JP2010165402A - Optical disk for reproduction performance evaluation, and method for evaluation of optical disk drive - Google Patents

Optical disk for reproduction performance evaluation, and method for evaluation of optical disk drive Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To quantitatively evaluate reproduction performance of an optical disk drive. <P>SOLUTION: Alternative recording is allowed in a spare area during data recording by forming a defect 12 in a data area of an optical disk 10 for evaluation. The defect is formed in units of clusters, and formed by mixing at least, any two patterns among a first pattern formed by turns for each cluster, a second pattern formed of continuous clusters, and a third pattern formed of a specific part of an optical disk for each track or for each several tracks. Reproduction performance accompanied by seek operation of a defective area is evaluated by reproducing this optical disk for evaluation. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は光ディスク装置評価用光ディスク及び評価方法に関し、特に光ディスク装置の再生性能(プレイアビリティ)を評価するための評価用光ディスクに関する。   The present invention relates to an optical disc for evaluating an optical disc apparatus and an evaluation method, and more particularly to an evaluation optical disc for evaluating the reproduction performance (playability) of the optical disc apparatus.

記録可能なブルーレイディスク(BD−R/RE:登録商標)等の高音質のオーディオデータ及び高画質のビデオデータを長時間にわたって記録できる高密度光ディスク及びこの光ディスクにデータを記録あるいは再生する光ディスク装置(光ディスクレコーダ/プレーヤ)が実用化されている。BD−R/REは、リードイン領域、データ領域、及びリードアウト領域を有する。データ領域の先頭及び末尾には、それぞれ内部スペア領域ISA及び外部スペア領域OSAが割り当てられている。BD−R/REのデータ記録単位はクラスタであり、データの記録中にデータ領域内に欠陥(ディフェクト)があるか否かを検出する。ディフェクトが検出された場合、代替記録動作が行われる。例えば、データ領域に記録する予定のデータをスペア領域(内部スペア領域あるいは外部スペア領域)に記録する。その後、検出した欠陥領域の位置情報と、スペア領域に代替記録された置換情報を管理情報としてリードイン領域内に位置づけられたディスク管理領域DMAの欠陥リストDFLに格納される。データ再生時には、欠陥領域のデータの代わりに、欠陥リストDFLにアクセスすることによりスペア領域に代替記録されたデータを再生する。   A high-density optical disc that can record high-quality audio data and high-quality video data over a long period of time, such as a recordable Blu-ray disc (BD-R / RE: registered trademark), and an optical disc apparatus that records or reproduces data on this optical disc ( Optical disc recorder / player) has been put into practical use. The BD-R / RE has a lead-in area, a data area, and a lead-out area. An internal spare area ISA and an external spare area OSA are allocated to the beginning and end of the data area, respectively. The data recording unit of the BD-R / RE is a cluster, and it is detected whether or not there is a defect in the data area during data recording. If a defect is detected, an alternative recording operation is performed. For example, data scheduled to be recorded in the data area is recorded in a spare area (internal spare area or external spare area). Thereafter, the detected position information of the defective area and the replacement information replaced and recorded in the spare area are stored as management information in the defect list DFL of the disk management area DMA positioned in the lead-in area. At the time of data reproduction, instead of the defect area data, the defect list DFL is accessed to reproduce the data recorded in the spare area.

図14に、BD−R/REのデータフォーマットを示す。内周側の例えば24.00mm〜24.62mmの領域に内部スペア領域ISA0が設けられ、外周側の例えば55.23mm〜57.48mmの領域にブランク領域が設けられ、57.48mm〜58.00mmに外部スペア領域OSA0が設けられる。データ領域は、24.62mm〜55.23mmの領域である。   FIG. 14 shows the data format of the BD-R / RE. An internal spare area ISA0 is provided in an area of, for example, 24.00 mm to 24.62 mm on the inner peripheral side, and a blank area is provided in an area of, for example, 55.23 mm to 57.48 mm on the outer peripheral side, and 57.48 mm to 58.00 mm. Is provided with an external spare area OSA0. The data area is an area of 24.62 mm to 55.23 mm.

図15に、欠陥がある場合のスペア領域に対する代替記録の様子を示す。データ領域にチャプタ1〜チャプタ16までデータを記録するものとし、内周〜中周に記録されるチャプタ1〜チャプタ8に欠陥が検出された場合には内部スペア領域ISA0に代替記録し、中周〜外周に記録されるチャプタ9〜チャプタ16に欠陥が検出された場合には外部スペア領域OSA0に代替記録する。すなわち、チャプタ1にデータを記録中に欠陥を検出した場合、光ディスク装置のコントローラは光ピックアップを内部スペア領域ISA0までシークしてデータを代替記録し、その後光ピックアップを再び元の位置までシークしてデータの記録を続行する。また、チャプタ8にデータを記録中に欠陥を検出した場合、光ディスク装置のコントローラは光ピックアップを内部スペア領域ISA0までシークしてデータを代替記録し、その後光ピックアップを再び元の位置までシークしてデータの記録を続行する。また、チャプタ9にデータを記録中に欠陥を検出した場合、光ディスク装置のコントローラは光ピックアップを外部スペア領域までシークしてデータを代替記録し、その後光ピックアップを再び元の位置までシークしてデータの記録を続行する。   FIG. 15 shows a state of alternative recording for the spare area when there is a defect. Data is recorded from chapter 1 to chapter 16 in the data area, and when a defect is detected in chapter 1 to chapter 8 recorded from the inner circumference to the middle circumference, it is recorded in the internal spare area ISA0 as a substitute, and the middle circumference is recorded. When a defect is detected in chapter 9 to chapter 16 recorded on the outer periphery, the defect is recorded in the external spare area OSA0. That is, when a defect is detected while data is being recorded in the chapter 1, the controller of the optical disk apparatus seeks the optical pickup to the internal spare area ISA0 and substitute records the data, and then seeks the optical pickup to the original position again. Continue recording data. If a defect is detected while data is being recorded in the chapter 8, the controller of the optical disk apparatus seeks the optical pickup to the internal spare area ISA0 and substitute records the data, and then seeks the optical pickup to the original position again. Continue recording data. If a defect is detected while data is being recorded in the chapter 9, the controller of the optical disk apparatus seeks the optical pickup to the external spare area and records the data by replacement, and then seeks the optical pickup to the original position again to obtain the data. Continue recording.

欠陥が検出された場合に内部スペア領域ISAあるいは外部スペア領域OSAのいずれに代替記録するかは任意であるが、概ねディスク半径40mm以内の欠陥については内部スペア領域ISAに代替記録し、それ以降の欠陥については外部スペア領域OSAに代替記録することでシーク距離を短縮化できる。   When a defect is detected, it is arbitrary whether the replacement recording is performed in the internal spare area ISA or the external spare area OSA. However, a defect within a disk radius of about 40 mm is recorded in the internal spare area ISA, and thereafter As for the defect, the seek distance can be shortened by recording in the external spare area OSA instead.

特開2008−10122号公報JP 2008-10122 A 特開2007−179740号公報JP 2007-179740 A 特開2008−310871号公報JP 2008-310871 A

上記のように、代替記録された光ディスクを再生する場合、予めリードイン領域内に位置づけられたディスク管理領域DMAの欠陥リストDFLの情報を読み取り、データ領域内に存在する欠陥領域のデータの代わりにスペア領域に記録されたデータを再生することになるが、光ピックアップはデータ領域とスペア領域を往復するシーク動作を行うことになるので再生機能にとり大きな負担となる。例えば、あるチャプタにおいて欠陥が2箇所存在する場合には問題なくデータを再生することができるが、欠陥が4箇所、8箇所、16箇所と増大するに伴い、その分だけシーク回数が増大することになるためデータ再生時にコマ落ちや映像飛びが顕著に現れる場合がある。もちろん、どの程度の欠陥でコマ落ちや映像飛び等の不具合が生じるかは光ディスク装置の再生性能に大きく依存することになるが、言い換えれば、光ディスク装置にとってどの程度の欠陥に耐えられるかを正確に評価することは極めて重要である。   As described above, when reproducing a substitute recorded optical disc, the information in the defect list DFL in the disc management area DMA previously positioned in the lead-in area is read, and instead of the data in the defective area existing in the data area Data recorded in the spare area is reproduced. However, since the optical pickup performs a seek operation that reciprocates between the data area and the spare area, it imposes a heavy burden on the reproduction function. For example, if there are two defects in a chapter, data can be reproduced without any problem. However, as the number of defects increases to 4, 8, and 16, the number of seeks increases accordingly. Therefore, there are cases where frame dropping or video skipping appears remarkably during data playback. Of course, how many defects cause defects such as dropped frames and image skipping depends greatly on the playback performance of the optical disk device, but in other words, exactly how many defects the optical disk device can withstand. It is extremely important to evaluate.

