JP2003208329A - 電子テストシステムおよび電子的試験の実行制御方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ユーザがテストプログラムの実行を制御でき
るようにするグラフィカル制御インターフェースを有す
る電子テストシステムを提供する。 【解決手段】 テープレコーダ式グラフィカル制御イン
ターフェースを有する電子テストシステムが提供され
る。制御インターフェースは、ユーザが試験の実行の中
止、試験の実行の一時停止、試験の再スタート、試験に
おける特定の測定の再スタート、試験における測定のス
キップ、試験のスキップをできるようにするボタン３０
２〜３０８を有する。制御インターフェースは、グラフ
ィカルユーザインターフェース上にアイコン３０１とし
て表示され、または、ハードウエアとして実施される。
ハードウエアにおいては、制御ボタンは、入力装置５１
４、出力装置４０６、または、遠隔制御装置６１４に組
み込まれた物理ボタン４００、５００、６００である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電子、電気機械、
機械のデバイス及び製品を自動試験する為の電子システ
ムに関するものである。より具体的には、本発明は試験
の実行を効率的に制御することが出来るテープレコーダ
に類似したグラフィカル制御インターフェースを有する
電子テストシステムに関する。

【０００２】

【従来の技術】テストシステムは電子、電気機械、及び
機械の複雑な製品や装置の状態や性能を試験する為に用
いられる。このような試験としては、被試験デバイス
（ＤＵＴ）に可能な各種動作を起動してＤＵＴがこれら
を適正に実施できたかどうかについての結果を記録する
検証試験や、温度、圧力及び湿度を様々に組み合わせた
環境にＤＵＴを晒して結果を記録する環境試験、そして
製造試験等があげられる。一般的に、ＤＵＴと、そのＤ
ＵＴに環境的制約及び他の制約を提供するシステムは、
電子的に制御されている。過去１０年程の間に、この分
野において「試験実行（ｔｅｓｔ ｅｘｅｃｕｔｉｖ
ｅ）」プログラムと呼ばれる様々な自動試験を制御する
ことが出来るコンピュータプログラムが開発されてき
た。

【０００３】従来技術による試験実行プログラムとして
は、Ａｇｉｌｅｎｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社が開
発した内部試験実行プログラムやＮａｔｉｏｎａｌ Ｉ
ｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ社が開発したＴＥＳＴＳＴＡＮＤ
ソフトウエアがあげられるが、これは自動プロトタイ
プ、検証又は生産テストシステムを系統化、制御及び実
行する、即時稼動が可能な試験実行プログラムとして記
載されている。従来技術によるＡｇｉｌｅｎｔ Ｔｅｃ
ｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社のプログラムは、グラフィカルユ
ーザインターフェース（ＧＵＩ）を使用したものではな
い為、ユーザにとってテストソフトウエアとの対話は容
易なものではなかった。一方ＧＵＩを利用したＴＥＳＴ
ＳＴＡＮＤソフトウエアは、試験環境に適応させた従来
のＷｉｎｄｏｗｓ（登録商標）プログラム用の従来型イ
ンターフェースを利用したものである。

【０００４】試験は通常、ＤＵＴの応答が比較される一
群の規定（rule）、即ち仕様により定義される。これら
の規定、即ち仕様は、一般的にＤＵＴへと印加される電
気的、機械的パラメータにより定義される各種入力から
成り、電圧、電流、制御及び装置部品の所定の操作はも
ちろんのこと、温度、湿度、圧力及びパラメータを印加
する時間等、試験を実行する環境パラメータ等をも含
む。各試験とも、ＤＵＴの各要素へと印加するパラメー
タの組み合わせが多数存在し、これらが多数回にわたっ
て繰り返し印加されることも多い。従って、装置及び製
品がより複雑化すればするほど電子テストプログラムは
非常に長く複雑となり、時には試験を完遂するまでに数
日、或いは１週間以上かかってしまうこともしばしばで
ある。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】従来型のテストシステ
ムにおいては、試験実行の制御は「試験開始」及び「試
験中止」の一般的なコマンドに制約されていた。ユーザ
がテストシステムに命令して特定の試験段階を再表示さ
せたいと望んでも、テストプログラム全体を最初から起
動するか、更なるプログラミングを施さなければなら
ず、容易に実行することは出来なかった。始めから再始
動する場合、ユーザは貴重な時間と試験結果を無駄にし
なければならないのである。

