JP2002116569A - Electrophotographic photoreceptive member and electrophotographic device - Google Patents

Electrophotographic photoreceptive member and electrophotographic device

Info

Publication number
JP2002116569A
JP2002116569A JP2000309434A JP2000309434A JP2002116569A JP 2002116569 A JP2002116569 A JP 2002116569A JP 2000309434 A JP2000309434 A JP 2000309434A JP 2000309434 A JP2000309434 A JP 2000309434A JP 2002116569 A JP2002116569 A JP 2002116569A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
atoms
receiving member
content
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000309434A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Nobufumi Tsuchida
伸史 土田
Satoshi Furushima
聡 古島
Makoto Aoki
誠 青木
Hiroaki Niino
博明 新納
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2000309434A priority Critical patent/JP2002116569A/en
Publication of JP2002116569A publication Critical patent/JP2002116569A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize the sufficient electrostatic chargeability and sensitivity of a light source from a short wavelength to a long wavelength, to decrease residual potentials and optical memories and to realize high dot reproducibility with an electrophotographic photoreceptive member having a-Si-base photoreceptive layers. SOLUTION: The photoconductive layers of the a-Si:H system are laminated on a base 101, consist of a first layer region 111 and a second layer region 112 from the base side toward the front surface side and contain group 13 atoms. These layers are decreased in the content of hydrogen atoms from the base side toward the front surface side and are decreased in the content of the group 13 atoms from the base side toward the front surface side in the second layer region.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は光(ここでは広義の
光であって、紫外線、可視光線、赤外線、X線、γ線な
どを意味する)の様な電磁波に対して感受性のある光受
容部材に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photoreceptor which is sensitive to electromagnetic waves such as light (here, light in a broad sense meaning ultraviolet, visible, infrared, X-ray, .gamma.-ray, etc.). Regarding members.

【0002】[0002]

【従来の技術】像形成分野において、光受容部材におけ
る光受容層を形成する光導電材料としては、高感度で、
SN比[光電流(Ip)/暗電流(Id)]が高く、照
射する電磁波のスペクトル特性に適合した吸収スペクト
ルを有すること、光応答性が早く、所望の暗抵抗値を有
すること、使用時において人体に対して無害であること
等の特性が要求される。特に、事務機としてオフィスで
使用される電子写真装置内に組み込まれる光受容部材の
場合には、上記の使用時における無公害性は重要な点で
ある。
2. Description of the Related Art In the field of image formation, a photoconductive material for forming a light receiving layer in a light receiving member has high sensitivity.
It has a high SN ratio [photocurrent (Ip) / dark current (Id)], has an absorption spectrum suitable for the spectral characteristics of the radiated electromagnetic wave, has a fast photoresponse, has a desired dark resistance value, and is used. Are required to be harmless to the human body. In particular, in the case of a light receiving member to be incorporated in an electrophotographic apparatus used in an office as an office machine, the above-mentioned non-pollutability at the time of use is important.

【0003】この様な点に優れた性質を示す光導電材料
にアモルファスシリコン(a−Siとも表記する)、特
に水素化アモルファスシリコン(a−Si:Hとも表記
する)があり、例えば、特公昭60−35059号公報
には電子写真用光受容部材としての応用が記載されてい
る。
A photoconductive material exhibiting such excellent properties is amorphous silicon (also referred to as a-Si), particularly hydrogenated amorphous silicon (also referred to as a-Si: H). JP-A-60-35059 describes an application as a light receiving member for electrophotography.

【0004】このような光受容部材は、一般的には、導
電性支持体を50℃〜350℃に加熱し、この支持体上
に真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティン
グ法、熱CVD法、光CVD法、プラズマCVD法等の
成膜法によりa−Si:Hからなる光導電層を形成す
る。なかでもプラズマCVD法、すなわち、原料ガスを
高周波あるいはマイクロ波グロー放電によって分解し、
支持体上にa−Si:H堆積膜を形成する方法が好適な
ものとして実用に付されている。
In general, such a light receiving member is obtained by heating a conductive support to 50 ° C. to 350 ° C. and depositing the conductive support on the support by a vacuum deposition method, a sputtering method, an ion plating method, or a thermal CVD method. Then, a photoconductive layer made of a-Si: H is formed by a film forming method such as a photo CVD method or a plasma CVD method. Among them, the plasma CVD method, that is, the raw material gas is decomposed by high frequency or microwave glow discharge,
A method of forming an a-Si: H deposition film on a support has been put to practical use as a suitable method.

【0005】そして、特開昭58−88115号公報に
はアモルファスシリコン感光体の画像品質向上のため
に、光導電層において支持体側で周期律表第13族の原
子を多く含有することが開示されている。さらに、特開
平6−337530号公報には、基板側から50〜80
μmの第一の光導電層と0.1〜10μmの第二の光導
電層を積層し、第二の光導電層における周期律表第13
族元素の含有量が基板側から膜厚方向に向かって次第に
減少させることで、高性能な電子写真感光体を提供でき
る技術が開示されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 58-88115 discloses that the photoconductive layer contains a large number of atoms belonging to Group 13 of the periodic table on the support side in order to improve the image quality of the amorphous silicon photoreceptor. ing. Further, JP-A-6-337530 discloses that 50 to 80
A first photoconductive layer having a thickness of 0.1 μm and a second photoconductive layer having a thickness of 0.1 to 10 μm are laminated on each other.
There is disclosed a technique capable of providing a high-performance electrophotographic photoreceptor by gradually decreasing the content of a group element from the substrate side toward the film thickness direction.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】以上で述べた様な技術
の進展により、電子写真用光受容部材の電気的、光学
的、光導電的特性及び使用環境特性が向上し、それに伴
って画像品質も向上してきた。
With the development of the technology described above, the electrical, optical, photoconductive and use environment characteristics of the electrophotographic light-receiving member are improved, and the image quality is accordingly improved. Has also improved.

【0007】しかしながら、従来のa−Si:H系材料
で構成された光導電層を有する電子写真用光受容部材
は、暗抵抗値、光感度、光応答性等の電気的、光学的、
光導電特性、及び使用環境特性の点、さらには経時安定
性及び耐久性の点において、各々個々には特性の向上が
図られてはいるものの、総合的な特性向上を図る上で更
に改良される余地が存在するのが実情である。
However, the conventional electrophotographic light-receiving member having a photoconductive layer made of an a-Si: H-based material has a low electrical resistance, dark sensitivity, photosensitivity, and photoresponsiveness.
In terms of photoconductive properties and use environment properties, and in terms of stability over time and durability, although the properties are individually improved, they are further improved in order to improve the overall properties. The fact is that there is room.

【0008】特に、電子写真装置の高画質、高速化、高
耐久化は急速に進んでおり、電子写真用光受容部材にお
いては電気的特性や光導電特性の更なる向上により、帯
電能、感度を改善しつつ、あらゆる環境下で大幅に性能
を延ばすことが求められている。
In particular, the electrophotographic apparatus has been rapidly improving in image quality, speed, and durability. In the electrophotographic light-receiving member, the charging performance and sensitivity have been further improved by further improving the electrical and photoconductive properties. It is required to improve the performance and to greatly increase the performance in all environments.

【0009】そして、電子写真装置の画像特性向上のた
めに電子写真装置内の光学露光装置、現像装置、転写装
置等の改良がなされた結果、電子写真用光受容部材にお
いても従来以上の画像特性の向上が求められるようにな
った。
Further, as a result of the improvement of the optical exposure device, the developing device, the transfer device and the like in the electrophotographic apparatus in order to improve the image characteristics of the electrophotographic device, the image characteristics of the electrophotographic light receiving member have been improved. Has been required to be improved.

【0010】この様な状況下において、前述した従来技
術により上記課題についてある程度の特性向上が可能に
なってはきたが、更なる帯電能や画像品質の向上に関し
ては未だ十分とはいえない。特にアモルファスシリコン
系光受容部材のさらなる高画質化への課題として、同一
原稿を連続して繰り返し複写すると、前回の複写行程で
の像露光の残像が次回の複写時に画像上に生じる場合が
あり、いわゆるゴーストに代表される光メモリーを低減
することが一層求められるようになってきた。
Under these circumstances, the above-mentioned prior art has made it possible to improve the above-mentioned problems to some extent, but it cannot be said that further improvement in charging performance and image quality is still sufficient. In particular, as an issue of further improving the image quality of the amorphous silicon-based light receiving member, if the same original is continuously and repeatedly copied, an afterimage of the image exposure in the previous copying process may occur on the image at the next copying, There has been a growing demand for reducing optical memories represented by so-called ghosts.

【0011】さらに、電子写真装置の解像度が高くなっ
て画像のドットピッチが小さくなることから、環境変動
に対して過敏になったり、ドット再現性が不安定になっ
て画像流れと同様の現象が発生する場合があった。
Further, since the resolution of the electrophotographic apparatus is increased and the dot pitch of the image is reduced, the image sensitivities become susceptible to environmental fluctuations and the dot reproducibility becomes unstable, causing the same phenomenon as image deletion. Occurred in some cases.

【0012】従って、電子写真用光受容部材を設計する
際に、上記したような問題が解決されるように電子写真
用光受容部材の層構成、各層の化学的組成など総合的な
観点からの改良を図ることが必要とされている。
Therefore, when designing a light receiving member for electrophotography, the layer structure of the light receiving member for electrophotography and the chemical composition of each layer are comprehensively considered so as to solve the above-mentioned problems. Improvements are needed.

【0013】一方、近年のオフィスや一般家庭へのコン
ピューターの普及が進み、電子写真装置も従来の複写機
としてだけでなく、ファクシミリやプリンターの役目を
担うためにデジタル化することが求められるようになっ
てきた。そのための露光光源として用いられる半導体レ
ーザーやLEDは、発生強度や価格の点から近赤外から
赤色可視光までの比較的長波長のものが主流である。さ
らに、近年電子写真装置がますます高速化あるいは小型
化するにつれ帯電能への要求はより一層高まるととも
に、デジタル機用とアナログ機用の感光体を共通化して
コスト低減を行うために、露光光源の波長に依存しない
層設計が求められている。
On the other hand, the spread of computers in offices and general homes in recent years has progressed, and digitalization of electrophotographic apparatuses has been required not only as conventional copiers but also as facsimile machines and printers. It has become. Semiconductor lasers and LEDs used as exposure light sources for this purpose are mainly of a relatively long wavelength from near infrared to red visible light from the viewpoint of generation intensity and price. Furthermore, as electrophotographic devices have become faster and smaller in recent years, the demand for charging capability has further increased, and an exposure light source has been developed in order to reduce costs by sharing photoconductors for digital and analog machines. There is a demand for a layer design that does not depend on the wavelength.

【0014】そして、電子写真装置の高速度化、小型化
に伴い、帯電装置の小型化、被複写物が複写プロセスを
通過する速度(以下、プロセススピードとも称する)の
増加が進行し、帯電器内における感光体の通過時間が短
くなっている。さらには高速なプロセススピードでは前
露光により発生して膜中にトラップされるキャリアが残
存しやすくなり高帯電能を得ることが困難な場合があっ
た。
As the speed and size of the electrophotographic apparatus have been increased, the size of the charging device has been reduced, and the speed at which the object has passed through the copying process (hereinafter, also referred to as process speed) has been increased. The passage time of the photoconductor in the inside is shortened. Furthermore, at a high process speed, carriers generated by pre-exposure and trapped in the film are likely to remain, and it may be difficult to obtain high charging ability.

【0015】さらに、感度や上述の光メモリーに関して
も高速なプロセススピードにおいては、像露光により発
生して膜中にトラップされるキャリアが残存しやすくな
り感度が低下したり、光メモリーが発生しやすくなる場
合がある。光メモリーは前露光を過剰に与えるによって
減少できるが、その際には帯電能の低下が著しくなって
しまい、帯電能とゴーストとが相容れない状況になって
しまう場合がある。
Further, with respect to the sensitivity and the above-mentioned optical memory, at a high process speed, carriers generated by image exposure and trapped in the film are apt to remain, which lowers the sensitivity and easily causes optical memory. May be. The optical memory can be reduced by giving too much pre-exposure, but in that case, the charging ability is remarkably reduced, and the charging ability and the ghost may be incompatible.

【0016】従って、複写機のみならずプリンターとし
ても使用することを考えた場合、露光光源としては約5
00nmから約700nmまでの広い波長に対応し、十
分な帯電能、感度を確保しつつ、光メモリーを減少し、
ドットの再現性を向上しなければならない。そのために
は、広い波長領域の光に対して十分に光吸収をして電荷
を生成するとともに膜中にトラップされる電荷を減らし
つつ上述した画像流れと同様に現象が発生しないように
トータルバランスの取れた層設計をすることが必要であ
る。
Therefore, when considering use not only as a copying machine but also as a printer, about 5
Corresponding to a wide wavelength from 00 nm to about 700 nm, reducing the optical memory while securing sufficient charging ability and sensitivity,
The dot reproducibility must be improved. For this purpose, the light is absorbed sufficiently for light in a wide wavelength range to generate charges, and the charge trapped in the film is reduced. It is necessary to design a good layer.

【0017】即ち、電子写真用光受容部材を設計する際
に、上記したような課題が解決されるように電子写真用
光受容部材の層構成、各層の化学的組成など総合的な観
点からの改良を図るとともに、a−Si:H材料そのも
のの一段の特性改良を図ることが必要とされている。
That is, when designing a light-receiving member for electrophotography, from the comprehensive viewpoint such as the layer constitution of the light-receiving member for electrophotography and the chemical composition of each layer so as to solve the above-mentioned problems. Along with the improvement, it is necessary to further improve the characteristics of the a-Si: H material itself.

【0018】本発明は、上述した従来のa−Si:Hで
構成された光受容層を有する電子写真用光受容部材にお
ける諸問題を解決することを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned various problems in the electrophotographic light-receiving member having a light-receiving layer composed of a-Si: H.

