JP2008079909A - Ultrasonic probe and ultrasonic imaging apparatus - Google Patents

Ultrasonic probe and ultrasonic imaging apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2008079909A
JP2008079909A JP2006264559A JP2006264559A JP2008079909A JP 2008079909 A JP2008079909 A JP 2008079909A JP 2006264559 A JP2006264559 A JP 2006264559A JP 2006264559 A JP2006264559 A JP 2006264559A JP 2008079909 A JP2008079909 A JP 2008079909A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ultrasonic
substrate
ultrasonic probe
probe according
transducers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2006264559A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiaki Kuniyasu
利明 国安
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Corp
Original Assignee
Fujifilm Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujifilm Corp filed Critical Fujifilm Corp
Priority to JP2006264559A priority Critical patent/JP2008079909A/en
Publication of JP2008079909A publication Critical patent/JP2008079909A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
  • Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)
  • General Electrical Machinery Utilizing Piezoelectricity, Electrostriction Or Magnetostriction (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent damage of a circuit element while miniaturizing an ultrasonic probe and realizing high-density packaging of the circuit element. <P>SOLUTION: This ultrasonic probe is provided with an ultrasonic transducer array having a plurality of ultrasonic transducers transmitting ultrasonic waves according to the applied drive signal, receiving the ultrasonic waves and generating a receiving signal, and a substrate having a plurality of wiring patterns and packaged with an integrated circuit; and is characterized in that the substrate is formed with a recess part, the ultrasonic transducer array is disposed on a backing material, and the ultrasonic transducer array and the backing material are inserted into the recess part of the substrate. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、超音波を送信及び/又は受信する複数の超音波トランスデューサを含む超音波用探触子に関する。さらに、本発明は、そのような超音波用探触子と本体装置とによって構成される医療用や構造物探傷用の超音波撮像装置に関する。   The present invention relates to an ultrasonic probe including a plurality of ultrasonic transducers that transmit and / or receive ultrasonic waves. Furthermore, the present invention relates to an ultrasonic imaging apparatus for medical use or structural flaw detection, which includes such an ultrasonic probe and a main body apparatus.

従来、超音波を送受信することによって画像情報を得る超音波用探触子(プローブ)においては、PZT(チタン酸ジルコン酸鉛)等の圧電体を用いた複数の素子(超音波トランスデューサ)が1次元状に配列された1次元センサアレイを用いることが一般的であった。さらに、そのような1次元センサアレイを機械的に移動させることにより2次元画像を取得し、複数の2次元画像を合成することにより3次元画像を得ていた。   2. Description of the Related Art Conventionally, in an ultrasonic probe (probe) that obtains image information by transmitting and receiving ultrasonic waves, a plurality of elements (ultrasonic transducers) using a piezoelectric material such as PZT (lead zirconate titanate) are used. It is common to use a one-dimensional sensor array arranged in a dimension. Furthermore, a two-dimensional image is acquired by mechanically moving such a one-dimensional sensor array, and a three-dimensional image is obtained by combining a plurality of two-dimensional images.

しかしながら、この手法によれば、1次元センサアレイの移動方向にタイムラグがあるので、異なる時刻における断面像を合成することになり、合成画像がぼけたものとなってしまう。従って、超音波診断医療において超音波エコー観察を行う場合のように、生体を対象とする被写体には適していない。   However, according to this method, since there is a time lag in the moving direction of the one-dimensional sensor array, cross-sectional images at different times are synthesized, and the synthesized image becomes blurred. Therefore, it is not suitable for a subject that is intended for a living body as in the case of performing ultrasonic echo observation in ultrasonic diagnostic medicine.

そこで、近年、超音波を送受信する素子が2次元に配列された2次元センサアレイを用いて、超音波を電気的にステアリングさせると共に、深さ方向についてもダイナミックフォーカス等の手法を用いることにより、超音波画像の画質を向上させる試みが行われている。   Therefore, in recent years, by using a two-dimensional sensor array in which elements for transmitting and receiving ultrasonic waves are two-dimensionally arranged, the ultrasonic waves are electrically steered, and in the depth direction, a method such as dynamic focusing is used. Attempts have been made to improve the quality of ultrasound images.

2次元センサアレイを用いることにより、センサアレイを機械的に移動させることなく、高品位な3次元画像を得ることができる。そのような2次元センサアレイを有する超音波用探触子を実用化するためには、多数の素子を高集積化し、それらの素子と超音波撮像装置本体との間で信号を送受信することが必要である。   By using the two-dimensional sensor array, a high-quality three-dimensional image can be obtained without mechanically moving the sensor array. In order to put the ultrasonic probe having such a two-dimensional sensor array into practical use, a large number of elements must be highly integrated, and signals can be transmitted and received between the elements and the ultrasonic imaging apparatus body. is necessary.

また、医療分野においては、例えば、血管内に挿入されるカテーテル型の超音波用探触子も実現されており、動脈硬化等の診断に役立っている。このように患者の体内に挿入されて用いられるカテーテル型の超音波用探触子や超音波内視鏡においては、超音波用探触子の小型化が求められている。   In the medical field, for example, a catheter-type ultrasonic probe inserted into a blood vessel has been realized, which is useful for diagnosis of arteriosclerosis and the like. In the catheter-type ultrasonic probe and the ultrasonic endoscope that are used by being inserted into the body of the patient as described above, downsizing of the ultrasonic probe is required.

さらに、医療用の超音波用探触子においては、超音波用探触子の発熱に対する患者の安全性の確保や、発熱による性能劣化を防ぐために、温度センサやペルチェ素子等の温度調節回路を搭載することも検討されており、回路素子の高密度実装が求められている。そこで、超音波用探触子の小型化や回路素子の高密度実装を実現するために、様々な技術が開発されている。   Furthermore, in medical ultrasound probes, temperature control circuits such as temperature sensors and Peltier elements are used to ensure patient safety against the fever of the ultrasound probe and to prevent performance degradation due to fever. Mounting is also being studied, and high-density mounting of circuit elements is required. Therefore, various technologies have been developed in order to realize miniaturization of ultrasonic probes and high-density mounting of circuit elements.

関連する技術として、下記の特許文献1には、人体の冠状動脈に近似した寸法の小さい空洞部に挿入させるためのプローブ本体と、プローブ本体に搭載されたトランスデューサ要素の配列と、プローブ本体に搭載され、トランスデューサ要素の配列に近接している手段であって、トランスデューサ要素の配列からの電気的信号を受けて、イメージ化情報についての重大な損失をもたらすことなく、それらの電気的信号をケーブルにおける少なくとも1本のチャンネルに沿って伝送されるように変換する手段とを含み、超音波の反射の検出に応答して利用可能なイメージを生成するイメージ化装置が開示されている。このイメージ化装置によれば、カテーテル型のプローブとイメージ化装置本体とを接続するためのケーブルの本数を低減することができる。   As a related technique, the following Patent Document 1 discloses a probe body for insertion into a cavity having a small size approximate to a coronary artery of a human body, an array of transducer elements mounted on the probe body, and a probe body. Means in proximity to the array of transducer elements that receive the electrical signals from the array of transducer elements and route them in the cable without causing significant loss of imaging information. An imaging device is disclosed for generating an available image in response to detection of ultrasound reflections, and means for converting to be transmitted along at least one channel. According to this imaging apparatus, the number of cables for connecting the catheter-type probe and the imaging apparatus main body can be reduced.

しかしながら、特許文献1の図7に示されているように、トランスデューサ要素の配列と集積回路チップとが、プローブ本体の異なる位置に搭載されるので、超音波用探触子の小型化が十分に達成されているとは言い難い。   However, as shown in FIG. 7 of Patent Document 1, since the array of transducer elements and the integrated circuit chip are mounted at different positions on the probe body, the ultrasonic probe can be sufficiently miniaturized. It is hard to say that it has been achieved.

また、下記の特許文献2には、背面負荷材と複合圧電体と整合層とを備える超音波用探触子と、超音波用探触子と一体化されたシリコン基板と、シリコン基板上に載置された電気回路とを備えた電気回路一体型複合圧電体超音波用探触子が開示されている。特許文献2には、シリコン基板の一部にエッチング処理を施し、エッチングされたシリコン基板を型として圧電体を注型して焼成することによって微細な構造の超音波用探触子を作製した後に、シリコン基板の残りの表面に電気回路を形成することにより、電気回路一体型の超音波用探触子を製造できると記載されている。   Patent Document 2 below discloses an ultrasonic probe including a back load material, a composite piezoelectric body, and a matching layer, a silicon substrate integrated with the ultrasonic probe, and a silicon substrate on the silicon substrate. An electric circuit-integrated composite piezoelectric ultrasonic probe including an electric circuit mounted thereon is disclosed. In Patent Document 2, after a part of a silicon substrate is etched, a piezoelectric body is cast and fired using the etched silicon substrate as a mold, and an ultrasonic probe having a fine structure is manufactured. It is described that an electric circuit integrated ultrasonic probe can be manufactured by forming an electric circuit on the remaining surface of the silicon substrate.

