JP2003017273A - Display device and its manufacturing method - Google Patents

Display device and its manufacturing method

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JP2003017273A
JP2003017273A JP2001204407A JP2001204407A JP2003017273A JP 2003017273 A JP2003017273 A JP 2003017273A JP 2001204407 A JP2001204407 A JP 2001204407A JP 2001204407 A JP2001204407 A JP 2001204407A JP 2003017273 A JP2003017273 A JP 2003017273A
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electrode
display device
layer
light
organic
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JP2001204407A
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Japanese (ja)
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Tetsuo Nakayama
徹生 中山
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80Constructional details
    • H10K59/875Arrangements for extracting light from the devices
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    • HELECTRICITY
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a display device that is capable of display in high luminance and its manufacturing method. SOLUTION: The display device comprises a first electrode 201 made of a light reflecting material, a second electrode 108 made of a light transmission material, and an organic EL layer 107 that is pinched by these first electrode 201 and second electrode 108. A reflecting wall 202 for reflecting the emitting- light h emitted in the organic EL layer 107 toward the second electrode 201 side is provided in the surroundings of the organic EL layer 107. This reflecting wall 202 is constructed as an inner circumference wall formed in a concave shape of the first electrode 201.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、表示装置および表
示装置の製造方法に関し、特には電極間に発光層を挟持
してなる表示装置および表示装置の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a display device and a method for manufacturing the display device, and more particularly to a display device having a light emitting layer sandwiched between electrodes and a method for manufacturing the display device.

【0002】[0002]

【従来の技術】有機材料のエレクトロルミネッセンス(e
lectroluminescence:以下ELと記す)を利用した有機
EL素子は、低電圧直流駆動による高輝度発光が可能な
発光素子として注目されている。図5には、有機EL素
子のエネルギーバンド図を示す。この図に示すように、
有機EL素子はキャリア注入型の電界発光素子であり、
仕事関数の異なる陽極501と陰極503との間に、有
機EL層505を挟持してなる。有機EL層505は、
キャリア輸送性の異なる複数層からなり、例えば陽極5
01側から、正孔輸送層505a、発光層505b及び
電子輸送層505cを薄く堆積させてなる場合や、正孔
輸送層が発光層を兼ねる場合、さらには電子輸送層が発
光層を兼ねる場合もあり、少なくとも発光層を有した状
態で設計に応じて様々な形態で作製される。
2. Description of the Related Art Electroluminescence of organic materials (e
An organic EL element utilizing luminescence (hereinafter referred to as EL) is drawing attention as a light emitting element capable of high-luminance light emission by low-voltage direct current driving. FIG. 5 shows an energy band diagram of the organic EL element. As shown in this figure,
The organic EL element is a carrier injection type electroluminescent element,
An organic EL layer 505 is sandwiched between an anode 501 and a cathode 503 having different work functions. The organic EL layer 505 is
It is composed of a plurality of layers having different carrier transport properties, for example, the anode 5
When the hole transport layer 505a, the light emitting layer 505b and the electron transport layer 505c are thinly deposited from the 01 side, when the hole transport layer also serves as the light emitting layer, and when the electron transport layer also serves as the light emitting layer. Yes, it is manufactured in various forms depending on the design with at least the light emitting layer.

【0003】このような有機EL素子の発光過程は、陽
極501から注入された正孔と、陰極503から注入さ
れた電子とが、発光層505bにおいて再結合し、この
再結合に伴って励起子が生成され、この励起子が失活す
る際に光が放出される。
In the light emitting process of such an organic EL element, holes injected from the anode 501 and electrons injected from the cathode 503 are recombined in the light emitting layer 505b, and excitons are accompanied by this recombination. Is generated and light is emitted when the excitons are deactivated.

【0004】図6は、上述の有機EL素子を用いた表示
装置の一例を示す要部断面図である。この図に示す表示
装置は、各画素に薄膜トランジスタ(thin film transi
stor:以下TFTと記す)が設けられたアクティブマト
リックス型の表示装置であり、支持基板101上にはT
FT(図示省略)が形成されたTFT層102が設けら
れている。そして、このTFT層102を覆う状態で形
成された平坦化絶縁膜103上に、有機EL素子の陽極
または陰極(ここでは例えば陽極)となる第1電極10
4が形成されている。この第1電極104は、光反射性
を有する導電膜を画素毎にパターニングしてなり、平坦
化絶縁膜103に形成されたコンタクトホール(図示省
略)を介してTFTの電源と接続されている。
FIG. 6 is a cross-sectional view of an essential part showing an example of a display device using the above-mentioned organic EL element. The display device shown in this figure has a thin film transi
stor: hereinafter referred to as TFT) is an active matrix type display device, in which T is formed on the supporting substrate 101.
A TFT layer 102 on which an FT (not shown) is formed is provided. Then, the first electrode 10 serving as an anode or a cathode (for example, an anode in this case) of the organic EL element is formed on the flattening insulating film 103 formed so as to cover the TFT layer 102.
4 are formed. The first electrode 104 is formed by patterning a conductive film having light reflectivity for each pixel, and is connected to the power source of the TFT through a contact hole (not shown) formed in the planarization insulating film 103.

【0005】また、各第1電極104の周縁部分を覆う
状態で、平坦化絶縁膜103上に絶縁膜105がパター
ン形成されている。この絶縁膜105は、例えば酸化シ
リコンのような透明材料からなり、第1電極104表面
の発光に寄与する部分のみを露出させる開口部105a
が形成されている。そして、絶縁膜105の開口部10
5aから露出する第1電極104上には、有機EL層1
07が設けられている。この有機EL層107は、端縁
を絶縁膜105の開口縁部分上に重ねた状態にして設け
ることで、絶縁膜105の開口部105aから露出する
第1電極104を完全に覆う様に設けられる。尚、ここ
での図示は省略したが、図5を用いて説明したように、
有機EL層107は、少なくとも発光層を含む複数の層
で構成されることになる。また、この有機EL層107
は、基板101の上方に配置したマスク上からの蒸着に
よって形成される。
An insulating film 105 is patterned on the flattening insulating film 103 so as to cover the peripheral portion of each first electrode 104. The insulating film 105 is made of a transparent material such as silicon oxide, and has an opening 105a that exposes only a portion of the surface of the first electrode 104 that contributes to light emission.
Are formed. Then, the opening 10 of the insulating film 105
The organic EL layer 1 is formed on the first electrode 104 exposed from 5a.
07 is provided. The organic EL layer 107 is provided so that the edge is overlapped with the opening edge portion of the insulating film 105 so as to completely cover the first electrode 104 exposed from the opening 105a of the insulating film 105. . Although illustration is omitted here, as described with reference to FIG.
The organic EL layer 107 is composed of a plurality of layers including at least a light emitting layer. In addition, the organic EL layer 107
Are formed by vapor deposition on a mask arranged above the substrate 101.

【0006】そして、この有機EL層107を覆う状態
で、基板101の上方に陽極または陰極(ここでは例え
ば陰極)となる第2電極108が形成されている。この
第2電極108は、光透過性を有する導電性材料からな
り、画素に共通の電極としてベタ膜状に形成されると共
に、絶縁膜105および有機EL層107によって第1
電極104との間の絶縁性が確保されている。
A second electrode 108 serving as an anode or a cathode (here, for example, a cathode) is formed above the substrate 101 so as to cover the organic EL layer 107. The second electrode 108 is made of a conductive material having a light-transmitting property, is formed in a solid film shape as an electrode common to the pixels, and is formed by the insulating film 105 and the organic EL layer 107 as a first electrode.
Insulation with the electrode 104 is secured.