なお、上記の特許文献3には、データ領域に映像データが不連続に記録された第1領域と、欠陥領域として扱われる第2領域とを交互に設けるとともに、ディスク外周側に代替領域を設け、光ピックアップが第1の領域と代替領域との間を交互に移動しながら映像データを読み取ることで再生性能を評価することが開示されているが、再生映像にシークによる途切れがあるか否かにより再生性能を評価できるだけであり、いわば再生性能が良い、あるいは悪いという2値的な評価のみに留まり、再生性能をより高精度に定量的に評価することはできない。   In Patent Document 3 above, first areas in which video data are recorded discontinuously in the data area and second areas treated as defective areas are alternately provided, and an alternative area is provided on the outer periphery side of the disc. It has been disclosed that the reproduction performance is evaluated by reading the video data while the optical pickup is alternately moving between the first area and the alternative area. Thus, the reproduction performance can only be evaluated, so to speak only the binary evaluation that the reproduction performance is good or bad, and the reproduction performance cannot be quantitatively evaluated with higher accuracy.

本発明は、代替記録に対する光ディスク装置の再生性能(プレイアビリティ)を定量的に評価することができる評価用光ディスク及び評価方法を提供する。   The present invention provides an evaluation optical disc and an evaluation method capable of quantitatively evaluating the reproduction performance (playability) of an optical disc apparatus for alternative recording.

本発明の光ディスク装置の再生性能評価用光ディスクは、データ領域と、前記データ領域に欠陥が存在する場合にデータが代替記録されるスペア領域とを有し、前記データ領域にクラスタ単位で欠陥が形成され、かつ前記欠陥は、1クラスタ毎に交互に形成される第1パターンと、連続したクラスタに形成される第2パターンと、光ディスクの特定部位に1トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第3パターンのうち、少なくともいずれか2つのパターンを混在させて形成されてなる。   An optical disk for reproducing performance evaluation of an optical disk apparatus according to the present invention has a data area and a spare area in which data is alternatively recorded when the data area has a defect, and the defect is formed in the data area in units of clusters. In addition, the defect is formed in a first pattern alternately formed for each cluster, a second pattern formed in a continuous cluster, and a first pattern formed in a specific portion of the optical disk every one track or every several tracks. Of the three patterns, at least any two patterns are mixed.

本発明の1つの実施形態では、前記欠陥は、前記第1パターン、前記第2パターン、前記第3パターンの全てを混在させて形成される。   In one embodiment of the present invention, the defect is formed by mixing all of the first pattern, the second pattern, and the third pattern.

また、本発明の他の実施形態では、前記データは、前記データ領域に複数のチャプタとして記録され、前記第1パターン、前記第2パターン、前記第3パターンのそれぞれにおいて、各チャプタ毎に互いに数あるいは位置が異なるように前記欠陥が形成される。   In another embodiment of the present invention, the data is recorded as a plurality of chapters in the data area, and in each of the first pattern, the second pattern, and the third pattern, the number of each chapter is several. Or the said defect is formed so that a position may differ.

また、本発明は、評価用光ディスクを再生することで光ディスク装置の再生性能を評価する評価方法であって、前記評価用光ディスクは、データ領域と、前記データ領域に欠陥が存在する場合にデータが代替記録されるスペア領域とを有し、前記データ領域にクラスタ単位で欠陥が形成され、かつ前記欠陥は、1クラスタ毎に交互に形成される第1パターンと、連続したクラスタに形成される第2パターンと、光ディスクの特定部位に1トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第3パターンのうちの少なくともいずれか2つのパターンを混在させて形成されてなり、前記評価用光ディスクを再生し、前記第1パターン、前記第2パターン、前記第3パターンのうちの少なくともいずれか2つのパターンの欠陥による前記データ領域と前記スペア領域との間の光ピックアップのシーク動作に伴う再生データ品質を評価することで前記光ディスク装置の再生性能を評価することを特徴とする。   The present invention is also an evaluation method for evaluating the reproduction performance of an optical disc apparatus by reproducing an evaluation optical disc, wherein the evaluation optical disc has a data area and data when a defect exists in the data area. A spare area that is recorded as a substitute, and a defect is formed in cluster units in the data area, and the defect is formed in a first pattern alternately formed for each cluster and in a continuous cluster. Two patterns and at least any two patterns of a third pattern formed for every one track or every several tracks in a specific part of the optical disc, and reproducing the evaluation optical disc, The data area and the previous area due to a defect in at least any two of the first pattern, the second pattern, and the third pattern And evaluating the reproduction performance of the optical disc device by evaluating the reproduced data quality due to the seek operation of the optical pickup between the spare area.

本発明によれば、複数の欠陥パターンを混在させて形成することで、光ディスク装置の再生性能を定量的に評価することができる。   According to the present invention, it is possible to quantitatively evaluate the reproduction performance of the optical disc apparatus by forming a plurality of defect patterns in a mixed manner.

評価用光ディスクの欠陥パターン説明図である。It is explanatory drawing of the defect pattern of the optical disk for evaluation. 図1の欠陥パターンにおける代替記録説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of alternative recording in the defect pattern of FIG. 1. 評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。It is explanatory drawing of the other defect pattern of the optical disk for evaluation. 複数のクラスタの境界に欠陥が存在する場合の説明図である。It is explanatory drawing when a defect exists in the boundary of a some cluster. 評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。It is explanatory drawing of the other defect pattern of the optical disk for evaluation. 評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。It is explanatory drawing of the other defect pattern of the optical disk for evaluation. 軽い汚れや細い傷が存在する場合の説明図である。It is explanatory drawing in case a light dirt and a thin crack exist. 指紋や太い幅の欠陥が存在する場合の説明図である。It is explanatory drawing in case a fingerprint and the defect of a wide width exist. 評価用光ディスクに含まれる欠陥パターンの一覧を示す表図である。It is a table | surface figure which shows the list of the defect patterns contained in the optical disk for evaluation. 評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。It is explanatory drawing of the other defect pattern of the optical disk for evaluation. 評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。It is explanatory drawing of the other defect pattern of the optical disk for evaluation. 評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。It is explanatory drawing of the other defect pattern of the optical disk for evaluation. 実施形態の処理フローチャートである。It is a processing flowchart of an embodiment. 光ディスクのデータフォーマット図である。It is a data format figure of an optical disk. チャプタの欠陥に応じた代替記録の説明図である。It is explanatory drawing of the alternative recording according to the defect of a chapter.

以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。本実施形態では、図14に示されるように内周側に内部スペア領域ISA0が配置され、外周側に外部スペア領域OSA0が配置されるデータフォーマットを前提とする。また、図15に示されるように、チャプタ1〜チャプタ16のデータをデータ領域に記録し、チャプタ1〜チャプタ8に欠陥が検出された場合に内部スペア領域ISA0にデータを代替記録し、チャプタ9〜チャプタ16に欠陥が検出された場合に外部スペア領域OSA0にデータを代替記録する光ディスク装置を前提とする。光ディスク装置は、BD−R/REに記録されたデータを再生するレコーダ/プレーヤである。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the present embodiment, it is assumed that the internal spare area ISA0 is arranged on the inner circumference side and the external spare area OSA0 is arranged on the outer circumference side as shown in FIG. Further, as shown in FIG. 15, the data of chapters 1 to 16 is recorded in the data area, and when a defect is detected in chapters 1 to 8, the data is substituted and recorded in the internal spare area ISA0. Suppose that the optical disk apparatus records the data in the external spare area OSA0 instead when a defect is detected in the chapter 16. The optical disc apparatus is a recorder / player that reproduces data recorded on a BD-R / RE.