【0019】即ち、本発明の主たる目的は、高速なプロ
セススピードにおいて露光光源の波長が短波長から長波
長にわたって十分な帯電能を確保するとともに感度を向
上し、残留電位および光メモリーの低減し、ドット再現
性を高次元で成立し、画像品質の飛躍的な向上を可能と
するシリコン原子を母体とした非単結晶材料(a−S
i)で構成された光受容層を有する電子写真用光受容部
材を提供することにある。
That is, the main object of the present invention is to improve the sensitivity, improve the sensitivity, reduce the residual potential and the optical memory at a high process speed from a short wavelength to a long wavelength of the exposure light source at a high process speed, A non-single-crystal material (a-S) based on silicon atoms that realizes dot reproducibility at a high level and enables dramatic improvement in image quality
An object of the present invention is to provide an electrophotographic light-receiving member having a light-receiving layer constituted by i).

【0020】特に、電気的、光学的、光導電的特性が使
用環境にほとんど依存することなく実質的に常時安定し
ており、耐光疲労に優れ、繰り返し使用に際しては劣化
現象を起こさず耐久性、耐湿性に優れ、残留電位がほと
んど観測されず、さらに画像品質の良好な、シリコン原
子を母体とした非単結晶材料(a−Si)で構成された
光受容層を有する電子写真用光受容部材を提供すること
にある。
In particular, the electrical, optical, and photoconductive properties are substantially always stable without depending on the use environment, and are excellent in light fatigue resistance. A light-receiving member for electrophotography having a light-receiving layer composed of a non-single-crystal material (a-Si) based on silicon atoms, having excellent moisture resistance, little residual potential, and good image quality. Is to provide.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明によれば、支持体と、該支持体側から表面側に
向かって少なくとも第一および第二の層領域からなり、
第13族原子を含有する水素化アモルファスシリコン
(a−Si:H)系の光導電層とを含んでなる電子写真
用光受容部材であって、水素原子の含有量は支持体側か
ら表面側に向かって減少し、第二の層領域において、第
13族原子の含有量は支持体側から表面側に向かって減
少することを特徴とする電子写真用光受容部材が提供さ
れる。
According to the present invention for achieving the above object, the present invention comprises a support, and at least first and second layer regions from the support side to the surface side,
A photoreceptor for electrophotography comprising a hydrogenated amorphous silicon (a-Si: H) -based photoconductive layer containing Group 13 atoms, wherein the content of hydrogen atoms is from the support side to the surface side. The light receiving member for electrophotography is provided, wherein the content of the Group 13 atoms decreases from the support side to the surface side in the second layer region.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】本発明者らはa−Si:H系の光
導電層のキャリアの挙動に着目し、層構成、各層の化学
的組成と帯電能、感度、光メモリーやドット再現性との
関係について鋭意検討した。その結果、周期律表第13
族に属する原子(第13族原子とも記載する)の含有量
の分布状態を制御するのと同時に、光導電層の層厚方向
において水素含有量を変化させることにより本発明を完
成した。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present inventors focused on the behavior of carriers in an a-Si: H-based photoconductive layer, and studied the layer structure, the chemical composition and charging ability of each layer, sensitivity, optical memory and dot reproducibility. I studied diligently about the relationship with. As a result, periodic table No. 13
The present invention has been completed by controlling the distribution of the content of atoms belonging to the group (also referred to as group 13 atoms) and changing the hydrogen content in the thickness direction of the photoconductive layer.

【0023】より具体的には、水素原子の含有量(Ch
と略記する場合もある)、光学的バンドギャップ(Eg
と略記する場合もある)及び第13族原子の含有量(C
13と略記する場合もある)の分布状態と電子写真感光
体特性との相関を種々の条件に渡って調べた結果、光導
電層におけるC13に加えChが、電子写真用光受容部
材の帯電能、感度、残留電位、光メモリー、ドット再現
性等と密接に関係していることを見出したものである。
More specifically, the content of hydrogen atoms (Ch
May be abbreviated as), the optical band gap (Eg
) And the content of group 13 atoms (C
13 may be abbreviated to 13), and the correlation between the distribution state of the electrophotographic photoreceptor and the characteristics of the electrophotographic photoreceptor was examined over various conditions. , Sensitivity, residual potential, optical memory, dot reproducibility, and the like.

【0024】なお、アモルファスシリコン(a−Si)
系とは、Siを母体とする非単結晶材料を意味してお
り、a−Si:Hは水素化アモルファスシリコンを示し
ている。また、必要に応じては、a−Si:Hにハロゲ
ン原子を添加することもでき、この場合は、a−Si:
H,X(Xはハロゲン原子を示す)とも記載する。
Note that amorphous silicon (a-Si)
The term “system” means a non-single-crystal material having Si as a base, and a-Si: H indicates hydrogenated amorphous silicon. Further, if necessary, a halogen atom can be added to a-Si: H. In this case, a-Si: H
Also described as H and X (X represents a halogen atom).

【0025】上記の様な光導電層により、高速なプロセ
ススピードにおいて露光光源の波長が短波長から長波長
にわたって十分な帯電能を確保するとともに感度を向上
し、残留電位および光メモリーを低減し、ドット再現性
を高次元で成立し、画像品質の飛躍的な向上を実現でき
る。
With the photoconductive layer as described above, at a high process speed, the wavelength of the exposure light source secures sufficient chargeability from short to long wavelengths, improves sensitivity, reduces residual potential and optical memory, Dot reproducibility is achieved at a high level, and dramatic improvement in image quality can be realized.

【0026】以上の理由は明らかではないが、以下の様
に推察している。
Although the above reason is not clear, it is supposed as follows.

【0027】先ず、光導電層においてChを支持体側か
ら表面側に向かって特定の範囲内で減少させてEgが表
面側で狭くなるように制御する。これと同時に、光導電
層を実質的に光が入射する部分(第二の層領域)と、そ
の他の部分(第一の層領域)とに2層化し、実質的に光
が入射する部分(表面側の層領域、即ち、第二の層領
域)において、支持体側から表面側に向かって特定の範
囲内でC13を減少させる。この結果、残留電位を低減
し、光メモリーを実質的になくすことができ、同時に、
帯電能、感度、ドット再現性等も向上できる。
First, in the photoconductive layer, Ch is reduced within a specific range from the support side to the surface side so as to control Eg to be narrow on the surface side. At the same time, the photoconductive layer is formed into two layers, a portion where light is substantially incident (second layer region) and another portion (first layer region), and a portion where light is substantially incident ( In the layer region on the front surface side (that is, the second layer region), C13 is reduced within a specific range from the support side toward the surface side. As a result, the residual potential can be reduced, and the optical memory can be substantially eliminated.
The charging ability, sensitivity, dot reproducibility, etc. can also be improved.

【0028】光メモリーは前露光及び像露光によって生
じた光キャリアが残留することによって生じると考えら
れる。即ち、ある複写行程において生じた光キャリアの
うち残留したキャリアが、次回の帯電時あるいはそれ以
降に表面電荷による電界によって掃き出され、像露光の
照射された部分とその他の部分とで電位差が生じ、その
結果画像上に濃淡が生じる。この際、像露光の照射され
た部分で残留するキャリアとしては、像露光の照射され
ていない部分にも存在する前露光キャリアに加えて像露
光キャリアがある。そして、残留する前露光キャリアと
像露光キャリアの兼ね合いで画像の濃淡が決まるが、い
ずれのキャリアも極力残留しないことが光メモリーの向
上には有効であると考えられる。従って、光キャリアが
光導電層内に極力残留することなく、1回の複写行程で
走行するように、前露光キャリア及び像露光キャリアの
走行性を改善しなければならない。
It is considered that the optical memory is caused by the residual photo carriers generated by the pre-exposure and the image exposure. That is, the remaining carriers among the photocarriers generated in a certain copying process are swept out by the electric field due to the surface charge at the next charging or thereafter, and a potential difference occurs between the irradiated portion of the image exposure and other portions. As a result, shading occurs on the image. At this time, the carrier remaining in the portion irradiated with the image exposure includes the image exposure carrier in addition to the pre-exposure carrier also present in the portion not irradiated with the image exposure. The density of the image is determined by the balance between the remaining pre-exposure carrier and the image exposure carrier, but it is considered that the absence of any carrier as much as possible is effective for improving the optical memory. Therefore, it is necessary to improve the traveling properties of the pre-exposure carrier and the image exposure carrier so that the photo carrier travels in one copying process without remaining as much as possible in the photoconductive layer.

【0029】さらに、感度に関しても同様に、像露光に
より発生して膜中にトラップされるキャリアが残存しや
すくなると感度が低下する。よって、光キャリアが光導
電層内に極力残留することがなく、1回の複写行程で走
行するように光キャリアの走行性を改善しなければなら
ない。
Further, as for the sensitivity, similarly, if carriers generated by image exposure and trapped in the film are likely to remain, the sensitivity decreases. Therefore, it is necessary to improve the traveling properties of the photocarrier so that the photocarrier travels in one copying process without remaining as much as possible in the photoconductive layer.

【0030】また、近年電子写真装置の高速度化、小型
化に伴い、帯電装置の小型化、プロセススピードの増加
が進行し、帯電器内における感光体の通過時間が短くな
っている。さらに、高速なプロセススピードにおいては
前露光により発生して膜中にトラップされるキャリアが
残存しやすくなり帯電能の低下を引き起こすことがあ
る。これを防いで帯電能を向上させるためには、膜中に
トラップされるキャリアが減少し走行性が向上するよう
にバランスを取ることが必要である。
Further, in recent years, as the speed and size of the electrophotographic apparatus have been increased, the size of the charging device has been reduced and the process speed has been increased, and the passage time of the photosensitive member in the charger has been shortened. Furthermore, at a high process speed, carriers generated by pre-exposure and trapped in the film are likely to remain, which may cause a decrease in charging ability. In order to prevent this and improve the charging ability, it is necessary to balance so that the number of carriers trapped in the film is reduced and the running property is improved.

【0031】さらに、光入射部の光の吸収率を高めるた
めにChを少なくしてEgを比較的狭くすると、膜自身
の抵抗により生成した光キャリアが横方向に拡散しやす
くなる。その結果、解像度を高めてドットピッチを小さ
くしていくとドット間の電界によるキャリアの横流れが
生じて、画像流れに似た現像が観測されやすくなり、ド
ットの再現性が低下することがある。これを防止するた
めには光入射部での抵抗を制御しつつ、キャリアの横流
れを抑制することが必要になってくる。
Further, when Ch is reduced and Eg is made relatively narrow in order to increase the light absorptance of the light incident portion, the photocarriers generated by the resistance of the film itself tend to diffuse in the lateral direction. As a result, when the resolution is increased and the dot pitch is reduced, a lateral flow of carriers occurs due to the electric field between the dots, so that development similar to the image flow is easily observed, and the dot reproducibility may be reduced. In order to prevent this, it is necessary to suppress the lateral flow of carriers while controlling the resistance at the light incident portion.

【0032】そこで、光導電層としてChを導電性支持
体側から表面側に向かって特定の範囲内で減少させてE
gが表面側で狭くなるようにすることで、短波長光ばか
りではなく長波長光の吸収も大きくなって光入射部を薄
くできるために、電子(正帯電の場合)の走行距離が減
り膜中にトラップされる割合が減り、電子の走行性が改
善される。
Therefore, Ch as a photoconductive layer is reduced within a specific range from the conductive support side to the surface side to reduce E.
By making g smaller on the surface side, the absorption of not only short-wavelength light but also long-wavelength light is increased, and the light incident portion can be made thinner. The trapping rate is reduced, and the traveling property of electrons is improved.

【0033】加えて、光導電層においてC13の変化の
させ方を実質的に光が入射する部分とその他の部分で異
なるようにして二層化し、実質的に光が入射する部分に
おいて導電性支持体側から表面側に向かって特定の範囲
内で減少させてトータルバランスを取ることで、生成さ
れた光キャリアの横流れを制御しつつ、光キャリアの走
行性が改善されることが実験により明らかとなった。
In addition, in the photoconductive layer, the way of changing C13 is substantially different between the portion where light is incident and the other portion to form two layers, and the conductive support is substantially formed at the portion where light is incident. Experiments have shown that by reducing the total balance from the body side to the surface side within a specific range and controlling the lateral flow of the generated optical carrier, the runnability of the optical carrier is improved. Was.

【0034】即ち、光導電層を導電性支持体側から表面
側に向けてChを変化させてEgが狭くなるようにする
ことで、広い波長領域にわたって十分な光吸収が得られ
る。さらに、光導電層においてC13の変化のさせ方が
異なる二つの層領域を設け、ChとC13を適切に制御
してトータルバランスを取ることで、光キャリアの横流
れを制御しつつ、光キャリアの走行性が改善され、帯電
能及び感度の向上、光メモリーの低減、ドットの再現性
の向上が見られることが実験により明らかとなった。
That is, by changing Ch of the photoconductive layer from the conductive support side to the surface side so that Eg becomes narrow, sufficient light absorption can be obtained over a wide wavelength range. Furthermore, by providing two layer regions in the photoconductive layer in which C13 is changed in a different manner, and by appropriately controlling Ch and C13 to obtain a total balance, the lateral flow of the optical carrier can be controlled, and the traveling of the optical carrier can be controlled. Experiments have shown that the reproducibility is improved, the charging ability and sensitivity are improved, the optical memory is reduced, and the dot reproducibility is improved.

【0035】以上の様な機構により、本発明において
は、光メモリーの低減、帯電能及び感度の向上、ドット
の再現性を高い次元で成立させ、従来技術における諸問
題を解決することができ、優れた電気的、光学的、光導
電的特性、画像品質、耐久性及び使用環境性を示す電子
写真用光受容部材を得ることができる。
With the above-described mechanism, in the present invention, a reduction in optical memory, an improvement in charging ability and sensitivity, and a high level of dot reproducibility can be achieved to solve various problems in the prior art. An electrophotographic light-receiving member exhibiting excellent electrical, optical and photoconductive properties, image quality, durability and use environment can be obtained.

