JP2007234820A - Ceramic electronic component - Google Patents
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Description
この発明は、セラミック素体を有する電子部品に関する。 The present invention relates to an electronic component having a ceramic body.
セラミック素体の両端部に端子電極が設けられたセラミック電子部品が知られている。セラミック電子部品の典型的な例は、積層セラミックコンデンサである。セラミック電子部品は、しばしば半田付けによって基板上に実装される。通常、基板とセラミック素体とは熱膨張係数に差があるため、温度の上昇及び下降を繰り返す熱衝撃においてセラミック電子部品に応力が加わり、セラミック電子部品の破壊を生じやすい。 A ceramic electronic component in which terminal electrodes are provided at both ends of a ceramic body is known. A typical example of a ceramic electronic component is a multilayer ceramic capacitor. Ceramic electronic components are often mounted on a substrate by soldering. Usually, since there is a difference in thermal expansion coefficient between the substrate and the ceramic body, a stress is applied to the ceramic electronic component in a thermal shock that repeatedly increases and decreases in temperature, and the ceramic electronic component is likely to be broken.
この問題を解決するため、下記の特許文献1には、金属板からなる端子部材をセラミック電子部品の端子電極上に半田付けし、その端子部材を基板に半田付けする技術が開示されている。端子部材の下端には、セラミック素体の側面に平行に延びる折り曲げ部が設けられており、この折り曲げ部が基板に半田付けされる。温度変化により基板が膨張または収縮しても、端子部材の変形や動きが基板の応力を吸収するので、その応力がセラミック素体に直接には加わらない。これにより、セラミック素体にクラック(割れ)が生じにくくなる。 In order to solve this problem, Patent Document 1 below discloses a technique in which a terminal member made of a metal plate is soldered onto a terminal electrode of a ceramic electronic component, and the terminal member is soldered to a substrate. A bent portion extending in parallel with the side surface of the ceramic body is provided at the lower end of the terminal member, and this bent portion is soldered to the substrate. Even if the substrate expands or contracts due to a temperature change, the deformation or movement of the terminal member absorbs the stress of the substrate, so that the stress is not directly applied to the ceramic body. As a result, cracks are less likely to occur in the ceramic body.
更に、同文献は、端子電極と端子部材との半田付け時の熱衝撃によって端子電極に応力が発生し、端子電極のうち素体の側面に接触する部分がその側面を圧迫して素体にクラックを生じさせる問題点を指摘している。この問題点を解決するため、同文献に開示されるセラミック電子部品は、セラミック素体の端面上にのみ形成された端子電極を有している。
近年では、環境問題を考慮して、鉛フリーの半田がセラミック電子部品の製造や実装に使用されることが多い。ところが、本発明者の研究によれば、鉛フリー半田を用いてセラミック電子部品を基板上に半田付けし、熱衝撃を与えると、セラミック素体よりも、むしろ半田にクラックが生じやすいことが分かった。本発明者の研究によれば、特許文献1に開示される端子部材は、このような半田クラックの防止にも、ある程度有効であると考えられる。 In recent years, in consideration of environmental problems, lead-free solder is often used for manufacturing and mounting of ceramic electronic components. However, according to the inventor's research, it is found that when a ceramic electronic component is soldered onto a substrate using lead-free solder and a thermal shock is applied, the solder is likely to crack rather than the ceramic body. It was. According to the inventor's research, the terminal member disclosed in Patent Document 1 is considered to be effective to some extent in preventing such solder cracks.
しかしながら、特許文献1のセラミック電子部品は、その製造の際に端子電極がセラミック素体の側面にまで及ばないように注意が必要であり、したがって、製造が難しいという短所がある。また、このセラミック電子部品を基板上に実装するときは、端子部材の片端に設けられた折り曲げ部分を基板上の電極と接合しなければならない。このため、実装時にセラミックコンデンサの向きに注意する必要がある。 However, the ceramic electronic component of Patent Document 1 requires a care so that the terminal electrode does not reach the side surface of the ceramic body during its manufacture, and thus has a disadvantage that it is difficult to manufacture. Further, when the ceramic electronic component is mounted on the substrate, the bent portion provided at one end of the terminal member must be joined to the electrode on the substrate. For this reason, it is necessary to pay attention to the orientation of the ceramic capacitor during mounting.
