JP2006148794A - Imaging apparatus, correction processing method, correction processing program and storage medium - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、例えば、静止画像や動画像を撮像・記録・再生する撮像装置、撮像方法、プログラムおよび記憶媒体に関する。 The present invention relates to an imaging apparatus, an imaging method, a program, and a storage medium that capture, record, and reproduce a still image and a moving image, for example.
従来、この種の撮像装置として、固体メモリ素子を有するメモリカードを記録媒体とし、CCD、CMOS等の固体撮像素子で撮像した静止画像や動画像を記録・再生する電子カメラ等の撮像装置が既に市販されている。 Conventionally, as this type of imaging device, there has already been an imaging device such as an electronic camera that records and reproduces still images and moving images captured by a solid-state imaging device such as a CCD or CMOS, using a memory card having a solid-state memory element as a recording medium. It is commercially available.
CCD、CMOS等の固体撮像素子を用いて撮像する場合、撮像素子で発生する暗電流ノイズや撮像素子固有の微小なキズによる画質劣化に対し、画素欠損を補正し、撮影した画像データを補正して高品位な画像を得ることができる。 When imaging using a solid-state imaging device such as a CCD or CMOS, the pixel deficiency is corrected and the captured image data is corrected for image quality degradation caused by dark current noise generated by the imaging device or microscopic scratches inherent to the imaging device. And high-quality images can be obtained.
特に、暗電流ノイズは、電荷蓄積時間および撮像素子の温度上昇に従って増大するので、長時間の露光や高温下での露光を行う場合、大きな画質改善効果を得ることができ、電子カメラの使用者にとって画素欠陥補正は有益な機能となっている。 In particular, dark current noise increases with the charge accumulation time and the temperature rise of the image sensor. Therefore, when performing long-time exposure or exposure at high temperatures, a large image quality improvement effect can be obtained. Therefore, pixel defect correction is a useful function.
この画素欠陥補正は、通常は以下のように行われる。まず、予め撮像素子の欠陥画素を検出し、その欠陥画素に関する種々のデータをROM(リード・オンリー・メモリ)等に記憶しておく。 This pixel defect correction is usually performed as follows. First, a defective pixel of an image sensor is detected in advance, and various data relating to the defective pixel are stored in a ROM (Read Only Memory) or the like.
このように予め欠陥画素の位置等をROMに記憶した状態で、撮像装置の使用の際には上記撮像素子からA/Dコンバータ等を介して供給された各画像データの内、上記ROMに記憶された欠陥画素の位置データに対応した位置の画素(すなわち欠陥画素)の近傍の画素データを用いて上記欠陥画素データを補正する。 With the position of the defective pixel stored in the ROM in advance as described above, the image data stored in the ROM among the image data supplied from the image sensor via the A / D converter or the like is used when the imaging apparatus is used. The defective pixel data is corrected using pixel data in the vicinity of the pixel at the position corresponding to the position data of the defective pixel (that is, the defective pixel).
これにより撮像素子によって得られた映像信号の内、特異なレベルの信号を出力する画素(すなわち欠陥画素)による出力(欠陥画素データ)は補正され、良好な再生画像を得ることができるようになる。 As a result, out of the video signal obtained by the image sensor, the output (defective pixel data) by the pixel (that is, defective pixel) that outputs a signal of a specific level is corrected, and a good reproduced image can be obtained. .
上記従来の電子カメラ等の撮像装置では、欠陥画素補正を行う出力レベルを低く設定すると膨大な個数を欠陥画素として補正を行い、かえって画質劣化を招いてしまうため、所定のしきい値を設定し欠陥画素補正を行う方法がある。 In the conventional imaging device such as an electronic camera, if the output level for performing defective pixel correction is set low, a huge number of pixels are corrected as defective pixels, which leads to image quality deterioration. Therefore, a predetermined threshold value is set. There is a method for correcting defective pixels.
出力レベルに対して所定のしきい値を設定する方法や、出力レベルの大きなものから所定の個数に対して欠陥画素補正を行う方法がある(例えば文献1)。
しかしながら、色再現処理の際、ホワイトバランス処理を行うために、Red(R),Green(G),Blue(B)それぞれの画素に対し異なったゲインをかけるため、色再現処理後の画像では色ごとに欠陥画素補正を行う出力レベルが異なってしまい、ゲインの高い色の欠陥画素が目立ってしまうあるいは、欠陥画素補正を必要以上に行う結果となっていた。 However, in order to perform white balance processing during color reproduction processing, different gains are applied to each pixel of Red (R), Green (G), and Blue (B). The output level at which defective pixel correction is performed differs from one to the other, and defective pixels with high gain are conspicuous, or defective pixel correction is performed more than necessary.
そこで、本発明は、必要以上の欠陥画素補正を行うことなく、また色再現処理後の画像で特定の色の欠陥画素が目立ってしまうことを改善することができる撮像装置、補正処理方法、補正処理プログラムおよび記憶媒体を提供することを目的とする。 Accordingly, the present invention provides an imaging apparatus, a correction processing method, and a correction that can improve that a defective pixel of a specific color is conspicuous in an image after color reproduction processing without performing unnecessary defective pixel correction. It is an object to provide a processing program and a storage medium.
上記目的を達成するために、本発明の撮像装置は、以下(1)、(2)の構成を備える。 In order to achieve the above object, an imaging apparatus of the present invention comprises the following configurations (1) and (2).
(1)異なる分光特性を持つ複数の画素を有する撮像素子と、撮像素子の欠陥画素の出力を補正するためのアドレスとレベルに関する情報を有する補正用データ記憶手段と、前記異なる分光特性を持つ複数の画素出力ごとに異なったレベルを設定する補正レベル設定手段と、前記補正用データ記憶手段に記憶された補正用データから、前記補正レベル設定手段で設定した前記異なる分光特性ごとの設定されたレベルに従って補正データを読み出す補正データ読み出し手段と、読み出された補正用データを用いて、前記撮像素子の出力に関し欠陥画素の補正を行う欠陥画素補正手段とを有することを特徴とする撮像装置。 (1) An image pickup device having a plurality of pixels having different spectral characteristics, a correction data storage means having information related to an address and a level for correcting an output of a defective pixel of the image pickup device, and a plurality of the different spectral characteristics A level set for each of the different spectral characteristics set by the correction level setting means from the correction level setting means for setting a different level for each pixel output and the correction data stored in the correction data storage means An imaging apparatus comprising: correction data reading means for reading correction data in accordance with the correction data; and defective pixel correction means for correcting defective pixels with respect to the output of the imaging device using the read correction data.
(2)異なる分光特性を持つ複数の画素を有する撮像素子と、撮像素子の欠陥画素の出力を補正するためのアドレスとレベルに関する情報を有する補正用データ記憶手段と、前記異なる分光特性を持つ複数の画素出力ごとに異なった個数の補正個数を設定する補正個数設定手段と、前記補正用データ記憶手段に記憶された補正用データから、前記補正個数設定手段で設定した前記異なる分光特性ごとの設定された個数に従って補正データを読み出す補正データ読み出し手段と、読み出された補正用データを用いて、前記撮像素子の出力に関し欠陥画素の補正を行う欠陥画素補正手段とを有することを特徴とする撮像装置。 (2) An image pickup device having a plurality of pixels having different spectral characteristics, a correction data storage means having information related to an address and a level for correcting an output of a defective pixel of the image pickup device, and a plurality of the different spectral characteristics Correction number setting means for setting a different number of corrections for each pixel output, and setting for each of the different spectral characteristics set by the correction number setting means from correction data stored in the correction data storage means An imaging device comprising: correction data reading means for reading correction data in accordance with the number of corrections; and defective pixel correction means for correcting defective pixels with respect to the output of the imaging device using the read correction data. apparatus.
