JP2007234681A - Semiconductor manufacturing apparatus - Google Patents

Semiconductor manufacturing apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2007234681A
JP2007234681A JP2006051359A JP2006051359A JP2007234681A JP 2007234681 A JP2007234681 A JP 2007234681A JP 2006051359 A JP2006051359 A JP 2006051359A JP 2006051359 A JP2006051359 A JP 2006051359A JP 2007234681 A JP2007234681 A JP 2007234681A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
head
suction
semiconductor chip
reversing
storage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006051359A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shuji Ando
修治 安藤
Tatsuji Oguchi
達司 小口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Apic Yamada Corp
Original Assignee
Apic Yamada Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Apic Yamada Corp filed Critical Apic Yamada Corp
Priority to JP2006051359A priority Critical patent/JP2007234681A/en
Publication of JP2007234681A publication Critical patent/JP2007234681A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor manufacturing apparatus which can change the attitude of a semiconductor device beforehand that is used in the next step, and can house or convey the semiconductor device. <P>SOLUTION: The semiconductor manufacturing apparatus 1 is provided with a first suction head 11 to suck a semiconductor device 3 in first attitude, a rotary mechanism 12 to turn the first suction head by 90° from the first attitude of the semiconductor device to a second attitude thereof, and a second suction head 31 to suck the semiconductor device in second attitude. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体製造装置に関し、特に、半導体装置を負圧により吸着して基板に実装する装置等に搬送する装置に関する。   The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus, and more particularly, to an apparatus for transporting a semiconductor device to a device or the like that is attracted by negative pressure and mounted on a substrate.

半導体製造装置の一例としてのハンドラは、例えば、UVテープ等のキャリアテープにより複数保持された半導体装置(例えば、Chip Size Package)の1つ1つを空気負圧により吸着し、収納トレイ上に収納したり基板への実装工程に搬送したりする装置として用いられる。   For example, a handler as an example of a semiconductor manufacturing apparatus adsorbs each semiconductor device (for example, Chip Size Package) held by a carrier tape such as a UV tape by negative air pressure and stores it on a storage tray. It is used as a device that transports the substrate to the mounting process.

従来のハンドラは、例えば特許文献1に開示されているように、半導体装置を吸着した姿勢のまま搬送したり、180度反転させた姿勢で搬送したりする。これにより、搬送された半導体装置をその搬送姿勢のまま収納トレイに収納したり基板に実装したりすることができる。   For example, as disclosed in Patent Document 1, a conventional handler transports a semiconductor device in an attracted posture or transports it in a posture reversed 180 degrees. As a result, the transferred semiconductor device can be stored in the storage tray or mounted on the substrate in the transfer posture.

具体的には、図12Aに示すように、半導体装置101の上面を吸着ヘッド102により吸着し、そのままの姿勢で収納トレイ103上に搬送する。また、図12Bに示すように、半導体装置101の上面を吸着ヘッド102により吸着し、吸着ヘッド102とともに半導体装置101を180度反転させる。そして、他の吸着ヘッド104により半導体装置101の上側の面(底面)を吸着し、その180度反転した姿勢で収納トレイ103上に搬送する。
特開2002−252251号公報(図1,2等)
Specifically, as shown in FIG. 12A, the upper surface of the semiconductor device 101 is sucked by the suction head 102 and is transported onto the storage tray 103 as it is. 12B, the upper surface of the semiconductor device 101 is sucked by the suction head 102, and the semiconductor device 101 is inverted 180 degrees together with the suction head 102. Then, the upper surface (bottom surface) of the semiconductor device 101 is sucked by another suction head 104 and conveyed onto the storage tray 103 in a posture inverted by 180 degrees.
Japanese Patent Laid-Open No. 2002-252251 (FIGS. 1, 2, etc.)

しかしながら、半導体装置には、例えば半導体加速度センサや地磁気センサのように、キャリアテープ上での姿勢(横姿勢)から垂直方向に90度回転させた姿勢(縦姿勢)で基板に実装されるものがある。この場合、前述したように横姿勢のまま若しくは180度反転した姿勢で実装工程に進むと、実装工程において半導体装置を90度縦回転させることが必要となり、実装工程が複雑になったり実装工程に要する時間が長くなったりする。   However, some semiconductor devices, such as semiconductor acceleration sensors and geomagnetic sensors, are mounted on a substrate in a posture (vertical posture) rotated 90 degrees vertically from a posture on the carrier tape (lateral posture). is there. In this case, as described above, when proceeding to the mounting process in the horizontal position or in a 180-degree inverted position, it is necessary to vertically rotate the semiconductor device by 90 degrees in the mounting process, which complicates the mounting process. It takes longer time.

本発明は、半導体装置の姿勢を次工程等に適した姿勢に変更した上で搬送したり収納したりすることができるようにした半導体製造装置を提供することを目的の1つとしている。   An object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus which can be transported and stored after changing the posture of the semiconductor device to a posture suitable for the next process or the like.

本発明の一側面としての半導体製造装置は、第1の姿勢の半導体装置を吸着する第1の吸着ヘッドと、該半導体装置が第1の姿勢に対して90度縦回転した第2の姿勢になるように第1の吸着ヘッドを回転させる回転機構と、第2の姿勢の半導体装置を吸着する第2の吸着ヘッドとを有することを特徴とする。   A semiconductor manufacturing apparatus according to one aspect of the present invention includes a first suction head that sucks a semiconductor device in a first posture, and a second posture in which the semiconductor device is vertically rotated 90 degrees with respect to the first posture. A rotation mechanism for rotating the first suction head and a second suction head for sucking the semiconductor device in the second posture are provided.

なお、上記発明において、第1の吸着ヘッドに、半導体装置における第2の吸着ヘッドにより吸着される第1の面とは反対側の第2の面に当接する受け部を設けてもよい。この場合、第1の吸着ヘッドにより、第2の面を受け部に当接させるように半導体装置に吸着力を作用させるようにしてもよい。   In the above invention, the first suction head may be provided with a receiving portion that comes into contact with the second surface of the semiconductor device opposite to the first surface that is sucked by the second suction head. In this case, a suction force may be applied to the semiconductor device by the first suction head so that the second surface is brought into contact with the receiving portion.

さらに、第2の吸着ヘッドにより吸着された半導体装置を、第2の姿勢のまま搬送する搬送機構を設けてもよい。   Furthermore, a transport mechanism that transports the semiconductor device sucked by the second suction head in the second posture may be provided.

また、上記回転機構に、半導体装置が第2の姿勢になるように第1の吸着ヘッドを回転させる第1の動作と、半導体装置が第1の姿勢に対して180度反転した第3の姿勢になるように第1の吸着ヘッドを回転させる第2の動作とを行わせるようにしてもよい。   Further, the rotating mechanism causes the first operation to rotate the first suction head so that the semiconductor device is in the second posture, and the third posture in which the semiconductor device is inverted 180 degrees with respect to the first posture. The second operation of rotating the first suction head may be performed so that

本発明によれば、第1の吸着ヘッドで吸着した半導体装置を、該吸着時の姿勢(第1の姿勢)から90度縦回転させた姿勢(第2の姿勢)で第2の吸着ヘッドに吸着させ、搬送したり収納したりすることができる。このため、次工程、例えば第2の姿勢の半導体装置を基板に実装する工程において、半導体装置を第2の姿勢に回転させる必要がなくなり、次工程を簡単化したり次工程に要する時間を短縮したりすることができる。   According to the present invention, the semiconductor device sucked by the first suction head is moved to the second suction head in a posture (second posture) rotated 90 degrees vertically from the posture at the time of suction (first posture). It can be adsorbed and transported or stored. For this reason, in the next step, for example, the step of mounting the semiconductor device in the second posture on the substrate, it is not necessary to rotate the semiconductor device to the second posture, simplifying the next step or reducing the time required for the next step. Can be.

