JP2003028900A - Non-contact voltage measurement method and apparatus - Google Patents

Non-contact voltage measurement method and apparatus

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JP2003028900A
JP2003028900A JP2001210347A JP2001210347A JP2003028900A JP 2003028900 A JP2003028900 A JP 2003028900A JP 2001210347 A JP2001210347 A JP 2001210347A JP 2001210347 A JP2001210347 A JP 2001210347A JP 2003028900 A JP2003028900 A JP 2003028900A
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JP
Japan
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voltage
conductor
value
detection probe
coupling capacitance
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JP2001210347A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshio Nakazawa
俊夫 中沢
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Yokogawa Electric Corp
Yokogawa M&C Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Yokogawa M&C Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem of a complex circuit configuration since an oscillator for allowing a current for measuring coupling capacity formed by a conductor and a detection probe to flow is required. SOLUTION: At least two capacitors having different capacitances are connected between a detection probe and a common potential point. A voltage to be measured is divided by a voltage-dividing circuit composed of coupling capacity formed between the detection probe and a conductor where a voltage to be measured is applied. The coupling capacity is calculated from the voltage that is divided when the capacitor is changed. Then, the voltage to be measured is obtained from the coupling capacity, thus measuring a voltage without any contact and simplifying a circuit configuration.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、各種の信号を計
測するために利用される測定装置に関し、被測定回路の
導電部と絶縁隔離された検出プローブを用いて測定する
非接触電圧測定方法およびその装置に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measuring device used for measuring various signals, and a non-contact voltage measuring method for measuring by using a detection probe insulated from the conductive part of a circuit under test. It relates to the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】絶縁被覆された電線内の導体に印加され
る交流電圧を測定する場合、絶縁被覆を破ることなく被
覆上にプローブを当てて測定することができると、安全
上有利であり、かつ簡便に測定することができる。
2. Description of the Related Art When measuring an AC voltage applied to a conductor in an electric wire covered with an insulating coating, it is advantageous in safety that a probe can be applied to the coating without breaking the insulating coating, And it can be easily measured.

【0003】このような絶縁被覆上から導体に印加され
る交流電圧を計測する方法および装置の発明が、特許第
3158063号明細書に記載されている。以下、この
発明について、概要を説明する。
An invention of a method and apparatus for measuring an AC voltage applied to a conductor from such an insulating coating is described in Japanese Patent No. 3158063. The present invention will be outlined below.

【0004】図4に、このような交流電圧計測装置の構
成を示す。図4において、71は計測する交流信号であ
り、Exの電圧を有する。72は交流信号71が印加さ
れる絶縁被覆された電線である。73は検出プローブで
あり、Cxは電線72内の導体との間に形成される結合
容量の値である。8は検出プローブ73が接続される交
流電圧計測装置であり、交流電圧を計測して表示する。
FIG. 4 shows the configuration of such an AC voltage measuring device. In FIG. 4, reference numeral 71 is an AC signal to be measured, which has a voltage of Ex. Reference numeral 72 represents an electric wire coated with insulation to which the AC signal 71 is applied. Reference numeral 73 is a detection probe, and Cx is the value of the coupling capacitance formed with the conductor in the electric wire 72. Reference numeral 8 is an AC voltage measuring device to which the detection probe 73 is connected, and measures and displays the AC voltage.

【0005】図5に検出プローブの一例を示す。図5に
おいて、731はプローブ本体であり、2つのプローブ
本体731が対向して配置される。この2つのプローブ
本体731で絶縁被覆された電線72を挟み込むように
して計測する。
FIG. 5 shows an example of the detection probe. In FIG. 5, 731 is a probe main body, and two probe main bodies 731 are arranged to face each other. The measurement is performed by sandwiching the electric wire 72, which is insulated by the two probe bodies 731.

【0006】図6は交流電圧計測装置8の構成図であ
る。この構成図に基づいて計測原理を説明する。まずス
イッチ83をA側にして、検出プローブ73で絶縁被覆
電線72を挟み込む。発振器84から所定の周波数の信
号電流Isが抵抗81を通過して検出プローブ73に流
れる。
FIG. 6 is a block diagram of the AC voltage measuring device 8. The measurement principle will be described based on this configuration diagram. First, the switch 83 is set to the A side, and the insulating coated electric wire 72 is sandwiched between the detection probes 73. A signal current Is of a predetermined frequency flows from the oscillator 84 to the detection probe 73 through the resistor 81.

【0007】抵抗81の両端電圧を電流検出部82で検
出して、フィルタ部85で発振器84の出力周波数の成
分のみを取り出して信号電流Isの値を求め、この値か
ら結合容量値Cxを演算する。
The current detecting unit 82 detects the voltage across the resistor 81, the filter unit 85 extracts only the output frequency component of the oscillator 84 to obtain the value of the signal current Is, and the coupling capacitance value Cx is calculated from this value. To do.

