JP2002228495A - Meter evaluation system - Google Patents

Meter evaluation system

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JP2002228495A
JP2002228495A JP2001025634A JP2001025634A JP2002228495A JP 2002228495 A JP2002228495 A JP 2002228495A JP 2001025634 A JP2001025634 A JP 2001025634A JP 2001025634 A JP2001025634 A JP 2001025634A JP 2002228495 A JP2002228495 A JP 2002228495A
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Sadanori Terakado
定範 寺門
Ryohei Kita
良平 北
Hiroshi Itakura
浩 板倉
Hironobu Sonoda
寛信 園田
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Japan Atomic Power Co Ltd
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Yokogawa Electric Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a meter evaluation system capable of accurately evaluating the past calibration data to estimate a meter characteristic value and capable of accurately judging the renewing period of a meter to extend the calibration cycle of the meter. SOLUTION: When a meter characteristic value is operated on the basis of the past calibration data (S300), a correlation coefficient is operated (S500) and it is judged whether there is the correlation with time in the meter characteristic value (S600). When there is correlation, a regression straight line is operated (S700) and it is judged whether there is a deterioration tendency in the meter (S800). When there is the deterioration tendency, meter renewal judging processing A is carried out (S1100). When there is no deterioration tendency, meter renewal judging processing A is carried out (S900) and next time calibration omitting advisabilty judging processing A is carried out (S1000). When there is no correlation, meter renewal judging processing B is carried out (S1200) and next time calibration omitting advisability judging processing is carried out (S1300).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、計器の入出力特
性を表わす計器特性値の時間による変化を分析してこの
計器の傾向を評価する計器評価システムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an instrument evaluation system for analyzing a change with time of an instrument characteristic value representing an input / output characteristic of an instrument to evaluate a tendency of the instrument.

【0002】[0002]

【従来の技術】装置の定期検査は、プラントの安定稼動
を維持するために不可欠であり、計器の検査校正は安定
稼動を維持するための重要な項目である。例えば、毎回
の定期検査時の校正データに基づいて精度グラフを可視
化して表示する計器校正データシステムなどが知られて
いる。一般に、計器の検査校正の実施時期や内容は、法
的な要求のある計器を除きユーザの判断と責任において
決定できるが、実際には毎回の定期検査時に全ての計器
の検査校正が一様に実施されていた。しかし、ユーザ
は、計器の状態に見合った検査校正を実施したいと考え
ている。例えば、計器の指示誤差が要求値を超える状態
(運転状態における精度外れ)を起こさない範囲内で検
査校正周期を延長する検査校正周期の延長方法や、計器
更新時期を合理的に判断する計器更新時期の判断方法
や、検査校正方法の改善手法などがユーザによって求め
られている。
2. Description of the Related Art Periodic inspection of equipment is indispensable for maintaining stable operation of a plant, and inspection and calibration of instruments are important items for maintaining stable operation. For example, an instrument calibration data system that visualizes and displays an accuracy graph based on calibration data at the time of each periodic inspection is known. In general, the timing and contents of the inspection and calibration of instruments can be determined by the user's judgment and responsibility except for instruments that have legal requirements, but in practice, the inspection and calibration of all instruments are uniformly performed at each periodic inspection. Had been implemented. However, the user wants to perform an inspection calibration appropriate for the condition of the instrument. For example, an inspection calibration cycle extension method that extends the inspection calibration cycle within a range where the indication error of the instrument does not exceed the required value (accuracy in operating conditions), or an instrument update that rationally determines the instrument update time Users are demanding a method of determining the timing and a method of improving the inspection and calibration method.

【0003】ここで、検査校正周期の延長方法では、計
器を形式や使用条件などの共通項でグループ化して、同
一グループの数十点から数百点規模のデータを統計的に
処理し、この処理結果に基づいて計器特性値を予測して
検査校正周期が延長される。また、計器更新時期の判断
方法では、毎回の精度誤差量をポイント化してその累積
値によって更新時期が判断される。一方、検査校正方法
の改善手法は、検査校正データの分析によって実現でき
るが、現状ではユーザはその手法を持たない。
Here, in the method of extending the inspection and calibration cycle, instruments are grouped according to common terms such as types and operating conditions, and tens to hundreds of points of data in the same group are statistically processed. The instrument calibration value is predicted based on the processing result, and the inspection and calibration cycle is extended. In the method of determining the instrument update time, the accuracy error amount is converted into a point every time, and the update time is determined based on the accumulated value. On the other hand, an improvement method of the inspection calibration method can be realized by analyzing the inspection calibration data, but at present, the user does not have the method.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の検査校
正周期の延長方法では、計器を形式とカプセルレンジで
分類したグループにまとめて校正データを分析すると、
グループ内での計器特性値にばらつきが大きいために、
有効な計器特性値を予測できなかった。このために、従
来の検査校正周期の延長方法では、グループデータの分
析に基づいて計器特性値を予測することが現実的ではな
かった。
However, according to the conventional method of extending the inspection calibration cycle, when the calibration data is analyzed by grouping the instruments into groups classified by type and capsule range,
Due to large variation in instrument characteristic values within the group,
A valid instrument characteristic value could not be predicted. For this reason, in the conventional method of extending the inspection calibration cycle, it is not realistic to predict the instrument characteristic value based on the analysis of the group data.

【0005】また、従来の計器更新時期の判断方法で
は、毎回の精度誤差量を点数化してその累積値によって
更新時期を判断しているが、過去の計器更新結果のレビ
ューから実際にはこの方法が機能していないことが明ら
かになっていた。このために、実際には、ユーザの考え
る計器重要度や予算枠などから計器更新計画を立案して
いるのが現状である。一方、例えば1箇所のプラントで
使用される電子式圧力伝送器の台数が約600台、1台
当りの検査ポイント数が9点、過去の検査校正回数が9
回とすると、校正履歴データ数は600×9×9=48
600になる。しかし、このような膨大な検査校正デー
タを分析し評価する計器評価システムが存在しなかっ
た。
Further, in the conventional method of determining the update time of an instrument, the accuracy error amount is converted into a score every time, and the update time is determined based on the accumulated value. Was apparently not working. For this reason, at present, an instrument update plan is actually drafted based on the instrument importance and the budget frame considered by the user. On the other hand, for example, the number of electronic pressure transmitters used in one plant is about 600, the number of inspection points per unit is nine, and the number of past inspection calibrations is nine.
The number of calibration history data is 600 × 9 × 9 = 48
600. However, there is no instrument evaluation system that analyzes and evaluates such a huge amount of inspection calibration data.

【0006】この発明の課題は、過去の校正データを適
切に評価して計器特性値を予測することができるととも
に、計器の更新時期を的確に判断し計器の校正周期を延
長することができる計器評価システムを提供することで
ある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to appropriately evaluate past calibration data to predict an instrument characteristic value, and to accurately determine an update time of an instrument and extend a calibration cycle of the instrument. It is to provide an evaluation system.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明は、以下のよう
な解決手段により、前記課題を解決する。なお、この発
明の実施形態に対応する符号を付して説明するが、これ
に限定するものではない。請求項1の発明は、計器の入
出力特性を表わす計器特性値の時間による変化を分析し
て、前記計器の傾向を評価する計器評価システムであっ
て、前記計器特性値と前記時間との相関係数を演算(S
500)する相関係数演算部(9)と、前記相関係数演
算部の演算結果に基づいて、前記計器特性値に前記時間
との相関があるか否かを判断(S600)する相関判断
部(10)とを含む計器評価システム(1)である。
The present invention solves the above-mentioned problems by the following means. Note that the description will be given with reference numerals corresponding to the embodiments of the present invention, but the present invention is not limited to this. The invention according to claim 1 is an instrument evaluation system for analyzing a change with time of an instrument characteristic value representing an input / output characteristic of an instrument to evaluate a tendency of the instrument, wherein a phase of the instrument characteristic value and the time is analyzed. Calculate the relation number (S
500) a correlation coefficient calculating section (9), and a correlation determining section for determining whether or not the meter characteristic value has a correlation with the time based on the calculation result of the correlation coefficient calculating section (S600). (10) An instrument evaluation system (1) including:

【0008】請求項2の発明は、請求項1に記載の計器
評価システムにおいて、前記相関判断部は、前記相関係
数が所定値よりも大きいときには、前記計器特性値に前
記時間との相関があると判断し、前記相関係数が所定値
よりも小さいときには、前記計器特性値に前記時間との
相関がないと判断することを特徴とする計器評価システ
ムである。
According to a second aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the first aspect, when the correlation coefficient is larger than a predetermined value, the correlation determining section determines whether or not the correlation between the instrument characteristic value and the time is provided. The instrument evaluation system is characterized in that the instrument characteristic value is judged not to be correlated with the time when the correlation coefficient is determined to be present and the correlation coefficient is smaller than a predetermined value.

【0009】請求項3の発明は、請求項1又は請求項2
に記載の計器評価システムにおいて、前記計器特性値に
前記時間との相関があるときには、この計器特性値とこ
の時間との回帰直線を演算(S700)する回帰直線演
算部(700)と、前記回帰直線演算部の演算結果に基
づいて、前記計器が劣化傾向であるか否かを判断(S8
00)する劣化傾向判断部(12)とを含む計器評価シ
ステムである。
[0009] The invention of claim 3 is claim 1 or claim 2.
Wherein the regression line calculation unit (700) calculates a regression line between the meter characteristic value and the time (S700) when the meter characteristic value has a correlation with the time; Based on the calculation result of the straight line calculation unit, it is determined whether or not the meter has a tendency to deteriorate (S8).
00) is an instrument evaluation system including a deterioration tendency determination unit (12).

【0010】請求項4の発明は、請求項3に記載の計器
評価システムにおいて、前記劣化傾向判断部は、前記回
帰直線の傾きが所定値よりも大きいときには、前記計器
が劣化傾向であると判断し、前記回帰直線の傾きが所定
値よりも小さいときには、劣化傾向ではないと判断する
ことを特徴とする計器評価システムである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the third aspect, the deterioration tendency judging section judges that the instrument has a tendency to deteriorate when the slope of the regression line is larger than a predetermined value. If the slope of the regression line is smaller than a predetermined value, it is determined that the regression line does not tend to deteriorate.

【0011】請求項5の発明は、請求項1から請求項4
までのいずれか1項に記載の計器評価システムにおい
て、今回検査時までの計器特性値に基づいて、次回検査
時の計器特性値を予測演算(S2000,S4000)
する特性値予測演算部(13)を備えることを特徴とす
る計器評価システムである。
[0011] The invention of claim 5 is the invention of claims 1 to 4.
In the instrument evaluation system according to any one of the above, the instrument characteristic value at the next inspection is predicted and calculated based on the instrument characteristic value up to the current inspection (S2000, S4000).
An instrument evaluation system comprising a characteristic value prediction calculation unit (13).

【0012】請求項6の発明は、請求項5に記載の計器
評価システムにおいて、前記特性値予測演算部は、前記
計器特性値に前記時間との相関があるときには、前記回
帰直線と前記計器特性値との標準誤差及び前記回帰直線
の傾きに基づいて、次回検査時の計器特性値を予測演算
(S2000)し、前記計器特性値に前記時間との相関
がないときには、前記計器特性値の平均値と標準偏差と
に基づいて、次回検査時の計器特性値を予測演算(S4
000)することを特徴とする計器評価システムであ
る。
According to a sixth aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the fifth aspect, when the characteristic value predicting operation unit has a correlation with the time, the characteristic value predicting operation unit includes the regression line and the instrument characteristic. Based on the standard error with the value and the slope of the regression line, the instrument characteristic value at the next inspection is predicted and calculated (S2000). When the instrument characteristic value has no correlation with the time, the average of the instrument characteristic value is calculated. Based on the value and the standard deviation, the instrument characteristic value at the next inspection is predicted (S4
000).

【0013】請求項7の発明は、請求項5又は請求項6
に記載の計器評価システムにおいて、前記特性値予測演
算部は、次回検査時の計器特性値が許容範囲内であると
予測されるときには、今回検査時までの計器特性値に基
づいて、次々回検査時の計器特性値を予測演算(S23
00,S4300)することを特徴とする計器評価シス
テムである。
[0013] The invention of claim 7 is the invention of claim 5 or claim 6.
In the instrument evaluation system described in the above, the characteristic value prediction calculation unit, when it is predicted that the instrument characteristic value at the next inspection is within the allowable range, based on the instrument characteristic value up to the current inspection, at the time of the second inspection Calculation of the instrument characteristic value (S23)
00, S4300).