【0036】以下、図面に従って本発明の電子写真用光
受容部材について詳細に説明する。
Hereinafter, the electrophotographic light-receiving member of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0037】図1は、本発明の電子写真用光受容部材の
層構成を説明するための模式的構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram for explaining the layer configuration of the electrophotographic light-receiving member of the present invention.

【0038】図1(a)に示す電子写真用光受容部材1
00は、光受容部材用としての支持体101の上に、光
受容層102が設けられている。この光受容層102
は、a−Si:Hからなり光導電性を有する光導電層1
03で構成され、光導電層103は、支持体101側か
ら自由表面106に向かって順に第一の層領域111と
第二の層領域112とからなっている。なお、必要に応
じて、光導電層103は、ハロゲン原子が添加され、a
−Si:H,Xより作製することもできる。
An electrophotographic light receiving member 1 shown in FIG.
In No. 00, a light receiving layer 102 is provided on a support 101 for a light receiving member. This light receiving layer 102
Is a photoconductive layer 1 made of a-Si: H and having photoconductivity.
The photoconductive layer 103 is composed of a first layer region 111 and a second layer region 112 in order from the support 101 toward the free surface 106. If necessary, the photoconductive layer 103 may be added with a halogen atom,
-Si: H, X can also be used.

【0039】図1(b)に示す電子写真用光受容部材1
00は、光受容部材用としての支持体101の上に、光
受容層102が設けられている。この光受容層102は
a−Si:Hからなり光導電性を有する光導電層103
と、a−Si系表面層104とから構成され、表面層1
04は自由表面106を有している。また、光導電層1
03は支持体101側から順に第一の層領域111と第
二の層領域112とからなっている。なお、必要に応じ
て、光導電層103は、ハロゲン原子が添加され、a−
Si:H,Xより作製することもできる。
Light receiving member 1 for electrophotography shown in FIG.
In No. 00, a light receiving layer 102 is provided on a support 101 for a light receiving member. The light receiving layer 102 is made of a-Si: H and has a photoconductive property.
And an a-Si based surface layer 104, and the surface layer 1
04 has a free surface 106. Also, the photoconductive layer 1
Reference numeral 03 denotes a first layer region 111 and a second layer region 112 in order from the support 101 side. In addition, if necessary, a halogen atom is added to the photoconductive layer 103, and a-
It can also be made of Si: H, X.

【0040】図1(c)に示す電子写真用光受容部材1
00は、光受容部材用としての支持体101の上に、光
受容層102が設けられている。この光受容層102は
支持体101側から順にa−Si系電荷注入阻止層10
5と、a−Si:Hからなり光導電性を有する光導電層
103と、a−Si系表面層104とから構成され、表
面層104は自由表面106を有している。また、光導
電層103は支持体101側から順に第一の層領域11
1と第二の層領域112とからなっている。なお、必要
に応じて、光導電層103は、ハロゲン原子が添加さ
れ、a−Si:H,Xより作製することもできる。
Light receiving member 1 for electrophotography shown in FIG.
In No. 00, a light receiving layer 102 is provided on a support 101 for a light receiving member. The light receiving layer 102 is formed of the a-Si based charge injection blocking layer 10 in order from the support 101 side.
5, a photoconductive layer 103 made of a-Si: H and having photoconductivity, and an a-Si-based surface layer 104. The surface layer 104 has a free surface 106. The photoconductive layer 103 is formed in the first layer region 11 in order from the support 101 side.
1 and a second layer region 112. Note that, if necessary, the photoconductive layer 103 may be made of a-Si: H, X to which a halogen atom is added.

【0041】<支持体>本発明において使用される支持
体としては、導電性でも電気絶縁性であってもよい。導
電性支持体としては、Al、Cr、Mo、Au、In、
Nb、Te、V、Ti、Pt、Pd、Fc等の金属、及
びこれらの合金、例えばステンレス等が挙げられる。
<Support> The support used in the present invention may be either conductive or electrically insulating. As the conductive support, Al, Cr, Mo, Au, In,
Examples include metals such as Nb, Te, V, Ti, Pt, Pd, and Fc, and alloys thereof, such as stainless steel.

【0042】また、電気絶縁性材料としてポリエステ
ル、ポリエチレン、ポリカーボネート、セルロースアセ
テート、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリスチレ
ン、ポリアミド等の合成樹脂のフィルムまたはシート、
ガラス、セラミック等を挙げることができる。これら電
気絶縁性支持体の少なくとも光受容層を作製する側の表
面を導電処理して支持体として用いることができる。
Also, a film or sheet of a synthetic resin such as polyester, polyethylene, polycarbonate, cellulose acetate, polypropylene, polyvinyl chloride, polystyrene, polyamide, etc. as an electrically insulating material;
Glass, ceramic, and the like can be given. At least the surface of the electrically insulating support on the side on which the light receiving layer is formed can be subjected to a conductive treatment and used as the support.

【0043】使用される支持体の形状は平滑表面あるい
は微小な凹凸表面を有する円筒状または無端ベルト状で
あることができ、その厚さは、所望通りの電子写真用光
受容部材を形成し得るように適宜決定する。電子写真用
光受容部材としての可撓性が要求される場合には、支持
体としての機能が十分発揮できる範囲内で可能な限り薄
くすることができる。しかしながら、支持体は、製造上
及び取り扱い上、機械的強度等の点から、通常10μm
以上とされる。
The shape of the support used can be a cylindrical surface or an endless belt having a smooth surface or a fine uneven surface, and the thickness thereof can form a desired electrophotographic light-receiving member. As appropriate. When flexibility as a light receiving member for electrophotography is required, it can be made as thin as possible within a range where the function as a support can be sufficiently exhibited. However, the support is usually 10 μm in view of production, handling, mechanical strength and the like.
That is all.

【0044】<光導電層>支持体上に形成され、光受容
層の少なくとも一部を構成する光導電層は、例えば真空
堆積膜形成方法によって、所望の特性が得られるように
適宜成膜パラメーターの数値条件が設定され、また、使
用される原料ガスなどが選択されて作製される。具体的
には、グロー放電法(低周波CVD法、高周波CVD法
またはマイクロ波CVD法等の交流放電CVD法、ある
いは直流放電CVD法等)、スパッタリング法、真空蒸
着法、イオンプレーティング法、光CVD法、熱CVD
法などの数々の薄膜堆積法によって作製することができ
る。
<Photoconductive layer> The photoconductive layer formed on the support and constituting at least a part of the light receiving layer is appropriately formed by, for example, a vacuum deposition film forming method so that desired characteristics can be obtained. Are set, and a raw material gas or the like to be used is selected and produced. Specifically, a glow discharge method (an AC discharge CVD method such as a low-frequency CVD method, a high-frequency CVD method or a microwave CVD method, or a DC discharge CVD method or the like), a sputtering method, a vacuum deposition method, an ion plating method, an optical plating method, CVD method, thermal CVD
It can be manufactured by various thin film deposition methods such as a method.

【0045】これらの薄膜堆積法は、製造条件、設備資
本投資下の負荷程度、製造規模、作製される電子写真用
光受容部材に所望される特性等の要因によって適宜選択
されて採用されるが、所望の特性を有する電子写真用光
受容部材を製造するに当たっての条件の制御が比較的容
易であることから、高周波グロー放電法が好適である。
These thin film deposition methods are appropriately selected and adopted depending on factors such as manufacturing conditions, the degree of load under capital investment, the manufacturing scale, and the characteristics desired for the electrophotographic light-receiving member to be manufactured. Since it is relatively easy to control the conditions for producing the electrophotographic light-receiving member having desired characteristics, the high-frequency glow discharge method is preferred.

【0046】グロー放電法によって光導電層を形成する
には、基本的にはシリコン原子(Si)を供給し得るS
i供給用の原料ガスと、水素原子(H)を供給し得るH
供給用の原料ガス、そして必要に応じて、ハロゲン原子
(X)を供給し得るX供給用の原料ガスを、内部が減圧
にし得る反応容器内に所望のガス状態で導入して、反応
容器内にグロー放電を生起させ、あらかじめ所定の位置
に設置されてある所定の支持体上にa−Si:H又はa
−Si:H,Xからなる層を形成すればよい。
In order to form the photoconductive layer by the glow discharge method, basically, S which can supply silicon atoms (Si) can be used.
i source gas and H capable of supplying hydrogen atoms (H)
A supply source gas and, if necessary, an X supply source gas capable of supplying a halogen atom (X) are introduced in a desired gas state into a reaction vessel capable of reducing the pressure inside the reaction vessel. A-Si: H or a-Si: H on a predetermined support previously set at a predetermined position.
A layer made of -Si: H, X may be formed.

【0047】光導電層中に水素原子および/またはハロ
ゲン原子を含有させる場合、これらは層中のシリコン原
子の未結合手を補償し、層品質を向上、特に光導電性お
よび電荷保持特性を向上させる。水素原子の含有量、ま
たは水素原子およびハロゲン原子の含有量の和は、構成
原子の総量に対して、好ましくは10〜45原子%、よ
り好ましくは10〜40原子%とされる。
When hydrogen atoms and / or halogen atoms are contained in the photoconductive layer, they compensate for dangling bonds of silicon atoms in the layer and improve the quality of the layer, especially the photoconductivity and the charge retention characteristics. Let it. The content of the hydrogen atom or the sum of the content of the hydrogen atom and the content of the halogen atom is preferably 10 to 45 atomic%, more preferably 10 to 40 atomic%, based on the total amount of the constituent atoms.

【0048】Si供給用ガスとなり得る物質としては、
SiH4、Si26、Si38、Si410等のガス状
物、またはガス化し得る水素化ケイ素(シラン類)が有
効に使用されるものとして挙げられ、さらに層作製時の
取り扱い易さ、Si供給効率の良さ等の点でSiH4
Si26が好ましいものとして挙げられる。
Substances that can serve as a Si supply gas include:
Gaseous substances such as SiH 4 , Si 2 H 6 , Si 3 H 8 , and Si 4 H 10 or gaseous silicon hydrides (silanes) can be effectively used. SiH 4 , in terms of ease of handling and good Si supply efficiency,
Si 2 H 6 is mentioned as a preferable example.

【0049】形成される光導電層中に水素原子を構造的
に導入し、水素原子の導入割合の制御を一層容易になる
ようにはかり、本発明の目的を達成す膜特性を得るため
に、これらのガスにさらにH2、He、水素原子を含む
ケイ素化合物のガス等を所望量混合した雰囲気で層形成
する場合もある。また、各ガスは単独種のみでなく所定
の混合比で複数種混合しても差し支えない。
In order to structurally introduce hydrogen atoms into the formed photoconductive layer so as to make it easier to control the introduction ratio of hydrogen atoms, and to obtain a film characteristic which achieves the object of the present invention, In some cases, a layer may be formed in an atmosphere in which a desired amount of a gas of a silicon compound containing H 2 , He, or hydrogen atom is mixed with these gases. Further, each gas may be mixed not only with a single species but also with a plurality of species at a predetermined mixture ratio.

【0050】ハロゲン原子供給用の原料ガスとして有効
なのは、たとえばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハロゲ
ンをふくむハロゲン間化合物、ハロゲンで置換されたシ
ラン誘導体等のガス状物、またはガス化し得るハロゲン
化合物が好ましく挙げられる。また、さらにはシリコン
原子とハロゲン原子とを構成要素とするガス状物、また
はガス化し得るハロゲン原子を含む水素化ケイ素化合物
も有効なものとして挙げることができる。具体的には、
フッ素ガス(F2)、BrF、ClF、ClF3、BrF
3、BrF5、IF3、IF7等のハロゲン化合物を挙げる
ことができる。ハロゲン原子を含むケイ素化合物、いわ
ゆるハロゲン原子で置換されたシラン誘導体としては、
具体的には、たとえばSiF4、Si26等のフッ化ケ
イ素が好ましいものとして挙げることができる。
As the source gas for supplying a halogen atom, a gaseous substance such as a halogen gas, a halide, an interhalogen compound containing a halogen, a silane derivative substituted by a halogen, or a gaseous halogen compound is preferable. Can be Further, a gaseous substance containing a silicon atom and a halogen atom as constituent elements or a silicon hydride compound containing a halogen atom that can be gasified can also be mentioned as an effective substance. In particular,
Fluorine gas (F 2 ), BrF, ClF, ClF 3 , BrF
3 , halogen compounds such as BrF 5 , IF 3 and IF 7 . As a silicon compound containing a halogen atom, a silane derivative substituted with a so-called halogen atom,
Specifically, for example, silicon fluoride such as SiF 4 or Si 2 F 6 can be mentioned as a preferable example.

【0051】光導電層中に含有される水素原子および/
またはハロゲン原子の量を制御するには、例えば支持体
の温度、水素原子および/またはハロゲン原子を含有さ
せるために使用される原料物質の反応容器内へ導入する
量、放電電力等を制御すればよい。
Hydrogen atoms contained in the photoconductive layer and / or
Alternatively, to control the amount of halogen atoms, for example, by controlling the temperature of the support, the amount of a raw material used to contain hydrogen atoms and / or halogen atoms introduced into the reaction vessel, and the discharge power, etc. Good.

【0052】光導電層中に含有される水素原子は、層厚
方向において導電性支持体側から表面側に向かって減少
するように不均一な分布状態とすることが必要である。
The hydrogen atoms contained in the photoconductive layer need to be in a non-uniform distribution state so as to decrease from the conductive support side to the surface side in the layer thickness direction.

