JP2003332184A - Element transferring method - Google Patents

Element transferring method

Info

Publication number
JP2003332184A
JP2003332184A JP2002136558A JP2002136558A JP2003332184A JP 2003332184 A JP2003332184 A JP 2003332184A JP 2002136558 A JP2002136558 A JP 2002136558A JP 2002136558 A JP2002136558 A JP 2002136558A JP 2003332184 A JP2003332184 A JP 2003332184A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
adhesive layer
sensitive adhesive
support
transfer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002136558A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaru Minami
勝 南
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2002136558A priority Critical patent/JP2003332184A/en
Publication of JP2003332184A publication Critical patent/JP2003332184A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Led Devices (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an element transferring method which is capable of transferring an element with high efficiency and accuracy. <P>SOLUTION: A first support body where the elements are arranged and held by a first thermosensitive adhesive layer and a second support body equipped with a second thermosensitive adhesive layer are pasted together, the elements and the second thermosensitive adhesive layer are brought into contact with each other, the first and second thermosensitive layers are changed in temperature so as to enable the elements to be separated from the first thermosensitive layer, the first and second support bodies are separated from each other so as to transfer the elements to the second support body in a state in which the elements are kept separable from the first thermosensitive adhesive layer. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体発光素子な
どの素子の転写方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for transferring an element such as a semiconductor light emitting element.

【0002】[0002]

【従来の技術】現在、電子機器等においては、微細な素
子、電子部品、電子デバイス、さらにはそれらをプラス
チックのような絶縁体に埋め込んだ電子部品等を多数配
列することにより構成されたものが広く用いられてい
る。例えば、発光素子をマトリクス状に配列して画像表
示装置に組み上げる場合には、従来、液晶表示装置(L
CD:Liquid Crystal Displa
y)やプラズマディスプレイパネル(PDP:Plas
ma Display Panel)のように基板上に
直接素子を形成するか、あるいは発光ダイオードディス
プレイ(LEDディスプレイ)のように単体のLEDパ
ッケージを配列することが行われている。
2. Description of the Related Art At present, electronic devices and the like are constructed by arranging a large number of fine elements, electronic parts, electronic devices, and electronic parts in which they are embedded in an insulator such as plastic. Widely used. For example, when the light emitting elements are arranged in a matrix and assembled into an image display device, a liquid crystal display device (L
CD: Liquid Crystal Display
y) and plasma display panel (PDP: Plas)
Elements such as a ma Display Panel) are directly formed on a substrate, or a single LED package is arranged like a light emitting diode display (LED display).

【0003】ここで、LCD、PDPの如き画像表示装
置においては、素子分離ができないために、製造プロセ
スの当初から各素子はその画像表示装置の画素ピッチだ
け間隔を空けて形成することが通常行われている。
Here, in an image display device such as an LCD or PDP, since the elements cannot be separated from each other, it is usual to form each element with a pitch of the pixel pitch of the image display device from the beginning of the manufacturing process. It is being appreciated.

【0004】一方、LEDディスプレイの場合には、L
EDチップをダイシング後に取り出し、個別にワイヤー
ボンドもしくはフリップチップによるバンプ接続により
外部電極に接続し、パッケージ化されることが行われて
いる。この場合、パッケージ化の前もしくは後に画像表
示装置としての画素ピッチに配列されるが、この画素ピ
ッチは素子形成時の素子のピッチとは無関係とされる。
On the other hand, in the case of an LED display, L
The ED chip is taken out after dicing, individually connected to external electrodes by wire bonding or bump connection by flip chip, and packaged. In this case, the pixels are arranged at a pixel pitch as an image display device before or after packaging, and this pixel pitch is independent of the element pitch at the time of element formation.

【0005】発光素子であるLED(発光ダイオード)
は高価である為、1枚のウエハから数多くのLEDチッ
プを製造することによりLEDを用いた画像表示装置を
低コストにできる。すなわち、LEDチップの大きさを
従来約300μm角のものを数十μm角のLEDチップ
にして、それを接続して画像表示装置を製造すれば画像
表示装置の価格を下げることができる。
LED (light emitting diode) which is a light emitting element
Is expensive, it is possible to reduce the cost of the image display device using LEDs by manufacturing many LED chips from one wafer. That is, the price of the image display device can be reduced by changing the conventional LED chip size of about 300 μm square to an LED chip of several tens μm square and connecting the LED chips to manufacture the image display device.

【0006】そこで各素子を集積度高く形成し、各素子
を広い領域に転写などによって離間させながら移動さ
せ、画像表示装置などの比較的大きな表示装置を構成す
る技術が有り、例えば、図7(a)に示すようにベース
基板61上の接着層62に素子63を配置し、図7
(b)に示すように吸着ヘッド64を用いて素子63を
取り出し、他の基板65の接着層66上に置くことによ
り転写を行う技術がある。
Therefore, there is a technique for forming a relatively large display device such as an image display device by forming each device with a high degree of integration and moving each device while separating them by wide area transfer or the like. The element 63 is arranged on the adhesive layer 62 on the base substrate 61 as shown in FIG.
As shown in (b), there is a technique in which the element 63 is taken out by using the suction head 64 and placed on the adhesive layer 66 of another substrate 65 to perform transfer.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、転写技術に
より画像表示装置を製造する場合、素子が確実に転写さ
れる必要がある。また、効率的な転写、精度の良い転写
も要求される。
By the way, in the case of manufacturing an image display device by a transfer technique, it is necessary to surely transfer the element. Further, efficient transfer and accurate transfer are also required.

【0008】しかしながら、上述のような方法を用いた
場合、転写を行う際には、吸着ヘッドによる素子の取り
出し、移動、基板への載置という複数のプロセスが必要
となるため転写工程が煩雑となり、また、複数種の設備
が必要となるためコストがかかる。また、素子を置く
際、即ち素子を実装する際には1つずつ置いていく作業
が必要になり、極めて煩雑であるばかりか、非常に時間
を要する。一方、素子の実装時間を短縮するために実装
機の作業効率を向上させようとした場合には、素子を実
装する際の配列の精度が低下するという問題が生じる。
また、現行の実装機においては、素子を配列する際の位
置決め精度は10μm程度が限界であり、現在の機構的
な位置決め方法では、これ以上の位置決め精度の向上は
困難である。
However, when the above-mentioned method is used, a plurality of processes of picking up and moving the element by the suction head, and placing it on the substrate are required to perform the transfer, so that the transfer process becomes complicated. In addition, since multiple types of equipment are required, it is costly. Further, when the elements are placed, that is, when the elements are mounted, it is necessary to place the elements one by one, which is extremely complicated and takes a very long time. On the other hand, when it is attempted to improve the work efficiency of the mounting machine in order to shorten the mounting time of the elements, there arises a problem that the accuracy of the array when mounting the elements is reduced.
Further, in the current mounting machine, the positioning accuracy when arranging the elements is limited to about 10 μm, and it is difficult to further improve the positioning accuracy with the current mechanical positioning method.

【0009】そこで、本発明は、かかる従来の実情に鑑
みて創案されたされたものであり、効率的且つ精度良く
素子を転写することが可能な素子の転写方法を提供する
ことを目的とする。
Therefore, the present invention has been conceived in view of such conventional circumstances, and an object thereof is to provide an element transfer method capable of transferring an element efficiently and accurately. .

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本願発明の素子の転写方法は、第一の感温性接着層に
よって素子が配列され保持された第一の支持体と、第二
の感温性接着層を備える第二の支持体とを貼り付ける工
程と、前記素子と前記第二の感温性接着層とが接触した
状態で、前記第一の感温性接着層および前記第二の感温
性接着層を温度変化させて前記第一の感温性接着層から
前記素子を剥離可能とし、前記第一の支持体と前記第二
の支持体を分離して、前記素子を前記第二の支持体上に
転写する工程とを有することを特徴とする。
A method for transferring an element of the present invention to solve the above-mentioned problems is a first support in which elements are arranged and held by a first temperature-sensitive adhesive layer, and a second support. A step of attaching a second support having a temperature-sensitive adhesive layer, and the element and the second temperature-sensitive adhesive layer are in contact with each other, the first temperature-sensitive adhesive layer and the By changing the temperature of the second temperature-sensitive adhesive layer to enable the element to be peeled from the first temperature-sensitive adhesive layer, the first support and the second support are separated, the element Is transferred onto the second support.

【0011】第一の感温性接着層上に配列された素子と
第二の感温性接着層とを接触させ、第一の感温性接着層
を温度変化させて素子を第一の支持体から剥離可能とす
ることによって、温度変化をさせるだけの簡便な方法の
みで素子を第二の支持体に転写することができる。
The elements arranged on the first temperature-sensitive adhesive layer are brought into contact with the second temperature-sensitive adhesive layer, and the temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer is changed to support the element as the first support. By making it peelable from the body, the element can be transferred to the second support only by a simple method of changing the temperature.

【0012】また、上記課題を解決するための本願発明
の素子の転写方法は、前記第一の感温性接着層から前記
素子を剥離可能とした状態では、前記第二の感温性接着
層の接着力が前記第一の感温性接着層の接着力よりも大
となり、前記第一の感温性接着層と前記第二の感温性接
着層とでは、温度変化時の接着力の変化が逆相関関係で
あることを特徴とする。
Further, in order to solve the above-mentioned problems, the method of transferring an element of the present invention is such that, in a state where the element can be separated from the first temperature-sensitive adhesive layer, the second temperature-sensitive adhesive layer is formed. The adhesive force of the first temperature-sensitive adhesive layer is larger than the adhesive force of the first temperature-sensitive adhesive layer, the first temperature-sensitive adhesive layer and the second temperature-sensitive adhesive layer The change is inversely correlated.

【0013】第一の感温性接着層を温度変化させて素子
を剥離可能とした状態で、第二の感温性接着層の接着力
が第一の感温性接着層の接着力よりも大きいことで、第
一の支持体と第二の支持体を温度変化させて分離するだ
けで、第一の支持体上の素子が第二の支持体に転写され
る。温度変化が一回で済むために、転写のプロセスを簡
略化することが可能となる。
The adhesive force of the second temperature-sensitive adhesive layer is larger than that of the first temperature-sensitive adhesive layer in a state where the first temperature-sensitive adhesive layer can be peeled by changing the temperature. Due to the large size, the elements on the first support are transferred to the second support only by changing the temperature and separating the first support and the second support. Since only one temperature change is required, the transfer process can be simplified.

【0014】また、上記課題を解決するための本願発明
の素子の転写方法は、前記第二の支持体上に前記素子が
転写された後に、前記第二の感温性接着層を温度変化さ
せて前記第二の感温性接着層から前記素子を剥離可能と
する工程と、前記第二の感温性接着層から前記素子を剥
離可能な状態で、所定の前記素子を除去する工程とを有
する。
Further, in order to solve the above-mentioned problems, a method of transferring an element of the present invention is to change the temperature of the second temperature-sensitive adhesive layer after the element is transferred onto the second support. A step of allowing the element to be peeled from the second temperature-sensitive adhesive layer, and a step of removing the predetermined element in a state where the element can be peeled from the second temperature-sensitive adhesive layer. Have.

【0015】第二の感温性接着層を温度変化させること
で、素子を第二の支持体から剥離可能にして所定の素子
を除去するため、第二の支持体上への素子の転写後に素
子に不良が発見された場合にも、簡便に不良な素子を除
去することが可能であり、素子を配列した表示装置等の
不良率を低減することが可能となる。
By changing the temperature of the second temperature-sensitive adhesive layer so that the element can be peeled from the second support and the predetermined element is removed, after the element is transferred onto the second support, Even if a defect is found in the element, the defective element can be easily removed, and the defect rate of the display device or the like in which the elements are arranged can be reduced.

【0016】前記第二の支持体上から所定の前記素子が
除去された位置に、前記第二の感温性接着層を温度変化
させて前記第二の感温性接着層に前記他の素子を接着可
能として他の素子を配置することを特徴とする。
At the position where the predetermined element is removed from the second support, the temperature of the second temperature-sensitive adhesive layer is changed so that the other element is added to the second temperature-sensitive adhesive layer. Is characterized in that other elements are arranged so that they can be bonded.

【0017】第二の感温性接着層を温度変化させること
で、素子を第二の支持体上に接着可能にして、除去した
素子が存在した位置に他の素子を配置することが出来る
ため、第二の支持体上に配列された素子に不良が発見さ
れた場合にも、簡便に不良な素子を除去することが可能
であり、素子を配列した表示装置等の不良率を低減する
ことが可能となる。
By changing the temperature of the second temperature-sensitive adhesive layer, the element can be bonded on the second support, and another element can be arranged at the position where the removed element was present. Even if a defect is found in the elements arranged on the second support, the defective element can be easily removed, and the defect rate of the display device in which the elements are arranged can be reduced. Is possible.

【0018】また、上記課題を解決するための本願発明
の素子の転写方法は、開口部が形成されたマスクの一方
の面に、第一の感温性接着層によって素子が配列され保
持された第一の支持体を貼り付ける工程と、前記マスク
の他方の面に、接着剤層を備える第二の支持体とを貼り
付ける工程と、前記第一の支持体と前記第二の支持体を
加圧して、前記開口部に対応する位置の前記素子と前記
接着剤層とを接触させる工程と、前記素子と前記接着剤
層とが接触した状態で、前記第一の感温性接着層を温度
変化させて前記第一の感温性接着層から前記素子を剥離
可能とし、前記第一の支持体と前記第二の支持体を分離
して、前記素子を前記第二の支持体上に転写する工程と
を有することを特徴とする。
Further, in the element transfer method of the present invention for solving the above problems, the elements are arranged and held by the first temperature-sensitive adhesive layer on one surface of the mask in which the opening is formed. A step of attaching a first support, a step of attaching a second support having an adhesive layer on the other surface of the mask, and a step of attaching the first support and the second support The step of bringing the element and the adhesive layer in a position corresponding to the opening into contact with each other by applying pressure, and in a state where the element and the adhesive layer are in contact with each other, the first temperature-sensitive adhesive layer is The element can be peeled from the first temperature-sensitive adhesive layer by changing the temperature, and the first support and the second support are separated, and the element is placed on the second support. And a step of transferring.

