JP2005308511A5 - - Google Patents

Claims (7)

1. 第一の基準信号を参照して生成される第一の局部信号を用いて、被測定信号の位相を表す第一の位相信号を生成するステップと、
   前記第一の基準信号とは異なる周波数を有する第二の基準信号を参照して生成される第二の局部信号を用いて、前記被測定信号の位相を表す第二の位相信号を生成するステップと、
   前記第一の位相信号と前記第二の位相信号との相互相関またはクロススペクトラムを求めるステップと、
   を含む位相雑音測定方法。
2. 前記第一の基準信号と前記第二の基準信号との周波数差が、前記相互相関または前記クロススペクトラムの処理対象時間の逆数で表される周波数以上である、
   ことを特徴とする請求項１に記載の位相雑音測定方法。
3. 請求項１または請求項２のいずれかに記載の方法により、被測定信号の位相雑音を測定する装置。
4. 相互相関処理またはクロススペクトラム処理を用いて被測定信号の位相雑音を測定する装置であって、複数の信号源を備える位相雑音測定装置において、
   前記信号源のそれぞれが、互いに異なる周波数を有する基準信号を参照する、
   ことを特徴とする位相雑音測定装置。
5. 被測定信号の位相雑音を測定する装置であって、前記被測定信号の位相を検出する第一の位相検出手段と、前記被測定信号の位相を検出する第二の位相検出手段と、前記第一の位相検出手段が検出した位相信号と前記第二の位相検出手段が検出した位相信号との相互相関またはクロススペクトラムを求める相互相関手段とを備える位相雑音測定装置において、
   前記第一の位相検出手段が、位相検出のための第一の信号源を具備し、
   前記第二の位相検出手段が、位相検出のための第二の信号源を具備し、
   前記第一の信号源と前記第二の信号源が、互いに異なる周波数の基準信号を参照する、
   ことを特徴とする位相雑音測定装置。
6. さらに、
   第三の信号源を具備する第一の信号処理手段を前記第一の位相検出手段の前段に備え、
   第四の信号源を具備する第二の信号処理手段を前記第二の位相検出手段の前段に備え、
   前記第一の信号源と前記第二の信号源と前記第三の信号源と前記第四の信号源が、互いに異なる周波数の基準信号を参照する、
   ことを特徴とする請求項５に記載の位相雑音測定装置。
7. 前記基準信号間の周波数差が、前記相互相関または前記クロススペクトラムの処理対象時間の逆数で表される周波数以上である、
   ことを特徴とする請求項４乃至請求項６のいずれかに記載の位相雑音測定装置。