JP2008176677A - Memory controller, nonvolatile storage device, and nonvolatile storage system - Google Patents
Memory controller, nonvolatile storage device, and nonvolatile storage system Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008176677A JP2008176677A JP2007011067A JP2007011067A JP2008176677A JP 2008176677 A JP2008176677 A JP 2008176677A JP 2007011067 A JP2007011067 A JP 2007011067A JP 2007011067 A JP2007011067 A JP 2007011067A JP 2008176677 A JP2008176677 A JP 2008176677A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- nonvolatile
- nonvolatile memory
- writing
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Description
本発明は、不揮発性メモリを備えた半導体メモリカード等の不揮発性記憶装置、前記不揮発性メモリを制御するメモリコントローラ、及び前記不揮発性記憶装置にアクセス装置を構成要素として加えた不揮発性記憶システムに関する。 The present invention relates to a nonvolatile memory device such as a semiconductor memory card provided with a nonvolatile memory, a memory controller for controlling the nonvolatile memory, and a nonvolatile memory system in which an access device is added as a component to the nonvolatile memory device. .
書き換え可能な不揮発性メモリを備える不揮発性記憶装置は、半導体メモリカードを中心にその需要が広まっている。半導体メモリカードは、光ディスクやテープメディアなどと比較して高価格なものではあるが、小型・軽量・耐震性・取り扱いの簡便さ等のメリットにより、デジタルスチルカメラや携帯電話などのポータブル機器の記録媒体としてその需要が広まり、最近では商用コンテンツを扱う放送局向けのプロ用動画記録機器の記録媒体としても利用されるようになってきた。 The demand for nonvolatile memory devices including a rewritable nonvolatile memory is increasing, especially for semiconductor memory cards. Semiconductor memory cards are more expensive than optical discs and tape media, but due to their advantages such as small size, light weight, earthquake resistance, and ease of handling, they can be used for recording in portable devices such as digital still cameras and mobile phones. The demand for the medium has increased, and recently it has come to be used as a recording medium for professional video recording equipment for broadcasting stations that handle commercial content.
この半導体メモリカードは、不揮発性の主記憶メモリとしてフラッシュメモリを備え、それを制御するメモリコントローラを有している。メモリコントローラは、デジタルスチルカメラ本体等のアクセス装置からの読み書き指示に応じて、フラッシュメモリに対する読み書き制御を行うものとなっている。 This semiconductor memory card includes a flash memory as a nonvolatile main memory, and has a memory controller for controlling the flash memory. The memory controller performs read / write control on the flash memory in response to a read / write instruction from an access device such as a digital still camera body.
このような背景のもと、不揮発性半導体メモリには、高い記録密度及び高速なデータ記録性能が必要とされていると同時に、データの保護が求められている。 Under such circumstances, the nonvolatile semiconductor memory is required to have high recording density and high-speed data recording performance, and at the same time, data protection is required.
フラッシュメモリに関して、記録容量をより向上させるために、1つのメモリセルに複数ビットのデータを記憶可能とするフラッシュメモリ(多値フラッシュメモリ)が開発されている。これによると、記録密度を高くでき、記録容量を高くすることができるだけではなく、同一記録容量におけるメモリセル数も少なくすることができ、低価格化も可能になる。以下、この多値フラッシュメモリの記録方法に関して説明する。 In order to further improve the recording capacity of the flash memory, a flash memory (multi-value flash memory) capable of storing a plurality of bits of data in one memory cell has been developed. According to this, not only the recording density can be increased and the recording capacity can be increased, but also the number of memory cells in the same recording capacity can be reduced, and the cost can be reduced. Hereinafter, a recording method of the multilevel flash memory will be described.
一般にフラッシュメモリ等の不揮発性半導体メモリは、メモリセルのフローティングゲート(またはトラップゲート)に電子を注入してメモリセルの閾値電圧を変えることで、データを記憶する。メモリセルの閾値電圧は、電子がフローティングゲート中に存在すると高くなり、電子がフローティングゲート中に存在しないと低くなる。 In general, a nonvolatile semiconductor memory such as a flash memory stores data by injecting electrons into a floating gate (or trap gate) of a memory cell to change a threshold voltage of the memory cell. The threshold voltage of the memory cell increases when electrons are present in the floating gate and decreases when electrons are not present in the floating gate.
図19は、4値フラッシュメモリにおけるメモリセルの閾値電圧分布を示した図である。メモリセルの閾値電圧はプログラム(データ書き込み)されたデータに応じて、領域L0、L1、L2、L3のいずれかに分布する。領域L0、L1、L2、L3は、2ビットデータの"11"、"10"、"00"、"01"にそれぞれ対応している。 FIG. 19 is a diagram showing the threshold voltage distribution of the memory cell in the quaternary flash memory. The threshold voltage of the memory cell is distributed in any of the regions L0, L1, L2, and L3 according to programmed (data written) data. The regions L0, L1, L2, and L3 correspond to 2-bit data “11”, “10”, “00”, and “01”, respectively.
データの書き込み(プログラム)は、各メモリセルにおいて、閾値電圧が検証電圧VV(VV1,VV2、VV3)を超えるまで行われる。例えば、メモリセルに論理"10"を書き込む場合、そのメモリセルの閾値電圧が検証電圧VV1を超えるまで、プログラム動作が繰り返される。各メモリセルの閾値電圧は、領域L0〜L3のいずれかに設定される。 Data writing (programming) is performed in each memory cell until the threshold voltage exceeds the verification voltage VV (VV1, VV2, VV3). For example, when logic “10” is written in a memory cell, the program operation is repeated until the threshold voltage of the memory cell exceeds the verification voltage VV1. The threshold voltage of each memory cell is set to one of the regions L0 to L3.
データの読み出しは、メモリセルの閾値電圧を、参照電圧VR(VR1,VR2、VR3)と比較することで行われる。メモリセルの閾値電圧が参照電圧VR1より低いとき、メモリセルに保持されているデータは、"11"であると判定される。メモリセルの閾値電圧が参照電圧VR1、VR2の間にあるとき、メモリセルに保持されているデータは"10"であると判定される。メモリセルの閾値電圧が参照電圧VR2、VR3の間にあるとき、メモリセルに保持されているデータは"00"であると判定される。メモリセルの閾値電圧が参照電圧VR3より高いとき、メモリセルに保持されているデータは"01"であると判定される。 Data is read by comparing the threshold voltage of the memory cell with the reference voltage VR (VR1, VR2, VR3). When the threshold voltage of the memory cell is lower than the reference voltage VR1, it is determined that the data held in the memory cell is “11”. When the threshold voltage of the memory cell is between the reference voltages VR1 and VR2, it is determined that the data held in the memory cell is “10”. When the threshold voltage of the memory cell is between the reference voltages VR2 and VR3, it is determined that the data held in the memory cell is “00”. When the threshold voltage of the memory cell is higher than the reference voltage VR3, it is determined that the data held in the memory cell is “01”.
