JP2010272607A - Projection device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、半導体レーザを用いる光源装置、光源不良検出プログラム、光源不良検出方法及び前記光源装置を用いた投影装置に関するものである。 The present invention relates to a light source device using a semiconductor laser, a light source failure detection program, a light source failure detection method, and a projection device using the light source device.
従来より、投影装置等の光源を要する装置においては、光源として半導体レーザを用いることが行われており、さらに複数の半導体レーザを用いることにより、当該装置において必要な光量を確保することも行われている。このように、複数の半導体レーザを用いる場合、並列接続するとレーザ毎に点灯制御部を設けなければならず、並列接続する半導体レーザの数に応じた複数の点灯制御部が必要となる。そこで、できるだけ点灯制御部の数を減らして点灯制御を可能にすべく、複数の半導体レーザを直列接続して用いた投影装置も提案されるに至っている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, in an apparatus that requires a light source, such as a projection apparatus, a semiconductor laser is used as the light source. Further, by using a plurality of semiconductor lasers, a necessary amount of light can be secured in the apparatus. ing. As described above, when a plurality of semiconductor lasers are used, a lighting control unit must be provided for each laser when connected in parallel, and a plurality of lighting control units corresponding to the number of semiconductor lasers connected in parallel are required. Accordingly, a projection apparatus using a plurality of semiconductor lasers connected in series has been proposed in order to reduce the number of lighting control units as much as possible to enable lighting control (see, for example, Patent Document 1).
前記背景技術に示したように、複数の半導体レーザを直列接続して用いた場合、その中に点灯しないレーザがあると、当該レーザは発光することなく発熱する。したがって、発光することなく発熱することにより、光量及び電力ロスが生ずるのみならず、他のレーザへの温度影響も生ずるという問題が生ずる。よって、これらの問題の発生を未然に防止するためには、直列接続された複数の半導体レーザにおいて不点灯となったレーザの有無を検知することが必要である。 As shown in the background art, when a plurality of semiconductor lasers are connected in series and there is a laser that does not turn on, the laser generates heat without emitting light. Therefore, there is a problem that not only light quantity and power loss occur but also temperature influence on other lasers occurs due to heat generation without emitting light. Therefore, in order to prevent the occurrence of these problems, it is necessary to detect the presence / absence of a laser that has become unlit in a plurality of semiconductor lasers connected in series.
しかしながら、半導体レーザはLEDなどと異なり、直列接続された複数個のうち、いずれかが消灯しても回路として機能することから、回路として機能しているか否かにより不点灯レーザの有無を判断することはできない。 However, unlike an LED or the like, a semiconductor laser functions as a circuit even when one of a plurality of serially connected lights is turned off. Therefore, the presence or absence of a non-lighted laser is determined based on whether or not it functions as a circuit. It is not possible.
また、半導体レーザは使用時間の経過とともに発光量が減少するという特性を有し、さらに発光量が減少しても入力電圧は変化しないという特性も有する。したがって、発光量の減少に基づいて、直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの存在を検出することはできないし、入力電圧に基づいて、前記不点灯レーザの存在を検出することもできない。 Further, the semiconductor laser has a characteristic that the light emission amount decreases with the passage of time of use, and further has a characteristic that the input voltage does not change even if the light emission amount decreases. Therefore, it is impossible to detect the presence of a non-lighting laser in a plurality of semiconductor lasers connected in series based on a decrease in the amount of emitted light, and it is also possible to detect the presence of the non-lighting laser based on an input voltage. Can not.
無論、直列接続されたレーザを個別に点灯させる別回路を設けて点灯チェックを行ったり、各レーザに照度センサを配置すれば、直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの存在を検出することはできる。しかし、このように別回路を設けることは回路の複雑化を招くデメリットがあり、また各レーザに照度センサを設けることはレーザを多数用いる場合もあることを考慮すると現実的ではない。 Of course, if there is a separate circuit that turns on the lasers connected in series individually to check lighting, or if an illuminance sensor is placed on each laser, the presence of unlit lasers in multiple semiconductor lasers connected in series is detected. Can do. However, providing such a separate circuit has a demerit that causes circuit complexity, and providing an illuminance sensor for each laser is not practical considering that many lasers may be used.