【0053】図2には、本発明における光導電層中のC
hの分布状態の例を示した。図2に示す様に、水素原子
の含有量は支持体側から表面側に向かって減少される。
その態様は、図2(a)〜(d)に示す様に直線的とす
ることもでき、図2(e)及び(f)に示す様に曲線的
とすることもできる。また、図2(g)に示す様に段階
的とすることもできる。
FIG. 2 shows that C in the photoconductive layer in the present invention.
The example of the distribution state of h was shown. As shown in FIG. 2, the content of hydrogen atoms decreases from the support side toward the surface side.
The aspect may be linear as shown in FIGS. 2A to 2D or may be curved as shown in FIGS. 2E and 2F. Alternatively, the steps may be made stepwise as shown in FIG.

【0054】なお、広い波長領域にわたって十分な光吸
収を実現し、キャリアの走行性を十分に改善して本発明
の効果を得るためには、光導電層において、導電性支持
体側の水素原子の含有量に対する表面側の水素原子の含
有量の比は0.4以上0.95以下とすることが好まし
い。
In order to realize sufficient light absorption over a wide wavelength range and sufficiently improve the traveling properties of carriers to obtain the effect of the present invention, the photoconductive layer needs to have hydrogen atoms on the conductive support side in the photoconductive layer. The ratio of the content of hydrogen atoms on the surface side to the content is preferably 0.4 or more and 0.95 or less.

【0055】更に、光導電層は、伝導性を制御する原子
として、半導体分野でp型電導特性を与える不純物とし
て使用される周期律表第13族に属する原子(第13族
原子とも略記する)を含有する。
Furthermore, the photoconductive layer is an atom belonging to Group 13 of the periodic table (also abbreviated as a Group 13 atom) which is used as an impurity for imparting p-type conductivity in the semiconductor field as an atom for controlling conductivity. It contains.

【0056】第13族原子としては、具体的には、ホウ
素(B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、
インジウム(In)、タリウム(Tl)等があり、特に
B、Al、Gaが好適である。
As the Group 13 atoms, specifically, boron (B), aluminum (Al), gallium (Ga),
There are indium (In), thallium (Tl) and the like, and B, Al and Ga are particularly preferable.

【0057】光導電層に含有される第13族原子の含有
量としては、シリコン原子に対して、好ましくは1×1
-2〜100原子ppm、より好ましくは5×10-2
50原子ppm、最適には1×10-1〜10原子ppm
とされる。
The content of Group 13 atoms contained in the photoconductive layer is preferably 1 × 1 with respect to silicon atoms.
0 -2 to 100 atomic ppm, more preferably 5 × 10 -2 to
50 atomic ppm, optimally 1 × 10 -1 to 10 atomic ppm
It is said.

【0058】光導電層中に含有される第13族原子は、
層厚方向において導電性支持体側から表面側に向かって
不均一な分布状態で含有している部分があることが必要
である。
Group 13 atoms contained in the photoconductive layer are:
It is necessary that there is a portion that is contained in a non-uniform distribution state from the conductive support side to the surface side in the layer thickness direction.

【0059】具体的には、第二の層領域では、導電性支
持体側の第13族原子の含有量に対する表面側の第13
族原子の含有量の比が0.05以上0.6以下であるこ
とが好ましい。
More specifically, in the second layer region, the content of the group 13 atoms on the conductive support side with respect to the content of the group 13 atoms on the surface side is reduced.
It is preferable that the ratio of the group atom content be 0.05 or more and 0.6 or less.

【0060】そして、第一の層領域では、第13族に属
する原子の含有量は導電性支持体側から表面側に向かっ
て一定であることが好ましい。ただし、一定とは、SI
MS法により第13族原子の含有量を測定する場合で、
含有量が分析精度内で不変であることを意味する。
In the first layer region, the content of atoms belonging to Group 13 is preferably constant from the conductive support side toward the surface side. However, constant means SI
When the content of Group 13 atoms is measured by the MS method,
It means that the content is unchanged within the analytical accuracy.

【0061】また、第13族に属する原子の含有量が支
持体側から表面側に向かって単位膜厚当たりに減少する
割合が、第二の層領域において減少する割合よりも小さ
いことが好ましい。
It is preferable that the rate of decrease in the content of atoms belonging to Group 13 per unit film thickness from the support side to the surface side is smaller than the rate of decrease in the second layer region.

【0062】第二の層領域で導電性支持体側の第13族
原子の含有量に対する表面側の第13族原子の含有量の
比が上記の範囲内であり、第一の層領域で第13族に属
する原子の含有量が支持体側から表面側に向かって単位
膜厚当たりに減少する割合が第二の層領域のものよりも
小さい場合、光キャリアの横流れ、光キャリアの走行性
が改善され、本発明の効果が十分に得られる。
The ratio of the content of Group 13 atoms on the front side to the content of Group 13 atoms on the conductive support side in the second layer region is within the above range, and the ratio of the content of Group 13 atoms on the first layer region is within the above range. When the rate of decrease in the content of atoms belonging to the group per unit film thickness from the support side to the surface side is smaller than that of the second layer region, the lateral flow of the optical carrier and the traveling property of the optical carrier are improved. Thus, the effects of the present invention can be sufficiently obtained.

【0063】光導電層においては、前述した水素原子の
含有量を不均一な分布状態にさせ、且つ、第13族に属
する原子の含有量を上述のように分布させてトータルバ
ランスを取ることで、光キャリアの走行性、光キャリア
の横流れ何れに関しても改善され、帯電能、感度、光メ
モリー、ドットの再現性の向上が観られる。
In the photoconductive layer, the above-mentioned content of hydrogen atoms is made to be in a non-uniform distribution state, and the content of atoms belonging to Group 13 is distributed as described above to obtain a total balance. In addition, both the running property of the optical carrier and the lateral flow of the optical carrier are improved, and the charging ability, sensitivity, optical memory, and dot reproducibility are improved.

【0064】図3には、本発明における光導電層中のC
13の分布状態の例を示した。図3に示す様に、光導電
層は支持体側から表面側に向かって少なくとも第一およ
び第二の層領域からなり、第二の層領域において、第1
3族原子の含有量は支持体側から表面側に向かって減少
される。その態様は、図3(a)及び(b)に示す様に
直線的とすることもでき、図3(c)に示す様に曲線的
とすることもできる。また、図3(e)に示す様に段階
的とすることもできる。更には、図3(d)のように曲
線的な部分と直線的な部分からなるものや、図3(f)
及び(g)のように曲線的な部分と段階的な部分からな
るものとすることもできる。
FIG. 3 shows that C in the photoconductive layer according to the present invention.
13 are shown as examples of the distribution state. As shown in FIG. 3, the photoconductive layer comprises at least a first and a second layer region from the support side to the surface side.
The content of Group 3 atoms decreases from the support side toward the surface side. The mode can be linear as shown in FIGS. 3A and 3B, or can be curved as shown in FIG. 3C. Further, as shown in FIG. In addition, as shown in FIG.
And (g), it may be composed of a curved part and a stepped part.

【0065】第13族原子を構造的に導入するには、層
形成の際に、第13族原子導入用の原料物質をガス状態
で反応容器中に、光導電層を形成するための他のガスと
ともに導入してやればよい。第13族原子導入用の原料
物質となり得るものとしては、常温常圧でガス状物、ま
たは、少なくとも層形成条件下で容易にガス化し得るも
のが採用されるのが望ましい。
In order to introduce the Group 13 atoms structurally, a raw material for introducing the Group 13 atoms is supplied in a gaseous state in a reaction vessel at the time of forming the layer, and another material for forming the photoconductive layer is formed. What is necessary is just to introduce with gas. It is preferable that a gaseous substance which can be used as a raw material for introducing a group 13 atom be a gaseous substance at normal temperature and normal pressure or a substance which can be easily gasified at least under layer forming conditions.

【0066】そのような第13族原子導入用の原料物質
としては具体的には、ホウ素原子導入用としては、B2
6、B410、B59、B511、B610、B612
61 4等の水素化ホウ素、BF3、BCl3、BBr3
のハロゲン化ホウ素等が挙げられる。この他、AlCl
3、GaCl3、Ga(CH33、InCl3、TlCl3
等も挙げることができる。
Such a raw material for introducing a group 13 atom
Specifically, for boron atom introduction, BTwo
H6, BFourHTen, BFiveH9, BFiveH11, B6HTen, B6H12,
B6H1 FourBorohydride, BFThree, BClThree, BBrThreeetc
And the like. In addition, AlCl
Three, GaClThree, Ga (CHThree)Three, InClThree, TlClThree
And the like.

【0067】更に、光導電層に、炭素原子、酸素原子お
よび窒素原子から選ばれる1種以上を含有させることも
有効である。含有量は、構成原子の総量に対して、好ま
しくは1×10-5〜10原子%、より好ましくは1×1
-4〜8原子%、最適には1×10-3〜5原子%が望ま
しい。これらの原子は、光導電層中に均一に含有されて
も良いし、光導電層の層厚方向に含有量が変化するよう
な不均一な分布をもたせた部分があっても良い。
Further, it is also effective that the photoconductive layer contains at least one selected from a carbon atom, an oxygen atom and a nitrogen atom. The content is preferably 1 × 10 −5 to 10 atomic%, more preferably 1 × 1 to 10 atomic%, based on the total amount of the constituent atoms.
0 -4 to 8 atomic%, optimally 1 × 10 -3 to 5 atomic% is desirable. These atoms may be uniformly contained in the photoconductive layer, or there may be a portion having a non-uniform distribution such that the content changes in the thickness direction of the photoconductive layer.

【0068】光導電層の層厚は、所望の電子写真特性が
得られること、及び経済的効果等の点から適宜所望に従
って決定され、好ましくは20μm〜50μm、より好
ましくは23μm〜45μm、さらに好ましくは25μ
m〜40μmとする。層厚が20μmより薄くなると、
帯電能や感度等の電子写真特性が実用上不十分となる場
合があり、50μmより厚くなると、光導電層の作製時
間が長くなって製造コストが高くなることがある。
The thickness of the photoconductive layer is appropriately determined as desired from the viewpoint of obtaining desired electrophotographic characteristics and economic effects, and is preferably 20 μm to 50 μm, more preferably 23 μm to 45 μm, and still more preferably. Is 25μ
m to 40 μm. When the layer thickness is less than 20 μm,
In some cases, electrophotographic characteristics such as charging ability and sensitivity become insufficient for practical use. When the thickness is more than 50 μm, the production time of the photoconductive layer becomes longer and the production cost may become higher.

【0069】また、第二の層領域の膜厚は0.5μm以
上15μm以下とされることが好ましい。0.5μmよ
り薄いと光吸収領域が第一の層領域の深い部分にまで到
達してトータルバランスを失う場合があり、15μmよ
り厚くなると残留電位が大きくなり、感度、メモリー電
位、さらにはドット再現性が、十分に改善されない場合
がある。
It is preferable that the film thickness of the second layer region is 0.5 μm or more and 15 μm or less. If it is thinner than 0.5 μm, the light absorption area may reach the deep part of the first layer area and the total balance may be lost.If it is thicker than 15 μm, the residual potential increases, sensitivity, memory potential, and dot reproduction. May not be sufficiently improved.

【0070】なお、所望の膜特性を有する光導電層を形
成するには、Si供給用のガスと希釈ガスとの混合比、
反応容器内のガス圧、放電電力ならびに支持体温度を適
宜設定することが必要である。
In order to form a photoconductive layer having desired film characteristics, a mixing ratio of a gas for supplying Si and a diluting gas is required.
It is necessary to appropriately set the gas pressure in the reaction vessel, the discharge power, and the temperature of the support.

【0071】希釈ガスとして使用するH2および/また
はHeの流量は、層設計に従って適宜最適範囲が選択さ
れるが、Si供給用ガスに対しH2および/またはHe
を、通常3〜30倍、好ましくは4〜25倍、最適には
5〜20倍の範囲に制御する。
[0071] The flow rate of H 2 and / or He used as a dilution gas is properly selected within an optimum range in accordance with the layer design, to Si-feeding gas H 2 and / or He
Is controlled in the range of usually 3 to 30 times, preferably 4 to 25 times, and most preferably 5 to 20 times.

【0072】反応容器内のガス圧も同様に層設計に従っ
て適宜最適範囲が選択されるが、通常1×10-2〜2×
103Pa、好ましくは5×10-2〜5×102Pa、最
適には1×10-1〜2×102Paとする。
Similarly, the optimum range of the gas pressure in the reaction vessel is appropriately selected in accordance with the layer design, but is usually 1 × 10 -2 to 2 ×.
10 3 Pa, preferably 5 × 10 −2 to 5 × 10 2 Pa, and most preferably 1 × 10 −1 to 2 × 10 2 Pa.

【0073】放電電力もまた同様に層設計に従って適宜
最適範囲が選択されるが、Si供給用のガスの流量に対
する放電電力の比を、0.3〜10、好ましくは0.5
〜9、さらに好ましくは1〜6の範囲に設定する。
Similarly, the optimum range of the discharge power is appropriately selected according to the layer design. The ratio of the discharge power to the flow rate of the gas for supplying Si is set to 0.3 to 10, preferably 0.5 to 0.5.
-9, more preferably 1-6.

【0074】さらに、支持体の温度は、層設計に従って
適宜最適範囲が選択されるが、好ましくは200〜35
0℃、より好ましくは230〜330℃、さらに好まし
くは250〜310℃とする。
Further, the temperature of the support is appropriately selected in an optimum range according to the layer design.
The temperature is set to 0 ° C, more preferably 230 to 330 ° C, and still more preferably 250 to 310 ° C.

【0075】光導電層を形成するための支持体温度、ガ
ス圧の望ましい数値範囲として前記した範囲が挙げられ
るが、条件は通常は独立的に別々に決められるものでは
なく、所望の特性を有する光受容部材を形成すべく相互
的かつ有機的関連性に基づいて最適値を決めるのが望ま
しい。
Desirable numerical ranges of the temperature and gas pressure of the support for forming the photoconductive layer include the above-mentioned ranges. However, the conditions are not usually determined separately and independently, but have desired characteristics. It is desirable to determine the optimum value based on mutual and organic relationships to form the light receiving member.

