JP2007095733A - Electroluminescence device and electronic apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an EL device in which a luminescence failure due to short-circuit of a cathode and an anode can be prevented and deterioration of a light emitting layer due to invasion of moisture is difficult to occur, and which is superior in reliability. <P>SOLUTION: A pixel region 26 and a peripheral region are formed, and the light emitting layer 20 and a second electrode 21 are continuously arranged in the whole pixel regions 26 and the peripheral regions. First electrodes 19 are arranged in the respective pixel regions 26, and are extensively arranged onto contact holes 23 corresponding to the pixel regions from the respective pixel regions 26. An insulating layer 24 is arranged on the first electrode 19 on the contact hole 23 so that the contact hole 23 is filled with the layer 24. The contact hole 23 and the insulating layer 24 are arranged in the peripheral regions detached from the pixel region 26 to constitute the EL device. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、エレクトロルミネッセンス装置および電子機器に関するものである。   The present invention relates to an electroluminescence device and an electronic apparatus.

従来から、有機EL(ElectroLuminescent)材料などの発光材料からなる発光層を陰極と陽極との間に介在させたEL素子が基板上に配列されたEL装置が提案されている。   2. Description of the Related Art Conventionally, an EL device in which an EL element in which a light emitting layer made of a light emitting material such as an organic EL (Electro Luminescent) material is interposed between a cathode and an anode is arranged on a substrate has been proposed.

このようなEL装置においては、発光層が断絶されることにより陰極と陽極との間で短絡が生じ、陰極と陽極の間に電流が集中して流れて発光層を介する電流がほとんど流れなくなることによって、発光不良が生じる場合があった。
この問題を解決するために、例えば特許文献1には、電極ホールや画素電極の隙間に有機樹脂膜からなる保護部を設けた自発光装置が開示されている。
特開2001−312223号公報
In such an EL device, when the light emitting layer is cut off, a short circuit occurs between the cathode and the anode, and current concentrates and flows between the cathode and the anode so that almost no current flows through the light emitting layer. Depending on the case, a light emission failure may occur.
In order to solve this problem, for example, Patent Document 1 discloses a self-luminous device in which a protective portion made of an organic resin film is provided in a gap between an electrode hole or a pixel electrode.
JP 2001-31223 A

しかしながら、特許文献1に記載の技術では、電極ホールに設けられた保護部が吸水した場合に、EL層に水分が浸入してEL層を劣化させることが問題となっていた。さらに、特許文献1に記載の技術では、画素電極の隙間に設けられた保護部が吸水した場合、保護部を介して複数の画素のEL層に水分が浸入して、複数の画素のEL層の劣化を促すことが問題となっていた。   However, in the technique described in Patent Document 1, when the protective portion provided in the electrode hole absorbs water, there is a problem that moisture enters the EL layer and degrades the EL layer. Furthermore, in the technique described in Patent Document 1, when the protection unit provided in the gap between the pixel electrodes absorbs water, moisture enters the EL layers of the plurality of pixels through the protection unit, and the EL layers of the plurality of pixels. It has been a problem to promote the deterioration of.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、陰極と陽極との短絡による発光不良を防ぐことができるとともに、水分の浸入による発光層の劣化が生じにくい信頼性に優れたEL装置およびそのEL装置を備え、発光不良や発光層の劣化による表示欠陥が生じにくい電子機器を提供することを課題としている。   The present invention has been made in view of such circumstances, and can prevent a light emission failure due to a short circuit between a cathode and an anode, and is excellent in reliability in which a light emitting layer is not easily deteriorated due to infiltration of moisture. It is an object of the present invention to provide an electronic device that includes the device and the EL device and is less likely to cause a display defect due to a light emission failure or deterioration of the light emitting layer.

この課題を解決するために、本発明に係るEL装置は、基板上に第1電極と発光層と第2電極とが順に配置され、前記基板上に前記発光層からの出射光が出射される複数の画素領域と、各画素領域を囲む周辺領域とが形成されたエレクトロルミネッセンス装置であって、前記発光層および前記第2電極が、全ての前記画素領域と前記周辺領域に連続して配置され、前記第1電極が、各画素領域に配置されるとともに、前記各画素領域から各画素領域に対応するコンタクトホール上まで延在して配置され、前記コンタクトホール上であって、前記第1電極上に絶縁層が配置され、前記コンタクトホールおよび前記絶縁層が、前記画素領域と離間して前記周辺領域に配置されていることを特徴とする。   In order to solve this problem, in an EL device according to the present invention, a first electrode, a light emitting layer, and a second electrode are sequentially arranged on a substrate, and light emitted from the light emitting layer is emitted onto the substrate. An electroluminescence device in which a plurality of pixel regions and a peripheral region surrounding each pixel region are formed, wherein the light emitting layer and the second electrode are continuously disposed in all the pixel regions and the peripheral region. The first electrode is disposed in each pixel region and extends from each pixel region to a contact hole corresponding to each pixel region, and is disposed on the contact hole, the first electrode An insulating layer is disposed thereon, and the contact hole and the insulating layer are disposed in the peripheral region apart from the pixel region.

