JP2008180602A - Inspection apparatus, testing method, inspection program, and computer readable medium - Google Patents

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修平 山本
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To equalize an imaging condition in the whole region of a display device by setting imaging magnification suppressing the occurrence of moire. <P>SOLUTION: An inspection apparatus 1 includes: an imaging device 3 for imaging the display device 6 at a plurality of times while modifying an imaging distance; a resolution evaluation calculation part 16 for calculating an evaluation value indicating unevenness of extracted pixel values at each picked up image by extracting the pixel values output from an imaging element included in first and second attention imaging element arrangements at prescribed intervals; and a correction calculation part 19 for calculating the inclination of the display device 6 to an optical axis of the imaging device 3 from a difference with the optimum imaging distance of the first and second attention image element arrangements and a distance between positions on the display device 6 corresponding to the first and second attention imaging element arrangements by specifying the optimum evaluation value having the minimum unevenness out of calculated evaluation values and calculating the optimum imaging distance leading to calculating the optimum evaluation values concerning the first and second attention imaging element arrangements. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、液晶パネルなどの表示デバイスの製造工程における表示デバイスの検査方法および検査装置に関するものであり、特に、モアレの発生が少ない撮像条件で表示デバイスを撮像するための検査方法および検査装置に関するものである。   The present invention relates to a display device inspection method and an inspection apparatus in a manufacturing process of a display device such as a liquid crystal panel, and more particularly to an inspection method and an inspection apparatus for imaging a display device under an imaging condition with less occurrence of moire. Is.

液晶パネルなどの表示デバイスは、その製造工程の後半において点灯され、その良否が検査される。この検査には、点灯された表示デバイスを作業者の目視により検査する目視検査と、点灯された表示デバイスをラインセンサやエリアセンサのようなカメラで撮像して得られた信号を処理する自動検査とがある。   A display device such as a liquid crystal panel is turned on in the latter half of the manufacturing process, and its quality is inspected. This inspection includes a visual inspection in which the illuminated display device is visually inspected by an operator, and an automatic inspection in which a signal obtained by imaging the illuminated display device with a camera such as a line sensor or an area sensor is processed. There is.

しかし、目視検査の場合、見逃しや個人差による判定のばらつきがある。さらに表示デバイスは近年、高精細化しており、表示画素(R、G、Bの3つの絵素を1つの単位としたもの)の数が何百万画素のオーダーになっているため、目視によって見つけた欠陥位置および欠陥種類を正確に記録し、欠陥の修正やプロセス改善のためのフィードバック情報とすることは難しい。なお、上記絵素は、一般にその横サイズと縦サイズとの比が1:3程度である。   However, in the case of visual inspection, there are variations in determination due to oversight or individual differences. Furthermore, display devices have recently become higher in definition, and the number of display pixels (with three picture elements R, G, B as one unit) is on the order of millions of pixels. It is difficult to accurately record the found defect position and defect type and provide feedback information for defect correction and process improvement. The picture element generally has a ratio of horizontal size to vertical size of about 1: 3.

一方、自動検査の場合、カメラを用いて対象となる表示デバイスを撮像するため、検出したい欠陥に応じた撮像倍率(表示デバイスの表示画素数と撮像素子の素子数との比を指し、表示デバイスの1画素を撮像素子の素子数3×3にて撮像する状態を撮像倍率3と称す)となるように撮像条件を設定する必要がある。さらに表示デバイスの全領域で同じ条件で検査を行うために、全領域で撮像条件、すなわち撮像倍率を等しくする必要がある。   On the other hand, in the case of automatic inspection, since a target display device is imaged using a camera, the imaging magnification (the ratio between the number of display pixels of the display device and the number of elements of the image sensor) It is necessary to set the imaging condition so that the state of imaging one pixel of (3) with the number of imaging elements of 3 × 3 is referred to as imaging magnification 3). Furthermore, in order to perform the inspection under the same conditions in the entire area of the display device, it is necessary to make the imaging conditions, that is, the imaging magnification equal in the entire area.

しかし、一般に撮像倍率の設定は、スケールやそれを保持する治具等の機構が必要であり、また設定時期は、装置導入時や製造工程のメンテナンス時などに限られるために、経時変化や工程要因変動による撮像倍率のズレや新規機種の登録などに即座に対応できないという問題がある。   However, in general, the setting of the imaging magnification requires a mechanism such as a scale and a jig for holding it, and the setting time is limited to the time of introduction of the apparatus or maintenance of the manufacturing process. There is a problem that it is not possible to immediately cope with a shift in imaging magnification due to a factor change or registration of a new model.

また検査精度の観点から見ると、液晶テレビに用いられるような大型の表示デバイスの製造工程においては、タクト(1つの製品を製造するために要する時間)の制限が厳しいことから、高解像度で検査することが困難であり、撮像倍率を3や6程度に合わせるマクロ検査が主流となっている。撮像倍率3の場合、撮像分解能は画素の横サイズとなり、撮像倍率6の場合、撮像分解能は画素の横サイズの1/2となる。   Also, from the viewpoint of inspection accuracy, in the manufacturing process of large display devices such as those used in LCD TVs, the tact (time required to manufacture one product) is severely limited. Macro inspection that adjusts the imaging magnification to about 3 or 6 has become the mainstream. When the imaging magnification is 3, the imaging resolution is the horizontal size of the pixel. When the imaging magnification is 6, the imaging resolution is ½ of the horizontal size of the pixel.

このような倍率では、以下のような問題が発生する。液晶パネルのような表示デバイスでは、RGBといった絵素が規則的に配置された構造をしている。この絵素は、ガラス基板上にRGBのフィルターを規則正しく配置したものであるが、各フィルターの隙間には、光が漏れないように遮光するためのブラック・マトリックス(以下BM)が配置されている。このような表示デバイスをカメラにて撮像する場合、表示デバイス内の規則的に配置された表示絵素を、カメラの規則的に配置された撮像素子で標本化することにより撮像画像データを得る。このとき、表示絵素、および撮像素子がいずれも規則的な格子パターンとなっているため、両パターンの空間周波数の差分に応じた周波数成分が生じて、モアレとして発生することになる。輝点や黒点のような絵素欠陥や線欠陥を検出する場合には、このモアレがノイズ成分となり、検査精度を低下させる。   With such a magnification, the following problems occur. A display device such as a liquid crystal panel has a structure in which picture elements such as RGB are regularly arranged. In this picture element, RGB filters are regularly arranged on a glass substrate, and a black matrix (hereinafter referred to as BM) is arranged in the gap between the filters so as to prevent light from leaking. . When such a display device is imaged by a camera, captured image data is obtained by sampling regularly arranged display picture elements in the display device with an image sensor regularly arranged in the camera. At this time, since both the display picture element and the image sensor have a regular lattice pattern, a frequency component corresponding to the difference between the spatial frequencies of the two patterns is generated, and a moire is generated. When detecting a pixel defect such as a bright spot or a black spot or a line defect, the moire becomes a noise component, which lowers the inspection accuracy.

そのため、一般的にモアレ成分を抑制し、検査精度の向上を図るために、撮像倍率の設定精度を精密に設定し、表示画素p個に対する撮像素子の数を表示デバイスの全領域で正確に整数倍率にすることが求められる。しかし、製造工程においてそのような正確な設定を行い、それを保持するのは困難である。そのため、上記の問題に対して、これまで様々な方法が提案されている。   Therefore, in general, in order to suppress the moire component and improve the inspection accuracy, the setting accuracy of the imaging magnification is precisely set, and the number of imaging elements for p display pixels is accurately an integer in the entire area of the display device. Magnification is required. However, it is difficult to make and maintain such an accurate setting in the manufacturing process. For this reason, various methods have been proposed for the above problem.

特許文献1に記載の発明では、表示絵素s個の領域に対して撮像素子t個の領域が対応するように配置した上で、撮像素子ピッチのn分の1の変位量だけ変位させながら撮像し、各状態での検出値を総合的に見て検出値の大きいものを採用することにより、モアレの影響を低減した検出値を得ている。   In the invention described in Japanese Patent Laid-Open No. 2004-228561, the image sensor t area is arranged so as to correspond to the area of the display picture element s, and the displacement is made by a displacement amount of 1 / n of the image sensor pitch. By picking up an image and adopting a detection value having a large detection value by comprehensively looking at the detection value in each state, a detection value with reduced influence of moire is obtained.

特許文献2に記載の発明では、画像表示装置の画面をカメラでとらえ、画面の映像信号の解析を行い、解析結果に基づいてカメラの焦点距離を、モアレ成分を最小とする距離に自動的に合わせている。   In the invention described in Patent Document 2, the screen of the image display device is captured by the camera, the video signal of the screen is analyzed, and the focal length of the camera is automatically set to a distance that minimizes the moire component based on the analysis result. It is matched.

なお、カメラのレンズの光軸と撮像対象の合焦点面との角度を制御する技術は、例えば、特許文献3に開示されている。
特開平7−83799号公報(1995年3月31日公開) 特開平4−339489号公報(1992年11月26日公開) 特開平7−142346号公報(1995年6月2日公開)
A technique for controlling the angle between the optical axis of the camera lens and the focal plane of the imaging target is disclosed in, for example, Patent Document 3.
JP 7-83799 A (published on March 31, 1995) Japanese Patent Laid-Open No. 4-339489 (released on November 26, 1992) JP 7-142346 A (released on June 2, 1995)

ところが、上記従来技術では、以下の問題が発生する。   However, the following problems occur in the prior art.

特許文献1に記載の発明では、表示絵素とセンサの画素との好ましい対応関係(画素間相対位置)を変更する構成が記載されているのみで、自動的に好ましい撮像倍率を設定する構成は記載されていない。また、特許文献1に記載の発明には、レンズの光軸と合焦点面との角度を補正する手段が備わっていない。   In the invention described in Patent Document 1, only a configuration for changing a preferable correspondence (relative position between pixels) between a display picture element and a sensor pixel is described, and a configuration for automatically setting a preferable imaging magnification is described. Not listed. The invention described in Patent Document 1 does not include means for correcting the angle between the optical axis of the lens and the focal plane.

また、特許文献2に記載の発明では、表示デバイスを撮像した撮像データを解析した結果に基づいてカメラの焦点距離を、モアレ成分を最小とする距離に自動的に合わせるものであるが、表示デバイスまたはカメラが傾いている場合、一定領域のモアレ成分を最小とする条件に設定することは可能であるが、全領域において設定することはできない。また、焦点距離をモアレ成分を最小とする距離に合わせるということは、カメラの焦点を合焦位置からずらすということであり、欠陥検出感度は著しく低下する。   Further, in the invention described in Patent Document 2, the focal length of the camera is automatically adjusted to the distance that minimizes the moire component based on the result of analyzing the imaging data obtained by imaging the display device. Alternatively, when the camera is tilted, it is possible to set a condition that minimizes the moire component in a certain area, but it is not possible to set it in the entire area. Further, adjusting the focal length to a distance that minimizes the moire component means that the focal point of the camera is shifted from the in-focus position, and the defect detection sensitivity is significantly reduced.

本発明は、上記の問題を解決するためになされたものであり、その目的は製造工程における検査装置において、製造ラインを止めることなく、モアレ成分が少なくなるように撮像手段の撮像倍率の設定を自動で行うとともに、撮像手段の光軸に対する表示デバイスの傾きを補正することにより、表示デバイスの全領域において撮像条件を等しくする検査装置を提供することにある。   The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and its purpose is to set the imaging magnification of the imaging means so that the moire component is reduced without stopping the production line in the inspection apparatus in the manufacturing process. It is an object of the present invention to provide an inspection apparatus that automatically performs the imaging conditions in the entire area of the display device by correcting the inclination of the display device with respect to the optical axis of the imaging means.