【0007】このように構成された表示装置6において
は、第2電極108に電圧を印加し、さらにTFT層1
02に形成されたTFTの駆動によって各画素の第1電
極104に電圧を印加することによって、TFTで選択
された各画素の有機EL層107で発光光hが生じ、こ
の発光光hが光透過性材料からなる第2電極108側か
ら取り出されることになる。
In the display device 6 thus constructed, a voltage is applied to the second electrode 108, and the TFT layer 1
By applying a voltage to the first electrode 104 of each pixel by driving the TFT formed on the TFT 02, emitted light h is generated in the organic EL layer 107 of each pixel selected by the TFT, and this emitted light h is transmitted. It is taken out from the second electrode 108 side made of a conductive material.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した構
成の表示装置6に設けられている有機EL素子において
は、有機EL層107中の発光層における電子と正孔と
の再結合によって一重項励起子と三重項励起子とが発生
するが、このうち発光に寄与する一重項励起子の生成効
率、すなわち注入された電荷に対する内部量子効率は2
5%程度である。また、発光層において生成された発光
光hは、全方向に等方的に放出される。このため、上述
したように絶縁膜105が透明材料からなる場合には、
図中鎖線矢印に示すように有機EL層107の面方向に
平行に放出された発光光h’は、そのまま有機EL層1
07の周囲に配置された絶縁膜105中に侵入して漏れ
光となる。したがって、発光層において生成された発光
光h,h’のうち、実際の外部に放出されて表示に寄与
する発光光hの取り出し効率(いわゆる外部量子効率)
は20%程度である。つまり、有機EL素子を用いた表
示装置においては、電荷の注入に対する量子効率は5%
程度にすぎない。
By the way, in the organic EL element provided in the display device 6 having the above-described structure, singlet excitation is caused by recombination of electrons and holes in the light emitting layer of the organic EL layer 107. And triplet excitons are generated, of which the generation efficiency of singlet excitons that contribute to light emission, that is, the internal quantum efficiency for injected charges is 2
It is about 5%. Further, the emitted light h generated in the light emitting layer is isotropically emitted in all directions. Therefore, when the insulating film 105 is made of a transparent material as described above,
The emission light h ′ emitted parallel to the surface direction of the organic EL layer 107 as shown by the chain line arrow in the figure is the organic EL layer 1 as it is.
07 penetrates into the insulating film 105 arranged around and becomes leakage light. Therefore, out of the emitted light h, h ′ generated in the light emitting layer, the extraction efficiency of the emitted light h that is actually emitted to the outside and contributes to the display (so-called external quantum efficiency).
Is about 20%. That is, in the display device using the organic EL element, the quantum efficiency for charge injection is 5%.
It's just a degree.

【0009】このような有機EL素子を用いた表示装置
において、輝度の向上を図るためには、電極間に流す電
流を大きくすることで一重項励起子の生成量を増加させ
ることが有効になる。しかし、有機EL素子に流す電流
値を大きくするほど、有機EL層107の劣化が速めら
れ、表示装置の寿命が短くなると言った問題が発生す
る。
In a display device using such an organic EL element, in order to improve the brightness, it is effective to increase the amount of singlet excitons generated by increasing the current flowing between the electrodes. . However, there is a problem in that the larger the value of the current passed through the organic EL element, the faster the deterioration of the organic EL layer 107 and the shorter the life of the display device.

【0010】そこで本発明は、電流値を増加させること
なく発光光の取り出し効率(外部量子効率)の向上を図
り、これによって表示装置の寿命を確保しつつ輝度の向
上を図ることが可能な表示装置およびその製造方法を提
供することを目的とする。
Therefore, according to the present invention, the efficiency of extracting emitted light (external quantum efficiency) is improved without increasing the current value, whereby the display can be improved in luminance while ensuring the life of the display device. An object of the present invention is to provide a device and a manufacturing method thereof.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るための本発明の表示装置は、光反射材料からなる第1
電極と、光透過性材料からなる第2電極と、これらの第
1電極及び第2電極間に挟持された発光層とを備えた表
示装置において、発光層の周囲に、この発光層で生じた
光を第2電極側に反射するための反射壁面を設けたこと
を特徴としている。この反射壁面は、第1電極の一部と
して構成されていることとする。
The display device of the present invention for solving the above-mentioned problems includes a first light-reflecting material.
In a display device including an electrode, a second electrode made of a light transmissive material, and a light emitting layer sandwiched between the first electrode and the second electrode, the light emitting layer is formed around the light emitting layer. It is characterized in that a reflective wall surface for reflecting light to the second electrode side is provided. This reflection wall surface is assumed to be configured as a part of the first electrode.

【0012】このような構成の表示装置では、発光層で
生じて全方向に放出される発光光のうち、当該発光層の
面方向に放出された光は、発光層の周囲に配置された反
射壁面で第2電極側に反射されるようになる。このた
め、上述した方向に放出された発光光は、第2電極側に
放出された発光光や、光反射材料からなる第1電極側に
放出されて当該第1電極で反射された発光光と共に、光
透過性材料からなる第2電極側から取り出されることに
なる。したがって、発光層で生じた発光光の第2電極側
からの取り出し効率(外部量子効率)が向上する。
In the display device having such a structure, of the emitted light generated in the light emitting layer and emitted in all directions, the light emitted in the surface direction of the light emitting layer is reflected by the light emitting layer. It is reflected by the wall surface toward the second electrode. Therefore, the emitted light emitted in the above-mentioned direction is emitted together with the emitted light emitted to the second electrode side and the emitted light emitted to the first electrode side made of the light reflecting material and reflected by the first electrode. , Is taken out from the side of the second electrode made of a light transmissive material. Therefore, the extraction efficiency (external quantum efficiency) of the emitted light generated in the light emitting layer from the second electrode side is improved.

【0013】また本発明は、このような表示装置の製造
方法でもあり、光反射性材料からなる第1電極の表面に
順テーパ形状の内周面を有する凹部を形成し、この第1
電極の凹部内に発光層を形成し、この発光層上に第1電
極との間の絶縁性を保った状態で光透過性材料からなる
第2電極を形成することを特徴としている。第1電極に
凹部を形成する際には、レジストパターンをマスクにし
て当該第1電極を等方的にエッチングすることとする。
The present invention is also a method of manufacturing such a display device, in which a concave portion having a forward tapered inner peripheral surface is formed on the surface of the first electrode made of a light-reflecting material.
It is characterized in that a light emitting layer is formed in the recess of the electrode, and a second electrode made of a light transmissive material is formed on the light emitting layer while maintaining insulation between the light emitting layer and the first electrode. When forming the recess in the first electrode, the first electrode is isotropically etched using the resist pattern as a mask.

【0014】このような製造方法では、第1電極の凹部
内に発光層を形成するため、発光層の周囲には、第1電
極の側周壁の内周面が配置されることになる。この内周
面は、順テーパ形状であるため、発光層上に形成された
第2電極側に向けられることになる。また、第1電極
は、光反射性材料からなるため、この内周面は、発光層
で生じた光を第2電極側に反射するための反射壁面とな
る。
In such a manufacturing method, since the light emitting layer is formed in the recess of the first electrode, the inner peripheral surface of the side peripheral wall of the first electrode is arranged around the light emitting layer. Since this inner peripheral surface has a forward tapered shape, it is directed toward the second electrode formed on the light emitting layer. Moreover, since the first electrode is made of a light-reflecting material, the inner peripheral surface serves as a reflection wall surface for reflecting the light generated in the light emitting layer to the second electrode side.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明の表示装置の製造方
法および表示装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に
説明する。尚、本実施形態においては、一例として、図
1に示すように、支持基板101上に発光素子として有
機EL素子が配列形成され、有機EL素子が形成された
各発光部1aからの発光光hを支持基板101とは反対
側から取り出す上面発光方式の表示装置のうち、特に各
発光部1aが配置された画素毎にTFTを設けたアクテ
ィブマトリックス型の駆動方式の表示装置に本発明を適
用した場合を説明する。しかし、本発明は、発光素子と
して有機EL素子を用いたものに限定されることはな
く、例えば無機電界発光素子のような自発光型の発光素
子を用いた表示装置に広く適用可能である。また、表示
方式も上面発光方式に限定されず、支持基板101側か
ら発光光を取り出す透過方式でも良く、さらに駆動方式
もアクティブマトリック方式に限定されることはなく、
パッシブ方式でも良い。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of a method for manufacturing a display device and a display device according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. Note that, in the present embodiment, as an example, as shown in FIG. 1, organic EL elements as light emitting elements are formed in an array on the supporting substrate 101, and emitted light h from each light emitting portion 1a on which the organic EL elements are formed is emitted. The present invention is applied to an active matrix drive type display device in which a TFT is provided for each pixel in which each light emitting portion 1a is arranged, among the top emission type display device in which is taken out from the side opposite to the supporting substrate 101. The case will be described. However, the present invention is not limited to the one using an organic EL element as a light emitting element, and is widely applicable to a display device using a self-luminous light emitting element such as an inorganic electroluminescent element. The display method is not limited to the top emission method, and may be a transmission method in which emitted light is extracted from the supporting substrate 101 side, and the drive method is not limited to the active matrix method.
Passive method is also acceptable.