【0008】次に、スイッチ83をB側にする。交流信
号71の電圧Exにより電流IxがコンデンサCx、抵
抗81を通り、共通電位点に流れる。このときの抵抗8
1の両端電圧を電流検出部82で測定し、フィルタ部8
5で交流信号71の周波数成分のみを通過させて、交流
信号71に起因する電流Ixを演算する。前述したよう
に結合容量Cxの値はわかっているので、この電流Ix
の値から交流信号71の電圧Exを求めることができ
る。
Next, the switch 83 is set to the B side. Due to the voltage Ex of the AC signal 71, the current Ix flows through the capacitor Cx and the resistor 81 to the common potential point. Resistance 8 at this time
The voltage between both ends of 1 is measured by the current detection unit 82, and the filter unit 8
In step 5, only the frequency component of the AC signal 71 is passed to calculate the current Ix caused by the AC signal 71. Since the value of the coupling capacitance Cx is known as described above, this current Ix
The voltage Ex of the AC signal 71 can be obtained from the value of.

【0009】このようにすることにより、絶縁被覆を破
ることなく、被覆上から導体に印加される電圧を測定す
ることができるので、簡便にかつ安全に交流電圧を測定
することが可能になる。
By doing so, the voltage applied to the conductor from above the insulation coating can be measured without breaking the insulation coating, so that the AC voltage can be simply and safely measured.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな交流電圧計測装置には、次のような課題があった。
However, such an AC voltage measuring device has the following problems.

【0011】結合容量Cxを求めるために、発振器84
から所定の電圧信号を検出プローブに加えるようにして
いる。そのために発振器84やフィルタ部85などが必
要になり、構成が複雑になるという課題があった。
To determine the coupling capacitance Cx, the oscillator 84
Therefore, a predetermined voltage signal is applied to the detection probe. Therefore, the oscillator 84, the filter unit 85, and the like are required, and there is a problem that the configuration becomes complicated.

【0012】従って本発明が解決しようとする課題は、
構成が簡単で、かつ非接触で交流電圧を測定することが
できる非接触電圧測定方法およびその装置を提供するこ
とにある。
Therefore, the problem to be solved by the present invention is
An object of the present invention is to provide a non-contact voltage measuring method and a device having a simple structure and capable of non-contact measuring an AC voltage.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために、本発明のうち請求項1記載の発明は、非接触
で交流電圧を測定する方法であって、導体との間に結合
容量が形成されるように検出プローブを配置し、この検
出プローブと共通電位点との間にコンデンサ13,14
を接続し、結合容量Cxとで導体に印加される電圧を分
圧し、この分圧された電圧を検出するようにして、コン
デンサ13,14を切り替えてそのときの分圧された電
圧の値から結合容量Cxを求め、この結合容量Cxの値
から導体に印加された電圧を求めるようにしたものであ
る。絶縁を破ることなく非接触で測定できる。
In order to solve such a problem, the invention according to claim 1 of the present invention is a method for measuring an AC voltage in a non-contact manner, the method including coupling between a conductor and a conductor. The detection probe is arranged so that a capacitance is formed, and capacitors 13, 14 are provided between the detection probe and the common potential point.
Is connected, the voltage applied to the conductor is divided by the coupling capacitance Cx, the divided voltage is detected, and the capacitors 13 and 14 are switched to determine the divided voltage value at that time. The coupling capacitance Cx is obtained, and the voltage applied to the conductor is obtained from the value of the coupling capacitance Cx. Non-contact measurement is possible without breaking the insulation.

【0014】請求項2記載の発明は、導体に印加される
電圧を非接触で測定する非接触電圧測定装置であって、
導体との間に結合容量が形成されるように配置された検
出プローブと、容量値が異なる少なくとも2個のコンデ
ンサ13,14と、これらのコンデンサ13,14を選
択的に検出プローブと共通電位点との間に接続する選択
手段15と、検出プローブとコンデンサ13,14との
接続点の電圧が入力される高入力インピーダンス増幅器
2とを有し、選択手段15によってコンデンサ13,1
4の1つを選択的に検出プローブと共通電位点との間に
接続し、そのときの高入力インピーダンス増幅器2の出
力電圧の値から結合容量Cxの値を求め、この結合容量
Cxの値を用いて導体に印加された電圧を測定するよう
にしたものである。絶縁を破ることなく非接触で測定す
ることができる。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a non-contact voltage measuring device which measures the voltage applied to the conductor in a non-contact manner.
A detection probe arranged so as to form a coupling capacitance with the conductor, at least two capacitors 13 and 14 having different capacitance values, and these capacitors 13 and 14 are selectively connected to the detection probe and a common potential point. And a high input impedance amplifier 2 to which the voltage at the connection point between the detection probe and the capacitors 13 and 14 is input.
4 is selectively connected between the detection probe and the common potential point, the value of the coupling capacitance Cx is obtained from the value of the output voltage of the high input impedance amplifier 2 at that time, and the value of this coupling capacitance Cx is calculated. It is used to measure the voltage applied to the conductor. Non-contact measurement is possible without breaking the insulation.

