JP2010123216A - Magnetic disk device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、磁気ディスク装置に関し、特に環境(温度・湿度・衝撃等)の変化による物理量を測定する磁気ディスク装置に関する。 The present invention relates to a magnetic disk device, and more particularly to a magnetic disk device that measures physical quantities due to changes in environment (temperature, humidity, impact, etc.).
従来の磁気ディスク装置には、温度や衝撃等を検出する機能を有するものがある(特許文献1〜3)。特許文献1には、電源がONしている稼働時間と、稼働中の温度を測定してディスクの寿命を監視する磁気ディスク装置が記載されている。 Some conventional magnetic disk devices have a function of detecting temperature, impact, and the like (Patent Documents 1 to 3). Patent Document 1 describes a magnetic disk device that monitors the life of a disk by measuring the operating time during which the power is on and the temperature during operation.
また、特許文献2には、ディスク内部の温度を測定する温度センサやディスクに加わった衝撃を測定する衝撃センサを備える磁気ディスク装置が記載されている。特許文献3には、温度センサ、気圧センサ、加速度センサ等を備え、ディスク装置と不揮発性半導体メモリとの切り替えを環境条件に従って行う情報処理装置が記載されている。
磁気ディスク装置の不具合原因の追究を行うためには、磁気ディスク装置の電源のON/OFFに係わらず、磁気ディスク装置に加わる環境(温度・湿度・衝撃等)の変化を記録することが重要である。 It is important to record changes in the environment (temperature, humidity, impact, etc.) applied to the magnetic disk device regardless of whether the power of the magnetic disk device is turned on or off in order to investigate the cause of the failure of the magnetic disk device. is there.
しかしながら、従来の磁気ディスク装置は、ディスク装置に電源が供給されていない状態での環境変化を監視することはできない。特許文献1、2では、ディスク装置に電源のバックアップ機能がなく、電源が供給されていない状態での環境変化を記録することはできない。
However, the conventional magnetic disk device cannot monitor environmental changes in a state where power is not supplied to the disk device. In
また、特許文献3では、ディスク装置と半導体メモリの切替え時に、データの一貫性と処理の継続を保証する制御を行うことが目的である。従って、磁気ディスク装置の電源ON時の制御であり、OFF時の環境条件の変化を記録することはできない。
このように、従来、磁気ディスク装置において、特に電源がOFFの時に磁気ディスク装置に加わる環境(温度・湿度・衝撃等)の変化が、磁気ディスク装置の品質にどのように影響しているか不明であった。 As described above, in conventional magnetic disk devices, it is unclear how changes in the environment (temperature, humidity, impact, etc.) applied to the magnetic disk device, particularly when the power is turned off, affect the quality of the magnetic disk device. there were.
また、本発明者は、外部から電源の供給を受けなくても、環境の変化を測定・記録する機能を備えるディスクアレイ装置を発明した。しかし、1台のディスクアレイ装置に加わった環境の変化であっても、個々の磁気ディスク装置が搭載された場所によりそれぞれの磁気ディスク装置に加わる環境の変化は異なる。例えば、地震災害時に加わったディスクアレイ装置への衝撃は磁気ディスク装置ごとに違う。このため、個々の磁気ディスク装置への環境の変化を測定、記録できないという問題がある。 The inventor has also invented a disk array device having a function of measuring and recording changes in the environment without receiving external power supply. However, even if the environment changes in one disk array device, the environment changes in each magnetic disk device differ depending on the location where each magnetic disk device is mounted. For example, the impact on the disk array device applied during an earthquake disaster is different for each magnetic disk device. For this reason, there is a problem that it is impossible to measure and record environmental changes to individual magnetic disk devices.
本発明は、このような事情を背景としてなされたものであり、本発明の目的は、外部から電源の供給を受けることなく、磁気ディスク装置ごとに環境の変化を測定、記録することができる磁気ディスク装置を提供することにある。 The present invention has been made against the background of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a magnetic that can measure and record environmental changes for each magnetic disk device without receiving external power supply. It is to provide a disk device.
