JP2002352422A - Glass substrate for information recording medium and method for manufacturing the same - Google Patents

Glass substrate for information recording medium and method for manufacturing the same

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JP2002352422A
JP2002352422A JP2001157494A JP2001157494A JP2002352422A JP 2002352422 A JP2002352422 A JP 2002352422A JP 2001157494 A JP2001157494 A JP 2001157494A JP 2001157494 A JP2001157494 A JP 2001157494A JP 2002352422 A JP2002352422 A JP 2002352422A
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glass substrate
sponge
information recording
scrub
surface treatment
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JP2001157494A
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Japanese (ja)
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Kazuishi Mitani
一石 三谷
Yasuhiro Saito
靖弘 斉藤
Akihide Minami
明秀 南
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Nippon Sheet Glass Co Ltd
Original Assignee
Nippon Sheet Glass Co Ltd
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C15/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by etching
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C19/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by mechanical means

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a glass substrate and a method for manufacturing the same, for an information recording medium in which the optimization of the unevenness of the surface of the glass substrate contributes to narrowing the flying height, and, at the same time, does not give rise to a head crash and a thermal asperity. SOLUTION: In the glass substrate for the information recording medium for use in an information recording apparatus such as a hard disk, a texture treatment by etching is performed for the surface layer of the glass substrate, and then, an abnormal projection which is inevitably formed by the etching treatment is removed by a scrubbing surface treatment. The scrubbing surface treatment is performed by sandwiching the doughnut-like glass substrate 1 between rolls of sponge 2, and by performing the scrubbing along the circumferential direction of the glass substrate 1 while rotating the glass substrate 1 and the rolls of sponge 2, respectively. The roll of sponge 2 consist of a surface layer 4 and an under layer 3, in which the hardness of the surface layer 4 is of Asker C hardness of 40-100 of the Standard SRISO101 of the Society of Rubber Industry, Japan.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、情報記録媒体用ガ
ラス基板及びその製造方法に関し、特に、ハードディス
ク等の情報記録装置に使用される情報記録媒体用ガラス
基板及びその製造方法に関する。
The present invention relates to a glass substrate for an information recording medium and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a glass substrate for an information recording medium used for an information recording device such as a hard disk and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、情報のデジタル化の進展は目覚ま
しく、その情報を記録するための情報記録装置が各種開
発製造されている。これら装置の改良進歩はまさに日進
月歩であり、情報記録容量及び記録再生速度が年率十数
%の割合で向上している。このような状況において、現
在最も広く使用されている情報記録装置がハードディス
クであり、その改良速度は他の装置以上である。
2. Description of the Related Art In recent years, digitization of information has been remarkable, and various information recording apparatuses for recording the information have been developed and manufactured. Improvements in these devices have been steadily progressing, and the information recording capacity and the recording / reproducing speed are improving at a rate of about 10% per year. In such a situation, a hard disk is the most widely used information recording device at present, and its improvement speed is higher than other devices.

【0003】ハードディスクでは、情報記録媒体用基板
(以下単に「基板」という。)上に形成された情報記録
層に、磁気ヘッドにより、情報の記録再生が行われる。
現在では、CSS又はランプロードと呼ばれる方式のハ
ードディスクが一般的に使用されている。CSS方式と
は、基板が回転している間は磁気ヘッドがディスクのデ
ータゾーン上を滑空し、基板が移動開始又は停止すると
きには基板のCSSゾーン上を滑走するコンタクト・ス
タート・ストップ方式と呼ばれる方式である。ここで、
基板のCSSゾーンとは、基板の一部(主に、内周又は
外周に沿って設けられる)に高さ数十nmオーダーの均
一な凹凸を意図的に設けた部分をいう。また、ランプロ
ード方式とは、基板が回転している間は磁気ヘッドが基
板上を滑空し、基板が停止するときには磁気ヘッドが格
納位置に収納される方式である。なお、ランプロード方
式では、その機構上CSSゾーンは不要である。さら
に、近年では磁気ヘッドと基板とが常時接触しているコ
ンタクト方式と呼ばれるものも検討されている。
[0003] In a hard disk, information is recorded and reproduced by a magnetic head on an information recording layer formed on a substrate for an information recording medium (hereinafter simply referred to as a "substrate").
At present, hard disks of a system called CSS or ramp load are generally used. The CSS method is a method called a contact start / stop method in which a magnetic head glides over a data zone of a disk while the substrate is rotating, and glides over the CSS zone of the substrate when the substrate starts or stops moving. It is. here,
The CSS zone of the substrate refers to a portion of the substrate (mainly provided along the inner or outer periphery) where uniform irregularities of several tens nm order are intentionally provided. The ramp load method is a method in which the magnetic head glides over the substrate while the substrate is rotating, and the magnetic head is stored in the storage position when the substrate stops. In the ramp load method, a CSS zone is unnecessary due to its mechanism. In recent years, what is called a contact method in which a magnetic head and a substrate are always in contact has been studied.

【0004】CSS方式及びランプロード方式では、基
板が回転している間、磁気ヘッドが数十nmオーダーの
間隔(以下「フライングハイト」という。)をもってそ
の表面(情報記録領域)上を滑空する。したがって、情
報記録の高密度化を体現するためには、フライングハイ
トを小さくする必要がある。しかし、基板の表面凹凸が
大きいと回転中に磁気ヘッドと基板表面の凸部が衝突
し、ヘッドクラッシュが起こる可能性が高くなる。ま
た、ヘッドクラッシュに至らないまでも、前記衝突によ
る熱で磁気ヘッドが異常な信号を検知し誤作動する、い
わゆるサーマルアスペリティーが発生するおそれがあ
る。特に最近では、高感度のMRヘッド又はGMRヘッ
ドが主流となっており、サーマルアスペリティーの問題
はより深刻になってきている。
In the CSS method and the ramp load method, the magnetic head glides on the surface (information recording area) at intervals of several tens of nm (hereinafter referred to as "flying height") while the substrate is rotating. Therefore, it is necessary to reduce the flying height in order to embody high density information recording. However, if the surface unevenness of the substrate is large, the magnetic head and the projection on the substrate surface collide during rotation, and the possibility of head crash increases. Further, even if a head crash does not occur, a so-called thermal asperity may occur, in which the magnetic head detects an abnormal signal due to the heat due to the collision and malfunctions. Particularly recently, high sensitivity MR heads or GMR heads have become mainstream, and the problem of thermal asperity has become more serious.

【0005】従来は、情報記録領域の凹凸を小さくする
ことで、凸部との衝突に起因するヘッドクラッシュ及び
サーマルアスペリティーは回避できると考えられたた
め、表面平滑性が高いほど高性能な基板であると見なさ
れていた。表面凹凸を削り取って平滑な面を形成する技
術の代表的なものとしては、スエード(人工皮革)を用
いて仕上げ研磨する、すなわち表面層を削り取ることで
平滑基板を形成する方法(特開2000−53450号
公報)や、PVA等のスポンジを用いてスクラブ洗浄す
ることで、異物や基板表面の凹凸を除去して基板を平滑
化する方法(特開2000−149249号公報)等が
提案されている。また、スクラブ装置としてはウエハー
の両面洗浄用途として基板内の斑ローラー状のスポンジ
で基板を挟み込む方法(特開平11−288911号公
報)等が提案されている。
Conventionally, it has been thought that head crush and thermal asperity caused by collision with a convex portion can be avoided by reducing the unevenness of the information recording area. Therefore, the higher the surface smoothness, the higher the performance of the substrate. Was considered to be. As a typical technique for shaving a surface unevenness to form a smooth surface, a method of finishing polishing using a suede (artificial leather), that is, a method of forming a smooth substrate by shaving off a surface layer (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-2000) No. 53450), and a method of removing impurities and irregularities on the substrate surface by scrub cleaning using a sponge such as PVA to smooth the substrate (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-149249). . As a scrubbing apparatus, a method has been proposed in which a substrate is sandwiched between sponges in the form of a roller in a substrate for use in cleaning both sides of a wafer (Japanese Patent Application Laid-Open No. H11-288911).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
技術には、以下のような問題があった。すなわち、最近
では、記録密度を高めるためフライングハイトが著しく
低く設定され、滑空しているヘッドと基板が接触すると
きに磁気ヘッドに過大な抵抗をかけないようにするため
に基板表面を適度に荒らす処理(以下「テクスチャー処
理」という。)が行われており、このテクスチャー処理
を施した基板では、突出した異常突起や基板表面に付着
した異物を選択的に除去することが困難な状況であっ
た。
However, the prior art has the following problems. That is, recently, the flying height is set extremely low in order to increase the recording density, and the substrate surface is moderately roughened so as not to apply excessive resistance to the magnetic head when the glide head contacts the substrate. Processing (hereinafter referred to as “texture processing”) has been performed, and it has been difficult to selectively remove abnormal projections and foreign substances adhering to the substrate surface on the substrate subjected to the texture processing. .

【0007】例えば、ポリビニルホルマールスポンジや
ポリウレタンスポンジのような柔らかなスポンジでスク
ラブ洗浄した場合は、テクスチャー処理を行った際に生
じる異常突起や強固に付着した異物を除去するのが困難
であったり、或いは長時間、高圧、高回転数といった過
酷な条件でむりやり突出した異常突起を除去しようとす
ると、テクスチャーまで過剰に削り取ってしまうという
問題があった。
For example, when scrubbing is performed with a soft sponge such as a polyvinyl formal sponge or a polyurethane sponge, it is difficult to remove abnormal projections and strongly adhered foreign substances generated during texturing. Alternatively, if an attempt is made to remove abnormal projections that protrude under severe conditions such as a high pressure and a high rotational speed for a long time, there is a problem that the texture is excessively scraped off.

【0008】また、研磨機を用いた研磨又は仕上げ研磨
についても、基板表面層を削り取ってしまうので、テク
スチャーを過剰に削り取ってしまうという問題があっ
た。
[0008] In addition, in the case of polishing or finish polishing using a polishing machine, there is a problem that the texture is excessively removed because the substrate surface layer is removed.

【0009】この発明は、上述の問題に着目してなされ
たものであり、その目的とするところは、ガラス基板表
面の凹凸を最適化することによりフライングハイトの狭
小化に寄与し、同時にぺッドクラッシュ及びサーマルア
スペリティーを起こさない情報記録媒体用ガラス基板及
びその製造方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problem, and an object of the present invention is to contribute to a reduction in flying height by optimizing irregularities on the surface of a glass substrate, and at the same time, to reduce a pad crash. Another object of the present invention is to provide a glass substrate for an information recording medium that does not cause thermal asperity and a method for manufacturing the same.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の製造方法は、ガラス基板の表面を硬
度が日本ゴム協会標準規格SRISO101のアスカー
Cで40〜100であるスポンジを用いて前記ガラス基
板の円周方向にスクラブ表面処理することを特徴とす
る。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a sponge having a surface of a glass substrate having a hardness of 40 to 100 as Asker C of Japan Rubber Association Standard SRISO101. The surface of the glass substrate is scrubbed in the circumferential direction.

【0011】請求項1記載の製造方法によれば、ガラス
基板の表面を表面層の硬度が日本ゴム協会標準規格SR
ISO101のアスカーCで40〜100であるスポン
ジを用いてガラス基板の円周方向にスクラブ表面処理す
るので、スポンジの最表面部(ガラス基板と接触する部
分)を微視的に硬く、巨視的にしなやかにし、接触部形
状がガラス基板の半径方向に線状又は短冊状になるよう
にスポンジを接触させながら、内周エッジで固定したガ
ラス基板を強制回転させ、円周方向にスクラブすること
で、ガラス基板の不均一エッチングが原因の異常突起や
強固に付着した異物を除去することができ、その結果、
優れた表面清浄度と面内均一性とを有する情報記録媒体
用ガラス基板及び情報記録媒体を製造することができ
る。
According to the manufacturing method of the first aspect, the surface of the glass substrate has a surface layer having a hardness of the Japan Rubber Association Standard SR.
Since the scrub surface treatment is performed in the circumferential direction of the glass substrate using a sponge of ISO 101 ASKER C of 40 to 100, the outermost surface portion (the portion in contact with the glass substrate) of the sponge is hardened microscopically and macroscopically. Supplied, while contacting the sponge so that the contact portion shape is linear or strip-shaped in the radial direction of the glass substrate, forcibly rotating the glass substrate fixed at the inner peripheral edge, and scrubbing in the circumferential direction, Abnormal protrusions and strongly adhered foreign substances caused by uneven etching of the glass substrate can be removed, and as a result,
A glass substrate for an information recording medium and an information recording medium having excellent surface cleanliness and in-plane uniformity can be manufactured.

【0012】請求項2記載の製造方法は、請求項1記載
の製造方法において、前記スクラブ表面処理前に、前記
ガラス基板を化学強化することを特徴とする。
A manufacturing method according to a second aspect is characterized in that, in the manufacturing method according to the first aspect, the glass substrate is chemically strengthened before the scrub surface treatment.

【0013】請求項2記載の製造方法によれば、スクラ
ブ表面処理を、ガラス基板を化学強化した後に行うの
で、請求項1記載の製造方法による作用効果を確実に奏
することができる。
According to the manufacturing method of the second aspect, since the scrub surface treatment is performed after the glass substrate is chemically strengthened, the operation and effect of the manufacturing method of the first aspect can be reliably achieved.

【0014】請求項3記載の製造方法は、請求項1又は
2記載の製造方法において、前記スクラブ表面処理後
に、前記ガラス基板をpH8以上のアルカリ性水溶液を
用いて洗浄することを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the manufacturing method of the first or second aspect, after the scrub surface treatment, the glass substrate is washed with an alkaline aqueous solution having a pH of 8 or more.

【0015】請求項3記載の製造方法によれば、スクラ
ブ表面処理後に、ガラス基板をpH8以上のアルカリ性
水溶液を用いて洗浄するので、不均一エッチングによる
異常突起を除去し、該除去した異常突起の再付着を防止
することができる。
According to the third aspect of the present invention, after the scrub surface treatment, the glass substrate is washed with an alkaline aqueous solution having a pH of 8 or more, so that abnormal projections due to uneven etching are removed. Redeposition can be prevented.