【0015】請求項3記載の発明は、請求項2記載の発
明において、高入力インピーダンス増幅器2として、ブ
ートストラップ回路を用いたものである。簡単に高入力
インピーダンス増幅器を構成できる。
According to a third aspect of the invention, in the second aspect of the invention, a bootstrap circuit is used as the high input impedance amplifier 2. A high input impedance amplifier can be easily constructed.

【0016】請求項4記載の発明は、非接触で交流電圧
を測定する装置であって、導体との間に結合容量が形成
されるように配置された検出プローブと、容量値が異な
る少なくとも2個のコンデンサ13,14と、このコン
デンサ13,14を選択的に検出プローブと共通電位点
に接続する選択手段15と、検出プローブとコンデンサ
13,14とで分圧された導体に印加された電圧をデジ
タル信号に変換するA/D変換器4と、このA/D変換
器4の出力が入力される演算部5と、この演算部5の出
力が入力される表示部6とを有し、演算部5は入力され
た値から結合容量Cxの値を求め、この結合容量Cxか
ら導体に印加された電圧を求めて表示部6に表示するよ
うにしたものである。絶縁を破ることなく非接触で測定
することができる。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a device for measuring an AC voltage in a non-contact manner, wherein the detection probe is arranged so that a coupling capacitance is formed between the detection probe and at least two capacitance values. The capacitors 13 and 14, the selection means 15 that selectively connects the capacitors 13 and 14 to the detection probe and the common potential point, and the voltage applied to the conductor divided by the detection probe and the capacitors 13 and 14. Has an A / D converter 4 for converting the digital signal into a digital signal, an arithmetic unit 5 to which the output of the A / D converter 4 is input, and a display unit 6 to which the output of the arithmetic unit 5 is input, The calculation unit 5 calculates the value of the coupling capacitance Cx from the input value, calculates the voltage applied to the conductor from this coupling capacitance Cx, and displays it on the display unit 6. Non-contact measurement is possible without breaking the insulation.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下に、図に基づいて本発明を詳
細に説明する。図1は本発明に係る非接触電圧測定装置
の一実施例を示す構成図である。図1において、1は入
力部、2は入力部1の出力が入力されるブートストラッ
プ回路である。このブートストラップ回路の出力が計測
した電圧値になる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the non-contact voltage measuring device according to the present invention. In FIG. 1, 1 is an input unit, and 2 is a bootstrap circuit to which the output of the input unit 1 is input. The output of this bootstrap circuit becomes the measured voltage value.

【0018】入力部1は結合容量12,コンデンサ1
3,14およびスイッチ15で構成される。11は入力
端子であり、図5で説明した検出プローブが接続され
る。12は検出プローブと絶縁被覆された電線との間に
形成される結合容量を表したものであり、Cxはその容
量値を表す。
The input section 1 includes a coupling capacitance 12 and a capacitor 1.
3, 14 and a switch 15. Reference numeral 11 is an input terminal to which the detection probe described with reference to FIG. 5 is connected. Reference numeral 12 represents the coupling capacitance formed between the detection probe and the electric wire coated with insulation, and Cx represents the capacitance value.

【0019】13,14はそれぞれC1、C2の容量値
を有するコンデンサであり、その一端は結合容量12の
入力端子11と反対側、すなわち検出プローブに接続さ
れ、他端はそれぞれスイッチ15の接点A、同Bに接続
される。スイッチ15の共通接点Cは共通電位点に接続
される。
Reference numerals 13 and 14 are capacitors having capacitance values of C1 and C2, respectively, one end of which is connected to the side opposite to the input terminal 11 of the coupling capacitance 12, that is, the detection probe, and the other end of which is the contact A of the switch 15. , Connected to the same B. The common contact C of the switch 15 is connected to the common potential point.

【0020】ブートストラップ回路2は抵抗21および
22,コンデンサ23およびアンプ24から構成され
る。抵抗21,22は直列接続され、この共通接続回路
の一端には入力部1の出力が印加され、他端は共通電位
点に接続される。
The bootstrap circuit 2 comprises resistors 21 and 22, a capacitor 23 and an amplifier 24. The resistors 21 and 22 are connected in series, the output of the input unit 1 is applied to one end of this common connection circuit, and the other end is connected to a common potential point.