メモリセルの消去動作は、消去するメモリセルの制御ゲートに低電圧を供給し、メモリセルのウエル領域に高電圧を供給し、フローティングゲートに蓄積されている電子を放出することで行われる。このとき、消去しないメモリセルの制御ゲートは、例えばフローティング状態に制御される。 The erase operation of the memory cell is performed by supplying a low voltage to the control gate of the memory cell to be erased, supplying a high voltage to the well region of the memory cell, and releasing electrons accumulated in the floating gate. At this time, the control gate of the memory cell that is not erased is controlled to be in a floating state, for example.
一つの不揮発性メモリセルに多値データを記録する場合、不揮発性メモリセルへのデータの書き込みは複数回行われる。例えば、図6に示したように、領域L0、L1、L2、L3が、2ビットデータの"11"、"10"、"00"、"01"にそれぞれ対応しているときに、下位1ビットデータの書き込み、上位1ビットデータの書き込み、の2段階に分けて書き込みが実施される。(以下、メモリセルに対する2段階目以降の書込みを「追記書込み」とする。) When multi-value data is recorded in one nonvolatile memory cell, data is written to the nonvolatile memory cell a plurality of times. For example, as shown in FIG. 6, when the regions L0, L1, L2, and L3 correspond to 2-bit data “11”, “10”, “00”, and “01”, respectively, the lower 1 Writing is performed in two stages: writing bit data and writing upper 1-bit data. (Hereinafter, writing after the second stage to the memory cell is referred to as “additional writing”.)
下位1ビットデータが"1"の場合は領域L0、下位1ビットデータが"0"の場合は領域L1に設定される。その後、上位1ビットデータの追記書込みにおいて、上位1ビットデータが"1"の場合は、各領域は変化しない。上位1ビットデータが"0"の場合は、領域L0から領域L3もしくは領域L1から領域L2に変化する。 When the lower 1-bit data is “1”, the area L0 is set. When the lower 1-bit data is “0”, the area L1 is set. Thereafter, in the additional writing of the upper 1-bit data, if the upper 1-bit data is “1”, each area does not change. When the upper 1-bit data is “0”, the area L0 changes to the area L3 or the area L1 to the area L2.
ここで領域L0から領域L3に変化する過程で電源遮断が発生すると、領域L1や領域L2の状態になる場合がある。従って、上位1ビットデータの追記書込み中に電源遮断が発生すると、書込み中の上位1ビットデータに加えて、既に書き込み済の下位1ビットデータが誤ったデータに化ける場合がある。 Here, when power interruption occurs in the process of changing from the region L0 to the region L3, the state of the region L1 or the region L2 may occur. Therefore, if the power supply is interrupted during the additional writing of the upper 1-bit data, the already written lower 1-bit data may be changed into erroneous data in addition to the upper 1-bit data being written.
アクセス装置からの1回の書込みにおいて指定される範囲は、必ずしも下位1ビットデータ及び前記下位1ビットデータに対応する上位1ビットデータの組になっているとは限らない。 The range specified in one write from the access device is not necessarily a set of lower 1-bit data and upper 1-bit data corresponding to the lower 1-bit data.
従って、上位1ビットデータの追記書込み中の電源遮断によって、アクセス装置が1回の書込みで指定した範囲以外のデータが破壊される可能性がある。すなわち、書き込み済データの内容を保護することができない。 Therefore, there is a possibility that data outside the range designated by the access device by one writing may be destroyed by the power interruption during the additional writing of the upper 1-bit data. That is, the contents of written data cannot be protected.
このような、電源遮断による書き込み対象外の領域のデータ破壊を回避する方法として、特許文献1のように不揮発性多値メモリにおいてメモリセルへの書き込み方法を制御することによって、書き込み済データの破壊を防ぐ方法が考えられてきた。 As a method for avoiding such data destruction in a region not to be written due to power shutdown, the written data is destroyed by controlling the writing method to the memory cell in the nonvolatile multi-valued memory as in Patent Document 1. A method to prevent this has been considered.
また、特許文献2のように電源が遮断されるとセンサなどを用いて電源遮断を検知する機構により、メモリの破壊を防ぐような方法も考えられてきた。
しかしながら、上記の従来技術には次のような問題点がある。すなわち、特許文献1に記載の電源遮断対策においては、データの書き込み処理や消去処理に伴って電源遮断対策を行うため、常にデータの書き込みや消去の速度が低下してしまう、また特許文献2に記載の電源遮断対策においては、センサ費用や特殊な金型をおこすための費用が必要となりコストが増大するといった問題点を有していた。 However, the above prior art has the following problems. That is, in the power shutdown countermeasure described in Patent Document 1, since the power shutdown countermeasure is taken along with the data writing process and the erasing process, the speed of data writing and erasing always decreases. In the power-off countermeasures described, there is a problem that the cost of the sensor and the cost for creating a special mold are required and the cost increases.
そこで本発明は上記問題点に鑑み、不必要にデータ書き込み処理の速度を低下させることなく、簡単な構成(低コスト)で電源遮断対策のできるメモリコントローラ、不揮発性記憶装置、及び不揮発性記憶システムを提供することを目的とする。 Accordingly, in view of the above problems, the present invention provides a memory controller, a nonvolatile storage device, and a nonvolatile storage system that can take measures against power interruption with a simple configuration (low cost) without unnecessarily reducing the speed of data writing processing. The purpose is to provide.
前記目的を達成するため、本発明においては以下の技術的手段を講じた。すなわち、本発明における技術的手段は、不揮発性メモリへのデータの書き込み及び前記不揮発性メモリからのデータの読み出しを行うメモリコントローラであって、前記メモリコントローラは、該メモリコントローラと前記不揮発性メモリを含む不揮発性記憶装置のアクセス制御を行うアクセス装置が電源遮断対策のための機構を具備しているかどうかの情報を入力するための電源遮断対策情報入力手段を備えることを特徴とする。 In order to achieve the above object, the present invention takes the following technical means. That is, the technical means in the present invention is a memory controller that writes data to a nonvolatile memory and reads data from the nonvolatile memory, and the memory controller includes the memory controller and the nonvolatile memory. A power shutdown countermeasure information input means for inputting information as to whether or not an access device that performs access control of the non-volatile storage device includes a mechanism for power shutdown countermeasures is provided.
なお、前記メモリコントローラは、前記電源遮断対策情報入力手段が設定した情報に基づき前記不揮発性メモリの制御方法を選択する不揮発性メモリ制御選択手段をさらに備えることが好ましい。 The memory controller preferably further includes a nonvolatile memory control selection unit that selects a control method of the nonvolatile memory based on information set by the power shutdown countermeasure information input unit.
