JP2009153920A - X-ray diagnostic apparatus - Google Patents

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Yoji Kudo
洋二 工藤
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray diagnostic apparatus which has a failure diagnostic function enabled to accurately specify an abnormal point of a multi-channel X-ray detection means. <P>SOLUTION: Detection data by each X-ray detection element of an X-ray detection device 13 are collected via each DAS of a DAS unit 17 based on failure diagnostic conditions stored in a failure diagnostic processing part 38. The collected data are compared with reference data preliminarily stored in the failure diagnostic processing part 38. From the collected data, abnormality at each part of the X-ray detection device 13 and the DAS unit 17 is judged. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、故障診断機能を有するＸ線診断装置に関するものである。   The present invention relates to an X-ray diagnostic apparatus having a failure diagnostic function.

Ｘ線診断装置であるＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線管と多チャンネルのＸ線検出器を、被検体を挟んで相対向して配置し、これらＸ線管とＸ線検出器を被検体の周りで回転させるとともに、Ｘ線管より発生したＸ線を被検体を透過させてＸ線検出器で検出するようにしている（例えば、特許文献１）。   An X-ray CT apparatus, which is an X-ray diagnostic apparatus, arranges an X-ray tube and a multi-channel X-ray detector opposite to each other with the subject interposed therebetween, and these X-ray tube and X-ray detector are placed on the subject. While rotating around, the X-ray generated from the X-ray tube passes through the subject and is detected by the X-ray detector (for example, Patent Document 1).

この場合、多チャンネルのＸ線検出器には、これらＸ線検出器とともに回転されるデータ収集部（以下、ＤＡＳ（Data Acquisition System）ユニットと称する。）が接続されている。このＤＡＳユニットは、Ｘ線検出器で検出されるＸ線強度に応じた電気信号（アナログ信号）を一旦蓄積し、この蓄積された電気量を増幅したのちデジタル信号に変換し画像データとして出力する。
２００５−２８３４４１号公報 In this case, a multichannel X-ray detector is connected to a data acquisition unit (hereinafter referred to as a DAS (Data Acquisition System) unit) that is rotated together with these X-ray detectors. This DAS unit temporarily accumulates an electrical signal (analog signal) corresponding to the X-ray intensity detected by the X-ray detector, amplifies the accumulated amount of electricity, converts it into a digital signal, and outputs it as image data. .
2005-283441

ところで、この種のＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線検出器の多チャンネル化にともない、内部異常が発生したような場合、これら多チャンネルのＸ線検出器及びＤＡＳユニットの中から故障原因の個所を特定するのが難しくなっている。このため、故障個所の特定が不十分のままＸ線検出器の取外しなどを行うことになると、多チャンネル化されたＸ線検出器の取外し作業が容易でないため、故障していない非常に高価な検出器までを破損してしまうことがあるなど、極めて困難な作業を強いられる。   By the way, when this type of X-ray CT apparatus has an internal abnormality accompanying the increase in the number of X-ray detectors, the cause of the failure can be determined from among these multi-channel X-ray detectors and DAS units. It is difficult to identify. For this reason, if the X-ray detector is to be removed while the location of the failure is insufficiently specified, the removal work of the multi-channel X-ray detector is not easy, and therefore it is not expensive and is not expensive. It is forced to do extremely difficult work such as damage to the detector.

このため、多チャンネルのＸ線検出器やＤＡＳユニットの異常が疑われた場合、これらを例えばユニット単位で一式交換する方法がとられているが、これらＸ線検出器及びＤＡＳユニットは高価なものであるため、一式交換には多大なコストがかかってしまうという問題を生じる。   For this reason, when a malfunction of a multi-channel X-ray detector or DAS unit is suspected, a method of exchanging them as a unit, for example, is used. However, these X-ray detector and DAS unit are expensive. Therefore, there arises a problem that the set replacement is very expensive.

本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、多チャンネルのＸ線検出手段の異常個所を的確に特定可能にした故障診断機能を有するＸ線診断装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide an X-ray diagnostic apparatus having a failure diagnosis function that can accurately identify an abnormal part of a multi-channel X-ray detection means.

本発明に係るＸ線診断装置は、
被検体にＸ線を曝射するＸ線曝射手段と、
前記被検体を透過するＸ線を検出するＸ線検出素子及び該Ｘ線検出素子の検出データを収集するデータ収集部をそれぞれ有する多チャンネルのＸ線検出手段と、
予め所定の診断条件下で前記Ｘ線検出手段を介して収集されたデータを基準データとして記憶する記憶手段と、
前記所定の診断条件の下で前記Ｘ線検出手段より取得されたデータと前記記憶手段に記憶された基準データとの比較結果に応じて前記Ｘ線検出手段の異常を判定する異常判定手段とを具備したことを特徴としている。 An X-ray diagnostic apparatus according to the present invention includes:
An X-ray exposure means for exposing the subject to X-rays;
Multi-channel X-ray detection means each having an X-ray detection element for detecting X-rays transmitted through the subject and a data collection unit for collecting detection data of the X-ray detection element;
Storage means for preliminarily storing data collected through the X-ray detection means under predetermined diagnostic conditions as reference data;
An abnormality determination unit that determines an abnormality of the X-ray detection unit according to a comparison result between data acquired from the X-ray detection unit and reference data stored in the storage unit under the predetermined diagnosis condition; It is characterized by having.