即ち、撮影した画像を記録媒体に記録する撮像装置であって、欠陥画素の位置とレベルとを記憶する手段と、前記記憶手段に記憶された位置とレベルに従って欠陥画素の補正を行う欠陥画素補正手段とを持つ撮像装置において、R,G,B毎に異なった所定のしきい値以上のレベルあるいは、ホワイトバランスのR,G,Bのゲインに応じてR,G,B毎に異なったしきい値以上のレベルの欠陥画素に対してのみ欠陥補正を行う欠陥画素補正手段とを備えたことを特徴とする。 That is, an image pickup apparatus for recording a photographed image on a recording medium, a means for storing the position and level of a defective pixel, and a defective pixel correction for correcting a defective pixel according to the position and level stored in the storage means In the image pickup apparatus having the means, it differs for each of R, G, and B depending on the level of a predetermined threshold value that is different for each of R, G, and B or the gain of R, G, and B of white balance. And defective pixel correction means for performing defect correction only for defective pixels having a level equal to or higher than a threshold value.
以上説明したように本発明によれば、次のような効果がある。 As described above, the present invention has the following effects.
(1)R,G,Bそれぞれのキズ補正レベルを設定することで、色再現処理後の最終画像で特定の色の欠陥画素が目立つことによる画質低下を防ぎ、かつ最小限のキズ補正個数で補正することができるためメモリ容量を削減させ、処理スピードを速めるという効果がある。 (1) By setting the respective defect correction levels for R, G, and B, it is possible to prevent deterioration in image quality due to conspicuous defective pixels of a specific color in the final image after color reproduction processing, and with a minimum number of defect corrections. Since the correction can be made, the memory capacity is reduced and the processing speed is increased.
(2)R,G,Bのそれぞれのキズ補正レベルは、撮影時の光源の色温度を補正するホワイトバランスの補正モードに応じ、R,G,Bそれぞれのキズ補正レベルを連動させて設定するため、光源の異なる多様な撮影条件に適応したキズ補正を可能とする効果がある。 (2) The scratch correction levels for R, G, and B are set in conjunction with the scratch correction levels for R, G, and B according to the white balance correction mode that corrects the color temperature of the light source during shooting. Therefore, there is an effect that it is possible to perform defect correction adapted to various shooting conditions with different light sources.
本発明の撮像装置、撮像方法、プログラムおよび記憶媒体の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。本実施形態の撮像装置は電子カメラに適用される。 Embodiments of an imaging apparatus, an imaging method, a program, and a storage medium of the present invention will be described with reference to the drawings. The imaging apparatus of this embodiment is applied to an electronic camera.
(第1の実施形態)
図1は実施の形態における電子カメラの構成を示すブロック図である。図において、100は画像処理装置である。12は撮像素子14の露光量を制御する絞り機能を有したシャッタである。14は光学像を電気信号に変換する撮像素子である。
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic camera according to an embodiment. In the figure,
レンズユニット300内の撮影レンズ310に入射した光線は、絞り312、レンズマウント306、106、ミラー130およびシャッタ12を通じて一眼レフ方式により導かれた撮像素子14上に光学像として結像する。
The light beam incident on the photographing
16は撮像素子14から出力されるアナログ信号をディジタル信号に変換するA/D変換器である。18は撮像素子14、A/D変換器16およびD/A変換器26にクロック信号や制御信号を供給するタイミング発生回路であり、メモリ制御回路22およびシステム制御回路50によって制御される。
Reference numeral 16 denotes an A / D converter that converts an analog signal output from the image sensor 14 into a digital signal. A
20は画像処理回路であり、A/D変換器16からのデータあるいはメモリ制御回路22からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。画像処理回路20は必要に応じて撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づき、システム制御回路50が露光(シャッタ)制御部40および測距制御部42を制御するためのTTL(スルー・ザ・レンズ)方式のAF(オートフォーカス)処理、AE(自動露出)処理およびEF(フラッシュ調光)処理を行う。また、画像処理回路20は、撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてTTL方式のAWB(オートホワイトバランス)処理を行う。
An
尚、本実施形態では、測距制御部42および測光制御部46を専用に備えているので、システム制御回路50は、測距制御部42および測光制御部46を用いてAF(オートフォーカス)処理、AE(自動露出)処理、EF(フラッシュ調光)処理の各処理を行い、画像処理回路20を用いてAF(オートフォーカス)処理、AE(自動露出)処理、EF(フラッシュ調光)処理の各処理を行わない構成としてもよい。
In the present embodiment, since the distance
また、測距制御部42および測光制御部46を用いてAF(オートフォーカス)処理、AE(自動露出)処理、EF(フラッシュ調光)処理の各処理を行い、さらに、画像処理回路20を用いてAF(オートフォーカス)処理、AE(自動露出)処理、EF(フラッシュ調光)処理の各処理を行う構成としてもよい。
Further, the AF (auto focus) process, the AE (automatic exposure) process, and the EF (flash dimming) process are performed using the distance
22はメモリ制御回路であり、A/D変換器16、タイミング発生回路18、画像処理回路20、画像表示メモリ24、D/A変換器26、メモリ30および圧縮・伸長回路32を制御する。
A
A/D変換器16からのデータは、画像処理回路20およびメモリ制御回路22を介して、あるいは直接、メモリ制御回路22を介して画像表示メモリ24あるいはメモリ30に書き込まれる。
Data from the A / D converter 16 is written into the
24は画像表示メモリ、26はD/A変換器である。28はTFT方式のLCDからなる画像表示部である。画像表示メモリ24に書き込まれた表示用の画像データはD/A変換器26を介して画像表示部28に表示される。撮像された画像データを画像表示部28で逐次表示する場合、電子ファインダ機能を実現することが可能である。また、画像表示部28はシステム制御回路50の指示にしたがって表示のON/OFFを任意に行うことが可能であり、表示をOFFにした場合、画像処理装置100の電力消費を大幅に低減することができる。
30は撮影された静止画像や動画像を格納するためのメモリであり、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶容量を有している。したがって、複数枚の静止画像を連続して撮影する連写撮影やパノラマ撮影の場合にも、高速かつ大量の画像書き込みをメモリ30に対して行うことが可能である。また、メモリ30はシステム制御回路50の作業領域としても使用することが可能である。
32は適応離散コサイン変換(ADCT)などにより画像データを圧縮伸長する圧縮・伸長回路であり、メモリ30に格納された画像を読み込んで圧縮処理あるいは伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ30に書き込む。
A compression /
40は測光制御部46からの測光情報に基づいて絞り312を制御する絞り制御部340と連携しながらシャッタ12を制御するシャッタ制御部である。42
はAF(オートフォーカス)処理を行うための測距制御部であり、レンズユニット300内の撮影レンズ310に入射した光線を絞り312、レンズマウント306、106、ミラー130および測距用サブミラー(図示せず)を介して一眼レフ方式で入射することにより、光学像として結像された画像の合焦状態を測定する。
Is a distance measurement control unit for performing AF (autofocus) processing. Light beams incident on the photographing
44は温度計であり、撮影環境における周囲温度を検出する。温度計44が撮像素子(センサ)14内にある場合、センサの暗電流をより正確に予想することが可能である。
A
46はAE(自動露出)処理を行うための測光制御部であり、レンズユニット300内の撮影レンズ310に入射した光線を、絞り312、レンズマウント306、106、ミラー130および測光用サブミラー(図示せず)を介して一眼レフ方式で入射することにより、光学像として結像された画像の露出状態を測定する。測光制御部46はフラッシュ部48と連携することにより、EF(フラッシュ調光)処理機能も有する。48はフラッシュ部であり、AF補助光の投光機能およびフラッシュ調光機能を有する。
尚、前述したように、撮像素子14によって撮像された画像データを用いて画像処理回路20により演算された演算結果に基づき、システム制御回路50が露光(シャッタ)制御部40、絞り制御部340、測距制御部342に対し、ビデオTTL方式を用いた露出制御およびAF(オートフォーカス)制御を行うことが可能である。
