JP2005221500A - 信号変調を利用したヘテロダイン光ネットワーク解析 - Google Patents
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Abstract
【課題】環境的及び物理的な変動の影響を受けずにDUTの光学特性を測定する。
【解決手段】DUTの群遅延は、局部発振器信号のテスト部分と基準部分を異なる周波数で変調して、変調側波帯(205)を生成し、局部発振器信号の被変調テスト部分をDUT(120,420,920,1020,1120)に印加し、次に、2つ被変調信号を光学的に混合することによって測定される。2つの被変調信号を光学的に混合することによって、光周波数が電気周波数に変換される。DUTによって引き起こされる位相変化は、局部発振器信号のテスト部分の変調側波帯間の位相差を測定することによって決定される。光学的混合の代わりに電気的混合によって周波数変換を行うこともできる。
【選択図】図1
【解決手段】DUTの群遅延は、局部発振器信号のテスト部分と基準部分を異なる周波数で変調して、変調側波帯(205)を生成し、局部発振器信号の被変調テスト部分をDUT(120,420,920,1020,1120)に印加し、次に、2つ被変調信号を光学的に混合することによって測定される。2つの被変調信号を光学的に混合することによって、光周波数が電気周波数に変換される。DUTによって引き起こされる位相変化は、局部発振器信号のテスト部分の変調側波帯間の位相差を測定することによって決定される。光学的混合の代わりに電気的混合によって周波数変換を行うこともできる。
【選択図】図1
Description
本発明は、一般に、被測定物(DUT)の光学特性の特性解明に関するものであり、とりわけ、DUTの振幅、位相、及び、群遅延を測定する技術に関するものである。
光コンポーネント及びネットワークの光学特性の測定は、光通信ネットワークの設計及び運用の成功にとって重要な要素である。光コンポーネントまたはネットワークの重要な特性は、透過または反射時に測定される振幅、位相、及び、群遅延応答である。光コンポーネントまたはネットワークの偏光依存特性には、偏光依存損失(PDL)及び群遅延差(DGD。または、微分群遅延。以下同じ)が含まれる。群遅延の特性は、従来の技法を用いて測定するのが比較的困難であるため、とりわけ重要である。群遅延は、コンポーネントまたはネットワークの位相応答の導関数(変化率)の負数と定義される(すなわち、コンポーネント伝達関数H(ω)の位相項φ(ω)=a(ω)exp(jφ(ω))、ここで、a(ω)は振幅応答を表す)。すなわち、群遅延は、位相線形性の測度であり、次の方程式によって定義される。
τg=−∂φ/∂ω
ここで、ωは光角周波数(ラジアン/秒を単位とする)である。
τg=−∂φ/∂ω
ここで、ωは光角周波数(ラジアン/秒を単位とする)である。
群遅延は、伝統的に、既知の変調移相法を用いて測定される。変調移相法は、温度及び振動の変化といった環境的及び物理的不安定性による影響を本質的に受けない相対的測定技法である。変調移相法の欠点は、直接検出に依存しているため、そのダイナミック・レンジが制限されることにある。
群遅延は、また、さまざまな干渉法をベースにした方法を用いて測定されてきた。干渉法をベースにした方法では、変調移相法よりも優れたダイナミック・レンジが得られる。しかし、既知の干渉法をベースにした方法は、温度及び振動の変化といった環境的及び物理的不安定性の影響を極めて受けやすい。
本発明によれば、DUTの群遅延は、異なる周波数で局部発振器信号のテスト部分及び基準部分を変調して、変調側波帯を生じさせ、局部発振器信号の被変調テスト部分をDUTに加え、さらに、2つの被変調信号を光学的に混合することによって測定される。2つの被変調信号を光学的に混合すると、光周波数が電気周波数に変換される。DUTによって生じる位相変化は、局部発振器信号のテスト部分の変調側波帯間の位相差を測定することによって求められる。位相変化は、変調側波帯間の位相差を測定することによって導き出されるので、群遅延特性解明は、実際には、環境的及び物理的不安定性に影響されにくい。さらに、特性解明は、局部発振器信号の2つの部分の干渉に基づくので、このプロセスには、光学ヘテロダインを伴うことになり、従って、ダイナミック・レンジが広い。周波数変換は、光学的混合ではなく、電気的混合によって実現可能である。例えば、局部発振器信号のテスト部分を第1の周波数で変調して、変調側波帯を生じさせ、これをDUTに加えて、さらに、局部発振器信号の基準部分と光学的に混合することによって、電気信号が発生する。局部発振器信号のテスト部分と基準部分の光学的混合から生じる電気信号は、次に、電気信号と電気的に混合されて、周波数変換が達成される。
図1には、DUTの振幅、位相、及び、群遅延特性を測定するために用いられるシステム100の本発明による1実施態様が示されている。このシステムには、局部発振器信号源102、光スプリッタ104、テスト・アーム106、基準アーム108、変調コントローラ110、DUTインターフェイス112、光学組み合わせ装置114、光学受信機116、及び、処理装置118が含まれている。説明のため、システムはDUT120に接続されているが、DUTは必ずしもシステムの一部ではない。留意すべきは、説明全般にわたって、同様の参照番号を用いて、同様の要素を識別することが可能であるという点である。
図1を参照すると、局部発振器信号源(局所発振源)102は、局部発振器信号122を発生する。実施態様の1つでは、局部発振器信号源102は、20GHz以上の範囲にわたる掃引が行われる極めてコヒーレントな波長可変レーザ(チューナブルレーザ)である。掃引されるレーザは、連続掃引が可能である。DUTの特性解明中、局部(所)発振器信号は、一般に、ある波長範囲にわたるDUTの特性解明のため、その波長または周波数の範囲にわたって掃引される。実施態様の1つでは、1,550ナノメートルの局部発振器信号の掃引速度は、約100nm/sまたは12.5MHz/usであり、掃引範囲は、約100nmである。しかし、掃引速度及び掃引範囲は、増減可能である。実施態様の1つでは、ある波長範囲にわたる局部発振器信号の掃引には、位相が急激に変化する異なる波長に対して、局部発振器信号を少しずつ増分的に同調させることが必要になる。本発明によるもう1つの実施態様では、ある波長範囲にわたる局部発振器信号の掃引には、位相変化が「アコーディオンのように」滑らかな波長間の滑らかな遷移が必要になる。