【0016】請求項4記載の製造方法は、請求項1又は
2記載の製造方法において、前記スクラブ表面処理後に
前記ガラス基板をpH4以下の酸性水溶液を用いて洗浄
し、次いで前記pH8以上のアルカリ性水溶液を用いて
洗浄することを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the manufacturing method according to the first or second aspect, after the scrub surface treatment, the glass substrate is washed with an acidic aqueous solution having a pH of 4 or less, and then the alkaline aqueous solution having a pH of 8 or more. It is characterized by being washed by using.

【0017】請求項4記載の製造方法によれば、スクラ
ブ表面処理後に、ガラス基板をpH4以下の酸性水溶液
を用いて洗浄した後に、pH8以上のアルカリ性水溶液
を用いて洗浄するので、不均一エッチングによる異常突
起の発生を抑制しつつテクスチャーを形成すると共に、
該異常突起を除去して再付着を防止することができる。
According to the fourth aspect of the present invention, after the scrub surface treatment, the glass substrate is washed with an acidic aqueous solution having a pH of 4 or less, and then washed with an alkaline aqueous solution having a pH of 8 or more. While forming the texture while suppressing the occurrence of abnormal protrusions,
The abnormal projection can be removed to prevent re-adhesion.

【0018】請求項5記載の製造方法は、請求項1乃至
4のいずれか1項に記載の製造方法において、前記スク
ラブ表面処理時に前記ガラス基板を内周部で固定して強
制的に回転させることを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the manufacturing method according to any one of the first to fourth aspects, the glass substrate is fixed at an inner peripheral portion and forcibly rotated during the scrub surface treatment. It is characterized by the following.

【0019】請求項5記載の製造方法によれば、スクラ
ブ表面処理時に、ガラス基板を内周部で固定して強制的
に回転させるので、ガラス基板をなめらかに安定的に回
転させることができる。
According to the manufacturing method of the fifth aspect, at the time of the scrub surface treatment, the glass substrate is fixed at the inner peripheral portion and is forcibly rotated, so that the glass substrate can be smoothly and stably rotated.

【0020】請求項6記載の製造方法は、請求項1乃至
5のいずれか1項に記載の製造方法において、前記スク
ラブ表面処理前に、前記ガラス基板の表面にテクスチャ
ー処理を施すことを特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, in the method of any one of the first to fifth aspects, the surface of the glass substrate is textured before the scrub surface treatment. I do.

【0021】上記目的を達成するために請求項7記載の
情報記録媒体用ガラス基板は、請求項1乃至6のいずれ
か1項に記載の製造方法によって製造された情報記録用
ガラス基板であって、原子間力顕微鏡により測定される
接触比率が0.4%である前記ガラス基板の表面のベア
リングハイトBH04が2〜7nmであり、該ガラス基
板の表面の半径方向におけるベアリングハイトBH04
の面内ばらつきが0〜1nmであることを特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a glass substrate for an information recording medium manufactured by the manufacturing method according to any one of the first to sixth aspects. A bearing height BH04 on the surface of the glass substrate having a contact ratio of 0.4% as measured by an atomic force microscope is 2 to 7 nm, and a bearing height BH04 in a radial direction on the surface of the glass substrate;
Is characterized by having an in-plane variation of 0 to 1 nm.

【0022】請求項7記載の情報記録媒体用ガラス基板
によれば、原子間力顕微鏡により測定される接触比率が
0.4%であるガラス基板の表面のベアリングハイトB
H04が2〜7nmであり、該ガラス基板の表面の半径
方向におけるベアリングハイトBH04の面内ばらつき
が0〜1nmであるので、フライングハイトの狭小化と
同時にヘッドクラッシュ及びサーマルアスペリティーの
発生を防止することができる。
According to the glass substrate for an information recording medium of the present invention, the bearing height B on the surface of the glass substrate whose contact ratio measured by an atomic force microscope is 0.4%.
Since H04 is 2 to 7 nm and the in-plane variation of the bearing height BH04 in the radial direction of the surface of the glass substrate is 0 to 1 nm, the flying height is reduced, and at the same time, the occurrence of head crash and thermal asperity is prevented. be able to.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態に係る
ガラス基板及びその製造方法を詳細に説明する。ただ
し、本発明は斯かる実施の形態に限定されるものではな
い。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a glass substrate and a method of manufacturing the same according to an embodiment of the present invention will be described in detail. However, the present invention is not limited to such an embodiment.

【0024】本発明の実施の形態の係るガラス基板は、
ハードディスク等の情報記録装置に使用される情報記録
媒体用基板として使用される。この基板の母材は特に限
定されるものではないが、表面平滑性が高く、表面加工
処理が容易でかつ弾性率と剛性、強度の高いガラス及び
結晶化ガラスが好ましい。例えば、SiO2、Na2O、
CaOを主成分としたソーダライムガラス、SiO2
Al23、Na2O、Li2Oを主成分としたアルミノシ
リケートガラス、ポロシリケートガラス、Li2O−S
iO2系ガラス、Li2O−Al23−SiO2系ガラ
ス、RO−Al23−SiO2系ガラス等でこの他の成
分としてZrO2、TiO2、SrO等を含んだ化学強化
用ガラス、さらに、化学強化をしない結晶化ガラス等が
挙げられる。また、ガラス基板表面層の改質について
は、化学強化によってガラス基板表面に圧縮応力層が形
成されている場合等も挙げられるが、特に限定はされな
い。
The glass substrate according to the embodiment of the present invention comprises:
It is used as a substrate for an information recording medium used in an information recording device such as a hard disk. Although the base material of the substrate is not particularly limited, glass and crystallized glass having high surface smoothness, easy surface processing, high elasticity, rigidity, and strength are preferable. For example, SiO 2 , Na 2 O,
Soda-lime glass mainly composed of CaO, SiO 2 ,
Al 2 O 3, Na 2 O , aluminosilicate glass mainly composed of Li 2 O, Polo silicate glass, Li 2 O-S
Chemical strengthening of iO 2 -based glass, Li 2 O-Al 2 O 3 -SiO 2 -based glass, RO-Al 2 O 3 -SiO 2 -based glass, etc., containing ZrO 2 , TiO 2 , SrO, etc. as other components Glass, crystallized glass without chemical strengthening, and the like. The modification of the surface layer of the glass substrate may include, but is not limited to, a case where a compressive stress layer is formed on the surface of the glass substrate by chemical strengthening.

【0025】以下、情報記録媒体用ガラス基板の製造工
程について詳細に説明する。
Hereinafter, the manufacturing process of the glass substrate for the information recording medium will be described in detail.

【0026】素板生産 母材であるガラスは、シート状のガラスであればどのよ
うな製法で作製されたものでもよく、例えば、溶融金属
上で所定の厚みに成形されるフロート法によって作製さ
れたガラスでもよいし、重力を利用したダウンドロー法
でもよいし、また、インゴットガラスをリドロー法でシ
ート状にしたガラスでもよい。
The glass which is the base material for producing the base plate may be made by any method as long as it is a sheet-like glass, for example, by a float method formed into a predetermined thickness on a molten metal. Glass, a down-draw method using gravity, or a sheet of ingot glass formed by a redraw method may be used.

【0027】円形加工 まず、上記フロート法で作製されたアルミノシリケート
組成のシート状ガラスを超硬合金(或いはダイヤモン
ド)カッターを用いて、外径は製品寸法の外径より少し
大きめに、内径は製品寸法より少し小さめに同時に切断
して円形加工を施した。このように外径と内径を同時に
切断することにより、外径と内径の同心度のよいドーナ
ツの状ガラス基板(以下単に「ガラス基板」という。)
が得られる。
Circular processing First, the outer diameter of the sheet-like glass of the aluminosilicate composition produced by the above float method is slightly larger than the outer diameter of the product dimensions using a cemented carbide (or diamond) cutter, and the inner diameter is the product. Circular processing was performed by simultaneously cutting slightly smaller than the dimensions. By simultaneously cutting the outer diameter and the inner diameter in this manner, a donut-shaped glass substrate having a good concentricity between the outer diameter and the inner diameter (hereinafter simply referred to as a “glass substrate”).
Is obtained.

【0028】ドーナツ状のガラス基板を得る他の方法と
して、外径だけを切断した後、円筒形のダイヤモンド砥
石を用いて内径を切断してもよいし、プレス法で外径を
所望の寸法に作製しておき、内径だけダイヤモンド砥石
で穴開けしてもよい。
As another method of obtaining a donut-shaped glass substrate, after cutting only the outer diameter, the inner diameter may be cut using a cylindrical diamond grindstone, or the outer diameter may be reduced to a desired size by a pressing method. It may be prepared, and only the inner diameter may be perforated with a diamond grindstone.

【0029】端面・面取加工(端面・面取研削) 次に、ガラス基板の外径及び内径寸法を正確に製品寸法
に合わせるために、該ガラス基板の内外周を研削して端
面・面取加工を施した。この端面加工では、ダイヤモン
ド砥粒を付着させた砥石を用いて#325と#500の
2段階で研削加工を行った。この研削加工と同時に、研
削砥石を製品の所定形状が出るように作製しておき、ガ
ラス基板の内外周の面取加工を施した。勿論、端面加工
及び面取加工は同時に行ってもよいし、別々に行っても
よい。
Edge / Chamfering (End / Chamfer Grinding) Next, in order to accurately adjust the outer and inner diameters of the glass substrate to the product dimensions, the inner and outer peripheries of the glass substrate are ground and chamfered. Processed. In this end face processing, grinding was performed in two stages of # 325 and # 500 using a grindstone to which diamond abrasive grains were adhered. Simultaneously with the grinding, a grinding wheel was prepared so that a predetermined shape of the product appeared, and the inner and outer circumferences of the glass substrate were chamfered. Of course, the end face processing and the chamfering processing may be performed simultaneously or separately.

【0030】また、ダイヤモンド砥粒の番手は要求され
る品質によって別の番手の砥粒を用いてもよい。また、
上記円形加工時に製品寸法に近い寸法に加工できていれ
ば、2段階の研削加工は必要なく、1段階のみでもよ
い。
The number of diamond abrasive grains may be different depending on the required quality. Also,
As long as the dimensions are close to the product dimensions during the circular processing, two-stage grinding is not required, and only one stage may be used.

【0031】端面・面取加工の後、端面・面取面の粗さ
を滑らかにするためにセリウム研磨剤を用いてガラス基
板の端面・面取面を研磨した。
After the edge / chamfering process, the edge / chamfered surface of the glass substrate was polished with a cerium abrasive to smooth the roughness of the edge / chamfered surface.

【0032】ラッピング加工(粗研磨加工) 次に、ガラス基板の主表面の精密研磨に先だって、該ガ
ラス基板の厚みを揃えて平坦度やうねりを良くし、表面
に付いている欠陥を除去するために、研磨機でガラス基
板の主表面にラッピング加工(粗研磨加工)を施した。
この粗研磨加工では、アルミナ砥粒を20質量%程度の
濃度になるように水に溶かしたスラリーを研磨機の金属
定盤とガラス基板との間に供給して、該ガラス基板の上
下面を同時に研磨するものであり、アルミナ砥粒として
は、#600と#1000の2種類を用いて粗研削・粗
加工の2段階でガラス基板を研磨した。
Lapping (rough polishing) Next, prior to precision polishing of the main surface of the glass substrate, the glass substrate is made uniform in thickness to improve flatness and undulation, and to remove defects on the surface. Then, a lapping process (rough polishing process) was performed on the main surface of the glass substrate with a polishing machine.
In this rough polishing, a slurry in which alumina abrasive grains are dissolved in water so as to have a concentration of about 20% by mass is supplied between a metal platen of a polishing machine and a glass substrate, and the upper and lower surfaces of the glass substrate are cleaned. The glass substrate was polished in two stages of rough grinding and rough processing using two types of alumina abrasive grains, # 600 and # 1000.

【0033】この粗研磨加工は、上記端面・面取加工の
前に行ってもよく、また、1段目の粗研削を端面・面取
加工の前に行い、2段目の粗加工を端面・面取加工の後
に行ってもよい。
This rough polishing may be performed before the end face / chamfering processing, and the first step rough grinding is performed before the end face / chamfer processing, and the second step rough polishing is performed before the end face / chamfering processing.・ It may be performed after chamfering.

【0034】この粗研磨加工では、ガラス基板を研磨す
るスピードが早いので、ガラス基板の厚みを製品寸法近
くまで薄くしている。ガラス基板の厚みが薄い場合は、
2段階で粗研磨する必要はなく、細かい砥粒による1段
粗研磨加工でもよい。また、本実施の形態では、遊離砥
粒研磨による方法を用いてガラス基板を研磨している
が、ダイヤモンド砥粒やアルミナ砥粒を埋め込んだ固定
砥石を用いてガラス基板の上下面を研削する方法を用い
てもよい。
In this rough polishing, since the speed of polishing the glass substrate is high, the thickness of the glass substrate is reduced to near the product size. If the glass substrate is thin,
It is not necessary to perform rough polishing in two stages, and single-stage rough polishing using fine abrasive grains may be used. Further, in the present embodiment, the glass substrate is polished using a method based on loose abrasive polishing, but a method in which the upper and lower surfaces of the glass substrate are ground using a fixed grindstone in which diamond abrasive grains or alumina abrasive grains are embedded. May be used.

【0035】粗研磨加工した後、研磨に使用した研磨剤
を次工程に持ち込まないように水や洗剤を用いてガラス
基板の洗浄を行った。この洗浄の際には、ガラス基板表
面に付着した研磨剤を落とし易くするために適当な周波
数の超音波をガラス基板に付与して洗浄を行った。以上
の方法で粗研磨加工を行うが、要求される平坦度やうね
りの程度よっては本工程を省くこともできる。
After the rough polishing, the glass substrate was washed with water or a detergent so that the abrasive used for polishing was not carried into the next step. At the time of this cleaning, an ultrasonic wave having an appropriate frequency was applied to the glass substrate in order to easily remove the abrasive adhered to the surface of the glass substrate, and the cleaning was performed. Rough polishing is performed by the above method, but this step can be omitted depending on the required degree of flatness and undulation.

