JP2005012169A - 露光装置及びデバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
光学系の開口数が大きい場合であっても、また、照明モード等の露光条件が各種変化した場合であっても、安定して基板上への照度分布を所望の分布(例えば、均一分布)にすることができ、かつデフォーカスディストーションを最小にしつつ、高精度な露光を行うことができる露光装置を提供すること。
【解決手段】
この露光装置は、光源からの光で原版を照明するための照明光学系と、前記原版のパターンを基板に投影するための投影光学系とを有し、前記基板と共役な位置の近傍に配置され、前記基板の照明領域を規定するための開口を持つ可変絞りを有し、該可変絞りは、前記照明光学系若しくは投影光学系の光軸方向に沿った位置が可変である。
【選択図】 図1
Description
本発明のさらに他の例示的側面としての照明光学系は、光源からの光で原版を照明するための照明光学系において、原版と共役な位置近傍に配置され、原版の照明領域を規定するための開口を持つ可変絞りを有し、可変絞りは、照明光学系の光軸方向に沿った位置が可変であることを特徴とする。
以下、図面を参照して本発明の一態様である露光装置について説明する。図1は、本発明の実施の形態1に係る露光装置1の概略ブロック図である。露光装置1は、パターンとしての回路パターンが形成された露光原版としてのレチクル200を照明する照明装置100と、照明された回路パターンから生じる回折光を基板としてのプレート400に投影する投影光学系300と、制御部500とを有する。
に長くなるように形成されており、その長辺形状がn次関数に基づく形状として調整することが可能となっている。ここでnは、1〜8までの整数である。この可変絞り128aは、上記のように開口部128cの開口形状も可変であり、また、その位置も可変であって照明光学系の光軸方向に沿って前後に調整可能である。なお、この位置の調整は、可変絞り128aがプレート400と共役な位置よりも光源側にある状態のまま実行される。
図9は、この発明の変形例に係る露光装置1での走査露光時において、プレート400面上の照度の均一性を向上させる方法を説明するフローチャートである。なお、上記実施の形態1と同様の構成については同一の引用符号を付して説明することとする。
図10は、本発明の実施の形態2に係るステップアンドスキャン方式の露光装置1aを示す概略図である。この実施の形態2においては、上記実施の形態1における構成と同様のものについては同じ引用符号を付し、その説明を省略する。
図17は、本発明の実施の形態3に係る可変絞り128aと走行視野絞り128bの関係を示す概略図である。本実施形態の可変絞り128aは、遮光部128a1とそれと開口を挟んで対向する遮光部128a2とを有し、その夫々の遮光部と走行視野絞り128bとの光軸方向距離が調整可能な構成となっている。その他の構成については実施の形態1および実施の形態2と同じである為説明を省略する。なお、可変絞り128aを本図では光軸に対して垂直に記述しているが、他の図のように傾けて配置してもよい。実施の形態2に本実施形態を適用する場合は、図17の128bは、走行視野絞り128bの共役像となる。本実施形態においては、投影像のデフォーカスディストーションを測定し、デフォーカスディストーションが良好となるように、遮光部128a1と128a2の走行視野絞り128bからのデフォーカス差を調整する。図17においては、上側の遮光部128a1の走行視野絞り128bからのデフォーカス量をΔz1からΔz1´に調整することによって、遮光部128a1と128a2の走行視野絞り128bからの距離を変えて、デフォーカスディストーションを調整する。
使用する照明モードを選択して決定し、その照明モードに対応するプレート400面上の露光量を設定すると、プレートステージ450の走査速度V(mm/sec)、可変絞り128aの走査方向の幅W(mm)及びレーザ発振周波数F(Hz)が、前述の数式を満足するように各々決定される。(ステップ2)。続いて、可変絞り128aの位置及び開口部128cの形状を、選択された照明モードに対応する調整値を用いて調整する。つまり、予め算出されて所定の記憶手段に記憶されたデフォーカス差の中から、選択された照明モードに対応するデフォーカス差に基づいて可変絞り駆動手段640によって可変絞り128aを駆動する(ステップ3)。
化する工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、パッケージング工程(チップ封入)等の工程を含む。ステップ106(検査)では、ステップ105で作成された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テストなどの検査を行う。こうした工程を経て半導体デバイスが完成し、これが出荷(ステップ107)される。