本発明の一態様に係る磁気ディスク装置は、磁気ディスク装置に加わる第1物理量を測定し、第1測定データを生成する第1測定回路と、前記磁気ディスク装置に加わる第2物理量を測定し、第2測定データを生成する第2測定回路と、時間を計時し、所定の間隔で周期的にタイミング信号を供給する時計回路と、前記第1測定データと前記第1測定データが測定された時間とを対応付けて記憶し、前記第2測定データと前記第2測定データが測定された時間とを対応付けて記憶する記憶回路と、前記タイミング信号に応じて前記第1測定データ、前記第2測定データの取り込みタイミングを制御するコントロール回路とが基板上に集積された半導体集積回路と、前記半導体集積回路に電源を供給するバッテリとを備えるものである。 A magnetic disk device according to an aspect of the present invention measures a first physical quantity applied to the magnetic disk device, measures a first measurement circuit that generates first measurement data, and measures a second physical quantity applied to the magnetic disk device, A second measurement circuit for generating second measurement data; a clock circuit for measuring time and supplying a timing signal periodically at a predetermined interval; and a time at which the first measurement data and the first measurement data are measured And a storage circuit that stores the second measurement data and the time at which the second measurement data was measured in association with each other, the first measurement data according to the timing signal, and the second A control circuit for controlling the timing of capturing measurement data includes a semiconductor integrated circuit integrated on a substrate, and a battery for supplying power to the semiconductor integrated circuit.
本発明によれば、外部から電源の供給を受けることなく、磁気ディスク装置ごとに環境の変化を測定、記録することができる磁気ディスク装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a magnetic disk device capable of measuring and recording environmental changes for each magnetic disk device without receiving power supply from the outside.
本発明の実施の形態に係る磁気ディスク装置について、図1を参照して説明する。図1は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置1の構成を示す図である。図1に示すように、磁気ディスク装置1は、半導体集積回路2、バッテリ3を備えている。
A magnetic disk device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a magnetic disk device 1 according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, the magnetic disk device 1 includes a semiconductor integrated
半導体集積回路2は、磁気ディスク装置1に加わる環境(温度・湿度・衝撃等)の変化による物理量を検出・測定する。バッテリ3は、導体集積回路2の各部に電源を供給する。すなわち、半導体集積回路2は、外部から電源が供給されない場合でも、動作することができる。図1において、実線の矢印は信号伝送路を示しており、破線の矢印は電源供給路を示している。
The semiconductor integrated
ここで、半導体集積回路2について詳細に説明する。半導体集積回路2には、温度センサ110、温度測定回路111、湿度センサ120、湿度測定回路121、衝撃センサ130、衝撃測定回路131、コントロール回路200、時計回路300が設けられている。これらの回路は、1つのプリント基板上に集積されている。
Here, the semiconductor integrated
温度センサ110は、磁気ディスク装置1が使用される環境の温度を検出する。温度センサ110で検出された温度信号110aは、温度測定回路111に入力される。温度測定回路111は、温度信号110aに基づいて環境温度を測定し、温度データ111aを生成する。温度測定回路111は、コントロール回路200からの温度データ取り込み信号200aに応じて、温度データ111aをコントロール回路200へ送出する。
The
湿度センサ120は、磁気ディスク装置1が使用される環境の湿度を検出する。湿度センサ120で検出された湿度振動120aは、湿度測定回路121に入力される。湿度測定回路121は、湿度信号120aに基づいて環境湿度を測定し、湿度データ121aを生成する。湿度測定回路121は、コントロール回路200からの湿度データ取り込み信号200bに応じて、湿度データ121aをコントロール回路200に送出する。
The
衝撃センサ130は、磁気ディスク装置1に受ける衝撃を検出する。基準を超える衝撃があった場合、衝撃センサ130は衝撃信号130aを衝撃測定回路131に入力する。衝撃測定回路131は、衝撃信号130aに基づいて衝撃の大きさを測定し、衝撃データ131aを生成し、コントロール回路200に送出する。温度データ111a、湿度データ121a、衝撃データ131aを測定データとする。
The
コントロール回路200は、CPU210、不揮発性メモリ220を含む。CPU210は、測定データの記録処理を行う。時計回路300は、時間を計時し、計時した時間を示す日時データ300aを生成して、コントロール回路200に供給する。また、時計回路300は、所定の間隔でタイミング信号を生成し、コントロール回路200に供給する。CPU210は、このタイミング信号に基づいて、温度データ取り込み信号200a、湿度データ取り込み信号200bを生成する。
The