【０００６】従って、長時間にわたる試験の間に更なる
プログラミングステップを要さずに、或いは時間を無駄
にすることなく試験の進行を変化させるように試験の実
行を制御することが出来る試験実行システムが非常に望
ましいのである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は、小型で直感的
理解が可能な制御インターフェースと呼ばれるグラフィ
ック表示上において手順（プロシージャ）全体の実行を
ユーザが制御出来るようにしたことで従来技術における
上述した問題及びその他の問題を解消することが出来る
ものである。制御インターフェースは、ユーザが試験実
行の中止又は停止、試験実行の一時停止、試験再スター
ト（restart）、試験中の特定測定の再スタート、測定
のスキップ、或いは試験自体のスキップといった機能を
即時に実行出来るようにしたものである。試験の実行を
制御可能としたことで、ユーザは即座に行動することで
実行プロセスの一部の要素を変化させることにより時間
の節約が出来る。ユーザは、テストプロシージャの最後
まで待たなければならない、或いは特定の測定が規定
群、即ち仕様に準じて適正に実行されない場合にプロシ
ージャを完全に中止させなければならないといったこと
から開放され、テストプロシージャを変える為の行動を
即座に実行することが出来るのである。本発明は容易に
利用することが出来、制御コマンドを実行する為に更に
プログラミングをする必要もない。

【０００８】電子的試験の出力は、利用しやすいグラフ
ィカルユーザインターフェースを介して表示される。こ
れは、テストプロシージャを制御する為のアイコンを含
むウィンドウ、又は試験結果を表示する為のウィンドウ
へと分割されている。ユーザはアイコン及びウィンドウ
に表示されるプログラムをマウス、キーボード、トラッ
クボール、タッチパッド、ローラーボール、又はジョイ
スティック等の指示装置でアクセスすることによりテス
トプロシージャを制御することが出来る。

【０００９】表示装置上の制御インターフェース部分
は、制御コマンドをアイコンで表示したグラフィカルユ
ーザインターフェース（ＧＵＩ）の小部分であることが
望ましい。出来れば、アイコンはウィンドウ上でボタン
として表示されることが望ましい。また、ボタンにはそ
れぞれの機能に関する情報がラベルされていることが望
ましい。

【００１０】制御インターフェースによりユーザはテス
トプロシージャへと命令を送ることが可能であり、この
コマンドに応えてテストプロシージャはその実行過程を
変更するようになっている。

【００１１】出来れば単一のアイコンに各コマンドが割
り当てられており、ユーザが入力装置を使ってそのアイ
コンを「クリック」すると、これに応じてテストプログ
ラムが応答するようになっていることが望ましい。

【００１２】コマンドボタンは、各ボタンが認識可能な
直感的に分かる機能、例えばテープレコーダ又はビデオ
カセットレコーダ（ＶＣＲ）のように「再生」「一時停
止」「巻き戻し」「早送り」等に割り当てられて表示さ
れていることが望ましい。ボタンのデザインは、「再
生」「一時停止」「巻き戻し」「早送り」機能が認識で
きる記号となっている。今日の先進国における人々の殆
どは、このようなインターフェースを用いるテープレコ
ーダやＶＣＲ及びＣＤ−ＲＯＭプレーヤーには馴染みが
あり、一般的なユーザはこれらの記号と、その記号に関
連する機能を容易に認識することが出来る。