このようなEL装置では、前記コンタクトホールおよび前記絶縁層が、前記画素領域と離間して前記周辺領域に配置されているので、例え、コンタクトホールに充填される絶縁層が吸水したとしても、画素領域の発光層に水分が浸入しにくく、絶縁層が吸水した場合の影響の少ないものとなる。
また、コンタクトホール上の第1電極上は、第1電極上の段差が最も大きい部分であり、第1電極上に配置される発光層の断絶は、第1電極上の段差が大きいほど発生しやすい。本発明のEL装置では、前記コンタクトホール上の前記第1電極上に、前記コンタクトホールを充填する絶縁層が配置されているので、前記第1電極上の最も段差が大きい部分が絶縁層によって平坦化される。よって、発光層の断絶に起因する第1電極と第2電極との短絡による発光不良を効果的に防止できる。
したがって、本発明のEL装置は、信頼性に優れたものとなる。
In such an EL device, since the contact hole and the insulating layer are disposed in the peripheral region apart from the pixel region, even if the insulating layer filled in the contact hole absorbs water, It is difficult for moisture to enter the light emitting layer in the region, and there is little influence when the insulating layer absorbs water.
Further, the first electrode on the contact hole is the portion where the step on the first electrode is the largest, and the breakage of the light emitting layer disposed on the first electrode occurs as the step on the first electrode increases. Cheap. In the EL device of the present invention, since the insulating layer filling the contact hole is disposed on the first electrode on the contact hole, the portion with the largest step on the first electrode is flattened by the insulating layer. It becomes. Therefore, it is possible to effectively prevent a light emission failure due to a short circuit between the first electrode and the second electrode due to the disconnection of the light emitting layer.
Therefore, the EL device of the present invention has excellent reliability.

この課題を解決するために、本発明に係るEL装置は、基板上に第1電極と発光層と第2電極とが順に配置され、前記基板上に前記発光層からの出射光が出射される複数の画素領域と、各画素領域を囲む周辺領域とが形成されたエレクトロルミネッセンス装置であって、前記発光層および前記第2電極が、全ての前記画素領域と前記周辺領域に連続して配置され、前記第1電極が、各画素領域に配置されるとともに、前記各画素領域から各画素領域に対応するコンタクトホール上まで延在して配置され、各画素領域を露出する開口を有し、前記周辺領域に端部が配置されることにより前記画素領域を個別に離間して取り囲み、前記第1電極の膜厚によって前記第1電極の端部に形成された段差と前記コンタクトホール上の前記第1電極上とを覆って、前記コンタクトホールに充填される絶縁層が配置されていることを特徴とする。   In order to solve this problem, in an EL device according to the present invention, a first electrode, a light emitting layer, and a second electrode are sequentially arranged on a substrate, and light emitted from the light emitting layer is emitted onto the substrate. An electroluminescence device in which a plurality of pixel regions and a peripheral region surrounding each pixel region are formed, wherein the light emitting layer and the second electrode are continuously disposed in all the pixel regions and the peripheral region. The first electrode is disposed in each pixel region, and extends from each pixel region to a contact hole corresponding to each pixel region, and has an opening that exposes each pixel region, An edge portion is disposed in the peripheral region so as to individually surround the pixel region, and a step formed at the end portion of the first electrode by the film thickness of the first electrode and the first over the contact hole. On one electrode I, wherein the insulating layer filled in the contact hole is disposed.

このようなEL装置においては、各画素領域を露出する開口を有し、前記周辺領域に端部が配置されることにより前記画素領域を個別に離間して取り囲む絶縁層が配置されているものであるので、例え、絶縁層が吸水したとしても、絶縁層を介して隣接する画素領域の発光層に水分が浸入することがなく、絶縁層が吸水した場合の影響の少ない信頼性に優れたものとなる。
また、このようなEL装置においては、第1電極の膜厚によって前記第1電極の端部に形成された段差と前記コンタクトホール上の前記第1電極上とを覆い、前記コンタクトホールを充填するように絶縁層が配置されているので、前記第1電極上の段差が大きい部分が絶縁層によって平坦化される。よって、発光層の断絶に起因する第1電極と第2電極との短絡による発光不良を効果的に防止でき、信頼性に優れたものとなる。
In such an EL device, an insulating layer is provided that has an opening that exposes each pixel region, and an end portion is disposed in the peripheral region to separately surround the pixel region. Therefore, even if the insulating layer absorbs water, moisture does not enter the light emitting layer in the adjacent pixel region via the insulating layer, and the reliability is small and has little influence when the insulating layer absorbs water. It becomes.
Also, in such an EL device, the contact hole is filled by covering the step formed at the end of the first electrode with the film thickness of the first electrode and the first electrode on the contact hole. Since the insulating layer is arranged as described above, a portion having a large step on the first electrode is flattened by the insulating layer. Therefore, it is possible to effectively prevent a light emission failure due to a short circuit between the first electrode and the second electrode due to the disconnection of the light emitting layer, and the reliability is improved.

また、本発明のEL装置では、前記画素領域に配置された前記発光層の前記基板側に、前記発光層からの出射光を反射する光反射層が配置されているものとすることができる。
このようなEL装置とすることで、発光層からの出射光を基板と反対側に向かって効率よく出射するトップエミッション型のEL装置を実現できる。
In the EL device of the present invention, a light reflecting layer that reflects light emitted from the light emitting layer may be disposed on the substrate side of the light emitting layer disposed in the pixel region.
By using such an EL device, a top emission type EL device that efficiently emits light emitted from the light emitting layer toward the side opposite to the substrate can be realized.