【0014】請求項8の発明は、請求項7に記載の計器
評価システムにおいて、前記特性値予測演算部は、前記
計器特性値に前記時間との相関があるときには、前記回
帰直線と前記計器特性値との標準誤差及び前記回帰直線
の傾きに基づいて、次々回検査時の計器特性値を予測演
算(S2300)し、前記計器特性値に前記時間との相
関がないときには、前記計器特性値の平均値と標準偏差
とに基づいて、次々回検査時の計器特性値を予測演算
(S4300)することを特徴とする計器評価システム
である。
According to an eighth aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the seventh aspect, when the characteristic value predicting operation section has a correlation with the time, the characteristic value predicting operation section includes the regression line and the instrument characteristic. Based on the standard error with respect to the value and the slope of the regression line, the instrument characteristic value at the time of the second inspection is predicted and calculated (S2300), and when the instrument characteristic value has no correlation with the time, the average of the instrument characteristic value is calculated. The instrument evaluation system is characterized in that the instrument characteristic value at the time of the second inspection is predicted and calculated (S4300) based on the value and the standard deviation.

【0015】請求項9の発明は、請求項7又は請求項9
に記載の計器評価システムにおいて、前記特性値予測演
算部の演算結果に基づいて、前記計器を更新する必要が
あるか否かを判断(S2100,S2400,S410
0,S4400)する更新可否判断部を備えることを特
徴とする計器評価システムである。
[0015] The invention of claim 9 is the invention of claim 7 or claim 9
In the meter evaluation system described in (1), it is determined whether or not the meter needs to be updated based on the calculation result of the characteristic value prediction calculation unit (S2100, S2400, S410).
0, S4400), which is an instrument evaluation system.

【0016】請求項10の発明は、請求項9に記載の計
器評価システムにおいて、前記更新可否判断部は、次回
検査時の計器特性値が許容範囲外であると予測されると
きには、前記計器を即時に更新する必要があると判断
(S2200,S4200)することを特徴とする計器
評価システムである。
According to a tenth aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the ninth aspect, the update availability determination unit determines whether or not the instrument characteristic value at the next inspection is out of an allowable range. An instrument evaluation system characterized in that it is determined that it is necessary to immediately update (S2200, S4200).

【0017】請求項11の発明は、請求項9又は請求項
10に記載の計器評価システムにおいて、前記更新可否
判断部は、次々回検査時の計器特性値が許容範囲外であ
ると予測されるときには、次回検査時に前記計器を更新
する必要があると判断(S2900,S4900)し、
次々回検査時の計器特性値が許容範囲内であると予測さ
れるときには、次回検査時に前記計器を更新する必要が
ないと判断(S2800,S4800)することを特徴
とする計器評価システムである。
According to an eleventh aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the ninth or tenth aspect, the update availability determination unit determines whether the instrument characteristic value at the time of the next inspection is out of the allowable range. It is determined that the instrument needs to be updated at the next inspection (S2900, S4900),
An instrument evaluation system characterized in that when it is predicted that the instrument characteristic value at the time of the next inspection is within the allowable range, it is determined that the instrument need not be updated at the next inspection (S2800, S4800).

【0018】請求項12の発明は、請求項9又は請求項
10に記載の計器評価システムにおいて、次々回検査時
の計器特性値が許容範囲内であると予測されるときに
は、今回検査時までの計器特性値のドリフト方向が同一
であり、かつ、今回検査時までの計器特性値のドリフト
量の総和が所定値を超えるか否かを判断(S2600)
するドリフト量累積判断部(14)を備えることを特徴
とする計器評価システムである。
According to a twelfth aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the ninth or tenth aspect, when the instrument characteristic value at the time of the next inspection is predicted to be within an allowable range, the instrument is evaluated up to the current inspection. It is determined whether the drift directions of the characteristic values are the same and whether the sum of the drift amounts of the instrument characteristic values up to the time of this inspection exceeds a predetermined value (S2600).
An instrument evaluation system is provided with a drift amount accumulation determining unit (14).

【0019】請求項13の発明は、請求項12に記載の
計器評価システムにおいて、前記更新可否判断部は、前
記ドリフト方向が同一であり、かつ、前記ドリフト量の
総和が所定値を越えるときには、次回検査時に前記計器
を更新する必要があると判断(S2700,S470
0)し、前記ドリフト方向が同一ではなく、かつ、前記
ドリフト量の総和が所定値を下回るときには、次回検査
時に前記計器を更新する必要がないと判断(S280
0,S4800)することを特徴とする計器評価システ
ムである。
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the twelfth aspect, the renewal determination section determines that when the drift direction is the same and the sum of the drift amounts exceeds a predetermined value. It is determined that the instrument needs to be updated at the next inspection (S2700, S470)
0) Then, if the drift directions are not the same and the sum of the drift amounts is less than a predetermined value, it is determined that the instrument need not be updated at the next inspection (S280).
0, S4800).

【0020】請求項14の発明は、請求項9から請求項
13までのいずれか1項に記載の計器評価システムにお
いて、前記計器が劣化傾向ではないときには、今回検査
時までの計器特性値に基づいて、次々回検査時の計器誤
差を予測演算(S3100,S5100)する誤差予測
演算部(16)を備えることを特徴とする計器評価シス
テムである。
According to a fourteenth aspect of the present invention, in the meter evaluation system according to any one of the ninth to thirteenth aspects, when the meter does not have a tendency to deteriorate, it is based on the meter characteristic values up to the present inspection. The instrument evaluation system further includes an error prediction operation unit (16) for predicting and calculating (S3100, S5100) the instrument error at the time of successive inspection.

【0021】請求項15の発明は、請求項14に記載の
計器評価システムにおいて、前記誤差予測演算部は、前
記計器特性値に前記時間との相関があるときには、前記
回帰直線と前記計器特性値との標準誤差及び前記回帰直
線の傾きに基づいて、次々回検査時の計器誤差を予測演
算(S3100)し、前記計器特性値に前記時間との相
関がないときには、前記計器特性値の平均値と標準偏差
とに基づいて、次々回検査時の計器誤差を予測演算(S
5100)することを特徴とする計器評価システムであ
る。
According to a fifteenth aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the fourteenth aspect, when the instrument characteristic value has a correlation with the time, the error predicting operation section includes the regression line and the instrument characteristic value. Is calculated based on the standard error of the regression line and the standard error of the regression line (S3100). When there is no correlation between the instrument characteristic value and the time, the average value of the instrument characteristic value is calculated. Based on the standard deviation, predictive calculation of the instrument error at the time of successive inspection (S
5100).

【0022】請求項16の発明は、請求項14又は請求
項15に記載の計器評価システムにおいて、前記誤差予
測演算部の演算結果に基づいて、次回検査時に前記計器
の校正を省略できるか否かを判断(S3000,S32
00,S5000,S5200)する校正省略可否判断
部(17)を備えることを特徴とする計器評価システム
である。
According to a sixteenth aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the fourteenth or fifteenth aspect, it is determined whether or not calibration of the instrument can be omitted at the next inspection based on a calculation result of the error prediction calculation unit. (S3000, S32
(00, S5000, S5200) is an instrument evaluation system characterized by including a calibration omission determination section (17).

【0023】請求項17の発明は、請求項16に記載の
計器評価システムにおいて、前記校正省略可否判断部
は、次々回検査時の計器誤差が許容範囲内であると予測
されるときには、次回検査時に前記計器の校正を省略で
きると判断(S3300,S5300)し、次々回検査
検時の計器誤差が許容範囲外であると予測されるときに
は、次回検査時に前記計器の校正を省略できないと判断
(S3400,S5400)することを特徴とする計器
評価システムである。
According to a seventeenth aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the sixteenth aspect, the calibration omission determination unit determines that the instrument error at the time of the next inspection is within the allowable range, and the next time the inspection is performed. It is determined that the calibration of the instrument can be omitted (S3300, S5300), and if it is predicted that the instrument error at the time of the second inspection is outside the allowable range, it is determined that the calibration of the instrument cannot be omitted at the next inspection (S3400, S3400). S5400).

【0024】請求項18の発明は、請求項16に記載の
計器評価システムにおいて、前記校正省略可否判断部
は、誤差予測演算部の演算結果に基づいて、n回後の検
査時(nは2以上の整数)に前記計器の校正を省略でき
るか否かを判断することを特徴とする計器評価システム
である。
According to an eighteenth aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the sixteenth aspect, the calibration omission determination unit determines the number of times of the next inspection (n is 2) based on the calculation result of the error prediction calculation unit. An instrument evaluation system characterized in that it is determined whether calibration of the instrument can be omitted based on the above integer).

【0025】請求項19の発明は、請求項17に記載の
計器評価システムにおいて、前記校正省略可否判断部
は、(n+1)回後の検査時の計器誤差が許容範囲内で
あると予測されるときには、n回後の検査時に前記計器
の校正を省略できると判断し、(n+1)回後の検査検
時の計器誤差が許容範囲外であると予測されるときに
は、n回後の検査時に前記計器の校正を省略できないと
判断すること、を特徴とする計器評価システムである。
According to a nineteenth aspect of the present invention, in the instrument evaluation system according to the seventeenth aspect, the calibration omission determination section predicts that the instrument error at the time of the (n + 1) -time inspection is within an allowable range. Sometimes, it is determined that the calibration of the instrument can be omitted at the time of the nth inspection, and when the instrument error at the time of the (n + 1) th inspection is expected to be out of the allowable range, at the time of the nth inspection, An instrument evaluation system characterized in that it is determined that calibration of the instrument cannot be omitted.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施形態についてさらに詳しく説明する。図1は、こ
の発明の実施形態に係る計器評価システムの構成図であ
る。図2は、この発明の実施形態に係る計器評価システ
ムの校正システムの構成図である。計器評価システム1
は、計器の入出力特性を表わす計器特性値の時間による
変化を分析して、この計器の傾向を評価するシステムで
ある。
Embodiments of the present invention will be described below in more detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram of an instrument evaluation system according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a configuration diagram of a calibration system of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention. Instrument evaluation system 1
Is a system for analyzing a change of an instrument characteristic value representing an input / output characteristic of an instrument with time and evaluating a tendency of the instrument.

【0027】図1に示す情報伝達手段3は、校正システ
ム2から分析システム4に校正データを伝達する手段で
ある。情報伝達手段3は、例えばネットワークなどを経
由して情報伝達を行う。
The information transmitting means 3 shown in FIG. 1 is means for transmitting the calibration data from the calibration system 2 to the analysis system 4. The information transmitting means 3 transmits information via a network or the like, for example.

【0028】分析システム4は、校正データを分析処理
するシステムである。分析システム4は、図1に示すよ
うに、データ入力装置5とデータ処理装置6とから構成
されている。データ入力装置5は、情報伝達手段3を利
用し校正データを読み出してデータ処理装置6に出力す
る装置である。
The analysis system 4 is a system for analyzing calibration data. As shown in FIG. 1, the analysis system 4 includes a data input device 5 and a data processing device 6. The data input device 5 is a device that reads out the calibration data using the information transmission means 3 and outputs the data to the data processing device 6.

【0029】図3は、この発明の実施形態に係る計器校
正システムの分析システムのブロック図である。データ
処理装置6は、計器校正データを分析して計器の傾向を
評価する装置である。データ処理装置6は、図4に示す
ように、計器特性値演算部7と、重要度分類部8と、相
関係数演算部9と、相関判断部10と、回帰直線演算部
11と、劣化傾向判断部12と、特性値予測演算部13
と、ドリフト量累積判断部14と、更新可否判断部15
と、誤差予測演算部16と、校正省略可否判断部17
と、表示部18と、印刷部19とを備えている。
FIG. 3 is a block diagram of an analysis system of the instrument calibration system according to the embodiment of the present invention. The data processing device 6 is a device for analyzing the instrument calibration data and evaluating the tendency of the instrument. As shown in FIG. 4, the data processing device 6 includes an instrument characteristic value calculator 7, an importance classifier 8, a correlation coefficient calculator 9, a correlation determiner 10, a regression line calculator 11, Trend determination unit 12 and characteristic value prediction calculation unit 13
, Drift amount accumulation determining unit 14, and update availability determining unit 15
, An error prediction operation unit 16 and a calibration omission determination unit 17
And a display unit 18 and a printing unit 19.