このため、直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの存在を検出することなく放置し、これにより前述した光量及び電力ロスが生じたり、他のレーザへの温度影響が生じてしまっているのが実情であった。 For this reason, it is left without detecting the presence of a non-lighted laser in a plurality of semiconductor lasers connected in series, which causes the above-mentioned light amount and power loss, and temperature effects on other lasers. It was the actual situation.
本発明は、かかる従来の課題に鑑みてなされたものであり、回路の複雑化等を招くことなく、直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの存在を検出することのできる光源装置、光源不良検出プログラム、光源不良検出方法及び投影装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such a conventional problem, and is a light source device capable of detecting the presence of a non-lighting laser in a plurality of semiconductor lasers connected in series without causing a complicated circuit or the like. An object of the present invention is to provide a light source defect detection program, a light source defect detection method, and a projection apparatus.
前記課題を解決するために請求項1記載の発明に係る光源装置にあっては、直列接続された複数個の半導体レーザを光源として有する光源装置であって、前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段とを備えることを特徴とする。 In order to solve the above-described problem, the light source device according to claim 1 is a light source device having a plurality of semiconductor lasers connected in series as a light source, and each of the light sources has different values of current. A supply means for supplying, a detection means for detecting an output difference value of the light source respectively emitted as the current of the different value is supplied by the supply means, and an initial output difference value detected by the detection means are stored. Based on the comparison result of the comparison means and the comparison means for comparing the initial output difference value stored in the storage means with the output difference value detected by the detection means. And determining means for determining the presence or absence of a non-lighted laser in the plurality of connected semiconductor lasers.
また、請求項2記載の発明に係る光源装置にあっては、前記判断手段により前記不点灯レーザが存在すると判断された場合に、これを報知する不点灯報知手段を備えることを特徴とする。 The light source device according to the second aspect of the invention is characterized by comprising non-lighting notifying means for notifying the non-lighting laser when the determining means determines that the non-lighting laser exists.
また、請求項3記載の発明に係る光源装置にあっては、前記判断手段により前記不点灯レーザが存在すると判断された場合に、前記初期の出力差分値と、前記その後前記検出手段により検出された出力差分値との差分値に基づき、前記不点灯レーザの個数を算出する算出手段を備えることを特徴とする。 In the light source device according to the third aspect of the present invention, when the non-lighting laser is determined to be present by the determination means, the initial output difference value and the detection means thereafter are detected. And calculating means for calculating the number of the unlit lasers based on the difference value with the output difference value.
また、請求項4記載の発明に係る光源装置にあっては、前記算出手段により算出された不点灯個数を報知する不点灯個数報知手段を備えることを特徴とする。 Further, the light source device according to the invention of claim 4 is characterized by further comprising a non-lighting number notifying unit for notifying the number of non-lighting calculated by the calculating unit.
また、請求項5記載の発明に係る光源装置にあっては、前記供給手段は、所定の電流値Iと、この電流値Iを微小電流変化量ΔIだけ変化させた電流値I´を前記光源に供給することを特徴とする。 In the light source device according to the fifth aspect of the present invention, the supply means supplies a predetermined current value I and a current value I ′ obtained by changing the current value I by a minute current change amount ΔI. It is characterized by supplying to.
また、請求項6記載の発明に係る光源装置にあっては、前記初期の出力差分値は、前記複数の半導体レーザが全て点灯しているときに、前記検出手段によって検出された出力差分値であることを特徴とする。 In the light source device according to the invention of claim 6, the initial output difference value is an output difference value detected by the detecting means when all of the plurality of semiconductor lasers are turned on. It is characterized by being.
また、請求項7記載の発明に係る光源装置にあっては、前記光源装置は、直列接続された青色光を射出する複数の半導体レーザを光源として有するとともに、前記光源の光射出方向に、前記青色光を拡散透過する拡散領域と前記青色光を励起光としてそれぞれ赤色、緑色を発光する蛍光体が塗布された蛍光体領域とが円周上に配置されてなる蛍光体ホイールが配置され、当該蛍光体ホイールが所定の速度で回転することによって青色光、赤色光、緑色光をそれぞれ時分割で射出することを特徴とする。 In the light source device according to the invention of claim 7, the light source device includes a plurality of semiconductor lasers emitting blue light connected in series as light sources, and the light source device emits the light in the light emitting direction of the light sources. A phosphor wheel is disposed in which a diffusion region that diffuses and transmits blue light and a phosphor region that is coated with a phosphor that emits red and green light using the blue light as excitation light are arranged on the circumference, Blue light, red light, and green light are emitted in a time division manner by rotating the phosphor wheel at a predetermined speed.