【0076】<表面層>本発明においては、支持体上に
形成された光導電層の上に、a−Si系の表面層を形成
することができる。この表面層は自由表面を有し、主に
耐湿性、連続繰り返し使用特性、電気的耐圧性、使用環
境特性、耐久性において本発明の目的を達成するために
設けられる。
<Surface Layer> In the present invention, an a-Si based surface layer can be formed on the photoconductive layer formed on the support. This surface layer has a free surface and is provided to achieve the object of the present invention mainly in moisture resistance, continuous repeated use characteristics, electric pressure resistance, use environment characteristics, and durability.

【0077】また、光受容層を構成する光導電層と表面
層とを形成する非晶質材料の各々がシリコン原子という
共通の構成要素を有しているので、積層界面において化
学的な安定性の確保が十分成されている。
Further, since each of the amorphous material forming the photoconductive layer and the amorphous layer forming the surface layer has a common component of silicon atoms, the chemical stability at the interface between the layers is high. Has been sufficiently secured.

【0078】表面層は、a−Si系の材料であればいず
れの材質でも可能であるが、例えば、水素原子(H)お
よび/またはハロゲン原子(X)を含有し、さらに炭素
原子を含有するアモルファスシリコン(a−SiC:
H,Xとも表記する)、水素原子(H)および/または
ハロゲン原子(X)を含有し、さらに酸素原子を含有す
るアモルファスシリコン(a−SiO:H,Xとも表記
する)、水素原子(H)および/またはハロゲン原子
(X)を含有し、さらに窒素原子を含有するアモルファ
スシリコン(a−SiN:H,Xとも表記する)、水素
原子(H)および/またはハロゲン原子(X)を含有
し、さらに炭素原子、酸素原子、窒素原子の少なくとも
一つを含有するアモルファスシリコン(a−SiCO
N:H,Xとも表記する)等の材料が好適に用いられ
る。
The surface layer can be made of any material as long as it is an a-Si material. For example, the surface layer contains a hydrogen atom (H) and / or a halogen atom (X) and further contains a carbon atom. Amorphous silicon (a-SiC:
H, X), amorphous silicon containing a hydrogen atom (H) and / or a halogen atom (X), and further containing an oxygen atom (a-SiO: also described as H, X), a hydrogen atom (H ) And / or a halogen atom (X), and further contains a nitrogen atom-containing amorphous silicon (a-SiN: H, X), a hydrogen atom (H) and / or a halogen atom (X). And amorphous silicon (a-SiCO) further containing at least one of a carbon atom, an oxygen atom and a nitrogen atom.
N: H, X) are suitably used.

【0079】表面層は真空堆積膜形成方法によって、所
望特性が得られるように適宜成膜パラメーターの数値条
件が設定されて作製される。具体的には、例えばグロー
放電法(低周波CVD法、高周波CVD法またはマイク
ロ波CVD法等の交流放電CVD法、あるいは直流放電
CVD法等)、スパッタリング法、真空蒸着法、イオン
プレーティング法、光CVD法、熱CVD法などの数々
の薄膜堆積法によって形成することができる。これらの
薄膜堆積法は、製造条件、設備資本投資下の負荷程度、
製造規模、作製される電子写真用光受容部材に所望され
る特性等の要因によって適宜選択されて採用されるが、
光受容部材の生産性から光導電層と同等の堆積法による
ことが好ましい。
The surface layer is manufactured by a vacuum deposition film forming method by appropriately setting numerical conditions of film forming parameters so as to obtain desired characteristics. Specifically, for example, a glow discharge method (an AC discharge CVD method such as a low-frequency CVD method, a high-frequency CVD method or a microwave CVD method, or a DC discharge CVD method), a sputtering method, a vacuum deposition method, an ion plating method, It can be formed by various thin film deposition methods such as a photo CVD method and a thermal CVD method. These thin film deposition methods are based on manufacturing conditions, load on capital investment,
The production scale is appropriately selected and adopted depending on factors such as characteristics desired for the electrophotographic light-receiving member to be produced.
From the productivity of the light receiving member, it is preferable to use the same deposition method as that for the photoconductive layer.

【0080】例えば、グロー放電法によってa−Si
C:H,Xよりなる表面層を形成するには、基本的には
シリコン原子(Si)を供給し得るSi供給用の原料ガ
スと、炭素原子(C)を供給し得るC供給用の原料ガス
と、水素原子(H)を供給し得るH供給用の原料ガス及
びハロゲン原子(X)を供給し得るX供給用の原料ガス
を、内部を減圧にし得る反応容器内に所望のガス状態で
導入して、この反応容器内にグロー放電を生起させ、あ
らかじめ所定の位置に設置された光導電層を形成した支
持体上にa−SiC:H,Xからなる層を形成すればよ
い。
For example, a-Si is formed by a glow discharge method.
In order to form a surface layer composed of C: H and X, a raw material gas for supplying Si that can supply silicon atoms (Si) and a raw material for supplying C that can supply carbon atoms (C) are basically used. A gas, a source gas for supplying H that can supply hydrogen atoms (H), and a source gas for supplying X that can supply halogen atoms (X) are placed in a reaction vessel that can reduce the pressure in a desired gas state. Then, a glow discharge is generated in the reaction vessel, and a layer made of a-SiC: H, X may be formed on a support on which a photoconductive layer previously formed at a predetermined position is formed.

【0081】表面層の材質としてはシリコンを含有する
アモルファス材料ならば何れでも良いが、炭素、窒素お
よび酸素より選ばれた元素を少なくとも1つ含むシリコ
ン原子との化合物が好ましく、特にa−SiCを主成分
としたものが好ましい。
The material of the surface layer may be any amorphous material containing silicon, but is preferably a compound with a silicon atom containing at least one element selected from carbon, nitrogen and oxygen. Those containing the main component are preferred.

【0082】特に、表面層をa−SiCを主成分として
構成する場合の炭素量は、シリコン原子と炭素原子の和
に対して30原子%から90原子%の範囲が好ましい。
In particular, when the surface layer is composed mainly of a-SiC, the amount of carbon is preferably in the range of 30 to 90 atomic% based on the sum of silicon atoms and carbon atoms.

【0083】また、表面層中に水素原子および/または
ハロゲン原子を含有することができるが、これらはシリ
コン原子などの構成原子の未結合手を補償し、層品質の
向上、特に光導電性特性および電荷保持特性を向上させ
る。水素含有量は、構成原子の総量に対して好ましくは
20〜70原子%、より好ましくは25〜65原子%、
さらに好ましくは30〜60原子%とする。また、ハロ
ゲン原子の含有量として、通常の場合は0.01〜15
原子%、好適には0.1〜10原子%、最適には0.5
〜5原子%とする。
The surface layer may contain hydrogen atoms and / or halogen atoms, which compensate for dangling bonds of constituent atoms such as silicon atoms and improve the quality of the layer, especially the photoconductive properties. And improve the charge retention characteristics. The hydrogen content is preferably 20 to 70 atomic%, more preferably 25 to 65 atomic%, based on the total amount of the constituent atoms,
More preferably, the content is 30 to 60 atomic%. Further, the content of the halogen atom is usually 0.01 to 15
Atomic%, preferably 0.1 to 10 atomic%, optimally 0.5
To 5 at%.

【0084】これらの水素および/またはハロゲン含有
量の範囲内で形成される光受容部材は、実際面に於いて
優れたものとして使用される。即ち、表面層内に存在す
る欠陥(主にシリコン原子や炭素原子のダングリングボ
ンド)は電子写真用光受容部材としての特性に悪影響を
及ぼすことが知られている。例えば自由表面から電荷の
注入による帯電特性の劣化、使用環境、例えば高い湿度
のもとで表面構造が変化することによる帯電特性の変
動、さらにコロナ帯電時や光照射時に光導電層により表
面層に電荷が注入され、前記表面層内の欠陥に電荷がト
ラップされることにより繰り返し使用時の残像現象の発
生等がこの悪影響として挙げられる。
The light receiving member formed within the above range of the hydrogen and / or halogen content is used as an excellent material in practical terms. That is, it is known that defects (mainly, dangling bonds of silicon atoms and carbon atoms) existing in the surface layer have an adverse effect on the characteristics as a light receiving member for electrophotography. For example, deterioration of charging characteristics due to injection of charge from the free surface, fluctuations in charging characteristics due to changes in the surface structure under the use environment, for example, high humidity, and a photoconductive layer formed on the surface layer by the photoconductive layer during corona charging or light irradiation As an adverse effect, the charge is injected and the charge is trapped in the defect in the surface layer to cause an afterimage phenomenon at the time of repeated use.

【0085】しかしながら、表面層内の水素含有量を2
0原子%以上に制御することで表面層内の欠陥が大幅に
減少し、その結果、従来に比べて電気的特性面及び高速
連続使用性において飛躍的な向上を図ることができる。
However, when the hydrogen content in the surface layer is 2
By controlling the content to 0 atomic% or more, defects in the surface layer are greatly reduced, and as a result, the electrical characteristics and high-speed continuous usability can be drastically improved as compared with the related art.

【0086】一方、前記表面層中の水素含有量が71原
子%以上になると表面層の硬度が低下する場合があり、
繰り返し使用に耐えられなくなる場合がある。従って、
表面層中の水素含有量を前記の範囲内に制御することが
優れた所望の電子写真特性を得る上で重要な因子の1つ
である。表面層中の水素含有量は、原料ガスの流量(流
量比)、支持体温度、放電パワー、ガス圧等によって制
御し得る。
On the other hand, if the hydrogen content in the surface layer is 71 atomic% or more, the hardness of the surface layer may decrease,
It may not be able to withstand repeated use. Therefore,
Controlling the hydrogen content in the surface layer within the above range is one of the important factors in obtaining excellent desired electrophotographic properties. The hydrogen content in the surface layer can be controlled by the flow rate (flow rate ratio) of the raw material gas, the temperature of the support, the discharge power, the gas pressure, and the like.

【0087】また、表面層中のハロゲン含有量を0.0
1原子%以上の範囲に制御することで表面層内のシリコ
ン原子と炭素原子の結合の発生をより効果的に達成する
ことが可能となる。さらに、表面層中のハロゲン原子の
働きとして、コロナ等のダメージによるシリコン原子と
炭素原子の結合の切断を効果的に防止することができ
る。
The halogen content in the surface layer is set to 0.0
By controlling the content to be 1 atomic% or more, it becomes possible to more effectively achieve the generation of the bond between silicon atoms and carbon atoms in the surface layer. Further, as a function of the halogen atoms in the surface layer, it is possible to effectively prevent the bond between the silicon atom and the carbon atom from being broken due to damage such as corona.

【0088】一方、表面層中のハロゲン含有量が15原
子%を超えると表面層内のシリコン原子と炭素原子の結
合の発生の効果、コロナ等のダメージによるシリコン原
子と炭素原子の結合の切断を防止する効果等が不十分と
なる場合がある。さらに、過剰のハロゲン原子が表面層
中のキャリアの走行性を阻害するため、残留電位や画像
メモリーが発生する場合がある。従って、表面層中のハ
ロゲン含有量を前記範囲内に制御することが所望の電子
写真特性を得る上で重要な因子の一つである。表面層中
のハロゲン含有量は、水素含有量と同様に原料ガスの流
量(比)、支持体温度、放電パワー、ガス圧等によって
制御し得る。
On the other hand, when the halogen content in the surface layer exceeds 15 atomic%, the effect of the generation of the bond between the silicon atom and the carbon atom in the surface layer and the breakage of the bond between the silicon atom and the carbon atom due to damage such as corona are prevented. The effect of prevention may be insufficient. Furthermore, since the excess halogen atoms hinder the mobility of carriers in the surface layer, residual potential and image memory may be generated. Therefore, controlling the halogen content in the surface layer within the above range is one of the important factors in obtaining desired electrophotographic characteristics. Like the hydrogen content, the halogen content in the surface layer can be controlled by the flow rate (ratio) of the raw material gas, the temperature of the support, the discharge power, the gas pressure, and the like.

【0089】表面層の形成において使用されるシリコン
(Si)供給用ガスとなり得る物質としては、Si
4、Si26、Si38、Si410等のガス状物、ま
たはガス化し得る水素化ケイ素(シラン類)が有効に使
用されるものとして挙げられ、さらに層作製時の取り扱
い易さ、Si供給効率の良さ等の点でSiH4、Si2
6が好ましいものとして挙げられる。また、これらのS
i供給用の原料ガスを必要に応じてH2、He、Ar、
Ne等のガスにより希釈して使用してもよい。
The substance which can be a gas for supplying silicon (Si) used in forming the surface layer includes Si (Si).
Gaseous substances such as H 4 , Si 2 H 6 , Si 3 H 8 , and Si 4 H 10 or gaseous silicon hydrides (silanes) are effectively used. SiH 4 , Si 2 H, etc. in terms of ease of handling, high Si supply efficiency, etc.
6 is preferred. In addition, these S
The raw material gas for supplying i is optionally H 2 , He, Ar,
It may be used after being diluted with a gas such as Ne.

【0090】炭素供給用ガスとなり得る物質としては、
CH4、C22、C26、C38、C410等のガス状
物、またはガス化し得る炭化水素が有効に使用されるも
のとして挙げられ、さらに層作製時の取り扱い易さ、S
i供給効率の良さ等の点でCH4、C22、C26が好
ましいものとして挙げられる。また、これらのC供給用
の原料ガスを必要に応じてH2、He、Ar、Ne等の
ガスにより希釈して使用してもよい。
Examples of the substance that can serve as a carbon supply gas include:
A gaseous substance such as CH 4 , C 2 H 2 , C 2 H 6 , C 3 H 8 , C 4 H 10 or a gasifiable hydrocarbon can be used effectively. Easy handling, S
CH 4 , C 2 H 2 , and C 2 H 6 are preferred in terms of i-supply efficiency and the like. Further, the raw material gas for supplying C may be used after being diluted with a gas such as H 2 , He, Ar, or Ne as necessary.

