JP2008542767A - Eliminate dynamic background signals in data-dependent data collection for chromatography / mass spectrometry - Google Patents

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Abstract

物質の質量分析のデータを取得するための方法およびシステム。方法は、物質をクロマトグラフィプロセスまたはその他の分離プロセスの対象にすることと、その出力をイオン化することと、イオン化された出力を再帰的な質量解析の対象にすることと、反復的な解析の間に取得されたデータに関する改良された処理および解析を提供することとを含んでいる。本発明の一局面にしたがうシステムは、イオン源と、選択された質量のイオンの解析が可能な質量分析器と、質量分析器から、複数の質量分析を表すデータを表している信号を受信し、上記信号を保持するように構成されている。Method and system for acquiring mass spectrometry data of a substance. The method is between subjecting a substance to a chromatographic process or other separation process, ionizing its output, subjecting the ionized output to recursive mass analysis, and iterative analysis. Providing improved processing and analysis of the acquired data. A system according to one aspect of the present invention receives an ion source, a mass analyzer capable of analyzing ions of a selected mass, and a signal representing data representing a plurality of mass analyzes from the mass analyzer. The signal is held.

Description

(分野)
本発明は、概して、質量分析器の分野に関し、より具体的には、クロマトグラフィ/質量分析システムにおいて溶出した化合物を識別するための、データ依存収集技術を用いた自動MS/MS収集に関する。本発明はまた、複雑な混合物における興味のある種(species of interest)の識別の際の収集後のデータ処理にも用いられ得る。
(Field)
The present invention relates generally to the field of mass analyzers, and more specifically to automated MS / MS collection using data-dependent collection techniques to identify eluted compounds in a chromatography / mass spectrometry system. The present invention can also be used for post-collection data processing in the identification of species of interest in complex mixtures.

(序)
質量分析器は、テストサンプルから溶出された種(species)の識別および特徴付けのために、しばしばクロマトグラフィシステムと組み合わされる。そのような組み合わされたシステムにおいて、溶出溶剤はイオン化され、その後のデータ解析のために、特定の時間間隔(例えば、0.01〜10秒の範囲)で、溶出溶剤の一連の質量スペクトルが取得される。テストサンプルは多くの種または化合物を含み得るので、溶出している興味のある種または化合物を自動的に決定または識別すること、ならびにそれらを特徴付けるためにMS/MS解析を実行することが可能であることが、しばしば望ましい。しかしながら、複雑な混合物における興味のある種を実時間内で識別することは、困難な作業であり得る。
(Introduction)
Mass spectrometers are often combined with chromatographic systems for identification and characterization of species eluted from a test sample. In such a combined system, the eluting solvent is ionized and a series of mass spectra of the eluting solvent is acquired at specific time intervals (eg, in the range of 0.01-10 seconds) for subsequent data analysis. Is done. Because test samples can contain many species or compounds, it is possible to automatically determine or identify the species or compounds of interest that are eluting and to perform MS / MS analysis to characterize them. It is often desirable. However, identifying species of interest in complex mixtures in real time can be a difficult task.

質量分析器に関連する様々な自動ツール、ならびに質量分析器に関連するデータ収集・解析ソフトウェアが、この問題を解決するために開発されてきた。周知な自動ツールは、IDA(TM)(Information Dependent Acquisition(TM))システムであり、これは、MDS Sciex Inc.およびApplera Corporationによって市販されている。データ収集プロセスの間、このツールは、前駆イオンを選択するために、質量スペクトルの質量ピークを識別する。その後、このツールは、質量分析(MS/MSまたはMS/MS/MS)の1つ以上の連続的段階に入り、そこでは、選択された前駆イオンがフラグメント化される。結果として得られるMS/MS(またはそれよりも高位の)スペクトルは、エネルギーの観点で許容される全てのフラグメント化プロセス(前駆イオンからフラグメントイオン、およびフラグメントイオンからその他のフラグメントイオン)の合成である。連続的なMS段階によって説明されるスペクトルの豊富さおよび/または解離経路は、スペクトルデータベースまたはMS/MSライブラリを調べるとき、あるいは化合物の特徴付けに用いられる構造情報を提供するときに、化合物の識別のために極めて有用であり得る。   Various automated tools associated with mass analyzers, as well as data collection and analysis software associated with mass analyzers, have been developed to solve this problem. A well-known automated tool is the IDA (TM) (Information Dependent Acquisition (TM)) system, which is available from MDS Sciex Inc. And marketed by Applera Corporation. During the data collection process, the tool identifies mass peaks in the mass spectrum to select precursor ions. The tool then enters one or more successive stages of mass spectrometry (MS / MS or MS / MS / MS) where the selected precursor ions are fragmented. The resulting MS / MS (or higher) spectrum is a synthesis of all fragmentation processes (precursor ions to fragment ions and fragment ions to other fragment ions) that are acceptable in terms of energy. . Spectral abundance and / or dissociation pathways described by successive MS steps can be used to identify compounds when examining spectral databases or MS / MS libraries, or when providing structural information used to characterize compounds. Can be extremely useful for.

その他の質量分析システムの製造業者は、同様の実時間データ依存スイッチ機能を提供する。例えば、Thermo Finning LLC(カリフォルニア州、サンノゼ)は、DDE(Data Dependent Experiment(TM))ツールを市販しており、Waters Corporation(Micromass(TM))は、Data Directed Analysis(DDA)(TM)ツールを市販している。   Other manufacturers of mass spectrometry systems provide similar real-time data dependent switching functions. For example, Thermo Finning LLC (San Jose, Calif.) Has marketed the DDE (Data Dependent Experiment (TM)) tool, and Waters Corporation (Micromass (TM)) has developed the Data Directed Analysis (D) (D) tool. Commercially available.

上述の実時間データ依存スイッチ機能は、例えば、一部のインビボのサンプル解析または単一タンパク質の消化解析のような適用(これらにおいては、興味のある質量ピークの検出が極めて容易である)において、適切な結果を提供し得る。しかしながら、生体液(例えば、尿または血漿の抽出物)または消化タンパク質(例えば、消化された細胞溶解物)の混合物のような、より複雑なサンプルセットを扱うときには、同時に溶出しているその他多くの主要な成分または種が存在し得、これらは、興味のある被検体または種の「影(shadow)」となったり、興味のある被検体または種を隠したりし、興味のある被検体または種は弱い信号強度を有することになり、その結果、実際に興味のある(イオン化された)種を効率的に選択することが不可能になる。本質的に、低レベルの濃度で溶出している種を検出することは、しばしば困難である。   The real-time data-dependent switch function described above can be used, for example, in applications such as some in vivo sample analysis or single protein digestion analysis, in which the detection of the mass peak of interest is very easy. Can provide adequate results. However, when dealing with more complex sample sets, such as mixtures of biological fluids (eg urine or plasma extracts) or digested proteins (eg digested cell lysate) many other There may be a major component or species that will “shadow” the subject or species of interest, hide the subject or species of interest, Will have a weak signal strength, and as a result, it will not be possible to efficiently select the species of interest (ionized). In essence, it is often difficult to detect species eluting at low levels of concentration.

IDA(TM)ツールにおいて、MS/MSのためにシステムによって「選ばれる」質量ピークの選択は、含有物リストを用いることによって、あるいは当該技術分野において周知なより詳細なサーベイスキャン(例えば、ニュートラルロス、プレカーサー)およびEMC(enhanced multiply−charged scan)を用いることによって、改善され得る。しかしながら、これらのアプローチは、解析されるサンプルについてのなんらかの知見を想定しているので、常に適用できるとは限らない。代わりに、動的排除プロセス(dynamic exclusion process)が用いられ得、この動的排除プロセスにおいては、解離のためのイオンが選択されると、そのイオンは次の数スキャンの間は無視され、次に最も高い強度ピークを有しているイオンが解離のために選択される。しかしながら、これは、多くの主要な成分と同時に溶出しているわずかな濃度の種に関する問題を解決するわけではない。   In the IDA (TM) tool, the selection of mass peaks that are "selected" by the system for MS / MS can be done by using the inclusion list or by a more detailed survey scan (e.g., neutral loss known in the art). , Precursor) and EMC (enhanced multi-charged scan). However, these approaches assume some knowledge about the sample being analyzed and are not always applicable. Instead, a dynamic exclusion process can be used, in which ions are disregarded during the next few scans once the ions for dissociation have been selected. The ion with the highest intensity peak at is selected for dissociation. However, this does not solve the problem with small concentrations of species eluting simultaneously with many major components.

前駆イオンの適切な選択は、種の識別において重要であるということを認識されたい。イオンの適切な選択はまた、データ依存の収集技術において、有用な最小量の情報が収集されることを保証する。このことは、種の識別および特徴付けの高速化および単純化を促進し得る。   It should be recognized that proper selection of precursor ions is important in species identification. Appropriate selection of ions also ensures that a minimum amount of useful information is collected in data-dependent collection techniques. This can facilitate faster and simpler species identification and characterization.

(概要)
一般的に、本発明にしたがうシステムおよび方法は、速い立ち上がりの質量信号またはその他の特色のある質量信号を識別することによって、わずかな濃度の種、および主要なその他多くの成分と同時に溶出しているその他の種を識別することが可能である。このことは、好適には、質量分析と、先に取得された1つ以上の質量分析を含んだ質量分析のバックグラウンドとを比較することによって、実行され得る。
(Overview)
In general, systems and methods according to the present invention elute simultaneously with a small concentration of species, and many other major components, by identifying fast-rising mass signals or other characteristic mass signals. It is possible to identify other species that are present. This can be done preferably by comparing the mass analysis with a mass analysis background that includes one or more previously acquired mass analyses.

本発明の一局面にしたがうと、物質の質量分析のデータを取得するための方法が、提供される。この方法において、物質は、クロマトグラフィプロセスの対象となり、その出力は、イオン化される。質量分析は、イオン化された出力から取得される。その後、速い立ち上がりの質量信号を有しているイオンは、現在の質量分析と、先に取得された1つ以上の出力の質量分析を含み得る質量分析のバックグラウンドとを比較することによって、識別される。その後、識別されたイオンは、フラグメント化され、結果として得られた質量分析が記録される。これらのステップは、好適には、動的に繰り返され、クロマトグラフィカラムからの実質的に全ての溶出している種が、質量によって識別され、追加的な質量分析の情報を取得するために、フラグメント化される。   According to one aspect of the present invention, a method for obtaining mass spectrometry data of a substance is provided. In this method, the material is subject to a chromatographic process and its output is ionized. Mass spectrometry is acquired from the ionized output. Thereafter, ions with fast rising mass signals are identified by comparing the current mass analysis with the mass analysis background that may include one or more previously acquired mass analyses. Is done. The identified ions are then fragmented and the resulting mass analysis is recorded. These steps are preferably repeated dynamically, so that virtually all eluting species from the chromatography column are identified by mass and fragmentation to obtain additional mass spectrometry information. It becomes.