また、請求項8記載の発明に係る光源不良検出プログラムにあっては、直列接続された複数個の半導体レーザを光源として有する光源装置が有するコンピュータを、前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段として機能させることを特徴とする。 In the light source failure detection program according to the eighth aspect of the present invention, a computer having a light source device having a plurality of semiconductor lasers connected in series as a light source supplies currents of different values to the light source. Supply means, detection means for detecting an output difference value of the light source respectively emitted by supplying the current of the different value by the supply means, and storage for storing an initial output difference value detected by the detection means Means, a comparison means for comparing the initial output difference value stored in the storage means with an output difference value detected by the detection means, and the series connection based on the comparison result of the comparison means. Further, the present invention is characterized by functioning as a judging means for judging the presence or absence of a non-lighted laser in a plurality of semiconductor lasers.
また、請求項9記載の発明に係る光源不良検出方法にあっては、直列接続された複数個の半導体レーザを光源として有する光源装置における光源不良検出方法であって、前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給ステップと、この供給ステップによる前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出ステップと、この検出ステップにより検出された初期の出力差分値を記憶する記憶ステップと、この記憶ステップで記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較ステップと、この比較ステップでの比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断ステップとを含むことを特徴とする。
The light source failure detection method according to the invention of
また、請求項10記載の発明に係る投影装置にあっては、発光色の異なる複数の光源を時分割で点灯させて画像を投影する投影装置であって、前記複数の各光源は、直列接続された複数個の半導体レーザで構成され、前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段とを備えることを特徴とする。 The projection device according to the invention of claim 10 is a projection device that projects an image by lighting a plurality of light sources having different emission colors in a time-sharing manner, wherein each of the plurality of light sources is connected in series. A plurality of semiconductor lasers configured to supply different values of current to the light source, and output difference values of the light sources respectively emitted as the different values of current are supplied by the supply unit. Detection means for detecting, storage means for storing the initial output difference value detected by the detection means, the initial output difference value stored in the storage means, and then the output difference detected by the detection means Comparing means for comparing values, and judging means for judging the presence or absence of a non-lighting laser in the plurality of semiconductor lasers connected in series based on the comparison result of the comparing means And features.
本発明によれば、回路の複雑化等を招くことなく、直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの存在を検出することができる。 According to the present invention, it is possible to detect the presence of a non-lighting laser in a plurality of semiconductor lasers connected in series without causing a complicated circuit or the like.