本発明に係る検査装置は、上記の課題を解決するために、一定方向に配列した絵素を有する表示デバイスを、当該絵素の配列方向に沿って配列する撮像素子を有する撮像手段によって撮像し、得られた撮像画像を解析することにより当該表示デバイスの良否を判定する検査装置であって、上記撮像手段と上記表示デバイスとの間の撮像距離を変更しながら、上記表示デバイスを複数回撮像するよう上記撮像手段を制御する撮像制御手段と、上記表示デバイスの撮像画像を撮像した撮像素子の配列であって、上記絵素の配列方向に沿う方向に配列する撮像素子の配列のうち、注目する撮像素子の配列である第1注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を撮像画像ごとに算出するとともに、上記第1注目撮像素子配列に平行な第2注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を撮像画像ごとに算出する評価値算出手段と、上記評価値算出手段によって算出された評価値のうち、最もばらつき度合いが小さい最適評価値を特定し、当該最適評価値を算出するに至った撮像距離である最適撮像距離を上記第1および第2注目撮像素子配列に関して算出する評価値比較手段と、上記第1注目撮像素子配列の最適撮像距離と上記第2注目撮像素子配列の最適撮像距離との差と、上記第1注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置と上記第2注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置との間の距離と、から上記撮像手段の光軸に対する当該表示デバイスの傾きを算出する傾き算出手段とを備えることを特徴としている。   In order to solve the above problem, an inspection apparatus according to the present invention images a display device having picture elements arranged in a certain direction by an imaging means having an image sensor arranged along the arrangement direction of the picture elements. An inspection apparatus for determining the quality of the display device by analyzing the obtained captured image, and imaging the display device a plurality of times while changing an imaging distance between the imaging means and the display device An image pickup control means for controlling the image pickup means, and an array of image pickup elements for picking up a picked-up image of the display device, and of the array of image pickup elements arranged in a direction along the pixel array direction. The pixel values output from the image pickup elements included in the first target image pickup element array, which is an array of image pickup elements to be extracted, are extracted at predetermined intervals, and evaluation values indicating variations in the extracted pixel values are picked up. Calculation is performed for each image, and pixel values output from image sensors included in the second target image sensor array parallel to the first target image sensor array are extracted at predetermined intervals, and variations in the extracted pixel values are calculated. An evaluation value calculation unit that calculates an evaluation value to be shown for each captured image, and an evaluation value that has the smallest degree of variation among the evaluation values calculated by the evaluation value calculation unit is specified and the optimal evaluation value is calculated. Evaluation value comparison means for calculating the optimum imaging distance, which is the reached imaging distance, with respect to the first and second attention image sensor arrays, the optimum imaging distance of the first attention image sensor array, and the optimum of the second attention image sensor array From the difference between the imaging distance and the distance between the position on the display device corresponding to the first target image sensor array and the position on the display device corresponding to the second target image sensor array, Is characterized by comprising a slope calculation means for calculating an inclination of the display device with respect to the optical axis of the image means.

本発明に係る検査方法は、上記の課題を解決するために、一定方向に配列した絵素を有する表示デバイスを、当該絵素の配列方向に沿って配列する撮像素子を有する撮像手段によって撮像し、得られた撮像画像を解析することにより当該表示デバイスの良否を判定する検査装置における検査方法であって、上記撮像手段と上記表示デバイスとの間の撮像距離を変更しながら、上記表示デバイスを複数回撮像しつつ、撮像するごとに、上記表示デバイスの撮像画像を撮像した撮像素子の配列であって、上記絵素の配列方向に沿う方向に配列する撮像素子の配列のうち、注目する撮像素子の配列である第1注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を算出するとともに、上記第1注目撮像素子配列に平行な第2注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を算出する評価値算出工程と、上記評価値算出工程において算出された評価値のうち、最もばらつき度合いが小さい最適評価値を特定し、当該最適評価値を算出するに至った撮像距離である最適撮像距離を上記第1および第2注目撮像素子配列に関して算出する評価値比較工程と、上記第1注目撮像素子配列の最適撮像距離と上記第2注目撮像素子配列の最適撮像距離との差と、上記第1注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置と上記第2注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置との間の距離と、から上記撮像手段の光軸に対する当該表示デバイスの傾きを算出する傾き算出工程とを含むことを特徴としている。   In order to solve the above problems, an inspection method according to the present invention images a display device having picture elements arranged in a certain direction by an imaging means having an image sensor arranged along the arrangement direction of the picture elements. An inspection method in an inspection apparatus that determines the quality of the display device by analyzing the obtained captured image, wherein the display device is changed while changing an imaging distance between the imaging means and the display device. An imaging element of interest that is an array of imaging elements that captures an image captured by the display device and captures the captured image of the display device in a direction along the direction in which the picture elements are aligned. When pixel values output from image sensors included in the first target image sensor array, which is an array of elements, are extracted at predetermined intervals, and an evaluation value indicating variation in the extracted pixel values is calculated In addition, pixel values output from the image sensors included in the second target image sensor array parallel to the first target image sensor array are extracted at predetermined intervals, and evaluation values indicating variations in the extracted pixel values are obtained. Of the evaluation value calculation step to be calculated and the evaluation value calculated in the evaluation value calculation step, the optimal evaluation value with the smallest degree of variation is identified, and the optimal imaging that is the imaging distance that led to the calculation of the optimal evaluation value An evaluation value comparison step of calculating a distance with respect to the first and second image pickup element arrays, a difference between an optimum image pickup distance of the first image pickup element array and the optimum image pickup distance of the second image pickup element array; From the distance between the position on the display device corresponding to the first target image sensor array and the position on the display device corresponding to the second target image sensor array, the display device with respect to the optical axis of the image pickup means. It is characterized in that it comprises a slope calculation step of calculating a scan of tilt.

上記の構成によれば、撮像制御手段の制御下にある撮像手段によって、撮像距離が変更されながら表示デバイスの撮像が複数回行われる。評価値算出手段は、第1および第2注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を、注目撮像素子配列ごと、および、複数回の撮像によって得られた複数の撮像画像ごとに算出する。   According to the above configuration, the imaging device under the control of the imaging control unit performs imaging of the display device a plurality of times while changing the imaging distance. The evaluation value calculation means extracts pixel values output from the image sensors included in the first and second target image sensor arrays at predetermined intervals, and uses the evaluation values indicating variations in the extracted pixel values as target image sensors. Calculation is performed for each array and for each of a plurality of captured images obtained by a plurality of times of imaging.

ここで、注目撮像素子配列とは、表示デバイスの撮像画像を撮像した撮像素子の配列であって、絵素の配列方向に沿う方向に配列する撮像素子の配列である。この撮像素子配列のうち、或る注目する撮像素子配列を第1注目撮像素子配列と称し、この第1注目撮像素子配列に平行な別の撮像素子配列を第2注目撮像素子配列と称している。なお、注目撮像素子配列の数は、少なくとも2あればよく、3以上であってもよい。   Here, the noticeable image sensor array is an array of image sensors that captures a captured image of a display device, and is an array of image sensors that are arranged in a direction along the direction in which picture elements are arranged. Among the image sensor arrays, a certain image sensor array of interest is referred to as a first target image sensor array, and another image sensor array parallel to the first target image sensor array is referred to as a second target image sensor array. . Note that the number of the imaging element arrays of interest may be at least two and may be three or more.

そして、評価値比較手段は、評価値算出手段によって算出された評価値のうち、最もばらつきの少ない最適評価値を求めるとともに、当該最適評価値を算出するに至った撮像距離である最適撮像距離である最適撮像距離を第1および第2注目撮像素子配列に関して算出する。   Then, the evaluation value comparison means obtains the optimum evaluation value with the least variation among the evaluation values calculated by the evaluation value calculation means, and at the optimum imaging distance that is the imaging distance that led to the calculation of the optimum evaluation value. A certain optimum imaging distance is calculated with respect to the first and second attention imaging element arrays.

そして、傾き算出手段は、第1注目撮像素子配列の最適撮像距離と第2注目撮像素子配列の最適撮像距離との差(以下、第1距離と称する)と、第1注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置と第2注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置との間の距離(以下、第2距離と称する)と、から上記撮像手段の光軸に対する表示デバイスの傾きを算出する。   The inclination calculating means corresponds to the difference between the optimal imaging distance of the first target image sensor array and the optimal image distance of the second target image sensor array (hereinafter referred to as the first distance) and the first target image sensor array. And the distance between the position on the display device and the position on the display device corresponding to the second attention image sensor array (hereinafter referred to as the second distance), calculate.

第1距離は、換言すれば、撮像手段の光軸に平行な座標軸の方向における、第1注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置と第2注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置との間の距離である。この第1距離と上記第2距離とが求まれば、sinを利用した幾何学的計算により撮像手段の光軸に対する表示デバイスの傾きを算出することができる。そして、この傾きが求まれば、撮像手段の光軸に対する表示デバイスの傾きを補正できる。   In other words, the first distance is the position on the display device corresponding to the first target image sensor array and the display device corresponding to the second target image sensor array in the direction of the coordinate axis parallel to the optical axis of the imaging means. It is the distance between the positions. If the first distance and the second distance are obtained, the inclination of the display device with respect to the optical axis of the imaging means can be calculated by geometric calculation using sin. And if this inclination is found, the inclination of the display device with respect to the optical axis of the imaging means can be corrected.

よって、以上の構成により、撮像画像含まれるモアレ成分の量が少なくなる最適な撮像距離を設定できるとともに、撮像手段の光軸に対する表示デバイスの傾きを補正することにより、表示デバイスの全領域において撮像条件を等しくすることができる。   Therefore, with the above configuration, it is possible to set an optimal imaging distance that reduces the amount of moire components included in the captured image, and to correct the tilt of the display device with respect to the optical axis of the imaging means, thereby capturing an image in the entire area of the display device. Conditions can be made equal.

また、上記撮像手段の撮像倍率を、p個の上記絵素をq個の上記撮像素子によって撮像する倍率と表現した場合、上記所定の間隔は、q/pの自然数倍数のうち、最も小さい整数に、上記表示デバイスの画素を構成する絵素の数をかけた数であることが好ましい。   Further, when the imaging magnification of the imaging means is expressed as a magnification at which p picture elements are imaged by q image sensors, the predetermined interval is the smallest integer among natural multiples of q / p. It is preferable that the number is multiplied by the number of picture elements constituting the pixels of the display device.

上記の構成によれば、撮像素子q個と絵素p個との比が最も小さな整数となるという理想的な撮像倍率における最適な画素値抽出が行われる。それゆえ、理想的な撮像倍率に近づくように撮像距離を変更することができる。   According to the above configuration, optimum pixel value extraction is performed at an ideal imaging magnification such that the ratio of q imaging elements to p picture elements is the smallest integer. Therefore, the imaging distance can be changed so as to approach the ideal imaging magnification.

また、上記検査装置の上記各手段としてコンピュータを機能させるための検査プログラムおよび当該検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も本発明の技術的範囲に含まれる。   Also included in the technical scope of the present invention are an inspection program for causing a computer to function as each means of the inspection apparatus and a computer-readable recording medium on which the inspection program is recorded.

本発明に係る検査装置は、以上のように、撮像手段と表示デバイスとの間の撮像距離を変更しながら、上記表示デバイスを複数回撮像するよう上記撮像手段を制御する撮像制御手段と、上記表示デバイスの撮像画像を撮像した撮像素子の配列であって、絵素の配列方向に沿う方向に配列する撮像素子の配列のうち、注目する撮像素子の配列である第1注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を撮像画像ごとに算出するとともに、上記第1注目撮像素子配列に平行な第2注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を撮像画像ごとに算出する評価値算出手段と、上記評価値算出手段によって算出された評価値のうち、最もばらつき度合いが小さい最適評価値を特定し、当該最適評価値を算出するに至った撮像距離である最適撮像距離を上記第1および第2注目撮像素子配列に関して算出する評価値比較手段と、上記第1注目撮像素子配列の最適撮像距離と上記第2注目撮像素子配列の最適撮像距離との差と、上記第1注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置と上記第2注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置との間の距離と、から上記撮像手段の光軸に対する当該表示デバイスの傾きを算出する傾き算出手段とを備える構成である。   As described above, the inspection apparatus according to the present invention includes an imaging control unit that controls the imaging unit to image the display device a plurality of times while changing an imaging distance between the imaging unit and the display device. An array of image sensors that captures a captured image of a display device, and is included in a first target image sensor array, which is an array of image sensors of interest, out of an array of image sensors arranged in a direction along the pixel array direction The pixel values output from the image sensor to be extracted are extracted at predetermined intervals, the evaluation value indicating the variation of the extracted pixel values is calculated for each captured image, and the second target parallel to the first target image sensor array is calculated. Evaluation value calculation means for extracting pixel values output from the image sensors included in the image sensor array at predetermined intervals, and calculating evaluation values indicating variations in the extracted pixel values for each captured image, and the evaluation value calculation Among the evaluation values calculated by the means, the optimum evaluation value with the smallest degree of variation is specified, and the optimum imaging distance, which is the imaging distance that led to the calculation of the optimum evaluation value, is set as the first and second noted imaging element arrays. Evaluation value comparison means for calculating the difference between the optimal imaging distance of the first target image sensor array and the optimal image distance of the second target image sensor array, and the display device corresponding to the first target image sensor array And an inclination calculating means for calculating the inclination of the display device with respect to the optical axis of the imaging means from the distance between the position of the imaging device and the position on the display device corresponding to the second image pickup device array. .