次に、図1に示す磁気ディスク装置1の動作について、図2を参照して説明する。図2は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置1の動作を説明するためのフローチャートである。図2に示すように、まず、温度測定回路111と湿度測定回路121に対して、温度データ取り込み信号200a、湿度データ取り込み信号200bが入力されたか否かが判断される(ステップS10)。温度データ取り込み信号200a、湿度データ取り込み信号200bが入力された場合(ステップS10YES)、温度測定回路111は温度を、湿度測定回路121は湿度をそれぞれ測定する(ステップS20)。測定した温度データ111a、121aは、コントロール回路200の不揮発性メモリ220に、時計回路300から入力される日時データ300aとともに記録される(ステップS30)。
Next, the operation of the magnetic disk device 1 shown in FIG. 1 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a flowchart for explaining the operation of the magnetic disk device 1 according to the present embodiment. As shown in FIG. 2, first, it is determined whether or not the temperature
温度データ取り込み信号200a、湿度データ取り込み信号200bが入力されていない場合(ステップS10NO)、衝撃信号があるか否かが判断される(ステップS40)。衝撃センサ130から基準値を超える衝撃信号130aが入力された場合(ステップS40YES)、衝撃データ131aはコントロール回路200の不揮発性メモリ220に日時データ300aとともに記憶される(ステップS50)。
If the temperature
また、衝撃センサ130から基準値を超える衝撃信号130aが入力されていない場合(ステップS40NO)、磁気ディスク装置1もしくはその上位コントローラから環境データ取り込み信号200dが入力されているか否かが判断される(ステップS60)。コントロール回路200は、環境データ取り込み信号200dが入力された場合(ステップS60YES)、不揮発性メモリに格納された環境データ200cを送出する(ステップS70)。本実施の形態においては、環境データ200cには、温度データ、湿度データ、衝撃データ、日時データが含まれる。
If the
ここで、本発明に係る磁気ディスク装置1の具体的な動作について、図3を参照して説明する。図3は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置1の具体的な動作を説明するためのタイミングチャートである。ここでは、タイミング信号が30分間隔で生成されているものとし、温度データ取り込み信号200a、湿度データ取り込み信号200bは、30分間隔で生成されるものとする。
Here, a specific operation of the magnetic disk device 1 according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a timing chart for explaining a specific operation of the magnetic disk device 1 according to the present embodiment. Here, it is assumed that the timing signals are generated at intervals of 30 minutes, and the temperature
図3に示すように、T0〜T1において、30分間隔の温度データ取り込み信号200a、湿度データ取り込み信号200bに応じて、コントロール回路200は、温度測定回路111からの温度信号111a及び湿度測定回路121からの湿度信号121aを不揮発性メモリ220に取り込む。
As shown in FIG. 3, in T0 to T1, the
また、任意の時間T3及びT4で発生した衝撃センサ130の衝撃信号130aは、衝撃基準を超えている。このため、衝撃測定回路131は、時間T3のときの衝撃信号130aのピーク値P1、時間T4のときの衝撃信号130aのピーク値P2を衝撃データ131aとしてコントロール回路200の不揮発性メモリ220に取り込む。
Further, the
なお、時間T5に発生した衝撃信号130aは、衝撃基準に達しない。このため、時間T5のときの衝撃信号130aのピーク値P3は、衝撃データとして、不揮発性メモリ220に取り込まれることはない。
Note that the
そして、時間T6で発生した環境データ取り込み信号200dによりコントロール回路200は記録していた不揮発性メモリ220に格納された環境データ200cを送出する。
Then, the
このように、本発明においては、磁気ディスク装置1の電源ON/OFFに係わらず、磁気ディスク装置1に加わる物理量(温度・湿度・衝撃等)(環境変化)を自動的に記録することができる。これにより、時間の経過とともに環境変化の履歴を残すことができる。例えば、磁気ディスク装置の流通過程や、ユーザ先稼働中もしくは停止中、あるいは地震災害時等、常に磁気ディスク装置に対する環境の変化を測定、記録することができる。このため、磁気ディスク装置1の不具合原因の追究が可能となり、品質の確保を容易に行うことができる。 As described above, in the present invention, the physical quantity (temperature, humidity, impact, etc.) (environmental change) applied to the magnetic disk device 1 can be automatically recorded regardless of whether the magnetic disk device 1 is turned on or off. . Thereby, it is possible to leave a history of environmental changes over time. For example, it is possible to always measure and record changes in the environment with respect to the magnetic disk device, such as the distribution process of the magnetic disk device, when the user is operating or stopped, or during an earthquake disaster. For this reason, the cause of the malfunction of the magnetic disk device 1 can be investigated, and quality can be easily ensured.