【0019】開口部を形成したマスクを介して、第一の
感温性接着層上に配列された素子と第二の感温性接着層
とを接触させ、第一の感温性接着層を温度変化させて素
子を第一の支持体から剥離可能とすることによって、開
口部に対応する位置の素子のみを選択的に第二の支持体
上に転写することが可能となり、簡便に素子の転写を行
うことができる。
The elements arranged on the first temperature-sensitive adhesive layer and the second temperature-sensitive adhesive layer are brought into contact with each other through the mask having the opening, and the first temperature-sensitive adhesive layer is formed. By changing the temperature so that the element can be separated from the first support, only the element at the position corresponding to the opening can be selectively transferred onto the second support, and the element can be easily Transfer can be performed.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した素子の転
写方法について、図面を参照しながら詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A method of transferring an element to which the present invention is applied will be described below in detail with reference to the drawings.

【0021】先ず、基本となる素子の転写方法について
説明する。本発明においては、第一の支持体上に配列形
成された素子を第二の支持体に転写するに際して、第一
の支持体及び第二の支持体にそれぞれ感温性接着層を形
成することを特徴とし、さらに、第一の支持体上に形成
された感温性接着層(以下、第一の感温性接着層と称す
る。)の粘着力の感温特性は温度上昇に伴い粘着力が低
下するものであり、第二の支持体上に形成された感温性
接着層(以下、第二の感温性接着層と称する。)の粘着
力の感温特性は温度上昇に伴い粘着力が向上するもので
あることを特徴とする。すなわち、本発明においては、
上述した2つの感温性接着層の粘着力の感温特性の相違
を利用することにより、第一の感温性接着層を可塑化、
溶融させて第一の支持体上に配列形成された素子を剥離
可能な状態とし、且つ第二の感温性接着層を可塑化、溶
融させ、更に硬化させることにより第二の支持体に転写
する。
First, a method of transferring a basic element will be described. In the present invention, when transferring the elements arrayed and formed on the first support to the second support, a temperature-sensitive adhesive layer is formed on each of the first support and the second support. In addition, the temperature-sensitive adhesive property of the temperature-sensitive adhesive layer (hereinafter referred to as the first temperature-sensitive adhesive layer) formed on the first support is the temperature-sensitive adhesive property as the temperature rises. The temperature-sensitive adhesive property of the temperature-sensitive adhesive layer (hereinafter referred to as the second temperature-sensitive adhesive layer) formed on the second support has the following characteristic: It is characterized by improving power. That is, in the present invention,
The first temperature-sensitive adhesive layer is plasticized by utilizing the difference in the temperature-sensitive characteristics of the adhesive force of the two temperature-sensitive adhesive layers described above,
Transfer the elements to the second support by melting them to make the elements arrayed on the first support peelable, and plasticizing, melting, and curing the second temperature-sensitive adhesive layer. To do.

【0022】ここで、第一の感温性接着層及び第二の感
温性接着層の変化温度の組み合わせは、第一の感温性接
着層の変化温度が第二の感温性接着層の変化温度より低
くても良く、また、第一の感温性接着層の変化温度が第
二の感温性接着層の変化温度より高くても良い。
Here, the combination of the change temperatures of the first temperature-sensitive adhesive layer and the second temperature-sensitive adhesive layer is such that the change temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer is the second temperature-sensitive adhesive layer. Change temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer may be lower than the change temperature of the second temperature-sensitive adhesive layer.

【0023】[第一の実施の形態]本発明を適用した第
一の実施の形態について以下に図面を用いて詳細に説明
する。素子の転写と配列を行うには、図1の(a)に示
すように、まず、サファイア基板などの成長基板1上
に、発光ダイオード(LED)などの素子2を有機金属
化合物気相成長法(MOCVD:metal−orga
nic chemical vapor deposi
tion)や、ハイドライド気相成長法(HVPE:H
ydride Vapor Phase Epitax
y)や、分子線エピタキシ法(MBE:Molecul
ar Beam Epitaxy)などの製造方法を用
いて複数形成する。ここでは、成長基板1をサファイア
基板としているが、半導体層の成長を行って素子2を形
成することが可能な基板であればよい。また、素子2と
しては任意の素子に適用することができ、例示するなら
ば、発光ダイオード、半導体レーザー素子、液晶制御素
子、光電変換素子、圧電素子、薄膜トランジスタ素子、
薄膜ダイオード素子、抵抗素子、スイッチング素子、微
小磁気素子、微小光学素子などを挙げることができる。
[First Embodiment] The first embodiment to which the present invention is applied will be described below in detail with reference to the drawings. In order to transfer and arrange the elements, as shown in FIG. 1A, first, an element 2 such as a light emitting diode (LED) is placed on a growth substrate 1 such as a sapphire substrate by a metal organic chemical vapor deposition method. (MOCVD: metal-organ
nic chemical vapor deposi
cation) and hydride vapor phase epitaxy (HVPE: H
hydride Vapor Phase Epitax
y) and molecular beam epitaxy (MBE: Molecular)
A plurality of them are formed by using a manufacturing method such as ar beam epitaxy. Here, the growth substrate 1 is a sapphire substrate, but any substrate capable of growing a semiconductor layer to form the element 2 may be used. Further, the element 2 can be applied to any element, and if exemplified, a light emitting diode, a semiconductor laser element, a liquid crystal control element, a photoelectric conversion element, a piezoelectric element, a thin film transistor element,
Examples thereof include a thin film diode element, a resistance element, a switching element, a micro magnetic element and a micro optical element.

【0024】次に図1(b)に示すように、シート状の
支持体3上に第一の感温性接着層4が形成された粘着シ
ート5を、成長基板1の素子2が形成されている面と貼
り合わせて接着させる。これにより、第一の感温性接着
層4によって素子2が覆われて保護された状態となる。
成長基板1と粘着シート5の貼り合わせの際には、粘着
シート5を成長基板1上に配置した後にラミネーターや
ゴムローラー等で軽く圧力を加えるとしてもよい。ま
た、支持体3はシート状に限定されず、テープ状であっ
てもよい。
Next, as shown in FIG. 1 (b), the adhesive sheet 5 having the first temperature-sensitive adhesive layer 4 formed on the sheet-like support 3 is formed into the element 2 of the growth substrate 1. It is pasted and adhered to the surface. As a result, the element 2 is covered and protected by the first temperature-sensitive adhesive layer 4.
When the growth substrate 1 and the adhesive sheet 5 are bonded together, the adhesive sheet 5 may be placed on the growth substrate 1 and then light pressure may be applied by a laminator or a rubber roller. Further, the support 3 is not limited to the sheet shape and may be a tape shape.

【0025】上記第一の感温性接着層4とは、所定の変
化温度で急激に粘着力が変化する性質を有する層であ
る。この第一の感温性接着層4は、当該第一の感温性接
着層4の変化温度以上の温度に加熱することにより素子
2との接着力が低減するため、素子2を第一の感温性接
着層4から簡単に剥離することが可能となる。
The first temperature-sensitive adhesive layer 4 is a layer having a property that the adhesive force changes abruptly at a predetermined change temperature. This first temperature-sensitive adhesive layer 4 reduces the adhesive force with the element 2 by being heated to a temperature equal to or higher than the changing temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer 4, so that the element 2 is not It can be easily peeled from the temperature-sensitive adhesive layer 4.

【0026】このような第一の感温性接着層4の材料と
しては、例えば、熱可塑性材料が好適であり、熱可塑性
樹脂等を用いることができる。ここで、熱可塑性樹脂を
用いた場合には、第一の感温性接着層4を所定の変化温
度以上の温度に加熱することにより、熱可塑性樹脂が可
塑化、溶融し、これにより第一の感温性接着層4と素子
2との接着力が低減し、素子2を容易に剥離することが
できる。そして、このような熱可塑性樹脂としては、例
えばヒドロキシエチル、ポリサルファン等が好適であ
る。また、第一の感温性接着層4として熱硬化性材料を
用いるとしてもよい。
As a material for the first temperature-sensitive adhesive layer 4, for example, a thermoplastic material is suitable, and a thermoplastic resin or the like can be used. Here, when the thermoplastic resin is used, by heating the first temperature-sensitive adhesive layer 4 to a temperature equal to or higher than a predetermined change temperature, the thermoplastic resin is plasticized and melted. The adhesive force between the temperature-sensitive adhesive layer 4 and the element 2 is reduced, and the element 2 can be easily peeled off. As such a thermoplastic resin, for example, hydroxyethyl, polysulfane, etc. are suitable. A thermosetting material may be used as the first temperature-sensitive adhesive layer 4.

【0027】また、第一の感温性接着層4は、支持体3
の素子2を配列する側の主面の全面に形成しても良く、
また、素子に対応した位置に選択的に形成しても良い。
ただし、第一の感温性接着層4を塗布形成する場合に
は、全面に均一に形成する方が、プロセスを簡略化する
ことができるため好ましい。
The first temperature-sensitive adhesive layer 4 is the support 3
May be formed on the entire main surface on the side where the elements 2 are arranged,
Further, it may be selectively formed at a position corresponding to the element.
However, when the first temperature-sensitive adhesive layer 4 is formed by coating, it is preferable to form it uniformly on the entire surface because the process can be simplified.

【0028】支持体3は、素子2との組み合わせ等を考
慮して任意の材料のものを用いることができるが、本発
明の構成上、加熱、冷却による温度変化においても十分
な耐熱性を示し、また、低膨張特性を有する材料からな
るものを用いる。そして、金属基板等のように熱伝導性
が良好なものを用いることが好ましい。また、支持体3
は、多層構造でも良く、単層構造でも良い。
The support 3 may be made of any material in consideration of the combination with the element 2 and the like, but it shows sufficient heat resistance even with temperature change due to heating and cooling due to the constitution of the present invention. Also, a material made of a material having a low expansion property is used. Then, it is preferable to use a material having good thermal conductivity such as a metal substrate. Also, the support 3
May have a multi-layer structure or a single-layer structure.

【0029】本願の発明者は上述の粘着シート5とし
て、厚さ100μmのPET(Poly Ethyle
ne Terephthalate)フィルムである支
持体3上に、温度が約50℃を越えると粘着力が100
0g/25mmから10g/25mmまで低下する、第
一の感温性接着層4が20μm形成されたものを用い
た。
The inventor of the present application uses, as the above-mentioned pressure-sensitive adhesive sheet 5, a PET (Poly Ethyl) having a thickness of 100 μm.
When the temperature exceeds about 50 ° C., the adhesive force is 100 on the support 3 which is a ne Terephthalate film.
A first temperature-sensitive adhesive layer 4 having a thickness of 20 μm, which decreases from 0 g / 25 mm to 10 g / 25 mm, was used.

【0030】その後図1(c)のように成長基板1から
素子2を剥離して、粘着シート5の第一の感温性接着層
4に素子2が保持された状態にする。成長基板1からの
素子2の剥離は、素子2がGaN系の発光ダイオードで
ある場合には、成長基板1の裏面側からレーザ光を照射
することで、成長基板1との界面でガリウムと窒素が分
解して、素子2は成長基板1から比較的簡単に分離する
ことができる。また、素子2がGaAs系の発光ダイオ
ードである場合には、成長基板1のラッピングおよびエ
ッチングで成長基板1を除去して、素子2だけを第一の
感温性接着層4上に残留させることができるが、素子2
を成長基板1から剥離して第一の感温性接着層4に残留
させることが出来れば方法は問わない。
Thereafter, as shown in FIG. 1C, the element 2 is peeled off from the growth substrate 1 so that the element 2 is held by the first temperature-sensitive adhesive layer 4 of the adhesive sheet 5. When the element 2 is a GaN-based light emitting diode, the element 2 is separated from the growth substrate 1 by irradiating laser light from the back surface side of the growth substrate 1 to remove gallium and nitrogen at the interface with the growth substrate 1. Then, the element 2 can be separated from the growth substrate 1 relatively easily. When the device 2 is a GaAs-based light emitting diode, the growth substrate 1 is removed by lapping and etching the growth substrate 1 so that only the device 2 remains on the first temperature-sensitive adhesive layer 4. Element 2
Any method may be used as long as it can be separated from the growth substrate 1 and left on the first temperature-sensitive adhesive layer 4.

【0031】次に図1(d)に示すように、基材6上に
第二の感温性接着層7が形成された転写基板8を、支持
体3と転写基板8とが所望の位置関係となるように、素
子2と感温性接着層4とを対向させて配置し、粘着シー
ト5の素子2が保持されている面と貼り合わせて接着さ
せる。これにより、第一の感温性接着層4と第二の感温
性接着層7とによって素子2が挟持された状態となる。
Next, as shown in FIG. 1D, the transfer substrate 8 having the second temperature-sensitive adhesive layer 7 formed on the base material 6 is placed at a desired position between the support 3 and the transfer substrate 8. The element 2 and the temperature-sensitive adhesive layer 4 are disposed so as to face each other so as to be in a relationship, and the surface of the pressure-sensitive adhesive sheet 5 on which the element 2 is held is bonded and adhered. As a result, the element 2 is sandwiched by the first temperature-sensitive adhesive layer 4 and the second temperature-sensitive adhesive layer 7.