【0016】また、説明に用いる各図においては、この
発明を理解できる程度に、その寸法、形状及び配置関係
を概略的に示しており、同様の構成成分については同一
の番号を付けて示し、その重複する説明を省略する。さ
らに、以下の説明中で挙げる使用材料及びその量、処理
時間、処理温度、膜厚などの数値的条件は、この発明の
範囲内の好適例に過ぎない。従って、この出願による発
明は、これら条件にのみ限定されるものではない。
Further, in each of the drawings used for the description, the dimensions, shapes and arrangement relationships thereof are schematically shown to the extent that the present invention can be understood, and the same components are denoted by the same reference numerals. The overlapping description will be omitted. Furthermore, the materials used and the numerical conditions such as the amount thereof, the treatment time, the treatment temperature, and the film thickness mentioned in the following description are only preferable examples within the scope of the present invention. Therefore, the invention according to this application is not limited only to these conditions.

【0017】図2は、本発明の表示装置の一例を示す要
部概略断面図であり、図3は図2の要部拡大断面図であ
る。尚、これらの図に示す表示装置1において、図6を
用いて説明した従来の表示装置と同様の構成要素には同
一の符号を付し、重複する説明は省略する。
FIG. 2 is a schematic sectional view of an essential part showing an example of the display device of the present invention, and FIG. 3 is an enlarged sectional view of the essential part of FIG. In the display device 1 shown in these figures, the same components as those of the conventional display device described with reference to FIG. 6 are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

【0018】これらの図に示す表示装置1と、図6を用
いて説明した従来の表示装置との異なるところは、第1
電極201の形状にあり、その他の構成要素は従来の表
示装置と同様であることとする。
The difference between the display device 1 shown in these figures and the conventional display device described with reference to FIG.
It is assumed that the electrode 201 has a shape and other components are similar to those of the conventional display device.

【0019】第1電極201は、光反射材料膜を画素毎
にパターニングしてなり、特にその周縁部分が全周に亘
って支持基板101と反対側に突出する側壁形状に成形
されている。つまり、第1電極201は、側周壁部分を
有する凹状に成形されている。また、第1電極201の
側周壁部分の内周面は、第1電極201の凹状の開口幅
がその底部に向かって徐々に狭められるような順テーパ
形状に成形され、反射壁面202として構成されてい
る。尚、第1電極201の周縁部分は、全周に亘って支
持基板101と反対側に突出する側壁形状に成形されて
いることが好ましいが、これに限定されることなく、一
部の周縁が支持基板101と反対側に突出する側壁形状
に成形されていても良い。
The first electrode 201 is formed by patterning a light-reflecting material film on a pixel-by-pixel basis. In particular, the peripheral portion of the first electrode 201 is formed into a sidewall shape projecting to the side opposite to the support substrate 101 over the entire circumference. That is, the first electrode 201 is formed in a concave shape having a side peripheral wall portion. Further, the inner peripheral surface of the side peripheral wall portion of the first electrode 201 is formed in a forward taper shape such that the concave opening width of the first electrode 201 is gradually narrowed toward the bottom thereof, and is configured as a reflection wall surface 202. ing. The peripheral portion of the first electrode 201 is preferably formed into a side wall shape projecting to the side opposite to the support substrate 101 over the entire circumference, but the present invention is not limited to this, and a part of the peripheral edge may be formed. It may be formed in a side wall shape protruding to the side opposite to the support substrate 101.

【0020】また、この第1電極201を構成する光反
射性材料としては、クロム(Cr)、等を好適に用いる
ことができる。そして、この第1電極201が陽極とし
て用いられる場合には、このような光反射性材料のうち
仕事関数が高い材料が選択され、第1電極201が陰極
として用いられる場合には、仕事関数の低い材料が選択
されることになる。
As the light-reflecting material forming the first electrode 201, chromium (Cr) or the like can be preferably used. Then, when the first electrode 201 is used as an anode, a material having a high work function is selected from such light reflecting materials, and when the first electrode 201 is used as a cathode, Lower materials will be selected.

【0021】このように成形された第1電極201の周
囲を覆う絶縁膜105は、例えば第1電極201の側周
壁部分を含む当該第1電極201の周縁を覆うと共に、
凹状の第1電極201の底部を露出させる開口部105
aを備えている。尚、好ましくは、開口部105aの底
部側の開口縁が、第1電極201の凹状底部に達してい
ることとする。これにより、次に説明する有機EL層1
07の端縁が絶縁膜105の端縁上に途切れることなく
重ねられ易くなる。
The insulating film 105 covering the periphery of the first electrode 201 formed in this manner covers the periphery of the first electrode 201 including the side peripheral wall portion of the first electrode 201, and
Opening 105 for exposing the bottom of the concave first electrode 201
a. In addition, it is preferable that the bottom edge of the opening 105a reaches the concave bottom of the first electrode 201. As a result, the organic EL layer 1 described next
The edge of 07 is easily overlapped on the edge of the insulating film 105 without interruption.

【0022】そして、この開口部105aから露出する
第1電極201上に、少なくとも発光層を含む有機EL
層107が設けられている。つまり、この有機EL層1
07を囲む状態で、第1電極201の側周壁部分の内周
面で構成される反射壁面202が配置されることにな
る。尚、上述したように、この有機EL層107は、そ
の端縁が絶縁膜105の端縁上に重ねられた状態で設け
られていることとする。
The organic EL including at least a light emitting layer is formed on the first electrode 201 exposed from the opening 105a.
A layer 107 is provided. That is, this organic EL layer 1
The reflective wall surface 202 formed of the inner peripheral surface of the side peripheral wall portion of the first electrode 201 is arranged so as to surround 07. Note that, as described above, the organic EL layer 107 is provided so that its edge is overlapped with the edge of the insulating film 105.

【0023】また、以上のような第1電極202が設け
られた支持基板101上に、絶縁膜105および有機膜
107によって、第1電極202との絶縁性が確保され
た状態で、光透過性材料からなる第2電極108が設け
られている。この第2電極108を構成する光透過性材
料としては、例えばこの第2電極108が陰極として用
いられる場合には、Mg−Ag(マグネシウム−銀)の
ような仕事関数の低い材料が選択され、第2電極108
が陽極として用いられる場合には、ITO(Indium Tin
Oxide)のような仕事関数の高い材料が選択される。
Further, on the support substrate 101 having the first electrode 202 as described above, the insulating film 105 and the organic film 107 ensure light insulation with respect to the first electrode 202. A second electrode 108 made of a material is provided. As the light transmissive material forming the second electrode 108, for example, when the second electrode 108 is used as a cathode, a material having a low work function such as Mg-Ag (magnesium-silver) is selected, Second electrode 108
When used as an anode, ITO (Indium Tin
A material with a high work function such as Oxide) is selected.

【0024】ここで、第1電極201の反射壁面202
のテーパ形状は、有機EL層107で発生してこの反射
面202に入射された発光光を、第2電極108側に反
射するような角度に成形されていることとする。また、
有機EL層107で発生して有機EL層107の面方向
に放出された発光光hが、有効に第2電極108側に反
射されるように、反射壁面202の高さt1は、有機E
L層107の膜厚t2と同程度かそれよりも大きいこと
とする。例えば有機EL層107の膜厚t2が100n
m程度である場合、反射壁面202の高さt1は100
nm以上に設定され、ここでは一例として200nmに
設定されていることとする。
Here, the reflection wall surface 202 of the first electrode 201
The taper shape is formed at an angle so that the emitted light which is generated in the organic EL layer 107 and is incident on the reflecting surface 202 is reflected to the second electrode 108 side. Also,
The height t1 of the reflection wall surface 202 is such that the emitted light h generated in the organic EL layer 107 and emitted in the surface direction of the organic EL layer 107 is effectively reflected to the second electrode 108 side.
It is assumed that the film thickness is equal to or larger than the film thickness t2 of the L layer 107. For example, the film thickness t2 of the organic EL layer 107 is 100 n
When it is about m, the height t1 of the reflection wall surface 202 is 100.
It is set to be equal to or larger than nm, and here, as an example, it is set to be 200 nm.