図1に、本実施形態における評価用光ディスク10の欠陥パターンを示す。BD−R/REでは既述したようにクラスタ単位でデータが記録されるが、この評価用光ディスク10は、1クラスタ毎に欠陥12が形成された光ディスクである。すなわち、隣接するクラスタi、i+1、i+2、i+3、i+4、・・において、クラスタiに欠陥12が形成され、クラスタi+1には欠陥12が形成されておらず、クラスタi+2に欠陥12が形成され、クラスタi+3には欠陥12が形成されておらず、クラスタi+4に欠陥12が形成される。   FIG. 1 shows a defect pattern of the evaluation optical disk 10 in the present embodiment. As described above, data is recorded in cluster units in the BD-R / RE, but this evaluation optical disk 10 is an optical disk in which a defect 12 is formed for each cluster. That is, in adjacent clusters i, i + 1, i + 2, i + 3, i + 4,..., Defect 12 is formed in cluster i, defect 12 is not formed in cluster i + 1, and defect 12 is formed in cluster i + 2. The defect 12 is not formed in the cluster i + 3, and the defect 12 is formed in the cluster i + 4.

このような欠陥12は、例えばレーザ光を用いて形成することが可能である。すなわち、欠陥を形成すべきクラスタにレーザ光を照射してピットを形成しておく。すると、データ記録時において当該クラスタにデータを記録すると、既に形成されているピットにさらにデータを記録することになり、過剰なピットが形成されるため欠陥となる。このように1クラスタ毎に欠陥が形成されるようなパターンは、光ディスク装置の再生性能にとって厳しいパターンである。短時間に何回も光ピックアップのシーク動作を繰り返し実行する必要があるからである。以下、図1に示すように1クラスタ毎に欠陥12が形成される欠陥パターンを欠陥パターンIと称する。   Such a defect 12 can be formed using a laser beam, for example. That is, pits are formed by irradiating a cluster on which a defect is to be formed with laser light. Then, when data is recorded in the cluster at the time of data recording, data is further recorded in the already formed pits, and an excessive pit is formed, resulting in a defect. Such a pattern in which a defect is formed for each cluster is a severe pattern for the reproduction performance of the optical disc apparatus. This is because it is necessary to repeatedly execute the seek operation of the optical pickup many times in a short time. Hereinafter, the defect pattern in which the defect 12 is formed for each cluster as shown in FIG.

図2に、欠陥パターンIが存在する場合の、代替記録の様子を示す。データ領域内においてあるチャプタのデータを記録する場合、チャプタの先頭から例えば5秒後に1つのクラスタ(クラスタ6とする)に欠陥が存在するため、内部スペア領域ISA0に代替記録する。ISA0には図示のようにクラスタ6に記録すべきデータが代替記録される。クラスタ6に隣接する次のクラスタ7には欠陥が存在していないため、クラスタ7にはデータがそのまま記録される。クラスタ7に隣接する次のクラスタ8には欠陥が存在するため、内部スペア領域ISA0に代替記録する。内部スペア領域ISA0には図示のようにクラスタ8に記録すべきデータが代替記録される。クラスタ8に隣接する次のクラスタ9には欠陥が存在していないため、クラスタ9にはデータがそのまま記録される。以下、同様にして、クラスタ6,8,10,12,14,16については内部スペア領域ISA0に代替記録され、クラスタ7,9,11,13,15,17についてはその位置にそのまま記録される。   FIG. 2 shows the state of alternative recording when the defect pattern I exists. When data of a chapter in a data area is recorded, since a defect exists in one cluster (referred to as cluster 6), for example, 5 seconds after the beginning of the chapter, it is recorded as a substitute in the internal spare area ISA0. In ISA0, data to be recorded in the cluster 6 is recorded as a substitute as shown. Since there is no defect in the next cluster 7 adjacent to the cluster 6, data is recorded in the cluster 7 as it is. Since there is a defect in the next cluster 8 adjacent to the cluster 7, it is recorded as a substitute in the internal spare area ISA0. In the internal spare area ISA0, data to be recorded in the cluster 8 is alternatively recorded as shown. Since there is no defect in the next cluster 9 adjacent to the cluster 8, data is recorded in the cluster 9 as it is. Thereafter, similarly, clusters 6, 8, 10, 12, 14, and 16 are recorded as substitutes in the internal spare area ISA0, and clusters 7, 9, 11, 13, 15, and 17 are recorded as they are. .

このように代替記録された評価用光ディスクを検査対象の光ディスク装置に装着してデータを再生する場合、検査対象の光ディスク装置の光ピックアップは、クラスタ1〜クラスタ5まで(つまりチャプタの先頭から5秒間まで)はその位置でデータを再生することができるが、クラスタ6については内部スペア領域ISA0まで光ピックアップをシークしてデータを再生し、その後に再びクラスタ7の位置まで光ピックアップをシークしてデータを再生する。そして、クラスタ8については再び内部スペア領域ISA0まで光ピックアップをシークしてデータを再生し、その後に再びクラスタ9の位置まで光ピックアップをシークしてデータを再生する。1クラスタ毎に欠陥12が存在するため、1クラスタ毎に内部スペア領域ISA0へのシーク動作が発生し、再生性能に影響を与える。このチャプタのデータがコマ落ちなく再生できるか否か、あるいは映像飛びを生じることなく再生できるか否かを評価することで、光ディスク装置の再生性能を評価することができる。   When the substitute optical disk for evaluation recorded in this way is mounted on the optical disk apparatus to be inspected and data is reproduced, the optical pickup of the optical disk apparatus to be inspected is from cluster 1 to cluster 5 (that is, 5 seconds from the beginning of the chapter). Can reproduce data at that position, but for cluster 6, seek the optical pickup to the internal spare area ISA0 and reproduce the data, and then seek the optical pickup again to the position of cluster 7 to obtain the data. Play. The cluster 8 seeks the optical pickup again to the internal spare area ISA0 and reproduces the data, and then seeks the optical pickup again to the position of the cluster 9 to reproduce the data. Since there is a defect 12 for each cluster, a seek operation to the internal spare area ISA0 occurs for each cluster, which affects the reproduction performance. By evaluating whether or not the chapter data can be reproduced without dropping frames, or whether or not the chapter data can be reproduced without causing skipping, it is possible to evaluate the reproduction performance of the optical disc apparatus.

また、欠陥12の数が増大するほど再生性能に与える影響は大きくなるので、欠陥12の数を増減することで光ディスク装置の再生性能を定量評価することができる。例えば、欠陥12を1クラスタ毎に形成するが、欠陥12が1チャプタあたり1個のみ、欠陥12が1チャプタあたり4個、欠陥12が1チャプタあたり8個、欠陥12が1チャプタあたり16個の4種類を評価用光ディスク10に形成しておき、欠陥12の数と再生データの品質を評価することで、再生性能を定量評価することができる。再生性能を1〜4の4段階で評価(「4」が最も再生性能が良いものとする)するものとし、欠陥12が16個の場合にコマ落ちしたときに再生性能を「4」、8個の場合にコマ落ちしたときに再生性能を「3」、欠陥12が4個の場合にコマ落ちしたときに再生性能を「2」、欠陥12が1個の場合にコマ落ちしたときに再生性能を「1」とする等である。   Further, since the influence on the reproduction performance increases as the number of defects 12 increases, the reproduction performance of the optical disc apparatus can be quantitatively evaluated by increasing / decreasing the number of defects 12. For example, the defect 12 is formed for each cluster, but only one defect 12 per chapter, 4 defects 12 per chapter, 8 defects 12 per chapter, and 16 defects 12 per chapter. By forming four types on the evaluation optical disk 10 and evaluating the number of defects 12 and the quality of reproduction data, the reproduction performance can be quantitatively evaluated. Assume that the playback performance is evaluated in four stages of 1 to 4 ("4" is the best playback performance), and when the number of defects 12 is 16, the playback performance is "4", 8 When the number of frames is dropped, the playback performance is “3”. When the number of defects 12 is 4, the playback performance is “2”. When the number of defects 12 is 1, the playback performance is “2”. For example, the performance is set to “1”.

