JP2003157056A - Gamma correction method for liquid crystal display device - Google Patents

Gamma correction method for liquid crystal display device

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JP2003157056A
JP2003157056A JP2001354513A JP2001354513A JP2003157056A JP 2003157056 A JP2003157056 A JP 2003157056A JP 2001354513 A JP2001354513 A JP 2001354513A JP 2001354513 A JP2001354513 A JP 2001354513A JP 2003157056 A JP2003157056 A JP 2003157056A
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gamma correction
liquid crystal
display device
crystal display
input voltage
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Yasuhide Saeki
泰秀 佐伯
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To simplify a setting method for gamma correction in a projection type video display device provided with a liquid crystal display part. SOLUTION: In measurement of applied voltage-transmissivity characteristics, by performing detailed measurement at a curve part of the characteristics and performing simple measurement at a straight line part, the time is shortened. Also, by preparing several kinds of gamma correction data in the setting method and selecting them on the basis of a measured result of the applied voltage-transmissivity characteristics, the loads on an arithmetic processing required for the setting are reduced.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置にお
けるガンマ補正に関するものであり、特にそのガンマ補
正の自動調整に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to gamma correction in a liquid crystal display device, and more particularly to automatic adjustment of the gamma correction.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示部を備えた液晶表示装置におい
て、特に液晶パネルを3枚使用して表示する投写型表示
装置では、その3枚の液晶パネルそれぞれについて個別
の入力電圧−透過率特性に合わせたガンマ補正を行うこ
とにより色再現性の向上が図れる事が知られている。
2. Description of the Related Art In a liquid crystal display device having a liquid crystal display unit, particularly a projection type display device using three liquid crystal panels for display, each of the three liquid crystal panels has individual input voltage-transmittance characteristics. It is known that color reproducibility can be improved by performing a combined gamma correction.

【0003】従来のガンマ補正の設定方法を図2に則し
て説明する。図2はガンマ補正の実施の形態を示すシス
テム構成図である。液晶表示装置6に入力する入力信号
レベルを適宜変化させ、液晶表示装置から映し出される
映像をスクリーン7に投影し、その映像の輝度を撮像装
置9を用いて測定する。この方法で液晶表示装置内の液
晶パネルの入力電圧−透過率特性を測定することができ
る。そして測定された入力電圧−透過率特性のデータを
演算処理装置8に入力して所望の階調特性を得られるよ
うなガンマ補正データを作成する。この時、演算処理装
置8を液晶表示装置6に入力する入力信号源として兼用
することもできる。従来は、前記、演算処理装置8で作
成されたガンマ補正データを液晶表示装置6に転送する
方法が取られていた。
A conventional gamma correction setting method will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a system configuration diagram showing an embodiment of gamma correction. The level of the input signal input to the liquid crystal display device 6 is appropriately changed, the image projected from the liquid crystal display device is projected on the screen 7, and the brightness of the image is measured using the image pickup device 9. With this method, the input voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal panel in the liquid crystal display device can be measured. Then, the measured input voltage-transmittance characteristic data is input to the arithmetic processing unit 8 to create gamma correction data that can obtain a desired gradation characteristic. At this time, the arithmetic processing unit 8 can also be used as an input signal source for inputting to the liquid crystal display device 6. Conventionally, a method of transferring the gamma correction data created by the arithmetic processing device 8 to the liquid crystal display device 6 has been used.

【0004】前記液晶表示装置6の内部における従来の
ガンマ補正ブロック図を図4に示す。前記、演算処理装
置8で作成されたガンマ補正データは、図4のメモリー
10にマイコン11の制御で転送され保存される。そし
てこの保存されたガンマ補正データに基づいてガンマ補
正回路1でガンマ補整を行う。ガンマ補正された映像信
号は、液晶パネルに入力するために必要な信号処理を行
う。すなわち、D/A変換回路2にてデジタル−アナログ
変換を行い、液晶駆動回路3にて液晶駆動に必要な信号
処理を行った後、液晶パネルに映像信号を供給する。
A conventional gamma correction block diagram inside the liquid crystal display device 6 is shown in FIG. The gamma correction data created by the arithmetic processing unit 8 is transferred and stored in the memory 10 of FIG. 4 under the control of the microcomputer 11. Then, the gamma correction circuit 1 performs gamma correction based on the stored gamma correction data. The gamma-corrected video signal is subjected to signal processing necessary for input to the liquid crystal panel. That is, the D / A conversion circuit 2 performs digital-analog conversion, the liquid crystal drive circuit 3 performs signal processing necessary for liquid crystal drive, and then supplies a video signal to the liquid crystal panel.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のガンマ補正の設定方法では、入力電圧−透過率特性
の測定に時間がかかる。
However, in the above-mentioned conventional gamma correction setting method, it takes time to measure the input voltage-transmittance characteristic.