【0091】窒素または酸素供給用ガスとなり得る物質
としては、NH3、NO、N2O、NO2、O2、CO、C
2、N2等のガス状物、またはガス化し得る化合物が有
効に使用されるものとして挙げられる。また、これらの
窒素、酸素供給用の原料ガスを必要に応じてH2、H
e、Ar、Ne等のガスにより希釈して使用してもよ
い。
Substances that can serve as nitrogen or oxygen supply gas include NH 3 , NO, N 2 O, NO 2 , O 2 , CO, C
Gaseous substances such as O 2 and N 2 , or compounds that can be gasified, are mentioned as being effectively used. If necessary, H 2 , H
It may be diluted with a gas such as e, Ar, Ne or the like before use.

【0092】また、形成される表面層中に導入される水
素原子の導入割合の制御を一層容易になるように図るた
めに、これらのガスにさらに水素ガス又は水素原子を含
むケイ素化合物のガスも所望量混合して層形成すること
が好ましい。また、各ガスは単独種のみでなく所定の混
合比で複数種混合しても差し支えないものである。
In order to make it easier to control the ratio of hydrogen atoms introduced into the surface layer to be formed, hydrogen gas or a silicon compound gas containing hydrogen atoms may be used in addition to these gases. It is preferable to form a layer by mixing a desired amount. Further, each gas is not limited to a single species, and a plurality of species may be mixed at a predetermined mixture ratio.

【0093】ハロゲン原子供給用の原料ガスとして有効
なのは、たとえばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハロゲ
ンをふくむハロゲン間化合物、ハロゲンで置換されたシ
ラン誘導体等のガス状物、またはガス化し得るハロゲン
化合物が好ましく挙げられる。また、さらにはシリコン
原子とハロゲン原子とを混要素とするガス状物、または
ガス化し得るハロゲン原子を含む水素化ケイ素化合物も
有効なものとして挙げることができる。
Examples of the effective source gas for supplying a halogen atom include a gaseous substance such as a halogen gas, a halide, an interhalogen compound containing a halogen, a silane derivative substituted with a halogen, or a gaseous halogen compound. Can be Further, a gaseous substance containing a mixed element of a silicon atom and a halogen atom, or a silicon hydride compound containing a halogen atom which can be gasified can also be mentioned as an effective substance.

【0094】好適に使用し得るハロゲン化合物として
は、具体的にはフッ素ガス(F2)、BrF、ClF、
ClF3、BrF3、BrF5、IF3、IF7等のハロゲ
ン間化合物を挙げることができる。ハロゲン原子を含む
ケイ素化合物、いわゆるハロゲン原子で置換されたシラ
ン誘導体としては、具体的には、例えばSiF4、Si2
6等のフッ化ケイ素が好ましいものとして挙げること
ができる。
Specific examples of the halogen compound that can be preferably used include fluorine gas (F 2 ), BrF, ClF, and the like.
Inter-halogen compounds such as ClF 3 , BrF 3 , BrF 5 , IF 3 and IF 7 can be mentioned. Specific examples of the silicon compound containing a halogen atom, ie, a silane derivative substituted with a halogen atom, include, for example, SiF 4 , Si 2
Silicon fluoride such as F 6 can be mentioned as a preferable example.

【0095】表面層中に含有される水素原子および/ま
たはハロゲン原子の量を制御するには、例えば支持体の
温度、水素原子および/またはハロゲン原子を含有させ
るために使用される原料物質の反応容器内へ導入する
量、放電電力等を制御すればよい。
In order to control the amount of hydrogen atoms and / or halogen atoms contained in the surface layer, for example, the temperature of the support, the reaction of the raw materials used to contain hydrogen atoms and / or halogen atoms, What is necessary is just to control the quantity introduced into a container, discharge power, etc.

【0096】炭素原子、酸素原子および窒素原子の1つ
以上の原子は、表面層中に万遍なく均一に含有されても
良いし、表面層中の層厚方向に含有量が変化するような
不均一な分布をもたせた部分があっても良い。
One or more of carbon atoms, oxygen atoms and nitrogen atoms may be uniformly contained in the surface layer, or the content may vary in the thickness direction of the surface layer. There may be a portion having an uneven distribution.

【0097】さらに、表面層には必要に応じて伝導性を
制御する原子を含有させることが好ましい。伝導性を制
御する原子は、表面層中に万遍なく均一に分布した状態
で含有されても良いし、あるいは層厚方向には不均一な
分布状態で含有している部分があってもよい。
Further, it is preferable that the surface layer contains atoms for controlling conductivity as necessary. The atoms controlling the conductivity may be contained in the surface layer in a state of being uniformly distributed, or there may be a part containing the atom in the layer thickness direction in a non-uniform distribution state. .

【0098】伝導性を制御する原子としては、p型電導
特性を与える第13族原子、またはn型電導特性を与え
る周期律表第15族に属する原子(第15族原子とも略
記する)を用いることができる。
As an atom for controlling conductivity, an atom belonging to Group 13 of the periodic table that provides p-type conductivity or an atom belonging to Group 15 of the periodic table that provides n-type conductivity is used. be able to.

【0099】第13族原子としては、具体的には、ホウ
素(B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、
インジウム(In)、タリウム(Tl)等があり、特に
B、Al、Gaが好適である。第15族原子としては、
具体的にはリン(P)、ヒ素(As)、アンチモン(S
b)、ビスマス(Bi)等があり、特にP、Asが好適
である。
As the Group 13 atoms, specifically, boron (B), aluminum (Al), gallium (Ga),
There are indium (In), thallium (Tl) and the like, and B, Al and Ga are particularly preferable. Group 15 atoms include:
Specifically, phosphorus (P), arsenic (As), antimony (S
b), bismuth (Bi) and the like, and P and As are particularly preferable.

【0100】表面層に含有される伝導性を制御する原子
の含有量としては、好ましくは1×10-3〜1×103
原子ppm、より好ましくは1×10-2〜5×102
子ppm、最適には1×10-1〜102原子ppmとさ
れる。
The content of atoms for controlling conductivity contained in the surface layer is preferably from 1 × 10 −3 to 1 × 10 3.
Atom ppm, more preferably 1 × 10 -2 ~5 × 10 2 atomic ppm, and optimally are 1 × 10 -1 ~10 2 atom ppm.

【0101】伝導性を制御する原子、たとえば、第13
族原子または第15族原子を構造的に導入するには、層
形成の際に、第13族原子導入用の原料物質または第1
5族原子導入用の原料物質をガス状態で反応容器中に、
表面層を形成するための他のガスとともに導入してやれ
ばよい。第13族原子導入用の原料物質または第15族
原子導入用の原料物質となり得るものとしては、常温常
圧でガス状物、または、少なくとも層形成条件下で容易
にガス化し得るものが採用されるのが望ましい。
Atoms for controlling conductivity, for example,
In order to structurally introduce a group 13 atom or a group 15 atom, a source material for introducing a group 13 atom or
The raw material for introducing group V atoms is introduced into the reaction vessel in a gaseous state.
It may be introduced together with another gas for forming the surface layer. As a raw material for introducing a Group 13 atom or a raw material for introducing a Group 15 atom, a gaseous substance at normal temperature and pressure or a substance which can be easily gasified at least under layer forming conditions is employed. Is desirable.

【0102】そのような第13族原子導入用の原料物質
としては具体的には、ホウ素原子導入用としては、B2
6、B410、B59、B511、B612、B614
の水素化ホウ素、BF3、BCl3、BBr3等のハロゲ
ン化ホウ素等が挙げられる。この他、AlCl3、Ga
Cl3、Ga(CH33、InCl3、TiCl3等も挙
げることができる。
As such a raw material for introducing a group 13 atom, specifically, for introducing a boron atom, B 2
Include H 6, B 4 H 10, B 5 H 9, B 5 H 11, B 6 H 12, B 6 H 14 , etc. borohydride, BF 3, BCl 3, BBr boron halide such as 3 . In addition, AlCl 3 , Ga
Cl 3 , Ga (CH 3 ) 3 , InCl 3 , TiCl 3 and the like can also be mentioned.

【0103】第15族原子導入用の原料物質として、有
効に使用されるのは、リン原子導入用としては、P
3、P24等の水素化リン、PH4I、PF3、PF5
PCl3、PCl3、PCl5、PBr3、PBr5、PI3
等のハロゲン化リンが挙げられる。この他、AsH3
AsF3、AsCl3、AsBr3、AsF5、SbH3
SbF3、SbF3、SbF5、Sbcl3、SbCl5
BiH3、BiCl3、BiBr3等も第15族原子導入
用の出発物質の有効なものとして挙げることができる。
As a raw material for introducing a group 15 atom, the one effectively used is P for introducing a phosphorus atom.
Phosphorus hydride such as H 3 , P 2 H 4 , PH 4 I, PF 3 , PF 5 ,
PCl 3 , PCl 3 , PCl 5 , PBr 3 , PBr 5 , PI 3
And the like. In addition, AsH 3 ,
AsF 3 , AsCl 3 , AsBr 3 , AsF 5 , SbH 3 ,
SbF 3 , SbF 3 , SbF5, Sbcl 3 , SbCl 5 ,
BiH 3 , BiCl 3 , BiBr 3 and the like can also be mentioned as effective starting materials for introducing a group 15 atom.

【0104】また、これらの伝導性を制御する原子導入
用の原料物質を必要に応じて、H2、He、Ar、Ne
等のガスにより希釈して使用してもよい。
If necessary, these raw materials for introducing atoms for controlling conductivity may be made of H 2 , He, Ar, Ne.
May be used after being diluted with such a gas.

【0105】表面層の層厚としては、好ましくは0.0
1〜3μm、より好ましくは0.05〜2μm、さらに
好ましくは0.1〜1μmとされる。層厚が0.01μ
mより薄いと、光受容部材を使用中に磨耗等の理由によ
り表面層が失われ易い場合があり、3μmを越えると残
留電位の増加する場合があり、電子写真特性の低下する
場合がある。
The thickness of the surface layer is preferably 0.0
The thickness is 1 to 3 μm, more preferably 0.05 to 2 μm, and further preferably 0.1 to 1 μm. Layer thickness 0.01μ
If the thickness is less than m, the surface layer may be easily lost due to abrasion or the like during use of the light receiving member, and if it exceeds 3 μm, the residual potential may increase and the electrophotographic characteristics may deteriorate.

【0106】表面層は、その要求される特性が所望通り
に与えられるように注意深く作製される。即ち、Si、
C、N及びOからなる群から選択された少なくともひと
つの原子と、H及び/又はXとを構成要素とする物質
は、その形成条件によって構造的には多結晶や微結晶の
ような結晶性からアモルファスまでの形態(総称して非
単結晶)を取り、電気物性的には導電性から半導体性、
絶縁性までの間の性質を、又、光導電的性質から非光導
電的性質までの間の性質を各々示すので、目的に応じた
所望の特性を有する化合物が形成される様に、作製条件
の選択が厳密になされる。
The surface layer is carefully prepared so that the required properties are provided as desired. That is, Si,
A substance containing at least one atom selected from the group consisting of C, N, and O and H and / or X is structurally crystalline such as polycrystal or microcrystal depending on its formation conditions. From amorphous to amorphous (collectively non-single crystal).
Since the properties up to the insulating property and the properties from the photoconductive property to the non-photoconductive property are shown, the fabrication conditions are adjusted so that a compound having desired properties according to the purpose is formed. The choice is made strictly.

【0107】例えば、表面層を耐圧性の向上を主な目的
として設けるには、使用環境に於いて電気絶縁性的挙動
の顕著な非単結晶材料として作製される。
For example, in order to provide the surface layer mainly for the purpose of improving the pressure resistance, the surface layer is made of a non-single-crystal material having a remarkable electric insulating property in a use environment.

【0108】また、連続繰り返し使用特性や使用環境特
性の向上を主たる目的として表面層が設けられる場合に
は、上記の電気絶縁性の度合はある程度緩和され、照射
される光に対して有る程度の感度を有する非単結晶材料
として形成される。
When the surface layer is provided mainly for the purpose of improving the continuous repetitive use characteristics and the use environment characteristics, the degree of the above-mentioned electric insulation is alleviated to a certain extent, and to a certain degree with respect to the irradiated light. Formed as a sensitive non-single crystal material.

【0109】表面層を形成するには、支持体の温度、反
応容器内のガス圧を所望に従って、適宜設定する必要が
ある。
In order to form the surface layer, it is necessary to appropriately set the temperature of the support and the gas pressure in the reaction vessel as desired.

【0110】支持体の温度は、層設計に従って適宜最適
範囲が選択されるが、通常の場合、好ましくは200〜
350℃、より好ましくは230〜330℃、最適には
250〜310℃とする。
The temperature of the support is appropriately selected in an optimum range according to the layer design.
The temperature is set to 350 ° C, more preferably 230 to 330 ° C, and most preferably 250 to 310 ° C.

【0111】反応容器内のガス圧も同様に層設計に従っ
て適宜最適範囲が選択されるが、通常の場合、好ましく
は1×10-2〜2×103Pa、好ましくは5×10-2
〜5×102Pa、最適には1×10-1〜1×102Pa
とする。
The gas pressure in the reaction vessel is also appropriately selected in an optimum range according to the layer design, but is usually 1 × 10 −2 to 2 × 10 3 Pa, preferably 5 × 10 −2.
55 × 10 2 Pa, optimally 1 × 10 -1 to 1 × 10 2 Pa
And

【0112】表面層を形成するための支持体温度、ガス
圧の望ましい数値範囲として前記した範囲が挙げられる
が、条件は通常は独立的に別々に決められるものではな
く、所望の特性を有する光受容部材を形成すべく相互的
かつ有機的関連性に基づいて最適値を決めるのが望まし
い。
Desirable numerical ranges of the temperature and the gas pressure of the support for forming the surface layer include the above-mentioned ranges. However, the conditions are not usually determined independently and separately, and the light having the desired characteristics is not usually determined. It is desirable to determine the optimum value based on mutual and organic relationships to form the receiving member.