【0030】計器特性値演算部7は、計器の入出力特性
を表わす計器特性値を計器毎に演算する演算部である。
計器特性値演算部7は、ゼロドリフト、スパンドリフ
ト、リニアリティ、ヒステリシス及び静圧特性を計器毎
に演算する。ここで、ゼロドリフトは、前回校正後から
今回校正前までの測定値下限値の変動量である。スパン
ドリフトは、前回校正後から今回校正前までの測定値下
限値及び測定値上限値の変動量である。リニアリティ
は、測定値下限値と測定値上限値を結ぶ直線に対する測
定値のずれ量である。ヒステリシスは、上昇時の測定値
と下降時の測定値とのずれ量である。静圧特性は、伝送
器に同一圧力を加えたときの高圧側ダイヤフラムと低圧
側ダイヤフラムとの圧力差である。計器特性値演算部7
は、相関係数演算部9、回帰直線演算部11、特性値予
測演算部13、ドリフト量累積判断部14及び誤差予測
演算部16に計器特性値に関する情報を出力する。
The instrument characteristic value calculation section 7 is an operation section for calculating an instrument characteristic value representing input / output characteristics of the instrument for each instrument.
The instrument characteristic value computing section 7 computes zero drift, span drift, linearity, hysteresis, and static pressure characteristics for each instrument. Here, the zero drift is the amount of change in the measured value lower limit from the previous calibration to the current calibration. The span drift is the amount of change in the lower limit of the measured value and the upper limit of the measured value from the previous calibration to the current calibration. The linearity is a deviation amount of the measured value from a straight line connecting the measured value lower limit value and the measured value upper limit value. The hysteresis is the amount of deviation between the measured value at the time of rising and the measured value at the time of falling. The static pressure characteristic is a pressure difference between the high-pressure diaphragm and the low-pressure diaphragm when the same pressure is applied to the transmitter. Instrument characteristic value calculator 7
Outputs information on the instrument characteristic value to the correlation coefficient operation unit 9, the regression line operation unit 11, the characteristic value prediction operation unit 13, the drift amount accumulation determination unit 14, and the error prediction operation unit 16.

【0031】重要度分類部8は、計器を重要度に応じて
分類するブロックである。重要度分類部8は、例えば、
故障によって設備の機能が停止したり、故障や修理によ
って設備が停止する計器であるか否かなどを分類の基準
として、重要度A,B,Cの3ランクに計器を分類す
る。
The importance classifying section 8 is a block for classifying instruments according to their importance. The importance classifying unit 8, for example,
The instruments are classified into three ranks of importance A, B, and C based on whether the function of the equipment stops due to a failure or whether the instrument stops due to a failure or repair.

【0032】相関係数演算部9は、計器特性値と時間と
の相関係数を演算する演算部である。相関係数演算部9
は、計器特性値と時間との相関係数を計器毎に演算し
て、この相関係数に関する情報を相関判断部10に出力
する。
The correlation coefficient calculator 9 is a calculator for calculating a correlation coefficient between an instrument characteristic value and time. Correlation coefficient calculator 9
Calculates the correlation coefficient between the instrument characteristic value and time for each instrument, and outputs information on the correlation coefficient to the correlation determination unit 10.

【0033】相関判断部10は、相関係数演算部9の演
算結果に基づいて、計器特性値に時間との相関があるか
否かを判断する判断部である。相関判断部10は、相関
係数が所定値よりも大きいときには、計器特性値に時間
との相関があると判断し、相関係数が所定値よりも小さ
いときには、計器特性値に時間との相関がないと判断す
る。相関判断部10は、相関の有無に関する情報として
特性値予測演算部13及び誤差予測演算部16に出力す
る。
The correlation judging section 10 is a judging section for judging whether or not the instrument characteristic value has a correlation with time based on the calculation result of the correlation coefficient calculating section 9. When the correlation coefficient is larger than a predetermined value, the correlation judging unit 10 judges that the instrument characteristic value has a correlation with time, and when the correlation coefficient is smaller than the predetermined value, the correlation between the instrument characteristic value and the time is determined. Judge that there is no. The correlation determination unit 10 outputs the information on the presence or absence of the correlation to the characteristic value prediction calculation unit 13 and the error prediction calculation unit 16.

【0034】図4は、この発明の実施形態に係る計器評
価システムの相関判断部の判断方法を説明するための図
であり、図4(A)は計器特性値と時間とに相関がある
場合であり、図4(B)は計器特性値と時間とに相関が
ない場合である。図4に示す縦軸は、計器特性値の一つ
であるスパンドリフトであり、横軸は日数である。図4
(A)に示すように、相関係数が大きいときには計器特
性値に時間との相関があり、図4(B)に示すように、
相関係数が小さいときには計器特性値に時間との相関が
ない。この実施形態では、相関有無のしきい値(所定
値)の標準を0.7(絶対値)に定めており、この絶対
値は実測値を評価して決定される。
FIG. 4 is a diagram for explaining a judgment method of the correlation judgment unit of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention. FIG. 4A shows a case where there is a correlation between the instrument characteristic value and time. FIG. 4B shows a case where there is no correlation between the instrument characteristic value and time. The vertical axis shown in FIG. 4 is a span drift which is one of the instrument characteristic values, and the horizontal axis is the number of days. FIG.
As shown in FIG. 4A, when the correlation coefficient is large, the instrument characteristic value has a correlation with time, and as shown in FIG.
When the correlation coefficient is small, the instrument characteristic value has no correlation with time. In this embodiment, the standard of the threshold value (predetermined value) for the presence or absence of correlation is set to 0.7 (absolute value), and this absolute value is determined by evaluating an actual measurement value.

【0035】図3に示す回帰直線演算部11は、計器特
性値に時間との相関があるときに、計器特性値と時間と
の回帰直線を演算する演算部である。回帰直線演算部1
1は、計器特性値と時間との回帰直線を計器毎に演算し
て、この回帰直線に関する情報を劣化傾向判断部12に
出力する。
The regression line calculation unit 11 shown in FIG. 3 is a calculation unit that calculates a regression line between an instrument characteristic value and time when the instrument characteristic value has a correlation with time. Regression line calculation unit 1
1 calculates a regression line between the instrument characteristic value and time for each instrument, and outputs information on the regression line to the deterioration tendency determination unit 12.

【0036】劣化傾向判断部12は、回帰直線演算部1
1の演算結果に基づいて、計器が劣化傾向であるか否か
を判断する判断部である。劣化傾向判断部12は、回帰
直線の傾きが所定値よりも大きいときには計器が劣化傾
向であると判断し、回帰直線の傾きが所定値よりも小さ
いときには計器が劣化傾向ではないと判断する。劣化傾
向判断部12は、劣化傾向の有無に関する情報を特性値
予測演算部13及び更新可否判断部15に出力する。
The deterioration tendency judging section 12 includes a regression line calculating section 1
A determination unit that determines whether or not the meter has a tendency to deteriorate based on the result of the calculation of (1). The deterioration tendency judging unit 12 judges that the instrument is in the tendency of deterioration when the slope of the regression line is larger than a predetermined value, and judges that the instrument is not in the tendency of deterioration when the inclination of the regression line is smaller than the predetermined value. The deterioration tendency determining unit 12 outputs information on the presence or absence of the deterioration tendency to the characteristic value prediction calculating unit 13 and the update availability determining unit 15.

【0037】図5は、この発明の実施形態に係る計器評
価システムの劣化傾向判断部の判断方法を説明するため
の図であり、図5(A)は劣化傾向である場合であり、
図5(B)は劣化傾向ではない場合である。図5に示す
縦軸は、計器特性値の一つであるスパンドリフトであ
り、横軸は日数である。図5(A)に示すように、回帰
直線の傾きが大きいときには計器に劣化傾向があり、図
5(B)に示すように、回帰直線の傾きが小さいときに
は計器に劣化傾向がなく時間依存性がある。この実施形
態では、900日間の変化量が計器精度の50%を超え
るレベルをしきい値(標準値)に定めた。ここで、90
0日間は、定期検査のインターバルを450日としたと
きの2回分に相当する日数であり、校正を1回省略(ス
キップ)したときに計器特性値の変化量が計器精度の5
0%になるレベルを想定した。また、この実施形態で
は、900日間の変化量が計器精度の50%〜15%の
レベルにあるものを時間依存性があり要監視レベルとし
た。
FIG. 5 is a diagram for explaining a judgment method of the deterioration tendency judging section of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention. FIG. 5 (A) shows a case where there is a deterioration tendency.
FIG. 5B shows a case where there is no deterioration tendency. The vertical axis shown in FIG. 5 is a span drift which is one of the instrument characteristic values, and the horizontal axis is the number of days. As shown in FIG. 5 (A), when the slope of the regression line is large, the instrument tends to deteriorate, and as shown in FIG. 5 (B), when the slope of the regression line is small, the instrument has no tendency to deteriorate and the time dependency There is. In this embodiment, a level at which the amount of change during 900 days exceeds 50% of the instrument accuracy is set as the threshold value (standard value). Where 90
0 days is the number of days corresponding to two times when the interval of the periodic inspection is 450 days, and when the calibration is omitted once (skipped), the amount of change in the instrument characteristic value is 5 times the instrument accuracy.
A level of 0% was assumed. Further, in this embodiment, the monitoring level which has a time-dependent variation of 50% to 15% of the instrument accuracy is time-dependent and required.

【0038】劣化傾向判断部12は、図5(A)に示す
ように、回帰直線の傾きm=2.9×10-4(%/日)
である場合には、900日間の変化量(計器精度±0.
5%)=2.9×10-4×900=0.26であるため
に劣化傾向であると判断する。一方、劣化傾向判断部1
2は、図5(B)に示すように、回帰直線の傾きm=
1.2×10-4(%/日)である場合には、900日間
の変化量(計器精度±0.5%)=1.2×10-4×9
00=0.11となり劣化傾向ではなく時間依存性があ
ると判断する。
As shown in FIG. 5A, the deterioration tendency judging section 12 calculates the slope m of the regression line m = 2.9 × 10 −4 (% / day).
, The change for 900 days (instrument accuracy ± 0.
5%) = 2.9 × 10 −4 × 900 = 0.26, so it is determined that there is a tendency for deterioration. On the other hand, the deterioration tendency determining unit 1
2 is the slope m of the regression line, as shown in FIG.
In the case of 1.2 × 10 −4 (% / day), the amount of change during 900 days (instrument accuracy ± 0.5%) = 1.2 × 10 −4 × 9
00 = 0.11 and it is determined that there is a time dependency instead of a deterioration tendency.

【0039】図3に示す特性値予測演算部13は、今回
検査時までの計器特性値に基づいて、次回検査時の計器
特性値を予測演算する演算部である。特性値予測演算部
13は、次回定期検査時の計器特性値が許容範囲内であ
ると予測されるときには、今回定期検査時までの計器特
性値に基づいて、次々回定期検査時の計器特性値を予測
演算する。特性値予測演算部13は、計器特性値に時間
との相関があるときには、回帰直線と計器特性値との標
準誤差及び回帰直線の傾きに基づいて、次回検査時及び
次々回検査時の計器特性値を予測演算する。一方、特性
値予測演算部13は、計器特性値に時間との相関がない
ときには、計器特性値の平均値と標準偏差とに基づい
て、次回検査時及び次々回検査時の計器特性値を予測演
算する。
The characteristic value predicting / calculating section 13 shown in FIG. 3 is a calculating section for predicting and calculating the instrument characteristic value at the next inspection based on the instrument characteristic value up to the current inspection. When the instrument characteristic value at the time of the next periodic inspection is predicted to be within the allowable range, the characteristic value prediction calculation unit 13 calculates the instrument characteristic value at the time of the next periodic inspection based on the instrument characteristic value up to the current periodic inspection. Perform prediction operation. When there is a correlation between the instrument characteristic value and the time, the characteristic value prediction calculation unit 13 determines the instrument characteristic value at the next inspection and the next and next inspection based on the standard error between the regression line and the instrument characteristic value and the slope of the regression line. Is calculated. On the other hand, when there is no correlation between the instrument characteristic value and the time, the characteristic value prediction computing unit 13 predicts and computes the instrument characteristic value at the next inspection and at the next inspection based on the average value and the standard deviation of the instrument characteristic value. I do.