図3に、本実施形態における評価用光ディスク10の他の欠陥パターンを示す。上記の欠陥パターンIではクラスタ毎に交互に欠陥12が形成されているが、この欠陥パターンでは欠陥12が複数のクラスタにわたって連続的に形成される。図3では、2トラック分にわたって欠陥12が連続して形成される。なお、クラスタは、光ディスクの内周で円周当たり2個、外周で円周当たり5個存在し(1クラスタ長=71.39mm)、ディスク径の増大とともにリニアにクラスタ数は増大する。図3において、あるディスク径における1トラックには3個のクラスタが存在するものとすると、この3個のクラスタ全てに連続的に欠陥12が形成される。2トラックにわたって欠陥12が形成されると、合計6個のクラスタに欠陥12が形成されることになる。このように、連続する複数のクラスタに欠陥12が形成されるパターン(あるトラック全てに欠陥12が形成されるパターン)を欠陥パターンIIと称する。   FIG. 3 shows another defect pattern of the evaluation optical disk 10 in the present embodiment. In the defect pattern I, the defects 12 are alternately formed for each cluster. In this defect pattern, the defects 12 are continuously formed over a plurality of clusters. In FIG. 3, the defect 12 is continuously formed over two tracks. There are two clusters per circumference on the inner circumference of the optical disk and five per circumference on the outer circumference (one cluster length = 71.39 mm), and the number of clusters increases linearly with an increase in the disk diameter. In FIG. 3, assuming that there are three clusters in one track at a certain disk diameter, defects 12 are continuously formed in all the three clusters. When the defect 12 is formed over two tracks, the defect 12 is formed in a total of six clusters. In this way, a pattern in which the defect 12 is formed in a plurality of continuous clusters (a pattern in which the defect 12 is formed in all tracks) is referred to as a defect pattern II.

図4に、欠陥パターンIIの物理的意義を示す。内周側のあるトラックにクラスタ1、クラスタ2が存在し、次のトラックにクラスタ3、クラスタ4が存在するものとする。光ディスクに何らかの欠陥13が存在し、しかもこの欠陥13がクラスタ1とクラスタ2との境界、及びクラスタ3とクラスタ4の境界に存在する場合には、データ記録はクラスタ単位で行われるため、クラスタ1、クラスタ2、クラスタ3、クラスタ4の合計4個のクラスタにおいて内部スペア領域ISA0(あるいは外部スペア領域OSA0)に代替記録されることになる。これは、2つのトラック全てにおいて欠陥13が存在する場合と等価であり、欠陥パターンIIの場合に相当する。すなわち、欠陥パターンIIは、図4に示すような欠陥13が存在する場合において光ディスク装置の再生性能を評価するものであるといえる。   FIG. 4 shows the physical significance of the defect pattern II. Assume that cluster 1 and cluster 2 exist on a track on the inner circumference side, and cluster 3 and cluster 4 exist on the next track. If there is some defect 13 on the optical disc, and this defect 13 is present at the boundary between cluster 1 and cluster 2 and the boundary between cluster 3 and cluster 4, data recording is performed in units of clusters. , Cluster 2, cluster 3, and cluster 4, a total of four clusters, are recorded in the internal spare area ISA0 (or the external spare area OSA0) instead. This is equivalent to the case where the defect 13 exists in all two tracks, and corresponds to the case of the defect pattern II. That is, it can be said that the defect pattern II is for evaluating the reproduction performance of the optical disc apparatus when the defect 13 as shown in FIG. 4 exists.

欠陥パターンIIにおいても、欠陥12の数を増減することで再生性能を定量評価することができる。例えば、1トラック分で合計3個のクラスタに欠陥12を形成する場合、2トラック分で合計6個のクラスタに欠陥12を形成する場合、3トラック分で合計9個のクラスタに欠陥12を形成する場合の3種類を評価用光ディスク10に形成しておき、欠陥12の数と再生データの品質を評価することで、再生性能を定量評価することができる。   Also in the defect pattern II, the reproduction performance can be quantitatively evaluated by increasing or decreasing the number of the defects 12. For example, when defects 12 are formed in a total of three clusters for one track, defects 12 are formed in a total of six clusters for two tracks, and defects 12 are formed in a total of nine clusters for three tracks. In this case, the reproduction performance can be quantitatively evaluated by forming the three types of optical discs on the evaluation optical disk 10 and evaluating the number of defects 12 and the quality of the reproduction data.

図5及び図6に、本実施形態における評価用光ディスク10の他の欠陥パターンを示す。図5は、複数のトラックにわたり、ある特定の部位あるいは方向に位置するクラスタに欠陥12が形成される。連続したクラスタではなく、離散的にクラスタに欠陥12が形成される。一方、図6は、図5と同様に離散的にクラスタに欠陥12が形成されることは同様であるが、図5では1トラック毎に欠陥12が形成されるのに対し、5トラック毎に欠陥12が形成される。   5 and 6 show other defect patterns of the evaluation optical disk 10 in the present embodiment. In FIG. 5, a defect 12 is formed in a cluster located in a specific part or direction over a plurality of tracks. Defects 12 are formed in clusters discretely, not continuously. On the other hand, FIG. 6 is similar to FIG. 5 in that the defects 12 are discretely formed in the cluster, but in FIG. 5, the defect 12 is formed for each track, whereas in FIG. A defect 12 is formed.

図7及び図8に、図5及び図6に示す欠陥パターンの物理的意義を示す。図7は、比較的狭い幅のスクラッチ傷や指紋等の汚れが欠陥13として光ディスクに存在する場合である。このような場合、連続したトラックにおいて代替記録(置換)が生じるのではなく、間欠的に代替記録が生じ得る。図6の欠陥パターンに相当するものである。また、図8は、比較的太い幅のスクラッチ傷や指紋が欠陥13として光ディスクに存在する場合である。このような場合、連続したトラックにおいて代替記録(置換)が生じ得る。図5の欠陥パターンに相当するものである。すなわち、図5や図6は、スクラッチ傷や指紋という、実際に生じ得る欠陥をシミュレーションした欠陥パターンといえる。このように、スクラッチ傷や指紋等の欠陥をシミュレーションした欠陥パターンを欠陥パターンIIIと称する。この欠陥パターンIIIにおいても、上記の欠陥パターンI、欠陥パターンIIと同様に、欠陥12の数あるいは位置を変化させることで再生性能を定量評価することができる。例えば、10トラック毎の合計16個のクラスタに欠陥12を形成する場合、5トラック毎の合計16個のクラスタに欠陥12を形成する場合、2トラック毎の合計16個のクラスタに欠陥12を形成する場合、1トラック毎の合計16個のクラスタに欠陥12を形成する場合の4種類を評価用光ディスク10に形成しておき、どのパターンで再生データにコマ落ちや途切れが生じたかを判定して再生性能を定量評価できる。   7 and 8 show the physical significance of the defect patterns shown in FIGS. FIG. 7 shows a case where a scratch such as a relatively narrow width and dirt such as a fingerprint are present on the optical disc as the defect 13. In such a case, alternative recording (replacement) does not occur in continuous tracks, but alternative recording can occur intermittently. This corresponds to the defect pattern of FIG. FIG. 8 shows a case where a scratch having a relatively wide width or a fingerprint is present as a defect 13 on the optical disc. In such a case, alternative recording (replacement) may occur in continuous tracks. This corresponds to the defect pattern of FIG. That is, FIG. 5 and FIG. 6 can be said to be defect patterns simulating defects that can actually occur, such as scratches and fingerprints. A defect pattern in which defects such as scratches and fingerprints are simulated in this way is referred to as defect pattern III. Also in the defect pattern III, the reproduction performance can be quantitatively evaluated by changing the number or position of the defects 12 as in the case of the defect pattern I and the defect pattern II. For example, when defects 12 are formed in a total of 16 clusters per 10 tracks, defects 12 are formed in a total of 16 clusters every 5 tracks, and defects 12 are formed in a total of 16 clusters every 2 tracks. When the defect 12 is formed in a total of 16 clusters for each track, four types are formed on the evaluation optical disc 10, and it is determined in which pattern the reproduction data is dropped or interrupted. Reproduction performance can be quantitatively evaluated.