【0021】アンプ24の非反転入力端子には入力部1
の出力が印加される。すなわち、抵抗21と22の直列
回路の共通電位点側でない側に接続される。また、アン
プ24の出力端子と反転入力端子は共通接続され、この
共通接続点と抵抗21と22の接続点の間にはコンデン
サ23が接続される。
The input section 1 is connected to the non-inverting input terminal of the amplifier 24.
Is applied. That is, it is connected to the side of the series circuit of the resistors 21 and 22 that is not the common potential point side. The output terminal and the inverting input terminal of the amplifier 24 are commonly connected, and the capacitor 23 is connected between the common connection point and the connection point of the resistors 21 and 22.

【0022】このような構成により、ブートストラップ
回路2の入力インピーダンスは帰還作用によって非常に
高い値になる。すなわち、入力部1の動作はブートスト
ラップ回路2が接続されることによって影響を受けるこ
とはなくなる。
With such a configuration, the input impedance of the bootstrap circuit 2 becomes a very high value due to the feedback effect. That is, the operation of the input unit 1 is not affected by the connection of the bootstrap circuit 2.

【0023】次に、この実施例の動作を説明する。な
お、簡単にするために、ブートストラップ回路2のゲイ
ンを1とする。最初にスイッチ15の共通接点Cを接点
A側に設定する。このときは入力電圧Exは結合容量1
2とコンデンサ13で分圧された電圧がブートストラッ
プ回路2に入力されるので、その出力電圧Vout1は、
Next, the operation of this embodiment will be described. Note that the gain of the bootstrap circuit 2 is set to 1 for simplicity. First, the common contact C of the switch 15 is set to the contact A side. At this time, the input voltage Ex is the coupling capacitance 1
Since the voltage divided by 2 and the capacitor 13 is input to the bootstrap circuit 2, its output voltage Vout1 is

【数1】 [Equation 1]

【0024】になる。なお、結合容量値をCx、コンデ
ンサ13の容量値をC1とする。jは虚数単位、ωは入
力信号の角周波数である。
It becomes The coupling capacitance value is Cx, and the capacitance value of the capacitor 13 is C1. j is an imaginary unit, and ω is the angular frequency of the input signal.

【0025】この式から、From this equation,

【数2】 [Equation 2]

【0026】が得られる。Is obtained.

【0027】次に、スイッチ15の共通接点Cを接点B
側に設定する。このときのブートストラップ回路2の出
力電圧をVout2とすると、前記(1)式と同様にして、
Next, the common contact C of the switch 15 is connected to the contact B.
Set to the side. Assuming that the output voltage of the bootstrap circuit 2 at this time is Vout2, in the same manner as the equation (1),

【数3】 [Equation 3]

【0028】が得られ、この(3)式から下式(4)が
得られる。
From this equation (3), the following equation (4) is obtained.

【数4】 [Equation 4]

【0029】前記(2)式と(4)式の右辺を等しいと
置くと、
If the right sides of the equations (2) and (4) are equal,

【数5】 が得られ、この(5)式を整理すると、[Equation 5] Is obtained, and by rearranging this equation (5),

【数6】 が導かれる。[Equation 6] Is guided.

【0030】すなわち、コンデンサ13、14の容量値
は既知であるので、コンデンサ13を接続したときのブ
ートストラップ回路2の出力Vout1とコンデンサ14を
接続したときのブートストラップ回路2の出力Vout2か
ら、前記(6)式によって結合容量値Cxを求めること
ができる。
That is, since the capacitance values of the capacitors 13 and 14 are known, from the output Vout1 of the bootstrap circuit 2 when the capacitor 13 is connected and the output Vout2 of the bootstrap circuit 2 when the capacitor 14 is connected, The coupling capacitance value Cx can be obtained by the equation (6).

【0031】また、この結合容量Cxを前記(2)式ま
たは前記(4)式に代入すると、入力信号の電圧Exを
計算することができる。
Further, by substituting the coupling capacitance Cx into the equation (2) or the equation (4), the voltage Ex of the input signal can be calculated.

【0032】図2に、結合容量Cxと被測定交流電圧を
変化させたときの、ブートストラップ回路2の出力Vou
t1、Vout2の実測値およびこの実測値から演算で求めた
結合容量Cxおよび入力信号の電圧Exを示す。なお、
コンデンサ13の容量値C1を100PF、コンデンサ
14の容量値C2を1000PFとした。
FIG. 2 shows the output Vou of the bootstrap circuit 2 when the coupling capacitance Cx and the measured AC voltage are changed.
The measured values of t1 and Vout2 and the coupling capacitance Cx and the voltage Ex of the input signal calculated by the measured values are shown. In addition,
The capacitance value C1 of the capacitor 13 is 100 PF, and the capacitance value C2 of the capacitor 14 is 1000 PF.