しかしながら、圧電素子が形成されたシリコン基板に集積回路を形成する場合には、集積回路を形成する際の絶縁膜形成、ドーパント拡散、又は、電極の形成のために、約500℃以上の温度が必要とされる。そのため、圧電素子に用いられているエポキシ樹脂等が、その温度によって損傷してしまうという問題が考えられる。一方、集積回路が形成されたシリコン基板上に圧電素子を形成する場合には、圧電体粉を焼結するために、約1000℃の温度が必要とされる。そのため、集積回路を構成するトランジスタ等が、その温度によって損傷してしまうという問題が考えられる。   However, when an integrated circuit is formed on a silicon substrate on which a piezoelectric element is formed, a temperature of about 500 ° C. or more is required for forming an insulating film, dopant diffusion, or forming an electrode when forming the integrated circuit. Needed. Therefore, the problem that the epoxy resin etc. which are used for the piezoelectric element will be damaged by the temperature is considered. On the other hand, when a piezoelectric element is formed on a silicon substrate on which an integrated circuit is formed, a temperature of about 1000 ° C. is required to sinter the piezoelectric powder. For this reason, there is a problem that a transistor or the like constituting the integrated circuit is damaged by the temperature.

さらに、下記の特許文献3には、トランジスタ等が形成された半導体のウエハと、ウエハの基板側に露出されている埋込層に接続された一方の信号電極を有する圧電振動子と、マトリクスアレイトランスデューサのピッチに対応して作成された素子用ICと、素子用ICを駆動する制御回路及び加算回路とを具備する超音波用探触子が開示されている。特許文献3には、電子回路を形成したウエハを、導電接着剤を介して圧電振動子の信号電極上に貼り付けることにより、圧電振動子と電子回路とを1対1で対応させているので、配線の必要をなくすことができると記載されている。   Further, in Patent Document 3 below, a semiconductor wafer on which transistors and the like are formed, a piezoelectric vibrator having one signal electrode connected to a buried layer exposed on the substrate side of the wafer, and a matrix array An ultrasonic probe including an element IC created corresponding to the pitch of the transducer, a control circuit for driving the element IC, and an addition circuit is disclosed. In Patent Document 3, since a wafer on which an electronic circuit is formed is attached on a signal electrode of a piezoelectric vibrator via a conductive adhesive, the piezoelectric vibrator and the electronic circuit are made to correspond one-to-one. It is described that the need for wiring can be eliminated.

しかしながら、集積回路直下に圧電振動子が形成されるので、圧電振動子を駆動する際に、振動が集積回路に直接伝わり、その結果、集積回路が破損してしまうという問題が考えられる。従って、実用性及び信頼性が低いと考えられる。
特表平2−502078号公報(第1頁、図7) 特開2000−298119号公報(第2、4頁、図1) 特開平5−103397号公報(第2頁、図2)
However, since the piezoelectric vibrator is formed directly under the integrated circuit, when the piezoelectric vibrator is driven, the vibration is directly transmitted to the integrated circuit, and as a result, the integrated circuit may be damaged. Therefore, it is considered that practicality and reliability are low.
Japanese Patent Publication No. 2-502078 (first page, FIG. 7) JP 2000-298119 A (2nd, 4th page, FIG. 1) Japanese Patent Laid-Open No. 5-103397 (second page, FIG. 2)

そこで、上記の点に鑑み、本発明は、超音波用探触子の小型化や回路素子の高密度実装を実現しつつ、回路素子の破損を防止することを目的とする。   Therefore, in view of the above points, an object of the present invention is to prevent damage to circuit elements while realizing miniaturization of an ultrasonic probe and high-density mounting of circuit elements.

上記課題を解決するため、本発明の1つの観点に係る超音波用探触子は、印加される駆動信号に従って超音波を送信し、超音波を受信して受信信号を生成する複数の超音波トランスデューサを有する超音波トランスデューサアレイと、複数の配線パターンを有し集積回路が実装された基板とを具備する超音波用探触子において、基板に凹部が形成されており、超音波トランスデューサアレイが、バッキング材上に配置され、超音波トランスデューサアレイ及びバッキング材が、基板の凹部に挿入されていることを特徴とする。   In order to solve the above-described problem, an ultrasonic probe according to one aspect of the present invention transmits a plurality of ultrasonic waves that transmit an ultrasonic wave according to an applied drive signal and generate a reception signal by receiving the ultrasonic wave In an ultrasonic probe comprising an ultrasonic transducer array having a transducer and a substrate having a plurality of wiring patterns and on which an integrated circuit is mounted, a concave portion is formed on the substrate, and the ultrasonic transducer array is The ultrasonic transducer array and the backing material are disposed on the backing material, and are inserted into the recesses of the substrate.

本発明によれば、超音波トランスデューサアレイ及びバッキング材を、基板の凹部に挿入することにより、超音波用探触子の小型化や回路素子の高密度実装を実現しつつ、回路素子の破損を防止することができる。   According to the present invention, the ultrasonic transducer array and the backing material are inserted into the concave portion of the substrate, so that the ultrasonic probe can be miniaturized and the circuit elements can be mounted at a high density while the circuit elements are damaged. Can be prevented.

以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の構成要素には同一の参照番号を付して、説明を省略する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子の構成例を示す図である。この超音波用探触子1は、例えば、患者の体内に挿入されるカテーテル型の超音波用探触子であって、外部に設置された超音波撮像装置本体に複数のケーブルを介して接続される。図1に示すように、超音波撮像装置本体と超音波用探触子1との間で送受信される駆動信号及び受信信号は、同軸ケーブルを用いて伝送され、超音波撮像装置本体から超音波用探触子1に送信される制御信号は、単線ケーブルを用いて伝送される。
Hereinafter, the best mode for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, the same reference number is attached | subjected to the same component and description is abbreviate | omitted.
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of an ultrasonic probe according to the first embodiment of the present invention. The ultrasound probe 1 is, for example, a catheter-type ultrasound probe that is inserted into a patient's body, and is connected to an ultrasound imaging apparatus main body installed outside via a plurality of cables. Is done. As shown in FIG. 1, a drive signal and a reception signal transmitted and received between the ultrasonic imaging apparatus main body and the ultrasonic probe 1 are transmitted using a coaxial cable, and ultrasonic waves are transmitted from the ultrasonic imaging apparatus main body. The control signal transmitted to the probe 1 is transmitted using a single wire cable.

超音波用探触子1は、複数の入出力端子にそれぞれ接続された複数のインピーダンス整合回路2と、それらのインピーダンス整合回路2にそれぞれ接続された複数のマルチプレクサ(切換回路)3と、各々のマルチプレクサ3に接続されたそれぞれの組の振動子(超音波トランスデューサ)11とを含んでいる。   The ultrasonic probe 1 includes a plurality of impedance matching circuits 2 connected to a plurality of input / output terminals, a plurality of multiplexers (switching circuits) 3 connected to the impedance matching circuits 2, respectively, Each set of transducers (ultrasonic transducers) 11 connected to the multiplexer 3 is included.

超音波用探触子1に含まれている複数組の振動子11は、1次元又は2次元状に配列されて、超音波トランスデューサアレイを構成する。各々の振動子11は、超音波撮像装置本体から供給される駆動信号に基づいて超音波を発生し、被検体に向けて超音波を送信する。また、各々の振動子11は、被検体によって反射された超音波エコーを受信して、超音波撮像装置本体に受信信号を出力する。振動子11の詳細な構造については後述する。   A plurality of sets of transducers 11 included in the ultrasonic probe 1 are arranged one-dimensionally or two-dimensionally to constitute an ultrasonic transducer array. Each transducer 11 generates an ultrasonic wave based on a drive signal supplied from the ultrasonic imaging apparatus main body, and transmits the ultrasonic wave toward the subject. Each transducer 11 receives an ultrasonic echo reflected by the subject and outputs a reception signal to the ultrasonic imaging apparatus main body. The detailed structure of the vibrator 11 will be described later.

インピーダンス整合回路2は、例えば、図2A〜図2Dに示すように、インダクタンスと抵抗とコンデンサとの内の少なくとも1つで構成される回路であって、それぞれの信号経路において、同軸ケーブルの特性インピーダンスと振動子11のインピーダンスとを整合させることにより、信号の伝送効率を向上させることができる。なお、図1においては、インピーダンス整合回路2が、同軸ケーブルとマルチプレクサ3との間に接続されているが、インピーダンス整合回路2は、マルチプレクサ3と振動子11との間に接続されるようにしても良い。   2A to 2D, for example, the impedance matching circuit 2 is a circuit composed of at least one of an inductance, a resistance, and a capacitor, and in each signal path, the characteristic impedance of the coaxial cable. And the impedance of the vibrator 11 can be matched to improve the signal transmission efficiency. In FIG. 1, the impedance matching circuit 2 is connected between the coaxial cable and the multiplexer 3. However, the impedance matching circuit 2 is connected between the multiplexer 3 and the vibrator 11. Also good.