また、本発明のEL装置では、前記光反射層上にパシベーション層を介して前記第1電極が設けられているものとすることができる。
このようなEL装置とすることで、第1電極のパターニングの際に光反射層がエッチング液に晒されて浸食するのを防止することができ、信頼性の優れたものになる。
また、特に、第1電極を複数回パターニングすることで共振構造を構成する場合には、パシベーション層は光反射層を保護するために不可欠なものとして機能する。
In the EL device of the present invention, the first electrode may be provided on the light reflection layer via a passivation layer.
By using such an EL device, it is possible to prevent the light reflecting layer from being exposed to the etching solution and being eroded during the patterning of the first electrode, and the reliability is improved.
In particular, when the resonant structure is formed by patterning the first electrode a plurality of times, the passivation layer functions as an indispensable element for protecting the light reflecting layer.

また、本発明のEL装置では、前記絶縁層が、樹脂層であるものとすることができる。
このようなEL装置とすることで、第1電極上の最も段差が大きい部分であるコンタクトホール上の第1電極上を容易に高い信頼性で覆うことができる。
In the EL device of the present invention, the insulating layer may be a resin layer.
With such an EL device, the first electrode on the contact hole, which is the portion with the largest step on the first electrode, can be easily covered with high reliability.

本発明の電子機器は、上記のいずれかに記載のEL装置を具備することを特徴とする。
このような電子機器によれば、信頼性の高いEL装置を備え、発光不良や発光層の劣化による表示欠陥が生じにくい電子機器を実現できる。
An electronic apparatus according to the present invention includes any of the above-described EL devices.
According to such an electronic device, it is possible to realize an electronic device that includes a highly reliable EL device and is less likely to cause display defects due to light emission failure or deterioration of the light emitting layer.

以下、本発明の実施形態を例に挙げて説明する。なお、以降の説明では図面を用いて各種の構造を例示するが、これらの図面に示される構造は特徴的な部分を分かり易く示すために実際の構造に対して寸法を異ならせて示す場合がある。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described as an example. In the following description, various structures are illustrated using drawings, but the structures shown in these drawings may be shown with different dimensions from the actual structures in order to show the characteristic parts in an easy-to-understand manner. is there.

<第1実施形態>
まず、本発明の第1実施形態に係るEL装置について説明する。
図1は、本実施形態に係るEL装置の断面構造を示した断面図である。また、図2は、図1に示すEL装置の平面構造を示した図であり、基板上における絶縁層の配置を説明するための図である。なお、図1は、図2に示す線分A−A’で切断した線視断面図である。また、図2においては、図面を見やすくするために、基板上における絶縁層の配置を説明するために必要な部材のみを示し、他の部材の記載を省略して示している。
<First Embodiment>
First, the EL device according to the first embodiment of the present invention will be described.
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a cross-sectional structure of an EL device according to this embodiment. FIG. 2 is a diagram showing a planar structure of the EL device shown in FIG. 1, and is a diagram for explaining the arrangement of the insulating layer on the substrate. 1 is a cross-sectional view taken along line AA ′ shown in FIG. Further, in FIG. 2, only the members necessary for explaining the arrangement of the insulating layer on the substrate are shown and the other members are not shown for easy understanding of the drawing.

図1および図2において、符号11は基板を示している。本実施形態におけるEL装置は、発光層20で発生した光が基板11と反対側に向かって出射するトップエミッション型である。したがって、基板11として、ガラスなどの光透過性を有する板材のほか、セラミックスや金属のシートなど不透明な板材を採用することができる。
また、図2に示すように、基板11上には、図1に示す発光層20からの出射光の出射される複数の画素領域26がマトリクス状に形成されている。なお、本実施形態においては、図1に示す光反射層17の形成領域と平面的に重なり合う領域が画素領域26となっている。さらに、基板11上には、各画素領域26を囲む周辺領域28が形成されている。周辺領域28は、隣り合う画素領域26間に位置する中間領域28aと、画素領域26と基板11の端部11aとの間に位置する外周領域28bとからなる。
In FIG. 1 and FIG. 2, the code | symbol 11 has shown the board | substrate. The EL device according to this embodiment is a top emission type in which light generated in the light emitting layer 20 is emitted toward the side opposite to the substrate 11. Therefore, an opaque plate material such as a ceramic or metal sheet can be used as the substrate 11 in addition to a light-transmitting plate material such as glass.
As shown in FIG. 2, a plurality of pixel regions 26 from which light emitted from the light emitting layer 20 shown in FIG. 1 is emitted are formed on the substrate 11 in a matrix. In the present embodiment, a region that overlaps the formation region of the light reflection layer 17 shown in FIG. Further, a peripheral region 28 surrounding each pixel region 26 is formed on the substrate 11. The peripheral region 28 includes an intermediate region 28 a located between adjacent pixel regions 26 and an outer peripheral region 28 b located between the pixel region 26 and the end portion 11 a of the substrate 11.

また、図1において、符号12は下地層を示している。下地層12は、例えば酸化珪素(SiOx)や窒化珪素(SiNx)などの絶縁材料によって形成された膜体である。
下地層12の上には、TFT30、40が設けられている。TFT30、40は、ゲート電極31、41と、ドレイン電極に接続されたドレイン配線32、42と、ソース電極に接続されたソース配線33、43と、半導体層34、44とを備えている。また、符号13はゲート絶縁膜、符号14は層間絶縁膜を示している。
Moreover, in FIG. 1, the code | symbol 12 has shown the base layer. The underlayer 12 is a film body formed of an insulating material such as silicon oxide (SiOx) or silicon nitride (SiNx).
On the underlayer 12, TFTs 30 and 40 are provided. The TFTs 30 and 40 include gate electrodes 31 and 41, drain wirings 32 and 42 connected to the drain electrode, source wirings 33 and 43 connected to the source electrode, and semiconductor layers 34 and 44. Reference numeral 13 denotes a gate insulating film, and reference numeral 14 denotes an interlayer insulating film.