【0032】転写基板8は、素子2との組み合わせ等を
考慮して任意の材料のものを用いることができるが、本
発明の構成上、加熱、冷却による温度変化においても十
分な耐熱性を示し、また、低膨張特性を有する材料から
なるものを用いる。そして、金属基板等のように熱伝導
性が良好なものを用いることが好ましい。また、転写基
板8は、多層構造でも良く、単層構造でも良い。
The transfer substrate 8 may be made of any material in consideration of the combination with the element 2 and the like, but it shows sufficient heat resistance even with temperature change due to heating and cooling due to the constitution of the present invention. Also, a material made of a material having a low expansion property is used. Then, it is preferable to use a material having good thermal conductivity such as a metal substrate. The transfer substrate 8 may have a multi-layer structure or a single-layer structure.

【0033】第二の感温性接着層7とは、所定の温度以
下に冷却することにより非結晶状態(アモルファス)か
ら結晶状態に変化して粘着性が低下し、所定の温度以上
に加熱することにより結晶状態から非結晶状態に変化し
て粘着性が増加する性質を有する層である。当該第二の
感温性接着層7上に素子2を配し、当該第二の感温性接
着層7の変化温度以上の温度に加熱することにより、素
子2を簡単に転写基板8に保持させることが可能とな
る。ここで第二の感温性接着層7として、所定の温度以
上で結晶状態から非結晶状態へ変化して粘着性が増加す
る材質を例として挙げたが、所定温度以上で粘着性が増
加する性質を有していればよく、熱可塑性材料でも熱硬
化性材料でも本質的に相違は無い。
The second temperature-sensitive adhesive layer 7 is heated to a temperature equal to or higher than a predetermined temperature by changing the temperature from a non-crystalline state (amorphous) to a crystalline state to reduce the tackiness by cooling the temperature to a predetermined temperature or lower. As a result, the layer has the property of changing from the crystalline state to the amorphous state and increasing the tackiness. By disposing the element 2 on the second temperature-sensitive adhesive layer 7 and heating it to a temperature equal to or higher than the change temperature of the second temperature-sensitive adhesive layer 7, the element 2 is easily held on the transfer substrate 8. It becomes possible. Here, as the second temperature-sensitive adhesive layer 7, a material that changes from a crystalline state to a non-crystalline state to increase the tackiness at a predetermined temperature or higher is given as an example, but the tackiness increases at the predetermined temperature or higher. It only needs to have properties, and there is essentially no difference between a thermoplastic material and a thermosetting material.

【0034】また、第二の感温性接着層7は、転写基板
8の素子2を配列する側の主面の全面に形成しても良
く、また、素子に対応した位置に選択的に形成しても良
い。ただし、第二の感温性接着層7を塗布形成する場合
には、全面に均一に形成する方がプロセスを簡略化する
ことができるため好ましい。
The second temperature-sensitive adhesive layer 7 may be formed on the entire main surface of the transfer substrate 8 on which the elements 2 are arranged, or selectively formed at a position corresponding to the elements. You may. However, when the second temperature-sensitive adhesive layer 7 is formed by coating, it is preferable to form it uniformly on the entire surface because the process can be simplified.

【0035】本願の発明者は上述の転写基板8として、
厚さ100μmのPET(PolyEthylene
Terephthalate)である基材6上に、温度
が約50℃を越えると粘着力が0g/25mmから50
0g/25mmまで増加する、第二の感温性接着層7が
20μm形成されたものを用いた。第一の感温性接着層
4および第二の感温性接着層7の粘着力と温度との関係
を、図3に模式的に示す。図2(a)は第一の感温性接
着層4の場合であり、温度を上昇させていくと約50℃
付近で粘着力が急激に低下するのが分かる。また、図2
(b)は第二の感温性接着層7の場合であり、温度を上
昇させていくと約50℃付近で粘着力が急激に増加する
ことが分かる。
The inventor of the present application, as the above-mentioned transfer substrate 8,
PET (PolyEthylene) with a thickness of 100 μm
On the base material 6 which is a terephthalate), when the temperature exceeds about 50 ° C., the adhesive strength is from 0 g / 25 mm to 50
The second temperature-sensitive adhesive layer 20 having a thickness of 20 μm, which increases to 0 g / 25 mm, was used. The relationship between the adhesive force and the temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer 4 and the second temperature-sensitive adhesive layer 7 is schematically shown in FIG. FIG. 2A shows the case of the first temperature-sensitive adhesive layer 4, which is about 50 ° C. when the temperature is increased.
It can be seen that the adhesive strength sharply decreases in the vicinity. Also, FIG.
(B) is the case of the second temperature-sensitive adhesive layer 7, and it can be seen that as the temperature is raised, the adhesive force sharply increases at around 50 ° C.

【0036】転写に際しては、図1(e)に示すよう
に、粘着シート5と転写基板8とを所定の位置関係で重
ね合わせて圧着させた状態で、開口部9を形成した板で
あるマスク10を粘着シート5に配置し、マスク10側
から粘着シート5および転写基板8に赤外線を照射す
る。照射した赤外線は開口部9部分を通過して、開口部
9に対応した位置の素子2周辺を加熱する。これにより
素子2周辺の第一の感温性接着層4と第二の感温性接着
層7とを変化温度以上の温度に上昇させて、粘着力を変
化させる。これにより、第一の感温性接着層4と素子2
との接着力は低減して、第二の感温性接着層7と素子2
との接着力は増加するため、素子2は粘着シート5に接
着して保持された状態から、転写基板8に接着して保持
された状態となる。
At the time of transfer, as shown in FIG. 1 (e), a mask which is a plate having an opening 9 in a state where the adhesive sheet 5 and the transfer substrate 8 are superposed in a predetermined positional relationship and pressed against each other. 10 is placed on the adhesive sheet 5, and the adhesive sheet 5 and the transfer substrate 8 are irradiated with infrared rays from the mask 10 side. The radiated infrared light passes through the opening 9 and heats the periphery of the element 2 at a position corresponding to the opening 9. This raises the temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer 4 and the second temperature-sensitive adhesive layer 7 around the element 2 to a temperature equal to or higher than the change temperature, and changes the adhesive force. Thereby, the first temperature-sensitive adhesive layer 4 and the element 2 are
The adhesive force between the second temperature-sensitive adhesive layer 7 and the element 2 is reduced.
Since the adhesive force between and is increased, the element 2 is changed from the state where it is adhered and held on the adhesive sheet 5 to the state where it is adhered and held on the transfer substrate 8.

【0037】従って、図1(e)で開口部9が形成され
たマスク10を介した赤外線照射によって、第一の感温
性接着層4と第二の感温性接着層7の所定部分を加熱し
た状態で、転写基板8を粘着シート5から剥がし取る
と、図1(f)に示すように、第二の感温性接着層7上
に素子2が転写される。以上により、所定の位置に配置
されている素子2を粘着シート5から転写基板8へ転写
することができる。第二の感温性接着層7は、室温(約
22℃)においても若干の粘着力を有しているので、転
写後に加熱を終了しても素子2は転写基板8上に保持さ
れる。
Therefore, the predetermined portions of the first temperature-sensitive adhesive layer 4 and the second temperature-sensitive adhesive layer 7 are irradiated with infrared rays through the mask 10 in which the opening 9 is formed in FIG. 1 (e). When the transfer substrate 8 is peeled off from the adhesive sheet 5 in the heated state, the element 2 is transferred onto the second temperature-sensitive adhesive layer 7, as shown in FIG. As described above, the element 2 arranged at a predetermined position can be transferred from the adhesive sheet 5 to the transfer substrate 8. Since the second temperature-sensitive adhesive layer 7 has a slight adhesive force even at room temperature (about 22 ° C.), the element 2 is held on the transfer substrate 8 even if the heating is finished after the transfer.

【0038】以上のような本発明を適用した素子の転写
方法においては、素子2を転写するに際して、第一の感
温性接着層4と第二の感温性接着層7の粘着力の感温特
性を、温度上昇時に粘着力低下するものと粘着力増加す
るものとに設定するため、粘着力の感温特性の相違を利
用して素子2を粘着シート5から転写基板8へ選択的に
転写することができる。
In the element transfer method to which the present invention is applied as described above, when the element 2 is transferred, the adhesive strength of the first temperature-sensitive adhesive layer 4 and the second temperature-sensitive adhesive layer 7 is sensed. In order to set the temperature characteristics such that the adhesive strength decreases and the adhesive strength increases when the temperature rises, the element 2 is selectively transferred from the adhesive sheet 5 to the transfer substrate 8 by utilizing the difference in the temperature-sensitive characteristics of the adhesive strength. Can be transcribed.

【0039】上述した説明では、加熱の方法として赤外
線照射を例として示したが、レーザービームをマイクロ
レンズで特定位置に照射することで部分的な加熱を行う
としても良い。また、素子2を選択的に転写する必要が
ない場合には、マスク10を介した加熱ではなく、粘着
シート5および転写基板8の全体を加熱して全ての素子
2を同時に転写するとしても良い。さらに、第一の感温
性接着層4と第二の感温性接着層7の粘着力の感温特性
を逆にして、第一の感温性接着層4が温度上昇によって
粘着力が増加し、第二の感温性接着層7が温度上昇によ
って粘着力が低下するとしてもよい。この場合には、上
述した説明における通常の温度が所定の温度以上であ
り、加熱処理を冷却処理に置き換えたものとなる。
In the above description, infrared irradiation is shown as an example of the heating method, but partial heating may be performed by irradiating a specific position with a laser beam by a microlens. When it is not necessary to selectively transfer the elements 2, all the elements 2 may be transferred simultaneously by heating the entire adhesive sheet 5 and the transfer substrate 8 instead of heating through the mask 10. . Further, the temperature-sensitive characteristics of the adhesive strength of the first temperature-sensitive adhesive layer 4 and the second temperature-sensitive adhesive layer 7 are reversed to increase the adhesive strength of the first temperature-sensitive adhesive layer 4 due to the temperature rise. However, the adhesive strength of the second temperature-sensitive adhesive layer 7 may decrease due to the temperature increase. In this case, the normal temperature in the above description is equal to or higher than the predetermined temperature, and the heating process is replaced with the cooling process.

【0040】すなわち、この素子の転写方法において
は、加熱、若しくは冷却プロセスのみで粘着シート5か
らの素子2の剥離と、転写基板8への素子2の接着が可
能であるため、例えば吸着ヘッドや、紫外線反応型の材
料を用いた場合に必要となる紫外線照射装置等の部材が
不要であり、非常に簡素な構成により簡単に素子2の転
写を行うことができる。
That is, in this element transfer method, the element 2 can be peeled from the adhesive sheet 5 and adhered to the transfer substrate 8 only by a heating or cooling process. No members such as an ultraviolet irradiation device, which are required when using an ultraviolet-reactive material, are needed, and the element 2 can be easily transferred with a very simple structure.

【0041】転写プロセスが簡便であることから、素子
の位置決めが容易に且つ確実に行うことができるため、
転写素子の位置ずれ等が生じることがなく、精度良く素
子の転写を行うことができる。また、例えば転写対象と
なる素子のうち、基準となる素子2を決め、この素子の
みを所定の位置に位置決めすることにより他の転写素子
も一括して所定の位置に位置決めされるため、素子毎に
実装位置のずれが生じることがなく、精度良く素子の転
写を行うことができる。
Since the transfer process is simple, the element can be positioned easily and surely.
It is possible to perform the transfer of the element with high accuracy without causing the displacement of the transfer element or the like. Further, for example, among the elements to be transferred, the reference element 2 is determined, and by positioning only this element at the predetermined position, the other transfer elements are also collectively positioned at the predetermined position. It is possible to accurately transfer the element without causing the mounting position to shift.

【0042】また、この素子の転写方法では、粘着シー
ト5からの素子2の剥離と、転写基板8への素子2の接
着がほぼ同時になされるため、短時間で素子2の転写を
実現することができ、実装時間の大幅な短縮が可能であ
る。
Further, in this element transfer method, since the element 2 is peeled from the adhesive sheet 5 and the element 2 is adhered to the transfer substrate 8 almost at the same time, the element 2 can be transferred in a short time. Therefore, the mounting time can be greatly reduced.

【0043】したがって、この素子の転写方法によれ
ば、支持体3上における素子2の固着、及び転写基板上
における素子2の固着にそれぞれ第一の感温性接着層4
及び第二の感温性接着層7を用いて、第一の感温性接着
層4の粘着力の感温特性と第二の感温性接着層7の粘着
力の感温特性との相違を利用することにより、効率的且
つ精度の良い素子2の転写が可能となる。
Therefore, according to this element transfer method, the first temperature-sensitive adhesive layer 4 is used to fix the element 2 on the support 3 and the element 2 on the transfer substrate, respectively.
And using the second temperature-sensitive adhesive layer 7, the difference between the temperature-sensitive adhesive property of the first temperature-sensitive adhesive layer 4 and the temperature-sensitive adhesive property of the second temperature-sensitive adhesive layer 7. By using, it becomes possible to efficiently and accurately transfer the element 2.

