JP2007213179A - Nonvolatile semiconductor storage device - Google Patents

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Hiroyuki Goto
啓之 後藤
Mizuo Oikawa
瑞生 及川
Takayuki Tamura
隆之 田村
Ikuo Hara
郁夫 原
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve parallel operation efficiency of a plurality of nonvolatile memory devices in a nonvolatile semiconductor storage device. <P>SOLUTION: During a period T7-T8 of data transfer T6-T9 between a memory controller Memo_Cnt and one nonvolatile memory device Memo_Dv0 via an internal common bus Int_Bus, data transfer is interrupted. In the interruption period T7-T8, an internal read action command Int_Rd_CMD is transferred from the Memo_Cnt to another nonvolatile memory device Memo_DvN via the Int_Bus. In parallel to an internal read action Int_Rd_Ope from a nonvolatile memory array Memo_Ary0 to an internal buffer memory Buffer0 in the Memo_DvN, data transfer Data_Tr_Pr_Data between the Memo_Cnt and the Memo_Dv0 can be carried out. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、不揮発性半導体記憶装置に関し、特に、不揮発性メモリを高速アクセスするのに有益な技術に関する。   The present invention relates to a nonvolatile semiconductor memory device, and more particularly to a technique useful for high-speed access to a nonvolatile memory.

フラッシュメモリ等の不揮発性メモリは書き込み回数(ライト・サイクル)が有限回数(一般的には10万回程度)である等の理由から、ウェアレベリングが採用される。このウェアレベリングにより、ファイルシステム中の空間での不揮発性メモリのセクターの書き込みによる疲弊度と消去ブロックの消去による疲弊度とが均一化され、不揮発性半導体記憶装置の局所的な疲弊による短命化を回避できる。このウェアレベリングのインプリメンテーションのために、ホストから不揮発性メモリへの同一の論理アドレスを用いた書き込み処理に際して異なる物理アドレスをアドレス変換により生成して、不揮発性メモリへの実際の書き込みは異なる物理アドレスを用いて実行される。同一の論理アドレスから異なる物理アドレスへのアドレスマッピングによりウェアレベリングが実現されるだけでなく、書き込み処理時の電源遮断に対しても古い物理アドレスの古いデータを残すことが可能となる。例えば、ホスト機器のスロットにリムーバブルに挿入されるフラッシュメモリカードにおいては、比較的低速の書き込み時間の間にフラッシュメモリカードがホスト機器のスロットから引き抜かれると言う操作がエンドユーザーにより行われることがある。この操作により、不揮発性メモリへの同一の物理アドレスでのデータ書き込みが終了する前に電源遮断が行われるので、同一の物理アドレスの最新データが消失するだけでなく、同一の物理アドレスの古いデータも消失する危険がある。これを回避するためホストからの不揮発性メモリへの同一の論理アドレスを用いた書き込み処理に際して異なる物理アドレスを用いることによって、同一の物理アドレスの最新データが消失するとしても、古い物理アドレスの古いデータを確実に保存することが可能となる。書き込み処理時の電源遮断の対策や、ファイルシステムの空間での不揮発性メモリの疲弊度の均一化と言う意味で、同一の論理アドレスから異なる物理アドレスへのアドレスマッピングは現在、重要な技術となっている。新しい物理アドレスに新しいデータが保存されると古い物理アドレスの古いデータは不要となるばかりか、古いデータはファイルシステムのゴミとなる。ファイルシステムの有効記憶容量を確保するために、ガーベージ・コレクションと言う古いデータの消去処理により古い物理アドレスのメモリ領域を次回の書き込みに再利用可能とする処理も行われる。   A non-volatile memory such as a flash memory employs wear leveling because the number of times of writing (write cycle) is a finite number of times (generally about 100,000 times). By this wear leveling, the fatigue level due to the writing of the sectors of the nonvolatile memory in the space in the file system and the fatigue level due to the erasing of the erase block are made uniform, and the life expectancy is shortened by local fatigue of the nonvolatile semiconductor memory device. Can be avoided. In order to implement this wear leveling, different physical addresses are generated by address conversion in the writing process using the same logical address from the host to the non-volatile memory, and the actual writing to the non-volatile memory is different. It is executed using the address. Not only is wear leveling realized by address mapping from the same logical address to a different physical address, but it is also possible to leave old data with an old physical address even when the power is cut off during write processing. For example, in a flash memory card that is inserted into a slot of the host device in a removable manner, an operation that the flash memory card is pulled out from the slot of the host device may be performed by the end user during a relatively slow write time. . This operation shuts off the power before data writing to the non-volatile memory at the same physical address is completed, so not only the latest data at the same physical address is lost, but also old data at the same physical address. There is also a danger of disappearing. In order to avoid this, even if the latest data of the same physical address is lost by using different physical addresses in the writing process using the same logical address from the host to the nonvolatile memory, the old data of the old physical address is lost. Can be securely stored. Address mapping from the same logical address to a different physical address is now an important technology in terms of measures to shut down the power supply during write processing and uniform fatigue of the nonvolatile memory in the file system space. ing. When new data is stored at the new physical address, the old data at the old physical address becomes unnecessary, and the old data becomes garbage in the file system. In order to secure the effective storage capacity of the file system, a process of making the memory area of the old physical address reusable for the next writing is performed by erasing old data called garbage collection.

また、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリは書き込み速度が低速と言う問題を解決するために、一度に複数のフラッシュデバイスをアクセスするインターリーブ書き込み技術も提案されている。このインターリーブ書き込み技術では、ホストからの書き込み指示に応答して、メモリコントローラから内部共通バスを介して1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに最初の書き込みデータが転送される。従って、1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリから内部不揮発性メモリアレーへの内部書き込み動作が開始され、この内部書き込みの期間を利用して内部共通バスを介してメモリコントローラから他の1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに次の書き込みデータが転送される。このようにして、1つの不揮発性メモリデバイスの内部書き込み動作と内部共通バスを介しての他の1つの不揮発性メモリデバイスへの書き込みデータのデータ転送とが並列に実行されて、ホストからのデータ書き込みに際して書き込み速度を向上することができる。   Further, in order to solve the problem that the nonvolatile memory such as a flash memory has a low writing speed, an interleaved writing technique for accessing a plurality of flash devices at a time has been proposed. In this interleave writing technique, in response to a write instruction from the host, the first write data is transferred from the memory controller to the internal buffer memory of one nonvolatile memory device via the internal common bus. Accordingly, an internal write operation from the internal buffer memory of one nonvolatile memory device to the internal nonvolatile memory array is started, and another nonvolatile memory is sent from the memory controller via the internal common bus using this internal write period. Next write data is transferred to the internal buffer memory of the memory device. In this way, the internal write operation of one non-volatile memory device and the data transfer of the write data to another non-volatile memory device via the internal common bus are executed in parallel, and data from the host In writing, the writing speed can be improved.

下記の非特許文献1には、上記の同一の論理アドレスから異なる物理アドレスへのアドレスマッピング、ガーベージ・コレクション、インターリーブ書き込み技術が紹介されている。また、下記の特許文献1、特許文献2、特許文献3には、一度に複数のフラッシュデバイスをアクセスするインターリーブ書き込み技術が開示されている。   Non-Patent Document 1 below introduces address mapping from the same logical address to a different physical address, garbage collection, and interleave writing technology. Further, the following Patent Literature 1, Patent Literature 2, and Patent Literature 3 disclose interleave writing techniques for accessing a plurality of flash devices at a time.

更に、下記の特許文献4には、大きな消去ブロックの不揮発性半導体メモリによる磁気ディスク・エミュレーションに際して、ブートレコードとファイル・アロケーション・テーブル(FAT)とルート・ディレクトリーとをシステム領域に含むMS−DOSオペレーティングシステムを不揮発性半導体メモリに構築することが開示されている。尚、MS−DOSは、Microsoft Disk Operating Systemの略称である。このために、磁気ディスクの論理クラスターを不揮発性半導体メモリのファイル構造の物理セクターにマッピングするクラスター・マッピング・テーブルが構築される。尚、論理クラスターは磁気ディスクにて論理的にアドレス可能な最小の記憶単位であり、3.5インチディスクの場合には、論理クラスターは512バイトの1つの物理セクターに対応している。また、ファイル・アロケーション・テーブル(FAT)は1つのファイルを構成する複数のクラスターがどのようにリンクされているかを示すチェーン形式の記録を含んでおり、更に、ルート・ディレクトリーは、ファイル名と、1つのファイルを形成する複数のクラスターのスタート・クラスター番号と、ファイル・サイズ等とを含んでいる。論理クラスターをファイル構造の物理セクターにマッピングするクラスター・マッピング・テーブルは、外部の論理アドレスとファイル構造の物理セクターとをリンクするものである。尚、下記の特許文献1、特許文献2、特許文献3、特許文献4に対応する米国特許は、それぞれ米国特許 第6,145,050号 明細書、米国特許 第5,519,847号 明細書、米国特許 第5,592,415号 明細書、第5,630,093号 明細書である。   Further, the following Patent Document 4 discloses an MS-DOS operating system including a boot record, a file allocation table (FAT), and a root directory in a system area when emulating a magnetic disk using a nonvolatile semiconductor memory having a large erase block. It is disclosed to build a system on a nonvolatile semiconductor memory. MS-DOS is an abbreviation for Microsoft Disk Operating System. For this purpose, a cluster mapping table for mapping the logical cluster of the magnetic disk to the physical sector of the file structure of the nonvolatile semiconductor memory is constructed. A logical cluster is the smallest storage unit that can be logically addressed by a magnetic disk. In the case of a 3.5 inch disk, the logical cluster corresponds to one physical sector of 512 bytes. In addition, the file allocation table (FAT) includes a chain-type record indicating how a plurality of clusters constituting one file are linked, and the root directory includes a file name, It includes the start cluster number of a plurality of clusters forming one file, the file size, and the like. A cluster mapping table that maps a logical cluster to a physical sector of a file structure links an external logical address and a physical sector of a file structure. In addition, the US patent corresponding to the following patent document 1, patent document 2, patent document 3, and patent document 4 is the US patent 6,145,050 specification, the US patent 5,519,847 specification, respectively. US Pat. Nos. 5,592,415 and 5,630,093.

特開平6−4399号 公報JP-A-6-4399 特開平7−141247号 公報JP-A-7-141247 特開平8−69698号 公報JP-A-8-69698 特開平5−241741号 公報JP-A-5-241741 Amir Friedman,“Disk Emulation Using Flash Memory”,1993 Nonvolatile Memory Technology Review, 22−24 June 1993, PP.61〜65Amir Friedman, “Disk Emulation Using Flash Memory”, 1993 Nonvolatile Memory Technology Review, 22-24 June 1993, PP. 61-65

本発明に先立って、本発明者等はインターリーブ書き込み技術をサポートするメモリコントローラと複数のフラッシュデバイスとを内蔵するフラッシュメモリカードの検討を行った。   Prior to the present invention, the present inventors studied a flash memory card that incorporates a memory controller that supports interleave writing technology and a plurality of flash devices.

このフラッシュメモリカードは、メモリコントローラと、複数の不揮発性メモリデバイスと、メモリコントローラと複数の不揮発性メモリデバイスに接続された内部共有バスとを含む。フラッシュメモリカードに内蔵されインターリーブ書き込み技術をサポートするメモリコントローラは、内部共有バスを介して複数の不揮発性メモリデバイスの1つの不揮発性メモリデバイスへ書き込みコマンドと、書き込み物理アドレスと、書き込みデータとを含むデータ転送を行う。しかし、このデータ転送が一度開始されると、内部共有バスを介してページと呼ばれる書き込みデータ単位の転送が終了するまで、メモリコントローラはフラッシュメモリカードの内部共有バスを占有する。   The flash memory card includes a memory controller, a plurality of nonvolatile memory devices, and an internal shared bus connected to the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices. A memory controller embedded in a flash memory card and supporting interleaved writing technology includes a write command, a write physical address, and write data to one nonvolatile memory device of a plurality of nonvolatile memory devices via an internal shared bus. Perform data transfer. However, once this data transfer is started, the memory controller occupies the internal shared bus of the flash memory card until the transfer of the write data unit called a page is completed via the internal shared bus.

一方、ウェアレベリングもしくは書き込み処理時の電源遮断の対策を実現するために、ホストからの不揮発性メモリへの同一の論理アドレスを用いた書き込み処理に際して同一の論理アドレスから異なる物理アドレスへのアドレスマッピングを行うことが必要である。このためには1つの不揮発性メモリデバイスの新しい物理アドレスへホストからの更新データを書き込むだけでなく、ホストにより更新されない非更新データを他の1つの不揮発性メモリデバイスの古い物理アドレスから新しい物理アドレスにコピーすることが必要である。このコピーには、他の1つの不揮発性メモリデバイスの古い物理アドレスからの非更新データを読み出し、この読み出した非更新データを他の1つの不揮発性メモリデバイスの新しい物理アドレスへ書き込むことが必要となる。しかし、ホストからのデータ書き込み速度を向上するためにインターリーブ書き込み技術が採用されているので、内部共有バスは1つの不揮発性メモリデバイスへのページと呼ばれる書き込みデータ単位の転送のために占有され、メモリコントローラが他の用途のために内部共有バスを使用できない。そのため、この期間ではメモリコントローラは、他の1つの不揮発性メモリデバイスの古い物理アドレスからの非更新データを読み出すための非更新データの読み出しコマンドを他の1つの不揮発性メモリデバイスに発行することができない。その結果、1つの不揮発性メモリデバイスへの更新データの転送が完了した後に他の1つの不揮発性メモリデバイスに非更新データの読み出しコマンドを発行しなければならない。その結果、1つの不揮発性メモリデバイスへの更新データの転送が完了するまで他の1つの不揮発性メモリデバイスではアイドル状態が続き、複数の不揮発性メモリデバイスの並列動作率が低下すると言う問題が本発明者等による検討によって明らかとされた。フラッシュメモリカード内部でメモリコントローラと複数の不揮発性メモリデバイスとの間を複数の内部占有バスで接続すれば、この問題は解決できる。しかし、メモリコントローラの外部端子数の増加と、フラッシュメモリカードの基板面積の増加を引き起こすので、複数の内部占有バスは現実的な解決方法ではない。   On the other hand, in order to implement measures against power interruption during wear leveling or write processing, address mapping from the same logical address to different physical addresses is performed during write processing using the same logical address from the host to the nonvolatile memory. It is necessary to do. For this purpose, not only the update data from the host is written to the new physical address of one non-volatile memory device, but also the non-update data not updated by the host is transferred from the old physical address of the other non-volatile memory device to the new physical address. It is necessary to copy to. This copy requires reading the non-updated data from the old physical address of the other non-volatile memory device and writing the read non-updated data to the new physical address of the other non-volatile memory device. Become. However, since interleaved writing technology is adopted to improve the data writing speed from the host, the internal shared bus is occupied for transfer of write data units called pages to one non-volatile memory device. The controller cannot use the internal shared bus for other uses. Therefore, during this period, the memory controller may issue a non-update data read command for reading non-update data from the old physical address of the other nonvolatile memory device to the other nonvolatile memory device. Can not. As a result, after the transfer of update data to one non-volatile memory device is completed, a read command for non-update data must be issued to the other non-volatile memory device. As a result, the problem that the idle state continues in one other nonvolatile memory device until the transfer of update data to one nonvolatile memory device is completed, and the parallel operation rate of the plurality of nonvolatile memory devices decreases. This has been clarified by studies by the inventors. This problem can be solved by connecting a memory controller and a plurality of nonvolatile memory devices with a plurality of internal exclusive buses in the flash memory card. However, since it causes an increase in the number of external terminals of the memory controller and an increase in the board area of the flash memory card, a plurality of internal occupation buses is not a practical solution.

従って、本発明は、上記のような本発明者等による検討結果を基にしてなされたものである。従って、本発明の目的とするところは、メモリコントローラと複数の不揮発性メモリデバイスとの間が内部共有バスで接続された不揮発性半導体記憶装置において、複数の不揮発性メモリデバイスの並列動作率を向上することにある。また、本発明のより具体的な目的は、ホストからの不揮発性メモリへの同一の論理アドレスを用いた書き込み処理に際して同一の論理アドレスから異なる物理アドレスへのアドレスマッピングを行うに際して、1つの不揮発性メモリデバイスの新しい物理アドレスへの更新データを書き込む処理と、他の1つの不揮発性メモリデバイスの古い物理アドレスからの非更新データを読み出す処理とを高速化することにある。
本発明のその他の目的は、メモリコントローラの外部端子数の増加と、不揮発性半導体記憶装置の基板面積の増加とを回避することにある。
Therefore, the present invention has been made on the basis of the results of the study by the present inventors as described above. Accordingly, an object of the present invention is to improve the parallel operation rate of a plurality of nonvolatile memory devices in a nonvolatile semiconductor memory device in which a memory controller and a plurality of nonvolatile memory devices are connected by an internal shared bus. There is to do. In addition, a more specific object of the present invention is to provide one nonvolatile memory when performing address mapping from the same logical address to a different physical address in the writing process using the same logical address from the host to the nonvolatile memory. The object is to speed up the process of writing update data to a new physical address of a memory device and the process of reading non-update data from an old physical address of another non-volatile memory device.
Another object of the present invention is to avoid an increase in the number of external terminals of the memory controller and an increase in the substrate area of the nonvolatile semiconductor memory device.

本発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴とは、本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。   The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下記の通りである。   The outline of a typical invention among the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

すなわち、第1の本発明のひとつの形態による不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)は、メモリコントローラ(Memo_Cnt)と、複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)とを含む。不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)は、メモリコントローラ(Memo_Cnt)と複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)との間に接続された内部共有バス(Int_Bus)を含む。複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)はそれぞれ、内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)と、内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)へ書き込まれる内部書き込みデータを格納する一方、内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)から読み出された内部読み出しデータを格納する内部バッファメモリ(Buffer0…BufferN)とを含む(図1、図2参照)。   That is, the nonvolatile semiconductor memory device (Memo_Crd) according to one embodiment of the first aspect of the present invention includes a memory controller (Memo_Cnt) and a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN). The nonvolatile semiconductor memory device (Memo_Crd) includes an internal shared bus (Int_Bus) connected between a memory controller (Memo_Cnt) and a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN). Each of the plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0 ... Memo_DvN) stores internal write data to be written to the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0 ... Memo_AryN) and the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0 ... Memo_AryN), respectively. And internal buffer memory (Buffer 0... Buffer N) for storing internal read data read from the memory array (Memo_Ary 0... Memo_AryN) (see FIGS. 1 and 2).

ホストからの指示に応答して、メモリコントローラ(Memo_Cnt)は複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)から1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)を選択する。メモリコントローラ(Memo_Cnt)は内部共有バス(Int_Bus)を介してこの選択された1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)へホストからの指示に対応するコマンドとアドレスとのアクセスデータを転送する(図6のT6〜T7参照)。1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)とメモリコントローラ(Memo_Cnt)との間の内部共有バス(Int_Bus)を介してのホストからの指示に基づくユーザーデータの転送(Data_Tr_Pr_Data;図6のT8〜T9参照)の完了の前に、メモリコントローラ(Memo_Cnt)は1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の選択を中断する一方、他の不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)を選択する(図6のT7〜T8参照)。メモリコントローラ(Memo_Cnt)は、内部共有バス(Int_Bus)を介してこの選択された他の不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)へ内部不揮発性メモリアレー(Memo_AryN)と内部バッファメモリ(BufferN)との間の内部データ転送のためのコマンドとアドレスとのアクセスデータ(Data_Tr_Rd_CMD&Add)を転送する(図6のT7〜T8参照)。選択された他の不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)は、この内部データ転送のためのコマンドとアドレスとのアクセスデータ(Data_Tr_Rd_CMD&Add)に応答して、内部不揮発性メモリアレー(Memo_AryN)と内部バッファメモリ(BufferN)との間の内部データ転送(Int_Rd_Ope)を実行する(図6のT8〜T9参照)。この内部データ転送(Int_Rd_Ope)の間では、内部共有バス(Int_Bus)は選択された他の不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)によって占有されていない。従って、この内部データ転送の間に、メモリコントローラ(Memo_Cnt)は1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の選択を再開する。この選択の再開によって、1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)とメモリコントローラ(Memo_Cnt)との間の内部共有バス(Int_Bus)を介してのホストからの指示に基づくユーザーデータの転送(Data_Tr_Pr_Data)が実行される(図6のT8〜T9参照)。   In response to the instruction from the host, the memory controller (Memo_Cnt) selects one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) from the plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN). The memory controller (Memo_Cnt) transfers the access data of the command and address corresponding to the instruction from the host to the selected one non-volatile memory device (Memo_Dv0) via the internal shared bus (Int_Bus) (FIG. 6). See T6-T7). Transfer of user data based on an instruction from a host via an internal shared bus (Int_Bus) between one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) and a memory controller (Memo_Cnt) (Data_Tr_Pr_Data; see T8 to T9 in FIG. 6) Before completion of the above, the memory controller (Memo_Cnt) interrupts the selection of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0), while selecting another nonvolatile memory device (Memo_DvN) (see T7 to T8 in FIG. 6). The memory controller (Memo_Cnt) is connected between the internal nonvolatile memory array (Memo_AryN) and the internal buffer memory (BufferN) to the other selected nonvolatile memory device (Memo_DvN) via the internal shared bus (Int_Bus). Access data (Data_Tr_Rd_CMD & Add) between the command and address for data transfer is transferred (see T7 to T8 in FIG. 6). In response to the access data (Data_Tr_Rd_CMD & Add) of the command and address for the internal data transfer, the selected other nonvolatile memory device (Memo_DvN) receives the internal nonvolatile memory array (Memo_AryN) and the internal buffer memory (BufferN). The internal data transfer (Int_Rd_Ope) is performed with respect to (see T8 to T9 in FIG. 6). During this internal data transfer (Int_Rd_Ope), the internal shared bus (Int_Bus) is not occupied by another selected nonvolatile memory device (Memo_DvN). Therefore, during this internal data transfer, the memory controller (Memo_Cnt) resumes the selection of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0). By resuming this selection, transfer of user data (Data_Tr_Pr_Data) based on an instruction from the host via the internal shared bus (Int_Bus) between one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) and the memory controller (Memo_Cnt) is executed. (See T8 to T9 in FIG. 6).