本発明に係る検査方法は、以上のように、撮像手段と表示デバイスとの間の撮像距離を変更しながら、上記表示デバイスを複数回撮像しつつ、撮像するごとに、上記表示デバイスの撮像画像を撮像した撮像素子の配列であって、絵素の配列方向に沿う方向に配列する撮像素子の配列のうち、注目する撮像素子の配列である第1注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を算出するとともに、上記第1注目撮像素子配列に平行な第2注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を算出する評価値算出工程と、上記評価値算出工程において算出された評価値のうち、最もばらつき度合いが小さい最適評価値を特定し、当該最適評価値を算出するに至った撮像距離である最適撮像距離を上記第1および第2注目撮像素子配列に関して算出する評価値比較工程と、上記第1注目撮像素子配列の最適撮像距離と上記第2注目撮像素子配列の最適撮像距離との差と、上記第1注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置と上記第2注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置との間の距離と、から上記撮像手段の光軸に対する当該表示デバイスの傾きを算出する傾き算出工程とを含む構成である。   As described above, the inspection method according to the present invention changes the imaging distance between the imaging means and the display device, captures the display device a plurality of times, and captures an image of the display device each time the image is captured. Of the imaging elements that are taken in the image, and output from the imaging elements included in the first noted imaging element array, which is an array of imaging elements of interest, among the imaging element arrangements arranged in a direction along the arrangement direction of the picture elements. Pixel values to be extracted at predetermined intervals, evaluation values indicating variations of the extracted pixel values are calculated, and from the image sensors included in the second target image sensor array parallel to the first target image sensor array The pixel value to be output is extracted at a predetermined interval, the evaluation value calculating step for calculating the evaluation value indicating the variation of the extracted pixel value, and the variation among the evaluation values calculated in the evaluation value calculating step An evaluation value comparing step of identifying an optimum evaluation value having a small match and calculating an optimum imaging distance, which is an imaging distance for calculating the optimum evaluation value, with respect to the first and second attention image sensor arrays; Corresponding to the difference between the optimal imaging distance of the target image sensor array and the optimal imaging distance of the second target image sensor array, the position on the display device corresponding to the first target image sensor array, and the second target image sensor array And a tilt calculating step of calculating the tilt of the display device with respect to the optical axis of the imaging means from the distance between the display device and the position on the display device.

それゆえ、モアレの発生が抑制されるように撮像手段の撮像倍率を設定できるとともに、撮像手段の光軸に対する表示デバイスの傾きを補正することにより、表示デバイスの全領域において撮像条件を等しくすることができるという効果を奏する。   Therefore, the imaging magnification of the imaging means can be set so that the occurrence of moire is suppressed, and the imaging conditions are made equal in the entire area of the display device by correcting the inclination of the display device with respect to the optical axis of the imaging means. There is an effect that can be.

本発明の実施の一形態について図1〜図9に基づいて説明すれば、以下のとおりである。   The following describes one embodiment of the present invention with reference to FIGS.

(検査装置1の構成)
図2は、本実施形態に係る検査装置1の構成の一例を示す概略図である。図2に示すように、検査装置1は、角度・撮像距離調整機構2、撮像装置3、焦点距離を制御するフォーカス調整機構4、レンズ5、検査対象となる表示デバイス6と接続するコンタクト部7、照明8、表示デバイス6を載置するステージ9、表示デバイス6に駆動信号を与える点灯回路10、および制御装置11を備えている。
(Configuration of the inspection apparatus 1)
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an example of the configuration of the inspection apparatus 1 according to the present embodiment. As shown in FIG. 2, the inspection apparatus 1 includes an angle / imaging distance adjustment mechanism 2, an imaging apparatus 3, a focus adjustment mechanism 4 that controls a focal length, a lens 5, and a contact unit 7 that is connected to a display device 6 to be inspected. , Illumination 8, stage 9 on which display device 6 is placed, lighting circuit 10 that supplies a drive signal to display device 6, and control device 11.

角度・撮像距離調整機構2は、撮像装置3と表示デバイス6との間の撮像距離を調整するとともに、レンズ5の光軸と合焦点面との角度(以下、あおり角と称する)を制御する。この角度・撮像距離調整機構2は、撮像距離調整機構2aおよび角度調整機構2bを備えているが、その詳細については後述する。   The angle / imaging distance adjusting mechanism 2 adjusts the imaging distance between the imaging device 3 and the display device 6 and controls the angle between the optical axis of the lens 5 and the focal plane (hereinafter referred to as the tilt angle). . The angle / imaging distance adjusting mechanism 2 includes an imaging distance adjusting mechanism 2a and an angle adjusting mechanism 2b, and details thereof will be described later.

撮像装置3は、表示デバイス6を撮像するためのものであり、マトリクス状に配置された複数の撮像素子を有している。撮像装置3としては、素子の種類別では、CCD(Charge Coupled Devices)カメラ、CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)カメラを挙げることができる。また、撮像種類別では、エリアセンサカメラ、ラインセンサカメラを挙げることができる。   The imaging device 3 is for imaging the display device 6, and has a plurality of imaging elements arranged in a matrix. Examples of the imaging device 3 include a CCD (Charge Coupled Devices) camera and a CMOS (Complementary Metal-Oxide-Semiconductor) camera according to the type of element. In addition, according to the imaging type, an area sensor camera and a line sensor camera can be exemplified.

制御装置11は、検査装置1を制御するものである。図1は制御装置11の構成を示す機能ブロック図である。図1に示すように、制御装置11は、撮像距離調整部12、角度調整部13、撮像装置制御部14(撮像制御手段)、回転ずれ補正部15、分解能評価値算出部16(評価値算出手段)、補正値算出部19(評価値比較手段、傾き算出手段)および検査部20を備えている。   The control device 11 controls the inspection device 1. FIG. 1 is a functional block diagram showing the configuration of the control device 11. As shown in FIG. 1, the control device 11 includes an imaging distance adjustment unit 12, an angle adjustment unit 13, an imaging device control unit 14 (imaging control unit), a rotation deviation correction unit 15, and a resolution evaluation value calculation unit 16 (evaluation value calculation). Means), a correction value calculation unit 19 (evaluation value comparison unit, inclination calculation unit) and an inspection unit 20.

撮像距離調整部12は、角度・撮像距離調整機構2の撮像距離調整機構2aを制御することにより、撮像装置3の撮像距離を調整する。   The imaging distance adjustment unit 12 adjusts the imaging distance of the imaging device 3 by controlling the imaging distance adjustment mechanism 2 a of the angle / imaging distance adjustment mechanism 2.

角度調整部13は、角度・撮像距離調整機構2の角度調整機構2bを制御することにより、撮像装置3のあおり角を調整する。   The angle adjustment unit 13 adjusts the tilt angle of the imaging device 3 by controlling the angle adjustment mechanism 2 b of the angle / imaging distance adjustment mechanism 2.

撮像装置制御部14は、撮像装置3の動作を制御する。例えば、撮像装置制御部14は、フォーカス調整機構4を介して撮像装置3のフォーカスを制御する。また、撮像装置制御部14は、撮像装置3によって取得された、表示デバイス6の撮像画像(撮像データ)を受信し、当該撮像画像を分解能評価値算出部16へ出力する。   The imaging device control unit 14 controls the operation of the imaging device 3. For example, the imaging device control unit 14 controls the focus of the imaging device 3 via the focus adjustment mechanism 4. Further, the imaging device control unit 14 receives the captured image (imaging data) of the display device 6 acquired by the imaging device 3 and outputs the captured image to the resolution evaluation value calculation unit 16.

回転ずれ補正部15は、ステージ9を制御することにより、表示デバイス6の、光軸を中心とする回転ずれの補正を行う。この補正方法は既知の方法でかまわない。例えば、表示デバイス6の外枠や特定の点灯パターンを撮像装置3にて撮像し、取得された画像から撮像装置3の撮像範囲における表示デバイス6の位置(角度)を算出し、回転ずれの補正を行えばよい。   The rotation deviation correction unit 15 controls the stage 9 to correct the rotation deviation of the display device 6 around the optical axis. This correction method may be a known method. For example, the imaging device 3 captures an outer frame or a specific lighting pattern of the display device 6, calculates the position (angle) of the display device 6 in the imaging range of the imaging device 3 from the acquired image, and corrects rotational deviation. Can be done.

分解能評価値算出部16は、表示デバイス6を撮像した撮像画像を解析することにより、当該撮像画像の撮像分解能を評価するための分解能評価値を算出する。換言すれば、この分解能評価値は、表示デバイス6の絵素と、撮像装置3の撮像素子との位置関係を評価するための評価値である。撮像分解能は、撮像距離に依存して変化するため、分解能評価値算出部16は、撮像距離が適切であるかどうかを評価するための評価値を算出するものであるとも言える。この分解能評価値算出部16は、出力信号抽出部17および演算部18を備えている。   The resolution evaluation value calculation unit 16 analyzes a captured image obtained by capturing the display device 6, thereby calculating a resolution evaluation value for evaluating the imaging resolution of the captured image. In other words, this resolution evaluation value is an evaluation value for evaluating the positional relationship between the picture element of the display device 6 and the image pickup device of the image pickup apparatus 3. Since the imaging resolution changes depending on the imaging distance, it can be said that the resolution evaluation value calculation unit 16 calculates an evaluation value for evaluating whether the imaging distance is appropriate. The resolution evaluation value calculation unit 16 includes an output signal extraction unit 17 and a calculation unit 18.

出力信号抽出部17は、撮像装置制御部14から出力された、表示デバイス6の撮像画像を受信し、当該撮像画像を形成する特定の撮像素子配列(注目撮像素子配列)(以下、撮像素子配列Amn(m=0、1、2・・・)(n=0、1、2、・・・)と称する)が出力する画素値を所定の間隔で抽出する。   The output signal extraction unit 17 receives a captured image of the display device 6 output from the imaging device control unit 14 and forms a specific imaging element array (target imaging element array) (hereinafter referred to as an imaging element array) that forms the captured image. Pixel values output by Amn (m = 0, 1, 2,...) (Referred to as n = 0, 1, 2,...) Are extracted at predetermined intervals.

ここで、撮像素子配列とは、後述する表示デバイス6の水平絵素配列方向または垂直絵素配列方向の絵素配列を撮像した撮像素子の配列である。ひとつの撮像画像は、複数の絵素配列に対応する撮像素子配列Aによって形成されており、これらの撮像素子配列にそれぞれ付された番号がmの値で表されている。また、上記nの値は、撮像距離の変更回数である。   Here, the image sensor array is an array of image sensors that captures a picture element array in a horizontal picture element array direction or a vertical picture element array direction of the display device 6 described later. One captured image is formed by an image sensor array A corresponding to a plurality of picture element arrays, and the number assigned to each of these image sensor arrays is represented by a value of m. The value of n is the number of times the imaging distance is changed.

後述するように、表示デバイス6が有する絵素の配列と、撮像装置3が有する撮像素子の配列とが略平行になるように、表示デバイス6と撮像装置3との相対位置が調節された後に表示デバイス6の撮像が行われるため、撮像素子配列Aは、或る絵素配列の少なくとも一部を撮像した撮像素子の配列である。   As will be described later, after the relative position between the display device 6 and the imaging device 3 is adjusted so that the arrangement of the picture elements of the display device 6 and the arrangement of the imaging elements of the imaging device 3 are substantially parallel to each other. Since the display device 6 is imaged, the image sensor array A is an image sensor array that images at least a part of a certain pixel array.

また、上記所定の間隔は、ひとつの画素が3つの絵素によって構成されている場合、かつ、表示デバイス6の絵素p個を撮像素子q個によって撮像する場合、q/p×3×s(sは自然数)の値(以下、間隔評価値と称する)が最も小さい整数となる値である。換言すれば、撮像装置3の撮像倍率を、p個の絵素をq個の撮像素子によって撮像する倍率と表現した場合、上記所定の間隔は、q/pの自然数倍数のうち、最も小さい整数に、表示デバイス6の画素を構成する絵素の数をかけた数である。   The predetermined interval is q / p × 3 × s when one pixel is composed of three picture elements and when p image elements of the display device 6 are picked up by q image pickup elements. The value (s is a natural number) (hereinafter referred to as an interval evaluation value) is the smallest integer. In other words, when the imaging magnification of the imaging device 3 is expressed as a magnification at which p picture elements are imaged by q imaging elements, the predetermined interval is the smallest integer among natural multiples of q / p. And the number of picture elements constituting the pixels of the display device 6.

例えば、p=1、q=1の場合、s=1の時に間隔評価値が最も小さい整数3となるため、抽出する間隔を3とする。また、p=1、q=1.5の場合、s=2の時が最も小さい整数9になるため、抽出する間隔を9とする。   For example, when p = 1 and q = 1, the interval evaluation value is the smallest integer 3 when s = 1, so the extraction interval is set to 3. Also, when p = 1 and q = 1.5, the smallest integer 9 is obtained when s = 2, so the extraction interval is set to 9.

上記pおよびqの値は、出力信号抽出部17が有するメモリに格納されていてもよいし、制御装置11が備える入力部(不図示)からユーザによって入力されてもよい。また、上記pおよびqの値ではなく、間隔評価値そのものが格納または入力されてもよい。   The values of p and q may be stored in a memory included in the output signal extraction unit 17, or may be input by a user from an input unit (not shown) provided in the control device 11. Further, the interval evaluation value itself may be stored or input instead of the values of p and q.

出力信号抽出部17における画素値の抽出に関しては、後に詳説する。   The pixel value extraction in the output signal extraction unit 17 will be described in detail later.

