JP2002334527A - ディスクメモリ装置、ディスクメモリ装置不良判定方法、及び記録媒体 - Google Patents
ディスクメモリ装置、ディスクメモリ装置不良判定方法、及び記録媒体Info
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＡＶデータの記録、再生にディスクメモリ装
置が使用された場合に、途絶えることなく映像を再生し
たり、コマ落ちすることなく録画するために、規定時間
内にデータアクセスを行えるディスクメモリ装置を提供
する。 【解決手段】規定量のデータの読み出しあるいは書き込
み時間を計測し、制限時間と比較することにより、アク
セス時間が制限時間を超えた場合に該当領域を不良と判
定し、ディフェクトリストに登録することにより、該当
領域を未使用にすることを可能にする。
置が使用された場合に、途絶えることなく映像を再生し
たり、コマ落ちすることなく録画するために、規定時間
内にデータアクセスを行えるディスクメモリ装置を提供
する。 【解決手段】規定量のデータの読み出しあるいは書き込
み時間を計測し、制限時間と比較することにより、アク
セス時間が制限時間を超えた場合に該当領域を不良と判
定し、ディフェクトリストに登録することにより、該当
領域を未使用にすることを可能にする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスクや光
磁気ディスク等のディスクメモリ媒体にデータを記録、
あるいは読み出すディスクメモリ装置に関し、特にディ
スクメモリ媒体の不良位置判定を含むディスクメモリ装
置の不良判定方法に関するものである。
磁気ディスク等のディスクメモリ媒体にデータを記録、
あるいは読み出すディスクメモリ装置に関し、特にディ
スクメモリ媒体の不良位置判定を含むディスクメモリ装
置の不良判定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ディスクメモリ装置においては、データ
を記録するディスク媒体上にキズ等による欠陥が存在し
た場合、その欠陥部を含むセクターに書き込んだデータ
を読み出すと、読み出しエラーが発生することがある。
また、欠陥部がヘッド構造物を位置決めさせるためにデ
ィスク媒体上に予め記録されたサーボ信号部に存在した
場合は、ヘッド構造物の位置決め精度にも影響を与え
て、データを読み出す、あるいは書き込む目的セクター
の位置を特定出来ないこともあり、目的セクターに対す
る読み出しエラー、あるいは書き込みエラーが発生する
ことがある。このような書き込み、あるいは読み出しで
エラーが発生するようなセクターは信頼できないので、
一般的には、そのようなセクターを使用しないようにス
キップさせたり、予備セクターに代替する処理が施され
る。
を記録するディスク媒体上にキズ等による欠陥が存在し
た場合、その欠陥部を含むセクターに書き込んだデータ
を読み出すと、読み出しエラーが発生することがある。
また、欠陥部がヘッド構造物を位置決めさせるためにデ
ィスク媒体上に予め記録されたサーボ信号部に存在した
場合は、ヘッド構造物の位置決め精度にも影響を与え
て、データを読み出す、あるいは書き込む目的セクター
の位置を特定出来ないこともあり、目的セクターに対す
る読み出しエラー、あるいは書き込みエラーが発生する
ことがある。このような書き込み、あるいは読み出しで
エラーが発生するようなセクターは信頼できないので、
一般的には、そのようなセクターを使用しないようにス
キップさせたり、予備セクターに代替する処理が施され
る。
【０００３】このような代替処理を行う為に、予めディ
スク媒体上の全セクターに対して書き込み及び読み出し
テストを実施して、読み出しあるいは書き込みエラーの
有無により不良位置を調べるのが一般的である。
スク媒体上の全セクターに対して書き込み及び読み出し
テストを実施して、読み出しあるいは書き込みエラーの
有無により不良位置を調べるのが一般的である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来方法では、何回かのリトライ処理で正常にデータを
読み出すことが出来た場合や書き込むことが出来た場合
においては、エラーとは判断されない。
従来方法では、何回かのリトライ処理で正常にデータを
読み出すことが出来た場合や書き込むことが出来た場合
においては、エラーとは判断されない。
【０００５】ディスクメモリ装置においては、データを
記録するディスク媒体上にキズ等による欠陥が存在した
場合、その欠陥部を含むセクターに書き込んだデータを
読み出すと、読み出しエラーが発生することがある。読
み出しエラーが発生した場合、ディスクメモリ装置にお
いては、一般的に、ＥＣＣ訂正などのデータ訂正処理で
エラー訂正を試みたり、読み出しエラーが発生したセク
ターに対して正常に読み出せるまで何度か読み出しを試
みる。
記録するディスク媒体上にキズ等による欠陥が存在した
場合、その欠陥部を含むセクターに書き込んだデータを
読み出すと、読み出しエラーが発生することがある。読
み出しエラーが発生した場合、ディスクメモリ装置にお
いては、一般的に、ＥＣＣ訂正などのデータ訂正処理で
エラー訂正を試みたり、読み出しエラーが発生したセク
ターに対して正常に読み出せるまで何度か読み出しを試
みる。
【０００６】このようなエラーリカバリー処理を実行す
るために、データの読み出し時間が通常より長くかかる
ことが発生し得る。また、欠陥部がヘッド構造物を位置
決めさせるためにディスク媒体上に予め記録されたサー
ボ信号部に存在した場合は、ヘッド構造物の位置決め精
度にも影響を与えて、データを読み出す、あるいは書き
込む目的セクターの位置を特定出来ないこともある。こ
のような場合、ディスクメモリ装置においては、一般的
に、目的セクター位置を特定できるまで何回かの位置特
定処理を試みる。このようなヘッド構造物位置決めリカ
バリー処理を実行するために、データの読み出し、ある
いは書き込み時間が通常より長くかかることが発生し得
る。
るために、データの読み出し時間が通常より長くかかる
ことが発生し得る。また、欠陥部がヘッド構造物を位置
決めさせるためにディスク媒体上に予め記録されたサー
ボ信号部に存在した場合は、ヘッド構造物の位置決め精
度にも影響を与えて、データを読み出す、あるいは書き
込む目的セクターの位置を特定出来ないこともある。こ
のような場合、ディスクメモリ装置においては、一般的
に、目的セクター位置を特定できるまで何回かの位置特
定処理を試みる。このようなヘッド構造物位置決めリカ
バリー処理を実行するために、データの読み出し、ある
いは書き込み時間が通常より長くかかることが発生し得
る。
【０００７】ＡＶデータの記録、再生用途にディスクメ
モリ装置を用いる場合には、途絶えることなく映像を再
生したり、コマ落ちすることなくデータを記録するため
に、規定時間内に必要とされるデータをディスクメモリ
媒体から読み出す、あるいはディスクメモリ媒体に書き
込むことが要求される。したがって、ＡＶデータの記
録、再生用途にディスクメモリ装置を用いる場合には、
保存したデータを正常に読み出せることは勿論のことと
して、更に規定時間内に読み出し、書き込み処理が終了
することを保証する必要があり、従来方式による不良判
定方式では、規定時間以上のアクセスタイムがかかる位
置を不良として判定できず、その位置に記録あるいは再
生を行った場合に記録時のデータ欠落や再生時のコマ落
ちが発生するという課題があった。
モリ装置を用いる場合には、途絶えることなく映像を再
生したり、コマ落ちすることなくデータを記録するため
に、規定時間内に必要とされるデータをディスクメモリ
媒体から読み出す、あるいはディスクメモリ媒体に書き
込むことが要求される。したがって、ＡＶデータの記
録、再生用途にディスクメモリ装置を用いる場合には、
保存したデータを正常に読み出せることは勿論のことと
して、更に規定時間内に読み出し、書き込み処理が終了
することを保証する必要があり、従来方式による不良判
定方式では、規定時間以上のアクセスタイムがかかる位
置を不良として判定できず、その位置に記録あるいは再
生を行った場合に記録時のデータ欠落や再生時のコマ落
ちが発生するという課題があった。
【０００８】この発明は、上記のような従来の問題点を
解決するためになされたもので、ＡＶデータの記録、再
生にディスクメモリ装置を使用した場合に、途絶えるこ
となく映像を再生したり、コマ落ちすることなく録画を
行うために、規定時間内にデータアクセスを行うことの
できるディスクメモリ装置を提供することを、目的とし
ている。
解決するためになされたもので、ＡＶデータの記録、再
生にディスクメモリ装置を使用した場合に、途絶えるこ
となく映像を再生したり、コマ落ちすることなく録画を
行うために、規定時間内にデータアクセスを行うことの
できるディスクメモリ装置を提供することを、目的とし
ている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の請求項１に記載のディスクメモリ装置は、
規定量のデータの読み出し時間あるいは書き込み時間を
計測するアクセス時間計測手段と、規定量のデータ読み
出し制限時間及び書き込み制限時間を設定可能な制限時
間設定手段と、前記計測されたアクセス時間と前記設定
された制限時間とを比較し、アクセス時間が制限値を超
えたか否かによりアクセスした領域の不良判定を行うア
クセス時間不良判定手段とを具備するものであり、規定
時間以内にアクセスできないデータ保存位置を検出する