【0044】以上に述べた素子2の選択的な転写を、赤
緑青(RGB)各色に関して行ったのち、同一の粘着シ
ート5に対してRGB各色の素子2を再度転写し、RG
B全色が保持された粘着シート5から転写基板8へ全て
の素子をの転写する。これにより、転写基板8上にRG
Bの発光を行う素子が配列された状態となるので、電気
的配線を行えば素子2を配列して表示を行う表示装置を
作成することができる。
After the selective transfer of the element 2 described above is performed for each color of red, green and blue (RGB), the element 2 of each color of RGB is transferred again to the same adhesive sheet 5, and RG is transferred.
All the elements are transferred from the adhesive sheet 5 holding all the colors B to the transfer substrate 8. As a result, the RG is transferred onto the transfer substrate 8.
Since the elements for emitting light of B are arranged, it is possible to form a display device for displaying by arranging the elements 2 by making electrical wiring.

【0045】[第二の実施の形態]次に、本発明を適用
した第二の実施の形態について以下に図面を用いて詳細
に説明する。素子の転写と配列を行うには、図3(a)
に示すように、まず、サファイア基板などの成長基板2
1上に、発光ダイオード(LED)などの素子22を有
機金属化合物気相成長法(MOCVD:metal−o
rganic chemical vapor dep
osition)や、ハイドライド気相成長法(HVP
E:Hydride Vapor Phase Epi
taxy)や、分子線エピタキシ法(MBE:Mole
cular Beam Epitaxy)などの製造方
法を用いて複数形成する。ここでは、成長基板1をサフ
ァイア基板としているが、半導体層の成長を行って素子
2を形成することが可能な基板であればよい。また、素
子22としては任意の素子に適用することができ、例示
するならば、発光ダイオード、半導体レーザー素子、液
晶制御素子、光電変換素子、圧電素子、薄膜トランジス
タ素子、薄膜ダイオード素子、抵抗素子、スイッチング
素子、微小磁気素子、微小光学素子などを挙げることが
できる。
[Second Embodiment] Next, a second embodiment to which the present invention is applied will be described in detail below with reference to the drawings. To transfer and arrange the elements, refer to FIG.
As shown in FIG. 1, first, a growth substrate 2 such as a sapphire substrate 2
An element 22 such as a light emitting diode (LED) is mounted on the substrate 1 by a metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) method.
organic chemical vapor dep
position) and hydride vapor phase epitaxy (HVP)
E: Hydride Vapor Phase Epi
or the molecular beam epitaxy method (MBE: Mole).
A plurality of them are formed by using a manufacturing method such as a circular beam epitaxy). Here, the growth substrate 1 is a sapphire substrate, but any substrate capable of growing a semiconductor layer to form the element 2 may be used. The element 22 can be applied to any element, and if it is exemplified, a light emitting diode, a semiconductor laser element, a liquid crystal control element, a photoelectric conversion element, a piezoelectric element, a thin film transistor element, a thin film diode element, a resistance element, a switching element. An element, a micro magnetic element, a micro optical element, etc. can be mentioned.

【0046】次に図3(b)に示すように、シート状の
支持体23上に第一の感温性接着層24が形成された粘
着シート25を、成長基板21の素子22が形成されて
いる面と貼り合わせて接着させる。これにより、第一の
感温性接着層24によって素子22が覆われて保護され
た状態となる。成長基板21と粘着シート25の貼り合
わせの際には、粘着シート25を成長基板21上に配置
した後にラミネーターやゴムローラー等で軽く圧力を加
えるとしてもよい。また、支持体23はシート状に限定
されず、テープ状であってもよい。
Next, as shown in FIG. 3B, a pressure-sensitive adhesive sheet 25 having a first temperature-sensitive adhesive layer 24 formed on a sheet-like support 23 is formed into an element 22 of a growth substrate 21. It is pasted and adhered to the surface. As a result, the element 22 is covered and protected by the first temperature-sensitive adhesive layer 24. When the growth substrate 21 and the adhesive sheet 25 are attached to each other, the adhesive sheet 25 may be placed on the growth substrate 21 and then lightly pressed by a laminator or a rubber roller. Further, the support body 23 is not limited to the sheet shape and may be a tape shape.

【0047】上記第一の感温性接着層24とは、所定の
変化温度で急激に粘着力が変化する性質を有する層であ
る。この第一の感温性接着層24は、当該第一の感温性
接着層24の変化温度以上の温度に加熱することにより
溶融し、素子22との接着力が低減するため、素子22
を第一の感温性接着層24から簡単に剥離することが可
能となる。
The first temperature-sensitive adhesive layer 24 is a layer having a property that the adhesive force rapidly changes at a predetermined change temperature. The first temperature-sensitive adhesive layer 24 is melted by heating to a temperature equal to or higher than the change temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer 24, and the adhesive force with the element 22 is reduced.
Can be easily peeled from the first temperature-sensitive adhesive layer 24.

【0048】このような第一の感温性接着層24の材料
としては、例えば、熱可塑性材料が好適であり、熱可塑
性樹脂等を用いることができる。ここで、熱可塑性樹脂
を用いた場合には、第一の感温性接着層24を所定の変
化温度以上の温度に加熱することにより、熱可塑性樹脂
が可塑化、溶融し、これにより第一の感温性接着層24
と素子22との接着力が低減し、素子22を容易に剥離
することができる。そして、このような熱可塑性樹脂と
しては、例えばヒドロキシエチル、ポリサルファン等が
好適である。また、第一の感温性接着層24として熱硬
化性材料を用いるとしてもよい。
As a material for the first temperature-sensitive adhesive layer 24, for example, a thermoplastic material is suitable, and a thermoplastic resin or the like can be used. Here, when the thermoplastic resin is used, by heating the first temperature-sensitive adhesive layer 24 to a temperature equal to or higher than a predetermined change temperature, the thermoplastic resin is plasticized and melted. Temperature sensitive adhesive layer 24
The adhesive force between the element 22 and the element 22 is reduced, and the element 22 can be easily peeled off. As such a thermoplastic resin, for example, hydroxyethyl, polysulfane, etc. are suitable. A thermosetting material may be used as the first temperature-sensitive adhesive layer 24.

【0049】また、第一の感温性接着層24は、支持体
23の素子22を配列する側の主面の全面に形成しても
良く、また、素子に対応した位置に選択的に形成しても
良い。ただし、第一の感温性接着層24を塗布形成する
場合には、全面に均一に形成する方が、プロセスを簡略
化することができるため好ましい。
The first temperature-sensitive adhesive layer 24 may be formed on the entire main surface of the support 23 on the side where the elements 22 are arranged, or selectively formed at a position corresponding to the elements. You may. However, when the first temperature-sensitive adhesive layer 24 is formed by coating, it is preferable to form it uniformly over the entire surface because the process can be simplified.

【0050】支持体23は、素子22との組み合わせ等
を考慮して任意の材料のものを用いることができるが、
本発明の構成上、加熱、冷却による温度変化においても
十分な耐熱性を示し、また、低膨張特性を有する材料か
らなるものを用いる。そして、金属基板等のように熱伝
導性が良好なものを用いることが好ましい。また、支持
体23は、多層構造でも良く、単層構造でも良い。
The support 23 may be made of any material in consideration of the combination with the element 22 and the like.
Due to the structure of the present invention, a material that exhibits sufficient heat resistance even when the temperature changes due to heating and cooling and that has a low expansion characteristic is used. Then, it is preferable to use a material having good thermal conductivity such as a metal substrate. The support 23 may have a multi-layer structure or a single-layer structure.

【0051】本願の発明者は上述の粘着シート25とし
て、厚さ100μmのPET(Poly Ethyle
ne Terephthalate)フィルムである支
持体23上に、温度が約50℃を越えると粘着力が10
00g/25mmから10g/25mmまで低下する、
第一の感温性接着層24が20μm形成されたものを用
いた。
The inventor of the present application uses, as the above-mentioned pressure-sensitive adhesive sheet 25, a PET (Poly Ethyl) having a thickness of 100 μm.
When the temperature exceeds about 50 ° C., the adhesive force is 10 on the support 23 which is a ne Terephthalate film.
From 00g / 25mm to 10g / 25mm,
The first temperature-sensitive adhesive layer 24 having a thickness of 20 μm was used.

【0052】その後図3(c)のように成長基板21か
ら素子22を剥離して、粘着シート25の第一の感温性
接着層24に素子22が保持された状態にする。成長基
板21からの素子22の剥離は、素子22がGaN系の
発光ダイオードである場合には、成長基板21の裏面側
からレーザ光を照射することで、成長基板21との界面
でガリウムと窒素が分解して、素子22は成長基板21
から比較的簡単に分離することができる。また、素子2
2がGaAs系の発光ダイオードである場合には、成長
基板21のラッピングおよびエッチングで成長基板21
を除去して、素子22だけを第一の感温性接着層24上
に残留させることができるが、素子22を成長基板21
から剥離して第一の感温性接着層24に残留させること
が出来れば方法は問わない。
Thereafter, as shown in FIG. 3C, the element 22 is peeled off from the growth substrate 21 so that the element 22 is held by the first temperature-sensitive adhesive layer 24 of the adhesive sheet 25. When the element 22 is a GaN-based light-emitting diode, the element 22 is separated from the growth substrate 21 by irradiating a laser beam from the back surface side of the growth substrate 21, so that gallium and nitrogen are separated at the interface with the growth substrate 21. Are decomposed and the element 22 becomes the growth substrate 21.
Can be separated relatively easily. Also, the element 2
When 2 is a GaAs-based light emitting diode, the growth substrate 21 is formed by lapping and etching the growth substrate 21.
Can be removed so that only the element 22 remains on the first temperature-sensitive adhesive layer 24.
Any method may be used as long as it can be peeled off and left on the first temperature-sensitive adhesive layer 24.

【0053】粘着シート25の第一の感温性接着層24
上に素子22を保持した後に、図3(d)に示すよう
に、基材26上に接着剤層31が形成された転写基板2
8を、支持体23と転写基板28とが所望の位置関係と
なるように、素子22と感温性接着層24とを開口部2
9が形成された板であるマスク30を介して対向させて
配置する。図4に示すようにマスク30に形成されてい
る開口部29は、素子22の外形よりも大きめに設計さ
れており、マトリクス状に配列して形成されている。ま
た、マスク30は10〜30μm程度の厚みの板であ
り、材質はフッ素樹脂等の樹脂やステンレス等の金属で
あってよい。また、マスク30の転写基板28と接する
面には、接着剤層31との剥離が容易に行われる剥離層
が形成されているとする(図示せず)。
First temperature-sensitive adhesive layer 24 of adhesive sheet 25
After holding the element 22 thereon, as shown in FIG. 3D, the transfer substrate 2 in which the adhesive layer 31 is formed on the base material 26.
8, the element 22 and the temperature-sensitive adhesive layer 24 are provided in the opening 2 so that the support 23 and the transfer substrate 28 have a desired positional relationship.
9 are arranged so as to face each other through a mask 30 which is a plate on which 9 is formed. As shown in FIG. 4, the openings 29 formed in the mask 30 are designed to be larger than the outer shape of the element 22, and are arranged in a matrix. The mask 30 is a plate having a thickness of about 10 to 30 μm, and the material thereof may be resin such as fluororesin or metal such as stainless steel. Further, it is assumed that a peeling layer which is easily peeled off from the adhesive layer 31 is formed on the surface of the mask 30 which is in contact with the transfer substrate 28 (not shown).

【0054】転写基板28は変形可能な基材であり、本
願発明者が用いたものは半導体の素子分離を行うダイシ
ングの際に使用する厚さ100μmのPETフィルムで
ある。転写基板28は素子22との組み合わせ等を考慮
して任意の材料のものを用いることができるが、本発明
の構成上、加熱、冷却による温度変化においても十分な
耐熱性を示し、また、低膨張特性を有する材料からなる
ものを用いる。また、転写基板28は、多層構造でも単
層構造でも良い。
The transfer substrate 28 is a deformable base material, and the one used by the inventor of the present application is a PET film having a thickness of 100 μm used in dicing for separating semiconductor elements. The transfer substrate 28 may be made of any material in consideration of the combination with the element 22 and the like. However, due to the configuration of the present invention, it exhibits sufficient heat resistance even when the temperature is changed by heating and cooling, and it is low. A material made of a material having expansion properties is used. The transfer substrate 28 may have a multi-layer structure or a single-layer structure.

【0055】接着剤層31は、粘着力が温度変化によっ
て急激に変化する熱可塑性の接着剤である必要はなく、
室温程度で500g/25mm程度の粘着力を有する接
着剤であればよい。また接着剤層31は、転写基板28
の素子22を配列する側の主面の全面に形成しても良
く、また、素子に対応した位置に選択的に形成しても良
い。ただし、接着剤層31を塗布形成する場合には、全
面に均一に形成する方がプロセスを簡略化することがで
きるため好ましい。
The adhesive layer 31 does not need to be a thermoplastic adhesive whose adhesive strength changes rapidly with temperature changes.
Any adhesive may be used as long as it has an adhesive force of about 500 g / 25 mm at room temperature. Further, the adhesive layer 31 is formed on the transfer substrate 28.
The element 22 may be formed on the entire main surface on the side where the elements 22 are arranged, or may be selectively formed at a position corresponding to the element. However, when the adhesive layer 31 is formed by coating, it is preferable to form it uniformly on the entire surface because the process can be simplified.