演算部18は、出力信号抽出部17から出力された画素値の集合から分解能評価値Bmn(n=0、1、2、・・・)を算出する。上記nは、撮像距離の変更回数である。この分解能評価値Bmnの算出方法については後述する。   The calculation unit 18 calculates a resolution evaluation value Bmn (n = 0, 1, 2,...) From the set of pixel values output from the output signal extraction unit 17. N is the number of times the imaging distance is changed. A method for calculating the resolution evaluation value Bmn will be described later.

分解能評価値算出部16は、撮像素子配列Amnに対して最初の分解能評価値Bm0を算出すると、所定の距離だけ撮像距離を変更し、2回目の分解能評価値Bm1を算出する。このとき、分解能評価値算出部16は、撮像装置3が有する特定の撮像素子と表示デバイス6との間の距離である撮像距離Cmnを算出する。このような処理を、所定の撮像距離の範囲内で複数回行った後、分解能評価値算出部16は、算出された複数の分解能評価値Bmnとそれに対応する撮像距離Cmnとを補正値算出部19へ出力する。なお、上記所定の距離および撮像距離Cmnの算出方法に関しては後述する。   When the first resolution evaluation value Bm0 is calculated for the imaging element array Amn, the resolution evaluation value calculation unit 16 changes the imaging distance by a predetermined distance and calculates the second resolution evaluation value Bm1. At this time, the resolution evaluation value calculation unit 16 calculates an imaging distance Cmn that is a distance between the specific imaging element of the imaging device 3 and the display device 6. After performing such processing a plurality of times within a predetermined imaging distance range, the resolution evaluation value calculation unit 16 calculates the calculated plurality of resolution evaluation values Bmn and the corresponding imaging distance Cmn as a correction value calculation unit. 19 output. A method for calculating the predetermined distance and the imaging distance Cmn will be described later.

補正値算出部19は、分解能評価値算出部16から出力された複数の分解能評価値Bmnとそれに対応する撮像距離Cmnとを用いて最適な撮像距離およびあおり角度を算出する。これらの算出方法については後述する。   The correction value calculation unit 19 calculates an optimum imaging distance and tilt angle using the plurality of resolution evaluation values Bmn output from the resolution evaluation value calculation unit 16 and the imaging distance Cmn corresponding thereto. These calculation methods will be described later.

検査部20は、表示デバイス6の撮像データを解析することにより、当該表示デバイス6の良否を判定する。検査部20における検査方法は、特に限定されず、公知の検査方法の中から適当なものを選択すればよい。   The inspection unit 20 determines the quality of the display device 6 by analyzing the imaging data of the display device 6. The inspection method in the inspection unit 20 is not particularly limited, and an appropriate method may be selected from known inspection methods.

(角度・撮像距離調整機構2の構成)
図3は、撮像距離およびあおり角を調整する角度・撮像距離調整機構2の実施の一形態について示したものである。図3(a)は、表示デバイス6、撮像装置3、角度・撮像距離調整機構2を側方(図3においてY軸方向)から見たものであり、図3(b)は、それらを上方(図3においてX軸方向)から見たものである。
(Configuration of angle / imaging distance adjusting mechanism 2)
FIG. 3 shows an embodiment of the angle / imaging distance adjusting mechanism 2 for adjusting the imaging distance and the tilt angle. 3A shows the display device 6, the imaging device 3, and the angle / imaging distance adjusting mechanism 2 as viewed from the side (Y-axis direction in FIG. 3), and FIG. It is seen from (X-axis direction in FIG. 3).

図3(a)および(b)は、表示デバイス6が、レンズ5の光軸に対して直交せず、当該光軸に対して傾いている状態を示している。撮像装置3と表示デバイス6との間の撮像距離とは、レンズ5の先端と表示デバイス6とを結ぶ光軸の中心線の距離とする。なお、上記撮像距離を、撮像装置3の撮像素子面から表示デバイス6までの距離としてもよい。   3A and 3B show a state in which the display device 6 is not orthogonal to the optical axis of the lens 5 but is inclined with respect to the optical axis. The imaging distance between the imaging device 3 and the display device 6 is the distance of the center line of the optical axis connecting the tip of the lens 5 and the display device 6. The imaging distance may be a distance from the imaging element surface of the imaging device 3 to the display device 6.

図3(a)に示すように、角度・撮像距離調整機構2は、撮像距離調整機構2aおよび角度調整機構2bを備えている。撮像距離調整機構2aにより、撮像装置3と表示デバイス6との間の撮像距離(図3においてZ軸方向の距離)が調整される。また、角度調整機構2bにより表示デバイス6の、レンズ5の光軸に対する傾きが調整される。   As shown in FIG. 3A, the angle / imaging distance adjusting mechanism 2 includes an imaging distance adjusting mechanism 2a and an angle adjusting mechanism 2b. The imaging distance adjustment mechanism 2a adjusts the imaging distance between the imaging device 3 and the display device 6 (the distance in the Z-axis direction in FIG. 3). Further, the inclination of the display device 6 with respect to the optical axis of the lens 5 is adjusted by the angle adjusting mechanism 2b.

なお、図2(a)では光軸に対する表示デバイス6の上部、下部の傾き(上下のあおり)を示しているが、それと垂直な方向の傾き(表示デバイス左右のあおり)を調整してもよい。また、角度調整機構2bは、図2(b)に示すように表示デバイス6側に設けられてもよい。   In FIG. 2A, the upper and lower inclinations (upper and lower tilts) of the display device 6 with respect to the optical axis are shown. However, the tilt in the direction perpendicular to the upper and lower tilts (the tilt on the left and right of the display device) may be adjusted. . Further, the angle adjustment mechanism 2b may be provided on the display device 6 side as shown in FIG.

(表示デバイス6の構成)
次に、検査装置1の検査対象となる表示デバイス6(被検査体)の構成について、図4を参照しつつ説明する。図4は、表示デバイス6の構成を示す概略図である。
(Configuration of display device 6)
Next, the configuration of the display device 6 (inspected object) to be inspected by the inspection apparatus 1 will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a schematic diagram showing the configuration of the display device 6.

表示デバイス6は、R(赤)、G(緑)、B(青)の3色の絵素6a〜6cがマトリクス状に配置されたカラーフィルターである。図4に示すように、複数の矩形はそれぞれ絵素を示しており、R絵素6a、G絵素6b、B絵素6cの繰返し配列がフィルター上に一列に形成されている。このような絵素の配列の方向を絵素配列方向と称する。この絵素配列方向には、絵素の短辺に平行な水平絵素配列方向(図4において矢印21の方向)と、絵素の短辺に垂直な水平絵素配列方向(図4において矢印22の方向)とが存在する。   The display device 6 is a color filter in which picture elements 6a to 6c of three colors R (red), G (green), and B (blue) are arranged in a matrix. As shown in FIG. 4, each of the plurality of rectangles represents a picture element, and a repetitive array of R picture element 6a, G picture element 6b, and B picture element 6c is formed in a line on the filter. Such a direction of picture element arrangement is referred to as a picture element arrangement direction. In this picture element arrangement direction, a horizontal picture element arrangement direction parallel to the short side of the picture element (the direction of arrow 21 in FIG. 4) and a horizontal picture element arrangement direction perpendicular to the short side of the picture element (arrow in FIG. 4). 22 directions).

そして、水平絵素配列方向における絵素と絵素との距離を絵素ピッチと称する。より正確には、絵素ピッチは、水平絵素配列方向に対して垂直な、絵素の中心線23と、当該絵素の隣の絵素の上記中心線24との間の距離である。各絵素の間には、光吸収性の膜であるBMが露出している。   The distance between the picture elements in the horizontal picture element arrangement direction is referred to as a picture element pitch. More precisely, the picture element pitch is a distance between the center line 23 of the picture element perpendicular to the horizontal picture element arrangement direction and the center line 24 of the picture element adjacent to the picture element. Between each picture element, BM which is a light absorptive film | membrane is exposed.

このような表示デバイス6を撮像する場合に、絵素配列方向と、撮像装置3が有する撮像素子の配列方向とが平行(光軸を中心として回転ズレがない状態)になるように、撮像装置3を配置する。図4において、格子25は各撮像素子の撮像範囲を示している。各撮像素子の撮像範囲は略正方形であり、この正方形の一辺の長さを撮像分解能と称する。図4において、撮像分解能は、絵素ピッチよりもわずかに小さいものになっている。   When imaging such a display device 6, the imaging device is arranged such that the pixel arrangement direction and the imaging element arrangement direction of the imaging device 3 are parallel (there is no rotational deviation about the optical axis). 3 is arranged. In FIG. 4, a lattice 25 indicates an imaging range of each imaging element. The imaging range of each imaging element is substantially square, and the length of one side of this square is called imaging resolution. In FIG. 4, the imaging resolution is slightly smaller than the picture element pitch.

(撮像素子の出力信号の例)
次に、表示デバイス6を撮像した場合に、得られる撮像素子の出力信号の例を、図5を参照しつつ説明する。同図(a)は、撮像分解能が絵素ピッチよりも1.5%小さい場合に得られる撮像素子の出力信号を示し、同図(b)は撮像分解能が絵素ピッチよりも21.5%小さい場合に得られる撮像素子の出力信号を示している。また、同図(c)は、撮像分解能が絵素ピッチと等しい(撮像倍率3)場合に得られる撮像素子の出力信号を示している。図5(a)、(b)、(c)共に表示デバイス6の水平絵素配列方向の撮像素子の出力信号を1ライン分表示したものである(例えば図4の丸枠)。
(Example of image sensor output signal)
Next, an example of an output signal of the image sensor obtained when the display device 6 is imaged will be described with reference to FIG. FIG. 4A shows an output signal of the image sensor obtained when the imaging resolution is 1.5% smaller than the pixel pitch, and FIG. 4B shows the imaging resolution 21.5% larger than the pixel pitch. The output signal of the image pick-up element obtained when it is small is shown. FIG. 3C shows an output signal of the image sensor obtained when the imaging resolution is equal to the pixel pitch (imaging magnification 3). 5A, 5B, and 5C show one line of the output signal of the image sensor in the horizontal picture element array direction of the display device 6 (for example, a round frame in FIG. 4).

図5(a)に示すように、撮像分解能が絵素ピッチに近くなるような分解能で撮像した場合には、モアレは低周波成分として発生する。反対に、図5(b)に示すように、撮像分解能と絵素ピッチとの差が大きくなるような分解能で撮像した場合には、モアレは高周波成分として発生する。一方、図5(c)に示すように、撮像分解能と絵素ピッチとが等しくなるような分解能で撮像した場合には、モアレは発生しないことが分かる。このように撮像装置3の分解能に依存して、モアレの発生パターンは変化する。このようなモアレにより、表示デバイス6の欠陥を正確に検出することが妨げられる。   As shown in FIG. 5A, moire is generated as a low-frequency component when the image is picked up with a resolution close to the pixel pitch. On the other hand, as shown in FIG. 5B, moire is generated as a high-frequency component when imaging is performed with such a resolution that the difference between the imaging resolution and the pixel pitch is large. On the other hand, as shown in FIG. 5C, it is understood that moire does not occur when imaging is performed with a resolution such that the imaging resolution is equal to the pixel pitch. As described above, the moiré pattern changes depending on the resolution of the imaging device 3. Such moire prevents accurate detection of defects in the display device 6.

(分解能評価値の算出方法)
次に、分解能評価値算出部16における分解能評価値Bmnの算出方法について、図6を用いて説明する。図6は、分解能評価値算出部16における分解能評価値の算出方法を説明するための図である。図6(a)は、RGBの絵素配列を有する表示デバイス6を撮像装置3にて撮像した撮像素子配列のうち、撮像画像の中央に対応する、水平方向の撮像素子配列Amn(中間部水平ライン)(第1注目撮像素子配列)を示している。この撮像素子配列Amnに関して、画素値(輝度値)のプロファイルを算出すると図6(b)のようになったとする。図6(b)は、撮像素子配列Amnに含まれる画素の輝度値を示すグラフである。
(Calculation method of resolution evaluation value)
Next, a method for calculating the resolution evaluation value Bmn in the resolution evaluation value calculation unit 16 will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a diagram for explaining a method for calculating a resolution evaluation value in the resolution evaluation value calculation unit 16. FIG. 6A shows a horizontal imaging element array Amn (intermediate horizontal) corresponding to the center of the captured image among the imaging element arrays obtained by imaging the display device 6 having RGB picture element arrays by the imaging apparatus 3. Line) (first attention image sensor array). Assume that the pixel value (luminance value) profile for this image sensor array Amn is as shown in FIG. 6B. FIG. 6B is a graph showing the luminance values of the pixels included in the image sensor array Amn.

