JP2002344146A - High frequency module and its manufacturing method - Google Patents

High frequency module and its manufacturing method

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JP2002344146A
JP2002344146A JP2001145689A JP2001145689A JP2002344146A JP 2002344146 A JP2002344146 A JP 2002344146A JP 2001145689 A JP2001145689 A JP 2001145689A JP 2001145689 A JP2001145689 A JP 2001145689A JP 2002344146 A JP2002344146 A JP 2002344146A
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layer
resin
frequency module
chip component
substrate
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JP2001145689A
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Minoru Takatani
稔 高谷
Toshiichi Endo
敏一 遠藤
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TDK Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a high frequency module miniaturized, thinned, and integrated on the whole in a laminating step, advantageous in process and equipment. SOLUTION: The module comprises a board 1 having a multilayer structure made of a resin or a composite material of a resin mixed with a functional material powder, antenna elements 2 formed with at least one pattern on the surface of the board 1, capacitors 9 and inductors 10 made of a conductor pattern in the interior of the board 1 and at least one chip-buried layer 1b, 1d in the interior of the board 1 in which chip components 7, 8 of passive elements and semiconductor chip components 6 are buried.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、携帯電話などの移
動体通信機器やローカル・エリア・ネットワーク等に使
用する高周波モジュールに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a high-frequency module used for a mobile communication device such as a mobile phone, a local area network, and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の高周波モジュールとして、特開2
000−269847には、多層基板の表裏面にチップ
部品を搭載し、表面にアンテナパターンを形成したもの
が開示されている。
2. Description of the Related Art A conventional high-frequency module is disclosed in
000-269847 discloses a multilayer substrate in which chip components are mounted on the front and back surfaces and an antenna pattern is formed on the front surface.

【0003】また、別の従来例として、特開2000−
188522には、樹脂製多層基板の裏面側にキャビテ
ィを形成し、該キャビティ内にSAWフィルタを収容
し、該SAWフィルタとキャビティの内壁との間および
下面に樹脂を充填し、かつキャビティの開口部を蓋を設
け、かつ多層基板の表面側に高容量コンデンサや半導体
等のチップ部品を搭載してモールド樹脂またはケースに
よりこれらのチップ部品を覆った構造のものが開示され
ている。この従来例の場合、アンテナは別部品となる。
Another conventional example is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-2000.
In 188522, a cavity is formed on the back side of the resinous multilayer substrate, a SAW filter is accommodated in the cavity, resin is filled between the SAW filter and the inner wall of the cavity, and the lower surface is filled, and the opening of the cavity is formed. There is disclosed a structure in which a lid is provided, a chip component such as a high-capacity capacitor or a semiconductor is mounted on the surface side of the multilayer substrate, and the chip component is covered with a mold resin or a case. In the case of this conventional example, the antenna is a separate component.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の高周波モジ
ュールにおいては、いずれも半導体や高容量コンデンサ
等は多層基板の表面に搭載しているので、ケースやモー
ルド樹脂による保護が必要であり、ケースやモールド樹
脂の形成分だけ厚みが大きくなるという問題点がある。
また、多層基板の積層工程以外のケース取付け工程や樹
脂のモールド工程や設備が必要になるという問題点があ
る。また、チップ部品をケースにより覆う場合には外的
衝撃に弱く、取り扱いにくいという問題点がある。
In the above-described conventional high-frequency module, since a semiconductor and a high-capacitance capacitor are mounted on the surface of the multilayer substrate, they need to be protected by a case or a mold resin. There is a problem that the thickness is increased by the amount of the molding resin.
In addition, there is a problem that a case mounting process other than the multi-layer substrate laminating process, a resin molding process and equipment are required. Further, when the chip component is covered with the case, there is a problem that the chip component is vulnerable to external impact and is difficult to handle.

【0005】本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、
小型、薄型化が可能となり、かつ積層工程で全体を一体
化することができ、工程、設備の面で有利になる高周波
モジュールを提供することを目的とする。また、本発明
は、外的衝撃に強く、取り扱いが容易となる高周波モジ
ュールを提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art,
It is an object of the present invention to provide a high-frequency module which can be reduced in size and thickness and can be integrated in a laminating process, and is advantageous in terms of processes and equipment. Another object of the present invention is to provide a high-frequency module that is resistant to external impact and that is easy to handle.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1の高周波モジュ
ールは、樹脂または樹脂と機能材料粉末を混合した複合
材料によって多層構造に構成されている基板からなり、
前記基板の表面部に少なくとも1つのパターンにより形
成されたアンテナ素子を具備し、前記基板内部に導体パ
ターンにより少なくともコンデンサ、インダクタおよび
共振器のいずれかを形成し、前記基板内部に、受動素子
のチップ部品および半導体チップ部品を埋設したチップ
埋め込み層を少なくとも1層具備していることを特徴と
する。
The high-frequency module according to the first aspect of the present invention comprises a substrate having a multilayer structure made of a resin or a composite material obtained by mixing a resin and a functional material powder.
An antenna element formed by at least one pattern on a surface portion of the substrate; at least one of a capacitor, an inductor, and a resonator formed by a conductor pattern inside the substrate; a chip of a passive element formed inside the substrate; It is characterized by having at least one chip embedding layer in which components and semiconductor chip components are embedded.

【0007】請求項2の高周波モジュールは、請求項1
において、前記受動素子のチップ部品として、少なくと
も高容量コンデンサとSAWフィルタとを備えることを
特徴とする。
[0007] The high-frequency module of claim 2 is claim 1.
Wherein at least a high-capacitance capacitor and a SAW filter are provided as chip components of the passive element.

【0008】このように、請求項1、2の発明において
は、受動素子のチップ部品のみならず、半導体チップ部
品も多層基板内に埋設したので、チップ部品保護用のケ
ースやモールド樹脂は不要となり、薄型化が可能とな
る。また、アンテナパターンを表面部に形成したので、
アンテナを含めた高周波モジュール全体の小型化が可能
となる。また、積層工程によって全体を一体化できるの
で、ケース取付け工程や樹脂のモールド工程や設備が不
要になる。また、チップ部品が多層基板内に埋め込まれ
ているので、外的衝撃に強く、取り扱い易い。
As described above, according to the first and second aspects of the present invention, not only the chip component of the passive element but also the semiconductor chip component is embedded in the multilayer substrate, so that a case and a molding resin for protecting the chip component become unnecessary. In addition, the thickness can be reduced. Also, since the antenna pattern was formed on the surface,
The whole high-frequency module including the antenna can be reduced in size. Further, since the whole can be integrated by the laminating process, a case attaching process, a resin molding process and equipment are not required. Further, since the chip components are embedded in the multilayer substrate, the chip components are resistant to external impacts and are easy to handle.

【0009】請求項3の高周波モジュールは、請求項1
または2において、前記チップ部品は、樹脂または複合
材料層に形成したキャビティに埋め込むと共に、前記チ
ップ部品の周囲とキャビティ内壁との間に、該キャビテ
ィ形成層に隣接する層の樹脂を充填したことを特徴とす
る。
[0009] The high-frequency module of claim 3 is claim 1.
Or In 2, the chip component is embedded in a cavity formed in a resin or composite material layer, and between the periphery of the chip component and the cavity inner wall, a resin of a layer adjacent to the cavity formation layer is filled. Features.

【0010】このように、キャビティ内のチップ部品と
キャビティ内壁との間を、隣接する樹脂層または複合材
料層(プリプレグ)の流動性によって充填することによ
り、チップ部品の周囲を樹脂層で埋めるための別工程が
不要となる上、チップ部品が強固に固定できる。
As described above, the space between the chip component in the cavity and the inner wall of the cavity is filled by the fluidity of the adjacent resin layer or composite material layer (prepreg), so that the periphery of the chip component is filled with the resin layer. This eliminates the need for a separate step, and allows the chip components to be firmly fixed.

【0011】請求項4の高周波モジュールは、請求項1
から3までのいずれかにおいて、前記多層基板の表面部
におけるアンテナ素子形成領域以外の部分をシールド層
により覆ったことを特徴とする。
[0011] The high frequency module of claim 4 is claim 1.
In any one of the above items 3 to 3, a portion of the surface portion of the multilayer substrate other than the antenna element forming region is covered with a shield layer.