速い立ち上がりの質量信号に関連するイオンは、例えば、現在の質量分析から、先に取得された質量分析を減算することにより、あるいは平均化することにより、識別され得る。あるいは、速い立ち上がりの質量信号に関連するイオンは、先に取得された1つ以上の出力の質量分析における値または平均値に対し、現在の質量スペクトルにおける各質量信号の値における割合の変化を決定することにより、識別され得る。   The ions associated with the fast rising mass signal can be identified, for example, by subtracting the previously acquired mass analysis from the current mass analysis or by averaging. Alternatively, ions associated with a fast rising mass signal determine the change in the proportion of each mass signal value in the current mass spectrum relative to the value or average value in the mass analysis of one or more previously acquired outputs. Can be identified.

速い立ち上がりの質量信号の識別は、さらなる数学的技術を用いることによって、さらに精密化または改良され得る。上記数学的技術は、例えば、様々なデータまたは曲線の平滑化または近似に関するアルゴリズム、および/またはさらなるアルゴリズムを含み得、このアルゴリズムは、数学的に推論される曲線の形状または近似される曲線の形状を用いた、様々な検体の溶出を記述する増加率、減少率、または微分を近似するように構成されている。例えば、LC/MS/MS解析においては、先の多くのMSスキャンにわたるこれらのイオンの強度に基づいて、先のスキャンに関連する時間における特定の点でのイオン電流を表しているデータを利用し、このデータに対して、カーブフィッティングまたはその他の曲線近似アルゴリズムを適用することにより、興味のある質量電荷比(m/z)を有している1つ以上のイオンが識別され得、抽出されたイオンの全体的または部分的なクロマトグラム(XIC)が生成され得る。興味のある時間における1次微分またはその他の微分(例えば、時間に関する微分)が決定されるか、近似され、イオンの溶出率が速い立ち上がりであるか、興味のあるものであるかが、決定され得る。   The identification of fast rising mass signals can be further refined or improved by using additional mathematical techniques. The mathematical techniques may include, for example, algorithms for smoothing or approximating various data or curves, and / or additional algorithms, which may be mathematically inferred curve shapes or approximated curve shapes. Is used to approximate the rate of increase, decrease, or derivative describing the elution of various analytes. For example, LC / MS / MS analysis uses data representing the ion current at a particular point in time associated with previous scans based on the intensity of these ions across many previous MS scans. By applying curve fitting or other curve approximation algorithms to this data, one or more ions having a mass-to-charge ratio (m / z) of interest can be identified and extracted. Full or partial chromatograms (XIC) of ions can be generated. The first derivative or other derivative at the time of interest (eg, the derivative with respect to time) is determined or approximated to determine if the ion elution rate is fast rising or interesting. obtain.

したがって、別の局面において、本発明は、物質を記述する質量分析のデータを取得するためのシステムおよび方法を提供する。この局面にしたがうシステムは、イオン源と、選択された質量のイオンの解析が可能な質量分析器と、質量分析器から、複数の質量分析を表すデータを表している信号を受信し、上記信号を保持するように構成されている、コントローラとを含んでいる。コントローラは、複数の質量分析に関連するデータおよび非線形またはその他の曲線近似アルゴリズムを用いることにより、少なくとも1つの抽出されたイオンのクロマトグラムを記述するために有用な情報を生成するように構成されており、生成された情報を用いることにより、イオン化された物質のさらなる解析のために有用なさらなる質量分析の情報(例えば、MS/MSスペクトルを含むが、これには限定されない)を生成するように構成されている。   Accordingly, in another aspect, the present invention provides systems and methods for obtaining mass spectrometry data describing a substance. A system according to this aspect receives a signal representing data representing a plurality of mass analyzes from an ion source, a mass analyzer capable of analyzing ions of a selected mass, and the mass analyzer, and the signal And a controller configured to hold the controller. The controller is configured to generate information useful for describing a chromatogram of at least one extracted ion by using data related to multiple mass spectrometry and non-linear or other curve approximation algorithms. And using the generated information to generate additional mass spectrometric information (including but not limited to MS / MS spectra) useful for further analysis of the ionized material. It is configured.

本発明は、さらに、そのようなシステムを用いた実装に適した方法を提供する。   The present invention further provides a method suitable for implementation using such a system.

必要に応じて、1つ以上の識別されたイオンは、動的な排除リストに掲載され得る。そのようなイオンは、その後、速い立ち上がりの質量信号または興味のある質量信号に関連しているとしては考慮されないので、その後の質量分析のために、速い立ち上がりのその他の信号に関連する1つ以上のイオンの識別および選択が可能になる。必要に応じて、速い立ち上がりの質量信号を有しているイオンの識別の前に、プレカーサースキャンまたはニュートラルロススキャンが実行され得る。   If desired, one or more identified ions can be placed on a dynamic exclusion list. Such ions are then not considered as being associated with a fast rising mass signal or a mass signal of interest, so for subsequent mass analysis, one or more associated with other signals with a fast rising edge. It is possible to identify and select ions. If necessary, a precursor scan or a neutral loss scan can be performed prior to identification of ions having fast rising mass signals.

質量分析器およびそのコントローラによって、記録され、その後に処理されるデータの量を減らすために、さらには解析プロセスの速度、効率、精度を増大させるために、その他の枠組みおよびプロセスが、用いられ得る。例えば、1つ以上の閾値が確立されることにより、検出された強度を決定する前に、少なくとも所望される最小の強度の質量分析によって検出されるm/z比のイオンのみに対し、記録およびさらなる処理が行われる。このことは、例えば、不純物または興味がないものであり得る物質に関連するデータの処理を減らすことの役に立つので、本発明にしたがうその他の方法およびプロセスと関連して用いられたときに、特に有用である。   Other frameworks and processes can be used to reduce the amount of data that is recorded and subsequently processed by the mass analyzer and its controller, and even to increase the speed, efficiency, and accuracy of the analysis process. . For example, one or more thresholds may be established so that only ions of m / z ratio detected at least by the minimum intensity mass analysis desired are recorded and determined before determining the detected intensity. Further processing takes place. This is particularly useful when used in conjunction with other methods and processes according to the present invention, as it helps, for example, reduce processing of data related to impurities or materials that may be of no interest. It is.

質量分析のデータが取得されると、溶出されている化合物を自動的に識別するか、化合物の特徴付けに使用するために、例えば、識別されたイオンのフラグメント化と質量分析のデータベースとを比較することにより、質量分析が取得され得る。   Once mass spectrometry data is acquired, for example, compare the fragmentation of identified ions with a mass spectrometry database for automatic identification of eluted compounds or use in compound characterization By doing so, mass spectrometry can be acquired.

本発明のその他の局面は、上述の方法およびプロセスを実行するためのシステムおよび装置を提供する。   Other aspects of the invention provide systems and apparatus for performing the methods and processes described above.

(様々な実施形態に関する記載)
図1は、液体クロマトグラフィ・質量分析(LCMS;liquid chromatography−mass spectrometry)システム10の基本構成要素を示しており、上記システムは、クロマトグラフィカラム12を含んでおり、上記クロマトグラフィカラムは、当該技術分野において公知なように、多段階の質量分析を実行することが可能な質量分析器14に接続されている。そのようなシステムの例は、MDS Sciexによって市販されている、QSTAR(TM)またはAPI 4000(TM)LC/MS/MSシステムであるが、当業者は、本発明は、MSおよびMS/MSまたはその他のマルチMS性能(例えば、3Dトラップ、TOF(time−of−flight)アナライザ、またはフーリエ変換(FTMS)アナライザ)を有する、任意の適切に制御されるシステムに適用され得ることを理解し得る。データ収集コントローラ16は、自動的なMSおよびMS/MSのデータ収集が可能であり、単一のLC/MS解析からの最大限の情報抽出が可能である。
(Description of various embodiments)
FIG. 1 shows the basic components of a liquid chromatography-mass spectrometry (LCMS) system 10, which includes a chromatography column 12, which is known in the art. As is known, it is connected to a mass analyzer 14 capable of performing multi-stage mass analysis. An example of such a system is the QSTAR (TM) or API 4000 (TM) LC / MS / MS system marketed by MDS Sciex, although those skilled in the art will recognize that the present invention is MS and MS / MS It can be appreciated that it can be applied to any suitably controlled system with other multi-MS performance (eg, 3D trap, TOF (time-of-flight) analyzer, or Fourier transform (FTMS) analyzer). Data collection controller 16 is capable of automatic MS and MS / MS data collection and maximum information extraction from a single LC / MS analysis.

コントローラ16は、質量分析器14によって収集または提供されたデータ信号を受信、格納、および処理するように構成されており、質量分析器14によって実行される動作を制御するように構成されたコマンド信号を提供するように構成されている。コントローラ16はさらに、MSシステム10を制御するために適したユーザインターフェースを提供しており、上記ユーザインターフェースは、例えば、ユーザからシステムコマンドを受け取ってそれを実行することに適した入力/出力デバイスを含んでいる。特に、コントローラ16は、質量分析器14によって収集されたデータを処理し、質量分析器14にコマンド信号(上記データの処理によって生成された情報に少なくとも一部分基づいている)を提供するように構成されている。   The controller 16 is configured to receive, store, and process data signals collected or provided by the mass analyzer 14 and command signals configured to control operations performed by the mass analyzer 14. Configured to provide. The controller 16 further provides a user interface suitable for controlling the MS system 10, which includes input / output devices suitable for receiving and executing system commands from a user, for example. Contains. In particular, the controller 16 is configured to process the data collected by the mass analyzer 14 and provide a command signal (based at least in part on information generated by processing the data) to the mass analyzer 14. ing.

当業者によって理解されるように、コントローラ16は、本明細書に記載されている目的を達成することに適したデータの収集および処理のための任意のシステムまたはデバイスを含み得る。コントローラ16は、例えば、適切にプログラムされたコンピュータ、またはプログラム可能な汎用コンピュータ、または特定用途向けコンピュータ、あるいはプログラミングデバイスおよびデータ収集デバイスおよび制御デバイスに関連した、その他の自動データ処理装置を含み得る。本明細書に記載されているように、コントローラ16は、例えば、質量分析器14によって実行されるイオン検出スキャンを制御および監視し;例えば、液体クロマトグラフィ(LC)カラム12によって提供されるイオンの質量分析器14による上記のような検出を表すデータを、収集および処理するように構成されている。   As will be appreciated by those skilled in the art, the controller 16 may include any system or device for data collection and processing suitable for achieving the objectives described herein. The controller 16 may include, for example, a suitably programmed computer, or a programmable general purpose computer, or an application specific computer, or other automatic data processing apparatus associated with programming and data collection and control devices. As described herein, the controller 16 controls and monitors, for example, an ion detection scan performed by the mass analyzer 14; for example, the mass of ions provided by the liquid chromatography (LC) column 12. Data representing the detection as described above by the analyzer 14 is configured to be collected and processed.