そこで、本発明は、基板に半田付けされた状態で熱衝撃を受けても半田にクラックを発生させにくく、かつ製造及び実装が容易なセラミック電子部品を提供することを課題とする。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a ceramic electronic component that is less likely to cause cracks in solder even when subjected to thermal shock while being soldered to a substrate, and that is easy to manufacture and mount.
本発明に係るセラミック電子部品は、相対向する二つの端面、並びに当該二つの端面を連結し、相対向する第1側面及び第2側面を有するセラミック素体と、このセラミック素体の各端面上に設けられた端子電極と、各端子電極に電気的に接続され、各端子電極を覆う導電性の端子カバーとを備えている。各端子電極は、セラミック素体の各端面上に形成された中央部と、セラミック素体の第1側面上に形成された第1側方部と、セラミック素体の第2側面上に形成された第2側方部とを有している。各端子カバーは、各端子電極の中央部に接続された本体と、各端子電極の第1側方部を覆うように本体から延びる第1延長部と、各端子電極の第2側方部を覆うように本体から延びる第2延長部とを有している。各端子カバーの第1延長部は、各端子電極の第1側方部から離間しており、各端子カバーの第2延長部は、各端子電極の第2側方部から離間している。 A ceramic electronic component according to the present invention includes two end faces facing each other, a ceramic body having the first side face and the second side face facing each other, and on each end face of the ceramic body. And a conductive terminal cover that is electrically connected to each terminal electrode and covers each terminal electrode. Each terminal electrode is formed on a center portion formed on each end face of the ceramic body, a first side portion formed on the first side surface of the ceramic body, and a second side surface of the ceramic body. And a second side portion. Each terminal cover includes a main body connected to a central portion of each terminal electrode, a first extension extending from the main body so as to cover a first side portion of each terminal electrode, and a second side portion of each terminal electrode. And a second extension extending from the main body so as to cover. The first extension of each terminal cover is spaced from the first side of each terminal electrode, and the second extension of each terminal cover is spaced from the second side of each terminal electrode.
このセラミック電子部品では、端子カバーの第1延長部と端子電極の第1側方部、端子カバーの第2延長部と端子電極の第2側方部との間に、それぞれ空間が形成されている。端子カバーの第1延長部または第2延長部のいずれかを基板に半田付けすれば、熱衝撃によって基板が湾曲したときに半田に加わる応力が上記の空間によって緩和される。したがって、本発明のセラミック電子部品は、基板に半田付けされた状態で熱衝撃を受けても、半田にクラックを発生させにくい。端子電極がセラミック素体の第1及び第2側面上に及んでいてもクラックを抑制できるので、端子電極をセラミック素体の端面上のみに形成する必要はない。したがって、本発明のセラミック電子部品は製造が容易である。また、セラミック素体の両側に端子カバーの第1及び第2延長部が配置されており、どちらを基板に半田付けしても半田のクラックを抑制できるので、本発明のセラミック電子部品は基板への実装が容易である。 In this ceramic electronic component, a space is formed between the first extension of the terminal cover and the first side part of the terminal electrode, and between the second extension of the terminal cover and the second side part of the terminal electrode. Yes. If either the first extension portion or the second extension portion of the terminal cover is soldered to the substrate, the stress applied to the solder when the substrate is bent due to thermal shock is alleviated by the space. Therefore, even if the ceramic electronic component of the present invention is subjected to thermal shock while being soldered to the substrate, it is difficult for cracks to occur in the solder. Since cracks can be suppressed even when the terminal electrode extends on the first and second side surfaces of the ceramic body, it is not necessary to form the terminal electrode only on the end surface of the ceramic body. Therefore, the ceramic electronic component of the present invention is easy to manufacture. Further, the first and second extension portions of the terminal cover are arranged on both sides of the ceramic body, and solder cracks can be suppressed regardless of which is soldered to the substrate, so that the ceramic electronic component of the present invention is applied to the substrate. Is easy to implement.