第1の本発明の前記ひとつの形態の手段によれば、他の不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)での内部データ転送(Int_Rd_Ope)と、1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)とメモリコントローラ(Memo_Cnt)との間の内部共有バス(Int_Bus)を介してのホストからの指示に基づくデータの転送(Data_Tr_Pr_Data)とが並列に実行される(図6のT8〜T9参照)。その結果、メモリコントローラと複数の不揮発性メモリデバイスとの間が内部共有バスで接続された不揮発性半導体記憶装置において、複数の不揮発性メモリデバイスの並列動作率を向上することができる(図1、図6参照)。   According to the means of the first aspect of the first aspect of the present invention, internal data transfer (Int_Rd_Ope) in another nonvolatile memory device (Memo_DvN), one nonvolatile memory device (Memo_Dv0), and a memory controller (Memo_Cnt) And data transfer (Data_Tr_Pr_Data) based on an instruction from the host via the internal shared bus (Int_Bus) between the two (see T8 to T9 in FIG. 6). As a result, in the nonvolatile semiconductor memory device in which the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices are connected by the internal shared bus, the parallel operation rate of the plurality of nonvolatile memory devices can be improved (FIG. 1, (See FIG. 6).

また、第1の本発明のひとつの具体的な形態では、メモリコントローラ(Memo_Cnt)と複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)との間に接続された複数の選択信号線(/CE0、/CEN)を更に含む。複数の選択信号線(/CE0、/CEN)の1つの選択信号線(/CE0)を介してメモリコントローラ(Memo_Cnt)は複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)から1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)を選択し、複数の選択信号線の他の1つの選択信号線(/CEN)を介してメモリコントローラ(Memo_Cnt)は複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)から他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)を選択する(図1参照)。   Further, in one specific form of the first aspect of the present invention, a plurality of selection signal lines (/ CE0, //) connected between a memory controller (Memo_Cnt) and a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN). CEN). Through one selection signal line (/ CE0) of the plurality of selection signal lines (/ CE0, / CEN), the memory controller (Memo_Cnt) is transferred from the plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN) to one nonvolatile memory device ( The memory controller (Memo_Cnt) is selected from the plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN) via the other selection signal line (/ CEN) of the plurality of selection signal lines. A memory device (Memo_DvN) is selected (see FIG. 1).

また、第1の本発明のひとつの具体的な形態では、メモリコントローラ(Memo_Cnt)と複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)との間に接続された複数のレディー/ビジー信号線(R/B0…R/BN)を更に含む。複数のレディー/ビジー信号線(R/B0…R/BN)の1つのレディー/ビジー信号線(R/B0)のレディー状態およびビジー状態からメモリコントローラ(Memo_Cnt)は1つの選択信号線(CE0)を介しての1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の選択が可能か否かを判別して、複数のレディー/ビジー信号線(R/B0…R/BN)の他の1つのレディー/ビジー信号線(R/BN)のレディー状態およびビジー状態からメモリコントローラ(Memo_Cnt)は他の1つの選択信号線(CEN)を介しての他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)の選択が可能か否かを判別する(図1参照)。   In one specific form of the first aspect of the present invention, a plurality of ready / busy signal lines (R / R) connected between a memory controller (Memo_Cnt) and a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN). B0 ... R / BN). From the ready state and busy state of one ready / busy signal line (R / B0) of the plurality of ready / busy signal lines (R / B0... R / BN), the memory controller (Memo_Cnt) has one selection signal line (CE0). It is determined whether or not one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) can be selected via the other, and another ready / busy signal of the plurality of ready / busy signal lines (R / B0... R / BN) is determined. Whether the memory controller (Memo_Cnt) can select another nonvolatile memory device (Memo_DvN) via another selection signal line (CEN) from the ready state and busy state of the line (R / BN) Is determined (see FIG. 1).

また、第1の本発明のひとつの具体的な形態では、複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)からの複数のレディー/ビジー信号線(R/B0…R/BN)が一本の共通レディー/ビジー信号線(Wired_OR_R/B)に共通接続される。メモリコントローラ(Memo_Cnt)が複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)のステータスレジスタの内容を定期的にチェックすることにより、内部共通バス(Int_Bus)を介して複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)のいずれの不揮発性メモリデバイスが選択可能であるかを判断する(図7参照)。   In one specific form of the first aspect of the present invention, a plurality of ready / busy signal lines (R / B0... R / BN) from a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN) are shared by one. Commonly connected to a ready / busy signal line (Wired_OR_R / B). The memory controller (Memo_Cnt) periodically checks the contents of the status registers of a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN), thereby allowing a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN) via the internal common bus (Int_Bus). ) Which nonvolatile memory device is selectable (see FIG. 7).

また、第1の本発明のひとつの具体的な形態では、メモリコントローラは、ホストからの書き込み指示により連続する2つの新規書き込みユーザーデータ(Data_PD00…Data_PD03、Data_PD04…Data_PD07)を複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)から選択された1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)と他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)とに書き込むインターリーブ書き込み技術をサポートするものである。ホストからの書き込み指示に応答してメモリコントローラ(Memo_Cnt)から内部共通バス(Int_Bus)を介して1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の内部バッファメモリ(Buffer0)に、連続する2つの新規書き込みユーザーデータ(Data_PD00…Data_PD03、Data_PD04…Data_PD07)のうちの最初の書き込みユーザーデータ(Data_PD00…Data_PD03)が転送される。1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の内部バッファメモリ(Buffer0)から内部不揮発性メモリアレーへ(Memo_Ary0)への最初の書き込みユーザーデータ(Data_PD00…Data_PD03)の内部書き込み動作の期間において、内部共通バス(Int_Bus)を介してメモリコントローラ(Memo_Cnt)から他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)の内部バッファメモリ(BufferN)に連続する2つの新規書き込みユーザーデータ(Data_PD00…Data_PD03、Data_PD04…Data_PD07)のうちの後続の書き込みユーザーデータ(Data_PD04…Data_PD07)が転送される。その結果、1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)での内部書き込み動作(Int_Wr_Ope)と、内部共通バス(Int_Bus)を介しての他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)への後続の書き込みユーザーデータ(Data_PD04…Data_PD07)のデータ転送(Data_Tr_Pr_Data)とが並列に実行される(図2、図3参照)。   Further, in one specific form of the first aspect of the present invention, the memory controller transmits two consecutive new write user data (Data_PD00... Data_PD03, Data_PD04... Data_PD07) according to a write instruction from the host to a plurality of nonvolatile memory devices. It supports an interleave writing technique for writing to one non-volatile memory device (Memo_Dv0) selected from (Memo_Dv0... Memo_DvN) and another non-volatile memory device (Memo_DvN). In response to a write instruction from the host, two consecutive new write user data are transferred from the memory controller (Memo_Cnt) to the internal buffer memory (Buffer0) of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) via the internal common bus (Int_Bus). The first write user data (Data_PD00... Data_PD03) of (Data_PD00... Data_PD03, Data_PD04... Data_PD07) is transferred. In the internal write operation period of the first write user data (Data_PD00... Data_PD03) from the internal buffer memory (Buffer0) of the single nonvolatile memory device (Memo_Dv0) to the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0), Among the two new write user data (Data_PD00 ... Data_PD04, Data_PD04, Data_PD07) that are continuous from the memory controller (Memo_Cnt) to the internal buffer memory (BufferN) of another non-volatile memory device (Memo_DvN) via Int_Bus) Subsequent write user data (Data_PD04... Data_PD07) is transferred. As a result, internal write operation (Int_Wr_Ope) in one non-volatile memory device (Memo_Dv0) and subsequent write user data to another non-volatile memory device (Memo_DvN) via the internal common bus (Int_Bus) Data transfer (Data_Tr_Pr_Data) of (Data_PD04... Data_PD07) is executed in parallel (see FIGS. 2 and 3).

また、第1の本発明のひとつの具体的な形態では、メモリコントローラ(Memo_Cnt)はホストからの同一の論理アドレスを用いた複数の書き込み処理に際して異なる物理アドレス(EB0、EBL)をアドレス変換により生成して、不揮発性半導体記憶装置内部の実際の書き込みは異なる物理アドレス(EB0、EBL)を用いて実行することによりウェアレベリングと書き込み処理時の古い物理アドレスの古いデータの保存との少なくとも一方を可能とする。書き込み処理時の新しい物理アドレス(EBL)の新しいデータ(Data_PD00´…Data_PD03´)が保存された際には古い物理アドレス(EB0)の古いデータ(Data_PD00…Data_PD03)を消去するガーベージ・コレクションを前記メモリコントローラが実行する(図1参照)。   In one specific form of the first aspect of the present invention, the memory controller (Memo_Cnt) generates different physical addresses (EB0, EBL) by address conversion during a plurality of write processes using the same logical address from the host. In addition, actual writing in the nonvolatile semiconductor memory device can be performed using different physical addresses (EB0, EBL) to enable at least one of wear leveling and storage of old data at the old physical address during writing processing. And When new data (Data_PD00 ′... Data_PD03 ′) of a new physical address (EBL) at the time of writing processing is saved, garbage collection for erasing old data (Data_PD00... Data_PD03) of an old physical address (EB0) is stored in the memory. The controller executes (see FIG. 1).

第1の本発明のひとつの他の具体的な形態による不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)では、ホストからの指示に応答して、メモリコントローラ(Memo_Cnt)は複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)から1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)を選択する。メモリコントローラ(Memo_Cnt)は、この選択された1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)へ書き込みコマンド(Pr_CMD)と書き込み物理アドレス(Add_PDOO´…Add_PD03´)の転送を開始する(図6のT6〜T7参照)。1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)への書き込みコマンド(Pr_CMD)と書き込み物理アドレス(Add_PDOO´…Add_PD03´)の転送の開始の後、1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の内部バッファメモリ(Buffer0)への書き込みデータ(Data_PD00´…Data_PD03´)の転送(Data_Tr_Pr_Data;図6のT8〜T9参照)の完了に先立って、メモリコントローラ(Memo_Cnt)は1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の選択を中断する一方、他の不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)を選択する。メモリコントローラ(Memo_Cnt)は、内部共有バス(Int_Bus)を介してこの選択された他の不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)へ読み出しコマンド(Int_Rd_CMD)と読み出し物理アドレス(Add_PDO4…Add_PD07)の転送を開始する(図6のT7〜T8参照)。この選択された他の不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)では、読み出しコマンド(Int_Rd_CMD)と読み出しアドレス(Add_PDO4…Add_PD07)とに応答して内部不揮発性メモリアレー(Memo_AryN)から内部バッファメモリ(BufferN)への内部読み出し動作が開始される(図6のT8〜T9参照)。他の不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)での内部読み出し動作の開始の後、メモリコントローラ(Memo_Cnt)は他の不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)の選択を中断する一方、1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の選択を再開する。1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の選択の再開の後、メモリコントローラ(Memo_Cnt)は内部共有バス(Int_Bus)を介して1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の内部バッファメモリ(Buffer0)への書き込みデータ(Data_PD00´…Data_PD03´)の転送を開始する(図6のT8〜T9参照)。メモリコントローラ(Memo_Cnt)から内部共有バス(Int_Bus)を介しての1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の内部バッファメモリ(Buffer0)への書き込みデータ(Data_PD00´…Data_PD03´)の転送(Data_Tr_Pr_Data)と、他の不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)での内部不揮発性メモリアレー(Memo_AryN)から内部バッファメモリ(BufferN)への内部読み出し動作(Int_Rd_Ope)とが並列に実行される(図1、図2、図6のT8〜T9参照)。   In the nonvolatile semiconductor memory device (Memo_Crd) according to another specific form of the first aspect of the present invention, in response to an instruction from the host, the memory controller (Memo_Cnt) includes a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN). ) To select one non-volatile memory device (Memo_Dv0). The memory controller (Memo_Cnt) starts transferring the write command (Pr_CMD) and the write physical address (Add_PDOO ′... Add_PD03 ′) to the selected one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) (see T6 to T7 in FIG. 6). ). After starting the transfer of the write command (Pr_CMD) and the write physical address (Add_PDOO ′... Add_PD03 ′) to one nonvolatile memory device (Memo_Dv0), the internal buffer memory (Buffer0) of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) Prior to the completion of the transfer of data (Data_PD00 ′... Data_PD03 ′) (Data_Tr_Pr_Data; see T8 to T9 in FIG. 6) to the memory controller, the memory controller (Memo_Cnt) interrupts the selection of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0). On the other hand, another non-volatile memory device (Memo_DvN) is selected. The memory controller (Memo_Cnt) starts transfer of the read command (Int_Rd_CMD) and the read physical address (Add_PDO4... Add_PD07) to the other selected nonvolatile memory device (Memo_DvN) via the internal shared bus (Int_Bus) ( (See T7 to T8 in FIG. 6). In the other selected nonvolatile memory device (Memo_DvN), the internal nonvolatile memory array (Memo_AryN) is transferred to the internal buffer memory (BufferN) in response to the read command (Int_Rd_CMD) and the read address (Add_PDO4... Add_PD07). An internal read operation is started (see T8 to T9 in FIG. 6). After the start of the internal read operation in the other nonvolatile memory device (Memo_DvN), the memory controller (Memo_Cnt) suspends the selection of the other nonvolatile memory device (Memo_DvN), while one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) Resume selection. After restarting the selection of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0), the memory controller (Memo_Cnt) writes to the internal buffer memory (Buffer0) of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) via the internal shared bus (Int_Bus). Transfer of data (Data_PD00 ′... Data_PD03 ′) is started (see T8 to T9 in FIG. 6). Transfer (Data_Tr_Pr_Data) of write data (Data_PD00 ′... Data_PD03 ′) from the memory controller (Memo_Cnt) to the internal buffer memory (Buffer0) of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) via the internal shared bus (Int_Bus); An internal read operation (Int_Rd_Ope) from the internal nonvolatile memory array (Memo_AryN) to the internal buffer memory (BufferN) in another nonvolatile memory device (Memo_DvN) is executed in parallel (FIGS. 1, 2, and 6). T8 to T9).

第1の本発明の前記ひとつの具体的な形態の手段によれば、ホストからの不揮発性メモリへの同一の論理アドレスを用いた書き込み処理に際して同一の論理アドレスから異なる物理アドレスへのアドレスマッピングを行うに際して、1つの不揮発性メモリデバイスの新しい物理アドレスへの更新データを書き込むためのデータ転送処理(Data_Tr_Pr_Data)と、他の1つの不揮発性メモリデバイスの古い物理アドレスからの非更新データを内部読み出しする処理(Int_Rd_Ope)とを高速化することができる(図6のT8〜T9参照)。   According to the means of the one specific form of the first aspect of the present invention, the address mapping from the same logical address to a different physical address is performed in the writing process using the same logical address from the host to the nonvolatile memory. When performing, a data transfer process (Data_Tr_Pr_Data) for writing update data to a new physical address of one nonvolatile memory device, and non-update data from an old physical address of another nonvolatile memory device are internally read out The processing (Int_Rd_Ope) can be speeded up (see T8 to T9 in FIG. 6).

さらに、第1の本発明の他のひとつの形態による不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)は、メモリコントローラ(Memo_Cnt)と、複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)とを含む。不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)は、メモリコントローラ(Memo_Cnt)と複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)との間に接続された内部共有バス(Int_Bus)を含む。複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)はそれぞれ、内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)と、内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)へ書き込まれる内部書き込みデータを格納する一方、内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)から読み出された内部読み出しデータを格納する内部バッファメモリ(Buffer0…BufferN)とを含む(図1、図2参照)。   Furthermore, a non-volatile semiconductor memory device (Memo_Crd) according to another embodiment of the first aspect of the present invention includes a memory controller (Memo_Cnt) and a plurality of non-volatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN). The nonvolatile semiconductor memory device (Memo_Crd) includes an internal shared bus (Int_Bus) connected between a memory controller (Memo_Cnt) and a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN). Each of the plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0 ... Memo_DvN) stores internal write data to be written to the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0 ... Memo_AryN) and the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0 ... Memo_AryN), respectively. And internal buffer memory (Buffer 0... Buffer N) for storing internal read data read from the memory array (Memo_Ary 0... Memo_AryN) (see FIGS. 1 and 2).

ホストから要求された書き込み指示と伴に受信された論理アドレスが、複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)に過去書き込まれた物理アドレスに対応する過去の論理アドレスのいずれとも不一致となることにメモリコントローラ(Memo_Cnt)が応答する。すなわち、メモリコントローラ(Memo_Cnt)はホストからの書き込み指示により連続する2つの新規書き込みユーザーデータ(Data_PD00…Data_PD03、Data_PD04…Data_PD07)を、複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)から選択された1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)と選択された他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)とに、内部共通バス(Int_Bus)を介して、2つの時間帯にて時分割で転送する。その後、選択された1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)と選択された他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)とでは各内部バッファメモリ(Buffer0…BufferN)から各内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)への各新規書き込みユーザーデータ(Data_PD00…Data_PD03、Data_PD04…Data_PD07)の内部書き込み動作(Int_Wr_Ope)が実行される(図2、図3参照)。   The logical address received together with the write instruction requested from the host does not match any of the past logical addresses corresponding to the physical addresses previously written in the plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN). The memory controller (Memo_Cnt) responds. That is, the memory controller (Memo_Cnt) selects two consecutive new write user data (Data_PD00 ... Data_PD03, Data_PD04 ... Data_PD07) from a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0 ... Memo_DvN) according to a write instruction from the host. The data is transferred to the nonvolatile memory device (Memo_Dv0) and the other selected nonvolatile memory device (Memo_DvN) in two time zones through the internal common bus (Int_Bus). Thereafter, the selected one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) and the other selected nonvolatile memory device (Memo_DvN) from each internal buffer memory (Buffer0 ... BufferN) to each internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0 ...). An internal write operation (Int_Wr_Ope) of each new write user data (Data_PD00... Data_PD03, Data_PD04... Data_PD07) to (Memo_AryN) is executed (see FIGS. 2 and 3).

一方、ホストから要求された書き込み指示と伴に受信された論理アドレスが、複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)に過去書き込まれた物理アドレスに対応する過去の論理アドレスのいずれか1つと一致することにメモリコントローラ(Memo_Cnt)が応答する。すなわち、メモリコントローラ(Memo_Cnt)は、一致した論理アドレスに対応する古い物理アドレス(EB0)を持つ複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)の領域に書き込まれたデータをホストから要求された書き込み指示により更新されるデータ(PD00…PD03)と非更新となるデータ(PD04…PD07)とに区別する。更新されるデータ(PD00…PD03)に関しては、一致した論理アドレスに対応する新しい物理アドレス(EBL)を持つ複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)のいずれかの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)ではその内部バッファメモリ(Buffer0…BufferN)を介してその内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)へホストからの更新データ(PD00´…PD03´)が書き込まれる。このホストからの更新データ(PD00´…PD03´)のいずれかの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)へのデータ転送(Data_Tr_Pr_Data)と時間的に並列に、非更新となるデータ(PD04…PD07)に関しての一致した論理アドレスに対応する古い物理アドレス(EB0)を持つ複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)の他のいずれかの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)の領域に書き込まれたデータ(PD04…PD07)がその内部バッファメモリ(Buffer0…BufferN)に内部読み出しされる。その後、この内部バッファメモリ(Buffer0…BufferN)に内部読み出しされた非更新データ(PD04…PD07)は、この不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)の内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)へ内部書き込みされる(図4、図6参照)。   On the other hand, the logical address received together with the write instruction requested from the host matches one of the past logical addresses corresponding to the physical address written in the past in the plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN). The memory controller (Memo_Cnt) responds. That is, the memory controller (Memo_Cnt) instructs the data written in the areas of the plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN) having the old physical address (EB0) corresponding to the matched logical address to be requested from the host. Thus, the data (PD00... PD03) to be updated is distinguished from the non-updated data (PD04... PD07). Regarding the data to be updated (PD00... PD03), any one of a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN) having a new physical address (EBL) corresponding to the matched logical address (Memo_Dv0... Memo_DvN). ), Update data (PD00 ′... PD03 ′) from the host is written to the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0... Memo_AryN) via the internal buffer memory (Buffer0... BufferN). Update data (PD00 '... PD03') from the host is non-updated data (PD04 ... PD07) in parallel with data transfer (Data_Tr_Pr_Data) to any nonvolatile memory device (Memo_Dv0 ... Memo_DvN) in time. Data written in the area of any one of the non-volatile memory devices (Memo_Dv0 ... Memo_DvN) of the plurality of non-volatile memory devices (Memo_Dv0 ... Memo_DvN) having the old physical address (EB0) corresponding to the matched logical address (PD04... PD07) is internally read into the internal buffer memory (Buffer0... BufferN). Thereafter, the non-updated data (PD04 ... PD07) internally read into the internal buffer memory (Buffer0 ... BufferN) is internally written to the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0 ... Memo_AryN) of this nonvolatile memory device (Memo_Dv0 ... Memo_DvN). (See FIGS. 4 and 6).

さらに、第1の本発明の他のひとつの形態による不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)は、メモリコントローラ(Memo_Cnt)と、複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)と、内部共有バス(Int_Bus)とを含む。   Furthermore, a nonvolatile semiconductor memory device (Memo_Crd) according to another embodiment of the first aspect of the present invention includes a memory controller (Memo_Cnt), a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN), and an internal shared bus (Int_Bus). Including.

複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)はそれぞれ、内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)と、内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)へ書き込まれる内部書き込みデータを格納する一方、内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0…Memo_AryN)から読み出された内部読み出しデータを格納する内部バッファメモリ(Buffer0…BufferN)とを含む。   Each of the plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0 ... Memo_DvN) stores internal write data to be written to the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0 ... Memo_AryN) and the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0 ... Memo_AryN), respectively. And an internal buffer memory (Buffer0 ... BufferN) for storing internal read data read from the memory array (Memo_Ary0 ... Memo_AryN).