したがって、コントローラ16は、適切に符号化された構造化プログラムによって自動的および/または双方向の制御を行うように構成された1つ以上の自動的なデータ処理チップを含み得、これは、1つ以上のアプリケーションおよびオペレーティングシステム、ならびに任意の必要な揮発性または持続性の格納媒体を含み得る。本明細書に接した当業者ならば理解し得るように、本発明を実施することに適した多種多様なプロセッサおよびプログラミング言語は、いまや市場で入手可能であり、今後も開発されていくことは疑いない。適切なプロセッサおよびプログラミングを含んだ適切なコントローラの例は、MDS Sciex(カナダ、オンタリオ州)によって市販されている、QSTAR(TM)またはAPI 4000(TM)LC/MS/MSに組み込まれているようなものである。   Accordingly, the controller 16 may include one or more automatic data processing chips configured to provide automatic and / or bi-directional control with a suitably encoded structured program, It may include one or more applications and operating systems, and any necessary volatile or persistent storage media. As will be appreciated by those skilled in the art to which this specification pertains, a wide variety of processors and programming languages suitable for practicing the present invention are now available on the market and will continue to be developed. There is no doubt. Examples of suitable controllers, including appropriate processors and programming, appear to be incorporated into QSTAR (TM) or API 4000 (TM) LC / MS / MS marketed by MDS Sciex (Ontario, Canada). It is a thing.

本発明を実施する際の使用に適したイオン源は、任意のLCカラム、または本明細書に開示されている目的と両立するその他のイオン源12を含み得る。例えば、当業者によって理解されるように、任意の液体クロマトグラフィまたはその他の持続放出型(sustained−release)イオン源が要件を満たし得る。本発明は、LCカラムとその他のイオン源(様々な性質のイオンの持続性の流れまたはその他の流れを生成する)との組み合わせで、特に有用であり、例えば、連続的なトレース堆積に適したLC−Matrix−Assisted Laser Desorption Ionization(LC−MALDI)システムを含む。   An ion source suitable for use in practicing the present invention may include any LC column or other ion source 12 that is compatible with the purposes disclosed herein. For example, as will be appreciated by those skilled in the art, any liquid chromatography or other sustained-release ion source may meet the requirements. The present invention is particularly useful in combination with LC columns and other ion sources (which produce sustained or other streams of ions of various properties), for example suitable for continuous trace deposition Includes LC-Matrix-Assisted Laser Deposition Ionization (LC-MALDI) system.

質量分析器14は、本明細書に開示されている目的と両立する任意のイオン検出器および/またはアナライザを含み得る。例えば、当業者に理解されるように、3Dトラップ、TOF検出器、およびその他のタイプの質量分析器が要件を満たし得る。本発明は、イオン群の反復的または再帰的なスキャンまたはその他のサンプリングが可能な質量分析器との組み合わせで、特に有用である。   The mass analyzer 14 may include any ion detector and / or analyzer that is compatible with the objectives disclosed herein. For example, as will be appreciated by those skilled in the art, 3D traps, TOF detectors, and other types of mass analyzers may meet the requirements. The present invention is particularly useful in combination with mass analyzers capable of repetitive or recursive scanning of ions or other sampling.

図2は、API 3000(TM)システムを用いたヒト成長ホルモン(Hgh)消化に実行されるLC/MS解析の一部分として出力されたデータの一部を示している。示されているデータは、57〜63分の解析の実行に属している。信号40は、実行の全体のイオン強度(TCI)をプロットしており、これは、溶出している全ての種の全体の濃度を表している。質量分析器14はまた、所定の範囲(より詳細には、m/z範囲)の質量に対するイオン強度を記録し、信号42から52は、質量対電荷比がそれぞれ694m/z、578m/z、713m/z、734m/z、748m/z、および913m/zのイオンをカウントしている抽出イオンをプロットしている。これらの信号は、この時間にわたる、様々な(しかし全てではない)溶出種の強度を描いている。   FIG. 2 shows a portion of the data output as part of an LC / MS analysis performed on human growth hormone (Hgh) digestion using the API 3000 (TM) system. The data shown belongs to the analysis run of 57-63 minutes. Signal 40 plots the overall ionic strength (TCI) of the run, which represents the overall concentration of all species that are eluting. The mass analyzer 14 also records the ionic strength for a given range (more specifically, the m / z range) of the mass, and the signals 42 to 52 have a mass to charge ratio of 694 m / z, 578 m / z, respectively. Plotted extracted ions counting ions at 713 m / z, 734 m / z, 748 m / z, and 913 m / z. These signals depict the intensity of various (but not all) eluting species over this time.

実行のうちの約58.5〜59分の間において、多くの溶出種が存在していることがわかるが、図2には、それらのサブセットが示されている。時間t0およびt1において取得された、これらの溶出種に対するMSスペクトルは、図3(時間t1)および図4(時間t0)に示されおり、これらの時間の各々におけるイオン強度は、以下の表1にまとめられている。   While it can be seen that there are many eluting species between about 58.5-59 minutes of the run, FIG. 2 shows a subset of them. The MS spectra for these eluting species acquired at times t0 and t1 are shown in FIG. 3 (time t1) and FIG. 4 (time t0), and the ionic strength at each of these times is shown in Table 1 below. It is summarized in.

ほぼ同じ時間に多くの質量ピークが現れているので、従来技術のシステムは、2次質量解析を実行するための質量ピークを選択することが困難であった。イオン694m/zによって生成された高い強度の信号の存在下で、多くの低い強度の信号(特に、質量578m/z、713m/z、および748m/zのイオン)が存在するので、この問題は、さらに困難なものとなる。   Since many mass peaks appear at approximately the same time, it was difficult for prior art systems to select mass peaks for performing secondary mass analysis. In the presence of the high intensity signal generated by the ions 694 m / z, this problem is because there are many low intensity signals (especially ions of mass 578 m / z, 713 m / z, and 748 m / z). It becomes even more difficult.

図5は、2次質量解析のために従来技術のコントローラによって選択され得るイオンを示す概略図であり、上記2次質量解析は、従来技術のデータ依存収集ツールを用いたものであるが、本発明にしたがう動的なバックグラウンド信号の排除は用いていない。図5は、実行のうちの57.16〜60.76分の間において、従来技術のデータ収集コントローラ(IDA(TM)システム)が、(上記システムが動的な排除の基準を適用するようにプログラムされていないときに)2次質量解析を実行するためにイオン694m/zのみを選択したということを示している。しかしながら、クロマトグラフィの稼動によって上記の時間の間に溶出されたその他の質量は、図中に示された領域にわたって溶出された代表的な質量である。したがって、従来技術のシステムによると、解析の品質は、悪い影響を受け得る。   FIG. 5 is a schematic diagram showing ions that can be selected by a prior art controller for secondary mass analysis, which uses a prior art data-dependent collection tool. It does not use dynamic background signal elimination according to the invention. FIG. 5 shows that between 57.16 and 60.76 minutes of execution, the prior art data collection controller (IDA (TM) system) allows the system to apply dynamic exclusion criteria. It shows that only ions 694 m / z were selected to perform secondary mass analysis (when not programmed). However, the other mass eluted during the above time by running the chromatography is a representative mass eluted over the area indicated in the figure. Thus, according to prior art systems, the quality of the analysis can be adversely affected.

対照的に、好適な実施形態において、コントローラ16は、最も新しく収集されたMSスペクトルと動的な「スペクトルのバックグラウンド(spectrographic background)」とを比較することによって、任意の所与の時点における、最速の立ち上がり信号またはその他の速い立ち上がり信号を識別することを試みる。図示を簡単にするために、この技術の単純な例は、図3(後の時間)と図4(前の時間)とを比較することによって、理解され得る。この比較から、質量748m/zが、最速の立ち上がり信号(これは、図2の信号50に対応している)を有していることが理解され得る。   In contrast, in a preferred embodiment, the controller 16 compares the most recently collected MS spectrum with a dynamic “spectrographic background” at any given time point. Try to identify the fastest rising signal or other fast rising signal. For ease of illustration, a simple example of this technique can be understood by comparing FIG. 3 (later time) and FIG. 4 (previous time). From this comparison, it can be seen that the mass 748 m / z has the fastest rising signal (which corresponds to signal 50 in FIG. 2).

この現象は、2つの単純な定量化方法を用いることによって、コントローラ16によって、定量化され得る:(i)先に収集されたMSスペクトルから信号の現在の値を減算すること;(ii)信号の値における割合を変化させること。表1は、これらの基準のうちのいずれか一方を用いることによって、コントローラ16が、748m/zおよび713m/zの両方のイオンをIDA選択の最上位に移動させ得るということを示している。   This phenomenon can be quantified by the controller 16 by using two simple quantification methods: (i) subtracting the current value of the signal from the previously collected MS spectrum; (ii) the signal Changing the proportion in the value of. Table 1 shows that by using either one of these criteria, the controller 16 can move both 748 m / z and 713 m / z ions to the top of the IDA selection.

Figure 2008542767
このようにして、質量748m/zおよび713m/zのイオンが選択されると、コントローラ16は、これらのイオンをフラグメント化し、結果として得られた質量スペクトルを記録することによって、質量分析器14に対し、質量分析器14を動的に動作させ、2次質量解析を実行させるように構成されたコマンド信号を提供し得る。好適な実施形態においては、所定数の選択されたイオンがフラグメント化されるが、代替的な実施形態においては、「最良」のマッチ(例えば、748m/z)のみが、その後のフラグメント化のために選択され得る。
Figure 2008542767
In this way, once ions of mass 748 m / z and 713 m / z are selected, the controller 16 fragments the ions and records the resulting mass spectrum to the mass analyzer 14. In contrast, the mass analyzer 14 may be dynamically operated to provide a command signal configured to perform secondary mass analysis. In a preferred embodiment, a predetermined number of selected ions are fragmented, but in alternative embodiments, only the “best” match (eg, 748 m / z) is for subsequent fragmentation. Can be selected.

上述の定量化方法の両方は、利点を提供する:多くの状況において、割合または相対的利得は、成長率に注目するときに、好適な技術であるが、絶対的利得は、顕著な増加を有している種を対象とした減算方法によって計算される。「速い立ち上がり信号」という用語は、特に、急速に立ち上がる信号を含むように(すなわち、相対的な用語としては、成長率によって計算されるものとして、絶対的な用語としては、減算方法によって計算されるものとして)定義されている。   Both of the quantification methods described above provide advantages: in many situations, percentage or relative gain is a preferred technique when looking at growth rates, while absolute gain increases significantly. It is calculated by the subtraction method for the seeds it has. The term “fast rising signal” is specifically calculated to include signals that rise rapidly (ie, relative terms are calculated by the growth rate, absolute terms are calculated by the subtraction method). Defined).