【0025】尚、反射壁面202のテーパ形状が、第1
電極材料を上方から等方的にエッチングすることで得ら
れた形状である場合、反射壁面202のテーパ角度は一
定ではなく深さ方向で変化する。このため、反射壁面2
02の高さt1を適切に選択することで、有機EL層1
07で発生して有機EL層107の面方向に放出された
発光光hが、有効に第2電極108側に反射されるよう
に設定することとする。
The taper shape of the reflection wall surface 202 is the first
In the case of the shape obtained by isotropically etching the electrode material from above, the taper angle of the reflection wall surface 202 is not constant but changes in the depth direction. Therefore, the reflection wall surface 2
By appropriately selecting the height t1 of 02, the organic EL layer 1
The emitted light h generated in 07 and emitted in the surface direction of the organic EL layer 107 is set to be effectively reflected to the second electrode 108 side.

【0026】このような構成の表示装置1においては、
第1電極201と第2電極108とで有機EL層107
を直接挟持している部分が発光部1aとなる。そして、
この表示装置1では、有機EL層107の発光層(図示
省略)で生じて全方向に放出される発光光h、h’のう
ち、図3中鎖線で示すように有機EL層107の面方向
と平行に放出された光h’は、有機EL層107の周囲
に配置された反射壁面202で第2電極108側に反射
されるようになる。このため、上述した方向に放出され
た発光光h’は、第2電極108側に放出された発光光
hや、光反射材料からなる第1電極201側に放出され
て第1電極201で反射された発光光hと共に、光透過
性材料からなる第2電極108から取り出されることに
なる。したがって、反射壁面202が設けられていない
表示装置と比較して、有機EL層107の発光層で生じ
た発光光h,h’の第2電極108側からの取り出し効
率(外部量子効率)を向上させることが可能になる。
In the display device 1 having such a structure,
The organic EL layer 107 includes the first electrode 201 and the second electrode 108.
The portion that directly sandwiches is the light emitting portion 1a. And
In the display device 1, of the emitted light h, h ′ generated in the light emitting layer (not shown) of the organic EL layer 107 and emitted in all directions, as shown by the chain line in FIG. The light h ′ emitted in parallel with is reflected by the reflection wall surface 202 arranged around the organic EL layer 107 toward the second electrode 108 side. Therefore, the emitted light h ′ emitted in the above-described direction is emitted to the second electrode 108 side or emitted to the first electrode 201 side made of a light reflecting material and reflected by the first electrode 201. The emitted light h is extracted from the second electrode 108 made of a light transmissive material. Therefore, the extraction efficiency (external quantum efficiency) of the emitted light h, h ′ generated in the light emitting layer of the organic EL layer 107 from the second electrode 108 side is improved as compared with the display device in which the reflective wall surface 202 is not provided. It is possible to let

【0027】特に、画素毎にパターニングされた第1電
極201の周縁部分が、全周に亘って支持基板101と
反対側に突出させた側壁形状に成形されている場合に
は、有機EL層107の面方向の全方向に放出された光
h’が第2電極108側に反射されることになるため、
有機EL層107の発光層で生じた発光光h、h’を最
も有効に第2電極108側から取り出すことが可能にな
る。
In particular, when the peripheral portion of the first electrode 201 patterned for each pixel is formed in a side wall shape projecting to the side opposite to the support substrate 101 over the entire circumference, the organic EL layer 107. Since the light h ′ emitted in all the surface directions of is reflected on the second electrode 108 side,
It becomes possible to most effectively take out the emitted lights h and h ′ generated in the light emitting layer of the organic EL layer 107 from the second electrode 108 side.

【0028】以上の結果、電流値を上昇させることな
く、すなわち有機EL層の劣化を早めることなく、より
高輝度の表示を行うことが可能になる。また、より低い
電流値での駆動によってある程度の輝度を確保すること
が可能になるため、有機EL層の劣化を抑えることがで
き、表示装置の長寿命化を達成することが可能になる。
As a result of the above, it is possible to perform display with higher brightness without increasing the current value, that is, without accelerating the deterioration of the organic EL layer. In addition, since it is possible to secure a certain level of brightness by driving with a lower current value, it is possible to suppress deterioration of the organic EL layer and to achieve a longer life of the display device.

【0029】次に、これらの図2および図3を用いて説
明した構成の表示装置の製造手順を、本発明の表示装置
の製造方法の一例として説明する。
Next, the procedure for manufacturing the display device having the structure described with reference to FIGS. 2 and 3 will be described as an example of the method for manufacturing the display device of the present invention.

【0030】まず、図4(1)に示すように、例えば石
英ガラスからなる支持基板101上に、ここでの図示を
省略したTFTを形成してなるTFT層102を設け、
このTFT層102の上部を平坦化絶縁膜103で覆
う。次いで、レジストを塗布し、露光・現像するリソグ
ラフィ法によって形成したレジストパターンをマスクに
用いて平坦化絶縁膜103をエッチングし、ここでの図
示を省略したコンタクトホールを、各画素に設けられた
TFTに達する状態で平坦化絶縁膜103に形成する。
First, as shown in FIG. 4A, a TFT layer 102 formed by forming TFTs (not shown here) is provided on a supporting substrate 101 made of, for example, quartz glass,
The upper portion of the TFT layer 102 is covered with the flattening insulating film 103. Then, the flattening insulating film 103 is etched using a resist pattern formed by a lithography method of applying resist, exposing and developing as a mask, and contact holes not shown here are formed in the TFTs provided in each pixel. Is formed on the planarization insulating film 103.

【0031】その後、この平坦化絶縁膜103上に、陽
極または陰極となる第1電極を形成するための導電膜2
01aを形成する。ここでは、第1電極を陽極として構
成することとし、例えばCr(クロム)膜等のように仕
事関数が高く、光反射性を有する材料からなる導電膜2
01aを成膜する。この導電膜201は、例えばスパッ
タリング法によって成膜される。また、導電膜201a
の膜厚t3は、第1電極として必要な膜厚と、この第1
電極の一部として構成される反射壁面として必要な高さ
とを合わせた値に設定され、ここでは、例えば300n
mの膜厚に設定されることとする。
After that, a conductive film 2 for forming a first electrode to be an anode or a cathode is formed on the flattening insulating film 103.
01a is formed. Here, the first electrode is configured as an anode, and the conductive film 2 made of a material having a high work function and light reflectivity, such as a Cr (chrome) film, is used.
01a is formed into a film. The conductive film 201 is formed by, for example, a sputtering method. In addition, the conductive film 201a
The film thickness t3 of the first electrode is
It is set to a value that is combined with the height required as a reflection wall surface configured as a part of the electrode, and here, for example, 300 n
The film thickness is set to m.

【0032】次いで、この導電膜201a上に、リソグ
ラフィ法によりレジストパターン(図示省略)を形成す
る。そして、このレジストパターンをマスクに用いたエ
ッチングによって、導電膜201aをパターニングす
る。この際、各導電膜201aは、各画素形状にパター
ニングされ、同様に各画素に設けられたTFTに対し
て、層間絶縁膜103に形成されたコンタクトホール
(図示省略)を介してそれぞれが接続される状態で形成
されることとする。
Next, a resist pattern (not shown) is formed on the conductive film 201a by a lithography method. Then, the conductive film 201a is patterned by etching using this resist pattern as a mask. At this time, each conductive film 201a is patterned in each pixel shape, and each TFT is similarly connected to a TFT provided in each pixel through a contact hole (not shown) formed in the interlayer insulating film 103. It will be formed in the state of

【0033】次に、図4(2)に示すように、導電膜2
01aがパターン形成された支持基板101上に、リソ
グラフィ工程によりレジストパターン301を形成す
る。このレジストパターン301は、導電膜201aの
周縁を覆うと共に、導電膜201a上に導電膜201a
よりも一回り小さい形状の開口部301aを有している
こととする。
Next, as shown in FIG. 4B, the conductive film 2
A resist pattern 301 is formed by a lithography process on the support substrate 101 on which 01a is patterned. The resist pattern 301 covers the periphery of the conductive film 201a and is formed on the conductive film 201a.
It is assumed that the opening portion 301a has a shape smaller than that of the opening portion 301a.

