JP2006292630A - Frequency measuring method for piezoelectric vibrating plate, frequency classifying method for piezoelectric vibrating plate, frequency measuring apparatus for piezoelectric vibrating plate, and frequency classifying apparatus for piezoelectric vibrating plate - Google Patents
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Abstract
Description
本発明はATカット水晶振動板等の圧電振動板の周波数測定方法および周波数測定装置に関するとともに、当該測定結果に応じて圧電振動板を分類・選別する、圧電振動板の周波数分類方法および周波数分類装置に関するものである。 The present invention relates to a frequency measuring method and a frequency measuring apparatus for a piezoelectric diaphragm such as an AT-cut quartz diaphragm, and also classifies and sorts piezoelectric diaphragms according to the measurement results, and a frequency classification method and a frequency classification apparatus for piezoelectric diaphragms It is about.
例えば、ATカット水晶振動板は、その厚さに周波数が依存することが知られており、所定の厚さに平面研磨することにより所望の周波数を得ている。しかしながら製造ばらつきによりその厚さすなわち周波数がばらつくことは実務上不可避であり、励振電極形成工程前に素板状態での周波数を測定し、周波数帯毎にグループ化し、そしてグループ毎に励振電極形成量(厚さ)を決定することが行われていた。 For example, it is known that the frequency of an AT-cut quartz diaphragm depends on its thickness, and a desired frequency is obtained by surface polishing to a predetermined thickness. However, it is unavoidable that the thickness or frequency varies due to manufacturing variations. In practice, the frequency in the base plate state is measured before the excitation electrode forming process, the frequency is grouped for each frequency band, and the amount of excitation electrode formed for each group. (Thickness) was determined.
素板状態での周波数測定は、例えば特開平11−142456号(特許文献1)に示すように、下部電極上に載せた圧電共振子に対し上部電極を非接触で近接させエアギャップ方式にて測定を行うことが知られている。このような測定はギャップ(近接距離)によってもその精度が異なってくるので、適切なギャップを設定することが重要であり、特許文献1においては上部電極の上部に設けられたマイクロメータにより上部電極を手動にて上下動させギャップを調整していた。
For example, as shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-142456 (Patent Document 1), the frequency measurement in the base plate state is performed by an air gap method in which the upper electrode is brought into close contact with the piezoelectric resonator placed on the lower electrode. It is known to make measurements. Since the accuracy of such measurement varies depending on the gap (proximity distance), it is important to set an appropriate gap. In
図4はこのようなマイクロメータを装備した周波数測定装置9を示す図であり、インデックステーブル上に形成された下電極体36に搭載された圧電振動板Qに対して上電極体93を近接させ、所定のギャップLを有した状態で周波数測定を行う。ギャップの調整は装置上部に設けられたマイクロメータ91により行っていた。
FIG. 4 is a diagram showing a frequency measuring device 9 equipped with such a micrometer. The
ところでこのような調整方法は上部電極と下部電極が一対で構成しているときは最初の設定で上部電極の下降位置を決定することによりギャップの調整が可能である。しかしながら、例えばインデックステーブルに複数の下部電極が設けられた構成のように、1つの上部電極に対し複数の下部電極が可動状態で対応する構成においては、下部電極の高さばらつきが考えられるので上部電極の降下位置を特定することが困難であった。 By the way, in such an adjustment method, when the upper electrode and the lower electrode are configured as a pair, the gap can be adjusted by determining the descending position of the upper electrode in the initial setting. However, in a configuration in which a plurality of lower electrodes correspond to one upper electrode in a movable state, such as a configuration in which a plurality of lower electrodes are provided in an index table, for example, the height of the lower electrode may vary, so It was difficult to specify the electrode lowering position.
このような不具合を排除する構成として、特開2004−191079(特許文献2)が考えられている。当該発明は各ステージにおける周波数測定誤差を予め測定することにより、ステージ毎の補正値を得ておき、ギャップ寸法にばらつきがあったとしても当該補正値を演算することによりステージのばらつきを排除するものである。このような方法は平面的に回転するインデックステーブルに下電極体を複数設けた構成において、非常に有効であり生産性および信頼性を向上させる方法であった。しかしながら高周波に対応するため圧電振動板の厚さがより小さくなった場合、直列共振抵抗値や振幅のばらつきが大きくなり、正確な測定が行えないことがあった。
本発明は上記問題点を解決するためになされたもので、生産性に優れ、かつ測定における信頼性の高い圧電振動板の周波数測定方法および周波数測定装置を提供するとともに、圧電振動板の周波数分類方法および周波数分類装置を提供することを目的とするものである。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and provides a frequency measurement method and a frequency measurement device for a piezoelectric diaphragm which is excellent in productivity and has high reliability in measurement, and the frequency classification of the piezoelectric diaphragm. It is an object to provide a method and a frequency classification device.
本発明は、下電極体が基板に複数設けられた構成において、予め各下電極体毎の高さ情報(上面の高さ位置)を得ておき、各下電極体毎に上電極体とのギャップ(近接距離)を動的に調整するものであり、次の各方法および装置により実現できる。
。
According to the present invention, in a configuration in which a plurality of lower electrode bodies are provided on a substrate, height information (height position of the upper surface) for each lower electrode body is obtained in advance, and each lower electrode body is connected to the upper electrode body. The gap (proximity distance) is dynamically adjusted, and can be realized by the following methods and apparatuses.
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請求項1は、下電極体が基板上に複数設けられ、当該下電極体に搭載された圧電振動板に対し、上電極体を近接させた状態で当該圧電振動板の周波数を測定する圧電振動板の周波数測定方法であって、
前記基板に設けられたそれぞれの下電極体の高さを測定し、当該高さ情報を前記上電極体が下電極体へ近接する際の動作補正情報として取得する工程と、前記下電極体に搭載された圧電振動板に対し、上電極体を前記動作補正情報に基づき圧電振動板に近接させることにより、両電極体のギャップを一定に保った状態で圧電振動板の周波数を測定する工程と、を有する圧電振動板の周波数測定方法を特徴としている。
According to a first aspect of the present invention, a plurality of lower electrode bodies are provided on a substrate, and the piezoelectric vibration for measuring the frequency of the piezoelectric diaphragm in a state where the upper electrode body is brought close to the piezoelectric diaphragm mounted on the lower electrode body. A frequency measurement method for a plate,
Measuring the height of each lower electrode body provided on the substrate, obtaining the height information as operation correction information when the upper electrode body approaches the lower electrode body; A step of measuring the frequency of the piezoelectric diaphragm while keeping the gap between the two electrode bodies constant by bringing the upper electrode body close to the piezoelectric diaphragm based on the operation correction information with respect to the mounted piezoelectric diaphragm; The frequency measurement method of the piezoelectric diaphragm which has these is characterized.