以上のように、評価用光ディスク10に形成する欠陥パターンには、欠陥パターンI、II、IIIの3つのパターンが存在し、これらの欠陥パターンは適宜組み合わせて評価用光ディスク10に形成することができる。例えば、欠陥パターンIと欠陥パターンIIを評価用光ディスク10に形成する、あるいは欠陥パターンIIと欠陥パターンIIIを評価用光ディスク10に形成する、あるいは欠陥パターンIと欠陥パターンIIIを評価用光ディスク10に形成する等である。欠陥パターンI、II、IIIはそれぞれ異なる欠陥パターンであり、光ディスク装置の再生性能に与える影響、つまり再生性能に対する負荷が相違する。したがって、複数の欠陥パターンを評価用光ディスク10に形成しておき、どの欠陥パターンで再生データのコマ落ちや途切れが生じたか否かを評価することで再生性能をより高精度に定量評価することができる。例えば、欠陥パターンIと欠陥パターンIIとを比較すると、多くの場合、欠陥パターンIの方が再生性能に対する負荷が大きい。したがって、欠陥パターンIにおいて再生データのコマ落ちが生じた光ディスク装置と、欠陥パターンIIにおいて再生データのコマ落ちが生じた光ディスク装置とでは、前者の方が再生性能に優れると評価できる。そして、欠陥パターンI内、あるいは欠陥パターンII内においても、それぞれ既述したように欠陥12の数や位置に応じて再生性能を定量評価することができるから、これらを組み合わせることで高精度の定量評価が可能となる。最も好適な例としては、欠陥パターンI、II、IIIを全て1つの評価用光ディスク10に形成する場合であろう。   As described above, there are three defect patterns I, II, and III in the defect pattern formed on the evaluation optical disk 10, and these defect patterns can be formed on the evaluation optical disk 10 in an appropriate combination. . For example, the defect pattern I and the defect pattern II are formed on the evaluation optical disk 10, the defect pattern II and the defect pattern III are formed on the evaluation optical disk 10, or the defect pattern I and the defect pattern III are formed on the evaluation optical disk 10. And so on. The defect patterns I, II, and III are different defect patterns, and the influence on the reproduction performance of the optical disc apparatus, that is, the load on the reproduction performance is different. Accordingly, a plurality of defect patterns are formed on the evaluation optical disk 10 and the reproduction performance can be quantitatively evaluated with higher accuracy by evaluating which defect pattern causes dropped frames or interruptions in the reproduction data. it can. For example, when the defect pattern I and the defect pattern II are compared, in many cases, the defect pattern I has a larger load on the reproduction performance. Therefore, it can be evaluated that the former is superior in reproducing performance between the optical disk apparatus in which the reproduction data has dropped frames in the defect pattern I and the optical disk apparatus in which the reproduction data has dropped frames in the defect pattern II. Also, as described above, the reproduction performance can be quantitatively evaluated according to the number and position of the defects 12 in the defect pattern I or the defect pattern II. Evaluation is possible. As a most preferred example, the defect patterns I, II, and III are all formed on one evaluation optical disc 10.

図9に、欠陥パターンI、II、IIIが全て形成された評価用光ディスク10のフォーマットを示す。データ領域にはチャプタ1〜チャプタ16までの合計16個のチャプタが記録される。チャプタ1には欠陥12は形成されない。チャプタ2〜チャプタ4には欠陥パターンIIで、つまり連続クラスタに欠陥12が形成される。チャプタ2には1トラック分の合計3個のクラスタに欠陥12が形成され、チャプタ3には2トラック分の合計6個のクラスタに欠陥12が形成され、チャプタ4には2トラック毎の合計6トラック分で合計18個のクラスタに欠陥12が形成される。これらの欠陥領域では、内部スペア領域ISA0に代替記録される。   FIG. 9 shows a format of the evaluation optical disc 10 on which all the defect patterns I, II, and III are formed. A total of 16 chapters from chapter 1 to chapter 16 are recorded in the data area. No defect 12 is formed in the chapter 1. In chapters 2 to 4, defects 12 are formed in the defect pattern II, that is, in continuous clusters. In chapter 2, defects 12 are formed in a total of three clusters for one track, in chapter 3, defects 12 are formed in a total of six clusters for two tracks, and in chapter 4 a total of six for every two tracks. Defects 12 are formed in a total of 18 clusters for the track. In these defective areas, alternative recording is performed in the internal spare area ISA0.

また、チャプタ5〜チャプタ8には欠陥パターンIで、つまり1クラスタ毎に欠陥12が形成される。チャプタ5には1個の欠陥12が形成され、チャプタ6には4個の欠陥12が形成され、チャプタ7には8個の欠陥12が形成され、チャプタ8には16個の欠陥12が形成される。これらの欠陥領域では、内部スペア領域ISA0に代替記録される。   Further, in chapters 5 to 8, a defect pattern I, that is, a defect 12 is formed for each cluster. One defect 12 is formed in the chapter 5, four defects 12 are formed in the chapter 6, eight defects 12 are formed in the chapter 7, and 16 defects 12 are formed in the chapter 8. Is done. In these defective areas, alternative recording is performed in the internal spare area ISA0.

また、チャプタ9〜チャプタ12には再び欠陥パターンIで、つまり1クラスタ毎に欠陥12が形成される。チャプタ9には1個の欠陥12が形成され、チャプタ10には4個の欠陥12が形成され、チャプタ11には8個の欠陥12が形成され、チャプタ12には16個の欠陥12が形成される。これらの欠陥領域では、外部スペア領域ISA0に代替記録される。   Further, in the chapters 9 to 12, the defect pattern I is formed again, that is, the defect 12 is formed for each cluster. One defect 12 is formed in the chapter 9, four defects 12 are formed in the chapter 10, eight defects 12 are formed in the chapter 11, and 16 defects 12 are formed in the chapter 12. Is done. In these defective areas, alternative recording is performed in the external spare area ISA0.

また、チャプタ13〜チャプタ16には欠陥パターンIIIで、つまりスクラッチ傷や指紋等の欠陥をシミュレーションしたパターンで欠陥12が形成される。チャプタ13には10トラック毎に合計16個の欠陥12が形成され、チャプタ14には5トラック毎に合計16個の欠陥12が形成され、チャプタ15には2トラック毎に合計16個の欠陥16が形成され、チャプタ16には1トラック毎に合計16個の欠陥12が形成される。これらの欠陥領域では、外部スペア領域OSA0に代替記録される。なお、ここまでの説明は、記録層が1層のみからなる光ディスクを例として説明したが、もちろん、本発明は、記録層が複数からなる光ディスクにも適用される。   Further, the defect 12 is formed in the chapter 13 to the chapter 16 with a defect pattern III, that is, a pattern in which a defect such as a scratch or a fingerprint is simulated. A total of 16 defects 12 are formed on the chapter 13 every 10 tracks, a total of 16 defects 12 are formed on the chapter 14 every 5 tracks, and a total of 16 defects 16 are formed on the chapter 15 every 2 tracks. A total of 16 defects 12 are formed in each chapter 16 in each chapter. In these defective areas, alternative recording is performed in the external spare area OSA0. In the above description, the optical disk having only one recording layer has been described as an example. However, the present invention is also applicable to an optical disk having a plurality of recording layers.

参考までに、図10にチャプタ4における欠陥パターンを示し、図11にチャプタ13における欠陥パターンを示し、図12にチャプタ15における欠陥パターンを示す。図1,図3,図5,図6,図10,図11及び図12では、いずれも説明の都合上、該当チャプタにおける欠陥パターンを模式的に示したものであり、評価用光ディスク10の実際の位置に対応していないことに留意されたい。実際の位置は、図9の開始位置に示されたとおりである。   For reference, FIG. 10 shows a defect pattern in chapter 4, FIG. 11 shows a defect pattern in chapter 13, and FIG. 12 shows a defect pattern in chapter 15. 1, 3, 5, 6, 10, 11, and 12, for convenience of explanation, the defect patterns in the corresponding chapter are schematically shown. Note that it does not correspond to the position of. The actual position is as shown in the start position of FIG.