図6(b)に示す状態は、撮像倍率が正確に整数倍率になっていない状態であり、3つのモアレ成分(周波数成分)が生じていることが分かる。ここで、撮像倍率が整数倍率になっている状態とは、水平絵素配列方向または垂直絵素配列方向に関して、表示デバイス6の表示画素p個に対して、撮像装置3の撮像素子がq個割当てられている状態であり、pおよびqが正の整数である状態である。換言すれば、撮像倍率が整数倍率になっている状態とは、p個の表示画素をq個の撮像素子で撮像する状態である。   The state shown in FIG. 6B is a state in which the imaging magnification is not accurately an integer magnification, and it can be seen that three moire components (frequency components) are generated. Here, the state in which the imaging magnification is an integer magnification means that the number of imaging elements of the imaging device 3 is q with respect to p display pixels of the display device 6 with respect to the horizontal pixel arrangement direction or the vertical picture element arrangement direction. The assigned state, where p and q are positive integers. In other words, the state in which the imaging magnification is an integer magnification is a state in which p display pixels are imaged by q imaging elements.

これに対して、図6(c)に示す状態が、撮像倍率が正確に整数倍率(倍率=3)になっている状態(撮像分解能と絵素ピッチとが等しくなるような分解能で撮像されている状態)である。設定した撮像倍率が3(表示画素1個に3個の撮像素子を割当てる)であるとすると、表示絵素横サイズ(水平絵素配列方向における絵素の幅)に1個の撮像素子を割当てる状態となる。従って、q/p=3/1=3ごとに撮像素子の出力値(撮像データの画素値)を用いる。例えば、図6(b)の丸枠で示す周波数成分(プロファイル)を用いればよい。   On the other hand, the state shown in FIG. 6C is a state in which the imaging magnification is accurately an integer magnification (magnification = 3) (images are captured with a resolution such that the imaging resolution and the pixel pitch are equal). State). If the set imaging magnification is 3 (three image sensors are allocated to one display pixel), one image sensor is allocated to the display picture element horizontal size (the width of the picture element in the horizontal picture element arrangement direction). It becomes a state. Therefore, the output value of the image sensor (pixel value of the image data) is used every q / p = 3/1 = 3. For example, a frequency component (profile) indicated by a round frame in FIG.

よって、上記の場合、出力信号抽出部17において、撮像データを形成する特定の撮像素子配列Amn(m=0、1、2・・・)が有する画素値を、3つごとに抽出する。   Therefore, in the above case, the output signal extraction unit 17 extracts the pixel values of a specific imaging element array Amn (m = 0, 1, 2,...) That forms imaging data, every three.

なお、図6(b)の状態では、3画素ごとに抽出された撮像素子配列のプロファイルは3つ存在するが、撮像分解能の評価に用いるのは1つでよい。すなわち、出力信号抽出部17は、撮像データに含まれる複数の周波数成分のうち、少なくとも1つを抽出すればよい。   In the state of FIG. 6B, there are three imaging element array profiles extracted for every three pixels, but only one may be used for evaluation of imaging resolution. That is, the output signal extraction unit 17 may extract at least one of a plurality of frequency components included in the imaging data.

次に、出力信号抽出部17によって抽出された画素値の集合を用いて、演算部18は、分解能評価値Bmnを算出する。分解能評価値は、例えば、撮像素子配列Amnが撮像した、隣り合う絵素の画素値の差分の絶対値の総和である。すなわち、分解能評価値Bmnの算出に用いられる評価式は、撮像素子配列Amnに含まれる各撮像素子の番号をi(i=0、1、2、…)とすると、以下の(1)〜(3)式として表すことができる。
Bmn(0)=Σ|A3(i+1)n−A3in| ・・・(1)
Bmn(1)=Σ|A3(i+1+1)n−A3(i+1)n|・・・(2)
Bmn(2)=Σ|A3(i+2+1)n−A3(i+2)n|・・・(3)
演算部18は、上記(1)〜(3)式のうちの少なくとも1つを用いて分解能評価値を算出すればよい。なお、上記(1)〜(3)式は、撮像データを形成する特定の撮像素子配列Amnが有する画素値を、3つごとに抽出する場合に用いる式であり、抽出する画素値の間隔に合わせて、上記式を適宜変更すればよい。
Next, using the set of pixel values extracted by the output signal extraction unit 17, the calculation unit 18 calculates a resolution evaluation value Bmn. The resolution evaluation value is, for example, the sum of absolute values of differences between pixel values of adjacent picture elements captured by the image sensor array Amn. That is, the evaluation formula used for calculating the resolution evaluation value Bmn is as follows when the number of each image sensor included in the image sensor array Amn is i (i = 0, 1, 2,...) 3) It can be expressed as an equation.
Bmn (0) = Σ | A3 (i + 1) n−A3in | (1)
Bmn (1) = Σ | A3 (i + 1 + 1) n−A3 (i + 1) n | (2)
Bmn (2) = Σ | A3 (i + 2 + 1) n−A3 (i + 2) n | (3)
The computing unit 18 may calculate the resolution evaluation value using at least one of the above expressions (1) to (3). The above formulas (1) to (3) are formulas used when extracting pixel values of a specific imaging element array Amn that forms imaging data every three, and the interval between the pixel values to be extracted is used. In addition, the above formula may be changed as appropriate.

また、単に輝度のばらつきを評価するために、分散や標準偏差を評価値としてもよい。   Further, in order to simply evaluate the luminance variation, the variance or the standard deviation may be used as the evaluation value.

これらの評価式を用いた場合、図6(c)に示す状態では、最小値Bmn=0となる。   When these evaluation formulas are used, the minimum value Bmn = 0 in the state shown in FIG.

ここで、仮に撮像倍率が6であるとすると、表示画素1個に6個の撮像素子を割当てる状態となる。従って、q/p=6/1=6つごとに撮像素子配列の出力値を用いる。   Here, assuming that the imaging magnification is 6, six imaging elements are assigned to one display pixel. Therefore, the output value of the image sensor array is used for every q / p = 6/1 = 6.

さらに撮像倍率を非整数倍に合わせることも可能である。例えば、撮像倍率を4.5に設定したいとすると、表示画素1個に4.5個の撮像素子を割当てる状態、つまり表示画素2個に9個の撮像素子を割当てる状態となる。従って、9つごとに撮像素子配列の値を用いる。   Furthermore, it is possible to adjust the imaging magnification to a non-integer multiple. For example, if it is desired to set the imaging magnification to 4.5, 4.5 image sensors are assigned to one display pixel, that is, 9 image sensors are assigned to 2 display pixels. Therefore, the value of the image sensor array is used for every nine.

(撮像距離およびあおり角の補正方法)
次に、分解能評価値算出部16における分解能評価値Bmnのより具体的な算出方法および補正値算出部19における、あおり角の算出方法について説明する。図7は、あおり角の算出方法を説明するための図である。図7(a)は、表示デバイス6の、撮像装置3の光軸に対する傾きを示す図である。以下では、図7(a)に示すように、撮像装置3(レンズ5)の光軸に対して表示デバイス6が直交せずに傾いている場合、より正確には、表示デバイス6の上部が撮像装置3から遠ざかっており、表示デバイス6の下部が撮像装置3に近づいている場合について説明する。
(Image distance and tilt angle correction method)
Next, a more specific calculation method of the resolution evaluation value Bmn in the resolution evaluation value calculation unit 16 and a tilt angle calculation method in the correction value calculation unit 19 will be described. FIG. 7 is a diagram for explaining a tilt angle calculation method. FIG. 7A is a diagram illustrating the inclination of the display device 6 with respect to the optical axis of the imaging device 3. In the following, when the display device 6 is tilted without being orthogonal to the optical axis of the imaging device 3 (lens 5), as shown in FIG. A case will be described where the imaging device 3 is far away and the lower part of the display device 6 is approaching the imaging device 3.

図7(b)は、表示デバイス6の撮像画像における上部水平ライン(第2注目撮像素子配列)および中間部水平ライン(第1注目撮像素子配列)を示す図である。この場合、分解能評価値算出部16は、図7(b)に示すように、表示デバイス6の上部と下部との中間に位置する中間部に対応する水平方向の撮像素子配列A0n(中間部水平ライン)と、上部に対応する水平方向の撮像素子配列A1n(上部水平ライン)について、撮像距離を変更しながら分解能評価値B0n、B1nを算出する。また同時にその時の撮像距離C0n、C1nも算出する。分解能評価値算出部16は、このような処理を所定の範囲内の撮像距離について実行する。   FIG. 7B is a diagram illustrating an upper horizontal line (second attention image sensor array) and an intermediate horizontal line (first attention image sensor array) in a captured image of the display device 6. In this case, as shown in FIG. 7B, the resolution evaluation value calculation unit 16 has a horizontal imaging element array A0n (intermediate part horizontal) corresponding to an intermediate part located between the upper part and the lower part of the display device 6. Resolution evaluation values B0n and B1n are calculated for the horizontal imaging element array A1n (upper horizontal line) corresponding to the upper portion while changing the imaging distance. At the same time, the imaging distances C0n and C1n at that time are also calculated. The resolution evaluation value calculation unit 16 executes such processing for an imaging distance within a predetermined range.

撮像距離Cmnの測定方法として、例えば、特許文献3に記載の方法を用いることができるが、その他の方法を用いてもよい。   As a method for measuring the imaging distance Cmn, for example, the method described in Patent Document 3 can be used, but other methods may be used.

なお、どのような間隔で撮像距離を変化させるのかについては、特に限定されない。また、上記所定の範囲とは、分解能評価値Bmnが最小となる撮像分解能で撮像できる撮像距離が少なくとも1つ含まれる範囲であればよく、実際に検査装置1を動作させることによって適当な範囲を設定すればよい。   Note that the interval at which the imaging distance is changed is not particularly limited. The predetermined range may be a range that includes at least one imaging distance that can be imaged with an imaging resolution that minimizes the resolution evaluation value Bmn. An appropriate range can be obtained by actually operating the inspection apparatus 1. You only have to set it.

上記操作を所定の範囲内で実行し終わると、図7(c)に示すようなグラフを得ることができる。図7(c)は、上部水平ラインおよび中間部水平ラインについて撮像距離Cmnと分解能評価値Bmnとの関係を示すグラフである。すなわち、上部水平ライン、中間部水平ラインのそれぞれについての撮像距離Cmnと分解能評価値Bmnとの関係が明らかになる。図7(c)において、中間部水平ラインの分解能評価値が最小(最良)となる時の撮像距離を撮像距離C0sとし、上部水平ラインの分解能評価値が最小となる時の撮像距離をC1tと称している。   When the above operation is completed within a predetermined range, a graph as shown in FIG. 7C can be obtained. FIG. 7C is a graph showing the relationship between the imaging distance Cmn and the resolution evaluation value Bmn for the upper horizontal line and the intermediate horizontal line. That is, the relationship between the imaging distance Cmn and the resolution evaluation value Bmn for each of the upper horizontal line and the intermediate horizontal line becomes clear. In FIG. 7C, the imaging distance when the resolution evaluation value of the intermediate horizontal line is minimum (best) is defined as the imaging distance C0s, and the imaging distance when the resolution evaluation value of the upper horizontal line is minimum is defined as C1t. It is called.

図7(d)は、あおり角を算出する方法を説明するための図である。この時の補正すべきあおり角θは、図7(d)に示すように、撮像素子配列A0nに対応する表示デバイス6上の位置と撮像素子配列A1nに対応する表示デバイス6上の位置との間の距離D01と、撮像距離C1tと撮像距離C0sとの差(C1t−C0s)とから、
sinθ=(C1t−C0s)/D01・・・(4)
として算出することができる。補正値算出部19は、上記(4)式を用いてあおり角を算出する。
FIG. 7D is a diagram for explaining a method of calculating the tilt angle. The tilt angle θ to be corrected at this time is, as shown in FIG. 7 (d), between the position on the display device 6 corresponding to the image sensor array A0n and the position on the display device 6 corresponding to the image sensor array A1n. And the difference between the imaging distance C1t and the imaging distance C0s (C1t−C0s),
sin θ = (C1t−C0s) / D01 (4)
Can be calculated as The correction value calculation unit 19 calculates the tilt angle using the above equation (4).

なお、上記距離D01は初期設定値である。第n撮像素子配列(nは正の整数)に対応する表示デバイス6上の位置をそれぞれ予め設定しておけばよい。この設定は、表示デバイス6の外枠に予め印を付けておく、または、表示デバイス6の画面の四隅等にマーカーを点灯させる等によって実現すればよい。   The distance D01 is an initial setting value. The position on the display device 6 corresponding to the n-th imaging element array (n is a positive integer) may be set in advance. This setting may be realized by marking the outer frame of the display device 6 in advance or lighting markers at the four corners of the screen of the display device 6.

補正値算出部19によって算出されたあおり角は、角度調整部13を介して角度調整機構2bへ出力され、角度調整機構2bは、当該あおり角に基づいて表示デバイス6の光軸に対する傾きを補正する。   The tilt angle calculated by the correction value calculation unit 19 is output to the angle adjustment mechanism 2b via the angle adjustment unit 13, and the angle adjustment mechanism 2b corrects the tilt of the display device 6 with respect to the optical axis based on the tilt angle. To do.