TFT30、40の上には、酸化珪素(SiOx)や窒化珪素(SiNx)などの絶縁材料からなる第1パッシベーション層15がTFT30、40の形状に沿って形成されている。また、第1パッシベーション層15の上には、TFT30、40が形成された基板11上を平坦化する平坦化層16が設けられている。平坦化層16としては、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂などの有機樹脂材料を用いることができる。
平坦化層16が形成された基板11の表面上には、各画素領域26に対応する位置に、光反射層17が形成されている。光反射層17は、発光層20からの出射光を反射するものであり、アルミニウムや銀などの単体金属、またはアルミニウムや銀を主成分とする合金といった様々な光反射性を有する材料からなる。
On the TFTs 30 and 40, a first passivation layer 15 made of an insulating material such as silicon oxide (SiOx) or silicon nitride (SiNx) is formed along the shape of the TFTs 30 and 40. Further, on the first passivation layer 15, a planarizing layer 16 for planarizing the substrate 11 on which the TFTs 30 and 40 are formed is provided. As the planarizing layer 16, an organic resin material such as an acrylic resin, a polyimide resin, or a polyamide resin can be used.
On the surface of the substrate 11 on which the planarizing layer 16 is formed, the light reflecting layer 17 is formed at a position corresponding to each pixel region 26. The light reflecting layer 17 reflects light emitted from the light emitting layer 20, and is made of various light reflective materials such as a single metal such as aluminum or silver, or an alloy mainly composed of aluminum or silver.

また、平坦化層16が形成された基板11の表面上には、第2パッシベーション層18が表面形状に沿って形成されている。第2パッシベーション層18は、例えば酸化珪素(SiOx)や窒化珪素(SiNx)といった光透過性を有する絶縁材料によって形成される。   A second passivation layer 18 is formed along the surface shape on the surface of the substrate 11 on which the planarizing layer 16 is formed. The second passivation layer 18 is formed of an insulating material having optical transparency such as silicon oxide (SiOx) or silicon nitride (SiNx).

第2パッシベーション層18上には、ITO(Indium Tin Oxide)やIZO(Indium Zinc Oxide)といった光透過性の導電材料からなる画素電極(第1電極)19が形成されている。画素電極19は、図1に示すように各画素領域26に配置されるとともに、各画素領域26から各画素領域26に対応するコンタクトホール23上まで延在して配置されている。   A pixel electrode (first electrode) 19 made of a light-transmitting conductive material such as ITO (Indium Tin Oxide) or IZO (Indium Zinc Oxide) is formed on the second passivation layer 18. As shown in FIG. 1, the pixel electrode 19 is disposed in each pixel region 26 and extends from each pixel region 26 to the contact hole 23 corresponding to each pixel region 26.

コンタクトホール23は、第1パッシベーション層15と平坦化層16と第2パッシベーション層18とを貫通して露出されたTFT40のドレイン配線42と、画素電極19とを電気的に接続するためのものである。本実施形態では、コンタクトホール23は、図1および図2に示すように、画素領域26と離間して中間領域28aまたは外周領域28bに形成されている。   The contact hole 23 is for electrically connecting the pixel electrode 19 and the drain wiring 42 of the TFT 40 exposed through the first passivation layer 15, the planarization layer 16, and the second passivation layer 18. is there. In the present embodiment, the contact hole 23 is formed in the intermediate region 28a or the outer peripheral region 28b so as to be separated from the pixel region 26, as shown in FIGS.

また、図1および図2に示すように、コンタクトホール23上の画素電極19上には、コンタクトホール23を充填する絶縁層24が配置されている。絶縁層24は、画素領域26と離間して中間領域28aまたは外周領域28bに平面視島状に配置されているとともに、各画素領域26の近傍に形成されたコンタクトホールに付随してそれぞれ独立して形成されている。絶縁層24としては、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂などの有機樹脂材料を用いることができるが、平坦化層16と同じ材料を用いることが望ましい。絶縁層24を平坦化層16と同じ材料からなるものとする場合、材料を効率よく用いることができる。また、絶縁層24は、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術や、インクジェット法等の液滴吐出法によって形成することができるが、インクジェット法等の液滴吐出法によって形成した場合、製造工程の簡略化を図ることができる。   As shown in FIGS. 1 and 2, an insulating layer 24 filling the contact hole 23 is disposed on the pixel electrode 19 on the contact hole 23. The insulating layer 24 is spaced apart from the pixel region 26 and arranged in an island shape in the plan view in the intermediate region 28a or the outer peripheral region 28b, and is independently associated with a contact hole formed in the vicinity of each pixel region 26. Is formed. As the insulating layer 24, an organic resin material such as an acrylic resin, a polyimide resin, or a polyamide resin can be used, but it is preferable to use the same material as the planarizing layer 16. When the insulating layer 24 is made of the same material as the planarizing layer 16, the material can be used efficiently. The insulating layer 24 can be formed by a photolithography technique, an etching technique, or a droplet discharge method such as an ink jet method, but when formed by a droplet discharge method such as an ink jet method, the manufacturing process is simplified. I can plan.