以下、本発明の一実施の形態を図に従って説明する。
図1は、本実施の形態に係る投影装置1の電気的構成を示すブロック図である。この投影装置1は、制御部11、入出力インターフェイス12、画像変換部13、表示エンコーダ14、表示駆動部15等を有するものであって、入出力コネクタ部16から入力された各種規格の画像信号(画像データ)は、入出力インターフェイス12、システムバス17を介して、画像変換部13で表示に適した所定フォーマットの画像信号に統一するように変換された後、表示エンコーダ14に送られる。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing an electrical configuration of the projection apparatus 1 according to the present embodiment. The projection apparatus 1 includes a
表示エンコーダ14は、送られてきた画像信号をビデオRAM18に展開記憶させた上で、このビデオRAM18の記憶内容からビデオ信号を生成して表示駆動部15に出力するものである。
The
表示エンコーダ14からビデオ信号が入力される表示駆動部15は、送られてきたビデオ信号に対応して適宜フレームレートで表示素子としてのDMD19(デジタル・マイクロミラー・デバイス)を駆動する。そして、光源装置20から射出された光線束を、光源側光学系を介してDMD19に入射することにより、DMD19の反射光で光像を形成し、投影側光学系とする可動レンズ群21を介して図示しないスクリーンに画像を投影表示する。この投影側光学系の可動レンズ群21は、レンズモータ22によりズーム調整やフォーカス調整のための駆動が行われる。
A
画像圧縮/伸張部23は、画像信号における輝度信号及び色差信号をADTC及びハフマン符号化等の処理により、データ圧縮して着脱自在な記録媒体であるメモリカード24に書き込む記録処理や、メモリカード24に記録された画像データを読み出し、一連の動画を構成する個々の画像データを1フレーム単位で伸張して画像変換部13を介して表示エンコーダ14に送り、メモリカード24に記憶された画像データに基づいて動画等の表示を可能にするものである。
The image compression /
制御部11は、投影装置1内における各回路の動作を制御するものであって、CPU及びその周辺回路、ROM111、RAM112等で構成されている。ROM111には、各種セッティング等のプログラム、後述するフローチャートにより示すプログラムやデータ等が予め記憶されており、RAM112は、ワークメモリ等として使用される。
The
キー/インジケータ部25は、本体ケース等に設けられているメインキー及びインジケータ等により構成され、その操作信号は制御部11に送出される。また、リモートコントローラからのキー操作信号は、Ir受信部26で受信され、Ir処理部27で復調されてコード信号が制御部11に送られる。
The key /
制御部11には、システムバス17を介して音声処理部30が接続されており、音声処理部30はPCM音源等の音源回路を備え、投影モード及び再生モード時には、音声データをアナログ化し、スピーカ31を駆動して拡声放音させることができる。
An
前記光源装置20は、R(赤)色を発光する赤色レーザ20R、G(緑)色を発光する緑色レーザ20G、及びB(青)色を発光する青色レーザ20Bで構成されている。制御部11は、光源制御回路32を制御することにより、画像信号に応じて各レーザ20R、20G、20Bを時分割制御する。
The
また、これら赤色レーザ20R、緑色レーザ20G、青色レーザ20Bの近傍には、対応する照度センサ33R、33G、33Bが設けられている。これら照度センサ33R、33G、33Bは、対応する各レーザ20R、20G、20Bの照度を検出し、図示しない回路を介して光出力(W)として前記制御部11に供給するものである。また、各レーザ20R、20G、20Bは、図2に示すように、第1半導体レーザ201、第2半導体レーザ202、及び第3半導体レーザ203を直列接続して構成されている。
In addition,
なお、半導体レーザは、前述のように使用時間の経過とともに発光量が減少する(経年劣化)という特性を有し、また、この発光量が減少する特性も個々の半導体レーザ毎に異なる。したがって、例えば図3に示すように、使用時間t=0のとき第1〜第3半導体レーザ201〜203が図示した特性であったとしても、使用時間t=t1のときには、発光量(光出力)が減少し、しかも第1及び第2半導体レーザ201、202に比べて、第3半導体レーザ203の発光量が大幅に減少する場合も発生し得る。また、この図示した第3半導体レーザ203のように、発光量の減少に伴って発光動作を開始可能な電流値が所定の動作電流値I0を下回ったとき、当該半導体レーザ(第3半導体レーザ203)は不点灯となる。但し、電流−光出力特性(変化率)、つまり図3における各特性線の傾きは同一である。
As described above, the semiconductor laser has a characteristic that the amount of light emission decreases with the passage of time of use (aging deterioration), and the characteristic that the amount of light emission decreases varies from one semiconductor laser to another. Therefore, for example, as shown in FIG. 3, even if the first to
以上の構成に係る本実施の形態において、投影装置1の制御部11は、ROM111に記憶されたプログラムに基づき、キー/インジケータ部25に設けられているメインキーが操作されて電源が投入される都度、図4に示すフローチャートに従って処理を実行する。すなわち、本実施の形態においては、赤色レーザ20R、緑色レーザ20G及び青色レーザ20Bが用いられているが、先ず赤色レーザ20Rに対する処理を実行すべく、赤色レーザ20Rを選択する(ステップS1)。
In the present embodiment having the above configuration, the
次に、光源制御回路32を動作させて、赤色レーザ20R(直列接続された第1〜第3半導体レーザ201〜203)の電流値を図5に示すように所定幅ΔI変化させ、かつ照度センサ33Rを動作させて、このときの光出力変化値ΔWを照度センサ33Rにより測定する(ステップS2)。より具体的には、図6のサブルーチンに示すように、先ず図5の電流値I1における赤色レーザ20Rの光出力W1を測定する(ステップS201)。次に、I2=I1+ΔIである電流値I2において、光出力W2を測定し(ステップS202)、しかる後に光出力W1とW2の差(W1−W2)により、光出力変化値ΔWを算出する(ステップS203)。なお、電流値I2は、動作電流値I0と等しく、I2=I0である。