【0036】一次研磨加工 次に、粗研磨加工で表面に付いた粗さの除去とクラック
の除去を目的に、セリウム研磨剤を用いてガラス基板の
主表面に一次研磨加工を施した。この一次研磨加工で
は、酸化セリウムと酸化ランタンを主成分とする平均粒
径1.5μm程度のセリウム研磨剤が用いられ、該セリ
ウム研磨剤の濃度が20質量%程度になるように水に溶
かしたスラリーを研磨機に供給してガラス基板を研磨し
た。研磨機には、酸化セリウムを含浸させた発泡ウレタ
ン系の研磨パッドをガラス基板が接触する面に貼り付け
て、該研磨パッドによりガラス基板の上下面を同時に研
磨した。この研磨では、研磨パッドに5kg程度の加重
をかけてガラス基板が所定の厚みになるまで研磨機を稼
働させた。
Primary Polishing Next, the main surface of the glass substrate was subjected to primary polishing using a cerium abrasive for the purpose of removing roughness and cracks on the surface by the coarse polishing. In this primary polishing, a cerium abrasive having an average particle size of about 1.5 μm containing cerium oxide and lanthanum oxide as main components was used, and dissolved in water so that the concentration of the cerium abrasive was about 20% by mass. The slurry was supplied to a polishing machine to polish the glass substrate. On the polishing machine, a urethane foam-based polishing pad impregnated with cerium oxide was adhered to the surface in contact with the glass substrate, and the upper and lower surfaces of the glass substrate were simultaneously polished by the polishing pad. In this polishing, a polishing pad was operated by applying a load of about 5 kg to the polishing pad until the glass substrate had a predetermined thickness.

【0037】一次研磨加工した後でも、研磨剤を次工程
に持ち込まないように水や洗剤を用いてガラス基板の洗
浄を行った。この洗浄でも、ガラス基板表面に付着した
研磨剤を落とし易くするために適当な周波数の超音波を
ガラス基板に付与して洗浄を行った。
Even after the primary polishing, the glass substrate was washed with water or a detergent so as not to carry the abrasive into the next step. In this cleaning, too, an ultrasonic wave having an appropriate frequency was applied to the glass substrate so that the abrasive adhered to the surface of the glass substrate was easily removed, and the cleaning was performed.

【0038】二次研磨加工 次に、ガラス基板の主表面を要求される平滑面にするた
めに、二次研磨加工として精密研磨を施した。この二次
研磨加工では、一次研磨加工時と同じ酸化セリウムと酸
化ランタンが主成分で、一次研磨で用いた研磨剤よりさ
らに小さい粒径のセリウム研磨剤とスエード系の研磨パ
ッドを用いて遊離砥粒研磨を実施した。研磨する際、ガ
ラス基板に余り大きな加重をかけるとガラス基板の主表
面にファインスクラッチと呼ばれる微細な傷を付着させ
ることになるので、軽加重で時間をかけて研磨を実施し
た。
Secondary polishing Next, in order to make the main surface of the glass substrate a required smooth surface, precision polishing was performed as secondary polishing. In this secondary polishing process, cerium oxide and lanthanum oxide are the main components as in the primary polishing process, and free polishing is performed using a cerium polishing agent and a suede type polishing pad with a smaller particle size than the polishing agent used in the primary polishing. Grain polishing was performed. At the time of polishing, if a too large load is applied to the glass substrate, fine scratches called fine scratches will be attached to the main surface of the glass substrate.

【0039】二次研磨加工した後では、研磨剤を除去す
るために次の方法によるガラス基板洗浄を行った。すな
わち、ガラス基板表面に研磨剤等が残っていると、次の
化学強化工程で強固に表面に付着してしまうため、水と
洗剤のみの簡単な洗浄ではなく、表面を柔らかい樹脂で
こすって付着物を機械的に除去すると共に、酸性水溶液
やアルカリ性水溶液及び純水を適当に組み合わせて、超
音波も付与しながら精密な洗浄を行った。
After the secondary polishing, the glass substrate was cleaned by the following method to remove the abrasive. In other words, if an abrasive or the like remains on the surface of the glass substrate, it will firmly adhere to the surface in the next chemical strengthening step. Therefore, instead of simply washing with water and detergent, the surface is rubbed with a soft resin. The kimono was mechanically removed, and an appropriate combination of an acidic aqueous solution, an alkaline aqueous solution, and pure water was performed, and precise washing was performed while applying ultrasonic waves.

【0040】テクスチャー処理 ガラス基板のテクスチャー処理方法としては、公知の機
械的研磨方法における作業条件をより精密に制御するこ
とによっても実現可能である。しかし、ガラス又は結晶
化ガラスを母材とするガラス基板の場合、エッチング処
理によってガラス基板表面を荒らすことで、より簡単な
方法でテクスチャー処理することができる。エッチング
処理では、理論的には多成分系のガラス基板の表面が均
一にエッチングされ、異常突起(まわりの微小突起に比
べて異常に高い突起)は形成されないはずであるが、現
実には、エッチング処理を行った後でもガラス基板の表
面に異常突起が存在する場合がある。すなわち、一般に
ガラス基板の表面層では、微視的に見るとその組成が必
ずしも均一ではなく、また、研磨時に研磨材がガラス基
板表面に強く押しつけられ、付着又は埋まり込む等し、
ガラス基板表面上に蓋をしたような部分等が存在する。
そのため、ガラス基板の表面にはエッチング溶液によく
溶ける部分とそうでない部分とが存在し、結果として不
均一なエッチングが進行し、異常突起が発生する場合が
ある。また、化学強化を施したガラス基板には、その表
面に化学強化時に金属等の異物が強固に付着したり、異
常突起が形成される場合がある。テクスチャー処理を行
ったガラス基板表面は、後述する図2(a)に参照番号
10で示すような凹凸を有する。
Texture treatment A texture treatment method for a glass substrate can also be realized by controlling the working conditions in a known mechanical polishing method more precisely. However, in the case of a glass substrate using glass or crystallized glass as a base material, the surface of the glass substrate is roughened by etching, so that the texture can be textured by a simpler method. In an etching process, the surface of a multi-component glass substrate should theoretically be uniformly etched, and abnormal projections (protrusions that are abnormally high compared to the surrounding minute projections) should not be formed. Even after the treatment, abnormal projections may be present on the surface of the glass substrate. That is, generally, in the surface layer of the glass substrate, the composition is not necessarily uniform when viewed microscopically, and the abrasive is strongly pressed against the surface of the glass substrate during polishing, and adheres or is embedded.
There is a portion like a lid on the surface of the glass substrate.
Therefore, there are portions on the surface of the glass substrate that are well-dissolved in the etching solution and portions that are not so. As a result, uneven etching may progress and abnormal projections may be generated. Further, on a chemically strengthened glass substrate, a foreign substance such as a metal may be strongly attached to the surface of the glass substrate during the chemical strengthening, or abnormal projections may be formed. The surface of the glass substrate that has been subjected to the texture processing has irregularities as indicated by reference numeral 10 in FIG.

【0041】このような異常突起は、薬液処理条件や薬
液処理前の研磨条件や化学強化条件を適宜調整すること
で抑制することもできるが、テクスチャー処理後に後述
するスクラブ洗浄(スクラブ表面処理)を行えば、より
確実に異常突起を除去することができる。テクスチャー
処理後に化学強化を施す場合には、化学強化工程後にス
クラブ表面処理を行うことにより、より確実に異常突起
を除去することができる。
Such abnormal projections can be suppressed by appropriately adjusting the conditions of the chemical treatment, the polishing conditions before the chemical treatment, and the chemical strengthening conditions. However, scrub cleaning (scrub surface treatment) described later after the texture treatment is performed. By doing so, abnormal projections can be removed more reliably. When the chemical strengthening is performed after the texture treatment, the abnormal projection can be more reliably removed by performing the scrub surface treatment after the chemical strengthening step.

【0042】以下、スクラブ表面処理についてさらに詳
細に説明する。
Hereinafter, the scrub surface treatment will be described in more detail.

【0043】スクラブ表面処理工程 スクラブ表面処理を行う工程は、テクスチャー処理後で
あれば特に限定されるものではないが、研磨剤等の大き
な異物がガラス基板表面に数多く存在する状態でスクラ
ブ表面処理を行うとガラス基板表面に異物を擦りつけて
傷が発生し易くなるので、より清浄度の高い工程、すな
わち洗浄工程より後の工程にあることが好ましい。ま
た、テクスチャー処理後に化学強化処理を施す場合に
は、化学強化時に鉄をはじめとする異物が付着するの
で、化学強化処理後にスクラブ表面処理を施せば、より
確実に異常突起を除去することができるので、より好ま
しい。ガラス基板表面の金属異物等をより完全に除去す
るためには、化学強化処理後でスクラブ表面処理を行う
前に酸性水溶液による洗浄を施してもよい。
Scrub Surface Treatment Step The scrub surface treatment step is not particularly limited as long as it is after the texture treatment, but the scrub surface treatment is carried out in a state where many large foreign substances such as abrasives are present on the glass substrate surface. When this step is performed, foreign matter is rubbed against the glass substrate surface to easily cause scratches. Therefore, the step is preferably in a step of higher cleanliness, that is, a step after the cleaning step. In addition, when the chemical strengthening treatment is performed after the texture treatment, foreign substances such as iron adhere during chemical strengthening. Therefore, if the scrub surface treatment is performed after the chemical strengthening treatment, the abnormal protrusions can be more reliably removed. Therefore, it is more preferable. In order to more completely remove metallic foreign matter and the like on the surface of the glass substrate, washing with an acidic aqueous solution may be performed after the chemical strengthening treatment and before performing the scrub surface treatment.

【0044】スクラブ表面処理方法・装置 情報記録媒体として使用する際に磁気ヘッドは円周方向
に飛行するので、磁気ヘッドとガラス基板表面の凸部が
衝突する頻度を下げるためには、飛行方向に沿ってスク
ラブする、すなわち円周方向にスクラブするのが好まし
い。
Scrub Surface Treatment Method / Apparatus When used as an information recording medium, the magnetic head flies in the circumferential direction. It is preferred to scrub along, i.e., in the circumferential direction.

【0045】本実施の形態では、スクラブ表面処理方法
の概略構成図として図1(a)、図1(b)に示すよう
に、テクスチャー処理が施されたドーナッツ状のガラス
基板1を一対の円筒状のロール状スポンジ2で挟み込
み、ガラス基板1とロール状スポンジ2を図中矢印のよ
うにそれぞれ回転させながら、ガラス基板1の円周方向
にスクラブする。ロール状スポンジ2は、表面層3と、
表面層3以外の部分4(以下「下地層3」という。)と
から成り、回転中心軸の回りを図中矢印のように回転す
る。
In this embodiment, as shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b), a schematic configuration diagram of a scrub surface treatment method is shown in which a textured donut-shaped glass substrate 1 is used as a pair of cylinders. The glass substrate 1 and the roll-shaped sponge 2 are sandwiched between the roll-shaped sponges 2, and are scrubbed in the circumferential direction of the glass substrate 1 while rotating the glass substrate 1 and the roll-shaped sponge 2 as indicated by arrows in the figure. The roll-shaped sponge 2 includes a surface layer 3,
It consists of a portion 4 other than the surface layer 3 (hereinafter referred to as "underlayer 3"), and rotates around the rotation center axis as shown by the arrow in the figure.

【0046】ガラス基板表面をロール状スポンジ2を用
いて円周方向にスクラブ表面処理する方法・装置は、ガ
ラス基板1とロール状スポンジ2との接触面が線状又は
短冊状であれば特に限定されるものではなく、市販のス
クラブ洗浄装置を用いてもよい。また、図2(a)、図
2(b)に示すように、ロール状スポンジ2に代えて一
対のテープ状スポンジ5でガラス基板1を挟み込み、ガ
ラス基板1とテープ状スポンジ5を回転させる方法等も
挙げられる。テープ状スポンジ5は、テープ状の表面層
6と下地層7とから成り、円筒状の回転自在に支持され
た樹脂ロール8に沿って図中矢印にように回転する。
The method and apparatus for circumferentially scrubbing the surface of a glass substrate using a roll-shaped sponge 2 are not particularly limited as long as the contact surface between the glass substrate 1 and the roll-shaped sponge 2 is linear or strip-shaped. Instead, a commercially available scrub cleaning device may be used. Further, as shown in FIGS. 2A and 2B, a method in which the glass substrate 1 is sandwiched between a pair of tape-shaped sponges 5 instead of the roll-shaped sponge 2 and the glass substrate 1 and the tape-shaped sponge 5 are rotated. And the like. The tape-shaped sponge 5 includes a tape-shaped surface layer 6 and a base layer 7, and rotates along a cylindrically rotatably supported resin roll 8 as indicated by an arrow in the drawing.

【0047】ガラス基板1をロール状スポンジ2で挟み
込んでスクラブ表面処理する場合、ガラス基板1を回転
させる方法としては、ガラス基板1の内周部をチャック
して回転させる方法や、ガラス基板1の外周部に駆動部
(ロールやベルト)を接触させて回転させる方法、又は
挟み込むロール状スポンジ2の回転に速度差をもたせる
ことでガラス基板1を回転させる方法等が挙げられる。
特開平11−288911号公報に記載されているよう
に、ガラス基板1の外周部にローラーを接触させて回転
させる方法では、外周部とローラーとの間で不規則な滑
り現象やびびりが起こり易く、スクラブ表面処理による
放射状のテクスチャー斑が生じ易い。特に、部分的に過
剰なスクラブがかかるとその部分がテクスチャー斑にな
るので、テクスチャー処理を施したガラス基板1の表面
に均一なスクラブ表面処理を施す場合には、ガラス基板
1を滑らかに安定的に回転する観点から、ガラス基叛1
の内周エッジ(内周部)を滑りが生じないようにチャッ
ク(固定)して強制的に回転させる方法が好ましい。
When the glass substrate 1 is sandwiched between roll-shaped sponges 2 to perform a scrub surface treatment, the method of rotating the glass substrate 1 includes a method of rotating the inner peripheral portion of the glass substrate 1 by chucking and a method of rotating the glass substrate 1. A method in which a driving unit (a roll or a belt) is brought into contact with the outer peripheral portion to rotate the glass substrate 1 or a method in which the glass substrate 1 is rotated by giving a speed difference to the rotation of the roll-shaped sponge 2 to be sandwiched.
As described in Japanese Patent Application Laid-Open No. H11-288911, in the method in which the roller is brought into contact with the outer peripheral portion of the glass substrate 1 and rotated, irregular sliding phenomenon and chatter are likely to occur between the outer peripheral portion and the roller. Radial texture spots are likely to occur due to the scrub surface treatment. In particular, if excessive scrub is applied to a portion, the portion becomes texture unevenness. Therefore, when a uniform scrub surface treatment is performed on the surface of the textured glass substrate 1, the glass substrate 1 can be smoothly and stably. From the viewpoint of turning to
Preferably, a method of chucking (fixing) the inner peripheral edge (inner peripheral portion) and forcibly rotating the inner peripheral edge (inner peripheral portion) so as not to cause slippage.