【００１３】テストプログラムは階層構造を持ち、制御
インターフェースによりユーザがその階層の異なるレベ
ルを個々に制御出来るようになっていることが望まし
い。即ち、結果が最高レベルと１つ以上の下位レベルを
持つ複数レベル構造で表示されるのである。階層のレベ
ルとしては、最高レベルから、プロシージャ、試験、測
定、及びデータポイントとなっていることが望ましい。
即ち、テストプロシージャが一組の試験を含み、試験の
各々が１つ以上の測定を含み、測定の各々が１つ以上の
データポイントを含むのである。出来れば制御インター
フェースにおいては、ユーザがテストプロシージャにお
ける特定レベルでテストプログラムの実行を選択できる
ようになっていることが望ましい。例えば、ユーザはテ
ストプロシージャの特定の試験を飛ばすことでその試験
に付随する測定及びデータポイントをスキップすること
が出来る。ユーザは更に、特定の試験における特定の測
定をスキップすることも選択できる。かわりに、ユーザ
は試験中のある測定を繰り返したり、或いはテストプロ
シージャ中の特定の試験の実行を繰り返したりすること
も可能である。

【００１４】本発明は、電子的試験の実行において単純
な制御を実現するだけではなく、直感的に分かる方法で
制御情報を表示するものでもある。本発明の他の目的及
び特徴は、以下の詳細な説明と共に添付図を見ることに
より明らかとなる。

【００１５】

【発明の実施の形態】本発明は、ユーザが容易に、そし
て直感的にテストプログラムの実行を制御することが出
来る制御インターフェースを有する電子テストシステム
に関する。図１を見ると、一実施例において、テストシ
ステムはメモリ１０１、マイクロプロセッサ１０２、入
力装置１０４及び出力装置１０６を含むコンピュータ１
００を具備したものである。メモリ１０１は電気線１１
０を介してマイクロプロセッサ１０２と通信するもので
ある。入力装置１０４は電気線１１２を介してマイクロ
プロセッサ１０２と通信する。マイクロプロセッサ１０
２は電気線１１４を介して出力装置１０６へとデータを
出力するものである。

【００１６】他の実施例においては、テストシステムは
メモリ１０１にソフトウエアを記憶し、これをプロセッ
サ１０２により起動、即ち実行する形態としてもよい。
ユーザは、これらに限定されるものではないが、キーボ
ードやマウス、トラックボール、タッチパッド及びジョ
イスティック等の入力装置１０４を使ってテストシステ
ムと対話する。入力装置１０４により、出力装置１０６
（ＣＲＴ又は液晶ディスプレイ）上のカーソル又はポイ
ンタを移動させることが出来る。制御インターフェース
と共に試験結果は出力装置１０６上に表示される。試験
は、電気線１１６を通じて被試験製品、即ち被試験デバ
イス（ＤＵＴ）１０８にテストプログラムの命令を伝達
するプロセッサ１０２により制御される。プロセッサ１
０２は電気線１１８を介して試験装置１１７を制御す
る。試験結果はプロセッサ１０２により処理され、メモ
リ１０１へと記憶されて表示装置１０６上に映像化され
る。表示情報は、カーソルの構成及び位置等の情報と、
試験結果及びテストプロシージャの実行を制御する為の
グラフィック要素といったユーザの関心事に関わる他の
映像情報の両方を含むものである。

【００１７】本発明は、図１に概要を示した一般的な形
態に準じた様々な実際の電子装置において実現すること
が出来るものである。例えば、本テストシステムはコン
ピュータシステム中に実現することも、論理回路中にハ
ードウエアとして実現することも、又或いは電子試験装
置（例えばこれに限定されないが、電子アナライザ等）
として実現することが可能である。

【００１８】本発明の電子テストシステム又は電子テス
トプログラムは、プロセッサ１０２による管理・実行の
為にメモリ１０１中に記憶される。電子テストシステム
は、メモリ１０１、プロセッサ１０２及び被試験デバイ
ス１０８間の通信、及び電気線１１２を介した入力装置
１０４及びプロセッサ１０２間のコマンド送信により、
プロセッサが実行する一連の命令である。結果は入力パ
ラメータと共にテキスト及びグラフィクスとして出力装
置１０６上に表示される。

【００１９】本発明の作用のより明確な理解を得る為
に、推奨されている本発明のテストプログラムの階層構
造と試験の実施手順について説明する。図２を参照する
が、ここにはテストプログラムの階層（マルチレベル）
特性を示すブロック図２００が描かれている。ここで、
最も広い意味における、即ち、全てを包含するレベルを
「最高レベル」、又は「第一のレベル」（これらの用法
は任意である）と呼ぶものとする。第一のレベル２０１
は製品モデル、即ち、特定のデバイスモデル番号の製品
群を試験する為に試験開発者が作成したファイルに対応
するものである。そこにはテストプロシージャ及び入力
が含まれている。