このような製造方法は、平面的に回転するインデックステーブルを用いた基板に適しており、請求項2に示すように、平面的に回転するインデックステーブルに複数の下電極体が形成され、当該下電極体に搭載された圧電振動板に対し、上電極体を近接させた状態で当該圧電振動板の周波数を測定する圧電振動板の周波数測定方法であって、
前記インデックステーブルに設けられた下電極体のそれぞれの高さを測定し、当該それぞれの高さ情報に基づき上電極体が各下電極体とのギャップを一定に保つべく上電極体の移動距離を決定した動作補正情報として取得する工程と、前記下電極体に搭載された圧電振動板に対し、前記動作補正情報に基づき上電極体を動作させることにより、上電極体と下電極体のギャップを一定に保った状態で圧電振動板の周波数を測定する工程と、を有する圧電振動板の周波数測定方法であってもよい。
Such a manufacturing method is suitable for a substrate using an index table that rotates in a plane, and as shown in claim 2, a plurality of lower electrode bodies are formed on the index table that rotates in a plane. A method for measuring the frequency of a piezoelectric diaphragm, which measures the frequency of the piezoelectric diaphragm in a state where the upper electrode body is brought close to the piezoelectric diaphragm mounted on the electrode body,
The height of each of the lower electrode bodies provided in the index table is measured, and based on the information on the respective heights, the upper electrode body moves the distance of movement of the upper electrode body so as to keep the gap between each lower electrode body constant. Obtaining the determined operation correction information, and operating the upper electrode body based on the operation correction information with respect to the piezoelectric diaphragm mounted on the lower electrode body, thereby forming a gap between the upper electrode body and the lower electrode body. And a step of measuring the frequency of the piezoelectric diaphragm in a state of being kept constant.
下電極体と上電極体のギャップは大きすぎても小さすぎても圧電振動板の測定に悪影響を及ぼし、例えば0.1mm程度が好ましいが、この寸法は圧電振動板の周波数によっても異なり、微調整を行うことが好ましい。また下電極体の高さ情報は上電極体が下電極体に近接する際の動作補正情報として用いられ、前記最適なギャップになるように上電極体の移動量が決定される。 If the gap between the lower electrode body and the upper electrode body is too large or too small, the measurement of the piezoelectric diaphragm is adversely affected. For example, about 0.1 mm is preferable, but this dimension varies depending on the frequency of the piezoelectric diaphragm, Adjustment is preferably performed. The height information of the lower electrode body is used as operation correction information when the upper electrode body approaches the lower electrode body, and the amount of movement of the upper electrode body is determined so as to be the optimum gap.
また請求項3に示すように、下電極体が基板上に複数設けられ、当該下電極体に搭載された圧電振動板に対し、上電極体を近接させた状態で当該圧電振動板の周波数を測定する圧電振動板の周波数測定方法であって、
前記基板に設けられたそれぞれの下電極体に圧電振動板を搭載した状態で上電極体を漸次近接または離間させながら励振電圧を印加し、圧電振動板の主振動の発振波形が最大となる位置にギャップを調整する工程と、各々の下電極体に対して調整された上電極体との前記ギャップにより、圧電振動板の周波数を測定する工程と、を有する圧電振動板の周波数測定方法であってもよい。
According to a third aspect of the present invention, a plurality of lower electrode bodies are provided on the substrate, and the frequency of the piezoelectric diaphragm is set with the upper electrode body in proximity to the piezoelectric diaphragm mounted on the lower electrode body. A method for measuring the frequency of a piezoelectric diaphragm to be measured,
A position where the oscillation waveform of the main vibration of the piezoelectric diaphragm is maximized by applying an excitation voltage while gradually moving the upper electrode body close to or away from each lower electrode body provided on the substrate. And measuring the frequency of the piezoelectric diaphragm with the gap between the lower electrode body and the upper electrode body adjusted for each lower electrode body. May be.
主振動の発振波形が最大(ピーク)となる位置を得ることにより、周波数測定時において他のスプリアス振動との誤認識を回避することができる。 By obtaining a position where the oscillation waveform of the main vibration becomes maximum (peak), erroneous recognition with other spurious vibrations during frequency measurement can be avoided.
ところで上電極体は上昇下降自在にリアルタイムに行うことが好ましく、例えば請求項4に示すように上電極体の動作が電動アクチュエータにより行われる。 By the way, it is preferable that the upper electrode body be moved up and down in real time. For example, as shown in claim 4, the operation of the upper electrode body is performed by an electric actuator.
また請求項5に示すように、前記インデックステーブルに設けられた下電極体のそれぞれの高さを測定する方法は、電動アクチュエータに取着された上電極体が下電極体に接触した時点における上電極体の位置データにより測定するか、または近接センサで両電極体の接触を検出した時点の上電極体の位置データにより測定した方法をあげることができる。 According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a method for measuring the height of each of the lower electrode bodies provided on the index table, wherein the upper electrode body attached to the electric actuator is in contact with the lower electrode body. Examples of the method include measuring with the position data of the electrode body, or measuring with the position data of the upper electrode body at the time when contact between both electrode bodies is detected by the proximity sensor.
さらに請求項6は下電極体と上電極体のギャップをより適切に調整する方法について開示しており、前記両電極体のギャップを調整するにあたり、下電極体に圧電振動板を搭載した状態で励振電圧を印加し、上電極体を漸次近接または離間させながら圧電振動板の主振動の発振波形が最大となる位置にギャップ調整する工程を付加したことを特徴とする請求項1または請求項2または請求項4または請求項5のいずれかに記載の圧電振動板の周波数測定方法について示している。主振動の発振波形がピークとなる位置を得ることにより、周波数測定時において他のスプリアス振動との誤認識を回避することができる。 Furthermore, claim 6 discloses a method for more appropriately adjusting the gap between the lower electrode body and the upper electrode body. In adjusting the gap between the two electrode bodies, a piezoelectric diaphragm is mounted on the lower electrode body. 3. A step of adjusting the gap to a position where the oscillation waveform of the main vibration of the piezoelectric diaphragm is maximized while applying an excitation voltage and gradually moving the upper electrode body closer to or away from the upper electrode body is added. Alternatively, the method for measuring the frequency of the piezoelectric diaphragm according to claim 4 or 5 is described. By obtaining a position where the oscillation waveform of the main vibration reaches a peak, erroneous recognition of other spurious vibrations can be avoided during frequency measurement.