セラミック素体は、二つの端面を連結し、相対向する第3側面及び第4側面を更に有していてもよい。各端子電極は、セラミック素体の第3側面上に形成された第3側方部と、セラミック素体の第4側面上に形成された第4側方部とを更に有していてもよい。各端子カバーは、各端子電極の第3側方部を覆うように本体から延びる第3延長部と、各端子電極の第4側方部を覆うように本体から延びる第4延長部とを更に有していてもよい。各端子カバーの第3延長部は、各端子電極の第3側方部から離間していてもよい。各端子カバーの第4延長部は、各端子電極の第4側方部から離間していてもよい。 The ceramic body may further include a third side surface and a fourth side surface that connect the two end surfaces and face each other. Each terminal electrode may further include a third side portion formed on the third side surface of the ceramic body and a fourth side portion formed on the fourth side surface of the ceramic body. . Each terminal cover further includes a third extension extending from the main body so as to cover the third side portion of each terminal electrode, and a fourth extension extending from the main body so as to cover the fourth side portion of each terminal electrode. You may have. The 3rd extension part of each terminal cover may be spaced apart from the 3rd side part of each terminal electrode. The 4th extension part of each terminal cover may be spaced apart from the 4th side part of each terminal electrode.
この構成によれば、端子カバーの第3延長部と端子電極の第3側方部、端子カバーの第4延長部と端子電極の第4側方部との間にも、それぞれ空間が生じる。したがって、第1〜第4延長部のいずれかを基板に半田付けすれば、熱衝撃によって基板が湾曲したときに半田に加わる応力が上記の空間によって緩和されるので、半田にクラックが発生しにくい。端子電極がセラミック素体の第1〜第4側面上に及んでいてもクラックを抑制できるので、端子電極をセラミック素体の端面上のみに形成する必要はない。したがって、本発明のセラミック電子部品は製造が容易である。また、セラミック素体の四つの側面の上方に端子カバーの第1〜第4延長部が配置されており、どの延長部を基板に半田付けしても半田のクラックを抑制できるので、セラミック電子部品の基板への実装がいっそう容易である。 According to this configuration, spaces are also generated between the third extension of the terminal cover and the third side portion of the terminal electrode, and between the fourth extension of the terminal cover and the fourth side portion of the terminal electrode. Therefore, if any one of the first to fourth extensions is soldered to the substrate, the stress applied to the solder when the substrate is bent due to thermal shock is alleviated by the above space, so that cracks are unlikely to occur in the solder. . Since cracks can be suppressed even if the terminal electrode extends on the first to fourth side surfaces of the ceramic body, it is not necessary to form the terminal electrode only on the end surface of the ceramic body. Therefore, the ceramic electronic component of the present invention is easy to manufacture. Further, the first to fourth extension portions of the terminal cover are arranged above the four side surfaces of the ceramic body, and any extension portion can be soldered to the substrate, so that cracking of the solder can be suppressed. Is easier to mount on the board.
本発明に係るセラミック電子部品は、各端子電極の中央部と各端子カバーの本体との間に設けられた導電性樹脂層を更に備えていてもよい。この構成によれば、セラミック電子部品の端子カバーを基板に半田付けしたときに、熱衝撃によって半田に加わる応力が導電性樹脂層によって更に緩和される。これにより、半田のクラックをいっそう抑制することができる。 The ceramic electronic component according to the present invention may further include a conductive resin layer provided between the center portion of each terminal electrode and the main body of each terminal cover. According to this configuration, when the terminal cover of the ceramic electronic component is soldered to the substrate, the stress applied to the solder due to thermal shock is further relaxed by the conductive resin layer. As a result, solder cracks can be further suppressed.
本発明に係るセラミック電子部品は、基板に半田付けされた状態で熱衝撃を受けても半田にクラックを発生させにくく、かつ製造及び実装が容易である。 The ceramic electronic component according to the present invention is less likely to cause cracks in solder even when subjected to thermal shock while being soldered to a substrate, and is easy to manufacture and mount.