Next, the light
そして、図4のフローチャートにおいてステップS3では、基準光出力変化値ΔW0がRAM112に記憶されているか否かを判断する。この基準光出力変化値ΔW0は、当該投影装置1の最初の使用開始時、あるいは後述するように不点灯の半導体レーザが発生したレーザを修繕し、リセットした後の使用開始時における前記光出力変化値ΔWの実測値である。したがって、この投影装置1において初めて電源投入がなされた場合や、修繕後リセットされた場合には、基準光出力変化値ΔW0が記憶されていない状態にある。この場合にはステップS3の判断がNOとなり、ステップS4に進んでステップS2で算出した光出力変化値ΔWを基準光出力変化値ΔW0として記憶する(ステップS4)。
In step S3 in the flowchart of FIG. 4, it is determined whether or not the reference light output change value ΔW0 is stored in the
よって、図7に示すように、この投影装置1における初回の電源投入、あるいはリセット後初回の電源投入が「t=0」の時点で行われたとすると、この「t=0」の時点で測定された光出力変化値が基準光出力変化値ΔW0として記憶されることとなる。 Therefore, as shown in FIG. 7, if the first power-on of the projection apparatus 1 or the first power-on after reset is performed at the time “t = 0”, the measurement is performed at the time “t = 0”. The changed light output change value is stored as the reference light output change value ΔW0.
また、この投影装置1において既に基準光出力変化値ΔW0が記憶されている場合には、この記憶されている基準光出力変化値ΔW0と今回の電源投入時に測定した光出力変化値ΔWとに差があるか否かを判断する(ステップS5)。このとき、図3において説明したように、半導体レーザは経年劣化により発光量は減少し、光出力値Wが立ち上がるのに必要な電流値Iが大きくなるが、電流−光出力特性(変化率)、つまり図3における各特性線の傾きは同一である。したがって、使用時間が経過しても、第1〜第3半導体レーザ201〜203が全て点灯している限りは、図7に一点鎖線Lで示すように、電流−光出力特性(変化率)は「t=0」の時点と同一であり、一点鎖線Lは「t=0」の時点の特性線L0と平行である。よって、使用時間が経過が経過しても、第1〜第3半導体レーザ201〜203が全て点灯している限りは、測定した今回の光出力変化値ΔWは基準光出力変化値ΔW0と等しく、「ΔW0=ΔW」となり、ステップS5の判断はNOとなる。
If the reference light output change value ΔW0 is already stored in the projection apparatus 1, the difference between the stored reference light output change value ΔW0 and the light output change value ΔW measured at the time of power-on this time is different. It is determined whether or not there is (step S5). At this time, as described with reference to FIG. 3, the light emission amount of the semiconductor laser decreases due to aging, and the current value I required for the light output value W to rise increases, but the current-light output characteristic (rate of change). That is, the inclination of each characteristic line in FIG. 3 is the same. Therefore, as long as all of the first to
しかし、第1〜第3半導体レーザ201〜203のうちのいずれか一つでも、例えば図3に示したように第3半導体レーザ203が不点灯になり、図7に示すように「t=t1」の時点で、不点灯の第3半導体レーザ203が存在する赤色レーザ20Rの光出力変化値ΔWを測定したとする。すると、3個中1個の半導体レーザが不点灯となることにより、同図に示すように、電流−光出力特性(変化率)は「t=0」の時点の特性線L0よりも勾配の少ない特性線Lt1となる。したがって、「t=t1」の時点でステップS2で測定された出力変化値ΔWは、図7に示すように、基準光出力変化値ΔW0よりも小さくなり、「ΔW0≠ΔW」となってステップS5の判断はYESとなる。
However, in any one of the first to
つまり、このステップS5の判断がYESとなることにより、回路の複雑化等を招くことなく、直列接続された複数個の半導体レーザ201〜203における不点灯レーザの存在を検出することができる。
That is, when the determination in step S5 is YES, it is possible to detect the presence of non-lighted lasers in the plurality of
そして、このように半導体レーザ201〜203における不点灯レーザの存在を検出したならば、ステップS5からステップS6に進み、「ΔW0−ΔW」の差分値から、直列接続された3個の半導体レーザにおける不点灯個数を算出する(ステップS6)。
つまり、
ΔW0−ΔW=1/3ΔW0であれば、不点灯個数=1
ΔW0−ΔW=2/3ΔW0であれば、不点灯個数=2
ΔW0−ΔW=3/3ΔW0=ΔW0であれば、不点灯個数=3
である。
If the presence of the non-lighting laser in the
That means
If ΔW0−ΔW = 1 / 3ΔW0, the number of non-lighting = 1
If ΔW0−ΔW = 2 / 3ΔW0, the number of non-lighting = 2
If ΔW0−ΔW = 3 / 3ΔW0 = ΔW0, the number of non-lighting = 3
It is.