本発明によれば、多チャンネルのＸ線検出手段の異常個所を的確に特定可能にした故障診断機能を有するＸ線診断装置を提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the X-ray diagnostic apparatus which has a failure diagnostic function which enabled it to pinpoint the abnormal location of a multi-channel X-ray detection means correctly can be provided.

以下、本発明の実施の形態を図面に従い説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

（第１の実施の形態）
図１は、本発明の第１の実施の形態にかかるＸ線診断装置としてＸ線ＣＴ装置の概略構成を示している。 (First embodiment)
FIG. 1 shows a schematic configuration of an X-ray CT apparatus as an X-ray diagnostic apparatus according to the first embodiment of the present invention.

この場合、Ｘ線ＣＴ装置は、架台装置１０、寝台装置２０、及びコンソール部３０を備えている。架台装置１０は、回転架台(ガントリ)１１を有し、この回転架台１１を挟んでＸ線源１２とＸ線検出器１３が対向して配置されている。また、架台装置１０には、高電圧発生部１４、架台駆動部１５、絞り駆動部１６及びＤＡＳユニット１７が設けられている。   In this case, the X-ray CT apparatus includes a gantry device 10, a couch device 20, and a console unit 30. The gantry 10 includes a rotating gantry 11, and an X-ray source 12 and an X-ray detector 13 are arranged to face each other with the rotating gantry 11 interposed therebetween. Further, the gantry device 10 is provided with a high voltage generation unit 14, a gantry driving unit 15, an aperture driving unit 16, and a DAS unit 17.

回転架台１１は、Ｘ線源１２とＸ線検出器１３とを保持するもので、架台駆動部１５によりＸ線源１２とＸ線検出器１３を結ぶ直線の中間点に位置する回転軸を中心にして回転される。架台駆動部１５は、制御部３１により出力された架台制御信号に基づいて回転架台１１を回転させる。制御部３１については後述する。   The rotary base 11 holds the X-ray source 12 and the X-ray detector 13, and is centered on a rotation axis located at the midpoint of a straight line connecting the X-ray source 12 and the X-ray detector 13 by the base drive unit 15. And rotated. The gantry driving unit 15 rotates the rotating gantry 11 based on the gantry control signal output by the control unit 31. The control unit 31 will be described later.

高電圧発生部１４は、制御部３１からの制御信号に基づいて、撮影条件に従った高電圧をＸ線源１２に供給する。この場合、Ｘ線源１２は、高電圧発生部１４から供給された高電圧によって、ファン状やコーン状などのＸ線ビームを曝射する。絞り駆動部１６は、撮影条件に従ってＸ線遮蔽板を移動させ、Ｘ線のスライス方向の曝射範囲を調整する。   The high voltage generator 14 supplies a high voltage according to the imaging conditions to the X-ray source 12 based on a control signal from the controller 31. In this case, the X-ray source 12 exposes an X-ray beam such as a fan shape or a cone shape by the high voltage supplied from the high voltage generator 14. The aperture drive unit 16 moves the X-ray shielding plate according to the imaging conditions, and adjusts the exposure range in the X-ray slice direction.

Ｘ線検出器１３は、Ｘ線源１２から曝射され、被検体Ｐを透過したＸ線ビームを検出し、検出信号を出力する。この場合、Ｘ線検出器１３は、図３に示すように回転架台１１の開口部１１ａ内周面に沿って前記Ｘ線源１２に対向して配置されるもので、チャンネル方向Ｃにそれぞれ１列に並べて構成される、多チャンネル（例えば１０００チャンネル）のＸ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎが、スライス方向Ｓに２列に配置されている。   The X-ray detector 13 detects an X-ray beam that has been exposed from the X-ray source 12 and transmitted through the subject P, and outputs a detection signal. In this case, the X-ray detectors 13 are arranged to face the X-ray source 12 along the inner peripheral surface of the opening 11a of the rotary mount 11 as shown in FIG. Multi-channel (for example, 1000 channels) X-ray detection elements 131a, 131b,... 131n, 132a, 132b,... 132n arranged in rows are arranged in two rows in the slice direction S.