【0048】スクラブ表面処理に使用するスポンジ スクラブ表面処理に使用するロール状スポンジ2の表面
層3の硬度は、日本ゴム協会標準規格SRISO101
のアスカーCで40以上であれば、スクラブ条件を適宜
調整することで、テクスチャーを過剰に削り取らずに異
常突起を良好に除去できるので好ましい。下地層3は、
種類、硬さ、厚み、及び積層数を含めて特に限定されな
い。また、表面層3と下地層4との接着方法も特に限定
されない。下地層4に表面層3を直接形成してもよい
し、下地層4と表面層3とを別々に形成してから両面テ
ープ等の接着剤で接着してもよい。
Sponge used for scrub surface treatment The hardness of the surface layer 3 of the roll-shaped sponge 2 used for scrub surface treatment is determined by the Japan Rubber Association Standard SRISO101.
If the Asker C is 40 or more, it is preferable to appropriately adjust the scrub conditions, because abnormal protrusions can be satisfactorily removed without excessively shaving the texture. The underlayer 3 is
There is no particular limitation on the type, hardness, thickness, and number of layers. Further, the method of bonding the surface layer 3 and the base layer 4 is not particularly limited. The surface layer 3 may be directly formed on the underlayer 4, or the underlayer 4 and the surface layer 3 may be separately formed and then bonded with an adhesive such as a double-sided tape.

【0049】テープ状スポンジ5でガラス基板1を挟み
込む場合は、テープ状スポンジ5が伸びて緩まないよう
にするために、下地層3に延伸しない材料を選択する
か、下地層3の一部に延伸しない層を設けることが好ま
しい。一例として、殆ど延伸しない厚み0.5mm程度
のナイロンテープの上に、容易に延伸する2〜3層構造
のスポンジを形成、或いは貼り付けたタイブ等が挙げら
れる(図2)。
When the glass substrate 1 is sandwiched between the tape-shaped sponges 5, a material that does not extend to the underlayer 3 is selected in order to prevent the tape-shaped sponge 5 from stretching and loosening. It is preferable to provide a layer that does not stretch. As an example, there is a tie or the like in which a sponge having a two- or three-layer structure which is easily stretched is formed or attached on a nylon tape having a thickness of about 0.5 mm which is hardly stretched (FIG. 2).

【0050】表面層3を構成する樹脂種類は特に限定さ
れないが、樹脂の100%モデュラスが45kg/cm
2以上、250kg/cm2以下であれば、スクラブ条件
を適宜調整することで、テクスチャーを過剰に削り取ら
ずに異常突起を除去できるので好ましい。すなわち、樹
脂の100%モデュラスが45kg/cm2以上であれ
ばスポンジ最表面が微視的に硬くなり、異常突起を除去
する能力が高まるためと推定される。また、100%モ
デュラスが250kg/cm2を超えるような硬い樹脂
を用いるとガラス基板自体に傷が付き易いので、250
kg/cm2以下が好ましい。
The kind of the resin constituting the surface layer 3 is not particularly limited, but the 100% modulus of the resin is 45 kg / cm.
If it is 2 or more and 250 kg / cm 2 or less, it is preferable to adjust the scrub conditions as appropriate so that abnormal protrusions can be removed without excessively shaving the texture. That is, it is estimated that if the 100% modulus of the resin is 45 kg / cm 2 or more, the outermost surface of the sponge becomes microscopically hard, and the ability to remove abnormal protrusions is increased. If a hard resin having a 100% modulus exceeding 250 kg / cm 2 is used, the glass substrate itself is easily damaged.
kg / cm 2 or less is preferable.

【0051】スポンジ材料としては清浄度の観点からウ
レタン樹脂が好まれて使われるが、ウレタン樹脂の場
合、樹脂の種類を固定すれば100%モデュラスが大き
い程、硬い結晶部の割合が増加(柔らかい非晶部の割合
は減少)する。すなわち、スポンジ最表面が徹視的に硬
くなる。
As the sponge material, urethane resin is preferably used from the viewpoint of cleanliness. In the case of urethane resin, if the type of resin is fixed, the larger the modulus of 100%, the higher the proportion of hard crystal parts (softer). The proportion of the amorphous part decreases). That is, the outermost surface of the sponge becomes harder in a transparent manner.

【0052】また、ウレタン樹脂はその出発原料によっ
て様々な種類があり、代表的なものとしてはポリエステ
ル系ポリウレタン、ポリエーテル系ポリウレタン、ポリ
カーボネート系ポリウレタン、それらの共重合タイプの
ポリウレタン等がある。ポリカーボネート系ポリウレタ
ンやカーボネートとエステルの共重合タイアのポリウレ
タンは、エステル系、エーテル系に比べて耐薬品性に優
れており、アルカリ溶液等で使用する場合にスポンジ最
表面の微視的な硬さが維持できるという点で好ましい。
There are various types of urethane resins depending on their starting materials, and typical examples include polyester-based polyurethane, polyether-based polyurethane, polycarbonate-based polyurethane, and copolymer-type polyurethane thereof. Polycarbonate-based polyurethane and polyurethane of copolymerized tire of carbonate and ester are superior in chemical resistance compared to ester-based and ether-based, and the microscopic hardness of the outermost surface of the sponge when used in an alkaline solution, etc. It is preferable in that it can be maintained.

【0053】ロール状スポンジ2の表面層3の構造は、
スポンジ(発泡体)であれば特に限定されないが、平均
開口径が30μm以上の連続気泡体が形成されている
と、テクスチャーを過剰に削り取らずに異常突起を良好
に除去できので好ましい。異常突起が選択的に除去され
る理由はよく分からないが、平均開口径が30μm以上
であると、スクラブ中に異常突起とスポンジ表面とが効
率よく接触するためと推定される。また、平均開口径が
150μmを超えて形成されていると、表面層3が摩耗
し易くなり耐久性が低下する。
The structure of the surface layer 3 of the roll-shaped sponge 2 is as follows.
The sponge is not particularly limited as long as it is a sponge (foam). However, it is preferable to form a continuous foam having an average opening diameter of 30 μm or more, because abnormal projections can be removed well without excessively shaving the texture. The reason why the abnormal protrusions are selectively removed is not well understood, but it is estimated that if the average opening diameter is 30 μm or more, the abnormal protrusions and the sponge surface are efficiently contacted during the scrub. If the average opening diameter is larger than 150 μm, the surface layer 3 is easily worn and the durability is reduced.

【0054】平均開口径が30μm以上の連続気泡体を
形成するときの表面層の厚みは、特に限定されないが、
連続発泡後に表面を削り取って開口部を露出させる場
合、上記平均開口径を均一に形成するために0.3〜
1.0mm程度にすることが好ましい。
The thickness of the surface layer when forming an open cell having an average opening diameter of 30 μm or more is not particularly limited.
When the opening is exposed by shaving the surface after continuous foaming, in order to uniformly form the average opening diameter, 0.3 to
It is preferable to set it to about 1.0 mm.

【0055】スクラブ液 上記スクラブ表面処理は、スクラブ液を用いて行うのが
好ましい。スクラブ液は、特に限定されず、純水、電解
イオン水、オゾン水、水素添加水、酸性水溶液、アルカ
リ性水溶液、或いはこれらにキレート剤、界面活性剤、
塩類を添加したものを用いることができる。
Scrubbing liquid The above scrubbing surface treatment is preferably performed using a scrubbing liquid. Scrubbing liquid is not particularly limited, pure water, electrolytic ionized water, ozone water, hydrogenated water, acidic aqueous solution, alkaline aqueous solution, or a chelating agent, a surfactant,
What added salts can be used.

【0056】不均一エッチングが原因の異常突起を除去
する場合は、ガラスの結合を化学的に攻撃するアルカリ
性水溶液を使用するのがより好ましい。アルカリ性水溶
液を用いると、除去した異常突起とガラス基板との間に
静電反発力が働くので、除去された異常突起の再付着防
止の点でも好ましい。アルカリ性水溶液の濃度は特に限
定されないが、pH8以上で再付着防止効果が著しく高
まるので、pH8以上で用いるのが好ましい。
In order to remove abnormal protrusions caused by uneven etching, it is more preferable to use an alkaline aqueous solution which chemically attacks glass bonding. When an alkaline aqueous solution is used, an electrostatic repulsion acts between the removed abnormal projection and the glass substrate, which is also preferable from the viewpoint of preventing the removed abnormal projection from reattaching. Although the concentration of the alkaline aqueous solution is not particularly limited, it is preferable to use the alkaline aqueous solution at pH 8 or higher because the effect of preventing re-adhesion is significantly increased at pH 8 or higher.

【0057】除去した異常突起が研磨剤、金属等の異物
である場合、酸性水溶液を適宜調整することでそれらを
溶解除去することができる。また、酸性水溶液でスクラ
ブ洗浄すると、異常突起の発生を抑制しつつテクスチャ
ーを形成することができる。このメカニズムの詳細は不
明であるが、化学エッチング処理によるガラス基板荒ら
しと、異常突起除去が同時に起こるためと推定される。
このような理由から酸性水溶液を用いるのが好ましい。
酸性水溶液の濃度は特に限定されないが、化学エッチン
グ処理の効果はpH4以下で向上するので、pH4以下
で用いるのが好ましい。なお、酸性水溶液を用いるスク
ラブ表面処理とアルカリ性水溶液を用いるスクラブ表面
処理とを組み合わせて行ってもよい。
When the removed abnormal protrusions are foreign matters such as abrasives and metals, they can be dissolved and removed by appropriately adjusting the acidic aqueous solution. Further, when scrub cleaning is performed with an acidic aqueous solution, a texture can be formed while suppressing the occurrence of abnormal projections. Although the details of this mechanism are unknown, it is presumed that roughening of the glass substrate due to chemical etching and removal of abnormal protrusions occur simultaneously.
For such a reason, it is preferable to use an acidic aqueous solution.
The concentration of the acidic aqueous solution is not particularly limited, but the effect of the chemical etching treatment is improved at pH 4 or less. The scrub surface treatment using an acidic aqueous solution and the scrub surface treatment using an alkaline aqueous solution may be performed in combination.

【0058】スクラブ液の温度は特に限定されないが、
スクラブ液の蒸発等の彫轡を考慮して10℃〜50℃の
温度範囲で用いるのが好ましい。
Although the temperature of the scrubbing liquid is not particularly limited,
It is preferable to use in a temperature range of 10 ° C. to 50 ° C. in consideration of gagging such as evaporation of the scrubbing liquid.

【0059】スクラブ後の洗浄液 スクラブ後の洗浄液は、特に限定されず、純水、電解イ
オン水、オゾン水、水素添加水、酸性水溶液、アルカリ
性水溶液、或いはこれらにキレート剤、界面活性剤、塩
類を添加したものを用いることができる。特に、アルカ
リ性水溶液は、異物とガラス基板1との間に静電反発力
が働いて再付着を防止しつつ洗浄できるので好ましい。
また、異物がガラス基板1に非常に強固に付着した場合
でも、スクラブ表面処理で異物の付着程度を弱め、酸性
水溶液による化学エッチング処理で完全にリフトオフ
し、アルカリ性水溶液で再付着を抑制しながら系外に運
び出すことができるので、スクラブ表面処理後に酸性水
溶液で処理し、その後アルカリ性水溶液で処理するのが
より好ましい。
Washing Solution after Scrub The washing solution after scrubbing is not particularly limited, and pure water, electrolytic ionized water, ozone water, hydrogenated water, acidic aqueous solution, alkaline aqueous solution, or a chelating agent, a surfactant, and salts are added thereto. Those added can be used. In particular, an alkaline aqueous solution is preferable because the electrostatic repulsion acts between the foreign matter and the glass substrate 1 so that the alkaline aqueous solution can be washed while preventing reattachment.
Even when the foreign matter adheres to the glass substrate 1 very strongly, the degree of foreign matter adhesion is weakened by scrub surface treatment, completely lifted off by chemical etching treatment with an acidic aqueous solution, and the system is prevented from being re-adhered by an alkaline aqueous solution. Since it can be carried out, it is more preferable to perform treatment with an acidic aqueous solution after the scrub surface treatment and then with an alkaline aqueous solution.

【0060】酸性水溶液の種類は特に限定されず、酢酸
のような弱酸でもよいが、ガラスに対して強力なエッチ
ング作用を有するフッ酸、ケイフッ化水素酸、硫酸、塩
酸、硝酸、スルファミン酸、或いはリン酸のような強酸
がガラス基板1の表面のエッチング処理を促進する上で
好ましい。
The type of the acidic aqueous solution is not particularly limited, and may be a weak acid such as acetic acid. However, hydrofluoric acid, hydrosilicofluoric acid, sulfuric acid, hydrochloric acid, nitric acid, sulfamic acid, which has a strong etching action on glass, or A strong acid such as phosphoric acid is preferable in promoting the etching of the surface of the glass substrate 1.

【0061】アルカリ性水溶液の種類は特に限定され
ず、水酸化カリウム、水酸化ナトリウム、アンモニア、
トリメチルアンモニウムハイドライド等、水に溶解する
アルカリ原料であればいかなるアルカリ性水溶液でも用
いることができる。アルカリ性水溶液の濃度は、pH8
以上で再付着防止効果が著しく高まるのでpH8以上で
用いるのが好ましい。また、洗浄効果を高めるために界
面活性剤やキレート剤のほか、市販の合成アルカリ洗剤
等を添加するのも好ましい。
The type of the alkaline aqueous solution is not particularly limited, and potassium hydroxide, sodium hydroxide, ammonia,
Any alkaline aqueous solution such as trimethylammonium hydride can be used as long as it is an alkaline raw material that dissolves in water. The concentration of the alkaline aqueous solution is pH 8
Since the effect of preventing re-adhesion is remarkably increased as described above, it is preferable to use at pH 8 or more. It is also preferable to add a commercially available synthetic alkali detergent in addition to a surfactant and a chelating agent in order to enhance the washing effect.