【0012】このように、シールド層を表面部に設ける
ことにより、外部へのノイズの放射や外部ノイズによる
影響を防止することができる。また、ケースが不要とな
るので、薄型化を損なうことがない。
As described above, by providing the shield layer on the surface portion, it is possible to prevent radiation of noise to the outside and influence of external noise. In addition, since no case is required, the thickness is not reduced.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】図1は本発明による高周波モジュ
ールの構造を実現するブロック回路の一例図である。こ
の高周波モジュールは、マルチバンド方式のもので、図
中、50はベースバンドロジック回路(図示せず)から
の信号を受けるモジュレータ、51はベースバンドロジ
ック回路に信号を出力するデモジュレータ、53、54
はフェーズロック回路55を付帯したRFVCO(電圧
制御発振器)、56はフェーズロック回路57を付帯し
たIFVCO、59〜62はミキサ、64、65は分周
器、66、67は位相シフタ、69はスイッチ回路、7
0、71は増幅回路、72は位相検出器、73はバンド
パスフィルタ、74はLCフィルタである。点線75で
囲まれた部分はICにより構成される。
FIG. 1 is an example of a block circuit for realizing the structure of a high-frequency module according to the present invention. This high-frequency module is of a multi-band type, in which 50 is a modulator for receiving a signal from a baseband logic circuit (not shown), 51 is a demodulator for outputting a signal to the baseband logic circuit, and 53 and 54.
Is an RFVCO (voltage controlled oscillator) with a phase lock circuit 55, 56 is an IFVCO with a phase lock circuit 57, 59 to 62 are mixers, 64 and 65 are frequency dividers, 66 and 67 are phase shifters, and 69 is a switch. Circuit, 7
Reference numerals 0 and 71 denote amplification circuits, 72 denotes a phase detector, 73 denotes a bandpass filter, and 74 denotes an LC filter. The portion surrounded by the dotted line 75 is constituted by an IC.

【0014】また、77〜79はローパスフィルタ、8
1、82はRFVCO、83は増幅回路、84、85は
低雑音増幅回路、86〜90はバンドパスフィルタであ
り、これらのバンドパスフィルタ86〜90または73
は弾性表面波フィルタ(SAWフィルタ)により構成さ
れる。92はアンテナ、93は送受信切換え用のスイッ
チ回路である。
Reference numerals 77 to 79 denote low-pass filters;
Reference numerals 1 and 82 are RFVCOs, 83 is an amplifier circuit, 84 and 85 are low noise amplifier circuits, 86 to 90 are bandpass filters, and these bandpass filters 86 to 90 or 73 are used.
Is constituted by a surface acoustic wave filter (SAW filter). Reference numeral 92 denotes an antenna, and 93 denotes a switch circuit for switching between transmission and reception.

【0015】図2は本実施の形態の高周波モジュールの
全体構成を示す分解斜視図、図3はその層構造を示す図
である。この高周波モジュールは、樹脂または樹脂に機
能材料粉末を混合した複合材料からなる層1a〜1dを
重ねて一体化した基板1からなるものである。
FIG. 2 is an exploded perspective view showing the entire structure of the high-frequency module according to the present embodiment, and FIG. 3 is a view showing the layer structure thereof. This high-frequency module includes a substrate 1 in which layers 1a to 1d made of a resin or a composite material obtained by mixing a functional material powder with a resin are integrated.

【0016】最上層1aの表面部には、アンテナ素子2
およびシールド層3を形成する。次層1bには、前記ア
ンテナ素子2に対面するアンテナ用グランドパターン4
および配線パターン5を形成するとともに、配線パター
ン5上に、前記IC75やVCO81、82あるいはス
イッチ回路93等を構成するためのトランジスタやダイ
オード等の半導体チップ部品6と、SAWフィルタ7、
高容量コンデンサ8、抵抗もしくはインダクタ等の受動
素子チップ部品を埋め込む。
An antenna element 2 is provided on the surface of the uppermost layer 1a.
And a shield layer 3 are formed. In the next layer 1b, an antenna ground pattern 4 facing the antenna element 2 is provided.
And a wiring pattern 5, and on the wiring pattern 5, a semiconductor chip component 6 such as a transistor or a diode for forming the IC 75, the VCOs 81 and 82, or the switch circuit 93, and a SAW filter 7.
A passive element chip component such as a high-capacitance capacitor 8, a resistor or an inductor is embedded.

【0017】また、次の層1cには、コンデンサ9、イ
ンダクタ10を多層構造で実現するとともに、所定の層
に配線パターン11を形成してLCネットワークを構成
する。
In the next layer 1c, a capacitor 9 and an inductor 10 are realized in a multilayer structure, and a wiring pattern 11 is formed in a predetermined layer to form an LC network.

【0018】最下層1dにも前記層1bと同様に、半導
体チップ部品6と、SAWフィルタ7、高容量コンデン
サ8、抵抗あるいはインダクタ等の受動素子チップ部品
を、配線パターン5に接続して埋め込む。
Similarly to the layer 1b, a semiconductor chip component 6, a passive element chip component such as a SAW filter 7, a high-capacitance capacitor 8, a resistor or an inductor are connected to the lowermost layer 1d and embedded in the wiring pattern 5.

【0019】12は各基板間を接続するビア導体であ
る。全体を貫通するビアホールを設けてその中に導体を
設けることにより、内部導体間を接続する場合もある。
Reference numeral 12 denotes a via conductor connecting between the substrates. In some cases, a connection is made between internal conductors by providing a via hole that penetrates the entirety and providing a conductor therein.

【0020】図3に示すように、表面にはこのモジュー
ルを外部に接続するためのコネクタ13が設けられる。
As shown in FIG. 3, a connector 13 for connecting this module to the outside is provided on the surface.

【0021】図4は前記チップ部品6〜8を基板1内に
内蔵する工程を示す図であり、最上層1aと次の層1b
の形成工程について示す。図4(A)に示すように、銅
箔15に接着シート16を貼付け、チップ部品6〜8の
底面の端子を接続するためのランドパターン17を、レ
ーザによる孔あけと、その孔に半田ペーストを塗布して
形成する。次に図4(B)、(C)に示すように、ラン
ドパターン17上にチップ部品6〜8を搭載する。
FIG. 4 is a view showing a process of embedding the chip components 6 to 8 in the substrate 1, and shows the uppermost layer 1a and the next layer 1b.
The steps of forming the film will be described. As shown in FIG. 4A, an adhesive sheet 16 is attached to a copper foil 15, and a land pattern 17 for connecting terminals on the bottom surfaces of the chip components 6 to 8 is drilled by a laser, and solder paste is applied to the hole. Is formed by coating. Next, as shown in FIGS. 4B and 4C, the chip components 6 to 8 are mounted on the land pattern 17.

【0022】また、図4(C)に示すように、チップ部
品6、7、8の位置に各チップ部品6、7、8と同じサ
イズあるいはやや大きいサイズのキャビティ19〜21
を形成したコア基板22を用意し、図4(D)に示すよ
うに、各キャビティ19〜21をチップ部品6〜8に嵌
めて前記接着シート16上に前記コア基板22を重ね
る。ここで、コア基板22の厚みは、チップ部品6〜8
とほぼ同じかあるいはそれ以上とする。
As shown in FIG. 4C, cavities 19 to 21 of the same size or slightly larger sizes as the chip components 6, 7, 8 are provided at the positions of the chip components 6, 7, 8.
Is prepared, and the cavities 19 to 21 are fitted into the chip components 6 to 8 to stack the core substrate 22 on the adhesive sheet 16 as shown in FIG. Here, the thickness of the core substrate 22 is set to the chip components 6 to 8.
It is almost the same as or more.

【0023】次に図4(D)に示すように、コア基板2
2上にプリプレグ23を重ね、熱プレスし、後述のよう
に、プリプレグ23の流動性によりチップ部品6〜8の
上面や側面の隙間をプリプレグによって埋める。
Next, as shown in FIG.
The prepreg 23 is overlaid on 2 and hot-pressed, and as described later, the gaps on the upper surfaces and side surfaces of the chip components 6 to 8 are filled with the prepreg by the fluidity of the prepreg 23.

【0024】次に図4(E)、(F)に示すように、銅
箔25を接着シート24により貼付ける。
Next, as shown in FIGS. 4E and 4F, a copper foil 25 is attached by an adhesive sheet 24.

【0025】その後、上下の銅箔15、25をプリント
基板の一般的な工法でエッチングによりパターニングす
る。この場合、上方の銅箔25のエッチングにより前記
アンテナ素子2とシールド層3が形成され、下方の銅箔
25のエッチングによりチップ部品6〜8を接続する等
の役目を有する配線パターン5が形成される。
After that, the upper and lower copper foils 15 and 25 are patterned by etching by a general method for a printed circuit board. In this case, the antenna element 2 and the shield layer 3 are formed by etching the upper copper foil 25, and the wiring pattern 5 serving to connect the chip components 6 to 8 is formed by etching the lower copper foil 25. You.

【0026】図5は図4の工程で作製された積層体26
に対して積層する層1cの層構造の一例を示す図であ
る。図5において、30a〜30dは樹脂また樹脂に低
誘電率のセラミック等の誘電体粉末を混合した複合材料
からなる低誘電率層で、好ましくは誘電率が2.5〜5
程度に設定される。31は樹脂にセラミックや金属等の
磁性体粉末を混合してなるインダクタ構成のための磁性
層、32a、32bは樹脂に高誘電率のセラミック等の
誘電体粉末を混合した複合材料からなるコンデンサ構成
のための高誘電率層であり、好ましくは誘電率が15〜
30程度に設定される。33a〜33dは共振器構成の
ための高Q層である。
FIG. 5 shows the laminate 26 manufactured in the process of FIG.
FIG. 6 is a diagram showing an example of a layer structure of a layer 1c to be stacked on the substrate. In FIG. 5, reference numerals 30a to 30d denote low dielectric constant layers made of a resin or a composite material obtained by mixing a resin and a dielectric powder such as a ceramic having a low dielectric constant.
Set to about. Reference numeral 31 denotes a magnetic layer for an inductor configuration in which a resin or a magnetic powder such as a metal is mixed with a resin, and 32a and 32b each a capacitor configuration made of a composite material in which a resin or a dielectric powder such as a high dielectric constant ceramic is mixed. High dielectric constant layer, preferably having a dielectric constant of 15 to
It is set to about 30. 33a to 33d are high Q layers for a resonator configuration.