【0006】特に、量産工程においては、設定時間の増
大は大きな問題となる。また、測定した結果からガンマ
補正に必要な補正データを演算装置を用いて作成するた
め、その演算処理においては、大きな負荷がかかってし
まう。
Particularly, in the mass production process, the increase of the set time becomes a big problem. Further, since the correction data necessary for gamma correction is created from the measurement result by using the arithmetic device, a large load is applied to the arithmetic processing.

【0007】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
であり、ガンマ補正の設定に有する時間を短縮すると共
に、設定にかかる演算処理の負荷を軽減することを目的
とするものである。
The present invention is intended to solve the above-mentioned conventional problems, and it is an object of the present invention to shorten the time required for setting gamma correction and to reduce the load of arithmetic processing required for setting.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、入力電圧−透過率特性の測定において、そ
の特性の高輝度部分と低輝度部分では精密な測定を行
い、中輝度部分では、高輝度および低輝度部分より簡素
な測定を行うことでその測定時間を短縮するようにした
ものである。
In order to achieve the above object, the present invention provides an accurate measurement of the input voltage-transmittance characteristic in the high-luminance portion and the low-luminance portion of the characteristic, and in the medium-luminance portion. In the above, the measurement time is shortened by performing a simpler measurement than the high brightness and low brightness parts.

【0009】そしてガンマ補正設定方法においては、入
力電圧−透過率特性の測定結果に基づいてガンマ補正デ
ータを作成するのではなく、あらかじめ数種類のガンマ
補正データを用意して、入力電圧−透過率特性の測定結
果に基づいて補正データを選択することで、演算装置に
おける演算処理の負荷軽減を図れるようにしたものであ
る。
In the gamma correction setting method, instead of creating the gamma correction data based on the measurement result of the input voltage-transmittance characteristic, several kinds of gamma correction data are prepared in advance, and the input voltage-transmittance characteristic is prepared. By selecting the correction data on the basis of the measurement result, the load of the arithmetic processing in the arithmetic device can be reduced.

【0010】これにより、入力電圧−透過率特性の測定
時間を短縮するとともにガンマ補正を設定するための演
算処理装置の負荷を軽減することができるガンマ補正方
法が得られる。
This makes it possible to obtain a gamma correction method capable of shortening the measurement time of the input voltage-transmittance characteristic and reducing the load on the arithmetic processing unit for setting the gamma correction.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、あらかじめ定められた数種類のガンマ補正データを
液晶表示装置のメモリーに格納し、前記液晶表示装置の
液晶パネルの入力電圧−透過率特性を測定し、この測定
結果より、前記、数種類のガンマ補正データより選択し
てガンマ補正を行う、液晶表示装置のガンマ補正方法で
あり、ガンマ補正の演算処理の負荷を軽減するという作
用がある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claim 1 of the present invention stores a predetermined number of types of gamma correction data in a memory of a liquid crystal display device, and the input voltage-transmission of the liquid crystal panel of the liquid crystal display device. This is a gamma correction method for a liquid crystal display device in which the rate characteristic is measured, and from the measurement results, gamma correction is performed by selecting from the several types of gamma correction data described above. is there.

【0012】また、請求項2に記載の発明は、前記、液
晶パネルの入力電圧−透過率特性の高輝度部分と低輝度
部分における測定を精密に行い、中輝度部分を高輝度部
分および低輝度部分より簡易に測定することを特徴とす
る請求項1記載の液晶表示装置のガンマ補正方法であ
り、上記液晶パネルの入力電圧−透過率特性の測定にか
かる時間を短縮する作用がある。
Further, in the invention according to claim 2, the input voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal panel is precisely measured in the high luminance portion and the low luminance portion, and the middle luminance portion is measured in the high luminance portion and the low luminance portion. The gamma correction method for a liquid crystal display device according to claim 1, wherein the measurement is performed more easily than the portion, and has an effect of shortening the time required to measure the input voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal panel.

