JP2007263656A - Leaked electromagnetic field information evaluation system - Google Patents

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康宏 小杉
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a leaked electromagnetic field information evaluation system for leaking electromagnetic waves. <P>SOLUTION: The leaked electromagnetic field information evaluation system comprises an antenna which measures electromagnetic waves leaking from an instrument to be evaluated on which a test pattern is displayed and receives the electromagnetic waves leaking from the instrument to be evaluated, a band-pass filter circuit, and a processor which quantifies information obtained from the band-pass filter circuit by controlling the central frequency of the band-pass filter circuit. The processor comprises pattern position detection processing which changes the central frequency of the band-pass filter circuit within a predetermined range, samples the electromagnetic waves and acquires them as measured data, calculates a correlation value between the measured data and the test pattern, and detects the position of the measured data in the test pattern and a quantification processing which quantifies information obtained from the electromagnetic waves for each central frequency by performing a product-sum operation on the test pattern and the measured data on the basis of the detected position. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、パーソナルコンピュータ等の情報機器において、表示装置に接続されたケーブル等から漏洩する電磁波を計測し、この電磁波から得られる情報量を定量化する漏洩電磁界情報評価システムに関する。   The present invention relates to a leakage electromagnetic field information evaluation system for measuring electromagnetic waves leaking from a cable or the like connected to a display device in an information device such as a personal computer and quantifying the amount of information obtained from the electromagnetic waves.

パーソナルコンピュータ等のように、情報処理装置本体と表示装置(CRT等のディスプレイ)とがケーブルで接続されている構成の場合、情報処理装置本体はシールドされているとしても、表示情報として伝送される信号がケーブルか等から電磁波として外部に漏洩するため、この漏洩した電磁波を受信することにより表示装置に表示される情報を再現することが可能である。近年のIT技術の発達により業務上の重要な情報もこのような情報処理装置で処理されるため、その表示情報が外部に漏洩すると業務上の損失が発生する可能性が高い。そのため、表示情報がケーブルから電磁波として漏洩しないようにケーブルのシールドを強化したり、フィルタを設置したりする方法や、表示装置に表示情報を送信するときの同期信号の周波数を変化させて、たとえ電磁波が漏れて第三者に受信されたとしても表示画面を再現できないようにする方法が開発されている(例えば、特許文献1参照)。   When the information processing device main body and the display device (display such as a CRT) are connected by a cable, such as a personal computer, the information processing device main body is transmitted as display information even if it is shielded. Since the signal leaks to the outside as an electromagnetic wave from a cable or the like, the information displayed on the display device can be reproduced by receiving the leaked electromagnetic wave. Due to the recent development of IT technology, business-related information is also processed by such an information processing apparatus. Therefore, if the display information leaks to the outside, there is a high possibility that a business loss will occur. Therefore, by strengthening the shield of the cable so that display information does not leak as electromagnetic waves from the cable, installing a filter, or changing the frequency of the synchronization signal when transmitting display information to the display device, A method has been developed to prevent the display screen from being reproduced even when electromagnetic waves leak and are received by a third party (see, for example, Patent Document 1).

特開2003−244104号公報JP 2003-244104 A

しかしながら、このような情報処理装置を導入するにあたり、表示装置との接続に用いられているケーブル等からどの程度の電磁波が漏洩していて、その電磁波を受信することにより画面に表示される情報が再現可能であるか、すなわち、このような漏洩電磁波から得られる情報量とはどの程度であるのかということを定量的に評価する方法がないという課題があった。   However, in introducing such an information processing device, how much electromagnetic wave is leaking from the cable etc. used for connection with the display device, and information displayed on the screen by receiving the electromagnetic wave is There is a problem that there is no method for quantitatively evaluating whether the information is reproducible, that is, the amount of information obtained from such leaked electromagnetic waves.

本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであり、評価対象機器から漏洩する電磁波を計測し、この電磁波から得られる情報量を定量化する漏洩電磁界情報評価システムを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such problems, and an object thereof is to provide a leakage electromagnetic field information evaluation system that measures electromagnetic waves leaking from an evaluation target device and quantifies the amount of information obtained from the electromagnetic waves. And