さらに好ましくは、前記メモリコントローラは、電源遮断対策を実施しない第1の不揮発性メモリ制御手段と、電源遮断対策を実施する第2の不揮発性メモリ制御手段とをさらに備え、前記不揮発性メモリ制御選択手段は、前記電源遮断対策情報入力手段が設定した情報に基づき前記第1の不揮発性メモリ制御手段もしくは前記第2の不揮発性メモリ制御手段を選択すれば良い。 More preferably, the memory controller further includes first nonvolatile memory control means that does not implement power shutdown measures, and second nonvolatile memory control means that implements power shutdown measures, and the nonvolatile memory control selection The means may select the first nonvolatile memory control means or the second nonvolatile memory control means based on the information set by the power shutoff countermeasure information input means.
また、本発明における技術的手段は、不揮発性メモリとメモリコントローラとを備えた不揮発性記憶装置であって、前記メモリコントローラは、該メモリコントローラと前記不揮発性メモリを含む不揮発性記憶装置のアクセス制御を行うアクセス装置が電源遮断対策のための機構を具備しているかどうかの情報を入力するための電源遮断対策情報入力手段を備えることを特徴とする。 The technical means in the present invention is a non-volatile storage device including a non-volatile memory and a memory controller, and the memory controller controls access to the non-volatile storage device including the memory controller and the non-volatile memory. It is characterized by comprising a power shut-off countermeasure information input means for inputting information as to whether or not the access device that performs the above has a mechanism for power shut-off countermeasures.
なお、前記メモリコントローラは、前記電源遮断対策情報入力手段が設定した情報に基づき前記不揮発性メモリの制御方法を選択する不揮発性メモリ制御選択手段をさらに備えることが好ましい。 The memory controller preferably further includes a nonvolatile memory control selection unit that selects a control method of the nonvolatile memory based on information set by the power shutdown countermeasure information input unit.
さらに好ましくは、前記メモリコントローラは、電源遮断対策を実施しない第1の不揮発性メモリ制御手段と、電源遮断対策を実施する第2の不揮発性メモリ制御手段とをさらに備え、前記不揮発性メモリ制御選択手段は、前記電源遮断対策情報入力手段が設定した情報に基づき前記第1の不揮発性メモリ制御手段もしくは前記第2の不揮発性メモリ制御手段を選択すれば良い。 More preferably, the memory controller further includes first nonvolatile memory control means that does not implement power shutdown measures, and second nonvolatile memory control means that implements power shutdown measures, and the nonvolatile memory control selection The means may select the first nonvolatile memory control means or the second nonvolatile memory control means based on the information set by the power shutoff countermeasure information input means.
また、本発明における技術的手段は、不揮発性記憶装置と、該不揮発性記憶装置のアクセス制御を行うアクセス装置とを備えた不揮発性記憶システムであって、前記アクセス装置は、電源遮断対策のための機構を具備するものであり、前記不揮発性記憶装置は、不揮発性メモリと、前記不揮発性メモリへのデータの書き込み及び前記不揮発性メモリからのデータの読み出しを行い、アクセス装置が電源遮断対策のための機構を具備しているかどうかの情報を入力するための電源遮断対策情報入力手段を備えるメモリコントローラと、を具備することを特徴とする。 The technical means in the present invention is a non-volatile storage system comprising a non-volatile storage device and an access device for controlling access to the non-volatile storage device. The non-volatile storage device performs the writing of data to the non-volatile memory and the reading of data from the non-volatile memory. And a memory controller provided with a power shutdown measure information input means for inputting information on whether or not a mechanism is provided.
なお、前記メモリコントローラは、前記電源遮断対策情報入力手段が設定した情報に基づき前記不揮発性メモリの制御方法を選択する不揮発性メモリ制御選択手段をさらに備えることが好ましい。 The memory controller preferably further includes a nonvolatile memory control selection unit that selects a control method of the nonvolatile memory based on information set by the power shutdown countermeasure information input unit.
また、前記メモリコントローラは、電源遮断対策を実施しない第1の不揮発性メモリ制御手段と、電源遮断対策を実施する第2の不揮発性メモリ制御手段とをさらに備え、前記不揮発性メモリ制御選択手段は、前記電源遮断対策情報入力手段が設定した情報に基づき前記第1の不揮発性メモリ制御手段もしくは前記第2の不揮発性メモリ制御手段を選択することが好ましい。 The memory controller further includes a first nonvolatile memory control unit that does not implement a power shutdown measure and a second nonvolatile memory control unit that implements a power shutdown procedure, and the nonvolatile memory control selection unit includes: Preferably, the first nonvolatile memory control means or the second nonvolatile memory control means is selected based on the information set by the power shutdown countermeasure information input means.
また、前記電源遮断対策のための機構は、前記不揮発性記憶装置を固定するメモリカードロック手段と、メモリカードロック指示手段と、を備えることが好ましい。 Moreover, it is preferable that the mechanism for the power-off countermeasure includes a memory card lock unit that fixes the nonvolatile storage device, and a memory card lock instruction unit.
さらに好ましくは、前記メモリカードロック指示手段は、前記電源遮断対策情報入力手段にロックが有効であるもしくは無効であることを通知すれば良い。 More preferably, the memory card lock instructing unit may notify the power shutoff countermeasure information input unit that the lock is valid or invalid.
本発明によれば、アクセス装置に備えられた電源遮断対策のための機構から電源遮断対策情報入力手段に通知された電源遮断対策の要否に基づき、メモリコントローラが電源遮断対策を実施するかしないかを切り替えるようにしたので、電源遮断対策が不要の場合は高速にデータ書き込みができ、また電源遮断対策が必要な場合は電源遮断に対するデータ保護が可能となる。すなわち、不必要にデータ書き込み処理の速度を低下させることなく、簡単な構成で電源遮断対策が可能となる。 According to the present invention, the memory controller implements the power shutdown countermeasure based on the necessity of the power shutdown countermeasure notified to the power shutdown countermeasure information input means from the power shutdown countermeasure mechanism provided in the access device. Therefore, data can be written at high speed when no power-off countermeasure is required, and data protection against power-off is possible when power-off countermeasure is necessary. That is, it is possible to take a power shutdown measure with a simple configuration without unnecessarily reducing the speed of the data writing process.
以下、本発明の各実施の形態について添付の図面を参照しながら説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1における不揮発性記憶装置をロックする機構を有した不揮発性記憶システムの外観図である。メモリカードなどのランダムアクセス可能な不揮発性記憶装置100と不揮発性記憶装置100に対してデータの書き込み、読み出しを行うホスト装置であるアクセス装置101とを含む。不揮発性記憶装置100は、アクセス装置101の中の不揮発性記憶装置100を格納するためのメモリカードスロット102に装着して使用される。また、メモリカードスロット102に格納された不揮発性記憶装置100を物理的にアクセス装置101から取り出せなくするための蓋であるメモリカードロック手段104によってロックされ、アクセス装置101が許可するまで不揮発性記憶装置100をユーザは取り出すことはできない。そのため、メモリカードロック手段104によってロックされている間、不揮発性記憶装置100は不用意に電源遮断が生じることはない。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
(Embodiment 1)
FIG. 1 is an external view of a nonvolatile memory system having a mechanism for locking a nonvolatile memory device according to Embodiment 1 of the present invention. And a random access
図3に、本発明における不揮発性記憶装置及びそれにアクセスするアクセス装置からなる不揮発性記憶システムの構成例を示す。 FIG. 3 shows a configuration example of a nonvolatile storage system including the nonvolatile storage device and the access device that accesses the nonvolatile storage device according to the present invention.