【0056】転写に際しては図3(e)に示すように、
粘着シート25をマスク30に貼り、転写基板28をマ
スク30に貼ることにより、マスク30を粘着シート2
5と転写基板28とで挟持した状態とする。このとき、
粘着シート25と転写基板28とに、ゴムローラーを手
で押し付けた程度の圧力を加えることで、マスク30に
形成されている開口部29に転写基板28が入り込み、
第一の感温性接着層24に保持された開口部29に対応
した位置の素子22と接着剤層31とが接触して接着す
る。
At the time of transfer, as shown in FIG.
By attaching the adhesive sheet 25 to the mask 30 and the transfer substrate 28 to the mask 30, the mask 30 is attached to the mask 30.
5 and the transfer substrate 28 are sandwiched. At this time,
By applying pressure to the pressure-sensitive adhesive sheet 25 and the transfer substrate 28 to the extent that a rubber roller is pressed by hand, the transfer substrate 28 enters the opening 29 formed in the mask 30,
The element 22 at a position corresponding to the opening 29 held by the first temperature-sensitive adhesive layer 24 and the adhesive layer 31 come into contact with each other and adhere.

【0057】素子22と接着剤層31とが接着した状態
で、粘着シート25を約50℃まで加熱する。加熱に際
しては、温風ヒーターやホットプレートなどを用いて粘
着シート25全体を加熱してもよく、マスク30に形成
された開口部29に対応する位置のみを部分的に加熱し
てもよい。これにより第一の感温性接着層24を変化温
度以上の温度に上昇させて、接着力を低下させる。これ
により、第一の感温性接着層24と素子22との接着力
は低減して、接着剤層31と素子22との接着力は変化
しないため、素子22は粘着シート25に接着して保持
された状態から、転写基板28に接着して保持された状
態となる。
The adhesive sheet 25 is heated to about 50 ° C. with the element 22 and the adhesive layer 31 bonded to each other. At the time of heating, the entire adhesive sheet 25 may be heated using a warm air heater or a hot plate, or only the position corresponding to the opening 29 formed in the mask 30 may be partially heated. As a result, the temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer 24 is raised to a temperature equal to or higher than the change temperature, and the adhesive force is reduced. As a result, the adhesive force between the first temperature-sensitive adhesive layer 24 and the element 22 is reduced, and the adhesive force between the adhesive layer 31 and the element 22 does not change. Therefore, the element 22 is bonded to the adhesive sheet 25. The state of being held is changed to the state of being adhered and held on the transfer substrate 28.

【0058】従って、図3(e)で示したようにマスク
30に形成された開口部29を介して第一の感温性接着
層24と接着剤層31とで素子22を挟持して接着し、
第一の感温性接着層24を加熱した状態で、転写基板2
8をマスク30から剥がし取ると、図3(f)に示すよ
うに、接着剤層31上に素子22が転写される。以上に
より、所定の位置に配置されている素子22を粘着シー
ト25から転写基板28へ転写することができる。接着
剤層31は、室温(約22℃)においても粘着力を有し
ているので、転写後に加熱を終了しても素子22は転写
基板28上に保持される。
Therefore, as shown in FIG. 3E, the element 22 is sandwiched and adhered by the first temperature-sensitive adhesive layer 24 and the adhesive layer 31 through the opening 29 formed in the mask 30. Then
With the first temperature-sensitive adhesive layer 24 heated, the transfer substrate 2
When 8 is peeled off from the mask 30, the element 22 is transferred onto the adhesive layer 31, as shown in FIG. As described above, the element 22 arranged at the predetermined position can be transferred from the adhesive sheet 25 to the transfer substrate 28. Since the adhesive layer 31 has an adhesive force even at room temperature (about 22 ° C.), the element 22 is held on the transfer substrate 28 even if heating is completed after transfer.

【0059】以上のような本発明を適用した素子の転写
方法においては、素子22を転写するに際して、第一の
感温性接着層24の粘着力の感温特性を、温度上昇時に
粘着力低下するものに設定するため、粘着力の感温特性
を利用して素子22を粘着シート25から転写基板28
へ選択的に転写することができる。
In the element transfer method to which the present invention is applied as described above, when the element 22 is transferred, the temperature sensitive characteristic of the adhesive force of the first temperature sensitive adhesive layer 24 is decreased when the temperature rises. In order to set the element 22 from the adhesive sheet 25 to the transfer substrate 28 by utilizing the temperature-sensitive characteristic of adhesive force.
Can be selectively transferred to.

【0060】上述した説明では、加熱の方法として温風
ヒーターやホットプレートを例として示したが、マスク
30を介して赤外線照射を行うことや、レーザービーム
をマイクロレンズで特定位置に照射することで部分的な
加熱を行うとしても良い。また、第一の感温性接着層2
4の粘着力の感温特性を逆にして、第一の感温性接着層
24が温度上昇によって粘着力が増加するとしてもよ
い。この場合には、上述した説明における通常の温度が
所定の温度以上であり、加熱処理を冷却処理に置き換え
たものとなる。
In the above description, a warm air heater or a hot plate is shown as an example of the heating method, but infrared irradiation is performed through the mask 30 or a laser beam is irradiated to a specific position by a microlens. Partial heating may be performed. In addition, the first temperature-sensitive adhesive layer 2
It is also possible to reverse the temperature-sensitive property of the adhesive force of No. 4 and increase the adhesive force of the first temperature-sensitive adhesive layer 24 due to the temperature increase. In this case, the normal temperature in the above description is equal to or higher than the predetermined temperature, and the heating process is replaced with the cooling process.

【0061】すなわち、この素子の転写方法において
は、加熱、若しくは冷却プロセスのみで粘着シート25
からの素子22の剥離と、転写基板28への素子22の
接着が可能であるため、例えば吸着ヘッドや、紫外線反
応型の材料を用いた場合に必要となる紫外線照射装置等
の部材が不要であり、非常に簡素な構成により簡単に素
子22の転写を行うことができる。
That is, in the transfer method of this element, the pressure-sensitive adhesive sheet 25 is formed only by the heating or cooling process.
Since the element 22 can be peeled off from the substrate and the element 22 can be adhered to the transfer substrate 28, for example, a suction head or a member such as an ultraviolet irradiation device which is necessary when an ultraviolet reactive material is used is unnecessary. Thus, the element 22 can be easily transferred with a very simple structure.

【0062】転写プロセスが簡便であることから、素子
の位置決めが容易に且つ確実に行うことができるため、
転写素子の位置ずれ等が生じることがなく、精度良く素
子の転写を行うことができる。また、例えば転写対象と
なる素子のうち、基準となる素子22を決め、この素子
のみを所定の位置に位置決めすることにより他の転写素
子も一括して所定の位置に位置決めされるため、素子毎
に実装位置のずれが生じることがなく、精度良く素子の
転写を行うことができる。
Since the transfer process is simple, the element can be positioned easily and surely.
It is possible to perform the transfer of the element with high accuracy without causing the displacement of the transfer element or the like. Further, for example, among the elements to be transferred, the reference element 22 is determined and only this element is positioned at a predetermined position, so that other transfer elements are collectively positioned at a predetermined position. It is possible to accurately transfer the element without causing the mounting position to shift.

【0063】また、この素子の転写方法では、粘着シー
ト25からの素子22の剥離と、転写基板28への素子
22の接着がほぼ同時になされるため、短時間で素子2
2の転写を実現することができ、実装時間の大幅な短縮
が可能である。
Further, in this element transfer method, the element 22 is peeled from the adhesive sheet 25 and the element 22 is adhered to the transfer substrate 28 almost at the same time.
2 transfer can be realized, and the mounting time can be greatly shortened.

【0064】したがって、この素子の転写方法によれ
ば、支持体23上における素子22の固着、及び転写基
板上における素子22の固着にそれぞれ第一の感温性接
着層24及び接着剤層31を用いて、第一の感温性接着
層24の粘着力の感温特性を利用することにより、効率
的且つ精度の良い素子22の転写が可能となる。
Therefore, according to this element transfer method, the first temperature-sensitive adhesive layer 24 and the adhesive layer 31 are used to fix the element 22 on the support 23 and the element 22 on the transfer substrate, respectively. By using the temperature-sensitive characteristic of the adhesive force of the first temperature-sensitive adhesive layer 24, it is possible to transfer the element 22 efficiently and accurately.

【0065】以上に述べた素子22の選択的な転写を、
赤緑青(RGB)各色に関して行ったのち、同一の粘着
シート25に対してRGB各色の素子22を再度転写
し、RGB全色が保持された粘着シート25から転写基
板28へ全ての素子をの転写する。これにより、転写基
板28上にRGBの発光を行う素子が配列された状態と
なるので、電気的配線を行えば素子を配列して表示を行
う表示装置を作成することができる。
The selective transfer of the element 22 described above is performed by
After performing each color of red, green, blue (RGB), the elements 22 of each color of RGB are transferred again to the same adhesive sheet 25, and all the elements are transferred from the adhesive sheet 25 holding all RGB colors to the transfer substrate 28. To do. As a result, the elements for emitting RGB light are arranged on the transfer substrate 28, so that it is possible to prepare a display device for displaying by arranging the elements by electrical wiring.

【0066】[第三の実施の形態]次に、本発明を適用
した第三の実施の形態について以下に図面を用いて詳細
に説明する。素子の転写と配列を行うには、図5(a)
に示すように、まず、サファイア基板などの成長基板4
1上に、発光ダイオード(LED)などの素子42を有
機金属化合物気相成長法(MOCVD:metal−o
rganic chemical vapor dep
osition)や、ハイドライド気相成長法(HVP
E:Hydride Vapor Phase Epi
taxy)や、分子線エピタキシ法(MBE:Mole
cular Beam Epitaxy)などの製造方
法を用いて複数形成する。ここでは、成長基板41をサ
ファイア基板としているが、半導体層の成長を行って素
子42を形成することが可能な基板であればよい。ま
た、素子42としては任意の素子に適用することがで
き、例示するならば、発光ダイオード、半導体レーザー
素子、液晶制御素子、光電変換素子、圧電素子、薄膜ト
ランジスタ素子、薄膜ダイオード素子、抵抗素子、スイ
ッチング素子、微小磁気素子、微小光学素子などを挙げ
ることができる。
Third Embodiment Next, a third embodiment to which the present invention is applied will be described in detail below with reference to the drawings. To transfer and arrange the elements, refer to FIG.
First, as shown in FIG.
An element 42 such as a light emitting diode (LED) is mounted on the substrate 1 by a metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) method.
organic chemical vapor dep
position) and hydride vapor phase epitaxy (HVP)
E: Hydride Vapor Phase Epi
or the molecular beam epitaxy method (MBE: Mole).
A plurality of them are formed by using a manufacturing method such as a circular beam epitaxy). Here, the growth substrate 41 is a sapphire substrate, but any substrate capable of growing a semiconductor layer to form the element 42 may be used. The element 42 can be applied to any element, and if it is exemplified, a light emitting diode, a semiconductor laser element, a liquid crystal control element, a photoelectric conversion element, a piezoelectric element, a thin film transistor element, a thin film diode element, a resistance element, a switching element. An element, a micro magnetic element, a micro optical element, etc. can be mentioned.

【0067】次に図5(b)に示すように、シート状の
支持体43上に第一の感温性接着層44が形成された粘
着シート45を、成長基板41の素子42が形成されて
いる面と貼り合わせて接着させる。これにより、第一の
感温性接着層44によって素子42が覆われて保護され
た状態となる。成長基板41と粘着シート45の貼り合
わせの際には、粘着シート45を成長基板41上に配置
した後にラミネーターやゴムローラー等で軽く圧力を加
えるとしてもよい。また、支持体43はシート状に限定
されず、テープ状であってもよい。
Next, as shown in FIG. 5B, a pressure-sensitive adhesive sheet 45 having a first temperature-sensitive adhesive layer 44 formed on a sheet-shaped support 43 is formed into an element 42 of a growth substrate 41. It is pasted and adhered to the surface. As a result, the element 42 is covered and protected by the first temperature-sensitive adhesive layer 44. When the growth substrate 41 and the adhesive sheet 45 are attached to each other, the adhesive sheet 45 may be placed on the growth substrate 41 and then lightly pressed by a laminator or a rubber roller. Further, the support body 43 is not limited to the sheet shape and may be a tape shape.

【0068】上記第一の感温性接着層44とは、所定の
変化温度で急激に粘着力が変化する性質を有する層であ
る。この第一の感温性接着層44は、当該第一の感温性
接着層44の変化温度以上の温度に加熱することにより
溶融し、素子42との接着力が低減するため、素子42
を第一の感温性接着層44から簡単に剥離することが可
能となる。
The first temperature-sensitive adhesive layer 44 is a layer having a property that the adhesive force rapidly changes at a predetermined change temperature. The first temperature-sensitive adhesive layer 44 is melted by heating to a temperature equal to or higher than the change temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer 44, and the adhesive force with the element 42 is reduced.
Can be easily peeled off from the first temperature-sensitive adhesive layer 44.

【0069】このような第一の感温性接着層44の材料
としては、例えば、熱可塑性材料が好適であり、熱可塑
性樹脂等を用いることができる。ここで、熱可塑性樹脂
を用いた場合には、第一の感温性接着層44を所定の変
化温度以上の温度に加熱することにより、熱可塑性樹脂
が可塑化、溶融し、これにより第一の感温性接着層44
と素子42との接着力が低減し、素子42を容易に剥離
することができる。そして、このような熱可塑性樹脂と
しては、例えばヒドロキシエチル、ポリサルファン等が
好適である。また、第一の感温性接着層44として熱硬
化性材料を用いるとしてもよい。
As a material for the first temperature-sensitive adhesive layer 44, for example, a thermoplastic material is suitable, and a thermoplastic resin or the like can be used. Here, when the thermoplastic resin is used, by heating the first temperature-sensitive adhesive layer 44 to a temperature equal to or higher than a predetermined change temperature, the thermoplastic resin is plasticized and melted. Temperature sensitive adhesive layer 44
The adhesive force between the element 42 and the element 42 is reduced, and the element 42 can be easily peeled off. As such a thermoplastic resin, for example, hydroxyethyl, polysulfane, etc. are suitable. A thermosetting material may be used as the first temperature-sensitive adhesive layer 44.