ことにより、それらの不良セクターあるいは不良セクタ
ーブロックを使用しないようにスキップさせたり、予備
セクターに代替する処理を施すことが可能になり、ＡＶ
データの記録再生用途にディスクメモリ装置を用いる場
合に、途絶えることなく映像を再生したり、コマ落ちす
ることなくデータを記録するために、規定時間内に必要
とされるデータをディスクメモリ媒体から読み出す、あ
るいはディスクメモリ媒体に書き込むことを実現しうる
ものである。
に、本発明の請求項１に記載のディスクメモリ装置は、
規定量のデータの読み出し時間あるいは書き込み時間を
計測するアクセス時間計測手段と、規定量のデータ読み
出し制限時間及び書き込み制限時間を設定可能な制限時
間設定手段と、前記計測されたアクセス時間と前記設定
された制限時間とを比較し、アクセス時間が制限値を超
えたか否かによりアクセスした領域の不良判定を行うア
クセス時間不良判定手段とを具備するものであり、規定
時間以内にアクセスできないデータ保存位置を検出する
ことにより、それらの不良セクターあるいは不良セクタ
ーブロックを使用しないようにスキップさせたり、予備
セクターに代替する処理を施すことが可能になり、ＡＶ
データの記録再生用途にディスクメモリ装置を用いる場
合に、途絶えることなく映像を再生したり、コマ落ちす
ることなくデータを記録するために、規定時間内に必要
とされるデータをディスクメモリ媒体から読み出す、あ
るいはディスクメモリ媒体に書き込むことを実現しうる
ものである。
【００１０】次に、本発明の請求項４に記載のディスク
メモリ装置は、規定量のデータの読み出し時間あるいは
書きこみ時間を計測するアクセス時間計測手段と、前記
計測されたアクセス時間を記憶するアクセス時間データ
記憶手段と、前記ディスクメモリ装置製造時に全アクセ
ス領域に対して計測したアクセス時間データを基準時間
データとして記憶する基準時間データ記憶手段と、前記
アクセス時間データと前記基準時間データとを比較して
ディスクメモリ装置の不良判定を行う不良判定手段とを
具備するものであり、ディスクメモリ装置製造後の性能
劣化を判断することを可能にするものである。
メモリ装置は、規定量のデータの読み出し時間あるいは
書きこみ時間を計測するアクセス時間計測手段と、前記
計測されたアクセス時間を記憶するアクセス時間データ
記憶手段と、前記ディスクメモリ装置製造時に全アクセ
ス領域に対して計測したアクセス時間データを基準時間
データとして記憶する基準時間データ記憶手段と、前記
アクセス時間データと前記基準時間データとを比較して
ディスクメモリ装置の不良判定を行う不良判定手段とを
具備するものであり、ディスクメモリ装置製造後の性能
劣化を判断することを可能にするものである。
【００１１】次に、本発明の請求項７に記載のディスク
メモリ装置は、規定量のデータの読み出し時間あるいは
書きこみ時間を計測するアクセス時間計測手段と、前記
計測されたアクセス時間を記憶するアクセス時間データ
記憶手段と、前記ディスクメモリ装置製造時に全アクセ
ス領域に対して計測したアクセス時間データを基準時間
データとして記憶する基準時間データ記憶手段と、前記
アクセス時間データと前記基準時間データとを比較して
ディスクメモリ装置の不良判定を行う不良判定手段と、
前記不良判定手段の結果からディスクメモリ装置の不良
と判断した場合に上位装置あるいは表示手段に、ディス
クメモリ装置の不良を通知する不良通知手段とを具備す
るものであり、ディスクメモリ装置製造後の性能劣化を
検出し、それを、上位装置あるいはユーザに通知するこ
とにより、ディスクメモリ装置内のデータを他の記録媒
体に退避したり、ディスクメモリ装置の交換などの処置
を行うことが可能になる。
メモリ装置は、規定量のデータの読み出し時間あるいは
書きこみ時間を計測するアクセス時間計測手段と、前記
計測されたアクセス時間を記憶するアクセス時間データ
記憶手段と、前記ディスクメモリ装置製造時に全アクセ
ス領域に対して計測したアクセス時間データを基準時間
データとして記憶する基準時間データ記憶手段と、前記
アクセス時間データと前記基準時間データとを比較して
ディスクメモリ装置の不良判定を行う不良判定手段と、
前記不良判定手段の結果からディスクメモリ装置の不良
と判断した場合に上位装置あるいは表示手段に、ディス
クメモリ装置の不良を通知する不良通知手段とを具備す
るものであり、ディスクメモリ装置製造後の性能劣化を
検出し、それを、上位装置あるいはユーザに通知するこ
とにより、ディスクメモリ装置内のデータを他の記録媒
体に退避したり、ディスクメモリ装置の交換などの処置
を行うことが可能になる。
【００１２】
【発明の実施の形態】（実施の形態１）以下に、本発明
の請求項１、請求項２及び請求項３に記載された発明の
実施の形態について、図１及び図２を用いて説明する。
図１は本発明の実施の形態１によるディスクメモリ装置
の構成を示すブロック図の一例である。図において、上
位装置１は、ディスクメモリ装置に対してディスクメモ
リ上の領域のテストを行う旨のテスト開始命令を出力す
る。
の請求項１、請求項２及び請求項３に記載された発明の
実施の形態について、図１及び図２を用いて説明する。
図１は本発明の実施の形態１によるディスクメモリ装置
の構成を示すブロック図の一例である。図において、上
位装置１は、ディスクメモリ装置に対してディスクメモ
リ上の領域のテストを行う旨のテスト開始命令を出力す
る。
【００１３】また、本発明の実施の形態１によるディス
クメモリ装置は、アクセス命令発行手段２と、ディスク
メモリＩ／Ｆ手段３と、ディスクメモリ４と、バッファ
手段５と、ホストＩ／Ｆ手段６と、終了ステータス検出
手段７と、アクセス時間計測手段８と、アクセス時間不
良判定手段９と、制限時間設定手段１０と、ディフェク
ト登録手段１１とディフェクトリスト１２からなる。
クメモリ装置は、アクセス命令発行手段２と、ディスク
メモリＩ／Ｆ手段３と、ディスクメモリ４と、バッファ
手段５と、ホストＩ／Ｆ手段６と、終了ステータス検出
手段７と、アクセス時間計測手段８と、アクセス時間不
良判定手段９と、制限時間設定手段１０と、ディフェク
ト登録手段１１とディフェクトリスト１２からなる。
【００１４】アクセス命令発行手段２は、ホストＩ／Ｆ
手段６を介して上位装置１からのテスト開始命令を受け
取ると、規定量の領域サイズでディスクメモリ上の領域
をシーケンシャルにリードあるいはライトする旨をディ
スクメモリＩ／Ｆ手段３に指示すると共にアクセス時間
計測の開始をアクセス時間計測手段８に指示する。アク
セスが終了すると規定量のサイズ分、領域をずらしなが
ら、ディスクメモリ上の指定領域をすべてアクセスする
よう、前記処理を繰り返す。
手段６を介して上位装置１からのテスト開始命令を受け
取ると、規定量の領域サイズでディスクメモリ上の領域
をシーケンシャルにリードあるいはライトする旨をディ
スクメモリＩ／Ｆ手段３に指示すると共にアクセス時間
計測の開始をアクセス時間計測手段８に指示する。アク
セスが終了すると規定量のサイズ分、領域をずらしなが
ら、ディスクメモリ上の指定領域をすべてアクセスする
よう、前記処理を繰り返す。
【００１５】ディスクメモリＩ／Ｆ手段３は、ディスク
メモリ４とのデータ転送を制御し、ディスクメモリ４か
らバッファ手段５にデータを読み出す。あるいは、バッ
ファ手段５に格納されたデータをディスクメモリ４に書
き込む。
メモリ４とのデータ転送を制御し、ディスクメモリ４か
らバッファ手段５にデータを読み出す。あるいは、バッ
ファ手段５に格納されたデータをディスクメモリ４に書
き込む。
【００１６】終了ステータス検出手段７は、前記ディス
クメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ４へのアク
セスの終了ステータスを検出し、エラーが発生していた
場合は、ディフェクト登録手段１１にエラーが発生した
ディスクメモリ上の領域の位置を通知する。また、エラ
ーが発生していない場合は、アクセス時間計測手段８に
アクセス時間計測の終了を指示する。
クメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ４へのアク
セスの終了ステータスを検出し、エラーが発生していた
場合は、ディフェクト登録手段１１にエラーが発生した
ディスクメモリ上の領域の位置を通知する。また、エラ
ーが発生していない場合は、アクセス時間計測手段８に
アクセス時間計測の終了を指示する。
【００１７】アクセス時間計測手段８は、前記アクセス
命令発行手段２からのアクセス時間計測開始指示を受け
取ってから、前記終了ステータス検出手段７からのアク
セス時間計測終了指示を受け取るまでの時間をアクセス
時間として計測する。
命令発行手段２からのアクセス時間計測開始指示を受け
取ってから、前記終了ステータス検出手段７からのアク
セス時間計測終了指示を受け取るまでの時間をアクセス
時間として計測する。
【００１８】制限時間設定手段１０は、ホストＩ／Ｆ手
段６を介して上位装置１から規定量のデータの読み出し
制限時間及び書きこみ制限時間を設定し記憶する。この
制限時間設定手段１０は、ディップスイッチなどの値を
設定できる入力装置及びメモリでも構成可能である。
段６を介して上位装置１から規定量のデータの読み出し
制限時間及び書きこみ制限時間を設定し記憶する。この
制限時間設定手段１０は、ディップスイッチなどの値を
設定できる入力装置及びメモリでも構成可能である。
【００１９】アクセス時間不良判定手段９は、前記アク
セス時間計測手段８により計測されたアクセス時間と前