そして、この不点灯個数を算出したならば、この算出した不点灯個数が許容範囲内であるか否かを判断する(ステップS7)。不点灯個数が許容範囲内(例えば1個)である場合には、ステップS11に進む。また、不点灯個数が許容範囲を超える場合には、キー/インジケータ部25のインジケータを動作させて不点灯の警告報知を行う(ステップS8)。したがって、ユーザはこの警告報知により、不点灯レーザの発生を知って、早期に対処することができる。
If the number of non-lighting is calculated, it is determined whether or not the calculated number of non-lighting is within an allowable range (step S7). If the number of non-lighting is within an allowable range (for example, 1), the process proceeds to step S11. On the other hand, if the number of non-lighting exceeds the allowable range, the indicator of the key /
しかも、ステップS6では、不点灯個数を算出していることから、不点灯の警告報知に際しては、不点灯個数も報知することができ、これによりユーザはレーザの不点灯個数を知ることもでき、適切な対応が可能となる。引き続き、ユーザによるキー/インジケータ部25にての警告確認動作があったか否かを判断し(ステップS9)、警告確認動作があったならば警告報知を終了する(ステップS10)。 In addition, in step S6, since the number of non-lighting is calculated, when notifying the non-lighting, it is possible to notify the number of non-lighting, so that the user can know the number of non-lighting of the laser, Appropriate response is possible. Subsequently, it is determined whether or not a warning confirmation operation has been performed by the user at the key / indicator unit 25 (step S9). If there is a warning confirmation operation, the warning notification is terminated (step S10).
しかる後に、以上に説明したステップS1〜S10の処理を、赤色レーザ20R、緑色レーザ20G、青色レーザ20Bの全てに対して実行終了したか否かを判断する(ステップS11)。実行終了していない場合には、他のレーザを選択して(ステップS12)、ステップS1からの処理を繰り返す。これにより、全てのレーザ20R、20G、20に対して、直列接続された半導体レーザ201〜203における不点灯の検出、及び不点灯個数の検出を行うことができる。そして、全てのレーザ20R、20G、20に対してステップS1〜S10の処理の実行を終了したならば、レーザ20R、20G、20Bを時分割制御するとともに、各部を制御して投影を開始する。
Thereafter, it is determined whether or not the processing of steps S1 to S10 described above has been completed for all of the
なお、本実施の形態においては、直列接続された半導体レーザの不点灯個数まで算出するようにしたが、不点灯個数を算出することなく、直列接続された半導体レーザ中における不点灯レーザを単に検出して、これを報知するのみであってもよい。また、本発明を投影装置に適用した場合を示したが、投影装置に限ることなく半導体レーザを光源として用いる各種装置に適用することができる。 In this embodiment, the number of semiconductor lasers connected in series is calculated up to the number of non-lighted semiconductor lasers, but a non-lighted laser in a series-connected semiconductor laser is simply detected without calculating the number of non-lighted semiconductor lasers. Then, only this may be notified. Moreover, although the case where this invention was applied to the projection apparatus was shown, it can apply not only to a projection apparatus but to the various apparatuses which use a semiconductor laser as a light source.