As described above, based on the calculation result calculated by the
また、測距制御部42による測定結果と、撮像素子14によって撮像された画像データを画像処理回路20によって演算した演算結果とを用いて、AF(オートフォーカス)制御を行うようにしてもよい。さらに、測光制御部46による測定結果と、撮像素子14によって撮像された画像データを画像処理回路20によって演算した演算結果とを用いて露出制御を行うようにしてもよい。
Further, AF (autofocus) control may be performed using a measurement result obtained by the distance
50は画像処理装置100全体を制御するシステム制御回路であり、周知のCPUなどを内蔵する。52はシステム制御回路50の動作用の定数、変数、プログラムなどを記憶するメモリである。54はシステム制御回路50でのプログラムの実行に応じて、文字、画像、音声などで動作状態やメッセージなどを表示する液晶表示装置、スピーカなどを有する表示部であり、画像処理装置100の操作部近辺の視認し易い単数あるいは複数箇所に設置されている。表示部54は、LCD、LED、発音素子などの組合わせにより構成されている。また、表示部54の一部の機能は光学ファインダ104内に設けられている。
表示部54の表示内容のうち、LCDなどに表示するものとしては、シングルショット/連写撮影表示、セルフタイマ表示、圧縮率表示、記録画素数表示、記録枚数表示、残撮影可能枚数表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示、フラッシュ表示、赤目緩和表示、マクロ撮影表示、ブザー設定表示、時計用電池残量表示、電池残量表示、エラー表示、複数桁の数字による情報表示、記録媒体200、210の着脱状態表示、レンズユニット300の着脱状態表示、通信I/F動作表示、日付・時刻表示、外部コンピュータとの接続状態を示す表示などがある。
Among the display contents of the display unit 54, what is displayed on the LCD or the like includes single shot / continuous shooting display, self-timer display, compression rate display, number of recorded pixels, number of recorded pixels, number of remaining images that can be captured, shutter Speed display, Aperture value display, Exposure compensation display, Flash display, Red-eye reduction display, Macro shooting display, Buzzer setting display, Clock battery level display, Battery level display, Error display, Multi-digit number information display and recording There are an attachment / detachment state display of the
また、表示部54の表示内容のうち、光学ファインダ104内に表示するものとしては、合焦表示、撮影準備完了表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、フラッシュ充電完了表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示、記録媒体書き込み動作表示などがある。
Among the display contents of the display unit 54, what is displayed in the
さらに、表示部54の表示内容のうち、LED等に表示するものとしては、例えば、合焦表示、撮影準備完了表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、フラッシュ充電完了表示、記録媒体書き込み動作表示、マクロ撮影設定通知表示、二次電池充電表示などがある。 Furthermore, among the display contents of the display unit 54, what is displayed on the LED or the like includes, for example, in-focus display, shooting preparation completion display, camera shake warning display, flash charge display, flash charge completion display, recording medium writing operation display, Macro shooting setting notification display, secondary battery charge display, etc.
また、表示部54の表示内容のうち、ランプ等に表示するものとしては、例えば、セルフタイマ通知ランプ等がある。このセルフタイマ通知ランプはAF補助光と共用してもよい。 Among the display contents of the display unit 54, what is displayed on a lamp or the like includes, for example, a self-timer notification lamp. This self-timer notification lamp may be shared with AF auxiliary light.
56は後述するプログラムなどが格納された電気的に消去・記録可能な不揮発性メモリであり、不揮発性メモリ56としてEEPROMなどが用いられる。この不揮発性メモリ56には、各種パラメータやISO感度などの設定値、設定モード、および欠陥画素の位置とレベルのデータが格納される。
この欠陥画素の位置とレベルのデータは、生産工程において、調整時あるいは検査時に作成されて書き込まれる。この欠陥画素の位置とレベルのデータの作成方法としては、例えばダーク撮影を行って得られた画像の所定レベル以上の出力を持つ画素を抽出することによりデータとする方法等が考えられる。 The position and level data of the defective pixel is created and written at the time of adjustment or inspection in the production process. As a method for creating the data of the position and level of the defective pixel, for example, a method of generating data by extracting a pixel having an output of a predetermined level or higher of an image obtained by performing dark photographing can be considered.
60、62、64、66、68および70はシステム制御回路50の各種動作指示を入力するための操作部であり、スイッチ、ダイヤル、タッチパネル、視線検知によるポインティング、音声認識装置などの単数あるいは複数の組み合わせで構成される。これら操作部の詳細を以下に示す。
60はモードダイアルスイッチであり、自動撮影モード、プログラム撮影モード、シャッタ速度優先撮影モード、絞り優先撮影モード、マニュアル撮影モード、焦点深度優先(デプス)撮影モード、ポートレート撮影モード、風景撮影モード、接写撮影モード、スポーツ撮影モード、夜景撮影モード、パノラマ撮影モードなどの各機能撮影モードを切り替えて設定可能である。
62はシャッタスイッチ(SW1)であり、シャッタボタン(図示せず)の操作途中でONとなり、AF(オートフォーカス)処理、AE(自動露出)処理、AWB(オートホワイトバランス)処理、EF(フラッシュ調光)処理などの動作開始を指示する。 A shutter switch (SW1) 62 is turned on during the operation of a shutter button (not shown), and AF (auto focus) processing, AE (automatic exposure) processing, AWB (auto white balance) processing, EF (flash adjustment). Instructs the start of operation such as light processing.
64はシャッタスイッチ(SW2)であり、シャッタボタン(図示せず)の操作完了でONとなる。このシャッタスイッチ(SW2)64は、撮像素子14から読み出した信号をA/D変換器16、メモリ制御回路22を介してメモリ30に画像データを書き込む露光処理、画像処理回路20やメモリ制御回路22での演算を用いた現像処理、メモリ30から画像データを読み出し、圧縮・伸長回路32で圧縮を行い、記録媒体200、210に画像データを書き込む記録処理という一連の処理の動作開始を指示する。
66は再生スイッチであり、撮影モード状態で撮影した画像をメモリ30あるいは記録媒体200、210から読み出して画像表示部28に表示する再生動作の開始を指示する。
Reference numeral 66 denotes a playback switch, which instructs to start a playback operation for reading an image shot in the shooting mode state from the
68は単写/連写スイッチであり、シャッタスイッチSW2 64を押した場合、1コマの撮影を行って待機状態とする単写モードと、シャッタスイッチSW2 64を押している間、連続して撮影を行い続ける連写モードとを設定可能である。
69はISO感度設定スイッチであり、撮像素子14あるいは画像処理回路20におけるゲインの設定を変更することによりISO感度を設定できる。
70は各種ボタンやタッチパネルなどからなる操作部であり、メニューボタン、セットボタン、マクロボタン、マルチ画面再生改ページボタン、フラッシュ設定ボタン、単写/連写/セルフタイマ切替ボタン、メニュー移動+(プラス)ボタン、メニュー移動−(マイナス)ボタン、再生画像移動+(プラス)ボタン、再生画像−(マイナス)ボタン、撮影画質選択ボタン、露出補正ボタン、日付/時間設定ボタン、パノラマモード等の撮影および再生を実行する際に各種機能の選択および切り替えを設定する選択/切り替えボタン、パノラマモード等の撮影および再生を実行する際に各種機能の決定および実行を設定する決定/実行ボタン、画像表示部28のON/OFFを設定する画像表示ON/OFFスイッチ、撮影直後に撮影した画像データを自動再生するクイックレビュー機能を設定するクイックレビューON/OFFスイッチ、JPEG圧縮の圧縮率を選択するため、あるいは撮像素子の信号をそのままディジタル化して記録媒体に記録するCCDRAWモードを選択するためのスイッチである圧縮モードスイッチ、再生モード、マルチ画面再生・消去モード、PC接続モード等の各機能モードを設定可能な再生スイッチ、シャッタスイッチSW1を押した際にオートフォーカス動作を開始し、一旦合焦した場合、その合焦状態を保ち続けるワンショットAFモードとシャッタスイッチSW1を押している間、連続してオートフォーカス動作を続けるサーボAFモードとを設定可能なAFモード設定スイッチなどがある。
また、上記プラスボタンおよびマイナスボタンの各機能は、回転ダイアルスイッチを備えることによって、より軽快に数値や機能を選択することが可能となる。 Further, the functions of the plus button and the minus button can be selected more easily with numerical values and functions by providing a rotary dial switch.