記制限時間設定手段１０に設定された制限時間を比較す
ることにより、アクセス時間が制限時間を超えていない
か調べ、超えている場合は、アクセスを行ったディスク
メモリ上の領域の位置を不良位置としてディフェクト登
録手段１１に通知する。
セス時間計測手段８により計測されたアクセス時間と前
記制限時間設定手段１０に設定された制限時間を比較す
ることにより、アクセス時間が制限時間を超えていない
か調べ、超えている場合は、アクセスを行ったディスク
メモリ上の領域の位置を不良位置としてディフェクト登
録手段１１に通知する。
【００２０】ディフェクト登録手段１１は、前記終了ス
テータス検出手段７及び前記アクセス時間不良判定手段
９からの不良領域検出の通知に基づき、ディフェクトリ
スト１２に不良領域の位置を登録する。
テータス検出手段７及び前記アクセス時間不良判定手段
９からの不良領域検出の通知に基づき、ディフェクトリ
スト１２に不良領域の位置を登録する。
【００２１】次に、本発明の実施の形態１によるディス
クメモリ装置の処理について、図２に示すフローチャー
トを用いて説明する。アクセス命令発行手段２は、ホス
トＩ／Ｆ手段６を介して上位装置１からのテスト開始命
令と共に、テストを実施するディスクメモリ上の指定領
域の開始位置と終了位置、アクセス方法（ライトのみ、
リードのみ、ライト及びリード）及びアクセス領域サイ
ズとして１回のアクセスにおける領域サイズを、また、
アクセス領域サイズに対するアクセスの制限時間を、上
位装置１から取得する（ステップＳ１）。また、取得し
たアクセスの制限時間は制限時間設定手段１０に保持
し、その他の変数は、アクセス命令発行手段２に保持す
る。ここで上位装置１から取得する各種変数であるテス
トを実施するディスクメモリ上の指定領域の開始位置と
終了位置、アクセス方法（ライトのみ、リードのみ、ラ
イト及びリード）及びアクセス領域サイズとして１回の
アクセスにおける領域サイズ、アクセス領域サイズに対
するアクセスの制限時間は、ディスクメモリ装置内に固
定で保持しておくことも可能であり、この場合は、上位
装置からは、テスト開始命令のみを発行するだけでよ
い。
クメモリ装置の処理について、図２に示すフローチャー
トを用いて説明する。アクセス命令発行手段２は、ホス
トＩ／Ｆ手段６を介して上位装置１からのテスト開始命
令と共に、テストを実施するディスクメモリ上の指定領
域の開始位置と終了位置、アクセス方法（ライトのみ、
リードのみ、ライト及びリード）及びアクセス領域サイ
ズとして１回のアクセスにおける領域サイズを、また、
アクセス領域サイズに対するアクセスの制限時間を、上
位装置１から取得する（ステップＳ１）。また、取得し
たアクセスの制限時間は制限時間設定手段１０に保持
し、その他の変数は、アクセス命令発行手段２に保持す
る。ここで上位装置１から取得する各種変数であるテス
トを実施するディスクメモリ上の指定領域の開始位置と
終了位置、アクセス方法（ライトのみ、リードのみ、ラ
イト及びリード）及びアクセス領域サイズとして１回の
アクセスにおける領域サイズ、アクセス領域サイズに対
するアクセスの制限時間は、ディスクメモリ装置内に固
定で保持しておくことも可能であり、この場合は、上位
装置からは、テスト開始命令のみを発行するだけでよ
い。
【００２２】次に、指定領域の開始位置から順にアクセ
ス領域サイズ毎にアクセスするようにアクセス領域を決
定する（ステップＳ２）。次に、前記ステップ２で決定
された領域に対して、前記ステップ１で取得したアクセ
ス方法で指定されたアクセス命令をディスクメモリＩ／
Ｆ手段３を介してディスクメモリ４に発行する（ステッ
プＳ３）。前記ステップＳ３でディスクメモリ４に対し
てアクセス命令を発行すると共にアクセス時間計測手段
８において、アクセス時間の計測を開始する（ステップ
Ｓ４）。
ス領域サイズ毎にアクセスするようにアクセス領域を決
定する（ステップＳ２）。次に、前記ステップ２で決定
された領域に対して、前記ステップ１で取得したアクセ
ス方法で指定されたアクセス命令をディスクメモリＩ／
Ｆ手段３を介してディスクメモリ４に発行する（ステッ
プＳ３）。前記ステップＳ３でディスクメモリ４に対し
てアクセス命令を発行すると共にアクセス時間計測手段
８において、アクセス時間の計測を開始する（ステップ
Ｓ４）。
【００２３】次に、終了ステータス検出手段７におい
て、ディスクメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ
間とのデータ転送終了の通知を待つ（ステップＳ５）。
終了ステータス検出手段７は、ディスクメモリＩ／Ｆ手
段３からのデータ転送終了の通知に伴い、ディスクメモ
リＩ／Ｆ手段３とディスクメモリ４間のデータ転送エラ
ー及びディスクメモリ４内でのエラーの発生をディスク
メモリＩ／Ｆ手段からの処理終了ステータスに基づき検
出する（ステップＳ６）。
て、ディスクメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ
間とのデータ転送終了の通知を待つ（ステップＳ５）。
終了ステータス検出手段７は、ディスクメモリＩ／Ｆ手
段３からのデータ転送終了の通知に伴い、ディスクメモ
リＩ／Ｆ手段３とディスクメモリ４間のデータ転送エラ
ー及びディスクメモリ４内でのエラーの発生をディスク
メモリＩ／Ｆ手段からの処理終了ステータスに基づき検
出する（ステップＳ６）。
【００２４】エラーが発生していた場合は、このアクセ
ス領域をディフェクト登録手段１１によりディフェクト
リスト１２に登録する（ステップＳ９）。エラーが発生
していない場合は、アクセス時間計測手段８に対してア
クセス時間の計測の終了を指示しアクセス時間計測を終
了する（ステップＳ７）。
ス領域をディフェクト登録手段１１によりディフェクト
リスト１２に登録する（ステップＳ９）。エラーが発生
していない場合は、アクセス時間計測手段８に対してア
クセス時間の計測の終了を指示しアクセス時間計測を終
了する（ステップＳ７）。
【００２５】次に、アクセス時間不良判定手段９は、前
記ステップＳ７においてアクセス時間計測手段８が計測
したアクセス時間と制限時間設定手段１０に保持された
制限時間とを比較する（ステップＳ８）。アクセス時間
が制限時間を超えていた場合は、このアクセス領域をデ
ィフェクト登録手段１１によりディフェクトリスト１２
に登録する（ステップＳ９）。次に、アクセス命令発行
手段２において、指定領域すべてをアクセスしたかどう
かを確認し、まだ、終了していない場合は、ステップ２
からステップ９までの処理を繰り返し行う。
記ステップＳ７においてアクセス時間計測手段８が計測
したアクセス時間と制限時間設定手段１０に保持された
制限時間とを比較する（ステップＳ８）。アクセス時間
が制限時間を超えていた場合は、このアクセス領域をデ
ィフェクト登録手段１１によりディフェクトリスト１２
に登録する（ステップＳ９）。次に、アクセス命令発行
手段２において、指定領域すべてをアクセスしたかどう
かを確認し、まだ、終了していない場合は、ステップ２
からステップ９までの処理を繰り返し行う。
【００２６】本実施の形態１においてはディスクメモリ
装置をこのように構成したので、規定量のデータの読み
出し時間あるいは書き込み時間を計測するアクセス時間
計測手段と、規定量のデータ読み出し制限時間及び書き
込み制限時間を設定可能な制限時間設定手段と、前記計
測されたアクセス時間と前記設定された制限時間とを比
較し、アクセス時間が制限値を超えたか否かによりアク
セスした領域の不良判定を行うアクセス時間不良判定手
段とを具備するものであり、規定時間以内にアクセスで
きないデータ保存位置を検出することにより、それらの
不良セクターあるいは不良セクターブロックを使用しな
いようにスキップさせたり、予備セクターに代替する処
理を施すことが可能になり、ＡＶデータの記録再生用途
にディスクメモリ装置を用いる場合に、途絶えることな
く映像を再生したり、コマ落ちすることなくデータを記
録するために、規定時間内に必要とされるデータをディ
スクメモリ媒体から読み出す、あるいはディスクメモリ
媒体に書き込むことを実現しうる効果がある。
装置をこのように構成したので、規定量のデータの読み
出し時間あるいは書き込み時間を計測するアクセス時間
計測手段と、規定量のデータ読み出し制限時間及び書き
込み制限時間を設定可能な制限時間設定手段と、前記計
測されたアクセス時間と前記設定された制限時間とを比
較し、アクセス時間が制限値を超えたか否かによりアク
セスした領域の不良判定を行うアクセス時間不良判定手
段とを具備するものであり、規定時間以内にアクセスで
きないデータ保存位置を検出することにより、それらの
不良セクターあるいは不良セクターブロックを使用しな
いようにスキップさせたり、予備セクターに代替する処
理を施すことが可能になり、ＡＶデータの記録再生用途
にディスクメモリ装置を用いる場合に、途絶えることな
く映像を再生したり、コマ落ちすることなくデータを記
録するために、規定時間内に必要とされるデータをディ
スクメモリ媒体から読み出す、あるいはディスクメモリ
媒体に書き込むことを実現しうる効果がある。
【００２７】（実施の形態２）次に、本発明の請求項
４、請求項５及び請求項６に記載された発明の実施の形
態について、図３から図７を用いて説明する。図３は本
発明の実施の形態２によるディスクメモリ装置の構成を
示すブロック図の一例である。図において、上位装置１
は、ディスクメモリ装置に対してディスクメモリ上の領
域のテストを行う旨のテスト開始命令を出力する。ま
た、更にディスクメモリ装置に対してディスクメモリに