本発明は上述の周波数測定の結果、これを所定の周波数毎に分類(選別)する方法についても提案しており、請求項7に示すように、請求項1乃至請求項6のいずれかにより圧電振動板の周波数測定を行った後、圧電振動板を所定の周波数帯毎に分類し、分類箱に格納したことを特徴とする圧電振動板の周波数分類方法、についても開示している。
The present invention also proposes a method of classifying (selecting) the frequency measurement results for each predetermined frequency as a result of the above-mentioned frequency measurement. As shown in claim 7, the piezoelectric device according to any one of
高精度な測定に基づいて分類を行うことにより、分類時のばらつきを極力抑制することができ、後工程の励振電極形成時のばらつきを抑制し、またパーシャル蒸着等の後工程での周波数調整作業をスムースに行うことができる。 By performing classification based on high-accuracy measurements, it is possible to suppress variations during classification as much as possible, suppress variations during formation of excitation electrodes in the subsequent process, and frequency adjustment work in subsequent processes such as partial vapor deposition Can be done smoothly.
請求項8は周波数測定装置に関するものであり、表面に複数の下電極体が形成され、平面的に回転する機構を有するインデックステーブルと、搭載ステーションにおいて、当該インデックステーブルの各下電極体に順次圧電振動板を搭載する第1の移載装置と、測定ステーションにおいて、前記インデックステーブルの下電極体に搭載された圧電振動板に上電極体を近接させた状態で励振電圧を印加し、圧電振動板の周波数を測定する周波数測定部と、排出ステーションにおいて、前記インデックステーブルの周波数測定後の圧電振動板をインデックステーブルから排出する第2の移載装置とを具備してなる圧電振動板の周波数測定装置であって、
前記周波数測定部は、前記インデックステーブルに設けられた下電極体のそれぞれの高さを測定し、当該それぞれの高さ情報に基づいて前記下電極体が上電極体へ近接させる際の動作補正情報を得る制御部と、当該動作補正情報に基づき下電極体それぞれと上電極体のギャップを一定に保つべく上電極体を移動させる電動アクチュエータを有することを特徴とする圧電振動板の周波数測定装置、について開示している。
An eighth aspect of the present invention relates to a frequency measuring apparatus, wherein a plurality of lower electrode bodies are formed on the surface, an index table having a mechanism that rotates in a plane, and a mounting station, in which each lower electrode body of the index table is sequentially piezoelectric In the first transfer device on which the diaphragm is mounted and the measurement station, an excitation voltage is applied in a state where the upper electrode body is brought close to the piezoelectric diaphragm mounted on the lower electrode body of the index table, and the piezoelectric diaphragm A frequency measuring device for a piezoelectric diaphragm comprising: a frequency measuring unit for measuring the frequency of the first diaphragm; and a second transfer device for ejecting the piezoelectric diaphragm after frequency measurement of the index table from the index table at a discharge station. Because
The frequency measuring unit measures the height of each lower electrode body provided in the index table, and the operation correction information when the lower electrode body is brought close to the upper electrode body based on the respective height information A frequency measurement device for a piezoelectric diaphragm, comprising: a control unit that obtains a voltage; and an electric actuator that moves the upper electrode body so as to keep the gap between the lower electrode body and the upper electrode body constant based on the operation correction information, Is disclosed.
平面的に回転するインデックステーブルに形成された下電極体の高さ情報に基づく動作補正情報によって、電動アクチュエータで対応する下電極体毎に上電極体の動作位置を決定するので、両電極体間の適切なギャップを得ることができる。 The operation position of the upper electrode body is determined for each corresponding lower electrode body by the electric actuator based on the motion correction information based on the height information of the lower electrode body formed on the index table that rotates in a plane. The appropriate gap can be obtained.
また請求項9に示すように、前記周波数測定部において下電極体に圧電振動板を搭載した状態で励振電圧を印加し、上電極体を漸次近接または離間させることによりギャップを変動させ、圧電振動板の発振波形が最大となる位置にギャップを調整する調整機構を付加したことを特徴とする請求項8記載の圧電振動板の周波数測定装置により、圧電振動板の周波数毎のより適切なギャップを精度よく求めることができる。なお、電動アクチュエータは例えばステッピングモーター、サーボモーター、リニアモーターを用いたものをあげることができるが、0.005mm単位での上下動の調整精度を得ることができる。 According to a ninth aspect of the present invention, an excitation voltage is applied in a state where the lower electrode body is mounted on the lower electrode body in the frequency measuring section, and the upper electrode body is gradually moved closer to or away from the gap to change the piezoelectric vibration. 9. The piezoelectric diaphragm frequency measuring device according to claim 8, wherein an adjustment mechanism for adjusting the gap is added at a position where the oscillation waveform of the plate is maximized, so that a more appropriate gap for each frequency of the piezoelectric diaphragm can be obtained. It can be obtained with high accuracy. The electric actuator may be, for example, one using a stepping motor, servo motor, or linear motor, but it is possible to obtain vertical movement adjustment accuracy in units of 0.005 mm.
さらに請求項10に示すように、表面に複数の下電極体が形成され、平面的に回転する機構を有するインデックステーブルと、搭載ステーションにおいて、当該インデックステーブルの各下電極体に順次圧電振動板を搭載する第1の移載装置と、測定ステーションにおいて、前記インデックステーブルの下電極体に搭載された圧電振動板に上電極体を近接させた状態で励振電圧を印加し、圧電振動板の周波数を測定する周波数測定部と、排出ステーションにおいて、前記インデックステーブルの周波数測定後の圧電振動板をインデックステーブルから排出する第2の移載装置とを具備してなる圧電振動板の周波数測定装置であって、
前記周波数測定部は、前記インデックステーブルに設けられた下電極体に圧電振動板を搭載した状態で上電極体を漸次近接または離間させながら励振電圧を印加し、圧電振動板の主振動の発振波形が最大となる位置に対応する動作補正情報を得る制御部と、当該動作補正情報に基づき下電極体それぞれと上電極体のギャップを一定に保つべく上電極体を移動させる電動アクチュエータを有することを特徴とする圧電振動板の周波数測定装置であってもよい。当該構成により、主振動の発振波形がピークとなる位置を得ることができ、周波数測定時において他のスプリアス振動との誤認識を回避することができる。
Further, according to a tenth aspect of the present invention, there is provided an index table having a plurality of lower electrode bodies formed on the surface thereof and having a mechanism that rotates in a plane, and a piezoelectric diaphragm is sequentially applied to each lower electrode body of the index table in the mounting station. In the first transfer device to be mounted and the measurement station, an excitation voltage is applied in a state where the upper electrode body is brought close to the piezoelectric vibration plate mounted on the lower electrode body of the index table, and the frequency of the piezoelectric vibration plate is set. A frequency measurement device for a piezoelectric diaphragm comprising: a frequency measurement unit for measuring; and a second transfer device for ejecting the piezoelectric diaphragm after frequency measurement of the index table from the index table at a discharge station. ,
The frequency measuring unit applies an excitation voltage while gradually moving the upper electrode body close to or away from the lower electrode body provided on the index table while the piezoelectric electrode is mounted on the lower electrode body, and the oscillation waveform of the main vibration of the piezoelectric diaphragm A control unit that obtains motion correction information corresponding to a position where the maximum is, and an electric actuator that moves the upper electrode body based on the motion correction information so as to keep the gap between the lower electrode body and the upper electrode body constant. It may be a characteristic frequency measuring device for a piezoelectric diaphragm. With this configuration, a position where the oscillation waveform of the main vibration reaches a peak can be obtained, and erroneous recognition with other spurious vibrations during frequency measurement can be avoided.