【００２０】次のレベル２０２は、手順（プロシージ
ャ）そのものに対応する。プロシージャとは、起動する
べき試験の番号付きリスト、シーケンス、或いはスクリ
プトである。図２に複数のカードの重なり２０２で示し
たように、複数のプロシージャが存在しており、これら
はそれぞれに異なるプロシージャを表している。符号２
０３に示したように各プロシージャは複数の試験（例え
ば試験１、試験２、試験３・・・試験Ｎ）を含んでい
る。各試験は複数の測定を含む。図２においては、これ
らを符号２０５の試験２について示した。図示したよう
に、試験２０５は複数の測定２０７（測定１、測定２・
・・測定Ｎ）を含む。各測定は、各測定に関連するカー
ドの重なり２１４における個々のカード２１０、２１
１、２１２として示した１つ以上のデータポイントを含
む。プロシージャは、ソフトウエアオブジェクトを構築
する為にプログラム又はコードを書き込むことにより定
義される。一実施例においては、ソフトウエアオブジェ
クトはＣＯＭオブジェクトである。ＣＯＭは言語独立型
のコンポーネントアーキテクチャであり、プログラム言
語ではない。これは一般的に使用される機能及びサービ
スを含む為の汎用オブジェクト指向型手段である（Ｈａ
ｒｒｙ Ｎｅｗｔｏｎ著、“Ｎｅｗｔｏｎ’ｓ Ｔｅｌ
ｅｃｏｍ Ｄｉｃｔｉｏｎａｒｙ”Ｐｕｂｌｉｓｈｅｒ
ｓ Ｇｒｏｕｐ Ｗｅｓｔの１９７ページ参照）。

【００２１】試験２０５は、同じテストアルゴリズム又
は同じテストソフトウエアコードを共有するプロシージ
ャ２０２中の測定の一群２０７である。試験の例とし
て、振幅精度試験や高調波歪試験等が含まれる。テスト
プログラムは、各測定及びデータポイント毎に試験を呼
び出すものである。

【００２２】測定２０６等のような測定は、試験の構
成、即ち試験設定である。試験２０５中の測定群２０７
における各測定は、異なる設定、即ち異なる構成パラメ
ータとすることが出来る。試験はパラメータにより実施
され、パラメータは測定レベルにおける入力である。測
定値とは、ボルト範囲、キロヘルツでの周波数又は高調
波（整数）といった要素である。テストプロシージャ２
０２においては、測定２０７はプロシージャから試験へ
と送るデータとして取り扱われる。測定はまた、試験実
行の段階でもある。試験実行の測定段階においては、測
定は開始されるが、データは収集されない。これは、複
数ＤＵＴを構成し、同時にトリガすることが出来るよう
にするものである。

【００２３】２１０、２１１、２１２のようなデータポ
イントは、２０６等の測定のサブセットであり、１つの
測定が複数の結果を生成した場合に１つの結果を選択す
る追加パラメータを含んでいる。１つの測定で複数のデ
ータポイントが得られる例としては、スペクトルアナラ
イザの掃引の最小値及び最大値や、デバイスの各チャネ
ル等があげられる。

【００２４】測定２０６における、例えば２１０のよう
な各データポイントについて、値結果が抽出される。得
られた結果は仕様と比較される。仕様は数値的限界、ス
トリング一致、或いはブーリアン合否である。限界範囲
には３種類あり、これらは境界限界、ライン限界及び顧
客限界である。各限界には上限値及び下限値がある。