図13に、このように複数の欠陥パターンI、II、IIIが形成された評価用光ディスク10を検査対象である光ディスク装置に装着し、光ディスク装置の再生性能を評価する処理フローチャートの一例を示す。再生性能にとって負荷の小さいものから高いものへと順に再生していくフローチャートである。   FIG. 13 shows an example of a processing flowchart for mounting the evaluation optical disk 10 having a plurality of defect patterns I, II, and III thus formed on the optical disk apparatus to be inspected and evaluating the reproduction performance of the optical disk apparatus. It is a flowchart which reproduces | regenerates in an order from the thing with a small load with respect to reproduction | regeneration performance.

まず、評価用光ディスク(検査調整用ディスク)10を検査対象の光ディスク装置に装着する(S101)。そして、チャプタ1の再生を開始する(S102)。図9に示すように、チャプタ1には欠陥12が形成されていないので、問題なく再生できるはずである。チャプタ1を再生後、チャプタ2に移行してチャプタ2の再生を開始する(S103)。   First, the evaluation optical disk (inspection adjustment disk) 10 is mounted on the optical disk device to be inspected (S101). Then, the reproduction of chapter 1 is started (S102). As shown in FIG. 9, since the defect 12 is not formed in the chapter 1, it should be able to be reproduced without any problem. After the chapter 1 is reproduced, the process proceeds to the chapter 2 and the reproduction of the chapter 2 is started (S103).

チャプタ2には欠陥パターンIIの欠陥12が合計3個存在する。したがって、この3個の欠陥領域(3個の連続したクラスタ)において光ピックアップが内部スペア領域ISA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S104)。再生データの評価は、具体的にはコマ落ちや映像飛び、映像途切れの有無である。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能は極めて低く不良と評価する(S111)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、次のチャプタ3に移行してチャプタ3の再生を開始する(S105)。   The chapter 2 includes a total of three defects 12 of the defect pattern II. Therefore, the optical pickup is sought to the internal spare area ISA0 in the three defective areas (three consecutive clusters). Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S104). Specifically, the evaluation of the reproduction data is the presence or absence of frame dropping, video skipping, and video interruption. If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disc apparatus is evaluated to be extremely low (S111). If no frame dropout or the like occurs in the reproduction data, the evaluation result is OK, and the process proceeds to the next chapter 3 to start the reproduction of chapter 3 (S105).

チャプタ3には欠陥パターンIIの欠陥12が合計6個存在する。したがって、この6個の欠陥領域(6個の連続したクラスタ)において光ピックアップが内部スペア領域ISA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S106)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS104でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S111)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、次のチャプタ4を飛び越えてチャプタ5に移行してチャプタ5の再生を開始する(S107)。チャプタ4ではなくチャプタ5に移行するのは、チャプタ4とチャプタ5の欠陥が再生性能に与える負荷の大小を考慮したものであり、チャプタ4の方がチャプタ5よりも負荷が大きいと考えられるからである。   The chapter 3 has a total of six defects 12 of the defect pattern II. Therefore, the optical pickup is sought to the internal spare area ISA0 in these six defective areas (six consecutive clusters). Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S106). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disk apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S104, but the playback performance is still low and poor. (S111). If no frame dropout or the like occurs in the reproduction data, the evaluation result is OK, jumps over to the next chapter 4 and shifts to chapter 5 to start reproduction of chapter 5 (S107). The reason for shifting to chapter 5 instead of chapter 4 is that the magnitude of the load that the defects of chapter 4 and chapter 5 give to the reproduction performance is taken into consideration, and it is considered that chapter 4 has a larger load than chapter 5. It is.

チャプタ5には欠陥パターンIの欠陥12が1個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが内部スペア領域ISA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S108)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS106でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S111)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ9に移行してチャプタ9の再生を開始する(S109)。チャプタ5からチャプタ9に移行するのも、チャプタ6〜チャプタ9の欠陥が再生性能に与える負荷の大小を考慮したものである。   The chapter 5 has one defect 12 of the defect pattern I. Therefore, the optical pickup is sought to the internal spare area ISA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S108). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disk apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S106, but the playback performance is still low and poor. (S111). If no frame dropping or the like occurs in the reproduction data, the evaluation result is OK, and the process proceeds to chapter 9 to start reproduction of chapter 9 (S109). The transition from chapter 5 to chapter 9 is also in consideration of the magnitude of the load that the defects of chapter 6 to chapter 9 give to the reproduction performance.

チャプタ9には欠陥パターンIの欠陥12が1個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域OSA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S110)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS108でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S111)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ13に移行してチャプタ13の再生を開始する(S112)。   The chapter 9 has one defect 12 of the defect pattern I. Therefore, the optical pickup is sought to the external spare area OSA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S110). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disc apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S108, but the playback performance is still low and poor. (S111). If no frame dropping or the like occurs in the reproduction data, the evaluation result is OK, and the process proceeds to chapter 13 to start reproduction of chapter 13 (S112).

チャプタ13には欠陥パターンIIIの欠陥12が合計16個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域OSA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S113)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS110でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S118)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ4に移行してチャプタ4の再生を開始する(S114)。   The chapter 13 has a total of 16 defects 12 of the defect pattern III. Therefore, the optical pickup is sought to the external spare area OSA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S113). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disc apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S110, but the playback performance is still low and poor. (S118). If no frame dropping or the like occurs in the reproduction data, the evaluation result is OK, and the process proceeds to chapter 4 and reproduction of chapter 4 is started (S114).

チャプタ4には欠陥パターンIIの欠陥12が合計18個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが内部スペア領域ISA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S115)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS113でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S118)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ14に移行してチャプタ14の再生を開始する(S116)。   The chapter 4 has a total of 18 defects 12 of the defect pattern II. Therefore, the optical pickup is sought to the internal spare area ISA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S115). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disk apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S113, but the playback performance is still low and poor. (S118). If there is no frame dropping or the like in the reproduction data, the evaluation result is OK, the process proceeds to chapter 14 and reproduction of chapter 14 is started (S116).

チャプタ14には欠陥パターンIIIの欠陥12が合計16個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域OSA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S117)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS115でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S118)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ15に移行してチャプタ15の再生を開始する(S119)。   The chapter 14 includes a total of 16 defects 12 of the defect pattern III. Therefore, the optical pickup is sought to the external spare area OSA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S117). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disk apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S115, but the playback performance is still low and poor. (S118). If no frame dropping or the like has occurred in the reproduction data, the evaluation result is OK, the process proceeds to chapter 15 and reproduction of chapter 15 is started (S119).

チャプタ15には欠陥パターンIIIの欠陥12が合計16個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域OSA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S120)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS117でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S127)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ16に移行してチャプタ16の再生を開始する(S121)。   The chapter 15 has a total of 16 defects 12 of the defect pattern III. Therefore, the optical pickup is sought to the external spare area OSA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S120). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disk apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S117, but the playback performance is still low and poor. (S127). If no frame dropout or the like has occurred in the reproduction data, the evaluation result is OK, the process proceeds to chapter 16 and reproduction of chapter 16 is started (S121).

チャプタ16には欠陥パターンIIIの欠陥12が合計16個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域OSA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S122)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS120でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S127)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ6に移行してチャプタ6の再生を開始する(S123)。   The chapter 16 has a total of 16 defects 12 of the defect pattern III. Therefore, the optical pickup is sought to the external spare area OSA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S122). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disc apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S120, but the playback performance is still low and poor. (S127). If there is no frame drop or the like in the reproduction data, the evaluation result is OK, and the process proceeds to chapter 6 to start reproduction of chapter 6 (S123).

チャプタ6には欠陥パターンIの欠陥12が合計4個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが内部スペア領域ISA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S124)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS122でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S127)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ10に移行してチャプタ10の再生を開始する(S125)。   The chapter 6 includes a total of four defects 12 of the defect pattern I. Therefore, the optical pickup is sought to the internal spare area ISA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S124). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disk apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S122, but the playback performance is still low and poor. (S127). If there is no frame dropping or the like in the reproduction data, the evaluation result is OK, the process proceeds to chapter 10, and reproduction of chapter 10 is started (S125).

チャプタ10には欠陥パターンIの欠陥12が合計4個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域OSA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S126)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS124でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S127)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ7に移行してチャプタ7の再生を開始する(S128)。   The chapter 10 has a total of four defects 12 of the defect pattern I. Therefore, the optical pickup is sought to the external spare area OSA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S126). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disc apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S124, but the playback performance is still low and poor. (S127). If there is no frame dropping or the like in the reproduction data, the evaluation result is OK, the process proceeds to chapter 7 and reproduction of chapter 7 is started (S128).