【0062】なお、本発明の実施の形態におけるスクラ
ブ表面処理は、テクスチャーが形成されていないガラス
基板1に対しても、凹凸、異物或いは汚れを効果的に除
去するために用いることができる。
The scrub surface treatment according to the embodiment of the present invention can be used to effectively remove irregularities, foreign matters, and stains even on the glass substrate 1 on which no texture is formed.

【0063】テクスチャー処理されたガラス基板1上に
少なくとも下地膜、磁性膜、及び保護膜が順次成膜され
ることにより、情報記録媒体が構成される。なお、必要
に応じてガラス基板1と下地膜との間にシールド層を設
けてもよいし、各層毎にバッファー層やシールド層を設
けて多層構造にしてもよい。
An information recording medium is formed by sequentially forming at least a base film, a magnetic film, and a protective film on the textured glass substrate 1. If necessary, a shield layer may be provided between the glass substrate 1 and the base film, or a multilayer structure may be provided by providing a buffer layer or a shield layer for each layer.

【0064】そして、この情報記録媒体用ガラス基板
は、公知の方法によりハードディスク等の情報記録装置
に組み込まれる。上記下地膜、磁性膜、及び保護膜の種
類、並びに膜厚、成膜手段は特に限定されない。
Then, the glass substrate for an information recording medium is incorporated into an information recording device such as a hard disk by a known method. The types, thicknesses, and film forming means of the base film, the magnetic film, and the protective film are not particularly limited.

【0065】ガラス基板1を用いる場合は、シールド層
としてNiAl、下地膜としてCo系合金を用いること
が、優れた情報記録再生特性、膜密着性を確保する上で
好ましい。成膜手段としては、通常はスパッタリング法
が用いられ、この方法によればガラス基板1の表面凹凸
がそのまま維持される。なお、成膜後にテープバーニッ
シュ処理を施すことにより、保護膜上に付着した異物や
汚れを除去することができる。この情報記録媒体は、ガ
ラス基板表面の凹凸をそのまま反映するものであるか
ら、フライングハイトの狭小化によってもヘッドクラッ
シュやサーマルアスペリティーの問題を起こし易い。
When the glass substrate 1 is used, it is preferable to use NiAl as the shield layer and a Co-based alloy as the base film in order to ensure excellent information recording / reproducing characteristics and film adhesion. As a film forming means, a sputtering method is usually used, and according to this method, the surface irregularities of the glass substrate 1 are maintained as they are. Note that by applying a tape burnishing process after the film formation, foreign substances and dirt attached to the protective film can be removed. Since the information recording medium directly reflects the irregularities on the surface of the glass substrate, head crash and thermal asperity are likely to occur even if the flying height is reduced.

【0066】上述したように、ヘッドクラッシュ及びサ
ーマルアスペリティーの問題を解決するためにスクラブ
表面処理が施され、最適化されたガラス基板1の表面の
凹凸は、所定の基準により評価される。このガラス基板
1の表面の凹凸の評価基準は、平均面粗さRa、十点平
均面粗さRz等があるが、本発明においては、以下に説
明するベアリングハイトを用いる。
As described above, scrub surface treatment is performed to solve the problems of head crash and thermal asperity, and the surface irregularities of the optimized glass substrate 1 are evaluated based on a predetermined standard. The evaluation criteria for the irregularities on the surface of the glass substrate 1 include an average surface roughness Ra, a ten-point average surface roughness Rz, and the like. In the present invention, a bearing height described below is used.

【0067】以下、ベアリングハイトを図3を参照しな
がら説明する。
Hereinafter, the bearing height will be described with reference to FIG.

【0068】図3は、テクスチャー処理を行ったガラス
基板1の表面の凹凸の概念図であり、(a)は、ガラス
基板表面の凹凸を示し、(b)は、図3(a)のA−A
線断面図であり、(c)は、図3(a)のB−B線断面
図である。
FIGS. 3A and 3B are conceptual diagrams of the irregularities on the surface of the glass substrate 1 subjected to the texture processing. FIG. 3A shows the irregularities on the surface of the glass substrate, and FIG. 3B shows A in FIG. -A
It is a line sectional view, and (c) is a BB line sectional view of Drawing 3 (a).

【0069】図3において、参照番号10は、ガラス基
板1の表面凹凸、同11は、ベアリングレシオ0.4%
のスライス面、同12は、ベアリングレシオ50%のス
ライス面(基準面)、同13は、スライス面におけるガ
ラス基板1の表面凸部の切断面を示す。
In FIG. 3, reference numeral 10 denotes the surface unevenness of the glass substrate 1, and reference numeral 11 denotes a bearing ratio of 0.4%.
12 shows a slice surface (reference surface) with a bearing ratio of 50%, and 13 shows a cut surface of a convex portion of the surface of the glass substrate 1 in the slice surface.

【0070】ベアリングハイトは、ガラス基板1の表面
の凸部にのみ着目して、凸部形状を評価する基準をもっ
て、ガラス基板1の表面の凹凸を評価するものである。
具体的には、ガラス基板1の表面の凹凸の接触比率が5
0%の場合を基準高さとし、その接触比率が0.4%の
場合の高さ:ベアリングハイト(BH04)が2〜7n
mの範囲にあるか否かを評価基準とする。ここで、接触
比率は、ベアリングレシオで表される値であり、原子間
力顕微鏡(AFM)により測定される。ベアリングレシ
オとは、ガラス基板表面をある平面でスライスしたとき
に、ガラス基板表面の凸部の切断面がそのスライス面に
占める割合である。したがって、接触比率が50%の場
合とは、スライス面において、凸部の切断面がそのスラ
イス面の半分を占める割合である(図3(c))。接触
比率50%の場合のスライス面を基準面とし、このスラ
イス面を凸部の先端方向に平行移動すると、接触比率は
除々に小さくなる。そして、接触面積が0.4%(図3
(b))になるまで移動した距離が、接触比率0.4%
の場合の高さBH04に該当する。すなわち、接触比率
が50%から0.4%になるまで、スライス面を移動し
た距離が、2から7nmの場合に、ヘッドクラッシュ及
びサーマルアスペリティーの問題を解決可能なガラス基
板であることを見い出した。
The bearing height focuses only on the projections on the surface of the glass substrate 1 and evaluates the irregularities on the surface of the glass substrate 1 based on the criteria for evaluating the shape of the projections.
Specifically, the contact ratio of the irregularities on the surface of the glass substrate 1 is 5
0% is the reference height, and the height when the contact ratio is 0.4%: bearing height (BH04) is 2 to 7 n
The evaluation criterion is whether or not it is within the range of m. Here, the contact ratio is a value represented by a bearing ratio, and is measured by an atomic force microscope (AFM). The bearing ratio is the ratio of the cut surface of the convex portion of the glass substrate surface to the slice surface when the glass substrate surface is sliced on a certain plane. Therefore, the case where the contact ratio is 50% is a ratio in which the cut surface of the convex portion occupies half of the slice surface in the slice surface (FIG. 3C). When the slice plane in the case of the contact ratio of 50% is set as the reference plane and this slice plane is moved in parallel to the tip direction of the projection, the contact ratio gradually decreases. And the contact area is 0.4% (FIG. 3).
(B)) is the distance moved until the contact ratio is 0.4%
Corresponds to the height BH04. That is, when the distance moved on the slice surface is 2 to 7 nm until the contact ratio becomes 50% to 0.4%, it is found that the glass substrate can solve the problems of head crash and thermal asperity. Was.

【0071】なお、図4にこの発明の代表例と共にベア
リングレシオとベアリングハイトの関係を簡単に示す。
FIG. 4 briefly shows the relationship between the bearing ratio and the bearing height together with a typical example of the present invention.

【0072】このような評価基準は、ガラス基板表面の
凹凸に関する本発明者らの多くの実験とその結果の解析
とにより初めて見い出され導入されたものである。すな
わち、磁気ヘッドとガラス基板表面の関係において、そ
れらの接触特性及び磁気ヘッドの飛行安定性について詳
細に比較検討した結果、ガラス基板表面のベアリングハ
イトが磁気ヘッドの飛行安定性と直接的な関連のあるパ
ラメータであることを見い出したことに端緒する。これ
に関し、BH04がそれぞれ異なる情報記録媒体を多数
作製し、これを減圧下26.7kPa(200Tor
r)で磁気ヘッドの定点浮上テストを行った。その結果
の一部を図5に記載する。一般に磁気ヘッドの浮上高さ
(フライングハイト)は環境圧力の低下と共に小さくな
るため、減圧下では磁気ヘッドとガラス基板の接触が一
層生じ易くなる。よって、減圧下でのテストは、ヘッド
クラッシュ耐力に関する一種の加速試験として位置付け
られる。
Such an evaluation criterion was found and introduced for the first time by many experiments of the present inventors on the irregularities of the glass substrate surface and analysis of the results. In other words, in the relationship between the magnetic head and the glass substrate surface, as a result of a detailed comparison of the contact characteristics and flight stability of the magnetic head, the bearing height on the glass substrate surface is directly related to the flight stability of the magnetic head. It starts with finding out that it is a certain parameter. In this regard, BH04 produced a number of different information recording media, each of which was reduced to 26.7 kPa (200 Torr) under reduced pressure.
In r), a fixed point flying test of the magnetic head was performed. A part of the result is shown in FIG. Generally, the flying height of the magnetic head becomes smaller as the environmental pressure decreases, so that the magnetic head and the glass substrate are more likely to come into contact under reduced pressure. Therefore, the test under reduced pressure is regarded as a kind of acceleration test regarding head crash proof strength.

【0073】CSS方式に関しては、従来からガラス基
板表面の凹凸について種々の検討が行われており、R
a、Rmax、最大突起高さRp、突起密度、突起高さ
又は突起サイズなど種々のパラメータによる好適範囲が
提案されている。ここで、最大突起高さRpは、測定エ
リア20μm×20μmで観察され突起の最大値であ
る。
Regarding the CSS method, various studies have been made on the irregularities on the surface of the glass substrate.
A suitable range based on various parameters such as a, Rmax, maximum projection height Rp, projection density, projection height or projection size has been proposed. Here, the maximum protrusion height Rp is the maximum value of the protrusion observed in the measurement area of 20 μm × 20 μm.

【0074】しかし、これらの検討は、CSSゾーンに
おける摩擦、摩耗に関する最適化のためのものであり、
データゾーンにおける磁気ヘッドの低浮上時の飛行安定
性又はサーマルアスペリティーを考慮したものではな
い。
However, these studies are for optimization of friction and wear in the CSS zone.
It does not consider the flight stability or thermal asperity of the magnetic head in the data zone when flying low.

【0075】図5に示すように、BH04が2nmを境
として、それ未満では数時間でヘッドクラッシュが発生
するようになる。これは、BH04が2nmより小さく
なくなると、磁気ヘッドの飛行安定性が急激に低下する
ためであると考えられる。一方、BH04が7nmを超
えると、突出した凸部との衝突に起因するヘッドクラッ
シュの発生確率が高まり、またサーマルアスペリティー
の発生頻度も上昇する。
As shown in FIG. 5, if BH04 is at or below 2 nm, a head crash will occur within several hours if BH04 is less than 2 nm. It is considered that this is because when BH04 becomes smaller than 2 nm, the flight stability of the magnetic head rapidly decreases. On the other hand, when BH04 exceeds 7 nm, the probability of occurrence of a head crash due to collision with a protruding projection increases, and the frequency of occurrence of thermal asperity also increases.

【0076】BH04は、3〜6.5nmがより好まし
く、さらには3.5〜6.0nmが好適である。下限値
を3又は3.5nm以上とするのは、上記ガラス基板1
を情報記録媒体に加工する際にテープバーニッシュと呼
ばれる異物除去工程があり、そこでの削り代を残してお
くためである。このように高めに設定された下限値によ
り、目的とする性能を備えたガラス基板の生産歩留まり
が向上する。一方、上限値を低く設定することで、フラ
イングハイトの設計値が低くても、ヘッドクラッシュの
発生頻度を低下さえることができる。また、例えば高山
のような気圧の低い過酷な環境下でも、情報記録装置の
信頼性を向上させることができる。
BH04 preferably has a thickness of 3 to 6.5 nm, more preferably 3.5 to 6.0 nm. The lower limit is set to 3 or 3.5 nm or more because the above glass substrate 1
This is because there is a foreign matter removal step called tape burnish when processing the information recording medium into an information recording medium, so that a shaving allowance is left there. With the lower limit set higher as described above, the production yield of the glass substrate having the target performance is improved. On the other hand, by setting the upper limit to be low, even if the design value of the flying height is low, the frequency of occurrence of head crash can be reduced. Further, the reliability of the information recording device can be improved even in a severe environment with a low atmospheric pressure such as a high mountain.

【0077】さらに、ガラス基板表面の凹凸は、接触比
率が50%の場合を基準高さとしたときの接触比率0.
1%における高さBH01が2〜10nmであることが
好ましい。これは、後述の実施例で証明されているよう
に、BH01が10nmを超えると、ヘッドクラッシュ
の発生確率が高まるためである。なお、通常は、BH0
1≧BH04である。
Further, the irregularities on the surface of the glass substrate were determined to have a contact ratio of 0.
It is preferable that the height BH01 at 1% is 2 to 10 nm. This is because when BH01 exceeds 10 nm, the probability of occurrence of a head crash increases, as proved in the examples described later. Normally, BH0
1 ≧ BH04.

【0078】[0078]

【実施例】以下、実施例及び比較例により本発明をさら
に具体的に説明する。
The present invention will be described more specifically with reference to examples and comparative examples.

【0079】まず、表1に示す情報記録媒体用ガラス基
板を以下の工程を経て製造した。
First, a glass substrate for an information recording medium shown in Table 1 was manufactured through the following steps.