G:中間結像位置
1,1a:露光装置
110,1100:光源
120,1200:照明光学系
121,1230:減光部材
122,1220:ビーム整形光学系
126,1240:ハーフミラー
127,1210:積算露光量検出器
128a,1280a:可変絞り
128b,1280b:走行視野絞り(視野絞り)
128c:開口部
128d:長辺
129a,129b,1290a,1290b:結像レンズ
130:照度分布
131:照度分布
200,1600:レチクル(マスク、露光原版)
300,3000:投影光学系
400,1400:プレート(基板)
452:光検出器
1270:ミラー
Claims (14)
- 光源からの光で原版を照明するための照明光学系と、
前記原版のパターンを基板に投影するための投影光学系とを有する露光装置において、
前記基板と共役な位置の近傍に配置され、前記基板の照明領域を規定するための開口を持つ可変絞りを有し、
該可変絞りは、前記照明光学系若しくは投影光学系の光軸方向に沿った位置が可変であることを特徴とする露光装置。 - 前記可変絞りは、前記基板と共役な位置よりも前記光源側に配置されることを特徴とする請求項1記載の露光装置。
- 前記可変絞りの開口の形状は、可変であることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記可変絞りの前記光軸方向位置が、前記原版を照明する光の開口数に応じて調整されることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記可変絞りは、前記開口数が第1の値である場合の、該可変絞りと前記基板と共役な位置の距離のほうが、前記開口数が前記第1の値よりも大きい第2の値である場合の、該可変絞りと前記基板と共役な位置の距離よりも、長くなるように調整されることを特徴とする請求項4に記載の露光装置。
- 前記光源からの光が前記基板上で所定の照度分布を有するように、前記可変絞りの前記光軸方向位置が調整されることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記基板は、前記光源からの光に対して走査されることにより露光され、
前記可変絞りの前記光軸方向位置は、前記照明領域の走査の方向の照度分布が所定の分布となるように決定されることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。 - 複数の露光条件における前記原版を照明する光の開口数に対応した前記可変絞りの前記光軸方向位置の調整値を示すデータに基づいて、前記複数の露光条件のうち選択された露光条件に対応した前記調整値を決定し、前記可変絞りの光軸方向位置の調整を行うことを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記基板と共役な位置に、視野絞りを更に有することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記投影光学系は、前記基板と共役な位置に前記パターンの中間像を形成し、該中間像が形成される位置近傍の前記光源側に、前記可変絞りが配置されていることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 光源からの光で原版を照明するための照明光学系と、前記原版のパターンを基板に投影するための投影光学系とを有する露光装置において、
前記基板と共役な位置の近傍に配置され、前記基板の照明領域を規定するための開口を持つ可変絞りを有し、
当該可変絞りは、第1の遮光部と第2の遮光部とを有し、
当該第1の遮光部と第2の遮光部との前記照明光学系若しくは投影光学系の光軸方向に沿った相対位置は、可変であることを特徴とする露光装置。 - 光源からの光で原版を照明するための照明光学系において、
前記原版と共役な位置近傍に配置され、前記原版の照明領域を規定するための開口を持つ可変絞りを有し、該可変絞りは、前記照明光学系の光軸方向に沿った位置が可変であることを特徴とする照明光学系。 - 光源からの光で原版を照明するための照明光学系において、
前記原版と共役な位置の近傍に配置され、前記基板の照明領域を規定するための開口を持つ可変絞りを有し、
当該可変絞りは、第1の遮光部と第2の遮光部とを有し、
当該第1の遮光部と第2の遮光部との前記照明光学系の光軸方向に沿った相対位置は、可変であることを特徴とする照明光学系。 - 請求項1から請求項11のうちいずれか一に記載の露光装置によって基板を露光する工程と、前記露光された基板に所定のプロセスを行う工程とを有するデバイスの製造方法。
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