の微細構造パターンを被転写基板のレジスト層に転写する技術である。原版さえあれば、特別に高価な露光装置は必要無く、通常の印刷機レベルの装置でレプリカを量産できるので、電子線露光技術等に比較してスループットは飛躍的に向上し、製造コストも大幅に低減される。
As a processing technique for a fine structure having a wavelength equal to or less than the wavelength of light, a method using a printing technique has been proposed instead of the conventional exposure technique. For example,
ナノインプリントリソグラフィー(NIL)技術において、レジストとして熱可塑性樹脂を使用する場合、その材料のガラス転移温度(Tg)近傍又はそれ以上の温度に上げて加圧して転写する。この方式は熱転写方式と呼ばれる。熱転写方式は熱可塑性の樹脂であれば汎用の樹脂を広範に使用できる利点がある。これに対し、レジストとして感光性樹脂を使用する場合、紫外線などの光を曝露すると硬化する光硬化性樹脂により転写する。この方式は光転写方式と呼ばれる。 In the case of using a thermoplastic resin as a resist in the nanoimprint lithography (NIL) technique, the material is transferred by pressurizing it at a temperature near or above the glass transition temperature (Tg) of the material. This method is called a thermal transfer method. The thermal transfer method has an advantage that a general-purpose resin can be widely used as long as it is a thermoplastic resin. On the other hand, when using a photosensitive resin as a resist, it transfers with the photocurable resin which hardens | cures when exposed to light such as ultraviolet rays. This method is called an optical transfer method.
光転写方式のナノインプリント加工法では、特殊な光硬化型の樹脂を用いる必要があるが、熱転写方式と比較して、転写印刷版や被印刷部材の熱膨張による完成品の寸法誤差を小さくできる利点がある。また、装置上では、加熱機構の装備や、昇温、温度制御、冷却などの付属装置が不要であること、更に、ナノインプリント装置全体としても、断熱などの熱歪み対策のための設計的な配慮が不要となるなどの利点がある。 The photoimprint type nanoimprint processing method requires the use of a special photo-curing resin, but the advantage of reducing the dimensional error of the finished product due to the thermal expansion of the transfer printing plate and printed material compared to the thermal transfer method. There is. In addition, the equipment does not require a heating mechanism or additional devices such as temperature rise, temperature control, and cooling, and the nanoimprint equipment as a whole is also designed with consideration for thermal distortion countermeasures such as heat insulation. There are advantages such as no longer needed.
光転写方式のナノインプリント装置の一例は特許文献2に記載されている。この装置は、紫外線を透過できるスタンパを光硬化性樹脂の塗布された被転写基板に押し当て、上部から紫外線を照射するように構成されている。スタンパの被転写基板押圧面には所定の微細構造パターンが形成されている。 An example of an optical transfer type nanoimprint apparatus is described in Patent Document 2. This apparatus is configured such that a stamper capable of transmitting ultraviolet rays is pressed against a substrate to which a photocurable resin is applied, and ultraviolet rays are irradiated from above. A predetermined fine structure pattern is formed on the transfer substrate pressing surface of the stamper.