図2Aに示すインピーダンス整合回路においては、インダクタンスL及び抵抗Rが、マルチプレクサ3を介して振動子と並列に接続される。振動子の容量とインダクタンスLとの共振周波数においてこれらのインピーダンスが極大になるので、同軸ケーブルは抵抗Rによって終端されることになる。そこで、抵抗Rの値を同軸ケーブルの特性インピーダンスの値に近くしておけば、共振周波数においてインピーダンスマッチングを達成し、同軸ケーブルの端部における信号の反射を防止することができる。また、図2Bに示すインピーダンス整合回路は、図2Aに示すインピーダンス整合回路を簡略化したものであり、抵抗Rが、マルチプレクサ3を介して振動子と並列に接続される。   In the impedance matching circuit shown in FIG. 2A, an inductance L and a resistor R are connected in parallel with the vibrator via the multiplexer 3. Since these impedances become maximum at the resonance frequency of the capacitance and inductance L of the vibrator, the coaxial cable is terminated by the resistor R. Therefore, if the value of the resistance R is close to the value of the characteristic impedance of the coaxial cable, impedance matching can be achieved at the resonance frequency, and signal reflection at the end of the coaxial cable can be prevented. The impedance matching circuit shown in FIG. 2B is a simplified version of the impedance matching circuit shown in FIG. 2A, and a resistor R is connected in parallel with the vibrator via the multiplexer 3.

図2Cに示すインピーダンス整合回路においては、インダクタンスLとコンデンサCと抵抗Rとの直列回路が、マルチプレクサ3を介して振動子と並列に接続される。コンデンサCは、共振周波数を調整したり、超音波撮像装置本体の駆動回路から直流成分が印加される場合に、超音波用探触子1に直流成分を流さないために挿入される。   In the impedance matching circuit shown in FIG. 2C, a series circuit of an inductance L, a capacitor C, and a resistor R is connected in parallel with the vibrator via the multiplexer 3. The capacitor C is inserted in order to prevent the direct current component from flowing through the ultrasonic probe 1 when the resonance frequency is adjusted or when the direct current component is applied from the drive circuit of the ultrasonic imaging apparatus main body.

図2Dに示すインピーダンス整合回路においては、インダクタンスL1とインダクタンスL2との直列回路が、マルチプレクサ3を介して振動子と直列に接続され、インダクタンスL1とインダクタンスL2との接続点とアース端子との間に、コンデンサCが接続されている。以上の他にも、様々なインピーダンス整合回路を用いることが可能である。   In the impedance matching circuit shown in FIG. 2D, a series circuit of an inductance L1 and an inductance L2 is connected in series with the vibrator via the multiplexer 3, and between the connection point of the inductance L1 and the inductance L2 and the ground terminal. , Capacitor C is connected. In addition to the above, various impedance matching circuits can be used.

再び図1を参照すると、マルチプレクサ3は、超音波撮像装置本体から供給される制御信号に基づいて、1組(図1においては4個)の振動子の内から1つの振動子11を選択し、同軸ケーブルを介して超音波撮像装置本体に接続する。マルチプレクサ3を用いることにより、同軸ケーブルの本数を削減して、ケーブル全体の大型化を抑えることができる。ただし、1つのマルチプレクサ3に接続されている4個の振動子11は、同時に動作することができないので、超音波の送信パターンや受信パターンに基づいて、1つのマルチプレクサ3に接続される振動子11の数と配置が決定される。   Referring to FIG. 1 again, the multiplexer 3 selects one transducer 11 from one set (four in FIG. 1) based on the control signal supplied from the ultrasonic imaging apparatus main body. Then, it is connected to the ultrasonic imaging apparatus main body via a coaxial cable. By using the multiplexer 3, it is possible to reduce the number of coaxial cables and suppress the increase in size of the entire cable. However, since the four transducers 11 connected to one multiplexer 3 cannot operate simultaneously, the transducers 11 connected to one multiplexer 3 are based on an ultrasonic transmission pattern or reception pattern. The number and arrangement of are determined.

図3は、本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子の他の構成例を示す図である。
図3においては、図1に示す構成に対して、増幅回路(プリアンプ)4が追加されている。増幅回路4は、振動子11が超音波を受信して発生する受信信号を、マルチプレクサ3を介して入力し、これを増幅して受信信号用の同軸ケーブルに出力する。その際に、増幅回路4の出力インピーダンスを受信信号用の同軸ケーブルの特性インピーダンスに合わせておけば、同軸ケーブルとの間でインピーダンスマッチングを達成することができる。駆動信号用の同軸ケーブルは別途設けられており、駆動信号用の同軸ケーブルとマルチプレクサ3との間に、インピーダンス整合回路2が接続されている。
FIG. 3 is a diagram illustrating another configuration example of the ultrasonic probe according to the first embodiment of the present invention.
In FIG. 3, an amplifier circuit (preamplifier) 4 is added to the configuration shown in FIG. The amplifying circuit 4 receives a reception signal generated when the vibrator 11 receives ultrasonic waves via the multiplexer 3, amplifies the signal, and outputs the amplified signal to a coaxial cable for the reception signal. At that time, if the output impedance of the amplifier circuit 4 is matched with the characteristic impedance of the coaxial cable for received signals, impedance matching with the coaxial cable can be achieved. A drive signal coaxial cable is provided separately, and an impedance matching circuit 2 is connected between the drive signal coaxial cable and the multiplexer 3.

図4は、図1又は図3に示す超音波用探触子と超音波撮像装置本体とが接続された状態を示す図である。図4に示すように、超音波用探触子1は、複数のケーブル5を介して超音波撮像装置本体6に電気的に接続されている。それらのケーブル5は、超音波用探触子1と超音波撮像装置本体6との間で複数の駆動信号及び複数の受信信号を伝送する同軸ケーブルと、超音波撮像装置本体6から超音波用探触子1に送信される制御信号を伝送する単線ケーブルとを含んでおり、保護用のケーブルカバー5aで覆われている。   FIG. 4 is a diagram showing a state in which the ultrasonic probe shown in FIG. 1 or FIG. 3 is connected to the ultrasonic imaging apparatus main body. As shown in FIG. 4, the ultrasound probe 1 is electrically connected to the ultrasound imaging apparatus body 6 via a plurality of cables 5. These cables 5 include a coaxial cable that transmits a plurality of drive signals and a plurality of reception signals between the ultrasonic probe 1 and the ultrasonic imaging apparatus main body 6, and an ultrasonic wave from the ultrasonic imaging apparatus main body 6. And a single wire cable for transmitting a control signal transmitted to the probe 1 and covered with a protective cable cover 5a.

超音波撮像装置本体6は、駆動信号生成部61と、送受信切換部62と、受信信号処理部63と、画像生成部64と、表示部65と、制御部66とを含んでいる。駆動信号生成部61は、例えば、複数の駆動回路(パルサー等)を含み、複数の超音波トランスデューサをそれぞれ駆動するために用いられる複数の駆動信号を生成する。送受信切換部62は、超音波用探触子1への駆動信号の出力と、超音波用探触子1からの受信信号の入力とを切り換える。   The ultrasonic imaging apparatus main body 6 includes a drive signal generation unit 61, a transmission / reception switching unit 62, a reception signal processing unit 63, an image generation unit 64, a display unit 65, and a control unit 66. The drive signal generation unit 61 includes, for example, a plurality of drive circuits (such as a pulsar) and generates a plurality of drive signals used to drive the plurality of ultrasonic transducers. The transmission / reception switching unit 62 switches between the output of the drive signal to the ultrasonic probe 1 and the input of the reception signal from the ultrasonic probe 1.

受信信号処理部63は、例えば、複数のプリアンプと複数のA/D変換器とディジタル信号処理回路又はCPUとを含み、複数の超音波トランスデューサから出力される受信信号について、増幅、整相加算、検波等の所定の信号処理を施す。画像生成部64は、所定の信号処理が施された受信信号に基づいて、超音波画像を表す画像データを生成する。表示部65は、そのようにして生成された画像データに基づいて、超音波画像を表示する。以上において、制御部66は、システム全体の動作を制御すると共に、超音波用探触子1の動作を制御するための制御信号を生成して、制御信号を超音波用探触子1に送信する。   The reception signal processing unit 63 includes, for example, a plurality of preamplifiers, a plurality of A / D converters, and a digital signal processing circuit or CPU, and amplifies, phasing and adding the reception signals output from the plurality of ultrasonic transducers, Predetermined signal processing such as detection is performed. The image generation unit 64 generates image data representing an ultrasonic image based on a reception signal that has been subjected to predetermined signal processing. The display unit 65 displays an ultrasonic image based on the image data generated as described above. As described above, the control unit 66 controls the operation of the entire system, generates a control signal for controlling the operation of the ultrasonic probe 1, and transmits the control signal to the ultrasonic probe 1. To do.