複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)のいずれか1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0)に格納済みのデータ(PD00…PD03)を書き換えするホスト(Host)からの指示に応答してメモリコントローラ(Memo_Cnt)は1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)へ内部共有バス(Int_Bus)を介してデータ更新するためのコマンドおよびアドレス(Pr_CMD、Add_PD00´…Add_PD03´)を転送する。その後、メモリコントローラ(Memo_Cnt)は複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)の他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)に対してこの他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)の内部不揮発性メモリアレー(Memo_AryN)に格納済みのデータ更新の対象でないデータ(PD04…PD07)を他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)の内部バッファメモリ(BufferN)に読み出すためのコマンドおよびアドレス(Int_Rd_CMD、Add_PD04…Add_PD07、Ini_Rd_CMD)を転送する。   From the host (Host) that rewrites data (PD00 ... PD03) stored in the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0) of any one of the nonvolatile memory devices (Memo_Dv0 ... Memo_DvN). In response to the instruction, the memory controller (Memo_Cnt) transfers the command and address (Pr_CMD, Add_PD00 ′... Add_PD03 ′) for updating data to one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) via the internal shared bus (Int_Bus). To do. Thereafter, the memory controller (Memo_Cnt) is connected to the other non-volatile memory device (Memo_DvN) of the other non-volatile memory device (Memo_DvN) with respect to the other non-volatile memory device (Memo_DvN). Commands and addresses (Int_Rd_CMD, Add_PD04) for reading data (PD04... PD07) stored in the memory array (Memo_AryN) and not to be updated into the internal buffer memory (BufferN) of another non-volatile memory device (Memo_DvN) ... (Add_PD07, Ini_Rd_CMD) are transferred.

その後、メモリコントローラ(Memo_Cnt)が内部共有バス(Int_Bus)を介してデータ更新のための更新データ(PD00´…PD03´)を1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の内部バッファメモリ(Buffer0)へ転送するのと時間的に並列に、他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)ではデータ更新の対象でないデータ(PD04…PD07)を内部バッファメモリ(BufferN)へ読み出す内部読み出し動作(Int_Rd_Ope)が実行される(図1、図2、図6のT8〜T9参照)。   Thereafter, the memory controller (Memo_Cnt) transfers update data (PD00 ′... PD03 ′) for data update to the internal buffer memory (Buffer0) of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) via the internal shared bus (Int_Bus). In parallel with this, in the other nonvolatile memory device (Memo_DvN), an internal read operation (Int_Rd_Ope) for reading data (PD04... PD07) not subject to data update to the internal buffer memory (BufferN) is executed. (See T8 to T9 in FIGS. 1, 2, and 6).

さらに、第1の本発明の他のひとつの具体的な形態による不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)では、1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)では内部バッファメモリ(Buffer0)へ転送された更新データ(PD00´…PD03´)を内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0)に格納済みの更新前データ(PD00…PD03)を格納している物理アドレス(EBO)と異なる新しい物理アドレス(EBL)に書き込む内部書き込み動作(Int_Wr_Ope)が実行される。メモリコントローラ(MemO_Cnt)から内部共有バス(Int_Bus)を介して他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)へ転送される内部書き込みのコマンド(Int_Pr_CMD)とアドレス(Add_PD04…Add_PD07)とに応答して、他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)では内部バッファメモリ(BufferN)へデータ更新の対象でないデータ(PD04…PD07)を読み出し、この内部不揮発性メモリアレー(Memo_AryN)でデータ更新の対象でないデータ(PD04…PD07)を格納していた古い物理アドレス(EB0)と異なる新しい物理アドレス(EBL)に内部バッファメモリ(BufferN)からデータ更新の対象でないデータ(PD04…PD07)を書き込むと言う内部書き込み動作(Int_Wr_Ope)が実行される。   Further, in the nonvolatile semiconductor memory device (Memo_Crd) according to another specific form of the first aspect of the present invention, in one nonvolatile memory device (Memo_Dv0), the update data (Buffer0) transferred to the internal buffer memory (Buffer0) Internal write operation for writing PD00 '... PD03') to a new physical address (EBL) different from the physical address (EBO) storing pre-update data (PD00 ... PD03) already stored in the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0) (Int_Wr_Ope) is executed. In response to an internal write command (Int_Pr_CMD) and an address (Add_PD04 ... Add_PD07) transferred from the memory controller (MemO_Cnt) to another nonvolatile memory device (Memo_DvN) via the internal shared bus (Int_Bus) Another non-volatile memory device (Memo_DvN) reads data (PD04... PD07) that is not subject to data update to the internal buffer memory (BufferN), and data that is not subject to data update (Memo_AryN) (Memo_AryN). Data (PD04) from the internal buffer memory (Buffer N) to a new physical address (EBL) different from the old physical address (EB0) that stores PD04. Internal write operation (Int_Wr_Ope) is executed to say writing PD07).

さらに、第1の本発明の他のひとつの具体的な形態による不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)では、格納済みのデータ(PD00…PD03)を書き換えするホスト(Host)からの指示と伴に論理アドレスをメモリコントローラ(Memo_Cnt)が受信する。この論理アドレスは、1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0)でデータ更新の前に格納済みのデータ(PD00…PD03)を格納している物理アドレス(EB0)と他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)の内部不揮発性メモリアレーMemo_AryN)でデータ更新の対象でないデータ(PD04…PD07)を格納している物理アドレス(EB0)とに対応するホストからの論理アドレスと同一である。   Further, in the non-volatile semiconductor memory device (Memo_Crd) according to another specific form of the first aspect of the present invention, the logic is accompanied by an instruction from the host (Host) to rewrite the stored data (PD00... PD03). The address is received by the memory controller (Memo_Cnt). This logical address is the physical address (EB0) that stores the data (PD00... PD03) stored before the data update in the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0) of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0), and the other. A logical address from the host corresponding to a physical address (EB0) storing data (PD04... PD07) that is not a data update target in the internal nonvolatile memory array Memo_AryN) of one nonvolatile memory device (Memo_DvN) of Are the same.

データを書き換えするホストからの指示と伴に受信された同一の論理アドレスに応答してメモリコントローラ(Memo_Cnt)は1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の新しい物理アドレス(EBL)と他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)の新しい物理アドレス(EBL)とをアドレス変換により生成する。   In response to the same logical address received with an instruction from the host to rewrite the data, the memory controller (Memo_Cnt) has a new physical address (EBL) of one non-volatile memory device (Memo_Dv0) and another non-volatile A new physical address (EBL) of the memory device (Memo_DvN) is generated by address conversion.

さらに、第1の本発明の他のひとつの具体的な形態による不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)では、1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の古い物理アドレスと1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の新しい物理アドレスとは1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0)の内部不揮発性メモリアレー(Memo_Ary0)でそれぞれ異なる消去ブロック(EB0、EBL)に配置されている。また、他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)の古い物理アドレスと他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)の新しい物理アドレスとは他の1つの不揮発性メモリデバイス(Memo_DvN)の内部不揮発性メモリアレー(Memo_AryN)でそれぞれ異なる消去ブロックに配置されている(EB0、EBL)。   Furthermore, in the nonvolatile semiconductor memory device (Memo_Crd) according to another specific form of the first aspect of the present invention, the old physical address of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) and one nonvolatile memory device (Memo_Dv0) These new physical addresses are arranged in different erase blocks (EB0, EBL) in the internal nonvolatile memory array (Memo_Ary0) of one nonvolatile memory device (Memo_Dv0). In addition, the old physical address of the other non-volatile memory device (Memo_DvN) and the new physical address of the other non-volatile memory device (Memo_DvN) are the internal non-volatile of the other non-volatile memory device (Memo_DvN). The memory arrays (Memo_AryN) are arranged in different erase blocks (EB0, EBL).

更に、第2の本発明のひとつの形態による不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)は、メモリコントローラ(Memo_Cnt)と、複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)とを含む。メモリコントローラ(Memo_Cnt)は、内部共有バス(Int_Bus)を介して複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)への所定の周波数でのデータ転送を実行する。メモリコントローラ(Memo_Cnt)は、複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0…Memo_DvN)から選択された少なくとも2つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0、Memo_DvN)を所定の周波数よりも低い周波数を持ち、位相の異なる少なくとも2つの選択信号(/CE0、/CEN)によって交互にアクセスする(図8、図9参照)。   Furthermore, the nonvolatile semiconductor memory device (Memo_Crd) according to one embodiment of the second aspect of the present invention includes a memory controller (Memo_Cnt) and a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN). The memory controller (Memo_Cnt) performs data transfer at a predetermined frequency to a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0... Memo_DvN) via the internal shared bus (Int_Bus). The memory controller (Memo_Cnt) has at least two non-volatile memory devices (Memo_Dv0, Memo_DvN) selected from a plurality of non-volatile memory devices (Memo_Dv0 ... Memo_DvN) having a frequency lower than a predetermined frequency and different in phase. Access is alternately performed by two selection signals (/ CE0, / CEN) (see FIGS. 8 and 9).

第2の本発明の前記ひとつの形態の手段によれば、位相の異なる少なくとも2つの選択信号(/CE0、/CEN)によって2つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0、Memo_DvN)が交互にアクセスされ、2つの不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0、Memo_DvN)は低い周波数にて並列動作する。その結果、メモリコントローラと複数の不揮発性メモリデバイスとが内部共有バスで接続された不揮発性半導体記憶装置において、複数の不揮発性メモリデバイスの並列動作率を向上することができる。   According to the means of the one aspect of the second aspect of the present invention, two nonvolatile memory devices (Memo_Dv0, Memo_DvN) are alternately accessed by at least two selection signals (/ CE0, / CEN) having different phases. Two nonvolatile memory devices (Memo_Dv0, Memo_DvN) operate in parallel at a low frequency. As a result, in the nonvolatile semiconductor memory device in which the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices are connected by the internal shared bus, the parallel operation rate of the plurality of nonvolatile memory devices can be improved.

また、第2の本発明のひとつの具体的な形態による不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)では、2つの選択信号(/CE0、/CEN)の周波数は所定の周波数の略半分の周波数であり、2つの選択信号(/CE0、/CEN)の位相は略逆位相である。   In the nonvolatile semiconductor memory device (Memo_Crd) according to one specific form of the second aspect of the present invention, the frequencies of the two selection signals (/ CE0, / CEN) are approximately half of the predetermined frequency. The phases of the two selection signals (/ CE0, / CEN) are substantially opposite phases.

また、第2の本発明の他の具体的な形態による不揮発性半導体記憶装置(Memo_Crd)では、複数の不揮発性メモリデバイス(Memo_Dv0、Memo_DvN)から選択されたL個(L>2)の不揮発性メモリデバイスを前記所定の周波数の1/Lの低い周波数を持ち、位相が2π/Lづつ異なるL個の選択信号(/CE0…/CEL−1)によってシーケンシャルにアクセスする。   In the nonvolatile semiconductor memory device (Memo_Crd) according to another specific form of the second aspect of the present invention, L (L> 2) nonvolatiles selected from a plurality of nonvolatile memory devices (Memo_Dv0, Memo_DvN). The memory device is sequentially accessed by L selection signals (/ CE0... / CEL-1) having a frequency 1 / L lower than the predetermined frequency and having phases different by 2π / L.

本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである。   The effects obtained by the representative ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

すなわち、本発明によれば、メモリコントローラと複数の不揮発性メモリデバイスとの間が内部共有バスで接続された不揮発性半導体記憶装置において、複数の不揮発性メモリデバイスの並列動作率を向上することができる。   That is, according to the present invention, in a nonvolatile semiconductor memory device in which a memory controller and a plurality of nonvolatile memory devices are connected by an internal shared bus, the parallel operation rate of the plurality of nonvolatile memory devices can be improved. it can.

≪フラッシュメモリカードの構成≫
図1は、第1の本発明のひとつの実施形態によるフラッシュメモリカードMemo_Crdの構成を示す図である。フラッシュメモリカードMemo_Crdは、標準的な外部バスExt_Busを介してホスト機器Hostのスロットにリムーバブルに挿入される。ホスト機器Hostは、例えばパーソナルコンピュータ、パーソナルディジタルアシスト(PDA)、ディジタルスチールカメラ、ディジタルムービーカメラ、携帯電話端末等の電子機器である。フラッシュメモリカードMemo_Crdは、メモリコントローラMemo_Cntと、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNとを含む。不揮発性半導体記憶装置Memo_Crdは、更にメモリコントローラMemo_Cntと複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNとの間に接続された内部共有バスInt_Busを含む。複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNはそれぞれ、内部不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNと、内部不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNへ書き込まれる書き込みデータを格納する一方、内部不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNから読み出された読み出しデータを格納する内部バッファメモリBuffer0…BufferNとを含む。
≪Flash memory card configuration≫
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a flash memory card Memo_Crd according to one embodiment of the first invention. The flash memory card Memo_Crd is removably inserted into the slot of the host device Host via the standard external bus Ext_Bus. The host device Host is an electronic device such as a personal computer, a personal digital assist (PDA), a digital still camera, a digital movie camera, or a mobile phone terminal. The flash memory card Memo_Crd includes a memory controller Memo_Cnt and a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN. The nonvolatile semiconductor memory device Memo_Crd further includes an internal shared bus Int_Bus connected between the memory controller Memo_Cnt and the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN. Each of the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0 ... Memo_DvN stores the write data to be written to the internal nonvolatile memory array Memo_Ary0 ... Memo_AryN and the internal nonvolatile memory array Memo_Ary0 ... Memo_AryN, while the internal nonvolatile memory array Including internal buffer memories Buffer0... BufferN for storing the read data that has been output.

メモリコントローラMemo_Cntは、標準的な外部バスExt_Busを介してホスト機器Hostのスロットにリムーバブルに接続されるホストインターフェースHost_Intを含み、ホストインターフェースHost_Intはホスト機器Hostからデータ書き込み、データ読み出し、データ消去の種々の指示を受信する。ホストインターフェースHost_Intにて受信された指示に基づき、メモリコントローラMemo_Cntは、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNのデータ書き込み、データ読み出し、データ消去の動作を制御する。ホスト機器Hostからの書き込みデータは、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNへ書き込まれる前に、メモリコントローラMemo_CntのバッファメモリBufferRAMに一時的に格納される。また、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNから読み出された読み出しデータはホスト機器Hostへ転送される前に、メモリコントローラMemo_CntのバッファメモリBufferRAMに一時的に格納される。バッファメモリBufferRAMに一時的に格納された書き込みデータは、バッファメモリ制御部Buffer_Cntを介して制御ユニットCnt_Unitにより読み出されて、最終的には複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNに格納される。複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNから読み出された読み出しデータは制御ユニットCnt_Unitを介してECC制御部ECCに転送されて、読み出しデータの誤り検出と誤り訂正とが実行される。メモリコントローラMemo_Cnt内部のホストインターフェースHost_Int、バッファメモリBufferRAM、バッファメモリ制御部Buffer_Cnt、ECC制御部ECC、制御ユニットCnt_UnitはマイクロコントローラユニットMCUにより制御される。バッファメモリBufferRAMは、メモリコントローラMemo_Cntから複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNへのインターリーブ書き込みの際のデータ保持に使用され、ECC制御部ECCによる読み出しデータの誤り検出と誤り訂正の際のデータ保持にも使用される。また、ウェアレベリングもしくは書き込み処理時の電源遮断対策のため、ホストからの同一の論理アドレスから異なる物理アドレスがアドレス変換により生成される。同一の論理アドレスに対応する古い物理アドレスから最新の物理アドレスの履歴が複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの管理データ領域に格納される。フラッシュメモリカードMemo_Crdがホスト機器Hostのスロットに挿入されること等によるフラッシュメモリカードMemo_Crdのシステム起動時に、同一の論理アドレスに対応する最新の物理アドレスの関係を示すアドレス変換テーブルが不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの管理データ領域からバッファメモリBufferRAMへコピーされる。同一の論理アドレスに対応する最新データを高速にアクセスするために、メモリコントローラMemo_CntのバッファメモリBufferRAMへコピーされたアドレス変換テーブルが、有効に機能する。システム起動後のシステム稼働中に物理アドレスが更に最新の値に更新される場合は、この最新の物理アドレス値を不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの管理データ領域に格納するとともに、バッファメモリBufferRAMへコピーすることが推奨される。尚、ホスト機器Hostから特定の論理アドレスLA1による書き込み指示がメモリコントローラMemo_CntのホストインターフェースHost_Intにより受信されると、メモリコントローラMemo_Cntの制御ユニットCnt_Unitは例えば乱数生成によって特定の論理アドレスLA1に対応する物理アドレスPA1を生成する。この生成された物理アドレスPA1を用いることにより、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNへの書き込みをトライする。書き込みが成功すれば、特定の論理アドレスLA1と物理アドレスPA1とのアドレス変換情報が複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの管理データ領域に格納される。尚、書き込みが失敗すれば、この物理アドレスPA1によりアクセスされる複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの書き込み領域は、有効データが書き込み済みか、もしくは無効データが書き込まれているが未消去状態であり、書き込み不可能な状態となっている。従って、再度乱数が生成されて、先の値と異なる物理アドレスPA1が生成される。この再生成された異なる物理アドレスPA1により複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNへの書き込みをトライする。書き込みが成功するまで、異なる物理アドレスPA1が再生成され、最終的には書き込みが成功して、特定の論理アドレスLA1と最終的な物理アドレスPA1とのアドレス変換情報が複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの管理データ領域に格納される。特定の論理アドレスLA1と同一の論理アドレスLA2(=LA1)による書き込み指示がメモリコントローラMemo_CntのホストインターフェースHost_Intにより再度受信されると、メモリコントローラMemo_Cntの制御ユニットCnt_Unitは複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの管理データ領域に格納されたアドレス変換情報から特定の論理アドレスLA1に対応していた先の物理アドレスPA1の値を読み出す。この読み出された先の物理アドレスPA1の値に例えば新規に生成された乱数を加算する等のアドレス再計算により、先の物理アドレスPA1の値と異なる値を持つ物理アドレスPA2が生成される。この生成された物理アドレスPA2を用いることにより、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNへの書き込みをトライする。書き込みが成功するまで、異なる値の物理アドレスPA2が再生成され、最終的には書き込みが成功して、同一の論理アドレスLA2(=LA1)と最終的な物理アドレスPA2とのアドレス変換情報が複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの管理データ領域に格納される。以上のアドレス計算により、同一論理アドレスに対応する異なる物理アドレスによる書き込みが可能となり、ウェアレベリングもしくは書き込み処理時の古い物理アドレスの古いデータの保存との少なくとも一方が可能となる。更に、以上のような論理アドレスから物理アドレスへのアドレス変換によって同一論理アドレスに対応する新しい物理アドレスへ新しいデータが格納された場合には、適切な時期に古い物理アドレスの古いデータを消去するガーベージ・コレクションの処理を複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNが行うように、メモリコントローラMemo_Cntが構成されている。   The memory controller Memo_Cnt includes a host interface Host_Int that is connected to a slot of the host device Host via a standard external bus Ext_Bus, and the host interface Host_Int performs various data write, data read, and data erase operations from the host device Host. Receive instructions. Based on the instruction received by the host interface Host_Int, the memory controller Memo_Cnt controls the data write, data read, and data erase operations of the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN. Write data from the host device Host is temporarily stored in the buffer memory BufferRAM of the memory controller Memo_Cnt before being written to the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN. Read data read from the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN is temporarily stored in the buffer memory BufferRAM of the memory controller Memo_Cnt before being transferred to the host device Host. The write data temporarily stored in the buffer memory BufferRAM is read by the control unit Cnt_Unit via the buffer memory control unit Buffer_Cnt, and finally stored in a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN. Read data read from the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN is transferred to the ECC control unit ECC via the control unit Cnt_Unit, and error detection and error correction of the read data are executed. The host interface Host_Int, the buffer memory BufferRAM, the buffer memory control unit Buffer_Cnt, the ECC control unit ECC, and the control unit Cnt_Unit inside the memory controller Memo_Cnt are controlled by the microcontroller unit MCU. The buffer memory BufferRAM is used to hold data when interleaved writing from the memory controller Memo_Cnt to a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN, and is used for error detection and error correction of read data by the ECC control unit ECC. Also used. Also, different physical addresses are generated by address conversion from the same logical address from the host in order to take measures against power interruption during wear leveling or writing processing. The history of the latest physical address from the old physical address corresponding to the same logical address is stored in the management data area of a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN. When the system of the flash memory card Memo_Crd is activated by inserting the flash memory card Memo_Crd into the slot of the host device Host, an address conversion table indicating the relationship between the latest physical addresses corresponding to the same logical address is stored in the nonvolatile memory device Memo_Dv0. ... Copied from the management data area of Memo_DvN to the buffer memory BufferRAM. In order to access the latest data corresponding to the same logical address at high speed, the address conversion table copied to the buffer memory BufferRAM of the memory controller Memo_Cnt functions effectively. When the physical address is updated to the latest value during system operation after the system is started, the latest physical address value is stored in the management data area of the nonvolatile memory device Memo_Dv0... Memo_DvN and copied to the buffer memory BufferRAM. It is recommended to do. When a write instruction with a specific logical address LA1 is received from the host device Host by the host interface Host_Int of the memory controller Memo_Cnt, the control unit Cnt_Unit of the memory controller Memo_Cnt is, for example, a physical address corresponding to the specific logical address LA1 by random number generation. PA1 is generated. By using the generated physical address PA1, writing to a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN is tried. If the writing is successful, the address translation information between the specific logical address LA1 and physical address PA1 is stored in the management data area of the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN. If the writing fails, the write area of the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN accessed by the physical address PA1 has written valid data or invalid data, but is in an unerased state. Yes, it is not writable. Therefore, a random number is generated again, and a physical address PA1 different from the previous value is generated. Writing to a plurality of non-volatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN is tried using the regenerated different physical address PA1. Until the writing succeeds, the different physical address PA1 is regenerated, and finally the writing succeeds, and the address translation information between the specific logical address LA1 and the final physical address PA1 is a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0. ... stored in the management data area of Memo_DvN. When a write instruction by the same logical address LA2 (= LA1) as the specific logical address LA1 is received again by the host interface Host_Int of the memory controller Memo_Cnt, the control unit Cnt_Unit of the memory controller Memo_Cnt becomes a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN The value of the previous physical address PA1 corresponding to the specific logical address LA1 is read from the address conversion information stored in the management data area. A physical address PA2 having a value different from the value of the previous physical address PA1 is generated by address recalculation such as adding a newly generated random number to the value of the read physical address PA1. By using the generated physical address PA2, a write to a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN is tried. Until the writing succeeds, the physical address PA2 having a different value is regenerated. Finally, the writing succeeds, and a plurality of pieces of address conversion information between the same logical address LA2 (= LA1) and the final physical address PA2 are obtained. Are stored in the management data area of the non-volatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN. With the above address calculation, writing with different physical addresses corresponding to the same logical address is possible, and at least one of wear leveling or storage of old data with an old physical address during writing processing is possible. Furthermore, when new data is stored in a new physical address corresponding to the same logical address by the address conversion from the logical address to the physical address as described above, the old data of the old physical address is deleted at an appropriate time. The memory controller Memo_Cnt is configured such that the collection processing is performed by a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN.