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the description of the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
第1実施形態
図1は、第1の実施形態に係るセラミック電子部品を示す分解斜視図であり、図2は、図1の2−−2線に沿った断面図であり、図3は、図1の3−3線に沿った断面図である。本実施形態のセラミック電子部品は、積層セラミックコンデンサである。この積層セラミックコンデンサ10aは、直方体状のセラミック素体12と、セラミック素体12の両端部に形成された一対の端子電極15と、各端子電極15を覆う導電性の端子カバー17を有している。
First Embodiment FIG. 1 is an exploded perspective view showing a ceramic electronic component according to a first embodiment, FIG. 2 is a sectional view taken along line 2--2 of FIG. 1, and FIG. FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line 3-3 in FIG. 1. The ceramic electronic component of this embodiment is a multilayer ceramic capacitor. The multilayer
図2及び図3に示されるように、セラミック素体12の両端面12aは、セラミック素体12の長手方向に沿って相対向している。これら二つの端面12aは、第1側面12b、第2側面12c、第3側面12d及び第4側面12eによって連結されている。第1側面12bと第2側面12c、第3側面12dと第4側面12eは、それぞれ相対向している。
As shown in FIGS. 2 and 3, both end faces 12 a of the
セラミック素体12は、セラミック誘電体22中に第1内部電極23と第2内部電極24が埋設された構造を有している。これらの内部電極23、24は、共に方形平板状であり、誘電体22を介して交互に重ね合わされている。内部電極23の一端は、セラミック素体12の一方の端面12aに露出し、その端面12a上に形成された端子電極15に接続されている。また、内部電極24の一端は、セラミック素体12の他方の端面12aに露出し、その端面12a上に形成された端子電極15に接続されている。
The
各端子電極15は、セラミック素体12の各端面12aを全面的に覆い、更にその一部がセラミック素体12の第1〜第4側面12b〜12e上に延びている。以下では、端子電極15のうちセラミック素体12の端面12a上に形成された部分15aを「中央部」、第1側面12b上に形成された部分15bを「第1側方部」、第2側面12c上に形成された部分15cを「第2側方部」、第3側面12d上に形成された部分15dを「第3側方部」、第4側面12e上に形成された部分15eを「第4側方部」と呼ぶ。セラミック素体12中の内部電極23、24は、中央部15aと接触している。
Each
各端子カバー17は、導電性樹脂層16によって端子電極15に接着されている。各端子カバー17は、金属からなり、方形平板状の本体17aと、本体17aの相対向する一対の端部から本体17aに対して垂直に延びる方形平板状の第1延長部17b及び第2延長部17cを有している。導電性樹脂層16は、本体17aと端子電極15の中央部15aとの間に介在しており、端子カバー17を端子電極15に電気的に接続している。第1延長部17bは、端子電極15の第1側方部15bを覆い、第2延長部17cは、端子電極15の第2側方部15cを覆っている。第1延長部17bは第1側方部15bから離間しており、第2延長部17cは第2側方部15cから離間している。したがって、第1延長部17bと第1側方部15bの間には空間18が生じ、第2延長部17cと第2側方部15cの間には空間19が生じている。端子カバー17は、後述するように積層セラミックコンデンサ10aの実装に使用する半田のクラックを抑えるほか、端子電極15を湿気から保護する。
Each
以下では、積層セラミックコンデンサ10aの製造方法を説明する。まず、セラミックグリーンシートの表面に、内部電極となるべき電極パターンを形成し、その上に別のセラミックグリーンシートを重ね合わせ、その表面に別の内部電極となるべき電極パターンを形成するという工程を繰り返す。こうして得られたセラミックグリーンシートの積層体を焼成し、セラミック素体12を形成する。
Below, the manufacturing method of the multilayer
次に、セラミック素体12の両端部に、端子電極15の原料となる導電性ペーストを塗布する。この導電性ペーストは、例えば、ガラスを含有する金属ペーストである。導電性ペーストの塗布は、セラミック素体12の両端部を導電性ペーストに浸漬することにより行ってもよい。導電性ペーストは、セラミック素体12の端面12aから第1〜第4側面12b〜12e上にまで及ぶ。導電性ペーストを乾燥させた後、焼成すれば、端子電極15が形成される。
Next, a conductive paste as a raw material for the
続いて、端子電極15の中央部15aに導電性樹脂ペーストを塗布する。この導電性樹脂ペーストは、金属と熱硬化性樹脂を含んでいる。
Subsequently, a conductive resin paste is applied to the
次いで、端子カバー17を用意し、その本体17aが導電性樹脂ペーストに接するように端子カバー17を端子電極15に被せる。このとき、端子カバー17の第1延長部17bと端子電極15の第1側方部15bとの間、及び端子カバー17の第2延長部17cと端子電極15の第2側方部15cとの間に空間18及び19が形成されるように端子カバー17を位置決めする。