特に、第1の吸着ヘッドに受け部を設けることにより、第1の吸着ヘッドから第2の吸着ヘッドへの半導体装置の受け渡しを確実かつ安定して行うことができる。   In particular, by providing the receiving portion in the first suction head, the semiconductor device can be reliably and stably delivered from the first suction head to the second suction head.

以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1には、本発明の実施例1である半導体製造装置としてのハンドラの平面図を示している。ここでは、図1の紙面に平行で互いに直交する2軸のうち、図の左右に延びる軸をX軸とし、上下に延びる軸をY軸とする。また、図1の紙面に垂直な軸をZ軸とする。   FIG. 1 shows a plan view of a handler as a semiconductor manufacturing apparatus that is Embodiment 1 of the present invention. Here, of the two axes that are parallel to the sheet of FIG. 1 and orthogonal to each other, the axis that extends to the left and right in the figure is the X axis, and the axis that extends vertically is the Y axis. In addition, an axis perpendicular to the paper surface of FIG.

図1において、1はハンドラ本体であり、2はハンドラの基台である。基台2上における図中の左上の位置(以下、反転ポジションという)には、多数の半導体チップ(半導体装置)3が貼り付けられた円形のUVキャリアテープ4を空気負圧によって吸着固定したリングフレーム5が配置されている。   In FIG. 1, 1 is a handler body, and 2 is a base of the handler. A ring in which a circular UV carrier tape 4 with a large number of semiconductor chips (semiconductor devices) 3 attached thereto is adsorbed and fixed by negative air pressure at a position on the upper left of the base 2 in the figure (hereinafter referred to as a reverse position). A frame 5 is arranged.

各半導体チップ3は、UVキャリアテープ4に貼り付けられた回路形成後の円形のウエハから不図示のダイシング装置によって直方体形状に切り出されたものである。本実施例では、半導体チップとして、製品の基板に対して縦姿勢で実装されるセンサ用チップを想定している。例えば、自動車、カーナビケーション、カメラ、携帯電話、ゲーム機、GPS等の製品に搭載され、垂直方向における加速度、振動、地磁気を検出する半導体加速度センサや地磁気センサといったセンサ用のチップを想定している。但し、本発明にいう半導体装置は、このようなセンサ用チップに限らず、空気負圧により吸着可能なすべての半導体装置を含む。   Each semiconductor chip 3 is cut out in a rectangular parallelepiped shape by a dicing apparatus (not shown) from a circular wafer after forming a circuit attached to the UV carrier tape 4. In the present embodiment, a sensor chip is assumed as a semiconductor chip mounted in a vertical posture with respect to a product substrate. For example, a chip for a sensor such as a semiconductor acceleration sensor or a geomagnetic sensor that is mounted on a product such as an automobile, a car navigation system, a camera, a mobile phone, a game machine, or a GPS and detects acceleration, vibration, and geomagnetism in the vertical direction is assumed. . However, the semiconductor device referred to in the present invention is not limited to such a sensor chip, but includes all semiconductor devices that can be adsorbed by negative air pressure.

また、各半導体チップ3は、ダイシング装置によって切り出された直後のものであってもよいし、切り出された後にテストが行われたものであってもよい。   Further, each semiconductor chip 3 may be a chip immediately after being cut out by a dicing apparatus, or may be a chip that has been tested after being cut out.

反転ポジションにおいてUVキャリアテープ4上の半導体チップ3は1つずつ、吸着反転器10によって吸着されてUVキャリアテープ4から引き剥がされた後、その姿勢を変更される。   The semiconductor chips 3 on the UV carrier tape 4 at the reversal position are sucked by the suction reversing device 10 one by one and then peeled off from the UV carrier tape 4, and then their postures are changed.

吸着反転ユニット10は、反転ポジション内の所定の吸着位置に配置された半導体チップ3を空気負圧により吸着する吸着ヘッド(第1の吸着ヘッド:以下、反転ヘッドという)11と、該反転ヘッド11を縦回転(Z軸方向回転)させる回転機構としてのステッピングモータ12とを有する。反転ヘッド11のうち半導体チップ3に接触する部分は、ゴム等の弾性材料、加工性の良いアルミ等の金属材料、又は樹脂材料によって製作される。   The suction reversing unit 10 includes a suction head (first suction head: hereinafter referred to as a reversing head) 11 that sucks the semiconductor chip 3 disposed at a predetermined suction position in the reversing position by negative air pressure, and the reversing head 11. And a stepping motor 12 as a rotating mechanism for rotating the motor vertically (rotating in the Z-axis direction). The portion of the reversing head 11 that contacts the semiconductor chip 3 is made of an elastic material such as rubber, a metal material such as aluminum having good workability, or a resin material.

ステッピングモータ12の回転軸12aの先端には、該回転軸12aと直角をなす方向に延びるアーム13が固定されている。該アーム13の先端には、反転ヘッド11が固定されている。このため、ステッピングモータ12が回転すると、Y軸方向に延びる回転軸12aを中心として反転ヘッド11が回転し、反転ヘッド11に吸着された半導体チップ3が縦回転する。なお、本実施例では、反転ヘッド11を縦回転させる回転機構としてステッピングモータを用いる場合について説明するが、該回転機構として他のアクチュエータを使用してもよい。   An arm 13 extending in a direction perpendicular to the rotating shaft 12a is fixed to the tip of the rotating shaft 12a of the stepping motor 12. A reversing head 11 is fixed to the tip of the arm 13. For this reason, when the stepping motor 12 rotates, the reversing head 11 rotates around the rotating shaft 12a extending in the Y-axis direction, and the semiconductor chip 3 attracted to the reversing head 11 rotates vertically. In this embodiment, a case where a stepping motor is used as a rotating mechanism for rotating the reversing head 11 vertically will be described. However, another actuator may be used as the rotating mechanism.

反転ポジションにおいて、リングフレーム4はX軸方向およびY軸方向にスライド駆動される。これにより、UVキャリアテープ4上の半導体チップ3は順次、反転ヘッド11による吸着位置に搬送される。   In the reverse position, the ring frame 4 is slid in the X axis direction and the Y axis direction. Thereby, the semiconductor chips 3 on the UV carrier tape 4 are sequentially conveyed to the suction position by the reversing head 11.

また、基台2上における図中の左下の位置には、複数の半導体チップが貼り付けられたUVキャリアテープ(図示せず)を搭載したリングフレーム6が配置されている。反転ポジションにおいて全ての半導体チップ3がUVキャリアテープ4から引き剥がされた後、次のリングフレーム6(つまりは半導体チップが貼り付けられたUVキャリアテープ)が駆動機構7によって反転ポジションに搬送され、反転ポジションにてUVキャリアテープがリングフレーム6に空気負圧により吸着固定される。   In addition, a ring frame 6 on which a UV carrier tape (not shown) on which a plurality of semiconductor chips are bonded is mounted on the base 2 at a lower left position in the drawing. After all the semiconductor chips 3 are peeled off from the UV carrier tape 4 at the reverse position, the next ring frame 6 (that is, the UV carrier tape to which the semiconductor chip is attached) is conveyed to the reverse position by the drive mechanism 7, The UV carrier tape is adsorbed and fixed to the ring frame 6 by negative air pressure at the reverse position.

さらに、基台2上における図中の右上の位置(以下、収納ポジションという)には、収納トレイ21が配置されている。反転ポジションにて反転ヘッド11によって吸着され、UVキャリアテープ4から引き剥がされた半導体チップ3は、ステッピングモータ12の回転駆動によって反転ヘッド11とともに90度縦回転された後、吸着収納ユニット30により吸着されて収納トレイ21上に搬送および収納される。なお、本実施例において、「90度」や「180度」は、完全な90度や180度だけでなく、許容誤差の範囲で該角度と異なる角度も含む。   Further, a storage tray 21 is disposed on the base 2 at the upper right position in the figure (hereinafter referred to as a storage position). The semiconductor chip 3 attracted by the reversing head 11 at the reversing position and peeled off from the UV carrier tape 4 is rotated 90 degrees longitudinally together with the reversing head 11 by the rotational drive of the stepping motor 12 and then attracted by the suction housing unit 30. Then, it is conveyed and stored on the storage tray 21. In the present embodiment, “90 degrees” and “180 degrees” include not only perfect 90 degrees and 180 degrees but also an angle different from the angle within the allowable error range.