絶縁層24が形成された基板11の表面上には、発光層20および第2電極21が、全ての画素領域26と中間領域28aに連続して配置されている。
発光層20は、有機EL材料からなる発光層を含む複数の機能層を積層した構造となっている。画素電極19は、発光層20に電気エネルギーを付与するための陽極として機能する。一方、各発光層20の表面には、発光層20の陰極として機能する第2電極21が形成されている。ただし、画素電極19が陰極として機能するとともに第2電極21が陽極として機能する構成としてもよい。
On the surface of the substrate 11 on which the insulating layer 24 is formed, the light emitting layer 20 and the second electrode 21 are continuously arranged in all the pixel regions 26 and the intermediate region 28a.
The light emitting layer 20 has a structure in which a plurality of functional layers including a light emitting layer made of an organic EL material are stacked. The pixel electrode 19 functions as an anode for applying electric energy to the light emitting layer 20. On the other hand, a second electrode 21 that functions as a cathode of the light emitting layer 20 is formed on the surface of each light emitting layer 20. However, the pixel electrode 19 may function as a cathode and the second electrode 21 may function as an anode.

本実施形態における発光層20は、正孔輸送層と発光機能層と電子輸送層という3種類の機能層を基板11側から第2電極21側に向かってこの順番に積層した構造となっている。ただし、発光層20の構造はこの例示に限定されない。例えば、正孔輸送層と画素電極19との間に正孔注入層を介在させた構成や、電子輸送層と第2電極21との間に電子注入層を介在させた構成としてもよい。すなわち、画素電極19と第2電極21との間に発光機能層が介在する構成であれば足りる。   The light emitting layer 20 in the present embodiment has a structure in which three types of functional layers, a hole transport layer, a light emitting functional layer, and an electron transport layer, are laminated in this order from the substrate 11 side to the second electrode 21 side. . However, the structure of the light emitting layer 20 is not limited to this example. For example, a configuration in which a hole injection layer is interposed between the hole transport layer and the pixel electrode 19 or a configuration in which an electron injection layer is interposed between the electron transport layer and the second electrode 21 may be employed. In other words, a configuration in which a light emitting functional layer is interposed between the pixel electrode 19 and the second electrode 21 is sufficient.

第2電極21は、例えばITO(Indium Tin Oxide)などの光透過性を有する材料によって形成される。第2電極21の表面上には、全面を覆うように第3パッシベーション層22が形成されている。第3パッシベーション層22は、例えば酸化珪素(SiOx)や窒化珪素(SiNx)といった光透過性を有する絶縁材料によって形成される。   The second electrode 21 is formed of a light-transmitting material such as ITO (Indium Tin Oxide). A third passivation layer 22 is formed on the surface of the second electrode 21 so as to cover the entire surface. The third passivation layer 22 is formed of an insulating material having optical transparency such as silicon oxide (SiOx) or silicon nitride (SiNx).

ここで、上述した本実施形態のEL装置の効果について以下に、対比例を挙げて詳述する。
図5は、対比例に係るEL装置の平面構造を示した図であり、上述した第1実施形態における図2に対応する図である。なお、図5において、図2と同一の部分については同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分のみ説明する。
Here, the effects of the above-described EL device according to the present embodiment will be described in detail below in proportion.
FIG. 5 is a diagram illustrating a planar structure of the EL device according to the comparative example, and corresponds to FIG. 2 in the first embodiment described above. In FIG. 5, the same parts as those in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and only different parts are described.

図5に示すEL装置が、図2に示すEL装置と異なるところは、基板上における絶縁層の配置のみである。具体的には、図2に示すEL装置では、絶縁層24が、中間領域28aまたは外周領域28bに平面視島状に配置されているとともに、各画素領域26の近傍に形成されたコンタクトホール23に付随してそれぞれ独立して形成されている。
これに対し、図5に示すEL装置では、絶縁層240が、中間領域28aおよび外周領域28bの全面および光反射層17の形成領域の周縁部と平面的に重なり合う領域上に配置されており、絶縁層240に、光反射層17の中央部と平面的に重なり合う領域である各画素領域26のみを露出する開口280が設けられている点である。
なお、図5に示すEL装置においては、光反射層17の形成領域の周縁部と平面的に重なり合う領域にも絶縁層240が設けられていることにより画素領域26が開口280の形成領域となっている。
The EL device shown in FIG. 5 differs from the EL device shown in FIG. 2 only in the arrangement of the insulating layer on the substrate. Specifically, in the EL device shown in FIG. 2, the insulating layer 24 is arranged in an island shape in a plan view in the intermediate region 28a or the outer peripheral region 28b, and the contact hole 23 formed in the vicinity of each pixel region 26. Are formed independently of each other.
On the other hand, in the EL device shown in FIG. 5, the insulating layer 240 is disposed on the entire surface of the intermediate region 28 a and the outer peripheral region 28 b and the region overlapping the peripheral portion of the formation region of the light reflecting layer 17 in a plane. The insulating layer 240 is provided with an opening 280 that exposes only each pixel region 26 that is a region that overlaps the central portion of the light reflecting layer 17 in a planar manner.
In the EL device shown in FIG. 5, the pixel region 26 becomes the formation region of the opening 280 because the insulating layer 240 is also provided in a region overlapping the peripheral portion of the formation region of the light reflection layer 17 in a plan view. ing.