局部発振器信号源102は、光スプリッタ104と光学的に通じている。図1の実施態様の場合、局部発振器ファイバ126は、局部発振器信号源を光スプリッタに光学的に接続する。光スプリッタは、システム100のテスト・アーム106及び基準アーム108にも光学的に通じている。光スプリッタによって、局部発振器信号はテスト部分と基準部分に分割され、それぞれ、テスト・アーム及び基準アームに供給される。光スプリッタは、局部発振器信号を少なくとも2つの光路に送り込む光カプラとすることが可能である。例えば、光スプリッタは、光学的に指向性のある3dBファイバ・カプラとすることができるが、他の光スプリッタを利用することも可能である。
テスト・アーム106には、テスト・ファイバ128、130、及び、132、テスト信号変調器134、及び、DUTインターフェイス112が含まれている。テスト・アームによって、光スプリッタ104と光学組み合わせ装置114が光学的に接続され、局部発振器信号のテスト部分が、光スプリッタからテスト信号変調器134及びDUT120を経て光学組み合わせ装置まで伝搬するようになっている。テスト信号変調器は、局部発振器信号のテスト部分を変調して、局部発振器信号の被変調テスト部分を生成する。テスト信号変調器は、位相変調器、偏光変調器、または、強度変調器とすることが可能である。実施態様の1つでは、変調器は、Ti拡散LiNbO3(Ti−indiffused LiNbO3)変調器である。信号変調については、さらに詳細に後述する。
DUTインターフェイス112によって、DUT120とシステム100が光学的に接続される。図1の構成の場合、DUTインターフェイスには、テスト信号変調器134と光学組み合わせ装置114の間にDUTを光学的に接続する、2つの接続ポイントが含まれている。すなわち、2つの接続ポイントには、光ファイバ130及び132をDUTのポートに結合できるようにする2つの光ファイバ・コネクタが含まれている。あるいはまた、DUTインターフェイスは、テスト信号変調器と光学組み合わせ装置との間にDUTを光学的に接続できるようにする、任意の光学系または機構とすることが可能である。本明細書で説明するDUTインターフェイスには、テスト信号変調器と光学組み合わせ装置との間にDUTを光学的に接続できるようにする、任意の光学系または機構が含まれることが意図されている。
DUT120は、特性解明が施される、ファイバ、フィルタ、マルチプレクサ、デマルチプレクサ、サーキュレータ等のような光コンポーネントとすることが可能である。DUTは、複数の光コンポーネントから構成される光ネットワークとすることも可能である。DUTインターフェイスを介して、さまざまなDUTとシステムを接続することが可能である。DUTの特性は、それぞれのDUTに依存する透過または反射に関して解明することが可能である。
システム100の基準アーム108には、基準ファイバ136及び138、基準信号変調器140が含まれている。基準アームによって、光スプリッタ104と光学組み合わせ装置114が光学的に接続され、局部発振器信号の基準部分が、光スプリッタから基準信号変調器を経て光学組み合わせ装置まで伝搬できるようになっている。基準信号変調器によって、局部発振器信号の基準部分が変調され、局部発振器信号の被変調基準部分が生じることになる。基準信号変調器は、位相変調器、偏光変調器、または、強度変調器とすることが可能である。実施態様の1つでは、変調器は、Ti拡散LiNbO3変調器である。信号変調については、さらに詳細に後述する。
変調コントローラ110は、テスト信号変調器134及び基準信号変調器140の両方と信号で通じている。変調コントローラは、変調器に対して、光信号変調を制御する変調信号を加える。例えば、変調コントローラは、テスト信号変調器に周波数f1の変調信号を加え、基準信号変調器に周波数f2の変調信号を加えるが、ここで、変調周波数f1及びf2は互いに異なる。実施態様の1つでは、変調周波数は、2つの被変調信号間における周波数差が光受信機の帯域幅内に納まるように選択される。変調コントローラに対する入力は、テストシステムのユーザ・インターフェイス(不図示)によって行うことが可能である。変調コントローラは、接続117を介して処理装置118に電気基準信号(例えば、周波数差f1−f2における)を加えることも可能である。
光学組み合わせ装置114は、システム100のテスト・アーム106及び基準アーム108を介して局部発振器信号源102と光学的に通じている。図1の実施態様の場合、光学組み合わせ装置は、それぞれファイバ132及び138によってテスト・アーム及び基準アームに通じている。光学組み合わせ装置は、局部発振器信号の被変調テスト部分と局部発振器信号の被変調基準部分を光学的に組み合わせて、組み合わせ光信号をなすようにし、出力ファイバ142を介して、組み合わせ光信号の少なくとも一部分を光受信機116に対して出力する。光学組み合わせ装置は、組み合わせ光信号を少なくとも1つの光路に送り出す光カプラとすることが可能である。例えば、光カプラは、光学的に指向性のある3dBファイバ・カプラとすることが可能であるが、他の光カプラを利用することも可能である。本発明の1実施態様では、光信号の結合は、光信号の偏光とは実質的に無関係である。実施態様の1つでは、光信号の偏光状態は、ヘテロダイン・ビート信号を最大にするため、ほぼ同じになるように制御される(例えば、偏光コントローラを利用して)。光学組み合わせ装置は、後述のように、組み合わせ光信号のビームの1つを光受信機116に対して出力するが、もちろん、組み合わせ光信号の2つ以上のビームを出力する光学組み合わせ装置の実施態様(例えば、平衡受信機)も可能である。
光受信機116には、光学組み合わせ装置から出力される組み合わせ光信号を検出して、混合するようにアライメントがとられた、少なくとも1つの光検出器が含まれている。光受信機は、受信光信号に応答して、電気信号を発生する。光受信機によって発生する電気信号は、DUTの特性解明に利用するため、処理装置118に供給される。光受信機と処理装置との接続が、図1にライン148で描かれている。図示されていないが、光受信機には、当該分野において既知の信号増幅器、フィルタ、及び、信号コンバイナのような他の信号処理回路を含めることも可能である。光受信機には、入力信号の偏波(偏光)ダイバーシティ受信(または、偏光分岐受信。以下同じ)及び/または偏光分析を可能にする偏光選択光学素子を含めることも可能である。
処理装置118は、光受信機116から電気信号を受信し、電気信号に処理を加えて、DUT120の少なくとも1つの光学特性を求める。すなわち、処理装置は、DUTの振幅、位相、及び、群遅延応答を求めることが可能である。処理装置には、電気信号処理の分野において既知のアナログ信号処理回路及び/またはディジタル処理回路を含めることが可能である。実施態様の1つでは、光受信機からのアナログ信号が、ディジタル・データに変換され、ディジタル・データに引き続き処理が施される。処理装置には、ハードウェア及びソフトウェアをベースにした処理の任意の組合せを含めることも可能である。