72は電源スイッチであり、画像処理装置100の電源オン、電源オフの各モードを切り替え設定可能である。また、画像処理装置100に接続されたレンズユニット300、外部ストロボ、記録媒体200、210等の各種付属装置の電源オン、電源オフの設定も合わせて切り替え設定可能である。
80は電源制御部であり、電池検出回路、DC−DCコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ回路などから構成されており、電池の装着の有無、電池の種類、電池残量の検出を行い、その検出結果およびシステム制御回路50の指示に基づいてDC−DCコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、記録媒体を含む各部に供給する。
82および84はコネクタ、86はアルカリ電池やリチウム電池などの一次電池、NiCd電池、NiMH電池、Li電池などの二次電池、ACアダプタなどからなる電源部である。
90および94はメモリカードやハードディスク等の記録媒体200、210とのインターフェース、92および96はメモリカードやハードディスクなどの記録媒体との接続を行うコネクタ、98はコネクタ92、96に記録媒体200、210が装着されているか否かを検知する記録媒体着脱検知部である。
尚、本実施形態では、記録媒体を取り付けるインターフェースおよびコネクタが2系統装備されているが、記録媒体を取り付けるインターフェースおよびコネクタは単数あるいは任意の数の系統数装備されていてもよい。また、異なる規格のインターフェースおよびコネクタとして、PCMCIAカードやCF(コンパクトフラッシュ(登録商標))カードなどの規格に準拠したものを用いてもよい。 In this embodiment, two interfaces and connectors for attaching the recording medium are provided. However, a single or an arbitrary number of interfaces and connectors for attaching the recording medium may be provided. Further, as interfaces and connectors of different standards, those conforming to standards such as PCMCIA cards and CF (Compact Flash (registered trademark)) cards may be used.
さらに、インターフェース90、94、コネクタ92、96をPCMCIAカードやCF(コンパクトフラッシュ(登録商標))カードなどの規格に準拠したものを用いて構成した場合、LANカード、モデムカード、USBカード、IEEE1394カード、P1284カード、SCSIカード、PHSなどの通信カードなどの各種通信カードを接続することより、他のコンピュータやプリンタなどの周辺機器との間で画像データや画像データに付属した管理情報を相互に転送することが可能である。
Further, when the
104は光学ファインダであり、撮影レンズ310に入射した光線を、一眼レフ方式によって、絞り312、レンズマウント306、106、ミラー130、132を介して導き、光学像として結像させて表示することが可能である。これにより、画像表示部28による電子ファインダ機能を使用することなく、光学ファインダ104だけを用いて撮影を行うことが可能である。また、光学ファインダ104内には、表示部54の一部の機能、例えば、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示などが設けられている。
110は通信部であり、RS232C、USB、IEEE1394、P1284、SCSI、モデム、LAN、無線通信などの各種通信機能を有する。112は通信部110により画像処理装置100を他の機器と接続するコネクタ、もしくは無線通信を行う場合のアンテナである。
A
120はレンズマウント106内で画像処理装置100をレンズユニット300と接続するためのインターフェースである。122は画像処理装置100をレンズユニット300と電気的に接続するコネクタである。また、不図示であるが、レンズマウント106および/またはコネクタ122にレンズユニット300が装着されているか否かを検知するレンズ着脱検知部が設けられている。
コネクタ122は画像処理装置100とレンズユニット300との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うと共に、各種電圧の電流を供給する機能も備えている。また、コネクタ122は電気通信だけでなく、光通信、音声通信などを伝達する構成としてもよい。
The
130、132はミラーであり、撮影レンズ310に入射した光線を、一眼レフ方式によって光学ファインダ104に導く。ミラー132はクイックリターンミラーの構成にしてもハーフミラーの構成にしてもどちらでもよい。
200はメモリカードやハードディスクなどの記録媒体である。記録媒体200は、半導体メモリや磁気ディスクなどから構成される記録部202、画像処理装置100とのインターフェース204、および画像処理装置100との接続を行うコネクタ206を有している。210は、記録媒体200と同様、メモリカードやハードディスク等の記録媒体である。記録媒体210は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部212、画像処理装置100とのインターフェース214、および画像処理装置100との接続を行うコネクタ216を有している。
300は交換レンズタイプのレンズユニットである。306はレンズユニット300を画像処理装置100と機械的に結合するレンズマウントである。レンズマウント306内には、レンズユニット300を画像処理装置100と電気的に接続する各種機能が含まれている。
310は撮影レンズ、312は絞りである。320はレンズマウント306内でレンズユニット300を画像処理装置100と接続するためのインターフェースである。322はレンズユニット300を画像処理装置100と電気的に接続するコネクタである。
コネクタ322は画像処理装置100とレンズユニット300との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うと共に、各種電流が供給され、あるいは電流を供給する機能を備えている。また、コネクタ322は電気信号だけでなく、光信号、音声信号などを伝達する構成としてもよい。
The
340は測光制御部46からの測光情報に基づいて、シャッタ12を制御するシャッタ制御部40と連携しながら、絞り312を制御する絞り制御部である。342は撮影レンズ310のフォーカシングを制御する測距制御部である。344は撮影レンズ310のズーミングを制御するズーム制御部である。350はレンズユニット300全体を制御するレンズシステム制御回路である。レンズシステム制御回路350は、動作用の定数、変数、プログラムなどを記憶するメモリやレンズユニット300固有の番号などの識別情報、管理情報、開放絞り値や最小絞り値、焦点距離等の機能情報、現在や過去の各設定値などを保持する不揮発メモリの機能も備えている。
上記構成を有する電子カメラの動作について説明する。図2、図3および図4は画像処理装置100の撮影動作処理手順を示すフローチャートである。この処理プログラムは不揮発性メモリ56などの記憶媒体に格納されており、メモリ52にロードされてシステム制御回路50内のCPUによって実行される。
The operation of the electronic camera having the above configuration will be described. 2, 3, and 4 are flowcharts showing the photographing operation processing procedure of the
電池交換などの電源投入により、システム制御回路50はフラグや制御変数等を初期化し、画像処理装置100の各部に対して必要な所定の初期設定を行う(ステップS101)。システム制御回路50は、電源スイッチ72の設定位置を判別し、電源スイッチ72が電源OFFに設定されているか否かを判別する(ステップS102)。
Upon power-on such as battery replacement, the
電源スイッチ72が電源OFFに設定されている場合、各表示部の表示を終了状態に変更し、フラグや制御変数などを含む必要なパラメータや設定値、設定モードを不揮発性メモリ56に記録し、電源制御部80により画像表示部28を含む画像処理装置100各部の不要な電源を遮断する等の所定の終了処理を行った後(ステップS103)、ステップS102の処理に戻る。
When the
一方、電源スイッチ72が電源ONに設定されていた場合、システム制御回路50は電源制御部80により電池などの電源86の残容量や動作状況が画像処理装置100の動作に問題があるか否かを判別する(ステップS104)。問題があると判別された場合、表示部54に画像の表示や音声の出力により所定の警告を行った後(ステップS105)、ステップS102の処理に戻る。
On the other hand, when the
一方、電源86に問題がないと判別された場合、システム制御回路50はモードダイアルスイッチ60の設定位置を判断し、モードダイアルスイッチ60が撮影モードに設定されているか否かを判別する(ステップS106)。モードダイアルスイッチ60がその他のモードに設定されている場合、システム制御回路50は選択されたモードに応じた処理を実行し(ステップS107)、実行後にステップS102の処理に戻る。
On the other hand, if it is determined that there is no problem with the power supply 86, the