図5に示すEL装置では、絶縁層240が吸水した場合、水分が画素領域26の発光層に容易に到達してしまう。また、絶縁層240が吸水した部分が絶縁層240の全体でなく一部であったとしても、吸水した部分から最も近い画素領域26だけでなく、その画素領域26に隣接する画素領域26の発光層に、絶縁層240を介して容易に水分が浸入してしまう。このため、絶縁層240が吸水した場合の影響は広い範囲に及ぶ。   In the EL device shown in FIG. 5, when the insulating layer 240 absorbs water, the water easily reaches the light emitting layer in the pixel region 26. In addition, even if the portion absorbed by the insulating layer 240 is not the entire insulating layer 240 but a part thereof, not only the pixel region 26 closest to the absorbed portion but also the light emission of the pixel region 26 adjacent to the pixel region 26. Water easily enters the layer through the insulating layer 240. For this reason, the influence when the insulating layer 240 absorbs water covers a wide range.

これに対し、図2に示すEL装置では、絶縁層24が、画素領域26と離間して中間領域28aまたは外周領域28bに平面視島状に配置されているとともに、各画素領域26の近傍に形成されたコンタクトホール23に付随してそれぞれ独立して形成されているので、例え、絶縁層24が吸水したとしても、画素領域26の発光層に水分が浸入しにくいし、絶縁層24を介して隣接する画素領域26の発光層に水分が浸入することもない。よって、図2に示すEL装置は、絶縁層24が吸水した場合の影響が非常に少ない信頼性に優れたものとなる。   On the other hand, in the EL device shown in FIG. 2, the insulating layer 24 is spaced apart from the pixel region 26 and arranged in the intermediate region 28 a or the outer peripheral region 28 b in an island shape in plan view, and in the vicinity of each pixel region 26. Since the contact holes 23 are formed independently of each other, even if the insulating layer 24 absorbs water, moisture does not easily enter the light emitting layer of the pixel region 26 and the insulating layer 24 is interposed. In addition, moisture does not enter the light emitting layer of the adjacent pixel region 26. Therefore, the EL device shown in FIG. 2 has excellent reliability with very little influence when the insulating layer 24 absorbs water.

また、図2に示すEL装置では、図1に示すように、コンタクトホール23上であって画素電極19上に、コンタクトホール23を充填するように絶縁層24が配置されているので、画素電極19上の最も段差が大きい部分が絶縁層24によって平坦化される。よって、発光層20の断絶に起因する画素電極19と第2電極21との短絡による発光不良を効果的に防止できる。   In the EL device shown in FIG. 2, since the insulating layer 24 is disposed on the contact hole 23 and on the pixel electrode 19 so as to fill the contact hole 23, as shown in FIG. The portion having the largest step on 19 is flattened by the insulating layer 24. Therefore, it is possible to effectively prevent a light emission failure due to a short circuit between the pixel electrode 19 and the second electrode 21 due to the disconnection of the light emitting layer 20.

<第2実施形態>
次に、本発明の第2実施形態に係るEL装置について説明する。
図3は、本実施形態に係るEL装置の断面構造を示した断面図である。また、図4は、図3に示すEL装置の平面構造を示した図であり、基板上における絶縁層の配置を説明するための図である。なお、図3は、図4に示す線分B−B’で切断した線視断面図である。また、図4においては、図面を見やすくするために、基板上における絶縁層の配置を説明するために必要な部材のみを示し、他の部材の記載を省略して示している。
なお、図3および図4において、図1および図2と同一の部分については同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分のみ説明する。
Second Embodiment
Next, an EL device according to a second embodiment of the invention will be described.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a cross-sectional structure of the EL device according to this embodiment. FIG. 4 is a diagram showing a planar structure of the EL device shown in FIG. 3, and is a diagram for explaining the arrangement of the insulating layer on the substrate. 3 is a cross-sectional view taken along line BB ′ shown in FIG. Further, in FIG. 4, in order to make the drawing easier to see, only members necessary for explaining the arrangement of the insulating layer on the substrate are shown, and the description of other members is omitted.
3 and 4, the same parts as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and only different parts are described.

図3および図4に示すEL装置が、図1および図2に示すEL装置と異なるところは、基板上における絶縁層の配置のみである。
本実施形態のEL装置では、図3および図4に示すように、絶縁層25が、各画素領域27を露出する開口25bを有し、中間領域28aに(または中間領域28aと外周領域28bとに)端部25aが配置されることにより複数の画素領域27を個別に離間して取り囲み、図3に示すように、画素電極19の膜厚によって画素電極19の端部に形成された段差と、光反射層17の膜厚によって光反射層17の端部に形成された段差と、コンタクトホール23上の画素電極19上とを覆い、且つ、コンタクトホール23に充填された構成としている。
なお、図3および図4に示すように、本実施形態のEL装置においては、光反射層17の形成領域の周縁部と平面的に重なり合う領域にも絶縁層25が設けられていることにより画素領域27が開口25bの形成領域となっている。
The EL device shown in FIGS. 3 and 4 differs from the EL device shown in FIGS. 1 and 2 only in the arrangement of the insulating layer on the substrate.
In the EL device of this embodiment, as shown in FIGS. 3 and 4, the insulating layer 25 has an opening 25b that exposes each pixel region 27, and the intermediate region 28a (or the intermediate region 28a and the outer peripheral region 28b) B) by arranging the end portion 25a so as to individually surround and surround the plurality of pixel regions 27, and as shown in FIG. 3, the step formed on the end portion of the pixel electrode 19 by the film thickness of the pixel electrode 19 The step formed at the end of the light reflecting layer 17 by the film thickness of the light reflecting layer 17 and the pixel electrode 19 on the contact hole 23 are covered and filled in the contact hole 23.
As shown in FIGS. 3 and 4, in the EL device of this embodiment, the insulating layer 25 is also provided in the region overlapping the peripheral edge of the region where the light reflecting layer 17 is formed, thereby providing a pixel. The region 27 is a region where the opening 25b is formed.