図1のシステム100において、光ファイバは、さまざまな光コンポーネントを光学的に接続する当該技術分野において既知の単一モード光ファイバであるが、他の導波路を利用して、さまざまな光コンポーネントを光学的に接続することも可能である。さらに、導波路について説明するが、光信号を、自由空間において、システムに入力するか、システム内を伝搬させることも可能である。
図1に関して説明したシステム100の動作には、ある波長範囲にわたって掃引される局部発振器信号を発生し、その局部発振器信号をテスト部分及び基準部分に分割することが含まれる。局部発振器信号のテスト部分は、テスト信号変調器134によって変調され、さらに、DUT120に送られ、一方、局部発振器信号の基準部分は、基準信号変調器140によって変調される。さらに詳細に後述するように、局部発振器信号のテスト部分及び基準部分に付与される変調周波数は、互いに異なる。局部発振器信号の2つの被変調部分は、光学組み合わせ装置114において組み合わせられ、組み合わせ光信号を生じる。組み合わせ光信号は、光受信機116によって検出され、混合される。光受信機によって発生した電気信号は、プロセッサ118によって受信され、処理されて、DUTの少なくとも1つの光学特性が求められる。すなわち、DUTの振幅、位相、及び、群遅延応答が、受信した光信号から求められる。光スプリッタ、テスト信号変調器、基準信号変調器、光学組み合わせ装置、及び、光受信機の組み合わせによって、そのヘテロダイン的性質のため、ダイナミック・レンジの広いシステムが得られる(光検出器電流は、局部発振器基準信号の強電界とテスト信号の電界との積に比例する)。群遅延の測定は、変調側波帯を利用して行われ、事実上、環境的不安定性及び物理的不安定性に影響されることはない。
位相変調による群遅延測定
本発明による実施態様の1つでは、DUTの群遅延は、異なる周波数の局部発振器信号のテスト部分及び基準部分を位相変調することによって測定される。すなわち、群遅延は、光テスト信号の変調側波帯間の位相差から求められる。光周波数における位相差は、局部発振器信号の被変調テスト部分と局部発振器信号の被変調基準部分を混合することによって、電気周波数に変換される。従って、位相差は、f1−f2の電気周波数において測定される。図1のシステム100において、テスト信号変調器134と基準信号変調器140は、両方とも、Ti拡散LiNbO3位相変調器のような位相変調器である。図2Aに示すように、変調周波数f1で局部発振器信号のテスト部分に位相変調を施すと、中心スペクトル・ピーク203が搬送波周波数に位置し、複数の側波帯スペクトル・ピーク205(本明細書では側波帯と呼ぶ)がf1の間隔をあけて位置する、光信号が生じる。同様に、図2Bに示すように、変調周波数f2で局部発振器信号の基準部分に位相変調を施すと、中心スペクトル・ピーク207が搬送波周波数に位置し、複数の側波帯がf2の間隔をあけて位置する、光信号が生じる。もう一度、図1を参照すると、局部発振器信号の位相被変調テスト部分が、DUTインターフェイス112を介してDUT120に供給される。次に、局部発振器信号の位相被変調テスト部分と局部発振器信号の位相被変調基準部分が、光学組み合わせ装置114において組み合わせられ、組み合わせ光信号が形成される。組み合わせ光信号は、光受信機116において検出され、混合される。
本発明による実施態様の1つでは、DUTの群遅延は、異なる周波数の局部発振器信号のテスト部分及び基準部分を位相変調することによって測定される。すなわち、群遅延は、光テスト信号の変調側波帯間の位相差から求められる。光周波数における位相差は、局部発振器信号の被変調テスト部分と局部発振器信号の被変調基準部分を混合することによって、電気周波数に変換される。従って、位相差は、f1−f2の電気周波数において測定される。図1のシステム100において、テスト信号変調器134と基準信号変調器140は、両方とも、Ti拡散LiNbO3位相変調器のような位相変調器である。図2Aに示すように、変調周波数f1で局部発振器信号のテスト部分に位相変調を施すと、中心スペクトル・ピーク203が搬送波周波数に位置し、複数の側波帯スペクトル・ピーク205(本明細書では側波帯と呼ぶ)がf1の間隔をあけて位置する、光信号が生じる。同様に、図2Bに示すように、変調周波数f2で局部発振器信号の基準部分に位相変調を施すと、中心スペクトル・ピーク207が搬送波周波数に位置し、複数の側波帯がf2の間隔をあけて位置する、光信号が生じる。もう一度、図1を参照すると、局部発振器信号の位相被変調テスト部分が、DUTインターフェイス112を介してDUT120に供給される。次に、局部発振器信号の位相被変調テスト部分と局部発振器信号の位相被変調基準部分が、光学組み合わせ装置114において組み合わせられ、組み合わせ光信号が形成される。組み合わせ光信号は、光受信機116において検出され、混合される。
実施態様の1つでは、受信機の帯域幅が、テスト信号と基準信号の対応する側波帯だけが混合されるように制限される。すなわち、図2Aに示すJ−1側波帯205と図2Bに示すJ−1側波帯209を混合すると、電気信号が生じる。同様に、図2Aに示すJ1側波帯205と図2Bに示すJ1側波帯209を混合すると、やはり、電気信号が生じる。電気信号の混合及び形成プロセスは、光受信機116において行われる。さらに、2つの電気信号によって、光受信機内にビート信号が生じる。既知のように、異なる周波数の2つの音波は、2つの音波の周波数差に等しい周波数で、パルスまたは「ビート」を生じることになる。一例を挙げると、30ヘルツ(Hz)と34Hzの2つの音波によって、4Hzのビート周波数が生じることになる。ビートの位相には、2つの音波の位相差に関する情報が含まれている。このビート現象は、受信機において発生する電気信号にも生じる、従って、電気信号のビートには、2つの光信号に関連した位相情報が含まれている。位相情報は、局部発振器信号の2つの被変調部分のそれぞれの側波帯を組み合わせて、混合することによって生じるヘテロダイン信号に保存されているので、電気ビートの位相には、DUTを伝搬する光側波帯の位相差情報が含まれている。従って、ヘテロダイン信号のビートに含まれている位相情報を抽出して、局部発振器信号の被変調テスト部分の2つの側波帯間における位相差を測定することが可能である。群遅延は、変調側波帯分離によって分割される位相差から直接求められるが、これは、Δω=4πf1に等しい。群遅延は、下記の式の形で表現される。
τg=−Δφ/Δω
ここで、Δφは、測定された位相差を表わしている。
τg=−Δφ/Δω
ここで、Δφは、測定された位相差を表わしている。
群遅延測定の原理