Ｘ線検出器１３には、ＤＡＳユニット１７が接続されている。この場合、ＤＡＳユニット１７は、図４に示すようにＸ線検出器１３を構成する各Ｘ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎに各別にデータ収集部としてのＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎが接続されている。この場合、Ｘ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎは、これらに各別に接続されるＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎとともにそれぞれＸ線検出手段を構成している。   A DAS unit 17 is connected to the X-ray detector 13. In this case, as shown in FIG. 4, the DAS unit 17 includes a DAS 171a as a data collection unit in each X-ray detection element 131a, 131b,... 131n, 132a, 132b,. 171b, ... 171n, 172a, 172b, ... 172n are connected. In this case, the X-ray detection elements 131a, 131b,... 131n, 132a, 132b,... 132n constitute X-ray detection means together with DAS 171a, 171b,. is doing.

ＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎには、ＤＡＳコントローラ１７０が接続されている。ＤＡＳコントローラ１７０は、制御部３１の指示によりＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎ全体を制御するもので、これらＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎに収集されたデータを纏めて出力させる。また、各Ｘ線検出手段を構成するＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎ及びＸ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎは、複数チャンネル、例えば２０チャンネル毎に一纏めにしてユニット化され、これらユニット単位で交換を可能にしている。   A DAS controller 170 is connected to the DAS 171a, 171b,... 171n, 172a, 172b,. The DAS controller 170 controls the entire DAS 171a, 171b,... 171n, 172a, 172b,... 172n according to instructions from the control unit 31. Are output together. In addition, DAS 171a, 171b,... 171n, 172a, 172b,... 172n and X-ray detection elements 131a, 131b,. Are unitized together and can be replaced in units.

ＤＡＳ１７１ａは、図５に示すようにＸ線検出素子１３１ａに例えばフレキシブルケーブルからなる第１のケーブル１７ａを介して積分器（C-AMP）１７ｂが接続されている。また、積分器１７ｂには、例えばフレキシブルケーブルからなる第２のケーブル１７ｃを介して増幅器（P-AMP）１７ｄが接続され、この増幅器１７ｄにデジタル変換器（ADC）１７ｅが接続されている。積分器１７ｂは、Ｘ線検出素子１３１ａで検出されるＸ線強度に応じた電気信号（アナログ信号）を一旦蓄積する。増幅器１７ｄは、積分器１７ｂに蓄積された電気量を増幅し、デジタル変換器１７ｅは、増幅器１７ｄで増幅された電気信号（アナログ信号）をデジタル信号に変換し画像データとして出力する。   In the DAS 171a, as shown in FIG. 5, an integrator (C-AMP) 17b is connected to the X-ray detection element 131a via a first cable 17a made of, for example, a flexible cable. Further, an amplifier (P-AMP) 17d is connected to the integrator 17b via a second cable 17c made of a flexible cable, for example, and a digital converter (ADC) 17e is connected to the amplifier 17d. The integrator 17b temporarily stores an electrical signal (analog signal) corresponding to the X-ray intensity detected by the X-ray detection element 131a. The amplifier 17d amplifies the amount of electricity accumulated in the integrator 17b, and the digital converter 17e converts the electrical signal (analog signal) amplified by the amplifier 17d into a digital signal and outputs it as image data.

その他、ＤＡＳ１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎについても、Ｘ線検出素子１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎに対してＤＡＳ１７１ａと同様に構成されている。   In addition, DAS 171b,... 171n, 172a, 172b,... 172n are configured in the same manner as DAS 171a with respect to X-ray detection elements 131b, ... 131n, 132a, 132b,.

図１に戻って、寝台装置２０は、被検体Ｐが載置される寝台天板２１を有している。寝台天板２１は、寝台駆動部２３を有する寝台基台２２により支持されている。   Returning to FIG. 1, the couch device 20 has a couch top 21 on which the subject P is placed. The bed top 21 is supported by a bed base 22 having a bed driving unit 23.

寝台駆動部２３は、制御部３１から出力された寝台移動制御信号に基づいて、回転架台１１の1回転当たりの寝台天板２１の移動量を演算し、スキャン時に、演算された移動量で寝台天板２１を移動させる。この場合、寝台天板２１は、被検体Ｐを載せた状態で、寝台駆動部２３により上下方向に移動されるとともに、被検体Ｐの体軸方向に移動可能となっている。   The couch driving unit 23 calculates the movement amount of the couch top 21 per rotation of the rotating gantry 11 based on the couch movement control signal output from the control unit 31, and the couch is calculated with the calculated movement amount at the time of scanning. The top plate 21 is moved. In this case, the bed top plate 21 is moved in the vertical direction by the bed driving unit 23 with the subject P placed thereon, and is movable in the body axis direction of the subject P.

コンソール部３０は、制御部３１を有している。制御部３１には、上述した高電圧発生部１４、架台駆動部１５、絞り駆動部１６、ＤＡＳユニット１７及び寝台駆動部２３が接続されている。   The console unit 30 has a control unit 31. The control unit 31 is connected to the above-described high voltage generation unit 14, gantry driving unit 15, aperture driving unit 16, DAS unit 17, and bed driving unit 23.