請求項11は請求項8乃至10に開示した周波数測定装置に周波数分類機能を付加した構成であり、前述の圧電振動板の周波数測定装置による測定結果に基づいて、圧電振動板を所定の周波数帯分類毎に分類する分類部と、分類された圧電振動板を格納する格納箱を有したことを特徴とする圧電振動板の周波数分類装置である。 An eleventh aspect has a configuration in which a frequency classification function is added to the frequency measuring device disclosed in the eighth to tenth aspects, and the piezoelectric diaphragm is placed in a predetermined frequency band based on the measurement result of the above-described piezoelectric diaphragm frequency measuring apparatus. A frequency classification device for piezoelectric diaphragms, comprising: a classification unit that classifies each classification; and a storage box that stores the classified piezoelectric diaphragms.
高精度な測定に基づいて分類を行うことにより、分類時のばらつきを極力抑制することができ、後工程の励振電極形成時のばらつきを抑制し、またパーシャル蒸着等の後工程での周波数調整作業をスムースに行うことができる。 By performing classification based on high-accuracy measurements, it is possible to suppress variations during classification as much as possible, suppress variations during formation of excitation electrodes in the subsequent process, and frequency adjustment work in subsequent processes such as partial vapor deposition Can be done smoothly.
本発明によれば、下電極体が基板に複数設けられた構成において、予め各下電極体毎の高さ情報(上面の高さ位置)を得ておき、各下電極体毎に上電極体とのギャップ(近接距離)を動的に調整することにより、生産性に優れ、かつ測定における信頼性の高い圧電振動板の周波数測定方法および周波数測定装置を提供するとともに、圧電振動板の周波数分類方法および周波数分類装置を得ることができる。 According to the present invention, in a configuration in which a plurality of lower electrode bodies are provided on a substrate, height information (upper surface height position) for each lower electrode body is obtained in advance, and an upper electrode body is provided for each lower electrode body. By adjusting the gap (proximity distance) between the piezoelectric diaphragm and the piezoelectric diaphragm frequency measurement method and frequency measurement device with excellent productivity and high reliability in measurement, the frequency classification of the piezoelectric diaphragm is provided. A method and a frequency classification device can be obtained.
特に高周波に対応した薄型圧電振動板の周波数測定において、直列共振抵抗値や振幅のばらつきが抑制され、正確な測定を行うことができる。 In particular, in frequency measurement of a thin piezoelectric diaphragm corresponding to a high frequency, variation in series resonance resistance value and amplitude is suppressed, and accurate measurement can be performed.
以下、本発明による好ましい実施の形態について図面に基づいて説明する。
本発明の実施の形態について、圧電振動板としてATカット水晶振動板の測定方法を例にとり図面とともに説明する。図1は本実施の形態に係る製造装置の概略構成図であり、図2は周波数測定部の断面図、図3は図1における製造装置のシステム構成を示す図である。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings by taking an AT-cut quartz crystal diaphragm as a piezoelectric diaphragm as an example. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a manufacturing apparatus according to the present embodiment, FIG. 2 is a cross-sectional view of a frequency measuring unit, and FIG. 3 is a diagram showing a system configuration of the manufacturing apparatus in FIG.
図1において1はパーツフィーダ、2は第1の移載装置、3はインデックステーブル、4は周波数測定部、5は第2の移載装置、6は収納箱、Qは水晶振動板(圧電振動板)である。 In FIG. 1, 1 is a parts feeder, 2 is a first transfer device, 3 is an index table, 4 is a frequency measuring unit, 5 is a second transfer device, 6 is a storage box, and Q is a crystal diaphragm (piezoelectric vibration). Board).
水晶振動板Qは平行平面研磨により薄板に加工された矩形状のATカット水晶振動板であり、パーツフィーダ1により個別に供給される。
The quartz diaphragm Q is a rectangular AT-cut quartz diaphragm that is processed into a thin plate by parallel plane polishing, and is individually supplied by the
パーツフィーダ1は投入された多数個の水晶振動板Qを整列して排出口12へ供給する装置であり、すり鉢状の容器11にらせん状の流路を形成し(図示せず)、容器11に微小振動を与えることにより、ランダムに投入された水晶振動板Qが排出口12に順次押し出される構成である。なお、パーツフィーダに代えて例えばマトリクス状の水晶振動板収納室を有するパレットからインデックステーブルに供給する方式であってもよい。
The
パーツフィーダの排出口12に送られた水晶振動板Qは第1の移載装置2により取り出される。第1の移載装置2は基体20に対して平面視直角の方向に伸長する位置にアーム21が取着され、当該アーム2は基体20に対して直角方向(X方向)と基体に沿う方向(Y方向)に動作するとともに、上下方向(Z方向)にも動作し、3次元的な動作が可能となっている。アーム21は図示しない電動アクチュエータにより動作し、当該電動アクチュエータは後述する第1移載制御部の指令により動作する。アーム21の先端部分には水晶振動板Qを吸引する吸引口21aが形成されている。当該吸引機構は例えば負圧のエアを供給または停止することにより、吸引または吸引解除を行う。なお、第1の移載装置において、水晶振動板Qをピックアップする方法は前述の吸引による方法のみならず、例えば水晶振動板の外周を把持するチャッキングであってもよい。これは第2の移載装置においても同様である。
The crystal diaphragm Q sent to the
水晶振動板Qが第1の移載装置によって移載されるインデックステーブル3は平面で見て円板形状であり、その表面の外周領域には下電極体31,32,33,34,35,36,37,38が所定の等間隔を保って全周に渡って設けられている。当該下電極体は円柱形状の導電セラミックスからなり、その上面はインデックステーブル上面とほぼ平行な平面を有している。また各下電極体は絶縁体を介してインデックステーブルに固定されており、各々電気的に独立した状態で通電可能となっている。なお下電極体で用いる導電セラミックスは金属に較べて耐摩耗性に優れ、硬質な水晶による摩耗を防ぐことができ、また金属と同様、上部面をポリッシュ加工することにより、平行で平滑な平面を得ることができる。
The index table 3 on which the crystal vibrating plate Q is transferred by the first transfer device has a disk shape when seen in a plan view, and the
また当該インデックステーブル3において、パーツフィーダから移載される場所は供給ステーションIとなり、また供給ステーションIの対面には排出ステーションOが形成されている。また周波数測定部4の配置位置は測定ステーションSとなる。 Further, in the index table 3, a place where the parts are transferred from the parts feeder is a supply station I, and a discharge station O is formed on the opposite side of the supply station I. The arrangement position of the frequency measurement unit 4 is the measurement station S.