以下は、干渉法をベースにしたシステム及び信号変調の組合せを利用した群遅延測定に関する原理の説明である。以下の説明は、図1に関連して説明したシステムに関するものである。数学的表記を単純化するため、局部発振器信号は、ν0で表わされる一定の光周波数であると仮定する。局部発振器信号の電界振幅は、1に正規化され、e0(t)=exp(j2πν0t+jφ0)で表わされるが、ここで、位相項φ0は位相ノイズを表している。位相項φ0には、局部発振器信号掃引による光位相変化を含むことも可能である。テスト・アームにおいて、局部発振器信号は、変調度a1及び電気周波数f1で位相変調される。従って、テスト信号変調器の後、被変調局部発振器信号の電界は、次の式によって表わされる。
以下は、干渉法をベースにしたシステム及び信号変調の組合せを利用した群遅延測定に関する原理の説明である。以下の説明は、図1に関連して説明したシステムに関するものである。数学的表記を単純化するため、局部発振器信号は、ν0で表わされる一定の光周波数であると仮定する。局部発振器信号の電界振幅は、1に正規化され、e0(t)=exp(j2πν0t+jφ0)で表わされるが、ここで、位相項φ0は位相ノイズを表している。位相項φ0には、局部発振器信号掃引による光位相変化を含むことも可能である。テスト・アームにおいて、局部発振器信号は、変調度a1及び電気周波数f1で位相変調される。従って、テスト信号変調器の後、被変調局部発振器信号の電界は、次の式によって表わされる。
ここで、ψ1は位相変調器に加えられる信号の電気位相ノイズを表している。ヤコビ・アンガー展開(Jacobi-Anger expansion)を利用すると、次のようになる。
ここで、Jm(a)は、ベッセル関数を表わし、搬送波と2つの最も近い側波帯だけを捕捉すると、式(1)は次のように書き直すことが可能である。
被変調局部発振器信号の複数の側波帯は、その位相がロックされた複数の光波とみなすことが可能である。これらの光波は、それぞれ、異なる光周波数を有し、分散性DUTを異なる速度で伝搬する。従って、式(3)からの各光波は、異なる移相(位相シフト)を受けることになる。さらに、掃引局部発振器信号に関して、全ての光波の周波数がγτだけシフトされるが、ここで、γは局部発振器信号の掃引速度であり、τは、DUTの遅延を含む、干渉計の不均衡に起因する遅延である。分散及び局部発振器信号の掃引を考慮した電界の方程式は、次の通りである。
ここで、θmは分散に関連した移相を表わしている。
図1のシステムの基準アームにおける局部発振器の部分についても、同様の説明が可能である。位相変調周波数f2は、2つの被変調信号の周波数差f1−f2が、光受信機の帯域幅内に納まるように選択される。電界の式は、次の通りである。
ここで、α2は、変調度であり、ψ2は、位相変調器に加えられる電気信号の位相ノイズを表わしている。ヤコビ・アンガー展開(2)から、次のようになる。
光受信機の光検出器における強度が、式I=(e1′+e2)(e1′+e2)*から計算される。受信機帯域幅内の周波数に関する干渉項だけが考慮される(例えば、式(4)及び(6)からの対応する側波帯の干渉だけ)。本発明による実施態様の1つでは、光受信機の帯域幅は、光受信機が低周波数の干渉信号を検出するが、他のより高い周波数の干渉信号を検出しないように選択される。単純化のため、検出器の応答性は1に等しく、交流(AC)項だけ測定されるものと仮定すると、光受信機の光検出器における電流は、次の通りである。
ここで、Δf=f1−f2である。式(4)、(6)、及び、(7)は、図3A〜図3Cにグラフで例示されている。すなわち、図3Aでは、光学領域において、局部発振器信号の被変調テスト部分の電界が識別され、図3Bでは、光学領域において、局部発振器信号の被変調基準部分の電界が識別され、図3Cでは、電気領域において、局部発振器信号の被変調テスト部分と被変調基準部分の混合から生じる電流が識別される。積の形で表現される電気周波数Δfの電流は、次の通りである。
ここで、θ0=(θ−1+θ1)/2及びΔθ=(θ−1−θ1)/2である。上記式は、振幅変調された(AM)信号を表す。Δf>γτの場合、搬送周波数はΔfであり、AM周波数はγτである。AM信号cos(2πγτt+θ0)は、干渉法によるヘテロダイン光ネットワーク・アナライザにおいて従来式に測定された信号を表わしている。この信号の移相θ0によって、分散の測度(または分散の測定値)が得られる。この従来式方法の熱不安定性及び振動不安定性に対する影響の受けやすさは、干渉計の不均衡τが熱及び振動効果に左右されるために生じるものである。さらに、測定は、掃引速度γの変化に影響されやすい。
搬送信号cos(2πΔft+Δθ+ψ1−ψ2)によって、新たな分散測定手段が得られる。干渉計(または干渉法による)信号γτの周波数とは異なり、周波数Δfは、一定であり、環境の変動及び局部発振器信号の掃引速度の変動とは無関係である。移相Δθには、分散効果が含まれており、側波帯J−1とJ1の間で測定される。群遅延は、下記の式から計算することが可能である。
τg≒Δθ/Δω (9)
ここで、Δω=2πf及びf≒f1,2である。群遅延測定の精度は、位相項ψ1−ψ2に含まれる電気位相ノイズの関数であり、従って、図1からの変調コントローラ110は、電気位相ノイズが低くなければならない。留意すべきは、ヘテロダイン光ネットワーク・アナライザにおいて従来用いられている信号が、維持され、処理に利用可能であるという点である。
τg≒Δθ/Δω (9)
ここで、Δω=2πf及びf≒f1,2である。群遅延測定の精度は、位相項ψ1−ψ2に含まれる電気位相ノイズの関数であり、従って、図1からの変調コントローラ110は、電気位相ノイズが低くなければならない。留意すべきは、ヘテロダイン光ネットワーク・アナライザにおいて従来用いられている信号が、維持され、処理に利用可能であるという点である。
Δf<γτの場合(例えば、リードの極めて長いDUTまたは極めて速い局部発振器信号掃引速度)、信号cos(2πγτt+θ0)は、搬送波の働きをし、cos(2πΔft+Δθ+ψ1−ψ2)は、その振幅変調を表わしている。このシナリオ(状況)では、干渉法による測定は、環境的不安定性が高く、γτが高周波であるため、極めて困難か、あるいは、不可能である。しかし、この方法のAM信号cos(2πΔft+Δθ+ψ1−ψ2)は、AM復調の従来の方法(例えば、混合またはピーク検出)によって検出可能であり、移相Δθは、測定可能である。従って、説明した技法によれば、長いDUTの群遅延測定が可能になる。これは、従来の干渉法によるヘテロダイン・ネットワーク・アナライザに対する本技法のもう1つの利点である。
本セクションにおいて重要な式は、最も近い側波帯J−1とJ1について導き出された。しかし、この重要な式は、任意の1対の側波帯に容易に一般化することが可能である。偏光状態の異なる複数の側波帯を含む偏光分解測定を考慮する場合には、より高次の側波帯を利用することが可能である。また、長いDUTの測定にも、より高次の側波帯を利用することが可能である。
偏光変調による群遅延差測定