記録されているデータの読み出し、あるいは書き込みを
行う旨のアクセス命令を出力する。
４、請求項５及び請求項６に記載された発明の実施の形
態について、図３から図７を用いて説明する。図３は本
発明の実施の形態２によるディスクメモリ装置の構成を
示すブロック図の一例である。図において、上位装置１
は、ディスクメモリ装置に対してディスクメモリ上の領
域のテストを行う旨のテスト開始命令を出力する。ま
た、更にディスクメモリ装置に対してディスクメモリに
記録されているデータの読み出し、あるいは書き込みを
行う旨のアクセス命令を出力する。
【００２８】また、本発明の実施の形態２によるディス
クメモリ装置は、アクセス命令発行手段２と、ディスク
メモリＩ／Ｆ手段３と、ディスクメモリ４と、バッファ
手段５と、ホストＩ／Ｆ手段６と、終了ステータス検出
手段７と、アクセス時間計測手段８と、基準時間データ
記憶手段１３と、アクセス時間データ記憶手段１４と、
ディスクメモリ不良判定手段１５からなる。
クメモリ装置は、アクセス命令発行手段２と、ディスク
メモリＩ／Ｆ手段３と、ディスクメモリ４と、バッファ
手段５と、ホストＩ／Ｆ手段６と、終了ステータス検出
手段７と、アクセス時間計測手段８と、基準時間データ
記憶手段１３と、アクセス時間データ記憶手段１４と、
ディスクメモリ不良判定手段１５からなる。
【００２９】まず、ディスクメモリ装置製造時におい
て、アクセス命令発行手段２は、ホストＩ／Ｆ手段６を
介して上位装置１からのテスト開始命令を受け取ると、
規定量の領域サイズでディスクメモリ上の領域をシーケ
ンシャルにリードあるいはライトする旨をディスクメモ
リＩ／Ｆ手段３に指示すると共にアクセス時間計測の開
始をアクセス時間計測手段８に指示する。アクセスが終
了すると規定量のサイズ分、領域をずらしながら、ディ
スクメモリ上の指定領域をすべてアクセスするよう、前
記処理を繰り返す。
て、アクセス命令発行手段２は、ホストＩ／Ｆ手段６を
介して上位装置１からのテスト開始命令を受け取ると、
規定量の領域サイズでディスクメモリ上の領域をシーケ
ンシャルにリードあるいはライトする旨をディスクメモ
リＩ／Ｆ手段３に指示すると共にアクセス時間計測の開
始をアクセス時間計測手段８に指示する。アクセスが終
了すると規定量のサイズ分、領域をずらしながら、ディ
スクメモリ上の指定領域をすべてアクセスするよう、前
記処理を繰り返す。
【００３０】ディスクメモリＩ／Ｆ手段３は、ディスク
メモリ４とのデータ転送を制御し、ディスクメモリ４か
らバッファ手段５にデータを読み出す。あるいは、バッ
ファ手段５に格納されたデータをディスクメモリ４に書
き込む。
メモリ４とのデータ転送を制御し、ディスクメモリ４か
らバッファ手段５にデータを読み出す。あるいは、バッ
ファ手段５に格納されたデータをディスクメモリ４に書
き込む。
【００３１】終了ステータス検出手段７は、前記ディス
クメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ４へのアク
セスの終了ステータスを検出し、アクセス時間計測手段
８にアクセス時間計測の終了を指示する。
クメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ４へのアク
セスの終了ステータスを検出し、アクセス時間計測手段
８にアクセス時間計測の終了を指示する。
【００３２】アクセス時間計測手段８は、前記アクセス
命令発行手段２からのアクセス時間計測開始指示を受け
取ってから、前記終了ステータス検出手段７からのアク
セス時間計測終了指示を受け取るまでの時間をアクセス
時間として計測し、基準時間データ記憶手段１３上の基
準時間データ１８を更新する。この基準時間データ記憶
手段１３に記録された基準時間データ１８については、
後で説明する。
命令発行手段２からのアクセス時間計測開始指示を受け
取ってから、前記終了ステータス検出手段７からのアク
セス時間計測終了指示を受け取るまでの時間をアクセス
時間として計測し、基準時間データ記憶手段１３上の基
準時間データ１８を更新する。この基準時間データ記憶
手段１３に記録された基準時間データ１８については、
後で説明する。
【００３３】次に、ディスクメモリ使用時において、ア
クセス命令発行手段２は、ホストＩ／Ｆ手段６を介して
上位装置１からの規定量のデータ領域に対するアクセス
命令を受け取ると、該当するディスクメモリ上の領域に
対するリードあるいはライト処理をディスクメモリＩ／
Ｆ手段３に指示すると共にアクセス時間計測の開始をア
クセス時間計測手段８に指示する。
クセス命令発行手段２は、ホストＩ／Ｆ手段６を介して
上位装置１からの規定量のデータ領域に対するアクセス
命令を受け取ると、該当するディスクメモリ上の領域に
対するリードあるいはライト処理をディスクメモリＩ／
Ｆ手段３に指示すると共にアクセス時間計測の開始をア
クセス時間計測手段８に指示する。
【００３４】ディスクメモリＩ／Ｆ手段３は、ディスク
メモリ４とのデータ転送を制御し、ディスクメモリ４か
らバッファ手段５にデータを読み出す。あるいは、バッ
ファ手段５に格納されたデータをディスクメモリ４に書
き込む。
メモリ４とのデータ転送を制御し、ディスクメモリ４か
らバッファ手段５にデータを読み出す。あるいは、バッ
ファ手段５に格納されたデータをディスクメモリ４に書
き込む。
【００３５】ホストＩ／Ｆ手段６は、上位装置１とのコ
マンドとデータ転送を制御し、バッファ手段５に格納さ
れたデータを上位装置１に出力する。あるいは、上位装
置１からのデータをバッファ手段５に格納する。
マンドとデータ転送を制御し、バッファ手段５に格納さ
れたデータを上位装置１に出力する。あるいは、上位装
置１からのデータをバッファ手段５に格納する。
【００３６】終了ステータス検出手段７は、前記ディス
クメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ４へのアク
セスの終了ステータスを検出し、アクセス時間計測手段
８にアクセス時間計測の終了を指示する。
クメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ４へのアク
セスの終了ステータスを検出し、アクセス時間計測手段
８にアクセス時間計測の終了を指示する。
【００３７】アクセス時間計測手段８は、前記アクセス
命令発行手段２からのアクセス時間計測開始指示を受け
取ってから、前記終了ステータス検出手段７からのアク
セス時間計測終了指示を受け取るまでの時間をアクセス
時間として計測し、アクセス時間データ記憶手段１４上
のアクセス時間データ１９を更新する。このアクセス時
間データ記憶手段１４上に記録されたアクセス時間デー
タ１９については、後で説明する。
命令発行手段２からのアクセス時間計測開始指示を受け
取ってから、前記終了ステータス検出手段７からのアク
セス時間計測終了指示を受け取るまでの時間をアクセス
時間として計測し、アクセス時間データ記憶手段１４上
のアクセス時間データ１９を更新する。このアクセス時
間データ記憶手段１４上に記録されたアクセス時間デー
タ１９については、後で説明する。
【００３８】ディスクメモリ不良判定手段１５は、前記
アクセス時間計測手段８において計測したアクセス時間
が領域を不良とみなす規定時間を超えていないか調査す
る。また、規定回数のデータアクセスが発生する毎に前
記アクセス時間データ記憶手段１４に記憶されたアクセ
ス時間データと前記基準時間データ記憶手段１３に記憶
された基準時間データを比較することにより、ディスク
メモリ内の不良領域の存在の有無やディスクメモリ全体
の性能劣化を調査する。
アクセス時間計測手段８において計測したアクセス時間
が領域を不良とみなす規定時間を超えていないか調査す
る。また、規定回数のデータアクセスが発生する毎に前
記アクセス時間データ記憶手段１４に記憶されたアクセ
ス時間データと前記基準時間データ記憶手段１３に記憶
された基準時間データを比較することにより、ディスク
メモリ内の不良領域の存在の有無やディスクメモリ全体
の性能劣化を調査する。
【００３９】前記基準時間データ記憶手段１３に記録さ
れた基準時間データ１８及び前記アクセス時間データ記
憶手段１４に記録されたアクセス時間データ１９につい
て、図６及び図７を用いて説明する。
れた基準時間データ１８及び前記アクセス時間データ記
憶手段１４に記録されたアクセス時間データ１９につい
て、図６及び図７を用いて説明する。
【００４０】基準時間データ１８及びアクセス時間デー
タ１９は、同一のフォーマットのデータである。基準時
間データ１８はディスクメモリ装置製造時にアクセス時
間の基準として計測したアクセス時間データを基に作成
されたものであり、アクセス時間データ１９はディスク
メモリ使用時に計測したアクセス時間データにより更新
されるものである。
タ１９は、同一のフォーマットのデータである。基準時
間データ１８はディスクメモリ装置製造時にアクセス時
間の基準として計測したアクセス時間データを基に作成
されたものであり、アクセス時間データ１９はディスク
メモリ使用時に計測したアクセス時間データにより更新
されるものである。
【００４１】この基準時間データ１８及びアクセス時間
データ１９は、ライトアクセス時間２１データ及びリー
ドアクセス時間データ２２で構成され、さらに、それぞ
れ、最大アクセス時間２３、２７とアクセス時間を階級
とするアクセス時間度数分布データ２４、２８とアクセ
ス時間度数分布データに基づき算出された最頻値２５、
２９と相加平均値２６、３０とで構成される。なお、ア