また、コンソール部３０は、制御部３１の他に、コンソールＩ／Ｆ(インターフェース)ユニット３２、再構成処理部３３、画像記憶部３４、画像処理部３５、表示装置３６、入力部３７及び故障診断処理部３８を有している。   In addition to the control unit 31, the console unit 30 includes a console I / F (interface) unit 32, a reconstruction processing unit 33, an image storage unit 34, an image processing unit 35, a display device 36, an input unit 37, and a fault diagnosis. A processing unit 38 is included.

制御部３１は、装置全体を制御する。この場合、制御部３１は、高電圧発生部１４に対して、Ｘ線ビーム発生を制御するＸ線ビーム発生制御信号を出力し、また、架台駆動部１５に対して、診断開始の指示、及び回転架台１１の駆動を制御する架台制御信号を出力する。さらに制御部３１は、ＤＡＳユニット１７に対して、データの収集駆動を制御するデータ収集制御信号を出力し、絞り駆動部１６に対して、Ｘ線ビームの絞りを制御する絞り制御信号を出力する。そして、寝台駆動部２３に対して、寝台移動を制御する寝台移動制御信号を出力する。   The control unit 31 controls the entire apparatus. In this case, the control unit 31 outputs an X-ray beam generation control signal for controlling the X-ray beam generation to the high voltage generation unit 14, and instructs the gantry driving unit 15 to start diagnosis, and A gantry control signal for controlling the driving of the rotating gantry 11 is output. Further, the control unit 31 outputs a data acquisition control signal for controlling the data acquisition drive to the DAS unit 17, and outputs an aperture control signal for controlling the aperture of the X-ray beam to the aperture drive unit 16. . Then, a bed movement control signal for controlling the bed movement is output to the bed driving unit 23.

コンソールＩ／Ｆユニット３２は、架台装置１０でＸ線検出器１３の検出信号を収集したＤＡＳユニット１７からの送信データを受信する。再構成処理部３３は、コンソールＩ／Ｆユニット３２を介して入力されるＤＡＳユニット１７の収集データに基づいて被検体Ｐに対する画像を再構成し画像データを出力する。画像記憶部３４は、再構成処理部３３で再構成された断層画像データを一時的に記憶する。画像処理部３５は、画像記憶部３４に記憶されたデータからＣＴ画像データを生成し、表示装置３６に表示させる。故障診断処理部３８は、Ｘ線検出器１３及びＤＡＳユニット１７の故障を診断する。故障診断処理部３８については後述する。そして、入力部３７は、各種撮影条件の設定や故障診断のための各種の指示を入力する。   The console I / F unit 32 receives transmission data from the DAS unit 17 that has collected the detection signals of the X-ray detector 13 by the gantry device 10. The reconstruction processing unit 33 reconstructs an image for the subject P based on the collected data of the DAS unit 17 input via the console I / F unit 32 and outputs the image data. The image storage unit 34 temporarily stores the tomographic image data reconstructed by the reconstruction processing unit 33. The image processing unit 35 generates CT image data from the data stored in the image storage unit 34 and causes the display device 36 to display the CT image data. The failure diagnosis processing unit 38 diagnoses failures in the X-ray detector 13 and the DAS unit 17. The failure diagnosis processing unit 38 will be described later. Then, the input unit 37 inputs various instructions for setting various imaging conditions and for failure diagnosis.