ところでインデックステーブル3は平面的に回転駆動可能となっており、当該回転は例えばサーボモータで駆動される。サーボモータはインデックステーブル駆動制御部からのパルス信号で駆動し、回転速度、回転量等を制御するが、これによりインデックステーブル3を任意の設定で動作させることができる。本実施の形態においては、下電極体を均等な間隔を持って8つ設けているので、周波数測定実行時には45度づつ間欠的に回転を行う。この回転量は周波数測定以外の必要な製造工数がある場合等によって任意に設定することができ、サーボモータへの制御信号により調整することができる。もちろん下電極体を90度毎にインデックステーブルに配置した4つの構成であってもよく、この場合は90度毎の回転量となる。 By the way, the index table 3 can be rotationally driven in a plane, and the rotation is driven by, for example, a servo motor. The servo motor is driven by a pulse signal from the index table drive control unit and controls the rotation speed, the rotation amount, and the like, so that the index table 3 can be operated with an arbitrary setting. In the present embodiment, since eight lower electrode bodies are provided at equal intervals, rotation is performed intermittently by 45 degrees when performing frequency measurement. This amount of rotation can be arbitrarily set depending on the necessary manufacturing man-hours other than frequency measurement, and can be adjusted by a control signal to the servo motor. Of course, it may be four configurations in which the lower electrode body is arranged in the index table every 90 degrees. In this case, the rotation amount is 90 degrees.
このようなインデックステーブル3には供給ステーションIから時計回りに90度回転したところに、周波数測定部4が配置され、また排出ステーションOから時計回りに90度回転したところに、排出確認部45が配置されてた確認ステーションCが設けられている。
In such an index table 3, the frequency measuring unit 4 is disposed at 90 degrees clockwise from the supply station I, and the
周波数測定部4は電動アクチュエータ41と電動アクチュエータ41によって上下動する絶縁体42と上電極体43とを有する。上部電極体43は例えば銅、真鍮、SK材等からなる導電性の良好な材料が用いられ、下電極体との対向面は平行を保つことができるよう平行平面が形成されている。上電極体43は下電極体とともに適切なギャップが構成され、下電極体の上面に圧電振動板を配置することにより、エアギャップ方式にて圧電振動板の周波数を測定する。
The frequency measuring unit 4 includes an
電動アクチュエータ41は外部からの制御信号により所定量の動作を行う構成であり、例えばステッピングモータによる回転運動をボールねじとカップリングにより直線運動させる構成や、あるいはサーボモーターとエンコーダとボールねじとカップリングによる構成や、あるいは圧電素子を用いた超音波モータにより所定量の動作を行わせる構成をあげることができる。本実施の形態ではステッピングモータとボールねじとカップリングによるアクチュエータを用いており、上電極体43は電動アクチュエータ41により高速かつ高精度に上下動作する。なお、ステッピングモータを用いた場合は、オープンループ型で一方通行的な制御になるが、近年はモータの基本ステップ角の小さいものを採用したり、脱調レス機能を付加すること等により、精度を向上させることができる。またサーボモータを用いた場合は、クローズドループ型での回転位置を検出するエンコーダを高分解能なものにすることにより、より高精度の位置決めを行うことができる。
The
第2の移載装置5はインデックステーブル3の排出ステーションOに送られた水晶振動子Qを収納箱に移載する機能を有している。当該第2の移載装置も第1の移載装置と同じく、基本的にはアーム51の先端部分には水晶振動板Qを吸引する吸引口51aが形成されており、当該吸引機構は例えば負圧のエアを供給または停止することにより、吸引または吸引解除を行う。当該アーム51は基体50に対して直角方向(X方向)と基体に沿う方向(Y方向)に動作するとともに、上下方向(Z方向)にも動作し、3次元的な動作が可能となっている。これにより排出ステーションOにある水晶振動板Qをアーム51の吸引口51aにより吸引し、上部方向へ移動後、XY方向に移動し、さらに下方向に移動して吸引を解除し収納箱6の所定の場所に移載する。 The second transfer device 5 has a function of transferring the crystal resonator Q sent to the discharge station O of the index table 3 to the storage box. Similarly to the first transfer device, the second transfer device is basically provided with a suction port 51a for sucking the crystal diaphragm Q at the tip portion of the arm 51. Suction or suction is canceled by supplying or stopping air of pressure. The arm 51 operates in a direction perpendicular to the base body 50 (X direction) and in a direction along the base body (Y direction), and also in the vertical direction (Z direction), enabling three-dimensional operation. Yes. As a result, the quartz crystal plate Q in the discharge station O is sucked by the suction port 51a of the arm 51, moved upward, then moved in the XY direction, and further moved downward to release the suction, and the storage box 6 has a predetermined Relocate to the place.
収納箱6は樹脂または金属からなり、周波数測定後の水晶振動板Qを収納するポケットをマトリクス状に有する構成である。本実施の形態においては各ポケットが所定の周波数帯毎に分けられており、前述の周波数測定結果に応じて所定のポケットに水晶振動板Qを収納する。従って、測定の結果同じ周波数帯の水晶振動板は同じポケットに収納されることになる。 The storage box 6 is made of resin or metal, and has a configuration in which pockets for storing the crystal diaphragm Q after frequency measurement are arranged in a matrix. In the present embodiment, each pocket is divided for each predetermined frequency band, and the crystal diaphragm Q is stored in the predetermined pocket according to the frequency measurement result described above. Therefore, as a result of the measurement, the crystal diaphragms in the same frequency band are stored in the same pocket.