【0027】また、11は前記低誘電率層30a、30
cに形成した配線パターン、34は前記磁性層31に形
成したインダクタ導体、35は前記高誘電率層32a、
32bを介して対向するように形成されたコンデンサ電
極、36、37はそれぞれ前記高Q層33a、33bま
たは33c、33dを介して対向するように形成されて
共振器を構成するストリップライン導体とグランドパタ
ーンである。これらは最下層の基板1dとともに熱プレ
スにより一体化される。
Reference numeral 11 denotes the low dielectric constant layers 30a, 30
c, an inductor conductor formed on the magnetic layer 31; 35, a high dielectric constant layer 32a;
Capacitor electrodes 36 and 37 formed so as to face each other via 32b are formed so as to face each other via the high-Q layers 33a and 33b or 33c and 33d, respectively, and a strip line conductor and a ground which constitute a resonator are formed. It is a pattern. These are integrated with the lowermost substrate 1d by hot pressing.

【0028】なお、各層の樹脂には、エポキシ樹脂、ビ
ニルベンジル樹脂、フェノール樹脂、ビスマレイミドト
リアジン樹脂(BTレジン)、ポリフェニレンエーテル
樹脂(PPE)等が用いられる。特に高Q層33a〜3
3dにはビニルベンジル樹脂を用いることが好ましい。
As the resin of each layer, epoxy resin, vinylbenzyl resin, phenol resin, bismaleimide triazine resin (BT resin), polyphenylene ether resin (PPE) and the like are used. In particular, the high Q layers 33a-3
It is preferable to use a vinylbenzyl resin for 3d.

【0029】また、磁性層31を構成するためにこれら
の樹脂に混合する磁性体粉末としては、Mn−Mg−Z
n系、Ni−Zn系等のフェライト粉末、金属磁性粉
末、磁性単結晶粉末、絶縁皮膜を有する磁性金属粉末等
が用いられる。
The magnetic powder mixed with these resins to form the magnetic layer 31 is Mn-Mg-Z
Ferrite powders such as n-based and Ni-Zn-based powders, metal magnetic powders, magnetic single crystal powders, magnetic metal powders having an insulating film, and the like are used.

【0030】また、高誘電率層32a、32bを構成す
るために樹脂に混合する誘電体粉末としては例えばBa
TiO−BaZrO系、BaO−TiO−Nd
系、BaO−4TiO系等のセラミック誘電体粉
末や、誘電体単結晶粉末、誘電体皮膜を有する金属粉末
等が用いられる。
The dielectric powder mixed with the resin to form the high dielectric layers 32a and 32b is, for example, Ba.
TiO 3 —BaZrO 3 system, BaO—TiO 2 —Nd 2
A ceramic dielectric powder such as an O 3 -based or BaO-4TiO 2 -based powder, a dielectric single crystal powder, a metal powder having a dielectric film, and the like are used.

【0031】また、低誘電率層30a〜30dを構成す
る誘電体粉末としては、アルミナ系等のセラミック誘電
体粉末、誘電体単結晶粉末、誘電体皮膜を有する金属粉
末等が用いられる。
As the dielectric powder constituting the low dielectric constant layers 30a to 30d, ceramic dielectric powder such as alumina, dielectric single crystal powder, metal powder having a dielectric film and the like are used.

【0032】また、配線パターン11、インダクタ導体
34、コンデンサ電極35などの導体としては、銅、
銀、ニッケル、錫、亜鉛、アルミニウムなどを用いるこ
とができる。
The conductors such as the wiring pattern 11, the inductor conductor 34, and the capacitor electrode 35 include copper,
Silver, nickel, tin, zinc, aluminum, or the like can be used.

【0033】図6(A)は製造工程における具体的な層
構造を示す図であり、26は前記図4(F)に示した積
層体、1dは図2に示した最下層、他は前記層1b、1
cの一部を構成する部材である。40は前記層1cと積
層体26とを接着するための半硬化状態のプリプレグ、
41はビア導体である。30a〜30dは前記低誘電率
層であり、積層時において、30b〜30dはプリプレ
グにより構成される。31は前記磁性層である。積層時
においては、積層体26、低誘電率層30a、磁性層3
1、層1dは本硬化後のコア基板として構成され、これ
らを前記プリプレグとともに熱プレスすることにより、
一体化される。また、必要に応じて全体に対してスルー
ホールを設け、そのスルーホール内部のめっきにより必
要な接続を行う。
FIG. 6A is a diagram showing a specific layer structure in the manufacturing process. Reference numeral 26 denotes the laminate shown in FIG. 4F, 1 d denotes the lowermost layer shown in FIG. Layers 1b, 1
It is a member constituting a part of c. 40 is a semi-cured prepreg for bonding the layer 1c and the laminate 26;
41 is a via conductor. Reference numerals 30a to 30d denote the low dielectric constant layers, and at the time of lamination, 30b to 30d are made of prepreg. 31 is the magnetic layer. At the time of lamination, the laminate 26, the low dielectric constant layer 30a, the magnetic layer 3
1. The layer 1d is configured as a core substrate after full curing, and by hot pressing these together with the prepreg,
Be integrated. Also, through holes are provided for the whole as necessary, and necessary connections are made by plating inside the through holes.

【0034】以上に説明したように、受動素子のチップ
部品7、8のみならず、トランジスタ、ダイオード、I
C等の半導体チップ部品6も多層基板1内に埋設したの
で、チップ部品保護用のケースやモールド樹脂は不要と
なり、薄型化が可能となる。また、アンテナ素子2を表
面部に形成したので、アンテナを含めた高周波モジュー
ル全体の小型化が可能となる。また、積層工程によって
全体を一体化できるので、ケース取付け工程や樹脂のモ
ールド工程や設備が不要になる。また、チップ部品が多
層基板1内に埋め込まれているので、外的衝撃に強く、
取り扱い易い。
As described above, not only the chip components 7 and 8 of the passive element but also the transistor, the diode,
Since the semiconductor chip component 6 such as C is also buried in the multilayer substrate 1, a case and a mold resin for protecting the chip component are not required, and the thickness can be reduced. In addition, since the antenna element 2 is formed on the surface, the entire high-frequency module including the antenna can be reduced in size. Further, since the whole can be integrated by the laminating process, a case attaching process, a resin molding process and equipment are not required. In addition, since chip components are embedded in the multilayer substrate 1, it is resistant to external impact,
Easy to handle.

【0035】また、シールド層3を表面部に設けること
により、外部へのノイズの放射や外部ノイズによる影響
を防止することができる。また、ケースが不要となるの
で、薄型化を損なうことがない。
Further, by providing the shield layer 3 on the surface, radiation of noise to the outside and influence of external noise can be prevented. In addition, since no case is required, the thickness is not reduced.

【0036】図6(B)は前記チップ部品6〜8の埋め
込み構造を、チップ部品6で代表させて示す断面図であ
り、前記チップ部品6の周囲とキャビティ19の内壁と
の間に、該キャビティ形成層に隣接する層のプリプレグ
からなる樹脂23aを熱プレスによる流動状態において
充填させて硬化させたものである。
FIG. 6B is a cross-sectional view showing the embedding structure of the chip components 6 to 8 as a representative of the chip component 6, wherein the structure is provided between the periphery of the chip component 6 and the inner wall of the cavity 19. A resin 23a made of a prepreg of a layer adjacent to the cavity forming layer is filled and cured in a fluidized state by hot pressing.

【0037】このように、キャビティ19内のチップ部
品6とキャビティ内壁との間を隣接する層より移動した
部分23aによって充填することにより、チップ部品の
周囲を樹脂層で埋めるための別工程が不要となる上、チ
ップ部品6が強固に固定でき、機械的強度が増す。
As described above, the space between the chip component 6 in the cavity 19 and the inner wall of the cavity is filled with the portion 23a displaced from the adjacent layer, so that another step for filling the periphery of the chip component with the resin layer is unnecessary. In addition, the chip component 6 can be firmly fixed, and the mechanical strength increases.

【0038】本発明を実施する場合には、表面部にアン
テナ素子2やシールド層3を保護層としての樹脂層で被
覆する構成も採用できる。また、本発明において、前記
以外の導体、熱硬化性樹脂、磁性体粉末、誘電体粉末も
勿論用いることができる。また、基板1の表面部にアン
テナ素子2を複数個設けてもよい。また、チップ部品6
〜8を埋め込む層は複数層設けてもよい。
In practicing the present invention, a configuration in which the antenna element 2 and the shield layer 3 are covered with a resin layer as a protective layer on the surface may be employed. In the present invention, other conductors, thermosetting resins, magnetic powders, and dielectric powders other than those described above can of course be used. Further, a plurality of antenna elements 2 may be provided on the surface of the substrate 1. In addition, chip component 6
A plurality of layers may be provided for embedding to # 8.