図6は、実行のうちの57.16〜60.76分の間に取得されたデータに対するこれらの技術の結果を示している。各ブロック60は、1つ以上の連続的なスキャンを表しており、2次MS解析を実行するために、コントローラ16によって、様々なイオンの質量ピークが選択されている。選択されたm/z比およびスキャン数(例えば、694−8スキャン、5スキャン、2スキャン)が示されており、上記スキャンに対し、識別されたm/z範囲が選択されている。図6は、本発明の好適な実施形態にしたがう、2次質量解析のために選択されたイオンを示す概略図であり、これは、任意の所与の時点における速い立ち上がりの質量信号を識別することを目的としている。動的なバックグラウンド信号の排除を用いると、IDAに対してより多くのイオンが(それらが質量スペクトルの基準ピークでないときでさえも)正しく選択される。イオンがその他の選択されたイオンに対応する信号よりも速く立ち上がる信号に対応している場合、それらは検出され、更なる解析のためにデータが用いられる。   FIG. 6 shows the results of these techniques for data acquired between 57.16 and 60.76 minutes of execution. Each block 60 represents one or more consecutive scans, and various ion mass peaks have been selected by the controller 16 to perform a secondary MS analysis. The selected m / z ratio and number of scans (eg, 694-8 scans, 5 scans, 2 scans) are shown, and the identified m / z range is selected for the scans. FIG. 6 is a schematic diagram illustrating ions selected for secondary mass analysis according to a preferred embodiment of the present invention, which identifies a fast rising mass signal at any given time. The purpose is that. With dynamic background signal rejection, more ions are correctly selected for IDA (even when they are not the reference peak of the mass spectrum). If the ions correspond to signals that rise faster than signals corresponding to other selected ions, they are detected and the data is used for further analysis.

これまでに提供された例において、コントローラ16は、直前のMSスペクトルの1つを表すデータを利用し、質量分析のバックグラウンドを決定していた。しかしながら、コントローラ16の代わりに、多くのMSスペクトルにわたって質量信号を平均化することにより、質量分析のバックグラウンドを取得して、比較することも可能である。例えば、図7は、質量668.5m/z、1412.0m/z、および1466.0m/z(それぞれ信号62、64、および66によって示されている)のイオンに対するLC/MSの実行に関する、51.4〜53.6分の間に取得された様々な抽出イオンのカウントを示している。図7におけるブロック70a、70b、および70cによって示されているように、信号のバックグラウンドの平均値を決定するために用いられるスペクトルの数は、質量ピークにわたって選択され得る被覆範囲またはデータ点の数を決定する。例えば、ブロック70aにおいて、時間t4における信号62に対するバックグラウンドの平均値は、直前のMSスペクトルの1つから取得される(0.05分または3秒前に取得される)ので、コントローラは、信号の立ち上がりのみを考慮する。信号がそのピーク値を過ぎるとすぐに、減算または割合の変化を用いることによって負の数の結果が得られる(これは、時間t4における信号62の値を、時間t3における上記信号の値から減算することによって理解できる)。   In the examples provided so far, the controller 16 has used data representing one of the previous MS spectra to determine the background of mass spectrometry. However, instead of the controller 16, it is possible to obtain and compare mass analysis backgrounds by averaging the mass signals over many MS spectra. For example, FIG. 7 relates to performing LC / MS on ions of mass 668.5 m / z, 1412.0 m / z, and 1466.0 m / z (indicated by signals 62, 64, and 66, respectively). Shown are counts of various extracted ions acquired between 51.4 and 53.6 minutes. As indicated by blocks 70a, 70b, and 70c in FIG. 7, the number of spectra used to determine the average value of the signal background is the number of coverages or data points that can be selected over the mass peak. To decide. For example, in block 70a, the background average for signal 62 at time t4 is obtained from one of the previous MS spectra (obtained 0.05 minutes or 3 seconds ago) so that the controller Consider only the rising edge. As soon as the signal passes its peak value, a negative number result is obtained by using subtraction or percentage change (this subtracts the value of signal 62 at time t4 from the value of the signal at time t3). To understand).

しかしながら、ブロック70bにおいては、コントローラ16が、3つの直前のスペクトルを表しているデータを利用することによって、信号62のバックグラウンド値を決定するときに、質量ピークにわたるより広い被覆範囲またはデータ点の数が考慮されることが示されている。ブロック70cは、信号62のバックグラウンド値を決定するために10個の直前のスペクトルが用いられるときの被覆範囲を示している。そのような技術は、移動平均に類似しており、信号における突然の摂動を平滑化し、誤った結果にならないようにすることに役立つ。質量信号のバックグラウンドの平均値を決定するためにコントローラが用いるスペクトルの数は、好適には、システムのユーザによって設定または解除され得る。   However, at block 70b, when controller 16 determines the background value of signal 62 by utilizing data representing the three previous spectra, a wider coverage or data point over the mass peak. Numbers are shown to be considered. Block 70c shows the coverage when 10 previous spectra are used to determine the background value of signal 62. Such techniques are similar to moving averages and help to smooth out sudden perturbations in the signal and avoid false results. The number of spectra used by the controller to determine the average value of the mass signal background can preferably be set or canceled by the user of the system.

多くのMS質量分析器から入手可能なデータ(例えば、信号における突然の摂動を平滑化し、誤った結果を減らす際に、反復的または再帰的なMSサイクルによって生成される)を用いた、さらなる数学的技術の適用による方法は、例えば、様々なデータまたは曲線平滑化アルゴリズムを含んでおり、これらは、例えばLCカラムのようなイオン源からの様々な検体の溶出に関する増減率またはその他の局面を評価するために用いられる。上述のように、質量信号のバックグラウンドの平均値を決定するためにコントローラ16が用いるスペクトルの数は、システムのユーザによって設定または解除され得、あるいは例えば、データの品質の統計的評価に基づいて、自動的に決定され得る。   Further mathematics using data available from many MS mass analyzers (eg, generated by repetitive or recursive MS cycles in smoothing out sudden perturbations in the signal and reducing false results) Methods based on the application of genetic techniques include, for example, various data or curve smoothing algorithms that evaluate the rate of increase or decrease or other aspects related to elution of various analytes from an ion source, such as an LC column, for example. Used to do. As described above, the number of spectra that the controller 16 uses to determine the average value of the mass signal background can be set or canceled by the user of the system, or based on, for example, a statistical assessment of the quality of the data. Can be determined automatically.

例えば、LC−MS解析において、コントローラ16は、特に興味のある質量電荷比(m/z)を有している1つ以上のイオンを識別し、XICの全体または一部分を生成し得る(先の多くのMSスキャンを介して質量分析器14によって検出された、識別されたイオンの強度に基づいて、生成される)。これは、例えば、指定された数の先のスキャンに関連する特定の時点において1つ以上のイオン電流を表しているデータを利用し、データに対して、カーブフィッティングまたはその他の適切なアルゴリズムを適用することによって、行われ得る。例えば、イオンの溶出率が、速い立ち上がりであるかどうか、あるいは、さらなる解析のために興味のあるものであるかどうかを決定するために、平滑化または近似または評価されたデータ曲線に基づいて、解析における興味のある様々な時点またはその他の点において、1次または高次の微分(例えば、時間に関する微分)が、決定され得る。そのような技術は、例えば、成長率等を計算することによって、速い立ち上がりの信号を識別する際に、特に有用である。   For example, in LC-MS analysis, the controller 16 may identify one or more ions having a mass-to-charge ratio (m / z) of particular interest and generate all or part of the XIC (see above). Generated based on the intensity of the identified ions detected by the mass analyzer 14 via a number of MS scans). This uses, for example, data representing one or more ion currents at a particular point in time associated with a specified number of previous scans and applies curve fitting or other suitable algorithms to the data Can be done. For example, based on a data curve that has been smoothed or approximated or evaluated to determine whether the elution rate of ions is a fast rise or is of interest for further analysis, At various times of interest or other points of interest in the analysis, first or higher order derivatives (eg, derivatives with respect to time) may be determined. Such a technique is particularly useful in identifying fast rising signals, for example, by calculating growth rates and the like.

溶出または提供されているイオンの状態または内容に関する迅速かつ正確な評価において、そのような技術の値は、検出された質量スペクトルの所望の部分に関する解析に集中するための、任意の1つ以上の追加的なプロセスを追加的に用いることによって、改良され得る。   In a quick and accurate assessment of the state or content of ions being eluted or provided, the value of such a technique can be any one or more to concentrate on analysis on the desired portion of the detected mass spectrum. It can be improved by additionally using additional processes.

例えば、本発明の一部の実施形態において、2次MS解析のためのイオンの選択は、速い立ち上がりの質量信号の基準に加えて、または速い立ち上がりの質量信号との組み合わせで、その他の基準に基づき得る。例えば、必要に応じて、上述の動的なバックグラウンドの比較は、動的な排除と組み合わされ得る。例えば、1つの枠組みにおいて、速い立ち上がりの質量信号に関連しているとして識別されたイオンは、排除リストに掲載され、所定数のその後のスキャンに対しては、考慮されない。この技術は、速い立ち上がりの質量信号を有しているイオンが選択された後に、所定の連続的な時間まで排除リストへのイオンの掲載を遅延させることによって、強化され得る。加えて、必要に応じて、コントローラは、動的なバックグラウンドの比較の適用の前に、MSまたはMS/MSスキャン(例えば、プレカーサーおよび/またはニュートラルロススキャン)を用い得る。   For example, in some embodiments of the invention, the selection of ions for secondary MS analysis can be performed in addition to the fast rise mass signal criteria or in combination with the fast rise mass signal to other criteria. Can be based. For example, if necessary, the dynamic background comparison described above can be combined with dynamic exclusion. For example, in one framework, ions that are identified as being associated with a fast rising mass signal are placed on the exclusion list and are not considered for a predetermined number of subsequent scans. This technique can be enhanced by delaying the placement of ions on the exclusion list until a predetermined continuous time after ions having a fast rising mass signal are selected. In addition, if desired, the controller may use an MS or MS / MS scan (eg, precursor and / or neutral loss scan) prior to applying the dynamic background comparison.

別の例として、所与のスキャンまたは一連のスキャンにおいて取得されたどのデータが、さらなる処理のために格納または保持されるべきであるかに関する決定における基準として、1つ以上の閾値が、ユーザによって、またはコントローラ16を用いることにより、自動的および/または双方向的に確立され得る。その結果、質量分析器によって所望の最小の強度比で検出されたm/z比のイオンのみに対し、データが記録され、さらに処理される。   As another example, one or more threshold values may be determined by a user as a criterion in determining which data acquired in a given scan or series of scans should be stored or retained for further processing. Or by using the controller 16 can be established automatically and / or bidirectionally. As a result, data is recorded and processed only for ions of the m / z ratio detected by the mass analyzer at the desired minimum intensity ratio.

上述のように、データ曲線平滑化アルゴリズム、動的排除技術、強度の閾値、およびその他の技術は、例えば、コントローラ16によって収集されてその後に処理される、不純物または興味のない物質に関連するデータの処理を減らすことによって、データ処理の効率を向上させるために用いられる。そのような技術は、互いに関連して用いられるとき、および/または本発明に関連するその他の方法および処理と関連して用いられるときに、特に効果的である。これらは、例えば、再帰的なTOFMSおよび/またはFTMS解析において、高いデータスキャニング/収集レートに直面する場合に、特に有用である。   As described above, data curve smoothing algorithms, dynamic exclusion techniques, intensity thresholds, and other techniques may be used, for example, data related to impurities or uninteresting material collected by the controller 16 and subsequently processed. Is used to improve the efficiency of data processing. Such techniques are particularly effective when used in conjunction with each other and / or in conjunction with other methods and processes related to the present invention. These are particularly useful when facing high data scanning / collection rates, for example in recursive TOFMS and / or FTMS analysis.