一方、モードダイアルスイッチ60が撮影モードに設定されている場合、記録媒体200、210が装着されているか否かの判断、記録媒体200、210に記録された画像データの管理情報の取得、および記録媒体200、210の動作状態が画像処理装置100の動作、特に記録媒体に対する画像データの記録再生動作に問題があるか否かを判別する(ステップS108)。問題があると判別された場合、表示部54に画像の表示や音声の出力により所定の警告を行った後(ステップS105)、ステップS102の処理に戻る。
On the other hand, when the
一方、ステップS108で問題がないと判別された場合、システム制御回路50は表示部54を用いて画像や音声により画像処理装置100の各種設定状態の表示を行う(ステップS109)。ここで、画像表示部28の画像表示スイッチがONである場合、画像表示部28を用いて画像や音声により画像処理装置100の各種設定状態を表示するようにしてもよい。
On the other hand, if it is determined in step S108 that there is no problem, the
シャッタスイッチSW1 62が押されているか否かを判別し(ステップS113)、シャッタスイッチSW1 62が押されていない場合、ステップS102の処理に戻る。一方、シャッタスイッチSW1 62が押されている場合、システム制御回路50は、測距処理を行って撮影レンズ310の焦点を被写体に合わせ、測光処理を行って絞り値およびシャッタ速度を決定する測距・測光処理を行う(ステップS114)。測光処理では、必要であればフラッシュの設定を行う。
It is determined whether or not the
そして、シャッタスイッチSW2 64が押されているか否かを判別し(ステップS115)、シャッタスイッチSW2 64が押されていない場合、シャッタスイッチSW1 62が離されたか否かを判別し(ステップS116)、シャッタスイッチSW1 62が離されるかシャッタスイッチSW2 64が押されるまでステップS115およびステップS116の処理を繰り返す。ステップS116でシャッタスイッチSW1 62が離された場合、ステップS102の処理に移行する。
Then, it is determined whether or not the
一方、ステップS115でシャッタスイッチSW2 64が押された場合、システム制御回路50は、撮影した画像データの記憶可能な画像記憶バッファ領域がメモリ30にあるか否かを判別する(ステップS126)。メモリ30の画像記憶バッファ領域内に新たな画像データの記憶可能な領域がないと判別された場合、表示部54に画像の表示や音声の出力により所定の警告を行った後(ステップS127)、ステップS102の処理に戻る。
On the other hand, when the shutter switch SW264 is pressed in step S115, the
例えば、メモリ30の画像記憶バッファ領域内に記憶可能な最大枚数の連写撮影を行った直後であり、メモリ30から読み出して記憶媒体200、210に書き込むべき最初の画像がまだ記憶媒体200、210に未記録な状態であり、まだ1枚の空き領域もメモリ30の画像記憶バッファ領域上に確保できない状態である場合などである。
For example, immediately after performing the maximum number of continuous shots that can be stored in the image storage buffer area of the
尚、撮影した画像データを圧縮処理してからメモリ30の画像記憶バッファ領域に記憶する場合、圧縮した後の画像データ量が圧縮モードの設定に応じて異なることを考慮して、記憶可能な領域がメモリ30の画像記憶バッファ領域上にあるか否かをステップS126の処理で判断することになる。
Note that when the captured image data is compressed and stored in the image storage buffer area of the
一方、ステップS126でメモリ30に撮影した画像データの記憶可能な画像記憶バッファ領域があると判別された場合、システム制御回路50は、撮像して所定時間蓄積した撮像信号を撮像素子14から読み出し、A/D変換器16、画像処理回路20およびメモリ制御回路22を介して、あるいはA/D変換器16から直接、メモリ制御回路22を介して、メモリ30の所定領域に撮影した画像データを書き込む撮影処理を実行する(ステップS128)。この撮影処理の詳細については、後述する。
On the other hand, if it is determined in step S126 that there is an image storage buffer area capable of storing the image data captured in the
ステップS128の撮影処理を終えると、システム制御回路50は、その内部メモリあるいはメモリ52に記憶されているキズ補正テーブルのデータを使って欠陥画素補正を行う(ステップS129)。欠陥画素補正処理の詳細については後述する。
When the photographing process in step S128 is completed, the
次に現像処理(ステップS130)の処理に移行する。システム制御回路50は、メモリ30の所定領域に書き込まれた画像データの一部をメモリ制御回路22を介して読み出して現像処理を行うために必要なWB(ホワイトバランス)積分演算処理、OB(オプティカルブラック)積分演算処理を行い、演算結果をシステム制御回路50の内部メモリあるいはメモリ52に記憶する。
Next, the process proceeds to the development process (step S130). The
そして、システム制御回路50は、メモリ制御回路22、必要に応じて画像処理回路20を用いて、メモリ30の所定領域に書き込まれた撮影画像データを読み出し、システム制御回路50の内部メモリあるいはメモリ52に記憶した演算結果を用いて、AWB(オートホワイトバランス)処理、ガンマ変換処理、色変換処理を含む各種現像処理を行う(ステップS130)。
Then, the
システム制御回路50は、メモリ30の所定領域に書き込まれた画像データを読み出して、設定されたモードに応じた画像圧縮処理を圧縮・伸長回路32により行い、メモリ30の画像記憶バッファ領域の空き画像部分に、撮影して一連の処理を終えた画像データの書き込みを行う(ステップS131)。
The
そして、システム制御回路50は、メモリ30の画像記憶バッファ領域に記憶された画像データを読み出し、インターフェース90、94、コネクタ92、96を介して、メモリカードやコンパクトフラッシュ(登録商標)カード等の記録媒体200、210に読み出した画像データを書き込む記録処理を開始する(ステップS132)。この記録開始処理は、メモリ30の画像記憶バッファ領域の空き画像部分に、撮影して一連の処理を終えた画像データの書き込みが新たに行われる度に、その画像データに対して実行される。
Then, the
尚、記録媒体200、210に画像データの書き込みを行っている間、書き込み動作中であることを示すために、表示部54に例えばLEDを点滅させる等の記録媒体書き込み動作表示を行う。
Note that while writing image data to the
さらに、システム制御回路50は、シャッタスイッチSW1 62が押されているか否かを判別する(ステップS133)。シャッタスイッチSW1 62が離された状態である場合、ステップS102の処理に戻る。一方、シャッタスイッチSW1 62が押された状態である場合、単写が設定されていた場合、ステップS115の処理に戻り、シャッタスイッチSW1 62が離されるまで現在の処理を繰り返す。これにより、撮影に関する一連の処理が終了する。
Furthermore, the
図5はステップS114における測距・測光処理手順を示すフローチャートである。測距・測光処理では、システム制御回路50と、絞り制御部340あるいは測距制御部342との間の各種信号のやり取りは、インターフェース120、コネクタ122、コネクタ322、インターフェース320およびレンズシステム制御回路350を介して行われる。
FIG. 5 is a flowchart showing the distance measurement / photometry processing procedure in step S114. In the distance measurement / photometry processing, the exchange of various signals between the
システム制御回路50は、撮像素子14、測距制御部42および測距制御部342を用いて、AF(オートフォーカス)処理を開始する(ステップS201)。
The
システム制御回路50は、撮影レンズ310に入射した光線を、絞り312、
レンズマウント306、106、ミラー130、測距用サブミラー(図示せず)を介して、測距制御部42に入射させることにより、光学像として結像された画像の合焦状態を判断し、測距(AF)が合焦と判断されるまで、測距制御部342を用いて撮影レンズ310を駆動しながら、測距制御部42を用いて合焦状態を検出するAF制御を実行する(ステップS202、S203)。
The
By making it enter the distance
ステップS203で測距(AF)が合焦と判断された場合、システム制御回路50は、撮影画面内の複数の測距点の中から合焦した測距点を決定し、決定した測距点データと共に測距データおよび/または設定パラメータをシステム制御回路50の内部メモリあるいはメモリ52に記憶する(ステップS204)。
When ranging (AF) is determined to be in focus in step S203, the