クセス時間データ度数分布データ２４、２８は、図７に
示すように、階級の幅が５ｍｓで０から１００ｍｓまで
の範囲を分割して度数を計測可能に構成している。この
フォーマットは、対象とするディスクメモリのアクセス
性能を考慮して決定する。また、アクセス時間データ１
８の最大アクセス時間データや最頻値や相加平均値が基
準時間データ１９のそれぞれのデータに対して、規定値
以上に大きくなっている場合は、ディスクメモリの性能
が劣化していると判断する。
データ１９は、ライトアクセス時間２１データ及びリー
ドアクセス時間データ２２で構成され、さらに、それぞ
れ、最大アクセス時間２３、２７とアクセス時間を階級
とするアクセス時間度数分布データ２４、２８とアクセ
ス時間度数分布データに基づき算出された最頻値２５、
２９と相加平均値２６、３０とで構成される。なお、ア
クセス時間データ度数分布データ２４、２８は、図７に
示すように、階級の幅が５ｍｓで０から１００ｍｓまで
の範囲を分割して度数を計測可能に構成している。この
フォーマットは、対象とするディスクメモリのアクセス
性能を考慮して決定する。また、アクセス時間データ１
８の最大アクセス時間データや最頻値や相加平均値が基
準時間データ１９のそれぞれのデータに対して、規定値
以上に大きくなっている場合は、ディスクメモリの性能
が劣化していると判断する。
【００４２】次に、本発明の実施の形態２によるディス
クメモリ装置の処理について、図４及び図５に示すフロ
ーチャートを用いて説明する。まず、ディスクメモリ装
置製造時において、アクセス命令発行手段２は、ホスト
Ｉ／Ｆ手段６を介して上位装置１からのテスト開始命令
を受け取ると、全データ領域に対してアドレスが若い順
に規定量のサイズ毎にシーケンシャルにアクセステスト
を行うべくアクセス領域を決定する（ステップＳ２
０）。
クメモリ装置の処理について、図４及び図５に示すフロ
ーチャートを用いて説明する。まず、ディスクメモリ装
置製造時において、アクセス命令発行手段２は、ホスト
Ｉ／Ｆ手段６を介して上位装置１からのテスト開始命令
を受け取ると、全データ領域に対してアドレスが若い順
に規定量のサイズ毎にシーケンシャルにアクセステスト
を行うべくアクセス領域を決定する（ステップＳ２
０）。
【００４３】次に、前記ステップＳ２０で決定された領
域に対して、ライトアクセス命令をディスクメモリＩ／
Ｆ手段３を介してディスクメモリ４に発行する（ステッ
プＳ２１）。前記ステップＳ２１でディスクメモリ４に
対してアクセス命令を発行すると共にアクセス時間計測
手段８において、アクセス時間の計測を開始する（ステ
ップＳ２２）。
域に対して、ライトアクセス命令をディスクメモリＩ／
Ｆ手段３を介してディスクメモリ４に発行する（ステッ
プＳ２１）。前記ステップＳ２１でディスクメモリ４に
対してアクセス命令を発行すると共にアクセス時間計測
手段８において、アクセス時間の計測を開始する（ステ
ップＳ２２）。
【００４４】次に、終了ステータス検出手段７におい
て、ディスクメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ
間とのデータ転送終了の通知を待つ（ステップＳ２
３）。終了ステータス検出手段７は、ディスクメモリＩ
／Ｆ手段３からのデータ転送終了の通知に伴い、アクセ
ス時間計測手段８に対してアクセス時間の計測の終了を
指示しアクセス時間計測を終了する（ステップＳ２
４）。
て、ディスクメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ
間とのデータ転送終了の通知を待つ（ステップＳ２
３）。終了ステータス検出手段７は、ディスクメモリＩ
／Ｆ手段３からのデータ転送終了の通知に伴い、アクセ
ス時間計測手段８に対してアクセス時間の計測の終了を
指示しアクセス時間計測を終了する（ステップＳ２
４）。
【００４５】次にアクセス時間計測手段８は、計測した
アクセス時間に基づき基準時間データ記憶手段１３上の
基準時間データ１８を更新する（ステップＳ２５）。次
に、アクセス命令発行手段２において、全データ領域す
べてをアクセスしたかどうかを確認し、まだ、終了して
いない場合は、前記ステップＳ２０からステップＳ２５
までの処理を繰り返し行う。
アクセス時間に基づき基準時間データ記憶手段１３上の
基準時間データ１８を更新する（ステップＳ２５）。次
に、アクセス命令発行手段２において、全データ領域す
べてをアクセスしたかどうかを確認し、まだ、終了して
いない場合は、前記ステップＳ２０からステップＳ２５
までの処理を繰り返し行う。
【００４６】ライトアクセスに関して、前記ステップＳ
２０からステップＳ２５までの一連の処理を全データ領
域に対して終了した後に、リードアクセスに関して同様
の処理を実施すべく、アクセス命令発行手段２は、ホス
トＩ／Ｆ手段６を介して上位装置１からのテスト開始命
令を受け取ると、全データ領域に対してアドレスが若い
順に規定量のサイズ毎にシーケンシャルにアクセステス
トを行うべくアクセス領域を決定する（ステップＳ２
７）。
２０からステップＳ２５までの一連の処理を全データ領
域に対して終了した後に、リードアクセスに関して同様
の処理を実施すべく、アクセス命令発行手段２は、ホス
トＩ／Ｆ手段６を介して上位装置１からのテスト開始命
令を受け取ると、全データ領域に対してアドレスが若い
順に規定量のサイズ毎にシーケンシャルにアクセステス
トを行うべくアクセス領域を決定する（ステップＳ２
７）。
【００４７】次に、前記ステップＳ２７で決定された領
域に対して、リードアクセス命令をディスクメモリＩ／
Ｆ手段３を介してディスクメモリ４に発行する（ステッ
プＳ２８）。前記ステップＳ２８でディスクメモリ４に
対してアクセス命令を発行すると共にアクセス時間計測
手段８において、アクセス時間の計測を開始する（ステ
ップＳ２９）。
域に対して、リードアクセス命令をディスクメモリＩ／
Ｆ手段３を介してディスクメモリ４に発行する（ステッ
プＳ２８）。前記ステップＳ２８でディスクメモリ４に
対してアクセス命令を発行すると共にアクセス時間計測
手段８において、アクセス時間の計測を開始する（ステ
ップＳ２９）。
【００４８】次に、終了ステータス検出手段７におい
て、ディスクメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ
間とのデータ転送終了の通知を待つ（ステップＳ３
０）。終了ステータス検出手段７は、ディスクメモリＩ
／Ｆ手段３からのデータ転送終了の通知に伴い、アクセ
ス時間計測手段８に対してアクセス時間の計測の終了を
指示しアクセス時間計測を終了する（ステップＳ３
１）。
て、ディスクメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ
間とのデータ転送終了の通知を待つ（ステップＳ３
０）。終了ステータス検出手段７は、ディスクメモリＩ
／Ｆ手段３からのデータ転送終了の通知に伴い、アクセ
ス時間計測手段８に対してアクセス時間の計測の終了を
指示しアクセス時間計測を終了する（ステップＳ３
１）。
【００４９】次にアクセス時間計測手段８は、計測した
アクセス時間に基づき基準時間データ記憶手段１３上の
基準時間データ１８を更新する（ステップＳ３２）。次
に、アクセス命令発行手段２において、全データ領域す
べてをアクセスしたかどうかを確認し（ステップＳ３
３）、まだ、終了していない場合は、前記ステップＳ２
７からステップＳ３２までの処理を繰り返し行う。
アクセス時間に基づき基準時間データ記憶手段１３上の
基準時間データ１８を更新する（ステップＳ３２）。次
に、アクセス命令発行手段２において、全データ領域す
べてをアクセスしたかどうかを確認し（ステップＳ３
３）、まだ、終了していない場合は、前記ステップＳ２
７からステップＳ３２までの処理を繰り返し行う。
【００５０】全データ領域に対するアクセスが終了した
後に、基準時間データ記憶手段１３上に作成したディス
クメモリ装置製造時のディスクメモリ装置のアクセス時
間に関する基準時間データ１８をディスクメモリＩ／Ｆ
手段３を介してディスクメモリ上のシステム領域に保存
する（ステップＳ３４）。このディスクメモリ４上のシ
ステム領域に保存された基準時間データ１８は、ディス
クメモリ装置電源投入時にＲＡＭ上の基準時間データ記
憶手段１３に読み出しておく。
後に、基準時間データ記憶手段１３上に作成したディス
クメモリ装置製造時のディスクメモリ装置のアクセス時
間に関する基準時間データ１８をディスクメモリＩ／Ｆ
手段３を介してディスクメモリ上のシステム領域に保存
する（ステップＳ３４）。このディスクメモリ４上のシ
ステム領域に保存された基準時間データ１８は、ディス
クメモリ装置電源投入時にＲＡＭ上の基準時間データ記
憶手段１３に読み出しておく。
【００５１】次に、ディスクメモリ使用時において、ア
クセス命令発行手段２は、ホストＩ／Ｆ手段６を介して
上位装置１からのアクセス命令を受け取ると、規定量の
データ領域に対するアクセス命令かどうかを調べる（ス
テップＳ４０）。規定量のデータ領域に対するアクセス
命令と異なる場合は、該当するディスクメモリ上の領域
に対するアクセス命令をディスクメモリＩ／Ｆ手段３を
介してディスクメモリ４に発行し（ステップＳ４１）、
処理を終了する。規定量のデータ領域に対するアクセス
命令の場合は、該当するディスクメモリ上の領域に対す
るアクセス命令をディスクメモリＩ／Ｆ手段３を介して
ディスクメモリ４に発行する（ステップＳ４２）。
クセス命令発行手段２は、ホストＩ／Ｆ手段６を介して