【0080】[0080]

【表1】 [Table 1]

【0081】(実施例1)加工工程 フロート法で形成したアルミノシリケートガラス(Si
2:66.0mol%、Al23:11.0mol
%、Li2O:8.0mol%、Na2O:9.0mol
%、MgO:2.4mol%、CaO:3.6mol
%、K2O:0.2mol%、SrO:2.0mol
%)をダイヤモンドカッターを用いて、外径96mm
φ、内径24mmφに同時に切断し、ドーナツ状のガラ
ス基板とした。
Example 1 Processing Step Aluminosilicate glass (Si) formed by a float method
O 2 : 66.0 mol%, Al 2 O 3 : 11.0 mol
%, Li 2 O: 8.0 mol%, Na 2 O: 9.0 mol
%, MgO: 2.4 mol%, CaO: 3.6 mol
%, K 2 O: 0.2 mol%, SrO: 2.0 mol
%) Using a diamond cutter to obtain an outer diameter of 96 mm.
φ and an inner diameter of 24 mmφ were cut at the same time to obtain a donut-shaped glass substrate.

【0082】次に、ドーナツ状のガラス基板の外径及び
内径寸法を正確に製品寸法に合わせるために、該ガラス
基板の内外周を研削して端面・面取加工を施した。この
端面加工には、ダイヤモンド砥粒を付着させた砥石を用
いて#325と#500の2段階で研削加工を行った。
この研削加工と同時に、研削砥石を製品の所定形状が出
るように作製しておき、ガラス基板の内外周の面取加工
も施した。この端面・面取加工の後に、端面・面取面の
粗さを滑らかにするためにセリウム研磨剤を用いてガラ
ス基板の端面・面取面を研磨した。
Next, in order to accurately adjust the outer and inner diameters of the doughnut-shaped glass substrate to the product size, the inner and outer peripheries of the glass substrate were ground and chamfered. In this end face processing, grinding was performed in two stages of # 325 and # 500 using a grindstone to which diamond abrasive grains were attached.
At the same time as the grinding, a grinding wheel was prepared so that a predetermined shape of the product was obtained, and chamfering was performed on the inner and outer circumferences of the glass substrate. After this edge / chamfering process, the edge / chamfered surface of the glass substrate was polished with a cerium abrasive to smooth the roughness of the edge / chamfered surface.

【0083】ラッピング加工(粗研磨加工)工程 アルミナ砥粒を20質量%程度の濃度になるように水に
溶かしてスラリーとし、該スラリーを研磨機の金属定盤
とガラス基板との間に供給してガラス基板の上下面を同
時に研磨した。アルミナ砥粒としては、#600と#1
000の2種類を用いて粗研削・粗加工の2段階でガラ
ス基板を研磨した。この粗研磨加工した後、研磨に使用
した研磨剤を次工程に持ち込まないように水や洗剤を用
いて洗浄を行った。この洗浄の際には、ガラス基板表面
に付着した研磨剤を落ち易くするために、約48kH
z、1W/cm2の超音波をガラス基板に付与して洗浄
を行った。
Lapping (Coarse Polishing) Step Alumina abrasive grains are dissolved in water to a concentration of about 20% by mass to form a slurry, and the slurry is supplied between a metal platen of a polishing machine and a glass substrate. The upper and lower surfaces of the glass substrate were simultaneously polished. # 600 and # 1 as alumina abrasives
The glass substrate was polished in two stages of rough grinding and rough processing using two types of 000. After this rough polishing, cleaning was performed using water or a detergent so that the polishing agent used for polishing was not carried into the next step. At the time of this cleaning, in order to make it easy to remove the abrasive attached to the glass substrate surface, about 48 kHz
Cleaning was performed by applying ultrasonic waves of 1 W / cm 2 to the glass substrate.

【0084】一次研磨加工工程 酸化セリウムと酸化ランタンを主成分とする平均粒径
1.5μm程度のセリウム研磨剤を用い、該セリウム研
磨剤の濃度が20質量%程度になるように水に溶かした
スラリーを研磨機に供給してガラス基板を研磨した。研
磨機には、酸化セリウムを含浸させた発泡ウレタン系の
研磨パッドをガラス基板が接触する面に貼り付けて、該
研磨パッドによりガラス基板の上下面を同時に研磨し
た。この研磨では、研磨パッドに5kg程度の加重をか
けてガラス基板が所定の厚みになるまで研磨機を稼働さ
せた。一次研磨加工した後、研磨剤を次工程に持ち込ま
ないように水や洗剤を用いてガラス基板を洗浄した。こ
の洗浄でも、ガラス基板表面に付着した研磨剤を落とし
易くするために、約48kHz、1W/cm2の超音波
をガラス基板に付与して洗浄を行った。
Primary polishing step A cerium abrasive having an average particle size of about 1.5 μm and containing cerium oxide and lanthanum oxide as main components was dissolved in water so that the concentration of the cerium abrasive became about 20% by mass. The slurry was supplied to a polishing machine to polish the glass substrate. On the polishing machine, a urethane foam-based polishing pad impregnated with cerium oxide was adhered to the surface in contact with the glass substrate, and the upper and lower surfaces of the glass substrate were simultaneously polished by the polishing pad. In this polishing, a polishing pad was operated by applying a load of about 5 kg to the polishing pad until the glass substrate had a predetermined thickness. After the primary polishing, the glass substrate was washed with water or a detergent so as not to carry the abrasive into the next step. Also in this cleaning, in order to make it easy to remove the abrasive adhered to the glass substrate surface, about 48 kHz, 1 W / cm 2 ultrasonic wave was applied to the glass substrate for cleaning.

【0085】二次研磨加工工程 一次研磨加工時と同じ酸化セリウムと酸化ランタンが主
成分で、一次研磨で用いた研磨剤よりさらに小さい粒径
のセリウム研磨剤とスエード系の研磨パッドを用いて遊
離砥粒研磨を実施した。研磨する際に、ガラス基板に余
り大きな加重をかけるとガラス基板の主表面にファイン
スクラッチと呼ばれる微細な傷を付着させることになる
ので、軽加重で時間をかけて研磨を実施した。
Secondary polishing process The main component is cerium oxide and lanthanum oxide, which are the same as those used in the primary polishing process, and are released using a cerium abrasive having a smaller particle size than the abrasive used in the primary polishing and a suede-based polishing pad. Abrasive polishing was performed. At the time of polishing, if a too large load is applied to the glass substrate, fine scratches called fine scratches will adhere to the main surface of the glass substrate.

【0086】この二次研磨加工した後でも、付着した研
磨剤を除去するために、約48kHz、1W/cm2
超音波をガラス基板に付与して洗浄を行った。
Even after the secondary polishing, the glass substrate was cleaned by applying ultrasonic waves of about 48 kHz and 1 W / cm 2 to remove the attached abrasive.

【0087】洗浄・テクスチャー処理工程 純水のシャワーで洗って、ガラス基板表面に弱く付着し
た研磨剤を除去した後、50℃に保持した0.01質量
%フッ化水素酸溶硬の浴中にガラス基板を1分間浸漬
し、約48kHz、1W/cm2の超音波を1分間照射
した。その後、40℃に保持した市販のアルカリ溶液
(pH11:株式会社ケミカルプロダクツ製RBS2
5)の浴中にガラス基板を1分間浸漬し、約48kH
z、1W/cm2の超音波を1分間照射した。このガラ
ス基板をアルカリ溶液の浴中から引き上げて、純水浴中
に浸しリンスしてアルカリ溶液を除去した。最後に、ガ
ラス基板を純水浴中で3回リンスし、イソプロピルアル
コールの浴に浸漬して約48kHzの超音波を2分間照
射した後、イソプロピルアルコール蒸気中で1分間乾燥
させた。
Washing / texture treatment step Washing with a shower of pure water to remove the polishing agent weakly adhering to the surface of the glass substrate, and then placing it in a bath of 0.01% by mass hydrofluoric acid solution hardened at 50 ° C. The glass substrate was immersed for 1 minute and irradiated with about 48 kHz, 1 W / cm 2 ultrasonic waves for 1 minute. Thereafter, a commercially available alkaline solution (pH 11: RBS2 manufactured by Chemical Products Co., Ltd.) maintained at 40 ° C.
5) Immerse the glass substrate in the bath for 1 minute,
Ultrasonic waves of 1 W / cm 2 were applied for 1 minute. The glass substrate was pulled out of the bath of the alkaline solution, immersed in a pure water bath and rinsed to remove the alkaline solution. Finally, the glass substrate was rinsed three times in a pure water bath, immersed in a bath of isopropyl alcohol, irradiated with ultrasonic waves of about 48 kHz for 2 minutes, and then dried in isopropyl alcohol vapor for 1 minute.

【0088】化学強化工程 試薬1級の硝酸ナトリウム40%と試薬1級の硝酸カリ
ウム60%の混合溶融塩中にガラスを浸漬し、380℃
で3時間保持してイオン交換を行い化学強化した。化学
強化を終えたサンプルは徐冷し、ガラス基板に付着した
強化塩は純水浴中で洗い流した。
Chemical strengthening step The glass is immersed in a mixed molten salt of 40% of the first grade sodium nitrate and 60% of the first grade potassium nitrate.
For 3 hours to carry out ion exchange for chemical strengthening. The sample after the chemical strengthening was gradually cooled, and the strengthening salt attached to the glass substrate was washed away in a pure water bath.

【0089】スクラブ表面処理(異常突起除去)工程 続いて、ウレタンスポンジ(硬度(アスカーC)=1
0、厚み=10mm)にポリカーボネート系ポリウレタ
ン製の表面層(硬度(アスカーC)=75、樹脂の10
0%モデュラス=200kg/cm2、平均開口径=1
00μm、厚み=0.6mm、連続発泡タイプ)をもつ
スポンジを短冊状に切断し、両面テープで貼り合わせる
ようにして円柱型ロールに螺旋状に巻き付け、スクラブ
用スポンジとした。内周エッジ部で保持しながら回転さ
せているガラス基板をこのスポンジ2本の間に挟み込ん
で10秒間スクラブ洗浄を行った。このとき、ガラス基
板の回転数を300rpm、スポンジの押付圧は392
00Pa(400gf/cm 2)とし、pH11の水酸
化カリウム水溶液をガラス基板とスポンジとの間に毎分
30mlで供給した。
[0089]Scrub surface treatment (removal of abnormal protrusions) Subsequently, urethane sponge (hardness (Asker C) = 1)
0, thickness = 10mm)
Surface layer (hardness (Asker C) = 75, resin 10)
0% Modulus = 200 kg / cmTwo, Average opening diameter = 1
00 μm, thickness = 0.6 mm, continuous foam type)
Cut the sponge into strips and paste with double-sided tape
Spirally around a cylindrical roll and scrub
For sponge. Rotated while holding at the inner edge
Glass substrate between the two sponges
For 10 seconds. At this time, the glass base
The rotation speed of the plate is 300 rpm, and the pressure of the sponge is 392.
00Pa (400gf / cm Two) And pH 11 hydroxyl
An aqueous solution of potassium iodide is placed between the glass substrate and the sponge every minute.
The feed was 30 ml.

【0090】仕上げ洗浄工程 その後、40℃に保持した0.01wt%の硫酸浴中に
ガラス基板を1分間浸漬し、約48kHz、1W/cm
2の超音波を1分間照射した。このガラス基板を硫酸浴
中から引き上げて、純水浴中に浸しリンスして酸性水溶
液を除去した。さらに、40℃に保持した市販のアルカ
リ溶液(pH11:株式会社ケミカルプロダクツ製のR
BS25)の浴中にガラス基板を1分間浸漬し、約48
kHz、1W/cm2の超音波を1分間照射した。この
ガラス基板をアルカリ溶液の浴中から引き上げて、純水
浴中に浸しリンスしてアルカリ溶液を除去した。最後
に、ガラス基板を純水浴中で3回リンスし、イソプロピ
ルアルコールの浴に浸漬して約48kHzの超音波を2
分間照射した後、イソプロピルアルコール蒸気中で1分
間乾燥させた。
After the final cleaning step , the glass substrate was immersed in a 0.01 wt% sulfuric acid bath maintained at 40 ° C. for 1 minute, and was immersed at about 48 kHz, 1 W / cm
The ultrasonic wave of No. 2 was irradiated for 1 minute. The glass substrate was pulled out of the sulfuric acid bath, immersed in a pure water bath and rinsed to remove the acidic aqueous solution. Further, a commercially available alkaline solution (pH 11: R manufactured by Chemical Products Co., Ltd.) maintained at 40 ° C.
The glass substrate was immersed in a bath of BS25) for 1 minute,
kHz, and irradiated for 1 minute ultrasound 1W / cm 2. The glass substrate was pulled out of the bath of the alkaline solution, immersed in a pure water bath and rinsed to remove the alkaline solution. Finally, the glass substrate is rinsed three times in a pure water bath, immersed in a bath of isopropyl alcohol, and irradiated with ultrasonic waves of about 48 kHz for 2 hours.
After irradiating for 1 minute, it was dried in isopropyl alcohol vapor for 1 minute.

【0091】成膜工程 このガラス基板上にスバッタリング法でNiAlシード
層、CrMo下地層、CoCrPt磁性層及びC系保護
膜を順次形成し、さらに浸漬法によりパーフルオロポリ
エーテル系の潤滑剤を形成し、情報記録媒体を製造し
た。
Film-forming step A NiAl seed layer, a CrMo underlayer, a CoCrPt magnetic layer and a C-based protective film are sequentially formed on this glass substrate by a sputtering method, and a perfluoropolyether-based lubricant is further applied by a dipping method. And an information recording medium was manufactured.

【0092】(実施例2)スクラブ表面処理工程で使用
するスポンジが、ナイロン・ポリエステル混合糸で織ら
れたYAC製テープの上に、ポリカーボネート系ポリウ
レタン製の表面層(硬度(アスカーC)=75、樹脂の
100%モデュラス=200kg/cm2、平均開口径
=100μm、厚み=0.6mm、連続発泡タイプ)を
もつスポンジを貼り付けたものであり、このスポンジを
ガラス基板の両面に当てて、さらにその外側から樹脂ロ
ールで押さえつけて、ガラス基板への接触部の形状が短
冊状になるようにしたこと以外は実施例1と同じ条件で
処理を行い、実施例2とした。
(Example 2) A sponge used in the scrub surface treatment step was a polycarbonate polyurethane surface layer (hardness (Asker C) = 75, on a YAC tape woven with nylon / polyester mixed yarn). A sponge having a resin 100% modulus = 200 kg / cm 2 , an average opening diameter = 100 μm, a thickness = 0.6 mm, and a continuous foam type) is adhered, and the sponge is applied to both surfaces of a glass substrate. The process was performed under the same conditions as in Example 1 except that the shape of the contact portion to the glass substrate was changed to a strip shape by pressing the resin from the outside with a resin roll, thereby obtaining Example 2.