不揮発性記憶装置100はメモリコントローラ110と不揮発性メモリ120とを含む。メモリコントローラ110は、アクセス装置101との間でコマンドやデータのやりとりを行うホストインターフェース部111と、アクセス装置101から指定された論理アドレスに指定されたデータを読み出し/書き込みを行う不揮発性メモリ制御部115を含む。不揮発性メモリ制御部115はアクセス装置101が指定する論理アドレスを不揮発性メモリ120内の物理アドレスに変換するテーブルである論物変換テーブル112と、不揮発性メモリ120内の使用状況を管理する空きブロック管理テーブル113と、不揮発性メモリ120の制御を行う読出し/書込み制御部114と、アクセス装置101が電源遮断対策のための機構を持っているかどうかを示す電源遮断対策情報フラグ116を含む。
The
不揮発性メモリ120はNAND型フラッシュメモリである。本実施の形態では、不揮発性メモリ120は図6に示す閾値分布により4値データを記録可能なメモリセルを含む。不揮発性メモリ120は、図7に示すようにデータ消去の最小単位である所定サイズ(データ格納用途の256KB+管理情報格納用途の8KB)の物理ブロックを複数個(1024個)含む。各物理ブロック内には、図8に示すようにデータ書き込みの最小単位である所定サイズ(データ格納用途の2KB+管理情報格納用途の64B)の物理ページが複数(128個)含まれる。
The
不揮発性メモリ120は2ページ構成(第1ページと第2ページ)となっている。第1ページと第2ページはメモリセルを共用した物理ページの組であり、各メモリセルの下位1ビットの集合が第1ページであり各メモリセルの上位1ビットの集合が第2ページであるものとする。従って第1ページへのデータ書込み後の第2ページへのデータ書込み中に電源遮断が発生した場合には第1ページ及び第2ページの両方のデータが破壊される可能性がある。本実施の形態における第1ページ及び第2ページの組合せを図9に示す。第1ページである物理ページ0(PP0)は、第2ページである物理ページ4(PP4)と組になっている。同様に、物理ページ1(PP1)は物理ページ5(PP5)と、物理ページ2(PP2)は物理ページ8(PP8)と組になっている。
The
不揮発性メモリ120は、管理データ格納領域121とデータ格納領域122とを有する。尚、データ格納領域122には、ユーザがアクセスすることができるデータ、すなわち、アクセス装置101から論理アドレスを指定して不揮発性メモリ120に書き込み、または読み出しを行うことができるデータが記録される。
The
また、管理データ格納領域121には、ユーザが直接アクセスできない情報、つまり、アクセス装置101から論理アドレスを指定してアクセスすることができない情報が格納される。ユーザが直接アクセスできない情報には、アドレス管理情報の一部や、システム情報が含まれる。
The management
図10は、アクセス装置101が不揮発性記憶装置100に対して初期化コマンドを送信した場合の不揮発性記憶装置100の動作フローである。初期化コマンドはアクセス装置101の電源投入時や不揮発性記憶装置100の装着時などに送信される。
FIG. 10 is an operation flow of the
不揮発性記憶装置100が初期化コマンドを受信すると、メモリコントローラ110は論物変換テーブル112及び空きブロック管理テーブル114などの内部メモリのクリアや、不揮発性メモリ120の接続確認などのハードウェアの初期化処理を行う(S1001)。その後、読出し/書込み制御部114は不揮発性メモリ120の管理データ格納領域121に格納されているアドレス管理情報等を取得し(S1002)、取得した情報を元に論物変換テーブル112及び空きブロック管理テーブル113を作成(S1003)、電源遮断情報フラグ116に対して、電源遮断対策がされていない状態に初期設定(S1004)して処理を完了させる。
When the
以下、図1で示される不揮発性記憶システムにおいて、本発明における不揮発性記憶装置100の各部の動作について、図4を用いて説明する。不揮発性メモリ制御部115は、アクセス装置101に電源遮断対策の機構の有無を入力する電源遮断対策情報入力手段301と、電源遮断対策情報フラグ116の情報を元に不揮発性メモリ制御方法を選択する不揮発性メモリ制御選択手段302と、電源遮断対策を行わず高速にデータを記録する第1の不揮発性メモリ制御手段303と、電源遮断対策を行いながらデータを記録する第2の不揮発性メモリ制御手段304を含む。アクセス装置101のメモリカードスロット102に不揮発性記憶装置100が装着され、アクセス装置101から不揮発性記憶装置100にデータを書き込む必要が生じた場合、メモリカードロック指示手段305はメモリカードロック手段104に不揮発性記憶装置がユーザ操作によって排出されないようにロックするように指示を出す。同時にホストインターフェース111を介して、電源遮断対策情報入力手段301に、不揮発性記憶装置100がロックされアクセス装置101の電源遮断対策が有効になっていることを通知する。電源遮断情報入力手段301は電源遮断対策情報フラグ116を電源遮断対策が有効になっている状態に変更を行う。
Hereinafter, in the nonvolatile memory system shown in FIG. 1, the operation of each part of the
アクセス装置101の電源遮断対策が有効になった後、データを不揮発性記憶装置100に書き込むためのデータ書き込み手段306はホストインターフェース111を介して書き込みコマンドを送信する。
After the power shutdown measure for the
図13は不揮発性メモリ制御選択手段302の動作フローを示した図である。データ書き込み手段306より書き込みコマンドを受信すると、電源遮断対策情報フラグ116から電源遮断対策が有効かどうかを取得する(S1301)。電源遮断対策情報フラグが有効を指し示しているかどうかを判断し(S1302)、有効な場合は第1の不揮発性メモリ制御手段303を使って不揮発性メモリ120にデータ書き込み手段306から受信した書き込みデータを書き込み(S1303)、無効である場合は、第2の不揮発性メモリ制御手段304をつかってデータ書き込み手段306から受信した書き込みデータを書き込む(S1304)。図1におけるアクセス装置においては、アクセス装置における電源遮断対策が有効なため、言い換えれば不揮発性記憶装置100側での電源遮断対策が不要であるため、第1の不揮発性メモリ制御手段を用いて、電源遮断対策を行わずにデータを書き込む。
FIG. 13 is a diagram showing an operation flow of the nonvolatile memory
図11はアクセス装置101のデータ書き込み手段306が不揮発性記憶装置100に対して書込みコマンド及び書込みデータを送信した場合の第1の不揮発性メモリ制御手段303の動作フローである。不揮発性記憶装置100のメモリコントローラ110のホストインターフェース部111はデータ書き込み手段306が指定した書込み開始論理アドレスを取得し(S1101)、読出し/書込み制御部114に通知する。
FIG. 11 is an operation flow of the first nonvolatile
読出し/書込み制御部114は書込み開始論理アドレス(セクタ単位、すなわち512B単位)から書込み開始論理ブロック(ブロック単位、すなわち256kB単位)を算出し、論物変換テーブル112を利用して前記書込み開始論理ブロックに対応する物理ブロックを決定する。
The read /
本実施の形態における論物変換テーブル112の例を図14に示す。本実施の形態において論理ブロックに対応する物理ブロックは書込みが完結したブロック(書込み完結ブロック)1個と書込み途中のブロック(書込み途中ブロック)1個の最大2個である。また、書込み途中ブロックは最大3個の論理ブロックに対して割当てることができる。 An example of the logical-physical conversion table 112 in this embodiment is shown in FIG. In this embodiment, there are a maximum of two physical blocks corresponding to the logical block, one block for which writing has been completed (write completion block) and one block for which writing is in progress (block for writing). In addition, a block in the middle of writing can be assigned to a maximum of three logical blocks.
