JP2002202765A - Display device - Google Patents

Display device

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JP2002202765A
JP2002202765A JP2001294295A JP2001294295A JP2002202765A JP 2002202765 A JP2002202765 A JP 2002202765A JP 2001294295 A JP2001294295 A JP 2001294295A JP 2001294295 A JP2001294295 A JP 2001294295A JP 2002202765 A JP2002202765 A JP 2002202765A
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level shifters
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潤 小山
Tomoaki Atami
知昭 熱海
Hiroyuki Miyake
博之 三宅
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a drive circuit for a display device, which can actualize low power consumption, while using a level shifter capable of securely converting the level of a signal with a low-voltage amplitude. SOLUTION: A source signal line drive circuit is divided into a plurality of stages of units and the operation of a source for current supply to level shifters of the respective units is subjected to on/off control. The current supply to the level shifters of stages which do not include circuits outputting pulses is stopped, and the current is supplied to only units including shift registers of stages in operation, so the power consumption can be made small.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、表示装置および表
示装置の駆動回路に関し、特に、絶縁体上に作成される
薄膜トランジスタを有するアクティブマトリクス型表示
装置およびアクティブマトリクス型表示装置の駆動回路
に関する。
The present invention relates to a display device and a driving circuit of the display device, and more particularly to an active matrix type display device having a thin film transistor formed on an insulator and a driving circuit of the active matrix type display device.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体製造技術の微細化が進み、
それに伴うLSIの小型化によって、携帯端末等の小型
機器への応用も進むことで、低消費電力化が要求される
ようになり、現在では、3.3[V]駆動などの低電源電
圧駆動のLSIが主流となっている。一方で、携帯端末
やコンピュータ用モニタなどの用途として近年需要の増
加が著しいLCD(液晶ディスプレイ)は、液晶の駆動
を10[V]〜20[V]の電圧振幅の信号によって行われ
ることが多く、その駆動回路には対応する高電源電圧で
駆動する回路部が少なくとも存在する。したがって、前
述の低電源電圧で駆動されるコントローラLSIと、高
電源電圧で駆動される液晶駆動用回路とは、信号の振幅
電圧幅を変化させるレベルシフタをもって接続すること
が不可欠となる。
2. Description of the Related Art In recent years, the miniaturization of semiconductor manufacturing technology has advanced,
With the accompanying miniaturization of LSIs, applications to small devices such as portable terminals have been progressing, and low power consumption has been required. Currently, low power supply voltage driving such as 3.3 [V] driving is required. Is the mainstream. On the other hand, LCDs (Liquid Crystal Displays), whose demand has been remarkably increasing in recent years as applications for mobile terminals and computer monitors, are often driven by signals having a voltage amplitude of 10 [V] to 20 [V]. The drive circuit has at least a circuit section driven by a corresponding high power supply voltage. Therefore, it is indispensable to connect the controller LSI driven by the low power supply voltage and the liquid crystal drive circuit driven by the high power supply voltage with a level shifter that changes the amplitude voltage width of the signal.

【0003】また、LCDのみならず、近年、エレクト
ロルミネッセンス素子(以後、EL素子と表記する。こ
こでは、一重項発光、三重項発光のいずれのものもEL
と定義する。)を用いたディスプレイが開発されたが、
こちらにおいても、低駆動電圧化への要求は強い。
In recent years, not only LCDs but also electroluminescent devices (hereinafter referred to as EL devices. Here, both singlet emission and triplet emission are EL devices).
Is defined. ) Was developed,
Here, too, there is a strong demand for lower drive voltage.

【0004】[0004]

【本発明以前の技術】図9は、表示装置のソース信号線
駆動回路の回路図の一例を示している。ここで、スター
トパルス、クロック信号、デジタル映像信号等は、表示
装置の外部から入力される信号であるが、これらは前述
のコントローラLSIから供給されるため、その電圧振
幅は一般に3.3[V]等の低電圧振幅である。よって、
図9に示した駆動回路においては、デジタル映像信号
は、入力直後にレベルシフタ905によってその電圧振
幅の変換(レベル変換)を受けている。クロック信号、
スタートパルス等、外部のコントローラLSIから入力
される信号は、特に図示しないが同様にレベル変換を受
ける。
FIG. 9 shows an example of a circuit diagram of a source signal line driving circuit of a display device. Here, the start pulse, the clock signal, the digital video signal, and the like are signals input from outside the display device. Since these are supplied from the above-described controller LSI, the voltage amplitude is generally 3.3 [V]. ] Low voltage amplitude. Therefore,
In the driving circuit shown in FIG. 9, the digital video signal is subjected to the conversion of the voltage amplitude (level conversion) by the level shifter 905 immediately after the input. Clock signal,
A signal input from an external controller LSI, such as a start pulse, is similarly subjected to level conversion although not shown.

【0005】回路の動作について説明する。クロック信
号、スタートパルスに従って、シフトレジスタ901か
らパルスが出力され、隣接した2段のパルスがNAND
回路903に入力される。NAND回路903において
は、2入力端子の両方にHi電位を持ったパルスの入力
があったときのみ、出力端子よりLo電位を持ったパル
スが出力され、これが後段のバッファ(Buf.と表
記)を通った後、第1のラッチパルスとなる。その後、
第1のラッチ回路906へと入力され、この第1のラッ
チパルスの入力タイミングに従って、レベルシフタ90
5によってレベル変換を受けたデジタル映像信号のラッ
チ動作が行われる。1段目から最終段まで、このラッチ
動作が完了した後、帰線期間内に第2のラッチパルスが
端子19に入力され、第1のラッチ回路906に保持さ
れている1水平期間分のデジタル映像信号は、一斉に第
2のラッチ回路907へと転送される。その後、ゲート
信号線が選択されている行の画素に信号を書き込み、映
像の表示を行う。
The operation of the circuit will be described. A pulse is output from the shift register 901 in accordance with the clock signal and the start pulse, and two adjacent pulses are NAND
The signal is input to the circuit 903. In the NAND circuit 903, only when a pulse having a Hi potential is input to both of the two input terminals, a pulse having a Lo potential is output from the output terminal, and this pulse is output to a buffer (referred to as Buf.) At a subsequent stage. After passing, it becomes the first latch pulse. afterwards,
The level is input to the first latch circuit 906, and the level shifter 90 is input in accordance with the input timing of the first latch pulse.
5, the latch operation of the digital video signal having undergone the level conversion is performed. After the completion of this latch operation from the first stage to the final stage, a second latch pulse is input to the terminal 19 within a retrace period, and the digital signal for one horizontal period held in the first latch circuit 906 is held. The video signal is simultaneously transferred to the second latch circuit 907. After that, a signal is written to a pixel in a row in which the gate signal line is selected, and an image is displayed.

【0006】図9におけるレベルシフタ905を、従来
のレベルシフタによって構成した例を図10(A)に示
す。このような構成のレベルシフタにおいては、入力信
号(In、Inb)の電圧振幅が3.3[V]程度と小さ
い場合、レベルシフタを構成するTFTのしきい値など
の影響により、正常なレベル変換を行うことは出来ない
場合がある。
FIG. 10A shows an example in which the level shifter 905 in FIG. 9 is constituted by a conventional level shifter. In the level shifter having such a configuration, when the voltage amplitude of the input signal (In, Inb) is as small as about 3.3 [V], normal level conversion is performed due to the influence of the threshold value of the TFT constituting the level shifter. You may not be able to do it.

【0007】そこで、図10(B)に示すような構成の
レベルシフタを用いる。図10(B)に示すレベルシフ
タは、差動増幅器によってレベル変換を行うものであ
り、入力信号の電圧振幅が小さい場合にも、確実なレベ
ル変換機能を実現することが出来るため、回路の低駆動
電圧化に対して非常に有効な回路である。ここで示し
た、差動増幅器を用いたレベルシフタは、特願2000
−193498号にて出願されているものである。
Therefore, a level shifter having a configuration as shown in FIG. 10B is used. The level shifter shown in FIG. 10B performs level conversion by a differential amplifier, and can realize a reliable level conversion function even when the voltage amplitude of an input signal is small. This is a very effective circuit for voltage conversion. The level shifter using the differential amplifier shown here is disclosed in Japanese Patent Application
No. 193498.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】反面、図10(B)に
示したレベルシフタは、電流源を必要とする。すなわ
ち、回路の駆動中には(レベルシフタの駆動中、停止中
に関わらず)常に一定電流が供給されているため、表示
装置全体の低消費電力化の足かせとなっている。
On the other hand, the level shifter shown in FIG. 10B requires a current source. That is, a constant current is always supplied during driving of the circuit (regardless of whether the level shifter is being driven or stopped), which hinders the reduction in power consumption of the entire display device.

【0009】本来、駆動回路等の低駆動電圧化は、携帯
端末等の普及に伴う低消費電力化を目的としてきたもの
であり、低駆動電圧化に対応するための回路によって消
費電力が増大することは許されない。
[0009] Originally, the drive voltage of the drive circuit and the like has been intended to reduce the power consumption with the spread of portable terminals and the like, and the power consumption is increased by the circuit corresponding to the drive voltage reduction. It is not allowed.

【0010】本発明は、前述のような課題を鑑見てなさ
れたものであり、周辺回路の低駆動電圧化に対応し、か
つ低消費電力を実現することの出来る表示装置の駆動回
路を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-described problems, and provides a driving circuit of a display device which can cope with a low driving voltage of a peripheral circuit and can realize low power consumption. The purpose is to do.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
めに、本発明においては以下のような手段を講じた。
Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems, the present invention takes the following measures.

【0012】図9に示したソース信号線駆動回路におい
て、差動増幅器を用いたレベルシフタ905は、サンプ
リングパルス、デジタル映像信号等の入力の有無に関わ
らず、定電流が供給されていた。そこで、本発明におい
ては、駆動回路を複数のユニットに分割し、各ユニット
に含まれる複数のレベルシフタへは、各ユニットに独立
した電流源より、シフトレジスが動作している(サンプ
リングパルスが出力されている)ユニットにおいてのみ
電流供給を行うようにする。シフトレジスタからパルス
の出力がないユニットにおいては、すなわちデジタル映
像信号のラッチ動作も行われないため、そのユニットの
レベルシフタへの電流供給を停止する。これにより、不
必要な期間における電力消費を抑えることが出来る。
In the source signal line driving circuit shown in FIG. 9, a constant current is supplied to the level shifter 905 using a differential amplifier irrespective of whether a sampling pulse, a digital video signal, or the like is input. Therefore, in the present invention, the drive circuit is divided into a plurality of units, and a shift register is operated from a current source independent of each unit to a plurality of level shifters included in each unit (a sampling pulse is output. Current supply only in the unit. In a unit that does not output a pulse from the shift register, that is, the latch operation of the digital video signal is not performed, and thus the current supply to the level shifter of the unit is stopped. Thus, power consumption during an unnecessary period can be suppressed.

【0013】以下に、本発明の表示装置の駆動回路の構
成について記載する。
Hereinafter, the configuration of the driving circuit of the display device of the present invention will be described.

【0014】本発明の表示装置は、ソース信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ソース信号線駆動回路は、クロック信号に従っ
て順次パルスを出力するシフトレジスタと、入力される
信号の電圧振幅の変換を行うレベルシフタと、前記レベ
ルシフタに電流を供給する電流源とを有し、前記電流源
は、前記シフトレジスタから順次パルスが出力されてい
る期間においてのみ、電流の供給を行うことを特徴とし
ている。
According to a display device of the present invention, in a display device in which a source signal line driving circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the source signal line driving circuit includes a shift register for sequentially outputting pulses in accordance with a clock signal. A level shifter that converts a voltage amplitude of an input signal, and a current source that supplies a current to the level shifter, wherein the current source is configured to output a current only during a period in which a pulse is sequentially output from the shift register. It is characterized by supplying

【0015】本発明の表示装置は、ソース信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ソース信号線駆動回路は、第1〜第xのx個
(xは自然数、x≧2)のユニットを有し、第a(aは
自然数、1≦a≦x)のユニットは、クロック信号に従
って順次パルスを出力するシフトレジスタと、入力され
る信号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、
前記複数のレベルシフタに電流を供給する第aの電流源
とを有し、前記第aの電流源は、前記第aのユニットに
おける前記シフトレジスタから順次パルスが出力されて
いる期間においてのみ、前記第aのユニットにおける前
記複数のレベルシフタに電流の供給を行うことを特徴と
している。
In a display device according to the present invention, wherein a source signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the number of the source signal line drive circuits is 1 to x (where x is A (where a is a natural number, 1 ≦ a ≦ x) unit includes a shift register that sequentially outputs pulses according to a clock signal, and a conversion of a voltage amplitude of an input signal. Multiple level shifters to perform
An a-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the a-th current source is connected to the a-th unit only during a period in which a pulse is sequentially output from the shift register in the a-th unit. The current supply is performed to the plurality of level shifters in the unit (a).

【0016】本発明の表示装置は、ソース信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ソース信号線駆動回路は、第1〜第xのx個
(xは自然数、x≧2)のユニットを有し、第b(bは
自然数、1<b≦x)のユニットは、クロック信号に従
って順次パルスを出力するシフトレジスタと、入力され
る信号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、
前記複数のレベルシフタに電流を供給する第bの電流源
とを有し、前記第bの電流源は、第b−1のユニットに
おける前記シフトレジスタから順次パルスが出力されて
いる期間の一部と、前記第bのユニットにおける前記シ
フトレジスタから順次パルスが出力されている期間にお
いてのみ、前記第bのユニットにおける前記複数のレベ
ルシフタに電流の供給を行うことを特徴としている。
In a display device according to the present invention, wherein a source signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the number of the source signal line drive circuits is 1 to x (where x is A unit having a natural number, x ≧ 2), a b-th unit (b is a natural number, 1 <b ≦ x) includes a shift register that sequentially outputs pulses in accordance with a clock signal, and conversion of a voltage amplitude of an input signal. Multiple level shifters to perform
A b-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the b-th current source is a part of a period during which pulses are sequentially output from the shift register in the (b-1) -th unit. The current is supplied to the plurality of level shifters in the b-th unit only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register in the b-th unit.

【0017】本発明の表示装置は、ソース信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ソース信号線駆動回路は、第1〜第xのx個
(xは自然数、x≧2)のユニットを有し、第c(cは
自然数、1≦c<x)のユニットは、クロック信号に従
って順次パルスを出力するシフトレジスタと、入力され
る信号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、
前記複数のレベルシフタに電流を供給する第cの電流源
とを有し、前記第cの電流源は、第c+1のユニットに
おける前記シフトレジスタから順次パルスが出力されて
いる期間の一部と、前記第cのユニットにおける前記シ
フトレジスタから順次パルスが出力されている期間にお
いてのみ、前記第cのユニットにおける前記複数のレベ
ルシフタに電流の供給を行うことを特徴としている。本
発明の表示装置は、請求項5に記載の本発明の表示装置
の駆動回路は、ゲート信号線駆動回路と、画素部とが基
板上に形成された表示装置において、前記ゲート信号線
駆動回路は、クロック信号に従って順次パルスを出力す
るシフトレジスタと、入力される信号の電圧振幅の変換
を行うレベルシフタと、前記レベルシフタに電流を供給
する電流源とを有し、前記電流源は、前記シフトレジス
タから順次パルスが出力されている期間においてのみ、
電流の供給を行うことを特徴としている。
In a display device according to the present invention, wherein a source signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the number of the source signal line drive circuits is 1 to x (where x is A c-th unit (where c is a natural number and 1 ≦ c <x) includes a shift register that sequentially outputs pulses in accordance with a clock signal, and a conversion of a voltage amplitude of an input signal. Multiple level shifters to perform
A c-th current source that supplies a current to the plurality of level shifters, wherein the c-th current source is a part of a period during which pulses are sequentially output from the shift register in the (c + 1) th unit; A current is supplied to the plurality of level shifters in the c-th unit only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register in the c-th unit. 6. The display device according to claim 5, wherein the drive circuit of the display device according to claim 5 is a display device in which a gate signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate. Has a shift register that sequentially outputs pulses in accordance with a clock signal, a level shifter that converts a voltage amplitude of an input signal, and a current source that supplies a current to the level shifter, wherein the current source includes the shift register Only during the period when pulses are output sequentially from
It is characterized in that current is supplied.