また、本実施の形態においては、光源装置20は赤色レーザ20R、青色レーザ20B、緑色レーザ20Gを有し、それぞれ時分割で射出することによって赤色、青色、緑色の光を得る構成としたが、光源装置の構成はこの構成に限るものではない。例えば、レーザとして青色レーザ20Bのみを有し、この青色レーザ20Bの前面に、射出される青色光を拡散透過する拡散領域と、その青色光を励起光としてそれぞれ赤色、緑色を発光する蛍光体が塗布された蛍光体領域とが円周上に配置されてなる蛍光体ホイールを配置するとともに、この蛍光体ホイールを所定の速度で回転させることによって時分割で青色光、赤色光、緑色光をそれぞれ得る構成としてもよい。
Further, in the present embodiment, the
さらに前記光源装置20は、青色レーザ20Bと赤色レーザ20Rを有し、青色レーザ20Bの前面に、射出される青色光を拡散透過する拡散領域と、青色光を励起光として緑色を発光する蛍光体が塗布された蛍光体領域とが円周上に配置されてなる蛍光体ホイールを配置するとともに、赤色レーザ20Rの前面に、射出される赤色光を拡散透過する拡散領域を配置して構成することとしてもよい。いずれにしても、複数の半導体レーザを直列接続して光を射出する光源を、少なくとも1色以上有していればよく、その具体的な構成までは特に限定しないものである。
Further, the
11 制御部
12 入出力インターフェイス
13 画像変換部
14 表示エンコーダ
15 表示駆動部
18 ビデオRAM
19 DMD
20 光源装置
20R 赤色レーザ
20B 青色レーザ
20G 緑色レーザ
25 キー/インジケータ部
32 光源制御回路
33R、33G、33B 照度センサ
111 ROM
112 RAM
201 第1半導体レーザ
202 第2半導体レーザ
203 第3半導体レーザ
DESCRIPTION OF
19 DMD
20
112 RAM
201
Claims (10)
前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、
この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、
この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、
この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、
この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段と
を備えることを特徴とする光源装置。 A light source device having a plurality of semiconductor lasers connected in series as a light source,
Supply means for supplying different values of current to the light source;
Detecting means for detecting an output difference value of each of the light sources that has emitted light in accordance with the supply of the currents of different values by the supplying means;
Storage means for storing an initial output difference value detected by the detection means;
Comparing means for comparing the initial output difference value stored in the storage means with the output difference value detected by the detecting means;
A light source device comprising: determination means for determining the presence or absence of unlit lasers in the plurality of semiconductor lasers connected in series based on a comparison result of the comparison means.
前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、
この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、
この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、
この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、
この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段と
して機能させることを特徴とする光源不良検出プログラム。 A computer having a light source device having a plurality of semiconductor lasers connected in series as a light source;
Supply means for supplying different values of current to the light source;
Detecting means for detecting an output difference value of each of the light sources that has emitted light in accordance with the supply of the currents of different values by the supplying means;
Storage means for storing an initial output difference value detected by the detection means;
Comparing means for comparing the initial output difference value stored in the storage means with the output difference value detected by the detecting means;
A light source defect detection program that functions as a determination unit that determines the presence or absence of a non-lighted laser in the plurality of semiconductor lasers connected in series based on a comparison result of the comparison unit.
前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給ステップと、
この供給ステップによる前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出ステップと、
この検出ステップにより検出された初期の出力差分値を記憶する記憶ステップと、
この記憶ステップで記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較ステップと、
この比較ステップでの比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断ステップと
を含むことを特徴とする光源不良検出方法。 A light source defect detection method in a light source device having a plurality of semiconductor lasers connected in series as a light source,
A supplying step of supplying different values of current to the light source;
A detection step of detecting an output difference value of each of the light sources that has emitted light in accordance with the supply of the current of the different value in the supply step;
A storage step for storing an initial output difference value detected by the detection step;
A comparison step for comparing the initial output difference value stored in the storage step with the output difference value detected by the detection means;
And a determination step of determining whether or not there is a non-lighted laser in the plurality of semiconductor lasers connected in series based on a comparison result in the comparison step.
前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、
この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、
この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、
この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、
この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段と
を備えることを特徴とする投影装置。 A projection apparatus for projecting an image by lighting a plurality of light sources having different emission colors in a time-sharing manner, each of the plurality of light sources being composed of a plurality of semiconductor lasers connected in series,
Supply means for supplying different values of current to the light source;
Detecting means for detecting an output difference value of each of the light sources that has emitted light in accordance with the supply of the currents of different values by the supplying means;
Storage means for storing an initial output difference value detected by the detection means;
Comparing means for comparing the initial output difference value stored in the storage means with the output difference value detected by the detecting means;
A projection apparatus comprising: a determination unit configured to determine presence or absence of a non-lighting laser in the plurality of semiconductor lasers connected in series based on a comparison result of the comparison unit.
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