前記課題を解決するために、本発明に係る漏洩電磁界情報評価システムは、表示装置にテストパターンが表示されている評価対象機器から漏洩する電磁波を計測し、この電磁波から得られるテストパターンの情報量を定量化するものであり、評価対象機器から漏洩する電磁波を受信するアンテナと、所定の範囲内で中心周波数を設定可能であり、この中心周波数を中心とする所定の帯域の電磁波を通過させる帯域フィルタ回路と、帯域フィルタ回路の中心周波数を制御して、この帯域フィルタ回路を通過した電磁波から得られる情報量を定量化する処理装置と、を備える。そして、処理装置が、帯域フィルタ回路の中心周波数を所定の範囲内で変化させ、電磁波をサンプリングして計測データとして取得し、この計測データとテストパターンとの相関値を算出して、テストパターンにおける計測データの位置を検出する第1の処理手段(例えば、実施形態におけるパターン位置検出処理S10)と、検出された位置に基づいて、テストパターンと計測データとの積和演算をすることにより、中心周波数毎に電磁波から得られる情報量を定量化する第2の処理手段(例えば、実施形態における定量化処理S20)と、を有して構成される。   In order to solve the above problems, a leakage electromagnetic field information evaluation system according to the present invention measures electromagnetic waves leaking from an evaluation target device on which a test pattern is displayed on a display device, and information on test patterns obtained from the electromagnetic waves. The amount is quantified, the antenna that receives electromagnetic waves leaking from the evaluation target device, and the center frequency can be set within a predetermined range, and the electromagnetic waves in a predetermined band centered on the center frequency are passed. A band-pass filter circuit; and a processing device that controls the center frequency of the band-pass filter circuit to quantify the amount of information obtained from the electromagnetic wave that has passed through the band-pass filter circuit. Then, the processing device changes the center frequency of the band-pass filter circuit within a predetermined range, samples the electromagnetic wave and acquires it as measurement data, calculates a correlation value between the measurement data and the test pattern, The first processing means for detecting the position of the measurement data (for example, the pattern position detection process S10 in the embodiment) and the product-sum operation of the test pattern and the measurement data based on the detected position, the center And a second processing means for quantifying the amount of information obtained from the electromagnetic wave for each frequency (for example, quantification processing S20 in the embodiment).

このような本発明に係る漏洩電磁界情報評価システムにおいて、帯域フィルタ回路が、アンテナで受信した電磁波の低周波領域のみを通過させるローパスフィルタと、処理装置の制御により設定された周波数の正弦波信号を出力する信号発生器と、ローパスフィルタを通過した電磁波と信号発生器から出力された正弦波信号とを乗算する乗算器と、この乗算器から出力される信号のうち、所定の中心周波数を有する帯域の信号を通過させる帯域フィルタと、から構成されることが好ましい。   In such a leakage electromagnetic field information evaluation system according to the present invention, the band-pass filter circuit passes only a low-frequency region of the electromagnetic wave received by the antenna, and a sine wave signal having a frequency set by control of the processing device A signal generator that outputs the signal, a multiplier that multiplies the electromagnetic wave that has passed through the low-pass filter and the sine wave signal output from the signal generator, and has a predetermined center frequency among the signals output from the multiplier It is preferable that the filter is composed of a bandpass filter that allows band signals to pass therethrough.

本発明に係る漏洩電磁界情報評価システムを以上のように構成すると、評価対象機器から漏洩する電磁界情報により得られる情報量を定量化することができるため、情報漏洩防護対策の定量的な評価が可能となり、防護品開発を大きく促進させることができる。また、帯域フィルタ回路をローパスフィルタや帯域フィルタ等のアナログ回路として構成することにより、処理装置での信号処理が簡単になり、評価時間を短縮することができる。   When the leakage electromagnetic field information evaluation system according to the present invention is configured as described above, the amount of information obtained from electromagnetic field information leaked from the evaluation target device can be quantified. Can be greatly promoted in the development of protective products. Further, by configuring the band-pass filter circuit as an analog circuit such as a low-pass filter or a band-pass filter, signal processing in the processing device can be simplified and the evaluation time can be shortened.

以下、本発明の好ましい実施形態について図面を参照して説明する。まず、図1を用いて本発明に係る漏洩電磁界情報評価システム1の構成について説明する。この漏洩電磁界情報評価システム1は、表示装置60と本体61、および、これらを繋ぐケーブル62を備えるパーソナルコンピュータ等の評価対象機器6から漏洩する電磁波を受信して分析・評価するものである。その構成は、評価対象機器6の表示装置60、本体61、および、ケーブル62から漏洩する電磁波を受信する高周波アンテナ2、受信した電磁波を増幅する増幅器3,受信した電磁波に対して帯域処理を行う帯域フィルタ回路部4、および、その電磁波の計測データを後述する処理により定量化する処理装置5から構成される。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. First, the configuration of the leakage electromagnetic field information evaluation system 1 according to the present invention will be described with reference to FIG. This leakage electromagnetic field information evaluation system 1 receives, analyzes and evaluates electromagnetic waves leaking from an evaluation target device 6 such as a personal computer including a display device 60, a main body 61, and a cable 62 connecting them. The configuration is such that the display device 60, the main body 61, and the high frequency antenna 2 that receives electromagnetic waves leaking from the cable 62, the amplifier 3 that amplifies the received electromagnetic waves 3, and band processing are performed on the received electromagnetic waves. The band filter circuit unit 4 and the processing device 5 that quantifies the measurement data of the electromagnetic waves by the processing described later.

それでは、この漏洩電磁界情報評価システム1を用いて評価対象機器6の評価を行う方法について説明する。この漏洩電磁界情報評価システム1は、評価対象機器6の本体61により表示装置60に予め決められたパターンの静止画(例えば、図2に示す表示画像70)を表示させておき、そのときに評価対象機器6から漏洩する電磁波を受信して、その電磁波から再生される表示画面と静止画のパターンとの相関を取るとともに定量化を行うものである。   Now, a method for evaluating the evaluation target device 6 using the leakage electromagnetic field information evaluation system 1 will be described. The leakage electromagnetic field information evaluation system 1 displays a still image of a predetermined pattern (for example, the display image 70 shown in FIG. 2) on the display device 60 by the main body 61 of the evaluation target device 6, and at that time The electromagnetic wave leaking from the evaluation target device 6 is received, and the display screen reproduced from the electromagnetic wave and the pattern of the still image are correlated and quantified.