また、補正値算出部19は、中間部水平ラインの分解能評価値が最小となる時の撮像距離C0sを最適な撮像距離(最適撮像距離)であると判定し、当該撮像距離C0sを撮像距離調整部12を介して撮像距離調整機構2aへ出力する。   Further, the correction value calculation unit 19 determines that the imaging distance C0s when the resolution evaluation value of the intermediate horizontal line is minimum is the optimum imaging distance (optimum imaging distance), and adjusts the imaging distance C0s. To the imaging distance adjusting mechanism 2a via the unit 12.

なお、中間部水平ラインの分解能評価値が最小となる時の撮像距離を最適撮像距離とする必要は必ずしもなく、あおり角を算出するための基点となる水平ライン(角θを形成する角の頂点を含む水平ライン)の分解能評価値が最小となる時の撮像距離を最適撮像距離とすればよい。   Note that it is not always necessary to set the imaging distance when the resolution evaluation value of the intermediate horizontal line is minimum as the optimum imaging distance, and the horizontal line (the apex of the angle forming the angle θ) that is the base point for calculating the tilt angle The imaging distance when the resolution evaluation value of the horizontal line including the image data is minimized may be set as the optimum imaging distance.

(検査装置1における処理の大まかな流れ)
次に、検査装置1における処理の大まかな流れの一例について図8を参照しつつ説明する。図8は、検査装置1における処理の流れの一例を示すフローチャートである。
(Rough flow of processing in the inspection device 1)
Next, an example of a rough flow of processing in the inspection apparatus 1 will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a flowchart illustrating an example of a process flow in the inspection apparatus 1.

まず、予め入力されている表示デバイス6の設計データと、設定したい撮像条件のデータとに基づいて、制御装置11は、撮像装置3の撮像位置、角度およびフォーカス状態を初期状態に設定する(S1)。   First, based on the design data of the display device 6 input in advance and data of imaging conditions to be set, the control device 11 sets the imaging position, angle, and focus state of the imaging device 3 to the initial state (S1). ).

次に、回転ずれ補正部15は、表示デバイス6の、光軸を中心とする回転ずれの補正を行う(S2)。   Next, the rotation deviation correction unit 15 corrects the rotation deviation of the display device 6 around the optical axis (S2).

回転ずれの補正が完了すると、分解能評価値算出部16および補正値算出部19によって、検査を行うための最適撮像距離の設定値およびあおり角が算出される(S3)。   When the correction of the rotation deviation is completed, the resolution evaluation value calculation unit 16 and the correction value calculation unit 19 calculate the setting value and the tilt angle of the optimum imaging distance for performing the inspection (S3).

そして、算出されたあおり角に基づいて、角度調整部13は、角度調整機構2bを介して表示デバイス6のあおり角を補正するとともに、撮像距離調整部12は、撮像距離調整機構2aを解して最適撮像距離を設定する(S4)。   Then, based on the calculated tilt angle, the angle adjustment unit 13 corrects the tilt angle of the display device 6 via the angle adjustment mechanism 2b, and the imaging distance adjustment unit 12 solves the imaging distance adjustment mechanism 2a. The optimum imaging distance is set (S4).

その後、制御装置11は、撮像装置3を介して表示デバイス6の撮像データを取得し、当該撮像データを検査部20にて解析し、表示デバイス6の良否を判定する(S5)。この判定結果は、表示部(不図示)等を介してユーザに報知される。   Thereafter, the control device 11 acquires imaging data of the display device 6 via the imaging device 3, analyzes the imaging data in the inspection unit 20, and determines whether the display device 6 is good or bad (S5). This determination result is notified to the user via a display unit (not shown) or the like.

(最適撮像距離およびあおり角補正値を算出するための処理の流れ)
次に、最適撮像距離およびあおり角を算出するための処理の流れの一例について、図9を参照しつつ説明する。図9は、最適撮像距離およびあおり角を算出するための処理の流れの一例を示すフローチャートである。
(Processing flow for calculating the optimum imaging distance and tilt angle correction value)
Next, an example of a processing flow for calculating the optimum imaging distance and tilt angle will be described with reference to FIG. FIG. 9 is a flowchart illustrating an example of a process flow for calculating the optimum imaging distance and the tilt angle.

まず、撮像装置制御部14は、撮像装置3を介して表示デバイス6の撮像画像を取得し(S31)、当該撮像画像を分解能評価値算出部16の出力信号抽出部17へ出力する。   First, the imaging device control unit 14 acquires a captured image of the display device 6 via the imaging device 3 (S31), and outputs the captured image to the output signal extraction unit 17 of the resolution evaluation value calculation unit 16.

上記撮像画像を受け取ると、出力信号抽出部17は、当該撮像画像を形成する特定の撮像素子配列Amn(m=0、1、2・・・)(n=0、1、2、・・・)から出力される画素値(撮像素子の出力信号の値)を、所定の間隔で(例えば、3つごとに)抽出する(S32)。出力信号抽出部17は、この抽出を複数の撮像素子配列に対して行う。出力信号抽出部17は、抽出した画素値の集合を演算部18へ出力する。   When the captured image is received, the output signal extraction unit 17 selects a specific imaging element array Amn (m = 0, 1, 2,...) (N = 0, 1, 2,...) That forms the captured image. ) Are extracted at predetermined intervals (for example, every three) (S32). The output signal extraction unit 17 performs this extraction on a plurality of image sensor arrays. The output signal extraction unit 17 outputs the set of extracted pixel values to the calculation unit 18.

演算部18は、出力信号抽出部17によって抽出された画素値の集合および上記(1)〜(3)式の少なくとも1つを用いて、各撮像素子配列Amnに対応する分解能評価値Bmnを算出する(S33)(評価値算出工程)。演算部18は、算出した分解能評価値Bmnを分解能評価値算出部16が備える一時記憶メモリ(不図示)に格納する。   The calculation unit 18 calculates a resolution evaluation value Bmn corresponding to each imaging element array Amn using the set of pixel values extracted by the output signal extraction unit 17 and at least one of the above-described equations (1) to (3). (S33) (Evaluation Value Calculation Step) The calculation unit 18 stores the calculated resolution evaluation value Bmn in a temporary storage memory (not shown) provided in the resolution evaluation value calculation unit 16.

分解能評価値算出部16は、演算部18が分解能評価値Bmnの算出を終えると、その時の撮像距離Cmnを算出する(S34)。算出された撮像距離Cmnは、対応する分解能評価値Bmnとともに上記一時記憶メモリに格納される。   When the calculation unit 18 finishes calculating the resolution evaluation value Bmn, the resolution evaluation value calculation unit 16 calculates the imaging distance Cmn at that time (S34). The calculated imaging distance Cmn is stored in the temporary storage memory together with the corresponding resolution evaluation value Bmn.

その後、分解能評価値算出部16は、撮像装置制御部14を介して、所定の距離だけ撮像距離を変更し(S35)、上述の処理を繰り返す(S31に戻る)。   Thereafter, the resolution evaluation value calculation unit 16 changes the imaging distance by a predetermined distance via the imaging device control unit 14 (S35), and repeats the above processing (returns to S31).

分解能評価値算出部16は、所定の範囲全体において上述の処理を繰り返すと(S36にてYES)、上記一時記憶メモリに格納された分解能評価値Bmnと撮像距離Cmnとのペアの集合を補正値算出部19へ出力する。   When the resolution evaluation value calculation unit 16 repeats the above-described process over the entire predetermined range (YES in S36), a set of pairs of the resolution evaluation value Bmn and the imaging distance Cmn stored in the temporary storage memory is corrected. Output to the calculation unit 19.

補正値算出部19は、分解能評価値算出部16から出力された、分解能評価値Bmnと撮像距離Cmnとのペアの集合から、上述したように最適撮像距離を算出する(評価値比較工程)とともに、表示デバイス6のあおり角を算出する(S37)(傾き算出工程)。   The correction value calculator 19 calculates the optimum imaging distance from the set of pairs of the resolution evaluation value Bmn and the imaging distance Cmn output from the resolution evaluation value calculator 16 as described above (evaluation value comparison step). Then, the tilt angle of the display device 6 is calculated (S37) (inclination calculating step).

補正値算出部19は、算出したあおり角を角度調整部13へ出力し、算出した最適撮像距離を撮像距離調整部12へ出力する。   The correction value calculation unit 19 outputs the calculated tilt angle to the angle adjustment unit 13 and outputs the calculated optimum imaging distance to the imaging distance adjustment unit 12.

(検査装置1の効果)
以上のように、検査装置1によれば、特別なスケール等を用いることなく、撮像装置3を適切な撮像倍率に設定することができるため、モアレによる影響を排除した、精度の高い検査を行うことができる。このとき、製造ラインを止める必要がなく、スケールを用いる必要がないという利点も得られる。
(Effect of inspection device 1)
As described above, according to the inspection apparatus 1, since the imaging apparatus 3 can be set to an appropriate imaging magnification without using a special scale or the like, a highly accurate inspection that eliminates the influence of moire is performed. be able to. At this time, there is an advantage that it is not necessary to stop the production line and it is not necessary to use a scale.

また、レンズ5の光軸と表時デバイス6の合焦点面とのあおり角の補正を容易に行うことができ、表示デバイス6の全領域にて撮像条件を等しくすることができる。それゆえ、表示デバイス6の全領域に対して精度の高い検査を行うことができる。   In addition, it is possible to easily correct the tilt angle between the optical axis of the lens 5 and the focal plane of the front device 6, and the imaging conditions can be made equal over the entire area of the display device 6. Therefore, a highly accurate inspection can be performed on the entire area of the display device 6.

(変更例)
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
(Example of change)
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible within the scope shown in the claims, and embodiments obtained by appropriately combining technical means disclosed in different embodiments. Is also included in the technical scope of the present invention.

また、上述した検査装置1の各ブロック、特に制御装置11は、ハードウェアロジックによって構成してもよいし、次のようにCPUを用いてソフトウェアによって実現してもよい。   Moreover, each block of the inspection apparatus 1 mentioned above, especially the control apparatus 11 may be comprised by hardware logic, and may be implement | achieved by software using CPU as follows.

すなわち、検査装置1、特に制御装置11は、各機能を実現する制御プログラムの命令を実行するCPU(central processing unit)、上記プログラムを格納したROM(read only memory)、上記プログラムを展開するRAM(random access memory)、上記プログラムおよび各種データを格納するメモリ等の記憶装置(記録媒体)などを備えている。そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウェアである検査装置1(特に制御装置11)の制御プログラム(検査プログラム)のプログラムコード(実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム)をコンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体を、上記検査装置1(特に制御装置11)に供給し、そのコンピュータ(またはCPUやMPU)が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。   That is, the inspection device 1, particularly the control device 11, includes a CPU (central processing unit) that executes instructions of a control program that realizes each function, a ROM (read only memory) that stores the program, and a RAM ( random access memory), a storage device (recording medium) such as a memory for storing the program and various data. An object of the present invention is to provide a program code (execution format program, intermediate code program, source program) of a control program (inspection program) of the inspection apparatus 1 (particularly the control apparatus 11), which is software that realizes the above-described functions. The readable recording medium is supplied to the inspection apparatus 1 (particularly the control apparatus 11), and the computer (or CPU or MPU) reads and executes the program code recorded on the recording medium. Achievable.

上記記録媒体としては、例えば、磁気テープやカセットテープ等のテープ系、フロッピー(登録商標)ディスク/ハードディスク等の磁気ディスクやCD−ROM/MO/MD/DVD/CD−R等の光ディスクを含むディスク系、ICカード(メモリカードを含む)/光カード等のカード系、あるいはマスクROM/EPROM/EEPROM/フラッシュROM等の半導体メモリ系などを用いることができる。   Examples of the recording medium include tapes such as magnetic tapes and cassette tapes, magnetic disks such as floppy (registered trademark) disks / hard disks, and disks including optical disks such as CD-ROM / MO / MD / DVD / CD-R. Card system such as IC card, IC card (including memory card) / optical card, or semiconductor memory system such as mask ROM / EPROM / EEPROM / flash ROM.

また、検査装置1(特に制御装置11)を通信ネットワークと接続可能に構成し、上記プログラムコードを通信ネットワークを介して供給してもよい。この通信ネットワークとしては、特に限定されず、例えば、インターネット、イントラネット、エキストラネット、LAN、ISDN、VAN、CATV通信網、仮想専用網(virtual private network)、電話回線網、移動体通信網、衛星通信網等が利用可能である。また、通信ネットワークを構成する伝送媒体としては、特に限定されず、例えば、IEEE1394、USB、電力線搬送、ケーブルTV回線、電話線、ADSL回線等の有線でも、IrDAやリモコンのような赤外線、Bluetooth(登録商標)、802.11無線、HDR、携帯電話網、衛星回線、地上波デジタル網等の無線でも利用可能である。なお、本発明は、上記プログラムコードが電子的な伝送で具現化された、搬送波に埋め込まれたコンピュータデータ信号の形態でも実現され得る。   Further, the inspection apparatus 1 (particularly the control apparatus 11) may be configured to be connectable to a communication network, and the program code may be supplied via the communication network. The communication network is not particularly limited. For example, the Internet, intranet, extranet, LAN, ISDN, VAN, CATV communication network, virtual private network, telephone line network, mobile communication network, satellite communication. A net or the like is available. Also, the transmission medium constituting the communication network is not particularly limited. For example, even in the case of wired such as IEEE 1394, USB, power line carrier, cable TV line, telephone line, ADSL line, etc., infrared rays such as IrDA and remote control, Bluetooth ( (Registered trademark), 802.11 wireless, HDR, mobile phone network, satellite line, terrestrial digital network, and the like can also be used. The present invention can also be realized in the form of a computer data signal embedded in a carrier wave in which the program code is embodied by electronic transmission.