【0034】その後、図4(3)に示すように、レジス
トパターン301をマスクにして、導電膜201aを等
方的にエッチングする。この際、導電膜201aの膜厚
t3よりもエッチング深さが浅くなるように、すなわち
エッチング底面に導電膜201aを残すハーフエッチン
グを行う。ここでは、エッチング深さを200nm程度
とし、エッチング底部に膜厚100nmの導電膜201
aを残すこととする。
After that, as shown in FIG. 4C, the conductive film 201a is isotropically etched using the resist pattern 301 as a mask. At this time, half etching is performed so that the etching depth is smaller than the film thickness t3 of the conductive film 201a, that is, the conductive film 201a is left on the etching bottom surface. Here, the etching depth is about 200 nm, and the conductive film 201 having a film thickness of 100 nm is formed on the bottom of the etching.
Let's leave a.

【0035】以上のような等方的なエッチングによっ
て、導電膜201aの上面側に凹部を設けた凹状の第1
電極201を得る。この第1電極201は、周縁を全周
に亘って上方に突出させた側壁部分を備え、この側壁部
分の内周面が順テーパ形状の反射壁面202となる。
By the isotropic etching as described above, the first concave portion having a concave portion on the upper surface side of the conductive film 201a is formed.
The electrode 201 is obtained. The first electrode 201 has a side wall portion whose peripheral edge is projected upward over the entire circumference, and the inner peripheral surface of the side wall portion serves as a forward tapered reflection wall surface 202.

【0036】尚、この等方的なエッチングは、導電膜2
01aのエッチング表面、すなわち第1電極201の表
面に対してエッチングダメージが加わることを小さく抑
えるため、ウェットエッチングを行うことが好ましい。
このためここでは、例えばエッチング溶液に三洋化成工
業(株)製「ETCH−1」(商品名)を用い、Crか
らなる導電膜201aをウェットエッチングする。
The isotropic etching is performed by the conductive film 2
It is preferable to perform wet etching in order to suppress the etching damage to the etching surface of 01a, that is, the surface of the first electrode 201.
Therefore, here, for example, "ETCH-1" (trade name) manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd. is used as an etching solution, and the conductive film 201a made of Cr is wet-etched.

【0037】以上の後、図4(4)に示すように、第1
電極201が形成された支持基板101上に、絶縁膜1
05をパターン形成する。この絶縁膜105は、例えば
酸化シリコン(SiO2)からなり、第1電極201の
反射壁面202を含む第1電極201の周縁を覆うと共
に、第1電極201の底面部分を露出させる開口部10
5aを備えていることとする。
After the above, as shown in FIG. 4 (4), the first
The insulating film 1 is formed on the supporting substrate 101 on which the electrode 201 is formed.
05 is patterned. The insulating film 105 is made of, for example, silicon oxide (SiO 2 ), covers the peripheral edge of the first electrode 201 including the reflection wall surface 202 of the first electrode 201, and exposes the bottom surface portion of the first electrode 201.
5a.

【0038】このような形状の絶縁膜105を形成する
場合には、先ず、CVD(chemicalvapor deposition)
法によって、支持基板101の上方に800nmの膜厚
の酸化シリコンからなる絶縁膜105を成膜する。尚、
絶縁膜105の膜厚は、絶縁膜105を構成する材料に
よって、第1電極201と以降に説明する第2電極との
絶縁性が十分に確保できる値が適宜選択されることとす
る。
When the insulating film 105 having such a shape is formed, first, CVD (chemical vapor deposition) is performed.
By the method, an insulating film 105 made of silicon oxide and having a film thickness of 800 nm is formed above the supporting substrate 101. still,
The film thickness of the insulating film 105 is appropriately selected depending on the material forming the insulating film 105 so that the insulating property between the first electrode 201 and the second electrode described below can be sufficiently ensured.

【0039】次に、絶縁膜105上に、リソグラフィ法
によってここでの図示を省略したレジストパターンを形
成する。その後、このレジストパターンをマスクに用い
て絶縁膜105を等方的にエッチングする。このエッチ
ングは、第1電極201に対してエッチングのダメージ
が加わることを小さく抑えるため、ウェットエッチング
を行うことが好ましい。このためここでは、フッ酸(H
F)水溶液とフッ化アンモニウム(NH4F)水溶液と
の混酸をエッチング溶液に用いて、酸化シリコンからな
る絶縁膜105をウェットエッチングする。これによっ
て、絶縁膜105に第1電極201に達する開口部10
5aを形成する。
Next, a resist pattern (not shown here) is formed on the insulating film 105 by a lithography method. After that, the insulating film 105 is isotropically etched by using this resist pattern as a mask. This etching is preferably wet etching in order to suppress damage to the first electrode 201 due to etching. Therefore, here, hydrofluoric acid (H
F) The insulating film 105 made of silicon oxide is wet-etched using a mixed acid of an aqueous solution and an ammonium fluoride (NH 4 F) aqueous solution as an etching solution. As a result, the opening 10 reaching the first electrode 201 is formed in the insulating film 105.
5a is formed.

【0040】その後、洗浄の済んだ支持基板101を、
有機EL層形成用の真空蒸着装置内に設置する。そし
て、支持基板101上に、ここでの図示を省略した蒸着
マスクを載置する。この蒸着マスクは、例えばストライ
プ状の開口部を有し、この開口部が開口部105a上に
重ね合わされ、かつ蒸着マスクの開口部内に絶縁膜10
5に形成した開口部105aが確実に収められるよう
に、支持基板101の上方に配置される。
Thereafter, the washed support substrate 101 is
It is installed in a vacuum vapor deposition device for forming an organic EL layer. Then, a vapor deposition mask, not shown here, is placed on the support substrate 101. This vapor deposition mask has, for example, a stripe-shaped opening, the opening is superposed on the opening 105a, and the insulating film 10 is provided in the opening of the vapor deposition mask.
It is arranged above the support substrate 101 so that the opening 105a formed in 5 can be surely accommodated.

【0041】この状態で、真空蒸着法により正孔輸送層
となるトリフェニルアミン誘導体(N,N−ジフェニル
−N,N−ビス(3−メチルフェニル)−1,1−ビフ
ェニル−4,4−ジアミン:TPD)を膜厚50nm程
度になるように蒸着形成する。
In this state, a triphenylamine derivative (N, N-diphenyl-N, N-bis (3-methylphenyl) -1,1-biphenyl-4,4-, which serves as a hole transport layer by vacuum deposition, is formed. Diamine: TPD) is formed by vapor deposition to a film thickness of about 50 nm.

【0042】引き続き同じ蒸着装置内において、電子輸
送性発光層となるアルミキノリノール錯体(トリス(8
−ヒドロキシキノリノール)アルミニウム:Alq3)
を膜厚50nmになるように蒸着形成する。
Subsequently, in the same vapor deposition apparatus, an aluminum quinolinol complex (tris (8
-Hydroxyquinolinol) aluminum: Alq3)
Is vapor-deposited to a film thickness of 50 nm.

【0043】尚ここで、「正孔輸送層」とは、仕事関数
が大きな正孔注入電極(陽極)から多量の正孔が注入可
能で、しかも注入された正孔が膜中を移動できる一方、
電子の注入は困難であるか、注入は可能であっても膜中
を移動し難いような性質を持った薄膜層であることとす
る。また、「電子輸送層」とは、仕事関数が小さな電子
注入電極(陰極)から多量の電子が注入可能で、しかも
注入された電子が膜中を移動できる一方、正孔の注入は
困難であるか、注入は可能であっても膜中を移動し難い
ような性質を持った薄膜層であることとする。尚、第1
電極104を陰極として形成した場合には、有機EL層
111を構成する正孔輸送層、電子輸送層、発光層など
は適宜選択された順序で積層されるることとする。
Here, the "hole transport layer" means that a large number of holes can be injected from the hole injection electrode (anode) having a large work function, and the injected holes can move in the film. ,
It is assumed that the thin film layer has a property that it is difficult to inject electrons, or it is possible to inject electrons but it is difficult to move in the film. The "electron transport layer" is capable of injecting a large amount of electrons from an electron injecting electrode (cathode) having a small work function, and the injected electrons can move through the film, but it is difficult to inject holes. Alternatively, it is assumed that the thin film layer has a property that it is difficult to move in the film even if it can be injected. The first
When the electrode 104 is formed as a cathode, the hole transport layer, the electron transport layer, the light emitting layer, and the like that form the organic EL layer 111 are laminated in an appropriately selected order.