【0113】さらに、光導電層と表面層の間に、炭素原
子、酸素原子および窒素原子の1つ以上の原子の含有量
を表面層より減らしたブロッキング層(下部表面層)を
設けることも帯電能等の特性をさらに向上させるために
は有効である。
Furthermore, it is also possible to provide a blocking layer (lower surface layer) between the photoconductive layer and the surface layer in which the content of at least one of carbon, oxygen and nitrogen atoms is smaller than that of the surface layer. This is effective for further improving the characteristics such as the performance.

【0114】また、表面層と光導電層との間に、炭素原
子、酸素原子および窒素原子の1つ以上の原子の含有量
が光導電層に向かって減少するように変化する領域を設
けても良い。これにより表面層と光導電層の密着性を向
上させ、界面での光の反射による干渉の影響をより少な
くすることができる。
A region is provided between the surface layer and the photoconductive layer, in which the content of one or more of carbon, oxygen and nitrogen atoms changes so as to decrease toward the photoconductive layer. Is also good. Thereby, the adhesion between the surface layer and the photoconductive layer can be improved, and the influence of interference due to light reflection at the interface can be further reduced.

【0115】<電荷注入阻止層>本発明の電子写真用光
受容部材においては、導電性支持体と光導電層との間
に、導電性支持体側からの電荷の注入を阻止する働きの
ある電荷注入阻止層を設けるのが一層効果的である。即
ち、電荷注入阻止層は光受容層が一定極性の帯電処理を
その自由表面に受けた際、支持体側より光導電層側に電
荷が注入されるのを阻止する機能を有し、逆の極性の帯
電処理を受けた際にはそのような機能は発揮されない、
いわゆる極性依存性を有している。そのような機能を付
与するために、電荷注入阻止層には伝導性を制御する原
子を光導電層に比べ比較的多く含有させる。
<Charge Injection Blocking Layer> In the electrophotographic light-receiving member of the present invention, a charge having a function of preventing charge injection from the conductive support side between the conductive support and the photoconductive layer. Providing an injection blocking layer is more effective. That is, the charge injection blocking layer has a function of preventing charge from being injected from the support side to the photoconductive layer side when the photoreceptive layer has been subjected to a charge treatment of a fixed polarity on its free surface. Such a function is not exhibited when subjected to the charging treatment of
It has a so-called polarity dependency. In order to provide such a function, the charge injection blocking layer contains a relatively large number of atoms for controlling conductivity as compared with the photoconductive layer.

【0116】電荷注入阻止層に含有される伝導性を制御
する原子は、層中に万遍なく均一に分布されても良い
し、あるいは層厚方向には万遍なく含有されてはいる
が、不均一に分布する状態で含有している部分があって
もよい。分布濃度が不均一な場合には、支持体側に多く
分布するように含有させるのが好適である。
The atoms for controlling the conductivity contained in the charge injection blocking layer may be distributed evenly and uniformly in the layer, or may be uniformly distributed in the layer thickness direction. Some portions may be contained in a non-uniformly distributed state. When the distribution concentration is non-uniform, it is preferable that the compound be contained so as to be distributed more on the support side.

【0117】しかしながら、いずれの場合にも支持体の
表面と平行面内方向においては、均一な分布で万遍なく
含有されること画面内方向における特性の均一化をはか
る点からも必要である。
However, in any case, it is necessary to uniformly contain the particles in a direction parallel to the surface of the support in a direction parallel to the surface of the support in order to make the characteristics uniform in the direction in the screen.

【0118】電荷注入阻止層に含有される伝導性を制御
する原子としては、第13族原子および第15族原子を
用いることができる。
As the atoms for controlling the conductivity contained in the charge injection blocking layer, Group 13 atoms and Group 15 atoms can be used.

【0119】第13族原子としては、具体的には、B
(ほう素)、Al(アルミニウム)、Ga(ガリウ
ム)、In(インジウム)、Ta(タリウム)等があ
り、特にB、Al、Gaが好適である。第15族原子と
しては、具体的には、P(リン)、As(ヒ素)、Sb
(アンチモン)、Bi(ビスマス)等があり、特にP、
Asが好適である。
Specific examples of the Group 13 atom include B
(Boron), Al (aluminum), Ga (gallium), In (indium), Ta (thallium), and the like, and B, Al, and Ga are particularly preferable. As the Group 15 atom, specifically, P (phosphorus), As (arsenic), Sb
(Antimony), Bi (bismuth) and the like.
As is preferred.

【0120】伝導性を制御する原子の含有量としては、
好ましくは10〜1×104原子ppm、より好ましく
は50〜5×103原子ppm、さらに好ましくは1×
102〜1×103原子ppmとされる。
The content of atoms for controlling conductivity is as follows.
Preferably 10 to 1 × 10 4 atomic ppm, more preferably 50 to 5 × 10 3 atomic ppm, and still more preferably 1 × 10 4 atomic ppm.
It is set to 10 2 to 1 × 10 3 atomic ppm.

【0121】さらに、電荷注入阻止層には、炭素原子、
窒素原子および酸素原子の少なくとも1種を含有させる
ことにより、電荷注入阻止層に直接接触して設けられる
他の層との間の密着性の向上できる。
Further, carbon atoms,
By containing at least one of a nitrogen atom and an oxygen atom, the adhesion to another layer provided in direct contact with the charge injection blocking layer can be improved.

【0122】電荷注入阻止層に含有される炭素原子、窒
素原子および酸素原子の1つ以上の原子は、層中に万遍
なく均一に分布されても良いし、あるいは層厚方向には
万遍なく含有されてはいるが、不均一に分布する状態で
含有している部分があってもよい。しかしながら、いず
れの場合にも支持体の表面と平行面内方向においては、
均一な分布で万遍なく含有されることが面内方向におけ
る特性の均一化をはかる点からも必要である。
One or more of the carbon, nitrogen and oxygen atoms contained in the charge injection blocking layer may be uniformly distributed throughout the layer, or may be uniformly distributed in the layer thickness direction. Although it is contained without, there may be a part which is contained in a state of being unevenly distributed. However, in any case, in a direction parallel to the surface of the support,
It is necessary that they be uniformly contained in a uniform distribution in order to uniform the characteristics in the in-plane direction.

【0123】電荷注入阻止層の全層領域に含有される炭
素原子、窒素原子および酸素原子の1種以上の原子の含
有量は、1種の場合はその量として、2種以上の場合は
その総和として、好ましくは1×10-3〜50原子%、
より好ましくは5×10-3〜30原子%、さらに好まし
くは1×10-2〜10原子%とされる。
The content of at least one of carbon, nitrogen and oxygen atoms contained in the entire layer region of the charge injection blocking layer is as follows when one kind is used, and when two or more kinds are used. Preferably, as a total, 1 × 10 −3 to 50 atomic%,
More preferably, it is set to 5 × 10 −3 to 30 atomic%, further preferably, 1 × 10 −2 to 10 atomic%.

【0124】また、電荷注入阻止層に含有される水素原
子および/またはハロゲン原子は層内に存在する未結合
手を補償し膜質の向上に効果を奏する。電荷注入阻止層
中の水素原子の含有量、ハロゲン原子の含有量、又は水
素原子およびハロゲン原子の和の含有量は、好適には1
〜50原子%、より好適には5〜40原子%、最適には
10〜30原子%とする。
Further, hydrogen atoms and / or halogen atoms contained in the charge injection blocking layer compensate for dangling bonds existing in the layer, and are effective in improving the film quality. The content of hydrogen atoms, the content of halogen atoms, or the sum of hydrogen atoms and halogen atoms in the charge injection blocking layer is preferably 1
-50 at%, more preferably 5-40 at%, and most preferably 10-30 at%.

【0125】電荷注入阻止層の層厚は所望の電子写真特
性が得られること、及び経済的効果等の点から好ましく
は0.1〜5μm、より好ましくは0.3〜4μm、さ
らに好ましくは0.5〜3μmとされる。層厚が0.1
μmより薄くなると、支持体からの電化の注入阻止膿が
不十分となる場合があり、十分な帯電能が得られない場
合がある。一方、5μmより厚くしても実質的な電子写
真特性の向上よりも、作製時間の延長による製造コスト
増を招く場合がある。
The thickness of the charge injection blocking layer is preferably from 0.1 to 5 μm, more preferably from 0.3 to 4 μm, and still more preferably 0, from the viewpoints of obtaining desired electrophotographic characteristics and economic effects. 0.5 to 3 μm. 0.1 layer thickness
When the thickness is less than μm, the injection suppuration of electrification from the support may be insufficient, and sufficient charging ability may not be obtained. On the other hand, even if the thickness is more than 5 μm, the production cost may be increased due to the extension of the production time rather than the substantial improvement of the electrophotographic characteristics.

【0126】電荷注入阻止層は、光導電層の場合と同様
に、真空堆積法により作製することができる。その際、
光導電層の場合と同様に、Si供給用のガスと希釈ガス
との混合比、反応容器内のガス圧、放電電力ならびに支
持体の温度を適宜設定することが必要である。
The charge injection blocking layer can be formed by a vacuum deposition method as in the case of the photoconductive layer. that time,
As in the case of the photoconductive layer, it is necessary to appropriately set the mixing ratio of the gas for supplying Si and the diluent gas, the gas pressure in the reaction vessel, the discharge power, and the temperature of the support.

【0127】H2及び/又はHeの流量は、層設計に従
って適宜最適範囲が選択されるが、Si供給用ガスに対
しH2及び/又はHeを、好ましくは1〜20倍、より
好ましくは3〜15倍、さらに好ましくは5〜10倍の
範囲に制御することが望ましい。
The flow rate of H 2 and / or He is appropriately selected according to the layer design, but H 2 and / or He is preferably 1 to 20 times, more preferably 3 to 20 times the Si supply gas. It is desirable to control to a range of up to 15 times, more preferably 5 to 10 times.

【0128】反応容器内のガス圧も同様に層設計に従っ
て、適宜最適範囲が選択されるが、通常の場合1×10
-2〜2×103Pa、より好ましくは5×10-2〜5×
102Pa、最適には1×10-1〜2×102Paとする
のが望ましい。
Similarly, the optimum range of the gas pressure in the reaction vessel is appropriately selected according to the layer design.
−2 to 2 × 10 3 Pa, more preferably 5 × 10 −2 to 5 ×
It is desirable that the pressure be 10 2 Pa, most preferably 1 × 10 −1 to 2 × 10 2 Pa.

【0129】放電電力もまた同様に層設計に従って適宜
最適範囲が選択されるが、Si供給用のガスの流量に対
する放電電力の比を、好ましくは1〜7、より好ましく
は2〜6倍、さらにこのましくは3〜5倍の範囲に設定
することが望ましい。
Similarly, the optimum range of the discharge power is appropriately selected in accordance with the layer design. The ratio of the discharge power to the flow rate of the gas for supplying Si is preferably 1 to 7, more preferably 2 to 6 times, and It is preferable to set the range to 3 to 5 times.

【0130】さらに、支持体の温度は、層設計に従って
適宜最適範囲が選択されるが、好ましくは200〜35
0℃、より好ましくは230〜330℃、さらに好まし
くは250〜310℃とするのが望ましい。
Further, the temperature of the support is appropriately selected in an optimum range according to the layer design, but is preferably from 200 to 35.
The temperature is desirably 0 ° C, more preferably 230 to 330 ° C, and still more preferably 250 to 310 ° C.

【0131】電荷注入阻止層を形成するための希釈ガス
の混合比、ガス圧、放電電力、支持体温度の望ましい数
値範囲として前記した範囲が挙げられるが、これらの層
作製ファクターは通常は独立的に別々に決められるもの
ではなく、所望の特性を有する表面層を形成すべく相互
的かつ有機的関連性に基づいて各層作製ファクターの最
適値を決めるのが望ましい。
Desirable numerical ranges of the mixing ratio of the diluent gas, the gas pressure, the discharge power, and the temperature of the support for forming the charge injection blocking layer include the above-mentioned ranges, and the factors for forming these layers are usually independent. However, it is desirable that the optimum value of each layer forming factor be determined based on mutual and organic relationships in order to form a surface layer having desired properties.

【0132】このほかに、本発明の電子写真用光受容部
材においては、光受容層の前記支持体側に、少なくとも
アルミニウム原子、シリコン原子、水素原子、ハロゲン
原子等が層厚方向に不均一な分布状態で含有する層領域
を有することが望ましい。
In addition, in the light receiving member for electrophotography of the present invention, at least aluminum, silicon, hydrogen, halogen and the like are unevenly distributed in the thickness direction on the support side of the light receiving layer. It is desirable to have a layer region contained in the state.

【0133】また、支持体と、光導電層または電荷注入
阻止層との間の密着性の一層の向上を図る目的で、例え
ば、Si34、SiO2、SiO又はシリコン原子を母
体とし、水素原子および/またはハロゲン原子と、炭素
原子、酸素原子および窒素原子から選ばれる1種以上の
原子とを含む非晶質材料等で構成される密着層を設けて
も良い。
Further, for the purpose of further improving the adhesion between the support and the photoconductive layer or the charge injection blocking layer, for example, Si 3 N 4 , SiO 2 , SiO or silicon atom is used as a base material, An adhesion layer formed of an amorphous material or the like containing a hydrogen atom and / or a halogen atom and at least one atom selected from a carbon atom, an oxygen atom, and a nitrogen atom may be provided.

【0134】次に、本発明の光受容層を作製するの装置
及び膜形成方法について詳述する。
Next, an apparatus and a film forming method for producing the light receiving layer of the present invention will be described in detail.