図5は、本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子において用いられる超音波素子の内部構造を示す斜視図である。図5に示すように、超音波素子10は、複数の振動子11と、それらの振動子11と被検体との間で音響インピーダンスを整合させることにより超音波の伝播効率を高める音響整合層15と、それらの振動子11から発生する不要な超音波を減衰させるバッキング材16とを含んでいる。各々の振動子11は、圧電効果により伸縮して超音波を発生する圧電体12と、圧電体12の両端に形成された信号電極13及び共通電極14とによって構成される。一般に、共通電極14は接地電位に接続される。   FIG. 5 is a perspective view showing the internal structure of the ultrasonic element used in the ultrasonic probe according to the first embodiment of the present invention. As shown in FIG. 5, the ultrasonic element 10 includes a plurality of transducers 11 and an acoustic matching layer 15 that increases the propagation efficiency of ultrasonic waves by matching the acoustic impedance between the transducers 11 and the subject. And a backing material 16 for attenuating unnecessary ultrasonic waves generated from the vibrators 11. Each vibrator 11 includes a piezoelectric body 12 that generates an ultrasonic wave by expanding and contracting due to the piezoelectric effect, and a signal electrode 13 and a common electrode 14 formed at both ends of the piezoelectric body 12. In general, the common electrode 14 is connected to a ground potential.

この超音波素子10は、さらに、複数の振動子11の間における干渉を低減し、振動子11の横方向の振動を抑えて振動子11を縦方向のみに振動させるために、複数の振動子11の間に充填された充填材を含んでいても良い。また、音響整合層15の上に、超音波を集束させるための音響レンズを含んでいても良い。さらに、音響整合層15が、超音波の伝播効率を上げるために、多層構造となっていても良い。   The ultrasonic element 10 further reduces the interference between the plurality of transducers 11, suppresses the lateral vibration of the transducers 11, and causes the transducers 11 to vibrate only in the vertical direction. 11 may be included. Further, an acoustic lens for focusing the ultrasonic waves may be included on the acoustic matching layer 15. Furthermore, the acoustic matching layer 15 may have a multilayer structure in order to increase the propagation efficiency of ultrasonic waves.

圧電体12の材料としては、圧電セラミック又は高分子圧電材料が用いられる。特に、圧電セラミックは、電気/機械エネルギー変換能力が高いので、体内の深部まで到達可能な超音波を発生することができ、また、受信感度も高い。具体的な材料としては、PZT(チタン酸ジルコン酸鉛:Pb(Ti,Zr)O)や、同様のペロブスカイト系結晶構造を有する変成組成の材料や、一般にリラクサ系材料と呼ばれている材料等を用いることができる。 As the material of the piezoelectric body 12, a piezoelectric ceramic or a polymer piezoelectric material is used. In particular, since the piezoelectric ceramic has a high electric / mechanical energy conversion capability, it can generate an ultrasonic wave that can reach a deep part of the body and has high reception sensitivity. Specific materials include PZT (lead zirconate titanate: Pb (Ti, Zr) O 3 ), a metamorphic material having a similar perovskite crystal structure, and a material generally called a relaxor material. Etc. can be used.

音響整合層15の材料としては、例えば、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、シリコン、アクリル樹脂等の有機材料に、高い音響インピーダンスを有する材料粉末(タングステン、フェライト粉等)を混ぜ合わせた材料が用いられる。また、バッキング材16の材料としては、音響減衰の大きいエポキシ樹脂やゴム等が用いられる。   As a material of the acoustic matching layer 15, for example, a material obtained by mixing a material powder (tungsten, ferrite powder, etc.) having high acoustic impedance with an organic material such as epoxy resin, urethane resin, silicon, and acrylic resin is used. Further, as the material of the backing material 16, an epoxy resin, rubber, or the like having a large acoustic attenuation is used.

図6は、本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子の内部構造を示す斜視図である。本実施形態に係る超音波用探触子においては、超音波素子10及び集積回路20が、ガラスエポキシ樹脂、セラミック、又は、シリコンを含む材料で形成された基板40上に実装されている。基板40には、少なくとも1層の配線層が設けられており、配線パターンと、部品取付け用のランド(基板電極)とが形成されている。   FIG. 6 is a perspective view showing the internal structure of the ultrasonic probe according to the first embodiment of the present invention. In the ultrasonic probe according to the present embodiment, the ultrasonic element 10 and the integrated circuit 20 are mounted on a substrate 40 formed of a material containing glass epoxy resin, ceramic, or silicon. The substrate 40 is provided with at least one wiring layer, and a wiring pattern and a land (substrate electrode) for mounting components are formed.

集積回路20は、ICチップとして形成されても良いし、ICチップ及びチップ部品をセラミック等の基板に搭載したハイブリッドICとして形成されても良い。集積回路20には、必要に応じて、図1〜図3に示すインピーダンス整合回路2、マルチプレクサ3、及び、増幅回路4の内の少なくとも1つが内蔵される。なお、集積回路20は、基板40の側面又は内部に実装されるようにしても良い。   The integrated circuit 20 may be formed as an IC chip, or may be formed as a hybrid IC in which an IC chip and a chip component are mounted on a substrate such as ceramic. The integrated circuit 20 incorporates at least one of the impedance matching circuit 2, the multiplexer 3 and the amplifier circuit 4 shown in FIGS. The integrated circuit 20 may be mounted on the side surface or inside of the substrate 40.

本実施形態においては、信号電極13及び共通電極14と基板40との間が、フレキシブル基板31及び32によってそれぞれ接続されており、集積回路20から信号電極13及び共通電極14に駆動信号を出力し、信号電極13及び共通電極14から集積回路20に受信信号を出力することができる。さらに、フレキシブル基板33を介して、集積回路20と超音波撮像装置本体との間の通信が行われる。   In the present embodiment, the signal electrode 13 and the common electrode 14 and the substrate 40 are connected by the flexible substrates 31 and 32, respectively, and drive signals are output from the integrated circuit 20 to the signal electrode 13 and the common electrode 14. The reception signal can be output from the signal electrode 13 and the common electrode 14 to the integrated circuit 20. Further, communication between the integrated circuit 20 and the ultrasonic imaging apparatus main body is performed via the flexible substrate 33.

フレキシブル基板31〜33のランド(基板電極)及び集積回路20の端子は、導電ペースト(例えば、銀ペースト)や半田のような機能性接合材料を用いて、基板40上のランドに接合される。その際の接合温度は200℃程度であるので、超音波素子10及び集積回路20の温度による損傷は問題とならない。なお、フレキシブル基板31及び32の替わりに、ワイヤボンディングによって信号電極13及び共通電極14と基板40との間を接続しても良い。   The lands (substrate electrodes) of the flexible substrates 31 to 33 and the terminals of the integrated circuit 20 are bonded to the lands on the substrate 40 using a functional bonding material such as a conductive paste (for example, silver paste) or solder. Since the bonding temperature at that time is about 200 ° C., damage due to the temperature of the ultrasonic element 10 and the integrated circuit 20 does not pose a problem. Instead of the flexible substrates 31 and 32, the signal electrode 13, the common electrode 14, and the substrate 40 may be connected by wire bonding.

このように、超音波素子10と集積回路20とを別々に作製して基板40に実装することによって、振動子及びICチップを作製する際に必要となる温度に関する問題を回避することができる。また、ICチップの直上又は直下に振動子が形成される構造とした場合には、振動子が超音波を送信する際の振動がICチップに直接伝わるので、ICチップが破損してしまうおそれがある。しかしながら、本実施形態においては、超音波素子10と集積回路20との間に基板40が介在し、さらに、振動子11と基板40との間にバッキング材16が介在するので(図5参照)、集積回路20が破損することはない。   As described above, by separately manufacturing the ultrasonic element 10 and the integrated circuit 20 and mounting them on the substrate 40, it is possible to avoid problems related to the temperature required when manufacturing the vibrator and the IC chip. Further, in the case where the vibrator is formed directly above or below the IC chip, the vibration when the vibrator transmits ultrasonic waves is directly transmitted to the IC chip, so that the IC chip may be damaged. is there. However, in the present embodiment, the substrate 40 is interposed between the ultrasonic element 10 and the integrated circuit 20, and further, the backing material 16 is interposed between the vibrator 11 and the substrate 40 (see FIG. 5). The integrated circuit 20 is not damaged.

図7Aは、本発明の第2の実施形態に係る超音波用探触子の内部構造を示す斜視図であり、図7Bは、本発明の第2の実施形態に係る超音波用探触子の断面図である。
第2の実施形態においては、超音波素子10の主面(前面)の面積よりもやや大きい面積を有する凹部40aが、基板40に形成されている。その凹部40aに、超音波素子10が挿入されており、基板40の上面とほぼ等しい高さに共通電極14が位置するようになっている。
FIG. 7A is a perspective view showing an internal structure of an ultrasonic probe according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 7B is an ultrasonic probe according to the second embodiment of the present invention. FIG.
In the second embodiment, a recess 40 a having an area slightly larger than the area of the main surface (front surface) of the ultrasonic element 10 is formed in the substrate 40. The ultrasonic element 10 is inserted into the recess 40 a, and the common electrode 14 is positioned at a height substantially equal to the upper surface of the substrate 40.