【００２５】電子テストシステム１００（図１）の全て
の入出力は、ＧＵＩを介して取り扱われることが望まし
い。図３は、出力装置１０６上に表示された一連のボタ
ン３０１を含むＧＵＩ３００を示す。各ボタンは関連す
る符号３８０のようなグラフィック要素を持ち、これが
テストシステム１００の制御用コマンドを表す。これら
のボタンは左から、中止（Ａｂｏｒｔ）３０２、試験再
スタート（Ｔｅｓｔ）３０３、測定再スタート（Ｍｅａ
ｓ）３０４、一時停止（Ｐａｕｓｅ）３０５、始動（Ｒ
ｕｎ）３０６、測定スキップ（Ｍｅａｓ）３０７、試験
スキップ（Ｔｅｓｔ）３０８となっている。ボタン３０
２は、試験が適正に起動していないとユーザが判断した
場合、テストプロシージャを停止する為に使用するもの
である。ボタン３０３は試験の再スタートに使用され
る。これは、ユーザが特定の試験を起動しなければなら
ないと判断した場合に実行される。ボタン３０４は測定
を再スタートさせる為に使用される。これは、特定の測
定を再度実施しなければならないとユーザが判断した場
合に実行される。ボタン３０５はテストプロシージャの
実行を一時的に停止する為に用いられる。このボタン
は、ユーザがあるタスクをＤＵＴ又はテストシステム上
で実施したい場合（例えばパラメータのチェックや各種
試験設定等の検証をしたい場合等）に起動するものであ
る。ボタン３０６はテストプロシージャを開始する為に
用いられる。このボタンを押すことによりテストプロシ
ージャを開始したり、テストプロシージャの実行を一時
停止した後（例えば「一時停止」ボタン３０５を押した
後）に再スタートしたりすることが出来る。ボタン３０
７はユーザが特定の測定をスキップしたい時に押すもの
である。同様に、ボタン３０８はユーザが特定の試験を
スキップしたい場合に押される。

【００２６】ボタン３０３及び３０４は、複数試験又は
測定のプロシージャの実行を補強する為に何度でも起動
することが出来る。ボタン３０７又は３０８は、複数の
測定又は試験をそれぞれにスキップする為に複数回使用
することが出来る。

【００２７】スクリーン下部３０９は、試験、測定及び
データポイントの階層を説明するウィンドウを表示して
いる。アイコンは合格、不合格、境界及び未試験状況を
示す。「笑顔」３１０、「驚き」３１１及び「悲しみ」
３１２のアイコンは、それぞれに合格、境界、及び不合
格を示している。ウィンドウの上部にある合否アイコン
３１３は、処理全体についての合否を示している。これ
は優先権を持つ不良を用いて全ての試験の状況を要約し
ている。即ち、もし、１つでも不良となった試験があっ
た場合、全ての処理が不良となる。最終的なプロシージ
ャ状態を計算する為には、ブーリアン演算子である「Ａ
ＮＤ」が使用される。

【００２８】ＧＵＩ３００の右側３１４には、行（例え
ば３１５）及び列（例えば３１６）を含むウィンドウ３
４０が示されている。ウィンドウ３４０は、符号３１７
に示したような試験の起動時間と共に、符号３１８に示
したような試験の状態を表示している。更にこのウィン
ドウは、実施中の試験も表示している（符号３１９に示
した振幅精度（Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ Ａｃｃｕｒａｃ
ｙ）、符号３２０に示した（Ｒａｎｇｅ（レンジ）＝５
Ｖｐ，Ｆｒｅｑ（周波数）＝１ｋＨｚ）等の測定の種
類、符号３２１に示した（Ｃｈ＝１，Ｃｈ＝２，Ｃｈ＝
３）等のデータポイント即ち被試験チャネル、符号３２
２に示した（０．１２３５ｄＢ）等の測定値又は測定結
果、符合３２３に示した（±０．２）等の仕様、そして
符号３２４に示した（１ｋＨｚ）等の周波数）。試験は
ウィンドウ３１４上部にあるアイコン、ビュー３２５を
クリックすることにより記憶することが出来る。この機
能により、試験結果にフィルタをかけ、それらの状況に
応じた表示をすることが出来る。右側下のウィンドウ３
３０はテストプロシージャの進行状況を表す進行ウィン
ドウである。