図1に示すように、フラッシュメモリカードMemo_Crdの内部では、メモリコントローラMemo_Cntと複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNとの間には内部共有バスInt_Busと、チップ選択信号線CE0…CENと、レディー/ビジィー信号線R/B0…R/BNとが配置されている。内部共有バスInt_Busと、チップ選択信号線CE0…CENと、レディー/ビジィー信号線R/B0…R/BNとは、メモリコントローラMemo_Cntと複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNとに接続されている。   As shown in FIG. 1, in the flash memory card Memo_Crd, an internal shared bus Int_Bus, chip selection signal lines CE0... CEN, and ready / Busy signal lines R / B0... R / BN are arranged. The internal shared bus Int_Bus, the chip selection signal lines CE0... CEN, and the ready / busy signal lines R / B0... R / BN are connected to the memory controller Memo_Cnt and the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0.

複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNはそれぞれ、内部不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNと、内部不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNへ書き込まれる内部書き込みデータを格納する一方、内部不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNから読み出された内部読み出しデータを格納する内部バッファメモリBuffer0…BufferNとを含む。N個の不揮発性記憶デバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの代表としての不揮発性記憶デバイスMemo_Dv0は、不揮発性記憶アレーMemo_Ary0と周辺回路Per_Cir0とを含む。不揮発性記憶アレーMemo_Ary0は、良く知られているように複数の不揮発性メモリセルが行方向と列方向とに配列されたものである。不揮発性メモリセルは例えばフラッシュメモリセルであり、フラッシュメモリセルは行方向に配置されたワード線に接続された制御ゲートと、列方向に配置されたビット線に接続されたドレインと、列方向に配置された接地線に接続されたソースとを有するMOSトランジスタにより構成される。MOSトランジスタの制御ゲートの直下には、周囲から電気的に絶縁された不揮発性記憶ノードとしてのフローティングゲートが形成されている。フローティングゲートへの電子の注入によってフラッシュメモリセルとしてのMOSトランジスタへのプログラムが行われ、フローティングゲートの蓄積電子の中和によって消去が行われる。不揮発性記憶デバイスMemo_Dv0の周辺回路Per_Cir0は、メモリコントローラMemo_Cntからの読み出しコマンド、プログラムコマンド、消去コマンドに応答して、不揮発性記憶アレーMemo_Ary0を行方向と列方向とにアクセスする。また、周辺回路Per_Cir0はチャージポンプ回路を含み、チャージポンプ回路はホスト機器Hostから供給された電源電圧の昇圧により昇圧電圧を生成する。チャージポンプ回路から生成された昇圧電圧は、プログラム用高電圧と消去用高電圧として周辺回路Per_Cir0の内部の読み出し/プログラム/消去回路へ供給される。他の不揮発性記憶デバイスMemo_Dv1…Memo_DvNも、不揮発性記憶デバイスMemo_Dv0と同様に構成されている。   The plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN store internal write data to be written to the internal nonvolatile memory array Memo_Ary0. Including internal buffer memories Buffer0... BufferN for storing the read internal read data. The nonvolatile memory device Memo_Dv0 as a representative of the N nonvolatile memory devices Memo_Dv0 ... Memo_DvN includes a nonvolatile memory array Memo_Ary0 and a peripheral circuit Per_Cir0. As is well known, the nonvolatile memory array Memo_Ary0 includes a plurality of nonvolatile memory cells arranged in a row direction and a column direction. The nonvolatile memory cell is, for example, a flash memory cell, and the flash memory cell has a control gate connected to a word line arranged in the row direction, a drain connected to a bit line arranged in the column direction, and a column direction. It is constituted by a MOS transistor having a source connected to the arranged ground line. Immediately below the control gate of the MOS transistor, a floating gate is formed as a nonvolatile storage node that is electrically insulated from the surroundings. Programming of MOS transistors as flash memory cells is performed by injecting electrons into the floating gate, and erasing is performed by neutralizing accumulated electrons in the floating gate. The peripheral circuit Per_Cir0 of the nonvolatile memory device Memo_Dv0 accesses the nonvolatile memory array Memo_Ary0 in the row direction and the column direction in response to a read command, a program command, and an erase command from the memory controller Memo_Cnt. The peripheral circuit Per_Cir0 includes a charge pump circuit, and the charge pump circuit generates a boosted voltage by boosting the power supply voltage supplied from the host device Host. The boosted voltage generated from the charge pump circuit is supplied to the read / program / erase circuit inside the peripheral circuit Per_Cir0 as a program high voltage and an erase high voltage. Other nonvolatile storage devices Memo_Dv1... Memo_DvN are configured in the same manner as the nonvolatile storage device Memo_Dv0.

メモリコントローラMemo_Cntが内部共有バスInt_Busを介して複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNをアクセスするには、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNに対応するチップイネーブル信号/CE0…/CENをイネーブル状態である例えばローレベルに設定することが必要である。その前に、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNに対応するレディー/ビジィー信号線R/B0…R/BNがレディー状態である例えばローレベルとなっていることがメモリコントローラMemo_Cntにより確認される。従って、内部共有バスInt_Busを介してアクセスされるべき不揮発性メモリデバイスがレディー状態であることが確認されると、アクセスされるべき不揮発性メモリデバイスに対応するチップイネーブル信号がローレベルのイネーブル状態に設定され、アクセスされるべき不揮発性メモリデバイスへの内部共有バスInt_Busを介してのアクセスが開始される。内部共有バスInt_Busを介してのアクセスが開始されると、アクセス中の不揮発性メモリデバイスに対応するレディー/ビジィー信号はビジィー状態である例えばハイレベルとなる。内部共有バスInt_Busを介してのアクセスが終了すると、アクセスが終了した不揮発性メモリデバイスに対応するレディー/ビジィー信号はレディー状態である例えばローレベルに復帰する。   In order for the memory controller Memo_Cnt to access a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN via the internal shared bus Int_Bus, the chip enable signals / CE0... / CEN corresponding to the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0. For example, it is necessary to set to a low level. Before that, the memory controller Memo_Cnt confirms that the ready / busy signal lines R / B0... R / BN corresponding to the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0. Therefore, when it is confirmed that the nonvolatile memory device to be accessed through the internal shared bus Int_Bus is in the ready state, the chip enable signal corresponding to the nonvolatile memory device to be accessed is set to the low level enable state. Access to the nonvolatile memory device to be set and accessed via the internal shared bus Int_Bus is started. When the access via the internal shared bus Int_Bus is started, the ready / busy signal corresponding to the nonvolatile memory device being accessed becomes a busy state, for example, high level. When the access through the internal shared bus Int_Bus is completed, the ready / busy signal corresponding to the nonvolatile memory device for which the access has been completed returns to the ready state, for example, low level.

≪フラッシュメモリカードのインターリーブ書き込み動作≫
図2と図3とは、図1に示したフラッシュメモリカードMemo_CrdのメモリコントローラMemo_Cntが、所謂インターリーブ書き込み技術をサポートすることを示すものである。ホストからの書き込み速度を向上するこのインターリーブ書き込みによって、ホストから連続する2つのユーザーデータを複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNに書き込むことが可能なのは、次の場合である。すなわち、ホスト機器から要求された書き込み指示と伴に受信された論理アドレスが、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNに過去書き込まれた物理アドレスに対応する過去の論理アドレスのいずれとも不一致となることである。この不一致が複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの管理データ領域に格納されたアドレス変換情報から確認されると、メモリコントローラMemo_Cntは下記のようなインターリーブ書き込みの処理を開始する。尚、ホストから連続する2つのユーザーデータと伴に受信される論理アドレスは、連続する2つのユーザーデータに共通の論理アドレスである場合と、連続する2つのユーザーデータでそれぞれ異なる2つの論理アドレスである場合とがある。いずれにしても、共通の論理アドレス、もしくは異なる2つの論理アドレスが、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNに過去書き込まれた物理アドレスに対応する過去の論理アドレスのいずれとも不一致の場合に、インターリーブ書き込みの処理が実行される。
≪Flash memory card interleave writing operation≫
2 and 3 show that the memory controller Memo_Cnt of the flash memory card Memo_Crd shown in FIG. 1 supports a so-called interleave writing technique. With this interleaved writing that improves the writing speed from the host, it is possible to write two consecutive user data from the host to a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN in the following cases. That is, the logical address received together with the write instruction requested from the host device does not match any of the past logical addresses corresponding to the physical addresses previously written in the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN. It is. When this mismatch is confirmed from the address conversion information stored in the management data area of the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN, the memory controller Memo_Cnt starts the following interleave writing process. Note that the logical address received together with two consecutive user data from the host is a logical address that is common to the two consecutive user data, and two different logical addresses for the two consecutive user data. There is a case. In any case, when the common logical address or two different logical addresses do not match any of the past logical addresses corresponding to the physical addresses previously written in the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Write processing is executed.

このインターリーブ書き込み技術では、ホストからの書き込み指示により連続する2つの新規書き込みユーザーデータData_PD00…Data_PD03、Data_PD04…Data_PD07が、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNから選択された1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0と選択された他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNとに、内部共通バスInt_Busを介して、2つの時間帯にて時分割で転送される。まず、ホストからの書き込み指示に応答して図3の時刻T1から時刻T3までの間にメモリコントローラMemo_Cntから内部共通バスInt_Busを介して1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の内部バッファメモリBuffer0に連続する2つの新規書き込みユーザーデータData_PD00…Data_PD03、Data_PD04…Data_PD07のうちの最初の書き込みユーザーデータData_PD00…Data_PD03が書き込みコマンドPr_CMDと書き込み物理アドレスAdd_PD00…Add_PD03とともに転送される。より厳密に言えば、時刻T1から時刻T2までの間にメモリコントローラMemo_Cntから1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0へ書き込みコマンドPr_CMDと書き込み物理アドレスAdd_PD00…Add_PD03とが転送され、時刻T2から時刻T3までの間にメモリコントローラMemo_Cntから1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0へ最初の書き込みユーザーデータData_PD00…Data_PD03と書き込み開始コマンドIni_Wr_CMDとが転送される。次に図3の時刻T3から時刻T5の間に1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の内部バッファメモリBuffer0から内部不揮発性メモリアレーへMemo_Ary0への最初の書き込みユーザーデータData_PD00…Data_PD03の内部書き込み動作Int_Wr_Opeが実行される。この内部書き込み動作Int_Wr_Opeの期間と平行して、内部共通バスInt_Busを介してメモリコントローラMemo_Cntから他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの内部バッファメモリBufferNに連続する2つの新規書き込みユーザーデータData_PD00…Data_PD03、Data_PD04…Data_PD07のうちの後続の書き込みユーザーデータData_PD04…Data_PD07が転送される。より厳密に言えば、時刻T3から時刻T4までの間にメモリコントローラMemo_Cntから他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNへ書き込みコマンドPr_CMDと書き込み物理アドレスAdd_PD04…Add_PD07とが転送され、時刻T4から時刻T5までの間にメモリコントローラMemo_Cntから他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNへ後続の書き込みユーザーデータData_PD04…Data_PD07と書き込み開始コマンドIni_Wr_CMDとが転送される。その結果、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0での時刻T3からの最初の書き込みユーザーデータData_PD00…Data_PD03の内部書き込み動作Int_Wr_Opeと、時刻T3からの内部共通バスInt_Busを介しての他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNへの後続の書き込みユーザーデータData_PD04…Data_PD07に関するアクセスデータPr_CMD、Add_PD04…Add_PD07、Data_PD04…Data_PD07、Ini_Wr_CMDのデータ転送Data_Tr_CMD&Add&Dataが並列に実行される。このインターリーブ書き込み技術により、ホストから連続する2つの新規書き込みユーザーデータのデータ書き込みに際して書き込み速度を向上することができる。この高速のインターリーブ書き込み動作は、画像データや音楽データ等のマルチメディア情報を、フラッシュメモリカードMemo_Crdに格納する際に極めて有効となる。   In this interleave writing technique, two new write user data Data_PD00... Data_PD03, Data_PD04. The data is transferred to another selected nonvolatile memory device Memo_DvN in two time zones through the internal common bus Int_Bus. First, in response to a write instruction from the host, the memory controller Memo_Cnt continues to the internal buffer memory Buffer0 of one nonvolatile memory device Memo_Dv0 through the internal common bus Int_Bus from time T1 to time T3 in FIG. The first write user data Data_PD00... Data_PD03 of the two new write user data Data_PD00... Data_PD03, Data_PD04... Data_PD07 is transferred together with the write command Pr_CMD and the write physical address Add_PD00. More precisely, the write command Pr_CMD and the write physical address Add_PD00... Add_PD03 are transferred from the memory controller Memo_Cnt to one non-volatile memory device Memo_Dv0 between time T1 and time T2, and from time T2 to time T3. First write user data Data_PD00... Data_PD03 and a write start command Ini_Wr_CMD are transferred from the memory controller Memo_Cnt to one nonvolatile memory device Memo_Dv0. Next, from time T3 to time T5 in FIG. 3, the first write user data Data_PD00... Data_PD03 internal write operation Int_Wr_Ope is executed from the internal buffer memory Buffer0 to the internal nonvolatile memory array of one nonvolatile memory device Memo_Dv0 Is done. In parallel with the period of this internal write operation Int_Wr_Ope, two new write user data Data_PD00... Subsequent write user data Data_PD04... Data_PD07 of Data_PD04. More precisely, the write command Pr_CMD and the write physical address Add_PD04... Add_PD07 are transferred from the memory controller Memo_Cnt to another non-volatile memory device Memo_DvN from time T3 to time T4, from time T4 to time T5. The subsequent write user data Data_PD04... Data_PD07 and the write start command Ini_Wr_CMD are transferred from the memory controller Memo_Cnt to another nonvolatile memory device Memo_DvN. As a result, the internal write operation Int_Wr_Ope of the first write user data Data_PD00... Data_PD03 from time T3 in one nonvolatile memory device Memo_Dv0 and another nonvolatile memory via the internal common bus Int_Bus from time T3 Subsequent write data to the device Memo_DvN Data_PD04... Data_PD07 access data Pr_CMD, Add_PD04... Add_PD07, Data_PD04. With this interleave writing technique, it is possible to improve the writing speed when writing two new user data that are continuously written from the host. This high-speed interleave writing operation is extremely effective when storing multimedia information such as image data and music data in the flash memory card Memo_Crd.

≪フラッシュメモリカードの異なる物理アドレスへのマッピング動作≫
図4は、図1に示したフラッシュメモリカードMemo_Crdがウェアレベリングもしくは書き込み処理時の電源遮断の対策のために、ホストからの同一の論理アドレスで異なる物理アドレスにマッピングを行うアドレス変換の動作を説明する図である。ウェアレベリングもしくは書き込み処理時の電源遮断の対策のために、ホストからの同一の論理アドレスで異なる物理アドレスにマッピングを行うのは、次の場合である。すなわち、ホスト機器から要求された書き込み指示と伴に受信された論理アドレスが、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNに過去書き込まれた物理アドレスに対応する過去の論理アドレスのいずれかと一致することである。この一致が複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの管理データ領域に格納されたアドレス変換情報から確認されると、メモリコントローラMemo_Cntは下記のような同一の論理アドレスで異なる物理アドレスへのマッピングの処理を開始する。
≪Mapping operation to different physical addresses of flash memory card≫
FIG. 4 illustrates an address conversion operation in which the flash memory card Memo_Crd shown in FIG. 1 performs mapping to different physical addresses with the same logical address from the host in order to take measures against power interruption during wear leveling or writing processing. It is a figure to do. In order to take measures against power interruption at the time of wear leveling or writing processing, mapping to different physical addresses with the same logical address from the host is as follows. That is, the logical address received together with the write instruction requested from the host device matches one of the past logical addresses corresponding to the physical addresses previously written in the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN. is there. When this coincidence is confirmed from the address conversion information stored in the management data area of the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN, the memory controller Memo_Cnt performs the following processing of mapping to different physical addresses with the same logical address To start.

すなわち、同図に示すように、同一の論理アドレスに対応する古い物理アドレスである1つの消去スーパーブロックEB0に含まれる複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの複数のページ領域PD00…PD03、PD08…PD11、PD04…PD07、PD12…PD15には既にホストからの同一の論理アドレスによるユーザーデータが格納された状態となっている。この状態から、複数のページ領域PD00…PD03、PD08…PD11、PD04…PD07、PD12…PD15のうちのページ領域PD00…PD03のデータだけを部分的に更新する処理が、ホストから要求された場合を想定する。また、同図に示すように、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNはそれぞれ不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNと、内部不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNへ書き込まれる書き込みデータを格納する一方、内部不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNから読み出された読み出しデータを格納する内部バッファメモリBuffer0…BufferNとを含む。複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNの複数のページ領域PD00…PD03、PD04…PD07、PD08…PD11、PD12…PD15をリンクした1つの消去スーパーブロックEB0が存在している。すなわち、1つ目の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の不揮発性メモリアレーMemo_Ary0の複数のページ領域PD00…PD03、PD08…PD11からなる消去ブロックと、2つ目の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv1の不揮発性メモリアレーMemo_Ary1(図示せず)の複数のページ領域からなる消去ブロックと、以下同様に(N−1)番目の不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの不揮発性メモリアレーMemo_AryNの複数のページ領域PD04…PD07、PD12…PD15からなる消去ブロックとはリンクされることにより、1つの消去スーパーブロックEB0が構成されている。このように、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNの複数の消去ブロックをリンクした1つの消去スーパーブロックEB0は、メモリコントローラMemo_Cntによる複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの消去動作の管理単位となっている。1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の不揮発性メモリアレーMemo_Ary0の複数のページ領域PD00…PD03、PD08…PD11はそれぞれ512バイトのユーザーデータ領域と16バイトの管理データ領域とにより構成されている。従って、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の不揮発性メモリアレーMemo_Ary0では、書き込み単位は512バイトのユーザーデータ領域と16バイトの管理データ領域との合計528バイトの各ページ領域となっている。1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の不揮発性メモリアレーMemo_Ary0での消去単位である1つの消去ブロックは、それぞれ528バイトの複数のページ領域PD00…PD03、PD08…PD11で、合計528×8=4224バイトとなっている。しかし、メモリコントローラMemo_Cntは、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNの複数のページ領域をリンクする1つの消去スーパーブロックEB0を単位として消去動作を管理している。既にホストからの特定の論理アドレスによるユーザーデータが格納された複数のページ領域PD00…PD03、PD08…PD11、PD04…PD07、PD12…PD15のうちのページ領域PD00…PD03のデータだけを部分的に更新する処理が、ホストから要求された場合を想定する。この場合には、ホストからの同一の論理アドレスに対応する古い物理アドレスが1つの消去スーパーブロックEB0であり、ホストからの同一の論理アドレスに対応する新しい物理アドレスが別の1つの消去スーパーブロックEBLであり、同一の論理アドレスに対応する物理アドレスのマッピングの変更が必要となる。このためには1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の新しい物理アドレスである別の1つの消去スーパーブロックEBLへホストからの更新データPD00´…PD03´を、内部バッファメモリBuffer0を介して、書き込むことが必要である。これだけではなく、ホストにより更新されない非更新データPD04…PD07、PD12…PD15を他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの古い物理アドレスである1つの消去スーパーブロックEB0から新しい物理アドレスである別の1つの消去スーパーブロックEBLに内部バッファメモリBufferNを介してコピーすることも必要である。尚、別の1つの消去スーパーブロックEBLは既に消去済みで、何時でもデータ書き込みに利用できる状態となっている。同様にホストにより更新されない非更新データPD08…PD11も、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の古い物理アドレスである1つの消去スーパーブロックEB0から新しい物理アドレスである別の1つの消去スーパーブロックEBLに内部バッファメモリBuffer0を介してコピーすることが必要である。新しい物理アドレスである別の1つの消去スーパーブロックEBL中に、内部バッファメモリBuffer0…BufferNを介して更新データPD00´…PD03´と非更新データPD04…PD07、PD08…PD11、PD12…PD15が無事に格納されると、システム起動の際もしくはその後の適切なタイミングで古い物理アドレスである1つの消去スーパーブロックEB0の不要な古いデータPD00…PD03、PD04…PD07、PD08…PD11、PD12…PD15を消去するためのガーベージ・コレクションが実行される。その結果、古い物理アドレスである1つの消去スーパーブロックEB0は次回の書き込みに再利用されることができる。   That is, as shown in the figure, a plurality of page areas PD00... PD03, PD08... Of a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN included in one erase super block EB0 that is an old physical address corresponding to the same logical address. PD11, PD04... PD07, PD12... PD15 have already been stored with user data from the host with the same logical address. From this state, a case where a process for partially updating only the data in the page areas PD00... PD03 out of the plurality of page areas PD00... PD03, PD08... PD11, PD04. Suppose. In addition, as shown in the figure, the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN store write data to be written to the nonvolatile memory array Memo_Ary0... Memo_AryN and the internal nonvolatile memory array Memo_Ary0. Memory array Memo_Ary0... Internal buffer memories Buffer0... BufferN for storing read data read from Memo_AryN are included. A plurality of non-volatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN non-volatile memory array Memo_Ary0... Yes. That is, an erase block including a plurality of page areas PD00... PD03, PD08... PD11 of the nonvolatile memory array Memo_Ary0 of the first nonvolatile memory device Memo_Dv0 and a nonvolatile memory array Memo_Ary1 of the second nonvolatile memory device Memo_Dv1. An erase block including a plurality of page areas (not shown), and similarly, from a plurality of page areas PD04... PD07, PD12, PD15 of the nonvolatile memory array Memo_AryN of the (N−1) th nonvolatile memory device Memo_DvN. One erase super block EB0 is configured by linking with the erase block. In this way, one erase super block EB0 obtained by linking a plurality of erase blocks of a nonvolatile memory array Memo_Ary0 ... Memo_AryN of a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN is a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0. Is a management unit of the erase operation. Each of the plurality of page areas PD00... PD03, PD08... PD11 of the nonvolatile memory array Memo_Ary0 of one nonvolatile memory device Memo_Dv0 includes a 512-byte user data area and a 16-byte management data area. Therefore, in the non-volatile memory array Memo_Ary0 of one non-volatile memory device Memo_Dv0, the unit of writing is each page area of 528 bytes in total of the user data area of 512 bytes and the management data area of 16 bytes. One erase block which is an erase unit in the nonvolatile memory array Memo_Ary0 of one nonvolatile memory device Memo_Dv0 is a plurality of page areas PD00... PD03, PD08... PD11 each having 528 bytes, and a total of 528 × 8 = 4224 bytes. It has become. However, the memory controller Memo_Cnt manages an erasing operation in units of one erasing super block EB0 that links a plurality of page areas of a non-volatile memory array Memo_Ary0 ... Memo_AryN of a plurality of non-volatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN. Only the data in the page areas PD00... PD03 of the plurality of page areas PD00... PD03, PD08... PD11, PD04... PD07, PD12. Assume that the processing to be performed is requested from the host. In this case, the old physical address corresponding to the same logical address from the host is one erase super block EB0, and the new physical address corresponding to the same logical address from the host is another erase super block EBL. Therefore, it is necessary to change the mapping of the physical address corresponding to the same logical address. For this purpose, it is necessary to write update data PD00 ′... PD03 ′ from the host to another erase super block EBL, which is a new physical address of one nonvolatile memory device Memo_Dv0, via the internal buffer memory Buffer0. It is. In addition to this, the non-updated data PD04... PD07, PD12... PD15 not updated by the host is transferred from one erase super block EB0 that is an old physical address of another nonvolatile memory device Memo_DvN to another one that is a new physical address. It is also necessary to copy to the erase super block EBL via the internal buffer memory BufferN. Note that another erase super block EBL has already been erased and can be used for data writing at any time. Similarly, the non-updated data PD08... PD11 not updated by the host is also stored in the internal buffer from one erase superblock EB0 which is an old physical address of one nonvolatile memory device Memo_Dv0 to another erase superblock EBL which is a new physical address. It is necessary to copy via the memory Buffer0. Update data PD00 '... PD03' and non-update data PD04 ... PD07, PD08 ... PD11, PD12 ... PD15 are safely passed through the internal buffer memory Buffer0 ... BufferN during another erase super block EBL which is a new physical address. When stored, unnecessary old data PD00... PD03, PD04... PD07, PD08... PD11, PD12. Garbage collection is performed. As a result, one erase super block EB0 having an old physical address can be reused for the next writing.