図8は、本発明にしたがう再帰的なTOFM解析において記録されるデータを処理する方法に関する実施形態の概略図である。プロセス800は、例えば、例えばコントローラ16のようなコントローラの制御下で、図1に示されているシステムによって実施されるのに適切である。   FIG. 8 is a schematic diagram of an embodiment relating to a method of processing data recorded in a recursive TOFM analysis according to the present invention. Process 800 is suitable for being implemented by the system shown in FIG. 1 under the control of a controller, such as, for example, controller 16.

802において、コントローラ16は、コマンド信号を発し、上記コマンド信号は、質量分析器14に、質量分析器に関連している検出器のサーベイスキャンを実行させ、検出器によって検出されたイオンに関連するm/z比を表しているデータをコントローラ16へと提供させるように、構成されている。例えば、TOF質量アナライザの場合、質量分析器14は、コントローラ16に、所与の時間内または所与のサーベイ期間の間に、検出器によって検出されたイオンに関連するm/z比の数を表しているデータを提供し得る。ここで、所与の時間または所与のサーベイ期間は、それぞれのイオンが検出される時間(例えば、現在のサーベイ期間の開始からの相対的な時間)に関連する。一部の場合において、質量分析器14によるスキャンの間に必要とされ、コントローラ16に提供されるデータの量は、比較的大きい。例えば、QSTAR(TM) LC/MS/MSシステムによって実行される典型的な解析の場合、スキャニング時間の間の検出器の全サーベイスキャンの結果、検出器は数万個(例えば、10,000個から100万個以上、典型的な数は、500,000個)のデータ点を取得し得る。各々は、相対的時間およびm/z比から構成されており、これは、検出されたイオンの数に対応している。コントローラ16は、取得されたデータを、例えば、ランダムアクセスメモリ、フラッシュメモリのような、揮発性メモリ、あるいはその他の容易に利用可能なバッファに保持し得る。   At 802, the controller 16 issues a command signal that causes the mass analyzer 14 to perform a survey scan of the detector associated with the mass analyzer and relates to ions detected by the detector. It is configured to provide the controller 16 with data representing the m / z ratio. For example, in the case of a TOF mass analyzer, the mass analyzer 14 tells the controller 16 the number of m / z ratios associated with ions detected by the detector within a given time or during a given survey period. Representing data may be provided. Here, a given time or a given survey period is related to the time at which each ion is detected (eg, relative time from the start of the current survey period). In some cases, the amount of data required and provided to the controller 16 during a scan by the mass analyzer 14 is relatively large. For example, in a typical analysis performed by a QSTAR ™ LC / MS / MS system, the result of a full survey scan of the detector during the scanning time results in tens of thousands of detectors (eg, 10,000). 1 million or more, typically 500,000 data points). Each is composed of relative time and m / z ratio, which corresponds to the number of ions detected. The controller 16 may hold the acquired data in volatile memory, such as random access memory, flash memory, or other readily available buffer.

804において、コントローラ16は、例えば、802におけるサーベイスキャンの間に検出された各m/z比のイオンの総数を決定し、好適には、興味のあるm/z比に関連するデータを保持する一方で、残りのデータを無視または削除することにより、質量分析器によって提供されたデータをピークリストにソートし得る。コントローラ16は、有利にも、格納されたデータ(これは、ここでは、ピークリストと呼称され得る)を、揮発性メモリまたはその他の容易にアクセスできるメモリに保持し続け得る。格納されたデータは、例えば、トレースに対応し、図3に示されている、時間t1において行われるスキャンに対応し得る。この結果、QSTAR(TM) LC/MS/MSシステムによって実行される典型的な解析の場合には、検出器の所与のサーベイに関連する興味のあるデータ点の数は、全サーベイスキャンの間に取得された10,000個から100万個以上のデータ点から、非常に小さなオーダーのデータ点、例えば、典型的な解析においては、約1000個のデータ点に減らされ得る。減らされたデータセットは、さらなるアクセスおよび処理のために、揮発性メモリおよび/または永続性メモリに保持され得る。   At 804, the controller 16 determines, for example, the total number of ions of each m / z ratio detected during the survey scan at 802 and preferably holds data related to the m / z ratio of interest. On the other hand, the data provided by the mass analyzer can be sorted into a peak list by ignoring or deleting the remaining data. The controller 16 may advantageously continue to keep stored data (which may be referred to herein as a peak list) in volatile memory or other easily accessible memory. The stored data can correspond to, for example, a trace, which corresponds to a scan performed at time t1, as shown in FIG. As a result, in the case of a typical analysis performed by a QSTAR (TM) LC / MS / MS system, the number of data points of interest associated with a given survey of detectors is the same during the entire survey scan. From 10,000 to over a million data points acquired in a very small order of data points, for example, in a typical analysis, can be reduced to about 1000 data points. The reduced data set can be maintained in volatile and / or persistent memory for further access and processing.

ステップ804において、ピークリストによって識別される保持されたデータに含まれるイオンおよび/またはm/z比は、本明細書に記載されているように、本明細書に記載されているプロセスを用いることにより、コントローラ16によって自動的に識別されるか、例えば、コントローラ16に提供されるバッチまたは双方向的な命令信号を用いることにより、指定され得る。   In step 804, the ions and / or m / z ratios contained in the retained data identified by the peak list use the process described herein, as described herein. Can be automatically identified by the controller 16 or specified, for example, by using a batch or bidirectional command signal provided to the controller 16.

806において、コントローラ16は、例えば、本明細書に記載されているようなデータ低減技術を適用することにより、保持されているデータを、揮発性メモリに保持されるか、その後にコントローラ16によって処理され得るぶんだけに減少させ得る。例えば、コントローラ16は、所与のスキャニングサーベイの間に検出された様々なm/z(またはピーク)を表しているデータ(例えば、全ての検出されたイオン)の強度と、ユーザによって確立されるか、またはシステム10によって決定された閾値とを比較し得る。例えば、所与の電荷の絶対的または相対的な強度あるいは検出レベルが確立され得、コントローラ16は、例えば、適切なプログラムによって、確立された閾値を下回る強度のピークに対応するm/z比を無視するように命令され得る。例えば、5.05e5 cpsの閾値が確立され得、その閾値を下回る検出されたデータ強度のm/z比に対応するデータは、さらなる処理のためには、保持されないし、考慮されない。この結果、例えば、図9のピーク901対応するデータは、さらなる考慮からは外され(ピーク901は図9の累積トレース(cummulative trace)には現れない)、曲線またはピーク62、64、66に関連するデータのみが、さらに処理され得る。   At 806, the controller 16 can retain the retained data in volatile memory, for example by applying a data reduction technique as described herein, or subsequently processed by the controller 16. Can be reduced as much as can be done. For example, the controller 16 is established by the user with the intensity of data (eg, all detected ions) representing various m / z (or peaks) detected during a given scanning survey. Or a threshold determined by system 10 may be compared. For example, the absolute or relative intensity or detection level of a given charge can be established, and the controller 16 can determine the m / z ratio corresponding to an intensity peak below an established threshold, eg, by an appropriate program. Can be ordered to ignore. For example, a threshold of 5.05e5 cps may be established, and data corresponding to the m / z ratio of detected data intensity below that threshold is not retained and considered for further processing. As a result, for example, the data corresponding to peak 901 in FIG. 9 is excluded from further consideration (peak 901 does not appear in the cumulative trace of FIG. 9) and is associated with curves or peaks 62, 64, 66. Only the data to be processed can be further processed.

代替的に、あるいは追加的に、相対的な値が、確立され得る。例えば、図3および/または図4に対応する解析において、選択された閾値を下回る相対的な強度のピークは、さらなる処理からは外され得る。例えば、10%の閾値が設定された場合、コントローラ16は、ピーク371、1121、1530、713、および887(ならびに図3に示されているがラベル付けされていないその他のピーク)に関連するデータの処理を停止し得る。   Alternatively or additionally, relative values can be established. For example, in the analysis corresponding to FIG. 3 and / or FIG. 4, relative intensity peaks below a selected threshold may be excluded from further processing. For example, if a threshold of 10% is set, the controller 16 will retrieve data related to peaks 371, 1121, 1530, 713, and 887 (as well as other peaks not shown but labeled in FIG. 3). May stop processing.

さらなる例として、806において、コントローラ16は、揮発性メモリに保持されているデータを減らし(そうしなければ、これらデータは、その後、本明細書に記載されているイオン抽出基準の適用により、コントローラ16によって処理され得る)、その結果、選択されたm/z比に対応しているデータは、コントローラ16によるさらなる処理から外され得る。   As a further example, at 806, the controller 16 reduces the data held in volatile memory (otherwise these data are then transferred to the controller by application of the ion extraction criteria described herein. As a result, data corresponding to the selected m / z ratio can be excluded from further processing by the controller 16.

806においてそのようなデータ低減技術を適用すると、QSTAR(TM) LC/MS/MSシステムによって実行される典型的な解析の場合には、以後のステップ806においては、所与のサーベイに関連する興味のあるデータ点の個数が、保持されている約1,000個の点から、約100個(またはそれよりも少ない)のデータ点に減らされることになる。各々は、興味のあるm/z比、ならびにそれぞれのサーベイまたはスキャン期間の間に記録された電荷の強度を表している。減らされたデータセットは、その後のアクセスおよび処理のために、揮発性メモリに保持され得、好適には、永続性メモリに保持され得る。当業者には理解されるように、処理されるデータの実質的な減少は、興味のあるデータの処理時間の増加につながるので、データに関連して生成され得る出力の数および品質の両方を増大させ、MSスキャンが処理され得るレートを増大させ得る。このことは、本明細書に記載されているように、システムによって要求され、システムによって処理されるデータの品質を改良し得る。   Applying such data reduction techniques at 806, in the case of a typical analysis performed by a QSTAR (TM) LC / MS / MS system, in subsequent steps 806, the interest associated with a given survey The number of certain data points is reduced from about 1,000 retained points to about 100 (or fewer) data points. Each represents the m / z ratio of interest, as well as the intensity of the charge recorded during the respective survey or scan period. The reduced data set can be kept in volatile memory, preferably in persistent memory, for subsequent access and processing. As will be appreciated by those skilled in the art, a substantial decrease in the processed data leads to an increase in the processing time of the data of interest, thus reducing both the number and quality of output that can be generated in connection with the data. Can increase the rate at which MS scans can be processed. This may improve the quality of the data required and processed by the system as described herein.