本発明による実施態様の1つでは、DUTの偏光依存特性(群遅延差を含む)が、局部発振器信号のテスト部分の偏光変調によって測定される。図4には、DUTの偏光依存特性(群遅延差を含む)の測定に用いられるシステム400が示されている。図4のシステムのテスト信号変調器434が偏光変調器であり、光受信機416が偏波ダイバーシティ受信機(または、偏光分岐受信機。以下同じ)である点を除けば、図4のシステムは、図1のシステムと同様である。図4を参照すると、偏光ビーム・スプリッタ452は、光学組み合わせ装置414と光受信機416の間の光路内に配置されている。光受信機には、偏光ビーム・スプリッタから出射される2つの被偏光ビームのそれぞれに1つの光検出器が含まれている。偏光ビーム・スプリッタと複数の光検出器によって、光受信機を当該技術分野において既知の偏波ダイバーシティ受信機にすることが可能になる。偏光変調器434には、Ti拡散LiNbO3位相変調器の入力に偏光子450が含まれている。従って、偏光変調は、直線偏光局部発振器信号を45度の角度で複屈折素子に送り込み、2つの直線偏光モードのパワーを等化することによって実現される。局部発振器信号の各偏光モードは、電気光学係数の値が異なるため、異なる位相変調を受けることになる。図5Aに示すように、局部発振器信号のテスト部分に偏光変調を施すと、中心スペクトル・ピーク503が搬送周波数に位置し、複数の側波帯スペクトル・ピーク505がf1の間隔をあけて位置する光信号が生じる。偏光変調の結果、スペクトル・ピークは、それぞれ、偏光状態が異なるようになる(例えば、P0、P1、P2、P3、及び、P4)。局部発振器信号の基準部分は、位相変調または偏光変調を施されて、図5Bに示すように、中心スペクトル・ピーク507が搬送周波数に位置し、複数の側波帯509がf2の周波数間隔をあけて位置する光信号が生じる。2つの被変調信号の周波数のオフセットは、干渉計の自由スペクトル範囲に対応しており、τに等しい。従って、図5Aと図5Bと間のオフセットは、変調周波数の差Δf=f1−f2がτ未満の場合(例えば、短いDUTまたは低掃引速度の場合)の測定シナリオを表わしている。
本発明による実施態様の1つでは、DUTの偏光依存特性(群遅延差を含む)が、局部発振器信号のテスト部分の偏光変調によって測定される。図4には、DUTの偏光依存特性(群遅延差を含む)の測定に用いられるシステム400が示されている。図4のシステムのテスト信号変調器434が偏光変調器であり、光受信機416が偏波ダイバーシティ受信機(または、偏光分岐受信機。以下同じ)である点を除けば、図4のシステムは、図1のシステムと同様である。図4を参照すると、偏光ビーム・スプリッタ452は、光学組み合わせ装置414と光受信機416の間の光路内に配置されている。光受信機には、偏光ビーム・スプリッタから出射される2つの被偏光ビームのそれぞれに1つの光検出器が含まれている。偏光ビーム・スプリッタと複数の光検出器によって、光受信機を当該技術分野において既知の偏波ダイバーシティ受信機にすることが可能になる。偏光変調器434には、Ti拡散LiNbO3位相変調器の入力に偏光子450が含まれている。従って、偏光変調は、直線偏光局部発振器信号を45度の角度で複屈折素子に送り込み、2つの直線偏光モードのパワーを等化することによって実現される。局部発振器信号の各偏光モードは、電気光学係数の値が異なるため、異なる位相変調を受けることになる。図5Aに示すように、局部発振器信号のテスト部分に偏光変調を施すと、中心スペクトル・ピーク503が搬送周波数に位置し、複数の側波帯スペクトル・ピーク505がf1の間隔をあけて位置する光信号が生じる。偏光変調の結果、スペクトル・ピークは、それぞれ、偏光状態が異なるようになる(例えば、P0、P1、P2、P3、及び、P4)。局部発振器信号の基準部分は、位相変調または偏光変調を施されて、図5Bに示すように、中心スペクトル・ピーク507が搬送周波数に位置し、複数の側波帯509がf2の周波数間隔をあけて位置する光信号が生じる。2つの被変調信号の周波数のオフセットは、干渉計の自由スペクトル範囲に対応しており、τに等しい。従って、図5Aと図5Bと間のオフセットは、変調周波数の差Δf=f1−f2がτ未満の場合(例えば、短いDUTまたは低掃引速度の場合)の測定シナリオを表わしている。
動作時、局部発振器信号の偏光被変調テスト部分が、DUTインターフェイス412を介してDUT420に供給される。次に、局部発振器信号の偏光被変調テスト部分及び局部発振器信号の被変調基準部分が、光学組み合わせ装置414において組み合わせられて、組み合わせ光信号が形成される。組み合わせ光信号が、光受信機416において検出され、混合される。局部発振器信号の偏光被変調テスト部分と局部発振器信号の被変調基準部分を混合することによって、光周波数が所望の電気周波数に変換される。次に対応する周波数の変換された電気信号から、局部発振器信号の偏光変調テスト部分のスペクトル・ピーク間の位相差を求めて、群遅延差のような偏光依存特性の測定に用いることが可能である。検出信号の振幅を利用して、偏光依存損失のような偏光状態依存振幅応答を求めることが可能である。群遅延差は、偏光状態の異なる、異なる組をなす変調側波帯間の移相から直接求められる。
群遅延差測定原理
以下は、干渉計ベースのシステムを備え、偏光変調を伴うDUTの偏光依存特性(群遅延差を含む)の測定に関する原理の説明である。
以下は、干渉計ベースのシステムを備え、偏光変調を伴うDUTの偏光依存特性(群遅延差を含む)の測定に関する原理の説明である。
偏光変調
図4には、変調器434及び偏光子450を含む偏光変調器が示されている。偏光変調器は、2つの偏光モードに異なる変調を施す、従って、偏光状態を変調する装置である。偏光変調器は、例えば、偏光子及びTi拡散LiNbO3位相変調器を用いて実現することが可能である。局部発振器信号は、直線偏光状態で、偏光子を介して、45度の角度でTi拡散LiNbO3位相変調器に送り込まれ、変調器の2つの直線偏光モードのパワーが等化される。各偏光モードは、電気光学係数の値が異なる(γ33≒3γ13)ため、異なる位相変調を受けることになる。数学的には、ジョーンズ・ベクトル表記法(Jones vector notation)を用いると、偏光被変調光波の電界は、下記の式によって表わされる。
図4には、変調器434及び偏光子450を含む偏光変調器が示されている。偏光変調器は、2つの偏光モードに異なる変調を施す、従って、偏光状態を変調する装置である。偏光変調器は、例えば、偏光子及びTi拡散LiNbO3位相変調器を用いて実現することが可能である。局部発振器信号は、直線偏光状態で、偏光子を介して、45度の角度でTi拡散LiNbO3位相変調器に送り込まれ、変調器の2つの直線偏光モードのパワーが等化される。各偏光モードは、電気光学係数の値が異なる(γ33≒3γ13)ため、異なる位相変調を受けることになる。数学的には、ジョーンズ・ベクトル表記法(Jones vector notation)を用いると、偏光被変調光波の電界は、下記の式によって表わされる。