吸着収納ユニット30は、空気負圧によって半導体チップ3を吸着する吸着ヘッド(第2の吸着ヘッド:以下、収納ヘッドという)31と、該収納ヘッド31を支持する支持部材32と、該支持部材32をX軸方向およびY軸方向にガイドするレール33,34とを有する。なお、レール34は、後述する収納トレイのY方向送り機構で代用してもよい。   The suction storage unit 30 includes a suction head (second suction head: hereinafter referred to as a storage head) 31 that sucks the semiconductor chip 3 by negative air pressure, a support member 32 that supports the storage head 31, and the support member 32. Rails 33 and 34 for guiding the motor in the X-axis direction and the Y-axis direction. The rail 34 may be replaced by a Y-direction feed mechanism for the storage tray described later.

支持部材32(つまりは収納ヘッド31)は、不図示の搬送アクチュエータの駆動力によってレール33,34によりガイドされながらX軸方向およびY軸方向に駆動される。また、収納ヘッド31は、支持部材32に取り付けられた不図示の昇降アクチュエータの駆動力によってZ軸方向に駆動される。これらレール33,34、搬送アクチュエータおよび昇降アクチュエータにより搬送機構が構成される。   The support member 32 (that is, the storage head 31) is driven in the X-axis direction and the Y-axis direction while being guided by the rails 33 and 34 by the driving force of a transport actuator (not shown). The storage head 31 is driven in the Z-axis direction by the driving force of a lifting actuator (not shown) attached to the support member 32. These rails 33, 34, the transport actuator and the lifting actuator constitute a transport mechanism.

収納トレイ21は、基台2上における図中の右上位置(以下、収納ポジションという)に配置されている。また、基台2上における図中の右下位置には、次の収納トレイ(空トレイ)22が配置されている。   The storage tray 21 is disposed on the base 2 at an upper right position in the figure (hereinafter referred to as a storage position). A next storage tray (empty tray) 22 is disposed on the base 2 at the lower right position in the figure.

収納トレイ21,22は、UVキャリアテープ4上にて反転ヘッド11により吸着されたときの横姿勢(第1の姿勢)から90度縦回転した縦姿勢(第2の姿勢)の半導体チップ3を、その縦姿勢のまま複数収納することができる。   The storage trays 21 and 22 hold the semiconductor chip 3 in the vertical posture (second posture) rotated 90 degrees vertically from the horizontal posture (first posture) when sucked by the reversing head 11 on the UV carrier tape 4. A plurality of pieces can be stored in the vertical posture.

収納ポジションにおいて収納トレイ21に半導体チップ3が所定個収納されると、該収納トレイ21は不図示のラックに格納され、空トレイ22が収納ポジションに搬送される。   When a predetermined number of semiconductor chips 3 are stored in the storage tray 21 in the storage position, the storage tray 21 is stored in a rack (not shown), and the empty tray 22 is conveyed to the storage position.

収納トレイ21に縦姿勢で収納された半導体チップ3は、不図示の実装装置により、前述したように製品の基板に縦姿勢のまま実装される。   The semiconductor chip 3 stored in the storage tray 21 in a vertical posture is mounted in a vertical posture on the product substrate as described above by a mounting device (not shown).

なお、図示しないが、ハンドラには、リングフレーム5(6)、反転ヘッド11および収納ヘッド31に空気負圧を供給する真空源が設けられている。   Although not shown, the handler is provided with a vacuum source that supplies negative air pressure to the ring frame 5 (6), the reversing head 11, and the storage head 31.

51は前述した吸着反転ユニット10や吸着収納ユニット30の動作、リングフレーム5のXY方向駆動、およびリングフレーム6や収納トレイ22の搬送動作を制御するコントローラである。   A controller 51 controls the operations of the suction reversal unit 10 and the suction storage unit 30, the XY direction drive of the ring frame 5, and the transport operation of the ring frame 6 and the storage tray 22.

図2には、リングフレーム5、反転ヘッド11、収納ヘッド31および収納トレイ21を正面から見た図を示している。反転ヘッド11は、図中に実線で示すように、UVキャリアテープ4上の半導体チップ3を吸着する0°位置と、0°位置から90回転した位置であって図中に一点鎖線で示す90°位置(I)との間で縦回転することができる。   FIG. 2 shows a front view of the ring frame 5, the reversing head 11, the storage head 31, and the storage tray 21. As shown by the solid line in the figure, the reversing head 11 is located at the 0 ° position for adsorbing the semiconductor chip 3 on the UV carrier tape 4 and the position rotated 90 from the 0 ° position, and indicated by the dashed line in the figure. It can be rotated vertically between the position (I).

反転ポジションにおいて、所定の吸着位置に配置された半導体チップ3は、UVキャリアテープ4の下面側から、突き上げアクチュエータ41のピン41aによって突き上げられる。これにより、所定の吸着位置に配置された半導体チップ3の反転ヘッド11による吸着が確実に行われ、またUVキャリアテープ4からの引き剥がしも促進される。   In the reverse position, the semiconductor chip 3 arranged at a predetermined suction position is pushed up from the lower surface side of the UV carrier tape 4 by the pin 41 a of the push-up actuator 41. Thereby, the semiconductor chip 3 arranged at a predetermined suction position is reliably sucked by the reversing head 11, and the peeling from the UV carrier tape 4 is also promoted.

反転ヘッド11は、図3に示すように、上面吸着部11aと、該上面吸着部11aに対して直角をなすように延びる側面吸着部11bとを有する。UVキャリアテープ4上において横姿勢の半導体チップ3が反転ヘッド11によって吸着されるとき、該半導体チップ3の上面3aが上面吸着部11aに密着する。また、該半導体チップ3の側面(第2の面)3bは側面吸着部11bに密着する。   As shown in FIG. 3, the reversing head 11 has an upper surface suction portion 11a and a side surface suction portion 11b extending so as to be perpendicular to the upper surface suction portion 11a. When the semiconductor chip 3 in the horizontal position on the UV carrier tape 4 is adsorbed by the reversing head 11, the upper surface 3a of the semiconductor chip 3 is in close contact with the upper surface adsorbing portion 11a. The side surface (second surface) 3b of the semiconductor chip 3 is in close contact with the side surface adsorption portion 11b.

図3中に白抜き矢印で示すように、反転ヘッド11が0°位置から90°位置(I)に回転して半導体チップ3が縦姿勢になると、側面吸着部11bは該半導体チップ3の下側の面3bを支える受け部としても機能する。   When the reversing head 11 is rotated from the 0 ° position to the 90 ° position (I) and the semiconductor chip 3 is in the vertical posture as shown by the white arrow in FIG. It functions also as a receiving part which supports the side surface 3b.

そして、このように下側の面3bが受け部によって受けられた半導体チップ3の上側の面、すなわち面3bとは反対側の上側の面(第1の面)3cは、収納ヘッド31によって吸着される。   Then, the upper surface (first surface) 3c opposite to the surface 3b of the semiconductor chip 3 in which the lower surface 3b is received by the receiving portion is attracted by the storage head 31. Is done.

ここで、反転ヘッド11に受け部が設けられていることにより、収納ヘッド31が縦姿勢の半導体チップ3における上側の面3cに当接したときの、半導体チップ3の反転ヘッド11からの下方へのずれや落下を防止することができる。   Here, since the receiving portion is provided in the reversing head 11, when the storage head 31 comes into contact with the upper surface 3 c of the vertical semiconductor chip 3, the semiconductor chip 3 is moved downward from the reversing head 11. Can be prevented from shifting or falling.