808において、コントローラ16は、選択された数の先のサーベイスキャンに関連するデータにアクセスし、興味のある1つ以上の指定されたイオン(すなわち、m/z比)に対し、XICを生成し得る。このことは、様々な方法で達成され得る。例えば、第1のステップとして、個々の時間−m/z強度のデータ点の間に描かれている直線によって表されている線分によって近似される、1次の曲線が生成され得る。そのような曲線は、図9における曲線62によって図示されており、これは、データ点62−1〜62−22の間に描かれている線分から構成されている。この方法で生成されたXICに関連するデータは、例えば、本明細書に記載されているように、速い立ち上がりの信号を識別するために用いられ得る。   At 808, the controller 16 accesses data associated with the selected number of previous survey scans and generates an XIC for one or more specified ions of interest (ie, m / z ratio). obtain. This can be accomplished in various ways. For example, as a first step, a linear curve approximated by a line segment represented by a straight line drawn between individual time-m / z intensity data points may be generated. Such a curve is illustrated by curve 62 in FIG. 9, which is composed of line segments drawn between data points 62-1 to 62-22. Data related to the XIC generated in this manner can be used to identify fast rising signals, for example, as described herein.

しかしながら、ある場合において観察されるように、XICにおけるデータ点の間の直線の結合によって生成された、1次(すなわち、線形)の曲線近似を用いると、解析において不正確さまたはその他の困難をもたらすことになる。例えば、MSサーベイスキャンの間のサイクル時間と比較したとき、溶出されるかイオン源12によって提供される解析されるサンプルの構成要素の相対的部分が、比較的高いレートで変化する場合、溶出率または供給率におけるピークまたは谷は失われ、その後、評価され、結果として、化合物ならびに化合物の構成要素の相対的レベルの誤った識別につながり得る。同様に、接触率(質量分析器における検出器プレートの領域に衝突する様々なm/z比のイオンによる)がアナライザによって完全に処理されるには高すぎるとき(すなわち、検出器の領域の処理容量が超過しており、検出器が飽和しているとき)、XICトレースにおけるピークは、評価を受け、同様の結果につながり得る。   However, as observed in some cases, using a linear (ie, linear) curve approximation generated by a linear combination between data points in an XIC can lead to inaccuracies or other difficulties in the analysis. Will bring. For example, when the relative portion of the analyzed sample component that is eluted or provided by the ion source 12 changes at a relatively high rate when compared to the cycle time during an MS survey scan, Or peaks or valleys in the feed rate are lost and then evaluated, which can result in misidentification of the compound as well as the relative levels of the components of the compound. Similarly, when the contact ratio (due to various m / z ratio ions impinging on the area of the detector plate in the mass analyzer) is too high to be fully processed by the analyzer (ie, processing of the area of the detector). When the capacity is exceeded and the detector is saturated), peaks in the XIC trace can be evaluated and lead to similar results.

このように、多くの場合において、取得されたデータ点に基づいて、改良された2次の曲線、または高次の曲線、またはその他の非線形の曲線(または改良された線形の曲線もあり得る)の表現を用いることにより、質量分析の解析における品質は、改良され得る。したがって、ステップ810において、コントローラ16は、取得されたトレースデータにアクセスし、様々なXIC曲線平滑化アルゴリズムのうちの任意のものを実行することにより、コントローラ16によって生成されたXICの全てまたは任意の部分の曲線近似を提供する。コントローラ16によって実行されるアルゴリズムは、任意の適切なカーブフィッティングアルゴリズムまたは平滑化アルゴリズム、あるいはその他の適切な数学的操作を含み得、上記数学的操作は、例えば、可変線形(varied linear)カーブフィッティング方法および非線形カーブフィッティング方法(最小2乗フィッティング、荷重最小2乗フィッティング、およびロバストフィッティング(これら全ては、境界を有するか有さない));スプラインまたは補間(2次または高次の多項式あるいは指数関数を含む)を含んでおり、生成されたXICに関する様々な情報を生成するために用いられ得る。上記情報は、例えば、局所的または全体的はXIC曲線近似;曲線上の任意の1つの以上の点における変化率(1次微分)、曲線の局所的な最小点または最大点(1次微分がゼロとなる点)、および曲線の下の領域(区間)を含んでいる。   Thus, in many cases, based on the acquired data points, an improved quadratic curve, or a higher order curve, or other non-linear curve (or there may be an improved linear curve). By using the expression, the quality in the analysis of mass spectrometry can be improved. Thus, in step 810, the controller 16 accesses the acquired trace data and executes any of a variety of XIC curve smoothing algorithms to provide all or any of the XICs generated by the controller 16. Provides a curve approximation of the part. The algorithm executed by the controller 16 may include any suitable curve fitting or smoothing algorithm, or other suitable mathematical operations, such as, for example, a variable linear curve fitting method. And non-linear curve fitting methods (least square fitting, weighted least square fitting, and robust fitting (all with or without boundaries)); splines or interpolation (second or higher order polynomials or exponential functions) And can be used to generate various information about the generated XIC. Such information can be, for example, local or global XIC curve approximation; rate of change at any one or more points on the curve (first derivative), local minimum or maximum point of the curve (where the first derivative is Zero), and the area under the curve (section).

本明細書において記載または提示されている任意の目的に適切なアルゴリズムが、用いられ得る。本明細書に接した当業者によって理解されるように、多くの適切なアルゴリズムが公知であり、今後も開発されていくことは疑いようがない。一実施形態において、動的なイオン選択のための強度の微分を比較するために、1次微分が、データ点のペアごとに2〜3点の単純な非線形平滑化と共に用いられる。   Any algorithm suitable for any purpose described or presented herein may be used. As will be appreciated by one of ordinary skill in the art, a number of suitable algorithms are known and will undoubtedly be developed in the future. In one embodiment, the first derivative is used with a simple non-linear smoothing of 2-3 points per data point pair to compare the intensity derivatives for dynamic ion selection.

図9は、本発明のこの局面にしたがって生成されたXICの図を含んでいる。既に記載されたように、曲線62は、時間t1〜t22における22個の異なるサーベイスキャンの間に、質量分析器14によって提供されたデータを用いることによって、コントローラ16によって生成された1次または直線の近似を表している。22個の記録されたサーベイスキャンの間の約668.5のm/zのイオンの強度を表しているデータを用いることにより、コントローラ16は、曲線62A(そのm/z比のイオンの実際の溶出をより現実的に近似している可能性がある平滑化されたXIC曲線を表している)を記述するデータを生成し、プロットまたは表示させる。   FIG. 9 includes a diagram of the XIC generated in accordance with this aspect of the invention. As already described, the curve 62 is a linear or straight line generated by the controller 16 by using the data provided by the mass analyzer 14 during 22 different survey scans at times t1-t22. Represents an approximation. By using data representing the intensity of ions at about 668.5 m / z during the 22 recorded survey scans, the controller 16 determines that the curve 62A (the actual ion of ions at that m / z ratio) Data describing (smoothed XIC curves that may more closely approximate elution) is generated and plotted or displayed.

812において、コントローラ16は、平滑化されたXIC曲線(例えば、曲線62A)を表しているデータにアクセスし、1次微分またはその他の値、あるいはXIC上の興味のある点に関連する関数を決定する。これを用いることにより、例えば、814において、XICが速い立ち上がり信号として選択された点を定量化しているかどうか、あるいはXICに関連するイオンが、興味のあるイオンを識別しているかどうか、804において生成された含有物リストに含ませるかどうかを決定する。例えば、上述のように、システム10のユーザは、コントローラ16に、ソース12によって提供された、ピークリストに含まれるべき速い立ち上がり信号に関連する、1つ以上の溶出物またはその他のイオンを識別するように命令し得る。   At 812, the controller 16 accesses data representing a smoothed XIC curve (eg, curve 62A) and determines a first derivative or other value or function associated with the point of interest on the XIC. To do. Using this, for example, at 814, whether the XIC is quantifying the selected point as a fast rising signal, or whether the ion associated with the XIC identifies the ion of interest, generated at 804 Whether to include in the included inclusion list. For example, as described above, the user of system 10 identifies to controller 16 one or more eluates or other ions associated with the fast rise signal provided by source 12 to be included in the peak list. Can be ordered to.

識別された興味のあるイオンに関する現在のリストは、814において適切に改変され、コントローラ16は、興味のある1つ以上のXICと共に、揮発性メモリまたは永続性メモリ内にリストを保持させ、プロセス800は、802において、2次的またはその後のMSサーベイを繰り返され得る。ループ802〜814は、全ての興味のある化合物または全ての興味のある相対的割合が、識別されるまで繰り返されるか、コントローラ16および/またはシステム10のユーザが、所望の質量解析が完了したと満足するまで繰り返され得る。   The current list for the identified ions of interest is appropriately modified at 814 and the controller 16 causes the list to be kept in volatile or persistent memory along with one or more XICs of interest and process 800. May repeat the secondary or subsequent MS survey at 802. Loops 802-814 are repeated until all compounds of interest or all relative percentages of interest have been identified, or the user of controller 16 and / or system 10 has completed the desired mass analysis. Can be repeated until satisfied.

本発明は、より濃度の高い種(典型的には高い強度で検出される)の存在下で、同時に溶出しているか、ソース12によって提供され得る、低い強度の種の検出を改良する。結果として、このアプローチを用いることにより、同位体または同位体比の完全性が保存されることが期待される。加えて、本発明は、コントローラをプログラムするためにユーザが必要とする多くの基準を単純化する可能性を提供する。   The present invention improves the detection of low intensity species that may be co-eluting or provided by the source 12 in the presence of higher concentration species (typically detected at high intensity). As a result, using this approach is expected to preserve the integrity of isotopes or isotope ratios. In addition, the present invention offers the possibility of simplifying many of the criteria that the user needs to program the controller.

本発明はまた、有用な情報を収集する際の効率を改善する一方で、収集されるデータの量を最小化する。このことは、例えば、シフトされる情報の量を最小化する追加的な利点を提供し、そのようなデータに対する実時間の解析能力を向上させる。   The present invention also minimizes the amount of data collected while improving efficiency in collecting useful information. This provides, for example, the additional benefit of minimizing the amount of information that is shifted and improves real-time analysis capabilities for such data.

単一の反応の監視に関連して、好適な実施形態が記載されてきた。しかしながら、本発明は、様々なさらなる解析プロセスに適用され得るということが、理解され得る。さらなる解析プロセスは、例えば、従来技術において公知な、選択イオン監視(SIM)、選択反応監視(SRM)、多重反応監視(MRM)(イオン変換の複数の生成が関しされる場合を含む)、多電荷スキャンを含んでいる。本発明は、キャピラリー電気泳動質量分析システム(CE−MS)およびガスクロマトグラフィ質量分析システム(GC−MS)に適用され得ることを、理解されたい。当業者は、本発明の趣旨および範囲から逸れることなしに、好適な実施形態に対し、様々な改変がなされ得ることを、理解し得る。   A preferred embodiment has been described in connection with monitoring a single reaction. However, it can be appreciated that the present invention can be applied to a variety of further analysis processes. Further analysis processes include, for example, selected ion monitoring (SIM), selective reaction monitoring (SRM), multiple reaction monitoring (MRM) (including cases involving multiple generations of ion conversion), Includes charge scanning. It should be understood that the present invention can be applied to capillary electrophoresis mass spectrometry systems (CE-MS) and gas chromatography mass spectrometry systems (GC-MS). Those skilled in the art can appreciate that various modifications can be made to the preferred embodiments without departing from the spirit and scope of the present invention.