【0033】図2右側の2重線で囲んだ部分は実際の結
合容量Cx、入力信号Exの値である。条件1〜3は結
合容量Cxを1PFとし、入力電圧を100〜300V
rmsに変化させた場合、条件4〜6は結合容量Cxを1
0PFとし、入力電圧を100〜300Vrmsに変化さ
せた場合である。
The portion surrounded by a double line on the right side of FIG. 2 is the actual values of the coupling capacitance Cx and the input signal Ex. Conditions 1 to 3 set the coupling capacitance Cx to 1PF and the input voltage to 100 to 300V.
When changing to rms, the conditions 4 to 6 set the coupling capacitance Cx to 1
This is a case where the input voltage is changed to 100 to 300 Vrms with 0PF.

【0034】図2左の欄はブートストラップ回路の出力
電圧Vout1、Vout2の実測値である。Vout2はVout1の
約1/10になっているが、その理由は前記(1)式、
(3)式から明らかである。
The left column of FIG. 2 shows the measured values of the output voltages Vout1 and Vout2 of the bootstrap circuit. Vout2 is about 1/10 of Vout1, and the reason is the above formula (1),
It is clear from the equation (3).

【0035】図2の左から2番目の欄は、前記(6)式
から求めた結合容量Cxの値であって、入力電圧の値が
変化してもほぼ一定値になる。
The second column from the left in FIG. 2 shows the value of the coupling capacitance Cx obtained from the equation (6), which is almost constant even if the value of the input voltage changes.

【0036】図2の左から3番目の欄は、前記(2)式
から求めた入力電圧Exの値である。
The third column from the left in FIG. 2 shows the value of the input voltage Ex obtained from the equation (2).

【0037】図3は、図1に示した非接触電圧測定装置
の他の実施例を示す構成図である。図3において、3は
入力回路であり、例えば図1の非接触電圧測定装置が用
いられる。4はA/D変換器であり、入力回路の出力電
圧をデジタル信号に変換する。
FIG. 3 is a block diagram showing another embodiment of the non-contact voltage measuring device shown in FIG. In FIG. 3, 3 is an input circuit, for example, the non-contact voltage measuring device of FIG. 1 is used. An A / D converter 4 converts the output voltage of the input circuit into a digital signal.

【0038】5は演算部であり、A/D変換器4の出力
が入力され、前記(6)式の演算を行って結合容量Cx
を求め、この値を用いて前記(2)式または(4)式を
用いて入力信号の電圧値を演算する。6は表示部であ
り、演算部5で演算して求めた電圧値を表示する。
Reference numeral 5 denotes a calculation unit, which receives the output of the A / D converter 4 and performs the calculation of the equation (6) to obtain the coupling capacitance Cx.
Is calculated, and the voltage value of the input signal is calculated using the equation (2) or the equation (4). A display unit 6 displays the voltage value calculated by the calculation unit 5.

【0039】なお、図1において入力部1の出力をブー
トストラップ回路2に入力するようにしたが、必ずしも
ブートストラップ回路でなくてもよい。入力部1の動作
に影響を与えない程度に入力インピーダンスが高い増幅
器あるいはインピーダンス変換回路であればよい。
Although the output of the input unit 1 is input to the bootstrap circuit 2 in FIG. 1, the output is not necessarily the bootstrap circuit. Any amplifier or impedance conversion circuit having a high input impedance to the extent that the operation of the input unit 1 is not affected may be used.

【0040】また、図1でスイッチ15を共通電位点側
においてコンデンサ13とコンデンサ14を切り替える
ようにしたが、スイッチを検出プローブ側において切り
替えるようにしてもよく、また両方切り替えるようにし
てもよい。要は、コンデンサを選択的に検出プローブと
共通電位点の間に接続できる構成であればよい。
Although the switch 15 is switched between the capacitor 13 and the capacitor 14 on the common potential side in FIG. 1, the switch may be switched on the detection probe side, or both of them may be switched. The point is that the capacitor can be selectively connected between the detection probe and the common potential point.

【0041】また、図1の実施例では切り替えるコンデ
ンサを2個としたが、3個以上用いてもよい。この場
合、結合容量の値が複数得られるが、統計処理などを行
えば精度の向上が期待できる。
Although the number of capacitors to be switched is two in the embodiment of FIG. 1, three or more may be used. In this case, a plurality of values of the coupling capacity can be obtained, but if statistical processing or the like is performed, improvement in accuracy can be expected.

【0042】また、検出プローブは、絶縁導体の電圧を
測定する場合は金属導体で構成してもよいが、導体に直
接接触させる場合は、検出プローブ自体を絶縁するよう
にしてもよい。このように、種々の構成が考えられる。
The detection probe may be made of a metal conductor when the voltage of the insulated conductor is measured, but the detection probe itself may be insulated when it is brought into direct contact with the conductor. Thus, various configurations are possible.