【0013】(実施の形態)以下、本発明の実施の形態に
おける液晶表示装置のガンマ補正方法について図面を参
照しながら説明する。図2はガンマ補正の実施形態を示
すシステム構成図である。図1は本発明実施の形態にお
けるガンマ補正設定のブロック図である。図3は液晶パ
ネルの入力電圧−透過率特性およびそのばらつきを示し
た図である。
(Embodiment) A gamma correction method for a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 2 is a system configuration diagram showing an embodiment of gamma correction. FIG. 1 is a block diagram of gamma correction setting according to the embodiment of the present invention. FIG. 3 is a diagram showing the input voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal panel and its variation.

【0014】なお、従来と同じ構成ブロックについて
は、同じ符号を付して説明を略し、従来と異なる点に重
点をおいて説明する。従来と異なる点は、液晶表示装置
1の内部のメモリー4に、あらかじめ数種類のガンマ補
正データを格納しておくことである。そして演算処理装
置8は、測定された液晶パネルの入力電圧−透過率特性
に基づいて、メモリー4の内部に格納された数種類のガ
ンマ補正データの中で、どのデータが最適であるかを判
断し、マイコン5に判断結果を伝達する。そしてマイコ
ン5は、メモリー4の内部でいずれのガンマ補正データ
使用するか選択する。
The same constituent blocks as those of the conventional art will be designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. The difference from the conventional method is that several kinds of gamma correction data are stored in advance in the memory 4 inside the liquid crystal display device 1. Then, the arithmetic processing unit 8 determines which of the several types of gamma correction data stored in the memory 4 is optimum, based on the measured input voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal panel. , The judgment result is transmitted to the microcomputer 5. Then, the microcomputer 5 selects which gamma correction data is used inside the memory 4.

【0015】あらかじめ用意するガンマ補正データと演
算処理装置8による判断方法については、図3の液晶パ
ネルにおける入力電圧−透過率特性のばらつきを示した
図を用いて説明する。液晶パネルの入力電圧−透過率特
性は、高輝度部分と中輝度部分と低輝度部分に大別でき
る。その中で、高輝度部分と低輝度部分は、非線形特性
であり、中輝度部分はほぼ線形の特性である。液晶パネ
ルの入力電圧−透過率特性におけるばらつき方は、特性
1、特性2、特性3で示すように高輝度部分および低輝
度部分の入力電圧に対する透過率の傾き方がばらつく。
すなわち、特性1は、高輝度部分では特性2や特性3と
比較して、液晶パネルに印加する入力電圧が低電圧状態
においてその透過率が低下し始める。また、特性1は低
輝度部分においても特性2や特性3と比較して低電圧で
透過率が低い状態である。これとは逆に特性3は、高輝
度部分においてパネルに印加する入力電圧が高電圧状態
であっても高透過率を維持し、低輝度部分においては、
高電圧であっても高透過率であるような特性である。そ
して特性2は、特性1と特性3の中間のような特性、す
なわち液晶パネルの平均的な入力電圧−透過率特性であ
る。特性1、特性2、特性3のそれぞれについて中輝度
部分については、ほぼ線形であり入力電圧に対する透過
率の傾きが同じであり、ばらつきがないことがわかって
いる。また、高輝度部分および低輝度部分のばらつき方
は、特性1、特性2、特性3のようにある傾向をもった
ばらつき方をするものであり、ばらつき幅いっぱいに均
等にばらつきをするわけではない。よってメモリー4に
用意するガンマ補正データは、ばらつき傾向に合わせて
数種類でよいことになる。
The gamma correction data prepared in advance and the determination method by the arithmetic processing unit 8 will be described with reference to the diagram showing the variation of the input voltage-transmittance characteristic in the liquid crystal panel of FIG. The input voltage-transmittance characteristic of a liquid crystal panel can be roughly classified into a high-luminance portion, a medium-luminance portion, and a low-luminance portion. Among them, the high-brightness part and the low-brightness part have a non-linear characteristic, and the middle-brightness part has a substantially linear characteristic. Regarding the variation in the input voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal panel, the inclination of the transmittance with respect to the input voltage in the high-luminance portion and the low-luminance portion varies as shown by the characteristics 1, 2, and 3.
That is, the transmittance of characteristic 1 starts to decrease in the high-luminance portion as compared with characteristics 2 and 3 when the input voltage applied to the liquid crystal panel is in a low voltage state. In addition, the characteristic 1 is in a state where the transmittance is low at a low voltage as compared with the characteristics 2 and 3 even in the low luminance part. On the contrary, the characteristic 3 maintains high transmittance even in the high voltage state of the input voltage applied to the panel in the high brightness portion, and in the low brightness portion,
The characteristic is that the transmittance is high even at a high voltage. The characteristic 2 is a characteristic intermediate between the characteristic 1 and the characteristic 3, that is, an average input voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal panel. It is known that the characteristics 1, characteristics 2, and characteristics 3 are almost linear in the middle luminance portion and have the same slope of the transmittance with respect to the input voltage, and there is no variation. Further, the high brightness portion and the low brightness portion are dispersed in a manner that tends to have a certain tendency like the characteristic 1, the characteristic 2, and the characteristic 3, and the variation is not uniform over the entire variation range. . Therefore, the gamma correction data prepared in the memory 4 may be of several types according to the variation tendency.