Next, a
この後、導電性樹脂ペーストを加熱して硬化させ、端子電極15と端子カバー17とを接着する。硬化した導電性樹脂ペーストは、上述した導電性樹脂層16となって端子電極15と端子カバー17の間に残る。こうして、本実施形態の積層セラミックコンデンサ10aが得られる。
Thereafter, the conductive resin paste is heated and cured to bond the
以下では、図4を参照しながら、本実施形態の効果を説明する。ここで、図4は、積層セラミックコンデンサ10aを基板26上に実装した様子を示す概略断面図である。実装の際、端子電極15は、基板26上の導電ランド(図示せず)に半田28を用いて半田付けされる。
Below, the effect of this embodiment is demonstrated, referring FIG. Here, FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a state in which the multilayer
近年では、環境問題を考慮して、半田28として鉛フリーの半田がしばしば使用される。ところが、本発明者の研究によれば、鉛フリー半田を用いてセラミック電子部品を基板上に半田付けし、熱衝撃を与えると、電子部品のセラミック素体よりも、むしろ半田にクラックが生じやすいことが分かった。
In recent years, in consideration of environmental problems, lead-free solder is often used as the
本実施形態の積層セラミックコンデンサ10aは、鉛フリーの半田28によって基板26に半田付けされても、熱衝撃によるクラックを半田28に生じさせにくい。これは、端子電極15と端子カバー17の間に空間18、19が形成されているためである。基板26及び積層セラミックコンデンサ10aが熱衝撃を受けると、基板26とセラミック素体12との熱膨張係数の違いから、基板26が湾曲する可能性がある。このとき、空間18及び19は、半田28に加わる応力を緩和するクッションとして働く。これにより、半田28にクラックが起こりにくくなる。
Even if the multilayer
例えば、空間18が存在せず、端子電極15の第1側方部15bと端子カバー17の第1延長部17bが直接接合されている場合を考える。この場合、基板26が湾曲すると、第1延長部17bは第1側方部15bを介してセラミック素体12に圧縮応力または引張応力を加える。この応力の反作用として、半田28にも応力が加わる。これが半田28にクラックを生じさせる原因となる。
For example, let us consider a case where the
これに対し、本実施形態では、第1側方部15bと第1延長部17bとの間に空間18が形成されているので、熱衝撃によって基板26が湾曲したときに、第1延長部17bからセラミック素体12に応力が加わりにくい。この結果、半田28に加わる応力が緩和され、半田28にクラックが起こりにくくなる。同様に、第2側方部15cと第1延長部17cとの間に形成された空間19も、熱衝撃による半田28のクラックを抑制する。更に、第1延長部17bが第1側方部15bから離間しているので、この第1延長部17bには、半田付けの際に加わる熱を大気中に放出する放熱フィンとしての機能も見込める。これにより、セラミック素体12に加わる熱衝撃を緩和することができる。
On the other hand, in the present embodiment, since the
セラミック素体12の両側に空間18及び19を形成することは、半田クラックを抑制する以外にも利点をもたらす。すなわち、端子電極15がセラミック素体12の第1側面12b及び第2側面12c上に及んでいてもクラックを抑制できるので、端子電極15をセラミック素体12の端面12a上のみに形成する必要はない。したがって、積層セラミックコンデンサ10aは製造が容易である。
Forming the
更に、図4では、端子カバー17の第2延長部17cが基板26に半田付けされているが、第2延長部17cと相対向する第1延長部17bを基板26に半田付けしても、同じようにクラック抑制効果が得られる。空間18及び19がセラミック素体12を挟んで相対向するように配置されているので、積層セラミックコンデンサ10aを基板26上に実装する際、空間18及び19のどちらを基板26に向けてもよい。このように、積層セラミックコンデンサ10aは、実装方向の自由度が高く、したがって、基板26への実装が容易である。
Furthermore, in FIG. 4, the
端子電極15と端子カバー17の間に介在する導電性樹脂層16は柔軟なので、この導電性樹脂層16も半田28に加わる応力を緩和する。これにより、半田28のクラックがいっそう起こりにくくなる。
Since the
第2実施形態
図5は、第2の実施形態に係るセラミック電子部品を示す分解斜視図であり、図6は、図5の6−6線に沿った断面図であり、図7は、図5の7−7線に沿った断面図である。本実施形態のセラミック電子部品も、積層セラミックコンデンサである。この積層セラミックコンデンサ10bは、第1実施形態の積層セラミックコンデンサ10aにおいて端子カバー17を端子カバー27で置き換えた構成を有する。他の構成は、積層セラミックコンデンサ10aと同様である。
Second Embodiment FIG. 5 is an exploded perspective view showing a ceramic electronic component according to a second embodiment, FIG. 6 is a cross-sectional view taken along line 6-6 of FIG. 5, and FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line 7-7 of FIG. The ceramic electronic component of this embodiment is also a multilayer ceramic capacitor. The multilayer