【0043】さらに、図3の実施例において、A/D変
換器の入力インピーダンスが十分高ければ、図1のブー
トストラップ回路2などの高入力インピーダンス回路を
省略することもできる。
Further, in the embodiment of FIG. 3, if the input impedance of the A / D converter is sufficiently high, the high input impedance circuit such as the bootstrap circuit 2 of FIG. 1 can be omitted.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によれば、次の効果が期待できる。請求項1記載
の発明によれば、導体に印加される電圧を非接触で測定
する非接触電圧測定方法であって、導体との間に結合容
量が形成されるように検出プローブを配置し、この検出
プローブと共通電位点との間にコンデンサ13,14を
接続し、このコンデンサ13,14と結合容量Cxとで
導体に印加される電圧を分圧し、この分圧された電圧を
検出するようにして、コンデンサ13,14を切り替え
てそのときの分圧された電圧の値から結合容量Cxを求
め、この結合容量Cxの値から導体に印加された電圧を
求めるようにした。
As is apparent from the above description,
According to the present invention, the following effects can be expected. According to the invention of claim 1, there is provided a non-contact voltage measuring method for measuring a voltage applied to a conductor in a non-contact manner, wherein the detection probe is arranged so that a coupling capacitance is formed between the conductor and the conductor. Capacitors 13 and 14 are connected between the detection probe and the common potential point, the voltage applied to the conductor is divided by the capacitors 13 and 14 and the coupling capacitance Cx, and the divided voltage is detected. Then, the capacitors 13 and 14 are switched to obtain the coupling capacitance Cx from the value of the divided voltage at that time, and the voltage applied to the conductor is obtained from the value of the coupling capacitance Cx.

【0045】絶縁を破ることなく非接触で電圧を測定す
ることができるので、簡便に測定することができるとい
う効果がある。また導体部を露出する必要がなく、かつ
検出プローブの結合容量は小さいのために流れる電流は
微少なので、感電するおそれが少なく、安全に測定する
ことができるという効果もある。
Since the voltage can be measured in a non-contact manner without breaking the insulation, there is an effect that the voltage can be easily measured. In addition, since it is not necessary to expose the conductor portion and the coupling capacitance of the detection probe is small, the flowing current is very small, so there is little risk of electric shock, and there is an effect that measurement can be performed safely.

【0046】また、被測定回路である導体と検出プロー
ブで形成される結合容量を流れる電流のみで測定するこ
とができるので、従来例のように電流を流すための発振
器が不要になるために回路構成が簡単になり、またイン
ピーダンスの高い被測定回路でも正確に測定することが
できるという効果もある。
Further, since the measurement can be made only by the current flowing through the coupling capacitance formed by the conductor to be measured and the detection probe, the oscillator for flowing the current as in the conventional example is not necessary, so that the circuit becomes unnecessary. There is also an effect that the configuration is simple and that even a circuit under test having high impedance can be accurately measured.

【0047】請求項2記載の発明によれば、導体に印加
される電圧を非接触で測定する非接触電圧測定装置であ
って、導体との間に結合容量が形成されるように配置さ
れた検出プローブと、容量値が異なる少なくとも2個の
コンデンサ13,14と、これらのコンデンサ13,1
4を選択的に検出プローブと共通電位点との間に接続す
る選択手段15と、検出プローブとコンデンサ13,1
4との接続点の電圧が入力される高入力インピーダンス
増幅器2とを有し、選択手段15によってコンデンサ1
3,14の1つを選択的に検出プローブと共通電位点と
の間に接続し、そのときの高入力インピーダンス増幅器
2の出力電圧の値から結合容量Cxの値を求め、この結
合容量Cxの値を用いて導体に印加された電圧を測定す
るようにしたものである。絶縁を破ることなく非接触で
測定することができる。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a non-contact voltage measuring device for measuring a voltage applied to a conductor in a non-contact manner, the non-contact voltage measuring device being arranged so that a coupling capacitance is formed between the conductor and the conductor. The detection probe, at least two capacitors 13 and 14 having different capacitance values, and these capacitors 13 and 1
Selection means 15 for selectively connecting 4 between the detection probe and the common potential point, and the detection probe and the capacitors 13, 1
4 and a high input impedance amplifier 2 to which the voltage at the connection point with 4 is input, and the capacitor 1 is selected by the selecting means 15.
One of 3, 14 is selectively connected between the detection probe and the common potential point, the value of the coupling capacitance Cx is obtained from the value of the output voltage of the high input impedance amplifier 2 at that time, and the coupling capacitance Cx The value is used to measure the voltage applied to the conductor. Non-contact measurement is possible without breaking the insulation.