なお、本発明は、以下のようにも表現できる。すなわち、本発明の表示デバイスの検査方法は、表示デバイスの表示画面を撮像素子を具備したカメラにて撮像し、得られた撮像データにて表示デバイスの良否判定をする検査方法において、カメラと表示デバイス間の撮像距離の設定と、レンズの光軸と合焦点面との角度(あおり)補正を自動で行い、互いに約分できない正の整数p、qについて、表示画素p個に対応する撮像素子q個との関係を表示デバイスの全領域で自動で所望の関係に設定する方法であって、撮像距離を制御する工程と、レンズの光軸と合焦点面との角度を制御する工程と、撮像距離を変更しながら撮像データの複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列から分解能評価値を算出する工程と、前記複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列の撮像距離ごとの分解能評価値のうち最良値の時の撮像距離と、前記複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列の表示デバイス上における距離関係とから、カメラの撮像距離設定、及びレンズの光軸と合焦点面との角度(あおり)補正を行う工程とを含むものである。   The present invention can also be expressed as follows. That is, the display device inspection method of the present invention is an inspection method in which a display screen of a display device is imaged by a camera equipped with an imaging device, and the quality of the display device is determined by the obtained imaging data. An imaging device that automatically sets the imaging distance between devices and corrects the angle (tilt) between the optical axis of the lens and the focal plane, and corresponds to p display pixels for positive integers p and q that cannot be divided from each other. a method of automatically setting a relationship between q and a desired relationship in the entire region of the display device, the step of controlling the imaging distance, the step of controlling the angle between the optical axis of the lens and the focal plane, Calculating a resolution evaluation value from a plurality of horizontal or vertical image sensor arrays of the imaging data while changing the imaging distance; and an imaging distance of the plurality of horizontal or vertical image sensor arrays. From the imaging distance at the time of the best value among the resolution evaluation values and the distance relationship on the display device of the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays, the imaging distance setting of the camera and the optical axis of the lens And an angle correction process with respect to the focal plane.

また、前記撮像距離を変更しながら撮像データの複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列から分解能評価値を算出する工程は、表示デバイスの表示画素の配列の水平方向、または垂直方向に対して、それに対応する撮像素子配列の検出値のうち、表示画素の各p個に対してq×q個の撮像素子を割当てる撮像条件設定の時、q/pが整数の場合、撮像素子配列におけるq/pごとの撮像素子の検出値を用いて分解能評価値を算出することを条件とすることが好ましい。ただし、p、qは正の整数とする。   Further, the step of calculating the resolution evaluation value from the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays of the imaging data while changing the imaging distance may be performed with respect to the horizontal or vertical direction of the display pixel array of the display device. Among the detection values of the corresponding image sensor array, when q / p is an integer when q × q image sensors are assigned to each p pixels of the display pixel, It is preferable that the resolution evaluation value is calculated using the detection value of the image sensor for each q / p. However, p and q are positive integers.

また、前記撮像距離を変更しながら撮像データの複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列から分解能評価値を算出する工程は、表示デバイスの表示絵素の配列の水平方向、または垂直方向に対して、それに対応する撮像素子配列の検出値のうち、表示画素の各p個に対して、q個の撮像素子を割当てる撮像条件設定の時、q/pが非整数の場合、撮像素子配列におけるqごとの撮像素子の検出値を用いて分解能評価値を算出することを条件とすることが好ましい。ただし、p、qは正の整数とする。   Further, the step of calculating the resolution evaluation value from the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays of the imaging data while changing the imaging distance is performed in the horizontal direction or the vertical direction of the display picture element array of the display device. On the other hand, when q / p is a non-integer when the imaging condition setting for allocating q image sensors to each p of the display pixels among the detection values of the image sensor array corresponding thereto, the image sensor array It is preferable that the resolution evaluation value is calculated using the detection value of the imaging element for each q in the above. However, p and q are positive integers.

また、前記撮像距離を変更しながら撮像データの複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列から分解能評価値を算出する工程は、前記条件に当てはまる撮像素子配列の検出値のばらつき度合いを評価し、前記条件に当てはまる撮像素子配列の検出値のばらつき度合いが小さくなるほど良い評価式を用いることを条件とし、複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列ごとに分解能評価値と撮像距離を算出することが好ましい。   The step of calculating the resolution evaluation value from a plurality of horizontal or vertical imaging element arrays of the imaging data while changing the imaging distance evaluates the degree of variation in the detection value of the imaging element array that satisfies the condition. The resolution evaluation value and the imaging distance are calculated for each of the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays on the condition that a better evaluation formula is used as the degree of variation in the detection values of the imaging element arrays that meet the above conditions decreases. It is preferable.

また、前記複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列の撮像距離ごとの分解能評価値のうち最良値の時の撮像距離と、複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列の表示デバイス上における距離関係とから、カメラの撮像距離設定、及びレンズの光軸と合焦点面との角度(あおり)補正を行う工程は、複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列のうち、任意の1つの撮像素子配列に対して分解能評価値が最良値の時の撮像距離を撮像距離に設定する工程と、任意の1つの撮像素子配列と複数の水平方向、又は垂直方向の撮像素子配列の表示デバイス上における距離関係と、それぞれの分解能評価値が最良値の時の撮像距離の距離関係からレンズの光軸と合焦点面との角度(あおり)補正を行う工程を含むことが好ましい。   The imaging distance at the time of the best value among the resolution evaluation values for the imaging distances of the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays and the display device of the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays From the distance relationship, the steps of setting the imaging distance of the camera and correcting the angle (tilt) between the optical axis of the lens and the focal plane are arbitrary among a plurality of horizontal or vertical imaging element arrays. The step of setting the imaging distance when the resolution evaluation value is the best value for one imaging element array as the imaging distance, and the display of any one imaging element array and a plurality of horizontal or vertical imaging element arrays It is preferable to include a step of correcting the angle (tilt) between the optical axis of the lens and the focal point from the distance relationship on the device and the distance relationship between the imaging distances when the respective resolution evaluation values are the best values.

本発明の表示デバイスの検査装置は、表示デバイスの表示画面を撮像素子を具備したカメラにて撮像し、得られた撮像データにて表示デバイスの良否判定をする検査装置において、カメラと表示デバイス間の撮像距離の設定と、レンズの光軸と合焦点面との角度(あおり)補正を自動で行ない、互いに約分できない正の整数p、qについて、表示画素p個に対応する撮像素子q個との関係を表示デバイスの全領域で自動で所望の関係に設定する装置であって、撮像距離を制御する手段と、レンズの光軸と合焦点面との角度を制御する手段と、撮像距離を変更しながら撮像データの複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列から分解能評価値を算出する手段と、前記複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列の撮像距離ごとの分解能評価値のうち最良値の時の撮像距離と、前記複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列の表示デバイス上における距離関係とから、カメラの撮像距離設定、及びレンズの光軸と合焦点面との角度(あおり)補正を行う手段とを備えるものである。   An inspection apparatus for a display device according to the present invention is an inspection apparatus that images a display screen of a display device with a camera equipped with an image sensor, and determines whether the display device is good or bad with the obtained imaging data. The image pickup distance q and the angle (tilt) correction between the optical axis of the lens and the focal plane are automatically corrected, and q imaging elements corresponding to p display pixels for positive integers p and q that cannot be divided from each other. Is a device that automatically sets the relationship to the desired relationship in the entire region of the display device, the means for controlling the imaging distance, the means for controlling the angle between the optical axis of the lens and the focal plane, and the imaging distance Means for calculating a resolution evaluation value from a plurality of horizontal or vertical image sensor arrangements of the imaging data while changing the image data, and decomposition of the plurality of horizontal or vertical image sensor arrays for each imaging distance The imaging distance setting of the camera, the optical axis of the lens, and the focal point are determined from the imaging distance at the time of the best value among the evaluation values and the distance relationship on the display device of the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays. Means for correcting the angle with the surface.

また、前記撮像距離を変更しながら撮像データの複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列から分解能評価値を算出する手段は、表示デバイスの表示画素の配列の水平方向、または垂直方向に対して、それに対応する撮像素子配列の検出値のうち、表示画素の各p個に対してq×q個の撮像素子を割当てる撮像条件設定の時、q/pが整数の場合、撮像素子配列におけるq/pごとの撮像素子の検出値を用いて分解能評価値を算出することを条件とすることが好ましい。   Further, the means for calculating the resolution evaluation value from the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays of the imaging data while changing the imaging distance is based on the horizontal or vertical direction of the display pixel array of the display device. Among the detection values of the corresponding image sensor array, when q / p is an integer when q × q image sensors are assigned to each p pixels of the display pixel, It is preferable that the resolution evaluation value is calculated using the detection value of the image sensor for each q / p.

また、前記撮像距離を変更しながら撮像データの複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列から分解能評価値を算出する手段は、表示デバイスの表示絵素の配列の水平方向、または垂直方向に対して、それに対応する撮像素子配列の検出値のうち、表示画素の各p個に対して、q個の撮像素子を割当てる撮像条件設定の時、q/pが非整数の場合、撮像素子配列におけるqごとの撮像素子の検出値を用いて分解能評価値を算出することを条件とすることが好ましい。   Further, the means for calculating the resolution evaluation value from the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays of the imaging data while changing the imaging distance is arranged in the horizontal direction or the vertical direction of the display picture element array of the display device. On the other hand, when q / p is a non-integer when the imaging condition setting for allocating q image sensors to each p of the display pixels among the detection values of the image sensor array corresponding thereto, the image sensor array It is preferable that the resolution evaluation value is calculated using the detection value of the imaging element for each q in the above.

また、前記撮像距離を変更しながら撮像データの複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列から分解能評価値を算出する手段は、前記条件に当てはまる撮像素子配列の検出値のばらつき度合いを評価し、前記条件に当てはまる撮像素子配列の検出値のばらつき度合いが小さくなるほど良い評価式を用いることを条件とし、複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列ごとに分解能評価値と撮像距離を算出することが好ましい。   The means for calculating a resolution evaluation value from a plurality of horizontal or vertical imaging element arrays of the imaging data while changing the imaging distance evaluates the degree of variation in the detection values of the imaging element array that meet the above condition. The resolution evaluation value and the imaging distance are calculated for each of the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays on the condition that a better evaluation formula is used as the degree of variation in the detection values of the imaging element arrays that meet the above conditions decreases. It is preferable.

また、前記複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列の撮像距離ごとの分解能評価値のうち最良値の時の撮像距離と、複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列の表示デバイス上における距離関係とから、カメラの撮像距離設定、及びレンズの光軸と合焦点面との角度(あおり)補正を行う手段は、複数の水平方向、または垂直方向の撮像素子配列のうち、任意の1つの撮像素子配列に対して分解能評価値が最良値の時の撮像距離を撮像距離に設定する手段と、任意の1つの撮像素子配列と複数の水平方向、又は垂直方向の撮像素子配列の表示デバイス上における距離関係と、それぞれの分解能評価値が最良値の時の撮像距離の距離関係からレンズの光軸と合焦点面との角度(あおり)補正を行う手段とからなることが好ましい。   The imaging distance at the time of the best value among the resolution evaluation values for the imaging distances of the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays and the display device of the plurality of horizontal or vertical imaging element arrays Based on the distance relationship, the means for setting the imaging distance of the camera and correcting the angle (tilt) between the optical axis of the lens and the focal plane is an arbitrary one of a plurality of horizontal or vertical imaging element arrays. Means for setting the imaging distance when the resolution evaluation value is the best value for one imaging element array as the imaging distance, and display of any one imaging element array and a plurality of horizontal or vertical imaging element arrays It is preferable to comprise means for correcting the angle (tilt) between the optical axis of the lens and the focal plane from the distance relationship on the device and the distance relationship of the imaging distance when each resolution evaluation value is the best value.

液晶パネルなどの表示デバイスの検査工程において、モアレの影響を受けにくく、検査精度の高い検査装置として利用できる。   In the inspection process of a display device such as a liquid crystal panel, it can be used as an inspection apparatus that is not easily affected by moire and has high inspection accuracy.