図7は、光転写方式のナノインプリント技術による微細構造転写方法の工程を示す模式図である。ステップ(a)において、基板102の上面にレジスト104が塗布された被転写体100を準備し、レジスト104に当接される側に微細パターン106が形成されたスタンパ108を、被転写体100と対峙させる。ステップ(b)において、スタンパ108を被転写体100のレジスト塗布面に押圧させる。ステップ(c)において、スタンパ108の上面から紫外(UV)光を照射し、レジスト104を硬化させる。次いで、ステップ(d)において、スタンパ108を被転写体100から剥離する。斯くして、被転写体100の基板102の表面にパターン層110が形成される。パターン層110はスタンパ108の微細パターン106の反転像である。
FIG. 7 is a schematic diagram showing the steps of a fine structure transfer method using a light transfer type nanoimprint technique. In step (a), a
スタンパ108は光透過性の材料からなる。ガラス、石英又はサファイアなどのような硬質材料若しくは重合体(ポリマー)などのような柔軟で弾力性のある材料から形成できる。基板102はシリコン、ガラス、アルミニウム合金、合成樹脂などの公知慣用の材料からなる。基板102は例えば、HDD、CD又はDVDなどのような中心に貫通穴が形成されたドーナツ形の円盤状ディスク基板などである。基板102の表面には必要に応じて、金属層、樹脂層、酸化膜層などの常用の薄膜を形成し、多層構造体とすることもできる。レジスト104は例えば、合成樹脂材料に感光性物質を添加したものを使用することができる。合成樹脂材料としては例えば、主成分がシクロオレフィンポリマー、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、ポリスチレンポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリ乳酸(PLA)、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリビニルアルコール(PVA)などが使用できる。感光性物質は例えば、過酸化物、アゾ化合物類(例えば、アゾビスイソブチロニトリルなど)、ケトン類(例えば、ベンゾイン、アセトンなど)、ジアゾアミノベンゼン、金属系錯塩類、染料類などが挙げられる。レジスト104を基板102に塗布する方法としては例えば、ディスペンス法、スピンコート法又はインクジェット法などが使用できる。ディスペンス法は基板102をレジスト溶液に直接浸漬する方法であるが、レジスト膜厚が不均一になるという欠点がある。スピンコート法は基板を裏面から吸着して回転し、中央にレジスト溶液を滴下し、遠心力で全面に塗り広げる方法である。この方法の場合、レジスト溶液が回収端面から裏面に回り込み、両面の均一な塗布が困難であるという欠点がある。また、ディスペンス法やスピンコート法は基板全面にレジストを塗布することはできるが、特定部位にドットパターンのようにレジストを塗布することはできない。インクジェット法はインクジェットプリンタを使用する方法であり、インクジェットヘッドあるいは基板をXY平面で走査しながら、インクジェットヘッドから基板表面にレジストを塗布する。インクジェット法はレジストをドットパターン状に塗布することができ、レジストの塗布量を正確にコントロールでき、しかも必要な所にしか塗布しないのでレジスト溶液の塗布無駄を最大限避けることができる経済的方法である。
The
しかし、従来のインクジェットプリンタでドーナツ形の円盤状ディスク基板にレジストを塗布する場合、片面毎にしか塗布作業ができず、作業効率が低かった。また、インクジェットヘッドあるいは基板をXY平面で走査しながらレジスト104を塗布するので、レジスト104はXY平面に対して直線状に配列され、スタンパ108の微細パターン106が同心円状である場合、このパターンと合致しないレジスト104のスポットが生じてしまうという欠点があった。スタンパ108の微細パターン106と合致しないレジストスポットの存在は結果的に最終製品としての磁気ディスクなどの性能低下をきたすので、スタンパ108の微細パターン106と完全に合致するようにレジスト104を塗布することが強く求められている。
However, when applying a resist to a donut-shaped disk-shaped disk substrate with a conventional ink jet printer, the application work can be performed only on one side, and the work efficiency is low. Further, since the
従って、本発明の目的は、ドーナツ形の円盤状ディスク基板の中心に対して同心円状にレジストのスポットを配列させることができ、かつ基板両面にレジストを同時に塗布できるレジスト塗布装置を提供することである。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a resist coating apparatus capable of arranging resist spots concentrically with respect to the center of a donut-shaped disk-shaped disk substrate and simultaneously applying a resist on both surfaces of the substrate. is there.
本発明の別の目的は、ドーナツ形の円盤状ディスク基板の中心に対して同心円状にレジストのスポットを配列させることができ、かつ基板両面にレジストを同時に塗布できるレジスト塗布方法を提供することである。 Another object of the present invention is to provide a resist coating method in which resist spots can be arranged concentrically with respect to the center of a donut-shaped disk-shaped disk substrate, and a resist can be simultaneously coated on both sides of the substrate. is there.
前記課題は、中心部に貫通穴を有する円盤状ディスク基板の前記貫通穴に挿脱される回転軸を有する円盤状ディスク基板回転モータと、前記円盤状ディスク基板の表面及び裏面の両側に非接触状態で配置される2個のインクジェットヘッドと、前記個のインクジェットヘッドを前記円盤状ディスク基板の半径方向に向かって進退させるためのキャリッジを有するレジスト塗布装置により解決される。 The problem is that a disk-shaped disk substrate rotation motor having a rotation shaft inserted into and removed from the through-hole of a disk-shaped disk substrate having a through-hole at the center, and non-contact on both sides of the front and back surfaces of the disk-shaped disk substrate This is solved by a resist coating apparatus having two inkjet heads arranged in a state and a carriage for moving the individual inkjet heads back and forth in the radial direction of the disk-shaped disk substrate.