故障診断処理部３８は、図２に示すように診断条件記憶部３８１、基準データ記憶部３８２及び異常判定部３８３を有している。診断条件記憶部３８１は、故障診断に必要なデータ収集のための条件として、例えば、（ａ）１２０ＫＶ、５０ｍＡ、エアー（被検体なし）、（ｂ）１２０ＫＶ、１００ｍＡ、エアー（被検体なし）、（ｃ）オフセット（Ｘ線非曝射時）、（ｄ）Ｃ−ＡＭＰリセット時、（ｅ）Ｐ−ＡＭＰリセット時、などの各故障診断条件を記憶している。基準データ記憶部３８２は、故障判定に用いる基準データを記憶している。この場合、上述の故障診断条件（ａ）〜（ｃ）で装置を動作させた場合のＸ線検出器１３の各Ｘ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎでの検出データをＤＡＳユニット１７を介して収集し、これらデータの変化から求められる各Ｘ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎそれぞれの動作特性を基準データＡとして記憶し、また、故障診断条件（ｄ）（ｅ）でのＸ線検出器１３の各Ｘ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ａ、…１３２ｎの検出データをＤＡＳユニット１７を介して収集し、これら収集データを基準データＢ、Ｃとしてそれぞれ記憶している。異常判定部３８３は、故障診断条件（ａ）〜（ｅ）に基づいてＤＡＳユニット１７を介して収集されるデータと、基準データ記憶部３８２に記憶された上述の基準データＡ、Ｂ、Ｃを比較し、この比較結果よりＸ線検出器１３及びＤＡＳユニット１７の各所の異常を判定する。そして、異常判定部３８３で判定した結果を表示装置３６に表示させる。   The failure diagnosis processing unit 38 includes a diagnostic condition storage unit 381, a reference data storage unit 382, and an abnormality determination unit 383 as shown in FIG. The diagnosis condition storage unit 381 includes, for example, (a) 120 KV, 50 mA, air (no subject), (b) 120 KV, 100 mA, air (no subject) as conditions for collecting data necessary for failure diagnosis, Each failure diagnosis condition such as (c) offset (when X-rays are not exposed), (d) when C-AMP is reset, and (e) when P-AMP is reset is stored. The reference data storage unit 382 stores reference data used for failure determination. In this case, detection by each X-ray detection element 131a, 131b, ... 131n, 132a, 132b, ... 132n of the X-ray detector 13 when the apparatus is operated under the above-described failure diagnosis conditions (a) to (c) Data is collected via the DAS unit 17, and each X-ray detection element 131a, 131b,... 131n, 132a, 132b,. The detection data of the X-ray detectors 131a, 131b,... 131n, 132a, 132a,... 132n of the X-ray detector 13 under the failure diagnosis conditions (d) and (e) are collected via the DAS unit 17, and these are collected. Data is stored as reference data B and C, respectively. The abnormality determination unit 383 uses the data collected via the DAS unit 17 based on the failure diagnosis conditions (a) to (e) and the above-described reference data A, B, and C stored in the reference data storage unit 382. The comparison is made, and the abnormality of each part of the X-ray detector 13 and the DAS unit 17 is determined from the comparison result. Then, the result determined by the abnormality determining unit 383 is displayed on the display device 36.

次に、このように構成された実施の形態の作用を説明する。   Next, the operation of the embodiment configured as described above will be described.

いま、基準データ記憶部３８２には、上述したように診断条件記憶部３８１に記憶された各故障診断条件（ａ）〜（ｅ）によりＤＡＳユニット１７を介して収集されたデータに基づいて上述した基準データＡ、Ｂ、Ｃが記憶されているものとする。   Now, the reference data storage unit 382 described above is based on the data collected via the DAS unit 17 according to the respective failure diagnosis conditions (a) to (e) stored in the diagnosis condition storage unit 381 as described above. It is assumed that reference data A, B, and C are stored.

まず、Ｘ線検出器１３のＸ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎの故障診断を行う場合、診断条件記憶部３８１より故障診断条件（ａ）〜（ｃ）を読み出し、これら故障診断条件（ａ）〜（ｃ）にしたがって装置の動作を実行する。そして、このときのＸ線検出器１３の各Ｘ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎの検出データを、ＤＡＳユニット１７を介して収集し、異常判定部３８３に入力する。異常判定部３８３は、ＤＡＳユニット１７を介して収集したデータの変化から各Ｘ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎそれぞれの動作特性を求め、これらの動作特性を基準データ記憶部３８２に記憶された基準データＡと比較することによりＸ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎの中から故障や劣化などの異常を判定する。そして、異常判定部３８３で判定した結果を表示装置３６に表示させる。   First, when performing failure diagnosis of the X-ray detection elements 131a, 131b,... 131n, 132a, 132b,... 132n of the X-ray detector 13, the failure diagnosis conditions (a) to (c) are read from the diagnosis condition storage unit 381. Then, the operation of the apparatus is executed according to these failure diagnosis conditions (a) to (c). Then, the detection data of each X-ray detection element 131a, 131b,... 131n, 132a, 132b,... 132n of the X-ray detector 13 at this time is collected via the DAS unit 17 and input to the abnormality determination unit 383. . The abnormality determination unit 383 obtains the operation characteristics of each of the X-ray detection elements 131a, 131b,... 131n, 132a, 132b,... 132n from the change in the data collected through the DAS unit 17, and uses these operation characteristics as reference data. By comparing with the reference data A stored in the storage unit 382, abnormality such as failure or deterioration is determined from among the X-ray detection elements 131a, 131b,... 131n, 132a, 132b,. Then, the result determined by the abnormality determining unit 383 is displayed on the display device 36.

この場合、異常と判定されたＸ線検出素子が特定されれば、該当するＸ線検出素子のみを抜き出して交換する。ここで、例えば、１チャンネルだけのＸ線検出素子が異常と判定されたような場合は、Ｘ線検出素子を交換するのではなく、該当するＸ線検出素子周囲の他のチャンネルのＸ線検出素子の検出データを用い、この検出データを異常と判断されたＸ線検出素子の検出データとみなして利用する、所謂チャンネル置換を行うようにしてもよい。   In this case, if an X-ray detection element determined to be abnormal is specified, only the corresponding X-ray detection element is extracted and replaced. Here, for example, when it is determined that the X-ray detection element of only one channel is abnormal, the X-ray detection of other channels around the corresponding X-ray detection element is not performed instead of replacing the X-ray detection element. It is also possible to perform so-called channel replacement that uses element detection data and regards this detection data as detection data of an X-ray detection element determined to be abnormal.