各端子カバー27は、各端子電極15を覆うように、導電性樹脂層16によって各端子電極15に接着されている。各端子カバー27は、金属からなり、方形平板状の本体27aを有している。本体27aの相対向する一対の端部には、本体17aに対して垂直に延びる方形平板状の第1延長部27b及び第2延長部27cが設けられている。更に、この一対の端部が配列される方向と垂直な方向に沿って相対向する本体27aの別の一対の端部には、本体17aに対して垂直に延びる方形平板状の第3延長部27d及び第4延長部27eが設けられている。導電性樹脂層16は、本体27aと端子電極15の中央部15aとの間に介在しており、端子カバー27を端子電極15に電気的に接続している。
Each
第1〜第4延長部27b〜27eは、それぞれ端子電極15の第1側方部15b〜第4側方部15eを覆っている。第1延長部27bは第1側方部15bから、第2延長部27cは第2側方部15cから、第3延長部27dは第3側方部15dから、第4延長部27eは第4側方部15eから、それぞれ離間している。したがって、第1延長部27bと第1側方部15bの間、第2延長部27cと第2側方部15cの間、第3延長部27dと第3側方部15dの間、及び第4延長部27eと第4側方部15eの間には、空間38が生じている。
The first to
第1実施形態における空間18及び19と同様に、この空間38は、第3延長部27dまたは第4延長部27eを基板に半田付けしたときに、熱衝撃によって半田に加わる応力を緩和し、半田のクラックを抑制する。したがって、第1〜第4延長部27b〜27eのいずれを基板に半田付けしても、半田のクラックを抑制することができる。このように、積層セラミックコンデンサ10bは、実装方向の自由度が更に高く、したがって、基板26への実装がいっそう容易である。
Similar to the
本発明者は、実施例として、第1実施形態で述べた方法により積層セラミックコンデンサ10aを実際に製造すると共に、比較例として、空間18を有さない積層セラミックコンデンサを製造し、両者に熱衝撃を加えてクラックの発生の有無を調べた。
The inventor actually manufactured the multilayer
実施例で使用した端子電極15用の導電性ペーストは、Agとガラスフリットを主成分としている。また、実施例で使用する導電性樹脂ペーストは、平均粒径1μmの粒状Ag粉末を35wt%、平均粒径10μmのフレーク状Ag粉末を35wt%、エポキシ樹脂を12wt%、溶剤を18wt%の濃度でそれぞれ含んでいる。この導電性樹脂ペーストを介して端子カバー17を端子電極15に被せた後、200℃にて60分間加熱することにより導電性樹脂ペーストを硬化させ、端子電極15と端子カバー17を接着した。
The conductive paste for the
一方、比較例を製造する際は、実施例と同様の方法で端子電極15を形成した後、中央部15a及び側方部15b〜15eの表面全体を覆うように導電性樹脂ペーストを塗布した。導電性樹脂ペーストは、実施例と同じものを使用した。次に、導電性樹脂ペーストを乾燥させた後、200℃にて60分間加熱し、硬化させて導電性樹脂層を形成する。次いで、電解メッキ法によって導電性樹脂層の表面にNiメッキ膜を形成し、続いて、電解メッキ法によってNiメッキ膜の表面にSnメッキ膜を形成した。こうして、比較例の積層セラミックコンデンサを得た。
On the other hand, when manufacturing a comparative example, after forming the
本発明者は、実施例及び比較例の積層セラミックコンデンサを50個ずつ製造し、その各々について熱衝撃特性を調べた。具体的には、各コンデンサをガラスエポキシ基板に鉛フリー半田を用いてリフロー半田付けしたサンプルを用意し、各サンプルの熱衝撃特性を調べた。熱衝撃の一つのサイクルでは、−55℃の温度下にサンプルを30分間置いた後、温度を125℃まで上昇させ、サンプルを更に30分間置く。次のサイクルでは、温度を125℃から−55℃まで下降させ、サンプルを30分間置き、その後、温度を125℃まで上昇させて更に30分間置く。本発明者は、1000サイクル、2000サイクル及び3000サイクル後の各サンプルの断面を観察し、半田クラックの発生の有無を調べた。この結果を以下の表に示す。
この表において、「n/50」は50個のサンプルのうちn個に半田クラックが生じたことを表す。表1に示されるように、2000サイクル及び3000サイクルの熱衝撃を加えたときに、比較例を使用したサンプルの一部に半田クラックが発生するが、実施例を使用したサンプルでは、3000サイクルの熱衝撃を加えても半田クラックが一切発生しなかった。これは、端子電極15と端子カバー17との間に形成された空間18、19が半田クラックを防ぐ効果を示している。