【0093】(実施例3)スクラブ表面処理工程を化学
強化工程前に行ったこと以外は実施例1と同じ条件で処
理を行い、実施例3とした。
Example 3 Example 3 was carried out under the same conditions as in Example 1 except that the scrub surface treatment step was performed before the chemical strengthening step.

【0094】(実施例4)スクラブ表面処理工程後の仕
上げ洗浄工程で、酸性水溶液処理とアルカリ性水溶液と
で処理する代わりにアルカリ性水溶液のみで処理したこ
と以外は実施例1と同じ条件で処理を行い、それぞれ実
施例4とした。
(Example 4) In the finishing washing step after the scrub surface treatment step, the treatment was performed under the same conditions as in Example 1 except that the treatment was performed only with an alkaline aqueous solution instead of the acidic aqueous solution treatment and the alkaline aqueous solution treatment. , Respectively.

【0095】(実施例5)スクラブ表面処理工程後の仕
上げ洗浄工程で、酸性水溶液処理とアルカリ性水溶液と
で処理する代わりに純水のみで処理したこと以外は実施
例1と同じ条件で処理を行い、それぞれ実施例5とし
た。
(Example 5) In the finish cleaning step after the scrub surface treatment step, the treatment was performed under the same conditions as in Example 1 except that the treatment was performed only with pure water instead of the treatment with the acidic aqueous solution and the alkaline aqueous solution. , Respectively.

【0096】(実施例6)スクラブ工程においてガラス
基板保持及びガラス基板を回転する方法として、ガラス
基板の外周部をローラーで保持し、ガラス基板外周部と
接触しているローラーを回転することでガラス基板を回
転させた(ガラス基板の直径よりも長さの長い一対のロ
ール型スポンジでガラス基板を挟み込み、ガラス基板は
約200rpmで回転させた)こと以外は実施例1と同
じ条件で処理を行い、実施例6とした。
Embodiment 6 As a method of holding and rotating the glass substrate in the scrubbing step, the outer periphery of the glass substrate is held by a roller, and the roller in contact with the outer periphery of the glass substrate is rotated to rotate the glass. The processing was performed under the same conditions as in Example 1 except that the substrate was rotated (the glass substrate was sandwiched between a pair of roll-type sponges having a length longer than the diameter of the glass substrate, and the glass substrate was rotated at about 200 rpm). And Example 6.

【0097】(実施例7)スクラブ表面処理工程で使用
するスポンジとして、表面層のアスカー硬度が40のス
ポンジを用いたこと以外は実施例1と同じ条件で処理を
行い、実施例7とした。
Example 7 Example 7 was carried out under the same conditions as in Example 1 except that a sponge having a surface layer of Asker hardness of 40 was used as a sponge used in the scrub surface treatment step.

【0098】(比較例1)スクラブ表面処理工程で使用
するスポンジとして、ロール型ではなく、カップ状の平
面スポンジを用い、スポンジを300rpmで回転させ
ることで基板を回転させたこと以外は実施例1と同じ条
件で処理を行い、比較例1とした。
Comparative Example 1 A sponge used in the scrub surface treatment step was not a roll type, but a cup-shaped planar sponge, and the substrate was rotated by rotating the sponge at 300 rpm. The process was performed under the same conditions as in Example 1 to obtain Comparative Example 1.

【0099】(比較例2)スクラブ表面処理工程で使用
するスポンジとして、表面層のアスカー硬度が30のス
ポンジを用いたこと以外は実施例1と同じ条件で処理を
行い、比較例2とした。
(Comparative Example 2) [0099] Comparative Example 2 was performed under the same conditions as in Example 1 except that a sponge having a surface layer having an Asker hardness of 30 was used as a sponge used in the scrub surface treatment step.

【0100】(比較例3)スクラブ表面処理工程で使用
するスポンジとして、円柱型ロールに厚み10mmのP
VFスポンジを巻き付けたものを用いたこと以外は実施
例1と同じ条件で処理を行い、比較例3とした。
(Comparative Example 3) As a sponge used in the scrub surface treatment step, a cylindrical roll having a thickness of 10 mm was used.
The process was performed under the same conditions as in Example 1 except that a wound VF sponge was used, and Comparative Example 3 was obtained.

【0101】ガラス基板の形状評価 上記実施例1〜6及び比較例1〜3のガラス基板の異常
突起とテクスチャーを走査型プローブ顕微鏡:AFM
(デジタルインスツルメンツ製のNanoscopeIIIa)、タ
ッピングモードを用いて測定した。異常突起の指標とし
ては最大突起高さRp、高さ20nmの突起数、高さ1
0nmの突起数を測定した。ここで、Rpは、測定エリ
ア20μm×20μmで観察される最大突起高さを表
す。高さ10、20nmの突起数は、測定エリア内の突
起数を表すが、その存在確率からAFM視野面積が合計
で0.01mm2になるように調整した。
Evaluation of Shape of Glass Substrate Abnormal protrusions and textures of the glass substrates of Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 to 3 were measured by using a scanning probe microscope: AFM.
(Nanoscope IIIa manufactured by Digital Instruments) and measured using a tapping mode. As the index of the abnormal protrusion, the maximum protrusion height Rp, the number of protrusions having a height of 20 nm, and the height 1
The number of protrusions at 0 nm was measured. Here, Rp represents the maximum projection height observed in the measurement area of 20 μm × 20 μm. The number of protrusions having a height of 10 or 20 nm indicates the number of protrusions in the measurement area. From the existence probability, the number of protrusions was adjusted so that the AFM viewing area became 0.01 mm 2 in total.

【0102】半径方向の分布を評価するために、ドーナ
ッツ状ガラス基板における以下、、、、の場
所で上記測定を実施した。
In order to evaluate the distribution in the radial direction, the above measurement was performed at the following places on the donut-shaped glass substrate.

【0103】 内周エッジから外周に向かって3mm
移動させた場所 内周エッジから外周に向かって5mm移動させた場
所 内周エッジと外周エッジの中間点 外周エッジから内周に向かって1mm移動させた場
所 外周エッジから内周に向かって3mm移動させた場
所 テクスチャーの指標としては、ガラス基板の表面凹凸の
接触比率が50%の場合を基準高さとし、その接触比率
が0.4%の場合の高さであるベアリングハイトBH0
4を用いた。接触比率はベアリングレシオで表される値
であり、ベアリングレシオとはガラス基板をある平面で
スライスしたときに、ガラス基板表面の凸部の切断面が
そのスライス面に占める割合である。接触比率50%の
場合のスライス面を基準面とし、このスライス面を凸部
の先端方向に平行移動すると、接触比率は徐々に小さく
なる。そして、接触面積が0.4%になるまで移動した
距離が、接触比率0.4%の場合の高さBH04に相当
する。
3 mm from inner edge to outer edge
Location moved 5 mm from inner edge to outer circumference Intermediate point between inner edge and outer edge Location moved 1 mm from outer edge to inner circumference Move 3 mm from outer edge to inner circumference As an index of the texture, the bearing height BH0, which is the height when the contact ratio of the surface unevenness of the glass substrate is 50% and the contact ratio is 0.4%, is set as the reference height.
4 was used. The contact ratio is a value represented by a bearing ratio, and the bearing ratio is a ratio of a cut surface of a convex portion of a glass substrate surface to a slice surface when the glass substrate is sliced on a certain plane. When the slice plane in the case of the contact ratio of 50% is set as the reference plane and this slice plane is moved in parallel to the tip direction of the projection, the contact ratio gradually decreases. The distance moved until the contact area becomes 0.4% corresponds to the height BH04 when the contact ratio is 0.4%.

【0104】本発明者らは、ガラス基板表面のベアリン
グハイトが磁気ヘッドの飛行安定性(磁気ヘッドが飛行
中にガラス基板表面と接触しないこと)と直接的な関連
のあるパラメータであること、すなわちBH04が2n
mより小さくなると、或いは7nmを超えるとへッドク
ラッシュの発生確率が高まり、サーマルアスペリティー
の発生頻度も上昇することを見出している。BH04が
2nmより小さいと磁気ヘッドの飛行安定性が急激に低
下し、7nmを超えると突出した凸部との衝突に起因す
るヘッドクラッシュの発生確率が高まると推定してい
る。BH04がそれぞれ異なる情報記録媒体を多数作製
し、これを以下に示す減圧下26.7kPa(200T
orr)で磁気ヘッドの定点浮上テストを行った結果を
表2に示す。
We have determined that the bearing height of the glass substrate surface is a parameter directly related to the flight stability of the magnetic head (the magnetic head does not contact the glass substrate surface during flight), BH04 is 2n
It has been found that when the diameter is smaller than m or when the diameter exceeds 7 nm, the probability of occurrence of head crash increases and the frequency of occurrence of thermal asperity also increases. It is estimated that when BH04 is smaller than 2 nm, the flight stability of the magnetic head is rapidly reduced, and when BH04 is larger than 7 nm, the probability of occurrence of a head crash due to collision with a protruding projection increases. BH04 produced a number of different information recording media, each of which was subjected to a reduced pressure of 26.7 kPa (200 T
Table 2 shows the results of the fixed point flying test of the magnetic head performed at orr).

【0105】[0105]

【表2】 [Table 2]

【0106】情報記録媒体の性能評価 情報記録媒体に対して、減圧下26.7kPa(200
Torr)で定点浮上浮上テストを行い、ヘッドがクラ
ッシュするまでの時間を評価した。半径方向の分布を評
価するために、ドーナッツ状ガラス基板における以下の
、、の場所で上記テストを実施した。
Performance Evaluation of Information Recording Medium The information recording medium was subjected to a pressure reduction of 26.7 kPa (200 kPa).
(Torr), a fixed point levitation test was performed to evaluate the time until the head crashed. In order to evaluate the radial distribution, the above-mentioned test was performed at the following places on the donut-shaped glass substrate.

【0107】 内周エッジから外周に向かって3mm
移動させた場所 内周エッジと外周エッジの中間点 外周エッジから内周に向かって1mm移動させた場
所 BH04、Rp、10nm突起数、ヘッドクラッシュま
での時間の半径方向の分布を図6〜図9に示した。
3 mm from inner edge to outer edge
Moved location Intermediate point between inner peripheral edge and outer peripheral edge Location moved 1 mm from outer peripheral edge toward inner circumference BH04, Rp, number of 10 nm protrusions, radial distribution of time to head crash FIGS. 6 to 9 It was shown to.

【0108】実施例1〜7から、スポンジ表面層の硬度
(アスカーC)が40より大きいと、面内半径方向にわ
たって10nm、20nmの突起がなく、Rpが10n
m以下で、且つBH04が2〜7nm、BH04の面内
のばらつきが1nmより小さい、高さの揃った面内均質
性のよいテクスチャーが得られることが分かる。このよ
うなガラス基板では、ヘッドクラッシュまでの時間が1
00時間以上と情報記録媒体として良好な特性を示し
た。
From Examples 1 to 7, when the hardness (Asker C) of the sponge surface layer is larger than 40, there are no protrusions of 10 nm and 20 nm over the in-plane radial direction, and Rp is 10 n.
It can be seen that a texture with a uniform height and good in-plane homogeneity with a BH04 of 2 to 7 nm and an in-plane variation of BH04 of less than 1 nm can be obtained. In such a glass substrate, the time until head crash is 1
When the time was 00 hours or more, good characteristics as an information recording medium were exhibited.

【0109】比較例1から、スクラブ洗浄に用いるスポ
ンジがカップ状の平面スポンジであると、ガラス基板内
周部のアスペリティーが十分に除去できないことが分か
る。内周部ではBH04は7nmより大きくなり、Rp
は10nmより大きくなり、HTOは7nm程度とな
り、10nm突起も数個〜数十個/0.01mm2存在
した。そして、ヘッドクラッシュまでに要する時間を比
較すると、比較例1ではガラス基板中心付近で、実施例
1よりもヘッドクラッシュまでの時間が短くなってい
る。この傾向は、カップ状の平面スポンジではその構造
上片当たりが発生し易く、外周部に比べて内周部の当た
りが弱い、或いはガラス基板内周部でのガラス基板とス
ポンジとが接触する際の相対速度がより小さくなるため
と推定している。
Comparative Example 1 shows that when the sponge used for scrub cleaning is a cup-shaped planar sponge, the asperity in the inner peripheral portion of the glass substrate cannot be sufficiently removed. In the inner circumference, BH04 becomes larger than 7 nm, and Rp
Became larger than 10 nm, HTO became about 7 nm, and several to several tens of 10 nm protrusions / 0.01 mm 2 were present. Comparing the time required until head crash, in Comparative Example 1, the time until head crash is shorter near the center of the glass substrate than in Example 1. This tendency is that when the sponge is in contact with the glass substrate at the inner peripheral portion of the glass substrate, the contact is likely to occur in the cup-shaped flat sponge due to its structure, and the inner peripheral portion is weaker than the outer peripheral portion. It is presumed that the relative speed becomes smaller.

【0110】また、ガラス基板中心部でのヘッドクラッ
シュまでの時間を比較すると、比較例1は実施例1より
も早くヘッドクラッシュを起こすことが分かる。これは
カップ状の平面スポンジでは、円周方向にほぼ垂直に擦
っているのに対し、実施例1では円周方向、すなわちヘ
ッドの飛行方向と同方向に擦っているためと推定してい
る。
Also, when comparing the time until head crash at the center of the glass substrate, it can be seen that head crash occurs in Comparative Example 1 earlier than in Example 1. This is presumed to be because the cup-shaped planar sponge rubs almost perpendicularly to the circumferential direction, whereas in the first embodiment, it rubs in the circumferential direction, that is, the same direction as the head flight direction.

【0111】比較例2から、スクラブ洗浄に用いるスポ
ンジ表面層の硬度(アスカーC)が40より小さいと異
常突起が除去できず、またBH04も7nmより大きく
なることが分かる。ヘッドクラッシュまでの時間も10
0時間には到達しなかった。
Comparative Example 2 shows that when the hardness (Asker C) of the sponge surface layer used for scrub cleaning is smaller than 40, abnormal protrusions cannot be removed, and BH04 also becomes larger than 7 nm. 10 hours before head crash
It did not reach 0 hours.