ここで、本実施例においては、評価対象機器6のうち、計測対象を除くその他の構成要素から漏洩する電磁界を極力抑える必要がある。たとえば、ケーブル62から漏洩する電磁界を評価する場合は、漏洩電磁界の少ない本体61を選ぶか、若しくは、この本体61にシールドを施し、同時に、表示装置60の電源を切るか、この表示装置60を外してその代わりに終端抵抗(例えば、75Ω程度)をケーブル62に接続する。また、表示装置60から漏洩する電磁界を評価する場合は、シールド効果の高いケーブル62を用いるとともに、漏洩電磁界の少ない本体61若しくはこの本体61にシールドを施す。さらに、本体61から漏洩する電磁界を評価する場合は、この本体61からケーブル62および表示装置60を取り外す。なお、以降の説明においては、ケーブル62から漏洩する電磁界を評価する場合について説明するが、表示装置60や本体61に対しても同様の方法で評価することができる。   Here, in the present embodiment, it is necessary to suppress as much as possible the electromagnetic field that leaks from other components of the evaluation target device 6 other than the measurement target. For example, when evaluating the electromagnetic field leaking from the cable 62, the main body 61 having a small leakage electromagnetic field is selected, or the main body 61 is shielded and, at the same time, the display device 60 is turned off, or the display device is 60 is removed and a terminal resistor (for example, about 75Ω) is connected to the cable 62 instead. When evaluating the electromagnetic field leaking from the display device 60, the cable 62 having a high shielding effect is used, and the main body 61 having a small leakage electromagnetic field or the main body 61 is shielded. Further, when evaluating the electromagnetic field leaking from the main body 61, the cable 62 and the display device 60 are detached from the main body 61. In the following description, the case where the electromagnetic field leaking from the cable 62 is evaluated will be described. However, the display device 60 and the main body 61 can be evaluated by the same method.

また、帯域フィルタ回路4の構成であるが、受信した電磁波の高周波成分を除去し、低周波成分を通過させるローパスフィルタ41、処理装置5からの制御により所定の周波数を有する正弦波信号を出力する信号発生器42、ローパスフィルタ41を通過した信号と信号発生器42から出力された正弦波信号とを乗算する乗算器43、乗算器43の出力のうち所定の周波数帯域の信号のみを通過させる帯域フィルタ44、および、帯域フィルタ44の出力を増幅する増幅器45から構成される。   The band filter circuit 4 is configured to remove a high-frequency component of the received electromagnetic wave and output a sine wave signal having a predetermined frequency under the control of the low-pass filter 41 that passes the low-frequency component and the processing device 5. Signal generator 42, a multiplier 43 that multiplies a signal that has passed through low-pass filter 41 and a sine wave signal output from signal generator 42, and a band that passes only a signal in a predetermined frequency band among the outputs of multiplier 43. The filter 44 and the amplifier 45 that amplifies the output of the band filter 44 are included.

この帯域フィルタ回路4において、ローパスフィルタ41を通過した信号の周波数をfinとし、信号発生器42から出力された正弦波信号の周波数をfSGとすると、乗算器43の出力は、これらの信号の和と差の周波数である、fin+fSG、および、abs(fSG−fin)の信号が出力される(absは絶対値)。そして、これらの信号が通過する帯域フィルタ44の帯域の中心周波数をfcaとすると、この帯域フィルタ44を通過可能な信号の周波数は、fca+fSG、または、abs(fSG−fca)となる。このとき、fca+fSGの周波数を持つ信号成分は前段のローパスフィルタ41で容易に除去することができるため、この帯域フィルタ回路4から出力される信号は、中心周波数をfcとすると、次式(1)で表される信号となるため、この帯域フィルタ回路4は、中心周波数がfcである帯域フィルタの機能を有する。 In the band-pass filter circuit 4, the frequency of the signal passed through the low-pass filter 41 and fin, when the frequency of the output sine wave signal from the signal generator 42 and f SG, the output of the multiplier 43, these signals Signals of fin + f SG and abs (f SG −fin), which are frequencies of the sum and difference, are output (abs is an absolute value). When the center frequency of the band of the band filter 44 through which these signals pass is fca, the frequency of the signal that can pass through the band filter 44 is fca + fSG or abs (f SG −fca). At this time, since the signal component having the frequency of fca + f SG can be easily removed by the low-pass filter 41 in the previous stage, the signal output from the band-pass filter circuit 4 is expressed by the following equation (1) assuming that the center frequency is fc. The band filter circuit 4 has a function of a band filter having a center frequency fc.

fc = abs(fSG − fca) (1) fc = abs (fSG-fca) (1)