超音波素子10の信号電極13は、フレキシブル基板31を介して、基板40上に形成されたランド(基板端子)41に接続されている。また、超音波素子10の共通電極14は、1箇所又は複数箇所において、基板40上に形成されたアースライン42に、リード線34を用いてワイヤボンディングにより接続されている。なお、フレキシブル基板31の替わりに、ワイヤボンディングによって信号電極13と基板40との間を接続しても良い。その他の点に関しては、図6に示す第1の実施形態と同様である。   The signal electrode 13 of the ultrasonic element 10 is connected to a land (substrate terminal) 41 formed on the substrate 40 via the flexible substrate 31. Further, the common electrode 14 of the ultrasonic element 10 is connected to an earth line 42 formed on the substrate 40 by wire bonding using a lead wire 34 at one place or a plurality of places. Instead of the flexible substrate 31, the signal electrode 13 and the substrate 40 may be connected by wire bonding. Other points are the same as those of the first embodiment shown in FIG.

第2の実施形態においては、基板40に形成された凹部40aに超音波素子10を挿入することにより、超音波用探触子の主面をほぼ同一平面とすることができ、超音波用探触子をより小型化することができる。また、超音波素子10を凹部40aに挿入すると、共通電極14の位置と基板40上に形成されたアースライン42の位置とが整合するので、共通電極14とアースライン42との接続が容易である。さらに、超音波素子10と基板40との接合強度を高めることができるので、超音波用探触子に機械的な衝撃が加わっても、超音波素子10と基板40とが離れ難くなる。   In the second embodiment, by inserting the ultrasonic element 10 into the recess 40a formed in the substrate 40, the main surface of the ultrasonic probe can be made substantially flush with the ultrasonic probe. The size of the touch element can be further reduced. Further, when the ultrasonic element 10 is inserted into the recess 40a, the position of the common electrode 14 and the position of the earth line 42 formed on the substrate 40 are aligned, so that the connection between the common electrode 14 and the earth line 42 is easy. is there. Furthermore, since the bonding strength between the ultrasonic element 10 and the substrate 40 can be increased, the ultrasonic element 10 and the substrate 40 are hardly separated even when a mechanical impact is applied to the ultrasonic probe.

本実施形態においても、超音波素子10のバッキング材16が、不要な超音波を減衰させているので、振動子11から発生した振動により集積回路20が損傷することはない。また、基板40の材料としてエポキシ樹脂が用いられる場合には、振動の問題をより効果的に解決することができる。   Also in the present embodiment, since the backing material 16 of the ultrasonic element 10 attenuates unnecessary ultrasonic waves, the integrated circuit 20 is not damaged by vibration generated from the vibrator 11. Moreover, when an epoxy resin is used as the material of the substrate 40, the problem of vibration can be solved more effectively.

図8Aは、本発明の第3の実施形態に係る超音波用探触子の内部構造を示す斜視図であり、図8Bは、本発明の第3の実施形態に係る超音波用探触子の断面図である。
第3の実施形態においては、基板40として、複数の配線層を有する多層基板が用いられる。図8Bにおいては、第1の配線層43と第2の配線層45とが示されており、第1の配線層43の配線パターンは、スルーホール44を介して、第2の配線層45の配線パターンに接続される。
FIG. 8A is a perspective view showing an internal structure of an ultrasonic probe according to the third embodiment of the present invention, and FIG. 8B is an ultrasonic probe according to the third embodiment of the present invention. FIG.
In the third embodiment, a multilayer substrate having a plurality of wiring layers is used as the substrate 40. In FIG. 8B, a first wiring layer 43 and a second wiring layer 45 are shown. The wiring pattern of the first wiring layer 43 is connected to the second wiring layer 45 through the through hole 44. Connected to the wiring pattern.

超音波素子10において、信号電極13は、バッキング材16の側面等に形成された配線パターンを介して、バッキング材16の裏面に形成された電極端子17に接続されている。電極端子17は、導電ペーストや半田等の機能性接合材料を用いて、第1の配線層43に形成されたランド(基板端子)に接合され、さらに、スルーホール44及び第2の配線層45の配線パターンを介して、集積回路20に接続されている。また、超音波素子10の共通電極14と、基板40上に形成されたアースライン42とは、1箇所又は複数箇所において、リード線34を用いてワイヤボンディングにより接続されている。その他の点に関しては、図7A及び図7Bに示す第2の実施形態と同様である。   In the ultrasonic element 10, the signal electrode 13 is connected to an electrode terminal 17 formed on the back surface of the backing material 16 through a wiring pattern formed on the side surface or the like of the backing material 16. The electrode terminal 17 is bonded to a land (substrate terminal) formed in the first wiring layer 43 by using a functional bonding material such as conductive paste or solder, and further, the through hole 44 and the second wiring layer 45. The wiring pattern is connected to the integrated circuit 20. Further, the common electrode 14 of the ultrasonic element 10 and the earth line 42 formed on the substrate 40 are connected by wire bonding using a lead wire 34 at one place or a plurality of places. Other points are the same as those of the second embodiment shown in FIGS. 7A and 7B.

第3の実施形態においては、第2の実施形態について説明した特徴に加えて、超音波素子10の底面に形成された電極端子17が、基板40に形成された第1の配線層43、スルーホール44、及び、第2の配線層45を介して、集積回路20に接続されるので、配線が容易であり、かつ、基板40の表面上におけるICチップ等の回路部品の実装面積をより広く確保することができる。また、超音波素子10を基板40の凹部40aに挿入すると、超音波素子10の電極端子17と基板40のランドとが自然に整合するので、これらの間の位置ずれが起こり難い。   In the third embodiment, in addition to the features described in the second embodiment, the electrode terminal 17 formed on the bottom surface of the ultrasonic element 10 includes the first wiring layer 43 formed on the substrate 40, the through Since it is connected to the integrated circuit 20 through the hole 44 and the second wiring layer 45, wiring is easy and the mounting area of circuit components such as an IC chip on the surface of the substrate 40 is increased. Can be secured. Further, when the ultrasonic element 10 is inserted into the concave portion 40a of the substrate 40, the electrode terminal 17 of the ultrasonic element 10 and the land of the substrate 40 naturally align with each other, so that a positional shift between these hardly occurs.

図9は、本発明の第4の実施形態に係る超音波用探触子の内部構造を示す斜視図である。
第4の実施形態においては、複数の超音波素子10と複数の集積回路20とが、基板40に実装されている。複数の超音波素子10は、同一構造であっても良いし、異なる構造であっても良い。その他の点に関しては、図8A及び図8Bに示す第3の実施形態と同様である。このように、複数の超音波素子10を基板40に実装することにより、多数の振動子を有する超音波用探触子を実現することができる。なお、図7A及び図7Bに示す第2の実施形態と同様に、複数の超音波素子10と基板40とが、フレキシブル基板31を用いて接合されるようにしても良い。
FIG. 9 is a perspective view showing the internal structure of an ultrasonic probe according to the fourth embodiment of the present invention.
In the fourth embodiment, a plurality of ultrasonic elements 10 and a plurality of integrated circuits 20 are mounted on a substrate 40. The plurality of ultrasonic elements 10 may have the same structure or different structures. Other points are the same as those of the third embodiment shown in FIGS. 8A and 8B. As described above, by mounting a plurality of ultrasonic elements 10 on the substrate 40, an ultrasonic probe having a large number of transducers can be realized. Note that, similarly to the second embodiment shown in FIGS. 7A and 7B, the plurality of ultrasonic elements 10 and the substrate 40 may be bonded using the flexible substrate 31.

図10は、本発明の第5の実施形態に係る超音波用探触子の内部構造を示す斜視図である。
第5の実施形態においては、複数の超音波素子10と複数の集積回路20とが実装された基板40が、2つ組み合わされて立体構造を形成している。これらの基板40同士は、例えば、接着剤によって接合されている。その他の点に関しては、図9に示す第4の実施形態と同様である。
FIG. 10 is a perspective view showing the internal structure of an ultrasonic probe according to the fifth embodiment of the present invention.
In the fifth embodiment, two substrates 40 on which a plurality of ultrasonic elements 10 and a plurality of integrated circuits 20 are mounted are combined to form a three-dimensional structure. These substrates 40 are bonded together by, for example, an adhesive. Other points are the same as those of the fourth embodiment shown in FIG.

図11は、本発明の第6の実施形態に係る超音波用探触子の側面図である。
第6の実施形態においては、基板40の両面に凹部40aが形成され、それらの凹部40a内に、複数の超音波素子10及び複数の集積回路20が実装されている。さらに、一部の集積回路20は、基板40の内部に実装されている。超音波素子10と基板40との接続の態様は、図8A及び図8Bに示す第3の実施形態と同様であるが、図7A及び図7Bに示す第2の実施形態のように、フレキシブル基板31とリード線34とによって超音波素子10と基板40とを接続しても良い。
FIG. 11 is a side view of an ultrasonic probe according to the sixth embodiment of the present invention.
In the sixth embodiment, recesses 40a are formed on both surfaces of the substrate 40, and a plurality of ultrasonic elements 10 and a plurality of integrated circuits 20 are mounted in these recesses 40a. Further, some integrated circuits 20 are mounted inside the substrate 40. The mode of connection between the ultrasonic element 10 and the substrate 40 is the same as that of the third embodiment shown in FIGS. 8A and 8B, but a flexible substrate as in the second embodiment shown in FIGS. 7A and 7B. The ultrasonic element 10 and the substrate 40 may be connected by 31 and the lead wire 34.