また、図3に示す縦回転の中心軸方向視において、受け部である側面吸着部11bは、縦姿勢の半導体チップ3における下側の面3bのうち1/2以上の領域に当接するように上面吸着部11aから延出している。これにより、半導体チップ3の上側の面3cに収納ヘッド31が当接したときに、半導体チップ3が受け部の先端を支点として回転し、反転ヘッド11から脱落することを防止できる。なお、この脱落防止効果をより高めるためには、側面吸着部11bを、該下半導体チップ3における下側の面3bのうち2/3以上の領域に当接するように上面吸着部11aから延出させるとよい。   Further, when viewed from the central axis direction of the vertical rotation shown in FIG. 3, the side surface adsorbing portion 11 b that is a receiving portion is in contact with a region that is 1/2 or more of the lower surface 3 b of the semiconductor chip 3 in the vertical posture. It extends from the upper surface adsorption part 11a. Thereby, when the storage head 31 comes into contact with the upper surface 3 c of the semiconductor chip 3, it is possible to prevent the semiconductor chip 3 from rotating from the tip of the receiving portion as a fulcrum and falling off the reversing head 11. In order to further enhance the drop-off preventing effect, the side surface adsorbing portion 11b is extended from the upper surface adsorbing portion 11a so as to come into contact with a region of 2/3 or more of the lower surface 3b of the lower semiconductor chip 3. It is good to let them.

反転ヘッド11に上記のような受け部を設けることにより、縦姿勢に回転された半導体チップ3を収納ヘッド31により吸着する際に要求される収納ヘッド31の位置精度を緩くすることができる。つまり、収納ヘッド31の吸着パッド31aをゴム等の弾性を有する材料で形成し、収納ヘッド31を、吸着パッド31aが半導体チップ3の上側の面3cに当接してある程度弾性変形する適度な位置まで下降させれば、半導体チップ3を確実に吸着することができる。   By providing the reversing head 11 with the receiving portion as described above, the positional accuracy of the storage head 31 required when the semiconductor chip 3 rotated in the vertical posture is attracted by the storage head 31 can be relaxed. That is, the suction pad 31a of the storage head 31 is formed of an elastic material such as rubber, and the storage head 31 is moved to an appropriate position where the suction pad 31a contacts the upper surface 3c of the semiconductor chip 3 and elastically deforms to some extent. If lowered, the semiconductor chip 3 can be reliably adsorbed.

仮に、反転ヘッド11に受け部がない場合に、収納ヘッド31を吸着パッド31aが半導体チップ3の上側の面3cに当接する最上位置よりも下げすぎると、吸着パッド31aによる押し下げ力によって半導体チップ3が反転ヘッド11から下方に大きくずれたり落下したりする。これにより、半導体チップ3を吸着できない可能性が生ずる。したがって、収納ヘッド31の下降位置を、吸着パッド31aが半導体チップ3の上側の面3cに当接する最上位置とそこからわずかに下の位置までの間に厳密に制御する必要が生ずる。   If the reversing head 11 has no receiving portion, if the storage head 31 is lowered too much from the uppermost position where the suction pad 31a contacts the upper surface 3c of the semiconductor chip 3, the semiconductor chip 3 is pressed by the pressing force of the suction pad 31a. Is greatly displaced or dropped downward from the reversing head 11. Thereby, there is a possibility that the semiconductor chip 3 cannot be sucked. Therefore, it is necessary to strictly control the lowered position of the storage head 31 between the uppermost position where the suction pad 31a contacts the upper surface 3c of the semiconductor chip 3 and the position slightly below it.

そして、このような厳密な位置制御を行うためには、そうでない場合に比べて位置分解能の高い下降アクチュエータを用いる必要があり、コストアップの要因となる。また、収納ヘッド31の下降速度を遅くする必要もあり、反転ヘッド11から収納ヘッド31への半導体チップ3の受け渡しに長時間を要する。このため、UVキャリアテープ4上から収納トレイ21への半導体チップ3の搬送収納速度の低下につながる。   In order to perform such strict position control, it is necessary to use a lowering actuator having a higher position resolution than in other cases, which causes an increase in cost. In addition, it is necessary to slow down the lowering speed of the storage head 31, and it takes a long time to transfer the semiconductor chip 3 from the reversing head 11 to the storage head 31. For this reason, it leads to the fall of the conveyance speed of the semiconductor chip 3 from the UV carrier tape 4 to the storage tray 21.

半導体チップ3が収納ヘッド31によって吸着されると、反転ヘッド11による吸着が解除され、その後、上記搬送機構の駆動によって半導体チップ3は縦姿勢のまま収納トレイ21上に搬送され、収納される。   When the semiconductor chip 3 is sucked by the storage head 31, the suction by the reversing head 11 is released, and then the semiconductor chip 3 is transported and stored on the storage tray 21 in the vertical position by driving the transport mechanism.

なお、本実施例のハンドラでは、反転ヘッド11を90度縦回転させることができる以外に、180度縦回転させることも可能である。図1において、52は反転ヘッド11の縦回転の角度設定を90度と180度とに切り替えるためのスイッチである。コントローラ51は、この反転角度切り替えスイッチ52からの入力信号に応じて、反転ヘッド11の縦回転角度を90度と180度とに制御する。図2に一点鎖線で示した(II)の位置は、反転ヘッド11が0°位置に対して180度縦回転した位置(以下、180°位置という)を示す。   In the handler according to the present embodiment, the reversing head 11 can be rotated 180 degrees vertically in addition to being able to rotate 90 degrees vertically. In FIG. 1, 52 is a switch for switching the angle setting of the vertical rotation of the reversing head 11 between 90 degrees and 180 degrees. The controller 51 controls the vertical rotation angle of the reversing head 11 to 90 degrees and 180 degrees in accordance with the input signal from the reversing angle changeover switch 52. A position (II) indicated by a one-dot chain line in FIG. 2 indicates a position (hereinafter, referred to as a 180 ° position) where the reversing head 11 is rotated 180 degrees vertically with respect to the 0 ° position.

図4に示すように、反転ヘッド11が0°位置にて半導体チップ3を吸着した後、180°位置(II)に回転した状態では、上面吸着部11aが半導体チップ3の受け部として機能し、収納ヘッド31による該半導体チップ3の上側の面(底面)の吸着が確実に行われる。この場合の受け部である上面吸着部11aは、図4に示す縦回転の中心軸方向視において、半導体チップ3における下側の面のうち1/2以上の領域に当接するように側面吸着部11bから延出するとよい。   As shown in FIG. 4, in a state where the reversing head 11 sucks the semiconductor chip 3 at the 0 ° position and then rotates to the 180 ° position (II), the upper surface sucking portion 11 a functions as a receiving portion for the semiconductor chip 3. The upper surface (bottom surface) of the semiconductor chip 3 is reliably attracted by the storage head 31. In this case, the upper surface adsorbing portion 11a, which is a receiving portion, has a side adsorbing portion so as to abut a half or more of the lower surface of the semiconductor chip 3 when viewed in the central axis direction of the vertical rotation shown in FIG. It is good to extend from 11b.

180°反転した半導体チップ3が収納ヘッド31によって吸着されると、反転ヘッド11による吸着が解除され、その後、上記搬送機構の駆動によって半導体チップ3は反転姿勢のまま収納トレイ21′上に搬送され、収納される。   When the semiconductor chip 3 reversed by 180 ° is sucked by the storage head 31, the suction by the reversing head 11 is released, and then the semiconductor chip 3 is transported on the storage tray 21 ′ in the inverted posture by driving the transport mechanism. Stored.