【0018】本発明の表示装置は、ゲート信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ゲート信号線駆動回路は、第1〜第yのy個
(yは自然数、y≧2)のユニットを有し、第d(dは
自然数、1≦d≦y)のユニットは、クロック信号に従
って順次パルスを出力するシフトレジスタと、入力され
る信号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、
前記複数のレベルシフタに電流を供給する第dの電流源
とを有し、前記第dの電流源は、前記第dのユニットに
おける前記シフトレジスタから順次パルスが出力されて
いる期間においてのみ、前記第dのユニットにおける前
記複数のレベルシフタに電流の供給を行うことを特徴と
している。
In a display device according to the present invention, wherein a gate signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the number of the gate signal line drive circuits is 1 to y (where y is A d-th (d is a natural number, 1 ≦ d ≦ y) unit having a natural number, y ≧ 2) unit, a shift register that sequentially outputs pulses according to a clock signal, and a voltage amplitude conversion of an input signal Multiple level shifters to perform
A d-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the d-th current source is connected to the d-th unit only during a period in which a pulse is sequentially output from the shift register in the d-th unit. A current is supplied to the plurality of level shifters in the unit d.

【0019】本発明の表示装置は、ゲート信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ゲート信号線駆動回路は、第1〜第yのy個
(yは自然数、y≧2)のユニットを有し、第e(eは
自然数、1<e≦y)のユニットは、クロック信号に従
って順次パルスを出力するシフトレジスタと、入力され
る信号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、
前記複数のレベルシフタに電流を供給する第eの電流源
とを有し、前記第eの電流源は、第e−1のユニットに
おける前記シフトレジスタから順次パルスが出力されて
いる期間の一部と、前記第eのユニットにおける前記シ
フトレジスタから順次パルスが出力されている期間にお
いてのみ、前記第eのユニットにおける前記複数のレベ
ルシフタに電流の供給を行うことを特徴としている。
In a display device according to the present invention, wherein a gate signal line driving circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the number of the gate signal line driving circuits is 1 to y (where y is An e-th unit (e is a natural number, 1 <e ≦ y) includes a shift register that sequentially outputs pulses in accordance with a clock signal, and a conversion of a voltage amplitude of an input signal. Multiple level shifters to perform
An e-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the e-th current source is a part of a period during which pulses are sequentially output from the shift register in the (e-1) -th unit. The current is supplied to the plurality of level shifters in the e-th unit only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register in the e-th unit.

【0020】本発明の表示装置は、ゲート信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ゲート信号線駆動回路は、第1〜第yのy個
(yは自然数、y≧2)のユニットを有し、第f(fは
自然数、1≦f<y)のユニットは、クロック信号に従
って順次パルスを出力するシフトレジスタと、入力され
る信号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、
前記複数のレベルシフタに電流を供給する第fの電流源
とを有し、前記第fの電流源は、第f+1のユニットに
おける前記シフトレジスタから順次パルスが出力されて
いる期間の一部と、前記第fのユニットにおける前記シ
フトレジスタから順次パルスが出力されている期間にお
いてのみ、前記第fのユニットにおける前記複数のレベ
ルシフタに電流の供給を行うことを特徴としている。
In a display device according to the present invention, wherein a gate signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the number of the gate signal line drive circuits is 1 to y (where y is A unit having a natural number, y ≧ 2), an f-th unit (where f is a natural number, 1 ≦ f <y) is a shift register that sequentially outputs pulses in accordance with a clock signal, and a conversion of a voltage amplitude of an input signal. Multiple level shifters to perform
An f-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the f-th current source is configured to output a part of a period during which pulses are sequentially output from the shift register in the (f + 1) -th unit; A current is supplied to the plurality of level shifters in the f-th unit only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register in the f-th unit.

【0021】本発明の表示装置は、ソース信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ソース信号線駆動回路は、入力信号に従ってパ
ルスを出力するデコーダと、入力される信号の電圧振幅
の変換を行うレベルシフタと、前記レベルシフタに電流
を供給する電流源とを有し、前記電流源は、前記デコー
ダからパルスが出力されている期間においてのみ、電流
の供給を行うことを特徴としている。
According to a display device of the present invention, in a display device in which a source signal line driving circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the source signal line driving circuit outputs a pulse according to an input signal; And a current source for supplying a current to the level shifter, and the current source supplies a current only during a period in which a pulse is output from the decoder. It is characterized by:

【0022】本発明の表示装置は、ソース信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ソース信号線駆動回路は、第1〜第xのx個
(xは自然数、x≧2)のユニットを有し、第a(aは
自然数、1≦a≦x)のユニットは、入力信号に従って
パルスを出力するデコーダと、入力される信号の電圧振
幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記複数のレベ
ルシフタに電流を供給する第aの電流源とを有し、前記
第aの電流源は、前記第aのユニットにおける前記デコ
ーダからパルスが出力されている期間においてのみ、前
記第aのユニットにおける前記複数のレベルシフタに電
流の供給を行うことを特徴としている。
According to a display device of the present invention, in a display device in which a source signal line driving circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the number of the source signal line driving circuits is 1 to x (where x is A (where a is a natural number, 1 ≦ a ≦ x) unit has a decoder that outputs a pulse in accordance with an input signal, and converts the voltage amplitude of the input signal. A plurality of level shifters and an a-th current source for supplying current to the plurality of level shifters, wherein the a-th current source is provided only during a period in which a pulse is output from the decoder in the a-th unit. And supplying current to the plurality of level shifters in the a-th unit.

【0023】本発明の表示装置は、ソース信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ソース信号線駆動回路は、第1〜第xのx個
(xは自然数、x≧2)のユニットを有し、第b(bは
自然数、1<b≦x)のユニットは、入力信号に従って
パルスを出力するデコーダと、入力される信号の電圧振
幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記複数のレベ
ルシフタに電流を供給する第bの電流源とを有し、前記
第bの電流源は、第b−1のユニットにおける前記デコ
ーダからパルスが出力されている期間の一部と、前記第
xのユニットにおける前記デコーダからパルスが出力さ
れている期間においてのみ、前記第bのユニットにおけ
る前記複数のレベルシフタに電流の供給を行うことを特
徴としている。
The display device of the present invention is a display device in which a source signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the number of the source signal line drive circuits is 1 to x (where x is A unit having a natural number, x ≧ 2), and a b-th unit (b is a natural number, 1 <b ≦ x) performs a decoder that outputs a pulse according to an input signal and converts a voltage amplitude of an input signal. A plurality of level shifters; and a b-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the b-th current source is connected to the b-th unit during a period when a pulse is output from the decoder in the (b-1) -th unit. In some embodiments, current is supplied to the plurality of level shifters in the b-th unit only during a period in which a pulse is output from the decoder in the x-th unit.

【0024】本発明の表示装置は、ソース信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ソース信号線駆動回路は、第1〜第xのx個
(xは自然数、x≧2)のユニットを有し、第c(cは
自然数、1≦c<x)のユニットは、入力信号に従って
パルスを出力するデコーダと、入力される信号の電圧振
幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記複数のレベ
ルシフタに電流を供給する第cの電流源とを有し、前記
第cの電流源は、第c+1のユニットにおける前記デコ
ーダからパルスが出力されている期間の一部と、前記第
cのユニットにおける前記デコーダからパルスが出力さ
れている期間においてのみ、前記第cのユニットにおけ
る前記複数のレベルシフタに電流の供給を行うことを特
徴としている。
According to a display device of the present invention, in a display device in which a source signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the first to x-th source signal line drive circuits (x is A unit having a natural number, x ≧ 2), and a c-th unit (c is a natural number, 1 ≦ c <x) performs a decoder that outputs a pulse according to an input signal and converts a voltage amplitude of an input signal. A plurality of level shifters, and a c-th current source that supplies current to the plurality of level shifters, wherein the c-th current source is a part of a period during which a pulse is output from the decoder in the (c + 1) th unit. And supplying a current to the plurality of level shifters in the c-th unit only during a period in which a pulse is output from the decoder in the c-th unit.

【0025】本発明の表示装置は、ゲート信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ゲート信号線駆動回路は、入力信号に従ってパ
ルスを出力するデコーダと、入力される信号の電圧振幅
の変換を行うレベルシフタと、前記レベルシフタに電流
を供給する電流源とを有し、前記電流源は、前記デコー
ダからパルスが出力されている期間においてのみ、電流
の供給を行うことを特徴としている。
According to a display device of the present invention, in a display device having a gate signal line driving circuit and a pixel portion formed on a substrate, the gate signal line driving circuit includes a decoder for outputting a pulse according to an input signal; And a current source for supplying a current to the level shifter, and the current source supplies a current only during a period in which a pulse is output from the decoder. It is characterized by:

【0026】本発明の表示装置は、ゲート信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ゲート信号線駆動回路は、第1〜第yのy個
(yは自然数、y≧2)のユニットを有し、第d(dは
自然数、1≦d≦y)のユニットは、入力信号に従って
パルスを出力するデコーダと、入力される信号の電圧振
幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記複数のレベ
ルシフタに電流を供給する第dの電流源とを有し、前記
第dの電流源は、前記第dのユニットにおける前記デコ
ーダからパルスが出力されている期間においてのみ、前
記第dのユニットにおける前記複数のレベルシフタに電
流の供給を行うことを特徴としている。
According to a display device of the present invention, in a display device in which a gate signal line driving circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the number of the gate signal line driving circuits is 1 to y (where y is A unit having a natural number, y ≧ 2), and a d-th unit (d is a natural number, 1 ≦ d ≦ y) performs a decoder that outputs a pulse in accordance with an input signal, and converts a voltage amplitude of an input signal. A plurality of level shifters, and a d-th current source that supplies current to the plurality of level shifters, wherein the d-th current source is provided only during a period in which a pulse is output from the decoder in the d-th unit. And supplying current to the plurality of level shifters in the d-th unit.

【0027】本発明の表示装置は、ゲート信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ゲート信号線駆動回路は、第1〜第yのy個
(yは自然数、y≧2)のユニットを有し、第e(eは
自然数、1<e≦y)のユニットは、入力信号に従って
パルスを出力するデコーダと、入力される信号の電圧振
幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記複数のレベ
ルシフタに電流を供給する第eの電流源とを有し、前記
第eの電流源は、第e−1のユニットにおける前記デコ
ーダからパルスが出力されている期間の一部と、前記第
eのユニットにおける前記デコーダからパルスが出力さ
れている期間においてのみ、前記第eのユニットにおけ
る前記複数のレベルシフタに電流の供給を行うことを特
徴としている。
In a display device according to the present invention, wherein a gate signal line driving circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the number of the gate signal line driving circuits is 1 to y (where y is An e-th unit (e is a natural number, 1 <e ≦ y) includes a decoder that outputs a pulse according to an input signal and a conversion of a voltage amplitude of an input signal. A plurality of level shifters; and an e-th current source for supplying current to the plurality of level shifters, wherein the e-th current source is connected to a pulse output from the decoder in the (e-1) -th unit. In some embodiments, current is supplied to the plurality of level shifters in the e-th unit only during a period in which a pulse is output from the decoder in the e-th unit.

【0028】本発明の表示装置は、ゲート信号線駆動回
路と、画素部とが基板上に形成された表示装置におい
て、前記ゲート信号線駆動回路は、第1〜第yのy個
(yは自然数、y≧2)のユニットを有し、第f(fは
自然数、1≦f<y)のユニットは、入力信号に従って
パルスを出力するデコーダと、入力される信号の電圧振
幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記複数のレベ
ルシフタに電流を供給する第fの電流源とを有し、前記
第fの電流源は、第f+1のユニットにおける前記デコ
ーダからパルスが出力されている期間の一部と、前記第
fのユニットにおける前記デコーダからパルスが出力さ
れている期間においてのみ、前記第fのユニットにおけ
る前記複数のレベルシフタに電流の供給を行うことを特
徴としている。
According to a display device of the present invention, in which a gate signal line driving circuit and a pixel portion are formed on a substrate, the number of the gate signal line driving circuits is 1 to y (where y is A unit having a natural number, y ≧ 2), and an f-th unit (where f is a natural number, 1 ≦ f <y) performs a decoder that outputs a pulse in accordance with an input signal and converts a voltage amplitude of an input signal. A plurality of level shifters; and an fth current source for supplying current to the plurality of level shifters, wherein the fth current source is a part of a period during which a pulse is output from the decoder in the (f + 1) th unit. And supplying current to the plurality of level shifters in the f-th unit only during a period in which a pulse is output from the decoder in the f-th unit.

【0029】本発明の表示装置は、前記ソース信号線駆
動回路と、前記ゲート信号線駆動回路と、画素部とは、
ガラス基板上、プラスチック基板上、ステンレス基板
上、単結晶ウェハ上のいずれかに形成されていることを
特徴としている。
[0029] In the display device of the present invention, the source signal line driving circuit, the gate signal line driving circuit, and the pixel portion may include:
It is formed on a glass substrate, a plastic substrate, a stainless steel substrate, or a single crystal wafer.

【0030】本発明の表示装置は、前記駆動回路と、前
記画素部とは、同一基板上に一体形成されていることを
特徴としている。
The display device according to the present invention is characterized in that the driving circuit and the pixel portion are formed integrally on the same substrate.

【0031】本発明の表示装置は、前記駆動回路と、前
記画素部とは、異なる基板上に形成されていることを特
徴としている。
The display device according to the present invention is characterized in that the drive circuit and the pixel portion are formed on different substrates.

【0032】[0032]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の表示装置の駆動
回路の構成形態を示す図である。ある適当な段数ごとに
ソース信号線駆動回路を分割し、その分割単位(以後、
ユニットと表記する)ごとにレベルシフタへの電流源を
設けている。点線枠100で示すユニットが複数段、例
えばx段繰り返されることによって、ソース信号線駆動
回路を構成する。このとき、必ずしも1ユニットあたり
のシフトレジスタの段数を、『全シフトレジスタ段数/
x』のように等分割する必要はない。ソース信号線駆動
回路は、シフトレジスタ101、NAND回路102、
バッファ103、NOR回路104、レベルシフタ用電
流源105、レベルシフタ106、第1のラッチ回路1
07、第2のラッチ回路108、画素109等を有す
る。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a drive circuit of a display device according to the present invention. The source signal line drive circuit is divided for each appropriate number of stages, and the division unit (hereinafter, referred to as the division unit)
Each unit has a current source to the level shifter. A source signal line driving circuit is formed by repeating a unit indicated by a dotted frame 100 in a plurality of stages, for example, x stages. At this time, the number of shift register stages per unit is necessarily set to “the total number of shift register stages /
It is not necessary to divide equally as in “x”. The source signal line driver circuit includes a shift register 101, a NAND circuit 102,
Buffer 103, NOR circuit 104, level shifter current source 105, level shifter 106, first latch circuit 1
07, a second latch circuit 108, a pixel 109, and the like.

【0033】レベルシフタ用電流源105、レベルシフ
タ106は、図2に示すような構成をしている。図9に
示したソース信号線駆動回路にて用いていたレベルシフ
タと同様、差動増幅器を利用して信号のレベル変換を行
う形式のものである。レベルシフタ用電流源105につ
いては、図2では201で示すブロックにあたり、入力
端子31にパルスが入力されている期間のみ、TFT2
03、204が導通して、各レベルシフタに電流を供給
することが出来るものである。
The level shifter current source 105 and the level shifter 106 have a configuration as shown in FIG. As in the case of the level shifter used in the source signal line driving circuit shown in FIG. 9, the signal level is converted using a differential amplifier. The level shifter current source 105 corresponds to a block indicated by 201 in FIG.
03 and 204 are conducted, and current can be supplied to each level shifter.

【0034】ただし、本発明は、電流源を有するレベル
シフタ全般を対象としての使用が可能であり、レベルシ
フタ自体の構成はこの形には限定されず、他の形のもの
であっても良い。
However, the present invention can be used for general level shifters having a current source, and the configuration of the level shifter itself is not limited to this form, but may be another form.