図3および図4に示すEL装置では、絶縁層25が、各画素領域27を露出する開口25bを有し、周辺領域28に端部25aが配置されることにより複数の画素領域27を個別に離間して取り囲んでそれぞれ独立して形成されているので、例え、絶縁層25が吸水したとしても、絶縁層25を介して隣接する画素領域27の発光層に水分が浸入することはない。よって、絶縁層25が吸水した場合の影響が非常に少ない信頼性に優れたEL装置となる。
また、図3および図4に示すEL装置においては、絶縁層25が、画素電極19の膜厚によって画素電極19の端部に形成された段差と、光反射層17の膜厚によって光反射層17の端部に形成された段差と、コンタクトホール23上の画素電極19上とを覆い、コンタクトホール23に充填されているので、画素電極19上の段差が大きい部分が絶縁層25によって平坦化される。よって、発光層20の断絶に起因する画素電極19と第2電極21との短絡による発光不良を効果的に防止でき、信頼性に優れたものとなる。
In the EL device shown in FIG. 3 and FIG. 4, the insulating layer 25 has an opening 25 b that exposes each pixel region 27, and the end portion 25 a is arranged in the peripheral region 28, whereby a plurality of pixel regions 27 are individually separated. Since they are formed so as to be separated and surrounded independently, even if the insulating layer 25 absorbs water, moisture does not enter the light emitting layer of the adjacent pixel region 27 via the insulating layer 25. Therefore, the EL device is excellent in reliability with very little influence when the insulating layer 25 absorbs water.
In the EL device shown in FIGS. 3 and 4, the insulating layer 25 has a light reflecting layer formed by the step formed at the end of the pixel electrode 19 by the film thickness of the pixel electrode 19 and the film thickness of the light reflecting layer 17. 17 covers the pixel electrode 19 on the contact hole 23 and the pixel electrode 19 on the contact hole 23, and is filled in the contact hole 23, so that the large step on the pixel electrode 19 is flattened by the insulating layer 25. Is done. Therefore, it is possible to effectively prevent a light emission failure due to a short circuit between the pixel electrode 19 and the second electrode 21 due to the disconnection of the light emitting layer 20 and to have excellent reliability.

なお、上述した実施形態には様々な変形を加えることができる。
例えば、上述した実施形態においては、光反射層17が形成されたものを例に挙げて説明したが、光反射層17はなくてもよい。
Various modifications can be made to the above-described embodiment.
For example, in the above-described embodiment, the example in which the light reflecting layer 17 is formed has been described as an example, but the light reflecting layer 17 may not be provided.

<電子機器>
次に、本発明に係る発光装置を利用した電子機器について説明する。
図6は、図1に示すEL装置を表示装置として適用した携帯電話機の構成を示す。携帯電話機1000は、複数の操作ボタン1001およびスクロールボタン1002、ならびに表示装置としてのEL装置1004を備える。
<Electronic equipment>
Next, an electronic apparatus using the light emitting device according to the present invention will be described.
FIG. 6 shows a configuration of a mobile phone to which the EL device shown in FIG. 1 is applied as a display device. A cellular phone 1000 includes a plurality of operation buttons 1001, scroll buttons 1002, and an EL device 1004 as a display device.

なお、本発明に係る発光装置が適用される電子機器としては、図6に示したもののほか、パーソナルコンピュータ、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、プリンタ、スキャナ、複写機、ビデオプレーヤ、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。
また、本発明に係る発光装置の用途は画像の表示に限定されない。例えば、液晶パネルのバックライトとして本発明の発光装置を利用することも可能である。
Note that electronic devices to which the light emitting device according to the present invention is applied include those shown in FIG. 6, personal computers, digital still cameras, televisions, video cameras, car navigation devices, pagers, electronic notebooks, electronic papers, calculators. , Word processors, workstations, videophones, POS terminals, printers, scanners, copiers, video players, devices equipped with touch panels, and the like.
Further, the use of the light emitting device according to the present invention is not limited to the display of images. For example, the light emitting device of the present invention can be used as a backlight of a liquid crystal panel.

図1は、本実施形態に係るEL装置の断面構造を示した断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing a cross-sectional structure of an EL device according to this embodiment. 図2は、図1に示すEL装置の平面構造を示した図であり、基板上における絶縁層の配置を説明するための図である。FIG. 2 is a diagram showing a planar structure of the EL device shown in FIG. 1, and is a diagram for explaining the arrangement of insulating layers on the substrate. 図3は、本実施形態に係るEL装置の断面構造を示した断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a cross-sectional structure of the EL device according to this embodiment. 図4は、図3に示すEL装置の平面構造を示した図であり、基板上における絶縁層の配置を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram showing a planar structure of the EL device shown in FIG. 3, and is a diagram for explaining the arrangement of the insulating layer on the substrate. 図5は、対比例に係るEL装置の平面構造を示した図であり、上述した第1実施形態における図2に対応する図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a planar structure of the EL device according to the comparative example, and corresponds to FIG. 2 in the first embodiment described above. 本発明に係る電子機器の一例を示した斜視図である。It is the perspective view which showed an example of the electronic device which concerns on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