図8Aには、反転ヘッド11の断面形状例を示す。反転ヘッド11内には、上面吸着部11aと側面吸着部11bとがなす直角部分、すなわち半導体チップ3の上面3aと側面3bとがなす角部に対向する部分を含むように開口する負圧路11cが形成されている。   FIG. 8A shows an example of a cross-sectional shape of the reversing head 11. In the reversing head 11, a negative pressure path that opens so as to include a right angle portion formed by the upper surface suction portion 11 a and the side surface suction portion 11 b, that is, a portion facing the corner portion formed by the upper surface 3 a and the side surface 3 b of the semiconductor chip 3. 11c is formed.

不図示の真空源から負圧路11cに負圧が供給されると、半導体チップ3は、その上面3aが上面吸着部11aに、側面3bが側面吸着部11bにそれぞれ密着するように反転ヘッド11により吸着される。   When a negative pressure is supplied from a vacuum source (not shown) to the negative pressure path 11c, the semiconductor chip 3 has the reversing head 11 so that the upper surface 3a thereof is in close contact with the upper surface adsorption portion 11a and the side surface 3b is in close contact with the side surface adsorption portion 11b. It is adsorbed by.

これにより、半導体チップ3は、その上面3aと側面3bの2面が反転ヘッド11に当接した安定した状態で反転ヘッド11により保持される。したがって、反転ヘッド11を縦回転させる際や反転ヘッド11から収納ヘッド31に半導体チップ3を受け渡す際の半導体チップ3の安定性を向上させることができる。   Thereby, the semiconductor chip 3 is held by the reversing head 11 in a stable state in which the two surfaces of the upper surface 3 a and the side surface 3 b are in contact with the reversing head 11. Therefore, it is possible to improve the stability of the semiconductor chip 3 when the reversing head 11 is rotated vertically or when the semiconductor chip 3 is transferred from the reversing head 11 to the storage head 31.

なお、半導体チップ3の側面3bを側面吸着部11bに当接させることにより、横姿勢の半導体チップ3の反転ヘッド11に対する図2中のX軸方向での位置決めを行うこともできる。   2 can be positioned in the X-axis direction in FIG. 2 with respect to the reversing head 11 of the semiconductor chip 3 in the lateral posture.

また、図8Bに示すように、反転ヘッド11に、半導体チップ3の隣り合う2つの側面3b1,3b2に当接する2つの側面吸着部11b1,11b2を設ければ、横姿勢の半導体チップ3の反転ヘッド11に対するX軸方向およびY軸方向での位置決めを行うこともできる。   Further, as shown in FIG. 8B, if the reversing head 11 is provided with two side surface adsorbing portions 11b1 and 11b2 that are in contact with two adjacent side surfaces 3b1 and 3b2 of the semiconductor chip 3, the reversal of the semiconductor chip 3 in the lateral position is reversed. Positioning in the X-axis direction and the Y-axis direction with respect to the head 11 can also be performed.

これらの位置決めにより、半導体チップ3の収納トレイ21上における所定の収納位置(半導体チップ3の形状に合わせて形成された凹部)への搬送および収納を適正に行うことができる。もちろん、反転ヘッド11に2つの側面吸着部11b1,11b2を設けることにより、反転ヘッド11の縦回転時やチップ受け渡し時の半導体チップ3の安定性をより向上させることができる。   By these positioning, the semiconductor chip 3 can be properly conveyed and stored in a predetermined storage position (a recess formed in accordance with the shape of the semiconductor chip 3) on the storage tray 21. Of course, by providing the reversing head 11 with the two side surface suction portions 11b1 and 11b2, the stability of the semiconductor chip 3 during the longitudinal rotation of the reversing head 11 or during chip transfer can be further improved.

なお、本発明における反転ヘッドの形状は、図8Aや図8Bに示すものに限られない。例えば、図9に示すように、負圧路11c′を反転ヘッド11′の上面吸着部11a′のみにて開口するように形成してもよい。この場合、半導体チップ3を反転ヘッド11′によって吸着した際に半導体チップ3の側面3bと受け部11b′との間に隙間が生じたり、半導体チップ3が受け部11b′に対して横回転した状態になったりする可能性がある。しかし、半導体チップ3が縦姿勢に回転されて収納ヘッド31により吸着される際には、収納ヘッド31によって下方に押されて側面3bが受け部11b′に当接し、それ以上の下方への移動が阻止されたり横回転状態が修正されたりする。このため、収納ヘッド31による半導体チップ3の吸着を確実に行うことができる。   The shape of the reversing head in the present invention is not limited to that shown in FIGS. 8A and 8B. For example, as shown in FIG. 9, the negative pressure path 11c ′ may be formed so as to open only at the upper surface suction portion 11a ′ of the reversing head 11 ′. In this case, when the semiconductor chip 3 is attracted by the reversing head 11 ′, a gap is formed between the side surface 3b of the semiconductor chip 3 and the receiving portion 11b ′, or the semiconductor chip 3 is rotated laterally with respect to the receiving portion 11b ′. It may become a state. However, when the semiconductor chip 3 is rotated vertically and is attracted by the storage head 31, it is pushed downward by the storage head 31 and the side surface 3b comes into contact with the receiving portion 11b 'and moves further downward. Is prevented or the horizontal rotation state is corrected. For this reason, the semiconductor chip 3 can be reliably adsorbed by the storage head 31.

また、図10に示すように、反転ヘッド11″内で分岐し、上面吸着部11a″での開口と側面吸着部11b″での開口とを有する負圧路11c″を形成してもよい。この場合、反転ヘッド11″のうち、半導体チップ3の上面3aと側面3bとがなす角部が対向する直角部に逃げ11d″を設けておくと、該角部と直角部との干渉を防止でき、上面吸着部11a″と側面吸着部11b″での吸着をそれぞれ適正に行うことができる。   Further, as shown in FIG. 10, a negative pressure path 11c ″ may be formed which branches in the reversing head 11 ″ and has an opening at the upper surface suction portion 11a ″ and an opening at the side surface suction portion 11b ″. In this case, in the reversing head 11 ″, if a relief 11d ″ is provided at a right angle portion where the corner portion formed by the upper surface 3a and the side surface 3b of the semiconductor chip 3 faces each other, interference between the corner portion and the right angle portion is prevented. In addition, it is possible to appropriately perform the suction at the upper surface suction portion 11a ″ and the side surface suction portion 11b ″.

図5には、本実施例のように、反転ヘッド11が受け部(側面吸着部11b)を有する場合の該反転ヘッド11から収納ヘッド31への半導体チップ3の受け渡し動作制御シーケンスを示している。この制御は、コンピュータプログラムに従って動作するコントローラ51により実行される。   FIG. 5 shows a transfer operation control sequence of the semiconductor chip 3 from the reversing head 11 to the storage head 31 when the reversing head 11 has a receiving portion (side suction portion 11b) as in this embodiment. . This control is executed by the controller 51 that operates according to the computer program.

また、図6には、反転ヘッドが受け部を有さない場合での半導体チップの受け渡し動作制御シーケンスを示している。さらに、図7には、上記両場合での受け渡し動作タイミングを示している。図7においては、反転ヘッド11が受け部を有する場合における受け部を有さない場合と異なる部分を二重線で示す。   FIG. 6 shows a semiconductor chip transfer operation control sequence when the reversing head does not have a receiving portion. Further, FIG. 7 shows the delivery operation timing in both cases. In FIG. 7, when the reversing head 11 has a receiving part, a different part from the case where it does not have a receiving part is shown with a double line.

図5に示すように、受け部を有する反転ヘッド11を用いる場合、コントローラ51は、まず反転角度切り替えスイッチ52の状態を読み込み、半導体チップ3を吸着した後の反転ヘッド11の回転角度を設定する。ここでは、回転角度が90°に設定されているものとする。そして、0°位置にある反転ヘッド11により半導体チップ3を吸着する。   As shown in FIG. 5, when using the reversing head 11 having the receiving portion, the controller 51 first reads the state of the reversing angle changeover switch 52 and sets the rotation angle of the reversing head 11 after adsorbing the semiconductor chip 3. . Here, it is assumed that the rotation angle is set to 90 °. Then, the semiconductor chip 3 is sucked by the reversing head 11 at the 0 ° position.