【0112】比較例3から、PVFスポンジを用いてス
クラブすると異常突起が除去できず、またBH04も7
nmより大きくなることが分かる。ヘッドクラッシュま
での時間も100時間には到達しなかった。
As can be seen from Comparative Example 3, when scrubbing was performed using a PVF sponge, abnormal protrusions could not be removed, and BH04 was not removed.
It turns out that it becomes larger than nm. The time to head crash did not reach 100 hours.

【0113】実施例1〜2を比較することにより、スク
ラブ表面処理方法がロールブラシ方式であってもテープ
方式であってもアスペリティー除去能力、テクスチャー
制御能の点で同等の性能が得られることが分かる。
By comparing Examples 1 and 2, it is found that the same performance can be obtained in terms of asperity removal ability and texture control ability regardless of whether the scrub surface treatment method is a roll brush method or a tape method. I understand.

【0114】実施例1と3を比較することにより、化学
強化工程が入る場合、スクラブ表面処理工程は化学強化
工程後に行った方が、アスペリティー除去能力、テクス
チャー制御能の点でより優れ、好ましいことが分かる。
By comparing Examples 1 and 3, when the chemical strengthening step is included, it is preferable that the scrub surface treatment step is performed after the chemical strengthening step, because the asperity removing ability and the texture controlling ability are more excellent. You can see that.

【0115】実施例1と実施例3及び4を比較すること
により、スクラブ表面処理工程後の仕上げ洗浄工程で
は、アスペリティー除去能力、テクスチャー制御能力の
点で、酸性水溶液処理とアルカリ性水溶液処理を施すの
がより優れ、好ましく、次いでアルカリ性水溶液処理を
施すことが好ましいことが分かる。
By comparing Example 1 with Examples 3 and 4, in the finish cleaning step after the scrub surface treatment step, an acidic aqueous solution treatment and an alkaline aqueous solution treatment are performed in terms of asperity removal ability and texture control ability. This is more preferable and preferable, and then it is preferable to perform an alkaline aqueous solution treatment.

【0116】実施例1と実施例6を比較することによ
り、スクラブ表面処理方法は、ガラス基板をその外周部
で保持しつつ、保持するローラーを回転させることでガ
ラス基板を回転させる方法では、内周部でチャックして
基板を安定的に滑らかに回転させる方法に比べて早くヘ
ッドクラッシュが起こった。これは、ガラス基板とロー
ラーとの間で滑り現象が起こり、微視的に見た場合にガ
ラス基板のテクスチャーに半径方向に放射状の斑が生じ
たためと推定している。
By comparing Example 1 with Example 6, the scrub surface treatment method is based on the method of rotating the glass substrate by rotating the holding roller while holding the glass substrate at the outer periphery. A head crash occurred earlier than in a method in which the substrate was chucked at the periphery and the substrate was rotated stably and smoothly. This is presumed to be because a sliding phenomenon occurred between the glass substrate and the roller, and when viewed microscopically, radial irregularities occurred in the texture of the glass substrate in the radial direction.

【0117】[0117]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、請求項1記
載の製造方法によれば、ガラス基板の表面を硬度が日本
ゴム協会標準規格SRISO101のアスカーCで40
〜100であるスポンジを用いてガラス基板の円周方向
にスクラブ表面処理するので、スポンジの最表面部(ガ
ラス基板と接触する部分)を微視的に硬く、巨視的にし
なやかにし、接触部形状がガラス基板の半径方向に線状
又は短冊状になるようにスポンジを接触させながら、内
周エッジで固定したガラス基板を強制回転させ、円周方
向にスクラブすることで、ガラス基板の不均一エッチン
グが原因の異常突起や強固に付着した異物を除去するこ
とができ、その結果、優れた表面清浄度と面内均一性と
を有する情報記録媒体用ガラス基板及び情報記録媒体を
製造することができる。
As described above in detail, according to the manufacturing method of the first aspect, the surface of the glass substrate has a hardness of 40 according to Asker C of the Japan Rubber Association Standard Standard SRISO101.
The surface of the glass substrate is scrubbed in the circumferential direction using a sponge of ~ 100, so that the outermost surface of the sponge (the portion in contact with the glass substrate) is microscopically hard and macroscopically supple, and the shape of the contact portion Non-uniform etching of the glass substrate by forcibly rotating the glass substrate fixed at the inner peripheral edge and scrubbing in the circumferential direction while contacting the sponge so that it becomes linear or strip-shaped in the radial direction of the glass substrate As a result, it is possible to remove abnormal protrusions and strongly adhered foreign substances caused by the above, and as a result, it is possible to manufacture a glass substrate for an information recording medium and an information recording medium having excellent surface cleanliness and in-plane uniformity. .

【0118】請求項2記載の製造方法によれば、スクラ
ブ表面処理前に、ガラス基板を化学強化するので、請求
項1記載の製造方法による作用効果を確実に奏すること
ができる。
According to the manufacturing method of the second aspect, before the scrub surface treatment, the glass substrate is chemically strengthened, so that the operation and effect of the manufacturing method of the first aspect can be reliably achieved.

【0119】請求項3記載の製造方法によれば、スクラ
ブ表面処理後に、ガラス基板をpH8以上のアルカリ性
水溶液を用いて洗浄するので、不均一エッチングによる
異常突起を除去し、該除去した異常突起の再付着を防止
することができる。
According to the manufacturing method of the third aspect, after the scrub surface treatment, the glass substrate is washed with an alkaline aqueous solution having a pH of 8 or more, so that abnormal projections due to non-uniform etching are removed. Redeposition can be prevented.

【0120】請求項4記載の製造方法によれば、スクラ
ブ表面処理後にガラス基板をpH4以下の酸性水溶液を
用いて洗浄し、次いでpH8以上のアルカリ性水溶液を
用いて洗浄するので、不均一エッチングによる異常突起
の発生を抑制しつつテクスチャーを形成すると共に、該
異常突起を除去して再付着を防止することができる。
According to the manufacturing method of the fourth aspect, after the scrub surface treatment, the glass substrate is washed with an acidic aqueous solution having a pH of 4 or less, and then with an alkaline aqueous solution having a pH of 8 or more. The texture can be formed while suppressing the generation of projections, and the abnormal projections can be removed to prevent re-adhesion.

【0121】請求項5記載の製造方法によれば、スクラ
ブ表面処理時にガラス基板を内周部で固定して強制的に
回転させるので、ガラス基板をなめらかに安定的に回転
させることができる。
According to the manufacturing method of the fifth aspect, the glass substrate is fixed at the inner peripheral portion and forcedly rotated during the scrub surface treatment, so that the glass substrate can be smoothly and stably rotated.

【0122】請求項7記載の情報記録媒体用ガラス基板
によれば、原子間力顕微鏡により測定される接触比率が
0.4%であるガラス基板の表面のベアリングハイトB
H04が2〜7nmであり、該ガラス基板の表面の半径
方向におけるベアリングハイトBH04の面内ばらつき
が0〜1nmであるので、フライングハイトの狭小化と
同時にヘッドクラッシュ及びサーマルアスペリティーの
発生を防止することができる。
According to the glass substrate for an information recording medium of the present invention, the bearing height B on the surface of the glass substrate whose contact ratio measured by an atomic force microscope is 0.4%.
H04 is 2 to 7 nm, and the in-plane variation of the bearing height BH04 in the radial direction of the surface of the glass substrate is 0 to 1 nm. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】スクラブ表面処理方法の概略説明図であり、
(a)は縦断面図であり、(b)は側面図である。
FIG. 1 is a schematic explanatory view of a scrub surface treatment method,
(A) is a longitudinal sectional view, (b) is a side view.

【図2】図1のスクラブ表面処理方法における他の変形
例の概略説明図であり、(a)は縦断面図であり、
(b)は側面図である。
FIG. 2 is a schematic explanatory view of another modified example of the scrub surface treatment method of FIG. 1, where (a) is a longitudinal sectional view,
(B) is a side view.

【図3】テクスチャー処理を行ったガラス基板1の表面
の凹凸の概念図であり、(a)は、ガラス基板表面の凹
凸を示し、(b)は、図3(a)のA−A線断面図であ
り、(c)は、図3(a)のB−B線断面図である。
3A and 3B are conceptual diagrams of irregularities on the surface of a glass substrate 1 on which a texture process has been performed, where FIG. 3A shows irregularities on the surface of the glass substrate, and FIG. 3B shows a line AA in FIG. It is sectional drawing, (c) is BB sectional drawing of FIG.3 (a).

【図4】ベアリングレシオとベアリングハイトの代表的
な関係図である。
FIG. 4 is a typical relationship diagram between a bearing ratio and a bearing height.

【図5】ベアリングハイトBH04とヘッドクラッシュ
の相関図である。
FIG. 5 is a correlation diagram between a bearing height BH04 and a head crash.

【図6】ベアリングハイトBH04の半径方向の分布を
示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing the distribution of the bearing height BH04 in the radial direction.

【図7】最大突起高さRpの半径方向の分布を示す図で
ある。
FIG. 7 is a diagram showing the distribution of the maximum protrusion height Rp in the radial direction.

【図8】10nm以上突起数の半径方向の分布を示す図
である。
FIG. 8 is a diagram showing a radial distribution of the number of protrusions of 10 nm or more.

【図9】ヘッドクラッシュまでの時間を測定場所までの
関係を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a relationship between a time until a head crash and a measurement place.

【図10】従来のスクラブ表面処理方法の概略図であ
る。
FIG. 10 is a schematic view of a conventional scrub surface treatment method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガラス基板 2 ロール状スポンジ 3,6 表面層 4,7 下地層 5 テープ状スポンジ 8 樹脂ロール 10 ガラス基板表面の凹凸 11 ベアリングレシオ0.4%のスライス面 12 ベアリングレシオ50%のスライス面(基準面) 13 スライス面におけるガラス基板表面の凸部の切断
面 21 スポンジ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Glass substrate 2 Roll-shaped sponge 3, 6 Surface layer 4, 7 Underlayer 5 Tape-shaped sponge 8 Resin roll 10 Irregularities of glass substrate surface 11 Slice surface with bearing ratio 0.4% 12 Slice surface with bearing ratio 50% (reference) 13) Cut surface of the convex part of the glass substrate surface in the slice plane 21 Sponge

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // B24B 1/00 B24B 1/00 D C03C 17/38 C03C 17/38 (72)発明者 南 明秀 大阪府大阪市中央区北浜4丁目7番28号 日本板硝子株式会社内 Fターム(参考) 3C049 AA07 AA09 CA01 CA06 CB01 4G059 AA08 AA15 AB03 AB11 AC01 AC03 AC30 BB04 BB11 DA03 DA05 DA06 DA07 EA11 FA11 GA02 GA04 GA15 HB03 HB13 HB14 5D112 AA02 GA02 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) // B24B 1/00 B24B 1/00 D C03C 17/38 C03C 17/38 (72) Inventor Minami Akihide Osaka 4-7-28 Kitahama, Chuo-ku, Osaka-shi F-term (reference) in Nippon Sheet Glass Co., Ltd. 5D112 AA02 GA02

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ガラス基板の表面を硬度が日本ゴム協会
標準規格SRISO101のアスカーCで40〜100
であるスポンジを用いて前記ガラス基板の円周方向にス
クラブ表面処理することを特徴とする情報記録媒体用ガ
ラス基板の製造方法。
1. The surface of a glass substrate is made of Asker C having a hardness of 40-100 according to Japan Rubber Association Standard SRISO101.
A method for producing a glass substrate for an information recording medium, wherein a scrub surface treatment is performed in a circumferential direction of the glass substrate using a sponge.
【請求項2】 前記スクラブ表面処理前に、前記ガラス
基板を化学強化することを特徴とする請求項1記載の製
造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the glass substrate is chemically strengthened before the scrub surface treatment.
【請求項3】 前記スクラブ表面処理後に、前記ガラス
基板をpH8以上のアルカリ性水溶液を用いて洗浄する
ことを特徴とする請求項1又は2記載の製造方法。
3. The method according to claim 1, wherein after the scrub surface treatment, the glass substrate is washed with an alkaline aqueous solution having a pH of 8 or more.
【請求項4】 前記スクラブ表面処理後に前記ガラス基
板をpH4以下の酸性水溶液を用いて洗浄し、次いで前
記pH8以上のアルカリ性水溶液を用いて洗浄すること
を特徴とする請求項1又は2記載の製造方法。
4. The method according to claim 1, wherein after the scrub surface treatment, the glass substrate is washed with an acidic aqueous solution having a pH of 4 or less, and then washed with an alkaline aqueous solution having a pH of 8 or more. Method.
【請求項5】 前記スクラブ表面処理時に前記ガラス基
板を内周部で固定して強制的に回転させることを特徴と
する請求項1乃至4のいずれか1項に記載の製造方法。
5. The manufacturing method according to claim 1, wherein the glass substrate is fixed at an inner peripheral portion and is forcibly rotated during the scrub surface treatment.
【請求項6】 前記スクラブ表面処理前に、前記ガラス
基板の表面にテクスチャー処理を施すことを特徴とする
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の製造方法。
6. The method according to claim 1, wherein a texture treatment is performed on a surface of the glass substrate before the scrub surface treatment.
【請求項7】 請求項1乃至6のいずれか1項に記載の
製造方法によって製造された情報記録用ガラス基板であ
って、原子間力顕微鏡により測定される接触比率が0.
4%である前記ガラス基板の表面のベアリングハイトB
H04が2〜7nmであり、該ガラス基板の表面の半径
方向におけるベアリングハイトBH04の面内ばらつき
が0〜1nmであることを特徴とする情報記録媒体用ガ
ラス基板。
7. A glass substrate for information recording manufactured by the manufacturing method according to claim 1, wherein a contact ratio measured by an atomic force microscope is 0.
4% bearing height B on the surface of the glass substrate
A glass substrate for an information recording medium, wherein H04 is 2 to 7 nm, and in-plane variation of a bearing height BH04 in a radial direction of a surface of the glass substrate is 0 to 1 nm.
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