なお、水晶振動板をマトリクス状のポケットに測定順に順次1枚ずつ収納してもよい。この場合、収納箱のポケットの位置で水晶振動板の周波数を特定できるので、ポケットの位置データと周波数データを次工程が引き継ぐことにより、水晶振動板に対し個別に電極形成等の加工を行う際に有効である。 Note that the crystal diaphragms may be stored one by one in the order of measurement in a matrix pocket. In this case, since the frequency of the crystal diaphragm can be specified by the position of the pocket of the storage box, when the next process takes over the pocket position data and frequency data, when processing such as electrode formation individually on the crystal diaphragm It is effective for.
排出確認部45は、確認ステーションCの工程部分に設けられ、排出ステーションOにより下電極体上面から排出されなかった水晶振動板Qを吸引チューブバルブにより強制的に排出する。
The
図3は本実施の形態による制御システムを示している。図3における制御システムは、例えばCPUからなる中央制御部70に各機構の制御部が接続される構成であり、第1の移載装置2は第1の移載制御部72を介して、第2の移載装置5は第2の移載制御部73を介してそれぞれ中央制御部70に接続されている。それぞれの移載制御部は各移載装置移動動作、移動量、吸引動作等を制御する。またインデックステーブル3はインデックステーブル駆動制御部74を介して、周波数測定部4と電動アクチュエータ41は制御部75を介して、それぞれ中央制御部に接続されている。また中央制御部70には周波数測定データ等を記憶するメモリ71が接続されている。
FIG. 3 shows a control system according to this embodiment. The control system in FIG. 3 has a configuration in which a control unit of each mechanism is connected to a central control unit 70 composed of, for example, a CPU, and the first transfer device 2 is connected via a first
次に本装置を用いて水晶振動板Qの周波数を測定し、その測定結果に基づいて所定の周波数に分類する動作例について図1乃至図3を参照して説明する。 Next, an example of an operation for measuring the frequency of the crystal diaphragm Q using this apparatus and classifying the frequency into a predetermined frequency based on the measurement result will be described with reference to FIGS.
まず水晶振動板をインデックステーブルの下電極体に搭載する前に下電極体31〜38の高さを測定する。高さの測定は電動アクチュエータ41に取着された上電極体43が下電極体に接触した時点における、上電極体43の位置データ(高さデータ)により測定する。なお接触の判定例として両電極体の短絡によって判定する方法や、上電極体に取着された圧力センサにより判定する方法等を例示することができる。
First, the height of the
測定された位置データは各下電極体毎にメモリに取り込まれ、予め設定した上電極体と下電極体のギャップに対して、上電極体が下電極体に近接する際の補正された移動距離情報を中央制御部70あるいは制御部75にて算出する。例えばギャップは0.1mm程度が好ましいが、このギャップを維持するために上記位置データを加味して上電極体の移動距離を決定し、動作補正情報となる。このように各下電極体毎の上電極体の動作補正情報がメモリ71に格納される。
The measured position data is taken into the memory for each lower electrode body, and the corrected movement distance when the upper electrode body approaches the lower electrode body with respect to a preset gap between the upper electrode body and the lower electrode body Information is calculated by the central control unit 70 or the
なお、両電極体のギャップを調整するにあたり、各下電極体に水晶振動板を搭載した状態で周波数を掃引しながら励振電極を印加し、上電極体43を電動アクチュエータ41により漸次近接または離間させ、水晶振動板の主振動の周波数応答が最大(発振波形が最大)となる位置にギャップ調整してもよい。
In adjusting the gap between the two electrode bodies, the excitation electrode is applied while sweeping the frequency in a state where a quartz diaphragm is mounted on each lower electrode body, and the
このような調整は上述の下電極体の高さを測定し、動作補正情報により両電極体間のギャップを一定に保つ周波数測定方法に付加して行ってもよいし、このような主振動の発振波形が最大となる位置にギャップを調整する方法のみにより最適ギャップを求めてもよい。なおこのような後者による方法により最適ギャップを求める場合、周波数の特定されている基準水晶振動板を用いることにより、その後の周波数測定作業においてより精度の高い測定結果を得ることができる。 Such adjustment may be performed by measuring the height of the lower electrode body described above and adding it to a frequency measurement method for keeping the gap between the two electrode bodies constant according to the operation correction information. You may obtain | require an optimal gap only by the method of adjusting a gap to the position where an oscillation waveform becomes the maximum. In the case of obtaining the optimum gap by the latter method, it is possible to obtain a measurement result with higher accuracy in the subsequent frequency measurement work by using a reference crystal diaphragm having a specified frequency.
以上、周波数測定前の初期設定により、両電極体間のギャップが測定対象の周波数等に最適な状態に保つことができる。 As described above, the gap between the electrode bodies can be maintained in an optimum state for the frequency to be measured by the initial setting before the frequency measurement.