次に、コントローラ51は、反転ヘッド11の90°位置への回転を開始する。この回転の開始時点を図7では動作開始時Tとして示している。反転ヘッドが90°位置に到達すると、コントローラ51は該反転ヘッド11の回転を停止する。 Next, the controller 51 starts rotating the reversing head 11 to the 90 ° position. The starting point of this rotation is shown as an operation starting time T 0 in Figure 7. When the reversing head reaches the 90 ° position, the controller 51 stops the rotation of the reversing head 11.

次に、コントローラ51は、収納ヘッド31の下降を開始するとともに、収納ヘッド31への負圧供給を開始する。図5および図7では、これを「吸着ON」と記す。そして、収納ヘッド31の下降が完了するのとほぼ同時に、反転ヘッド11への負圧供給を停止(真空破壊)する。図では、これを「吸着OFF」と記す。   Next, the controller 51 starts lowering the storage head 31 and starts supplying negative pressure to the storage head 31. In FIG. 5 and FIG. 7, this is referred to as “adsorption ON”. Then, almost simultaneously with the completion of the lowering of the storage head 31, the supply of negative pressure to the reversing head 11 is stopped (vacuum break). In the figure, this is referred to as “adsorption OFF”.

この後、不図示の吸着センサによって反転ヘッド11での半導体チップ3の吸着が解除(OFF)されたこと、および収納ヘッド3での半導体チップ3の吸着が実行(ON)されたことを検出すると、コントローラ51内の吸着安定タイマーにより所定時間Tのカウントをスタートする。 Thereafter, when the suction sensor (not shown) detects that the suction of the semiconductor chip 3 by the reversing head 11 is released (OFF) and the suction of the semiconductor chip 3 by the storage head 3 is executed (ON). The counting of a predetermined time T S is started by the adsorption stabilization timer in the controller 51.

ここで、コントローラ51は、吸着センサを通じて各ヘッドに供給されている負圧(真空度)を監視し、該真空度が所定値より高い場合には吸着が実行された若しくは吸着が解除されていないと判別する。一方、真空度が該所定値より低い場合には吸着が解除された若しくは吸着が実行されていないと判別する。   Here, the controller 51 monitors the negative pressure (degree of vacuum) supplied to each head through the suction sensor, and if the degree of vacuum is higher than a predetermined value, suction has been executed or suction has not been released. Is determined. On the other hand, when the degree of vacuum is lower than the predetermined value, it is determined that the suction has been released or the suction has not been executed.

また、吸着安定タイマーは、吸着センサによって反転ヘッド11による半導体チップ3の吸着解除が検出された後、収納ヘッド31による半導体チップ3の吸着をより確実に行わせるための余裕時間(所定時間T)をカウントするためのものである。 Further, the adsorption stabilization timer is a margin time (predetermined time T S ) for causing the storage head 31 to more reliably attract the semiconductor chip 3 after the suction sensor detects the suction release of the semiconductor chip 3 by the reversing head 11. ).

そして、コントローラ51は、所定時間Tが経過すると、収納ヘッド31の上昇を開始する。 Then, the controller 51, the predetermined time T S has elapsed, starts to rise in the housing head 31.

収納ヘッド31の上昇が完了すると、コントローラ51は、反転ヘッド11を0°位置に戻すための回転を開始し、反転ヘッド11が0°位置に到達すると該回転を終了する。この後、吸着収納ユニット30の搬送機構の動作による半導体チップ3の収納トレイ21への収納動作が行われるが、図7では、反転ヘッド11の0°位置への復帰時を動作完了時Tとして示している。なお、反転ヘッド11の0°位置への復帰とともに、反転ヘッド11への負圧供給を再開する。 When the raising of the storage head 31 is completed, the controller 51 starts the rotation for returning the reversing head 11 to the 0 ° position, and ends the rotation when the reversing head 11 reaches the 0 ° position. Thereafter, the storing operation of the storage tray 21 of the semiconductor chip 3 due to the operation of the transport mechanism of the suction housing unit 30 is made, in Fig. 7, 0 ° operation completion time T F of at returning to the position of the inversion head 11 As shown. Note that the supply of negative pressure to the reversing head 11 is resumed as the reversing head 11 returns to the 0 ° position.

一方、図6に示すように、受け部を有さない反転ヘッドを用いる場合は、動作開始から収納ヘッドの下降および収納ヘッドへの負圧供給を開始するまでは、反転ヘッドが受け部を有する場合と同じである。また、吸着センサによる反転ヘッドでの吸着解除と収納ヘッドでの吸着実行の検出を条件として吸着安定タイマーによる所定時間T′(Tと同じでも異なっていてもよい)のカウントを行い、その後、収納ヘッドの上昇と反転ヘッドの0°位置への復帰を行うまでの動作も、反転ヘッド11が受け部を有する場合と同じである。 On the other hand, as shown in FIG. 6, when using a reversing head that does not have a receiving portion, the reversing head has a receiving portion from the start of operation until the storage head is lowered and negative pressure supply to the receiving head is started. Same as the case. In addition, a predetermined time T S ′ (which may be the same as or different from T S ) is counted by a suction stabilization timer on condition that suction by the reversing head by the suction sensor and detection of suction by the storage head are detected. The operation until the storage head is raised and the reversing head is returned to the 0 ° position is the same as that when the reversing head 11 has a receiving portion.

しかし、受け部を有さない反転ヘッドを用いる場合は、収納ヘッドの下降が完了した後、吸着センサを通じて収納ヘッドによる半導体チップの吸着が実行されたと判別されるまで反転ヘッドへの負圧供給を続行する。この点で、受け部を有する反転ヘッド11を用いる場合と異なる。   However, when using a reversing head that does not have a receiving portion, after the lowering of the storage head is completed, negative pressure is supplied to the reversing head until it is determined that the suction of the semiconductor chip by the storage head has been performed through the suction sensor. continue. This is different from the case where the reversing head 11 having the receiving portion is used.

これは、反転ヘッドに受け部がない場合は、負圧が供給された収納ヘッドを半導体チップに当接する位置まで下降させても、半導体チップが反転ヘッドに対して下方にずれたり落下したりしている可能性があり、収納ヘッドによって半導体チップが吸着されているか否かを確認する必要があるためである。   This is because if the reversing head has no receiving part, the semiconductor chip may be displaced downward or fall with respect to the reversing head even if the storage head supplied with negative pressure is lowered to a position where it comes into contact with the semiconductor chip. This is because it is necessary to confirm whether or not the semiconductor chip is adsorbed by the storage head.

これに対し、反転ヘッド11に受け部がある場合は、負圧が供給された収納ヘッド31を半導体チップ3に当接する位置(吸着パッド31aがある程度弾性変形する位置)まで下降させれば、半導体チップ3は収納ヘッド31により確実に吸着される。このため、吸着センサによって収納ヘッド31による半導体チップ3の吸着を確認しなくても、反転ヘッド11への負圧供給を停止(吸着を解除)することができる。   On the other hand, in the case where the reversing head 11 has a receiving portion, if the storage head 31 to which negative pressure is supplied is lowered to a position where it contacts the semiconductor chip 3 (position where the suction pad 31a is elastically deformed to some extent), the semiconductor The chip 3 is reliably adsorbed by the storage head 31. For this reason, even if the suction of the semiconductor chip 3 by the storage head 31 is not confirmed by the suction sensor, the negative pressure supply to the reversing head 11 can be stopped (the suction is released).