【0035】入力端子31に入力される信号は、NOR
回路104の出力パルスを反転したパルスである。NO
R回路104には、各段のNAND回路からの出力パル
ス(第1のラッチパルス)が入力される。すなわち、あ
るユニットにおいて、いずれか1段のシフトレジスタが
動作している期間は、NOR回路104の入力端子のい
ずれかにHi電位を持ったパルスが入力され、NOR回
路104からはLo電位を持ったパルスが出力される。
このパルスはインバータ等によって反転され、レベルシ
フタ用電流源105の入力端子31へと入力され、前述
のように電流を供給する。シフトレジスタの動作が停止
している期間は、NOR回路104のいずれの入力端子
にもLo電位が入力される(第1のラッチパルスが出力
されていない)ことにより、レベルシフタ用電流源10
5の入力端子31にはLo電位が入力され、電流を遮断
する。
The signal input to the input terminal 31 is NOR
This is a pulse obtained by inverting the output pulse of the circuit 104. NO
The output pulse (first latch pulse) from the NAND circuit of each stage is input to the R circuit 104. That is, in a certain unit, a pulse having a Hi potential is input to any of the input terminals of the NOR circuit 104 during a period in which any one of the shift registers is operating, and a pulse having a Lo potential is output from the NOR circuit 104. Pulse is output.
This pulse is inverted by an inverter or the like, is input to the input terminal 31 of the level shifter current source 105, and supplies a current as described above. While the operation of the shift register is stopped, the Lo potential is input to any of the input terminals of the NOR circuit 104 (the first latch pulse is not output), so that the level shifter current source 10
The Lo potential is input to the input terminal 31 of No. 5 to cut off the current.

【0036】図4に示すタイミングチャートを参照し
て、動作について説明する。第1のユニットは、第1段
目〜第k段目までの第1のラッチパルスを出力するNA
ND回路を有する。これらのNAND回路の出力が、第
1のユニットに接続されたレベルシフタ用電流源105
を制御するためのNOR回路104へと入力される。第
2のユニットは、第k+1段目〜第m段目までの第1の
ラッチパルスを出力するNAND回路を有する。これら
のNAND回路の出力が、第2のユニットに接続された
レベルシフタ用電流源105を制御するためのNOR回
路110へと入力される。第3のユニットは、第m+1
段目〜第n段目までの第1のラッチパルスを出力するN
AND回路を有する。これらのNAND回路の出力が、
第3のユニットに接続されたレベルシフタ用電流源11
3を制御するためのNOR回路112へと入力される。
以降も同様とし、最終のx段まで繰り返される。
The operation will be described with reference to the timing chart shown in FIG. The first unit outputs the first latch pulse from the first stage to the k-th stage.
It has an ND circuit. The outputs of these NAND circuits are connected to the level shifter current source 105 connected to the first unit.
Is input to a NOR circuit 104 for controlling. The second unit has a NAND circuit that outputs the first latch pulse of the (k + 1) th stage to the mth stage. Outputs of these NAND circuits are input to a NOR circuit 110 for controlling the level shifter current source 105 connected to the second unit. The third unit is the (m + 1) th unit
N for outputting the first latch pulse from the stage to the n-th stage
It has an AND circuit. The output of these NAND circuits is
Level shifter current source 11 connected to third unit
3 is input to a NOR circuit 112 for controlling the control circuit 3.
The same applies to the subsequent steps, and the processing is repeated up to the last x stages.

【0037】第1段目のNAND出力があってから、第
k段目のNAND出力までの期間、NOR回路104に
は順次パルスが入力されるため、その期間は第1のユニ
ットに接続された電流源105(図4中、LS電源1と
記載)から電流が供給される。ここでは、第1のユニッ
トに属するレベルシフタにのみ、電流が供給される。第
k段目のNAND出力が終了して後は、第1のユニット
におけるシフトレジスタ〜NAND回路までは動作しな
い。従ってNOR回路104への入力が全てLo電位と
なり、電流源105を遮断する。
During the period from the first stage NAND output to the k-th stage NAND output, a pulse is sequentially input to the NOR circuit 104, and during that period, the NOR circuit 104 is connected to the first unit. A current is supplied from a current source 105 (described as LS power supply 1 in FIG. 4). Here, the current is supplied only to the level shifter belonging to the first unit. After the completion of the k-th NAND output, the shift register to the NAND circuit in the first unit do not operate. Therefore, all inputs to the NOR circuit 104 become Lo potential, and the current source 105 is cut off.

【0038】続いて、k+1段目のNAND回路からパ
ルスが出力される。このk+1段目のNAND回路は、
第2のユニットに属し、その出力パルスは第2のユニッ
トに接続された電流源111(図4中、LS電源2と表
記)へと続くNOR回路110に入力され、電流の供給
が開始される。ここでは、第2のユニットに属するレベ
ルシフタにのみ、電流が供給される。第m段目のNAN
D出力が終了して後は、第2のユニットにおけるシフト
レジスタ〜NAND回路までは動作しない。従ってNO
R回路110への入力が全てLo電位となり、電流源1
11を遮断する。
Subsequently, a pulse is output from the (k + 1) th stage NAND circuit. The k + 1-th stage NAND circuit has
The output pulse belonging to the second unit is input to a NOR circuit 110 which continues to a current source 111 (denoted as LS power supply 2 in FIG. 4) connected to the second unit, and the supply of current is started. . Here, the current is supplied only to the level shifter belonging to the second unit. M-th NAN
After the D output ends, the shift register to the NAND circuit in the second unit do not operate. Therefore NO
All the inputs to the R circuit 110 have the Lo potential, and the current source 1
Block 11

【0039】この手順が第3のユニット以降、最終の第
xのユニットまで続くことにより、動作しているユニッ
ト、すなわち、パルス出力段を含むユニットにのみ、電
流が供給される。ソース信号線駆動回路全体を1系統の
NOR回路を用いて電流源の制御を行う場合に比べて、
必要な部分にのみ電流供給を行うことが出来る。
By repeating this procedure from the third unit to the last x-th unit, current is supplied only to the operating unit, that is, the unit including the pulse output stage. Compared to the case where the entire source signal line drive circuit controls the current source using one NOR circuit,
Current supply can be performed only to necessary parts.

【0040】以上の方法により、シフトレジスタからパ
ルスの出力がない期間においては、レベルシフタへの定
電流供給を停止することが出来るため、低消費電力化に
寄与する。特に、特願2000−240332、特願2
000−249083、特願2000−305642等
に記載の発明における、静止画表示の際に一部の駆動回
路を停止して低消費電力化をはかる場合など、本発明を
適用することによってさらなる低消費電力化が可能とな
る。
According to the above method, the supply of the constant current to the level shifter can be stopped during a period in which no pulse is output from the shift register, which contributes to low power consumption. In particular, Japanese Patent Application No. 2000-240332 and Japanese Patent Application No. 2
In the inventions described in Japanese Patent Application Nos. 000-249083 and 2000-305624, when a still image is displayed, a part of the driving circuits is stopped to reduce the power consumption. Power can be used.

【0041】なお、本発明は、ソース信号線駆動回路に
おける、デジタル映像信号のレベル変換について例をあ
げて説明しているが、特に限定せず、映像信号がアナロ
グである場合にも、入力信号を始めとする各信号のレベ
ル変換を、電流源を必要とするレベルシフタを用いて行
ういずれの表示装置に対しても適用が可能であるし、も
ちろんゲート信号線駆動回路への適用も可能である。
In the present invention, the level conversion of a digital video signal in the source signal line driving circuit has been described by way of example. However, the present invention is not particularly limited. Can be applied to any display device that performs level conversion of each signal using a level shifter that requires a current source, and of course can be applied to a gate signal line driving circuit. .

【0042】さらに、本実施形態にて示したソース信号
線駆動回路は、シフトレジスタの動作によって順次パル
スが出力される形式のものであるが、シフトレジスタの
みならず、デコーダ等を使用して選択を行う他方式の駆
動回路においても、容易に適用が可能である。
Further, the source signal line drive circuit shown in this embodiment is of a type in which pulses are sequentially output by the operation of the shift register. It can be easily applied to other types of driving circuits that perform the above.

【0043】[0043]

【実施例】以下に本発明の実施例について記述する。Embodiments of the present invention will be described below.

【0044】[実施例1]図3は、本発明の表示装置のソ
ース信号線駆動回路の一構成例を示す図である。シフト
レジスタ301、走査方向切替用アナログスイッチ30
2、NAND回路303、バッファ304、NOR回路
305、インバータ306、レベルシフタ用電流源30
7、レベルシフタ308、第1のラッチ回路309、第
2のラッチ回路310、画素311等により構成され
る。
[Embodiment 1] FIG. 3 is a diagram showing a configuration example of a source signal line drive circuit of a display device according to the present invention. Shift register 301, scanning direction switching analog switch 30
2. NAND circuit 303, buffer 304, NOR circuit 305, inverter 306, level shifter current source 30
7, a level shifter 308, a first latch circuit 309, a second latch circuit 310, a pixel 311 and the like.

【0045】実施形態においては、ソース信号線駆動回
路を複数のユニットに分割し、各ユニットに電流源を設
け、動作しているユニットにおける電流源のみが電流供
給を行っていたが、本実施例のように、ユニット化しな
いでNAND回路から出力される第1のラッチパルスを
NOR回路に入力し、電流源の動作のON・OFF制御
を行っても良い。とはいえ、図3に示したNOR回路3
05はあくまでも模式的な例であり、実際に全段の出力
パルスが入力される端子を有するNOR回路を用いるの
は現実的ではないため、複数のNOR回路やNAND回
路等を組み合わせて、実施者が適宜構成すると良い。本
実施例にて示した回路においては、帰線期間中に電流源
を停止し、電流供給を停止することが出来る。
In the embodiment, the source signal line drive circuit is divided into a plurality of units, each unit is provided with a current source, and only the current source in the operating unit supplies current. As described above, the first latch pulse output from the NAND circuit without being unitized may be input to the NOR circuit to perform ON / OFF control of the operation of the current source. However, the NOR circuit 3 shown in FIG.
05 is merely a schematic example, and it is not practical to use a NOR circuit having terminals to which output pulses of all stages are actually input. May be appropriately configured. In the circuit shown in this embodiment, the current source can be stopped and the current supply can be stopped during the flyback period.

【0046】[実施例2]実施形態および実施例1で示し
た駆動回路におけるレベルシフタ用電源の動作を考え
る。NAND回路から出力された第1のラッチパルス
は、バッファを介して第1のラッチ回路へと入力され
る。同時に、NOR回路に入力され、その結果レベルシ
フタ用電流源をONとし、デジタル映像信号のレベル変
換を行う。このとき、レベルシフタ用電流源のONのタ
イミングが、第1のラッチ回路へのラッチパルスの入力
のタイミングに対し、パルスのなまりや遅延などによっ
て遅れることが考えられる。このような場合、各ユニッ
ト間をまたぐタイミングにおいては、レベルシフタへの
電流供給が正常に行われない可能性がある。実際に駆動
回路に本発明を適用するには、そのような点を考慮し
て、電流源のON・OFFのタイミングにマージンを持
たせたい。そこで本実施例においては、そのような課題
を解決するための構成について説明する。
Example 2 Consider the operation of the power supply for the level shifter in the drive circuit shown in the embodiment and Example 1. The first latch pulse output from the NAND circuit is input to the first latch circuit via a buffer. At the same time, it is input to the NOR circuit, and as a result, the current source for the level shifter is turned on, and the level conversion of the digital video signal is performed. At this time, the ON timing of the level shifter current source may be delayed from the input timing of the latch pulse to the first latch circuit due to rounding or delay of the pulse. In such a case, there is a possibility that the current supply to the level shifter may not be performed normally at the timing between the units. In order to actually apply the present invention to a driving circuit, it is necessary to give a margin to the ON / OFF timing of the current source in consideration of such points. Therefore, in this embodiment, a configuration for solving such a problem will be described.

【0047】図5を参照する。実施形態および実施例1
においては、レベルシフタ用電源の制御、すなわちNO
R回路への入力にはNAND出力を用いていたのに対
し、本実施例においては、シフトレジスタからの出力を
用いる。回路の構成例としては実施形態と同様、図6に
示すようにユニット毎にレベルシフタ用電源の制御を行
うようにすると良い。
Referring to FIG. Embodiment and Example 1
In the control of the level shifter power supply, that is, NO
In the present embodiment, the output from the shift register is used, while the NAND output is used as the input to the R circuit. As an example of the circuit configuration, as in the embodiment, it is preferable to control the level shifter power supply for each unit as shown in FIG.

【0048】図6に示した本実施例の駆動回路の有する
シフトレジスタは、図17(A)に示すようなD−フリ
ップフロップ(D−FF)型の、一般的なものを用いて
いる。このD−FFは、クロック信号(CK)の立ち下
がりのタイミングで、入力端子の電位を保持し、次のク
ロック信号の立ち下がりまでは保持状態となる。よっ
て、入出力は図17(B)に示したようになる。出力パ
ルスは、クロック信号の2倍のパルス幅を持って順次出
力され、各パルスは、互いのパルス幅の1/2が重複す
る形となる。
As the shift register included in the driving circuit of this embodiment shown in FIG. 6, a general D-flip-flop (D-FF) type as shown in FIG. 17A is used. This D-FF holds the potential of the input terminal at the timing of the falling edge of the clock signal (CK), and remains in the holding state until the next falling edge of the clock signal. Therefore, the input and output are as shown in FIG. The output pulses are sequentially output with twice the pulse width of the clock signal, and each pulse has a form in which half of the pulse width of each pulse overlaps.

【0049】NAND回路に入力されるシフトレジスタ
出力は、図8(A)のタイミングチャートに示すよう
に、隣接する段でのパルスが重なっている。これは図1
7を用いて前述したとおりである。LS電源1がONと
なっている期間は、第1のユニットにおける第1段目の
シフトレジスタからパルスが出力されてから、第k段目
のシフトレジスタからのパルス出力が終了するまでの期
間である。続いて第2のユニットにおける、k+1段目
のシフトレジスタからパルスが出力されると、LS電源
2がONとなる。ここで、k段目のシフトレジスタの出
力パルスと、k+1段目のシフトレジスタの出力パルス
とは重なっていることから、LS電源1と、LS電源2
とがともにONとなっている期間を設けることが出来
る。つまり、第a(aは自然数、1≦a≦x)のユニッ
ト最終段のパルスと、第a+1のユニットの初段のパル
スが重なっているため、この期間は第aのユニットと、
第a+1のユニットの電流源がともに電流の供給を行
う。このようなタイミングによって、前述したパルスの
遅延等による、各ユニット間をまたぐタイミングでのレ
ベル変換時にも、正常に電流供給が可能となる。
As shown in the timing chart of FIG. 8A, the output of the shift register input to the NAND circuit is such that the pulses of the adjacent stages overlap. This is Figure 1
7 as described above. The period in which the LS power supply 1 is ON is a period from when a pulse is output from the first-stage shift register in the first unit to when the pulse output from the k-th stage shift register ends. is there. Subsequently, when a pulse is output from the (k + 1) th stage shift register in the second unit, the LS power supply 2 is turned on. Here, since the output pulse of the k-th stage shift register and the output pulse of the (k + 1) -th stage shift register overlap, the LS power source 1 and the LS power source 2
A period during which both are ON can be provided. That is, since the pulse of the last stage of the a-th unit (a is a natural number, 1 ≦ a ≦ x) and the pulse of the first stage of the (a + 1) -th unit overlap each other, the period of the a-th unit is
The current sources of the (a + 1) th unit both supply current. With such a timing, current can be normally supplied even at the time of level conversion at a timing across units due to the above-described pulse delay or the like.

【0050】[実施例3]本実施例においては、実施例2
とは異なる方法によって、各ユニット間をまたぐタイミ
ングのレベル変換時の電流供給を行う方法について説明
する。
[Embodiment 3] In this embodiment, Embodiment 2
A method of supplying a current at the time of level conversion of timing across units by a method different from that described above will be described.

【0051】実施例2においては、レベルシフタ用電流
源のONのタイミングに重複期間を設けるために、NO
R回路への入力にシフトレジスタからの出力パルスを用
いる手段をとった。本実施例においては、NOR回路へ
の入力は実施形態と同様、NAND回路からの出力パル
スを用いるが、前段ユニットにおける最終段のNAND
回路からの出力パルスをNOR回路に入力することによ
って、レベルシフタ用電流源のONのタイミングに重複
期間を設ける。
In the second embodiment, in order to provide an overlap period in the ON timing of the level shifter current source,
A means using an output pulse from the shift register as an input to the R circuit was adopted. In the present embodiment, the input to the NOR circuit uses the output pulse from the NAND circuit in the same manner as in the embodiment.
By inputting an output pulse from the circuit to the NOR circuit, an overlap period is provided at the ON timing of the level shifter current source.