【0039】[0039]

【発明の効果】請求項1、2によれば、受動素子のチッ
プ部品のみならず、半導体チップ部品も多層基板内に埋
設したので、チップ部品保護用のケースやモールド樹脂
は不要となり、薄型化が可能となる。また、アンテナパ
ターンを表面部に形成したので、アンテナを含めた高周
波モジュール全体の小型化が可能となる。また、積層工
程によって全体を一体化できるので、ケース取付け工程
や樹脂のモールド工程や設備が不要になる。また、チッ
プ部品が多層基板内に埋め込まれているので、外的衝撃
に強く、取り扱い易い。
According to the first and second aspects of the present invention, not only the chip component of the passive element but also the semiconductor chip component are embedded in the multi-layer substrate, so that the case and the molding resin for protecting the chip component become unnecessary, and the thickness is reduced. Becomes possible. Also, since the antenna pattern is formed on the surface, the whole high-frequency module including the antenna can be reduced in size. Further, since the whole can be integrated by the laminating process, a case attaching process, a resin molding process and equipment are not required. Further, since the chip components are embedded in the multilayer substrate, the chip components are resistant to external impacts and are easy to handle.

【0040】請求項3によれば、キャビティ内のチップ
部品とキャビティ内壁との間を、隣接する樹脂層または
複合材料層(プリプレグ)の流動性によって充填したの
で、チップ部品の周囲を樹脂層で埋めるための別工程が
不要となる上、チップ部品が強固に固定できる。
According to the third aspect, since the space between the chip component in the cavity and the inner wall of the cavity is filled by the fluidity of the adjacent resin layer or composite material layer (prepreg), the periphery of the chip component is filled with the resin layer. A separate step for filling is not required, and the chip component can be firmly fixed.

【0041】請求項4によれば、シールド層を表面部に
設けたので、外部へのノイズの放射や外部ノイズによる
影響を防止することができる。また、ケースが不要とな
るので、薄型化を損なうことがない。
According to the fourth aspect, since the shield layer is provided on the surface portion, radiation of noise to the outside and influence of external noise can be prevented. In addition, since no case is required, the thickness is not reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による高周波モジュールの構造を実現す
る等価回路の一例図である。
FIG. 1 is an example of an equivalent circuit for realizing the structure of a high-frequency module according to the present invention.

【図2】本発明による高周波モジュールの一実施の形態
の全体構成を示す分解斜視図である。
FIG. 2 is an exploded perspective view showing the entire configuration of a high-frequency module according to an embodiment of the present invention.

【図3】本実施の形態の層構造を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a layer structure of the present embodiment.

【図4】(A)〜(F)は本実施の形態の製造工程の一
部を示す工程図である。
FIGS. 4A to 4F are process diagrams showing a part of the manufacturing process of the present embodiment.

【図5】本実施の形態の一部の積層構造図である。FIG. 5 is a diagram of a part of a laminated structure according to the present embodiment.

【図6】(A)は本実施の形態の積層工程における層構
造の一部を示す断面図、(B)はそのチップ部品埋め込
み部を示す断面図である。
FIG. 6A is a cross-sectional view showing a part of a layer structure in a laminating step of the present embodiment, and FIG. 6B is a cross-sectional view showing a chip component embedded portion thereof.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:基板、1a〜1d:層、2:アンテナ素子、3:シ
ールド層、4:グランドパターン、5:配線パターン、
6:半導体チップ部品、7:SAWフィルタ、8:高容
量コンデンサ、9:コンデンサ、10:インダクタ、1
1:配線パターン、12:ビア導体、13:コネクタ、
15:銅箔、16:接着シート、17:ランドパター
ン、19〜21:キャビティ、22:コア基板、23:
プリプレグ、23a:充填部、24:接着シート、2
5:銅箔、26:積層体、30a〜30d:低誘電率
層、31:磁性層、32a、32b:高誘電率層、33a
〜33d:高Q層、34:インダクタ導体、36:スト
リップライン導体、37:グランドパターン、40:プ
リプレグ、41;ビア導体、50:モジュレータ、5
1:デモジュレータ、53、54:RFVCO(電圧制
御発振器)、56:IFVCO、59〜62:ミキサ、
64、65:分周器、66、67:は位相シフタ、6
9:スイッチ回路、70、71:増幅回路、72:位相
検出器、73:バンドパスフィルタ、74:LCフィル
タ、75:IC、77〜79:ローパスフィルタ、8
1、82:RFVCO、83:増幅回路、84、85:
低雑音増幅回路、86〜90:バンドパスフィルタ、9
2:アンテナ、93:スイッチ回路
1: substrate, 1a to 1d: layer, 2: antenna element, 3: shield layer, 4: ground pattern, 5: wiring pattern,
6: semiconductor chip component, 7: SAW filter, 8: high capacity capacitor, 9: capacitor, 10: inductor, 1
1: wiring pattern, 12: via conductor, 13: connector,
15: Copper foil, 16: Adhesive sheet, 17: Land pattern, 19 to 21: Cavity, 22: Core substrate, 23:
Prepreg, 23a: filling portion, 24: adhesive sheet, 2
5: Copper foil, 26: Laminate, 30a-30d: Low dielectric constant layer, 31: Magnetic layer, 32a, 32b: High dielectric constant layer, 33a
33d: high Q layer, 34: inductor conductor, 36: strip line conductor, 37: ground pattern, 40: prepreg, 41; via conductor, 50: modulator, 5
1: demodulator, 53, 54: RFVCO (voltage controlled oscillator), 56: IFVCO, 59-62: mixer,
64, 65: frequency divider, 66, 67: phase shifter, 6
9: switch circuit, 70, 71: amplifier circuit, 72: phase detector, 73: band pass filter, 74: LC filter, 75: IC, 77 to 79: low pass filter, 8
1, 82: RFVCO, 83: amplifier circuit, 84, 85:
Low noise amplifier circuit, 86 to 90: band pass filter, 9
2: antenna, 93: switch circuit

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成14年5月17日(2002.5.1
7)
[Submission date] May 17, 2002 (2002.5.1)
7)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】全文[Correction target item name] Full text

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【書類名】 明細書[Document Name] Statement

【発明の名称】 高周波モジュールとその製造方法 Patent application title: High-frequency module and method of manufacturing the same

【特許請求の範囲】[Claims]

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、携帯電話などの移
動体通信機器やローカル・エリア・ネットワーク等に使
用する高周波モジュールとその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a high-frequency module used for a mobile communication device such as a cellular phone, a local area network, and the like, and a method of manufacturing the same .

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の高周波モジュールとして、特開2
000−269847には、多層基板の表裏面にチップ
部品を搭載し、表面にアンテナパターンを形成したもの
が開示されている。
2. Description of the Related Art A conventional high-frequency module is disclosed in
000-269847 discloses a multilayer substrate in which chip components are mounted on the front and back surfaces and an antenna pattern is formed on the front surface.

【0003】また、別の従来例として、特開2000−
188522には、樹脂製多層基板の裏面側にキャビテ
ィを形成し、該キャビティ内にSAWフィルタを収容
し、該SAWフィルタとキャビティの内壁との間および
下面に別途樹脂を充填し、かつキャビティの開口部を蓋
を設け、かつ多層基板の表面側に高容量コンデンサや半
導体等のチップ部品を搭載してモールド樹脂またはケー
スによりこれらのチップ部品を覆った構造のものが開示
されている。この従来例の場合、アンテナは別部品とな
る。
Another conventional example is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-2000.
188522, a cavity is formed on the back side of the resinous multi-layer substrate, a SAW filter is accommodated in the cavity, a resin is separately filled between the SAW filter and the inner wall of the cavity and the lower surface, and an opening of the cavity is formed. There is disclosed a structure in which a lid is provided at a portion and chip components such as a high-capacity capacitor and a semiconductor are mounted on the surface side of a multilayer substrate and these chip components are covered with a mold resin or a case. In the case of this conventional example, the antenna is a separate component.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の高周波モジ
ュールにおいては、いずれも半導体や高容量コンデンサ
等は多層基板の表面に搭載しているので、ケースやモー
ルド樹脂による保護が必要であり、ケースやモールド樹
脂の形成分だけ厚みが大きくなるという問題点がある。
また、多層基板の積層工程以外のケース取付け工程や樹
脂のモールド工程や設備が必要になるという問題点があ
る。また、チップ部品をケースにより覆う場合には外的
衝撃に弱く、取り扱いにくいという問題点がある。
In the above-described conventional high-frequency module, since a semiconductor and a high-capacitance capacitor are mounted on the surface of the multilayer substrate, they need to be protected by a case or a mold resin. There is a problem that the thickness is increased by the amount of the molding resin.
In addition, there is a problem that a case mounting process other than the multi-layer substrate laminating process, a resin molding process and equipment are required. Further, when the chip component is covered with the case, there is a problem that the chip component is vulnerable to external impact and is difficult to handle.