The inventor manufactured 50 multilayer ceramic capacitors of Examples and Comparative Examples, and examined the thermal shock characteristics of each. Specifically, samples were prepared by reflow soldering each capacitor to a glass epoxy board using lead-free solder, and the thermal shock characteristics of each sample were examined. In one cycle of thermal shock, the sample is placed at a temperature of −55 ° C. for 30 minutes, then the temperature is increased to 125 ° C. and the sample is placed for an additional 30 minutes. In the next cycle, the temperature is lowered from 125 ° C. to −55 ° C., the sample is placed for 30 minutes, and then the temperature is raised to 125 ° C. for an additional 30 minutes. The inventor observed the cross section of each sample after 1000 cycles, 2000 cycles, and 3000 cycles, and examined whether or not solder cracks were generated. The results are shown in the following table.
In this table, “n / 50” indicates that solder cracks occurred in n out of 50 samples. As shown in Table 1, when a thermal shock of 2000 cycles and 3000 cycles was applied, a solder crack occurred in a part of the sample using the comparative example, but in the sample using the example, 3000 cycles No solder cracks occurred even when a thermal shock was applied. This shows the effect that the
以上、本発明をその実施形態に基づいて詳細に説明した。しかし、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。本発明は、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変形が可能である。 The present invention has been described in detail based on the embodiments. However, the present invention is not limited to the above embodiment. The present invention can be variously modified without departing from the gist thereof.
本発明のセラミック電子部品は、上記実施形態の積層セラミックコンデンサに限られず、他の任意の電子部品であってもよい。例えば、本発明のセラミック電子部品は、セラミック素体を有するインダクタであってもよい。このセラミック素体は、セラミック磁性体と、そのセラミック磁性体中に埋設されたコイル状の内部電極を有する。セラミック素体の両端部には、上記実施形態と同様の端子電極及び端子カバーが設けられる。 The ceramic electronic component of the present invention is not limited to the multilayer ceramic capacitor of the above embodiment, and may be any other electronic component. For example, the ceramic electronic component of the present invention may be an inductor having a ceramic body. This ceramic body has a ceramic magnetic body and a coil-shaped internal electrode embedded in the ceramic magnetic body. Terminal electrodes and terminal covers similar to those in the above embodiment are provided at both ends of the ceramic body.
上記実施形態では、端子カバーの各延長部に垂直な方向に沿ってその延長部の上方から積層セラミックコンデンサを見たときに、端子電極の各側方部が延長部によって完全に覆われている。しかしながら、各延長部は、その下方に位置する側方部の全部を覆う必要は必ずしもなく、その一部のみを覆っていてもよい。 In the above embodiment, when the multilayer ceramic capacitor is viewed from above the extension along the direction perpendicular to each extension of the terminal cover, each side part of the terminal electrode is completely covered by the extension. . However, each extension part does not necessarily need to cover all of the side parts located below, and may cover only a part thereof.