図12は、本発明の第7の実施形態に係る超音波用探触子の側面図である。
第7の実施形態においては、基板40の断面が5角形以上の多角形となっており、基板40が7面体以上の多面体となっている。図12には、8面体の基板40が示されているが、その内の3つの面において凹部40aが形成されている。あるいは、基板40が曲面を有し、曲面において凹部40aが形成されても良い。これにより、基板40の複数の平面又は1つの曲面に取り付けられた複数の超音波素子10の間で、複数の振動子の主面が互いに異なる角度を有するようになる。このような構造は、超音波を広い角度範囲に渡って送受信するために適している。超音波素子10と基板40との接続の態様は、図8A及び図8Bに示す第3の実施形態と同様であるが、図7A及び図7Bに示す第2の実施形態のように、フレキシブル基板31とリード線34とによって超音波素子10と基板40とを接続しても良い。
FIG. 12 is a side view of an ultrasonic probe according to the seventh embodiment of the present invention.
In the seventh embodiment, the cross section of the substrate 40 is a pentagon or more polygon, and the substrate 40 is a polyhedron of a heptahedron or more. FIG. 12 shows an octahedral substrate 40, in which three concave portions 40a are formed. Or the board | substrate 40 may have a curved surface and the recessed part 40a may be formed in a curved surface. Accordingly, the main surfaces of the plurality of transducers have different angles between the plurality of ultrasonic elements 10 attached to the plurality of planes or one curved surface of the substrate 40. Such a structure is suitable for transmitting and receiving ultrasonic waves over a wide angular range. The mode of connection between the ultrasonic element 10 and the substrate 40 is the same as that of the third embodiment shown in FIGS. 8A and 8B, but a flexible substrate as in the second embodiment shown in FIGS. 7A and 7B. The ultrasonic element 10 and the substrate 40 may be connected by 31 and the lead wire 34.

さらに、図10〜図12に示す第5〜第7の実施形態を組み合わせても良い。第5〜第7の実施形態を組み合わせることによって、超音波用探触子の形状の自由度を広げることができ、超音波用探触子が用いられる様々な診断箇所に適応した形状を実現することができる。   Furthermore, the fifth to seventh embodiments shown in FIGS. 10 to 12 may be combined. By combining the fifth to seventh embodiments, the degree of freedom of the shape of the ultrasonic probe can be expanded, and a shape suitable for various diagnostic locations where the ultrasonic probe is used is realized. be able to.

図13は、本発明の第8の実施形態に係る超音波用探触子の側面図である。
第8の実施形態においては、複数の凹部40a〜40cが基板40の表面及び裏面に形成されており、凹部40aに超音波素子10が挿入され、凹部40bに温度センサ21が挿入され、凹部40cに温度調節素子22が挿入されている。温度センサ21及び温度調節素子22の底面には、複数の電極端子が形成されており、導電ペースト又は半田等の機能性接合材料を用いて、それらの電極端子が基板40のランドに接合されている。また、温度センサ21の周辺回路を集積化したICチップ23が、基板40の裏面(側面又は内部でも良い)に実装されている。
FIG. 13 is a side view of an ultrasonic probe according to the eighth embodiment of the present invention.
In the eighth embodiment, a plurality of recesses 40a to 40c are formed on the front and back surfaces of the substrate 40, the ultrasonic element 10 is inserted into the recess 40a, the temperature sensor 21 is inserted into the recess 40b, and the recess 40c. The temperature control element 22 is inserted into the. A plurality of electrode terminals are formed on the bottom surfaces of the temperature sensor 21 and the temperature control element 22, and these electrode terminals are bonded to the land of the substrate 40 using a functional bonding material such as conductive paste or solder. Yes. Further, an IC chip 23 in which peripheral circuits of the temperature sensor 21 are integrated is mounted on the back surface (which may be a side surface or inside) of the substrate 40.

人体に使用される超音波用探触子においては、超音波用探触子の発熱による患者の安全性を考慮して、超音波用探触子に温度センサ等が搭載される場合がある。また、超音波用探触子の発熱を抑えるために、超音波用探触子に温度調節素子が搭載される場合もある。本実施形態においては、温度センサ21及び温度調節素子22が超音波用探触子内に設けられているが、温度センサ21と温度調節素子22との内の一方を設けるようにしても良い。   In an ultrasonic probe used for a human body, a temperature sensor or the like may be mounted on the ultrasonic probe in consideration of patient safety due to heat generated by the ultrasonic probe. In addition, in order to suppress the heat generation of the ultrasonic probe, a temperature control element may be mounted on the ultrasonic probe. In the present embodiment, the temperature sensor 21 and the temperature adjustment element 22 are provided in the ultrasonic probe, but one of the temperature sensor 21 and the temperature adjustment element 22 may be provided.

温度センサ21は、超音波用探触子の内部温度を感知し、ICチップ23に温度情報を出力する。ICチップ23内の回路は、入力された温度情報を、図4に示す超音波撮像装置本体6に送信し、超音波撮像装置本体6に設けられている制御部66が、超音波用探触子の送信動作を制限して発熱を抑えたり、超音波用探触子を冷却するように温度調節素子22を動作させることにより、患者の安全性を確保することができる。温度調節素子22としては、例えば、ヒータやペルチェ素子が用いられる。また、そのような温度調節素子22と温度センサ21とが連携動作をする場合もある。   The temperature sensor 21 senses the internal temperature of the ultrasonic probe and outputs temperature information to the IC chip 23. The circuit in the IC chip 23 transmits the input temperature information to the ultrasonic imaging apparatus main body 6 shown in FIG. 4, and the control unit 66 provided in the ultrasonic imaging apparatus main body 6 performs the ultrasonic probe. The patient's safety can be ensured by restricting the child transmission operation to suppress heat generation and operating the temperature control element 22 to cool the ultrasonic probe. As the temperature adjustment element 22, for example, a heater or a Peltier element is used. In addition, there is a case where such a temperature adjusting element 22 and the temperature sensor 21 perform a cooperative operation.

本実施形態によれば、基板40に形成された凹部40a〜40cに、超音波素子10、温度センサ21、及び、温度調節素子22を挿入して実装することにより、それらの部品の高さが基板40の表面又は裏面とほぼ同一位置になるので、超音波用探触子を小型化することができる。なお、温度センサに限らず、超音波用探触子の用途に応じて、例えば、CCD(Charge Coupled Device:電荷結合素子)センサ、サーモセンサ、焦電センサ、OCT(Optical Coherence Tomography:光コヒーレンス・トモグラフィ)センサ等を設けるようにしても良い。   According to the present embodiment, the ultrasonic element 10, the temperature sensor 21, and the temperature adjustment element 22 are inserted and mounted in the recesses 40a to 40c formed in the substrate 40, so that the heights of these components are increased. Since the position is substantially the same as the front surface or the back surface of the substrate 40, the ultrasonic probe can be reduced in size. In addition to the temperature sensor, depending on the use of the ultrasonic probe, for example, a CCD (Charge Coupled Device) sensor, a thermo sensor, a pyroelectric sensor, an OCT (Optical Coherence Tomography) A tomography) sensor or the like may be provided.

本発明は、超音波を送信及び/又は受信する複数の超音波トランスデューサを含む超音波用探触子、及び、そのような超音波用探触子と本体装置とによって構成される医療用や構造物探傷用の超音波撮像装置において利用することが可能である。   The present invention relates to an ultrasonic probe including a plurality of ultrasonic transducers that transmit and / or receive ultrasonic waves, and a medical device or a structure including such an ultrasonic probe and a main body device. It can be used in an ultrasonic imaging apparatus for object flaw detection.