【0005】本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、
小型、薄型化が可能となり、かつ積層工程で全体を一体
化することができ、工程、設備の面で有利になる高周波
モジュールを提供することを目的とする。また、本発明
は、外的衝撃に強く、取り扱いが容易となる高周波モジ
ュールとその製造方法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art,
It is an object of the present invention to provide a high-frequency module which can be reduced in size and thickness and can be integrated in a laminating process, and is advantageous in terms of processes and equipment. Another object of the present invention is to provide a high-frequency module that is resistant to external impact and that is easy to handle, and a method for manufacturing the same.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1の高周波モジュ
ールは、樹脂または樹脂と機能材料粉末を混合した複合
材料によって多層構造に構成されている基板からなり、
前記基板の表面部に少なくとも1つのパターンにより形
成されたアンテナ素子を具備し、前記基板内部に導体パ
ターンにより少なくともコンデンサ、インダクタおよび
共振器のいずれかを形成し、前記基板内部に、受動素子
のチップ部品および半導体チップ部品を埋設したチップ
埋め込み層を少なくとも1層具備していることを特徴と
する。
The high-frequency module according to the first aspect of the present invention comprises a substrate having a multilayer structure made of a resin or a composite material obtained by mixing a resin and a functional material powder.
An antenna element formed by at least one pattern on a surface portion of the substrate; at least one of a capacitor, an inductor, and a resonator formed by a conductor pattern inside the substrate; a chip of a passive element formed inside the substrate; It is characterized by having at least one chip embedding layer in which components and semiconductor chip components are embedded.

【0007】請求項2の高周波モジュールは、請求項1
において、前記受動素子のチップ部品として、少なくと
も高容量コンデンサとSAWフィルタとを備えることを
特徴とする。
[0007] The high-frequency module of claim 2 is claim 1.
Wherein at least a high-capacitance capacitor and a SAW filter are provided as chip components of the passive element.

【0008】このように、請求項1、2の発明において
は、受動素子のチップ部品のみならず、半導体チップ部
品も多層基板内に埋設したので、チップ部品保護用のケ
ースやモールド樹脂は不要となり、薄型化が可能とな
る。また、アンテナパターンを表面部に形成したので、
アンテナを含めた高周波モジュール全体の小型化が可能
となる。また、積層工程によって全体を一体化できるの
で、ケース取付け工程や樹脂のモールド工程や設備が不
要になる。また、チップ部品が多層基板内に埋め込まれ
ているので、外的衝撃に強く、取り扱い易い。
As described above, according to the first and second aspects of the present invention, not only the chip component of the passive element but also the semiconductor chip component is embedded in the multilayer substrate, so that a case and a molding resin for protecting the chip component become unnecessary. In addition, the thickness can be reduced. Also, since the antenna pattern was formed on the surface,
The whole high-frequency module including the antenna can be reduced in size. Further, since the whole can be integrated by the laminating process, a case attaching process, a resin molding process and equipment are not required. Further, since the chip components are embedded in the multilayer substrate, the chip components are resistant to external impacts and are easy to handle.

【0009】請求項3の高周波モジュールは、請求項1
または2において、前記チップ部品は、前記埋め込み層
に形成したキャビティに埋め込むと共に、前記チップ部
品の周囲とキャビティ内壁との間に、前記埋め込み層
隣接する層の樹脂を充填したことを特徴とする。
[0009] The high-frequency module of claim 3 is claim 1.
Or in 2, wherein the chip component is embedded in a cavity formed in the buried layer , and between a periphery of the chip component and an inner wall of the cavity, resin of a layer adjacent to the buried layer is filled. It is characterized by.

【0010】このように、キャビティ内のチップ部品と
キャビティ内壁との間を、隣接する樹脂層または複合材
料層(プリプレグ)自体の流動性によって充填すること
により、チップ部品の周囲を樹脂でなる充填材料で埋め
るための別工程が不要となる上、チップ部品が強固に固
定できる。
In this way, the space between the chip component in the cavity and the inner wall of the cavity is filled by the fluidity of the adjacent resin layer or composite material layer (prepreg) itself , so that the periphery of the chip component is filled with resin. A separate process for filling with a material is not required, and the chip component can be firmly fixed.

【0011】請求項4の高周波モジュールは、請求項1
から3までのいずれかにおいて、前記多層基板の表面部
におけるアンテナ素子形成領域以外の部分にシールド層
を設けたことを特徴とする。
The high-frequency module according to claim 4 is the first embodiment.
In any one of the above items 3 to 3, a shield layer is provided on a portion of the surface portion of the multilayer substrate other than the antenna element forming region.
Is provided .

【0012】このように、シールド層を表面部に設ける
ことにより、外部へのノイズの放射や外部ノイズによる
影響を防止することができる。また、ケースが不要とな
るので、薄型化を損なうことがない。
As described above, by providing the shield layer on the surface portion, it is possible to prevent radiation of noise to the outside and influence of external noise. In addition, since no case is required, the thickness is not reduced.

【0013】請求項5の高周波モジュールの製造方法
は、請求項1の高周波モジュールの製造方法であって、
埋め込み層にチップ部品を埋め込むに当り、樹脂または
樹脂と機能材料粉末を混合した複合材料からなるコア基
板にキャビティを設け、該キャビティにチップ部品を入
れ、該チップ部品をキャビティに入れたコア基板にプリ
プレグを重ね、熱プレスしてプリプレグの流動性により
チップ部品の周囲とキャビティの内壁との間にプリプレ
グからなる樹脂を充填し、硬化させることを特徴とす
る。
A method for manufacturing a high-frequency module according to claim 5.
Is a method for manufacturing a high-frequency module according to claim 1,
When embedding chip components in the embedded layer, resin or
Core base made of composite material mixed with resin and functional material powder
Provide a cavity in the plate and insert chip components into the cavity.
The chip component is pre-mounted on a core substrate in a cavity.
Stack the prepregs, hot press them, and use the prepregs for fluidity.
Pre-preparation between the periphery of the chip component and the inner wall of the cavity
Filled with resin and cured.
You.

【0014】このように、キャビティ内のチップ部品と
キャビティ内壁との間を、隣接する樹脂層または複合材
料層(プリプレグ)の流動性によって充填することによ
り、チップ部品の周囲を樹脂充填材料で埋めるための別
工程が不要となる上、チップ部品が強固に固定できる。
Thus, the chip components in the cavity and
Adjacent resin layer or composite material between cavity inner wall
Filling by the fluidity of the bed (prepreg)
To fill the area around the chip components with resin-filled material.
This eliminates the need for a step and allows the chip components to be firmly fixed.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】図1は本発明による高周波モジュ
ールの構造を実現するブロック回路の一例図である。こ
の高周波モジュールは、マルチバンド方式のもので、図
中、50はベースバンドロジック回路(図示せず)から
の信号を受けるモジュレータ、51はベースバンドロジ
ック回路に信号を出力するデモジュレータ、53、54
はフェーズロック回路55を付帯したRFVCO(電圧
制御発振器)、56はフェーズロック回路57を付帯し
たIFVCO、59〜62はミキサ、64、65は分周
器、66、67は位相シフタ、69はスイッチ回路、7
0、71は増幅回路、72は位相検出器、73はバンド
パスフィルタ、74はLCフィルタである。点線75で
囲まれた部分はICにより構成される。
FIG. 1 is an example of a block circuit for realizing the structure of a high-frequency module according to the present invention. This high-frequency module is of a multi-band type, in which 50 is a modulator for receiving a signal from a baseband logic circuit (not shown), 51 is a demodulator for outputting a signal to the baseband logic circuit, and 53 and 54.
Is an RFVCO (voltage controlled oscillator) with a phase lock circuit 55, 56 is an IFVCO with a phase lock circuit 57, 59 to 62 are mixers, 64 and 65 are frequency dividers, 66 and 67 are phase shifters, and 69 is a switch. Circuit, 7
Reference numerals 0 and 71 denote amplification circuits, 72 denotes a phase detector, 73 denotes a bandpass filter, and 74 denotes an LC filter. The portion surrounded by the dotted line 75 is constituted by an IC.

【0016】また、77〜79はローパスフィルタ、8
1、82はRFVCO、83は増幅回路、84、85は
低雑音増幅回路、86〜89はバンドパスフィルタであ
り、これらのバンドパスフィルタ86〜89または73
は弾性表面波フィルタ(SAWフィルタ)により構成さ
れる。92はアンテナ、93は送受信切換え用のスイッ
チ回路である。
Reference numerals 77 to 79 denote low-pass filters;
1, 82 are RFVCOs, 83 is an amplifier circuit, 84 and 85 are low noise amplifier circuits, 86 to 89 are bandpass filters, and these bandpass filters 86 to 89 or 73 are used.
Is constituted by a surface acoustic wave filter (SAW filter). Reference numeral 92 denotes an antenna, and 93 denotes a switch circuit for switching between transmission and reception.