【0070】また、第一の感温性接着層44は、支持体
43の素子42を配列する側の主面の全面に形成しても
良く、また、素子に対応した位置に選択的に形成しても
良い。ただし、第一の感温性接着層44を塗布形成する
場合には、全面に均一に形成する方が、プロセスを簡略
化することができるため好ましい。
The first temperature-sensitive adhesive layer 44 may be formed on the entire main surface of the support 43 on the side where the elements 42 are arranged, or selectively formed at a position corresponding to the elements. You may. However, when the first temperature-sensitive adhesive layer 44 is formed by coating, it is preferable to form it uniformly on the entire surface because the process can be simplified.

【0071】支持体43は、素子42との組み合わせ等
を考慮して任意の材料のものを用いることができるが、
本発明の構成上、加熱、冷却による温度変化においても
十分な耐熱性を示し、また、低膨張特性を有する材料か
らなるものを用いる。そして、金属基板等のように熱伝
導性が良好なものを用いることが好ましい。また、支持
体43は、多層構造でも単層構造でも良い。
The support 43 may be made of any material in consideration of the combination with the element 42 and the like.
Due to the structure of the present invention, a material that exhibits sufficient heat resistance even when the temperature changes due to heating and cooling and that has a low expansion characteristic is used. Then, it is preferable to use a material having good thermal conductivity such as a metal substrate. The support 43 may have a multi-layer structure or a single-layer structure.

【0072】本願の発明者は上述の粘着シート45とし
て、厚さ100μmのPET(Poly Ethyle
ne Terephthalate)フィルムである支
持体43上に、温度が約50℃を越えると粘着力が10
00g/25mmから10g/25mmまで低下する、
第一の感温性接着層44が20μm形成されたものを用
いた。
The inventor of the present application uses, as the above-mentioned pressure-sensitive adhesive sheet 45, a PET (Poly Ethyl) having a thickness of 100 μm.
When the temperature exceeds about 50 ° C., the adhesive force is 10 on the support 43 which is a ne Terephthalate film.
From 00g / 25mm to 10g / 25mm,
The first temperature-sensitive adhesive layer 44 having a thickness of 20 μm was used.

【0073】その後図5(c)のように成長基板41か
ら素子42を剥離して、粘着シート45の第一の感温性
接着層44に素子42が保持された状態にする。成長基
板41からの素子42の剥離は、素子42がGaN系の
発光ダイオードである場合には、成長基板41の裏面側
からレーザ光を照射することで、成長基板41との界面
でガリウムと窒素が分解して、素子42は成長基板41
から比較的簡単に分離することができる。また、素子4
2がGaAs系の発光ダイオードである場合には、成長
基板41のラッピングおよびエッチングで成長基板41
を除去して、素子42だけを第一の感温性接着層44上
に残留させることができるが、素子42を成長基板41
から剥離して第一の感温性接着層44に残留させること
が出来れば方法は問わない。
Thereafter, as shown in FIG. 5C, the element 42 is peeled off from the growth substrate 41 so that the element 42 is held by the first temperature-sensitive adhesive layer 44 of the adhesive sheet 45. When the element 42 is a GaN-based light emitting diode, the element 42 is separated from the growth substrate 41 by irradiating the rear surface side of the growth substrate 41 with a laser beam so that gallium and nitrogen are separated at the interface with the growth substrate 41. Are decomposed, and the element 42 becomes the growth substrate 41.
Can be separated relatively easily. Also, the element 4
When 2 is a GaAs light emitting diode, the growth substrate 41 is formed by lapping and etching the growth substrate 41.
Can be removed to leave only the element 42 on the first temperature-sensitive adhesive layer 44.
Any method may be used as long as it can be peeled off and left on the first temperature-sensitive adhesive layer 44.

【0074】次に図5(d)に示すように、基材46上
に第二の感温性接着層47が形成された転写基板48
を、支持体43と転写基板48とが所望の位置関係とな
るように、素子42と感温性接着層44とを対向させて
配置し、粘着シート45の素子42が保持されている面
と貼り合わせて接着させる。これにより、第一の感温性
接着層44と第二の感温性接着層47とによって素子4
2が挟持された状態となる。
Next, as shown in FIG. 5D, a transfer substrate 48 having a second temperature-sensitive adhesive layer 47 formed on a base material 46.
Is arranged such that the element 42 and the temperature-sensitive adhesive layer 44 face each other so that the support 43 and the transfer substrate 48 have a desired positional relationship, and the surface of the pressure-sensitive adhesive sheet 45 on which the element 42 is held. Laminate and bond. As a result, the element 4 is formed by the first temperature-sensitive adhesive layer 44 and the second temperature-sensitive adhesive layer 47.
2 is sandwiched.

【0075】転写基板48は、素子42との組み合わせ
等を考慮して任意の材料のものを用いることができる
が、本発明の構成上、加熱、冷却による温度変化におい
ても十分な耐熱性を示し、また、低膨張特性を有する材
料からなるものを用いる。そして、金属基板等のように
熱伝導性が良好なものを用いることが好ましい。また、
転写基板48は、多層構造でも単層構造でも良い。
The transfer substrate 48 may be made of any material in consideration of the combination with the element 42, etc., but it shows sufficient heat resistance even with temperature change due to heating and cooling due to the constitution of the present invention. Also, a material made of a material having a low expansion property is used. Then, it is preferable to use a material having good thermal conductivity such as a metal substrate. Also,
The transfer substrate 48 may have a multi-layer structure or a single-layer structure.

【0076】第二の感温性接着層47とは、所定の温度
以下に冷却することにより非結晶状態(アモルファス)
から結晶状態に変化して粘着性が低下し、所定の温度以
上に加熱することにより結晶状態から非結晶状態に変化
して粘着性が増加する性質を有する層である。当該第二
の感温性接着層47上に素子42を配し、当該第二の感
温性接着層47の変化温度以上の温度に加熱することに
より、素子42を簡単に転写基板48に保持させること
が可能となる。ここで第二の感温性接着層47として、
所定の温度以上で結晶状態から非結晶状態へ変化して粘
着性が増加する材質を例として挙げたが、所定温度以上
で粘着性が増加する性質を有していればよく、熱可塑性
材料でも熱硬化性材料でも本質的に相違は無い。
The second temperature-sensitive adhesive layer 47 is an amorphous state when cooled to a predetermined temperature or lower.
From the crystalline state to the crystalline state to lower the tackiness, and when heated to a temperature higher than a predetermined temperature, the crystalline state changes to the non-crystalline state to increase the tackiness. By disposing the element 42 on the second temperature-sensitive adhesive layer 47 and heating it to a temperature equal to or higher than the changing temperature of the second temperature-sensitive adhesive layer 47, the element 42 is easily held on the transfer substrate 48. It becomes possible. Here, as the second temperature-sensitive adhesive layer 47,
Although the material whose adhesiveness increases by changing from the crystalline state to the amorphous state at a predetermined temperature or higher is given as an example, it may have a property that the adhesiveness increases at a predetermined temperature or higher, and even a thermoplastic material may be used. There is essentially no difference between thermosetting materials.

【0077】また、第二の感温性接着層47は、転写基
板48の素子42を配列する側の主面の全面に形成して
も良く、また、素子に対応した位置に選択的に形成して
も良い。ただし、第二の感温性接着層47を塗布形成す
る場合には、全面に均一に形成する方がプロセスを簡略
化することができるため好ましい。
The second temperature-sensitive adhesive layer 47 may be formed on the entire main surface of the transfer substrate 48 on which the elements 42 are arranged, or selectively formed at a position corresponding to the elements. You may. However, when the second temperature-sensitive adhesive layer 47 is formed by coating, it is preferable to form it uniformly on the entire surface because the process can be simplified.

【0078】本願の発明者は上述の転写基板48とし
て、厚さ100μmのPET(Poly Ethyle
ne Terephthalate)である基材46上
に、温度が約50℃を越えると粘着力が0g/25mm
から500g/25mmまで増加する、第二の感温性接
着層47が20μm形成されたものを用いた。
The inventor of the present application uses, as the above-mentioned transfer substrate 48, a PET (Poly Ethyl) having a thickness of 100 μm.
When the temperature exceeds about 50 ° C., the adhesive force is 0 g / 25 mm on the base material 46 which is a terephthalate).
The second temperature-sensitive adhesive layer 47 having a thickness of 20 μm was used.

【0079】転写に際しては、図6(e)に示すよう
に、粘着シート45と転写基板48とを所定の位置関係
で重ね合わせて圧着させた状態で、粘着シート45およ
び転写基板48を加熱用ホットプレート52により60
〜70度程度まで加熱する。これにより第一の感温性接
着層44と第二の感温性接着層47とを変化温度以上の
温度に上昇させて、粘着力を変化させる。第一の感温性
接着層44と素子42との接着力は低減して、第二の感
温性接着層47と素子42との接着力は増加するため、
素子42は粘着シート45に接着して保持された状態か
ら、転写基板48に接着して保持された状態となる。
At the time of transfer, as shown in FIG. 6 (e), the pressure-sensitive adhesive sheet 45 and the transfer substrate 48 are heated in a state where the pressure-sensitive adhesive sheet 45 and the transfer substrate 48 are superposed and pressure-bonded in a predetermined positional relationship. 60 by hot plate 52
Heat to ~ 70 degrees. As a result, the temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer 44 and the second temperature-sensitive adhesive layer 47 is raised to a temperature equal to or higher than the change temperature to change the adhesive force. Since the adhesive force between the first temperature-sensitive adhesive layer 44 and the element 42 is reduced and the adhesive force between the second temperature-sensitive adhesive layer 47 and the element 42 is increased,
The element 42 is in a state of being adhered and held on the transfer substrate 48 from a state of being adhered and held by the adhesive sheet 45.

【0080】従って、図6(e)のように粘着シート4
5および転写基板48を加熱用ホットプレート52によ
り、第一の感温性接着層44と第二の感温性接着層47
を60〜70度程度まで加熱した状態で、転写基板48
を粘着シート45から剥がし取ると、図6(f)に示す
ように、第二の感温性接着層47上に素子42が転写さ
れる。第二の感温性接着層47は、室温(約22℃)に
おいても若干の粘着力を有しているので、転写後に加熱
を終了しても素子42は転写基板48上に保持される。
Therefore, as shown in FIG. 6 (e), the adhesive sheet 4
5 and the transfer substrate 48 by the hot plate 52 for heating, the first temperature-sensitive adhesive layer 44 and the second temperature-sensitive adhesive layer 47.
The transfer substrate 48 is heated to about 60 to 70 degrees.
When is peeled off from the adhesive sheet 45, the element 42 is transferred onto the second temperature-sensitive adhesive layer 47, as shown in FIG. Since the second temperature-sensitive adhesive layer 47 has a slight adhesive force even at room temperature (about 22 ° C.), the element 42 is held on the transfer substrate 48 even if heating is completed after transfer.

【0081】転写基板48上に転写および配列された素
子42の検査を行い、動作不良や外観不良の素子42が
発見された場合について説明する。図6(g)は、不良
な素子42のみを選択的に転写基板48から除去する方
法を示した模式図である。転写基板48を冷却プレート
53に接触させて冷却して、選択吸着装置54を用いて
不良な素子42を第二の感温性接着層47から取り除
く。冷却プレート53の内部には約0℃の冷却水が循環
しており(図示せず)、転写基板48全体を約0℃まで
冷却することが可能である。
A case will be described in which the element 42 transferred and arranged on the transfer substrate 48 is inspected, and the element 42 having a malfunction or a defective appearance is found. FIG. 6G is a schematic diagram showing a method of selectively removing only the defective element 42 from the transfer substrate 48. The transfer substrate 48 is brought into contact with the cooling plate 53 to be cooled, and the defective element 42 is removed from the second temperature-sensitive adhesive layer 47 by using the selective adsorption device 54. Cooling water of about 0 ° C. circulates inside the cooling plate 53 (not shown), and the entire transfer substrate 48 can be cooled to about 0 ° C.

【0082】第二の感温性接着層47の粘着力の感温特
性として温度が低下すると共に粘着力が低下するものを
選択しているので、冷却プレート53により転写基板4
8を冷却すると、第二の感温性接着層47と素子42と
の接着力は低下する。そこで選択吸着装置54に不良な
素子42を吸着させて、選択吸着装置54を転写基板4
8から離すことにより不良な素子42を除去する。選択
吸着装置54としては、真空吸着装置や先端に粘着剤を
塗布した棒状の部材が考えられるが、素子42を先端部
に保持することができる構造の装置であれば種類は問わ
ない。
As the temperature-sensitive characteristic of the adhesive force of the second temperature-sensitive adhesive layer 47, one that decreases in temperature and decreases in adhesive force is selected.
When 8 is cooled, the adhesive force between the second temperature-sensitive adhesive layer 47 and the element 42 decreases. Therefore, the defective element 42 is adsorbed to the selective adsorption device 54, and the selective adsorption device 54 is attached to the transfer substrate 4.
The defective element 42 is removed by moving away from 8. As the selective adsorption device 54, a vacuum adsorption device or a rod-shaped member whose tip is coated with an adhesive is conceivable, but any type of device may be used as long as it has a structure capable of holding the element 42 at the tip.