【0040】図6は、この発明の実施形態に係る計器評
価システムの特性値予測演算部の予測方法を説明するた
めの図であり、図6(A)は計器特性値に時間依存性が
ある(相関あり)場合であり、図6(B)は計器特性値
に時間依存性がない(相関なし)場合である。図6に示
す縦軸は、計器特性値の一つであるスパンドリフトであ
り、横軸は日数である。特性値予測演算部13は、図6
(A)に示すように、時間依存性があるときには、回帰
直線の傾きと標準誤差とに基づいて、次回定期検査時の
計器特性値の範囲(予測値)Fを以下の数1によって演
算する。 F=E+m*T±SE*P (数1) ここで、mは回帰直線の傾きであり、SEは回帰直線と
実測値との標準誤差であり、Tは定期検査1回分のイン
ターバル(日)であり、Eは今回定期検査時の計算値
(回帰値)であり、Pは予測の幅を決定する係数であ
る。
FIG. 6 is a diagram for explaining a prediction method of the characteristic value predicting operation unit of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention. FIG. 6A shows that the instrument characteristic value has time dependency. FIG. 6B shows a case where the instrument characteristic value has no time dependency (no correlation). The vertical axis shown in FIG. 6 is a span drift which is one of the instrument characteristic values, and the horizontal axis is the number of days. The characteristic value prediction calculation unit 13 is configured as shown in FIG.
As shown in (A), when there is time dependence, the range (predicted value) F of the instrument characteristic value at the next periodic inspection is calculated by the following equation 1 based on the slope of the regression line and the standard error. . F = E + m * T ± SE * P (Equation 1) where m is the slope of the regression line, SE is the standard error between the regression line and the actually measured value, and T is the interval (day) for one periodic inspection. Where E is a calculated value (regression value) at the time of the regular inspection this time, and P is a coefficient that determines the range of prediction.

【0041】一方、特性値予測演算部13は、図6
(B)に示すように、時間依存性がないときには、平均
値と標準偏差とに基づいて、次回定期検査時の予測値F
を以下の数2によって演算する。 F=Ave±σ*Q (数2) ここで、Aveは平均値であり、σは標準偏差であり、
Qは予測の幅を決定する係数である。
On the other hand, the characteristic value prediction calculation unit 13
As shown in (B), when there is no time dependency, the predicted value F at the next periodic inspection is based on the average value and the standard deviation.
Is calculated by the following equation (2). F = Ave ± σ * Q (Equation 2) where Ave is an average value, σ is a standard deviation,
Q is a coefficient that determines the width of the prediction.

【0042】計器更新を判断する場合には、次回定期検
査時に校正を正しく実施したと仮定して、その次(現在
からみて次々回)の計器特性値を予測する必要がある。
特性値予測演算部13は、図6(A)に示すように、時
間依存性があるときには定期検査1回分のインターバル
Tを2倍して、次々回定期検査時の予測値Fを以下の数
3によって演算する。 F=E+m*(T*2)±SE*P (数3) 一方、図6(B)に示すように、時間依存性がないとき
には、次々回定期検査時の予測値は次回定期検査時の予
測値と同じである。特性値予測演算部13は、計器の重
要度に応じて係数P,Qを可変して演算する。
When judging whether or not to update the meter, it is necessary to predict the next (one after another from the present time) meter characteristic value, assuming that the calibration was correctly performed at the next periodic inspection.
As shown in FIG. 6A, when there is a time dependency, the characteristic value prediction calculation unit 13 doubles the interval T for one periodic inspection and calculates the predicted value F at the time of the next periodic inspection as Is calculated by F = E + m * (T * 2) ± SE * P (Equation 3) On the other hand, as shown in FIG. 6B, when there is no time dependency, the prediction value at the next periodic inspection is the prediction value at the next periodic inspection. Same as value. The characteristic value prediction calculation unit 13 calculates by varying the coefficients P and Q according to the importance of the instrument.

【0043】図3に示すドリフト量累積判断部14は、
次々回検査時の計器特性値が許容範囲内であると予測さ
れるときには、今回検査時までの計器特性値のドリフト
方向が同一であり、かつ、今回検査時までの計器特性値
のドリフト量の総和が所定値(計器精度の所定倍)を超
えるか否かを判断する判断部である。ドリフト量累積演
算部15は、ドリフト量累積に関する情報を更新可否判
断部15に出力する。
The drift amount accumulation judging section 14 shown in FIG.
When it is predicted that the instrument characteristic value at the time of the next inspection is within the allowable range, the drift direction of the instrument characteristic value up to the current inspection is the same, and the sum of the drift amounts of the instrument characteristic value until the current inspection is obtained. Is greater than a predetermined value (a predetermined multiple of the instrument precision). The drift amount accumulation calculating unit 15 outputs information on the drift amount accumulation to the update availability determination unit 15.

【0044】更新可否判断部15は、特性値予測演算部
13の演算結果に基づいて、計器を更新する必要がある
か否かを判断する判断部である。更新可否判断部15
は、次回定期検査時の計器特性値が許容範囲外であると
予測されるときには、計器を即時に更新する必要がある
と判断する。また、更新可否判断部15は、次々回定期
検査時の計器特性値が許容範囲外であると予測されると
きには、次回定期検査時に計器を更新する必要があると
判断し、次々回定期検査時の計器特性値が許容範囲内で
あると予測されるときには、計器を更新する必要がない
と判断する。一方、更新可否判断部15は、評価対象と
なる計器特性値がゼロドリフト及びスパンドリフトであ
って、ドリフト方向が同一であり、かつ、ドリフト量の
総和が所定値を越えるときには、次回検査時に計器を更
新する必要があると判断し、ドリフト方向が同一ではな
く、かつ、ドリフト量の総和が所定値を下回るときに
は、次回検査時に計器を更新する必要がないと判断す
る。
The update permission / inhibition judging section 15 is a judgment section for judging whether or not the instrument needs to be updated based on the operation result of the characteristic value prediction operation section 13. Update availability determination unit 15
Determines that the instrument needs to be updated immediately when the instrument characteristic value at the next periodic inspection is predicted to be out of the allowable range. Further, when it is predicted that the instrument characteristic value at the time of the next periodic inspection is out of the allowable range, the update availability determination unit 15 determines that the instrument needs to be updated at the next periodic inspection, and the meter at the time of the next periodic inspection. When the characteristic value is predicted to be within the allowable range, it is determined that there is no need to update the instrument. On the other hand, if the instrument characteristic values to be evaluated are the zero drift and the span drift, the drift directions are the same, and the sum of the drift amounts exceeds a predetermined value, the Is determined to be necessary, and if the drift directions are not the same and the sum of the drift amounts is less than a predetermined value, it is determined that the instrument need not be updated at the next inspection.

【0045】誤差予測演算部16は、計器が劣化傾向で
はないときには、今回検査時までの計器特性値に基づい
て、次々回検査時の計器誤差を予測演算する演算部であ
る。誤差予測演算部16は、計器特性値に時間との相関
があるときには、回帰直線と計器特性値との標準誤差及
び回帰直線の傾きに基づいて、次々回検査時の計器誤差
を予測演算し、計器特性値に時間との相関がないときに
は、計器特性値の平均値と標準偏差とに基づいて、次々
回検査時の計器誤差を予測演算する。誤差予測演算部1
6は、計器誤差に関する情報を校正省略可否判断部17
に出力する。
The error prediction calculating section 16 is a calculating section for predicting and calculating the meter error at the time of the next and subsequent inspections based on the instrument characteristic values up to the current inspection, when the instrument is not in a tendency to deteriorate. When there is a correlation between the instrument characteristic value and the time, the error prediction calculating unit 16 predicts and calculates the instrument error at the time of successive inspection based on the standard error between the regression line and the instrument characteristic value and the slope of the regression line. When there is no correlation between the characteristic value and the time, an instrument error at the time of the second inspection is predicted and calculated based on the average value and the standard deviation of the instrument characteristic value. Error prediction operation unit 1
6 is a unit 17 for determining whether or not calibration error can be omitted.
Output to

【0046】誤差予測演算部16は、計器特性値がゼロ
ドリフト及びスパンドリフトであり計器特性値に時間と
の相関があるときには、回帰直線の傾きと標準誤差とに
基づいて、次々回定期検査時のドリフト予測値(計器誤
差予測値)Dを以下の数4によって演算する。 D=(E+m*T)*A±SE*B (数4) ここで、Aは次々回のドリフト量の見込み係数であり、
Bは次々回の予測幅を決定する係数である。誤差予測演
算部16は、数1に示す次回のドリフト予測値に基づい
て、ドリフト値(E+m*T)をk1倍し、予測の幅
(±SE*P)をk2倍する。この実施形態では、標準
値としてk1,k2=2に定めた。
When the instrument characteristic values are zero drift and span drift and the instrument characteristic values have a correlation with time, the error prediction calculation unit 16 performs the next and subsequent periodic inspections based on the slope of the regression line and the standard error. Drift prediction value (instrument error prediction value) D is calculated by the following equation (4). D = (E + m * T) * A ± SE * B (Equation 4) Here, A is a probability coefficient of the drift amount one after another,
B is a coefficient that determines the prediction width one after another. The error prediction calculation unit 16 multiplies the drift value (E + m * T) by k1 and the prediction width (± SE * P) by k2 based on the next drift prediction value shown in Expression 1. In this embodiment, k1 and k2 = 2 are set as standard values.

【0047】一方、誤差予測演算部16は、計器特性値
がリニアリティ、ヒステリシス及び静圧特性であり計器
特性値に時間との相関があるときには、回帰直線の傾き
と標準誤差とに基づいて、次々回定期検査時の計器誤差
予測値Dを以下の数5によって演算する。 D=m*(T*2)+E±SE*B (数5)
On the other hand, when the instrument characteristic values are linearity, hysteresis, and static pressure characteristics and the instrument characteristic values have a correlation with time, the error prediction calculation unit 16 repeats one after another based on the slope of the regression line and the standard error. The instrument error prediction value D at the time of the periodic inspection is calculated by the following equation (5). D = m * (T * 2) + E ± SE * B (Equation 5)

【0048】誤差予測演算部16は、計器特性値がゼロ
ドリフト及びスパンドリフトであり計器特性値に時間と
の相関がないときには、平均値と標準誤差とに基づい
て、次々回定期検査時の計器誤差予測値Dを以下の数6
によって演算する。 D=Ave*X±σ*Y (数6) ここで、Xは次々回のドリフト量の見込み係数であり、
Yは次々回の予測幅を決定する係数である。
When the instrument characteristic value is zero drift and span drift and there is no correlation between the instrument characteristic value and time, the error prediction calculation unit 16 calculates the instrument error at the time of the next periodic inspection based on the average value and the standard error. The predicted value D is expressed by the following Equation 6.
Is calculated by D = Ave * X ± σ * Y (Equation 6) Here, X is a probability coefficient of the drift amount one after another,
Y is a coefficient that determines the prediction width one after another.

【0049】一方、誤差予測演算部16は、計器特性値
がリニアリティ、ヒステリシス及び静圧特性であり計器
特性値に時間との相関がないときには、平均値と標準誤
差とに基づいて、次々回定期検査時の計器誤差予測値D
を以下の数7によって演算する。 D=Ave±σ*Y (数7)
On the other hand, when the instrument characteristic values are linearity, hysteresis, and static pressure characteristics and the instrument characteristic values do not correlate with time, the error prediction calculation unit 16 performs a periodic inspection based on the average value and the standard error one after another. Instrument error prediction value D
Is calculated by the following equation (7). D = Ave ± σ * Y (Equation 7)

【0050】校正省略可否判断部17は、誤差予測演算
部16の演算結果に基づいて、次回検査時に計器の校正
を省略(スキップ)することができるか否かを判断する
判断部である。校正省略可否判断部17は、今回定期検
査時までの最大誤差が計器精度/所定値(所定範囲内)
であるか否かが判断される。また、校正省略可否判断部
17は、次々回検査時の計器誤差が許容範囲内であると
予測されるときには、次回検査時に計器の校正を省略で
きると判断し、次々回検査検時の計器誤差が許容範囲外
であると予測されるときには、次回検査時に計器の校正
を省略できないと判断する。
The calibration omission determination section 17 determines whether or not the calibration of the instrument can be skipped (skipped) at the next inspection based on the calculation result of the error prediction calculation section 16. The calibration omission determination unit 17 determines that the maximum error up to the time of this periodic inspection is the instrument accuracy / predetermined value (within a predetermined range)
Is determined. When it is predicted that the instrument error at the time of the next inspection is within the allowable range, the calibration omission determination section 17 judges that the calibration of the instrument can be omitted at the next inspection, and the instrument error at the time of the next inspection is allowed. If it is predicted to be out of the range, it is determined that the calibration of the instrument cannot be omitted at the next inspection.