前記別の課題は、円盤状ディスク基板回転モータの回転軸に中心部に貫通穴を有する円盤状ディスク基板を挿着し、前記円盤状ディスク基板の表面及び裏面の両側に2個のインクジェットヘッドを非接触状態で配置し、前記円盤状ディスク基板回転モータにより円盤状ディスク基板を回転させながら、前記2個のインクジェットヘッドを前記円盤状ディスク基板の半径方向に進退させることからなるレジスト塗布方法により解決される。 Another problem is that a disk-shaped disk substrate having a through hole at the center is inserted into the rotation axis of the disk-shaped disk substrate rotating motor, and two inkjet heads are installed on both the front and back surfaces of the disk-shaped disk substrate. Solved by a resist coating method which is arranged in a non-contact state and moves the two inkjet heads back and forth in the radial direction of the disk-shaped disk substrate while rotating the disk-shaped disk substrate by the disk-shaped disk substrate rotating motor. Is done.
本発明のレジスト塗布装置及びレジスト塗布方法によれば、中心部に貫通穴を有する円盤状ディスク基板を回転させながら、ディスク基板の表面及び裏面の両側に配置された2個のインクジェットヘッドをディスク基板の半径方向に進退させることにより、レジストを円盤状ディスク基板に対して同心円状に塗布することができ、しかも、ディスク基板の表面及び裏面の両面に同時にレジストを塗布することができる。その結果、レジストの塗布パターンをスタンパの微細パターンに完全に一致させることができるばかりか、塗布作業に要する時間を半減させることができる。 According to the resist coating apparatus and the resist coating method of the present invention, two inkjet heads arranged on both the front and back sides of a disk substrate are rotated while rotating a disk-shaped disk substrate having a through hole in the center. The resist can be applied concentrically with respect to the disk-like disk substrate by advancing and retreating in the radial direction, and the resist can be simultaneously applied to both the front and back surfaces of the disk substrate. As a result, the resist coating pattern can be completely matched with the fine pattern of the stamper, and the time required for the coating operation can be halved.
以下、図面を参照しながら本発明のレジスト塗布装置の実施態様について具体的に説明する。図1は本発明のレジスト塗布装置の一例の平面図であり、図2は正面図である。本発明のレジスト塗布装置1は円盤状ディスク基板3を回転させるためのモータ5を有する。モータ5は回転軸7を有する。図示されているように、回転軸7はモータ5の外部に突出されており、その先端部に円盤状ディスク基板3を着脱可能に保持する。回転軸7にはエンコーダ15が配設されている。エンコーダ15は回転軸7の回転基準位置と角度を検出するために使用される。モータ5はモータ取付台座9に取付られている。モータ5は円盤状ディスク基板3を保持して精密に回転させることができるものであり、例えば、スピンドルモータやステッピングモータなどを使用できる。円盤状ディスク基板3を両側から非接触の状態で挟むように2個のインクジェットヘッド11a及び11bを配置する。インクジェットヘッド11a及び11bは、互いに離間された支持アーム13a及び13bによりそれぞれ支持されている。円盤状ディスク基板3は支持アーム13a及び13bの隙間に回転しながら入り込むことができる。支持アーム13a及び13bはインクジェットプリンタ本体15に固設されている。図示されていないが、各インクジェットヘッドにレジスト溶液を供給するためのレジスト溶液供給タンクを支持アーム13a及び13bに装備することができる。しかし、レジスト溶液供給タンクはその他の箇所に配置することもできる。支持アーム13a及び13bはキャリッジ(進退機構)17に載架されている。キャリッジ17は円盤状ディスク基板3の半径方向に向かってインクジェットヘッド11a及び11bを進退させることができる。キャリッジ17としては例えば、リニアモータ、サーボモータ、ステッピングモータ、ボールスクリューなど直線往復運動可能なキャリッジであれば全て使用することができる。
Hereinafter, embodiments of the resist coating apparatus of the present invention will be specifically described with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view of an example of the resist coating apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a front view. The resist
インクジェットでディスク面に単位面積当たりのレジスト塗布量を均一に行う方法には次の2つの方法がある。
(A)一つの円周上の塗布ドット数を同じとし、半径により1ドットの塗布量を調整する方法。この方法の場合、ディスク中心から半径方向外方に向かうにつれて円周が大きくなるため、一つの円周上の塗布ドット数を同じにすると、外周寄りではドット間隔も大きくなる。このため、外周寄りでは1ドットの塗布量を多くする。
(B)ディスクを回転しながらキャリッジをスパイラル走査により移動し、スパイラル軌跡上に等時間間隔で噴射信号を発生する。この時、キャリッジ移動によるヘッド位置と、スピンドル回転数は周速が一定となるように制御する。スパイラル軌跡上に等時間間隔でレジスト塗布されるので、1ドットのレジスト塗布量は同じで、ドット間隔は内周になるほど半径に反比例して大きくなる。
There are the following two methods for uniformly applying the resist coating amount per unit area on the disk surface by inkjet.