【0052】図7の回路図および図8(B)に示すタイ
ミングチャートを参照する。第2のユニットに接続され
たレベルシフタ用電流源711のON・OFFを制御す
るためのNOR回路710への入力に着目すると、前段
のユニット、すなわち第1のユニットにおける最終段の
NAND回路702からの出力が、NOR回路704と
710の両方に入力されている。従って、NAND回路
702からパルスが出力されるタイミングにおいては、
レベルシフタ用電源705、711はともにONの状態
となる。
Referring to the circuit diagram of FIG. 7 and the timing chart shown in FIG. Focusing on the input to the NOR circuit 710 for controlling the ON / OFF of the level shifter current source 711 connected to the second unit, the unit from the preceding stage, that is, the last stage NAND circuit 702 in the first unit, The output is input to both NOR circuits 704 and 710. Therefore, at the timing when the pulse is output from the NAND circuit 702,
The level shifter power supplies 705 and 711 are both ON.

【0053】タイミングチャート上で説明する。第1の
ユニットにおける最終段のNAND出力は、NAND出
力kと記されている。また、第2のユニットにおける初
段のNAND出力は、NAND出力k+1と記されてい
る。ここで、NAND出力kは、第1のユニットにおけ
るレベルシフタ用電流源705のON・OFFを制御す
るためのNOR回路704と、第2のユニットにおける
レベルシフタ用電流源711のON・OFFを制御する
ためのNOR回路710との両方に入力されるため、レ
ベルシフタ用電流源705、711はともにONの状態
となる。例えば第bのユニット最終段のパルスが、第a
+1のユニットのレベルシフタ用電流源を制御するNO
R回路に入力されることにより、この期間は第b(bは
自然数、1≦b<x)のユニットと、第b+1のユニッ
トの電流源がともに電流の供給を行う。このようにし
て、実施例2とは異なる方法によって、前述したパルス
の遅延等による、各ユニット間をまたぐタイミングでの
レベル変換時にも、正常に電流供給が可能となる。
This will be described with reference to a timing chart. The final stage NAND output in the first unit is described as NAND output k. The first stage NAND output in the second unit is described as NAND output k + 1. Here, the NAND output k is used to control the ON / OFF of the level shifter current source 705 in the first unit and the ON / OFF of the level shifter current source 711 in the second unit. Are input to both the NOR circuit 710 and the level shifter current sources 705 and 711. For example, the pulse of the last stage of the b-th unit is
NO for controlling the current source for the level shifter of the +1 unit
By being input to the R circuit, during this period, the current sources of the b-th (b is a natural number, 1 ≦ b <x) unit and the (b + 1) -th unit both supply current. In this way, by a method different from that of the second embodiment, it is possible to supply current normally even at the time of level conversion at a timing that straddles each unit due to the above-described pulse delay or the like.

【0054】また、本実施例においては、一方向走査の
場合を例として説明したが、走査方向切り替えの可能な
駆動回路においても同様の方法によって実施が可能であ
る。後段ユニットの初段、または次段からパルスを得る
ようにしても良い。さらに、ユニット間の動作におい
て、前段ユニットの最終段のパルスのみを得る必要はな
く、その他のパルスを得るようにしても良い。
In this embodiment, the case of one-directional scanning has been described as an example. However, a driving circuit capable of switching the scanning direction can be implemented by a similar method. A pulse may be obtained from the first stage or the next stage of the subsequent unit. Further, in the operation between the units, it is not necessary to obtain only the last-stage pulse of the preceding unit, and other pulses may be obtained.

【0055】[実施例4]本実施例では、本発明の表示装
置の画素部とその周辺に設けられる駆動回路部(ソース
信号線側駆動回路、ゲート信号線側駆動回路)のTFT
を同時に作製する方法について説明する。但し、説明を
簡単にするために、駆動回路部に関しては基本単位であ
るCMOS回路を図示することとする。
[Embodiment 4] In this embodiment, the TFTs of the pixel portion of the display device of the present invention and the drive circuit portions (source signal line side drive circuit and gate signal line side drive circuit) provided around the pixel portion are provided.
Will be described at the same time. However, for the sake of simplicity, a CMOS circuit, which is a basic unit for the drive circuit unit, is illustrated.

【0056】図11(A)を参照する。まず、本実施例
ではコーニング社の#7059ガラスや#1737ガラ
スなどに代表されるバリウムホウケイ酸ガラス、または
アルミノホウケイ酸ガラスなどのガラスからなる基板5
001を用いる。なお、基板5001としては、透光性
を有する基板であれば限定されず、石英基板を用いても
良い。また、本実施例の処理温度に耐えうる耐熱性を有
するプラスチック基板を用いてもよい。
Referring to FIG. First, in this embodiment, a substrate 5 made of glass such as barium borosilicate glass or aluminoborosilicate glass typified by Corning # 7059 glass or # 1737 glass, etc.
001 is used. Note that the substrate 5001 is not limited as long as it has a light-transmitting property, and a quartz substrate may be used. Further, a plastic substrate having heat resistance enough to withstand the processing temperature of this embodiment may be used.

【0057】次いで、基板5001上に酸化珪素膜、窒
化珪素膜または酸化窒化珪素膜などの絶縁膜から成る下
地膜5002を形成する。本実施例では下地膜5002
として2層構造を用いるが、前記絶縁膜の単層膜または
2層以上積層させた構造を用いても良い。下地膜500
2の1層目としては、プラズマCVD法を用い、SiH
4、NH3、及びN2Oを反応ガスとして成膜される酸化
窒化珪素膜5001aを10〜200[nm](好ましくは
50〜100[nm])形成する。本実施例では、膜厚50
[nm]の酸化窒化珪素膜5002a(組成比Si=32
[%]、O=27[%]、N=24[%]、H=17[%])を
形成した。次いで、下地膜5002の2層目としては、
プラズマCVD法を用い、SiH4、及びN2Oを反応ガ
スとして成膜される酸化窒化珪素膜5002bを50〜
200[nm](好ましくは100〜150[nm])の厚さに
積層形成する。本実施例では、膜厚100[nm]の酸化窒
化珪素膜5002b(組成比Si=32[%]、O=59
[%]、N=7[%]、H=2[%])を形成した。
Next, a base film 5002 made of an insulating film such as a silicon oxide film, a silicon nitride film, or a silicon oxynitride film is formed over the substrate 5001. In this embodiment, the base film 5002
Is used, a single-layer film of the insulating film or a structure in which two or more layers are stacked may be used. Base film 500
As the first layer of No. 2, a plasma CVD
4 , a silicon oxynitride film 5001a formed using NH 3 and N 2 O as reaction gases is formed in a thickness of 10 to 200 [nm] (preferably 50 to 100 [nm]). In this embodiment, the film thickness 50
[nm] silicon oxynitride film 5002a (composition ratio Si = 32
[%], O = 27 [%], N = 24 [%], H = 17 [%]. Next, as the second layer of the base film 5002,
Using a plasma CVD method, a silicon oxynitride film 5002b formed by using SiH 4 and N 2 O as reaction gases is reduced to 50 to 50%.
The layer is formed to a thickness of 200 [nm] (preferably 100 to 150 [nm]). In this embodiment, a silicon oxynitride film 5002b having a thickness of 100 nm (composition ratio: Si = 32%, O = 59)
[%], N = 7 [%], H = 2 [%]).

【0058】次いで、下地膜上に半導体層5003〜5
006を形成する。半導体層5003〜5006は、非
晶質構造を有する半導体膜を公知の手段(スパッタ法、
LPCVD法、またはプラズマCVD法等)により成膜
した後、公知の結晶化処理(レーザー結晶化法、熱結晶
化法、またはニッケルなどの触媒を用いた熱結晶化法
等)を行って得られた結晶質半導体膜を所望の形状にパ
ターニングして形成する。この半導体層5003〜50
06は、25〜80[nm](好ましくは30〜60[nm])
の厚さで形成する。結晶質半導体膜の材料に限定はない
が、好ましくは珪素(シリコン)またはシリコンゲルマ
ニウム(SiXGe1-X(X=0.0001〜0.0
2))合金などで形成すると良い。本実施例では、プラ
ズマCVD法を用い、55[nm]の非晶質珪素膜を成膜し
た後、ニッケルを含む溶液を非晶質珪素膜上に保持させ
た。この非晶質珪素膜に脱水素化(500[℃]、1時
間)を行った後、熱結晶化(550[℃]、4時間)を行
い、さらに結晶化を改善するためのレーザーアニ―ル処
理を行って結晶質珪素膜を形成した。そして、この結晶
質珪素膜から、フォトリソグラフィ法を用いたパターニ
ング処理によって、半導体層5003〜5006を形成
した。
Next, semiconductor layers 5003 to 5005 are formed on the underlying film.
006 is formed. As the semiconductor layers 5003 to 5006, a semiconductor film having an amorphous structure is formed by a known method (sputtering,
After forming a film by LPCVD or plasma CVD, a known crystallization treatment (laser crystallization, thermal crystallization, or thermal crystallization using a catalyst such as nickel) is performed. The formed crystalline semiconductor film is patterned and formed into a desired shape. The semiconductor layers 5003 to 50
06 is 25 to 80 [nm] (preferably 30 to 60 [nm])
Formed with a thickness of Without limitation on the material of the crystalline semiconductor film, preferably silicon (silicon) or silicon germanium (Si X Ge 1-X ( X = 0.0001~0.0
2)) It is good to form with an alloy etc. In this example, after a 55 [nm] amorphous silicon film was formed by a plasma CVD method, a solution containing nickel was held on the amorphous silicon film. After dehydrogenation (500 [° C.], 1 hour) of this amorphous silicon film, thermal crystallization (550 [° C.], 4 hours) is performed, and laser annealing for further improving crystallization is performed. Then, a crystalline silicon film was formed by performing a heat treatment. Then, semiconductor layers 5003 to 5006 were formed from the crystalline silicon film by a patterning process using a photolithography method.

【0059】また、半導体層5003〜5006を形成
した後、TFTのしきい値を制御するために微量な不純
物元素(ボロンまたはリン)のドーピングを行ってもよ
い。
After the formation of the semiconductor layers 5003 to 5006, a slight amount of impurity element (boron or phosphorus) may be doped in order to control the threshold value of the TFT.

【0060】また、レーザー結晶化法で結晶質半導体膜
を作製する場合には、パルス発振型または連続発光型の
エキシマレーザーやYAGレーザー、YVO4レーザー
を用いることができる。これらのレーザーを用いる場合
には、レーザー発振器から放射されたレーザー光を光学
系で線状に集光し半導体膜に照射する方法を用いると良
い。結晶化の条件は実施者が適宣選択するものである
が、エキシマレーザーを用いる場合はパルス発振周波数
30[Hz]とし、レーザーエネルギー密度を100〜40
0[mJ/cm2](代表的には200〜300[mJ/cm2])とす
る。また、YAGレーザーを用いる場合にはその第2高
調波を用いパルス発振周波数1〜10kHzとし、レー
ザーエネルギー密度を300〜600[mJ/cm2] (代表
的には350〜500[mJ/cm2])とすると良い。そして
幅100〜1000[μm]、例えば400[μm]で線状に
集光したレーザー光を基板全面に渡って照射し、この時
の線状レーザー光の重ね合わせ率(オーバーラップ率)
を50〜90[%]として行えばよい。
When a crystalline semiconductor film is formed by a laser crystallization method, a pulse oscillation type or continuous emission type excimer laser, a YAG laser, or a YVO 4 laser can be used. In the case of using these lasers, it is preferable to use a method in which laser light emitted from a laser oscillator is linearly condensed by an optical system and irradiated on a semiconductor film. The crystallization conditions are appropriately selected by the practitioner. When an excimer laser is used, the pulse oscillation frequency is 30 [Hz], and the laser energy density is 100 to 40.
0 [mJ / cm 2 ] (typically 200 to 300 [mJ / cm 2 ]). When a YAG laser is used, its second harmonic is used to set the pulse oscillation frequency to 1 to 10 kHz and the laser energy density to 300 to 600 [mJ / cm 2 ] (typically 350 to 500 [mJ / cm 2]. ]) Then, a laser beam condensed linearly with a width of 100 to 1000 [μm], for example, 400 [μm] is irradiated over the entire surface of the substrate, and the superposition rate (overlap rate) of the linear laser light at this time is irradiated.
May be set as 50 to 90 [%].

【0061】次いで、半導体層5003〜5006を覆
うゲート絶縁膜5007を形成する。ゲート絶縁膜50
07はプラズマCVD法またはスパッタ法を用い、厚さ
を40〜150[nm]として珪素を含む絶縁膜で形成す
る。本実施例では、プラズマCVD法により110[nm]
の厚さで酸化窒化珪素膜(組成比Si=32[%]、O=
59[%]、N=7[%]、H=2[%])で形成した。勿
論、ゲート絶縁膜5007は酸化窒化珪素膜に限定され
るものでなく、他の珪素を含む絶縁膜を単層または積層
構造として用いても良い。
Next, a gate insulating film 5007 covering the semiconductor layers 5003 to 5006 is formed. Gate insulating film 50
07 is formed of an insulating film containing silicon with a thickness of 40 to 150 [nm] by using a plasma CVD method or a sputtering method. In this embodiment, 110 [nm] is obtained by the plasma CVD method.
Silicon oxynitride film (composition ratio Si = 32 [%], O =
59 [%], N = 7 [%], H = 2 [%]). Needless to say, the gate insulating film 5007 is not limited to a silicon oxynitride film, and another insulating film containing silicon may be used as a single layer or a stacked structure.

【0062】また、酸化珪素膜を用いる場合には、プラ
ズマCVD法でTEOS(Tetraethyl Orthosilicat
e)とO2とを混合し、反応圧力40[Pa]、基板温度30
0〜400[℃]とし、高周波(13.56[MHz])電力
密度0.5〜0.8[W/cm2]で放電させて形成すること
ができる。このようにして作製される酸化珪素膜は、そ
の後400〜500[℃]の熱アニールによりゲート絶縁
膜として良好な特性を得ることができる。
When a silicon oxide film is used, TEOS (Tetraethyl Orthosilicat
e) and O 2 were mixed, the reaction pressure was 40 [Pa], and the substrate temperature was 30.
It can be formed by discharging at a high-frequency (13.56 [MHz]) power density of 0.5 to 0.8 [W / cm 2 ] at 0 to 400 [° C.]. The silicon oxide film thus manufactured can obtain good characteristics as a gate insulating film by subsequent thermal annealing at 400 to 500 [° C.].

【0063】次いで、ゲート絶縁膜5007上に膜厚2
0〜100[nm]の第1の導電膜5008と、膜厚100
〜400[nm]の第2の導電膜5009とを積層形成す
る。本実施例では、膜厚30[nm]のTaN膜からなる第
1の導電膜5007と、膜厚370[nm]のW膜からなる
第2の導電膜5008を積層形成した。TaN膜はスパ
ッタ法で形成し、Taのターゲットを用い、窒素を含む
雰囲気内でスパッタした。また、W膜は、Wのターゲッ
トを用いたスパッタ法で形成した。その他に6フッ化タ
ングステン(WF6)を用いる熱CVD法で形成するこ
ともできる。いずれにしてもゲート電極として使用する
ためには低抵抗化を図る必要があり、W膜の抵抗率は2
0[μΩcm]以下にすることが望ましい。W膜は結晶粒を
大きくすることで低抵抗率化を図ることができるが、W
膜中に酸素などの不純物元素が多い場合には結晶化が阻
害され高抵抗化する。従って本実施例では、高純度のW
(純度99.9999[%])のターゲットを用いたスパ
ッタ法で、さらに成膜時に気相中からの不純物の混入が
ないように十分配慮してW膜を形成することにより、抵
抗率9〜20[μΩcm]を実現することができた。
Next, a film thickness of 2 is formed on the gate insulating film 5007.
A first conductive film 5008 of 0 to 100 [nm] and a film thickness of 100
A second conductive film 5009 of about 400 [nm] is stacked. In this embodiment, a first conductive film 5007 made of a TaN film having a thickness of 30 [nm] and a second conductive film 5008 made of a W film having a thickness of 370 [nm] are formed by lamination. The TaN film was formed by a sputtering method, and was sputtered using a Ta target in an atmosphere containing nitrogen. The W film was formed by a sputtering method using a W target. Alternatively, it can be formed by a thermal CVD method using tungsten hexafluoride (WF 6 ). In any case, it is necessary to lower the resistance in order to use it as a gate electrode.
It is desirable to set it to 0 [μΩcm] or less. The resistivity of the W film can be reduced by enlarging the crystal grains.
When there are many impurity elements such as oxygen in the film, crystallization is hindered and the resistance is increased. Therefore, in this embodiment, high-purity W
(Purity: 99.9999 [%]) by forming a W film with sufficient care so as not to mix impurities from the gas phase at the time of film formation by a sputtering method using a target having a resistivity of 9 to 9%. 20 [μΩcm] was achieved.