【0051】図7は、この発明の実施形態に係る計器評
価システムの校正省略可否判断部の判断方法を説明する
ための図である。図7に示す縦軸は、計器特性値の一つ
であるスパンドリフトであり、横軸は日数である。校正
省略可否判断部17は、図7に示すように、定期検査イ
ンターバル1回分のドリフト量が次回の予測幅の範囲内
であり、定期検査インターバル2回分のドリフト量が次
々回の予測幅の範囲内であるときには、次回定期検査時
の校正を省略可能であると判断する。
FIG. 7 is a diagram for explaining a determination method of the calibration omission determination section of the meter evaluation system according to the embodiment of the present invention. The vertical axis shown in FIG. 7 is a span drift which is one of the instrument characteristic values, and the horizontal axis is the number of days. As shown in FIG. 7, the calibration omission determination unit 17 determines that the drift amount for one periodic inspection interval is within the range of the next predicted width, and the drift amount for two periodic inspection intervals is within the range of the next predicted width. If, it is determined that the calibration at the next periodic inspection can be omitted.

【0052】図3に示す表示部18は、計器に関する基
本情報、計器交換履歴、校正記録、校正スキップ可否及
び更新時期などに関するデータである計器カルテを画面
上に表示する装置である。印刷部19は、計器カルテを
印刷する装置である。
The display section 18 shown in FIG. 3 is an apparatus for displaying on the screen an instrument chart which is basic information on the instrument, an instrument replacement history, a calibration record, whether or not calibration can be skipped and an update time. The printing unit 19 is a device that prints an instrument chart.

【0053】次に、この発明の実施形態に係る計器評価
システムの動作を説明する。図8は、この発明の実施形
態に係る計器評価システムの動作を説明するためのフロ
ーチャートである。ステップ(以下、Sという)100
において、校正データが処理される。図1及び図2に示
すデータ処理装置2aが過去の校正データを処理してデ
ータベース2bに出力するとともにデータ出力装置2c
に出力し、データ出力装置2cが校正データを情報伝達
手段3に出力する。
Next, the operation of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention will be described. FIG. 8 is a flowchart for explaining the operation of the meter evaluation system according to the embodiment of the present invention. Step (hereinafter referred to as S) 100
In, the calibration data is processed. The data processing device 2a shown in FIGS. 1 and 2 processes the past calibration data and outputs it to the database 2b, and the data output device 2c.
And the data output device 2c outputs the calibration data to the information transmitting means 3.

【0054】S200において、計器校正データが読み
込まれる。図1に示す情報伝達手段3に記録された校正
データをデータ入力装置5が読み出してデータ処理装置
6に出力し、データ処理装置6が校正データを読み込
む。
At S200, instrument calibration data is read. The data input device 5 reads out the calibration data recorded in the information transmitting means 3 shown in FIG. 1 and outputs it to the data processing device 6, and the data processing device 6 reads the calibration data.

【0055】S300において、計器特性値が演算され
る。計器特性値演算部7は、データ入力装置5が出力す
る校正データに基づいて、ゼロドリフト、スパンドリフ
ト、リニアリティ、ヒステリシス及び静圧特性を各計器
毎に演算する。
In S300, an instrument characteristic value is calculated. The instrument characteristic value computing section 7 computes zero drift, span drift, linearity, hysteresis, and static pressure characteristics for each instrument based on the calibration data output from the data input device 5.

【0056】S400において、重要度が分類される。
重要度分類部8は、例えば、各計器毎に重要度に応じて
A,B,Cの3段階に分類する。
In S400, the degree of importance is classified.
The importance classifying unit 8 classifies the respective instruments into three stages of A, B, and C according to the importance.

【0057】S500において、相関係数が演算され
る。相関係数演算部9は、計器特性値演算部7が出力す
る計器特性値に関する情報に基づいて相関係数を演算す
る。
In S500, a correlation coefficient is calculated. The correlation coefficient calculator 9 calculates a correlation coefficient based on the information on the instrument characteristic value output from the instrument characteristic value calculator 7.

【0058】S600において、計器特性値に時間との
相関があるか否かが判断される。相関判断部10は、図
4に示すように、相関係数演算部9が出力する相関係数
に関する情報に基づいて、計器特性値に時間との相関が
あるか否かを判断する。相関係数演算部9が相関ありと
判断したときにはS700に進み、相関係数演算部9が
相関なしと判断したときにはS1200に進む。
In S600, it is determined whether or not the instrument characteristic value has a correlation with time. As shown in FIG. 4, the correlation determining unit 10 determines whether or not the instrument characteristic value has a correlation with time based on the information on the correlation coefficient output from the correlation coefficient calculating unit 9. When the correlation coefficient calculator 9 determines that there is a correlation, the process proceeds to S700, and when the correlation coefficient calculator 9 determines that there is no correlation, the process proceeds to S1200.

【0059】S700において、回帰直線が演算され
る。回帰直線演算部11は、計器特性値演算部7が出力
する計器特性値に関する情報に基づいて回帰直線を演算
する。
In S700, a regression line is calculated. The regression line calculation unit 11 calculates a regression line based on the information on the instrument characteristic value output from the instrument characteristic value calculation unit 7.

【0060】S800において、劣化傾向であるか否か
が判断される。劣化傾向判断部12は、図5に示すよう
に、回帰直線演算部11が出力する回帰直線に関する情
報に基づいて、計器が劣化傾向であるか否かを判断す
る。劣化傾向判断部12が劣化傾向なしと判断したとき
にはS900に進み、劣化傾向判断部12が劣化傾向あ
りと判断したときにはS1100に進む。
In S800, it is determined whether or not there is a tendency for deterioration. As illustrated in FIG. 5, the deterioration tendency determining unit 12 determines whether or not the meter has a deterioration tendency based on the information on the regression line output by the regression line calculation unit 11. When the deterioration tendency determining unit 12 determines that there is no deterioration tendency, the process proceeds to S900, and when the deterioration tendency determining unit 12 determines that there is a deterioration tendency, the process proceeds to S1100.

【0061】S900において、計器更新判断処理Aが
実行される。特性値予測演算部13が数1及び数3によ
って計器特性値を予測演算し、ドリフト量累積判断部1
4がドリフト方向及びドリフト量を演算するとともに、
更新可否判断部15が計器の更新可否を判断する。
At S900, an instrument update determination process A is executed. The characteristic value prediction calculation unit 13 predicts and calculates an instrument characteristic value according to Equations 1 and 3, and calculates the drift amount accumulation determination unit 1
4 calculates the drift direction and the drift amount,
The update availability determination unit 15 determines whether the instrument can be updated.

【0062】S1000において、次回校正スキップ可
否判断処理Aが実行される。誤差予測演算部16が数4
及び数5によって計器誤差を演算し、校正省略可否判断
部17が次回定期検査時における計器校正の省略可否を
判断する。
In step S1000, a next calibration skip determination processing A is executed. Equation 4
The instrument error is calculated using Equation 5 and Equation 5, and the calibration omission determination section 17 determines whether the instrument calibration can be omitted at the next periodic inspection.

【0063】S1100において、計器更新判断処理A
が実行される。計器が劣化傾向である場合には、S90
0と同様に計器更新判断処理Aは実行されるが、計器が
要注意状態であるために、次回校正スキップ可否判断処
理Aは実行されない。
In S1100, the instrument update determination processing A
Is executed. If the instrument is in a deteriorating tendency, S90
As in the case of 0, the instrument update determination processing A is executed. However, since the instrument is in the caution state, the next calibration skip availability determination processing A is not executed.

【0064】S1200において、計器更新判断処理B
が実行される。特性値予測演算部13が数2によって計
器特性値を予測演算し、ドリフト量累積判断部14がド
リフト方向及びドリフト量を演算するとともに、更新可
否判断部15が計器の更新可否を判断する。
In S1200, the instrument update determination processing B
Is executed. The characteristic value prediction calculation unit 13 predicts and calculates an instrument characteristic value according to Equation 2, the drift amount accumulation determination unit 14 calculates the drift direction and the drift amount, and the update availability determination unit 15 determines whether the instrument can be updated.

【0065】S1300において、次回校正スキップ可
否判断処理Bが実行される。誤差予測演算部16が数6
及び数7によって計器誤差を演算し、校正省略可否判断
部17が次回定期検査時における計器校正の省略可否を
判断する。
In S1300, a next calibration skipping / non-permission determining process B is executed. Equation 6
The instrument error is calculated using Equation 7 and Equation 7, and the calibration omission determination section 17 determines whether the instrument calibration can be omitted at the next periodic inspection.

【0066】次に、この発明の実施形態に係る計器評価
システムの計器更新判断処理Aを説明する。図9は、こ
の発明の実施形態に係る計器更新システムの計器更新判
断処理Aを説明するためのフローチャートである。S2
000において、次回特性値予測Aが実行される。図3
に示す特性値予測演算部13は、計器特性値演算部7が
演算した計器特性値に基づいて、次回定期検査時の計器
特性値を数1によって予測演算する。
Next, a description will be given of an instrument update determination process A of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention. FIG. 9 is a flowchart for explaining the instrument update determination processing A of the instrument update system according to the embodiment of the present invention. S2
000, the next characteristic value prediction A is executed. FIG.
The characteristic value prediction calculation section 13 shown in (1) predicts and calculates the instrument characteristic value at the time of the next periodic inspection based on the instrument characteristic value calculated by the meter characteristic value calculation section 7 using Equation 1.

【0067】S2100において、次回特性値予測が許
容範囲内であるか否かが判断される。更新可否判断部1
5は、特性値予測演算部13が予測演算した次回定期検
査時の計器特性値に基づいて、次回定期検査時の計器特
性値が許容範囲内であるか否かを判断する。次回検査時
の計器特性値が許容範囲内ではないと判断されたときに
はS2200に進み、次回検査時の計器特性値が許容範
囲内であると判断されたときにはS2300に進む。
In S2100, it is determined whether or not the next characteristic value prediction is within an allowable range. Update availability determination unit 1
5 determines whether or not the instrument characteristic value at the time of the next periodic inspection is within an allowable range, based on the instrument characteristic value at the time of the next periodic inspection, which is predicted and calculated by the characteristic value prediction operation unit 13. When it is determined that the instrument characteristic value at the next inspection is not within the allowable range, the process proceeds to S2200, and when it is determined that the instrument characteristic value at the next inspection is within the allowable range, the process proceeds to S2300.

【0068】S2200において、即時更新が推奨され
る。更新可否判断部15は、次回検査時の計器特性値が
許容範囲を超えると予測されるときには、直ちに計器を
交換するように推奨する。
In S2200, immediate update is recommended. When it is predicted that the instrument characteristic value at the time of the next inspection exceeds the allowable range, the update availability determination unit 15 recommends that the instrument be replaced immediately.

【0069】S2300において、次々回特性値予測A
が実行される。特性値予測演算部13は、計器特性値演
算部7が演算した計器特性値に基づいて、次々回定期検
査時の計器特性値を数3によって予測演算する。
In S2300, characteristic value prediction A
Is executed. The characteristic value prediction calculating section 13 predicts and calculates the instrument characteristic value at the time of the second periodic inspection based on the instrument characteristic value calculated by the meter characteristic value calculating section 7 according to Equation 3.

【0070】S2400において、次々回特性値予測が
許容範囲内であるか否かが判断される。更新可否判断部
15は、特性値予測演算部13が予測演算した次々回検
査時の計器特性値に基づいて、次々回検査時の計器特性
値が許容範囲内であるか否かを判断する。次々回検査時
の計器特性値が許容範囲内であると判断されたときには
S2500に進み、次々回検査時の計器特性値が許容範
囲内ではないと判断されたときにはS2900に進む。
At S2400, it is determined whether the characteristic value prediction is within the allowable range one after another. The update availability determination section 15 determines whether or not the instrument characteristic value at the time of the second inspection is within the allowable range based on the instrument characteristic value at the time of the second inspection, which is predicted and calculated by the characteristic value prediction operation section 13. When it is determined that the instrument characteristic value at the time of the second inspection is within the allowable range, the process proceeds to S2500, and when it is determined that the instrument characteristic value at the time of the second inspection is not within the allowable range, the process proceeds to S2900.

【0071】S2500において、評価項目がゼロドロ
フト又はスパンドリフトであるか否かが判断される。更
新可否判断部15は、評価項目がゼロドロフト又はスパ
ンドリフトであるか否かを判断し、評価項目がゼロドロ
フト又はスパンドリフトであるときにはS2600に進
み、評価項目がゼロドロフト又はスパンドリフトではな
いときにはS2800に進む。
In S2500, it is determined whether the evaluation item is zero draft or span drift. The update availability determination unit 15 determines whether the evaluation item is zero draft or span drift, and proceeds to S2600 when the evaluation item is zero draft or span drift, and proceeds to S2800 when the evaluation item is not zero draft or span drift. .