【0016】ここで、ばらつき傾向の数をnとし、用意
するデータ数をxとすると x=n+(n−1)+2 となる。これは、ばらつき傾向のセンター値のデータ数
n個と各ばらつき間の平均値n−1個のデータ数とばら
つき傾向の最大、最小の外側にそれぞれ1個ずつデータ
を用意することを意味している。例えば、図3のよう
に、 ばらつき傾向が3種類あると仮定するならば、用
意するデータ数は7個となる。
Here, assuming that the number of variation tendencies is n and the number of data to be prepared is x, x = n + (n-1) +2. This means that the number of data of the center value of the variation tendency is n, the number of data of the average value n−1 between the variations and the data of one each are provided outside the maximum and the minimum of the variation tendency. There is. For example, as shown in FIG. 3, assuming that there are three types of variation tendency, the number of data to be prepared is seven.

【0017】およそこれだけのデータを用意すれば、従
来のガンマ補正方法と同じ画質が確保できる。
By preparing approximately this amount of data, the same image quality as the conventional gamma correction method can be secured.

【0018】次に演算処理装置8による判断方法につい
て説明する。前記、入力電圧−透過率特性の測定データ
に対して、あらかじめ用意したガンマ補正データの中で
いずれのデータを選択するかについては、ばらつきの発
生する高輝度部分および低輝度部分において、それぞれ
にある一定入力電圧に対する透過率のスレッシュレベル
を設けることで判定を行う。スレッシュレベルの数は用
意するデータ数xに対してx−1の数だけ設定する。
Next, the determination method by the arithmetic processing unit 8 will be described. Regarding the measurement data of the input voltage-transmittance characteristic, which data is selected from the gamma correction data prepared in advance is set in each of the high-luminance portion and the low-luminance portion in which variations occur. The determination is performed by providing a threshold level of transmittance for a constant input voltage. The number of threshold levels is set as x-1 for the number of prepared data x.

【0019】高輝度部分と低輝度部分それぞれに対して
スレッシュレベルを設ける理由は、高輝度部分と低輝度
部分それぞれのスレッシュレベルで判定を行うことでよ
り実測に近いデータを選択できるからである。また、高
輝度部分と低輝度部分の入力電圧についての判定点もそ
れぞれ複数点設け、それぞれに対してx−1のスレッシ
ュレベル数を設定し選択精度の向上を図る。実際の判定
においては、高輝度部分、低輝度部分ともに入力電圧に
対して10点の判定点を設けるとともに用意したデータ
全てについて各判定点での判定値を求め、最も合致する
ものを選択するようにしている。
The reason why the threshold level is set for each of the high-luminance portion and the low-luminance portion is that the data closer to the actual measurement can be selected by making a determination based on the threshold level of each of the high-luminance portion and the low-luminance portion. In addition, a plurality of determination points for the input voltage of the high-luminance portion and the low-luminance portion are respectively provided, and the threshold level number of x-1 is set for each of them to improve the selection accuracy. In the actual judgment, 10 judgment points are set for the input voltage in both the high-luminance portion and the low-luminance portion, the judgment values at each judgment point are calculated for all the prepared data, and the best matching one is selected. I have to.

【0020】また、データ−選択の別の方法として入力
電圧に対して透過率のスレッシュレベルを設けるかわり
に、透過率に対して入力電圧のスレッシュレベルを設け
る方法でも同じ結果が得られる。
Further, as another data selection method, the same result can be obtained by providing the threshold level of the input voltage with respect to the transmittance instead of providing the threshold level of the transmittance with respect to the input voltage.