【0017】図2は本実施の形態の高周波モジュールの
全体構成を示す分解斜視図、図3はその層構造を示す図
である。この高周波モジュールは、樹脂または樹脂に機
能材料粉末を混合した複合材料からなる層1a〜1dを
重ねて一体化した基板1からなるものである。
FIG. 2 is an exploded perspective view showing the entire structure of the high-frequency module according to the present embodiment, and FIG. 3 is a view showing the layer structure thereof. This high-frequency module includes a substrate 1 in which layers 1a to 1d made of a resin or a composite material obtained by mixing a functional material powder with a resin are integrated.

【0018】最上層1aの表面部には、アンテナ素子2
およびシールド層3を形成する。次層1bには、前記ア
ンテナ素子2に対面するアンテナ用グランドパターン4
および配線パターン5を形成するとともに、配線パター
ン5上に、前記IC75やVCO81、82あるいはス
イッチ回路93等を構成するためのトランジスタやダイ
オード等の半導体チップ部品6と、SAWフィルタ7、
高容量コンデンサ8、抵抗もしくはインダクタ等の受動
素子チップ部品を埋め込む。
An antenna element 2 is provided on the surface of the uppermost layer 1a.
And a shield layer 3 are formed. In the next layer 1b, an antenna ground pattern 4 facing the antenna element 2 is provided.
And a wiring pattern 5, and on the wiring pattern 5, a semiconductor chip component 6 such as a transistor or a diode for forming the IC 75, the VCOs 81 and 82, or the switch circuit 93, and a SAW filter 7.
A passive element chip component such as a high-capacitance capacitor 8, a resistor or an inductor is embedded.

【0019】また、次の層1cには、コンデンサ9、イ
ンダクタ10を多層構造で実現するとともに、所定の層
に配線パターン11を形成してLCネットワークを構成
する。
In the next layer 1c, a capacitor 9 and an inductor 10 are realized in a multilayer structure, and a wiring pattern 11 is formed on a predetermined layer to form an LC network.

【0020】最下層1dにも前記層1bと同様に、半導
体チップ部品6と、SAWフィルタ7、高容量コンデン
サ8、抵抗あるいはインダクタ等の受動素子チップ部品
を、配線パターン5に接続して埋め込む。
Similarly to the layer 1b, a semiconductor chip component 6, a passive element chip component such as a SAW filter 7, a high-capacitance capacitor 8, a resistor or an inductor are connected to the lowermost layer 1d and embedded in the wiring pattern 5.

【0021】12は各基板間を接続するビア導体であ
る。全体を貫通するビアホールを設けてその中に導体を
設けることにより、内部導体間を接続する場合もある。
Reference numeral 12 denotes a via conductor connecting between the substrates. In some cases, a connection is made between internal conductors by providing a via hole that penetrates the entirety and providing a conductor therein.

【0022】図3に示すように、表面にはこのモジュー
ルを外部に接続するためのコネクタ13が設けられる。
As shown in FIG. 3, a connector 13 for connecting this module to the outside is provided on the surface.

【0023】図4は前記チップ部品6〜8を基板1内に
内蔵する工程を示す図であり、最上層1aと次の層1b
の形成工程について示す。図4(A)に示すように、銅
箔15に接着シート16を貼付け、チップ部品6〜8の
底面の端子を接続するためのランドパターン17を、レ
ーザによる孔あけと、その孔に半田ペーストを塗布して
形成する。次に図4(B)、(C)に示すように、ラン
ドパターン17上にチップ部品6〜8を搭載する。
FIG. 4 is a view showing a process of embedding the chip components 6 to 8 in the substrate 1, and shows the uppermost layer 1a and the next layer 1b.
The steps of forming the film will be described. As shown in FIG. 4A, an adhesive sheet 16 is attached to a copper foil 15, and a land pattern 17 for connecting terminals on the bottom surfaces of the chip components 6 to 8 is drilled by a laser, and solder paste is applied to the hole. Is formed by coating. Next, as shown in FIGS. 4B and 4C, the chip components 6 to 8 are mounted on the land pattern 17.

【0024】また、図4(C)に示すように、チップ部
品6、7、8の位置に各チップ部品6、7、8と同じサ
イズあるいはやや大きいサイズのキャビティ19〜21
を形成したコア基板22を用意し、図4(D)に示すよ
うに、各キャビティ19〜21をチップ部品6〜8に嵌
めて前記接着シート16上に前記コア基板22を重ね
る。ここで、コア基板22の厚みは、チップ部品6〜8
とほぼ同じかあるいはそれ以上とする。
As shown in FIG. 4C, cavities 19 to 21 of the same size as or slightly larger than the chip components 6, 7, 8 are provided at the positions of the chip components 6, 7, 8.
Is prepared, and the cavities 19 to 21 are fitted into the chip components 6 to 8 to stack the core substrate 22 on the adhesive sheet 16 as shown in FIG. Here, the thickness of the core substrate 22 is set to the chip components 6 to 8.
It is almost the same as or more.

【0025】次に図4(D)に示すように、コア基板2
2上にプリプレグ23を重ね、熱プレスし、後述のよう
に、プリプレグ23の流動性によりチップ部品6〜8の
上面や側面の隙間をプリプレグによって埋める。
Next, as shown in FIG.
The prepreg 23 is overlaid on 2 and hot-pressed, and as described later, the gaps on the upper surfaces and side surfaces of the chip components 6 to 8 are filled with the prepreg by the fluidity of the prepreg 23.

【0026】次に図4(E)、(F)に示すように、銅
箔25を接着シート24により貼付ける。
Next, as shown in FIGS. 4 (E) and 4 (F), a copper foil 25 is attached with an adhesive sheet 24.

【0027】その後、上下の銅箔15、25をプリント
基板の一般的な工法でエッチングによりパターニングす
る。この場合、上方の銅箔25のエッチングにより前記
アンテナ素子2とシールド層3が形成され、下方の銅箔
25のエッチングによりチップ部品6〜8を接続する等
の役目を有する配線パターン5やグランドパターン4
形成される。
After that, the upper and lower copper foils 15 and 25 are patterned by etching by a general method for a printed circuit board. In this case, the antenna element 2 and the shield layer 3 are formed by etching the upper copper foil 25, and the wiring pattern 5 and the ground pattern serving to connect the chip components 6 to 8 by etching the lower copper foil 25. 4 are formed.

【0028】図5は図4の工程で作製された積層体26
に対して積層する層1cの層構造の一例を示す図であ
る。図5において、30a〜30dは樹脂また樹脂に
能材料粉末として低誘電率のセラミック等の誘電体粉末
を混合した複合材料からなる低誘電率層で、好ましくは
誘電率が2.5〜5程度に設定される。31は樹脂に
能材料粉末としてセラミックや金属等の磁性体粉末を混
合してなるインダクタ構成のための磁性層、32a、3
2bは樹脂に機能材料粉末として高誘電率のセラミック
等の誘電体粉末を混合した複合材料からなるコンデンサ
構成のための高誘電率層であり、好ましくは誘電率が1
5〜30程度に設定される。33a〜33dは共振器構
成のための高Q層である。該高Q層は樹脂または樹脂に
機能材料粉末として誘電正接の小さい(Qの大きい)誘
電体粉末を混合した複合材料からなる。
FIG. 5 shows the laminate 26 manufactured in the process of FIG.
FIG. 6 is a diagram showing an example of a layer structure of a layer 1c to be stacked on the substrate. In FIG. 5, 30a ~30d the machine to resin addition resin
A low dielectric constant layer made of a composite material in which a dielectric powder such as a low dielectric constant ceramic is mixed as the active material powder , and preferably has a dielectric constant of about 2.5 to 5. 31 is a machine for resin
32a , 3a , a magnetic layer for forming an inductor formed by mixing magnetic powder such as ceramic or metal as the active material powder.
Reference numeral 2b denotes a high dielectric constant layer for a capacitor structure composed of a composite material in which a dielectric powder such as a high dielectric constant ceramic or the like is mixed as a functional material powder with a resin.
It is set to about 5 to 30. 33a to 33d are high Q layers for a resonator configuration. The high Q layer is made of resin or resin
Induction of small dielectric loss tangent (large Q) as functional material powder
It is made of a composite material mixed with an electric powder.

【0029】また、11は前記低誘電率層30a、30
cに形成した配線パターン、34は前記磁性層31に形
成したインダクタ導体、35は前記高誘電率層32a、
32bを介して対向するように形成されたコンデンサ電
極、36、37はそれぞれ前記高Q層33a、33bま
たは33c、33dを介して対向するように形成されて
共振器を構成するストリップライン導体とグランドパタ
ーンである。これらは最下層の基板1dとともに熱プレ
スにより一体化される。
Reference numeral 11 denotes the low dielectric layers 30a, 30
c, an inductor conductor formed on the magnetic layer 31; 35, a high dielectric constant layer 32a;
Capacitor electrodes 36 and 37 formed so as to face each other via 32b are formed so as to face each other via the high-Q layers 33a and 33b or 33c and 33d, respectively, and a strip line conductor and a ground which constitute a resonator are formed. It is a pattern. These are integrated with the lowermost substrate 1d by hot pressing.