上位装置１からのアクセス命令を受け取ると、規定量の
データ領域に対するアクセス命令かどうかを調べる（ス
テップＳ４０）。規定量のデータ領域に対するアクセス
命令と異なる場合は、該当するディスクメモリ上の領域
に対するアクセス命令をディスクメモリＩ／Ｆ手段３を
介してディスクメモリ４に発行し（ステップＳ４１）、
処理を終了する。規定量のデータ領域に対するアクセス
命令の場合は、該当するディスクメモリ上の領域に対す
るアクセス命令をディスクメモリＩ／Ｆ手段３を介して
ディスクメモリ４に発行する（ステップＳ４２）。
【００５２】前記ステップＳ４２でディスクメモリ４に
対してアクセス命令を発行すると共にアクセス時間計測
手段８において、アクセス時間の計測を開始する（ステ
ップＳ４３）。次に、終了ステータス検出手段７におい
て、ディスクメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ
間とのデータ転送終了の通知を待つ（ステップＳ４
４）。
対してアクセス命令を発行すると共にアクセス時間計測
手段８において、アクセス時間の計測を開始する（ステ
ップＳ４３）。次に、終了ステータス検出手段７におい
て、ディスクメモリＩ／Ｆ手段３からのディスクメモリ
間とのデータ転送終了の通知を待つ（ステップＳ４
４）。
【００５３】終了ステータス検出手段７は、ディスクメ
モリＩ／Ｆ手段３からのデータ転送終了の通知に伴い、
アクセス時間計測手段８に対してアクセス時間の計測の
終了を指示しアクセス時間計測を終了する（ステップＳ
４５）。次にアクセス時間計測手段８は、計測したアク
セス時間に基づきアクセス時間データ記憶手段１４上の
アクセス時間データ１９を更新する（ステップＳ４
６）。
モリＩ／Ｆ手段３からのデータ転送終了の通知に伴い、
アクセス時間計測手段８に対してアクセス時間の計測の
終了を指示しアクセス時間計測を終了する（ステップＳ
４５）。次にアクセス時間計測手段８は、計測したアク
セス時間に基づきアクセス時間データ記憶手段１４上の
アクセス時間データ１９を更新する（ステップＳ４
６）。
【００５４】次に、ディスクメモリ不良判定手段１５に
おいて、前記ステップＳ４５で計測したアクセス時間が
領域を不良とみなす規定時間を超えていないか調査し、
超えている場合は、アクセス時間データ記憶手段１４上
の不良領域検出数２０を更新する（ステップＳ４７）。
おいて、前記ステップＳ４５で計測したアクセス時間が
領域を不良とみなす規定時間を超えていないか調査し、
超えている場合は、アクセス時間データ記憶手段１４上
の不良領域検出数２０を更新する（ステップＳ４７）。
【００５５】さらに、ディスクメモリ不良判定手段１５
においては、アクセス時間データ取得数が規定回数に達
したかどうかを調べる（ステップＳ４８）。規定回数に
達している場合は、アクセス時間データ記憶手段１４に
記憶されたアクセス時間データ１９と基準時間データ記
憶手段１３に記憶された基準時間データ１８を比較し、
ディスクメモリ内の不良領域の有無やディスクメモリ全
体の性能劣化を調査（ステップＳ４９）し、処理を終了
する。
においては、アクセス時間データ取得数が規定回数に達
したかどうかを調べる（ステップＳ４８）。規定回数に
達している場合は、アクセス時間データ記憶手段１４に
記憶されたアクセス時間データ１９と基準時間データ記
憶手段１３に記憶された基準時間データ１８を比較し、
ディスクメモリ内の不良領域の有無やディスクメモリ全
体の性能劣化を調査（ステップＳ４９）し、処理を終了
する。
【００５６】また、アクセス時間データ記憶手段１４に
記憶されたアクセス時間データ１９と不良領域検出数２
０は、ディスクメモリ装置のデータ転送処理の妨げにな
らないタイミングでディスクメモリ４上のシステム領域
に保存する（ステップＳ６０）。このディスクメモリ４
上のシステム領域に保存されたアクセス時間データ１９
と不良領域検出数２０は、ディスクメモリ装置電源投入
時にＲＡＭ上の基準時間データ記憶手段１３に読み出し
ておく。
記憶されたアクセス時間データ１９と不良領域検出数２
０は、ディスクメモリ装置のデータ転送処理の妨げにな
らないタイミングでディスクメモリ４上のシステム領域
に保存する（ステップＳ６０）。このディスクメモリ４
上のシステム領域に保存されたアクセス時間データ１９
と不良領域検出数２０は、ディスクメモリ装置電源投入
時にＲＡＭ上の基準時間データ記憶手段１３に読み出し
ておく。
【００５７】本実施の形態２においては、ディスクメモ
リ装置をこのように構成したので、規定量のデータの読
み出し時間あるいは書きこみ時間を計測するアクセス時
間計測手段と、前記計測されたアクセス時間を記憶する
アクセス時間データ記憶手段と、前記ディスクメモリ装
置製造時に全アクセス領域に対して計測したアクセス時
間データを基準時間データとして記憶する基準時間デー
タ記憶手段と、前記アクセス時間データと前記基準時間
データとを比較してディスクメモリ装置の不良判定を行
う不良判定手段とを具備するものであり、ディスクメモ
リ装置製造後の性能劣化を判断することを可能にするも
のである。
リ装置をこのように構成したので、規定量のデータの読
み出し時間あるいは書きこみ時間を計測するアクセス時
間計測手段と、前記計測されたアクセス時間を記憶する
アクセス時間データ記憶手段と、前記ディスクメモリ装
置製造時に全アクセス領域に対して計測したアクセス時
間データを基準時間データとして記憶する基準時間デー
タ記憶手段と、前記アクセス時間データと前記基準時間
データとを比較してディスクメモリ装置の不良判定を行
う不良判定手段とを具備するものであり、ディスクメモ
リ装置製造後の性能劣化を判断することを可能にするも
のである。
【００５８】（実施の形態３）次に、本発明の請求項
７、請求項８及び請求項９に記載された発明の実施の形
態について、図８及び図９を用いて説明する。図６は本
発明の実施の形態３によるディスクメモリ装置の構成を
示すブロック図の一例である。図において、上位装置１
は、ディスクメモリ装置に対してディスクメモリ上の領
域のテストを行う旨のテスト開始命令を出力する。ま
た、更にディスクメモリ装置に対してディスクメモリに
記録されているデータの読み出し、あるいは書き込みを
行う旨のアクセス命令を出力する。
７、請求項８及び請求項９に記載された発明の実施の形
態について、図８及び図９を用いて説明する。図６は本
発明の実施の形態３によるディスクメモリ装置の構成を
示すブロック図の一例である。図において、上位装置１
は、ディスクメモリ装置に対してディスクメモリ上の領
域のテストを行う旨のテスト開始命令を出力する。ま
た、更にディスクメモリ装置に対してディスクメモリに
記録されているデータの読み出し、あるいは書き込みを
行う旨のアクセス命令を出力する。
【００５９】また、本発明の実施の形態３によるディス
クメモリ装置は、アクセス命令発行手段２と、ディスク
メモリＩ／Ｆ手段３と、ディスクメモリ４と、バッファ
手段５と、ホストＩ／Ｆ手段６と、終了ステータス検出
手段７と、アクセス時間計測手段８と、基準時間データ
記憶手段１３と、アクセス時間データ記憶手段１４と、
ディスクメモリ不良判定手段１５と、ディスクメモリ不
良警告手段１６と、表示手段１７からなる。
クメモリ装置は、アクセス命令発行手段２と、ディスク
メモリＩ／Ｆ手段３と、ディスクメモリ４と、バッファ
手段５と、ホストＩ／Ｆ手段６と、終了ステータス検出
手段７と、アクセス時間計測手段８と、基準時間データ
記憶手段１３と、アクセス時間データ記憶手段１４と、
ディスクメモリ不良判定手段１５と、ディスクメモリ不
良警告手段１６と、表示手段１７からなる。
【００６０】なお、本発明の実施の形態３によるディス
クメモリ装置は、実施の形態２で説明したディスクメモ
リ装置に更にディスクメモリ不良警告手段１６及び表示
手段１７を設けたものであり、ディスクメモリ不良警告
手段１６及び表示手段１７以外の前記実施の形態２によ
るディスクメモリ装置と同一構成要素は前記実施の形態
２によるディスクメモリ装置と同じ動作を行うので、同
じ符号を用い、説明を省略する。
クメモリ装置は、実施の形態２で説明したディスクメモ
リ装置に更にディスクメモリ不良警告手段１６及び表示
手段１７を設けたものであり、ディスクメモリ不良警告
手段１６及び表示手段１７以外の前記実施の形態２によ
るディスクメモリ装置と同一構成要素は前記実施の形態
２によるディスクメモリ装置と同じ動作を行うので、同
じ符号を用い、説明を省略する。
【００６１】ディスクメモリ不良警告手段１６は、ディ
スクメモリ不良判定手段１５においてディスクメモリ内
の不良領域の存在やディスクメモリ全体の性能劣化を検
出してディスクメモリが不良であると判定した場合に、
その旨を表示手段１７に通知する。また、ホストＩ／Ｆ
手段６を介して上位装置１に通知する。
スクメモリ不良判定手段１５においてディスクメモリ内
の不良領域の存在やディスクメモリ全体の性能劣化を検
出してディスクメモリが不良であると判定した場合に、
その旨を表示手段１７に通知する。また、ホストＩ／Ｆ
手段６を介して上位装置１に通知する。
【００６２】表示手段１７は、前記ディスクメモリ不良
警告手段１６からのディスクメモリが不良である旨の通
知に基づき、その内容をＬＥＤやディスプレイなどに表
示する。なお、前記ＬＥＤやディスプレイなどの視覚的
な表示手段だけではなく、ブザー音や音声などの音源を
使用した表示手段も含む。
警告手段１６からのディスクメモリが不良である旨の通
知に基づき、その内容をＬＥＤやディスプレイなどに表