チャプタ7には欠陥パターンIの欠陥12が合計8個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが内部スペア領域ISA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S129)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS126でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S137)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ11に移行してチャプタ11の再生を開始する(S130)。   The chapter 7 has a total of eight defects 12 of the defect pattern I. Therefore, the optical pickup is sought to the internal spare area ISA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S129). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disk apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S126, but the playback performance is still low and poor. (S137). If no frame dropping or the like occurs in the reproduction data, the evaluation result is OK, and the process proceeds to chapter 11 to start reproduction of chapter 11 (S130).

チャプタ11には欠陥パターンIの欠陥12が合計8個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域OSA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S131)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS129でNGと評価される場合よりは相対的に良いあるいは同程度であり、依然として再生性能は低く不良と評価する(S137)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ8に移行してチャプタ8の再生を開始する(S132)。   The chapter 11 includes a total of eight defects 12 of the defect pattern I. Therefore, the optical pickup is sought to the external spare area OSA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S131). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disc apparatus is relatively better or similar to that in the case of being evaluated as NG in S129. It is evaluated that the performance is low and defective (S137). If no frame dropout or the like has occurred in the reproduction data, the evaluation result is OK, the process proceeds to chapter 8 and reproduction of chapter 8 is started (S132).

チャプタ8には欠陥パターンIの欠陥12が合計16個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが内部スペア領域ISA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S133)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS131でNGと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する(S137)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、チャプタ12に移行して最後のチャプタ12の再生を開始する(S134)。   The chapter 8 has a total of 16 defects 12 of the defect pattern I. Therefore, the optical pickup is sought to the internal spare area ISA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S133). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disc apparatus is relatively better than that evaluated as NG in S131, but the playback performance is still low and poor. (S137). If no frame dropout or the like occurs in the reproduction data, the evaluation result is OK, and the process proceeds to chapter 12 to start reproduction of the last chapter 12 (S134).

チャプタ12には欠陥パターンIの欠陥12が合計16個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域OSA0までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する(S135)。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はNGとなり、光ディスク装置の再生性能はS126でNGと評価される場合よりは相対的に良いあるいは同程度で、依然として再生性能は低く不良と評価する(S137)。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はOKとなり、再生性能に優れているとして良品と評価する(S136)。   The chapter 12 has a total of 16 defects 12 of the defect pattern I. Therefore, the optical pickup is sought to the external spare area OSA0 in this defective area. Then, the quality of the reproduction data obtained with the seek operation is evaluated (S135). If dropped frames or interruptions occur in the playback data, the evaluation result is NG, and the playback performance of the optical disc apparatus is relatively better than or comparable to that evaluated as NG in S126, and the playback performance still remains. Is evaluated as low and defective (S137). If no frame dropout or the like occurs in the reproduction data, the evaluation result is OK, and it is evaluated as a non-defective product because the reproduction performance is excellent (S136).

なお、図13の処理において、再生性能にとり負荷の小さい欠陥から順に配列すると以下のとおりである。
チャプタ1<チャプタ2<チャプタ3<チャプタ5=チャプタ9<チャプタ13<チャプタ4<チャプタ14<チャプタ15<チャプタ16<チャプタ6=チャプタ10<チャプタ7=チャプタ11<チャプタ8=チャプタ12
In the processing of FIG. 13, the defects are arranged in ascending order of load for reproduction performance as follows.
Chapter 1 <Chapter 2 <Chapter 3 <Chapter 5 = Chapter 9 <Chapter 13 <Chapter 4 <Chapter 14 <Chapter 15 <Chapter 6 <Chapter 6 = Chapter 10 <Chapter 7 = Chapter 11 <Chapter 8 = Chapter 12

チャプタ5とチャプタ9、チャプタ6とチャプタ10、チャプタ7とチャプタ11、チャプタ8とチャプタ12は内部スペア領域ISA0にシークするか外部スペア領域OSA0にシークするかの違いであり、再生性能に対する負荷は同程度と考えられる。   Chapter 5 and chapter 9, chapter 6 and chapter 10, chapter 7 and chapter 11, chapter 8 and chapter 12 are different depending on whether they seek to the internal spare area ISA0 or the external spare area OSA0. It is considered to be the same level.

また、図13の処理では、光ディスク装置の再生性能を良品(S136)と不良品(S111,S118,S127,S137)として評価したが、上記のとおり、不良品と評価されたものでも再生性能は相対的に異なるため、例えばS111で不良品と評価された場合に最低の評価レベル「1」、S118で不良品と評価された場合に次の評価レベル「2」、S127で不良品と評価された場合に次の評価レベル「3」、S137で不良品と評価された場合に次の評価レベル「4」、S136で良品と評価された場合に最高の評価レベル「5」を付与して定量評価してもよい。   In the process of FIG. 13, the reproduction performance of the optical disk apparatus is evaluated as a non-defective product (S136) and a defective product (S111, S118, S127, S137). For example, when evaluated as a defective product in S111, the lowest evaluation level is “1”. When evaluated as a defective product in S118, the next evaluation level is “2” and evaluated as a defective product in S127. In this case, the next evaluation level is “3”, the next evaluation level is “4” when the product is evaluated as a defective product at S137, and the highest evaluation level “5” is assigned when the product is evaluated as a non-defective product at S136. You may evaluate.

このように、チャプタ1〜チャプタ16のそれぞれに異なる欠陥12を形成し、再生性能にとり負荷の小さいものから順次再生して再生データを評価することで、光ディスク装置の再生性能を定量評価することができる。   In this way, it is possible to quantitatively evaluate the reproduction performance of the optical disc apparatus by forming different defects 12 in chapters 1 to 16 and evaluating the reproduction data by sequentially reproducing the reproduction performance from the one with the smallest load. it can.

本実施形態では、図9に示すように内周のチャプタ2〜4には欠陥パターンIIで欠陥12が形成され、中周のチャプタ5〜チャプタ12には欠陥パターンIで欠陥12が形成され、外周のチャプタ13〜チャプタ16には欠陥パターンIIIで欠陥12が形成されているが、例えば内周のチャプタ2〜4には欠陥パターンIで欠陥12が形成され、中周のチャプタ5〜チャプタ12には欠陥パターンIIで欠陥12が形成され、外周のチャプタ13〜チャプタ16には欠陥パターンIIIで欠陥12が形成されてもよく、あるいは内周のチャプタ2〜4には欠陥パターンIIIで欠陥12が形成され、中周のチャプタ5〜チャプタ12には欠陥パターンIIで欠陥12が形成され、外周のチャプタ13〜チャプタ16には欠陥パターンIで欠陥12が形成されてもよい。   In the present embodiment, as shown in FIG. 9, the defect 12 is formed in the inner chapters 2 to 4 with the defect pattern II, and the defect 12 is formed in the middle chapters 5 to 12 with the defect pattern I. In the outer chapters 13 to 16, the defect 12 is formed with the defect pattern III. For example, in the inner peripheral chapters 2 to 4, the defect 12 is formed with the defect pattern I, and the inner peripheral chapters 5 to 12. The defect 12 may be formed by the defect pattern II, the defect 12 may be formed by the defect pattern III in the outer chapters 13 to 16, or the defect pattern III may be formed in the inner chapters 2 to 4. The defect 12 is formed with the defect pattern II in the middle chapters 5 to 12 and the defect pattern I is formed in the outer chapters 13 to 16. Recessed 12 may be formed.

また、本実施形態では、再生性能にとり負荷の小さいチャプタから順に再生したが、負荷の大きいチャプタから順に再生することもできる。   In the present embodiment, the playback is performed in order from the chapter with the smallest load in terms of the playback performance, but it is also possible to play back in the order from the chapter with the largest load.

また、本実施形態では、再生性能にとり負荷の小さいチャプタから順に再生するため、チャプタ順に再生していないが(例えば、チャプタ3の次はチャプタ5にジャンプする)、チャプタ1〜チャプタ16において再生性能に対する負荷がこの順に大きくなるように欠陥12を形成してもよい。   Further, in this embodiment, since the playback is performed in order from the chapter with the smallest load for the playback performance, the playback is not performed in the order of chapters (for example, the chapter 3 jumps to the chapter 5), but the playback performance in the chapters 1 to 16 Defects 12 may be formed so that the load on increases in this order.