【0083】次に図6(h)に示すように、不良な素子
42を除去した転写基板48上の位置に、良好な素子4
2'を選択吸着装置54を用いて配置し、転写基板48
を加熱用ホットプレート52で加熱して第二の感温性接
着層47の粘着力を上昇させて、選択吸着装置54の素
子42'吸着を開放することで素子42'を転写基板48
上に保持させる。このとき、選択吸着装置54として真
空吸着装置を用いている場合など、選択吸着装置54側
で素子42'の吸着および開放を制御できる場合には、
転写基板48を加熱しなくても、選択吸着装置54の吸
着を開放することによって素子42'を転写基板48に
保持させることが出来る。
Next, as shown in FIG. 6H, the good element 4 is placed at the position on the transfer substrate 48 where the defective element 42 is removed.
2 ′ is arranged using the selective adsorption device 54, and the transfer substrate 48
Is heated by the heating hot plate 52 to increase the adhesive force of the second temperature-sensitive adhesive layer 47, and the element 42 ′ of the selective adsorption device 54 is released to transfer the element 42 ′ to the transfer substrate 48.
Hold it on. At this time, when the suction and release of the element 42 ′ can be controlled on the side of the selective adsorption device 54, such as when a vacuum adsorption device is used as the selective adsorption device 54,
Even if the transfer substrate 48 is not heated, the element 42 ′ can be held on the transfer substrate 48 by opening the adsorption of the selective adsorption device 54.

【0084】以上のような本発明を適用した素子の転写
方法においては、素子42を転写基板48上に配置する
に際して、第二の感温性接着層47の粘着力の感温特性
を、温度上昇時に粘着力が増加するものに設定するた
め、粘着力の感温特性を利用して素子42を転写基板4
8へ選択的に配置することができる。
In the element transfer method to which the present invention is applied as described above, when the element 42 is arranged on the transfer substrate 48, the temperature-sensitive characteristic of the adhesive force of the second temperature-sensitive adhesive layer 47 is set to the temperature. Since the adhesive force is set to increase when rising, the temperature sensitive characteristic of the adhesive force is used to transfer the element 42 to the transfer substrate 4.
8 can be selectively arranged.

【0085】また、第一の感温性接着層44と第二の感
温性接着層47の粘着力の感温特性を逆にして、第一の
感温性接着層44が温度上昇によって粘着力が増加し、
第二の感温性接着層7が温度上昇によって粘着力が低下
するとしてもよい。この場合には、上述した説明におけ
る通常の温度が所定の温度以上であり、加熱処理と冷却
処理とを逆にしたものとなる。
Further, the temperature-sensitive characteristics of the adhesive strength of the first temperature-sensitive adhesive layer 44 and the second temperature-sensitive adhesive layer 47 are reversed, and the first temperature-sensitive adhesive layer 44 is adhered by the temperature rise. Power increases,
The adhesive strength of the second temperature-sensitive adhesive layer 7 may decrease due to the temperature increase. In this case, the normal temperature in the above description is equal to or higher than the predetermined temperature, and the heating process and the cooling process are reversed.

【0086】転写プロセスが簡便であることから、素子
の位置決めが容易に且つ確実に行うことができるため、
転写素子の位置ずれ等が生じることがなく、精度良く素
子の転写を行うことができる。また、例えば転写対象と
なる素子のうち、基準となる素子42を決め、この素子
のみを所定の位置に位置決めすることにより他の転写素
子も一括して所定の位置に位置決めされるため、素子毎
に実装位置のずれが生じることがなく、精度良く素子の
転写を行うことができる。
Since the transfer process is simple, the element can be positioned easily and surely.
It is possible to perform the transfer of the element with high accuracy without causing the displacement of the transfer element or the like. In addition, for example, among the elements to be transferred, by determining the reference element 42 and positioning only this element at the predetermined position, the other transfer elements are also collectively positioned at the predetermined position. It is possible to accurately transfer the element without causing the mounting position to shift.

【0087】また、不良な素子42が発見された場合に
も、転写基板48を冷却および加熱することにより第二
の感温性接着層47の接着力を変化させることが出来る
ため、選択吸着装置54を用いての不良な素子42の除
去や良好な素子42'の配置を簡便に行うことが可能で
ある。これにより、転写基板48上に素子42を転写し
て配置した後にも、不良な素子42を良好な素子に交換
することが容易に行うことができるため、素子を配列し
て表示を行う表示装置の不良率を低減することが可能と
なる。
Further, even when the defective element 42 is found, the adhesive force of the second temperature-sensitive adhesive layer 47 can be changed by cooling and heating the transfer substrate 48. It is possible to easily remove the defective element 42 and dispose the favorable element 42 ′ by using 54. Accordingly, even after the element 42 is transferred and arranged on the transfer substrate 48, it is possible to easily replace the defective element 42 with a good element. Therefore, a display device that displays by arranging the elements It is possible to reduce the defective rate of.

【0088】なお、本発明は、上述した記載に限定され
ることはなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において
適宜変更可能である。
The present invention is not limited to the above description and can be appropriately modified within the scope of the present invention.

【0089】[0089]

【発明の効果】素子を転写するに際して、第一の感温性
接着層と第二の感温性接着層の粘着力の感温特性を、温
度上昇時に粘着力低下するものと粘着力増加するものと
に設定するため、粘着力の感温特性の相違を利用して素
子を粘着テープから転写基板へ選択的に転写することが
できる。
EFFECTS OF THE INVENTION When transferring an element, the temperature-sensitive characteristics of the adhesive strength of the first temperature-sensitive adhesive layer and the second temperature-sensitive adhesive layer are increased when the temperature rises and those when the temperature rises. Since it is set to one, the element can be selectively transferred from the adhesive tape to the transfer substrate by utilizing the difference in the temperature-sensitive property of the adhesive force.

【0090】転写プロセスが簡便であることから、素子
の位置決めが容易に且つ確実に行うことができるため、
転写素子の位置ずれ等が生じることがなく、精度良く素
子の転写を行うことができる。また、例えば転写対象と
なる素子のうち、基準となる素子を決め、この素子のみ
を所定の位置に位置決めすることにより他の転写素子も
一括して所定の位置に位置決めされるため、素子毎に実
装位置のずれが生じることがなく、精度良く素子の転写
を行うことができる。
Since the transfer process is simple, the element can be positioned easily and surely.
It is possible to perform the transfer of the element with high accuracy without causing the displacement of the transfer element or the like. Further, for example, among the elements to be transferred, by deciding a reference element and positioning only this element at a predetermined position, other transfer elements are also collectively positioned at a predetermined position. It is possible to transfer the element with high accuracy without causing a displacement of the mounting position.

【0091】また、この素子の転写方法では、粘着テー
プからの素子の剥離と、転写基板への素子2の接着がほ
ぼ同時になされるため、短時間で素子の転写を実現する
ことができ、実装時間の大幅な短縮が可能である。
Further, in this element transfer method, since the element is peeled off from the adhesive tape and the element 2 is adhered to the transfer substrate almost at the same time, the element transfer can be realized in a short time, and mounting The time can be greatly shortened.

【0092】さらにこの素子の転写方法によれば、テー
プ上における素子の固着、及び転写基板上における素子
の固着にそれぞれ第一の感温性接着層及び第二の感温性
接着層を用いて、第一の感温性接着層の粘着力の感温特
性と第二の感温性接着層の粘着力の感温特性との相違を
利用することにより、効率的且つ精度の良い素子の転写
が可能となる。
Further, according to this element transfer method, the first temperature-sensitive adhesive layer and the second temperature-sensitive adhesive layer are used for fixing the element on the tape and the element on the transfer substrate, respectively. , By utilizing the difference between the temperature-sensitive property of the adhesive force of the first temperature-sensitive adhesive layer and the temperature-sensitive property of the adhesive force of the second temperature-sensitive adhesive layer, efficient and accurate transfer of the element Is possible.

【0093】また、不良な素子が発見された場合にも、
転写基板を冷却および加熱することにより第二の感温性
接着層の接着力を変化させることが出来るため、選択吸
着装置を用いての不良な素子の除去や良好な素子の配置
を簡便に行うことが可能である。これにより、転写基板
上に素子を転写して配置した後にも、不良な素子を良好
な素子に交換することが容易に行うことができるため、
素子を配列して表示を行う表示装置の不良率を低減する
ことが可能となる。
Also, when a defective element is found,
Since the adhesive strength of the second temperature-sensitive adhesive layer can be changed by cooling and heating the transfer substrate, it is possible to easily remove defective elements and arrange good elements using the selective adsorption device. It is possible. This makes it possible to easily replace a defective element with a good element even after transferring and arranging the element on the transfer substrate.
It is possible to reduce the defective rate of a display device that displays by arranging elements.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本願発明の実施の形態における素子の転写方法
を示す工程図である。
FIG. 1 is a process drawing showing a device transfer method according to an embodiment of the present invention.

【図2】感温性接着層の温度と粘着力との関係を模式的
に示す図である。
FIG. 2 is a diagram schematically showing the relationship between the temperature and the adhesive force of a temperature-sensitive adhesive layer.

【図3】本願発明の第二の実施の形態における素子の転
写方法を示す工程図である。
FIG. 3 is a process drawing showing the device transfer method according to the second embodiment of the present invention.

【図4】本願発明の第二の実施の形態で用いられるマス
クと開口部の例を示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing an example of a mask and openings used in the second embodiment of the present invention.

【図5】本願発明の第三の実施の形態における素子の転
写方法を示す工程図であり、工程の前半である。
FIG. 5 is a process drawing showing the method of transferring the device according to the third embodiment of the present invention, which is the first half of the process.

【図6】本願発明の第三の実施の形態における素子の転
写方法を示す工程図であり、工程の後半である。
FIG. 6 is a process chart showing the device transfer method in the third embodiment of the present invention, which is the latter half of the process.

【図7】従来の吸着ヘッドと接着層を用いた素子の転写
方法について示した図であり、図7(a)は基板上に配
置された素子を示し、図7(b)は吸着ヘッドによる素
子の取り扱いを示す。
7A and 7B are views showing a transfer method of an element using a conventional suction head and an adhesive layer, FIG. 7A shows an element arranged on a substrate, and FIG. The handling of the device is shown.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、21、41 成長基板 2、22、42 素子 3、23、43 支持体 4、24、44 第一の感温性接着層 5、25、45 粘着シート 6、26、46 基材 7、47 第二の感温性接着層 8、28、48 転写基板 9、29 開口部 10、30 マスク 31 接着剤層 52 加熱用ホットプレート 53 冷却プレート 54 選択吸着装置 61 ベース基板 62 接着層 63 素子 64 吸着ヘッド 65 基板 66 接着層 1,21,41 Growth substrate 2, 22, 42 elements 3,23,43 Support 4, 24, 44 First temperature-sensitive adhesive layer 5, 25, 45 adhesive sheet 6, 26, 46 Base material 7,47 Second temperature-sensitive adhesive layer 8, 28, 48 Transfer substrate 9, 29 openings 10, 30 mask 31 Adhesive layer 52 Hot plate for heating 53 Cooling plate 54 Selective adsorption device 61 base substrate 62 Adhesive layer 63 elements 64 suction head 65 board 66 Adhesive layer