【００２９】本発明の制御インターフェース４００の他
の実施例を図４に示す。図４においては、制御インター
フェースは符号４００に示す形態を持つグラフィック要
素から構成されている。制御インターフェース４００
は、これに限定されるものではないが、コンピュータモ
ニタ等の出力装置４０６の下の部分にある一連の物理ボ
タン４０１〜４０４として実現されている。４０１、４
０２、４０３のような制御ボタンは、本実施例において
は円形ボタンとして実現されている。試験再スタートと
測定再スタートを混同しないようにする為に、ボタン４
０２及び４０３には異なる記号が描かれている。同様
に、試験スキップ及び測定スキップを混同しないよう
に、ボタン４０４及び４０５にも異なる記号が描かれて
いる。ボタン４１０は出力装置４０６の電源ボタンであ
る。

【００３０】制御インターフェースの他の実施例を図５
及び図６に示したが、これらにおいては、例えばキーボ
ードのような入力装置５１４、６１４における異なるボ
タンの異なる配置構成５００及び６００が示されてい
る。図５に示した構成５００においては、使用頻度の高
い制御ボタン「中止（ＡＢＯＲＴ）」５０１、「起動
（ＲＵＮ）」５０２及び「一時停止（ＰＡＵＳＥ）」５
０３が使用しやすいようにグループ化されている。制御
ボタン５０４「試験繰返し（ＴＥＳＴ）」及び５０５
「試験スキップ（ＴＥＳＴ）」は判別しやすいようにグ
ループ化されている。同様に、制御ボタン「測定繰返し
（ＭＥＡＳ）」５０６及び「測定スキップ（ＭＥＡ
Ｓ）」５０７もまた、判別しやすいようにグループ化さ
れている。例えば、構成５００においては、制御ボタン
は一般的なキーボード上の「Ｆ」ファンクションキーの
位置にある。図６は制御インターフェースの他の実施例
を示し、制御ボタンは構成６００としてグループ化され
ている。この事例においては、制御ボタンは独自のデザ
インでキーボード６１４に付加されている。

【００３１】使用記号及びボタンのグループ化法が異な
るインターフェース４００、５００及び６００の実施例
は、当然のことながら図３に示したもののような表示装
置上のインターフェースと組み合わせて用いることが出
来、また、図３のインターフェース３００に示した記号
及びグループ化法も、モニタ又はキーボードと組み合わ
せて用いることが出来る。本発明は、他の記号及び／又
は他のグループ化法の利用も想定している。更に制御イ
ンターフェースは、テレビやＶＣＲのリモコンのように
遠隔操作を実現することも可能であり、これらのグルー
プ化法及び／又は記号のいずれもそのような装置と組み
合わせて使用することが出来る。

【００３２】以上は現時点において本発明に推奨される
と思われる実施例を記載したものである。本発明は、そ
の精神及び基本的特性からはなれることなく、他の特定
の形式で実現することが出来る。例えば、本発明はグラ
フィカルユーザインターフェースを用いた電子テストプ
ログラムとして説明して来たが、ソフトウエアの代わり
にハードウエア又はファームウエアに基づいて実現する
ことも、また或いは制御インターフェースをＧＵＩ上の
表示とはせずにハードウエアとして実現することも出来
る（この場合、ボタンは物理ボタンとなる）。従ってこ
こに示した実施例は説明目的のものであり、限定的な意
味は持たない。本発明の範囲は請求項により示されるも
のである。

【図面の簡単な説明】

【図１】被試験デバイスに接続された、本発明の実施例
に基づく基本的ハードウエア部品を示すブロック図であ
る。

【図２】本発明の実施例に基づくテストプログラムの階
層構造を示すブロック図である。

【図３】本発明に基づく制御インターフェースを有する
電子テストシステムのＧＵＩを示す図である。

【図４】本発明に基づく他の制御インターフェースを示
す図である。

【図５】本発明に基づく他の制御インターフェースを示
す図である。

【図６】本発明に基づく他の制御インターフェースを示
す図である。

【符号の説明】

１００：電子テストシステム １０１：メモリ １０２：プロセッサ １０４：入力装置 １０６：表示装置 １０８：ＤＵＴ ３００、４００、５００、６００：制御インターフェー
ス ３０１：ボタン ３８０：グラフィック要素