続いて、システム制御回路50は、測光制御部46を用いてAE(自動露出)処理を開始する(ステップS205)。システム制御回路50は、撮影レンズ310に入射した光線を、絞り312、レンズマウント306、106、ミラー130、132および測光用レンズ(図示せず)を介して、測光制御部46に入射させることにより、光学像として結像された画像の露出状態を測定し、露出(AE)が適正と判断されるまで露光(シャッタ)制御部40を用いて測光処理を行う(ステップS206、S207)。
Subsequently, the
ステップS206の測光処理で検出した露出(AE)結果と、モードダイアルスイッチ60によって設定された撮影モードとに応じて、システム制御回路50では絞り値(Av値)およびシャッタ速度(Tv値)が決定される。
The
ここで、決定されたシャッタ速度(Tv値)に応じて、システム制御回路50は、撮像素子14の電荷蓄積時間を決定する。
Here, the
ステップS207で露出(AE)が適正であると判断された場合、ステップS206の測光処理で得られた測定データにより、システム制御回路50はフラッシュが必要であるか否かを判別し(ステップS208)、フラッシュが必要である場合、フラッシュフラグをセットし、充電が完了するまでフラッシュ部48を充電する(ステップS209、S210)。そして、フラッシュ部48の充電が完了すると、本処理を終了してメインの処理に復帰する。
If it is determined in step S207 that the exposure (AE) is appropriate, the
図6はステップS128における撮影処理手順を示すフローチャートである。この撮影処理では、システム制御回路50と、絞り制御部340あるいは測距制御部342との間の各種信号のやり取りは、インターフェース120、コネクタ122、コネクタ322、インターフェース320およびレンズシステム制御回路350を介して行われる。
FIG. 6 is a flowchart showing the photographing processing procedure in step S128. In this photographing process, various signals are exchanged between the
システム制御回路50は、ミラー130をミラー駆動部(図示せず)によってミラーアップ位置に移動させ(ステップS301)、システム制御回路50の内部メモリあるいはメモリ52に記憶された測光データに従い、絞り制御部340によって絞り312を所定の絞り値まで駆動する(ステップS302)。
The
システム制御回路50は、撮像素子14の電荷クリア動作を行った後(ステップS303)、撮像素子14の電荷蓄積を開始し(ステップS304)、シャッタ制御部40によってシャッタ12を開き(ステップS305)、撮像素子14の露光を開始する(ステップS306)。
After performing the charge clear operation of the image sensor 14 (step S303), the
そして、フラッシュフラグによりフラッシュ部48が必要であるか否かを判別し(ステップS307)、必要である場合、フラッシュ部48を発光させる(ステップS308)。
Then, it is determined whether or not the
システム制御回路50は、測光データにしたがって撮像素子14の露光終了を待ち(ステップS309)、露光が終了すると、シャッタ制御部40によってシャッタ12を閉じ(ステップS310)、撮像素子14の露光を終了する。
The
システム制御回路50は、絞り制御部340によって絞り312を開放の絞り値まで駆動し(ステップS311)、ミラー130をミラー駆動部(図示せず)によってミラーダウン位置に移動させる(ステップS312)。
The
設定した電荷蓄積時間が経過したか否かを判別し(ステップS313)、設定した電荷蓄積時間が経過した場合、システム制御回路50は撮像素子14の電荷蓄積を終了した後(ステップS314)、撮像素子14から電荷信号を読み出し、A/D変換器16、画像処理回路20、メモリ制御回路22を介して、あるいはA/D変換器16から直接、メモリ制御回路22を介してメモリ30の所定領域に撮影画像データを書き込む(ステップS315)。一連の処理を終了すると、本処理を終了してメインの処理に復帰する。
It is determined whether or not the set charge accumulation time has elapsed (step S313). If the set charge accumulation time has elapsed, the
図7はキズ補正処理は上記図4のステップS129におけるキズ補正処理の詳細なフローチャートである。まず画像処理装置100のシステム制御回路50は、キズ補正処理を行う際に使用するためのキズ補正データの読み出しを行う(ステップS401)。この場合、キズ補正データは不揮発性メモリ56もしくはシステム制御回路50の内蔵メモリに保存されており、撮影後のキズ補正処理において実際に使用するキズ補正データを読み出す。
FIG. 7 is a detailed flowchart of the scratch correction process in step S129 of FIG. First, the
ここで、キズ補正データは事前に検出された欠陥画素を出力レベル順にソートした情報の中から、ホワイトバランスモードの設定で選択的に変化するR,G,B各色ごとのゲイン、あるいは撮影画像から演算され変化する各色ごとのゲインに応じた出力レベルに応じて選択された欠陥画素のアドレスに関する情報を保持するデータである。 Here, the defect correction data is obtained from the information obtained by sorting the defective pixels detected in advance in the order of the output level, from the gain for each color of R, G, and B that is selectively changed by the setting of the white balance mode, or from the captured image. This data holds information related to the address of the defective pixel selected according to the output level corresponding to the gain for each color that is calculated and changed.
図8,9を用いて、このキズ補正データ読み出しシーケンスについて詳細に説明する。図8,9は図7のステップS401におけるキズ補正のための補正データ読み出しの詳細なフローチャートおよび表である。撮像素子14は、その出荷時に、所定の環境温度、所定の電荷蓄積時間に得られた画像データにより、各種のキズ画素(欠陥画素)を抽出される。これらのキズ画素はR,G、Bごとに分離し出力レベルごとのソートが掛けられ、アドレス、キズレベルが記載された出荷時データをもとに、本画像処理装置100内のメモリに格納するデータを成形する。この処理は画像処理装置100で外部で行われる。
The defect correction data reading sequence will be described in detail with reference to FIGS. 8 and 9 are detailed flowcharts and tables for reading correction data for flaw correction in step S401 in FIG. When the image sensor 14 is shipped, various scratch pixels (defective pixels) are extracted from image data obtained at a predetermined environmental temperature and a predetermined charge accumulation time. These scratched pixels are separated for each of R, G, and B and sorted for each output level. Based on the shipping data in which the address and scratch level are described, the data stored in the memory in the
図8のキズ補正データ読み出しシーケンスを、上述した説明に対応させてステップ順に説明すると、まず、システム制御回路50、ISO感度の設定値(例えば100、200、400、800)を確認し(ステップS501)、シャッタ速度を確認し(ステップS502)、ホワイトバランスモード設定を確認(ステップS503)した後、ISO設定値>400を判断する(ステップS504)、ISO設定値が400以下である場合は、LEVELに1を入れる(ステップ505)。ISO設定が400を超える場合はLEVELに2を入れる(ステップS507)。次にシャッタ速度が1秒以下であるかを判断し(ステップ506)、シャッタ速度が1秒を超える場合はLEVELに1を追加する(ステップS508)。シャッタ速度が1秒以下である場合は、キズ補正レベルの設定を行う(ステップS509)。
8 will be described in the order of steps corresponding to the above description. First, the
ここでステップS509で行うISO設定とシャッタ速度に応じたキズ補正レベルの設定について説明する。 Here, the ISO setting performed in step S509 and the setting of the scratch correction level according to the shutter speed will be described.