そして、このように反転ヘッド11への負圧供給の停止タイミングを、反転ヘッドに受け部がない場合に比べて早めることにより、吸着安定タイマー(所定時間T)のスタート条件、つまりは収納ヘッド31の上昇動作と反転ヘッド11の復帰動作の条件の1つである吸着センサによる反転ヘッド11での吸着解除の検出タイミングも早くなる。したがって、最終的な動作完了(時間T)までの時間が、反転ヘッドに受け部がない場合の動作完了(時間T′)までの時間よりも短縮される。 In this way, the start timing of the suction stabilization timer (predetermined time T S ), that is, the storage head, is set by advancing the stop timing of the negative pressure supply to the reversing head 11 as compared with the case where the reversing head has no receiving portion. The detection timing of the suction release by the reversing head 11 by the suction sensor, which is one of the conditions of the lifting operation 31 and the returning operation of the reversing head 11, is also advanced. Accordingly, the time until the final operation is completed (time T F ) is shorter than the time until the operation is completed (time T F ′) when the reversing head has no receiving portion.

以上説明したように、本実施例によれば、反転ヘッド11で吸着した横姿勢の半導体チップ3を縦姿勢に回転させて収納ヘッド31に渡し、縦姿勢のまま収納トレイ21上に搬送および収納することができる。このため、次工程(製品基板への実装工程)において半導体チップ3を縦姿勢に回転させる必要がなくなり、次工程を簡単化したり次工程に要する時間を短縮したりすることができる。   As described above, according to this embodiment, the horizontal semiconductor chip 3 attracted by the reversing head 11 is rotated to the vertical position and transferred to the storage head 31, and conveyed and stored on the storage tray 21 in the vertical position. can do. For this reason, it is not necessary to rotate the semiconductor chip 3 in the vertical posture in the next step (mounting step on the product substrate), and the next step can be simplified or the time required for the next step can be shortened.

実施例1では、反転ヘッドに受け部を設けた場合のメリットについて、受け部を設けない場合と比較しながら説明したが、このことは、本発明の実施形態として反転ヘッドに受け部を設けない場合を排除する意味ではない。   In the first embodiment, the merit when the receiving portion is provided in the reversing head has been described in comparison with the case where the receiving portion is not provided. This is because the receiving portion is not provided in the reversing head as an embodiment of the present invention. It does not mean to exclude the case.

図11には、本発明の実施例2としてのハンドラであって、反転ヘッドに受け部を有さない場合を示している。なお、図11において、実施例1と共通する構成要素には実施例1と同符号を付す。   FIG. 11 shows a handler as a second embodiment of the present invention, in which the reversing head does not have a receiving portion. In FIG. 11, components common to the first embodiment are denoted by the same reference numerals as in the first embodiment.

図11において、61は反転ヘッドであり、実施例1で説明したステッピングモータ12(図には回転軸12aのみ示す)の駆動力によって、横姿勢の半導体チップ3の上面を吸着する0°位置と、該半導体チップ3を縦姿勢とする90°位置とに回転可能である。   In FIG. 11, reference numeral 61 denotes a reversing head, and a 0 ° position for adsorbing the upper surface of the semiconductor chip 3 in the horizontal position by the driving force of the stepping motor 12 described in the first embodiment (only the rotating shaft 12a is shown). The semiconductor chip 3 can be rotated to a 90 ° position with the vertical posture.

本実施例では、反転ヘッド71のうち半導体チップ3の上面3aに接する部分61aに、該上面3aの面内方向(垂直方向)での半導体チップ3の滑りを抑えるための部材を配置している。具体的には、上記部分61aに粘着性を有する部材を配置したり、電極等に磁性材料が用いられた半導体チップを磁力により吸着する電磁石を配置したりする。また、上記部分61aに、半導体チップ3の滑りを抑えるための表面処理を施してもよい。   In the present embodiment, a member for suppressing the slip of the semiconductor chip 3 in the in-plane direction (vertical direction) of the upper surface 3a is disposed in a portion 61a of the reversing head 71 that is in contact with the upper surface 3a of the semiconductor chip 3. . Specifically, a member having adhesiveness is disposed in the portion 61a, or an electromagnet that adsorbs a semiconductor chip using a magnetic material for an electrode or the like by a magnetic force is disposed. The portion 61a may be subjected to a surface treatment for suppressing the slip of the semiconductor chip 3.

これにより、反転ヘッド61に受け部を設けなくても、縦姿勢の半導体チップ3の反転ヘッド61に対する下方へのずれや落下を生じにくくすることができ、反転ヘッド61から収納ヘッド31への半導体チップ3の受け渡しを安定して、かつ短時間で行うことができる。   Thus, even if the reversing head 61 is not provided with a receiving portion, it is possible to make it difficult for the vertical semiconductor chip 3 to be displaced downward or dropped with respect to the reversing head 61, and the semiconductor from the reversing head 61 to the storage head 31. The delivery of the chip 3 can be performed stably and in a short time.

なお、上記各実施例では、反転ヘッド(第1の吸着ヘッド)から収納ヘッド(第2の吸着ヘッド)に渡された半導体チップを収納トレイ上に収納する場合について説明したが、本発明の半導体製造装置はこれに限られない。例えば、第2の吸着ヘッドに吸着された縦姿勢の半導体チップを、該第2の吸着ヘッドを用いてそのまま基板に実装することも可能である。   In each of the above embodiments, the case where the semiconductor chip passed from the reversing head (first suction head) to the storage head (second suction head) is stored on the storage tray has been described. The manufacturing apparatus is not limited to this. For example, it is possible to mount a vertically oriented semiconductor chip sucked by the second suction head on the substrate as it is using the second suction head.

本発明の実施例1であるハンドラの平面図。1 is a plan view of a handler that is Embodiment 1 of the present invention. 実施例1のハンドラにおける反転ヘッドおよび収納ヘッドの周辺を示す正面図。FIG. 6 is a front view showing the periphery of the reversing head and the storage head in the handler according to the first embodiment. 実施例1のハンドラにおける反転ヘッドと収納ヘッドの動作を示す正面図。FIG. 6 is a front view illustrating operations of the reversing head and the storage head in the handler according to the first embodiment. 実施例1のハンドラにおける反転ヘッドと収納ヘッドの動作を示す正面図。FIG. 6 is a front view illustrating operations of the reversing head and the storage head in the handler according to the first embodiment. 実施例1のハンドラの動作シーケンスを示すフローチャート。6 is a flowchart illustrating an operation sequence of a handler according to the first embodiment. 受け部を持たない反転ヘッドを用いたハンドラの動作シーケンスを示すフローチャート。The flowchart which shows the operation | movement sequence of the handler using the inversion head which does not have a receiving part. 実施例1および受け部を持たない反転ヘッドを用いたハンドラの動作タイミングを示すタイミングチャート。6 is a timing chart showing operation timing of a handler using the first embodiment and a reversing head having no receiving portion. 実施例1のハンドラにおける反転ヘッドの形状を示す断面図。Sectional drawing which shows the shape of the inversion head in the handler of Example 1. FIG. 実施例1のハンドラにおける反転ヘッドの形状を示す斜視図。FIG. 3 is a perspective view illustrating a shape of a reversing head in the handler according to the first embodiment. 実施例1のハンドラにおける反転ヘッドの変形例を示す斜視図。FIG. 6 is a perspective view illustrating a modification of the reversing head in the handler according to the first embodiment. 実施例1のハンドラにおける反転ヘッドの変形例を示す斜視図。FIG. 6 is a perspective view illustrating a modification of the reversing head in the handler according to the first embodiment. 本発明の実施例2であるハンドラにおける反転ヘッドと収納ヘッドの動作を示す正面図。The front view which shows the operation | movement of the inversion head and storage head in the handler which is Example 2 of this invention. 従来のハンドラの動作を示す図。The figure which shows operation | movement of the conventional handler. 従来のハンドラの動作を示す図。The figure which shows operation | movement of the conventional handler.