【0048】絶縁を破ることなく非接触で電圧を測定す
ることができるので、簡便に測定することができるとい
う効果がある。また導体部を露出する必要がなく、かつ
検出プローブの結合容量は小さいのために流れる電流は
微少なので、感電するおそれが少なく、安全に測定する
ことができるという効果もがある。
Since the voltage can be measured in a non-contact manner without breaking the insulation, there is an effect that the voltage can be easily measured. Further, it is not necessary to expose the conductor portion, and since the detection probe has a small coupling capacitance, the current that flows is very small, so there is little risk of electric shock, and there is the effect that measurement can be performed safely.

【0049】また、被測定回路である導体と検出プロー
ブで形成される結合容量を流れる電流のみで測定するこ
とができるので、従来例のように電流を流すための発振
器が不要になるために回路構成が簡単になり、またイン
ピーダンスの高い被測定回路でも正確に測定することが
できるという効果もある。
Further, since the measurement can be made only by the current flowing through the coupling capacitance formed by the conductor to be measured and the detection probe, the oscillator for flowing the current as in the conventional example becomes unnecessary, so that the circuit becomes unnecessary. There is also an effect that the configuration is simple and that even a circuit under test having high impedance can be accurately measured.

【0050】請求項3記載の発明によれば、請求項2記
載の発明において、高入力インピーダンス増幅器2とし
て、ブートストラップ回路を用いたものである。簡単に
高入力インピーダンス増幅器を構成できるという効果が
ある。
According to the invention of claim 3, in the invention of claim 2, a bootstrap circuit is used as the high input impedance amplifier 2. There is an effect that a high input impedance amplifier can be easily configured.

【0051】請求項4記載の発明によれば、導体に印加
される電圧を非接触で測定する非接触電圧測定装置であ
って、導体との間に結合容量が形成されるように配置さ
れた検出プローブと、容量値が異なる少なくとも2個の
コンデンサ13,14と、このコンデンサ13,14を
選択的に検出プローブと共通電位点に接続する選択手段
15と、検出プローブとコンデンサ13,14とで分圧
された導体に印加された電圧をデジタル信号に変換する
A/D変換器4と、このA/D変換器4の出力が入力さ
れる演算部5と、この演算部5の出力が入力される表示
部6とを有し、演算部5は入力された値から結合容量C
xの値を求め、この値から導体に印加された電圧を求め
て表示部6に表示するようにしたものである。絶縁を破
ることなく非接触で測定することができる。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a non-contact voltage measuring device for measuring a voltage applied to a conductor in a non-contact manner, the non-contact voltage measuring device being arranged so that a coupling capacitance is formed between the conductor and the conductor. The detection probe, at least two capacitors 13 and 14 having different capacitance values, selection means 15 for selectively connecting the capacitors 13 and 14 to a common potential point with the detection probe, and the detection probe and the capacitors 13 and 14. An A / D converter 4 for converting the voltage applied to the voltage-divided conductor into a digital signal, an arithmetic unit 5 to which the output of the A / D converter 4 is input, and an output of the arithmetic unit 5 are input The display unit 6 is provided, and the calculation unit 5 calculates the coupling capacitance C from the input value.
The value of x is obtained, and the voltage applied to the conductor is obtained from this value and displayed on the display unit 6. Non-contact measurement is possible without breaking the insulation.

【0052】絶縁を破ることなく非接触で電圧を測定す
ることができるので、簡便に測定することができるとい
う効果がある。また導体部を露出する必要がなく、かつ
検出プローブの結合容量は小さいのために流れる電流は
微少なので、感電するおそれが少なく、安全に測定する
ことができるという効果もがある。
Since the voltage can be measured in a non-contact manner without breaking the insulation, there is an effect that the voltage can be easily measured. Further, it is not necessary to expose the conductor portion, and since the detection probe has a small coupling capacitance, the current that flows is very small, so there is little risk of electric shock, and there is the effect that measurement can be performed safely.

【0053】また、被測定回路である導体と検出プロー
ブで形成される結合容量を流れる電流のみで測定するこ
とができるので、従来例のように電流を流すための発振
器が不要になるために回路構成が簡単になり、またイン
ピーダンスの高い被測定回路でも正確に測定することが
できるという効果もある。
Further, since the measurement can be performed only by the current flowing through the coupling capacitance formed by the conductor to be measured and the detection probe, the oscillator for flowing the current as in the conventional example is not required, so that the circuit is not necessary. There is also an effect that the configuration is simple and that even a circuit under test having high impedance can be accurately measured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例の測定結果を示す表である。FIG. 2 is a table showing the measurement results of one example of the present invention.

【図3】本発明の他の実施例を示す構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram showing another embodiment of the present invention.

【図4】従来の非接触電圧計の構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram of a conventional non-contact voltmeter.

【図5】検出プローブの構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram of a detection probe.