【0064】なお、本実施例では、第1の導電膜500
8をTaN、第2の導電膜5009をWとしたが、特に
限定されず、いずれもTa、W、Ti、Mo、Al、C
u、Cr、Ndから選ばれた元素、または前記元素を主
成分とする合金材料若しくは化合物材料で形成してもよ
い。また、リン等の不純物元素をドーピングした多結晶
珪素膜に代表される半導体膜を用いてもよい。また、A
g、Pd、Cuからなる合金を用いてもよい。また、第
1の導電膜をTa膜で形成し、第2の導電膜をW膜とす
る組み合わせ、第1の導電膜をTiN膜で形成し、第2
の導電膜をW膜とする組み合わせ、第1の導電膜を窒化
タンタル(TaN)膜で形成し、第2の導電膜をAl膜
とする組み合わせ、第1の導電膜をTaN膜で形成し、
第2の導電膜をCu膜とする組み合わせとしてもよい。
In this embodiment, the first conductive film 500
8 was TaN, and the second conductive film 5009 was W. However, the present invention is not limited thereto, and any of Ta, W, Ti, Mo, Al, and C may be used.
It may be formed of an element selected from u, Cr, and Nd, or an alloy material or a compound material containing the element as a main component. Alternatively, a semiconductor film typified by a polycrystalline silicon film doped with an impurity element such as phosphorus may be used. Also, A
An alloy composed of g, Pd, and Cu may be used. Further, the first conductive film is formed of a Ta film, the second conductive film is formed of a W film, and the first conductive film is formed of a TiN film.
The first conductive film is formed of a tantalum nitride (TaN) film, the second conductive film is formed of an Al film, the first conductive film is formed of a TaN film,
The second conductive film may be a combination of a Cu film.

【0065】次に、図11(B)に示すようにフォトリ
ソグラフィ法を用いてレジストからなるマスク5010
を形成し、電極及び配線を形成するための第1のエッチ
ング処理を行う。第1のエッチング処理では第1及び第
2のエッチング条件で行う。本実施例では第1のエッチ
ング条件として、ICP(Inductively Coupled Plas
ma:誘導結合型プラズマ)エッチング法を用い、エッチ
ング用ガスにCF4とCl2とO2とを用い、それぞれの
ガス流量比を25/25/10[sccm]とし、1[Pa]の圧
力でコイル型の電極に500[W]のRF(13.56[M
Hz])電力を投入してプラズマを生成してエッチングを
行った。ここでは、松下電器産業(株)製のICPを用
いたドライエッチング装置(Model E645−□IC
P)を用いた。基板側(試料ステージ)にも150[W]
のRF(13.56[MHz])電力を投入し、実質的に負
の自己バイアス電圧を印加する。この第1のエッチング
条件によりW膜をエッチングして第1の導電層の端部を
テーパー形状とする。第1のエッチング条件でのWに対
するエッチング速度は200.39[nm/min.]、TaN
に対するエッチング速度は80.32[nm/min.]であ
り、TaNに対するWの選択比は約2.5である。ま
た、この第1のエッチング条件によって、Wのテーパー
角は、約26°となる。
Next, as shown in FIG. 11B, a mask 5010 made of a resist is formed by photolithography.
Is formed, and a first etching process for forming an electrode and a wiring is performed. The first etching process is performed under the first and second etching conditions. In this embodiment, as the first etching condition, ICP (Inductively Coupled Plas
ma: Inductively coupled plasma) Using an etching method, using CF 4 , Cl 2, and O 2 as etching gases, setting the respective gas flow ratios to 25/25/10 [sccm], and applying a pressure of 1 [Pa]. And 500 [W] RF (13.56 [M]
Hz]) Power was applied to generate plasma to perform etching. Here, a dry etching apparatus (Model E645-IC) using ICP manufactured by Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
P) was used. 150 [W] on substrate side (sample stage)
(13.56 [MHz]), and a substantially negative self-bias voltage is applied. The W film is etched under the first etching conditions to make the end of the first conductive layer tapered. The etching rate for W under the first etching condition is 200.39 [nm / min.], And TaN
Is 80.32 [nm / min.], And the selectivity ratio of W to TaN is about 2.5. Further, the taper angle of W is about 26 ° under the first etching condition.

【0066】この後、図11(B)に示すようにレジス
トからなるマスク5010を除去せずに第2のエッチン
グ条件に変え、エッチング用ガスにCF4とCl2とを用
い、それぞれのガス流量比を30/30[sccm]とし、1
[Pa]の圧力でコイル型の電極に500[W]のRF(1
3.56[MHz])電力を投入してプラズマを生成して約
30秒程度のエッチングを行った。基板側(試料ステー
ジ)にも20[W]のRF(13.56[MHz])電力を投
入し、実質的に負の自己バイアス電圧を印加する。CF
4とCl2を混合した第2のエッチング条件ではW膜及び
TaN膜とも同程度にエッチングされる。第2のエッチ
ング条件でのWに対するエッチング速度は58.97[n
m/min.]、TaNに対するエッチング速度は66.43
[nm/min.]である。なお、ゲート絶縁膜上に残渣を残す
ことなくエッチングするためには、10〜20[%]程度
の割合でエッチング時間を増加させると良い。
Thereafter, as shown in FIG. 11B, the second mask was changed to the second etching condition without removing the mask 5010 made of resist, and CF 4 and Cl 2 were used as etching gases. The ratio is 30/30 [sccm] and 1
At a pressure of [Pa], 500 [W] RF (1
3.56 [MHz]) power was supplied to generate plasma, and etching was performed for about 30 seconds. An RF (13.56 [MHz]) power of 20 [W] is also applied to the substrate side (sample stage), and a substantially negative self-bias voltage is applied. CF
Under the second etching condition in which 4 and Cl 2 are mixed, both the W film and the TaN film are etched to the same extent. The etching rate for W under the second etching condition is 58.97 [n].
m / min.], and the etching rate for TaN is 66.43.
[nm / min.]. Note that in order to perform etching without leaving a residue on the gate insulating film, the etching time may be increased at a rate of about 10 to 20%.

【0067】上記第1のエッチング処理では、レジスト
からなるマスクの形状を適したものとすることにより、
基板側に印加するバイアス電圧の効果により第1の導電
層及び第2の導電層の端部がテーパー形状となる。この
テーパー部の角度は15〜45°とすればよい。こうし
て、第1のエッチング処理により第1の導電層と第2の
導電層から成る第1の形状の導電層5011〜5015
(第1の導電層5011a〜5015aと第2の導電層
5011b〜5015b)を形成する。ゲート絶縁膜5
007においては、第1の形状の導電層5011〜50
15で覆われない領域は20〜50[nm]程度エッチング
され薄くなった領域が形成される。
In the first etching process, the shape of the resist mask is made appropriate,
The ends of the first conductive layer and the second conductive layer are tapered due to the effect of the bias voltage applied to the substrate side. The angle of the tapered portion may be 15 to 45 degrees. Thus, the first-shaped conductive layers 5011 to 5015 including the first conductive layer and the second conductive layer by the first etching process.
(First conductive layers 5011a to 5015a and second conductive layers 5011b to 5015b) are formed. Gate insulating film 5
007, the first shape conductive layers 5011 to 50
The region not covered with 15 is etched to about 20 to 50 [nm] to form a thinned region.

【0068】そして、レジストからなるマスクを除去せ
ずに第1のドーピング処理を行い、半導体層にn型を付
与する不純物元素を添加する(図5(B))。ドーピン
グ処理はイオンドープ法、若しくはイオン注入法で行え
ば良い。イオンドープ法の条件はドーズ量を1×1013
〜5×1015 [atoms/cm2]とし、加速電圧を60〜1
00[keV]として行う。本実施例ではドーズ量を1.5
×1015[atoms/cm2]とし、加速電圧を80[keV]として
行った。n型を付与する不純物元素として15族に属す
る元素、典型的にはリン(P)または砒素(As)を用
いるが、ここではリン(P)を用いた。この場合、第1
の形状の導電層5011〜5015がn型を付与する不
純物元素に対するマスクとなり、自己整合的に高濃度不
純物領域5016〜5019が形成される。高濃度不純
物領域5016〜5019には1×1020〜1×1021
[atoms/cm3]の濃度範囲でn型を付与する不純物元素を
添加する。
Then, a first doping process is performed without removing the resist mask to add an impurity element imparting n-type to the semiconductor layer (FIG. 5B). The doping treatment may be performed by an ion doping method or an ion implantation method. The condition of the ion doping method is that the dose is 1 × 10 13
55 × 10 15 [atoms / cm 2 ] and the acceleration voltage is 60-1
It is performed as 00 [keV]. In this embodiment, the dose is 1.5
The measurement was performed at × 10 15 [atoms / cm 2 ] and the acceleration voltage was 80 [keV]. As the impurity element imparting n-type, an element belonging to Group 15 of the periodic table, typically phosphorus (P) or arsenic (As) is used. Here, phosphorus (P) is used. In this case, the first
The conductive layers 5011 to 5015 having the above-mentioned shape serve as masks for the impurity element imparting n-type, and the high-concentration impurity regions 5016 to 5019 are formed in a self-aligned manner. 1 × 10 20 to 1 × 10 21 in the high concentration impurity regions 5016 to 5019
An impurity element imparting n-type is added in a concentration range of [atoms / cm 3 ].

【0069】次いで、図11(C)に示すようにレジス
トからなるマスクを除去せずに第2のエッチング処理を
行う。ここでは、エッチング用ガスにCF4とCl2とO
2とを用い、それぞれのガス流量比を20/20/20
[sccm]とし、1[Pa]の圧力でコイル型の電極に500
[W]のRF(13.56[MHz])電力を投入してプラズ
マを生成してエッチングを行った。基板側(試料ステー
ジ)にも20[W]のRF(13.56[MHz])電力を投
入し、実質的に負の自己バイアス電圧を印加する。第2
のエッチング処理でのWに対するエッチング速度は12
4.62[nm/min.]、TaNに対するエッチング速度は
20.67[nm/min.]であり、TaNに対するWの選択
比は6.05である。従って、W膜が選択的にエッチン
グされる。この第2のエッチングによりWのテーパー角
は70°となった。この第2のエッチング処理により第
2の導電層5020b〜5024bを形成する。一方、
第1の導電層5011a〜5015aは、ほとんどエッ
チングされず、第1の導電層5020a〜5024aを
形成する。
Next, as shown in FIG. 11C, a second etching process is performed without removing the resist mask. Here, CF 4 , Cl 2, and O are used as etching gases.
2 and the respective gas flow ratios are 20/20/20
[sccm] and a pressure of 1 [Pa] on the coil-type electrode
An RF (13.56 [MHz]) power of [W] was supplied to generate plasma to perform etching. An RF (13.56 [MHz]) power of 20 [W] is also applied to the substrate side (sample stage), and a substantially negative self-bias voltage is applied. Second
The etching rate for W in the etching process is 12
At 4.62 [nm / min.], The etching rate for TaN is 20.67 [nm / min.], And the selectivity ratio of W to TaN is 6.05. Therefore, the W film is selectively etched. The taper angle of W became 70 ° by the second etching. By this second etching process, second conductive layers 5020b to 5024b are formed. on the other hand,
The first conductive layers 5011a to 5015a are hardly etched to form first conductive layers 5020a to 5024a.

【0070】次いで、第2のドーピング処理を行う。ド
ーピングは第2の導電層5020b〜5024bを不純
物元素に対するマスクとして用い、第1の導電層のテー
パー部下方の半導体層に不純物元素が添加されるように
ドーピングする。本実施例では、不純物元素としてP
(リン)を用い、ドーズ量1.5×1014[atoms/c
m2]、電流密度0.5[μA]、加速電圧90[keV]にてプ
ラズマドーピングを行った。こうして、第1の導電層と
重なる低濃度不純物領域5025〜5028を自己整合
的に形成する。この低濃度不純物領域5025〜502
8へ添加されたリン(P)の濃度は、1×1017〜5×
1018[atoms/cm3]であり、且つ、第1の導電層のテー
パー部の膜厚に従って緩やかな濃度勾配を有している。
なお、第1の導電層のテーパー部と重なる半導体層にお
いて、第1の導電層のテーパー部の端部から内側に向か
って若干、不純物濃度が低くなっているものの、ほぼ同
程度の濃度である。また、高濃度不純物領域5016〜
5019にも不純物元素が添加される(図12
(A))。
Next, a second doping process is performed. The doping is performed using the second conductive layers 5020b to 5024b as a mask for the impurity element, so that the semiconductor layer below the tapered portion of the first conductive layer is doped with the impurity element. In this embodiment, P is used as the impurity element.
(Phosphorus) with a dose of 1.5 × 10 14 [atoms / c
m 2 ], a current density of 0.5 [μA], and an acceleration voltage of 90 [keV]. Thus, low-concentration impurity regions 5025 to 5028 overlapping with the first conductive layer are formed in a self-aligned manner. These low concentration impurity regions 5025 to 502
The concentration of phosphorus (P) added to 8 was 1 × 10 17 to 5 ×
10 18 [atoms / cm 3 ], and has a gentle concentration gradient according to the thickness of the tapered portion of the first conductive layer.
Note that in the semiconductor layer overlapping with the tapered portion of the first conductive layer, the impurity concentration is slightly reduced from the end of the tapered portion of the first conductive layer toward the inside, but is approximately the same. . Further, the high-concentration impurity regions 5016 to
An impurity element is also added to 5019 (FIG. 12).
(A)).

【0071】次いで、図12(B)に示すようにレジス
トからなるマスクを除去してからフォトリソグラフィ法
を用いて、第3のエッチング処理を行う。この第3のエ
ッチング処理では第1の導電層のテーパー部を部分的に
エッチングして、第2の導電層と重なる形状にするため
に行われる。ただし、第3のエッチングを行わない領域
には、レジスト5029からなるマスクを形成する。
Next, as shown in FIG. 12B, the mask made of the resist is removed, and then a third etching process is performed by using a photolithography method. This third etching treatment is performed in order to partially etch the tapered portion of the first conductive layer so that the tapered portion overlaps with the second conductive layer. However, a mask made of the resist 5029 is formed in a region where the third etching is not performed.

【0072】第3のエッチング処理におけるエッチング
条件は、エッチングガスとしてCl 2とSF6とを用い、
それぞれのガス流量比を10/50[sccm]として第1及
び第2のエッチングと同様にICPエッチング法を用い
て行う。なお、第3のエッチング処理でのTaNに対す
るエッチング速度は、111.2[nm/min.]であり、ゲ
ート絶縁膜に対するエッチング速度は、12.8[nm/mi
n.]である。
Etching in Third Etching Process
The condition is that Cl is used as an etching gas. TwoAnd SF6And
The first and second gas flow ratios were 10/50 [sccm].
And ICP etching method as in the second etching.
Do it. Note that TaN in the third etching process is
The etching rate is 111.2 nm / min.
The etching rate for the gate insulating film is 12.8 [nm / mi
n.].