図10(その一部分である10aおよび10bを含んでいる)は、本発明にしたがって取得された解析と、通常のIDAプロセスにしたがって取得された解析との比較の結果に関する表を提供している。   FIG. 10 (including parts 10a and 10b thereof) provides a table of the results of a comparison between an analysis obtained in accordance with the present invention and an analysis obtained in accordance with a normal IDA process.

図10aは、従来のIDA特徴(「通常のIDA」)ならびに本発明にしたがうシステムおよびプロセスの実施形態(「IDA−DBS」)を用いることによって、単一のLC射出から検出および検証された、ハロペリドールの代謝産物の解析結果を示している。表に示されているように、本発明にしたがうシステムおよびプロセスを用いることにより、成功率において、顕著な向上が取得された。   FIG. 10a is detected and verified from a single LC injection by using conventional IDA features (“regular IDA”) and system and process embodiments according to the present invention (“IDA-DBS”). The analysis result of the metabolite of haloperidol is shown. As shown in the table, a significant improvement in the success rate was obtained by using the system and process according to the present invention.

図10bは、従来のIDA特徴(「通常のIDA」)ならびに本発明にしたがうシステムおよびプロセスの実施形態(「IDA−DBS」)を用いることによって、単一のLC射出から検出および検証された、ジクロフェナクの代謝産物の解析結果を示している。表に示されているように、本発明にしたがうシステムおよびプロセスを用いることにより、成功率において、顕著な向上が取得された。   FIG. 10 b is detected and verified from a single LC injection by using conventional IDA features (“Regular IDA”) and system and process embodiments according to the present invention (“IDA-DBS”). The analysis result of the metabolite of diclofenac is shown. As shown in the table, a significant improvement in the success rate was obtained by using the system and process according to the present invention.

図11は、LC/MSの実行の一部分にわたる、時間(分)の関数として検出された様々な質量のサンプル強度(cps)のプロット、ならびに局所的なプロットの微分の挿入図である。挿入図に示されているような局所的な微分は、例えば、トレースにおける所望の数の過去の点を用いることにより、計算され得る。示されている例においては、2つのトレースが示されており、選択されたイオンに対するLCピークは、実線で示されており、平坦信号は、破線で示されている。各トレースに対する1次微分の曲線は、コントローラ16によって提供された最後の20データ点に基づいて、本明細書に記載されている曲線近似アルゴリズムを用いることにより、示されている。約13.5秒において、1次微分が最大値に達すると(真ん中の挿入図に示されている)、コントローラ16は、実線のトレースに関連するイオンを、さらなる質量解析のために選択する。   FIG. 11 is a plot of sample intensity (cps) of various masses detected as a function of time (minutes) over a portion of the LC / MS run, as well as an inset of local plot derivatives. A local derivative as shown in the inset can be calculated, for example, by using a desired number of past points in the trace. In the example shown, two traces are shown, the LC peak for the selected ion is shown as a solid line, and the flat signal is shown as a dashed line. The first derivative curve for each trace is shown by using the curve approximation algorithm described herein based on the last 20 data points provided by the controller 16. When the first derivative reaches a maximum at about 13.5 seconds (shown in the middle inset), the controller 16 selects the ions associated with the solid trace for further mass analysis.

上述の本発明は、明瞭化および理解を目的としていくぶん詳細に記載されてきたが、当業者は、本開示を読むことにより、形式および詳細において、添付の請求の範囲における本発明の正しい範囲から逸れることなしに、様々な変更がなされ得るということを、理解し得る。したがって、本発明は、上述で述べられているそのままの構成要素または方法の詳細または構成に限定されるものではなく目的に必要なまたは本来の範囲を除き、図面を含む本開示に記載されている方法またはプロセスに関するステップまたは段階に対する順序は、一切意図されても、示唆されてもいない。多くの場合、目的ステップの順序は、記載されている方法の目的、効果、または意味を変更することなしに、変更され得る。   Although the foregoing invention has been described in some detail for purposes of clarity and understanding, those skilled in the art will recognize, in form and detail, from the correct scope of the invention in the appended claims after reading this disclosure. It can be appreciated that various changes can be made without departing. Accordingly, the present invention is not limited to the exact details or constructions of the components or methods described above, but is described in this disclosure, including the drawings, except as necessary or essential to the purpose. No order to the steps or steps for the method or process is intended or suggested. In many cases, the order of the purpose steps may be changed without changing the purpose, effect, or meaning of the described methods.

本発明の上述の局面およびその他の局面は、本発明の特定の実施形態に関する記載および添付図面からより明らかになる。添付図面は、単に例示を目的としており、本発明の原理を限定することを目的とはしていない。
図1は、本発明を実施する際の使用に適したLC/MSシステムの概略的なブロック図である。 図2は、LC/MSの実行の一部分にわたる、時間(分)の関数として検出された様々な質量の強度(cps)をプロットしているグラフである。 図3は、図2に示されているLC/MSの実行の一部分における、第1の時間(t1)に行われた質量分析である。 図4は、図2に示されているLC/MSの実行の一部分における、第2の時間(t0)に行われた質量分析である。 図5は、2次質量解析のために選択され得るイオンを示す概略図であり、上記2次質量解析は、従来技術のデータ依存収集ツールを用いたものであるが、本発明にしたがう動的なバックグラウンド信号の排除は用いていない。 図6は、本発明の好適な実施形態にしたがう、2次質量解析のために選択されたイオンを示す概略図である。 図7は、質量ピークの部分を示す概略図であり、これは、速い立ち上がり質量信号の検出の際に考慮され得る。 図8は、本発明にしたがう、マルチMS解析における記録データを処理する方法を示す概略図である。 図9は、本発明にしたがって生成される、抽出されたイオンクロ的グラムの図である。 図10aは、従来技術にしたがうプロセスおよび本発明にしたがうプロセスを用いて取得された比較結果の表を提供している。 図10bは、従来技術にしたがうプロセスおよび本発明にしたがうプロセスを用いて取得された比較結果の表を提供している。 図11は、LC/MSの実行の一部分にわたる、時間(分)の関数として検出された様々な質量のサンプル強度(cps)のプロットである。
The above and other aspects of the present invention will become more apparent from the description of specific embodiments of the invention and the accompanying drawings. The accompanying drawings are for illustrative purposes only and are not intended to limit the principles of the invention.
FIG. 1 is a schematic block diagram of an LC / MS system suitable for use in practicing the present invention. FIG. 2 is a graph plotting the intensity (cps) of various masses detected as a function of time (minutes) over a portion of the LC / MS run. FIG. 3 is a mass analysis performed at a first time (t1) in a portion of the LC / MS run shown in FIG. FIG. 4 is a mass analysis performed at a second time (t0) in a portion of the LC / MS run shown in FIG. FIG. 5 is a schematic diagram illustrating ions that may be selected for secondary mass analysis, which is performed using a prior art data-dependent collection tool, but according to the present invention. No background signal rejection is used. FIG. 6 is a schematic diagram illustrating ions selected for secondary mass analysis in accordance with a preferred embodiment of the present invention. FIG. 7 is a schematic diagram showing a portion of the mass peak, which can be taken into account in the detection of a fast rising mass signal. FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a method of processing recorded data in multi-MS analysis according to the present invention. FIG. 9 is a diagram of an extracted ion chromatogram produced in accordance with the present invention. FIG. 10a provides a table of comparison results obtained using a process according to the prior art and a process according to the present invention. FIG. 10b provides a table of comparison results obtained using a process according to the prior art and a process according to the present invention. FIG. 11 is a plot of sample mass (cps) of various masses detected as a function of time (minutes) over a portion of the LC / MS run.

Claims (32)