次に、ＤＡＳユニット１７の故障診断を行う場合、まず、診断条件記憶部３８１より故障診断条件（ｄ）を読み出し、この故障診断条件（ｄ）にしたがってＤＡＳユニット１７の全てのＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎの積分器１７ｂを強制的にリセット状態にする。この状態で、ＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎのそれぞれのデジタル変換器１７ｅからデータを収集する。そして、これら収集されたデータと、基準データ記憶部３８２に記憶された基準データＢを異常判定部３８３で比較する。この場合、異常判定部３８３は、各ＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎのうち、基準データＢに対して明らかに異常なデータを出力するものがあれば、異常データを出力するものについてリセットされた積分器１７ｂを含む出力側、つまり、積分器１７ｂからデジタル変換器１７ｅまでの間で異常が発生していると判断し、この結果を表示装置３６に表示する。この場合、異常と判断されたＤＡＳについて、例えば積分器１７ｂの出力異常やケーブル１７ｃの抜けなどが考えられるので、これらの個所について集中して故障原因を調べればよい。   Next, when performing failure diagnosis of the DAS unit 17, first, the failure diagnosis condition (d) is read from the diagnosis condition storage unit 381, and all the DASs 171a, 171b,... Of the DAS unit 17 are read according to the failure diagnosis condition (d). The integrators 17b of 171n, 172a, 172b,... 172n are forcibly reset. In this state, data is collected from each digital converter 17e of DAS 171a, 171b,... 171n, 172a, 172b,. Then, the abnormality determination unit 383 compares the collected data with the reference data B stored in the reference data storage unit 382. In this case, the abnormality determination unit 383 outputs abnormal data if any of the DAS 171a, 171b,... 171n, 172a, 172b,. It is determined that an abnormality has occurred on the output side including the integrator 17b that has been reset, that is, between the integrator 17b and the digital converter 17e, and the result is displayed on the display device 36. In this case, for the DAS determined to be abnormal, for example, the output abnormality of the integrator 17b or the disconnection of the cable 17c can be considered.

次に、故障診断条件（ｅ）を実行する。この場合、診断条件記憶部３８１より故障診断条件（ｅ）を読み出し、この故障診断条件（ｅ）にしたがってＤＡＳユニット１７の全てのＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎの増幅器１７ｄを強制的にリセット状態にする。そして、この状態でＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎのそれぞれのデジタル変換器１７ｅからデータを収集し、この収集されたデータと基準データ記憶部３８２に記憶された基準データＣを異常判定部３８３で比較する。この場合も、異常判定部３８３は、各ＤＡＳ１７１ａ、１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎのうち、基準データに対して明らかに異常なデータを出力するものがあれば、この異常データを出力するものについてリセットされている増幅器１７ｄを含む出力側、つまり、増幅器１７ｄ又はデジタル変換器１７ｅに異常が発生していると判断し、この結果を表示装置３６に表示する。   Next, the failure diagnosis condition (e) is executed. In this case, the failure diagnosis condition (e) is read from the diagnosis condition storage unit 381, and all the DAS units 171a, 171b,... 171n, 172a, 172b,. Force reset. In this state, data is collected from the respective digital converters 17e of DAS 171a, 171b,... 171n, 172a, 172b,. The abnormality determination unit 383 performs comparison. Also in this case, the abnormality determination unit 383 outputs the abnormal data if any of the DAS 171a, 171b,... 171n, 172a, 172b,. It is determined that an abnormality has occurred on the output side including the amplifier 17d that has been reset, that is, the amplifier 17d or the digital converter 17e, and the result is displayed on the display device 36.

この場合、異常判断されたＤＡＳについて、増幅器１７ｄ又はデジタル変換器１７ｅの異常が考えられ、これらの個所について集中して故障原因を調べればよい。   In this case, the abnormality of the amplifier 17d or the digital converter 17e may be considered for the DAS determined to be abnormal, and the cause of the failure may be investigated concentrating on these points.