【図6】従来の非接触電圧計の動作原理を説明するため
の図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining the operating principle of a conventional non-contact voltmeter.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 入力部 12 結合容量 13,14 コンデンサ 15 スイッチ 2 ブートストラップ回路 3 入力回路 4 A/D変換器 5 演算部 6 表示器 1 Input section 12 coupling capacity 13, 14 capacitors 15 switch 2 Bootstrap circuit 3 input circuits 4 A / D converter 5 computing section 6 Display

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】導体に印加される電圧を非接触で測定する
非接触電圧測定方法において、 前記導体との間に結合容量が形成されるように検出部プ
ローブを配置し、この検出プローブと共通電位点との間
にコンデンサを接続してこのコンデンサと前記結合容量
とで前記導体に印加される電圧を分圧し、この分圧され
た電圧を検出するようにして、前記コンデンサの値を変
化させてそのときの分圧された電圧の値から前記結合容
量を求め、この結合容量の値から前記導体に印加された
電圧を求めるようにしたことを特徴とする非接触電圧測
定方法。
1. A non-contact voltage measuring method for measuring a voltage applied to a conductor in a non-contact manner, wherein a detection section probe is arranged so as to form a coupling capacitance with the conductor, and is common to the detection probe. A capacitor is connected between the potential point and the capacitor and the coupling capacitance to divide the voltage applied to the conductor, and the divided voltage is detected to change the value of the capacitor. The contactless voltage measuring method is characterized in that the coupling capacitance is obtained from the value of the divided voltage at that time, and the voltage applied to the conductor is obtained from the value of the coupling capacitance.
【請求項2】導体に印加される電圧を非接触で測定する
非接触電圧測定装置において、 前記導体との間に結合容量が形成されるように配置され
た検出プローブと、容量値が異なる少なくとも2個のコ
ンデンサと、これらのコンデンサを選択的に前記検出プ
ローブと共通電位点との間に接続する選択手段と、前記
検出プローブと前記コンデンサとの接続点の電圧が入力
される高入力インピーダンス増幅器とを有し、前記選択
手段によって前記コンデンサの1つを選択的に前記検出
プローブと共通電位点との間に接続し、そのときの前記
高入力インピーダンス増幅器の出力電圧の値から前記結
合容量の値を求め、この結合容量値を用いて前記導体に
印加された電圧を演算するようにしたことを特徴とする
非接触電圧測定装置。
2. A non-contact voltage measuring device for measuring a voltage applied to a conductor in a non-contact manner, the detection probe being arranged so as to form a coupling capacitance with the conductor, and at least having a different capacitance value. Two capacitors, selection means for selectively connecting these capacitors between the detection probe and the common potential point, and a high input impedance amplifier to which the voltage at the connection point between the detection probe and the capacitor is input And one of the capacitors is selectively connected between the detection probe and a common potential point by the selection means, and the coupling capacitance of the high input impedance amplifier is then calculated from the value of the output voltage of the high input impedance amplifier at that time. A non-contact voltage measuring device, wherein a value is obtained, and the voltage applied to the conductor is calculated using this coupling capacitance value.
【請求項3】前記高入力インピーダンス増幅器として、
ブートストラップ回路を用いたことを特徴とする請求項
2記載の非接触電圧測定装置。
3. The high input impedance amplifier,
The non-contact voltage measuring device according to claim 2, wherein a bootstrap circuit is used.
【請求項4】導体に印加される電圧を非接触で測定する
非接触電圧測定装置において、 前記導体との間に結合容量が形成されるように配置され
た検出プローブと、容量値が異なる少なくとも2個のコ
ンデンサと、このコンデンサを選択的に前記検出プロー
ブと共通電位点の間に接続する選択手段と、前記検出プ
ローブと前記コンデンサとで分圧された前記導体に印加
された電圧をデジタル信号に変換するA/D変換器と、
このA/D変換器の出力が入力される演算部と、この演
算部の出力が入力される表示部とを有し、前記演算部は
入力された値から前記結合容量の値を求め、この結合容
量の値から前記導体に印加された電圧を求めて前記表示
部に表示するようにしたことを特徴とする非接触電圧測
定装置。
4. A non-contact voltage measuring device for measuring a voltage applied to a conductor in a non-contact manner, wherein at least a detection probe arranged to form a coupling capacitance with the conductor has a different capacitance value. Two capacitors, a selection means for selectively connecting the capacitors between the detection probe and the common potential point, and a voltage applied to the conductor divided by the detection probe and the capacitor as a digital signal. An A / D converter for converting to
The arithmetic unit has an arithmetic unit to which the output of the A / D converter is input and a display unit to which the output of the arithmetic unit is input. The arithmetic unit obtains the value of the coupling capacitance from the input value, A non-contact voltage measuring device, characterized in that the voltage applied to the conductor is obtained from the value of the coupling capacitance and displayed on the display unit.
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