【0044】以上によって、正孔輸送層と電子輸送性発
光層とを積層してなる、膜厚100nmの有機EL層1
07を形成する。この有機EL層107は、絶縁膜10
5の開口部105a底面において第1電極201と接す
る状態で、この第1電極201の凹状底面に積層形成さ
れる。そして、有機EL層107の周囲には、第1電極
201の側壁部分が配置されることになる。
As described above, the organic EL layer 1 having a film thickness of 100 nm is formed by laminating the hole transport layer and the electron transport light emitting layer.
07 is formed. The organic EL layer 107 is the insulating film 10
5 is laminated on the concave bottom surface of the first electrode 201 so as to be in contact with the first electrode 201 on the bottom surface of the opening 105a. Then, the side wall portion of the first electrode 201 is arranged around the organic EL layer 107.

【0045】次に、支持基板101上から蒸着マスクを
取り除いた後、有機EL層107上に真空蒸着法(例え
ば抵抗加熱蒸着法)によって、ベタ膜状の第2電極10
8を形成する。この第2電極108は、陽極または陰極
となるもので、第1電極201が陽極の場合は陰極とし
て形成され、第1電極201が陰極の場合は陽極として
形成される。ここでは、第1電極201を陽極として構
成したことから、第2電極108は、仕事関数の低い材
料からなる陰極として構成され、例えばMg−Ag(マ
グネシウムと銀との合金)のように仕事関数が低く、光
透過性を有する材料を用いることとする。
Next, after removing the vapor deposition mask from the support substrate 101, the second electrode 10 in the form of a solid film is formed on the organic EL layer 107 by vacuum vapor deposition (for example, resistance heating vapor deposition).
8 is formed. The second electrode 108 serves as an anode or a cathode. When the first electrode 201 is an anode, it is formed as a cathode, and when the first electrode 201 is a cathode, it is formed as an anode. Here, since the first electrode 201 is configured as an anode, the second electrode 108 is configured as a cathode made of a material having a low work function, and has a work function such as Mg-Ag (alloy of magnesium and silver). Therefore, a material having low light transmittance and light transmittance is used.

【0046】以上のようにして、画素毎に、陽極となる
第1電極201と陰極となる第2電極108との間に有
機EL層107を挟持してなる発光素子(有機EL素
子)109を形成する。また、ここでの図示は省略した
が、発光素子109形成後に、有機EL層107の劣化
を防止するための発光素子109の封止工程を行う。
As described above, the light emitting element (organic EL element) 109 in which the organic EL layer 107 is sandwiched between the first electrode 201 serving as the anode and the second electrode 108 serving as the cathode is provided for each pixel. Form. Although illustration is omitted here, after the light emitting element 109 is formed, a sealing step of the light emitting element 109 for preventing the deterioration of the organic EL layer 107 is performed.

【0047】以上によって、図2および図3を用いて説
明した構成の表示装置1が得られる。このような製造方
法によれば、マスク工程とエッチング工程とを追加する
だけで、有機EL層107で生じた発光光hを第2電極
108側に反射するための反射壁面202を、有機EL
層107の周囲に設けた表示装置1が得られる。このた
め、部品点数を増加させることなく、すなわち製造コス
トの上昇を最小限に抑えて、上述した構成の表示装置1
を得ることが可能になるのである。
As described above, the display device 1 having the configuration described with reference to FIGS. 2 and 3 is obtained. According to such a manufacturing method, the reflective wall surface 202 for reflecting the emitted light h generated in the organic EL layer 107 to the second electrode 108 side can be formed only by adding a mask step and an etching step.
The display device 1 provided around the layer 107 is obtained. Therefore, without increasing the number of parts, that is, the increase in manufacturing cost is suppressed to the minimum, the display device 1 having the above-described configuration is provided.
It becomes possible to obtain

【0048】尚、以上の実施形態においては、発光素子
の構成を単色の有機EL素子にしているが、有機EL層
の形成工程を複数回繰り返す事によりRGBの揃ったフ
ルカラーの有機EL素子を用いたディスプレイにも適用
できる。また、以上の実施形態では、支持基板101上
にTFT(thin film transistor)を設け、このTFT
に第1電極を接続させたアクティブマトリックス型の表
示装置に本発明を適用した場合を説明した。このため、
第2電極108はベタ膜として形成した。しかし本発明
は、これに限定されることはなく、例えばストライプ状
に配列形成された第1電極に対して複数本の第2電極を
直交させる状態でストライプ状に配列形成させたパッシ
ブマトリックス方の表示装置にも適用可能である。ま
た、第1電極及び第2電極の形状もストライプ状に限定
されることはなく、多種多様な形状の微細なパターンで
形成しても良い。
In the above embodiment, the light emitting element is composed of a single color organic EL element. However, by repeating the organic EL layer forming step a plurality of times, a full color organic EL element having RGB is used. It can also be applied to existing displays. In the above embodiment, a TFT (thin film transistor) is provided on the support substrate 101, and the TFT
The case where the present invention is applied to the active matrix type display device in which the first electrode is connected to is explained. For this reason,
The second electrode 108 was formed as a solid film. However, the present invention is not limited to this, and for example, a passive matrix method in which a plurality of second electrodes are arranged in a stripe shape in a state of being orthogonal to a first electrode arranged in a stripe shape is used. It is also applicable to a display device. Further, the shapes of the first electrode and the second electrode are not limited to the stripe shape, and may be formed in a fine pattern of various shapes.

【0049】ただし、第1電極が、複数の画素に亘る連
続した形状である場合、第1電極の各画素に対応する部
分毎に凹部を設けることが好ましい。第1電極をこのよ
うな形状に成形することで、各画素に対応する有機EL
層部分の全周を囲む反射壁面を設けることができ、最も
有効に有機EL層で生じた光を第2電極側から取り出す
ことが可能になる。
However, when the first electrode has a continuous shape over a plurality of pixels, it is preferable to provide a concave portion for each portion of the first electrode corresponding to each pixel. By molding the first electrode in such a shape, the organic EL corresponding to each pixel is formed.
It is possible to provide a reflective wall surface that surrounds the entire circumference of the layer portion, and it is possible to most effectively extract the light generated in the organic EL layer from the second electrode side.

【0050】[0050]

【発明の効果】以上説明したように本発明の表示装置に
よれば、発光層で生じた発光光の取り出し効率(外部量
子効率)を向上させることが可能になる。このため、発
光層を有する有機EL素子を用いた表示装置において
は、駆動電流を増加させることなく、すなわち素子の劣
化を抑えつつも輝度の向上を図ることが可能になると共
に、より少ない電流で表示装置を駆動させることで表示
装置の長寿命化を図ることが可能になる。また、本発明
の表示装置の製造方法によれば、部品点数を増加させる
ことなく、マスク工程とエッチング工程とを追加するだ
けで製造コストの上昇を最小限に抑えて、発光層の周囲
に反射壁面が配置された高輝度、長寿命の表示装置を得
ることが可能になる。
As described above, according to the display device of the present invention, it is possible to improve the extraction efficiency (external quantum efficiency) of emitted light generated in the light emitting layer. Therefore, in the display device using the organic EL element having the light emitting layer, it is possible to improve the luminance without increasing the driving current, that is, while suppressing the deterioration of the element, and to reduce the current with less current. By driving the display device, the life of the display device can be extended. Further, according to the manufacturing method of the display device of the present invention, without increasing the number of parts, the increase of the manufacturing cost can be suppressed to a minimum by merely adding the mask process and the etching process, and the light is reflected around the light emitting layer. It is possible to obtain a high-luminance, long-life display device in which a wall surface is arranged.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明を適用する表示装置の一例を示す斜視図
である。
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a display device to which the present invention is applied.

【図2】本発明の表示装置の一例を示す要部断面図であ
る。
FIG. 2 is a cross-sectional view of essential parts showing an example of a display device of the present invention.

【図3】図2のさらに要部を拡大した拡大断面図であ
る。
FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view in which a main part of FIG. 2 is further enlarged.

【図4】図2及び図3に示した表示装置の製造方法を説
明するための断面工程図である。
FIG. 4 is a sectional process diagram for explaining the manufacturing method for the display device shown in FIGS. 2 and 3.

【図5】有機EL素子のエネルギーバンド図である。FIG. 5 is an energy band diagram of an organic EL element.