また、本実施形態では、内部スペア領域ISA0と外部スペア領域OSA0がともに存在する場合を前提としたが、内部スペア領域ISA0のみ、あるいは外部スペア領域OSA0のみとしてもよい。内部スペア領域ISA0のみとした場合、データ領域の全ての欠陥領域は内部スペア領域ISA0を用いて代替記録される。外部スペア領域OSA0のみの場合も同様である。   In this embodiment, it is assumed that both the internal spare area ISA0 and the external spare area OSA0 exist. However, only the internal spare area ISA0 or only the external spare area OSA0 may be used. When only the internal spare area ISA0 is used, all defective areas in the data area are recorded by replacement using the internal spare area ISA0. The same applies to the external spare area OSA0 alone.

さらに、本実施形態では、クラスタ毎に欠陥12を形成する場合に、レーザ光を用いて欠陥12を形成しているが、他の任意の方法、例えばスタンパ等で欠陥12を形成してもよい。   Furthermore, in the present embodiment, when the defect 12 is formed for each cluster, the defect 12 is formed using laser light. However, the defect 12 may be formed by any other method, for example, a stamper or the like. .

10 評価用光ディスク、12,13 欠陥。   10 Evaluation optical disc, 12, 13 Defect.

Claims (9)

データ領域と、
前記データ領域に欠陥が存在する場合にデータが代替記録されるスペア領域と、
を有し、
前記データ領域にクラスタ単位で欠陥が形成され、かつ前記欠陥は、1クラスタ毎に交互に形成される第1パターンと、連続したクラスタに形成される第2パターンと、光ディスクの特定部位に1トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第3パターンのうち、少なくともいずれか2つのパターンを混在させて形成されてなる、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
A data area;
A spare area in which data is alternatively recorded when a defect exists in the data area;
Have
Defects are formed in cluster units in the data area, and the defects include first patterns alternately formed for each cluster, second patterns formed in continuous clusters, and one track at a specific portion of the optical disk. An optical disc for reproducing performance evaluation of an optical disc apparatus, which is formed by mixing at least any two of the third patterns formed for every or every several tracks.
請求項1記載の光ディスクにおいて、
前記欠陥は、前記第1パターン、前記第2パターン、前記第3パターンの全てを混在させて形成される、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
The optical disc according to claim 1,
An optical disc for reproducing performance evaluation of an optical disc apparatus, wherein the defect is formed by mixing all of the first pattern, the second pattern, and the third pattern.
請求項1記載の光ディスクにおいて、
前記データ領域に欠陥が存在する場合にデータが代替記録領域を有する層が複数からなる、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
The optical disc according to claim 1,
An optical disc for reproducing performance evaluation of an optical disc apparatus, in which a defect is present in the data area, and the data has a plurality of layers having alternative recording areas.
請求項1〜3のいずれかに記載の光ディスクにおいて、
前記データは、前記データ領域に複数のチャプタとして記録され、
前記第1パターン、前記第2パターン、前記第3パターンのそれぞれにおいて、各チャプタ毎に互いに数あるいは位置が異なるように前記欠陥が形成される、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
The optical disk according to any one of claims 1 to 3,
The data is recorded as a plurality of chapters in the data area,
An optical disc for reproducing performance evaluation of an optical disc apparatus, wherein the defect is formed in each of the first pattern, the second pattern, and the third pattern so that each chapter has a different number or position.
請求項4記載の光ディスクにおいて、
内周の複数のチャプタには前記第1パターン、前記第2パターン、前記第3パターンのうちのいずれかのパターンの欠陥が形成され、中周の複数のチャプタには残りの2つのパターンのうちのいずれかのパターンの欠陥が形成され、外周の複数のチャプタには残りの1つのパターンの欠陥が形成される、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
The optical disk according to claim 4, wherein
A defect of any one of the first pattern, the second pattern, and the third pattern is formed in a plurality of inner peripheral chapters, and the remaining two patterns are included in a plurality of chapters in the inner periphery. An optical disc for reproducing performance evaluation of an optical disc apparatus in which a defect of any one of the above patterns is formed and a defect of the remaining one pattern is formed in a plurality of chapters on the outer periphery.
請求項5記載の光ディスクにおいて、
内周の複数のチャプタには前記第2パターンの欠陥が形成され、中周の複数のチャプタには前記第1パターンの欠陥が形成され、外周の複数のチャプタには前記第3パターンの欠陥が形成される、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
The optical disk according to claim 5, wherein
The second pattern defect is formed in a plurality of inner peripheral chapters, the first pattern defect is formed in a plurality of middle peripheral chapters, and the third pattern defect is formed in a plurality of outer peripheral chapters. An optical disk for evaluating the reproduction performance of an optical disk device.
評価用光ディスクを再生することで光ディスク装置の再生性能を評価する評価方法であって、
前記評価用光ディスクは、データ領域と、前記データ領域に欠陥が存在する場合にデータが代替記録されるスペア領域とを有し、前記データ領域にクラスタ単位で欠陥が形成され、かつ前記欠陥は、1クラスタ毎に交互に形成される第1パターンと、連続したクラスタに形成される第2パターンと、光ディスクの特定部位に1トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第3パターンのうちの少なくともいずれか2つのパターンを混在させて形成され、
前記評価用光ディスクを再生し、前記第1パターン、前記第2パターン、前記第3パターンのうちの少なくともいずれか2つのパターンの欠陥による前記データ領域と前記スペア領域との間の光ピックアップのシーク動作に伴う再生データ品質を評価することで前記光ディスク装置の再生性能を評価することを特徴とする評価方法。
An evaluation method for evaluating the reproduction performance of an optical disk device by reproducing an evaluation optical disk,
The evaluation optical disc has a data area and a spare area in which data is alternatively recorded when a defect exists in the data area, the defect is formed in cluster units in the data area, and the defect is At least one of a first pattern formed alternately for each cluster, a second pattern formed for continuous clusters, and a third pattern formed for each track or every several tracks on a specific portion of the optical disk Or two patterns mixed together,
An optical pickup seek operation between the data area and the spare area due to a defect in at least any one of the first pattern, the second pattern, and the third pattern after reproducing the evaluation optical disk An evaluation method characterized in that the reproduction performance of the optical disc apparatus is evaluated by evaluating reproduction data quality associated therewith.
請求項7記載の方法において、
前記欠陥は、前記第1パターン、前記第2パターン、前記第3パターンの全てを混在させて形成され、
前記評価用光ディスクを再生し、前記第1パターン、前記第2パターン、前記第3パターンの欠陥による前記データ領域と前記スペア領域との間の光ピックアップのシーク動作に伴う再生データ品質を評価することで前記光ディスク装置の再生性能を評価することを特徴とする評価方法。
The method of claim 7, wherein
The defect is formed by mixing all of the first pattern, the second pattern, and the third pattern,
Reproducing the evaluation optical disk and evaluating the reproduction data quality accompanying the seek operation of the optical pickup between the data area and the spare area due to the defect of the first pattern, the second pattern, and the third pattern. And evaluating the reproducing performance of the optical disc apparatus.
請求項8記載の方法において、
前記データは、前記データ領域に複数のチャプタとして記録され、
前記第1パターン、前記第2パターン、前記第3パターンのそれぞれにおいて、各チャプタ毎に互いに数あるいは位置が異なるように前記欠陥が形成されることで各チャプタ毎に再生性能に対する負荷が異なるように形成されており、
前記負荷が小さいチャプタから順に再生して再生データ品質を評価することで前記光ディスク装置の再生性能を評価することを特徴とする評価方法。
The method of claim 8, wherein
The data is recorded as a plurality of chapters in the data area,
In each of the first pattern, the second pattern, and the third pattern, the defect is formed so that the number or position is different for each chapter so that the load on the reproduction performance is different for each chapter. Formed,
An evaluation method characterized in that the reproduction performance of the optical disc apparatus is evaluated by reproducing the data in order from the chapter with the smallest load and evaluating the reproduction data quality.
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