また、本発明では、環境(温度・湿度・衝撃等)の変化を時間とともに自動的に記録する回路を1つのプリント基板上に集積している。このように小型化することにより、磁気ディスク装置1に搭載することが可能となる。 In the present invention, a circuit for automatically recording changes in the environment (temperature, humidity, impact, etc.) with time is integrated on one printed circuit board. By downsizing as described above, the magnetic disk device 1 can be mounted.
なお、本実施の形態においては、磁気ディスク装置1に加わる物理量を検出する手段の例として、温度センサ、湿度センサ、衝撃センサの3つのセンサを設けたが、これに限定されるものではない。例えば、気圧を測定する気圧センサや、振動センサ、加速度センサ等を設けることも可能である。 In the present embodiment, three sensors, a temperature sensor, a humidity sensor, and an impact sensor, are provided as examples of means for detecting a physical quantity applied to the magnetic disk device 1, but the present invention is not limited to this. For example, it is possible to provide an atmospheric pressure sensor that measures atmospheric pressure, a vibration sensor, an acceleration sensor, or the like.
1 磁気ディスク装置
2 半導体集積回路
3 バッテリ
110 温度センサ
111 温度測定回路
120 湿度センサ
121 湿度測定回路
130 衝撃センサ
131 衝撃測定回路
200 コントロール回路
210 CPU
220 不揮発性メモリ
300 時計回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
220
Claims (5)
前記磁気ディスク装置に加わる第2物理量を測定し、第2測定データを生成する第2測定回路と、
時間を計時し、所定の間隔で周期的にタイミング信号を供給する時計回路と、
前記第1測定データと前記第1測定データが測定された時間とを対応付けて記憶し、前記第2測定データと前記第2測定データが測定された時間とを対応付けて記憶する記憶回路と、
前記タイミング信号に応じて前記第1測定データ又は前記第2測定データの取り込みタイミングを制御するコントロール回路と、
が基板上に集積された半導体集積回路と、
前記半導体集積回路に電源を供給するバッテリとを備える磁気ディスク装置。 A first measurement circuit for measuring a first physical quantity applied to the magnetic disk device and generating first measurement data;
A second measurement circuit for measuring a second physical quantity applied to the magnetic disk device and generating second measurement data;
A clock circuit for measuring time and supplying a timing signal periodically at predetermined intervals;
A storage circuit for storing the first measurement data and the time when the first measurement data is measured in association with each other, and storing the second measurement data and the time when the second measurement data is measured in association with each other; ,
A control circuit for controlling the capture timing of the first measurement data or the second measurement data according to the timing signal;
A semiconductor integrated circuit integrated on a substrate;
A magnetic disk device comprising: a battery for supplying power to the semiconductor integrated circuit.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017134878A (en) * | 2016-01-29 | 2017-08-03 | 日本電気株式会社 | Storage device and control method of storage device |
JP2018160291A (en) * | 2017-03-22 | 2018-10-11 | 日本電気株式会社 | Disk device and notification method |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07240063A (en) * | 1994-02-25 | 1995-09-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | Device for recording/reproducing disk and control equipment incorporating the same |
JP2002343074A (en) * | 2001-05-21 | 2002-11-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Hard disk system device and its rental method |
WO2004057595A1 (en) * | 2002-12-19 | 2004-07-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Recording medium device |
JP2005071068A (en) * | 2003-08-25 | 2005-03-17 | Renesas Technology Corp | Storage device |
JP2007122790A (en) * | 2005-10-26 | 2007-05-17 | Sony Corp | Electronic device and electronic device control method |
-
2008
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07240063A (en) * | 1994-02-25 | 1995-09-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | Device for recording/reproducing disk and control equipment incorporating the same |
JP2002343074A (en) * | 2001-05-21 | 2002-11-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Hard disk system device and its rental method |
WO2004057595A1 (en) * | 2002-12-19 | 2004-07-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Recording medium device |
JP2005071068A (en) * | 2003-08-25 | 2005-03-17 | Renesas Technology Corp | Storage device |
JP2007122790A (en) * | 2005-10-26 | 2007-05-17 | Sony Corp | Electronic device and electronic device control method |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017134878A (en) * | 2016-01-29 | 2017-08-03 | 日本電気株式会社 | Storage device and control method of storage device |
JP2018160291A (en) * | 2017-03-22 | 2018-10-11 | 日本電気株式会社 | Disk device and notification method |
US10684905B2 (en) | 2017-03-22 | 2020-06-16 | Nec Corporation | Disk device and notification method of the disk device |
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