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第一の感温性接着層によって素子が配列
され保持された第一の支持体と、第二の感温性接着層を
備える第二の支持体とを貼り付ける工程と、 前記素子と前記第二の感温性接着層とが接触した状態
で、前記第一の感温性接着層および前記第二の感温性接
着層を温度変化させて前記第一の感温性接着層から前記
素子を剥離可能とし、前記第一の支持体と前記第二の支
持体を分離して、前記素子を前記第二の支持体上に転写
する工程とを有することを特徴とする素子の転写方法。
1. A step of attaching a first support having elements arranged and held by a first temperature-sensitive adhesive layer and a second support having a second temperature-sensitive adhesive layer, In the state where the element and the second temperature-sensitive adhesive layer are in contact with each other, the temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer and the second temperature-sensitive adhesive layer is changed to change the temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer. And a step of separating the element from the adhesive layer, separating the first support and the second support, and transferring the element onto the second support. Device transfer method.
【請求項2】 前記第一の感温性接着層から前記素子を
剥離可能とした状態では、前記第二の感温性接着層の接
着力が前記第一の感温性接着層の接着力よりも大となる
ことを特徴とする請求項1記載の素子の転写方法。
2. The adhesive force of the second temperature-sensitive adhesive layer is the adhesive force of the first temperature-sensitive adhesive layer when the element can be peeled from the first temperature-sensitive adhesive layer. The method for transferring an element according to claim 1, wherein the transfer method is larger than the above.
【請求項3】 前記第一の感温性接着層と前記第二の感
温性接着層とでは、温度変化時の接着力の変化が逆相関
関係であることを特徴とする請求項1記載の素子の転写
方法。
3. The first temperature-sensitive adhesive layer and the second temperature-sensitive adhesive layer have an inverse correlation in the change in adhesive force when the temperature changes. Transfer method of the device.
【請求項4】 前記第一の感温性接着層および前記第二
の感温性接着層の温度変化は、所定の前記素子に対応す
る位置の部分的な温度変化であり、所定の前記素子だけ
が前記第二の支持体上に転写されることを特徴とする請
求項1記載の素子の転写方法。
4. The temperature change of the first temperature-sensitive adhesive layer and the second temperature-sensitive adhesive layer is a partial temperature change of a position corresponding to the predetermined element, and the predetermined element 2. The method for transferring an element according to claim 1, wherein only the element is transferred onto the second support.
【請求項5】 前記温度変化が温度上昇であり、所定の
前記素子に対応する位置に開口部が形成されたマスクを
介して赤外線を照射することで、前記第一の感温性接着
層および前記第二の感温性接着層を部分的に加熱するこ
とを特徴とする請求項4記載の素子の転写方法。
5. The first temperature-sensitive adhesive layer and the first temperature-sensitive adhesive layer are obtained by irradiating infrared rays through a mask in which an opening is formed at a position corresponding to a predetermined element because the temperature change is a temperature increase. The element transfer method according to claim 4, wherein the second temperature-sensitive adhesive layer is partially heated.
【請求項6】 前記温度変化が温度上昇であり、所定の
前記素子に対応する位置にレーザー光を照射すること
で、前記第一の感温性接着層および前記第二の感温性接
着層を部分的に加熱することを特徴とする請求項4記載
の素子の転写方法。
6. The first temperature-sensitive adhesive layer and the second temperature-sensitive adhesive layer by irradiating a laser beam to a position corresponding to a predetermined element when the temperature change is a temperature increase. The method for transferring an element according to claim 4, wherein the element is partially heated.
【請求項7】 前記第二の支持体上に前記素子が転写さ
れた後に、前記第二の感温性接着層を温度変化させて前
記第二の感温性接着層から前記素子を剥離可能とする工
程と、 前記第二の感温性接着層から前記素子を剥離可能な状態
で、所定の前記素子を除去する工程とを有することを特
徴とする請求項1記載の素子の転写方法。
7. The element can be peeled from the second temperature-sensitive adhesive layer by changing the temperature of the second temperature-sensitive adhesive layer after the element is transferred onto the second support. 2. The method of transferring an element according to claim 1, further comprising: a step of: and a step of removing the predetermined element in a state where the element can be peeled from the second temperature-sensitive adhesive layer.
【請求項8】 所定の前記素子の除去は、真空吸着装置
を用いて行われることを特徴とする請求項7記載の素子
の転写方法。
8. The method of transferring an element according to claim 7, wherein the predetermined removal of the element is performed by using a vacuum suction device.
【請求項9】 前記第二の支持体上から所定の前記素子
が除去された位置に、他の素子を配置することを特徴と
する請求項7記載の素子の転写方法。
9. The element transfer method according to claim 7, wherein another element is arranged at a position where the predetermined element is removed from the second support.
【請求項10】 前記他の素子の配置は、前記第二の感
温性接着層を温度変化させて前記第二の感温性接着層に
前記他の素子を接着可能として行われることを特徴とす
る請求項9記載の素子の転写方法。
10. The arrangement of the other element is performed by changing the temperature of the second temperature-sensitive adhesive layer so that the other element can be bonded to the second temperature-sensitive adhesive layer. The method of transferring an element according to claim 9.
【請求項11】 前記素子は、発光ダイオード、半導体
レーザー素子、液晶制御素子、光電変換素子、圧電素
子、薄膜トランジスタ素子、薄膜ダイオード素子、抵抗
素子、スイッチング素子、微小磁気素子、微小光学素子
のいずれかであることを特徴とする請求項1記載の素子
の転写方法。
11. The element is any one of a light emitting diode, a semiconductor laser element, a liquid crystal control element, a photoelectric conversion element, a piezoelectric element, a thin film transistor element, a thin film diode element, a resistance element, a switching element, a micro magnetic element, and a micro optical element. The method for transferring an element according to claim 1, wherein
【請求項12】 開口部が形成されたマスクの一方の面
に、第一の感温性接着層によって素子が配列され保持さ
れた第一の支持体を貼り付ける工程と、 前記マスクの他方の面に、接着剤層を備える第二の支持
体とを貼り付ける工程と、 前記第一の支持体と前記第二の支持体を加圧して、前記
開口部に対応する位置の前記素子と前記接着剤層とを接
触させる工程と、 前記素子と前記接着剤層とが接触した状態で、前記第一
の感温性接着層を温度変化させて前記第一の感温性接着
層から前記素子を剥離可能とし、前記第一の支持体と前
記第二の支持体を分離して、前記素子を前記第二の支持
体上に転写する工程とを有することを特徴とする素子の
転写方法。
12. A step of adhering a first support, on which elements are arranged and held by a first temperature-sensitive adhesive layer, to one surface of a mask in which an opening is formed, and the other of the mask. A step of attaching a second support provided with an adhesive layer to the surface, pressing the first support and the second support, and the element and the position of the position corresponding to the opening. A step of contacting with an adhesive layer, and in a state where the element and the adhesive layer are in contact with each other, the temperature of the first temperature-sensitive adhesive layer is changed to change the element from the first temperature-sensitive adhesive layer. And a step of separating the first support and the second support and transferring the element onto the second support.
【請求項13】 前記第一の感温性接着層は、所定の温
度以上で接着力が低下するものであり、前記温度変化は
温度上昇であることを特徴とする請求項12記載の素子
の転写方法。
13. The element according to claim 12, wherein the first temperature-sensitive adhesive layer has a lower adhesive force at a predetermined temperature or higher, and the temperature change is a temperature increase. Transfer method.
【請求項14】 前記温度上昇は、前記第一の支持体全
面への加熱によることを特徴とする請求項13記載の素
子の転写方法。
14. The method for transferring an element according to claim 13, wherein the temperature rise is caused by heating the entire surface of the first support.
【請求項15】 前記温度上昇は、前記第一の感温性接
着層の前記開口部に対応する位置の部分的加熱によるこ
とを特徴とする請求項13記載の素子の転写方法。
15. The method of transferring an element according to claim 13, wherein the temperature rise is caused by partial heating of a position of the first temperature-sensitive adhesive layer corresponding to the opening.
【請求項16】 前記素子は、発光ダイオード、半導体
レーザー素子、液晶制御素子、光電変換素子、圧電素
子、薄膜トランジスタ素子、薄膜ダイオード素子、抵抗
素子、スイッチング素子、微小磁気素子、微小光学素子
のいずれかであることを特徴とする請求項12記載の素
子の転写方法。
16. The element is any one of a light emitting diode, a semiconductor laser element, a liquid crystal control element, a photoelectric conversion element, a piezoelectric element, a thin film transistor element, a thin film diode element, a resistance element, a switching element, a micro magnetic element, and a micro optical element. 13. The method for transferring an element according to claim 12, wherein:
JP2002136558A 2002-05-13 2002-05-13 Element transferring method Pending JP2003332184A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002136558A JP2003332184A (en) 2002-05-13 2002-05-13 Element transferring method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002136558A JP2003332184A (en) 2002-05-13 2002-05-13 Element transferring method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003332184A true JP2003332184A (en) 2003-11-21

Family

ID=29698540

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002136558A Pending JP2003332184A (en) 2002-05-13 2002-05-13 Element transferring method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003332184A (en)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008087997A1 (en) * 2007-01-18 2008-07-24 Japan Advanced Institute Of Science And Technology Circuit board manufacturing method
WO2008087996A1 (en) * 2007-01-18 2008-07-24 Japan Advanced Institute Of Science And Technology Circuit chip transfer sheet, and circuit board manufacturing method
JP2008176073A (en) * 2007-01-18 2008-07-31 Japan Advanced Institute Of Science & Technology Hokuriku Circuit board sheet and method for manufacturing circuit board
WO2018030695A1 (en) * 2016-08-11 2018-02-15 주식회사 루멘스 Led module and method for preparing same
CN109314126A (en) * 2016-08-11 2019-02-05 株式会社流明斯 LED module and its manufacturing method
WO2019155848A1 (en) * 2018-02-06 2019-08-15 株式会社ブイ・テクノロジー Method for manufacturing led display
WO2021182139A1 (en) * 2020-03-10 2021-09-16 デクセリアルズ株式会社 Repair component having micro led chip, method for manufacturing the same, repair method, method for manufacturing light-emitting device, and light-emitting device
JP2021152658A (en) * 2015-11-13 2021-09-30 フェイスブック・テクノロジーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニーFacebook Technologies, Llc Method and apparatus for use in manufacturing display element
KR20210127614A (en) * 2020-04-13 2021-10-22 한국전자통신연구원 Method for transferring and bonding of devices
KR20210133780A (en) * 2020-04-29 2021-11-08 한국광기술원 Method of transferring micro light emitting device
US11677060B2 (en) 2020-04-13 2023-06-13 Electronics and Teleocmmunications Research Institute Method for transferring and bonding of devices
JP7432846B2 (en) 2021-10-29 2024-02-19 日亜化学工業株式会社 Manufacturing method of light emitting device

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008087997A1 (en) * 2007-01-18 2008-07-24 Japan Advanced Institute Of Science And Technology Circuit board manufacturing method
WO2008087996A1 (en) * 2007-01-18 2008-07-24 Japan Advanced Institute Of Science And Technology Circuit chip transfer sheet, and circuit board manufacturing method
JP2008176073A (en) * 2007-01-18 2008-07-31 Japan Advanced Institute Of Science & Technology Hokuriku Circuit board sheet and method for manufacturing circuit board
JP7106714B2 (en) 2015-11-13 2022-07-26 メタ プラットフォームズ テクノロジーズ, リミテッド ライアビリティ カンパニー Method and apparatus for use in manufacturing display elements
JP2021152658A (en) * 2015-11-13 2021-09-30 フェイスブック・テクノロジーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニーFacebook Technologies, Llc Method and apparatus for use in manufacturing display element
GB2570221B (en) * 2016-08-11 2022-05-04 Lumens Co Ltd LED module and method for fabricating the same
GB2570221A (en) * 2016-08-11 2019-07-17 Lumens Co Ltd LED module and method for preparing same
US10559554B2 (en) 2016-08-11 2020-02-11 Lumens Co., Ltd. Method for fabricating LED module using transfer tape
CN109314126A (en) * 2016-08-11 2019-02-05 株式会社流明斯 LED module and its manufacturing method
WO2018030695A1 (en) * 2016-08-11 2018-02-15 주식회사 루멘스 Led module and method for preparing same
WO2019155848A1 (en) * 2018-02-06 2019-08-15 株式会社ブイ・テクノロジー Method for manufacturing led display
JP2019138949A (en) * 2018-02-06 2019-08-22 株式会社ブイ・テクノロジー Method for manufacturing led display
WO2021182139A1 (en) * 2020-03-10 2021-09-16 デクセリアルズ株式会社 Repair component having micro led chip, method for manufacturing the same, repair method, method for manufacturing light-emitting device, and light-emitting device
JP7470535B2 (en) 2020-03-10 2024-04-18 デクセリアルズ株式会社 Repair part having micro LED chip, manufacturing method thereof, repair method, and manufacturing method of light-emitting device
KR102519953B1 (en) * 2020-04-13 2023-04-11 한국전자통신연구원 Method for transferring and bonding of devices
US11677060B2 (en) 2020-04-13 2023-06-13 Electronics and Teleocmmunications Research Institute Method for transferring and bonding of devices
KR20210127614A (en) * 2020-04-13 2021-10-22 한국전자통신연구원 Method for transferring and bonding of devices
KR102364729B1 (en) * 2020-04-29 2022-02-22 한국광기술원 Method of transferring micro light emitting device
KR20210133780A (en) * 2020-04-29 2021-11-08 한국광기술원 Method of transferring micro light emitting device
JP7432846B2 (en) 2021-10-29 2024-02-19 日亜化学工業株式会社 Manufacturing method of light emitting device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6972204B2 (en) Method of transferring devices, method of arranging devices using the same, and method of manufacturing an image display system
KR100853410B1 (en) Element transfer method, element arrangement method using the same, and image display apparatus production method
CN101794848B (en) Method of transferring a device and method of manufacturing a display apparatus
US20050233504A1 (en) Device transfer method and display apparatus
JP3994681B2 (en) Element arrangement method and image display device manufacturing method
JP2003045901A (en) Method for transferring element and method for arraying element using the same, and method for manufacturing image display unit
TW200308000A (en) Alloying method, and wiring forming method, display device forming method, and image display unit fabricating method
JP2003332184A (en) Element transferring method
JP2003007986A (en) Transfer method for element and arrangement method for element by using the same as well as method of manufacturing image display device
JP2003347524A (en) Transferring method of element, arraying method of element, and manufacturing method of image display
JP2003203886A (en) Method for isolating element, and method for transferring the element
CN110391165B (en) Transfer carrier and die carrier
KR20190040493A (en) Mounting method and mounting apparatus
JP2003332523A (en) Transferring method and arraying method for element, and manufacturing method for image display device
JP2002368282A (en) Method of transferring element and method of arranging element using the same, and method of manufacturing image display
JP2002343944A (en) Transferring method of electronic part, arraying method of element, and manufacturing method of image display device
JP2020145243A (en) Chip transfer plate, chip transfer method, image display device manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method
JP2008085148A (en) Adhesion expression method and adhesion expression equipment of adhesive film
CN114787997A (en) Forming multi-color phosphor converted LED arrays
JP4000856B2 (en) Element arrangement method and image display device manufacturing method
TWI662594B (en) Flexible substrate and circuit structure and method of manufacturing the same
JP3618080B2 (en) Die bonding sheet sticking apparatus and die bonding sheet sticking method
US20220238766A1 (en) Forming a multicolor phosphor-converted led array
JP2003029656A (en) Transfer method for element, arraying method for element using the same and production method for image display device
JP2003162231A (en) Method of manufacturing element, method of arraying element and method of manufacturing image display device

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20050526