【図6】従来の表示装置の一例を説明するための要部拡
大断面図である。
FIG. 6 is an enlarged sectional view of an essential part for explaining an example of a conventional display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…表示装置、101…支持基板、107…有機EL層
(発光層)、108…第2電極、201…第1電極、2
02…反射壁面、h,h’…発光光
1 ... Display device, 101 ... Support substrate, 107 ... Organic EL layer (light emitting layer), 108 ... Second electrode, 201 ... First electrode, 2
02 ... Reflective wall surface, h, h '... Emitted light

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05B 33/14 H05B 33/14 A 33/22 33/22 Z Fターム(参考) 3K007 AB02 AB05 AB11 AB18 BA06 CB01 CC01 DA01 DB03 EB00 FA01 5C094 AA10 AA22 AA31 AA43 AA48 BA27 CA19 DA13 DB01 DB04 EA04 EA05 EA06 ED11 FA04 FB01 FB02 FB12 FB20 GB10 5G435 AA03 AA14 AA17 BB05 CC09 FF03 HH12 HH14 KK05 Front page continuation (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H05B 33/14 H05B 33/14 A 33/22 33/22 Z F term (reference) 3K007 AB02 AB05 AB11 AB18 BA06 CB01 CC01 DA01 DB03 EB00 FA01 5C094 AA10 AA22 AA31 AA43 AA48 BA27 CA19 DA13 DB01 DB04 EA04 EA05 EA06 ED11 FA04 FB01 FB02 FB12 FB20 GB10 5G435 AA03 AA14 AA17 BB05 CC09 FF03 HH12 HH14 KK05

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光反射材料からなる第1電極と、光透過
性材料からなる第2電極と、これらの第1電極及び第2
電極間に挟持された発光層とを備えた表示装置におい
て、 前記発光層の周囲には、当該発光層で生じた光を前記第
2電極側に反射するための反射壁面が設けられているこ
とを特徴とする表示装置。
1. A first electrode made of a light-reflecting material, a second electrode made of a light-transmitting material, and the first electrode and the second electrode.
In a display device including a light emitting layer sandwiched between electrodes, a reflective wall surface for reflecting light generated in the light emitting layer to the second electrode side is provided around the light emitting layer. A display device characterized by.
【請求項2】 請求項1記載の表示装置において、 前記反射壁面は、前記第1電極の一部として構成されて
いることを特徴とする表示装置。
2. The display device according to claim 1, wherein the reflection wall surface is configured as a part of the first electrode.
【請求項3】 請求項1記載の表示装置において、 前記第1電極は支持基板上に設けられ、 前記第2電極は前記第1電極および前記発光層を介して
前記支持基板の上方に設けられていることを特徴とする
表示装置。
3. The display device according to claim 1, wherein the first electrode is provided on a supporting substrate, and the second electrode is provided above the supporting substrate via the first electrode and the light emitting layer. A display device characterized by being.
【請求項4】 光反射性材料からなる第1電極の表面に
順テーパ形状の内周面を有する凹部を形成する工程と、 前記第1電極の凹部内に、発光層を形成する工程と、 前記発光層上に、前記第1電極との間の絶縁性を保った
状態で光透過性材料からなる第2電極を形成する工程と
を行うことを特徴とする表示装置の製造方法。
4. A step of forming a concave portion having a forward tapered inner peripheral surface on the surface of a first electrode made of a light-reflecting material; and a step of forming a light emitting layer in the concave portion of the first electrode. And a step of forming a second electrode made of a light transmissive material on the light emitting layer while maintaining insulation between the light emitting layer and the first electrode.
【請求項5】 請求項4記載の表示装置の製造方法にお
いて、 前記第1電極に凹部を形成する際には、レジストパター
ンをマスクにして当該第1電極を等方的にエッチングす
ることを特徴とする表示装置の製造方法。
5. The method for manufacturing a display device according to claim 4, wherein when the recess is formed in the first electrode, the first electrode is isotropically etched using a resist pattern as a mask. And a method for manufacturing a display device.
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Cited By (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004006332A (en) * 2002-04-24 2004-01-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and its fabrication method
JP2004006327A (en) * 2002-04-23 2004-01-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Light emitting device and its fabrication method
JP2004031201A (en) * 2002-06-27 2004-01-29 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and its manufacturing method
JP2004240400A (en) * 2003-02-05 2004-08-26 Samsung Sdi Co Ltd Flat panel display using anode electrode layer as power source supply layer and its manufacture method
JP2005062400A (en) * 2003-08-11 2005-03-10 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd Flat display device and method for manufacturing the same
US6909124B2 (en) 2002-06-28 2005-06-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
US6960786B2 (en) 2002-05-13 2005-11-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
EP1592064A2 (en) * 2004-04-27 2005-11-02 LG Electronics Inc. Organic electroluminescent device and method for fabricating the same
JP2005331665A (en) * 2004-05-19 2005-12-02 Seiko Epson Corp Electro-optical device, its manufacturing method, and electronic apparatus
US6992332B2 (en) 2002-05-15 2006-01-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method for manufacturing the same
US7038239B2 (en) 2002-04-09 2006-05-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US7148510B2 (en) 2002-04-15 2006-12-12 Semiconductor Energy Laboratory Co. Ltd. Electronic apparatus having a protective circuit
US7242021B2 (en) 2002-04-23 2007-07-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and display element using semiconductor device
US7260135B2 (en) 2003-09-26 2007-08-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
US7449724B2 (en) 2003-09-12 2008-11-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
US7502392B2 (en) 2003-09-12 2009-03-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laser oscillator
JP2009151955A (en) * 2007-12-18 2009-07-09 Sony Corp Surface emitting light source and its manufacturing method
US7671369B2 (en) 2002-04-09 2010-03-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
US7786496B2 (en) 2002-04-24 2010-08-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing same
US8013523B2 (en) 2008-02-25 2011-09-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Organic light emitting device and manufacturing method thereof
US8120031B2 (en) 2002-05-17 2012-02-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device including an opening formed in a gate insulating film, a passivation film, and a barrier film
WO2012063766A1 (en) * 2010-11-12 2012-05-18 住友化学株式会社 Display apparatus, and method of manufacturing thereof
US8368072B2 (en) 2002-04-15 2013-02-05 Semiconductor Energy Labratory Co., Ltd. Display device and method of fabricating the same
KR101534008B1 (en) * 2008-08-12 2015-07-07 삼성디스플레이 주식회사 Thin film transistor array panel and manufacturing method thereof
US9118025B2 (en) 2002-05-15 2015-08-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
US9166202B2 (en) 2002-06-07 2015-10-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and manufacturing method thereof
US9246133B2 (en) 2013-04-12 2016-01-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting module, light-emitting panel, and light-emitting device
US9287330B2 (en) 2002-04-23 2016-03-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
US9412804B2 (en) 2002-04-26 2016-08-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and manufacturing method of the same
TWI560867B (en) * 2011-08-30 2016-12-01 Samsung Display Co Ltd Organic light emitting display device having reflection structure and method of manufacturing organic light emitting display device having reflection structure
JP2017135243A (en) * 2016-01-27 2017-08-03 株式会社Joled Display device
CN109148727A (en) * 2018-08-31 2019-01-04 京东方科技集团股份有限公司 Oled display substrate and preparation method, display device
CN110867470A (en) * 2019-11-21 2020-03-06 武汉天马微电子有限公司 Display panel, preparation method and display device
WO2020105544A1 (en) * 2018-11-19 2020-05-28 ソニー株式会社 Light-emitting element, drive device, and mobile apparatus
WO2023201888A1 (en) * 2022-04-22 2023-10-26 京东方科技集团股份有限公司 Display substrate and display device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63228736A (en) * 1987-03-18 1988-09-22 Fujitsu Ltd Manufacture of semiconductor device
JPH0527996U (en) * 1991-09-18 1993-04-09 沖電気工業株式会社 EL display element
JPH1117091A (en) * 1997-06-19 1999-01-22 Toppan Printing Co Ltd Manufacture of lead frame
JP2001507503A (en) * 1996-12-23 2001-06-05 ザ トラスティーズ オブ プリンストン ユニバーシテイ Light-emitting body provided with light reflecting structure

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63228736A (en) * 1987-03-18 1988-09-22 Fujitsu Ltd Manufacture of semiconductor device
JPH0527996U (en) * 1991-09-18 1993-04-09 沖電気工業株式会社 EL display element
JP2001507503A (en) * 1996-12-23 2001-06-05 ザ トラスティーズ オブ プリンストン ユニバーシテイ Light-emitting body provided with light reflecting structure
JPH1117091A (en) * 1997-06-19 1999-01-22 Toppan Printing Co Ltd Manufacture of lead frame