次に、水晶振動板の周波数測定作業を行う。まずパーツフィーダ1には多数個の水晶振動板Qを投入し、これによりパーツフィーダ1の搬送動作により排出口12に順次水晶振動板Qが送られる。第1の移載装置2は第1の移載制御部72の指令により、アーム21により排出口にある水晶振動板Qを吸引し、搭載ステーションに位置する下電極体31の上面に順次移載する。
Next, the frequency measurement operation of the crystal diaphragm is performed. First, a large number of quartz diaphragms Q are put into the
インデックステーブル3はインデックステーブル駆動制御部74の指示により、サーボモータが駆動し、時計回りである矢印B方向に間欠的な回転動作が行われる。インデックステーブル3が間欠的に回転することにより、次の下電極体32が搭載ステーションに位置すると順次下電極体に水晶振動板Qが移載される。
The index table 3 is driven by the servo motor in accordance with an instruction from the index table drive control unit 74, and intermittently rotates in the arrow B direction, which is clockwise. When the index table 3 is intermittently rotated, when the next
下電極体31に搭載された水晶振動板Qが搭載ステーションから2段階間欠回転すると測定ステーションSに移動する。当該測定ステーションSでは、周波数測定部が設置され、制御部の指示により、先に下電極体31に対する動作補正情報をメモリ71から読み出し、当該動作補正情報に基づく移動距離分上電極体が下電極体に近接する。この近接あるいは離間動作は制御部75からの命令により電動アクチュエータが動作することにより行われる。この非接触状態で両電極体間に所定周波数の電圧を印加することにより、エアギャップ方式により水晶振動板Qの周波数の測定を行う。測定された周波数データは中央制御部を介してメモリに転送され、周波数毎に定められた収納箱6のポケット位置が決定される。
When the crystal diaphragm Q mounted on the
水晶振動板Qが測定ステーションSからさらに2段階間欠回転すると排出ステーションOに移動する。排出ステーションOにおいては第2の移載装置により下電極体上面の水晶振動板Qが収納箱に移載される。この第2の移載装置は中央制御部からの周波数測定データに基づいて第2移載制御部の指令により動作し、下電極体上面にある水晶振動板をアーム51により吸引し、3次元動作により、収納箱の周波数帯毎に定められたポケットに移載される。なお、収納箱が平面的に移動することにより、移載するポケットを特定する構成であってもよい。 When the quartz crystal plate Q further intermittently rotates from the measurement station S in two steps, it moves to the discharge station O. In the discharge station O, the quartz diaphragm Q on the upper surface of the lower electrode body is transferred to the storage box by the second transfer device. The second transfer device operates in accordance with a command from the second transfer control unit based on the frequency measurement data from the central control unit, and the crystal diaphragm on the upper surface of the lower electrode body is sucked by the arm 51 to perform a three-dimensional operation. By this, it is transferred to the pocket defined for each frequency band of the storage box. In addition, the structure which specifies the pocket to transfer by the storage box moving planarly may be sufficient.
この後インデックステーブル3は順次回転し、下電極体31が確認ステーションCに移動した際に排出確認部45により、当該下電極体に残っている水晶振動板Qがあれば吸引チューブバルブにより強制的に排出される。
Thereafter, the index table 3 is rotated sequentially, and when the
このような一連の動作をパーツフィーダ1から供給された水晶振動板Qについて順次行うことにより、水晶振動板の周波数測定と周波数分類を進める。
By sequentially performing such a series of operations for the crystal diaphragm Q supplied from the
上記実施の形態において、1つの下電極体に複数の水晶振動板(圧電振動板)を搭載してもよい。例えば1つの下電極体に2つの水晶振動板を所定の間隔をもって並列に並べて搭載し、周波数測定時には各々の水晶振動板に上電極体を順次近接させ、周波数測定を行う。従って、下電極体を次のステージに移動させるときはインデックステーブルの回転量を大きくし、下電極体に並列された隣接する水晶振動板を移動させる場合は、インデックステーブルの回転量を微少にする。 In the above-described embodiment, a plurality of crystal diaphragms (piezoelectric diaphragms) may be mounted on one lower electrode body. For example, two quartz crystal plates are arranged in parallel at a predetermined interval on one lower electrode body, and the frequency measurement is performed by sequentially bringing the upper electrode body close to each quartz crystal plate at the time of frequency measurement. Therefore, when the lower electrode body is moved to the next stage, the rotation amount of the index table is increased, and when the adjacent crystal diaphragm arranged in parallel with the lower electrode body is moved, the rotation amount of the index table is decreased. .
また下電極体の高さ測定は、測定対象の圧電振動板の周波数帯が変わった時点で行ってもよいが、最初の高さの測定により、個々の下電極体の高さ位置が判明しているので、その高さ位置と新たな周波数帯のデータを参照することにより、上電極体の移動距離を求めてもよい。 The height measurement of the lower electrode body may be performed when the frequency band of the piezoelectric diaphragm to be measured changes, but the initial height measurement reveals the height position of each lower electrode body. Therefore, the moving distance of the upper electrode body may be obtained by referring to the data of the height position and the new frequency band.
また本実施の形態においては、ATカット水晶振動板の製造例について説明したが、他の厚み振動系圧電振動板の測定に適用してもよく、例えばセラミック振動子等の製造に適用してもよい。 In this embodiment, an example of manufacturing an AT-cut quartz diaphragm has been described. However, the present invention may be applied to measurement of other thickness vibration type piezoelectric diaphragms. Good.
水晶振動子、水晶発振器等の圧電振動デバイスあるいは他の電子部品の量産に適用できる。 It can be applied to mass production of piezoelectric vibration devices such as crystal oscillators and crystal oscillators or other electronic components.
1 パーツフィーダ
2 第1の移載装置
3 インデックステーブル
31,32,33,34,35,36,37 下電極体
4 周波数測定部
41 電動アクチュエータ
43 上電極体
5 第2の移載装置
6 収納箱
DESCRIPTION OF
Claims (11)
前記基板に設けられたそれぞれの下電極体の高さを測定し、当該高さ情報を前記上電極体が下電極体へ近接する際の動作補正情報として取得する工程と、
前記下電極体に搭載された圧電振動板に対し、上電極体を前記動作補正情報に基づき圧電振動板に近接させることにより、両電極体のギャップを一定に保った状態で圧電振動板の周波数を測定する工程と、
を有する圧電振動板の周波数測定方法。 A method for measuring a frequency of a piezoelectric diaphragm, wherein a plurality of lower electrode bodies are provided on a substrate, and the frequency of the piezoelectric diaphragm is measured with the upper electrode body in proximity to the piezoelectric diaphragm mounted on the lower electrode body Because
Measuring the height of each lower electrode body provided on the substrate, and obtaining the height information as operation correction information when the upper electrode body approaches the lower electrode body;
The frequency of the piezoelectric diaphragm is maintained with the gap between the two electrode bodies kept constant by bringing the upper electrode body close to the piezoelectric diaphragm based on the operation correction information with respect to the piezoelectric diaphragm mounted on the lower electrode body. Measuring the
Method for measuring frequency of piezoelectric diaphragm having
前記インデックステーブルに設けられた下電極体のそれぞれの高さを測定し、当該それぞれの高さ情報に基づき上電極体が各下電 極体とのギャップを一定に保つべく上電極体の移動距離を決定した動作補正情報として取得する工程と、
前記下電極体に搭載された圧電振動板に対し、前記動作補正情報に基づき上電極体を動作させることにより、上電極体と下電極体のギャップを一定に保った状態で圧電振動板の周波数を測定する工程と、
を有する圧電振動板の周波数測定方法。 A plurality of lower electrode bodies are formed on an index table that rotates in a plane, and the frequency of the piezoelectric diaphragm is measured in a state where the upper electrode body is brought close to the piezoelectric diaphragm mounted on the lower electrode body. A method for measuring the frequency of a piezoelectric diaphragm,