ここで、a1≒3b1である。ヤコビ・アンガー展開(5)を利用すると、下記の式が得られる。
従って、光周波数ν0±mf1の光波は、ジョーンズ・ベクトル
によって表わされる偏光状態を有している。Jm(a1)及びJm(b1)は実数であるため、対応する偏光状態は、直線性であり、ポアンカレ球の赤道に沿って分布している。変調度をa1≒3b1に調整することによって、個々の直線偏光状態の方位角を制御することが可能になる。図6には、側波帯の異なる偏光状態の表現が示されているが、ここで、被変調局部発振器信号の複数のスペクトル・ピーク(変調周波数f1だけ隔置されている)は、異なる直線偏光状態を有している。特に興味深い構成は、2つの異なる側波帯の偏光状態を直交またはほぼ直交させる構成である。例えば、J1(a1)J3(a1)+J1(b1)J3(b1)=0とすることによって、光周波数ν0±f1及びν0±3f1の光波が、直交偏光状態を有するようになる。さらに、これらの光波は、次のセクションで示す異なる電気周波数で検出することが可能である。これによって、2つ以上の偏光状態でDUTの同時測定が可能になる。同時測定を利用して、群遅延差または偏光依存損失のような、DUTの偏光特性を求めることが可能になる。
偏光分解(polarization resolved)測定
局部発振器信号の偏光被変調テスト部分が、ジョーンズ行列Mによって表されるDUTを伝搬する場合を考える。行列Mの要素は、振幅が被変調局部発振器信号のスペクトル幅にわたって一定しているものと仮定する。すなわち、行列要素の振幅は、被変調局部発振器信号を構成する側波帯(3〜4の側波帯)について同じである。しかし、要素の位相は、添え字mで表される側波帯毎に変わる。
局部発振器信号の偏光被変調テスト部分が、ジョーンズ行列Mによって表されるDUTを伝搬する場合を考える。行列Mの要素は、振幅が被変調局部発振器信号のスペクトル幅にわたって一定しているものと仮定する。すなわち、行列要素の振幅は、被変調局部発振器信号を構成する側波帯(3〜4の側波帯)について同じである。しかし、要素の位相は、添え字mで表される側波帯毎に変わる。
さらに、テスト・アームの光波は周波数シフトγτを受けることになる。式(11)と(12)を掛け、追加の位相シフトを考慮することによって、DUTを伝搬した後の電界の式が以下のように得られる。
上記式では、3つの側波帯だけしか考慮されていない。図7には、DUTを通る光波の伝搬が例示されている。すなわち、図7には、DUT720に加えられる前、及び、DUTに加えられた後の、偏光被変調信号の偏光状態が例示されている。式(13)からの3つの側波帯だけが、搬送波のそれぞれの側に示されている。図4に示すように、光受信機は、偏光ダイバーシティによるものであり、従って、基準アームにおける局部発振器信号の偏光状態は、光受信機の2つの光検出器で等しいパワーが得られるように選択される。等しいパワーは、任意の偏光状態を表わすジョーンズ・ベクトル
の角度αがπ/4にほぼ等しい場合に得られる。偏光状態を考慮し、ヤコビ・アンガー展開(2)を利用すると、基準アームにおける局部発振器信号を記述する式(5)は、次のようになる。
テスト・アーム406からの波e′1(t)及び基準アーム408からの波e2(t)は、光学組み合わせ装置414において組み合わせられる。結果得られる電界e(t)=e1′(t)+e2(t)は、偏光ダイバーシティ受信機416において検出される。従って、結果得られるジョーンズ・ベクトルの上方要素及び下方要素に対応する水平及び垂直直線偏光成分は、別個に検出される。数学的には、水平成分はeh(t)=Phe(t)によって定義され、垂直成分は、ev(t)=Pve(t)によって定義されるが、ここで、
受信機の光検出器の応答性が1に等しいものと仮定すると、水平偏光状態から生じる電流は、方程式ih(t)=eh(t)eh(t)*から計算され、下記に等しい。
ここで、Δf=f1−f2及びΔψ=ψ1―ψ2である。上記方程式は、測定システムにおいて検出され、処理されるAC項だけがリストアップされている。同様に、垂直偏光状態の場合、iv(t)=ev(t)ev(t)*から次のようになる。
次に、光周波数ν0±f1における位相変調器からの入力偏光状態は、J1(a1)=0になるように変調度を調整することによって、強制的に垂直にされると想定する。変調度b1は約3倍小さいので、J3(b1)≒0になる。従って、光周波数ν0±3f1は、ほぼ水平偏光状態である。周波数Δfにおける第1の側波帯及び周波数3Δfにおける第3の側波帯を検出することによって、DUTの応答が、ほぼ直交偏光状態について測定される。光受信機の水平偏光状態において測定される水平偏光状態励起に対するDUT応答が、式(15)によって第3高調波から求められる。
ここで、α0=(α3+α−3)/2及びΔα3=(α3−α−3)/2である。同様に、水平偏光状態において測定される垂直偏光状態励起に対するDUT応答は、式(15)によって基本波(第1高調波)から求められる。
ここで、β0=(β1+β−1)/2及びΔβ1=(β1−β−1)/2である。同じ手順を利用すると、光受信機の垂直偏光状態において測定される水平偏光状態励起に対するDUT応答は、式(16)によって第3高調波から求められる。
ここで、γ0=(γ3+γ−3)/2及びΔγ3=(γ3−γ−3)/2である。最後に、光受信機の垂直偏光状態において測定される垂直偏光状態励起に対するDUT応答が、式(16)によって基本波(第1高調波)から求められる。
ここで、σ0=(σ1+σ−1)/2及びΔσ1=(σ1−σ−1)/2である。式(13)、(14)と、式(17)〜(20)をもたらすことになる混合プロセスが、図8にグラフで例示されている。すなわち、図8の左側は、テスト部分がDUTに加えられた後であるが、2つの信号が組み合わせられて、混合される前の、局部発振器信号の被変調テスト部分と被変調基準部分の偏光状態を表わしている。図8の右側は、混合信号の水平成分と垂直成分を別個に表わしている。式(17)〜(20)は、式(8)によって表わされる信号と同じ特性を有する信号を表わしている。従って、可能性のある測定アプローチは、類似している。電気周波数γτで干渉法による信号を測定し、ジョーンズ行列(12)の位相項α、β、γ、及び、σを求めることが可能である。この従来式の測定は、熱的不安定性及び振動に影響されやすい。代わりに、本発明によれば、周波数Δf及び3Δfにおける位相差Δα、Δβ、Δγ、及び、Δσの差分測定によって、環境に影響されにくい技法が構成される。位相項は、積分によって位相差から求められる。振幅a、b、c、及び、dは、検出信号の強度からいずれの方法でも求められる。従って、いずれの方法の場合にも、ジョーンズ行列(12)を再構成することが可能である。