図14において、論理ブロック0(LB0)に対応する物理ブロックは書込み完結ブロック(PB202)1個である。論理ブロック1(LB1)に対応する物理ブロックは書込み完結ブロック(PB358)1個と書込み中ブロック(PB38)1個の計2個である。論理ブロック2(LB2)に対応する物理ブロックは未だ割当てられておらず0個である。 In FIG. 14, the physical block corresponding to logical block 0 (LB0) is one write completion block (PB202). There are two physical blocks corresponding to the logical block 1 (LB1), one complete block (PB358) and one in-write block (PB38). The physical block corresponding to the logical block 2 (LB2) has not been allocated yet and is zero.
読出し/書込み制御部114は、前記書込み開始論理ブロックに対応する書込み途中ブロックが存在する場合には、これを書込み用物理ブロックとする。存在しない場合には、空きブロック管理テーブル113を利用して空き物理ブロックを取得し、書込み用物理ブロックとする(S1102)。
When there is a writing intermediate block corresponding to the writing start logical block, the reading /
図15に本実施の形態における空きブロック管理テーブル113を示す。各物理ブロックが「空き」であるか「使用中」であるかという情報を保持している。 FIG. 15 shows an empty block management table 113 in the present embodiment. Information about whether each physical block is “free” or “in use” is held.
空きの物理ブロックを書込み用物理ブロックにした場合には、該書込み用物理ブロックを論物変換テーブル112の書込み途中ブロックとして登録する。さらに、前記空きのブロックを書き込み途中ブロックとして割当てたことを不揮発性メモリ120に記録するために、管理データ格納領域121に格納されているアドレス管理情報を更新する。
When an empty physical block is used as a writing physical block, the writing physical block is registered as a writing intermediate block in the logical-physical conversion table 112. Further, the address management information stored in the management
次に、読出し/書込み制御部114は前記書込み用物理ブロックにデータ書き込み手段306から受信した書込みデータを物理ページ番号の小さい順に未書込みの物理ページに書込み(S1103)、前記書込み用物理ブロックの全てのページに書込みが完了した状態になったか否かの判定を行い(S1104)、完了時はS1102へ、未完了時はS1103に移行する。このとき、前記書込み用物理ブロックの前記第1ページ・2ページ両方に書込みを行う。(以降、4値モード書込みと呼ぶ)。4値モード書込みは、書込み中に電源遮断が発生した場合、書込み中のページ以外の書込み済みデータが破壊される場合があるが、不揮発性記憶装置100はアクセス装置101に備えられたメモリカードロック手段104によってロックされているため、電源遮断がおこることはない。以降、次の書込み用物理ブロックの取得(S1102)から処理を繰り返す。
Next, the read /
以上のように、本実施の形態ではアクセス装置101からの書込みデータを記録する場合に、「4値モード書込み」による1段階の書込みを行う。不揮発性記憶装置に電源遮断が起こった場合、書込み済みデータが破壊される可能性を持っているが、アクセス装置によって電源遮断から保護されているためデータが破壊されることはない。後述する第2の不揮発性メモリ制御手段304に比べて、1段階で書き込み処理が行われているため、高速にメモリに記録することができる。
As described above, in the present embodiment, when the write data from the
(実施の形態2)
図2は本発明の実施形態のひとつである不揮発性記憶装置100をロックする機構を持たないアクセス装置101について示したものである。なお、図2において、図1と同じ構成要素については同じ符号を用い、説明を省略する。
(Embodiment 2)
FIG. 2 shows an
メモリカードスロット102に格納された不揮発性記憶装置100を物理的にアクセス装置101から取り出せなくするためのメモリカードロック手段等はなく、データ書き込み中にも容易に不揮発性記憶装置100をアクセス装置101から取り出すことができるため、いつ電源遮断が生じるか不揮発性記憶装置100は知ることができない。
There is no memory card lock means for physically removing the
以下、アクセス装置101において、本発明における不揮発性記憶装置100の各部の動作について、図5を用いて説明する。なお、図5において、図4と同じ構成要素については同じ符号を用い、説明を省略する。
Hereinafter, the operation of each unit of the
アクセス装置101のメモリカードスロット102に不揮発性記憶装置100が装着され、アクセス装置101から不揮発性記憶装置100にデータを書き込む必要が生じた場合、データを不揮発性記憶装置100に書き込むためのデータ書き込み手段306はホストインターフェース111を介して書き込みコマンドを送信する。不揮発性メモリ制御選択手段302は図13の動作フローにおいて、電源遮断対策情報フラグ116読み込み(S1301)では初期状態のままのため、フラグは無効状態となっている。この場合、電源遮断対策があるかないかを判断するS1302において、第2の不揮発性メモリ制御手段304を使って不揮発性メモリ120にデータ書き込み手段306から受信した書き込みデータを記録するように指示を出す(S1304)。
Data writing for writing data to the
図12は、アクセス装置101のデータ書き込み手段306が不揮発性記憶装置100に対して書込みコマンド及び書込みデータを送信した場合の第1の不揮発性メモリ制御手段303の動作フローである。
FIG. 12 is an operation flow of the first nonvolatile
不揮発性記憶装置100のメモリコントローラ110のホストインターフェース部111はデータ書き込み手段306が指定した書込み開始論理アドレスを取得し(S1201)、読出し/書込み制御部114に通知する。
The
読出し/書込み制御部114は書込み開始論理アドレス(セクタ単位、すなわち512B単位)から書込み開始論理ブロック(ブロック単位、すなわち256kB単位)を算出し、論物変換テーブル112を利用して前記書込み開始論理ブロックに対応する物理ブロックを決定する。
The read /
本実施の形態における論物変換テーブル112の例を図14に示す。本実施の形態において論理ブロックに対応する物理ブロックは書込みが完結したブロック(書込み完結ブロック)1個と書込み途中のブロック(書込み途中ブロック)1個の最大2個である。また、書込み途中ブロックは最大3個の論理ブロックに対して割当てることができる。 An example of the logical-physical conversion table 112 in this embodiment is shown in FIG. In this embodiment, there are a maximum of two physical blocks corresponding to the logical block, one block for which writing has been completed (write completion block) and one block for which writing is in progress (block for writing). In addition, a block in the middle of writing can be assigned to a maximum of three logical blocks.