したがって、このようにすれば、診断条件記憶部３８１に記憶された故障診断条件に基づいてＸ線検出器１３の各Ｘ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎの検出データをＤＡＳユニット１７のＤＡＳ１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎを介して収集し、これら収集されたデータについて予め基準データ記憶部３８２に記憶された基準データＡ、Ｂ、Ｃを比較し、この比較結果よりＸ線検出器１３及びＤＡＳユニット１７の各部位の異常を判定するようにした。これにより、多チャンネルのＸ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎ及びＤＡＳ１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎの中の異常部位を的確に特定することができるので、従来のように故障個所の特定が不十分のままＸ線検出器の取外しなどを行うことがなくなり、非常に高価なＸ線検出器を破損してしまうような事故を回避することができる。また、多チャンネルのＸ線検出素子１３１ａ、１３１ｂ、…１３１ｎ、１３２ａ、１３２ｂ、…１３２ｎ及びＤＡＳ１７１ｂ、…１７１ｎ、１７２ａ、１７２ｂ、…１７２ｎの中の異常部位を特定できることは、従来の多チャンネルのＸ線検出器やＤＡＳユニットの異常が疑われた場合、これらをユニット単位で一式交換する方法をとるものと比べて、高価なＸ線検出器及びＤＡＳユニットの交換を最小限に止めることができ、コストの大幅な低減を実現できる。   Therefore, in this way, the detection data of each X-ray detection element 131a, 131b, ... 131n, 132a, 132b, ... 132n of the X-ray detector 13 based on the failure diagnosis condition stored in the diagnosis condition storage unit 381. Are collected via DAS 171b,... 171n, 172a, 172b,... 172n of the DAS unit 17, and the collected reference data A, B, and C stored in the reference data storage unit 382 in advance are compared. The abnormality of each part of the X-ray detector 13 and the DAS unit 17 is determined from the comparison result. This makes it possible to accurately identify abnormal sites in the multi-channel X-ray detection elements 131a, 131b, ... 131n, 132a, 132b, ... 132n and DAS 171b, ... 171n, 172a, 172b, ... 172n. It is no longer necessary to remove the X-ray detector or the like while the location of the failure is insufficient as in the prior art, and it is possible to avoid an accident that would damage a very expensive X-ray detector. In addition, it is possible to identify abnormal sites in the multi-channel X-ray detection elements 131a, 131b,... 131n, 132a, 132b,... 132n and the DAS 171b, 171n, 172a, 172b,. When abnormalities in the X-ray detector or DAS unit are suspected, the replacement of the expensive X-ray detector and DAS unit can be minimized as compared with the method of replacing these in units. A significant cost reduction can be realized.

なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものでなく、実施段階では、その要旨を変更しない範囲で種々変形することが可能である。例えば、上述した故障診断に必要なデータ収集のための故障診断条件（ａ）〜（ｃ）は、一例であり、これ以外の診断条件を設定することも可能である。   In addition, this invention is not limited to the said embodiment, In the implementation stage, it can change variously in the range which does not change the summary. For example, the above-described failure diagnosis conditions (a) to (c) for collecting data necessary for failure diagnosis are merely examples, and other diagnosis conditions can be set.

さらに、上記実施の形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出できる。例えば、実施の形態に示されている全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出できる。   Furthermore, the above embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements. For example, even if some constituent requirements are deleted from all the constituent requirements shown in the embodiment, the problem described in the column of the problem to be solved by the invention can be solved, and is described in the column of the effect of the invention. If the above effect is obtained, a configuration from which this configuration requirement is deleted can be extracted as an invention.

本発明の第１の実施の形態にかかるＸ線診断装置としてＸ線ＣＴ装置の概略構成を示す図。1 is a diagram showing a schematic configuration of an X-ray CT apparatus as an X-ray diagnostic apparatus according to a first embodiment of the present invention. 第１の実施の形態に用いられる故障診断書処理部の概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the failure-diagnosis certificate process part used for 1st Embodiment. 第１の実施の形態に用いられる回転架台の概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the rotation mount used for 1st Embodiment. 第１の実施の形態に用いられるＸ線検出部とＤＡＳユニットの概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the X-ray detection part and DAS unit which are used for 1st Embodiment. 第１の実施の形態に用いられるＤＡＳの概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of DAS used for 1st Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