示する。なお、前記ＬＥＤやディスプレイなどの視覚的
な表示手段だけではなく、ブザー音や音声などの音源を
使用した表示手段も含む。
【００６３】次に、本発明の実施の形態３によるディス
クメモリ装置の処理について、図７に示すフローチャー
トを用いて説明する。ディスクメモリ不良警告手段１６
は、ディスクメモリ不良判定手段１５においてディスク
メモリ内の不良領域の存在やディスクメモリ全体の性能
劣化を検出してディスクメモリが不良であると判定した
場合に（ステップＳ５０）、表示手段１７を介して、デ
ィスクメモリが不良である旨とその不良内容を表示する
（ステップＳ５１）。そしてホストＩ／Ｆ手段６を介し
て上位装置１にディスクメモリが不良である旨とその不
良内容を通知する（ステップＳ５２）。
クメモリ装置の処理について、図７に示すフローチャー
トを用いて説明する。ディスクメモリ不良警告手段１６
は、ディスクメモリ不良判定手段１５においてディスク
メモリ内の不良領域の存在やディスクメモリ全体の性能
劣化を検出してディスクメモリが不良であると判定した
場合に（ステップＳ５０）、表示手段１７を介して、デ
ィスクメモリが不良である旨とその不良内容を表示する
（ステップＳ５１）。そしてホストＩ／Ｆ手段６を介し
て上位装置１にディスクメモリが不良である旨とその不
良内容を通知する（ステップＳ５２）。
【００６４】本実施の形態３においてはディスクメモリ
装置をこのように構成したので、規定量のデータの読み
出し時間あるいは書きこみ時間を計測するアクセス時間
計測手段と、前記計測されたアクセス時間を記憶するア
クセス時間データ記憶手段と、前記ディスクメモリ装置
製造時に全アクセス領域に対して計測したアクセス時間
データを基準時間データとして記憶する基準時間データ
記憶手段と、前記アクセス時間データと前記基準時間デ
ータとを比較してディスクメモリ装置の不良判定を行う
不良判定手段と、前記不良判定手段の結果からディスク
メモリ装置の不良と判断した場合に上位装置あるいは表
示手段に、ディスクメモリ装置の不良を通知する不良通
知手段とを具備するものであり、ディスクメモリ装置製
造後の性能劣化を検出し、それを、上位装置あるいはユ
ーザに通知することにより、ディスクメモリ装置内のデ
ータを他の記録媒体に退避したり、ディスクメモリ装置
の交換などの措置を行うことが可能になる。
装置をこのように構成したので、規定量のデータの読み
出し時間あるいは書きこみ時間を計測するアクセス時間
計測手段と、前記計測されたアクセス時間を記憶するア
クセス時間データ記憶手段と、前記ディスクメモリ装置
製造時に全アクセス領域に対して計測したアクセス時間
データを基準時間データとして記憶する基準時間データ
記憶手段と、前記アクセス時間データと前記基準時間デ
ータとを比較してディスクメモリ装置の不良判定を行う
不良判定手段と、前記不良判定手段の結果からディスク
メモリ装置の不良と判断した場合に上位装置あるいは表
示手段に、ディスクメモリ装置の不良を通知する不良通
知手段とを具備するものであり、ディスクメモリ装置製
造後の性能劣化を検出し、それを、上位装置あるいはユ
ーザに通知することにより、ディスクメモリ装置内のデ
ータを他の記録媒体に退避したり、ディスクメモリ装置
の交換などの措置を行うことが可能になる。
【００６５】
【発明の効果】以上のように、本発明の請求項１に記載
のディスクメモリ装置によれば、規定量のデータの読み
出し時間あるいは書き込み時間を計測するアクセス時間
計測手段と、規定量のデータ読み出し制限時間及び書き
込み制限時間を設定可能な制限時間設定手段と、前記計
測されたアクセス時間と前記設定された制限時間とを比
較し、アクセス時間が制限値を超えたか否かによりアク
セスした領域の不良判定を行うアクセス時間不良判定手
段とを具備するものであり、規定時間以内にアクセスで
きないデータ保存位置を検出することにより、それらの
不良セクターあるいは不良セクターブロックを使用しな
いようにスキップさせたり、予備セクターに代替する処
理を施すことが可能になり、ＡＶデータの記録再生用途
にディスクメモリ装置を用いる場合に、途絶えることな
く映像を再生したり、コマ落ちすることなくデータを記
録するために、規定時間内に必要とされるデータをディ
スクメモリ媒体から読み出す、あるいはディスクメモリ
媒体に書き込むことを実現しうるものである。
のディスクメモリ装置によれば、規定量のデータの読み
出し時間あるいは書き込み時間を計測するアクセス時間
計測手段と、規定量のデータ読み出し制限時間及び書き
込み制限時間を設定可能な制限時間設定手段と、前記計
測されたアクセス時間と前記設定された制限時間とを比
較し、アクセス時間が制限値を超えたか否かによりアク
セスした領域の不良判定を行うアクセス時間不良判定手
段とを具備するものであり、規定時間以内にアクセスで
きないデータ保存位置を検出することにより、それらの
不良セクターあるいは不良セクターブロックを使用しな
いようにスキップさせたり、予備セクターに代替する処
理を施すことが可能になり、ＡＶデータの記録再生用途
にディスクメモリ装置を用いる場合に、途絶えることな
く映像を再生したり、コマ落ちすることなくデータを記
録するために、規定時間内に必要とされるデータをディ
スクメモリ媒体から読み出す、あるいはディスクメモリ
媒体に書き込むことを実現しうるものである。
【００６６】また、本発明の請求項４に記載のディスク
メモリ装置によれば、規定量のデータの読み出し時間あ
るいは書きこみ時間を計測するアクセス時間計測手段
と、前記計測されたアクセス時間を記憶するアクセス時
間データ記憶手段と、前記ディスクメモリ装置製造時に
全アクセス領域に対して計測したアクセス時間データを
基準時間データとして記憶する基準時間データ記憶手段
と、前記アクセス時間データと前記基準時間データとを
比較してディスクメモリ装置の不良判定を行う不良判定
手段とを具備するものであり、ディスクメモリ装置製造
後の性能劣化を判断することを可能にするものである。
メモリ装置によれば、規定量のデータの読み出し時間あ
るいは書きこみ時間を計測するアクセス時間計測手段
と、前記計測されたアクセス時間を記憶するアクセス時
間データ記憶手段と、前記ディスクメモリ装置製造時に
全アクセス領域に対して計測したアクセス時間データを
基準時間データとして記憶する基準時間データ記憶手段
と、前記アクセス時間データと前記基準時間データとを
比較してディスクメモリ装置の不良判定を行う不良判定
手段とを具備するものであり、ディスクメモリ装置製造
後の性能劣化を判断することを可能にするものである。
【００６７】また、本発明の請求項７に記載のディスク
メモリ装置によれば、規定量のデータの読み出し時間あ
るいは書きこみ時間を計測するアクセス時間計測手段
と、前記計測されたアクセス時間を記憶するアクセス時
間データ記憶手段と、前記ディスクメモリ装置製造時に
全アクセス領域に対して計測したアクセス時間データを
基準時間データとして記憶する基準時間データ記憶手段
と、前記アクセス時間データと前記基準時間データとを
比較してディスクメモリ装置の不良判定を行う不良判定
手段と、前記不良判定手段の結果からディスクメモリ装
置の不良と判断した場合に上位装置あるいは表示手段
に、ディスクメモリ装置の不良を通知する不良通知手段
とを具備するものであり、ディスクメモリ装置製造後の
性能劣化を検出し、それを、上位装置あるいはユーザに
通知することにより、ディスクメモリ装置内のデータを
他の記録媒体に退避したり、ディスクメモリ装置の交換
などの措置を行うことが可能になる。
メモリ装置によれば、規定量のデータの読み出し時間あ
るいは書きこみ時間を計測するアクセス時間計測手段
と、前記計測されたアクセス時間を記憶するアクセス時
間データ記憶手段と、前記ディスクメモリ装置製造時に
全アクセス領域に対して計測したアクセス時間データを
基準時間データとして記憶する基準時間データ記憶手段
と、前記アクセス時間データと前記基準時間データとを
比較してディスクメモリ装置の不良判定を行う不良判定
手段と、前記不良判定手段の結果からディスクメモリ装
置の不良と判断した場合に上位装置あるいは表示手段
に、ディスクメモリ装置の不良を通知する不良通知手段
とを具備するものであり、ディスクメモリ装置製造後の
性能劣化を検出し、それを、上位装置あるいはユーザに
通知することにより、ディスクメモリ装置内のデータを
他の記録媒体に退避したり、ディスクメモリ装置の交換
などの措置を行うことが可能になる。
【図１】本発明の実施の形態１によるディスクメモリ装
置の構成の一例を示すブロック図
置の構成の一例を示すブロック図
【図２】本発明の実施の形態１によるディスクメモリ装
置の処理の一例を示すフローチャート
置の処理の一例を示すフローチャート
【図３】本発明の実施の形態２によるディスクメモリ装
置の構成の一例を示すブロック図
置の構成の一例を示すブロック図
【図４】本発明の実施の形態２によるディスクメモリ装
置の製造時における処理の一例を示すフローチャート
置の製造時における処理の一例を示すフローチャート
【図５】本発明の実施の形態２によるディスクメモリ装
置の使用時における処理の一例を示すフローチャート
置の使用時における処理の一例を示すフローチャート
【図６】基準時間データ及びアクセス時間データのデー
タ構造の一例を示す図
タ構造の一例を示す図
【図７】アクセス時間度数分布データのデータ構造の一
例を示す図
例を示す図
【図８】本発明の実施の形態３によるディスクメモリ装
置の構成の一例を示すブロック図
置の構成の一例を示すブロック図