図14において、論理ブロック0(LB0)に対応する物理ブロックは書込み完結ブロック(PB202)1個である。論理ブロック1(LB1)に対応する物理ブロックは書込み完結ブロック(PB358)1個と書込み中ブロック(PB38)1個の計2個である。論理ブロック2(LB2)に対応する物理ブロックは未だ割当てられておらず0個である。 In FIG. 14, the physical block corresponding to logical block 0 (LB0) is one write completion block (PB202). There are two physical blocks corresponding to the logical block 1 (LB1), one complete block (PB358) and one in-write block (PB38). The physical block corresponding to the logical block 2 (LB2) has not been allocated yet and is zero.
読出し/書込み制御部114は、前記書込み開始論理ブロックに対応する書込み途中ブロックが存在する場合には、これを書込み用物理ブロックとする。存在しない場合には、空きブロック管理テーブル113を利用して空き物理ブロックを取得し、書込み用物理ブロックとする(S1202)。図15に本実施例における空きブロック管理テーブル113を示す。各物理ブロックが「空き」であるか「使用中」であるかという情報を保持している。
When there is a writing intermediate block corresponding to the writing start logical block, the reading /
空きの物理ブロックを書込み用物理ブロックにした場合には、該書込み用物理ブロックを論物変換テーブル112の書込み途中ブロックとして登録する。さらに、前記空きのブロックを書き込み途中ブロックとして割当てたことを不揮発性メモリ120に記録するために、管理データ格納領域121に格納されているアドレス管理情報を更新する。書込み中ブロックが登録可能数(3個)を越える場合には、後述する集約処理を行って任意の書込み途中ブロックの書込みを完結させてから登録する。
When an empty physical block is used as a writing physical block, the writing physical block is registered as a writing intermediate block in the logical-physical conversion table 112. Further, the address management information stored in the management
次に、読出し/書込み制御部114は前記書込み用物理ブロックにデータ書き込み手段306から受信した書込みデータを物理ページ番号の小さい順に未書込みの物理ページに書込む(S1203)。このとき、前記書込み用物理ブロックの前記第1ページにのみ書込みを行い、前記第2ページには書込みを行わないものとする(以降、2値モード書込みと呼ぶ)。2値モード書込みは、4値メモリセルを2値メモリセルのように使用する従来の書込み方法である。第1ページにしか書込まないため、書込み中に電源遮断が発生しても、書込み中のページ以外の書込み済みデータが破壊されることはない。
Next, the read /
次に、読出し/書込み制御部114はデータ書き込み手段306から受信した未書込みデータがあるか確認し(S1204)、未書込みデータがなければ書込み処理を終了する。
Next, the read /
未書込みデータが残っている場合には、書込み用物理ブロックの全ての第1ページに書込みが完了した状態になったか否かを確認する(S1205)。 If unwritten data remains, it is checked whether or not writing has been completed on all the first pages of the writing physical block (S1205).
図16に2値モード書込みを行った後の書込み用物理ブロックの状態例を示す。図16において斜線のページは書込み済みページを表す。本実施の形態においては、各物理ページに格納されたデータの論理ページ(LP)情報も該物理ページ内に格納されているものとする。なお、図16(A)は書込み用物理ブロックの全ての第1ページに書込みが完了した状態であり、図16(B)は未書込みの第1ページが残っている状態である。 FIG. 16 shows a state example of the physical block for writing after the binary mode writing is performed. In FIG. 16, hatched pages represent written pages. In the present embodiment, it is assumed that logical page (LP) information of data stored in each physical page is also stored in the physical page. FIG. 16A shows a state in which writing has been completed on all the first pages of the physical block for writing, and FIG. 16B shows a state in which the unwritten first page remains.
書込み用物理ブロックに未書込みの第1ページが残っている場合は、続けて2値モード書込みを行う(S1203)。 If the unwritten first page remains in the writing physical block, the binary mode writing is subsequently performed (S1203).
書込み用物理ブロックの全ての第1ページに書込みが完了した場合は、書込みを行った論理ブロックの番号より領域の判定を行ない(S1206)、集約処理の方法を決定する。 When writing to all the first pages of the writing physical block is completed, the area is determined based on the number of the logical block in which writing has been performed (S1206), and the aggregation processing method is determined.
集約処理とは、論理ブロックに対応する2つの物理ブロックに格納されたデータのうち有効なデータのみを1つの物理ブロックに集約して書込み、集約前の2つのブロックを空きブロックとする処理である。ここで有効なデータとは、該論理アドレスに対して書込まれた最新データを意味する。 Aggregation processing is processing in which only valid data out of data stored in two physical blocks corresponding to a logical block is aggregated and written into one physical block, and the two blocks before aggregation are made free blocks. . Here, valid data means the latest data written to the logical address.
集約前の物理ブロックに同じ論理ページのデータが複数存在する場合、有効なデータは次のルールによって一意に決定することができる。すなわち、(ルール1)書込み完結ブロックよりも書込み用物理ブロックのデータは新しい、(ルール2)書込み用物理ブロック内において物理ページ番号の大きい方のデータが新しい、という2つのルールである。 When multiple pieces of data of the same logical page exist in the physical block before aggregation, valid data can be uniquely determined by the following rule. In other words, there are two rules: (Rule 1) data in the physical block for writing is newer than the write completion block, and (Rule 2) data having a larger physical page number in the physical block for writing is new.
本実施の形態においては、論理ブロック0(LB0)であればFATファイルシステムの管理情報が記録されている領域と判定して以下に示す「2値モード集約」の処理を行う(S1207)。それ以外の論理ブロックならば以下に示す「多値モード集約」の処理を行う(S1208)。 In this embodiment, if it is logical block 0 (LB0), it is determined that the management information of the FAT file system is recorded, and the “binary mode aggregation” process shown below is performed (S1207). If the logical block is other than that, the following “multi-value mode aggregation” processing is performed (S1208).
2値モード集約とは、集約先の物理ブロックへの書込みを2値モード書込みによって行う集約方法である。図17に2値モード集約による集約例を示す。集約元の書込み完結ブロック及び書込み用物理ブロックの有効データは2値モード書込みによって1つの物理ブロックに集約されている。 Binary mode aggregation is an aggregation method in which writing to an aggregation destination physical block is performed by binary mode writing. FIG. 17 shows an example of aggregation by binary mode aggregation. Valid data of the write completion block and write physical block of the aggregation source are aggregated into one physical block by binary mode writing.