10a、10b…積層セラミックコンデンサ、12…セラミック素体、15…端子電極、16…導電性樹脂層、17…端子カバー、18、19及び38…空間、22…誘電体、23…第1内部電極、24…第2内部電極、26…基板、28…半田
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記セラミック素体の各前記端面上に設けられた端子電極と、
各前記端子電極に電気的に接続され、各前記端子電極を覆う導電性の端子カバーと、
を備えるセラミック電子部品であって、
各前記端子電極は、前記セラミック素体の各前記端面上に形成された中央部と、前記セラミック素体の第1側面上に形成された第1側方部と、前記セラミック素体の第2側面上に形成された第2側方部とを有しており、
各前記端子カバーは、各前記端子電極の中央部に接続された本体と、各前記端子電極の第1側方部を覆うように前記本体から延びる第1延長部と、各前記端子電極の第2側方部を覆うように前記本体から延びる第2延長部とを有しており、
各前記端子カバーの第1延長部は、各前記端子電極の第1側方部から離間しており、
各前記端子カバーの第2延長部は、各前記端子電極の第2側方部から離間している、
セラミック電子部品。 Two opposing end surfaces, and a ceramic element body connecting the two end surfaces and having first and second side surfaces facing each other;
Terminal electrodes provided on each of the end faces of the ceramic body,
A conductive terminal cover electrically connected to each of the terminal electrodes and covering each of the terminal electrodes;
A ceramic electronic component comprising:
Each of the terminal electrodes includes a central portion formed on each end face of the ceramic body, a first side portion formed on a first side surface of the ceramic body, and a second portion of the ceramic body. A second lateral portion formed on the side surface,
Each terminal cover includes a main body connected to a central portion of each terminal electrode, a first extension extending from the main body so as to cover a first lateral portion of each terminal electrode, and a first extension of each terminal electrode. A second extension extending from the main body so as to cover two side portions,
A first extension of each terminal cover is spaced apart from a first lateral portion of each terminal electrode;
A second extension of each terminal cover is spaced apart from a second lateral portion of each terminal electrode;
Ceramic electronic components.
各前記端子電極は、前記セラミック素体の第3側面上に形成された第3側方部と、前記セラミック素体の第4側面上に形成された第4側方部とを更に有しており、
各前記端子カバーは、各前記端子電極の第3側方部を覆うように前記本体から延びる第3延長部と、各前記端子電極の第4側方部を覆うように前記本体から延びる第4延長部とを更に有しており、
各前記端子カバーの第3延長部は、各前記端子電極の第3側方部から離間しており、
各前記端子カバーの第4延長部は、各前記端子電極の第4側方部から離間している、
請求項1に記載のセラミック電子部品。 The ceramic body further includes a third side surface and a fourth side surface that connect the two end surfaces and face each other.
Each of the terminal electrodes further includes a third side portion formed on the third side surface of the ceramic body and a fourth side portion formed on the fourth side surface of the ceramic body. And
Each terminal cover includes a third extension extending from the main body so as to cover the third side portion of each terminal electrode, and a fourth extension extending from the main body so as to cover the fourth side portion of each terminal electrode. And further having an extension,
A third extension of each terminal cover is spaced apart from a third lateral portion of each terminal electrode;
The fourth extension of each terminal cover is spaced apart from the fourth side of each terminal electrode;
The ceramic electronic component according to claim 1.
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008166301A (en) * | 2006-12-26 | 2008-07-17 | Tdk Corp | Electronic component, and mounting structure thereof |
KR20160035490A (en) * | 2014-09-23 | 2016-03-31 | 삼성전기주식회사 | Multi-layered ceramic capacitor and board having the same mounted thereon |
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KR102057906B1 (en) * | 2014-08-05 | 2019-12-20 | 삼성전기주식회사 | Multi-layered ceramic capacitor and board having the same mounted thereon |
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2006
- 2006-02-28 JP JP2006053745A patent/JP2007234820A/en not_active Withdrawn
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