本発明の一実施形態に係る検査装置が備える制御装置の構成を示す機能ブロック図である。It is a functional block diagram which shows the structure of the control apparatus with which the inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention is provided. 本発明の一実施形態に係る検査装置の構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of the test | inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る検査装置が備える角度・撮像距離調整機構の構成を示す図であり、(a)は、角度・撮像距離調整機構を側方から見た図であり、(b)は、上方から見た図である。It is a figure which shows the structure of the angle and imaging distance adjustment mechanism with which the inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention is equipped, (a) is the figure which looked at the angle and imaging distance adjustment mechanism from the side, (b) These are views seen from above. 本発明の一実施形態に係る検査装置の検査対象である表示デバイスの構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of the display device which is a test object of the test | inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 表示デバイスを撮像した場合に、得られる撮像素子の出力信号の例を示すものであり、(a)は、撮像分解能が絵素ピッチよりも1.5%小さい場合に得られる撮像素子の出力信号を示す図であり、(b)は撮像分解能が絵素ピッチよりも21.5%小さい場合に得られる撮像素子の出力信号を示す図であり、(c)は、撮像分解能が絵素ピッチと等しい場合に得られる撮像素子の出力信号を示す図である。The example of the output signal of the image pick-up element obtained when a display device is imaged is shown, (a) is the output signal of the image pick-up element obtained when the image pick-up resolution is 1.5% smaller than the pixel pitch. (B) is a diagram showing an output signal of the imaging device obtained when the imaging resolution is 21.5% smaller than the pixel pitch, and (c) is a diagram showing the imaging resolution as the pixel pitch. It is a figure which shows the output signal of the image pick-up element obtained when it is equal. 分解能評価値Bmnの算出方法を説明するための図であり、(a)は、表示デバイスの撮像画像を撮像した撮像素子配列のうち、撮像画像の中央に対応する、水平方向の撮像素子配列Amnを示す図であり、(b)は、撮像倍率が整数倍率になっていない場合の、撮像素子配列Amnに含まれる画素の輝度値を示すグラフであり、(c)は、撮像倍率が正確に整数倍率になっている場合の、撮像素子配列Amnに含まれる画素の輝度値を示すグラフである。It is a figure for demonstrating the calculation method of resolution evaluation value Bmn, (a) is the image pick-up element array Amn of the horizontal direction corresponding to the center of a picked-up image among the image pick-up element arrays which imaged the picked-up image of a display device. (B) is a graph showing the luminance values of the pixels included in the imaging element array Amn when the imaging magnification is not an integer magnification, and (c) is an accurate imaging magnification. It is a graph which shows the luminance value of the pixel contained in image pick-up element arrangement | sequence Amn when it is an integer magnification. あおり角に関する補正値の算出方法を説明するための図であり、(a)は、表示デバイスの、撮像装置の光軸に対する傾きを示す図であり、(b)は、表示デバイスの撮像画像における上部水平ライン及び中間部水平ラインを示す図であり、(c)は、上部水平ライン及び中間部水平ラインについて撮像距離Cmnと分解能評価値Bmnとの関係を示すグラフであり、(d)は、あおり角を算出する方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the calculation method of the correction value regarding a tilt angle, (a) is a figure which shows the inclination with respect to the optical axis of an imaging device of a display device, (b) is in the picked-up image of a display device. It is a diagram showing an upper horizontal line and an intermediate horizontal line, (c) is a graph showing the relationship between the imaging distance Cmn and the resolution evaluation value Bmn for the upper horizontal line and the intermediate horizontal line, (d), It is a figure for demonstrating the method of calculating a tilt angle. 本発明の一実施形態に係る検査装置における処理の流れの一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the flow of a process in the inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 最適撮像距離及びあおり角を算出するための処理の流れの一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the flow of a process for calculating an optimal imaging distance and tilt angle.

符号の説明Explanation of symbols

1 検査装置
3 撮像装置(撮像手段)
6 表示デバイス
6a 絵素
6b 絵素
6c 絵素
14 撮像装置制御部(撮像制御手段)
16 分解能評価値算出部(評価値算出手段)
19 補正値算出部(評価値比較手段、傾き算出手段)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection apparatus 3 Imaging device (imaging means)
6 Display Device 6a Picture Element 6b Picture Element 6c Picture Element 14 Imaging Device Control Unit (Imaging Control Unit)
16 Resolution evaluation value calculation unit (Evaluation value calculation means)
19 Correction value calculation unit (evaluation value comparison means, inclination calculation means)

Claims (5)

一定方向に配列した絵素を有する表示デバイスを、当該絵素の配列方向に沿って配列する撮像素子を有する撮像手段によって撮像し、得られた撮像画像を解析することにより当該表示デバイスの良否を判定する検査装置であって、
上記撮像手段と上記表示デバイスとの間の撮像距離を変更しながら、上記表示デバイスを複数回撮像するよう上記撮像手段を制御する撮像制御手段と、
上記表示デバイスの撮像画像を撮像した撮像素子の配列であって、上記絵素の配列方向に沿う方向に配列する撮像素子の配列のうち、注目する撮像素子の配列である第1注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を撮像画像ごとに算出するとともに、上記第1注目撮像素子配列に平行な第2注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を撮像画像ごとに算出する評価値算出手段と、
上記評価値算出手段によって算出された評価値のうち、最もばらつき度合いが小さい最適評価値を特定し、当該最適評価値を算出するに至った撮像距離である最適撮像距離を上記第1および第2注目撮像素子配列に関して算出する評価値比較手段と、
上記第1注目撮像素子配列の最適撮像距離と上記第2注目撮像素子配列の最適撮像距離との差と、上記第1注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置と上記第2注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置との間の距離と、から上記撮像手段の光軸に対する当該表示デバイスの傾きを算出する傾き算出手段とを備えることを特徴とする検査装置。
A display device having picture elements arranged in a certain direction is imaged by an imaging means having an image sensor arranged in the arrangement direction of the picture elements, and the quality of the display device is determined by analyzing the obtained captured image. An inspection device for judging,
An imaging control means for controlling the imaging means to image the display device a plurality of times while changing an imaging distance between the imaging means and the display device;
First image pickup device array, which is an array of image pickup devices that picked up the picked-up images of the display device, and is an array of image pickup devices of interest among the array of image pickup devices arranged in a direction along the arrangement direction of the picture elements The pixel values output from the image sensor included in the image sensor are extracted at predetermined intervals, and an evaluation value indicating the variation of the extracted pixel value is calculated for each captured image, and the first parallel to the first target image sensor array is calculated. (2) an evaluation value calculation means for extracting pixel values output from image sensors included in the image sensor array of interest at predetermined intervals, and calculating an evaluation value indicating variation of the extracted pixel values for each captured image;
Among the evaluation values calculated by the evaluation value calculation means, the optimum evaluation value with the smallest degree of variation is specified, and the optimum imaging distance that is the imaging distance that led to the calculation of the optimum evaluation value is determined as the first and second. Evaluation value comparison means for calculating the image sensor array of interest;
The difference between the optimal imaging distance of the first target image sensor array and the optimal image distance of the second target image sensor array, the position on the display device corresponding to the first target image sensor array, and the second target image sensor An inspection apparatus comprising: an inclination calculating unit that calculates an inclination of the display device with respect to an optical axis of the imaging unit based on a distance between a position on the display device corresponding to the array and an optical axis of the imaging unit.
上記撮像手段の撮像倍率を、p個の上記絵素をq個の上記撮像素子によって撮像する倍率と表現した場合、上記所定の間隔は、q/pの自然数倍数のうち、最も小さい整数に、上記表示デバイスの画素を構成する絵素の数をかけた数であることを特徴とする請求項1に記載の検査装置。   When the imaging magnification of the imaging means is expressed as the magnification at which p picture elements are imaged by the q imaging elements, the predetermined interval is the smallest integer among the multiples of q / p. The inspection apparatus according to claim 1, wherein the number of picture elements constituting the pixels of the display device is multiplied by the number. 請求項1または2に記載の検査装置の上記各手段としてコンピュータを機能させるための検査プログラム。   The inspection program for functioning a computer as said each means of the inspection apparatus of Claim 1 or 2. 請求項3に記載の検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。   A computer-readable recording medium on which the inspection program according to claim 3 is recorded. 一定方向に配列した絵素を有する表示デバイスを、当該絵素の配列方向に沿って配列する撮像素子を有する撮像手段によって撮像し、得られた撮像画像を解析することにより当該表示デバイスの良否を判定する検査装置における検査方法であって、
上記撮像手段と上記表示デバイスとの間の撮像距離を変更しながら、上記表示デバイスを複数回撮像しつつ、撮像するごとに、上記表示デバイスの撮像画像を撮像した撮像素子の配列であって、上記絵素の配列方向に沿う方向に配列する撮像素子の配列のうち、注目する撮像素子の配列である第1注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を算出するとともに、上記第1注目撮像素子配列に平行な第2注目撮像素子配列に含まれる撮像素子から出力される画素値を所定の間隔で抽出し、抽出された画素値のばらつきを示す評価値を算出する評価値算出工程と、
上記評価値算出工程において算出された評価値のうち、最もばらつき度合いが小さい最適評価値を特定し、当該最適評価値を算出するに至った撮像距離である最適撮像距離を上記第1および第2注目撮像素子配列に関して算出する評価値比較工程と、
上記第1注目撮像素子配列の最適撮像距離と上記第2注目撮像素子配列の最適撮像距離との差と、上記第1注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置と上記第2注目撮像素子配列に対応する表示デバイス上の位置との間の距離と、から上記撮像手段の光軸に対する当該表示デバイスの傾きを算出する傾き算出工程とを含むことを特徴とする検査方法。
A display device having picture elements arranged in a certain direction is imaged by an imaging means having an image sensor arranged in the arrangement direction of the picture elements, and the quality of the display device is determined by analyzing the obtained captured image. An inspection method in an inspection apparatus for judging,
While changing the imaging distance between the imaging means and the display device, each time the imaging is performed while imaging the display device, an array of imaging elements that capture the captured image of the display device, Pixel values output from image sensors included in the first target image sensor array, which is an array of target image sensors, are extracted at predetermined intervals from among the image sensor arrays arranged in the direction along the pixel array direction. And calculating an evaluation value indicating the variation of the extracted pixel value, and outputting pixel values output from the image sensor included in the second target image sensor array parallel to the first target image sensor array at a predetermined interval. An evaluation value calculating step of extracting and calculating an evaluation value indicating variation of the extracted pixel value;
Among the evaluation values calculated in the evaluation value calculation step, the optimum evaluation value with the smallest degree of variation is specified, and the optimum imaging distance that is the imaging distance that led to the calculation of the optimum evaluation value is determined as the first and second. An evaluation value comparison step for calculating the attention image sensor array;
The difference between the optimal imaging distance of the first target image sensor array and the optimal image distance of the second target image sensor array, the position on the display device corresponding to the first target image sensor array, and the second target image sensor An inspection method comprising: an inclination calculating step of calculating an inclination of the display device with respect to an optical axis of the imaging means based on a distance between a position on the display device corresponding to the array and an optical axis of the imaging means.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102857696A (en) * 2009-08-18 2013-01-02 夏普株式会社 Display device, correction system, forming device, determining device and method
WO2013118306A1 (en) * 2012-02-10 2013-08-15 シャープ株式会社 Defect-detecting device, defect-detecting method, computer-readable recording medium for recording defect-detecting program
WO2016192534A1 (en) * 2015-06-03 2016-12-08 Saint-Gobain Glass France Optical device for detecting an internal flaw of a transparent substrate and method for the same
CN112557398A (en) * 2020-11-24 2021-03-26 创新奇智(北京)科技有限公司 Quality inspection system for adhesive surface of adhesive sticker and quality inspection method and device thereof
WO2021100192A1 (en) * 2019-11-22 2021-05-27 シャープ株式会社 Method for manufacturing display panel
WO2022264416A1 (en) * 2021-06-18 2022-12-22 株式会社日立ハイテク Imaging system and imaging range adjustment method

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102857696A (en) * 2009-08-18 2013-01-02 夏普株式会社 Display device, correction system, forming device, determining device and method
WO2013118306A1 (en) * 2012-02-10 2013-08-15 シャープ株式会社 Defect-detecting device, defect-detecting method, computer-readable recording medium for recording defect-detecting program
WO2016192534A1 (en) * 2015-06-03 2016-12-08 Saint-Gobain Glass France Optical device for detecting an internal flaw of a transparent substrate and method for the same
US10429317B2 (en) 2015-06-03 2019-10-01 Saint-Gobain Glass France Optical device for detecting an internal flaw of a transparent substrate and method for the same
WO2021100192A1 (en) * 2019-11-22 2021-05-27 シャープ株式会社 Method for manufacturing display panel
CN114651169A (en) * 2019-11-22 2022-06-21 夏普株式会社 Method for manufacturing display panel
CN112557398A (en) * 2020-11-24 2021-03-26 创新奇智(北京)科技有限公司 Quality inspection system for adhesive surface of adhesive sticker and quality inspection method and device thereof
WO2022264416A1 (en) * 2021-06-18 2022-12-22 株式会社日立ハイテク Imaging system and imaging range adjustment method

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