多値モード集約とは、集約先の物理ブロックへの書込みを多値モード書込みによって行う集約方法である。ここで、多値モード書込みとは全ての物理ページ(第1ページ及び第2ページの両方)に書込みを行う書込み方法である。図18に多値モード集約による集約例を示す。集約元の書込み完結ブロック及び書込み用物理ブロックの有効データは多値モード書込みによって1つの物理ブロックに集約されている。 Multilevel mode aggregation is an aggregation method in which writing to a physical block that is an aggregation destination is performed by multilevel mode writing. Here, the multi-value mode writing is a writing method for writing to all physical pages (both the first page and the second page). FIG. 18 shows an example of aggregation by multi-value mode aggregation. Valid data of the write completion block and the write physical block of the aggregation source are aggregated into one physical block by multi-value mode writing.
各々の集約処理後、集約元の2つの物理ブロックは空きブロック管理テーブル113において「使用中」から「空き」に更新され、集約先の物理ブロックは「空き」から「使用中」に更新される。また、論物変換テーブル112において、集約元の書込み完結ブロックの物理ブロックは集約先の物理ブロックに更新され、集約元の書込み途中ブロックは「未割当て」に更新される。また、集約処理による物理ブロックの割当ての変更を不揮発性メモリ120に記録するために、管理データ格納領域121に格納されているアドレス管理情報を更新する(S1209)。以降、次の書込み用物理ブロックの取得(S1202)から処理を繰り返す。
After each aggregation process, the two physical blocks of the aggregation source are updated from “in use” to “free” in the empty block management table 113, and the physical block of the aggregation destination is updated from “free” to “in use”. . Further, in the logical-physical conversion table 112, the physical block of the aggregation completion write completion block is updated to the aggregation destination physical block, and the aggregation source write intermediate block is updated to “unallocated”. Also, the address management information stored in the management
集約処理における書込み中に電源遮断が発生した場合には、次の初期化時のS1002の処理で管理データ格納領域121から読み出されるアドレス管理情報が集約処理前の状態のものになり、集約先の物理ブロックは「空き」となる。集約処理は有効データを複製する処理であるため、集約処理前の状態に戻っても書込み済みデータが破壊されることはない。
If a power interruption occurs during writing in the aggregation processing, the address management information read from the management
以上のように、本実施の形態ではアクセス装置101からの書込みデータを記録する場合に、「2値モード書込み」及び「集約処理」による2段階の書込みを行う。前者の書込みは常に書込み済みデータが未格納であるメモリセルに対して行われるため電源遮断で書込み済みデータが破壊されることはない。後者の書込みは不揮発性多値メモリ内の書込み済みデータを別の場所に複製する処理なので、不揮発性記憶装置100がアクセス装置101から取り外されるなどによって電源遮断が発生しても複製前の書込み済みデータを有効にすることで書込み済みデータが破壊されることはない。
As described above, in the present embodiment, when the write data from the
なお、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で実施変更することができる。以下のような場合も本発明に含まれる。
(1)実施の形態1において、図1に示す例では不揮発性記憶装置をアクセス装置から排出されるのを防ぐためにメモリカードロック手段104、すなわちメモリカードスロットに蓋をする機構を用いて説明を行ったが、不揮発性記憶装置に切り欠き等を設け、該切り欠きを用いてロックするなどの方法にも適用できる。
(2)図1に示す例では不揮発性記憶装置100としてメモリカードを例にあげたが、磁気ディスク装置、光磁気ディスク装置、ハードディスク装置等の不揮発性記憶装置においても適用できる。
(3)図3において、アクセス装置101の電源遮断対策に関する情報を格納するフラグを不揮発性メモリ制御部115内に備えた場合を用いて説明を行ったが、書き込みコマンドの前にアクセス装置101に電源遮断対策情報を取得しにいく場合においても適用できる。
It should be noted that implementation changes can be made without departing from the spirit of the present invention. The following cases are also included in the present invention.
(1) In the first embodiment, the example shown in FIG. 1 will be described using the memory card locking means 104, that is, a mechanism for covering the memory card slot in order to prevent the nonvolatile storage device from being ejected from the access device. However, the present invention can also be applied to a method in which a notch or the like is provided in the nonvolatile memory device and locking is performed using the notch.
(2) In the example shown in FIG. 1, a memory card is taken as an example of the
(3) In FIG. 3, the case where the nonvolatile
本発明にかかるメモリコントローラ、不揮発性記憶装置及び不揮発性記憶システムは、
不必要にデータ書き込み処理の速度を低下させることなく、簡単な構成で電源遮断対策ができるものであり、静止画記録再生装置や動画記録再生装置等のポータブルAV機器、あるいは携帯電話等のポータブル通信機器の記録媒体として広く利用可能である。
A memory controller, a nonvolatile storage device, and a nonvolatile storage system according to the present invention include:
It can take measures against power interruption with a simple configuration without unnecessarily reducing the speed of data writing processing. Portable AV equipment such as still image recording / playback devices and video recording / playback devices, or portable communications such as mobile phones It can be widely used as a recording medium for equipment.
100 不揮発性記憶装置
101 アクセス装置
102 メモリカードスロット
104 メモリカードロック手段
110 メモリコントローラ
111 ホストインターフェース部
112 論物変換テーブル
113 空きブロック管理テーブル
114 読出し/書込み制御部
115 不揮発性メモリ制御部
116 電源遮断対策情報フラグ
120 不揮発性メモリ
121 管理データ格納領域
122 データ格納領域
301 電源遮断対策情報入力手段
302 不揮発性メモリ制御選択手段
303 第1の不揮発性メモリ制御手段
304 第2の不揮発性メモリ制御手段
305 メモリカードロック指示手段
306 データ書き込み手段
DESCRIPTION OF
Claims (9)
該メモリコントローラと前記不揮発性メモリを含む不揮発性記憶装置のアクセス制御を行うアクセス装置が電源遮断対策のための機構を具備しているかどうかの情報を入力するための電源遮断対策情報入力手段を備えることを特徴とするメモリコントローラ。 A memory controller for writing data to a nonvolatile memory and reading data from the nonvolatile memory,
A power shutdown measure information input means for inputting information on whether or not an access device for controlling access to the nonvolatile storage device including the memory controller and the nonvolatile memory has a mechanism for power shutdown measures; A memory controller characterized by that.
前記電源遮断対策情報入力手段が設定した情報に基づき前記不揮発性メモリの制御方法を選択する不揮発性メモリ制御選択手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載のメモリコントローラ。 The memory controller is
2. The memory controller according to claim 1, further comprising nonvolatile memory control selection means for selecting a control method for the nonvolatile memory based on information set by the power shutdown countermeasure information input means.