【図９】本発明の実施の形態３によるディスクメモリ装
置の処理の一例を示すフローチャート
置の処理の一例を示すフローチャート
１ 上位装置 ２ アクセス命令発行手段 ３ ディスクメモリＩ／Ｆ手段 ４ ディスクメモリ ５ バッファ手段 ６ ホストＩ／Ｆ手段 ７ 終了ステータス検出手段 ８ アクセス時間計測手段 ９ アクセス時間不良判定手段 １０ 制限時間設定手段 １１ ディフェクト登録手段 １２ ディフェクトリスト １３ 基準時間データ記憶手段 １４ アクセス時間データ記憶手段 １５ ディスクメモリ不良判定手段 １６ ディスクメモリ不良警告手段 １７ 表示手段 １８ 基準時間データ １９ アクセス時間データ ２０ 不良領域検出数 ２１ ライトアクセス時間データ ２２ リードアクセス時間データ ２３ 最大アクセス時間（ライトアクセス時間データ） ２４ アクセス時間度数分布データ（ライトアクセス時
間データ） ２５ 最頻値（ライトアクセス時間データ） ２６ 相加平均値（ライトアクセス時間データ） ２７ 最大アクセス時間（リードアクセス時間データ） ２８ アクセス時間度数分布データ（リードアクセス時
間データ） ２９ 最頻値（リードアクセス時間データ） ３０ 相加平均値（リードアクセス時間データ）
間データ） ２５ 最頻値（ライトアクセス時間データ） ２６ 相加平均値（ライトアクセス時間データ） ２７ 最大アクセス時間（リードアクセス時間データ） ２８ アクセス時間度数分布データ（リードアクセス時
間データ） ２９ 最頻値（リードアクセス時間データ） ３０ 相加平均値（リードアクセス時間データ）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 20/18 Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ Ｇ０６Ｆ 3/06 ３０４ Ｇ０６Ｆ 3/06 ３０４Ｐ Ｇ１１Ｂ 20/10 Ｇ１１Ｂ 20/10 Ｃ ３０１ ３０１Ｚ 20/12 20/12 Ｈ０４Ｎ 5/781 Ｈ０４Ｎ 5/781 Ｚ
Claims (9)
- 【請求項１】 規定量のデータの読み出し時間あるいは
書きこみ時間を計測するアクセス時間計測手段と、 規定量のデータの読み出し制限時間及び書きこみ制限時
間を設定可能な制限時間設定手段と、 前記計測されたアクセス時間と前記設定された制限時間
とを比較し、アクセス時間が制限値を超えたか否かによ
りアクセスした領域の不良判定を行うアクセス時間不良
判定手段と、 前記アクセス時間不良判定手段において不良と判定され
た領域の位置を不良領域位置としてディフェクトリスト
に登録するディフェクト登録手段と、 を具備すること、を特徴とするディスクメモリ装置。 - 【請求項２】 規定量のデータの読み出し時間あるいは
書きこみ時間を計測し、 予め規定量のデータの読み出し制限時間及び書きこみ制
限時間を設定しておくことにより、 前記計測されたアクセス時間と前記設定された制限時間
とを比較してアクセス時間が制限値を超えたか否かによ
りアクセスした領域の不良判定を行うこと、 を特徴とする、ディスクメモリ装置不良判定方法。 - 【請求項３】 コンピュータ読み取り可能な記録媒体に
おいて、 規定量のデータの読み出し時間あるいは書きこみ時間を
計測し、 予め規定量のデータの読み出し制限時間及び書きこみ制
限時間を設定しておくことにより、 前記計測されたアクセス時間と前記設定された制限時間
とを比較してアクセス時間が制限値を超えたか否かによ
りアクセスした領域の不良判定を行うディスクメモリ装
置不良判定方法を、 コンピュータに実行させるためのプログラムを記録した
ことを特徴とする記録媒体。 - 【請求項４】 規定量のデータの読み出し時間あるいは
書きこみ時間を計測するアクセス時間計測手段と、 前記計測されたアクセス時間を記憶するアクセス時間デ
ータ記憶手段と、 前記ディスクメモリ装置製造時に全アクセス領域に対し
て計測したアクセス時間データを基準時間データとして
記憶する基準時間データ記憶手段と、 前記アクセス時間データと前記基準時間データとを比較
してディスクメモリ装置の不良判定を行う不良判定手段
とを具備する、 ことを特徴とするディスクメモリ装置。 - 【請求項５】 規定量のデータの読み出し時間あるいは
書きこみ時間を計測し、 前記計測されたアクセス時間を記憶して、 前記ディスクメモリー装置製造時に全アクセス領域に対
して計測したアクセス時間データを基準時間データとし
て記憶しておき、 前記記憶しているアクセス時間データと前記記憶してい
る基準時間データとを比較してディスクメモリー装置の
不良判定を行う、 ことを特徴とするディスクメモリ装置不良判定方法。 - 【請求項６】 コンピュータ読み取り可能な記録媒体に
おいて、 規定量のデータの読み出し時間あるいは書きこみ時間を
計測し、 前記計測されたアクセス時間を記憶して、 前記ディスクメモリー装置製造時に全アクセス領域に対
して計測したアクセス時間データを基準時間データとし
て記憶しておき、 前記記憶しているアクセス時間データと前記記憶してい
る基準時間データとを比較してディスクメモリー装置の
不良判定を行うディスクメモリ装置不良判定方法を、 コンピュータに実行させるためのプログラムを記録した
ことを特徴とする記録媒体。 - 【請求項７】 規定量のデータの読み出し時間あるいは
書きこみ時間を計測するアクセス時間計測手段と、 前記計測されたアクセス時間を記憶するアクセス時間デ
ータ記憶手段と、 前記ディスクメモリ装置製造時に全アクセス領域に対し
て計測したアクセス時間データを基準時間データとして
記憶する基準時間データ記憶手段と、 前記アクセス時間データと前記基準時間データとを比較
してディスクメモリ装置の不良判定を行う不良判定手段
と、 前記不良判定手段の結果からディスクメモリ装置の不良
と判断した場合に上位装置あるいは表示手段に、ディス
クメモリ装置の不良を通知する不良通知手段とを具備す
る、 ことを特徴とするディスクメモリ装置。 - 【請求項８】 規定量のデータの読み出し時間あるいは
書きこみ時間を計測し、 前記計測されたアクセス時間を記憶して、 前記ディスクメモリ装置製造時に全アクセス領域に対し
て計測したアクセス時間データを基準時間データとして
記憶しておき、 前記記憶しているアクセス時間データと前記記憶してい
る基準時間データとを比較してディスクメモリ装置の不
良判定を行い、 不良と判定した場合に上位装置あるいは表示手段にディ
スクメモリ装置の不良を通知する、 ことを特徴とするディスクメモリ装置不良判定方法。 - 【請求項９】 コンピュータ読み取り可能な記録媒体に
おいて、 規定量のデータの読み出し時間あるいは書きこみ時間を
計測し、 前記計測されたアクセス時間を記憶して、 前記ディスクメモリ装置製造時に全アクセス領域に対し
て計測したアクセス時間データを基準時間データとして
記憶しておき、 前記記憶しているアクセス時間データと前記記憶してい
る基準時間データとを比較してディスクメモリ装置の不
良判定を行い、 不良と判定した場合に上位装置あるいは表示手段にディ
スクメモリ装置の不良を通知するディスクメモリ装置不
良判定方法を、 コンピュータに実行させるためのプログラムを記録した
ことを特徴とする記録媒体。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001142234A JP2002334527A (ja) | 2001-05-11 | 2001-05-11 | ディスクメモリ装置、ディスクメモリ装置不良判定方法、及び記録媒体 |
| US10/332,618 US7134051B2 (en) | 2001-05-11 | 2002-05-10 | Disk memory device, disk memory device defect detecting method, and program recording medium |
| PCT/JP2002/004560 WO2002101744A1 (en) | 2001-05-11 | 2002-05-10 | Disk memory device, disk memory device defect detecting method, and program recording medium |
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|---|---|---|---|
| JP2001142234A JP2002334527A (ja) | 2001-05-11 | 2001-05-11 | ディスクメモリ装置、ディスクメモリ装置不良判定方法、及び記録媒体 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002334527A true JP2002334527A (ja) | 2002-11-22 |
Family
ID=18988574
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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|---|---|
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| CN (1) | CN100505068C (ja) |
| WO (1) | WO2002101744A1 (ja) |
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