また、処理装置5は、A/D変換器5aを介して帯域フィルタ回路4の出力を取得し、後述する処理を行うデータ処理部51、データ処理部51で処理されるデータを記憶する記憶部52、および、評価結果を出力する出力部53から構成される。そのため、帯域フィルタ回路4を構成する帯域フィルタ44の中心周波数fcaを固定とし、信号発生器42から出力される正弦波信号の周波数fSGを処理装置5のGPIBインタフェース5bを介してデータ処理部51で変化させることにより、帯域フィルタ回路4を中心周波数可変の帯域フィルタとして利用することができる。 Further, the processing device 5 acquires the output of the band-pass filter circuit 4 via the A / D converter 5a, and stores a data processing unit 51 that performs processing to be described later and data that is processed by the data processing unit 51. 52, and an output unit 53 that outputs the evaluation result. Therefore, the center frequency fca of the band filter 44 constituting the band filter circuit 4 is fixed, and the frequency f SG of the sine wave signal output from the signal generator 42 is supplied to the data processing unit 51 via the GPIB interface 5 b of the processing device 5. Thus, the band filter circuit 4 can be used as a band filter having a variable center frequency.

ここで、上述のような評価対象機器6の表示装置60に、図2に示す表示静止画像70を表示する場合を考える。表示装置60に画像を表示する場合、表示装置60を左から右に走る走査線に対応した一次元信号(以降の説明においては、この一次元信号を「テストパターンP0(k)」と呼ぶ)が、ケーブル62を介して本体61から表示装置60に繰り返し送信される。すなわち、表示装置60の総画素数をNとすると、このテストパターンP0(k)は、P0(1)〜P0(N)の一次元信号として表現することができ、例えば、表示画像70における背景部分72に対応する信号P0(k)の値を0とし、画像部分(文字情報部分)61に対応する信号P0(k)の値を1として表される。   Here, consider a case where the display still image 70 shown in FIG. 2 is displayed on the display device 60 of the evaluation target device 6 as described above. When an image is displayed on the display device 60, a one-dimensional signal corresponding to a scanning line running from the left to the right of the display device 60 (in the following description, this one-dimensional signal is referred to as “test pattern P0 (k)”). Is repeatedly transmitted from the main body 61 to the display device 60 via the cable 62. That is, assuming that the total number of pixels of the display device 60 is N, this test pattern P0 (k) can be expressed as a one-dimensional signal P0 (1) to P0 (N). The value of the signal P 0 (k) corresponding to the portion 72 is represented as 0, and the value of the signal P 0 (k) corresponding to the image portion (character information portion) 61 is represented as 1.

このとき、総画素数Nは、水平方向画素数をNhとし、垂直方向ライン数をNvとすると、次の式(2)で表される。   At this time, the total number of pixels N is expressed by the following equation (2), where Nh is the number of horizontal pixels and Nv is the number of vertical lines.

N = Nh × Nv (2) N = Nh x Nv (2)

例えば、パソコンのVGAフォーマットで、同期周波数が60Hzの場合は、Nh=800(表示部分有効画素数は640)、Nv=525(表示部分有効ライン数は480)となるため、総画素数N=420000となる。   For example, when the synchronization frequency is 60 Hz in the VGA format of a personal computer, Nh = 800 (display portion effective pixel number is 640) and Nv = 525 (display portion effective line number is 480), so the total pixel number N = 420,000.

一方、本実施例における漏洩電磁界情報評価システム1においては、処理装置5に予め記憶されていて、漏洩した電磁波から再生された表示画面の画像と比較される比較パターンP(k)を有し、この比較パターンP(k)は、テストパターンP0(k)の2周期分とする。すなわち、k=1〜Nのときは、P(k)=P0(k)となり、k=N+1〜2Nのときは、P(k)=P0(k−N)となる。上述のように、ケーブル62にはテストパターンP0(k),k=1〜Nが繰り返し送信されており、このケーブル62から漏洩する電磁波を受信して表示される画像を再生するためには1周期分のデータを取得する必要がある。このような電磁波を計測する際に、その開始時点(P0(1))を判定して取得することは困難であり、取得した信号(後述する計測データd1(n))はテストパターンP0(k)の途中から次の周期の途中までとなる。そのため、比較パターンP(k)はテストパターンP0(k)の2周期分としている。   On the other hand, the leakage electromagnetic field information evaluation system 1 in the present embodiment has a comparison pattern P (k) that is stored in advance in the processing device 5 and is compared with the image on the display screen reproduced from the leaked electromagnetic wave. The comparison pattern P (k) is for two cycles of the test pattern P0 (k). That is, P (k) = P0 (k) when k = 1 to N, and P (k) = P0 (k−N) when k = N + 1 to 2N. As described above, the test pattern P0 (k), k = 1 to N is repeatedly transmitted to the cable 62. In order to reproduce an image displayed by receiving electromagnetic waves leaking from the cable 62, the test pattern P0 (k) It is necessary to acquire data for the period. When measuring such an electromagnetic wave, it is difficult to determine and acquire the start point (P0 (1)), and the acquired signal (measurement data d1 (n) described later) is a test pattern P0 (k ) To the middle of the next cycle. Therefore, the comparison pattern P (k) is set to two cycles of the test pattern P0 (k).