電源遮断対策を実施しない第1の不揮発性メモリ制御手段と、電源遮断対策を実施する第2の不揮発性メモリ制御手段とをさらに備え、
前記不揮発性メモリ制御選択手段は、
前記電源遮断対策情報入力手段が設定した情報に基づき前記第1の不揮発性メモリ制御手段もしくは前記第2の不揮発性メモリ制御手段を選択することを特徴とする請求項2に記載のメモリコントローラ。 The memory controller is
A first non-volatile memory control means that does not implement power-off measures; and a second non-volatile memory control means that implements power-off measures;
The nonvolatile memory control selection means is
3. The memory controller according to claim 2, wherein the first nonvolatile memory control means or the second nonvolatile memory control means is selected based on information set by the power shutdown measure information input means.
前記アクセス装置は、電源遮断対策のための機構を具備するものであり、
前記不揮発性記憶装置は、
不揮発性メモリと、
前記不揮発性メモリへのデータの書き込み及び前記不揮発性メモリからのデータの読み出しを行い、アクセス装置が電源遮断対策のための機構を具備しているかどうかの情報を入力するための電源遮断対策情報入力手段を備えるメモリコントローラと、を具備することを特徴とする不揮発性記憶システム。 A nonvolatile storage system comprising a nonvolatile storage device and an access device that controls access to the nonvolatile storage device,
The access device comprises a mechanism for power shutdown measures,
The nonvolatile memory device is
Non-volatile memory;
Power shutdown countermeasure information input for writing data to the nonvolatile memory and reading data from the nonvolatile memory and inputting information on whether the access device has a mechanism for power shutdown countermeasures A non-volatile storage system comprising: a memory controller comprising: a memory controller;
前記電源遮断対策情報入力手段が設定した情報に基づき前記不揮発性メモリの制御方法を選択する不揮発性メモリ制御選択手段をさらに備えたことを特徴とする請求項5に記載の不揮発性記憶システム。 The memory controller is
6. The nonvolatile memory system according to claim 5, further comprising nonvolatile memory control selection means for selecting a control method of the nonvolatile memory based on information set by the power shutdown countermeasure information input means.
電源遮断対策を実施しない第1の不揮発性メモリ制御手段と、電源遮断対策を実施する第2の不揮発性メモリ制御手段とをさらに備え、
前記不揮発性メモリ制御選択手段は、
前記電源遮断対策情報入力手段が設定した情報に基づき前記第1の不揮発性メモリ制御手段もしくは前記第2の不揮発性メモリ制御手段を選択することを特徴とする請求項6に記載の不揮発性記憶システム。 The memory controller is
A first non-volatile memory control means that does not implement power-off measures; and a second non-volatile memory control means that implements power-off measures;
The nonvolatile memory control selection means is
7. The nonvolatile memory system according to claim 6, wherein the first nonvolatile memory control means or the second nonvolatile memory control means is selected based on information set by the power shutdown countermeasure information input means. .
前記不揮発性記憶装置を固定するメモリカードロック手段と、
メモリカードロック指示手段と、を備えたことを特徴とする請求項5〜7のいずれか1項に記載の不揮発性記憶装置システム。 The mechanism for the power shutdown measure is:
Memory card locking means for fixing the nonvolatile storage device;
The nonvolatile memory device system according to claim 5, further comprising a memory card lock instruction unit.
前記電源遮断対策情報入力手段にロックが有効であるもしくは無効であることを通知することを特徴とする請求項8に記載の不揮発性記憶装置。 The memory card lock instruction means
9. The non-volatile storage device according to claim 8, wherein the power shutdown measure information input means is notified that the lock is valid or invalid.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007011067A JP2008176677A (en) | 2007-01-22 | 2007-01-22 | Memory controller, nonvolatile storage device, and nonvolatile storage system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007011067A JP2008176677A (en) | 2007-01-22 | 2007-01-22 | Memory controller, nonvolatile storage device, and nonvolatile storage system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008176677A true JP2008176677A (en) | 2008-07-31 |
Family
ID=39703637
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007011067A Pending JP2008176677A (en) | 2007-01-22 | 2007-01-22 | Memory controller, nonvolatile storage device, and nonvolatile storage system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008176677A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101763309A (en) * | 2008-12-25 | 2010-06-30 | 索尼株式会社 | Nonvolatile storage device, information recording system, and information recording method |
JP2011210247A (en) * | 2010-03-12 | 2011-10-20 | Panasonic Corp | Nonvolatile storage device, access device and nonvolatile storage system |
CN103021460A (en) * | 2011-09-22 | 2013-04-03 | 爱思开海力士有限公司 | Setting data storage for semiconductor devices including memory devices and systems |
-
2007
- 2007-01-22 JP JP2007011067A patent/JP2008176677A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101763309A (en) * | 2008-12-25 | 2010-06-30 | 索尼株式会社 | Nonvolatile storage device, information recording system, and information recording method |
JP2011210247A (en) * | 2010-03-12 | 2011-10-20 | Panasonic Corp | Nonvolatile storage device, access device and nonvolatile storage system |
CN103021460A (en) * | 2011-09-22 | 2013-04-03 | 爱思开海力士有限公司 | Setting data storage for semiconductor devices including memory devices and systems |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4805696B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device and data recording method thereof | |
US8964468B2 (en) | Data storage system having multi-bit memory device and operating method thereof | |
JP4866117B2 (en) | Nonvolatile storage device, data writing method thereof, nonvolatile storage system, and memory controller | |
US8103820B2 (en) | Wear leveling method and controller using the same | |
JP5480913B2 (en) | Storage device and memory controller | |
US7649794B2 (en) | Wear leveling method and controller using the same | |
US9176861B2 (en) | System including data storage device, and data storage device including first and second memory regions | |
JPWO2007000862A1 (en) | MEMORY CONTROLLER, NONVOLATILE MEMORY DEVICE, NONVOLATILE MEMORY SYSTEM, AND DATA WRITE METHOD | |
JP2006338370A (en) | Memory system | |
JP2008033788A (en) | Nonvolatile storage device, data storage system, and data storage method | |
JP2008090519A (en) | Storage device | |
KR20090106614A (en) | Semiconductor memory device | |
US8352807B2 (en) | Semiconductor memory device, host device and semiconductor memory system | |
JP5592293B2 (en) | Nonvolatile storage device, access device, and nonvolatile storage system | |
JP5592478B2 (en) | Nonvolatile storage device and memory controller | |
JP2007241618A (en) | Nonvolatile storage device and its write determination method | |
US20090210612A1 (en) | Memory controller, nonvolatile memory device, and nonvolatile memory system | |
JP2009032305A (en) | Information recording device and control method therefor | |
JP2008176677A (en) | Memory controller, nonvolatile storage device, and nonvolatile storage system | |
JP2008003684A (en) | Nonvolatile storage device and system | |
JP2008020937A (en) | Nonvolatile storage device | |
JP4308780B2 (en) | Semiconductor memory device, memory controller, and data recording method | |
KR20110001098A (en) | Method of programming a non volatile memory device | |
US20130073796A1 (en) | Memory controller | |
JP2005267676A (en) | Nonvolatile storage device |