【0073】本実施例では、1.3[Pa]の圧力でコイル
型の電極に500[W]のRF(13.56[MHz])電力
を投入してプラズマを生成してエッチングを行った。基
板側(試料ステージ)にも10[W]のRF(13.56
[MHz])電力を投入し、実質的に負の自己バイアス電圧
を印加する。以上により、第1の導電層5030a〜5
032aが形成される。
In this embodiment, etching was performed by applying a 500 [W] RF (13.56 [MHz]) power to the coil-type electrode at a pressure of 1.3 [Pa] to generate plasma. . The RF (13.56) of 10 [W] is also provided on the substrate side (sample stage).
[MHz]) Power is applied and a substantially negative self-bias voltage is applied. As described above, the first conductive layers 5030a to 5030a-5
032a is formed.

【0074】上記第3のエッチングによって、第1の導
電層5030a〜5032aと重ならない不純物領域
(LDD領域)5033〜5034が形成される。な
お、不純物領域(GOLD領域)5025、5028
は、第1の導電層5020a、5024aとそれぞれ重
なったままである。
By the third etching, impurity regions (LDD regions) 5033 to 5034 which do not overlap with the first conductive layers 5030a to 5032a are formed. Note that impurity regions (GOLD regions) 5025 and 5028
Remain over the first conductive layers 5020a and 5024a, respectively.

【0075】このようにして、本実施例は、第1の導電
層と重ならない不純物領域(LDD領域)5033〜5
034と、第1の導電層と重なる不純物領域(GOLD
領域)5025、5028を同時に形成することがで
き、TFT特性に応じた作り分けが可能となる。
As described above, in the present embodiment, the impurity regions (LDD regions) 5033 to 533 which do not overlap with the first conductive layer
034 and an impurity region (GOLD) overlapping the first conductive layer.
Regions) 5025 and 5028 can be formed at the same time, and can be separately formed according to the TFT characteristics.

【0076】次いで、レジストからなるマスクを除去し
た後、ゲート絶縁膜5007をエッチング処理する。こ
こでのエッチング処理は、エッチングガスにCHF3
用い、反応性イオンエッチング法(RIE法)を用いて
行う。本実施例では、チャンバー圧力6.7[Pa]、RF
電力800[W]、CHF3ガス流量35[sccm]で第3の
エッチング処理を行った。これにより、高濃度不純物領
域5016〜5019の一部は露呈し、ゲート絶縁膜5
007a〜5007dが形成される。
Next, after removing the resist mask, the gate insulating film 5007 is etched. The etching process here is performed using CHF 3 as an etching gas and a reactive ion etching method (RIE method). In this embodiment, the chamber pressure is 6.7 [Pa], and the RF is
The third etching process was performed at a power of 800 [W] and a CHF 3 gas flow rate of 35 [sccm]. As a result, a part of the high-concentration impurity regions 5016 to 5019 is exposed, and the gate insulating film 5
007a to 5007d are formed.

【0077】次に、新たにレジストからなるマスク50
35を形成して第3のドーピング処理を行う。この第3
のドーピング処理により、pチャネル型TFTの活性層
となる半導体層に前記第1の導電型(n型)とは逆の第
2の導電型(p型)を付与する不純物元素が添加された
不純物領域5036を形成する(図12(C))。第1
の導電層5030aを不純物元素に対するマスクとして
用い、p型を付与する不純物元素を添加して自己整合的
に不純物領域を形成する。
Next, a new mask 50 made of resist is used.
35 is formed and a third doping process is performed. This third
Is obtained by adding an impurity element imparting a second conductivity type (p-type) opposite to the first conductivity type (n-type) to a semiconductor layer serving as an active layer of a p-channel TFT by the doping process. A region 5036 is formed (FIG. 12C). First
Is used as a mask for an impurity element, and an impurity element imparting p-type is added to form an impurity region in a self-aligned manner.

【0078】本実施例では、不純物領域5036はジボ
ラン(B26)を用いたイオンドープ法で形成する。な
お、この第3のドーピング処理の際には、nチャネル型
TFTを形成する半導体層はレジストからなるマスク5
035で覆われている。第1のドーピング処理及び第2
のドーピング処理によって、不純物領域5036にはそ
れぞれ異なる濃度でリンが添加されているが、そのいず
れの領域においてもp型を付与する不純物元素の濃度が
2×1020〜2×1021[atoms/cm3]となるようにドー
ピング処理することにより、pチャネル型TFTのソー
ス領域およびドレイン領域として機能するために何ら問
題は生じない。
In this embodiment, the impurity region 5036 is formed by an ion doping method using diborane (B 2 H 6 ). At the time of the third doping process, the semiconductor layer forming the n-channel TFT is made of a resist mask 5.
035. First doping process and second doping
Is added to the impurity regions 5036 at different concentrations by the doping process, but the concentration of the impurity element imparting p-type is 2 × 10 20 to 2 × 10 21 [atoms / By performing the doping treatment so as to obtain cm 3 ], there is no problem because it functions as the source region and the drain region of the p-channel TFT.

【0079】以上までの工程でそれぞれの半導体層に不
純物領域が形成される。なお、本実施例では、ゲート絶
縁膜をエッチングした後で不純物(B)のドーピングを
行う方法を示したが、ゲート絶縁膜をエッチングしない
で不純物のドーピングを行っても良い。
Through the above steps, impurity regions are formed in the respective semiconductor layers. In this embodiment, the method of doping the impurity (B) after etching the gate insulating film is described; however, the impurity may be doped without etching the gate insulating film.

【0080】次いで、レジストからなるマスク5035
を除去して図13(A)に示すように第1の層間絶縁膜
5037を形成する。この第1の層間絶縁膜5037と
しては、プラズマCVD法またはスパッタ法を用い、厚
さを100〜200[nm]として珪素を含む絶縁膜で形成
する。本実施例では、プラズマCVD法により膜厚15
0[nm]の酸化窒化珪素膜を形成した。勿論、第1の層間
絶縁膜5037は酸化窒化珪素膜に限定されるものでな
く、他の珪素を含む絶縁膜を単層または積層構造として
用いても良い。
Next, a mask 5035 made of resist is used.
Is removed to form a first interlayer insulating film 5037 as shown in FIG. The first interlayer insulating film 5037 is formed of an insulating film containing silicon with a thickness of 100 to 200 [nm] by a plasma CVD method or a sputtering method. In this embodiment, a film thickness of 15
A silicon oxynitride film of 0 [nm] was formed. Needless to say, the first interlayer insulating film 5037 is not limited to the silicon oxynitride film, and another insulating film containing silicon may be used as a single layer or a stacked structure.

【0081】次いで、それぞれの半導体層に添加された
不純物元素を活性化処理する工程を行う。この活性化工
程はファーネスアニール炉を用いる熱アニール法で行
う。熱アニール法としては、酸素濃度が1[ppm]以下、
好ましくは0.1[ppm]以下の窒素雰囲気中で400〜
700[℃]、代表的には500〜550[℃]で行えばよ
く、本実施例では550[℃]、4時間の熱処理で活性化
処理を行った。なお、熱アニール法の他に、レーザーア
ニール法、またはラピッドサーマルアニール法(RTA
法)を適用することができる。
Next, a step of activating the impurity element added to each semiconductor layer is performed. This activation step is performed by a thermal annealing method using a furnace annealing furnace. As the thermal annealing method, the oxygen concentration is 1 [ppm] or less,
Preferably in a nitrogen atmosphere of 0.1 [ppm] or less,
The heat treatment may be performed at 700 ° C., typically 500 to 550 ° C. In this embodiment, the activation treatment is performed by heat treatment at 550 ° C. for 4 hours. In addition to the thermal annealing method, a laser annealing method or a rapid thermal annealing method (RTA)
Law) can be applied.

【0082】なお、本実施例では、上記活性化処理と同
時に、結晶化の際に触媒として使用したNiが高濃度の
Pを含む不純物領域にゲッタリングされ、主にチャネル
形成領域となる半導体層中のニッケル濃度が低減され
る。このようにして作製したチャネル形成領域を有する
TFTはオフ電流値が下がり、結晶性が良いことから高
い電界効果移動度が得られ、良好な特性を達成すること
ができる。
In this embodiment, at the same time as the above-described activation treatment, Ni used as a catalyst during crystallization is gettered into an impurity region containing a high concentration of P, and the semiconductor layer mainly serving as a channel formation region is formed. The nickel concentration in is reduced. A TFT having a channel formation region manufactured in this manner has a low off-current value and high crystallinity, so that a high field-effect mobility can be obtained and favorable characteristics can be achieved.

【0083】また、第1の層間絶縁膜5037を形成す
る前に活性化処理を行っても良い。ただし、用いた配線
材料が熱に弱い場合には、本実施例のように配線等を保
護するため層間絶縁膜5037(シリコンを主成分とす
る絶縁膜、例えば窒化珪素膜)を形成した後で活性化処
理を行うことが好ましい。
The activation process may be performed before forming the first interlayer insulating film 5037. However, when the wiring material used is weak to heat, after forming an interlayer insulating film 5037 (an insulating film containing silicon as a main component, for example, a silicon nitride film) for protecting the wiring and the like as in this embodiment. Preferably, an activation treatment is performed.

【0084】その他、活性化処理を行った後でドーピン
グ処理を行い、第1の層間絶縁膜5037を形成させて
も良い。
Alternatively, a doping process may be performed after the activation process to form the first interlayer insulating film 5037.

【0085】さらに、3〜100[%]の水素を含む雰囲
気中で、300〜550[℃]で1〜12時間の熱処理を
行い、半導体層を水素化する工程を行う。本実施例では
水素を約3[%]の含む窒素雰囲気中で410[℃]、1時
間の熱処理を行った。この工程は層間絶縁膜5037に
含まれる水素により半導体層のダングリングボンドを終
端する工程である。水素化の他の手段として、プラズマ
水素化(プラズマにより励起された水素を用いる)を行
っても良い。
Further, a heat treatment is performed at 300 to 550 ° C. for 1 to 12 hours in an atmosphere containing 3 to 100% of hydrogen to hydrogenate the semiconductor layer. In this embodiment, heat treatment was performed at 410 ° C. for one hour in a nitrogen atmosphere containing about 3% of hydrogen. In this step, dangling bonds in the semiconductor layer are terminated by hydrogen contained in the interlayer insulating film 5037. As another means of hydrogenation, plasma hydrogenation (using hydrogen excited by plasma) may be performed.

【0086】また、活性化処理としてレーザーアニール
法を用いる場合には、上記水素化を行った後、エキシマ
レーザーやYAGレーザー等のレーザー光を照射するこ
とが望ましい。
When a laser annealing method is used as the activation treatment, it is preferable to irradiate a laser beam such as an excimer laser or a YAG laser after performing the above hydrogenation.

【0087】次いで、図13(B)に示すように第1の
層間絶縁膜5037上に有機絶縁物材料から成る第2の
層間絶縁膜5038を形成する。本実施例では膜厚1.
6[μm]のアクリル樹脂膜を形成した。次いで、各不純
物領域5016、5018、5019、5036に達す
るコンタクトホールを形成するためのパターニングを行
う。
Next, as shown in FIG. 13B, a second interlayer insulating film 5038 made of an organic insulating material is formed on the first interlayer insulating film 5037. In this embodiment, the film thickness is 1.
An acrylic resin film of 6 [μm] was formed. Next, patterning for forming a contact hole reaching each of the impurity regions 5016, 5018, 5019, and 5036 is performed.

【0088】第2の層間絶縁膜5038としては、珪素
を含む絶縁材料や有機樹脂からなる膜を用いる。珪素を
含む絶縁材料としては、酸化珪素、窒化珪素、酸化窒化
珪素を用いることができ、また有機樹脂としては、ポリ
イミド、ポリアミド、アクリル、BCB(ベンゾシクロ
ブテン)などを用いることができる。
As the second interlayer insulating film 5038, a film made of an insulating material containing silicon or an organic resin is used. As the insulating material containing silicon, silicon oxide, silicon nitride, or silicon oxynitride can be used. As the organic resin, polyimide, polyamide, acrylic, BCB (benzocyclobutene), or the like can be used.

【0089】本実施例では、プラズマCVD法により形
成された酸化窒化珪素膜を形成した。なお、酸化窒化珪
素膜の膜厚として好ましくは1〜5[μm](さらに好ま
しくは2〜4[μm])とすればよい。また、コンタクト
ホールの形成には、ドライエッチングまたはウエットエ
ッチングを用いることができるが、エッチング時におけ
る静電破壊の問題を考えると、ウエットエッチング法を
用いるのが望ましい。
In this embodiment, a silicon oxynitride film formed by a plasma CVD method was formed. Note that the thickness of the silicon oxynitride film is preferably 1 to 5 μm (more preferably 2 to 4 μm). In addition, dry etching or wet etching can be used for forming the contact hole. However, considering the problem of electrostatic breakdown at the time of etching, it is preferable to use a wet etching method.

【0090】さらに、ここでのコンタクトホールの形成
において、第1層間絶縁膜5037及び第2層間絶縁膜
5038を同時にエッチングするため、コンタクトホー
ルの形状を考えると第2層間絶縁膜5038を形成する
材料は、第1層間絶縁膜5037を形成する材料よりも
エッチング速度の速いものを用いるのが好ましい。
Further, since the first interlayer insulating film 5037 and the second interlayer insulating film 5038 are simultaneously etched in the formation of the contact hole, the material for forming the second interlayer insulating film 5038 in consideration of the shape of the contact hole. It is preferable to use a material having a higher etching rate than the material for forming the first interlayer insulating film 5037.

【0091】そして、各不純物領域5016、501
8、5019、5036とそれぞれ電気的に接続する配
線5039〜5044を形成する。ここでは、膜厚50
[nm]のTi膜と、膜厚500[nm]の合金膜(AlとTi
との合金膜)との積層膜をパターニングして形成する
が、他の導電膜を用いても良い。
Then, each impurity region 5016, 501
Wirings 5039 to 5044 electrically connected to the wirings 8, 5019 and 5036 are formed. Here, the film thickness 50
[nm] Ti film and 500 [nm] thick alloy film (Al and Ti
An alloy film is formed by patterning, but another conductive film may be used.

【0092】以上のようにして、nチャネル型TFT、
pチャネル型TFTを有する駆動回路と、画素TFT、
保持容量を有する画素部とを、同一基板上に形成するこ
とが出来る。本明細書中では、このような基板をアクテ
ィブマトリクス基板と表記する。
As described above, the n-channel type TFT,
a driving circuit having a p-channel TFT, a pixel TFT,
The pixel portion having a storage capacitor can be formed over the same substrate. In this specification, such a substrate is referred to as an active matrix substrate.

【0093】また、保持容量については、ゲート導電膜
の形成前に、必要部分に選択的に不純物のドーピングを
行い、容量を形成しても良い。この方法によると、フォ
トレジスト用のマスクが1枚増えることになるが、バイ
アスをかけることなく保持容量を形成することが出来
る。
As for the storage capacitor, a necessary portion may be selectively doped with impurities before forming the gate conductive film to form a capacitor. According to this method, the number of photoresist masks is increased by one, but a storage capacitor can be formed without applying a bias.

【0094】続いて、第3の層間絶縁膜5045を形成
する。この工程においては、続く画素電極の形成のため
に、TFTを形成している面の平坦化を行うためのもの
でもある。よって、平坦性に優れた、アクリル等の樹脂
膜からなる絶縁膜で形成するのが望ましい。次いで、そ
の上にMgAg膜を形成し、パターニングすることによ
って、画素電極(反射電極)5046を形成する(図1
3(C))。
Subsequently, a third interlayer insulating film 5045 is formed. In this step, the surface on which the TFT is formed is flattened to form a subsequent pixel electrode. Therefore, it is desirable that the insulating film be formed of an insulating film made of a resin film such as acrylic, which has excellent flatness. Next, a pixel electrode (reflective electrode) 5046 is formed by forming and patterning an MgAg film thereon (FIG. 1).
3 (C)).