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 クリストファー・ケイ・サットン アメリカ合衆国ワシントン州98203，エヴ ァレット，ドーヴァー・ストリート 5027 Ｆターム(参考） 2G132 AA00 AB01 AB13 AB14 AD01 AE16 AE18 AE23 AG02 5B048 DD01 FF04

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子テストシステムから独立した個別の
   被試験電子デバイス（ＤＵＴ）に電子的試験を実行する
   ためのステップを記憶する電子メモリと、前記電子的試
   験の実行を制御する為に前記メモリと通信を行う電子プ
   ロセッサと、前記電子プロセッサと通信を行う制御イン
   ターフェースと、を含む電子テストシステムであって、
   前記制御インターフェースが相互に隣接してグループ化
   された少なくとも４つのボタンを有し、前記ボタンの各
   々に関連するグラフィック要素の各々が前記試験を制御
   するためのコマンドを表すものである、ことを特徴とす
   る電子テストシステム。
2. 【請求項２】 前記コマンドが、前記試験の起動、前記
   試験の一時停止、前記試験の停止、前記試験のスキッ
   プ、及び前記試験の再スタートの機能のうち、少なくと
   も４つを含むことを特徴とする、請求項１に記載の電子
   テストシステム。
3. 【請求項３】 前記制御インターフェースが、前記電子
   プロセッサと通信して前記ボタン及び前記グラフィック
   要素を表示する表示装置と、前記制御インターフェース
   及び前記プロセッサとの対話により、ユーザが前記試験
   を制御できるようにする入力装置と、を備えていること
   を特徴とする、請求項１に記載の電子テストシステム。
4. 【請求項４】 前記制御インターフェースがテープレコ
   ーダの態様のグループ化されたアイコンを含むことを特
   徴とする、請求項１、２又は３に記載の電子テストシス
   テム。
5. 【請求項５】 前記メモリ中に記憶された前記試験が、
   複数のレベルを含む階層構造を有しており、前記ボタン
   の少なくとも２つが、前記レベルの、異なるレベルにお
   いて前記試験の進行を制御することを特徴とする、請求
   項１に記載の電子テストシステム。
6. 【請求項６】 前記レベルが、試験及び測定であること
   を特徴とする、請求項５に記載の電子テストシステム。
7. 【請求項７】 前記測定ボタンが２つあり、前記コマン
   ドが前記測定をスキップする機能と前記測定を再スター
   トする機能とを含むことを特徴とする、請求項６に記載
   の電子テストシステム。
8. 【請求項８】 前記ボタンが５つあり、前記コマンドが
   ５つあることを特徴とする、請求項１、２、３、５、
   ６、又は７に記載の電子テストシステム。
9. 【請求項９】 電子的試験の実行を制御する為の方法で
   あって、電子的試験を実行する為の電子テストシステム
   を提供するステップと、前記電子テストシステムを用い
   て、前記テストシステムとは独立した別個の被試験電子
   デバイス（ＤＵＴ）に電子的試験を実行するステップ
   と、前記テストシステム上に制御インターフェースを表
   示するステップと、入力装置を使用して前記制御インタ
   ーフェースと対話し前記試験の実行を制御するステップ
   と、を含み、前記制御インターフェースを表示するステ
   ップが、相互に隣接してグループ化された、少なくとも
   ４つのテープレコーダ式の制御ボタンを表示することを
   特徴とする方法。
10. 【請求項１０】 前記対話ステップが、前記試験の実行
    を停止する為の「中止」ボタンの起動、前記試験の実行
    を再スタートする為の「試験再スタート」ボタンの起
    動、前記試験の測定の実行を再スタートする為の「測定
    再スタート」ボタンの起動、前記試験の実行を一時的に
    停止する為の「一時停止」ボタンの起動、前記試験を飛
    ばす為の「試験スキップ」ボタンの起動、前記試験にお
    ける測定を飛ばす為の「測定スキップ」ボタンの起動、
    前記試験を繰り返す為の「試験再実行」ボタンの起動、
    及び前記試験における測定を繰り返す為の「測定再実
    行」ボタンの起動のうち、少なくとも４つを含むことを
    特徴とする、請求項９に記載のテストプロシージャの実
    行を制御する方法。