１０…架台装置、１１…回転架台
１１ａ…開口部、１２…Ｘ線源
１３…Ｘ線検出器、１３１ａ〜１３１ｎ、１３２ａ〜１３２ｎ…Ｘ線検出素子
１４…高電圧発生部、１５…架台駆動部
１６…絞り駆動部、１７…ＤＡＳユニット
１７０…ＤＡＳコントローラ、１７１ａ〜１７１ｎ、１７２ａ〜１７２ｎ…ＤＡＳ
１７ａ…第１のケーブル、１７ｂ…積分器
１７ｃ…第２のケーブル、１７ｄ…増幅器
１７ｅ…デジタル変換器、１７ｃ…ケーブル
２０…寝台装置、２１…寝台天板
２２…寝台基台、２３…寝台駆動部
３０…コンソール部、３１…制御部
３２…コンソールＩ／Ｆユニット、３３…再構成処理部
３４…画像記憶部、３５…画像処理部
３６…表示装置、３７…入力部、
３８…故障診断処理部、３８１…診断条件記憶部
３８２…基準データ記憶部、３８３…異常判定部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Mount apparatus, 11 ... Rotary mount 11a ... Opening part, 12 ... X-ray source 13 ... X-ray detector, 131a-131n, 132a-132n ... X-ray detection element 14 ... High voltage generation part, 15 ... Mount drive part 16 ... Aperture drive unit, 17 ... DAS unit 170 ... DAS controller, 171a to 171n, 172a to 172n ... DAS
17a ... first cable, 17b ... integrator 17c ... second cable, 17d ... amplifier 17e ... digital converter, 17c ... cable 20 ... bed device, 21 ... bed top plate 22 ... bed base, 23 ... bed drive Unit 30 ... Console unit, 31 ... Control unit 32 ... Console I / F unit, 33 ... Reconstruction processing unit 34 ... Image storage unit, 35 ... Image processing unit 36 ... Display device, 37 ... Input unit,
38 ... Failure diagnosis processing unit, 381 ... Diagnosis condition storage unit 382 ... Reference data storage unit, 383 ... Abnormality determination unit

Claims (4)

被検体にＸ線を曝射するＸ線曝射手段と、
前記被検体を透過するＸ線を検出するＸ線検出素子及び該Ｘ線検出素子の検出データを収集するデータ収集部をそれぞれ有する多チャンネルのＸ線検出手段と、
予め所定の診断条件下で前記Ｘ線検出手段を介して収集されたデータを基準データとして記憶する記憶手段と、
前記所定の診断条件の下で前記Ｘ線検出手段より取得されたデータと前記記憶手段に記憶された基準データとの比較結果に応じて前記Ｘ線検出手段の異常を判定する異常判定手段と
を具備したことを特徴とするＸ線診断装置。 An X-ray exposure means for exposing the subject to X-rays;
Multi-channel X-ray detection means each having an X-ray detection element for detecting X-rays transmitted through the subject and a data collection unit for collecting detection data of the X-ray detection element;
Storage means for preliminarily storing data collected through the X-ray detection means under predetermined diagnostic conditions as reference data;
An abnormality determination unit that determines an abnormality of the X-ray detection unit according to a comparison result between data acquired from the X-ray detection unit and reference data stored in the storage unit under the predetermined diagnosis condition; An X-ray diagnostic apparatus comprising: 前記記憶手段は、予め前記Ｘ線曝射手段の異なる動作条件に基づいた前記Ｘ線検出素子の動作特性を基準データとして記憶し、
前記異常判定手段は、前記異なる動作条件に基づいた前記Ｘ線検出素子の検出データより求められた動作特性との比較結果より前記Ｘ線検出素子の異常を判定することを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装置。 The storage means stores the operation characteristics of the X-ray detection element based on different operation conditions of the X-ray irradiation means in advance as reference data,
2. The abnormality determination unit determines abnormality of the X-ray detection element from a comparison result with operation characteristics obtained from detection data of the X-ray detection element based on the different operation conditions. The X-ray diagnostic apparatus described. Ｘ線検出手段のデータ収集部は、少なくとも積分器、増幅器及びデジタル変換器を有し、
前記記憶手段は、予め診断条件として前記積分器をリセットしたときの前記Ｘ線検出手段を介して収集されたデータを基準データとして記憶し、
前記異常判定手段は、前記診断条件の下で前記Ｘ線検出手段より取得されたデータと前記記憶手段に記憶された基準データとの比較結果に応じて前記積分器を含む出力側の異常を判定することを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装置。 The data collection unit of the X-ray detection means has at least an integrator, an amplifier, and a digital converter,
The storage means stores, as reference data, data collected through the X-ray detection means when the integrator is reset as a diagnostic condition in advance.
The abnormality determination unit determines an abnormality on the output side including the integrator according to a comparison result between the data acquired from the X-ray detection unit and the reference data stored in the storage unit under the diagnosis condition. The X-ray diagnostic apparatus according to claim 1, wherein: Ｘ線検出手段のデータ収集部は、少なくとも積分器、増幅器及びデジタル変換器を有し、
前記記憶手段は、予め前記増幅器をリセットした場合の前記Ｘ線検出手段を介して収集されたデータを基準データとして記憶し、
前記異常判定手段は、前記診断条件の下で前記Ｘ線検出手段より取得されたデータと前記記憶手段に記憶された基準データとの比較結果に応じて前記増幅器を含む出力側の異常を判定することを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装置。 The data collection unit of the X-ray detection means has at least an integrator, an amplifier, and a digital converter,
The storage means stores the data collected through the X-ray detection means when the amplifier is reset in advance as reference data,
The abnormality determination unit determines an abnormality on the output side including the amplifier according to a comparison result between the data acquired from the X-ray detection unit and the reference data stored in the storage unit under the diagnosis condition. The X-ray diagnostic apparatus according to claim 1.
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