図5は、冒頭で述べた本発明に先立って本発明者等により検討されたメモリコントローラが図4で示した同一の論理アドレスに対応する物理アドレスのマッピングの変更の処理を説明する波形図である。このメモリコントローラは、図2と図3とを用いて説明したインターリーブ書き込み技術をサポートしている。まず、このメモリコントローラは、内部共有バスを介して複数の不揮発性メモリデバイスの1つの不揮発性メモリデバイスへ書き込みコマンドと、書き込み物理アドレスと、書き込みデータとを含むデータ転送を行う。しかし、このデータ転送が一度開始されると、4ページ(528×4=2112バイト)の書き込みデータ単位の転送が終了するまで、メモリコントローラはフラッシュメモリカードの内部共有バスを占有する。従って、同図の時刻T1から時刻T3まで、メモリコントローラは、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0を選択するためにチップ選択信号/CE0をイネーブル状態であるローレベルに設定する。時刻T1から時刻T2まで、メモリコントローラは、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の新しい物理アドレスである別の1つの消去スーパーブロックEBLへホストからの更新データPD00´…PD03´を書き込むための書き込みコマンドPr_CMDと書き込みアドレスAdd_PD00´…Add_PD03´とを、内部共通バスInt_Busに出力する。内部共通バスInt_Busを介して転送された書き込みコマンドPr_CMDと書き込みアドレスAdd_PD00´…Add_PD03´とは、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0のコマンドラッチとアドレスラッチにそれぞれラッチされる。更に、メモリコントローラは同図の時刻T2から時刻T3まで、ホストからの4ページ(2112バイト)の更新データData_PD00´…Data_PD03´を内部共通バスInt_Busに出力する。内部共通バスInt_Busを介して転送された書き込み更新データData_PD00´…Data_PD03´は、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の内部バッファメモリBuffer0にラッチされる。時刻T3までに内部共通バスInt_Busを介してのメモリコントローラから1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の内部バッファメモリBuffer0への4ページの書き込みデータ単位の転送が終了すると、時刻T3からコマンドラッチとアドレスラッチと内部バッファメモリBuffer0とを使用する1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0での4ページの書き込みデータの内部書き込み動作Int_Wr_Opeが開始される。一方、時刻T3でのローレベル(レディー状態)のレディー/ビジィー信号線R/Bは、内部共通バスInt_Busが解放されていることをメモリコントローラへ通知する。時刻T3から他の不揮発性メモリデバイスMemo_DvNを選択するために、メモリコントローラは、チップ選択信号/CENをイネーブル状態であるローレベルに設定する。この状態で、メモリコントローラは、古い物理アドレスである1つの消去スーパーブロックEB0からの非更新データPD04…PD07を読み出すための内部読み出しコマンドInt_Rd_CMDと内部読み出しアドレスAdd_PD04…Add_PD07とを、内部共通バスInt_Busに出力する。内部共通バスInt_Busを介して転送された内部読み出しコマンドInt_Rd_CMDと内部読み出しアドレスAdd_PD04…Add_PD07とは、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのコマンドラッチとアドレスラッチにそれぞれラッチされる。時刻T4までに内部共通バスInt_Busを介してのメモリコントローラから他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのコマンドラッチとアドレスラッチへの内部読み出しコマンドと内部読み出しアドレスとのデータ転送が終了すると、時刻T4から他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNでのコマンドラッチとアドレスラッチとを使用する内部読み出し動作Int_Rd_Opeが開始される。時刻T5までで他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの古い物理アドレスである1つの消去スーパーブロックEB0から内部バッファメモリBufferNへの内部読み出し動作Int_Rd_Opeが終了して、初めて時刻T5以降よりこの内部バッファメモリBufferNから他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの新しい物理アドレスである他の1つの消去スーパーブロックEBLへの非更新データPD04…PD07の内部書き込みInt_Wr_Opeが可能となる。   FIG. 5 is a waveform diagram for explaining the process of changing the mapping of the physical address corresponding to the same logical address shown in FIG. 4 by the memory controller studied by the present inventors prior to the present invention described at the beginning. is there. This memory controller supports the interleave writing technique described with reference to FIGS. First, the memory controller performs data transfer including a write command, a write physical address, and write data to one nonvolatile memory device of a plurality of nonvolatile memory devices via an internal shared bus. However, once this data transfer is started, the memory controller occupies the internal shared bus of the flash memory card until the transfer of the write data unit of 4 pages (528 × 4 = 2112 bytes) is completed. Therefore, from time T1 to time T3 in the figure, the memory controller sets the chip selection signal / CE0 to the low level that is the enable state in order to select one nonvolatile memory device Memo_Dv0. From time T1 to time T2, the memory controller writes a write command Pr_CMD for writing the update data PD00 ′. And write addresses Add_PD00 ′... Add_PD03 ′ are output to the internal common bus Int_Bus. The write command Pr_CMD and the write address Add_PD00 ′... Add_PD03 ′ transferred via the internal common bus Int_Bus are respectively latched in the command latch and address latch of one nonvolatile memory device Memo_Dv0. Further, the memory controller outputs update data Data_PD00 ′... Data_PD03 ′ of 4 pages (2112 bytes) from the host to the internal common bus Int_Bus from time T2 to time T3 in FIG. The write update data Data_PD00 ′... Data_PD03 ′ transferred via the internal common bus Int_Bus is latched in the internal buffer memory Buffer0 of one nonvolatile memory device Memo_Dv0. When transfer of four pages of write data units from the memory controller via the internal common bus Int_Bus to the internal buffer memory Buffer0 of one nonvolatile memory device Memo_Dv0 is completed by time T3, command latch and address latch An internal write operation Int_Wr_Ope of four pages of write data in one nonvolatile memory device Memo_Dv0 using the internal buffer memory Buffer0 is started. On the other hand, the ready / busy signal line R / B at the low level (ready state) at time T3 notifies the memory controller that the internal common bus Int_Bus has been released. In order to select another nonvolatile memory device Memo_DvN from time T3, the memory controller sets the chip selection signal / CEN to a low level that is in an enabled state. In this state, the memory controller sends the internal read command Int_Rd_CMD and the internal read address Add_PD04... Add_PD07 for reading the non-updated data PD04... PD07 from one erase super block EB0 which is an old physical address to the internal common bus Int_Bus. Output. The internal read command Int_Rd_CMD and the internal read address Add_PD04... Add_PD07 transferred via the internal common bus Int_Bus are respectively latched in the command latch and address latch of the other nonvolatile memory device Memo_DvN. When the data transfer from the memory controller via the internal common bus Int_Bus to the other one of the nonvolatile memory devices Memo_DvN and the internal read command to the address latch and the internal read address is completed by the time T4, from the time T4 An internal read operation Int_Rd_Ope using a command latch and an address latch in the other nonvolatile memory device Memo_DvN is started. Until the time T5, the internal read operation Int_Rd_Ope from the one erase super block EB0, which is the old physical address of the other non-volatile memory device Memo_DvN, to the internal buffer memory BufferN is completed, and this internal buffer memory is not used until time T5. Internal write Int_Wr_Ope of non-updated data PD04... PD07 from Buffer N to another erase super block EBL which is a new physical address of another nonvolatile memory device Memo_DvN is possible.

図5の波形図では、各隣接した2つの時刻の間の時間は、本発明者等により下記のように見積もられた。   In the waveform diagram of FIG. 5, the time between two adjacent times was estimated by the present inventors as follows.

時刻T1から時刻T2: 0.2μSec
時刻T2から時刻T3: 70μSec
時刻T3から時刻T4: 0.2μSec
時刻T4から時刻T5:100μSec
従って、図5に示した同一の論理アドレスに対応する物理アドレスのマッピングの変更処理では、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの新しい物理アドレスである他の1つの消去スーパーブロックEBLへの非更新データPD04…PD07の内部書き込みInt_Wr_Opeが可能となるためには、時刻T1から時刻T5まで略170μSecの時間経過を待たなければならない。従って、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの新しい物理アドレスである他の1つの消去スーパーブロックEBLへの非更新データPD04…PD07の内部書き込みInt_Wr_Opeが約100μSec必要ならば、時刻T1から他の1つの消去スーパーブロックEBLへの非更新データPD04…PD07の内部書き込みInt_Wr_Opeの終了時刻T6まで、略270μSecの時間が経過する。
From time T1 to time T2: 0.2 μSec
From time T2 to time T3: 70 μSec
From time T3 to time T4: 0.2 μSec
From time T4 to time T5: 100 μSec
Therefore, in the change processing of the mapping of the physical address corresponding to the same logical address shown in FIG. 5, the non-update to the other one erase super block EBL which is the new physical address of the other one nonvolatile memory device Memo_DvN In order to enable the internal writing Int_Wr_Ope of the data PD04... PD07, it is necessary to wait about 170 μSec from time T1 to time T5. Therefore, if the internal write Int_Wr_Ope of the non-updated data PD04... PD07 to the other one erase super block EBL which is the new physical address of the other one nonvolatile memory device Memo_DvN is required for about 100 μSec, another one from the time T1 Approximately 270 μSec elapses until the end time T6 of the internal write Int_Wr_Ope of the non-update data PD04... PD07 to one erase super block EBL.

図6は、図1に示した本発明のひとつの実施形態によるフラッシュメモリカードMemo_Crdが図4で示した同一の論理アドレスに対応する物理アドレスのマッピングの変更の処理を説明する波形図である。尚、図6の本発明のひとつの実施形態によるフラッシュメモリカードMemo_CrdのメモリコントローラMemo_Cntも、図2と図3とを用いて説明したインターリーブ書き込み技術をサポートしている。しかし、図6の本発明のひとつの実施形態によるフラッシュメモリカードMemo_CrdのメモリコントローラMemo_Cntは、図4の同一の論理アドレスに対応する物理アドレスのマッピングの変更処理に際して1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0への書き込み処理が必要であると判断するともに、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNからの内部読み出し処理と内部書き込み処理が必要であると判断する。   FIG. 6 is a waveform diagram illustrating a process of changing the mapping of physical addresses corresponding to the same logical address shown in FIG. 4 in the flash memory card Memo_Crd according to one embodiment of the present invention shown in FIG. Note that the memory controller Memo_Cnt of the flash memory card Memo_Crd according to one embodiment of the present invention shown in FIG. 6 also supports the interleave writing technique described with reference to FIGS. However, the memory controller Memo_Cnt of the flash memory card Memo_Crd according to the embodiment of the present invention shown in FIG. It is determined that a write process is necessary, and also determines that an internal read process and an internal write process from another nonvolatile memory device Memo_DvN are necessary.

まず、同図の時刻T6の以前では1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0のレディー・ビジー信号R/B0がローレベルのレディー状態であることから、メモリコントローラは1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0を選択するためにチップ選択信号/CE0をイネーブル状態であるローレベルに設定する。従って、同図の時刻T6から時刻T7まで、メモリコントローラは、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の新しい物理アドレスである別の1つの消去スーパーブロックEBLへホストからの更新データPD00´…PD03´を書き込むための書き込みコマンドPr_CMDと書き込みアドレスAdd_PD00´…Add_PD03´とを、内部共通バスInt_Busに出力する。内部共通バスInt_Busを介して転送された書き込みコマンドPr_CMDと書き込みアドレスAdd_PD00´…Add_PD03´とは、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0のコマンドラッチとアドレスラッチにそれぞれラッチされる。時刻T7までに1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0のコマンドラッチとアドレスラッチとに書き込みコマンドPr_CMDと書き込みアドレスAdd_PD00´…Add_PD03´とのラッチが完了する。時刻T7の以前では他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのレディー・ビジー信号R/BNがローレベルのレディー状態であることから、メモリコントローラは他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNを選択するためにチップ選択信号/CENをイネーブル状態であるローレベルに設定する。従って、時刻T7から時刻T8まで、メモリコントローラは、古い物理アドレスである1つの消去スーパーブロックEB0からの非更新データPD04…PD07を読み出すための内部読み出しコマンドInt_Rd_CMDと内部読み出しアドレスAdd_PD04…Add_PD07と内部読み出し開始コマンドIni_Rd_CMDとを、内部共通バスInt_Busに出力する。内部共通バスInt_Busを介して転送された内部読み出しコマンドInt_Rd_CMD、内部読み出し開始コマンドIni_Rd_CMDと内部読み出しアドレスAdd_PD04…Add_PD07とは、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのコマンドラッチとアドレスラッチにそれぞれラッチされる。時刻T8までに内部共通バスInt_Busを介してのメモリコントローラから他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのコマンドラッチとアドレスラッチへの内部読み出しコマンド、内部読み出し開始コマンドと内部読み出しアドレスとのデータ転送が終了すると、時刻T8から他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNでのコマンドラッチとアドレスラッチとを使用する内部読み出し動作Int_Rd_Opeが開始される。時刻T8以降では、メモリコントローラは他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNを非選択とするためにチップ選択信号/CENをディスイネーブル状態であるハイレベルに設定する。時刻T9までに、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの古い物理アドレスである1つの消去スーパーブロックEB0から内部バッファメモリBufferNへの内部読み出し動作Int_Rd_Opeが終了する。一方、時刻T8以降では、メモリコントローラは1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの選択を再開するためにチップ選択信号/CENをディスイネーブル状態であるハイレベルからイネーブル状態であるローレベルに変更する。更に、メモリコントローラは同図の時刻T8から時刻T9まで、ホストからの更新データData_PD00´…Data_PD03´と書き込み開始コマンドIni_Wr_CMDとを内部共通バスInt_Busに出力する。内部共通バスInt_Busを介して転送された書き込み更新データData_PD00´…Data_PD03´と書き込み開始コマンドIni_Wr_CMDとは、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の内部バッファメモリBuffer0とコマンドラッチとにそれぞれラッチされる。遅くとも時刻T9までに内部共通バスInt_Busを介してのメモリコントローラから1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の内部バッファメモリBuffer0への4ページの書き込みデータ単位の転送Data_Tr_Pr_Dataが終了すると、時刻T9以降からコマンドラッチとアドレスラッチと内部バッファメモリBuffer0とを使用する1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0での4ページの書き込みデータの内部書き込み動作Int_Wr_Opeが開始される。   First, since the ready / busy signal R / B0 of one non-volatile memory device Memo_Dv0 is in a low-level ready state before time T6 in the figure, the memory controller selects one non-volatile memory device Memo_Dv0. Then, the chip selection signal / CE0 is set to the low level which is the enable state. Therefore, from time T6 to time T7 in the figure, the memory controller writes the update data PD00 ′... PD03 ′ from the host to another erase super block EBL which is a new physical address of one nonvolatile memory device Memo_Dv0. Write command Pr_CMD and write address Add_PD00 ′... Add_PD03 ′ are output to the internal common bus Int_Bus. The write command Pr_CMD and the write address Add_PD00 ′... Add_PD03 ′ transferred via the internal common bus Int_Bus are respectively latched in the command latch and address latch of one nonvolatile memory device Memo_Dv0. By the time T7, the latch of the write command Pr_CMD and the write address Add_PD00 ′... Add_PD03 ′ is completed in the command latch and address latch of one nonvolatile memory device Memo_Dv0. Before time T7, the ready / busy signal R / BN of the other non-volatile memory device Memo_DvN is in a low-level ready state, so that the memory controller selects another non-volatile memory device Memo_DvN. The chip selection signal / CEN is set to the enabled low level. Accordingly, from time T7 to time T8, the memory controller reads the internal read command Int_Rd_CMD and the internal read address Add_PD04 ... Add_PD07 for reading the non-updated data PD04 ... PD07 from one erase super block EB0 which is the old physical address. The start command Ini_Rd_CMD is output to the internal common bus Int_Bus. The internal read command Int_Rd_CMD, the internal read start command Ini_Rd_CMD, and the internal read address Add_PD04... Add_PD07 transferred via the internal common bus Int_Bus are respectively latched in the command latch and the address latch of the other nonvolatile memory device Memo_DvN. . By time T8, the data transfer from the memory controller via the internal common bus Int_Bus to the command latch and the address latch of the other nonvolatile memory device Memo_DvN and the internal read start command and the internal read address is completed. Then, the internal read operation Int_Rd_Ope using the command latch and the address latch in the other one nonvolatile memory device Memo_DvN is started from time T8. After time T8, the memory controller sets the chip selection signal / CEN to a high level which is a disenabled state in order to deselect another non-volatile memory device Memo_DvN. By time T9, the internal read operation Int_Rd_Ope from the one erase super block EB0, which is the old physical address of the other non-volatile memory device Memo_DvN, to the internal buffer memory BufferN is completed. On the other hand, after time T8, the memory controller changes the chip selection signal / CEN from the high level in the disabled state to the low level in the enabled state in order to resume the selection of one nonvolatile memory device Memo_DvN. Further, the memory controller outputs the update data Data_PD00 ′... Data_PD03 ′ from the host and the write start command Ini_Wr_CMD to the internal common bus Int_Bus from time T8 to time T9 in FIG. The write update data Data_PD00 ′... Data_PD03 ′ and the write start command Ini_Wr_CMD transferred via the internal common bus Int_Bus are respectively latched in the internal buffer memory Buffer0 and the command latch of one nonvolatile memory device Memo_Dv0. When the transfer Data_Tr_Pr_Data of four pages of write data units from the memory controller to the internal buffer memory Buffer0 of one nonvolatile memory device Memo_Dv0 via the internal common bus Int_Bus is completed at the latest by time T9, the command latch and The internal write operation Int_Wr_Ope of the four pages of write data in one nonvolatile memory device Memo_Dv0 using the address latch and the internal buffer memory Buffer0 is started.

図6の波形図では、各隣接した2つの時刻の間の時間は、本発明者等により下記のように見積もられた。   In the waveform diagram of FIG. 6, the time between two adjacent times was estimated by the present inventors as follows.

時刻T6から時刻T7: 0.2μSec
時刻T7から時刻T8: 0.2μSec
時刻T8から時刻T9: 100μSec(他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNでの4ページの書き込みデータの内部読み出し動作Int_Rd_Ope)
尚、時刻T8から時刻T9の間で、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の内部バッファメモリBuffer0への4ページの書き込みデータ単位の転送Data_Tr_Pr_Dataのために70μSec処理時間が必要とされている。しかし、略70μSecの1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0への4ページの書き込みデータ単位の転送Data_Tr_Pr_Dataの処理時間ではなく、略100μSecの他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNでの4ページの書き込みデータの内部読み出し動作Int_Rd_Opeの処理時間により時刻T8から時刻T9までの時間経過が決定されている。時刻T9から時刻T9´の期間に他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNを選択するために、メモリコントローラは他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのチップ選択信号/CENをイネーブル状態であるローレベルに設定する。この間に、メモリコントローラは内部バッファメモリBufferNから他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの新しい物理アドレスである他の1つの消去スーパーブロックEBLへの非更新データPD04…PD07の内部書き込みInt_Wr_Opeのための内部書き込みコマンドInt_Pr_CMDと内部書き込みアドレスAdd_PD04…Add_PD07と内部書き込み開始コマンドIni_Pr_CMDとを内部バスInt_Busに出力することができる。
From time T6 to time T7: 0.2 μSec
From time T7 to time T8: 0.2 μSec
From time T8 to time T9: 100 μSec (internal read operation of 4-page write data Int_Rd_Ope in another non-volatile memory device Memo_DvN)
Incidentally, between time T8 and time T9, 70 μSec processing time is required for the transfer Data_Tr_Pr_Data of four pages of write data units to the internal buffer memory Buffer0 of one nonvolatile memory device Memo_Dv0. However, it is not the processing time of transfer Data_Tr_Pr_Data of 4 pages to one nonvolatile memory device Memo_Dv0 of about 70 μSec, but the internal data of 4 pages of write data in another nonvolatile memory device Memo_DvN of about 100 μSec. The passage of time from time T8 to time T9 is determined by the processing time of the read operation Int_Rd_Ope. In order to select another non-volatile memory device Memo_DvN during the period from time T9 to time T9 ′, the memory controller sets the chip selection signal / CEN of the other non-volatile memory device Memo_DvN to the low level in the enabled state. Set. During this time, the memory controller performs internal write for the internal write Int_Wr_Ope of the non-updated data PD04... PD07 from the internal buffer memory BufferN to another erase superblock EBL that is the new physical address of the other nonvolatile memory device Memo_DvN. The write command Int_Pr_CMD, the internal write address Add_PD04... Add_PD07, and the internal write start command Ini_Pr_CMD can be output to the internal bus Int_Bus.