(A) A method in which the number of coating dots on one circumference is the same and the coating amount of one dot is adjusted by the radius. In the case of this method, the circumference increases from the center of the disk toward the outer side in the radial direction. Therefore, if the number of applied dots on one circumference is the same, the dot interval also increases near the outer periphery. For this reason, the application amount of 1 dot is increased near the outer periphery.
(B) The carriage is moved by spiral scanning while rotating the disk, and ejection signals are generated at equal time intervals on the spiral trajectory. At this time, the head position by the carriage movement and the spindle rotation speed are controlled so that the peripheral speed is constant. Since resist is applied on the spiral trajectory at equal time intervals, the resist application amount of one dot is the same, and the dot interval increases in inverse proportion to the radius as it becomes the inner periphery.
図3は本発明によるレジスト塗布方法の制御の一例を示すブロック図である。図3を参照しながら、円盤状ディスク基板の裏表両面にレジスト溶液を同時に同心円状に塗布する動作をステップ順に説明する。
(1)先ず、円盤状ディスク基板3をスピンドルモータ5の回転軸7に装着する。エンコーダ15から回転軸7の回転基準位置信号(インデックス信号)と角度信号を制御回路19に送信する。制御回路19からキャリッジ17をレジスト塗布開始地点(例えば、円盤状ディスク基板3の所定の半径位置)に移動させる信号が送信され、キャリッジ17が所定位置に配置されると、キャリッジ17が所定位置に配置したことを示す信号が制御回路に送信される。
(2)その後、制御回路19からスピンドルモータ5に回転駆動信号が送信され、所定回転数でスピンドルを回転させる。前記角度信号を基にして制御回路19からインクジェットヘッド11a及び11bにレジスト溶液噴射開始信号が送信され、予め設定された角度ピッチ毎にレジスト溶液を円盤状ディスク基板3の両面に噴射塗布する。
(3)スピンドルモータ5の駆動中、回転軸7の回転基準位置信号(インデックス信号)と角度信号はエンコーダ15により制御回路に送信される。所定の半径位置について円盤状ディスク基板3が1回転されたか否かをエンコーダ15により検出する。1回転されていない場合、ステップ2に戻る。エンコーダ15が、円盤状ディスク基板3が1回転したことを検出し、その信号を制御回路19に送信すると、制御回路19はインクジェットヘッド11a及び11bにレジスト溶液噴射停止信号を送信し、スピンドルモータ5の回転停止信号を送信する。
(4)制御回路19は次の半径位置に応じて、インクジェット駆動電圧を変更し、レジスト溶液噴射量を変更する。半径が変わることによる等角度の円周距離が異なることの補正をするためである。これによりインクジェットによりディスク面に単位面積当たりの塗布を均一に行うことが可能になる。例えば、円盤状ディスク基板3の外周縁寄りは円周が大きくなるので中心寄りの小さな円周に比べてドット数が少なくなるので、1個のドットについてレジスト溶液噴射量を大きくする。
(5)次いで、制御回路19は、キャリッジ17を円盤状ディスク基板3の所定方向にヘッドの横方向距離分(1ピッチ分もしくは印字幅分)だけ移動させる信号を送信する。
(6)キャリッジ17が1ピッチ分移動したことが検出されると、前記(2)〜(5)の操作が繰り返される。
(7)エンコーダ15は、キャリッジ17が塗布終了地点に到達したか否かを検出する。キャリッジ17が塗布終了地点に到達していない場合、キャリッジ17が塗布終了地点に到達するまで、すなわち、円盤状ディスク基板3の塗布範囲全てにレジストが塗布されるまで、前記(2)〜(6)の操作を繰り返す。キャリッジ17が塗布終了地点に到達している場合、制御回路19はキャリッジ17を駆動して、インクジェットヘッド11a及び11bを円盤状ディスク基板3の外周縁よりも半径方向外方まで後退させる。斯くして、円盤状ディスク基板の裏表両面にレジストを同時に同心円状に塗布することができる。キャリッジ17は円盤状ディスク基板3の外周縁から中心へ向かって移動させることもできるし、あるいは、逆に円盤状ディスク基板3の中心から外周縁へ向かって移動させることもできる。
FIG. 3 is a block diagram showing an example of control of the resist coating method according to the present invention. With reference to FIG. 3, the operation of applying the resist solution simultaneously and concentrically on the back and front surfaces of the disk-shaped disk substrate will be described in the order of steps.