それでは、処理装置5における処理手順について図3〜図5を用いて説明する。全体の処理の流れとしては、図3に示すように、パターン位置検出処理S10および、定量化処理S20から構成される。この処理装置5のデータ処理部51は、まず、パターン位置検出処理S10を実行する。このパターン位置検出処理S10は、漏洩電磁界を定量化する周波数範囲をf1〜f2とし、その間をΔfi間隔で中心周波数fcを変化させて、各中心周波数fcに対応した定量化を行うように構成されている。   Now, the processing procedure in the processing device 5 will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 3, the overall process flow includes a pattern position detection process S10 and a quantification process S20. The data processing unit 51 of the processing device 5 first executes a pattern position detection process S10. The pattern position detection processing S10 is configured to perform quantification corresponding to each center frequency fc by changing the center frequency fc at intervals of Δfi between the frequency ranges in which the leakage electromagnetic field is quantified as f1 to f2. Has been.

まず、パターン位置検出処理S10は、中心周波数fcをf1に設定する(ステップS101)。なお、この中心周波数fcは上述のようにf1〜f2の間をΔfi間隔で変化させるため、後述の処理S102〜S108が実行された後、中間周波数fcにはΔfiが加算され(ステップS108)、中心周波数fcがf2を超えるまでステップS102〜S108が繰り返される(ステップS109)。また、ステップS101においては、周波数f1〜f2の間の相関値の最大値Uおよびそのときの位相phを求めるために相関値の最大値の初期値を0とする。   First, the pattern position detection process S10 sets the center frequency fc to f1 (step S101). Since the center frequency fc changes between f1 and f2 at intervals of Δfi as described above, Δfi is added to the intermediate frequency fc after steps S102 to S108 described later are executed (step S108). Steps S102 to S108 are repeated until the center frequency fc exceeds f2 (step S109). In step S101, the initial value of the maximum correlation value is set to 0 in order to obtain the maximum value U of the correlation value between the frequencies f1 and f2 and the phase ph at that time.

そして、データ処理部51は、上述の式(1)に基づいて、現在の中心周波数fcになるように信号発生器42の正弦波信号の周波数fSGを制御し(ステップS102)、サンプリング周波数fsで帯域フィルタ回路4から出力される信号を取得する(ステップS103)。ここで、このステップS103における1ライン時間のサンプル数をNhsとすると、サンプリング空間における1画面のサンプル数Nsは、次式(3)で表される。 Then, the data processing unit 51 controls the frequency f SG of the sine wave signal of the signal generator 42 so as to become the current center frequency fc based on the above equation (1) (step S102), and the sampling frequency fs. Thus, the signal output from the band filter circuit 4 is acquired (step S103). Here, assuming that the number of samples in one line time in step S103 is Nhs, the number of samples Ns in one screen in the sampling space is expressed by the following equation (3).

Ns = Nhs × Nv (3) Ns = Nhs x Nv (3)

なお、1ライン時間のサンプル数Nhsの値や総画素数Nの値は、評価対象機器6毎に異なるため予め計測し、処理装置5(データ処理部51)に設定される。また、このようにして計測された各点における振幅データ(これを「計測データ」と呼ぶ)をd1(n),n=1〜Nsとする。   Since the value of the number of samples Nhs and the value of the total number of pixels N for one line time are different for each evaluation target device 6, they are measured in advance and set in the processing device 5 (data processing unit 51). In addition, the amplitude data (referred to as “measurement data”) at each point measured in this way is d1 (n), where n = 1 to Ns.

次に、中心周波数fcに対する計測データd1(n)に対してデータ圧縮処理を行い、圧縮データd3(k),k=1〜Nに変換する(ステップS104)。上述のように、テストパターンP0(k)は、k=1〜NのN個のデータであるが、サンプリング周波数fsでサンプリングされた計測データd1(k)はNs個のデータであるため、後述する処理を行うためにこの計測データd1(k)をN個のデータに圧縮する必要がある。なお、このときの圧縮比率1/Ngは、次の式(4)で表される。ただし、Ngは実数である。   Next, data compression processing is performed on the measurement data d1 (n) with respect to the center frequency fc, and the compressed data is converted into compressed data d3 (k), k = 1 to N (step S104). As described above, the test pattern P0 (k) is N data of k = 1 to N, but the measurement data d1 (k) sampled at the sampling frequency fs is Ns data. This measurement data d1 (k) needs to be compressed into N pieces of data in order to perform the processing. The compression ratio 1 / Ng at this time is expressed by the following equation (4). Ng is a real number.