従って、図6に示した同一の論理アドレスに対応する物理アドレスのマッピングの変更処理では、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの新しい物理アドレスである他の1つの消去スーパーブロックEBLへの非更新データPD04…PD07の内部書き込みInt_Wr_Opeが可能となるためには、時刻T6から時刻T9´までの略100μSecの時間経過を待つだけとなる。従って、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの新しい物理アドレスである他の1つの消去スーパーブロックEBLへの非更新データPD04…PD07の内部書き込みInt_Wr_Opeの処理が約100μSec必要ならば、時刻T6から他の1つの消去スーパーブロックEBLへの非更新データPD04…PD07の内部書き込みInt_Wr_Opeの終了時刻T10まで、略200μSecの時間が経過するだけとなる。   Therefore, in the process of changing the mapping of the physical address corresponding to the same logical address shown in FIG. In order to enable the internal writing Int_Wr_Ope of the data PD04... PD07, it is only necessary to wait for a time of approximately 100 μSec from time T6 to time T9 ′. Therefore, if the processing of the internal write Int_Wr_Ope of the non-updated data PD04. Only about 200 μSec elapses until the end time T10 of the internal write Int_Wr_Ope of the non-update data PD04... PD07 to one erase super block EBL.

図6に示した物理アドレスのマッピングの高速の変更処理は、ワードプロセッシング・ソフトウェア、表計算・ソフトウェア、描画・ソフトウェア等で作成された同一のディジタル・コンテンツを頻繁に更新して、更新されたディジタル・コンテンツを、フラッシュメモリカードMemo_Crdに格納する際に極めて有効となる。   The high-speed change processing of the physical address mapping shown in FIG. 6 is performed by frequently updating the same digital content created by word processing software, spreadsheet / software, drawing / software, etc. This is extremely effective when content is stored in the flash memory card Memo_Crd.

≪その他の実施形態によるフラッシュメモリカード≫
図7は、第1の本発明のその他の実施形態によるフラッシュメモリカードMemo_Crdの構成を示す図である。同図のフラッシュメモリカードMemo_Crdが図1に示した第1の本発明のひとつの実施形態によるフラッシュメモリカードMemo_Crdと相違する点を説明する。図7に示した実施形態では、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの複数のレディー/ビジー信号線R/B0…R/BNは一本のワイヤードOR接続のレディー/ビジー信号線Wired_OR_R/Bに共通接続されている。従って、図7に示した実施形態においても、図6の時刻T6からから時刻T7まで、メモリコントローラは、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の新しい物理アドレスである別の1つの消去スーパーブロックEBLへホストからの更新データPD00´…PD03´を書き込むための書き込みコマンドPr_CMDと書き込みアドレスAdd_PD00´…Add_PD03´とを、内部共通バスInt_Busに出力する。内部共通バスInt_Busを介して転送された書き込みコマンドPr_CMDと書き込みアドレスAdd_PD00´…Add_PD03´とは、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0のコマンドラッチとアドレスラッチにそれぞれラッチされる。時刻T7までに1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0のコマンドラッチとアドレスラッチへの書き込みコマンドPr_CMDと書き込みアドレスAdd_PD00´…Add_PD03´とのラッチが完了する。このコマンドのラッチとアドレスのラッチが時刻T7で完了すると、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0のステータスレジスタはビジー状態からレディー状態となる。時刻T7以前では他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNは内部共有バスInt_Busを介してメモリコントローラMemo_Cntによりアクセスされていないので、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのステータスレジスタもレディー状態となっている。メモリコントローラMemo_Cntは時刻T6から1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0への書き込むための書き込みコマンドPr_CMDと書き込みアドレスAdd_PD00´…Add_PD03´とを内部共通バスInt_Busに出力した後に、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0のステータスレジスタがビジー状態からレディー状態に変化していないかを定期的にチェックする。時刻T7で1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0のステータスレジスタがビジー状態からレディー状態に変化したことと、時刻T7で他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのステータスレジスタもレディー状態となっていることが、メモリコントローラMemo_Cntにより判断される。すると、時刻T7以降にメモリコントローラMemo_Cntは他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNへ非更新データPD04…PD07を読み出すための内部読み出しコマンドInt_Rd_CMDと内部読み出しアドレスAdd_PD04…Add_PD07とを、内部共通バスInt_Busに出力する。内部共通バスInt_Busを介して転送された内部読み出しコマンドInt_Rd_CMDと内部読み出しアドレスAdd_PD04…Add_PD07とは、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのコマンドラッチとアドレスラッチにそれぞれラッチされる。このコマンドのラッチとアドレスのラッチが時刻T8で完了すると、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのステータスレジスタはビジー状態からレディー状態となる。メモリコントローラMemo_Cntは時刻T7から他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNへの内部読み出しコマンドInt_Rd_CMDと内部読み出しアドレスAdd_PD04…Add_PD07とを内部共通バスInt_Busに出力した後に、他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのステータスレジスタがビジー状態からレディー状態に変化していないかを定期的にチェックする。時刻T8で他の1つの不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのステータスレジスタがビジー状態からレディー状態に変化したことと、時刻T8で1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0のステータスレジスタもレディー状態となっていることが、メモリコントローラMemo_Cntにより判断される。すると、時刻T8以降にメモリコントローラMemo_Cntは1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0へのホストからの更新データData_PD00´…Data_PD03´を内部共通バスInt_Busに出力する。内部共通バスInt_Busを介して転送された書き込み更新データData_PD00´…Data_PD03´は、1つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の内部バッファメモリBuffer0にラッチされる。以上のようにして、複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの複数のレディー/ビジー信号線R/B0…R/BNが一本のワイヤードOR接続のレディー/ビジー信号線Wired_OR_R/Bに共通接続されても、メモリコントローラMemo_Cntが複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNのステータスレジスタの内容を定期的にチェックすることにより、内部共通バスInt_Busを介して複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNのいずれの不揮発性メモリデバイスが選択可能であるかを判断することが可能となる。
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FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a flash memory card Memo_Crd according to another embodiment of the first invention. The difference between the flash memory card Memo_Crd shown in FIG. 1 and the flash memory card Memo_Crd according to the first embodiment of the first invention shown in FIG. 1 will be described. In the embodiment shown in FIG. 7, a plurality of ready / busy signal lines R / B0 ... R / BN of a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0 ... Memo_DvN are connected to a single wired OR-connected ready / busy signal line Wired_OR_R / B. Commonly connected. Therefore, also in the embodiment shown in FIG. 7, from time T6 to time T7 in FIG. 6, the memory controller hosts the other erase superblock EBL, which is the new physical address of one nonvolatile memory device Memo_Dv0. A write command Pr_CMD for writing update data PD00 ′... PD03 ′ and a write address Add_PD00 ′... Add_PD03 ′ are output to the internal common bus Int_Bus. The write command Pr_CMD and the write address Add_PD00 ′... Add_PD03 ′ transferred via the internal common bus Int_Bus are respectively latched in the command latch and address latch of one nonvolatile memory device Memo_Dv0. By the time T7, the latching of the command latch and address latch write command Pr_CMD and the write address Add_PD00 ′ to Add_PD03 ′ of one nonvolatile memory device Memo_Dv0 is completed. When the command latch and the address latch are completed at time T7, the status register of one nonvolatile memory device Memo_Dv0 changes from the busy state to the ready state. Prior to time T7, the other nonvolatile memory device Memo_DvN is not accessed by the memory controller Memo_Cnt via the internal shared bus Int_Bus, so the status register of the other nonvolatile memory device Memo_DvN is also in the ready state. . The memory controller Memo_Cnt outputs a write command Pr_CMD for writing to one nonvolatile memory device Memo_Dv0 and a write address Add_PD00 '... Add_PD03' from the time T6 to the internal common bus Int_Bus, and then outputs the status of one nonvolatile memory device Memo_Dv0. Regularly check if the register has changed from busy to ready. The status register of one nonvolatile memory device Memo_Dv0 has changed from the busy state to the ready state at time T7, and the status register of the other one nonvolatile memory device Memo_DvN is also in the ready state at time T7. This is determined by the memory controller Memo_Cnt. Then, after time T7, the memory controller Memo_Cnt outputs the internal read command Int_Rd_CMD and the internal read address Add_PD04 ... Add_PD07 for reading the non-updated data PD04 ... PD07 to the other non-volatile memory device Memo_DvN to the internal common bus Int_Bus. To do. The internal read command Int_Rd_CMD and the internal read address Add_PD04... Add_PD07 transferred via the internal common bus Int_Bus are latched in the command latch and address latch of the other nonvolatile memory device Memo_DvN, respectively. When the command latch and the address latch are completed at time T8, the status register of the other nonvolatile memory device Memo_DvN is changed from the busy state to the ready state. The memory controller Memo_Cnt outputs the internal read command Int_Rd_CMD and the internal read address Add_PD04... Add_PD07 to the other non-volatile memory device Memo_DvN from the time T7 to the internal common bus Int_Bus, and then outputs the other non-volatile memory device Memo_DvN. Periodically check whether the status register has changed from busy to ready. The status register of one other nonvolatile memory device Memo_DvN has changed from the busy state to the ready state at time T8, and the status register of one nonvolatile memory device Memo_Dv0 is also in the ready state at time T8. This is determined by the memory controller Memo_Cnt. Then, after time T8, the memory controller Memo_Cnt outputs update data Data_PD00 ′... Data_PD03 ′ from the host to one nonvolatile memory device Memo_Dv0 to the internal common bus Int_Bus. The write update data Data_PD00 ′... Data_PD03 ′ transferred via the internal common bus Int_Bus is latched in the internal buffer memory Buffer0 of one nonvolatile memory device Memo_Dv0. As described above, a plurality of ready / busy signal lines R / B0... R / BN of a plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN are commonly connected to a single wired OR connection ready / busy signal line Wired_OR_R / B. However, the memory controller Memo_Cnt periodically checks the contents of the status registers of the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN, so that any one of the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN via the internal common bus Int_Bus. It is possible to determine whether or not the memory device can be selected.

図8は第2の本発明のひとつの実施形態によるフラッシュメモリカードMemo_Crdの構成を示す図である。同図のフラッシュメモリカードMemo_Crdが図1に示した第1の本発明のひとつの実施形態によるフラッシュメモリカードMemo_Crdと相違する点を説明する。   FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a flash memory card Memo_Crd according to one embodiment of the second invention. The difference between the flash memory card Memo_Crd shown in FIG. 1 and the flash memory card Memo_Crd according to the first embodiment of the first invention shown in FIG. 1 will be described.

図8に示した第2の本発明のひとつの実施形態では、メモリコントローラMemo_Cntは、図9に示した内部共有バスInt_Busの波形図に示すように内部共有バスInt_Busを介して複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNへ所定の周波数でデータ転送を実行する。メモリコントローラMemo_Cntから内部共有バスInt_Busに転送されるデータの所定の周波数は比較的高周波となっている。従って、メモリコントローラMemo_Cntからのライトイネーブル/リードイネーブル信号WE/REも、比較的高周波となっている。ここで、ライトイネーブル/リードイネーブル信号WE/REは、例えばハイレベルはライトイネーブル状態を示し、ローレベルはリードイネーブル状態を示している。しかし、メモリコントローラMemo_Cntが複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNから選択された少なくとも2つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0、Memo_DvNを選択する2つのチップ選択信号/CE0、/CENは所定の周波数よりも低い周波数を持っており、比較的低い周波数となっている。また、2つのチップ選択信号/CE0、/CENの位相が異なっており、選択された少なくとも2つの不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0、Memo_DvNは2つのチップ選択信号/CE0、/CENにより交互に選択される。従って、チップ選択信号によって選択された不揮発性メモリデバイスがメモリコントローラMemo_Cntによりアクセスされる。従って、図9で不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0を選択するチップ選択信号/CE0のローレベルの期間と不揮発性メモリデバイスMemo_DvNを選択するチップ選択信号/CENのローレベルの期間とが交互になっている。   In one embodiment of the second present invention shown in FIG. 8, the memory controller Memo_Cnt includes a plurality of nonvolatile memories via the internal shared bus Int_Bus as shown in the waveform diagram of the internal shared bus Int_Bus shown in FIG. Data transfer to devices Memo_Dv0... Memo_DvN is performed at a predetermined frequency. The predetermined frequency of data transferred from the memory controller Memo_Cnt to the internal shared bus Int_Bus is relatively high. Accordingly, the write enable / read enable signal WE / RE from the memory controller Memo_Cnt also has a relatively high frequency. Here, in the write enable / read enable signal WE / RE, for example, a high level indicates a write enable state, and a low level indicates a read enable state. However, the two chip selection signals / CE0 and / CEN for the memory controller Memo_Cnt to select at least two nonvolatile memory devices Memo_Dv0 and Memo_DvN selected from the plurality of nonvolatile memory devices Memo_Dv0 ... Memo_DvN are lower than a predetermined frequency. Has a relatively low frequency. Further, the phases of the two chip selection signals / CE0 and / CEN are different, and at least two selected nonvolatile memory devices Memo_Dv0 and Memo_DvN are alternately selected by the two chip selection signals / CE0 and / CEN. Accordingly, the nonvolatile memory device selected by the chip selection signal is accessed by the memory controller Memo_Cnt. Therefore, in FIG. 9, the low level period of the chip selection signal / CE0 for selecting the nonvolatile memory device Memo_Dv0 and the low level period of the chip selection signal / CEN for selecting the nonvolatile memory device Memo_DvN are alternated.

不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0を選択するチップ選択信号/CE0がハイレベルからローレベルに変化するタイミングでハイレベルのライトイネーブル/リードイネーブル信号WE/REがサンプリングされるので、不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0は書き込み動作を実行する。従って、不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0を選択するチップ選択信号/CE0のローレベルの期間にメモリコントローラMemo_Cntから内部バスInt_Busへ出力されたデータDa0、Da1、Da2、Da3…Da8、Da9が不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の不揮発性メモリアレーMemo_Ary0に書き込まれる。   Since the high level write enable / read enable signal WE / RE is sampled at the timing when the chip selection signal / CE0 for selecting the nonvolatile memory device Memo_Dv0 changes from the high level to the low level, the nonvolatile memory device Memo_Dv0 performs the write operation. Execute. Therefore, the data Da0, Da1, Da2, Da3... Da8, Da9 output from the memory controller Memo_Cnt to the internal bus Int_Bus during the low level period of the chip selection signal / CE0 for selecting the nonvolatile memory device Memo_Dv0 is the nonvolatile memory device Memo_Dv0. Are written into the non-volatile memory array Memo_Ary0.

不揮発性メモリデバイスMemo_DvNを選択するチップ選択信号/CENがハイレベルからローレベルに変化するタイミングでハイレベルのライトイネーブル/リードイネーブル信号WE/REがサンプリングされるので、不揮発性メモリデバイスMemo_DvNも同様に書き込み動作を実行する。不揮発性メモリデバイスMemo_DvNを選択するチップ選択信号/CENのローベルの期間にメモリコントローラMemo_Cntはアドレスラッチイネーブル信号ALEをハイレベルに設定し、コマンドラッチイネーブル信号CLEをハイレベルに設定しているので、メモリコントローラMemo_Cntから内部バスInt_Busへ転送されたカラムアドレス信号CA0、CA1とローアドレス信号RA0、RA1と書き込みコマンドCmd1とが不揮発性メモリデバイスMemo_DvNのアドレスラッチとコマンドラッチにそれぞれラッチされる。従って、このカラムアドレス信号CA0、CA1とローアドレス信号RA0、RA1とに従って、チップ選択信号/CENのローベルの期間に内部バスInt_Busへ出力されたデータX、X、Db0、Db1、Db2が不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの不揮発性メモリアレーMemo_AryNに書き込まれる。   Since the high level write enable / read enable signal WE / RE is sampled at the timing when the chip selection signal / CEN for selecting the nonvolatile memory device Memo_DvN changes from the high level to the low level, the nonvolatile memory device Memo_DvN is also the same. Perform a write operation. Since the memory controller Memo_Cnt sets the address latch enable signal ALE to high level and the command latch enable signal CLE to high level during the low period of the chip selection signal / CEN for selecting the nonvolatile memory device Memo_DvN, the memory The column address signals CA0 and CA1, the row address signals RA0 and RA1, and the write command Cmd1 transferred from the controller Memo_Cnt to the internal bus Int_Bus are latched in the address latch and command latch of the nonvolatile memory device Memo_DvN, respectively. Therefore, the data X, X, Db0, Db1, and Db2 output to the internal bus Int_Bus during the low period of the chip selection signal / CEN according to the column address signals CA0 and CA1 and the row address signals RA0 and RA1 are stored in the nonvolatile memory. It is written to the non-volatile memory array Memo_AryN of the device Memo_DvN.

データDa0、Da1、Da2、Da3…Da8、Da9の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0の不揮発性メモリアレーMemo_Ary0への書き込みの処理とデータX、X、Db0、Db1、Db2の不揮発性メモリデバイスMemo_DvNの不揮発性メモリアレーMemo_AryNへの書き込みの処理とが並列に実行されることができる。その結果、メモリコントローラと複数の不揮発性メモリデバイスとの間が内部共有バスで接続された不揮発性半導体記憶装置において、複数の不揮発性メモリデバイスの並列動作率を向上することができる。   Processing of writing data Da0, Da1, Da2, Da3... Da8, Da9 into nonvolatile memory device Memo_Dv0 to nonvolatile memory array Memo_Ary0 and nonvolatile memory device of data X, X, Db0, Db1, Db2 Memo_DvN The process of writing to the array Memo_AryN can be performed in parallel. As a result, in the nonvolatile semiconductor memory device in which the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices are connected by the internal shared bus, the parallel operation rate of the plurality of nonvolatile memory devices can be improved.

また、図8の変形実施形態として、N個の複数の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNから選択されたL個(L>2)の不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvL−1を所定の周波数の1/Lの低い周波数を持ち、互いの位相が2π/L異なるL個の選択信号/CE0…/CEL−1によってシーケンシャルにアクセスすることができる。N個の一例はN=8であり、L個の一例はL=4である。この場合には、4個の選択信号/CE0、/CE1、/CE2、/CE3の周波数は所定周波数の1/4であり、4個の選択信号/CE0、/CE1、/CE2、/CE3の互いの位相はπ/2異なるものとなる。   Further, as a modified embodiment of FIG. 8, L (L> 2) non-volatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvL−1 selected from a plurality of N non-volatile memory devices Memo_Dv0. It can be accessed sequentially by L selection signals / CE0... / CEL-1 having a low frequency of L and having a phase difference of 2π / L. One example of N is N = 8, and one example of L is L = 4. In this case, the frequencies of the four selection signals / CE0, / CE1, / CE2, / CE3 are 1/4 of the predetermined frequency, and the four selection signals / CE0, / CE1, / CE2, / CE3 The phases are different from each other by π / 2.

以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。   Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, it is needless to say that the present invention is not limited thereto and can be variously modified without departing from the gist thereof.

例えば、本発明のフラッシュメモリカードはホスト機器にリムーバブルに挿入されるだけではなく、携帯電話端末等の電子機器に固定的に組み込まれる不揮発性半導体記憶装置としても利用できる。この組み込み式の不揮発性半導体記憶装置で、書き込み処理中にエンドユーザーが電子機器の電源を不用意に遮断したとしても、古い物理アドレスの古いデータを確実に保存することができる。   For example, the flash memory card of the present invention can be used not only as a removable device in a host device but also as a non-volatile semiconductor memory device fixedly incorporated in an electronic device such as a mobile phone terminal. With this built-in nonvolatile semiconductor memory device, even if the end user inadvertently shuts off the power supply of the electronic device during the writing process, the old data with the old physical address can be reliably stored.

また、不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNは複数の不揮発性メモリバンクで構成されることも可能である。この時には、不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの内部バッファメモリBuffer0…BufferNも複数の内部バッファメモリバンクとすることが推奨される。   The non-volatile memory array Memo_Ary0... Memo_AryN of the non-volatile memory devices Memo_Dv0. At this time, it is recommended that the internal buffer memories Buffer0 ... BufferN of the non-volatile memory devices Memo_Dv0 ... Memo_DvN also be a plurality of internal buffer memory banks.

さらに、不揮発性メモリデバイスMemo_Dv0…Memo_DvNの不揮発性メモリアレーMemo_Ary0…Memo_AryNの不揮発性メモリセルはフローティングゲートを有するフラッシュメモリセルの他に、制御ゲート直下のゲート窒化膜とゲート酸化膜との界面トラップ準位に電子を捕獲する不揮発性メモリセルとすることも可能である。また、相変化メモリやMRAMなどの不揮発性半導体メモリにも、本発明は適用可能である。   Furthermore, the nonvolatile memory cell of the nonvolatile memory array Memo_Ary0 ... Memo_AryN of the nonvolatile memory devices Memo_Dv0... Memo_DvN is not only a flash memory cell having a floating gate but also an interface trap level between a gate nitride film and a gate oxide film immediately below the control gate. It is also possible to make a nonvolatile memory cell that captures electrons. The present invention is also applicable to nonvolatile semiconductor memories such as phase change memory and MRAM.