【0072】S2600において、ドリフト方向が同一
で総和が所定値を超えたか否かが判断される。ドリフト
量累積判断部14は、今回定期検査時までの計器特性値
のドリフト方向が同一であり、かつ、今回定期検査時ま
での計器特性値のドリフト量の総和が所定値を超えたか
否かを判断する。ドリフト方向が同一であり、かつ、ド
リフト量の総和が所定値を超えたときにはS2700に
進み、ドリフト方向が同一ではなく、かつ、ドリフト量
の総和が所定値を下回るときにはS2800に進む。
At S2600, it is determined whether the drift directions are the same and the sum exceeds a predetermined value. The drift amount accumulation determination unit 14 determines whether the drift direction of the instrument characteristic value is the same up to the current periodic inspection and whether the sum of the drift amounts of the instrument characteristic value up to the current periodic inspection has exceeded a predetermined value. to decide. When the drift directions are the same and the sum of the drift amounts exceeds a predetermined value, the process proceeds to S2700, and when the drift directions are not the same and the sum of the drift amounts is less than the predetermined value, the process proceeds to S2800.

【0073】S2700において、次回更新が推奨され
る。更新可否判断部15は、これまでのドリフト傾向か
ら判断して、次回定期検査時に計器を更新するように推
奨する。
At S2700, the next update is recommended. The update permission / inhibition judging unit 15 judges from the drift tendency so far and recommends that the instrument be updated at the next periodic inspection.

【0074】S2800において、次回更新が不要と判
断される。更新可否判断部15は、次回定期検査時及び
次々回定期検査時に計器特性値が許容範囲内であると予
測されるために、次回定期検査時に計器を更新する必要
がないと判断する。
In S2800, it is determined that the next update is unnecessary. The update availability determination unit 15 determines that it is not necessary to update the instrument at the next periodic inspection because the instrument characteristic value is predicted to be within the allowable range at the next periodic inspection and at the next periodic inspection.

【0075】S2900において、次回更新が推奨され
る。更新可否判断部15は、次回定期検査時に計器を正
しく校正しても、次々回定期検査時に計器特性値が許容
範囲を超えると予測されるために次回定期検査時に計器
を更新するように推奨する。
In S2900, the next update is recommended. Even if the instrument is correctly calibrated at the next periodic inspection, the update availability determination unit 15 recommends updating the instrument at the next periodic inspection because the instrument characteristic value is expected to exceed the allowable range at the next periodic inspection.

【0076】次に、この発明の実施形態に係る計器評価
システムの次回校正スキップ可否判断処理Aを説明す
る。図10は、この発明の実施形態に係る計器更新シス
テムの次回校正スキップ可否判断処理Aを説明するため
のフローチャートである。S3000において、最大誤
差が所定範囲内であるか否かが判断される。校正省略可
否判断部17は、今回定期検査時までの最大誤差が所定
範囲内であるか否かを判断する。今回定期検査時までの
最大誤差が所定範囲内であるときにはS3100に進
み、今回定期検査時までの最大誤差が所定範囲外である
ときにはS3400に進む。
Next, the next calibration skip determination processing A of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention will be described. FIG. 10 is a flowchart for explaining the next calibration skipping possibility determination process A of the instrument updating system according to the embodiment of the present invention. In S3000, it is determined whether or not the maximum error is within a predetermined range. The calibration omission determination section 17 determines whether or not the maximum error up to the current periodic inspection is within a predetermined range. When the maximum error up to the current periodic inspection is within the predetermined range, the process proceeds to S3100, and when the maximum error up to the current periodic inspection is outside the predetermined range, the process proceeds to S3400.

【0077】S3100において、次々回誤差予測Aが
実行される。誤差予測演算部16は、計器特性値演算部
7が演算した計器特性値に基づいて、次々回定期検査時
の計器誤差を数4及び数5によって予測演算する。
In S3100, error prediction A is performed one after another. The error prediction calculation section 16 predicts and calculates the meter error at the time of the next periodic inspection based on the instrument characteristic values calculated by the instrument characteristic value calculation section 7 using Equations 4 and 5.

【0078】S3200において、次々回誤差予測が許
容範囲内であるか否かが判断される。校正省略可否判断
部17は、誤差予測演算部16が予測演算した計器誤差
に基づいて、次々回定期検査時の計器誤差が許容範囲内
であるか否かを判断する。次々回定期検査時の計器誤差
が許容範囲内であるときにはS3300に進み、次々回
定期検査時の計器誤差が許容範囲内ではないときにはS
3400に進む。
At S3200, it is determined whether the error prediction is within an allowable range one after another. The calibration omission determination section 17 determines whether or not the instrument error at the time of the next periodic inspection is within an allowable range, based on the instrument error predicted and calculated by the error prediction calculation section 16. If the instrument error at the time of the second periodic inspection is within the allowable range, the process proceeds to S3300, and if the instrument error at the time of the second periodic inspection is not within the allowable range, the process proceeds to S3300.
Proceed to 3400.

【0079】S3300において、次回校正スキップが
可能であると判断される。校正省略可否判断部17は、
今回定期検査時までの計器特性値が良好であり計器に劣
化傾向がなく、次々回定期検査時の計器誤差が許容範囲
内であると予測されるときには、次回定期検査時に計器
の校正を省略できると判断する。
In S3300, it is determined that the next calibration skip is possible. The calibration omission determination section 17
If the instrument characteristic values up to this time of the periodic inspection are good and the instrument does not have a tendency to deteriorate, and it is predicted that the instrument error at the next periodic inspection is within the allowable range, it is possible to omit the calibration of the instrument at the next periodic inspection. to decide.

【0080】S3400において、次回校正スキップが
不可能であると判断される。校正省略可否判断部17
は、今回定期検査時までの最大誤差が計器精度/所定値
の範囲を超える場合や、次々回定期検査時の計器誤差が
許容範囲を超える場合には、次回定期検査時に計器の校
正を省略できないと判断する。
In S3400, it is determined that the next calibration skip is not possible. Calibration omission determination section 17
If the maximum error up to the current periodic inspection exceeds the range of instrument accuracy / predetermined value, or if the instrument error during the next periodic inspection exceeds the allowable range, it is necessary to omit calibration of the instrument at the next periodic inspection. to decide.

【0081】次に、この発明の実施形態に係る計器評価
システムの計器更新判断処理Bを説明する。図11は、
この発明の実施形態に係る計器更新システムの計器更新
判断処理Bを説明するためのフローチャートである。計
器更新判断処理Bは、図9に示す計器更新判断処理Aの
S2000及びS2300に対応するS4000及びS
4300の予測演算方法が異なる。以下では、図11に
示すS4000及びS4300のみを説明し、図9に示
すステップと同一のステップについては、対応する番号
を付して詳細な説明を省略する。
Next, a description will be given of an instrument update determination process B of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention. FIG.
It is a flowchart for demonstrating the instrument update determination process B of the instrument update system which concerns on embodiment of this invention. The instrument update determination processing B includes S4000 and S4000 corresponding to S2000 and S2300 of the instrument update determination processing A shown in FIG.
4300 is different from the prediction calculation method. Hereinafter, only S4000 and S4300 shown in FIG. 11 will be described, and the same steps as those shown in FIG. 9 will be denoted by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted.

【0082】S4000において、次回特性値予測Bが
実行される。図3に示す特性値予測演算部13は、計器
特性値演算部7が演算した計器特性値に時間との相関が
ないときには、次回定期検査時の計器特性値を数2によ
って予測演算する。
In S4000, next characteristic value prediction B is executed. When there is no correlation between time and the instrument characteristic value computed by the instrument characteristic value computing section 7, the characteristic value prediction computing section 13 shown in FIG.

【0083】S4300において、次々回特性値予測B
が実行される。特性値予測演算部13は、計器特性値演
算部7が演算した計器特性値に基づいて、次々回定期検
査時の計器特性値を数2によって予測演算する。
In S4300, characteristic value prediction B
Is executed. The characteristic value predicting operation unit 13 predicts and calculates the instrument characteristic value at the time of the next periodic inspection based on the instrument characteristic value calculated by the instrument characteristic value calculating unit 7 according to Equation 2.

【0084】次に、この発明の実施形態に係る計器評価
システムの次回校正スキップ可否判断処理Bを説明す
る。図12は、この発明の実施形態に係る計器更新シス
テムの次回校正スキップ可否判断処理Bを説明するため
のフローチャートである。次回校正スキップ可否判断処
理Bは、図10に示す次回校正スキップ可否判断処理A
のS3100に対応するS5100と予測演算方法が異
なる。以下では、図12に示すS5100のみを説明
し、図10に示すステップと同一のステップについて
は、対応する番号を付して詳細な説明を省略する。S5
100において、次々回誤差予測Bが実行される。誤差
予測演算部16は、計器特性値演算部7が演算した計器
特性値に時間との相関がないときには、次々回定期検査
時の計器誤差を数6及び数7によって予測演算する。
Next, the next calibration skip determination processing B of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention will be described. FIG. 12 is a flowchart for explaining the next calibration skipping availability determination process B of the instrument updating system according to the embodiment of the present invention. The next calibration skip enable / disable determination process B is a next calibration skip enable / disable determination process A shown in FIG.
Is different from S5100 corresponding to S3100 of FIG. Hereinafter, only S5100 shown in FIG. 12 will be described, and the same steps as those shown in FIG. 10 will be denoted by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted. S5
At 100, the error prediction B is performed one after another. When there is no correlation between the instrument characteristic value computed by the instrument characteristic value computing section 7 and time, the error prediction computing section 16 predicts and computes the instrument error at the time of the second periodic inspection by the following equations (6) and (7).

【0085】図13は、この発明の実施形態に係る計器
更新システムの計器特性値の予測結果を示す図である。
図13に示す予測結果は、過去8回までの定期検査時の
校正データに基づいて、計器重要度を考慮せずに9回目
の定期検査時の計器特性値を予測した結果である。図1
3(A)は最近3回の校正データによる予測結果であ
り、図13(B)は最近5回の校正データによる予測結
果であり、図13(C)は最近7回の校正データによる
予測結果である。ここで、「A.時間依存性あり(相関
あり)」は数1による予測結果であり、「B.時間依存
性なし(相関なし)」は数2による予測結果であり、
「A+B」はこれらの予測結果の合計である。k=1,
k=1.5,k=2は、数1及び数2に示す係数P,Q
に対応する。評価項目Zはゼロドリフトであり、Sはス
パンドリフトであり、Hはヒステリシスであり、Lはリ
ニアリティである。該当件数は、9回定期検査時の実測
値が9回定期検査時の予測範囲内に含まれる個数(タグ
数)と割合(%)である。図13に示すように、校正デ
ータの件数が多くなるほど予測精度が高くなる。また、
予測の幅が狭く厳しくなるk=1の場合には、予測の幅
が広く緩くなるk=2の場合に比べて、予測範囲内に含
まれる個数が少なくなり割合が小さくなる。
FIG. 13 is a diagram showing a prediction result of the instrument characteristic value of the instrument updating system according to the embodiment of the present invention.
The prediction result shown in FIG. 13 is a result of predicting the instrument characteristic value at the time of the ninth regular inspection without considering the instrument importance based on the calibration data at the time of the past eight regular inspections. FIG.
3 (A) is a prediction result based on the latest three calibration data, FIG. 13 (B) is a prediction result based on the latest five calibration data, and FIG. 13 (C) is a prediction result based on the latest seven calibration data. It is. Here, “A. With time dependency (with correlation)” is a prediction result by Expression 1, and “B. Without time dependency (without correlation)” is a prediction result by Expression 2,
“A + B” is the sum of these prediction results. k = 1
k = 1.5 and k = 2 are coefficients P and Q shown in Equations 1 and 2.
Corresponding to Evaluation item Z is zero drift, S is span drift, H is hysteresis, and L is linearity. The number of hits is the number (the number of tags) and the ratio (%) in which the actual measurement value at the time of the nine regular inspections falls within the prediction range at the time of the nine regular inspections. As shown in FIG. 13, the prediction accuracy increases as the number of calibration data items increases. Also,
In the case of k = 1 where the width of prediction is narrow and strict, the number included in the prediction range is smaller and the ratio is smaller than in the case of k = 2 where the width of prediction is wide and gradual.

【0086】なお、校正省略可否判断部は、誤差予測演
算部の演算結果に基づいて、次回に限らず、n回後の検
査時(nは2以上の整数)に前記計器の校正を省略でき
るか否かを判断してもよい。
The calibration omission determination section can omit the calibration of the meter based on the calculation result of the error prediction calculation section not only at the next time but also at the time of n-times inspection (n is an integer of 2 or more). It may be determined whether or not.