Cited By (86)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7038239B2 (en) 2002-04-09 2006-05-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US10700106B2 (en) 2002-04-09 2020-06-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US7671369B2 (en) 2002-04-09 2010-03-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
US8120033B2 (en) 2002-04-09 2012-02-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US9105727B2 (en) 2002-04-09 2015-08-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US8502215B2 (en) 2002-04-09 2013-08-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US10083995B2 (en) 2002-04-09 2018-09-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
US10050065B2 (en) 2002-04-09 2018-08-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US8946717B2 (en) 2002-04-09 2015-02-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US8835271B2 (en) 2002-04-09 2014-09-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
US11101299B2 (en) 2002-04-09 2021-08-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
US8415669B2 (en) 2002-04-09 2013-04-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
US10854642B2 (en) 2002-04-09 2020-12-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US8946718B2 (en) 2002-04-09 2015-02-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US9666614B2 (en) 2002-04-09 2017-05-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
US8008666B2 (en) 2002-04-09 2011-08-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
US9406806B2 (en) 2002-04-09 2016-08-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US7955975B2 (en) 2002-04-09 2011-06-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor element and display device using the same
US8368072B2 (en) 2002-04-15 2013-02-05 Semiconductor Energy Labratory Co., Ltd. Display device and method of fabricating the same
US8709847B2 (en) 2002-04-15 2014-04-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of fabricating display device
US7148510B2 (en) 2002-04-15 2006-12-12 Semiconductor Energy Laboratory Co. Ltd. Electronic apparatus having a protective circuit
US9287330B2 (en) 2002-04-23 2016-03-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
US7242021B2 (en) 2002-04-23 2007-07-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and display element using semiconductor device
JP2004006327A (en) * 2002-04-23 2004-01-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Light emitting device and its fabrication method
US9978811B2 (en) 2002-04-23 2018-05-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
US9831459B2 (en) 2002-04-24 2017-11-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display module with white light
JP4683825B2 (en) * 2002-04-24 2011-05-18 株式会社半導体エネルギー研究所 Semiconductor device and manufacturing method thereof
US9362534B2 (en) 2002-04-24 2016-06-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing same
JP2011096668A (en) * 2002-04-24 2011-05-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Light-emitting device and light source device
JP2004006332A (en) * 2002-04-24 2004-01-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and its fabrication method
US9000429B2 (en) 2002-04-24 2015-04-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing same
US9165987B2 (en) 2002-04-24 2015-10-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing same
US10454059B2 (en) 2002-04-24 2019-10-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing same
US7786496B2 (en) 2002-04-24 2010-08-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing same
US9412804B2 (en) 2002-04-26 2016-08-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and manufacturing method of the same
US9853098B2 (en) 2002-04-26 2017-12-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and manufacturing method of the same
US8927994B2 (en) 2002-05-13 2015-01-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US9508756B2 (en) 2002-05-13 2016-11-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US7554116B2 (en) 2002-05-13 2009-06-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US9165991B2 (en) 2002-05-13 2015-10-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US9966390B2 (en) 2002-05-13 2018-05-08 Semicondutcor Energy Laboratory Co., LTD. Display device
US6960786B2 (en) 2002-05-13 2005-11-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US6992332B2 (en) 2002-05-15 2006-01-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method for manufacturing the same
US9118025B2 (en) 2002-05-15 2015-08-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
US10133139B2 (en) 2002-05-17 2018-11-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US8120031B2 (en) 2002-05-17 2012-02-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device including an opening formed in a gate insulating film, a passivation film, and a barrier film
US10527903B2 (en) 2002-05-17 2020-01-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US9366930B2 (en) 2002-05-17 2016-06-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device with capacitor elements
US11422423B2 (en) 2002-05-17 2022-08-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US9166202B2 (en) 2002-06-07 2015-10-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and manufacturing method thereof
JP2004031201A (en) * 2002-06-27 2004-01-29 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and its manufacturing method
US6909124B2 (en) 2002-06-28 2005-06-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
US7663142B2 (en) 2002-06-28 2010-02-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
JP2004240400A (en) * 2003-02-05 2004-08-26 Samsung Sdi Co Ltd Flat panel display using anode electrode layer as power source supply layer and its manufacture method
US7696518B2 (en) 2003-02-05 2010-04-13 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Flat panel display with anode electrode layer as power supply layer and fabrication method thereof
JP2005062400A (en) * 2003-08-11 2005-03-10 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd Flat display device and method for manufacturing the same
US7449724B2 (en) 2003-09-12 2008-11-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
US7502392B2 (en) 2003-09-12 2009-03-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laser oscillator
US8059692B2 (en) 2003-09-12 2011-11-15 Semiconductor Energy Labortory Co., Ltd. Laser oscillator
US8867585B2 (en) 2003-09-12 2014-10-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laser oscillator
US7260135B2 (en) 2003-09-26 2007-08-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
US7559820B2 (en) 2004-04-27 2009-07-14 Lg Display Co., Ltd. Organic electroluminescent device and method for fabricating the same
EP1592064A2 (en) * 2004-04-27 2005-11-02 LG Electronics Inc. Organic electroluminescent device and method for fabricating the same
EP1592064A3 (en) * 2004-04-27 2007-01-03 LG Electronics Inc. Organic electroluminescent device and method for fabricating the same
US8174186B2 (en) * 2004-04-27 2012-05-08 Lg Display Co., Ltd. Organic electroluminescent device and method for fabricating the same
JP2005331665A (en) * 2004-05-19 2005-12-02 Seiko Epson Corp Electro-optical device, its manufacturing method, and electronic apparatus
JP4645064B2 (en) * 2004-05-19 2011-03-09 セイコーエプソン株式会社 Manufacturing method of electro-optical device
JP2009151955A (en) * 2007-12-18 2009-07-09 Sony Corp Surface emitting light source and its manufacturing method
US8013523B2 (en) 2008-02-25 2011-09-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Organic light emitting device and manufacturing method thereof
KR101534008B1 (en) * 2008-08-12 2015-07-07 삼성디스플레이 주식회사 Thin film transistor array panel and manufacturing method thereof
KR101867637B1 (en) * 2010-11-12 2018-06-15 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 Display apparatus, and method of manufacturing thereof
KR20130129934A (en) * 2010-11-12 2013-11-29 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 Display apparatus, and method of manufacturing thereof
WO2012063766A1 (en) * 2010-11-12 2012-05-18 住友化学株式会社 Display apparatus, and method of manufacturing thereof
JP2012104430A (en) * 2010-11-12 2012-05-31 Sumitomo Chemical Co Ltd Display device
TWI560867B (en) * 2011-08-30 2016-12-01 Samsung Display Co Ltd Organic light emitting display device having reflection structure and method of manufacturing organic light emitting display device having reflection structure
KR101821167B1 (en) * 2011-08-30 2018-01-24 삼성디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device having a reflection structure and method of manufacturing an organic light emitting display device having a reflection structure
US9246133B2 (en) 2013-04-12 2016-01-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting module, light-emitting panel, and light-emitting device
JP2017135243A (en) * 2016-01-27 2017-08-03 株式会社Joled Display device
CN109148727A (en) * 2018-08-31 2019-01-04 京东方科技集团股份有限公司 Oled display substrate and preparation method, display device
US11233214B2 (en) 2018-08-31 2022-01-25 Boe Technology Group Co., Ltd. Display substrate, display device and method of fabricating display substrate
WO2020105544A1 (en) * 2018-11-19 2020-05-28 ソニー株式会社 Light-emitting element, drive device, and mobile apparatus
JPWO2020105544A1 (en) * 2018-11-19 2021-10-14 ソニーグループ株式会社 Light emitting elements, display devices and electronic devices
JP7020566B2 (en) 2018-11-19 2022-02-16 ソニーグループ株式会社 Light emitting element
JP7459886B2 (en) 2018-11-19 2024-04-02 ソニーグループ株式会社 Light emitting elements, display devices and electronic equipment
CN110867470A (en) * 2019-11-21 2020-03-06 武汉天马微电子有限公司 Display panel, preparation method and display device
WO2023201888A1 (en) * 2022-04-22 2023-10-26 京东方科技集团股份有限公司 Display substrate and display device

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