(1) First, the disk-shaped
(2) Thereafter, a rotation drive signal is transmitted from the
(3) While the
(4) The
(5) Next, the
(6) When it is detected that the
(7) The
別法として、図3に示される制御回路により、インクジェットヘッド11a及び11bの直線的往復運動と、円盤状ディスク3の回転運動とを連係させることによっても円盤状ディスク基板の裏表両面にレジストを同時に同心円状に塗布することができる。この場合、モータとしてはスピンドルモータに代えてステッピングモータを使用する。例えば、
(1)円盤状ディスク基板3がステッピングモータ5の回転軸7に装着された後、キャリッジ17がインクジェットヘッド11a及び11bを円盤状ディスク基板3のレジスト塗布開始地点(例えば、円盤状ディスク基板3の所定の半径位置)に配置されたことを示す信号がキャリッジ17から制御回路19に送信される。
(2)次いで、制御回路19からインクジェットヘッド11a及び11bにレジスト溶液噴射開始信号が送信され、所定箇所にレジスト溶液を塗布する。
(3)次いで、制御回路19は次の半径位置に応じて、インクジェット駆動電圧を変更し、レジスト溶液噴射量を変更する。半径が変わることによる等角度の円周距離が異なることの補正をするためである。これによりインクジェットによりディスク面に単位面積当たりの塗布を均一に行うことが可能になる。例えば、円盤状ディスク基板3の外周縁寄りは円周が大きくなるので中心寄りの小さな円周に比べてドット数が少なくなるので、1個のドットについてレジスト溶液噴射量を大きくする。
(4)次いで、制御回路19はキャリッジ17を1ピッチ分だけ所定方向(即ち、半径方向内方又は外方)に移動させ、移動地点で、前記(3)で変更されたレジスト溶液噴射量に基づき、インクジェットヘッド11a及び11bにレジスト溶液噴射開始信号を送信し、レジスト溶液を塗布する。
(5)制御回路19はキャリッジ17が一つの半径方向について塗布開始地点から塗布終了地点にまで移動したか否かを検出する。塗布終了地点にまで達していない場合、制御回路19は前記(2)〜(4)の操作を繰り返す。
(6)キャリッジ17が塗布終了地点にまで達している場合、制御回路19はキャリッジ17を塗布開始地点に戻す信号を送信し、同時に、ステッピングモータ5に回転信号が送信され、回転軸7を所定の角度だけ回転させ、エンコーダ15は回転軸7の回転基準位置信号(インデックス信号)と角度信号を制御回路19に送信する。
(7)エンコーダ15は、円盤状ディスク基板3が1回転したか否かを検出する。円盤状ディスク基板3が1回転していない場合、前記(2)〜(6)の操作を繰り返す。円盤状ディスク基板3が1回転している場合、制御回路19はキャリッジ17を駆動して、インクジェットヘッド11a及び11bを円盤状ディスク基板3の外周縁よりも半径方向外方まで後退させる。斯くして、円盤状ディスク基板の裏表両面にレジストを同時に同心円状に塗布することができる。
Alternatively, the control circuit shown in FIG. 3 can simultaneously apply resist to both the front and back surfaces of the disk-shaped disk substrate by linking the linear reciprocation of the ink jet heads 11a and 11b and the rotational movement of the disk-shaped
(1) After the disk-shaped
(2) Next, a resist solution ejection start signal is transmitted from the
(3) Next, the
(4) Next, the
(5) The
(6) When the
(7) The
図4(a)は従来技術により塗布されたレジストパターンの部分拡大概要平面図であり、図4(b)は本発明のレジスト塗布装置により塗布されたレジストパターンの部分拡大概要平面図である。図4(a)に示されるように、従来のインクジェットプリンタで円盤状ディスク基板にレジストを塗布する場合、インクジェットヘッドあるいは基板をXY平面で走査しながらレジスト104を塗布するので、レジスト104はXY平面に対して直線状に配列され、円盤状ディスク基板のトラック(図中の仮想線)から外れてしまうレジスト104が多数発生する。従って、スタンパ108によるパターン転写も不良となる。これに対して、図4(b)に示されるように、本発明のレジスト塗布装置によれば、レジスト104は円盤状ディスク基板のトラック(図中の仮想線)に沿って同心円状に配列される。これにより、スタンパ108による正確なパターン転写を確保することができる。
4A is a partially enlarged schematic plan view of a resist pattern applied by a conventional technique, and FIG. 4B is a partially enlarged schematic plan view of a resist pattern applied by the resist coating apparatus of the present invention. As shown in FIG. 4A, when applying a resist to a disk-shaped disk substrate with a conventional ink jet printer, the resist 104 is applied while scanning the ink jet head or the substrate in the XY plane. A large number of resists 104 are generated which are linearly arranged and deviate from the tracks (imaginary lines in the drawing) of the disk-shaped disk substrate. Therefore, pattern transfer by the