【0030】なお、各層の樹脂には、エポキシ樹脂、ビ
ニルベンジル樹脂、フェノール樹脂、ビスマレイミドト
リアジン樹脂(BTレジン)、ポリフェニレンエーテル
樹脂(PPE)等が用いられる。特に高Q層33a〜3
3dにはビニルベンジル樹脂を用いることが好ましい。
As the resin of each layer, epoxy resin, vinylbenzyl resin, phenol resin, bismaleimide triazine resin (BT resin), polyphenylene ether resin (PPE) and the like are used. In particular, the high Q layers 33a-3
It is preferable to use a vinylbenzyl resin for 3d.

【0031】また、磁性層31を構成するためにこれら
の樹脂に混合する磁性体粉末としては、Mn−Mg−Z
n系、Ni−Zn系等のフェライト粉末、金属磁性粉
末、磁性単結晶粉末、絶縁皮膜を有する磁性金属粉末等
が用いられる。
The magnetic powder mixed with these resins to form the magnetic layer 31 is Mn-Mg-Z
Ferrite powders such as n-based and Ni-Zn-based powders, metal magnetic powders, magnetic single crystal powders, magnetic metal powders having an insulating film, and the like are used.

【0032】また、高誘電率層32a、32bを構成す
るために樹脂に混合する誘電体粉末としては例えばBa
TiO−BaZrO系、BaO−TiO−Nd
系、BaO−4TiO系等のセラミック誘電体粉
末や、誘電体単結晶粉末、誘電体皮膜を有する金属粉末
等が用いられる。
The dielectric powder to be mixed with the resin to form the high dielectric layers 32a and 32b is, for example, Ba.
TiO 3 —BaZrO 3 system, BaO—TiO 2 —Nd 2
A ceramic dielectric powder such as an O 3 -based or BaO-4TiO 2 -based powder, a dielectric single crystal powder, a metal powder having a dielectric film, and the like are used.

【0033】また、低誘電率層30a〜30dを構成す
る誘電体粉末としては、アルミナ系等のセラミック誘電
体粉末、誘電体単結晶粉末、誘電体皮膜を有する金属粉
末等が用いられる。また、高Q層33a〜33dを構成
する誘電体粉末としては、シリカ、ジルコニア等のセラ
ミック粉末やウイスカ等が用いられる。
As the dielectric powder constituting the low dielectric layers 30a to 30d, ceramic dielectric powder such as alumina, dielectric single crystal powder, metal powder having a dielectric film, and the like are used. In addition, the high Q layers 33a to 33d are configured.
Dielectric powders such as silica, zirconia, etc.
Mix powder, whisker, etc. are used.

【0034】また、配線パターン11、インダクタ導体
34、コンデンサ電極35などの導体としては、銅、
銀、ニッケル、錫、亜鉛、アルミニウムなどを用いるこ
とができる。また、これらの導体は、図示例では便宜
上、樹脂または複合材料の各層上に設けた例を示してい
るが、導体と樹脂または複合材料の各層との層配置関係
を示したに過ぎず、これらの層配置関係は種々に変更し
うることはいうまでもない。
The conductors such as the wiring pattern 11, the inductor conductor 34, and the capacitor electrode 35 include copper,
Silver, nickel, tin, zinc, aluminum, or the like can be used. These conductors are used for convenience in the illustrated example.
The figure shows an example in which each is provided on each layer of a resin or a composite material.
However, the layer arrangement relationship between the conductor and each layer of resin or composite material
However, these layer arrangement relations are variously changed.
Needless to say.

【0035】図6(A)は製造工程における具体的な層
構造を示す図であり、26は前記図4(F)に示した積
層体、1dは図2に示した最下層、他は前記層1b、1
cの一部を構成する部材である。40は前記層1cと積
層体26とを接着するための半硬化状態のプリプレグ、
41はビア導体である。30a〜30dは前記低誘電率
層であり、積層時において、30b〜30dはプリプレ
グにより構成される。31は前記磁性層である。積層時
においては、積層体26、低誘電率層30a、磁性層3
1、層1dは本硬化後のコア基板として構成され、これ
らを前記プリプレグとともに熱プレスすることにより、
一体化される。また、必要に応じて全体に対してスルー
ホールを設け、そのスルーホール内部のめっきにより必
要な接続を行う。
FIG. 6A is a view showing a specific layer structure in the manufacturing process. Reference numeral 26 denotes the laminate shown in FIG. 4F, 1 d denotes the lowermost layer shown in FIG. Layers 1b, 1
It is a member constituting a part of c. 40 is a semi-cured prepreg for bonding the layer 1c and the laminate 26;
41 is a via conductor. Reference numerals 30a to 30d denote the low dielectric constant layers, and at the time of lamination, 30b to 30d are constituted by prepregs. 31 is the magnetic layer. At the time of lamination, the laminate 26, the low dielectric constant layer 30a, the magnetic layer 3
1. The layer 1d is configured as a core substrate after full curing, and by hot pressing these together with the prepreg,
Be integrated. Also, through holes are provided for the whole as necessary, and necessary connections are made by plating inside the through holes.

【0036】以上に説明したように、受動素子のチップ
部品7、8のみならず、トランジスタ、ダイオード、I
C等の半導体チップ部品6も多層基板1内に埋設したの
で、チップ部品保護用のケースやモールド樹脂は不要と
なり、薄型化が可能となる。また、アンテナ素子2を表
面部に形成したので、アンテナを含めた高周波モジュー
ル全体の小型化が可能となる。また、積層工程によって
全体を一体化できるので、ケース取付け工程や樹脂のモ
ールド工程や設備が不要になる。また、チップ部品が多
層基板1内に埋め込まれているので、外的衝撃に強く、
取り扱い易い。
As described above, not only the chip components 7 and 8 of the passive element, but also the transistor, the diode,
Since the semiconductor chip component 6 such as C is also buried in the multilayer substrate 1, a case and a mold resin for protecting the chip component are not required, and the thickness can be reduced. In addition, since the antenna element 2 is formed on the surface, the entire high-frequency module including the antenna can be reduced in size. Further, since the whole can be integrated by the laminating process, a case attaching process, a resin molding process and equipment are not required. In addition, since chip components are embedded in the multilayer substrate 1, it is resistant to external impact,
Easy to handle.

【0037】また、シールド層3を表面部に設けること
により、外部へのノイズの放射や外部ノイズによる影響
を防止することができる。また、ケースが不要となるの
で、薄型化を損なうことがない。
By providing the shield layer 3 on the surface, radiation of noise to the outside and influence of external noise can be prevented. In addition, since no case is required, the thickness is not reduced.

【0038】図6(B)は前記チップ部品6〜8の埋め
込み構造を、チップ部品6で代表させて示す断面図であ
り、前記チップ部品6の周囲とキャビティ19の内壁と
の間に、該キャビティ形成層に隣接する層のプリプレグ
23からなる樹脂23aを熱プレスによる流動状態にお
いて充填させて硬化させたものである。
FIG. 6B is a cross-sectional view showing the embedding structure of the chip components 6 to 8 as a representative of the chip component 6, wherein the embedded structure is provided between the periphery of the chip component 6 and the inner wall of the cavity 19. Pre-preg of layer adjacent to cavity-forming layer
The resin 23a is filled and cured in a fluidized state by a hot press.

【0039】このように、キャビティ19内のチップ部
品6とキャビティ内壁との間を隣接する層より移動した
部分23aによって充填することにより、チップ部品の
周囲を樹脂層で埋めるための別工程が不要となる上、チ
ップ部品6が強固に固定でき、機械的強度が増す。
As described above, the space between the chip component 6 in the cavity 19 and the inner wall of the cavity is filled with the portion 23a displaced from the adjacent layer, so that another step for filling the periphery of the chip component with the resin layer is unnecessary. In addition, the chip component 6 can be firmly fixed, and the mechanical strength increases.

【0040】本発明を実施する場合には、表面部にアン
テナ素子2やシールド層3を保護層としての樹脂層で被
覆する構成も採用できる。また、本発明において、前記
以外の導体、樹脂、磁性体粉末、誘電体粉末も勿論用い
ることができる。また、基板1の表面部にアンテナ素子
2を複数個設けてもよい。また、チップ部品6〜8を埋
め込む層は複数層設けてもよい。
In practicing the present invention, a configuration in which the antenna element 2 and the shield layer 3 are covered with a resin layer as a protective layer on the surface may be employed. In the present invention, other conductors, resins , magnetic powders, and dielectric powders other than those described above can of course be used. Further, a plurality of antenna elements 2 may be provided on the surface of the substrate 1. Further, a plurality of layers for embedding the chip components 6 to 8 may be provided.