本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子の構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the probe for ultrasonic waves which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子におけるインピーダンス整合回路の第1の構成例を示す図である。It is a figure which shows the 1st structural example of the impedance matching circuit in the probe for ultrasonic waves which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子におけるインピーダンス整合回路の第2の構成例を示す図である。It is a figure which shows the 2nd structural example of the impedance matching circuit in the probe for ultrasonic waves which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子におけるインピーダンス整合回路の第3の構成例を示す図である。It is a figure which shows the 3rd structural example of the impedance matching circuit in the probe for ultrasonic waves which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子におけるインピーダンス整合回路の第4の構成例を示す図である。It is a figure which shows the 4th structural example of the impedance matching circuit in the probe for ultrasonic waves which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子の他の構成例を示す図である。It is a figure which shows the other structural example of the probe for ultrasonic waves which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 図1又は図3に示す超音波用探触子と超音波撮像装置本体とが接続された状態を示す図である。It is a figure which shows the state by which the probe for ultrasonic waves shown in FIG. 1 or FIG. 3 and the ultrasonic imaging device main body were connected. 本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子において用いられる超音波素子の内部構造を示す斜視図である。1 is a perspective view showing an internal structure of an ultrasonic element used in an ultrasonic probe according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第1の実施形態に係る超音波用探触子の内部構造を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the internal structure of the probe for ultrasonic waves which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る超音波用探触子の内部構造を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the internal structure of the probe for ultrasonic waves which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る超音波用探触子の断面図である。It is sectional drawing of the probe for ultrasonic waves which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施形態に係る超音波用探触子の内部構造を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the internal structure of the probe for ultrasonic waves which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施形態に係る超音波用探触子の断面図である。It is sectional drawing of the probe for ultrasonic waves which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施形態に係る超音波用探触子の内部構造を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the internal structure of the probe for ultrasonic waves which concerns on the 4th Embodiment of this invention. 本発明の第5の実施形態に係る超音波用探触子の内部構造を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the internal structure of the probe for ultrasonic waves which concerns on the 5th Embodiment of this invention. 本発明の第6の実施形態に係る超音波用探触子の側面図である。It is a side view of the probe for ultrasonic waves concerning the 6th Embodiment of this invention. 本発明の第7の実施形態に係る超音波用探触子の側面図である。It is a side view of the ultrasonic probe which concerns on the 7th Embodiment of this invention. 本発明の第8の実施形態に係る超音波用探触子の側面図である。It is a side view of the probe for ultrasonic waves concerning the 8th Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 超音波用探触子
2 インピーダンス整合回路
3 マルチプレクサ
4 増幅回路
5 ケーブル
5a ケーブルカバー
6 超音波撮像装置本体
10 超音波素子
11 振動子
12 圧電体
13 信号電極
14 共通電極
15 音響整合層
16 バッキング材
17 電極端子
21 温度センサ
22 温度調節素子
23 ICチップ
31〜33 フレキシブル基板
34 リード線
40 基板
40a〜40c 凹部
41 基板端子
42 アースライン
43 第1の配線層
44 スルーホール
45 第2の配線層
61 駆動信号生成部
62 送受信切換部
63 受信信号処理部
64 画像生成部
65 表示部
66 制御部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Ultrasonic probe 2 Impedance matching circuit 3 Multiplexer 4 Amplifying circuit 5 Cable 5a Cable cover 6 Ultrasonic imaging device main body 10 Ultrasonic element 11 Vibrator 12 Piezoelectric body 13 Signal electrode 14 Common electrode 15 Acoustic matching layer 16 Backing material DESCRIPTION OF SYMBOLS 17 Electrode terminal 21 Temperature sensor 22 Temperature control element 23 IC chip 31-33 Flexible substrate 34 Lead wire 40 Substrate 40a-40c Recess 41 Substrate terminal 42 Ground line 43 First wiring layer 44 Through hole 45 Second wiring layer 61 Drive Signal generation unit 62 Transmission / reception switching unit 63 Reception signal processing unit 64 Image generation unit 65 Display unit 66 Control unit

Claims (11)

印加される駆動信号に従って超音波を送信し、超音波を受信して受信信号を生成する複数の超音波トランスデューサを有する超音波トランスデューサアレイと、複数の配線パターンを有し集積回路が実装された基板とを具備する超音波用探触子において、
前記基板に凹部が形成されており、
前記超音波トランスデューサアレイが、バッキング材上に配置され、前記超音波トランスデューサアレイ及び前記バッキング材が、前記基板の凹部に挿入されていることを特徴とする超音波用探触子。
An ultrasonic transducer array having a plurality of ultrasonic transducers that transmit ultrasonic waves according to an applied drive signal, receive ultrasonic waves, and generate reception signals, and a substrate on which an integrated circuit is mounted having a plurality of wiring patterns In an ultrasonic probe comprising:
A recess is formed in the substrate,
The ultrasonic probe, wherein the ultrasonic transducer array is disposed on a backing material, and the ultrasonic transducer array and the backing material are inserted into a recess of the substrate.
前記バッキング材が、複数の駆動信号を前記複数の超音波トランスデューサに入力すると共に前記複数の超音波トランスデューサから複数の受信信号を出力するための複数の端子を1つの面に有し、
前記基板が、前記凹部の底面において前記バッキング材の複数の端子に接続される第1群のランドと、前記基板の表面において前記集積回路及び/又はフレキシブル基板に接続される第2群のランドとをさらに有する、請求項1記載の超音波用探触子。
The backing material has a plurality of terminals on one surface for inputting a plurality of drive signals to the plurality of ultrasonic transducers and outputting a plurality of reception signals from the plurality of ultrasonic transducers,
A first group of lands connected to the plurality of terminals of the backing material on the bottom surface of the recess; and a second group of lands connected to the integrated circuit and / or a flexible substrate on the surface of the substrate. The ultrasonic probe according to claim 1, further comprising:
前記集積回路が、外部から供給される駆動信号を前記複数の超音波トランスデューサの内から選択された一群の超音波トランスデューサに供給し、前記複数の超音波トランスデューサの内から選択された一群の超音波トランスデューサから出力される受信信号を外部に出力する切換回路を含む、請求項1又は2記載の超音波用探触子。   The integrated circuit supplies an externally supplied drive signal to a group of ultrasonic transducers selected from among the plurality of ultrasonic transducers, and a group of ultrasonic waves selected from among the plurality of ultrasonic transducers. The ultrasonic probe according to claim 1, further comprising a switching circuit that outputs a reception signal output from the transducer to the outside. 前記集積回路が、前記複数の超音波トランスデューサの内の少なくとも1つから出力される受信信号を増幅する増幅回路を含む、請求項1〜3のいずれか1項記載の超音波用探触子。   The ultrasonic probe according to claim 1, wherein the integrated circuit includes an amplifier circuit that amplifies a reception signal output from at least one of the plurality of ultrasonic transducers. 前記基板の1つの面に複数の凹部が形成されており、
前記複数の凹部にそれぞれ挿入されている複数の超音波トランスデューサアレイを具備する請求項1〜4のいずれか1項記載の超音波用探触子。
A plurality of recesses are formed on one surface of the substrate,
The ultrasonic probe according to claim 1, further comprising a plurality of ultrasonic transducer arrays respectively inserted into the plurality of recesses.
前記基板の複数の面に複数の凹部が形成されており、
前記基板の前記複数の面の内の1つに形成された少なくとも1つの凹部に挿入されている少なくとも1つの超音波トランスデューサアレイと、前記基板の前記複数の面の内の他の1つに形成された少なくとも1つの凹部に挿入されている少なくとも1つの超音波トランスデューサアレイとを具備する請求項1〜5のいずれか1項記載の超音波用探触子。
A plurality of recesses are formed on a plurality of surfaces of the substrate;
At least one ultrasonic transducer array inserted in at least one recess formed in one of the plurality of surfaces of the substrate, and formed in the other one of the plurality of surfaces of the substrate; The ultrasonic probe according to claim 1, further comprising at least one ultrasonic transducer array inserted into the at least one concave portion formed.
前記基板の複数の平面又は1つの曲面に形成された複数の凹部にそれぞれ挿入されている複数の超音波トランスデューサアレイを具備し、前記複数の超音波トランスデューサアレイの間で前記複数の超音波トランスデューサの超音波送受信面が互いに異なる角度を有する、請求項1〜4のいずれか1項記載の超音波用探触子。   A plurality of ultrasonic transducer arrays respectively inserted into a plurality of concave portions formed on a plurality of planes or one curved surface of the substrate, and the plurality of ultrasonic transducers between the plurality of ultrasonic transducer arrays; The ultrasonic probe according to claim 1, wherein the ultrasonic transmission / reception surfaces have different angles. 複数の前記基板が互いに接合されて立体構造を有する、請求項1〜7のいずれか1項記載の超音波用探触子。   The ultrasonic probe according to claim 1, wherein the plurality of substrates are bonded to each other to have a three-dimensional structure. 前記基板に形成された凹部に挿入されているセンサをさらに具備する請求項1〜8のいずれか1項記載の超音波用探触子。   The ultrasonic probe according to claim 1, further comprising a sensor inserted in a recess formed in the substrate. 前記基板に形成された凹部に挿入され、超音波用探触子内部の温度を調節するための温度調節回路をさらに具備する請求項1〜9のいずれか1項記載の超音波用探触子。   The ultrasonic probe according to any one of claims 1 to 9, further comprising a temperature adjustment circuit that is inserted into a recess formed in the substrate and adjusts the temperature inside the ultrasonic probe. . 請求項1〜10のいずれか1項記載の超音波用探触子と、
前記複数の超音波トランスデューサに複数の駆動信号をそれぞれ供給する駆動信号供給手段と、
前記複数の超音波トランスデューサからそれぞれ出力される複数の受信信号を処理することにより、超音波画像を表す画像データを生成する信号処理手段と、
を具備する超音波撮像装置。
The ultrasonic probe according to any one of claims 1 to 10,
Drive signal supply means for respectively supplying a plurality of drive signals to the plurality of ultrasonic transducers;
Signal processing means for generating image data representing an ultrasonic image by processing a plurality of reception signals respectively output from the plurality of ultrasonic transducers;
An ultrasonic imaging apparatus comprising:
JP2006264559A 2006-09-28 2006-09-28 Ultrasonic probe and ultrasonic imaging apparatus Withdrawn JP2008079909A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006264559A JP2008079909A (en) 2006-09-28 2006-09-28 Ultrasonic probe and ultrasonic imaging apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006264559A JP2008079909A (en) 2006-09-28 2006-09-28 Ultrasonic probe and ultrasonic imaging apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008079909A true JP2008079909A (en) 2008-04-10