【0087】また、校正省略可否判断部は、次々回に限
らず、(n+1)回後の検査時の計器誤差が許容範囲内
であると予測されるときには、n回後の検査時に前記計
器の校正を省略できると判断し、(n+1)回後の検査
検時の計器誤差が許容範囲外であると予測されるときに
は、n回後の検査時に前記計器の校正を省略できないと
判断してもよい。
Further, the calibration omission / non-judgment determining section is not limited to the successive times, and when the instrument error at the time of the inspection after (n + 1) times is predicted to be within the allowable range, the calibration of the meter at the time of the n times inspection is performed. May be omitted, and when it is predicted that the instrument error at the time of the (n + 1) -time inspection and inspection is out of the allowable range, it may be determined that the calibration of the instrument cannot be omitted at the time of the n-th inspection. .

【0088】以下に、実施例で用いた用語の補足説明を
する。
The following is a supplementary explanation of terms used in the embodiments.

【0089】平均 算術平均(相加平均)をあらわす。Mean Represents the arithmetic mean (arithmetic mean).

【数式1】 [Formula 1]

【0090】標準偏差 母集団に対する標準偏差をあらわす。Standard Deviation The standard deviation for the population is expressed.

【数式2】 標準偏差とは、統計的な対象となる値がその平均からど
れだけ広い範囲に分布しているかを計量したものである
[Formula 2] Standard deviation is a measure of how widely a statistically significant value is distributed from its average

【0091】回帰直線の傾き 既知のx とyのデータから最小二乗法により回帰直線を
求める。
Slope of regression line A regression line is obtained from the known x and y data by the least square method.

【数式3】 回帰直線の傾きは上式により与えられる[Equation 3] The slope of the regression line is given by the above equation

【0092】標準偏差 個別のx の値に対するy の予測値と実測値との誤差の程
度を計測するための尺度である。
Standard deviation This is a measure for measuring the degree of error between the predicted value of y and the actually measured value with respect to the individual value of x.

【数式4】 (Equation 4)

【0093】相関計数 相関係数は、2 つの特性(X, Y)の関係を判断するときに
使用する。相関係数は、+1〜−1の範囲であり絶対値
が1に近いほど強い相関を示す。
Correlation coefficient The correlation coefficient is used to determine the relationship between two characteristics (X, Y). The correlation coefficient is in the range of +1 to -1, and the closer the absolute value is to 1, the stronger the correlation.

【数式5】 (Equation 5)

【0094】この実施形態に係る計器評価システムに
は、以下に記載する効果がある。 (1) この実施形態では、計器特性値と時間との相関係数
を演算して、計器特性値に時間との相関があるか否かが
判断される。その結果、計器の検査や校正に関する履歴
データを分析して計器の保全指針などを明確にすること
ができるとともに、計器の振る舞いや傾向を正しく認識
することができる。
The meter evaluation system according to this embodiment has the following effects. (1) In this embodiment, a correlation coefficient between an instrument characteristic value and time is calculated to determine whether or not the instrument characteristic value has a correlation with time. As a result, it is possible to clarify the maintenance guidelines and the like of the instrument by analyzing the history data relating to the inspection and calibration of the instrument, and to correctly recognize the behavior and tendency of the instrument.

【0095】(2) この実施形態では、今回定期検査時ま
での計器特性値に基づいて、次回定期検査時の計器特性
値が予測演算される。その結果、過去の校正データから
計器の特性値を予測して、計器特性値の時間依存性を定
量化するころができるとともに、次回定期検査時におけ
る計器特性値の予測演算をモデル化及び定量化すること
ができる。
(2) In this embodiment, the instrument characteristic values at the next periodic inspection are predicted and calculated based on the instrument characteristic values up to the current periodic inspection. As a result, it is possible to predict instrument characteristic values from past calibration data to quantify the time dependence of instrument characteristic values, and to model and quantify the predictive calculation of instrument characteristic values at the next periodic inspection. can do.

【0096】(3) この実施形態では、計器特性値の予測
演算結果に基づいて、計器を更新する必要があるか否か
が判断される。その結果、計器の更新時期を的確に判断
し決定することができる。
(3) In this embodiment, it is determined whether or not the instrument needs to be updated based on the result of the prediction calculation of the instrument characteristic value. As a result, it is possible to accurately determine and determine the update time of the instrument.

【0097】(4) この実施形態では、計器誤差の予測演
算結果に基づいて、次回定期検査時に計器の校正を省略
することができるか否かが判断される。その結果、計器
の検査校正周期を延長することができる。
(4) In this embodiment, it is determined whether or not the calibration of the instrument can be omitted at the next periodic inspection based on the calculation result of the instrument error prediction. As a result, the inspection and calibration cycle of the instrument can be extended.

【0098】(5) この実施形態では、ゼロドリフト、ス
パンドリフト、リニアリティ、ヒステリシス及び静圧特
性の5つの計器特性値が評価される。その結果、計器精
度の単なる評価ではなく計器特性の評価項目を明確化し
て、過去の校正データから計器特性値を的確に評価する
ことができる。
(5) In this embodiment, five instrument characteristic values of zero drift, span drift, linearity, hysteresis, and static pressure characteristic are evaluated. As a result, it is possible to clarify the evaluation items of the instrument characteristics, not just the evaluation of the instrument accuracy, and accurately evaluate the instrument characteristic values from the past calibration data.

【0099】この発明は、以上説明した実施形態に限定
するものではなく、種々の変形又は変更が可能であり、
これらもこの発明の範囲内である。例えば、この実施形
態では、900日間の変化量が計器精度の50%を超え
るレベルをしきい値(標準値)に定めているがしきい値
は今後の傾向分析によって再評価し更新してもよい。ま
た、N回定期検査時及びN+1回定期検査時の計器特性
値を予測演算して、N回定期検査時の更新可否や校正省
略可否を判断してもよい。さらに、校正システム2と分
析システム4とを一体にしてもよいし、情報記録媒体以
外の通信手段などによって校正システム2と分析システ
ムとを接続してもよい。
The present invention is not limited to the embodiment described above, but can be variously modified or changed.
These are also within the scope of the present invention. For example, in this embodiment, the threshold (standard value) is set to a level at which the amount of change for 900 days exceeds 50% of the instrument accuracy, but the threshold may be re-evaluated and updated by future trend analysis. Good. Further, the instrument characteristic values at the time of the N regular inspections and at the time of the N + 1 regular inspections may be predicted and calculated to determine whether or not the N regular inspections can be updated and whether or not the calibration can be omitted. Further, the calibration system 2 and the analysis system 4 may be integrated, or the calibration system 2 and the analysis system may be connected by communication means other than the information recording medium.

【0100】[0100]

【発明の効果】以上説明したように、この発明による
と、計器特性値と時間との相関係数を演算して、計器特
性値に時間との相関があるか否かを判断するので、過去
の校正データを的確に評価することができる。
As described above, according to the present invention, the correlation coefficient between an instrument characteristic value and time is calculated to determine whether or not the instrument characteristic value has a correlation with time. Calibration data can be accurately evaluated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施形態に係る計器評価システムの
構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of an instrument evaluation system according to an embodiment of the present invention.

【図2】この発明の実施形態に係る計器評価システムの
校正システムの構成図である。
FIG. 2 is a configuration diagram of a calibration system of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention.

【図3】この発明の実施形態に係る計器校正システムの
分析システムのブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram of an analysis system of the instrument calibration system according to the embodiment of the present invention.

【図4】この発明の実施形態に係る計器評価システムの
相関判断部の判断方法を説明するための図であり、
(A)は計器特性値と時間とに相関がある場合であり、
(B)は計器特性値と時間とに相関がない場合である。
FIG. 4 is a diagram for explaining a judgment method of a correlation judgment unit of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention;
(A) is a case where there is a correlation between the instrument characteristic value and time,
(B) is a case where there is no correlation between the instrument characteristic value and time.

【図5】この発明の実施形態に係る計器評価システムの
劣化傾向判断部の判断方法を説明するための図であり、
(A)は劣化傾向である場合であり、(B)は劣化傾向
ではない場合である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a judgment method of a deterioration tendency judgment unit of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention;
(A) shows a case where the image has a tendency to deteriorate, and (B) shows a case where the image does not have a deterioration tendency.

【図6】この発明の実施形態に係る計器評価システムの
特性値予測演算部の予測方法を説明するための図であ
り、(A)は計器特性値に時間依存性がある(相関あ
り)場合であり、(B)は計器特性値に時間依存性がな
い(相関なし)場合である。
6A and 6B are diagrams for explaining a prediction method of a characteristic value prediction calculation unit of the instrument evaluation system according to the embodiment of the present invention. FIG. 6A illustrates a case where the instrument characteristic value has a time dependency (correlation exists). (B) is a case where the instrument characteristic value has no time dependency (no correlation).

【図7】この発明の実施形態に係る計器評価システムの
校正省略可否判断部の判断方法を説明するための図であ
る。
FIG. 7 is a diagram for explaining a determination method of a calibration omission determination section of the meter evaluation system according to the embodiment of the present invention.

【図8】この発明の実施形態に係る計器評価システムの
動作を説明するためのフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart for explaining the operation of the meter evaluation system according to the embodiment of the present invention.

【図9】この発明の実施形態に係る計器更新システムの
計器更新判断処理Aを説明するためのフローチャートで
ある。
FIG. 9 is a flowchart illustrating an instrument update determination process A of the instrument update system according to the embodiment of the present invention.

【図10】この発明の実施形態に係る計器更新システム
の次回校正スキップ可否判断処理Aを説明するためのフ
ローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart for explaining a next calibration skip possibility determination process A of the instrument updating system according to the embodiment of the present invention.

【図11】この発明の実施形態に係る計器更新システム
の計器更新判断処理Bを説明するためのフローチャート
である。
FIG. 11 is a flowchart illustrating an instrument update determination process B of the instrument update system according to the embodiment of the present invention.

【図12】この発明の実施形態に係る計器更新システム
の次回校正スキップ可否判断処理Bを説明するためのフ
ローチャートである。
FIG. 12 is a flowchart for explaining a next calibration skip possibility determination process B of the instrument updating system according to the embodiment of the present invention.

【図13】この発明の実施形態に係る計器更新システム
の計器特性値の予測結果を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing a prediction result of an instrument characteristic value of the instrument updating system according to the embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 計器評価システム 2 校正システム 3 情報伝達手段 4 分析システム 6 データ処理装置 7 計器特性値演算部 9 相関係数演算部 10 相関判断部 11 回帰直線演算部 12 劣化傾向判断部 13 特性値予測演算部 14 ドリフト量累積判断部 15 更新可否判断部 16 誤差予測演算部 17 校正省略可否判断部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Instrument evaluation system 2 Calibration system 3 Information transmission means 4 Analysis system 6 Data processing device 7 Instrument characteristic value operation part 9 Correlation coefficient operation part 10 Correlation judgment part 11 Regression line operation part 12 Deterioration tendency judgment part 13 Characteristic value prediction operation part 14 Drift amount accumulation determination unit 15 Update availability determination unit 16 Error prediction calculation unit 17 Calibration omission availability determination unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 寺門 定範 東京都千代田区大手町1丁目6番1号 日 本原子力発電株式会社内 (72)発明者 北 良平 東京都立川市栄町6丁目1番3号 横河エ ンジニアリングサービス株式会社内 (72)発明者 板倉 浩 東京都立川市栄町6丁目1番3号 横河エ ンジニアリングサービス株式会社内 (72)発明者 園田 寛信 東京都立川市栄町6丁目1番3号 横河エ ンジニアリングサービス株式会社内 Fターム(参考) 2F076 AA00 BA12 BA16 BA18  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Tomonori Teramon 1-6-1, Otemachi, Chiyoda-ku, Tokyo Japan Nuclear Power Co., Inc. (72) Ryohei Kita 6-3-1, Sakaemachi, Tachikawa-shi, Tokyo No. Yokogawa Engineering Service Co., Ltd. (72) Inventor Hiroshi Itakura 1-3-1, Sakaemachi, Tachikawa-shi, Tokyo (72) Inventor Hironobu Sonoda 6 Sakaemachi, Tachikawa-shi, Tokyo No. 1-3, F-term in Yokogawa Engineering Service Co., Ltd. (reference) 2F076 AA00 BA12 BA16 BA18