重要なのは、一般に、その要素の一部が定数に設定された(例えば、d=1及びσ0=0)正規化ジョーンズ行列を再構成すれば十分であるという点に言及しておくことである。これは、振幅及び位相の相対測定を意味することになる(例えば、a/d及びα−σ)。位相の一定のオフセットは少しも重要ではない。これは、式(19)及び(20)における位相シフトζまたは積分プロセスが、例えば、固有解析から求められる群遅延差に影響を与えないためである。また、位相差測定によって、長いリードを備えたDUTの特性解明(例えば、ファイバのスプールの分散測定)が可能になるという点にも留意されたい。既知の干渉法による方法を利用する場合には、リードの長いコンポーネントの測定は、極めて困難か、不可能である。上述の解決法は、唯一の解決法ではないが、比較的単純である。一般に、直交偏光状態の利用は不要である。さらに、解析には、直交偏光状態を有する2つの側波帯だけが利用された。他の偏光状態を有する追加の側波帯を利用すると、測定または較正の正確度がさらに向上する可能性がある。数学的な複雑性を回避するため、より複雑な測定シナリオ(測定内容)の説明は本説明から除外されている。
図1及び図4に関連して説明したシステムによって、局部発振器信号がテスト部分と基準部分に分割され、異なる変調周波数が付与されるが、代替実施態様では、局部発振器信号をテスト部分と基準部分に分割した後、2つの異なる変調周波数を局部発振器信号のテスト部分に加えることが可能である。図9には、局部発振器信号を個々の部分に分割した後、2つの変調周波数が局部発振器信号のテスト部分に加えられるシステム900の例が示されている。このシステムには、局部発振器信号源902、光スプリッタ904、第1の変調器934、DUTインターフェイス912(DUT920に接続するための)、第2の変調器940、光学組み合わせ装置914、光受信機916、及び、処理装置918が含まれている。
図9に関連して説明されるシステム900の動作には、ある波長範囲にわたって掃引される局部発振器信号の発生が含まれる。局部発振器信号は、テスト部分と基準部分に分割され、テスト部分は、第1の変調器934によって周波数f1で変調され、さらに、DUT920に供給される。DUTとの相互作用の後、局部発振器信号のテスト部分は、第2の変調器940によって周波数f2で変調されるが、変調周波数f1とf2は互いに異なる。次に、局部発振器信号のテスト部分と局部発振器信号の基準部分が組み合わせられ、組み合わせられた光信号が、光受信機916によって検出され、混合される。光受信機によって発生する電気信号は、プロセッサ918によって受信され、処理されて、DUTの少なくとも1つの光学特性が求められる。すなわち、受信光信号に応答して、DUTの振幅、位相、及び、群遅延応答を求めることが可能である。偏光依存特性を測定する場合には、このシステムに、偏光子962及び964と、偏光ダイバーシティ受信機(不図示)を含めることも可能である。
もう1つの代替実施態様の場合、光テスト信号及び光基準信号の光学混合に加えて、2つの電気信号を混合することによって、周波数変換が実現される。すなわち、光受信機において、周波数f1で変調される光信号の光スペクトル・ピークと局部発振器信号の基準部分を組み合わせて、光学的に混合することにより、電気周波数f1に近い電気信号が得られる。次に、光受信機からの電気信号と周波数f2の電気信号を電気的に混合することにより、電気周波数f1−f2に変換される電気信号が得られる。図1に例示の実施態様の場合と同様、周波数f1−f2に近い電気信号には、DUTを伝搬する光テスト信号の側波帯間の位相差が含まれている。電気的混合の場合、光受信機の帯域幅は、電気周波数f1を含まなければならない。しかし、処理装置の帯域幅は、電気周波数f1−f2に制限することが可能である。図10には、2つの信号の電気的混合を利用する、本発明に従って光学特性を解析するためのもう1つのシステム1000の例が示されている。図10のシステムには、局部発振器信号源1002、光スプリッタ1004、テスト・アーム1006、基準アーム1008、変調コントローラ1010、DUTインターフェイス1012(図示のようにDUT1020に接続されている)、光学組み合わせ装置1014、光受信機1016及び電気ミクサ1017を含む受信/混合システム1015、及び、処理装置が含まれている。システム1000は、局部発振器信号の基準部分が変調されない点を除けば、図1のシステム100と同様である。代わりに、周波数f2の電気信号が、変調コントローラによって発生され、テスト・アームにおける局部発振器信号の被変調テスト部分と、基準アーム1008における局部発振器信号の基準部分との組み合わせから光受信機1016内において発生される電気信号と電気的に混合される。電気的混合によって、2つの信号の周波数が、f1−f2に近い所望の電気周波数に変換される。変換された信号は、次に、上述のように処理を施されて、DUTの所望の特性が解明される。
図11には、DUTの偏光依存特性(群遅延差を含む)を測定するためのシステム1100が描かれている。システム1100は、局部発振器信号の基準部分が変調されず、信号が、受信/混合システム1115において受信され、混合されるという点を除けば、図4のシステム400と同様である。システム1100は、図10のシステム1000と同様の電気的混合を利用して動作する。図11のシステムを利用すると、局部発振器信号のテスト部分は、周波数f1で偏光変調を施され、DUTに加えられて、さらに、局部発振器信号の変調されていない基準部分と組み合わせられる。組み合わされた光信号(組み合わせ光信号)は、偏光ダイバーシティ受信機である光受信機1116において検出される。変調コントローラは、また、周波数f2、2f2、及び、3f2の3つの電気信号も発生する。これらの電気信号は、受信した組み合わせ光信号から生成される電気信号と電気的に混合される。電気的混合によって、混合信号の周波数がΔf、2Δf、及び、3Δfに近い所望の電気周波数に変換される(ここで、Δf=f1−f2)。変換された信号は、次に、図4に関連して上述したように処理を施されて、DUTの所望の偏光依存特性が解明される。
もう1つの代替実施態様の場合、1つまたは複数の集積光学素子チップ(例えば、平面導波路または、プレーナー型導波路)に、変調器、スプリッタ、及び、カプラの組合せが含まれる。図12A、図12B、及び、図12Cには、図1及び図4のシステムに利用可能な集積光学素子の例が示されている。図12Aのシステムには、集積光学素子1270に含まれている2つの変調器1234及び1240が含まれている。図12Bのシステムには、2つの変調器1234及び1240、光スプリッタ1204、及び、光カプラ1214が含まれている。図12Cには、2つの集積光学素子1273及び1275が含まれており、第1の素子1273には、光スプリッタ1204及び2つの変調器が含まれ、第2の素子1275には、光カプラ1214及び2つの変調器が含まれている。集積化(または一体化された)変調器、スプリッタ、及び、カプラは、図1及び図4のシステムにおける対応する光学素子と同等の機能を実施する。これらのシステムのどれにも、図4に関連して上述したように、偏光依存解析を支援するために、入力部に偏光子を、出力部に偏光ビーム・スプリッタを含むことができる。