図1は、第1の本発明のひとつの実施形態によるフラッシュメモリカードの構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a flash memory card according to one embodiment of the first invention. 図2は、図1に示したフラッシュメモリカードのメモリコントローラが、インターリーブ書き込み技術をサポートすることを示すものである。FIG. 2 shows that the memory controller of the flash memory card shown in FIG. 1 supports the interleave writing technique. 図3は、図1に示したフラッシュメモリカードのメモリコントローラが、所謂インターリーブ書き込み技術をサポートすることを示すものである。FIG. 3 shows that the memory controller of the flash memory card shown in FIG. 1 supports a so-called interleave writing technique. 図4は、図1に示したフラッシュメモリカードがウェアレベリングもしくは書き込み処理時の電源遮断の対策のために、ホストからの同一の論理アドレスで異なる物理アドレスにマッピングを行うアドレス変換の動作を説明する図である。FIG. 4 illustrates an address conversion operation in which the flash memory card shown in FIG. 1 performs mapping to different physical addresses with the same logical address from the host in order to take measures against power interruption during wear leveling or writing processing. FIG. 図5は、本発明に先立って本発明者等により検討されたメモリコントローラが図4で示した同一の論理アドレスに対応する物理アドレスのマッピングの変更の処理を説明する波形図である。FIG. 5 is a waveform diagram for explaining the process of changing the mapping of the physical address corresponding to the same logical address shown in FIG. 4 by the memory controller studied by the present inventors prior to the present invention. 図6は、図1に示した本発明のひとつの実施形態によるフラッシュメモリカードが図4で示した同一の論理アドレスに対応する物理アドレスのマッピングの変更の処理を説明する波形図である。FIG. 6 is a waveform diagram illustrating a process of changing the mapping of the physical address corresponding to the same logical address shown in FIG. 4 in the flash memory card according to one embodiment of the present invention shown in FIG. 図7は、第1の本発明のその他の実施形態によるフラッシュメモリカードの構成を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing the configuration of a flash memory card according to another embodiment of the first invention. 図8は第2の本発明のひとつの実施形態によるフラッシュメモリカードの構成を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing the configuration of a flash memory card according to one embodiment of the second invention. 図9は、第2の本発明のひとつの実施形態によるフラッシュメモリカードの動作を説明する図である。FIG. 9 is a diagram for explaining the operation of the flash memory card according to one embodiment of the second invention.

符号の説明Explanation of symbols

Memo_Crd 不揮発性半導体記憶装置
Memo_Cnt メモリコントローラ
Int_Bus 内部共通バス
/CE0 チップ選択信号
/CEN チップ選択信号
R/B0 レディー/ビジー信号
R/BN レディー/ビジー信号
Memo_Dv0 不揮発性メモリデバイス
Memo_DvN 不揮発性メモリデバイス
Memo_Ary0 不揮発性メモリアレー
Memo_AryN 不揮発性メモリアレー
Buffer0 内部バッファメモリ
BufferN 内部バッファメモリ
Memo_Crd Nonvolatile Semiconductor Memory Device Memo_Cnt Memory Controller Int_Bus Internal Common Bus / CE0 Chip Selection Signal / CEN Chip Selection Signal R / B0 Ready / Busy Signal R / BN Ready / Busy Signal Memo_Dv0 Nonvolatile Memory Device Memo_DvN Nonvolatile Memory Device Me0 Nonvolatile Memory Device Me0 Memory array Memo_AryN Non-volatile memory array Buffer0 Internal buffer memory BufferN Internal buffer memory

Claims (29)