【0021】そして、入力電圧−透過率特性の測定に際
しては、高輝度部分および低輝度部分については、非線
形特性でありばらつきに対して精度良く選択するために
精密な測定を行い、中輝度部分については線形特性の確
認を行うための最小3点測定ですむことから測定時間の
短縮を図ることができる。
When measuring the input voltage-transmittance characteristic, the high-luminance portion and the low-luminance portion are non-linear characteristics and precise measurement is performed in order to select accurately for variations, and the medium-luminance portion is measured. Can reduce the measurement time because it requires a minimum of 3 points for checking the linear characteristics.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上のように本発明は、液晶パネルのガ
ンマ補正方法において、あらかじめ数種類の補正データ
を格納しておき、入力電圧−透過率特性の測定結果に則
した補正データを選択することにより、入力電圧−透過
率特性に沿った逆特性の演算処理が不必要となるので、
設定ソフトの負荷を軽減するとともに、入力電圧−透過
率特性の測定に際しては、その測定時間を短縮する効果
を奏するものである。
As described above, according to the present invention, in the gamma correction method for a liquid crystal panel, several kinds of correction data are stored in advance, and the correction data according to the measurement result of the input voltage-transmittance characteristic is selected. As a result, the calculation processing of the inverse characteristic according to the input voltage-transmittance characteristic is unnecessary,
The effect of reducing the load of the setting software and shortening the measurement time when measuring the input voltage-transmittance characteristic is exhibited.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態におけるガンマ補正ブロッ
ク図
FIG. 1 is a gamma correction block diagram according to an embodiment of the present invention.

【図2】ガンマ補正の実施形態を示すシステム構成図FIG. 2 is a system configuration diagram showing an embodiment of gamma correction.

【図3】入力電圧−透過率特性およびそのばらつきを示
した図
FIG. 3 is a diagram showing an input voltage-transmittance characteristic and its variation.

【図4】従来のガンマ補正ブロック図FIG. 4 is a conventional gamma correction block diagram.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガンマ補正回路 2 D/A変換回路 3 液晶駆動回路 4 複数個のガンマデータを保持するメモリー 5 データ選択機能を持ったマイコン 6 液晶表示装置 7 スクリーン 8 演算処理装置 9 撮像装置 10 従来のメモリー 11 作成されたガンマ補正データを転送するためのマ
イコン
1 gamma correction circuit 2 D / A conversion circuit 3 liquid crystal drive circuit 4 memory 5 for holding a plurality of gamma data 5 microcomputer having a data selection function 6 liquid crystal display device 7 screen 8 arithmetic processing device 9 imaging device 10 conventional memory 11 Microcomputer for transferring the created gamma correction data

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04N 5/66 102 H04N 5/66 102Z Fターム(参考) 2H093 NA51 NC24 NC29 NC54 ND01 ND06 5C006 AA01 AA16 AF13 AF45 AF46 AF51 AF53 AF61 AF83 BF15 BF24 EC11 FA18 FA56 5C021 PA58 PA62 PA80 RB00 RB03 XA34 5C058 AA06 BA13 BB14 BB25 5C080 AA10 BB05 DD04 EE29 JJ02 JJ05 JJ06 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H04N 5/66 102 H04N 5/66 102Z F term (reference) 2H093 NA51 NC24 NC29 NC54 ND01 ND06 5C006 AA01 AA16 AF13 AF45 AF46 AF51 AF53 AF61 AF83 BF15 BF24 EC11 FA18 FA56 5C021 PA58 PA62 PA80 RB00 RB03 XA34 5C058 AA06 BA13 BB14 BB25 5C080 AA10 BB05 DD04 EE29 JJ02 JJ05 JJ06

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 あらかじめ定められた数種類のガンマ補
正データを液晶表示装置のメモリーに格納し、前記液晶
表示装置の液晶パネルの入力電圧−透過率特性を測定
し、この測定結果より、前記数種類のガンマ補正データ
より最適データを選択してガンマ補正を行う、液晶表示
装置のガンマ補正方法。
1. A predetermined number of types of gamma correction data are stored in a memory of a liquid crystal display device, and an input voltage-transmittance characteristic of a liquid crystal panel of the liquid crystal display device is measured. A gamma correction method for a liquid crystal display device that selects the optimum data from the gamma correction data and performs gamma correction.
【請求項2】 前記、液晶パネルの入力電圧−透過率特
性の高輝度部分と低輝度部分における測定を精密に行
い、中輝度部分を高輝度部分および低輝度部分より簡易
に測定することを特徴とする請求項1記載の液晶表示装
置のガンマ補正方法。
2. The input voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal panel is precisely measured in a high-luminance portion and a low-luminance portion, and the middle-luminance portion is more easily measured than the high-luminance portion and the low-luminance portion. The gamma correction method for a liquid crystal display device according to claim 1.
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