物質を記述する質量分析のデータを取得するための方法であって、
該物質をイオン化することと、
該イオン化された物質の一部分の現在の質量分析を取得し、該現在の質量分析を表しているデータを保持することと、
該イオン化された物質の少なくとも2つのさらなる部分の次の質量分析を取得し、該少なくとも2つのさらなる質量分析を表しているデータを保持することと、
該現在の質量分析および該少なくとも2つの次の質量分析に関連するデータ、ならびに非線形曲線近似アルゴリズムを用いることにより、少なくとも1つの抽出されたイオンのクロマトグラムを記述するために有用な情報を生成することと、
該少なくとも1つの抽出されたイオンのクロマトグラムを記述するために有用な該生成された情報を用いることにより、該イオン化された物質のさらなる解析のために有用なさらなる情報を生成することと
を包含する、方法。
A method for obtaining mass spectrometry data describing a substance, comprising:
Ionizing the material;
Obtaining a current mass analysis of a portion of the ionized material and retaining data representing the current mass analysis;
Obtaining a subsequent mass analysis of at least two further portions of the ionized material and retaining data representing the at least two further mass analyses;
Use the current mass analysis and the data associated with the at least two subsequent mass analyses, and generate information useful for describing a chromatogram of at least one extracted ion by using a non-linear curve approximation algorithm And
Generating further information useful for further analysis of the ionized material by using the generated information useful for describing a chromatogram of the at least one extracted ion. how to.
前記少なくとも1つの抽出されたイオンのクロマトグラムを記述するために有用な前記生成された情報は、該抽出されたイオンのクロマトグラムに関連する微分を記述する情報を生成するために用いられる、請求項1に記載の方法。   The generated information useful for describing a chromatogram of the at least one extracted ion is used to generate information describing a derivative associated with the chromatogram of the extracted ion. Item 2. The method according to Item 1. 前記抽出されたイオンのクロマトグラムに関連する前記微分は、速い立ち上がり信号に関連する少なくとも1つのイオンを識別するために用いられる、請求項2に記載の方法。   The method of claim 2, wherein the derivative associated with a chromatogram of the extracted ions is used to identify at least one ion associated with a fast rising signal. 前記イオン化された物質の一部分の現在の質量分析を取得する前に、プレカーサースキャンを実行すること
を含んでいる、請求項1に記載の方法。
The method of claim 1, comprising performing a precursor scan prior to obtaining a current mass analysis of a portion of the ionized material.
前記イオン化された物質の一部分の現在の質量分析を取得する前に、ニュートラルロススキャンを実行すること
を含んでいる、請求項1に記載の方法。
The method of claim 1, comprising performing a neutral loss scan prior to obtaining a current mass analysis of a portion of the ionized material.
少なくとも1つの質量分析を表しているデータと、先に決定された複数の質量分析を表しているデータベースに格納されたデータとを比較することにより、物質を自動的に識別すること
を含んでいる、請求項1に記載の方法。
Including automatically identifying substances by comparing data representing at least one mass analysis with data stored in a database representing a plurality of previously determined mass analyses. The method of claim 1.
少なくとも1つの質量分析に関連するデータと指定された基準とを比較し、該基準を満たしているデータのみを保持することにより、少なくとも1つの質量分析を表している保持されたデータの量を減らすこと
を含んでいる、請求項1に記載の方法。
Reduce the amount of retained data representing at least one mass analysis by comparing the data associated with at least one mass analysis with specified criteria and retaining only data that meets the criteria The method of claim 1, comprising:
前記指定された基準は、強度の閾値を含んでいる、請求項7に記載の方法。   The method of claim 7, wherein the specified criteria includes an intensity threshold. 前記指定された基準は、少なくとも1つの興味のあるイオンを特定する、請求項7に記載の方法。   8. The method of claim 7, wherein the specified criteria identifies at least one ion of interest. 前記指定された基準は、少なくとも1つの興味のないイオンを特定する、請求項7に記載の方法。   8. The method of claim 7, wherein the specified criteria identifies at least one uninteresting ion. 質量分析システムであって、
イオン源と、
選択された質量の少なくとも1つのイオンを解析することが可能な質量分析器と、
コントローラであって、
該質量分析器から、複数の質量分析を表すデータを表している信号を受信し、該信号を保持することと、
該複数の質量分析に関連するデータおよび非線形曲線近似アルゴリズムを用いることにより、少なくとも1つの抽出されたイオンのクロマトグラムを記述するために有用な情報を生成することと、
該生成された情報を用いることにより、該イオン化された物質のさらなる解析のために有用なさらなる情報を生成することと
を行うように構成された、コントローラと
を備えている、システム。
A mass spectrometry system comprising:
An ion source;
A mass analyzer capable of analyzing at least one ion of a selected mass;
A controller,
Receiving a signal representing data representing a plurality of mass analyzes from the mass analyzer and retaining the signal;
Generating information useful for describing a chromatogram of at least one extracted ion by using data related to the plurality of mass spectrometry and a non-linear curve approximation algorithm;
A controller configured to use the generated information to generate further information useful for further analysis of the ionized material.
前記コントローラは、前記少なくとも1つの抽出されたイオンのクロマトグラムを記述するために有用な前記生成された情報を用いることにより、該抽出されたイオンのクロマトグラムに関連する微分を記述する情報を生成するように構成されている、請求項11に記載のシステム。   The controller generates information describing a derivative associated with the chromatogram of the extracted ions by using the generated information useful for describing the chromatogram of the at least one extracted ion. The system of claim 11, wherein the system is configured to: 前記コントローラは、前記抽出されたイオンのクロマトグラムに関連する前記微分を用いることにより、速い立ち上がり信号に関連する少なくとも1つのイオンを識別するように構成されている、請求項12に記載のシステム。   The system of claim 12, wherein the controller is configured to identify at least one ion associated with a fast rise signal by using the derivative associated with a chromatogram of the extracted ions. 前記コントローラは、少なくとも1つの質量分析を表しているデータと、先に決定された複数の質量分析を表しているデータベースに格納されたデータとを比較することにより、物質を自動的に識別するように構成されている、請求項11に記載のシステム。   The controller automatically identifies a substance by comparing data representing at least one mass analysis and data stored in a database representing a plurality of previously determined mass analyses. The system according to claim 11, which is configured as follows. 前記コントローラは、前記質量分析器から受信された信号によって表されているデータと指定された基準とを比較し、該基準を満たしているデータのみを保持することにより、保持されたデータの量を減らすように構成されている、請求項11に記載のシステム。   The controller compares the data represented by the signal received from the mass analyzer with a specified criterion, and retains only the data that meets the criterion to determine the amount of data retained. The system of claim 11, wherein the system is configured to reduce. 前記指定された基準は、強度の閾値を含んでいる、請求項15に記載のシステム。   The system of claim 15, wherein the specified criteria includes an intensity threshold. 前記指定された基準は、少なくとも1つの興味のあるイオンを特定する、請求項15に記載のシステム。   The system of claim 15, wherein the specified criteria identifies at least one ion of interest. 前記指定された基準は、少なくとも1つの興味のないイオンを特定する、請求項15に記載のシステム。   The system of claim 15, wherein the specified criteria identifies at least one ion of interest. 質量分析器のためのコントローラであって、該コントローラは、選択された質量の少なくとも1つのイオンを検出することが可能な検出器を備えており、該コントローラは、
該質量分析器から、複数の質量分析を表すデータを表している信号を受信し、該信号を保持することと、
該複数の質量分析に関連するデータおよび非線形曲線近似アルゴリズムを用いることにより、少なくとも1つの抽出されたイオンのクロマトグラムを記述するために有用な情報を生成することと、
該生成された情報を用いることにより、該イオン化された物質のさらなる解析のために有用なさらなる情報を生成することと
を行うように構成されている、コントローラ。
A controller for a mass analyzer, the controller comprising a detector capable of detecting at least one ion of a selected mass, the controller comprising:
Receiving a signal representing data representing a plurality of mass analyzes from the mass analyzer and retaining the signal;
Generating information useful for describing a chromatogram of at least one extracted ion by using data related to the plurality of mass spectrometry and a non-linear curve approximation algorithm;
A controller configured to use the generated information to generate further information useful for further analysis of the ionized material.
前記少なくとも1つの抽出されたイオンのクロマトグラムを記述するために有用な前記生成された情報を用いることにより、該抽出されたイオンのクロマトグラムに関連する微分を記述する情報を生成するように構成されている、請求項19に記載のコントローラ。   Configured to generate information describing a derivative associated with the chromatogram of the extracted ions by using the generated information useful for describing a chromatogram of the at least one extracted ion. The controller of claim 19. 前記抽出されたイオンのクロマトグラムに関連する前記微分を用いることにより、速い立ち上がり信号に関連する少なくとも1つのイオンを識別するように構成されている、請求項20に記載のコントローラ。   21. The controller of claim 20, configured to identify at least one ion associated with a fast rising signal by using the derivative associated with a chromatogram of the extracted ions. 少なくとも1つの質量分析を表しているデータと、先に決定された複数の質量分析を表しているデータベースに格納されたデータとを比較することにより、物質を自動的に識別するように構成されている、請求項19に記載のコントローラ。   Configured to automatically identify a substance by comparing data representing at least one mass analysis with data stored in a database representing a plurality of previously determined mass analyses. The controller of claim 19. 前記質量分析器から受信された信号によって表されているデータと指定された基準とを比較し、該基準を満たしているデータのみを保持することにより、保持されたデータの量を減らすように構成されている、請求項19に記載のコントローラ。   Comparing the data represented by the signal received from the mass analyzer with a specified criterion and configured to reduce the amount of data retained by retaining only data that meets the criterion The controller of claim 19. コンピュータ利用可能媒体であって、該コンピュータ利用可能媒体は、そこに具体化されたコンピュータ読取り可能コードを有しており、該コンピュータ読取り可能コードは、該質量分析器のコントローラに、
該質量分析器から、複数の質量分析を表すデータを表している信号を受信させ、
該複数の質量分析に関連するデータおよび非線形曲線近似アルゴリズムを用いることにより、少なくとも1つの抽出されたイオンのクロマトグラムを記述するために有用な情報を生成させ、
該生成された情報を用いることにより、該イオン化された物質のさらなる解析のために有用なさらなる情報を生成させる、
コンピュータ利用可能媒体。
A computer-usable medium, the computer-usable medium having computer-readable code embodied therein, the computer-readable code being transmitted to the controller of the mass analyzer
Receiving a signal representing data representing a plurality of mass analyzes from the mass analyzer;
Generating information useful for describing a chromatogram of at least one extracted ion by using data related to the plurality of mass spectrometry and a non-linear curve approximation algorithm;
Using the generated information to generate further information useful for further analysis of the ionized material;
Computer usable media.
前記コンピュータ利用可能媒体に具体化されたコンピュータ読取り可能コードを含んでおり、該コンピュータ読取り可能コードは、前記コントローラに、前記少なくとも1つの抽出されたイオンのクロマトグラムを記述するために有用な前記生成された情報を用いることにより、該抽出されたイオンのクロマトグラムに関連する微分を記述する情報を生成させる、請求項24に記載のコンピュータ利用可能媒体。   Computer-readable code embodied in the computer-usable medium, the computer-readable code useful for describing to the controller a chromatogram of the at least one extracted ion 25. The computer-usable medium of claim 24, wherein the information is used to generate information describing a derivative associated with a chromatogram of the extracted ions. 前記コンピュータ利用可能媒体に具体化されたコンピュータ読取り可能コードを含んでおり、該コンピュータ読取り可能コードは、前記コントローラに、前記抽出されたイオンのクロマトグラムに関連する前記微分を用いることにより、速い立ち上がり信号に関連する少なくとも1つのイオンを識別させる、請求項25に記載のコンピュータ利用可能媒体。   Computer-readable code embodied in the computer-usable medium, the computer-readable code using the derivative associated with the chromatogram of the extracted ions in the controller 26. The computer usable medium of claim 25, wherein at least one ion associated with the signal is identified. 前記コンピュータ利用可能媒体に具体化されたコンピュータ読取り可能コードを含んでおり、該コンピュータ読取り可能コードは、前記コントローラに、少なくとも1つの質量分析を表しているデータと、先に決定された複数の質量分析を表しているデータベースに格納されたデータとを比較することにより、物質を自動的に識別させる、請求項24に記載のコンピュータ利用可能媒体。   Computer-readable code embodied in the computer-usable medium, the computer-readable code having the controller represent data representing at least one mass analysis and a plurality of previously determined masses. 25. The computer-usable medium of claim 24, wherein the substance is automatically identified by comparison with data stored in a database representing the analysis. 前記コンピュータ利用可能媒体に具体化されたコンピュータ読取り可能コードを含んでおり、該コンピュータ読取り可能コードは、前記コントローラに、前記質量分析器から受信された信号によって表されているデータと指定された基準とを比較し、該基準を満たしているデータのみを保持することにより、保持されたデータの量を減らさせる、請求項24に記載のコンピュータ利用可能媒体。   A computer readable code embodied in the computer usable medium, the computer readable code being provided to the controller as a reference designated as data represented by a signal received from the mass analyzer; 25. The computer-usable medium of claim 24, wherein the amount of retained data is reduced by comparing to and retaining only data that meets the criteria. 前記指定された基準は、強度の閾値を含んでいる、請求項28に記載のコンピュータ利用可能媒体。   30. The computer usable medium of claim 28, wherein the specified criteria includes an intensity threshold. 前記指定された基準は、少なくとも1つの興味のあるイオンを特定する、請求項28に記載のコンピュータ利用可能媒体。   29. The computer-usable medium of claim 28, wherein the specified criteria identifies at least one ion of interest. 前記指定された基準は、少なくとも1つの興味のないイオンを特定する、請求項28に記載のコンピュータ利用可能媒体。   29. The computer-usable medium of claim 28, wherein the specified criteria identifies at least one uninteresting ion. 本明細書中に記載され、言及され、例示されている、任意または全ての新規なその他の特徴。   Any or all novel other features described, mentioned and exemplified herein.
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