The height of each of the lower electrode bodies provided in the index table is measured, and the upper electrode body travels to keep the gap between each lower electrode body constant based on the respective height information. Obtaining the determined motion correction information;
By operating the upper electrode body based on the operation correction information for the piezoelectric diaphragm mounted on the lower electrode body, the frequency of the piezoelectric diaphragm is maintained with the gap between the upper electrode body and the lower electrode body kept constant. Measuring the
Method for measuring frequency of piezoelectric diaphragm having
前記基板に設けられたそれぞれの下電極体に圧電振動板を搭載した状態で上電極体を漸次近接または離間させながら励振電圧を印加し、圧電振動板の主振動の発振波形が最大となる位置にギャップを調整する工程と、
各々の下電極体に対して調整された上電極体との前記ギャップにより、圧電振動板の周波数を測定する工程と、
を有する圧電振動板の周波数測定方法。 A method for measuring a frequency of a piezoelectric diaphragm, wherein a plurality of lower electrode bodies are provided on a substrate, and the frequency of the piezoelectric diaphragm is measured with the upper electrode body in proximity to the piezoelectric diaphragm mounted on the lower electrode body Because
A position where the oscillation waveform of the main vibration of the piezoelectric diaphragm is maximized by applying an excitation voltage while gradually moving the upper electrode body close to or away from each lower electrode body provided on the substrate. Adjusting the gap to
Measuring the frequency of the piezoelectric diaphragm by the gap with the upper electrode body adjusted for each lower electrode body;
Method for measuring frequency of piezoelectric diaphragm having
搭載ステーションにおいて、当該インデックステーブルの各下電極体に順次圧電振動板を搭載する第1の移載装置と、
測定ステーションにおいて、前記インデックステーブルの下電極体に搭載された圧電振動板に上電極体を近接させた状態で励振電圧を印加し、圧電振動板の周波数を測定する周波数測定部と、
排出ステーションにおいて、前記インデックステーブルの周波数測定後の圧電振動板をインデックステーブルから排出する第2の移載装置とを具備してなる圧電振動板の周波数測定装置であって、
前記周波数測定部は、前記インデックステーブルに設けられた下電極体のそれぞれの高さを測定し、当該それぞれの高さ情報に基づいて前記下電極体が上電極体へ近接させる際の動作補正情報を得る制御部と、当該動作補正情報に基づき下電極体それぞれと上電極体のギャップを一定に保つべく上電極体を移動させる電動アクチュエータを有することを特徴とする圧電振動板の周波数測定装置。 An index table having a mechanism in which a plurality of lower electrode bodies are formed on the surface and rotated in a plane;
In the mounting station, a first transfer device that sequentially mounts a piezoelectric diaphragm on each lower electrode body of the index table;
In the measurement station, a frequency measuring unit that applies an excitation voltage in a state where the upper electrode body is brought close to the piezoelectric diaphragm mounted on the lower electrode body of the index table, and measures the frequency of the piezoelectric diaphragm;
A frequency measuring device for a piezoelectric diaphragm comprising a second transfer device for discharging the piezoelectric diaphragm after measuring the frequency of the index table from the index table at a discharge station;
The frequency measuring unit measures the height of each lower electrode body provided in the index table, and the operation correction information when the lower electrode body is brought close to the upper electrode body based on the respective height information A frequency measurement device for a piezoelectric diaphragm, comprising: a control unit that obtains the power; and an electric actuator that moves the upper electrode body so as to keep a gap between each of the lower electrode body and the upper electrode body constant based on the operation correction information.
圧電振動板の発振波形が最大となる位置にギャップを調整する調整機構を付加したことを特徴とする請求項8記載の圧電振動板の周波数測定装置。 In the frequency measurement unit, an excitation voltage is applied in a state where a piezoelectric diaphragm is mounted on the lower electrode body, and the gap is changed by gradually approaching or separating the upper electrode body,
9. The frequency measuring device for a piezoelectric diaphragm according to claim 8, further comprising an adjustment mechanism for adjusting the gap at a position where the oscillation waveform of the piezoelectric diaphragm is maximized.
搭載ステーションにおいて、当該インデックステーブルの各下電極体に順次圧電振動板を搭載する第1の移載装置と、
測定ステーションにおいて、前記インデックステーブルの下電極体に搭載された圧電振動板に上電極体を近接させた状態で励振電圧を印加し、圧電振動板の周波数を測定する周波数測定部と、
排出ステーションにおいて、前記インデックステーブルの周波数測定後の圧電振動板をインデックステーブルから排出する第2の移載装置とを具備してなる圧電振動板の周波数測定装置であって、
前記周波数測定部は、前記インデックステーブルに設けられた下電極体に圧電振動板を搭載した状態で上電極体を漸次近接または離間させながら励振電圧を印加し、圧電振動板の主振動の発振波形が最大となる位置に対応する動作補正情報を得る制御部と、当該動作補正情報に基づき下電極体それぞれと上電極体のギャップを一定に保つべく上電極体を移動させる電動アクチュエータを有することを特徴とする圧電振動板の周波数測定装置。 An index table having a mechanism in which a plurality of lower electrode bodies are formed on the surface and rotated in a plane;
In the mounting station, a first transfer device that sequentially mounts a piezoelectric diaphragm on each lower electrode body of the index table;
In the measurement station, a frequency measuring unit that applies an excitation voltage in a state where the upper electrode body is brought close to the piezoelectric diaphragm mounted on the lower electrode body of the index table, and measures the frequency of the piezoelectric diaphragm;
A frequency measuring device for a piezoelectric diaphragm comprising a second transfer device for discharging the piezoelectric diaphragm after measuring the frequency of the index table from the index table at a discharge station;
The frequency measuring unit applies an excitation voltage while gradually moving the upper electrode body close to or away from the lower electrode body provided on the index table while the piezoelectric electrode is mounted on the lower electrode body, and the oscillation waveform of the main vibration of the piezoelectric diaphragm A control unit that obtains motion correction information corresponding to a position where the maximum is, and an electric actuator that moves the upper electrode body based on the motion correction information so as to keep the gap between the lower electrode body and the upper electrode body constant. A frequency measurement device for a piezoelectric diaphragm, which is characterized.
A control unit that classifies the piezoelectric diaphragm for each predetermined frequency band classification based on the measurement result of the frequency measurement device for the piezoelectric diaphragm according to claim 8, claim 9, or claim 10, and the classified piezoelectric diaphragm A frequency classification device for piezoelectric diaphragms, comprising a storage box for storing.
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