Claims (19)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 計器の入出力特性を表わす計器特性値の
時間による変化を分析して、前記計器の傾向を評価する
計器評価システムであって、 前記計器特性値と前記時間との相関係数を演算する相関
係数演算部と、 前記相関係数演算部の演算結果に基づいて、前記計器特
性値に前記時間との相関があるか否かを判断する相関判
断部と、 を含む計器評価システム。
1. An instrument evaluation system for analyzing a change with time of an instrument characteristic value representing an input / output characteristic of an instrument to evaluate a tendency of the instrument, wherein a correlation coefficient between the instrument characteristic value and the time is provided. A correlation coefficient calculating unit that calculates the correlation coefficient calculating unit; and a correlation determining unit that determines whether the meter characteristic value has a correlation with the time based on the calculation result of the correlation coefficient calculating unit. system.
【請求項2】 請求項1に記載の計器評価システムにお
いて、 前記相関判断部は、前記相関係数が所定値よりも大きい
ときには、前記計器特性値に前記時間との相関があると
判断し、前記相関係数が所定値よりも小さいときには、
前記計器特性値に前記時間との相関がないと判断するこ
と、 を特徴とする計器評価システム。
2. The instrument evaluation system according to claim 1, wherein the correlation determining unit determines that the instrument characteristic value has a correlation with the time when the correlation coefficient is larger than a predetermined value; When the correlation coefficient is smaller than a predetermined value,
Determining that the instrument characteristic value has no correlation with the time.
【請求項3】 請求項1又は請求項2に記載の計器評価
システムにおいて、 前記計器特性値に前記時間との相関があるときには、こ
の計器特性値とこの時間との回帰直線を演算する回帰直
線演算部と、 前記回帰直線演算部の演算結果に基づいて、前記計器が
劣化傾向であるか否かを判断する劣化傾向判断部と、 を含む計器評価システム。
3. The instrument evaluation system according to claim 1, wherein when the instrument characteristic value has a correlation with the time, a regression line for calculating a regression line between the instrument characteristic value and the time. An instrument evaluation system, comprising: an operation unit; and a deterioration tendency determination unit that determines whether or not the instrument has a deterioration tendency based on the operation result of the regression line operation unit.
【請求項4】 請求項3に記載の計器評価システムにお
いて、 前記劣化傾向判断部は、前記回帰直線の傾きが所定値よ
りも大きいときには、前記計器が劣化傾向であると判断
し、前記回帰直線の傾きが所定値よりも小さいときに
は、劣化傾向ではないと判断すること、 を特徴とする計器評価システム。
4. The instrument evaluation system according to claim 3, wherein the deterioration tendency judging section judges that the instrument is deteriorating when the slope of the regression line is larger than a predetermined value, and determines the regression line. When the slope of the instrument is smaller than a predetermined value, it is determined that the apparatus does not tend to deteriorate.
【請求項5】 請求項1から請求項4までのいずれか1
項に記載の計器評価システムにおいて、 今回検査時までの計器特性値に基づいて、次回検査時の
計器特性値を予測演算する特性値予測演算部を備えるこ
と、 を特徴とする計器評価システム。
5. The method according to claim 1, wherein:
2. The instrument evaluation system according to claim 1, further comprising: a characteristic value predicting operation unit that predicts and calculates an instrument characteristic value at the next inspection based on the instrument characteristic value up to the current inspection.
【請求項6】 請求項5に記載の計器評価システムにお
いて、 前記特性値予測演算部は、前記計器特性値に前記時間と
の相関があるときには、前記回帰直線と前記計器特性値
との標準誤差及び前記回帰直線の傾きに基づいて、次回
検査時の計器特性値を予測演算し、前記計器特性値に前
記時間との相関がないときには、前記計器特性値の平均
値と標準偏差とに基づいて、次回検査時の計器特性値を
予測演算すること、 を特徴とする計器評価システム。
6. The instrument evaluation system according to claim 5, wherein the characteristic value prediction calculation unit is configured to determine a standard error between the regression line and the instrument characteristic value when the instrument characteristic value has a correlation with the time. And, based on the slope of the regression line, predictive calculation of the instrument characteristic value at the next inspection, when the instrument characteristic value has no correlation with the time, based on the average value and the standard deviation of the instrument characteristic value A predictive calculation of an instrument characteristic value at the next inspection;
【請求項7】 請求項5又は請求項6に記載の計器評価
システムにおいて、 前記特性値予測演算部は、次回検査時の計器特性値が許
容範囲内であると予測されるときには、今回検査時まで
の計器特性値に基づいて、次々回検査時の計器特性値を
予測演算すること、 を特徴とする計器評価システム。
7. The instrument evaluation system according to claim 5, wherein the characteristic value predicting operation unit determines that the instrument characteristic value at the time of the next inspection is within the allowable range, and that the characteristic value prediction operation unit performs the current inspection. A predictive calculation of the instrument characteristic value at the time of the second inspection based on the instrument characteristic value up to and including:
【請求項8】 請求項7に記載の計器評価システムにお
いて、 前記特性値予測演算部は、前記計器特性値に前記時間と
の相関があるときには、前記回帰直線と前記計器特性値
との標準誤差及び前記回帰直線の傾きに基づいて、次々
回検査時の計器特性値を予測演算し、前記計器特性値に
前記時間との相関がないときには、前記計器特性値の平
均値と標準偏差とに基づいて、次々回検査時の計器特性
値を予測演算すること、 を特徴とする計器評価システム。
8. The instrument evaluation system according to claim 7, wherein the characteristic value predicting / calculating section includes a standard error between the regression line and the instrument characteristic value when the instrument characteristic value has a correlation with the time. And, based on the slope of the regression line, to predict and calculate the instrument characteristic value at the time of the second inspection, when the instrument characteristic value has no correlation with the time, based on the average value and the standard deviation of the instrument characteristic value A predictive calculation of an instrument characteristic value at the time of successive inspections.
【請求項9】 請求項7又は請求項9に記載の計器評価
システムにおいて、 前記特性値予測演算部の演算結果に基づいて、前記計器
を更新する必要があるか否かを判断する更新可否判断部
を備えること、 を特徴とする計器評価システム。
9. The instrument evaluation system according to claim 7, wherein whether or not the instrument needs to be updated is determined based on a calculation result of the characteristic value prediction calculation unit. An instrument evaluation system, comprising:
【請求項10】 請求項9に記載の計器評価システムに
おいて、 前記更新可否判断部は、次回検査時の計器特性値が許容
範囲外であると予測されるときには、前記計器を即時に
更新する必要があると判断すること、 を特徴とする計器評価システム。
10. The instrument evaluation system according to claim 9, wherein the update availability determination unit needs to immediately update the instrument when it is predicted that the instrument characteristic value at the next inspection is out of an allowable range. Determining that there is a meter evaluation system.
【請求項11】 請求項9又は請求項10に記載の計器
評価システムにおいて、 前記更新可否判断部は、次々回検査時の計器特性値が許
容範囲外であると予測されるときには、次回検査時に前
記計器を更新する必要があると判断し、次々回検査時の
計器特性値が許容範囲内であると予測されるときには、
次回検査時に前記計器を更新する必要がないと判断する
こと、 を特徴とする計器評価システム。
11. The instrument evaluation system according to claim 9, wherein the update availability determination unit is configured to perform the update at the next inspection when it is predicted that the instrument characteristic value at the time of the next inspection is out of an allowable range. When it is determined that the instrument needs to be updated and the instrument characteristic value at the time of the next inspection is predicted to be within the allowable range,
Determining that there is no need to update the instrument at the next inspection.
【請求項12】 請求項9又は請求項10に記載の計器
評価システムにおいて、 次々回検査時の計器特性値が許容範囲内であると予測さ
れるときには、今回検査時までの計器特性値のドリフト
方向が同一であり、かつ、今回検査時までの計器特性値
のドリフト量の総和が所定値を超えるか否かを判断する
ドリフト量累積判断部を備えること、 を特徴とする計器評価システム。
12. The instrument evaluation system according to claim 9, wherein when the instrument characteristic value at the time of the second inspection is predicted to be within an allowable range, the drift direction of the instrument characteristic value until the current inspection. And a drift amount accumulating judging unit for judging whether or not the sum of the drift amounts of the instrument characteristic values up to the current inspection exceeds a predetermined value.
【請求項13】 請求項12に記載の計器評価システム
において、 前記更新可否判断部は、前記ドリフト方向が同一であ
り、かつ、前記ドリフト量の総和が所定値を越えるとき
には、次回検査時に前記計器を更新する必要があると判
断し、前記ドリフト方向が同一ではなく、かつ、前記ド
リフト量の総和が所定値を下回るときには、次回検査時
に前記計器を更新する必要がないと判断すること、 を特徴とする計器評価システム。
13. The instrument evaluation system according to claim 12, wherein the update availability determination unit is configured to perform the update at the next inspection when the drift direction is the same and the sum of the drift amounts exceeds a predetermined value. When the drift direction is not the same and the sum of the drift amounts is less than a predetermined value, it is determined that it is not necessary to update the instrument at the next inspection. Instrument evaluation system.
【請求項14】 請求項9から請求項13までのいずれ
か1項に記載の計器評価システムにおいて、 前記計器が劣化傾向ではないときには、今回検査時まで
の計器特性値に基づいて、次々回検査時の計器誤差を予
測演算する誤差予測演算部を備えること、 を特徴とする計器評価システム。
14. The instrument evaluation system according to any one of claims 9 to 13, wherein when said instrument is not in a tendency to deteriorate, said instrument is inspected one after another based on instrument characteristic values up to the present inspection. An instrument evaluation system, comprising: an error prediction operation unit that predicts and calculates the instrument error.
【請求項15】 請求項14に記載の計器評価システム
において、 前記誤差予測演算部は、前記計器特性値に前記時間との
相関があるときには、前記回帰直線と前記計器特性値と
の標準誤差及び前記回帰直線の傾きに基づいて、次々回
検査時の計器誤差を予測演算し、前記計器特性値に前記
時間との相関がないときには、前記計器特性値の平均値
と標準偏差とに基づいて、次々回検査時の計器誤差を予
測演算すること、 を特徴とする計器評価システム。
15. The instrument evaluation system according to claim 14, wherein, when the instrument characteristic value has a correlation with the time, a standard error between the regression line and the instrument characteristic value. Based on the slope of the regression line, an instrument error at the time of successive inspections is predicted and calculated. A predictive calculation of an instrument error at the time of inspection;
【請求項16】 請求項14又は請求項15に記載の計
器評価システムにおいて、 前記誤差予測演算部の演算結果に基づいて、次回検査時
に前記計器の校正を省略できるか否かを判断する校正省
略可否判断部を備えること、 を特徴とする計器評価システム。
16. The instrument evaluation system according to claim 14, wherein the calibration of the instrument can be omitted at the next inspection based on a calculation result of the error prediction calculation unit. An instrument evaluation system, comprising: an availability determination unit.
【請求項17】 請求項16に記載の計器評価システム
において、 前記校正省略可否判断部は、次々回検査時の計器誤差が
許容範囲内であると予測されるときには、次回検査時に
前記計器の校正を省略できると判断し、次々回検査検時
の計器誤差が許容範囲外であると予測されるときには、
次回検査時に前記計器の校正を省略できないと判断する
こと、 を特徴とする計器評価システム。
17. The instrument evaluation system according to claim 16, wherein the calibration omission determination section performs calibration of the instrument at the next inspection when it is predicted that the instrument error at the next inspection is within an allowable range. If it is judged that it can be omitted and the instrument error at the time of the second inspection is expected to be out of the allowable range,
Determining that calibration of the instrument cannot be omitted at the next inspection.
【請求項18】 請求項16に記載の計器評価システム
において、 前記校正省略可否判断部は、誤差予測演算部の演算結果
に基づいて、n回後の検査時(nは2以上の整数)に前
記計器の校正を省略できるか否かを判断すること、 を特徴とする計器評価システム。
18. The instrument evaluation system according to claim 16, wherein the calibration omission / non-possibility determining unit performs n-times inspection (n is an integer of 2 or more) based on a calculation result of the error prediction calculation unit. Determining whether or not calibration of the instrument can be omitted.
【請求項19】 請求項17に記載の計器評価システム
において、 前記校正省略可否判断部は、(n+1)回後の検査時の
計器誤差が許容範囲内であると予測されるときには、n
回後の検査時に前記計器の校正を省略できると判断し、
(n+1)回後の検査検時の計器誤差が許容範囲外であ
ると予測されるときには、n回後の検査時に前記計器の
校正を省略できないと判断すること、 を特徴とする計器評価システム。
19. The instrument evaluation system according to claim 17, wherein the calibration omission determination unit determines that the instrument error at the time of the (n + 1) -time inspection is within an allowable range.
Judging that the calibration of the instrument can be omitted at the time of the subsequent inspection,
If the instrument error at the time of the (n + 1) -time inspection is predicted to be outside the allowable range, it is determined that the calibration of the instrument cannot be omitted at the time of the n-th inspection.
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