【0041】[0041]

【発明の効果】請求項1、2によれば、受動素子のチッ
プ部品のみならず、半導体チップ部品も多層基板内に埋
設したので、チップ部品保護用のケースやモールド樹脂
は不要となり、薄型化が可能となる。また、アンテナパ
ターンを表面部に形成したので、アンテナを含めた高周
波モジュール全体の小型化が可能となる。また、積層工
程によって全体を一体化できるので、ケース取付け工程
や樹脂のモールド工程や設備が不要になる。また、チッ
プ部品が多層基板内に埋め込まれているので、外的衝撃
に強く、取り扱い易い。
According to the first and second aspects of the present invention, not only the chip component of the passive element but also the semiconductor chip component are embedded in the multi-layer substrate, so that the case and the molding resin for protecting the chip component become unnecessary, and the thickness is reduced. Becomes possible. Also, since the antenna pattern is formed on the surface, the whole high-frequency module including the antenna can be reduced in size. Further, since the whole can be integrated by the laminating process, a case attaching process, a resin molding process and equipment are not required. Further, since the chip components are embedded in the multilayer substrate, the chip components are resistant to external impacts and are easy to handle.

【0042】請求項3、5によれば、キャビティ内のチ
ップ部品とキャビティ内壁との間を、隣接する樹脂層ま
たは複合材料層(プリプレグ)の流動性によって充填し
たので、チップ部品の周囲を樹脂層で埋めるための別工
程が不要となる上、チップ部品が強固に固定できる。
[0042] According to claim 3 and 5, between the chip component and the cavity inner wall in the cavity, since the filled by the flow of the adjacent resin layer or composite layer (prepreg), a resin around the chip component This eliminates the need for a separate step of filling with a layer, and allows the chip component to be firmly fixed.

【0043】請求項4によれば、シールド層を表面部に
設けたので、外部へのノイズの放射や外部ノイズによる
影響を防止することができる。また、ケースが不要とな
るので、薄型化を損なうことがない。
According to the fourth aspect, since the shield layer is provided on the surface portion, radiation of noise to the outside and influence of external noise can be prevented. In addition, since no case is required, the thickness is not reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による高周波モジュールの構造を実現す
ブロック回路の一例図である。
FIG. 1 is an example of a block circuit for realizing the structure of a high-frequency module according to the present invention.

【図2】本発明による高周波モジュールの一実施の形態
の全体構成を示す分解斜視図である。
FIG. 2 is an exploded perspective view showing the entire configuration of a high-frequency module according to an embodiment of the present invention.

【図3】本実施の形態の層構造を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a layer structure of the present embodiment.

【図4】(A)〜(F)は本実施の形態の製造工程の一
部を示す工程図である。
FIGS. 4A to 4F are process diagrams showing a part of the manufacturing process of the present embodiment.

【図5】本実施の形態の一部の積層構造図である。FIG. 5 is a diagram of a part of a laminated structure according to the present embodiment.

【図6】(A)は本実施の形態の積層工程における層構
造の一部を示す断面図、(B)はそのチップ部品埋め込
み部を示す断面図である。
FIG. 6A is a cross-sectional view showing a part of a layer structure in a laminating step of the present embodiment, and FIG. 6B is a cross-sectional view showing a chip component embedded portion thereof.

【符号の説明】 1:基板、1a〜1d:層、2:アンテナ素子、3:シ
ールド層、4:グランドパターン、5:配線パターン、
6:半導体チップ部品、7:SAWフィルタ、8:高容
量コンデンサ、9:コンデンサ、10:インダクタ、1
1:配線パターン、12:ビア導体、13:コネクタ、
15:銅箔、16:接着シート、17:ランドパター
ン、19〜21:キャビティ、22:コア基板、23:
プリプレグ、23a:充填部、24:接着シート、2
5:銅箔、26:積層体、30a〜30d:低誘電率
層、31:磁性層、32a、32b:高誘電率層、33
〜33d:高Q層、34:インダクタ導体、36:ス
トリップライン導体、37:グランドパターン、40:
プリプレグ、41;ビア導体、50:モジュレータ、5
1:デモジュレータ、53、54:RFVCO(電圧制
御発振器)、56:IFVCO、59〜62:ミキサ、
64、65:分周器、66、67:位相シフタ、69:
スイッチ回路、70、71:増幅回路、72:位相検出
器、73:バンドパスフィルタ、74:LCフィルタ、
75:IC、77〜79:ローパスフィルタ、81、8
2:RFVCO、83:増幅回路、84、85:低雑音
増幅回路、86〜90:バンドパスフィルタ、92:ア
ンテナ、93:スイッチ回路
[Description of Signs] 1: substrate, 1a to 1d: layer, 2: antenna element, 3: shield layer, 4: ground pattern, 5: wiring pattern,
6: semiconductor chip component, 7: SAW filter, 8: high capacity capacitor, 9: capacitor, 10: inductor, 1
1: wiring pattern, 12: via conductor, 13: connector,
15: Copper foil, 16: Adhesive sheet, 17: Land pattern, 19 to 21: Cavity, 22: Core substrate, 23:
Prepreg, 23a: filling portion, 24: adhesive sheet, 2
5: Copper foil, 26: Laminate, 30a to 30d: Low dielectric constant layer, 31: Magnetic layer, 32a , 32b: High dielectric constant layer, 33
a to 33d: high Q layer, 34: inductor conductor, 36: strip line conductor, 37: ground pattern, 40:
Prepreg, 41; via conductor, 50: modulator, 5
1: demodulator, 53, 54: RFVCO (voltage controlled oscillator), 56: IFVCO, 59-62: mixer,
64, 65: frequency divider, 66, 67: phase shifter , 69:
Switch circuits, 70 and 71: amplifier circuits, 72: phase detectors, 73: band-pass filters, 74: LC filters,
75: IC, 77 to 79: low-pass filter, 81, 8
2: RFVCO, 83: amplifier circuit, 84, 85: low noise amplifier circuit, 86 to 90: band pass filter, 92: antenna, 93: switch circuit

【手続補正2】[Procedure amendment 2]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図6[Correction target item name] Fig. 6

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図6】 FIG. 6

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04B 1/38 H04B 1/38 H05K 1/02 H05K 1/02 P Fターム(参考) 5E338 AA03 AA16 CC05 CD23 EE13 EE24 5E346 AA12 BB04 CC08 CC21 CC32 DD02 DD12 DD32 EE01 FF01 GG15 GG22 GG28 HH24 HH32 5J021 AA09 AB06 CA06 FA17 FA24 FA26 FA32 HA05 JA07 5J045 AA05 AB05 DA10 EA08 HA03 MA07 NA01 5K011 AA06 DA27 JA01 KA18 Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat II (Reference) H04B 1/38 H04B 1/38 H05K 1/02 H05K 1/02 PF term (Reference) 5E338 AA03 AA16 CC05 CD23 EE13 EE24 5E346 AA12 BB04 CC08 CC21 CC32 DD02 DD12 DD32 EE01 FF01 GG15 GG22 GG28 HH24 HH32 5J021 AA09 AB06 CA06 FA17 FA24 FA26 FA32 HA05 JA07 5J045 AA05 AB05 DA10 EA08 HA03 MA07 NA01 5K011 AA06 DA27 JA01 KA18

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】樹脂または樹脂と機能材料粉末を混合した
複合材料によって多層構造に構成されている基板からな
り、 前記基板の表面部に少なくとも1つのパターンにより形
成されたアンテナ素子を具備し、 前記基板内部に導体パターンにより少なくともコンデン
サ、インダクタおよび共振器のいずれかを形成し、 前記基板内部に、受動素子のチップ部品および半導体チ
ップ部品を埋設したチップ埋め込み層を少なくとも1層
具備していることを特徴とする高周波モジュール。
1. An antenna element comprising a substrate having a multilayer structure made of a resin or a composite material obtained by mixing a resin and a functional material powder, comprising: an antenna element formed by at least one pattern on a surface portion of the substrate. At least one of a capacitor, an inductor, and a resonator is formed by a conductor pattern inside a substrate, and at least one chip burying layer in which a chip component of a passive element and a semiconductor chip component are buried is provided inside the substrate. High-frequency module featuring.
【請求項2】請求項1の高周波モジュールにおいて、前
記受動素子のチップ部品として、少なくとも高容量コン
デンサとSAWフィルタとを備えることを特徴とする高
周波モジュール。
2. The high-frequency module according to claim 1, further comprising at least a high-capacitance capacitor and a SAW filter as chip components of said passive element.
【請求項3】請求項1または2の高周波モジュールにお
いて、前記チップ部品は、樹脂または複合材料層に形成
したキャビティに埋め込むと共に、前記チップ部品の周
囲とキャビティ内壁との間に、該キャビティ形成層に隣
接する層の樹脂を充填したことを特徴とする高周波モジ
ュール。
3. The high-frequency module according to claim 1, wherein said chip component is embedded in a cavity formed in a resin or composite material layer, and said cavity forming layer is provided between a periphery of said chip component and a cavity inner wall. A high-frequency module characterized by being filled with a resin in a layer adjacent to the high-frequency module.
【請求項4】請求項1から3までのいずれかの高周波モ
ジュールにおいて、前記多層基板の表面部におけるアン
テナ素子形成領域以外の部分をシールド層により覆った
ことを特徴とする高周波モジュール。
4. The high-frequency module according to claim 1, wherein a portion other than an antenna element forming region on a surface portion of said multilayer substrate is covered with a shield layer.
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