白キズの多くは撮像素子14の露光時間(電荷蓄積時間)に応じてレベルが大きくなる傾向があり、同じレベルの白キズであっても、設定されたISO感度(撮像素子14のゲインおよび画像処理回路20のゲイン)によっても、画像となった場合のキズのレベルが変わってしまう。
Many white scratches tend to increase in level according to the exposure time (charge accumulation time) of the image sensor 14, and even if the white scratches are at the same level, the set ISO sensitivity (gain of the image sensor 14 and image) Depending on the gain of the
例えば、ISOが高くなるほど画像でのキズレベルは高くなり、補正が必要な画素アドレスを抽出するための出荷時データにおけるキズ補正レベルの値は下げていく必要がある。また、測光処理(上記図5におけるS206)で決定されたシャッタ速度(Tv値)に応じて、システム制御回路50は、撮像素子14の電荷蓄積時間を決定する。電荷蓄積時間が長くなると、白キズレベルは上昇し、短秒時では問題にならないレベルの画素の出力が長秒時では大きなキズレベルになることもある。したがって、シャッタ速度が長くなるにしたがって、出荷時データにおけるキズ補正レベルの値は下げていく必要がある。
For example, the higher the ISO is, the higher the scratch level in the image is, and it is necessary to lower the value of the scratch correction level in the shipping data for extracting the pixel address that needs to be corrected. Further, the
例えば図9(a)(b)を用い説明すると、ISO感度とシャッタ速度Tvに応じたキズ補正レベルをLEVEL1、LEVEL2、LEVEL3の3段階設定し、出荷時データにおけるキズ補正レベルをそれぞれ、10mV以上、5mV以上、2mV以上とする。 For example, referring to FIGS. 9 (a) and 9 (b), the defect correction level corresponding to the ISO sensitivity and the shutter speed Tv is set in three levels LEVEL1, LEVEL2, and LEVEL3, and the defect correction level in the shipping data is 10 mV or more, respectively. 5 mV or more and 2 mV or more.
ISOが400以下でシャッタ速度が1秒以下である場合は、キズ補正レベルは10mVが設定される。またISOが400を超え、シャッタ速度も1秒を超えるとキズ補正レベルは2mVが設定される。 When ISO is 400 or less and the shutter speed is 1 second or less, the scratch correction level is set to 10 mV. If the ISO exceeds 400 and the shutter speed exceeds 1 second, the scratch correction level is set to 2 mV.
次にホワイトバランスゲイン補正を行う(ステップS510)。 Next, white balance gain correction is performed (step S510).
ここでホワイトバランスゲイン補正について説明すると、撮影時の光源の色温度の違いを補正するホワイトバランス補正を行うと、R,G,Bの各色ごとに異なったゲインをかけるため、最終的な撮影画像としては色ごとにキズのレベルが変わってしまう。 Here, the white balance gain correction will be described. When the white balance correction for correcting the difference in color temperature of the light source at the time of shooting is performed, a different gain is applied to each color of R, G, and B. As a result, the level of scratches will change for each color.
図9(c)に示すように、撮影時に設定されたホワイトバランスモード、例えば太陽光モード、蛍光灯モード、電球モードそれぞれに設定されたRゲイン,Gゲイン,Bゲインを使って、(c)に示す演算式に従って、R,G,Bそれぞれに対し、キズ補正レベル(R,G,B)を設定する。 As shown in FIG. 9C, using the white balance mode set at the time of shooting, for example, the R gain, G gain, and B gain set for each of the sunlight mode, fluorescent lamp mode, and bulb mode, (c) The scratch correction level (R, G, B) is set for each of R, G, B according to the arithmetic expression shown in FIG.
次にR,G,Bそれぞれに設定したキズデータ読み出しを行う(ステップS510)。ステップS510では、不揮発性メモリ56もしくはシステム制御回路50の内蔵メモリに保存されている、出荷時のR,G,Bそれぞれのデータ(DataR、DataG、DataB)からR,G,Bそれぞれに設定されたキズ補正レベル以上のキズに関するアドレス情報を読み出すしリターンする。
Next, the scratch data set for each of R, G, and B is read (step S510). In step S510, R, G, B data (DataR, DataG, DataB) stored in the
図7に戻り、システム制御回路50は、上記ステップS402にて使用するキズ補正データを指定した後、撮像素子14の白キズを補償するために、上記ステップS402で指定したキズ補正データに記載された白キズ画素のアドレスを示す情報を参照しながら、メモリ30の所定領域に書き込まれた撮影画像の対応する画素に対し、隣接する同色画素の撮影画像データを用いて点キズ補正処理を行う。まず、システム制御回路50は、選択したキズ補正データの先頭から1画素分のキズアドレス情報を読み込み(S403).このアドレス情報を参照し、メモリ30に書き込まれた撮影画像における該当画素のアドレスを特定することが可能である。
Returning to FIG. 7, the
次に、システム制御回路50は、上記ステップS403でアドレスを特定した該当画素に隣接する同色画素の撮影画像データを読み込む(ステップS404)。次に、システム制御回路50は上記ステップS404で得られた隣接画素の値から、該当画素の補正量を算出する(ステップS405)。続いて、システム制御回路50は、上記ステップS405で算出した該当画素の補正量を、メモリ30における該当アドレスに書き込む(ステップS406)。これにより、該当画素の補正処理は完了する。
Next, the
次に、システム制御回路50は、指定したき図補正データに記載されたキズ画素のキズ補正処理が全て完了したか否かを判断する(ステップS407)。
Next, the
キズ画素の補正処理がまだ完了していないと判断した場合は、上記ステップS403に戻り、キズ補正データに記載された次のキズアドレス情報を読み出し、上記と同様の処理を繰り返す。他方、システム制御回路50は、指定したキズ補正データに記載された全てのキズ補正処理が完了したと判断した場合、次の補正すべきデータをあるか否かを判断する(ステップS408)。
If it is determined that the defect pixel correction process has not been completed, the process returns to step S403, the next defect address information described in the defect correction data is read, and the same process as described above is repeated. On the other hand, if the
S401で読み出された全てのキズ画素に対するキズ補正処理が全て終了すると、キズ補正処理シーケンスを全て完了する。 When all the defect correction processes for all the defect pixels read out in S401 are completed, the entire defect correction processing sequence is completed.
以上説明したように本実施の形態によれば、次のような効果がある。 As described above, the present embodiment has the following effects.
(1)R,G,Bそれぞれのキズ補正レベルを設定することで、色再現処理後の最終画像で特定の色の欠陥画素が目立つことによる画質低下を防ぎ、かつ最小限のキズ補正個数で補正することができるためメモリ容量を削減させ、処理スピードを速めるという効果がある。 (1) By setting the respective defect correction levels for R, G, and B, it is possible to prevent deterioration in image quality due to conspicuous defective pixels of a specific color in the final image after color reproduction processing, and with a minimum number of defect corrections. Since the correction can be made, the memory capacity is reduced and the processing speed is increased.
(2)R,G,Bのそれぞれのキズ補正レベルは、撮影時の光源の色温度を補正するホワイトバランスの補正モードに応じ、R,G,Bそれぞれのキズ補正レベルを連動させて設定するため 光源の異なる多様な撮影条件に適応したキズ補正を可能とする効果がある。 (2) The scratch correction levels for R, G, and B are set in conjunction with the scratch correction levels for R, G, and B according to the white balance correction mode that corrects the color temperature of the light source during shooting. Therefore, there is an effect of enabling defect correction adapted to various shooting conditions with different light sources.
(第2の実施形態)
上記第1の実施形態では、キズ補正レベルをR,G,Bで異なる設定としたが、キズ補正個数に対しR,G,Bで異なる設定としても勿論問題無い。
(Second Embodiment)
In the first embodiment, the scratch correction level is set differently for R, G, and B. However, there is of course no problem even if the scratch correction level is set differently for R, G, and B.
例えば図10(b)に示すように、ISO感度とシャッタ速度Tvに応じたキズ補正レベルをLEVEL1、LEVEL2、LEVEL3の3段階設定し、出荷時データにおけるキズ補正個数をそれぞれ、500個、1000個、5000個とする。 For example, as shown in FIG. 10B, the scratch correction level corresponding to the ISO sensitivity and the shutter speed Tv is set in three levels of LEVEL1, LEVEL2, and LEVEL3, and the number of scratch corrections in the shipping data is 500 and 1000, respectively. 5000 pieces.