【0095】一方、対向基板5047を用意する。図1
4(A)に示すように、対向基板5047にはカラーフ
ィルタ層5048〜5050、オーバーコート層505
1を形成する。カラーフィルタ層は、TFTの上方で、
異なる色のカラーフィルタ5048、5049を重ねて
形成し、遮光膜を兼ねる構成とする。なお、各色のカラ
ーフィルタ層は、樹脂に顔料を混合したものを用い、1
〜3[μm]の厚さで形成する。これには感光性の材料を
用い、マスクを用いて所定のパターンに形成することが
出来る。同時に、このカラーフィルタ層を利用して、ス
ペーサを形成する(図示せず)。これは、カラーフィル
タを重ねて形成することによって形成すれば良い。スペ
ーサの高さは、オーバーコート層5051の厚さ1〜4
[μm]を考慮することにより、2〜7[μm]、好ましくは
4〜6[μm]とすることが出来、この高さにより、アク
ティブマトリクス基板と対向基板とを貼り合わせた際の
ギャップを形成する。オーバーコート層5051は、光
硬化型または熱硬化型の有機樹脂材料で形成し、例え
ば、ポリイミドやアクリル樹脂等を用いれば良い。
On the other hand, a counter substrate 5047 is prepared. FIG.
As shown in FIG. 4A, a color filter layer 5048 to 5050 and an overcoat layer 505 are provided on the opposite substrate 5047.
Form one. The color filter layer is located above the TFT,
Color filters 5048 and 5049 of different colors are formed so as to overlap with each other and also serve as a light shielding film. The color filter layer of each color is made of a mixture of a resin and a pigment.
It is formed to a thickness of about 3 [μm]. For this, a photosensitive material can be used to form a predetermined pattern using a mask. At the same time, a spacer is formed using this color filter layer (not shown). This may be formed by overlapping color filters. The height of the spacer is 1 to 4 times the thickness of the overcoat layer 5051.
By considering [μm], the thickness can be set to 2 to 7 [μm], preferably 4 to 6 [μm], and the height can reduce the gap when the active matrix substrate and the counter substrate are bonded to each other. Form. The overcoat layer 5051 is formed using a photocurable or thermosetting organic resin material, and for example, polyimide or an acrylic resin may be used.

【0096】オーバーコート層5051を形成した後、
透明導電膜でなる対向電極5052をパターニング形成
する。その後、アクティブマトリクス基板、対向基板と
もに、配向膜5053を形成し、ラビング処理を行う。
After forming the overcoat layer 5051,
A counter electrode 5052 made of a transparent conductive film is formed by patterning. After that, an alignment film 5053 is formed on both the active matrix substrate and the counter substrate, and a rubbing process is performed.

【0097】その後、アクティブマトリクス基板と対向
基板とを、シール剤5055で貼り合わせる。シール剤
5055にはフィラーが混入されており、このフィラー
とスペーサによって、2枚の基板が均一な間隔をもって
貼り合わせられる。続いて、両基板の間に液晶材料50
54を注入し、封止剤(図示せず)によって完全に封止
する。液晶材料5054としては、公知の液晶材料を用
いれば良い。以上のようにして、図14(A)に示すよ
うなアクティブマトリクス型液晶表示装置が完成する。
After that, the active matrix substrate and the counter substrate are bonded with a sealant 5055. A filler is mixed in the sealant 5055, and the two substrates are bonded at a uniform interval by the filler and the spacer. Subsequently, a liquid crystal material 50 is provided between the two substrates.
Inject 54 and completely seal with sealant (not shown). As the liquid crystal material 5054, a known liquid crystal material may be used. As described above, an active matrix liquid crystal display device as shown in FIG. 14A is completed.

【0098】なお、上記の工程により作成されるアクテ
ィブマトリクス型液晶表示装置におけるTFTはトップ
ゲート構造をとっているが、ボトムゲート構造のTFT
や、その他の構造のTFTに関しても、本実施例は容易
に適用され得る。また、画素電極を透明導電膜によって
形成することによって、透過型の表示装置とすることも
出来る。
Although the TFT in the active matrix type liquid crystal display device manufactured by the above-described process has a top gate structure, a TFT having a bottom gate structure is used.
This embodiment can be easily applied to TFTs having other structures. Further, by forming the pixel electrode with a transparent conductive film, a transmissive display device can be obtained.

【0099】また、本実施例においてはガラス基板を使
用しているが、ガラス基板に限らず、プラスチック基
板、ステンレス基板、単結晶ウェハ等、ガラス基板以外
のものを使用する場合にも実施が可能である。
Although a glass substrate is used in this embodiment, the present invention is not limited to a glass substrate but can be applied to a case other than a glass substrate such as a plastic substrate, a stainless steel substrate, or a single crystal wafer. It is.

【0100】[実施例5]本発明の表示装置には様々な用
途がある。本実施例では、本発明の表示装置を組み込ん
だ電子機器の応用例について説明する。
[Embodiment 5] The display device of the present invention has various uses. In this embodiment, an application example of an electronic device in which the display device of the present invention is incorporated will be described.

【0101】このような電子機器には、携帯情報端末
(電子手帳、モバイルコンピュータ、携帯電話等)、ビ
デオカメラ、デジタルカメラ、パーソナルコンピュー
タ、テレビ、プロジェクタ装置等が挙げられる。それら
の一例を図15および図16に示す。
Examples of such electronic devices include portable information terminals (electronic notebooks, mobile computers, mobile phones, etc.), video cameras, digital cameras, personal computers, televisions, projectors, and the like. Examples of these are shown in FIGS.

【0102】図15(A)は液晶ディスプレイ(LC
D)であり、筐体3301、支持台3302、表示部3
303等を含む。本発明の表示装置は表示部3303に
て用いることが出来る。
FIG. 15A shows a liquid crystal display (LC).
D), the housing 3301, the support 3302, and the display unit 3
303 and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 3303.

【0103】図15(B)はビデオカメラであり、本体
3311、表示部3312、音声入力部3313、操作
スイッチ3314、バッテリー3315、受像部331
6等を含む。本発明の表示装置は表示部3312にて用
いることが出来る。
FIG. 15B shows a video camera, which includes a main body 3311, a display section 3312, an audio input section 3313, an operation switch 3314, a battery 3315, and an image receiving section 331.
6 and so on. The display device of the present invention can be used for the display portion 3312.

【0104】図15(C)はパーソナルコンピュータで
あり、本体3321、筐体3322、表示部3323、
キーボード3324等を含む。本発明の表示装置は表示
部3323にて用いることが出来る。
FIG. 15C shows a personal computer, which includes a main body 3321, a housing 3322, a display portion 3323,
A keyboard 3324 and the like are included. The display device of the present invention can be used for the display portion 3323.

【0105】図15(D)は携帯情報端末であり、本体
3331、スタイラス3332、表示部3333、操作
ボタン3334、外部インターフェイス3335等を含
む。本発明の表示装置は表示部3333にて用いること
が出来る。
FIG. 15D shows a portable information terminal, which includes a main body 3331, a stylus 3332, a display portion 3333, operation buttons 3334, an external interface 3335, and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 3333.

【0106】図16(A)は携帯電話であり、本体34
01、音声出力部3402、音声入力部3403、表示
部3404、操作スイッチ3405、アンテナ3406
を含む。本発明の表示装置は表示部3404にて用いる
ことが出来る。
FIG. 16A shows a mobile phone, and the main body 34 is provided.
01, audio output unit 3402, audio input unit 3403, display unit 3404, operation switch 3405, antenna 3406
including. The display device of the present invention can be used for the display portion 3404.

【0107】図16(B)は音響再生装置、具体的には
カーオーディオであり、本体3411、表示部341
2、操作スイッチ3413、3414を含む。本発明の
表示装置は表示部3412にて用いることが出来る。ま
た、本実施例では車載用オーディオを示すが、携帯型も
しくは家庭用の音響再生装置に用いても良い。
FIG. 16B shows an audio reproducing apparatus, specifically, a car audio system.
2. Including operation switches 3413 and 3414. The display device of the present invention can be used for the display portion 3412. In this embodiment, the in-vehicle audio is shown, but the present invention may be applied to a portable or home-use audio reproducing apparatus.

【0108】図16(C)はデジタルカメラであり、本
体3501、表示部(A)3502、接眼部3503、
操作スイッチ3504、表示部(B)3505、バッテ
リー3506を含む。本発明の表示装置は、表示部
(A)3502、表示部(B)3505にて用いること
が出来る。
FIG. 16C shows a digital camera, which includes a main body 3501, a display section (A) 3502, an eyepiece section 3503,
An operation switch 3504, a display portion (B) 3505, and a battery 3506 are included. The display device of the present invention can be used for the display portion (A) 3502 and the display portion (B) 3505.

【0109】以上の様に、本発明の適用範囲は極めて広
く、あらゆる分野の電子機器に用いることが可能であ
る。また、本実施例の電子機器は実施例1〜実施例4に
示したいずれの構成を適用しても良い。
As described above, the applicable range of the present invention is extremely wide, and the present invention can be used for electronic devices in various fields. In addition, any of the configurations shown in the first to fourth embodiments may be applied to the electronic device of the present embodiment.

【発明の効果】本発明により、外部コントローラLSI
等の定駆動電圧化に対応し、かつ低消費電力化を実現す
る表示装置の駆動回路を提供することが出来る。
According to the present invention, an external controller LSI
It is possible to provide a driving circuit of a display device which can cope with a constant driving voltage and realize low power consumption.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の表示装置の駆動回路の概略図。FIG. 1 is a schematic diagram of a drive circuit of a display device of the present invention.

【図2】 レベルシフタおよび電流源の回路図。FIG. 2 is a circuit diagram of a level shifter and a current source.

【図3】 本発明の表示装置の駆動回路構成の一例を
示す図。
FIG. 3 illustrates an example of a drive circuit configuration of a display device of the present invention.

【図4】 表示装置の駆動回路の動作タイミングチャ
ートを示す図。
FIG. 4 is an operation timing chart of a driving circuit of a display device.

【図5】 本発明の表示装置の駆動回路構成の一例を
示す図。
FIG. 5 illustrates an example of a drive circuit configuration of a display device of the present invention.

【図6】 本発明の表示装置の駆動回路構成の一例を
示す図。
FIG. 6 illustrates an example of a drive circuit configuration of a display device of the present invention.

【図7】 本発明の表示装置の駆動回路構成の一例を
示す図。
FIG. 7 illustrates an example of a drive circuit configuration of a display device of the present invention.

【図8】 表示装置の駆動回路の動作タイミングチャ
ートを示す図。
FIG. 8 is an operation timing chart of a driver circuit of a display device.

【図9】 本発明以前の表示装置の駆動回路の概略
図。
FIG. 9 is a schematic diagram of a drive circuit of a display device before the present invention.

【図10】 レベルシフタおよび電流源の回路図。FIG. 10 is a circuit diagram of a level shifter and a current source.

【図11】 表示装置の作成工程例を示す図。FIG. 11 illustrates an example of a manufacturing process of a display device.

【図12】 表示装置の作成工程例を示す図。FIG. 12 illustrates an example of a manufacturing process of a display device.

【図13】 表示装置の作成工程例を示す図。FIG. 13 illustrates an example of a manufacturing process of a display device.

【図14】 表示装置の作成工程例を示す図。FIG. 14 illustrates an example of a manufacturing process of a display device.

【図15】 本発明を適用した電子機器の例を示す図。FIG. 15 illustrates an example of an electronic device to which the present invention is applied.

【図16】 本発明を適用した電子機器の例を示す図。FIG. 16 illustrates an example of an electronic device to which the present invention is applied.

【図17】 D−フリップフロップを用いたシフトレジ
スタの例を示す図。
FIG. 17 illustrates an example of a shift register using a D-flip-flop.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09G 3/20 623 G09G 3/20 623E 623H 680 680P 680T 680V Fターム(参考) 2H093 NC01 NC09 NC11 NC22 ND39 5C006 AA01 AA02 AA16 AF68 AF83 BB11 BC12 BC16 BC20 BF03 BF26 BF46 FA47 5C080 AA06 AA10 BB05 DD26 EE29 FF09 JJ02 JJ03 JJ04 JJ06──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G09G 3/20 623 G09G 3/20 623E 623H 680 680P 680T 680V F term (Reference) 2H093 NC01 NC09 NC11 NC22 ND39 5C006 AA01 AA02 AA16 AF68 AF83 BB11 BC12 BC16 BC20 BF03 BF26 BF46 FA47 5C080 AA06 AA10 BB05 DD26 EE29 FF09 JJ02 JJ03 JJ04 JJ06