符号の説明Explanation of symbols

1 ハンドラ
3 半導体チップ
・ リングフレーム
11,61 反転ヘッド
11b 側面吸着部(受け部)
12 ステッピングモータ
21,22 収納トレイ
31 収納ヘッド
1 Handler 3 Semiconductor chip Ring ring 11, 61 Reversing head 11b Side suction part (receiving part)
12 Stepping motors 21, 22 Storage tray 31 Storage head

Claims (5)

第1の姿勢の半導体装置を吸着する第1の吸着ヘッドと、
該半導体装置が前記第1の姿勢に対して90度縦回転した第2の姿勢になるように前記第1の吸着ヘッドを回転させる回転機構と、
前記第2の姿勢の前記半導体装置を吸着する第2の吸着ヘッドとを有することを特徴とする半導体製造装置。
A first suction head for sucking the semiconductor device in the first position;
A rotation mechanism for rotating the first suction head so that the semiconductor device is in a second posture vertically rotated by 90 degrees with respect to the first posture;
A semiconductor manufacturing apparatus comprising: a second suction head that sucks the semiconductor device in the second posture.
前記第1の吸着ヘッドは、前記半導体装置における前記第2の吸着ヘッドにより吸着される第1の面とは反対側の第2の面に当接する受け部を有することを特徴とする請求項1に記載の半導体製造装置。   2. The first suction head has a receiving portion that abuts against a second surface of the semiconductor device opposite to the first surface that is sucked by the second suction head. The semiconductor manufacturing apparatus described in 1. 前記第1の吸着ヘッドは、前記第2の面が前記受け部に当接するように前記半導体装置に吸着力を作用させることを特徴とする請求項2に記載の半導体製造装置。   The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 2, wherein the first suction head applies an suction force to the semiconductor device such that the second surface is in contact with the receiving portion. 前記第2の吸着ヘッドにより吸着された前記半導体装置を、前記第2の姿勢で搬送する搬送機構を有することを特徴とする請求項1から3のいずれか1つに記載の半導体製造装置。   4. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, further comprising a transport mechanism configured to transport the semiconductor device sucked by the second suction head in the second posture. 5. 前記回転機構は、前記半導体装置が前記第2の姿勢になるように前記第1の吸着ヘッドを回転させる第1の動作と、前記半導体装置が前記第1の姿勢に対して180度反転した第3の姿勢になるように前記第1の吸着ヘッドを回転させる第2の動作とを行うことを特徴とする請求項1から4のいずれか1つに記載の半導体製造装置。
The rotation mechanism includes: a first operation for rotating the first suction head so that the semiconductor device is in the second posture; and a first operation in which the semiconductor device is inverted 180 degrees with respect to the first posture. 5. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein a second operation of rotating the first suction head so as to be in a posture of 3 is performed.
JP2006051359A 2006-02-27 2006-02-27 Semiconductor manufacturing apparatus Pending JP2007234681A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006051359A JP2007234681A (en) 2006-02-27 2006-02-27 Semiconductor manufacturing apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006051359A JP2007234681A (en) 2006-02-27 2006-02-27 Semiconductor manufacturing apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007234681A true JP2007234681A (en) 2007-09-13

Family

ID=38554997

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006051359A Pending JP2007234681A (en) 2006-02-27 2006-02-27 Semiconductor manufacturing apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007234681A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2042088A2 (en) 2007-09-10 2009-04-01 Terumo Kabushiki Kaisha Image diagnostic apparatus
JP2010141267A (en) * 2008-12-15 2010-06-24 Disco Abrasive Syst Ltd Apparatus for dividing rectangular substrate
JP2012186505A (en) * 2012-06-18 2012-09-27 Murata Mfg Co Ltd Component supply device
WO2013084297A1 (en) * 2011-12-06 2013-06-13 上野精機株式会社 Post-operation processing device, transportation device for externally placed unit, and electronic component transportation device

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06177435A (en) * 1992-08-20 1994-06-24 Hewlett Packard Co <Hp> Light-emitting diode and its mounting method
JPH08130230A (en) * 1994-10-31 1996-05-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Mounting equipment of flip chip
JPH1167879A (en) * 1997-08-26 1999-03-09 Matsushita Electric Works Ltd Method and apparatus for mounting semiconductor
JPH11307554A (en) * 1998-04-27 1999-11-05 Stanley Electric Co Ltd Method and device of die bond for led chip
JP2001332586A (en) * 2000-05-24 2001-11-30 Toshiba Corp Method and apparatus for manufacturing semiconductor device
JP2001345353A (en) * 2000-05-31 2001-12-14 Shibaura Mechatronics Corp Method and apparatus for bonding

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06177435A (en) * 1992-08-20 1994-06-24 Hewlett Packard Co <Hp> Light-emitting diode and its mounting method
JPH08130230A (en) * 1994-10-31 1996-05-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Mounting equipment of flip chip
JPH1167879A (en) * 1997-08-26 1999-03-09 Matsushita Electric Works Ltd Method and apparatus for mounting semiconductor
JPH11307554A (en) * 1998-04-27 1999-11-05 Stanley Electric Co Ltd Method and device of die bond for led chip
JP2001332586A (en) * 2000-05-24 2001-11-30 Toshiba Corp Method and apparatus for manufacturing semiconductor device
JP2001345353A (en) * 2000-05-31 2001-12-14 Shibaura Mechatronics Corp Method and apparatus for bonding

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2042088A2 (en) 2007-09-10 2009-04-01 Terumo Kabushiki Kaisha Image diagnostic apparatus
JP2010141267A (en) * 2008-12-15 2010-06-24 Disco Abrasive Syst Ltd Apparatus for dividing rectangular substrate
WO2013084297A1 (en) * 2011-12-06 2013-06-13 上野精機株式会社 Post-operation processing device, transportation device for externally placed unit, and electronic component transportation device
JP5544460B2 (en) * 2011-12-06 2014-07-09 上野精機株式会社 Electrical characteristic inspection device, external unit transfer device, and electronic component transfer device
JPWO2013084297A1 (en) * 2011-12-06 2015-04-27 上野精機株式会社 Electrical characteristic inspection device, external unit transfer device, and electronic component transfer device
JP2012186505A (en) * 2012-06-18 2012-09-27 Murata Mfg Co Ltd Component supply device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4713596B2 (en) Electronic component mounting apparatus and mounting method
TW201200447A (en) Workpiece transport method and workpiece transport device
JP2006335518A (en) Board conveying device
JPH07299775A (en) Base board transporting robot
JP7329258B2 (en) Wafer cutting device, reversing device, and transfer system
KR20200032042A (en) Substrate holding device
JP5358526B2 (en) Mounting machine
JP2009286490A (en) Reformation device, conveying unit, and electronic component storage system
JP2007234681A (en) Semiconductor manufacturing apparatus
JP2007095725A (en) Positioning inversion device of semiconductor device
JP5559630B2 (en) Electronic component transfer device and mounting machine
TW201635416A (en) Delivery method for processed objects
JP5358529B2 (en) Mounting machine
JP2004119784A (en) Carrier device for plate-like object
JP2012186505A (en) Component supply device
JP2007281095A (en) Workpiece carrying device
JP2003037389A (en) Electric parts feeder
JP4585496B2 (en) Semiconductor chip mounting equipment
JP6571201B2 (en) Component mounting method
JP4518513B2 (en) Wafer table for preparing electrical components and apparatus for mounting components on a substrate
CN111146128B (en) Die transfer module and die bonding apparatus having the same
JP5117947B2 (en) Conveying apparatus and conveying method
JP2014099435A (en) Cutting device
JP4602838B2 (en) Semiconductor chip mounting equipment
JP3711802B2 (en) Pallet for conveyance, conveyance apparatus provided with this pallet for conveyance, and work fixing method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081203

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110223

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111011