メモリコントローラと、複数の不揮発性メモリデバイスと、前記メモリコントローラと前記複数の不揮発性メモリデバイスとの間に接続された内部共有バスとを含み、
前記複数の不揮発性メモリデバイスはそれぞれ、内部不揮発性メモリアレーと、前記内部不揮発性メモリアレーへ書き込まれる内部書き込みデータを格納する一方、前記内部不揮発性メモリアレーから読み出された内部読み出しデータを格納する内部バッファメモリとを含み、
ホストからの指示に応答して、前記メモリコントローラは複数の不揮発性メモリデバイスから1つの不揮発性メモリデバイスを選択して、前記メモリコントローラは前記内部共有バスを介してこの選択された前記1つの不揮発性メモリデバイスへ前記ホストからの前記指示に対応するコマンドとアドレスとのアクセスデータを転送し、
前記1つの不揮発性メモリデバイスと前記メモリコントローラとの間の前記内部共有バスを介しての前記ホストからの前記指示に基づくユーザーデータの転送の完了の前に、前記メモリコントローラは前記1つの不揮発性メモリデバイスの選択を中断する一方、前記複数の不揮発性メモリデバイスの他の不揮発性メモリデバイスを選択して、前記メモリコントローラは、前記内部共有バスを介して選択された前記他の不揮発性メモリデバイスへ前記他の不揮発性メモリデバイスの内部不揮発性メモリアレーと前記他の不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリとの間の内部データ転送のためのコマンドとアドレスとのアクセスデータを転送して、選択された前記他の不揮発性メモリデバイスは、前記内部データ転送のための前記コマンドと前記アドレスとの前記アクセスデータに応答して、前記内部不揮発性メモリアレーと前記内部バッファメモリとの間の前記内部データ転送を実行し、
前記内部データ転送の間に、前記メモリコントローラは前記1つの不揮発性メモリデバイスの選択を再開し、前記選択の再開によって、前記1つの不揮発性メモリデバイスと前記メモリコントローラとの間の前記内部共有バスを介しての前記ホストからの指示に基づくユーザーデータの転送を実行する不揮発性半導体記憶装置。
A memory controller, a plurality of nonvolatile memory devices, and an internal shared bus connected between the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices,
Each of the plurality of nonvolatile memory devices stores an internal nonvolatile memory array and internal write data written to the internal nonvolatile memory array, while storing internal read data read from the internal nonvolatile memory array Internal buffer memory to
In response to an instruction from the host, the memory controller selects one nonvolatile memory device from a plurality of nonvolatile memory devices, and the memory controller selects the one nonvolatile memory device via the internal shared bus. Transfer the access data of the command and address corresponding to the instruction from the host to the memory device,
Prior to completion of transfer of user data based on the instructions from the host via the internal shared bus between the one non-volatile memory device and the memory controller, the memory controller While the selection of the memory device is interrupted, the other non-volatile memory device of the plurality of non-volatile memory devices is selected, and the memory controller selects the other non-volatile memory device selected via the internal shared bus The command and address access data for internal data transfer between the internal nonvolatile memory array of the other nonvolatile memory device and the internal buffer memory of the other nonvolatile memory device are selected and transferred to The other non-volatile memory device is configured to transmit the command for the internal data transfer. In response to said access data with the address, and executes the internal data transfer between the internal non-volatile memory array and the internal buffer memory,
During the internal data transfer, the memory controller resumes selection of the one non-volatile memory device, and resuming the selection results in the internal shared bus between the one non-volatile memory device and the memory controller. A nonvolatile semiconductor memory device that transfers user data based on an instruction from the host via the host.
前記メモリコントローラと前記複数の不揮発性メモリデバイスとの間に接続された複数の選択信号線を更に含み、
前記複数の選択信号線の1つの選択信号線を介して前記メモリコントローラは前記複数の不揮発性メモリデバイスから前記1つの不揮発性メモリデバイスを選択し、
前記複数の選択信号線の他の1つの選択信号線を介して前記メモリコントローラは前記複数の不揮発性メモリデバイスから前記他の1つの不揮発性メモリデバイスを選択する請求項1に記載の不揮発性半導体記憶装置。
A plurality of selection signal lines connected between the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices;
The memory controller selects the one nonvolatile memory device from the plurality of nonvolatile memory devices via one selection signal line of the plurality of selection signal lines,
2. The nonvolatile semiconductor device according to claim 1, wherein the memory controller selects the other one nonvolatile memory device from the plurality of nonvolatile memory devices via another selection signal line of the plurality of selection signal lines. Storage device.
前記メモリコントローラと前記複数の不揮発性メモリデバイスとの間に接続された複数のレディー/ビジー信号線を更に含み、
前記複数のレディー/ビジー信号線の1つのレディー/ビジー信号線のレディー状態およびビジー状態から前記メモリコントローラは前記1つの選択信号線を介しての前記1つの不揮発性メモリデバイスの選択が可能か否かを判別して、
前記複数のレディー/ビジー信号線の他の1つのレディー/ビジー信号線のレディー状態およびビジー状態から前記メモリコントローラは前記他の1つの選択信号線を介しての前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの選択が可能か否かを判別する請求項2に記載の不揮発性半導体記憶装置。
A plurality of ready / busy signal lines connected between the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices;
Whether the memory controller can select the one nonvolatile memory device via the one selection signal line from the ready state and the busy state of one ready / busy signal line of the plurality of ready / busy signal lines To determine
From the ready state and busy state of another one ready / busy signal line of the plurality of ready / busy signal lines, the memory controller sends the other one non-volatile memory device via the other one select signal line. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 2, wherein it is determined whether or not selection is possible.
前記複数の不揮発性メモリデバイスからの複数のレディー/ビジー信号線が一本の共通レディー/ビジー信号線に共通接続され、
前記メモリコントローラが前記複数の不揮発性メモリデバイスのステータスレジスタの内容を定期的にチェックすることにより、前記内部共通バスを介して前記複数の不揮発性メモリデバイスのいずれの不揮発性メモリデバイスが選択可能であるかを判断する請求項2に記載の不揮発性半導体記憶装置。
A plurality of ready / busy signal lines from the plurality of nonvolatile memory devices are commonly connected to one common ready / busy signal line;
When the memory controller periodically checks the contents of the status registers of the plurality of nonvolatile memory devices, any one of the plurality of nonvolatile memory devices can be selected via the internal common bus. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 2, wherein it is determined whether or not there is.
前記メモリコントローラは、前記ホストからの書き込み指示により連続する2つの新規書き込みユーザーデータを前記複数の不揮発性メモリデバイスから選択された前記1つの不揮発性メモリデバイスと前記他の1つの不揮発性メモリデバイスとに書き込むインターリーブ書き込み技術をサポートするものであり、前記ホストからの前記書き込み指示に応答して前記メモリコントローラから前記内部共通バスを介して前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの最初の書き込みユーザーデータが転送され、前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリから内部不揮発性メモリアレーへの内部書き込み動作の期間において前記内部共通バスを介して前記メモリコントローラから前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに前記連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの後続の書き込みユーザーデータが転送されることにより、前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部書き込み動作と前記内部共通バスを介しての前記他の1つの不揮発性メモリデバイスへの前記後続の書き込みユーザーデータのデータ転送とが並列に実行される請求項2に記載の不揮発性半導体記憶装置。   The memory controller includes: the one non-volatile memory device selected from the plurality of non-volatile memory devices and two other non-volatile memory devices that receive two consecutive new write user data in accordance with a write instruction from the host; In response to the write instruction from the host, the memory controller responds to the write instruction from the memory controller through the internal common bus to the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device. The first write user data among the new write user data is transferred, and the memory block is connected via the internal common bus during the internal write operation from the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device to the internal nonvolatile memory array. The subsequent write user data of the two consecutive new write user data is transferred from the controller to the internal buffer memory of the other non-volatile memory device, whereby the internal of the non-volatile memory device 3. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 2, wherein a write operation and a data transfer of the subsequent write user data to the other nonvolatile memory device via the internal common bus are executed in parallel. 前記メモリコントローラは、前記ホストからの書き込み指示により連続する2つの新規書き込みユーザーデータを前記複数の不揮発性メモリデバイスから選択された前記1つの不揮発性メモリデバイスと前記他の1つの不揮発性メモリデバイスとに書き込むインターリーブ書き込み技術をサポートするものであり、前記ホストからの前記書き込み指示に応答して前記メモリコントローラから前記内部共通バスを介して前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの最初の書き込みユーザーデータが転送され、前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリから内部不揮発性メモリアレーへの内部書き込み動作の期間において前記内部共通バスを介して前記メモリコントローラから前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに前記連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの後続の書き込みユーザーデータが転送されることにより、前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部書き込み動作と前記内部共通バスを介しての前記他の1つの不揮発性メモリデバイスへの前記後続の書き込みユーザーデータのデータ転送とが並列に実行される請求項3に記載の不揮発性半導体記憶装置。   The memory controller includes: the one non-volatile memory device selected from the plurality of non-volatile memory devices and two other non-volatile memory devices that receive two consecutive new write user data in accordance with a write instruction from the host; In response to the write instruction from the host, the memory controller responds to the write instruction from the memory controller through the internal common bus to the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device. The first write user data among the new write user data is transferred, and the memory block is connected via the internal common bus during the internal write operation from the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device to the internal nonvolatile memory array. The subsequent write user data of the two consecutive new write user data is transferred from the controller to the internal buffer memory of the other non-volatile memory device, whereby the internal of the non-volatile memory device 4. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 3, wherein a write operation and a data transfer of the subsequent write user data to the other nonvolatile memory device via the internal common bus are executed in parallel. 前記メモリコントローラは、前記ホストからの書き込み指示により連続する2つの新規書き込みユーザーデータを前記複数の不揮発性メモリデバイスから選択された前記1つの不揮発性メモリデバイスと前記他の1つの不揮発性メモリデバイスとに書き込むインターリーブ書き込み技術をサポートするものであり、前記ホストからの前記書き込み指示に応答して前記メモリコントローラから前記内部共通バスを介して前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの最初の書き込みユーザーデータが転送され、前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリから内部不揮発性メモリアレーへの内部書き込み動作の期間において前記内部共通バスを介して前記メモリコントローラから前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに前記連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの後続の書き込みユーザーデータが転送されることにより、前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部書き込み動作と前記内部共通バスを介しての前記他の1つの不揮発性メモリデバイスへの前記後続の書き込みユーザーデータのデータ転送とが並列に実行される請求項4に記載の不揮発性半導体記憶装置。   The memory controller includes: the one non-volatile memory device selected from the plurality of non-volatile memory devices and two other non-volatile memory devices that receive two consecutive new write user data in accordance with a write instruction from the host; In response to the write instruction from the host, the memory controller responds to the write instruction from the memory controller through the internal common bus to the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device. The first write user data among the new write user data is transferred, and the memory block is connected via the internal common bus during the internal write operation from the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device to the internal nonvolatile memory array. The subsequent write user data of the two consecutive new write user data is transferred from the controller to the internal buffer memory of the other non-volatile memory device, whereby the internal of the non-volatile memory device 5. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 4, wherein a write operation and a data transfer of the subsequent write user data to the other nonvolatile memory device via the internal common bus are executed in parallel. 前記メモリコントローラは前記ホストからの同一の論理アドレスを用いた複数の書き込み処理に際して異なる物理アドレスをアドレス変換により生成して、不揮発性半導体記憶装置内部の実際の書き込みは前記異なる物理アドレスを用いて実行することによりウェアレベリングと書き込み処理時の古い物理アドレスの古いデータの保存との少なくとも一方を可能とし、前記書き込み処理時の新しい物理アドレスの新しいデータが保存された際には前記古い物理アドレスの前記古いデータを消去するガーベージ・コレクションを前記メモリコントローラが実行する請求項1から請求項5までのいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。   The memory controller generates different physical addresses by address conversion during a plurality of write processes using the same logical address from the host, and actual writing in the nonvolatile semiconductor memory device is executed using the different physical addresses. By doing so, at least one of wear leveling and storage of old data at the old physical address at the time of write processing is enabled. When new data at the new physical address at the time of write processing is stored, the old physical address of the old physical address is stored. 6. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 1, wherein the memory controller executes garbage collection for erasing old data. メモリコントローラと、複数の不揮発性メモリデバイスと、前記メモリコントローラと前記複数の不揮発性メモリデバイスとの間に接続された内部共有バスとを含み、
前記複数の不揮発性メモリデバイスはそれぞれ、内部不揮発性メモリアレーと、前記内部不揮発性メモリアレーへ書き込まれる内部書き込みデータを格納する一方、前記内部不揮発性メモリアレーから読み出された内部読み出しデータを格納する内部バッファメモリとを含み、
ホストからの指示に応答して前記メモリコントローラは前記複数の不揮発性メモリデバイスから1つの不揮発性メモリデバイスを選択して、前記メモリコントローラは選択された前記1つの不揮発性メモリデバイスへ書き込みコマンドと書き込み物理アドレスの転送を開始して、
前記1つの不揮発性メモリデバイスへの前記書き込みコマンドと前記書き込み物理アドレスの前記転送の開始の後、前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリへの書き込みデータの転送の完了に先立って、前記メモリコントローラは前記1つの不揮発性メモリデバイスの選択を中断する一方、前記複数の不揮発性メモリデバイスから他の1つの不揮発性メモリデバイスを選択して、前記メモリコントローラは前記内部共有バスを介して選択された前記他の1つの不揮発性メモリデバイスへ内部読み出しコマンドと内部読み出し物理アドレスの転送を開始して、選択された前記他の1つの不揮発性メモリデバイスでは、前記内部読み出しコマンドと前記内部読み出しアドレスとに応答して前記内部不揮発性メモリアレーから前記内部バッファメモリへの前記内部読み出し動作が開始され、
前記他の1つの不揮発性メモリデバイスでの前記内部読み出し動作の開始の後、前記メモリコントローラは前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの選択を中断する一方、前記1つの不揮発性メモリデバイスの選択を再開して、前記1つの不揮発性メモリデバイスの選択の再開の後、前記メモリコントローラは前記内部共有バスを介して前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部バッファメモリへの書き込みデータの転送を開始して、前記メモリコントローラから前記内部共有バスを介しての前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部バッファメモリへの前記書き込みデータの前記転送と、前記他の1つの不揮発性メモリデバイスでの前記内部不揮発性メモリアレーから前記内部バッファメモリへの前記内部読み出し動作とが並列に実行される不揮発性半導体記憶装置。
A memory controller, a plurality of nonvolatile memory devices, and an internal shared bus connected between the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices,
Each of the plurality of nonvolatile memory devices stores an internal nonvolatile memory array and internal write data written to the internal nonvolatile memory array, while storing internal read data read from the internal nonvolatile memory array Internal buffer memory to
In response to an instruction from the host, the memory controller selects one nonvolatile memory device from the plurality of nonvolatile memory devices, and the memory controller writes and writes a write command to the selected one nonvolatile memory device. Start transferring the physical address,
After the start of the transfer of the write command and the write physical address to the one non-volatile memory device, prior to completion of transfer of the write data to the internal buffer memory of the one non-volatile memory device, the memory The controller interrupts the selection of the one nonvolatile memory device, while selecting another nonvolatile memory device from the plurality of nonvolatile memory devices, the memory controller is selected via the internal shared bus. The transfer of the internal read command and the internal read physical address to the one other non-volatile memory device is started, and in the selected one other non-volatile memory device, the internal read command, the internal read address, In response to the internal non-volatile memory array The internal read operation of the parts buffer memory is started,
After the start of the internal read operation in the other non-volatile memory device, the memory controller interrupts the selection of the other non-volatile memory device, while selecting the one non-volatile memory device. After restarting the selection of the one non-volatile memory device, the memory controller starts transferring write data to the internal buffer memory of the one non-volatile memory device via the internal shared bus. The transfer of the write data from the memory controller to the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device via the internal shared bus, and the internal nonvolatile memory in the other nonvolatile memory device In parallel with the internal read operation from the memory array to the internal buffer memory The nonvolatile semiconductor memory device which is line.
前記メモリコントローラと前記複数の不揮発性メモリデバイスとの間に接続された複数の選択信号線を更に含み、
前記複数の選択信号線の1つの選択信号線を介して前記メモリコントローラは前記複数の不揮発性メモリデバイスから前記1つの不揮発性メモリデバイスを選択し、
前記複数の選択信号線の他の1つの選択信号線を介して前記メモリコントローラは前記複数の不揮発性メモリデバイスから前記他の1つの不揮発性メモリデバイスを選択する請求項9に記載の不揮発性半導体記憶装置。
A plurality of selection signal lines connected between the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices;
The memory controller selects the one nonvolatile memory device from the plurality of nonvolatile memory devices via one selection signal line of the plurality of selection signal lines,
The non-volatile semiconductor according to claim 9, wherein the memory controller selects the other non-volatile memory device from the non-volatile memory devices via another selection signal line of the plurality of selection signal lines. Storage device.
前記メモリコントローラと前記複数の不揮発性メモリデバイスとの間に接続された複数のレディー/ビジー信号線を更に含み、
前記複数のレディー/ビジー信号線の1つのレディー/ビジー信号線のレディー状態およびビジー状態から前記メモリコントローラは前記1つの選択信号線を介しての前記1つの不揮発性メモリデバイスの選択が可能か否かを判別して、
前記複数のレディー/ビジー信号線の他の1つのレディー/ビジー信号線のレディー状態およびビジー状態から前記メモリコントローラは前記他の1つの選択信号線を介しての前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの選択が可能か否かを判別する請求項10に記載の不揮発性半導体記憶装置。
A plurality of ready / busy signal lines connected between the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices;
Whether the memory controller can select the one nonvolatile memory device via the one selection signal line from the ready state and the busy state of one ready / busy signal line of the plurality of ready / busy signal lines To determine
From the ready state and busy state of another one ready / busy signal line of the plurality of ready / busy signal lines, the memory controller sends the other one non-volatile memory device via the other one select signal line. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 10, wherein it is determined whether or not selection is possible.
前記複数の不揮発性メモリデバイスからの複数のレディー/ビジー信号線が一本の共通レディー/ビジー信号線に共通接続され、
前記メモリコントローラが前記複数の不揮発性メモリデバイスのステータスレジスタの内容を定期的にチェックすることにより、前記内部共通バスを介して前記複数の不揮発性メモリデバイスのいずれの不揮発性メモリデバイスが選択可能であるかを判断する請求項10に記載の不揮発性半導体記憶装置。
A plurality of ready / busy signal lines from the plurality of nonvolatile memory devices are commonly connected to one common ready / busy signal line;
When the memory controller periodically checks the contents of the status registers of the plurality of nonvolatile memory devices, any one of the plurality of nonvolatile memory devices can be selected via the internal common bus. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 10, wherein it is determined whether or not there is.
前記メモリコントローラは、前記ホストからの書き込み指示により連続する2つの新規書き込みユーザーデータを前記複数の不揮発性メモリデバイスから選択された前記1つの不揮発性メモリデバイスと前記他の1つの不揮発性メモリデバイスとに書き込むインターリーブ書き込み技術をサポートするものであり、前記ホストからの前記書き込み指示に応答して前記メモリコントローラから前記内部共通バスを介して前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの最初の書き込みユーザーデータが転送され、前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリから内部不揮発性メモリアレーへの内部書き込み動作の期間において前記内部共通バスを介して前記メモリコントローラから前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに前記連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの後続の書き込みユーザーデータが転送されることにより、前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部書き込み動作と前記内部共通バスを介しての前記他の1つの不揮発性メモリデバイスへの前記後続の書き込みユーザーデータのデータ転送とが並列に実行される請求項10に記載の不揮発性半導体記憶装置。   The memory controller includes: the one non-volatile memory device selected from the plurality of non-volatile memory devices and two other non-volatile memory devices that receive two consecutive new write user data in accordance with a write instruction from the host; In response to the write instruction from the host, the memory controller responds to the write instruction from the memory controller through the internal common bus to the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device. The first write user data among the new write user data is transferred, and the memory block is connected via the internal common bus during the internal write operation from the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device to the internal nonvolatile memory array. The subsequent write user data of the two consecutive new write user data is transferred from the controller to the internal buffer memory of the other non-volatile memory device, whereby the internal of the non-volatile memory device The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 10, wherein a write operation and a data transfer of the subsequent write user data to the other nonvolatile memory device via the internal common bus are executed in parallel. 前記メモリコントローラは、前記ホストからの書き込み指示により連続する2つの新規書き込みユーザーデータを前記複数の不揮発性メモリデバイスから選択された前記1つの不揮発性メモリデバイスと前記他の1つの不揮発性メモリデバイスとに書き込むインターリーブ書き込み技術をサポートするものであり、前記ホストからの前記書き込み指示に応答して前記メモリコントローラから前記内部共通バスを介して前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの最初の書き込みユーザーデータが転送され、前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリから内部不揮発性メモリアレーへの内部書き込み動作の期間において前記内部共通バスを介して前記メモリコントローラから前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに前記連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの後続の書き込みユーザーデータが転送されることにより、前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部書き込み動作と前記内部共通バスを介しての前記他の1つの不揮発性メモリデバイスへの前記後続の書き込みユーザーデータのデータ転送とが並列に実行される請求項11に記載の不揮発性半導体記憶装置。   The memory controller includes: the one non-volatile memory device selected from the plurality of non-volatile memory devices and two other non-volatile memory devices that receive two consecutive new write user data in accordance with a write instruction from the host; In response to the write instruction from the host, the memory controller responds to the write instruction from the memory controller through the internal common bus to the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device. The first write user data among the new write user data is transferred, and the memory block is connected via the internal common bus during the internal write operation from the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device to the internal nonvolatile memory array. The subsequent write user data of the two consecutive new write user data is transferred from the controller to the internal buffer memory of the other non-volatile memory device, whereby the internal of the non-volatile memory device The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 11, wherein a write operation and data transfer of the subsequent write user data to the other nonvolatile memory device via the internal common bus are executed in parallel. 前記メモリコントローラは、前記ホストからの書き込み指示により連続する2つの新規書き込みユーザーデータを前記複数の不揮発性メモリデバイスから選択された前記1つの不揮発性メモリデバイスと前記他の1つの不揮発性メモリデバイスとに書き込むインターリーブ書き込み技術をサポートするものであり、前記ホストからの前記書き込み指示に応答して前記メモリコントローラから前記内部共通バスを介して前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの最初の書き込みユーザーデータが転送され、前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリから内部不揮発性メモリアレーへの内部書き込み動作の期間において前記内部共通バスを介して前記メモリコントローラから前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに前記連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの後続の書き込みユーザーデータが転送されることにより、前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部書き込み動作と前記内部共通バスを介しての前記他の1つの不揮発性メモリデバイスへの前記後続の書き込みユーザーデータのデータ転送とが並列に実行される請求項12に記載の不揮発性半導体記憶装置。   The memory controller includes: the one non-volatile memory device selected from the plurality of non-volatile memory devices and two other non-volatile memory devices that receive two consecutive new write user data in accordance with a write instruction from the host; In response to the write instruction from the host, the memory controller responds to the write instruction from the memory controller through the internal common bus to the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device. The first write user data among the new write user data is transferred, and the memory block is connected via the internal common bus during the internal write operation from the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device to the internal nonvolatile memory array. The subsequent write user data of the two consecutive new write user data is transferred from the controller to the internal buffer memory of the other non-volatile memory device, whereby the internal of the non-volatile memory device 13. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 12, wherein a write operation and a data transfer of the subsequent write user data to the other nonvolatile memory device via the internal common bus are executed in parallel. 前記メモリコントローラは前記ホストからの同一の論理アドレスを用いた複数の書き込み処理のそれぞれの処理に際して異なる物理アドレスをアドレス変換により生成して、不揮発性半導体記憶装置内部の実際の書き込みは前記異なる物理アドレスを用いて実行することによりウェアレベリングと書き込み処理時の古い物理アドレスの古いデータの保存との少なくとも一方を可能とし、前記書き込み処理時の新しい物理アドレスの新しいデータが保存された際には前記古い物理アドレスの前記古いデータを消去するガーベージ・コレクションを前記メモリコントローラが実行する請求項9から請求項15までのいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。   The memory controller generates a different physical address by address conversion in each of a plurality of write processes using the same logical address from the host, and the actual write in the nonvolatile semiconductor memory device is the different physical address To enable at least one of wear leveling and storage of old data at the old physical address during write processing, and when new data at the new physical address is stored during the write processing, the old data is stored. 16. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 9, wherein the memory controller executes garbage collection for erasing the old data at a physical address. メモリコントローラと、複数の不揮発性メモリデバイスと、前記メモリコントローラと前記複数の不揮発性メモリデバイスとの間に接続された内部共有バスとを含み、
前記複数の不揮発性メモリデバイスはそれぞれ、内部不揮発性メモリアレーと、前記内部不揮発性メモリアレーへ書き込まれる内部書き込みデータを格納する一方、前記内部不揮発性メモリアレーから読み出された内部読み出しデータを格納する内部バッファメモリとを含み、
ホストから要求された書き込み指示と伴に受信された論理アドレスが、前記複数の不揮発性メモリデバイスに過去書き込まれた物理アドレスに対応する過去の論理アドレスのいずれとも不一致となることに応答して前記メモリコントローラは前記ホストからの前記書き込み指示により連続する2つの新規書き込みユーザーデータを、前記複数の不揮発性メモリデバイスから選択された1つの不揮発性メモリデバイスと選択された他の1つの不揮発性メモリデバイスとに前記内部共通バスを介して、2つの時間帯にて時分割で転送して、その後、選択された前記1つの不揮発性メモリデバイスと選択された前記他の1つの不揮発性メモリデバイスとでは各内部バッファメモリから各内部不揮発性メモリアレーへの各新規書き込みユーザーデータの内部書き込み動作が実行され、
ホストから要求された書き込み指示と伴に受信された論理アドレスが、前記複数の不揮発性メモリデバイスに過去書き込まれた物理アドレスに対応する過去の論理アドレスのいずれか1つと一致することに応答して前記メモリコントローラは、一致した論理アドレスに対応する古い物理アドレスを持つ前記複数の不揮発性メモリデバイスの領域に書き込まれたデータを前記ホストから要求された前記書き込み指示により更新されるデータと非更新となるデータとに区別するものであり、更新されるデータに関しては、前記一致した論理アドレスに対応する新しい物理アドレスを持つ前記複数の不揮発性メモリデバイスのいずれかの不揮発性メモリデバイスでは当該いずれかの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリを介して前記いずれかの不揮発性メモリデバイスの内部不揮発性メモリアレーへホストからの更新データが書き込まれ、前記ホストからの前記更新データの前記いずれかの不揮発性メモリデバイスへのデータ転送と時間的に並列に、前記非更新となるデータに関しての前記一致した論理アドレスに対応する古い物理アドレスを持つ前記複数の不揮発性メモリデバイスのいずれかの不揮発性メモリデバイスの領域に書き込まれたデータがいずれかの内部バッファメモリに内部読み出しされ、その後、前記いずれかの内部バッファメモリに内部読み出しされた前記非更新データは、前記いずれかの不揮発性メモリデバイスのいずれかの内部不揮発性メモリアレーへ内部書き込みされる不揮発性半導体記憶装置。
A memory controller, a plurality of nonvolatile memory devices, and an internal shared bus connected between the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices,
Each of the plurality of nonvolatile memory devices stores an internal nonvolatile memory array and internal write data written to the internal nonvolatile memory array, while storing internal read data read from the internal nonvolatile memory array Internal buffer memory to
In response to the logical address received with the write instruction requested from the host being inconsistent with any of the past logical addresses corresponding to the physical addresses previously written to the plurality of non-volatile memory devices. The memory controller transmits two consecutive new write user data in accordance with the write instruction from the host to one nonvolatile memory device selected from the plurality of nonvolatile memory devices and one other nonvolatile memory device selected Between the selected one non-volatile memory device and the selected other non-volatile memory device via the internal common bus in a time-sharing manner in two time zones. Each newly written user data from each internal buffer memory to each internal nonvolatile memory array Internal write operation is performed,
In response to the logical address received with the write instruction requested from the host matching one of the past logical addresses corresponding to the physical address previously written to the plurality of non-volatile memory devices. The memory controller is configured to update the data written in the areas of the plurality of nonvolatile memory devices having the old physical address corresponding to the matched logical address with the data updated according to the write instruction requested from the host and the non-update. For the data to be updated, any non-volatile memory device of the plurality of non-volatile memory devices having a new physical address corresponding to the matched logical address Any of the above through the internal buffer memory of the nonvolatile memory device The update data from the host is written to the internal nonvolatile memory array of the nonvolatile memory device, and the non-volatile memory device is configured to transfer the update data from the host to any one of the nonvolatile memory devices in parallel in time. The data written in the area of any one of the plurality of nonvolatile memory devices having an old physical address corresponding to the matched logical address regarding the data to be updated is internally stored in any internal buffer memory The non-updated data that is read and then internally read into any of the internal buffer memories is internally written to any internal nonvolatile memory array of any of the nonvolatile memory devices .
前記メモリコントローラと前記複数の不揮発性メモリデバイスとの間に接続された複数の選択信号線を更に含み、
前記複数の選択信号線の1つの選択信号線を介して前記メモリコントローラは前記複数の不揮発性メモリデバイスから前記1つの不揮発性メモリデバイスを選択し、
前記複数の選択信号線の他の1つの選択信号線を介して前記メモリコントローラは前記複数の不揮発性メモリデバイスから前記他の1つの不揮発性メモリデバイスを選択する請求項17に記載の不揮発性半導体記憶装置。
A plurality of selection signal lines connected between the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices;
The memory controller selects the one nonvolatile memory device from the plurality of nonvolatile memory devices via one selection signal line of the plurality of selection signal lines,
The nonvolatile semiconductor device according to claim 17, wherein the memory controller selects the other nonvolatile memory device from the nonvolatile memory devices via another selection signal line of the plurality of selection signal lines. Storage device.
前記メモリコントローラと前記複数の不揮発性メモリデバイスとの間に接続された複数のレディー/ビジー信号線を更に含み、
前記複数のレディー/ビジー信号線の1つのレディー/ビジー信号線のレディー状態およびビジー状態から前記メモリコントローラは前記1つの選択信号線を介しての前記1つの不揮発性メモリデバイスの選択が可能か否かを判別して、
前記複数のレディー/ビジー信号線の他の1つのレディー/ビジー信号線のレディー状態およびビジー状態から前記メモリコントローラは前記他の1つの選択信号線を介しての前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの選択が可能か否かを判別する請求項18に記載の不揮発性半導体記憶装置。
A plurality of ready / busy signal lines connected between the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices;
Whether the memory controller can select the one nonvolatile memory device via the one selection signal line from the ready state and the busy state of one ready / busy signal line of the plurality of ready / busy signal lines To determine
From the ready state and busy state of another one ready / busy signal line of the plurality of ready / busy signal lines, the memory controller sends the other one non-volatile memory device via the other one select signal line. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 18, wherein it is determined whether or not selection is possible.
前記複数の不揮発性メモリデバイスからの複数のレディー/ビジー信号線が一本の共通レディー/ビジー信号線に共通接続され、
前記メモリコントローラが前記複数の不揮発性メモリデバイスのステータスレジスタの内容を定期的にチェックすることにより、前記内部共通バスを介して前記複数の不揮発性メモリデバイスのいずれの不揮発性メモリデバイスが選択可能であるかを判断する請求項18に記載の不揮発性半導体記憶装置。
A plurality of ready / busy signal lines from the plurality of nonvolatile memory devices are commonly connected to one common ready / busy signal line;
When the memory controller periodically checks the contents of the status registers of the plurality of nonvolatile memory devices, any one of the plurality of nonvolatile memory devices can be selected via the internal common bus. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 18, wherein it is determined whether or not there is.
前記メモリコントローラは前記ホストからの同一の論理アドレスを用いた複数の書き込み処理のそれぞれの処理に際して異なる物理アドレスをアドレス変換により生成して、不揮発性半導体記憶装置内部の実際の書き込みは前記異なる物理アドレスを用いて実行することによりウェアレベリングと書き込み処理時の古い物理アドレスの古いデータの保存との少なくとも一方を可能とし、前記書き込み処理時の新しい物理アドレスの新しいデータが保存された際には前記古い物理アドレスの前記古いデータを消去するガーベージ・コレクションを前記メモリコントローラが実行する請求項17から請求項20までのいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。   The memory controller generates a different physical address by address conversion in each of a plurality of write processes using the same logical address from the host, and the actual write in the nonvolatile semiconductor memory device is the different physical address To enable at least one of wear leveling and storage of old data at the old physical address during write processing, and when new data at the new physical address is stored during the write processing, the old data is stored. 21. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 17, wherein the memory controller executes garbage collection for erasing the old data at a physical address. メモリコントローラと、複数の不揮発性メモリデバイスと、前記メモリコントローラと前記複数の不揮発性メモリデバイスとの間に接続された内部共有バスとを含み、
前記複数の不揮発性メモリデバイスはそれぞれ、内部不揮発性メモリアレーと、前記内部不揮発性メモリアレーへ書き込まれる内部書き込みデータを格納する一方、前記内部不揮発性メモリアレーから読み出された内部読み出しデータを格納する内部バッファメモリとを含み、
前記複数の不揮発性メモリデバイスのいずれか1つの不揮発性メモリデバイスの内部不揮発性メモリアレーに格納済みのデータを書き換えするホストからの指示に応答して前記メモリコントローラは前記1つの不揮発性メモリデバイスへ前記内部共有バスを介してデータ更新ためのコマンドおよびアドレスを転送した後、前記メモリコントローラは前記複数の不揮発性メモリデバイスの他の1つの不揮発性メモリデバイスに前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの内部不揮発性メモリアレーに格納済みの前記データ更新の対象でないデータを前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに読み出すためのコマンドおよびアドレスを転送して、
その後、前記メモリコントローラが前記内部共有バスを介して前記データ更新ための更新データを前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリへ転送するのと時間的に並列に、前記他の1つの不揮発性メモリデバイスでは前記データ更新の対象でない前記データを前記内部バッファメモリへ読み出す内部読み出し動作が実行される不揮発性半導体記憶装置。
A memory controller, a plurality of nonvolatile memory devices, and an internal shared bus connected between the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices,
Each of the plurality of nonvolatile memory devices stores an internal nonvolatile memory array and internal write data written to the internal nonvolatile memory array, while storing internal read data read from the internal nonvolatile memory array Internal buffer memory to
In response to an instruction from the host to rewrite data stored in the internal nonvolatile memory array of any one of the plurality of nonvolatile memory devices, the memory controller transfers to the one nonvolatile memory device. After transferring a command and an address for updating data via the internal shared bus, the memory controller transfers the other nonvolatile memory device to the other nonvolatile memory device of the plurality of nonvolatile memory devices. A command and an address for reading the data not stored in the internal nonvolatile memory array, which is not subject to data update, to the internal buffer memory of the other nonvolatile memory device;
Thereafter, in parallel with the one other nonvolatile memory, the memory controller transfers update data for updating the data to the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device via the internal shared bus. A non-volatile semiconductor storage device in which an internal read operation for reading the data not subject to data update to the internal buffer memory is executed in a memory device.
前記1つの不揮発性メモリデバイスでは前記内部バッファメモリへ転送された前記更新データを前記内部不揮発性メモリアレーで前記データ更新の前に前記格納済みのデータを格納していた古い物理アドレスと異なる新しい物理アドレスに書き込む内部書き込み動作が実行され、
前記メモリコントローラから前記内部共有バスを介して前記他の1つの不揮発性メモリデバイスへ転送される内部書き込みのコマンドとアドレスとに応答して前記他の1つの不揮発性メモリデバイスでは前記内部バッファメモリへ読み出された前記データ更新の対象でない前記データを前記内部不揮発性メモリアレーで前記データ更新の前に前記データ更新の対象でない前記データを格納していた古い物理アドレスと異なる新しい物理アドレスに書き込む内部書き込み動作が実行される請求項22に記載の不揮発性半導体記憶装置。
In the one non-volatile memory device, the update data transferred to the internal buffer memory is changed to a new physical address different from an old physical address in which the stored data is stored before the data update in the internal non-volatile memory array. An internal write operation to write to the address is executed,
In response to an internal write command and address transferred from the memory controller to the other non-volatile memory device via the internal shared bus, the other non-volatile memory device transmits the internal buffer memory. Internally writing the read data that is not subject to data update to a new physical address that is different from the old physical address that stored the data that is not subject to data update before updating the data in the internal nonvolatile memory array The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 22, wherein a write operation is performed.
前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部不揮発性メモリアレーで前記データ更新の前に前記格納済みの前記データを格納していた前記古い物理アドレスと前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部不揮発性メモリアレーで前記データ更新の対象でない前記データを格納していた前記古い物理アドレスとに対応する前記ホストからの論理アドレスと同一の論理アドレスが前記格納済みの前記データを書き換えする前記ホストからの前記指示と伴に前記メモリコントローラが受信して、
前記データを書き換えする前記ホストからの前記指示と伴に受信された前記同一の論理アドレスに応答して前記メモリコントローラは前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記新しい物理アドレスと前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの前記新しい物理アドレスとをアドレス変換により生成する請求項23に記載の不揮発性半導体記憶装置。
The old physical address storing the stored data before the data update in the internal nonvolatile memory array of the one nonvolatile memory device and the internal nonvolatile memory of the other nonvolatile memory device. The same logical address as the logical address from the host corresponding to the old physical address that has stored the data that is not the target of the data update in the memory array is rewritten from the host that rewrites the stored data. The memory controller receives with the instruction,
Responsive to the same logical address received with the instruction from the host to rewrite the data, the memory controller is responsible for the new physical address of the one non-volatile memory device and the other non-volatile 24. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 23, wherein the new physical address of the memory device is generated by address conversion.
前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記古い物理アドレスと前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記新しい物理アドレスとは前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部不揮発性メモリアレーでそれぞれ異なる消去ブロックに配置され、
前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの前記古い物理アドレスと前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの前記新しい物理アドレスとは前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部不揮発性メモリアレーでそれぞれ異なる消去ブロックに配置された請求項24に記載の不揮発性半導体記憶装置。
The old physical address of the one nonvolatile memory device and the new physical address of the one nonvolatile memory device are arranged in different erase blocks in the internal nonvolatile memory array of the one nonvolatile memory device, respectively.
The old physical address of the other non-volatile memory device and the new physical address of the other non-volatile memory device are different from each other in the internal non-volatile memory array of the other non-volatile memory device. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 24, wherein the nonvolatile semiconductor memory device is arranged in an erase block.
前記メモリコントローラは、前記ホストからの書き込み指示により連続する2つの新規書き込みユーザーデータを前記複数の不揮発性メモリデバイスから選択された前記1つの不揮発性メモリデバイスと前記他の1つの不揮発性メモリデバイスとに書き込むインターリーブ書き込み技術をサポートするものであり、前記ホストからの前記書き込み指示に応答して前記メモリコントローラから前記内部共通バスを介して前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの最初の書き込みユーザーデータが転送され、前記1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリから内部不揮発性メモリアレーへの内部書き込み動作の期間において前記内部共通バスを介して前記メモリコントローラから前記他の1つの不揮発性メモリデバイスの内部バッファメモリに前記連続する2つの新規書き込みユーザーデータのうちの後続の書き込みユーザーデータが転送されることにより、前記1つの不揮発性メモリデバイスの前記内部書き込み動作と前記内部共通バスを介しての前記他の1つの不揮発性メモリデバイスへの前記後続の書き込みユーザーデータのデータ転送とが並列に実行される請求項22から請求項25までのいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。   The memory controller includes: the one non-volatile memory device selected from the plurality of non-volatile memory devices and two other non-volatile memory devices that receive two consecutive new write user data in accordance with a write instruction from the host; In response to the write instruction from the host, the memory controller responds to the write instruction from the memory controller through the internal common bus to the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device. The first write user data among the new write user data is transferred, and the memory block is connected via the internal common bus during the internal write operation from the internal buffer memory of the one nonvolatile memory device to the internal nonvolatile memory array. The subsequent write user data of the two consecutive new write user data is transferred from the controller to the internal buffer memory of the other non-volatile memory device, whereby the internal of the non-volatile memory device The write operation and the data transfer of the subsequent write user data to the other non-volatile memory device via the internal common bus are performed in parallel. The nonvolatile semiconductor memory device described. メモリコントローラと、複数の不揮発性メモリデバイスと、前記メモリコントローラと前記複数の不揮発性メモリデバイスとの間に接続された内部共有バスとを含み、
前記メモリコントローラは、前記内部共有バスを介して前記複数の不揮発性メモリデバイスへの所定の周波数でのデータ転送を実行し、
前記メモリコントローラは、前記複数の不揮発性メモリデバイスから選択された少なくとも2つの不揮発性メモリデバイスを前記所定の周波数よりも低い周波数を持ち、位相の異なる少なくとも2つの選択信号によって交互にアクセスする不揮発性半導体記憶装置。
A memory controller, a plurality of nonvolatile memory devices, and an internal shared bus connected between the memory controller and the plurality of nonvolatile memory devices,
The memory controller executes data transfer at a predetermined frequency to the plurality of nonvolatile memory devices via the internal shared bus,
The memory controller accesses at least two nonvolatile memory devices selected from the plurality of nonvolatile memory devices alternately with at least two selection signals having a frequency lower than the predetermined frequency and having different phases. Semiconductor memory device.
前記2つの選択信号の周波数は前記所定の周波数の略半分の周波数であり、前記2つの選択信号の位相は略逆位相である請求項27に記載の不揮発性半導体記憶装置。   28. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 27, wherein the two selection signals have a frequency that is substantially half the predetermined frequency, and the two selection signals have substantially opposite phases. 前記メモリコントローラは、前記複数の不揮発性メモリデバイスから選択されL個(L>2)の不揮発性メモリデバイスを前記所定の周波数の1/Lの低い周波数を持ち、互いに位相が2π/L異なるL個の選択信号によってシーケンシャルにアクセスする請求項27に記載の不揮発性半導体記憶装置。   The memory controller selects L (L> 2) non-volatile memory devices selected from the plurality of non-volatile memory devices and has a low frequency of 1 / L of the predetermined frequency, and L is different in phase by 2π / L. 28. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 27, wherein the nonvolatile semiconductor memory device is sequentially accessed by a plurality of selection signals.
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