Claims (24)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ソース信号線駆動回路と、画素部とが基板
上に形成された表示装置において、 前記ソース信号線駆動回路は、クロック信号に従って順
次パルスを出力するシフトレジスタと、入力される信号
の電圧振幅の変換を行うレベルシフタと、前記レベルシ
フタに電流を供給する電流源とを有し、 前記電流源は、前記シフトレジスタから順次パルスが出
力されている期間においてのみ、電流の供給を行うこと
を特徴とする表示装置。
1. A display device in which a source signal line driving circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the source signal line driving circuit outputs a pulse sequentially according to a clock signal, and an input signal. And a current source for supplying a current to the level shifter, wherein the current source supplies a current only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register. A display device characterized by the above-mentioned.
【請求項2】ソース信号線駆動回路と、画素部とが基板
上に形成された表示装置において、前記ソース信号線駆
動回路は、第1〜第xのx個(xは自然数、x≧2)の
ユニットを有し、 第a(aは自然数、1≦a≦x)のユニットは、クロッ
ク信号に従って順次パルスを出力するシフトレジスタ
と、入力される信号の電圧振幅の変換を行う複数のレベ
ルシフタと、前記複数のレベルシフタに電流を供給する
第aの電流源とを有し、 前記第aの電流源は、前記第aのユニットにおける前記
シフトレジスタから順次パルスが出力されている期間に
おいてのみ、前記第aのユニットにおける前記複数のレ
ベルシフタに電流の供給を行うことを特徴とする表示装
置。
2. A display device in which a source signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the number of the source signal line drive circuits is 1 to x (where x is a natural number and x ≧ 2). A) (a is a natural number, 1 ≦ a ≦ x) a unit, a shift register that sequentially outputs pulses according to a clock signal, and a plurality of level shifters that convert the voltage amplitude of an input signal. And an a-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the a-th current source is provided only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register in the a-th unit. A display device, wherein current is supplied to the plurality of level shifters in the a-th unit.
【請求項3】ソース信号線駆動回路と、画素部とが基板
上に形成された表示装置において、 前記ソース信号線駆動回路は、第1〜第xのx個(xは
自然数、x≧2)のユニットを有し、 第b(bは自然数、1<b≦x)のユニットは、クロッ
ク信号に従って順次パルスを出力するシフトレジスタ
と、入力される信号の電圧振幅の変換を行う複数のレベ
ルシフタと、前記複数のレベルシフタに電流を供給する
第bの電流源とを有し、 前記第bの電流源は、第b−1のユニットにおける前記
シフトレジスタから順次パルスが出力されている期間の
一部と、前記第bのユニットにおける前記シフトレジス
タから順次パルスが出力されている期間においてのみ、
前記第bのユニットにおける前記複数のレベルシフタに
電流の供給を行うことを特徴とする表示装置。
3. A display device in which a source signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the number of the source signal line drive circuits is 1 to x (where x is a natural number and x ≧ 2). A (b is a natural number, 1 <b ≦ x) unit, a shift register that sequentially outputs pulses according to a clock signal, and a plurality of level shifters that convert the voltage amplitude of an input signal. And a b-th current source that supplies a current to the plurality of level shifters, wherein the b-th current source is one of a period during which a pulse is sequentially output from the shift register in the (b-1) -th unit. And only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register in the b-th unit,
A display device, wherein current is supplied to the plurality of level shifters in the b-th unit.
【請求項4】ソース信号線駆動回路と、画素部とが基板
上に形成された表示装置において、 前記ソース信号線駆動回路は、第1〜第xのx個(xは
自然数、x≧2)のユニットを有し、 第c(cは自然数、1≦c<x)のユニットは、 クロック信号に従って順次パルスを出力するシフトレジ
スタと、入力される信号の電圧振幅の変換を行う複数の
レベルシフタと、前記複数のレベルシフタに電流を供給
する第cの電流源とを有し、 前記第cの電流源は、第c+1のユニットにおける前記
シフトレジスタから順次パルスが出力されている期間の
一部と、前記第cのユニットにおける前記シフトレジス
タから順次パルスが出力されている期間においてのみ、
前記第cのユニットにおける前記複数のレベルシフタに
電流の供給を行うことを特徴とする表示装置。
4. A display device in which a source signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the number of the source signal line drive circuits is 1 to x (where x is a natural number and x ≧ 2). C) (c is a natural number, 1 ≦ c <x) a unit, a shift register that sequentially outputs pulses according to a clock signal, and a plurality of level shifters that convert the voltage amplitude of an input signal. And a c-th current source that supplies current to the plurality of level shifters, wherein the c-th current source is a part of a period during which pulses are sequentially output from the shift register in the (c + 1) th unit. , Only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register in the c-th unit,
A display device, wherein current is supplied to the plurality of level shifters in the c-th unit.
【請求項5】ゲート信号線駆動回路と、画素部とが基板
上に形成された表示装置において、 前記ゲート信号線駆動回路は、クロック信号に従って順
次パルスを出力するシフトレジスタと、入力される信号
の電圧振幅の変換を行うレベルシフタと、前記レベルシ
フタに電流を供給する電流源とを有し、 前記電流源は、前記シフトレジスタから順次パルスが出
力されている期間においてのみ、電流の供給を行うこと
を特徴とする表示装置。
5. A display device in which a gate signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the gate signal line drive circuit sequentially outputs pulses in accordance with a clock signal, and an input signal. And a current source for supplying a current to the level shifter, wherein the current source supplies a current only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register. A display device characterized by the above-mentioned.
【請求項6】ゲート信号線駆動回路と、画素部とが基板
上に形成された表示装置において、 前記ゲート信号線駆動回路は、第1〜第yのy個(yは
自然数、y≧2)のユニットを有し、 第d(dは自然数、1≦d≦y)のユニットは、クロッ
ク信号に従って順次パルスを出力するシフトレジスタ
と、入力される信号の電圧振幅の変換を行う複数のレベ
ルシフタと、前記複数のレベルシフタに電流を供給する
第dの電流源とを有し、 前記第dの電流源は、前記第dのユニットにおける前記
シフトレジスタから順次パルスが出力されている期間に
おいてのみ、前記第dのユニットにおける前記複数のレ
ベルシフタに電流の供給を行うことを特徴とする表示装
置。
6. A display device in which a gate signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the gate signal line drive circuits include first to y-th y circuits (y is a natural number and y ≧ 2). A (d is a natural number, 1 ≦ d ≦ y) unit, a shift register that sequentially outputs pulses according to a clock signal, and a plurality of level shifters that convert the voltage amplitude of an input signal. And a d-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the d-th current source is provided only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register in the d-th unit. A display device, wherein current is supplied to the plurality of level shifters in the d-th unit.
【請求項7】ゲート信号線駆動回路と、画素部とが基板
上に形成された表示装置において、前記ゲート信号線駆
動回路は、第1〜第yのy個(yは自然数、y≧2)の
ユニットを有し、 第e(eは自然数、1<e≦y)のユニットは、クロッ
ク信号に従って順次パルスを出力するシフトレジスタ
と、入力される信号の電圧振幅の変換を行う複数のレベ
ルシフタと、前記複数のレベルシフタに電流を供給する
第eの電流源とを有し、 前記第eの電流源は、第e−1のユニットにおける前記
シフトレジスタから順次パルスが出力されている期間の
一部と、前記第eのユニットにおける前記シフトレジス
タから順次パルスが出力されている期間においてのみ、
前記第eのユニットにおける前記複数のレベルシフタに
電流の供給を行うことを特徴とする表示装置。
7. A display device in which a gate signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the gate signal line drive circuits include first to y-th y circuits (y is a natural number, y ≧ 2). An e-th unit (e is a natural number, 1 <e ≦ y), a shift register for sequentially outputting pulses in accordance with a clock signal, and a plurality of level shifters for converting a voltage amplitude of an input signal. And an e-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the e-th current source is one of periods during which pulses are sequentially output from the shift register in the (e-1) -th unit. And only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register in the e-th unit,
A display device, wherein current is supplied to the plurality of level shifters in the e-th unit.
【請求項8】ゲート信号線駆動回路と、画素部とが基板
上に形成された表示装置において、前記ゲート信号線駆
動回路は、第1〜第yのy個(yは自然数、y≧2)の
ユニットを有し、 第f(fは自然数、1≦f<y)のユニットは、クロッ
ク信号に従って順次パルスを出力するシフトレジスタ
と、入力される信号の電圧振幅の変換を行う複数のレベ
ルシフタと、前記複数のレベルシフタに電流を供給する
第fの電流源とを有し、 前記第fの電流源は、第f+1のユニットにおける前記
シフトレジスタから順次パルスが出力されている期間の
一部と、前記第fのユニットにおける前記シフトレジス
タから順次パルスが出力されている期間においてのみ、
前記第fのユニットにおける前記複数のレベルシフタに
電流の供給を行うことを特徴とする表示装置。
8. A display device in which a gate signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the gate signal line drive circuits include first to y-th (y is a natural number, y ≧ 2) An f-th unit (where f is a natural number, 1 ≦ f <y) is a shift register that sequentially outputs pulses according to a clock signal, and a plurality of level shifters that convert the voltage amplitude of an input signal. And an f-th current source that supplies current to the plurality of level shifters, wherein the f-th current source is a part of a period during which pulses are sequentially output from the shift register in the (f + 1) -th unit. , Only during a period in which pulses are sequentially output from the shift register in the f-th unit,
A display device, wherein current is supplied to the plurality of level shifters in the f-th unit.
【請求項9】ソース信号線駆動回路と、画素部とが基板
上に形成された表示装置において、 前記ソース信号線駆動回路は、 入力信号に従ってパルスを出力するデコーダと、入力さ
れる信号の電圧振幅の変換を行うレベルシフタと、前記
レベルシフタに電流を供給する電流源とを有し、 前記電流源は、前記デコーダからパルスが出力されてい
る期間においてのみ、電流の供給を行うことを特徴とす
る表示装置。
9. A display device in which a source signal line driving circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the source signal line driving circuit comprises: a decoder for outputting a pulse in accordance with an input signal; A level shifter that performs amplitude conversion; and a current source that supplies a current to the level shifter. The current source supplies a current only during a period in which a pulse is output from the decoder. Display device.
【請求項10】ソース信号線駆動回路と、画素部とが基
板上に形成された表示装置において、前記ソース信号線
駆動回路は、第1〜第xのx個(xは自然数、x≧2)
のユニットを有し、 第a(aは自然数、1≦a≦x)のユニットは、入力信
号に従ってパルスを出力するデコーダと、入力される信
号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記
複数のレベルシフタに電流を供給する第aの電流源とを
有し、 前記第aの電流源は、前記第aのユニットにおける前記
デコーダからパルスが出力されている期間においての
み、前記第aのユニットにおける前記複数のレベルシフ
タに電流の供給を行うことを特徴とする表示装置。
10. A display device in which a source signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the source signal line drive circuits include first to x-th (where x is a natural number, x ≧ 2) )
A unit (a is a natural number, 1 ≦ a ≦ x), a decoder that outputs a pulse according to an input signal, a plurality of level shifters that convert the voltage amplitude of the input signal, An a-th current source that supplies a current to a plurality of level shifters, wherein the a-th current source is connected to the a-th unit only during a period in which a pulse is output from the decoder in the a-th unit. Wherein the current is supplied to the plurality of level shifters.
【請求項11】ソース信号線駆動回路と、画素部とが基
板上に形成された表示装置において、 前記ソース信号線駆動回路は、第1〜第xのx個(xは
自然数、x≧2)のユニットを有し、 第b(bは自然数、1<b≦x)のユニットは、入力信
号に従ってパルスを出力するデコーダと、入力される信
号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記
複数のレベルシフタに電流を供給する第bの電流源とを
有し、 前記第bの電流源は、第b−1のユニットにおける前記
デコーダからパルスが出力されている期間の一部と、前
記第xのユニットにおける前記デコーダからパルスが出
力されている期間においてのみ、前記第bのユニットに
おける前記複数のレベルシフタに電流の供給を行うこと
を特徴とする表示装置。
11. A display device in which a source signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the number of the source signal line drive circuits is 1 to x (where x is a natural number and x ≧ 2). B) (b is a natural number, 1 <b ≦ x) a unit that outputs a pulse according to an input signal, a plurality of level shifters that convert the voltage amplitude of the input signal, A b-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the b-th current source includes a part of a period during which a pulse is output from the decoder in the (b-1) -th unit; A display device, wherein current is supplied to the plurality of level shifters in the b-th unit only during a period in which a pulse is output from the decoder in the x-th unit.
【請求項12】ソース信号線駆動回路と、画素部とが基
板上に形成された表示装置において、前記ソース信号線
駆動回路は、第1〜第xのx個(xは自然数、x≧2)
のユニットを有し、 第c(cは自然数、1≦c<x)のユニットは、入力信
号に従ってパルスを出力するデコーダと、入力される信
号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記
複数のレベルシフタに電流を供給する第cの電流源とを
有し、 前記第cの電流源は、第c+1のユニットにおける前記
デコーダからパルスが出力されている期間の一部と、前
記第cのユニットにおける前記デコーダからパルスが出
力されている期間においてのみ、前記第cのユニットに
おける前記複数のレベルシフタに電流の供給を行うこと
を特徴とする表示装置。
12. A display device in which a source signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the number of the source signal line drive circuits is 1 to x (where x is a natural number and x ≧ 2). )
A c-th unit (c is a natural number, 1 ≦ c <x), a decoder that outputs a pulse according to an input signal, a plurality of level shifters that convert the voltage amplitude of the input signal, A c-th current source for supplying a current to a plurality of level shifters, wherein the c-th current source includes a part of a period during which a pulse is output from the decoder in the (c + 1) -th unit; The display device, wherein current is supplied to the plurality of level shifters in the c-th unit only during a period in which a pulse is output from the decoder in the unit.
【請求項13】ゲート信号線駆動回路と、画素部とが基
板上に形成された表示装置において、 前記ゲート信号線駆動回路は、入力信号に従ってパルス
を出力するデコーダと、入力される信号の電圧振幅の変
換を行うレベルシフタと、前記レベルシフタに電流を供
給する電流源とを有し、 前記電流源は、前記デコーダからパルスが出力されてい
る期間においてのみ、電流の供給を行うことを特徴とす
る表示装置。
13. A display device in which a gate signal line driving circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the gate signal line driving circuit outputs a pulse according to an input signal, and a voltage of an input signal. A level shifter that performs amplitude conversion; and a current source that supplies a current to the level shifter. The current source supplies a current only during a period in which a pulse is output from the decoder. Display device.
【請求項14】ゲート信号線駆動回路と、画素部とが基
板上に形成された表示装置において、 前記ゲート信号線駆動回路は、第1〜第yのy個(yは
自然数、y≧2)のユニットを有し、 第d(dは自然数、1≦d≦y)のユニットは、入力信
号に従ってパルスを出力するデコーダと、入力される信
号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記
複数のレベルシフタに電流を供給する第dの電流源とを
有し、 前記第dの電流源は、前記第dのユニットにおける前記
デコーダからパルスが出力されている期間においての
み、前記第dのユニットにおける前記複数のレベルシフ
タに電流の供給を行うことを特徴とする表示装置。
14. A display device in which a gate signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the gate signal line drive circuits include first to y-th (y is a natural number, y ≧ 2) D) (d is a natural number, 1 ≦ d ≦ y) a unit that outputs a pulse according to an input signal, a plurality of level shifters that convert the voltage amplitude of the input signal, A d-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the d-th current source is connected to the d-th unit only during a period in which a pulse is output from the decoder in the d-th unit. A display device, wherein current is supplied to the plurality of level shifters in a unit.
【請求項15】ゲート信号線駆動回路と、画素部とが基
板上に形成された表示装置において、前記ゲート信号線
駆動回路は、第1〜第yのy個(yは自然数、y≧2)
のユニットを有し、 第e(eは自然数、1<e≦y)のユニットは、入力信
号に従ってパルスを出力するデコーダと、入力される信
号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記
複数のレベルシフタに電流を供給する第eの電流源とを
有し、 前記第eの電流源は、第e−1のユニットにおける前記
デコーダからパルスが出力されている期間の一部と、前
記第eのユニットにおける前記デコーダからパルスが出
力されている期間においてのみ、前記第eのユニットに
おける前記複数のレベルシフタに電流の供給を行うこと
を特徴とする表示装置。
15. A display device in which a gate signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the gate signal line drive circuits include first to y-th (y is a natural number, y ≧ 2) )
An e-th unit (e is a natural number, 1 <e ≦ y), a decoder that outputs a pulse according to an input signal, a plurality of level shifters that convert a voltage amplitude of an input signal, An e-th current source that supplies a current to a plurality of level shifters, wherein the e-th current source is configured to output part of a pulse from the decoder in the (e-1) th unit; A display device, wherein current is supplied to the plurality of level shifters in the e-th unit only during a period in which a pulse is output from the decoder in the e-th unit.
【請求項16】ゲート信号線駆動回路と、画素部とが基
板上に形成された表示装置において、 前記ゲート信号線駆動回路は、第1〜第yのy個(yは
自然数、y≧2)のユニットを有し、 第f(fは自然数、1≦f<y)のユニットは、入力信
号に従ってパルスを出力するデコーダと、入力される信
号の電圧振幅の変換を行う複数のレベルシフタと、前記
複数のレベルシフタに電流を供給する第fの電流源とを
有し、 前記第fの電流源は、第f+1のユニットにおける前記
デコーダからパルスが出力されている期間の一部と、前
記第fのユニットにおける前記デコーダからパルスが出
力されている期間においてのみ、前記第fのユニットに
おける前記複数のレベルシフタに電流の供給を行うこと
を特徴とする表示装置。
16. A display device in which a gate signal line drive circuit and a pixel portion are formed on a substrate, wherein the gate signal line drive circuits include first to y-th (y is a natural number, y ≧ 2) An f-th unit (where f is a natural number, 1 ≦ f <y), a decoder that outputs a pulse according to an input signal, a plurality of level shifters that convert the voltage amplitude of the input signal, An f-th current source for supplying a current to the plurality of level shifters, wherein the f-th current source includes a part of a period during which a pulse is output from the decoder in the (f + 1) -th unit; A current supply unit that supplies current to the plurality of level shifters in the f-th unit only during a period in which a pulse is output from the decoder in the unit.
【請求項17】請求項1乃至請求項16のいずれか1項
に記載の表示装置において、 前記ソース信号線駆動回路と、前記ゲート信号線駆動回
路と、画素部とは、ガラス基板上、プラスチック基板
上、ステンレス基板上、単結晶ウェハ上のいずれかに形
成されていることを特徴とする表示装置。
17. The display device according to claim 1, wherein the source signal line driving circuit, the gate signal line driving circuit, and the pixel portion are formed on a glass substrate, A display device formed on a substrate, a stainless steel substrate, or a single crystal wafer.
【請求項18】請求項1乃至請求項17のいずれか1項
に記載の表示装置において、 前記駆動回路と、前記画素部とは、同一基板上に一体形
成されていることを特徴とする表示装置。
18. The display device according to claim 1, wherein the driving circuit and the pixel portion are formed integrally on a same substrate. apparatus.
【請求項19】請求項1乃至請求項17のいずれか1項
に記載の表示装置において、 前記駆動回路と、前記画素部とは、異なる基板上に形成
されていることを特徴とする表示装置。
19. The display device according to claim 1, wherein the drive circuit and the pixel portion are formed on different substrates. .
【請求項20】請求項1乃至請求項19のいずれか1項
に記載の表示装置を用いることを特徴とする液晶ディス
プレイ。
20. A liquid crystal display using the display device according to claim 1. Description:
【請求項21】請求項1乃至請求項19のいずれか1項
に記載の表示装置を用いることを特徴とするパーソナル
コンピュータ。
21. A personal computer using the display device according to any one of claims 1 to 19.
【請求項22】請求項1乃至請求項19のいずれか1項
に記載の表示装置を用いることを特徴とする携帯情報端
末。
22. A portable information terminal using the display device according to any one of claims 1 to 19.
【請求項23】請求項1乃至請求項19のいずれか1項
に記載の表示装置を用いることを特徴とするカーオーデ
ィオ。
23. A car audio using the display device according to any one of claims 1 to 19.
【請求項24】請求項1乃至請求項19のいずれか1項
に記載の表示装置を用いることを特徴とするデジタルカ
メラ。
24. A digital camera using the display device according to any one of claims 1 to 19.
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