Ng = Nhs / Nh (4) Ng = Nhs / Nh (4)

データ圧縮処理S104の具体的な処理は次の通りである。まず、計測データd1(n)の絶対値を求めた絶対値化データd2(n)を次式(5)のように求める。   Specific processing of the data compression processing S104 is as follows. First, absolute value data d2 (n) obtained from the absolute value of the measurement data d1 (n) is obtained as in the following equation (5).

d2(n) = abs(d1(n)) (5)
但し、n=1〜Ns
abs()は絶対値を求める関数
d2 (n) = abs (d1 (n)) (5)
However, n = 1 to Ns
abs () is a function for obtaining an absolute value

そして、このようにして求められた絶対値化データd2(n)を用いて、次式(6)により圧縮化データd3(k)を求める。なお、このようにして求められた圧縮化データd3(k)は、記憶部52に記憶される。   Then, using the absolute value data d2 (n) obtained in this way, the compressed data d3 (k) is obtained by the following equation (6). The compressed data d3 (k) obtained in this way is stored in the storage unit 52.

d3(k)
=max(d2(rnd(Ng×k−Ng+1)),
d2(rnd(Ng×k−Ng+2)),
・・・,d2(rnd(Ng×k))) (6)
但し、k=1〜N
max()はNg個のデータから最大値を求める関数
rnd()は四捨五入し整数を求める関数
d3 (k)
= Max (d2 (rnd (Ng * k-Ng + 1)),
d2 (rnd (Ng * k-Ng + 2)),
..., d2 (rnd (Ng * k))) (6)
However, k = 1 to N
max () is a function for obtaining the maximum value from Ng data.
rnd () is a function that rounds off to obtain an integer.

そして、以上のようにして求められた圧縮化データd3(k)とテストパターンP(k)との位相jにおける相関値M(j)を求める相関処理を行う(ステップS105)。この相関処理S105は次の手順により行われる。まず、次式(7)によりテストパターンP(k)の平均値Apを求める。   Then, correlation processing is performed to obtain a correlation value M (j) at the phase j between the compressed data d3 (k) and the test pattern P (k) obtained as described above (step S105). This correlation processing S105 is performed by the following procedure. First, the average value Ap of the test pattern P (k) is obtained by the following equation (7).

Figure 2007263656
Figure 2007263656

そして、この平均値Ap回りのテストパターンPa(k)を次式(8)により求める。   Then, a test pattern Pa (k) around the average value Ap is obtained by the following equation (8).

Pa(k) = P(k) − Ap (8) Pa (k) = P (k) -Ap (8)

また、次式(9)により圧縮化データd3(k)の平均値Adを求める。   Further, the average value Ad of the compressed data d3 (k) is obtained by the following equation (9).

Figure 2007263656
Figure 2007263656

そして、この平均値Ad回りの圧縮化データda(k)を次式(10)により求める。 Then, the compressed data da (k) around the average value Ad is obtained by the following equation (10).

da(k) = d3(k) − Ad (10) da (k) = d3 (k) -Ad (10)

さらに、次式(11)を用いて平均値回りのテストパターンPa(k)の標準偏差Bpを求め、また、次式(12)を用いて平均値回りの圧縮化データda(k)の標準偏差Bdを求める。   Further, the standard deviation Bp of the test pattern Pa (k) around the average value is obtained using the following equation (11), and the standard of the compressed data da (k) around the average value is obtained using the following equation (12). The deviation Bd is obtained.

Figure 2007263656
Figure 2007263656

最後に、以上の結果より、次式(13)を用いて、jの位置における相関値M(j)を求める。   Finally, from the above result, the correlation value M (j) at the position of j is obtained using the following equation (13).

Figure 2007263656
但し、j=1〜N
Figure 2007263656
However, j = 1 to N

このようにして求められた中心周波数fcの圧縮化データd3(k)における相関値M(j),j=1〜Nのうち、M(j)の最大値とそのときのjを求め、M(j)の最大値を中心周波数fcの時の相関最大値Ucとし、そのときのjを位相phcとして記憶部52に記憶する(ステップS106)。さらに、全体の相関最大値Uと中心周波数fcの時の相関最大値Ucを比較し、Uc>Uであれば、全体の相関最大値UをUcの値に更新する(ステップS107)。   Among the correlation values M (j), j = 1 to N in the compressed data d3 (k) of the center frequency fc thus obtained, the maximum value of M (j) and j at that time are obtained. The maximum value of (j) is set as the maximum correlation value Uc at the center frequency fc, and j at that time is stored in the storage unit 52 as the phase phc (step S106). Further, the overall correlation maximum value U and the correlation maximum value Uc at the center frequency fc are compared. If Uc> U, the overall correlation maximum value U is updated to the value of Uc (step S107).

以上のようにして中心周波数fcをf1〜f2の範囲でΔfi刻みで変化させて求めた全体の相関最大値Uが所定の閾値Thを超えているかを判断し(ステップS110)、超えていない場合は、計測データd1(n)から文字パターンが検出できないと判定して全ての処理を終了し、超えている場合は、次の定量化処理S20を実行する。   As described above, it is determined whether or not the total correlation maximum value U obtained by changing the center frequency fc in increments of Δfi in the range of f1 to f2 exceeds a predetermined threshold Th (step S110). Determines that the character pattern cannot be detected from the measurement data d1 (n) and ends all the processes. If it exceeds, the next quantification process S20 is executed.