ISOが400以下でシャッタ速度が1秒以下である場合は、キズ補正個数は500個が設定される。またISOが400を超え、シャッタ速度も1秒を超えるとキズ補正個数は1000個が設定される。 When the ISO is 400 or less and the shutter speed is 1 second or less, 500 is set as the number of flaw corrections. When the ISO exceeds 400 and the shutter speed also exceeds 1 second, 1000 is set as the number of defect corrections.
次にホワイトバランスゲイン補正を行う(ステップS510)。 Next, white balance gain correction is performed (step S510).
ここでホワイトバランスゲイン補正について説明すると、撮影時の光源の色温度の違いを補正するホワイトバランス補正を行うと、R,G,Bの各色ごとに異なったゲインをかけるため、最終的な撮影画像としては色ごとにキズのレベルが変わってしまう。 Here, the white balance gain correction will be described. When the white balance correction for correcting the difference in color temperature of the light source at the time of shooting is performed, a different gain is applied to each color of R, G, and B. As a result, the level of scratches will change for each color.
図9(c)に示すように、撮影時に設定されたホワイトバランスモード、例えば太陽光モード、蛍光灯モード、電球モードそれぞれに設定されたRゲイン,Gゲイン,Bゲインを使って、図10(d)に示す演算式に従って、R,G,Bそれぞれに対し、キズ補正個数(R,G,B)を設定する。 As shown in FIG. 9C, the white balance mode set at the time of shooting, for example, the R gain, G gain, and B gain set for each of the sunlight mode, the fluorescent lamp mode, and the bulb mode are used. According to the arithmetic expression shown in d), the number of scratch corrections (R, G, B) is set for each of R, G, B.
次にR,G,Bそれぞれに設定したキズデータ読み出しを行う(ステップS511)。ステップS511では、不揮発性メモリ56もしくはシステム制御回路50の内蔵メモリに保存されている、出荷時のR,G,Bそれぞれのデータ(DataR、DataG、DataB)からR,G,Bそれぞれにキズレベルの大きいものから設定されたキズ補正個数のアドレス情報を読み出しリターンする。
Next, the flaw data set for each of R, G, and B is read (step S511). In step S511, the R, G, and B data (DataR, DataG, and DataB) stored in the
(他の実施の形態)
尚、本実施の形態では、3種類のホワイトバランスモードに対応した固定のR,G、Bのゲインを選択しているが、撮影された画像から演算しホワイトバランス補正を行うオートホワイトバランス(AWB)モードや、ある任意に特定した撮影画像からホワイトバランス補正のR,G,Bゲインを演算するマニュアルホワイトバランスモード、また任意の色温度を設定してR,G,Bゲインを設定し、ホワイトバランス補正を行う色温度指定ホワイトバランスモード、でもそれぞれのモードで設定されたR.G、Bの各ゲインを使用しても勿論問題無い。
(Other embodiments)
In the present embodiment, fixed R, G, and B gains corresponding to three types of white balance modes are selected. However, auto white balance (AWB) that performs white balance correction by calculating from a captured image. ) Mode, manual white balance mode for calculating R, G, B gain for white balance correction from a specified image, or setting an arbitrary color temperature to set R, G, B gain, white The color temperature specified white balance mode for performing balance correction, but the R.D. Of course, there is no problem even if each gain of G and B is used.
また、本実施の形態では、R,G,Bの各色ごとにキズ補正レベルを設定し、不揮発性メモリ56もしくはシステム制御回路50の内蔵メモリに保存されている、出荷時のR,G,Bそれぞれのデータ(DataR、DataG、DataB)から キズレベルをR,G,Bそれぞれに設定されたキズ補正レベル以上のキズに関するアドレス情報を読み出すとなっているが、予めキズレベルごとにテーブル分割したデータ(DataR1、DataR2、DataR3)、(DataG1、DataG2、DataG3)、(DataB1、DataB2、DataB3)として不揮発性メモリ56もしくはシステム制御回路50の内蔵メモリに保存し、R、G、Bそれぞれに対しホワイトバランスのR,G,Bのゲインに応じたテーブルを指定しても勿論問題無い。
In the present embodiment, a defect correction level is set for each color of R, G, and B, and stored in the
また、本実施例では色の分割をR,G,Bの3種類となっているが、撮像素子14に塗布されている色フィルタの数に応じた処理を行うことも勿論可能である。 In this embodiment, there are three types of color division, R, G, and B, but it is of course possible to perform processing according to the number of color filters applied to the image sensor 14.
また、本実施例では撮像素子14に塗布されている色フィルタ色の分割をR,G,Bとなっているが、Magenta(M)、Yellow(Y)、Cyan(C)の分光特性を有する撮像素子を用いても勿論可能である。 In this embodiment, the color filter color applied to the image sensor 14 is divided into R, G, and B, but has spectral characteristics of Magenta (M), Yellow (Y), and Cyan (C). Of course, it is possible to use an image sensor.
また、本実施例では、キズ補正LEVELが3段階となっているが、これに限るものでは無く、シャッタ速度やISOの分割を変えキズ補正レベルの段階を増減しても勿論問題ない。 In this embodiment, the scratch correction LEVEL has three stages. However, the present invention is not limited to this, and there is of course no problem if the shutter speed or ISO division is changed to increase or decrease the scratch correction level.
また、本実施形態では、ミラー130をミラーアップ位置、ミラーダウン位置を移動して撮影動作を行う場合を示したが、ミラー130をハーフミラーの構成として、移動せずに撮影動作を行うようにしても勿論問題無い。
Further, in the present embodiment, the case where the photographing operation is performed by moving the
また、本実施形態では、記録媒体200、210は、PCMCIAカードやコンパクトフラッシュ(登録商標)等のメモリカード、ハードディスク等だけでなく、マイクロDAT、光磁気ディスク、CD−R、CD−RW等の光ディスク、DVD等の相変化型光ディスク等で構成されていても勿論問題無い。さらには、記録媒体200、210がメモリカードとハードディスク等が一体となった複合媒体であっても勿論問題無い。この場合、複合媒体から一部が着脱自在な構成であっても勿論問題無い。
In this embodiment, the
また、本実施例では、記録媒体200、210は画像処理装置100と分離しており、任意に接続可能なものであるとしたが、いずれかあるいは全ての記録媒体が画像処理装置100に固定されたままであってもよい。また、画像処理装置100に、記録媒体200、210が単数あるいは複数の任意の個数接続可能な構成であっても勿論問題無い。
また、本実施例では、画像処理装置100に記録媒体200および210を装着する構成として説明したが、記録媒体は単数あるいは複数のいずれかの組み合わせの構成であっても勿論問題ない。
In this embodiment, the
In this embodiment, the
また、本発明は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードをシステムあるいは装置に供給することによって達成される場合にも適用できることはいうまでもない。この場合、プログラムコード自体が本発明の新規な機能を実現することになり、そのプログラム自体およびそのプログラムを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。 It goes without saying that the present invention can also be applied to a case where the present invention is achieved by supplying software program codes for realizing the functions of the above-described embodiments to a system or apparatus. In this case, the program code itself realizes the novel function of the present invention, and the program itself and the storage medium storing the program constitute the present invention.
上記実施形態では、図2〜図8のフローチャートに示すプログラムコードは記憶媒体であるROMに格納されている。プログラムコードを供給する記憶媒体としては、ROMに限らず、例えばフレキシブルディスク、ハードディスク、不揮発性のメモリカードなどを用いることができる。 In the above embodiment, the program codes shown in the flowcharts of FIGS. 2 to 8 are stored in the ROM that is a storage medium. The storage medium for supplying the program code is not limited to the ROM, and for example, a flexible disk, a hard disk, a nonvolatile memory card, or the like can be used.
14 撮像素子
44 温度計
50 システム制御回路
56 不揮発性メモリ
60 モードダイアル
62 シャッタスイッチSW1
64 シャッタスイッチSW2
69 ISO感度設定スイッチ
100 画像処理装置
14
64 Shutter switch SW2
69 ISO
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