Family

ID=39351352

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006264559A Withdrawn JP2008079909A (en) 2006-09-28 2006-09-28 Ultrasonic probe and ultrasonic imaging apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008079909A (en)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010212868A (en) * 2009-03-09 2010-09-24 Nec Corp Cubic arrayed transducer, and device with cubic arrayed transducer
JP2013042974A (en) * 2011-08-25 2013-03-04 Toshiba Corp Ultrasonic probe and ultrasonic diagnosis apparatus
WO2014054784A1 (en) * 2012-10-05 2014-04-10 Necカシオモバイルコミュニケーションズ株式会社 Audio device and electronic apparatus employing same
JP2014086934A (en) * 2012-10-25 2014-05-12 Seiko Epson Corp Ultrasonic measurement apparatus, head unit, probe and diagnosis device
JP2014212413A (en) * 2013-04-18 2014-11-13 東レエンジニアリング株式会社 Ultrasonic transducer
WO2015064061A1 (en) * 2013-11-04 2015-05-07 株式会社デンソー Sensor system, control device, and sensor
CN104921755A (en) * 2014-03-20 2015-09-23 精工爱普生株式会社 Ultrasonic device unit, probe, electronic device and ultrasonic imaging device
WO2016009689A1 (en) * 2014-07-14 2016-01-21 オリンパス株式会社 Ultrasound observation device
WO2016030812A3 (en) * 2014-08-28 2016-04-28 Koninklijke Philips N.V. Intravascular imaging devices having a low reverberation housing and associated systems and methods
JP2017034360A (en) * 2015-07-29 2017-02-09 セイコーエプソン株式会社 Ultrasonic device, piezoelectric device, ultrasonic measurement device, and electronic device
JP2017538914A (en) * 2014-09-15 2017-12-28 ヴァレオ エキプマン エレクトリク モトゥール Automotive ultrasonic transducer for distance measurement, corresponding manufacturing method and use
JP2018515988A (en) * 2015-05-20 2018-06-14 ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング Acoustic sensor for transmitting and receiving acoustic signals
JP2018125721A (en) * 2017-02-01 2018-08-09 株式会社デンソー Ultrasonic output device
US10238364B2 (en) 2010-11-18 2019-03-26 Koninklijke Philips N.V. Medical device with ultrasound transducers embedded in flexible foil
JP2019107377A (en) * 2017-12-20 2019-07-04 コニカミノルタ株式会社 Ultrasound probe and ultrasound diagnostic apparatus
JP2021019927A (en) * 2019-07-29 2021-02-18 京セラ株式会社 Ultrasonic probe and ultrasonic detection device
US11246565B2 (en) 2014-08-28 2022-02-15 Philips Image Guided Therapy Corporation Intravascular devices having reinforced rapid-exchange ports and associated systems and methods

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010212868A (en) * 2009-03-09 2010-09-24 Nec Corp Cubic arrayed transducer, and device with cubic arrayed transducer
US11707260B2 (en) 2010-11-18 2023-07-25 Koninklijke Philips N.V. Medical device with forward and sideward ablation monitoring ultrasound transducers
US10238364B2 (en) 2010-11-18 2019-03-26 Koninklijke Philips N.V. Medical device with ultrasound transducers embedded in flexible foil
JP2013042974A (en) * 2011-08-25 2013-03-04 Toshiba Corp Ultrasonic probe and ultrasonic diagnosis apparatus
WO2014054784A1 (en) * 2012-10-05 2014-04-10 Necカシオモバイルコミュニケーションズ株式会社 Audio device and electronic apparatus employing same
JP2014086934A (en) * 2012-10-25 2014-05-12 Seiko Epson Corp Ultrasonic measurement apparatus, head unit, probe and diagnosis device
JP2014212413A (en) * 2013-04-18 2014-11-13 東レエンジニアリング株式会社 Ultrasonic transducer
CN105723236A (en) * 2013-11-04 2016-06-29 株式会社电装 Sensor system, control device, and sensor
WO2015064061A1 (en) * 2013-11-04 2015-05-07 株式会社デンソー Sensor system, control device, and sensor
JP2015090268A (en) * 2013-11-04 2015-05-11 株式会社デンソー Sensor system, controller, and sensor
US10156633B2 (en) 2013-11-04 2018-12-18 Denso Corporation Sensor system, control device, and sensor
CN104921755A (en) * 2014-03-20 2015-09-23 精工爱普生株式会社 Ultrasonic device unit, probe, electronic device and ultrasonic imaging device
JP2015185915A (en) * 2014-03-20 2015-10-22 セイコーエプソン株式会社 Ultrasound device unit and probe and electronic apparatus and ultrasound imaging device
US9623443B2 (en) 2014-03-20 2017-04-18 Seiko Epson Corporation Ultrasonic device unit, probe, electronic device and ultrasonic imaging device
CN104921755B (en) * 2014-03-20 2019-07-09 精工爱普生株式会社 Ultrasonic device unit, detector, electronic equipment and ultrasound imaging device
JP5876196B1 (en) * 2014-07-14 2016-03-02 オリンパス株式会社 Ultrasound endoscope
US9517048B2 (en) 2014-07-14 2016-12-13 Olympus Corporation Ultrasound endoscope
WO2016009689A1 (en) * 2014-07-14 2016-01-21 オリンパス株式会社 Ultrasound observation device
WO2016030812A3 (en) * 2014-08-28 2016-04-28 Koninklijke Philips N.V. Intravascular imaging devices having a low reverberation housing and associated systems and methods
US11246565B2 (en) 2014-08-28 2022-02-15 Philips Image Guided Therapy Corporation Intravascular devices having reinforced rapid-exchange ports and associated systems and methods
JP2017538914A (en) * 2014-09-15 2017-12-28 ヴァレオ エキプマン エレクトリク モトゥール Automotive ultrasonic transducer for distance measurement, corresponding manufacturing method and use
JP2018515988A (en) * 2015-05-20 2018-06-14 ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング Acoustic sensor for transmitting and receiving acoustic signals
JP2017034360A (en) * 2015-07-29 2017-02-09 セイコーエプソン株式会社 Ultrasonic device, piezoelectric device, ultrasonic measurement device, and electronic device
WO2018143087A1 (en) * 2017-02-01 2018-08-09 株式会社デンソー Ultrasound output device
JP2018125721A (en) * 2017-02-01 2018-08-09 株式会社デンソー Ultrasonic output device
CN110291796A (en) * 2017-02-01 2019-09-27 株式会社电装 Ultrasonic wave output device
JP2019107377A (en) * 2017-12-20 2019-07-04 コニカミノルタ株式会社 Ultrasound probe and ultrasound diagnostic apparatus
JP2021019927A (en) * 2019-07-29 2021-02-18 京セラ株式会社 Ultrasonic probe and ultrasonic detection device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008079909A (en) Ultrasonic probe and ultrasonic imaging apparatus
JP6878546B2 (en) Coaxial wire assembly
JP4583901B2 (en) Intracorporeal diagnostic ultrasound probe and method for producing intracavitary diagnostic ultrasound probe
US9692524B2 (en) Ultrasonic transducer device, probe, electronic instrument, and ultrasonic diagnostic device
JP4524719B2 (en) Array type ultrasonic transducer
JP4909115B2 (en) Ultrasound probe
US8604671B2 (en) Ultrasound transducer, ultrasound probe, and a method for manufacturing ultrasound transducers
CN112118791A (en) Integrated ultrasonic transducer
JP5659564B2 (en) Ultrasonic probe and ultrasonic diagnostic apparatus
WO2003001571A2 (en) Acoustical array with multilayer substrate integrated circuits
JP4516451B2 (en) Ultrasonic probe and method for producing ultrasonic probe
JP7227318B2 (en) IC dies, probes, and ultrasonic systems
TW201815353A (en) Rearward acoustic diffusion for ultrasound-on-a-chip transducer array
JP2008005996A (en) Ultrasonic transducer array, ultrasonic probe, ultrasonic endoscope, and ultrasonic diagnostic apparatus
CN104688267A (en) Ultrasonic diagnostic instrument and manufacturing method thereof
JP2011072585A (en) Ultrasonic probe
JP2011050571A (en) Ultrasonic probe, ultrasonograph, and ultrasonic transducer
US20230125688A1 (en) Multi-transducer chip ultrasound device
JP2011124997A (en) Ultrasonic probe and method of manufacturing the same
JP2011056103A (en) Ultrasonic probe and ultrasonic diagnostic device
JP2010219774A (en) Ultrasound transducer, ultrasound probe, and ultrasound diagnostic apparatus
JP2010042042A (en) Ultrasonic diagnostic system
JP5299128B2 (en) Ultrasonic probe, ultrasonic diagnostic equipment
KR102623559B1 (en) Ultrasound prove
JP2024504163A (en) Multi-transducer chip ultrasound device

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20091201