定量化処理S20においても、中心周波数fcをf1〜f2の範囲でΔfiずつ変化させて各中心周波数fcにおける定量化値S(fc)を求める。そのため、最初にfcをf1に設定し(ステップS201)、後述する定量化の処理(ステップS202〜S203)を実行した後、中心周波数fcにΔfiを加算し(ステップS204)、中心周波数fcがf2を越えるまで定量化の処理(S202〜S203)が繰り返される(ステップS205)。   Also in the quantification process S20, the center frequency fc is changed by Δfi in the range of f1 to f2, and the quantified value S (fc) at each center frequency fc is obtained. Therefore, first, fc is set to f1 (step S201), quantification processing (steps S202 to S203) described later is executed, Δfi is added to the center frequency fc (step S204), and the center frequency fc is f2. The quantification process (S202 to S203) is repeated until the value exceeds (step S205).

それでは中心周波数fcにおける定量化の処理(ステップS202〜S203)について説明する。まず、記憶部52から各中心周波数fcに対応する圧縮化データd3(k)と位相phcを読み出す(ステップS203)。そして、この圧縮化データd3(k)と位相phcとから、比較パターンP(k)と圧縮化データd3(k)との積和演算を行って中心周波数fcにおける定量化値S(fc)を次に示す式(14)により求める(ステップS203)。なお、定量化値S(fc)は、出力部53(ディスプレイやプリンタ)に出力される。   Now, the quantification process (steps S202 to S203) at the center frequency fc will be described. First, the compressed data d3 (k) and the phase phc corresponding to each center frequency fc are read from the storage unit 52 (step S203). Then, a product-sum operation is performed on the comparison pattern P (k) and the compressed data d3 (k) from the compressed data d3 (k) and the phase phc to obtain a quantified value S (fc) at the center frequency fc. It calculates | requires by the following formula | equation (14) (step S203). The quantified value S (fc) is output to the output unit 53 (display or printer).

Figure 2007263656
Figure 2007263656

このように等価的に平滑化を行って定量化値S(fc)を求めることにより、画像部分(文字情報部分)71以外のノイズの影響を抑えることができる。このようにケーブル62から漏洩する電磁波を測定して定量化することにより、様々なケーブル62を図6に示すように比較して、情報漏洩防護対策の定量的な評価が可能となり、防護品開発を大きく促進させることができる。   Thus, by performing smoothing equivalently and obtaining the quantified value S (fc), the influence of noise other than the image portion (character information portion) 71 can be suppressed. By measuring and quantifying the electromagnetic waves leaking from the cable 62 in this way, it becomes possible to quantitatively evaluate information leakage protection measures by comparing various cables 62 as shown in FIG. Can be greatly promoted.

なお、受信した電磁波をサンプリングして取得する際に必要となる所定の帯域でフィルタリングする処理を、信号発生器42とローパスフィルタ41、乗算器43、および、帯域フィルタ44等のアナログ素子とを備えて構成される帯域フィルタ回路4により行うことにより、処理装置5で電磁波を直接サンプリングした後、このフィルタリング処理をデジタル演算により実行する場合に比べて大幅に処理時間を短くすることができ、全体として定量化処理を高速化できる。このとき、処理装置5でこの帯域フィルタ回路4から出力される信号をサンプリングするためのサンプリング周波数fsは、評価対象機器6の表示装置60のドットクロックより少し大きな周波数で良いため、A/D変換器5aは、パーソナルコンピュータ等に用いられる汎用のA/D変換ボードが利用可能となる。   In addition, the signal generator 42, the low-pass filter 41, the multiplier 43, and analog elements such as the band filter 44 are provided for filtering the received electromagnetic wave in a predetermined band necessary for sampling and obtaining. By performing the band-pass filter circuit 4 configured as described above, the processing time can be significantly shortened compared with the case where the filtering process is performed by digital calculation after the electromagnetic wave is directly sampled by the processing device 5. Quantification processing can be speeded up. At this time, the sampling frequency fs for sampling the signal output from the band filter circuit 4 in the processing device 5 may be a little higher than the dot clock of the display device 60 of the evaluation target device 6, so A / D conversion As the device 5a, a general-purpose A / D conversion board used for a personal computer or the like can be used.

例えば、20〜300MHz(f1=20MHz,f2=300MHz)の定量化漏洩特性を5MHz(Δfi)ステップで求める場合、帯域フィルタ回路4に対して信号発生器42の正弦波周波数を設定する回数は57回となるが、処理装置5がこの正弦波の周波数を設定するための処理は1秒程度であるため、漏洩電磁波を処理装置4で取り込む処理は1分程度で終了する。   For example, when the quantified leakage characteristic of 20 to 300 MHz (f1 = 20 MHz, f2 = 300 MHz) is obtained in 5 MHz (Δfi) steps, the number of times that the sine wave frequency of the signal generator 42 is set to the band filter circuit 4 is 57. Although the processing for the processing device 5 to set the frequency of the sine wave is about 1 second, the processing for capturing the leaked electromagnetic wave by the processing device 4 is completed in about 1 minute.

また、上述したように、評価対象機器6のケーブル62だけでなく、表示装置60や本体61に対しても同様の評価を行うことができる。   Further, as described above, the same evaluation can be performed not only on the cable 62 of the evaluation target device 6 but also on the display device 60 and the main body 61.