図13には、光学特性を解明するための1方法の処理フロー図が示されている。ブロック1302では、局部発振器信号を生成する。ブロック1304では、局部発振器信号の少なくとも一部に第1の変調が施される。ブロック1306では、前記第1の変調を施された局部発振器信号が、DUTに加えられる。ブロック1308では、第1の変調を施された局部発振器信号が受信される。ブロック1310では、受信した局部発振器信号が第2の信号と光学的に混合される。
測定対象デバイス(DUT)の群遅延は、局部発振器信号のテスト部分と基準部分を異なる周波数で変調して、変調側波帯(205)を生成し、局部発振器信号の被変調テスト部分をDUT(120,420,920,1020,1120)に印加し、次に、2つ被変調信号を光学的に混合することによって測定される。2つの被変調信号を光学的に混合することによって、光周波数が電気周波数に変換される。DUTによって引き起こされる位相変化は、局部発振器信号のテスト部分の変調側波帯間の位相差を測定することによって決定される。光学的混合の代わりに電気的混合によって周波数変換を行うこともできる。
本発明による特定の実施態様について図示し、説明したが、本発明は、図示し、説明した部分の特定の形態及び構成に限定されるものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみ制限される。
102、402、902、1002、1102 局部発振器信号源
120、420、920、1020、1120 DUT
110、410、1010、1110 変調コントローラ
112、412、912、1012、1112 DUTインターフェイス
114、414、914、1014、1114 光学組み合わせ装置(または光結合装置)
116、416、916、1016、1116 光レシーバ
118、418、918、1018、1118 処理装置
120、420、920、1020、1120 DUT
110、410、1010、1110 変調コントローラ
112、412、912、1012、1112 DUTインターフェイス
114、414、914、1014、1114 光学組み合わせ装置(または光結合装置)
116、416、916、1016、1116 光レシーバ
118、418、918、1018、1118 処理装置
Claims (10)
- 光学特性を解析するための方法であって、
局部発振器信号を発生するステップ(1302)と、
前記局部発振器信号の少なくとも一部に第1の変調を施すステップ(1304)と、
被測定物(DUT)に前記第1の変調が施された前記局部発振器信号を加えるステップ(1306)と、
前記第1の変調を施された前記局部発振器信号を受信するステップ(1308)と、
前記受信した局部発振器信号と第2の信号を光学的に混合するステップ(1310)
を含む、方法。 - さらに、前記受信するステップ(1308)及び混合するステップ(1310)からの電気信号に処理を加えて、前記DUTの群遅延特性を解明するステップを有することを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記第2の信号は、前記局部発振器信号の少なくとも一部に第2の変調を施すことによって発生されることからなる、請求項1に記載の方法であって、さらに、前記受信するステップ(1308)及び混合するステップ(1310)の前に、前記第1の変調を施された前記局部発振器信号の前記一部と前記第2の変調を施された前記局部発振器信号の前記一部を組み合わせるステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 局部発振器信号を発生するための局部発振器信号源(102、402、902、1002、1102)と、
第1の周波数の第1の電気信号を送り出すように構成された変調コントローラ(110、410、910、1010、1110)と、
前記第1の電気信号に応答して、前記局部発振器信号の少なくとも一部を変調するように光学的に接続された第1の光信号変調器(134、434、934、1034、1134)と、
前記第1の変調器と光学的に通じている被測定物(DUT)インターフェイス(112、412、912、1012、1112)と、
前記第1の光信号変調器及び前記DUTインターフェイスと光学的に通じていて、前記第1の電気信号に応答して変調される前記局部発振器信号を受信し、前記受信した局部発振器信号と第2の信号を光学的に混合するシステム(116、416、916、1015、1115)
とを具備する、光学特性を解析するためのシステム。 - さらに、前記受信及び混合システムに信号で通じており、電気信号に処理を加えて、前記DUTインターフェイスに光学的に接続されたDUTの群遅延特性を解明するように構成された処理装置(118、918、1018)を具備することを特徴とする、請求項4に記載のシステム。
- 前記第1の光信号変調器(134、434、934、1034、1134)が、位相変調器、偏光変調器、及び、強度変調器の1つであることを特徴とする、請求項4に記載のシステム。
- さらに、前記変調コントローラからの第2の電気信号に応答して、前記局部発振器信号の少なくとも一部を変調するように光学的に接続された第2の光信号変調器(140、440、940)と、
前記DUTインターフェイス及び前記第2の光信号変調器と光学的に通じていて、前記第1の電気信号に応答して変調される前記局部発振器信号と、前記第2の電気信号に応答して変調される前記局部発振器信号とを組み合わせる光学組み合わせ装置(114、414、914)
とを具備することを特徴とする、請求項4に記載のシステム。 - さらに、前記第1の電気信号に応答して変調される前記局部発振器信号から生成される電気信号に、異なる電気信号を電気的に混合するように構成された電気ミクサ(1017、1117)を具備することを特徴とする、請求項4に記載のシステム。
- 前記第1の光信号変調器(434、1134)が偏光変調器であることと、前記受信及び混合システムに、偏光ダイバーシティ受信機が含まれることを特徴とする、請求項4に記載のシステム。
- さらに、前記受信及び混合システムに信号で通じていて、電気信号に処理を加え、群遅延差を特性解明するように構成された処理装置(418、1118)を具備することを特徴とする、請求項9に記載のシステム。
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