11…基板、12…下地層、13…ゲート絶縁膜、14…層間絶縁膜、15…第1パッシベーション層、16…平坦化層、17…光反射層、18…第2パッシベーション層、19…画素電極(第1電極)、20…発光層、21…第2電極、22…第3パッシベーション層、23…コンタクトホール、24、25、240…絶縁層、25a…端部、25b、280…開口、26、27…画素領域、28…周辺領域、28a…中間領域、28b…外周領域、30、40…TFT、31、41…ゲート電極、32、42…ドレイン配線、33、43…ソース配線。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Board | substrate, 12 ... Underlayer, 13 ... Gate insulating film, 14 ... Interlayer insulating film, 15 ... 1st passivation layer, 16 ... Planarization layer, 17 ... Light reflection layer, 18 ... 2nd passivation layer, 19 ... Pixel Electrode (first electrode), 20 ... light emitting layer, 21 ... second electrode, 22 ... third passivation layer, 23 ... contact hole, 24, 25, 240 ... insulating layer, 25a ... end, 25b, 280 ... opening, 26, 27 ... Pixel region, 28 ... Peripheral region, 28a ... Intermediate region, 28b ... Outer peripheral region, 30, 40 ... TFT, 31, 41 ... Gate electrode, 32, 42 ... Drain wiring, 33, 43 ... Source wiring.

Claims (6)

基板上に第1電極と発光層と第2電極とが順に配置され、
前記基板上に前記発光層からの出射光が出射される複数の画素領域と、各画素領域を囲む周辺領域とが形成されたエレクトロルミネッセンス装置であって、
前記発光層および前記第2電極が、全ての前記画素領域と前記周辺領域に連続して配置され、
前記第1電極が、各画素領域に配置されるとともに、前記各画素領域から各画素領域に対応するコンタクトホール上まで延在して配置され、
前記コンタクトホール上であって、前記第1電極上に絶縁層が配置され、
前記コンタクトホールおよび前記絶縁層が、前記画素領域と離間して前記周辺領域に配置されていることを特徴とするエレクトロルミネッセンス装置。
A first electrode, a light emitting layer, and a second electrode are sequentially disposed on the substrate,
An electroluminescence device in which a plurality of pixel regions from which light emitted from the light emitting layer is emitted and a peripheral region surrounding each pixel region are formed on the substrate,
The light emitting layer and the second electrode are continuously disposed in all the pixel region and the peripheral region,
The first electrode is disposed in each pixel region and extends from each pixel region to a contact hole corresponding to each pixel region,
An insulating layer is disposed on the contact hole and on the first electrode;
The electroluminescence device according to claim 1, wherein the contact hole and the insulating layer are arranged in the peripheral region apart from the pixel region.
基板上に第1電極と発光層と第2電極とが順に配置され、
前記基板上に前記発光層からの出射光が出射される複数の画素領域と、各画素領域を囲む周辺領域とが形成されたエレクトロルミネッセンス装置であって、
前記発光層および前記第2電極が、全ての前記画素領域と前記周辺領域に連続して配置され、
前記第1電極が、各画素領域に配置されるとともに、前記各画素領域から各画素領域に対応するコンタクトホール上まで延在して配置され、
各画素領域を露出する開口を有し、
前記周辺領域に端部が配置されることにより前記画素領域を個別に離間して取り囲み、
前記第1電極の膜厚によって前記第1電極の端部に形成された段差と前記コンタクトホール上の前記第1電極上とを覆って、前記コンタクトホールに充填される、絶縁層が配置されていることを特徴とするエレクトロルミネッセンス装置。
A first electrode, a light emitting layer, and a second electrode are sequentially disposed on the substrate,
An electroluminescence device in which a plurality of pixel regions from which light emitted from the light emitting layer is emitted and a peripheral region surrounding each pixel region are formed on the substrate,
The light emitting layer and the second electrode are continuously disposed in all the pixel region and the peripheral region,
The first electrode is disposed in each pixel region and extends from each pixel region to a contact hole corresponding to each pixel region,
Having an opening exposing each pixel region;
Surrounding the pixel regions separately by being arranged with an end in the peripheral region,
An insulating layer is disposed to cover the step formed at the end of the first electrode by the film thickness of the first electrode and the first electrode on the contact hole, and fill the contact hole. An electroluminescence device characterized by comprising:
前記画素領域に配置された前記発光層の前記基板側に、前記発光層からの出射光を反射する光反射層が配置されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のエレクトロルミネッセンス装置。   3. The electro according to claim 1, wherein a light reflection layer that reflects light emitted from the light emitting layer is disposed on the substrate side of the light emitting layer disposed in the pixel region. Luminescence device. 前記光反射層上にパシベーション層を介して前記第1電極が設けられていることを特徴とする請求項3に記載のエレクトロルミネッセンス装置。   The electroluminescent device according to claim 3, wherein the first electrode is provided on the light reflecting layer via a passivation layer. 前記絶縁層が、樹脂層であることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載のエレクトロルミネッセンス装置。   The electroluminescent device according to any one of claims 1 to 4, wherein the insulating layer is a resin layer. 請求項1から請求項5のいずれかに記載のエレクトロルミネッセンス装置を具備する電子機器。
An electronic apparatus comprising the electroluminescence device according to any one of claims 1 to 5.
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