本発明に係る漏洩電磁界情報評価システムの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the leakage electromagnetic field information evaluation system which concerns on this invention. 表示画面とテストパターンの関係を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the relationship between a display screen and a test pattern. 上記システムの全体の処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the whole process of the said system. パターン位置堅守t処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows a pattern position adherence t process. 定量化処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows a quantification process. 中心周波数と定量化値との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between a center frequency and a quantification value.

符号の説明Explanation of symbols

1 漏洩電磁界情報評価システム
2 アンテナ
4 帯域フィルタ回路
5 処理装置
6 評価対象機器
41 ローパスフィルタ
42 信号発生器
43 乗算器
44 帯域フィルタ
60 表示装置
70 静止画像(テストパターン)
S10 パターン位置検出処理(第1の処理手段)
S20 定量化処理(第2の処理手段)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Leakage electromagnetic field information evaluation system 2 Antenna 4 Band-pass filter circuit 5 Processing apparatus 6 Target apparatus 41 Low-pass filter 42 Signal generator 43 Multiplier 44 Band-pass filter 60 Display apparatus 70 Still image (test pattern)
S10 Pattern position detection processing (first processing means)
S20 Quantification processing (second processing means)

Claims (2)

表示装置にテストパターンが表示されている評価対象機器から漏洩する電磁波を計測し、前記電磁波から得られる前記テストパターンの情報量を定量化する漏洩電磁界情報評価システムであって、
前記評価対象機器から漏洩する電磁波を受信するアンテナと、
所定の範囲内で中心周波数を設定可能であり、前記中心周波数を中心とする所定の帯域の前記電磁波を通過させる帯域フィルタ回路と、
前記帯域フィルタ回路の前記中心周波数を制御して、前記帯域フィルタを通過した前記電磁波から得られる前記情報量を定量化する処理装置と、を備え、
前記処理装置が、
前記帯域フィルタ回路の前記中心周波数を前記所定の範囲内で変化させ、前記電磁波をサンプリングして計測データとして取得し、前記計測データと前記テストパターンとの相関値を算出して、前記テストパターンにおける前記計測データの位置を検出する第1の処理手段と、
検出された前記位置に基づいて、前記テストパターンと前記計測データとの積和演算をすることにより、前記中心周波数毎に前記電磁波から得られる前記情報量を定量化する第2の処理手段と、を有して構成される漏洩電磁界情報評価システム。
A leakage electromagnetic field information evaluation system for measuring an electromagnetic wave leaking from an evaluation target device on which a test pattern is displayed on a display device, and quantifying an information amount of the test pattern obtained from the electromagnetic wave,
An antenna for receiving electromagnetic waves leaking from the device to be evaluated;
A bandpass filter circuit capable of setting a center frequency within a predetermined range and passing the electromagnetic wave in a predetermined band centered on the center frequency;
A processing device that controls the center frequency of the bandpass filter circuit and quantifies the amount of information obtained from the electromagnetic wave that has passed through the bandpass filter,
The processing device is
The center frequency of the bandpass filter circuit is changed within the predetermined range, the electromagnetic wave is sampled to obtain measurement data, a correlation value between the measurement data and the test pattern is calculated, and the test pattern First processing means for detecting the position of the measurement data;
Second processing means for quantifying the amount of information obtained from the electromagnetic wave for each center frequency by performing a product-sum operation on the test pattern and the measurement data based on the detected position; Leakage electromagnetic field information evaluation system comprising
前記帯域フィルタ回路が、
前記アンテナで受信した前記電磁波の低周波領域のみを通過させるローパスフィルタと、
前記処理装置の制御により設定された周波数の正弦波信号を出力する信号発生器と、
前記ローパスフィルタを通過した前記電磁波と前記信号発生器から出力された正弦波信号とを乗算する乗算器と、
前記乗算器から出力される信号のうち、所定の中心周波数を有する帯域の信号を通過させる帯域フィルタと、から構成される請求項1に記載の漏洩電磁界情報評価システム。
The bandpass filter circuit is
A low-pass filter that passes only a low-frequency region of the electromagnetic wave received by the antenna; and
A signal generator for outputting a sine wave signal having a frequency set by the control of the processing device;
A multiplier that multiplies the electromagnetic wave that has passed through the low-pass filter by a sine wave signal output from the signal generator;
The leakage electromagnetic field information evaluation system according to claim 1, further comprising: a bandpass filter that allows passage of a signal having a predetermined center frequency among signals output from the multiplier.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2016091204A (en) * 2014-10-31 2016-05-23 日本電信電話株式会社 Electromagnetic information leakage evaluation system and method thereof
JP2018091645A (en) * 2016-11-30 2018-06-14 日本電信電話株式会社 Leakage electromagnetic wave evaluation parameter estimation method
JP2019002869A (en) * 2017-06-19 2019-01-10 日本電信電話株式会社 Electromagnetic information leakage evaluation device, method for evaluating electromagnetic information leakage, and electromagnetic information leakage evaluation program

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