以上、本発明のレジスト塗布装置及びレジスト塗布方法の好ましい実施態様について説明してきたが、本発明は例示された実施態様に限定されず、様々な変更を為すことが可能である。例えば、図1及び図2では円盤状ディスク基板を垂直に保持して回転させているが、図5に示されるように円盤状ディスク基板3を水平に保持して回転させる実施態様も可能である。また、レジスト104は図4に示されるようなドットパターンだけでなく、スタンパ108の微細パターン106の形状に合わせて、例えば、図6に示されるような連続的な円環状レジストパターンに塗布することもできる。
The preferred embodiments of the resist coating apparatus and the resist coating method of the present invention have been described above. However, the present invention is not limited to the illustrated embodiments, and various modifications can be made. For example, in FIGS. 1 and 2, the disk-shaped disk substrate is held and rotated vertically, but an embodiment in which the disk-shaped
また、本発明のレジスト塗布装置は円盤状ディスク基板の表面と裏面の両面に同時にレジストを塗布することができるが、何れか一方の面にだけレジストを塗布するような使用態様も可能である。 In addition, the resist coating apparatus of the present invention can simultaneously apply a resist to both the front and back surfaces of a disk-shaped disk substrate, but a use mode in which the resist is applied to only one of the surfaces is also possible.
1,1A 本発明のレジスト塗布装置
3 円盤状ディスク基板
5 モータ
7 回転軸
9 モータ取付台座
11a,11b インクジェットヘッド
13a,13b 支持アーム
15 エンコーダ
17 キャリッジ
19 制御回路
100 被転写体
102 基板
104 レジスト
106 微細パターン
108 スタンパ
110 パターン層
DESCRIPTION OF
15
Claims (8)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009161494A JP2011018717A (en) | 2009-07-08 | 2009-07-08 | Apparatus and method for resist application |
US12/826,723 US20110008535A1 (en) | 2009-07-08 | 2010-06-30 | Apparatus and method for resist application |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009161494A JP2011018717A (en) | 2009-07-08 | 2009-07-08 | Apparatus and method for resist application |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011018717A true JP2011018717A (en) | 2011-01-27 |
Family
ID=43427682
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009161494A Pending JP2011018717A (en) | 2009-07-08 | 2009-07-08 | Apparatus and method for resist application |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20110008535A1 (en) |
JP (1) | JP2011018717A (en) |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20110008535A1 (en) | 2011-01-13 |
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---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A02 | Decision of refusal |
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