【0135】図4は、電源周波数としてRF帯を用いた
高周波プラズマCVD法(RF−PCVDとも略記す
る)による光受容部材の製造装置の一例を示す模式的な
構成図である。図4に示す製造装置の構成は以下の通り
である。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing an example of an apparatus for manufacturing a light receiving member by a high frequency plasma CVD method (RF-PCVD) using an RF band as a power supply frequency. The configuration of the manufacturing apparatus shown in FIG. 4 is as follows.

【0136】この装置は大別すると、堆積装置(410
0)、原料ガスの供給装置(4200)、反応容器(4
111)内を減圧にするための排気装置(図示せず)か
ら構成されている。堆積装置(4100)中の反応容器
(4111)内には円筒状支持体(4112)、支持体
加熱用ヒーター(4113)、原料ガス導入管(411
4)が設置され、さらに高周波マッチングボックス(4
115)が接続されている。
This apparatus is roughly classified into a deposition apparatus (410)
0), a source gas supply device (4200), a reaction vessel (4
111) is constituted by an exhaust device (not shown) for reducing the pressure inside. A cylindrical support (4112), a heater for heating the support (4113), and a raw material gas introduction pipe (411) are provided in a reaction vessel (4111) in the deposition apparatus (4100).
4) is installed, and a high-frequency matching box (4)
115) are connected.

【0137】原料ガス供給装置(4200)は、SiH
4、GeH4、H2、CH4、B26、PH3等の原料ガス
のボンベ(4221〜4226)とバルブ(4231〜
4236、4241〜4246、4251〜4256)
及びマスフローコントローラー(4211〜4216)
から構成され、各原料ガスのボンベはバルブ(426
0)を介して反応容器(4111)内のガス導入管(4
114)に接続されている。
The source gas supply device (4200) is made of SiH
4, GeH 4, H 2, CH 4, B 2 H 6, a cylinder of the source gas PH 3, etc. (4221 to 4226) and a valve (4231~
4236, 4241 to 4246, 4251 to 4256)
And mass flow controllers (4211-4216)
And the cylinder for each source gas is a valve (426
0) through the gas introduction pipe (4) in the reaction vessel (4111).
114).

【0138】この装置を用いた堆積膜の形成は、例えば
以下のように行なうことができる。
The formation of a deposited film using this apparatus can be performed, for example, as follows.

【0139】先ず、反応容器(4111)内に円筒状支
持体(4112)を設置し、不図示の排気装置(例えば
真空ポンプ)により反応容器(4111)内を排気す
る。続いて、支持体加熱用ヒーター(4113)により
円筒状支持体(4112)の温度を200℃乃至350
℃の所定の温度に制御する。
First, the cylindrical support (4112) is set in the reaction vessel (4111), and the inside of the reaction vessel (4111) is evacuated by an exhaust device (for example, a vacuum pump) not shown. Subsequently, the temperature of the cylindrical support (4112) is increased from 200 ° C. to 350 ° C. by the support heating heater (4113).
Control to a predetermined temperature of ° C.

【0140】堆積膜形成用の原料ガスを反応容器(41
11)に流入させるには、ガスボンベのバルブ(423
1〜4236)、反応容器のリークバルブ(4117)
が閉じられていることを確認し、又、流入バルブ(42
41〜4246)、流出バルブ(4251〜425
6)、補助バルブ(4260)が開かれていることを確
認して、まずメインバルブ(4118)を開いて反応容
器(4111)及びガス配管内(4116)を排気す
る。
A source gas for forming a deposited film is supplied to a reaction vessel (41).
11), the gas cylinder valve (423)
1-4236), a leak valve of the reaction vessel (4117)
Is closed, and the inflow valve (42
41 to 4246), outflow valves (4251 to 425)
6) After confirming that the auxiliary valve (4260) is open, first open the main valve (4118) and exhaust the reaction vessel (4111) and the inside of the gas pipe (4116).

【0141】次に、真空計(4119)の読みが約1×
10-2Paになった時点で補助バルブ(4260)、流
出バルブ(4251〜4256)を閉じる。
Next, the reading of the vacuum gauge (4119) is about 1 ×.
When the pressure becomes 10 -2 Pa, the auxiliary valve (4260) and the outflow valves (4251 to 4256) are closed.

【0142】その後、ガスボンベ(4221〜422
6)より各ガスをバルブ(4231〜4236)を開い
て導入し、圧力調整器(4261〜4266)により各
ガス圧を0.2MPaに調整する。次に、流入バルブ
(4241〜4246)を徐々に開けて、各ガスをマス
フローコントローラー(4211〜4216)内に導入
する。
Thereafter, gas cylinders (4221 to 422)
From 6), each gas is introduced by opening the valves (4231 to 4236), and each gas pressure is adjusted to 0.2 MPa by the pressure regulators (4261 to 4266). Next, the inflow valves (4241 to 4246) are gradually opened to introduce each gas into the mass flow controllers (4211 to 4216).

【0143】以上のようにして成膜の準備が完了した
後、以下の手順で各層の形成を行う。
After preparation for film formation is completed as described above, each layer is formed in the following procedure.

【0144】円筒状支持体(4112)が所定の温度に
なったところで流出バルブ(4251〜4256)のう
ちの必要なもの及び補助バルブ(4260)を徐々に開
き、ガスボンベ(4221〜4266)から所定のガス
をガス導入管(4114)を介して反応容器(411
1)内に導入する。次にマスフローコントローラー(4
211〜4216)によって各原料ガスが所定の流量に
なるように調整する。その際、反応容器(4111)内
の圧力が1.5×102Pa以下の所定の圧力になるよ
うに真空計(4119)を見ながらメインバルブ(41
18)の開口を調整する。内圧が安定したところで、周
波数13.56MHzのRF電源(不図示)を所望の電
力に設定して、高周波マッチングボックス(4115)
を通じて反応容器(4111)内にRF電力を導入し、
グロー放電を生起させる。この放電エネルギーによって
反応容器内に導入された原料ガスが分解され、円筒状支
持体(4112)上に所定のシリコンを主成分とする堆
積膜が形成されるところとなる。所望の膜厚の形成が行
われた後、RF電力の供給を止め、流出バルブを閉じて
反応容器へのガスの流入を止め、堆積膜の形成を終え
る。
When the temperature of the cylindrical support (4112) reaches a predetermined temperature, necessary ones of the outflow valves (4251 to 4256) and the auxiliary valve (4260) are gradually opened, and a predetermined amount is opened from the gas cylinders (4221 to 4266). Of the reaction vessel (411) through the gas introduction pipe (4114).
Introduce in 1). Next, the mass flow controller (4
211 to 4216), each raw material gas is adjusted so as to have a predetermined flow rate. At this time, the main valve (4111) is monitored while watching the vacuum gauge (4119) so that the pressure in the reaction vessel (4111) becomes a predetermined pressure of 1.5 × 10 2 Pa or less.
18) Adjust the opening. When the internal pressure is stabilized, an RF power supply (not shown) having a frequency of 13.56 MHz is set to a desired power, and a high-frequency matching box (4115)
RF power is introduced into the reaction vessel (4111) through
Generates glow discharge. The raw material gas introduced into the reaction vessel is decomposed by this discharge energy, and a deposited film containing silicon as a main component is formed on the cylindrical support (4112). After the formation of the desired film thickness, the supply of the RF power is stopped, the outflow valve is closed to stop the gas from flowing into the reaction vessel, and the formation of the deposited film is completed.

【0145】同様の操作を複数回繰り返すことによっ
て、所望の多層構造の光受容層が形成される。それぞれ
の層を形成する際には必要なガス以外の流出バルブはす
べて閉じられていることは言うまでもなく、また、それ
ぞれのガスが反応容器(4111)内、流出バルブ(4
251〜4256)から反応容器(4111)に至る配
管内に残留することを避けるために、流出バルブ(42
51〜4256)を閉じ、補助バルブ(4260)を開
き、さらにメインバルブ(4118)を全開にして系内
を一旦高真空に排気する操作を必要に応じて行う。
By repeating the same operation a plurality of times, a light receiving layer having a desired multilayer structure is formed. When forming each layer, it goes without saying that all the outflow valves other than the necessary gas are closed, and each gas flows into the reaction vessel (4111) and the outflow valve (4).
251 to 4256) to avoid remaining in the pipe from the reaction vessel (4111).
51 to 4256), the auxiliary valve (4260) is opened, the main valve (4118) is fully opened, and the system is once evacuated to a high vacuum as required.

【0146】また、膜形成の均一化を図るために、層形
成を行なっている間は、支持体(4112)を駆動装置
(不図示)によって所定の速度で回転させることも有効
である。
In order to make the film formation uniform, it is also effective to rotate the support (4112) at a predetermined speed by a driving device (not shown) during the layer formation.

【0147】さらに、上述のガス種及びバルブ操作は各
々の層の作製条件に従って変更が加えられることは言う
までもない。
Further, it goes without saying that the above-mentioned gas types and valve operations are changed in accordance with the production conditions of each layer.

【0148】上記の方法において堆積膜形成時の支持体
温度は、特に200℃以上350℃以下、好ましくは2
30℃以上330℃以下、より好ましくは250℃以上
310℃以下が望ましい。支持体の加熱方法は、真空仕
様である発熱体であればよく、より具体的にはシース状
ヒーターの巻き付けヒーター、板状ヒーター、セラミッ
クヒーター等の電気抵抗発熱体、ハロゲンランプ、赤外
線ランプ等の熱放射ランプ発熱体、液体、気体等を温媒
とし熱交換手段による発熱体等が挙げられる。加熱手段
の表面材質は、ステンレス、ニッケル、アルミニウム、
銅等の金属類、セラミックス、耐熱性高分子樹脂等を使
用することができる。
In the above-mentioned method, the temperature of the support at the time of forming the deposited film is particularly 200 ° C. or more and 350 ° C. or less, preferably 2 ° C. or less.
The temperature is preferably from 30 ° C to 330 ° C, more preferably from 250 ° C to 310 ° C. The heating method of the support may be a heating element having a vacuum specification, and more specifically, an electric resistance heating element such as a winding heater of a sheath heater, a plate heater, or a ceramic heater, a halogen lamp, an infrared lamp, or the like. A heat radiation lamp heating element, a heating element using a liquid, a gas, or the like as a heating medium and a heat exchange unit may be used. The surface material of the heating means is stainless steel, nickel, aluminum,
Metals such as copper, ceramics, heat-resistant polymer resins and the like can be used.

【0149】それ以外にも、反応容器以外に加熱専用の
容器を設け、加熱した後、反応容器内に真空中で支持体
を搬送する方法が用いられる。
In addition, a method is also used in which a container dedicated to heating is provided in addition to the reaction container, and after heating, the support is transferred into the reaction container in a vacuum.

【0150】図5には、電子写真装置の画像形成プロセ
スの一例を示した。即ち、光受容部材501が回転して
複写操作を行う。光受容部材501の周辺には、主帯電
器502、静電潜像形成部位503、現像器504、転
写紙供給系505、転写帯電器506(a)、分離帯電
器506(b)、クリーナー507、搬送系508、除
電光源509等が配設されている。
FIG. 5 shows an example of the image forming process of the electrophotographic apparatus. That is, the light receiving member 501 rotates to perform a copying operation. Around the light receiving member 501, a main charger 502, an electrostatic latent image forming portion 503, a developing device 504, a transfer paper supply system 505, a transfer charger 506 (a), a separation charger 506 (b), and a cleaner 507 are provided. , A transfer system 508, a static elimination light source 509, and the like.

【0151】光受容部材501は高電圧を印加した主帯
電器502により一様に帯電され、これにレーザーユニ
ット518から発せられ、ミラー519を経由した光
(像露光)によって静電潜像が形成され、この潜像に現
像器504からネガ或いはポジ極性トナーが供給されて
トナー像が形成される。レーザーユニット518の制御
には、CCDからの信号が用いられる。即ち、ランプ5
10から発した光が原稿台ガラス511上に置かれた原
稿512に反射し、ミラー513、514、515を経
由し、レンズユニット516のレンズによって結像さ
れ、CCDユニット517によって電気信号に変換され
た信号が導かれている。
The light receiving member 501 is uniformly charged by the main charger 502 to which a high voltage is applied, and is formed by the light (image exposure) emitted from the laser unit 518 through the mirror 519 to form an electrostatic latent image. Then, a negative or positive polarity toner is supplied to the latent image from the developing device 504 to form a toner image. The signal from the CCD is used for controlling the laser unit 518. That is, the lamp 5
Light emitted from 10 is reflected on a document 512 placed on a document table glass 511, passes through mirrors 513, 514, 515, forms an image by a lens of a lens unit 516, and is converted into an electric signal by a CCD unit 517. Signal is led.

【0152】一方、転写紙供給系505を通って、レジ
ストローラー522によって先端タイミングを調整さ
れ、光受容部材501方向に供給される転写材Pは高電
圧を印加した転写帯電器506(a)と光受容部材50
1の間隙に於て背面から、トナーとは逆極性の電界を与
えられ、これによって光受容部材表面のネガ或いはポジ
極性のトナー像は転写材Pに転写する。次いで、高圧A
C電圧を印加した分離帯電器506(b)により、転写
材Pは転写搬送系508を通って定着装置523に至
り、トナー像が定着されて装置外に搬出される。
On the other hand, the leading end timing is adjusted by the registration roller 522 through the transfer paper supply system 505, and the transfer material P supplied in the direction of the light receiving member 501 is transferred to the transfer charger 506 (a) to which a high voltage is applied. Light receiving member 50
An electric field having a polarity opposite to that of the toner is applied to the transfer material P from the back surface in the gap 1, whereby the negative or positive polarity toner image on the surface of the light receiving member is transferred to the transfer material P. Then, high pressure A
By the separation charger 506 (b) to which the C voltage is applied, the transfer material P reaches the fixing device 523 through the transfer / transport system 508, where the toner image is fixed, and is carried out of the device.

【0153】光受容部材501上に残留するトナーはク
リーニングユニット507のクリーニングブレード52
1によって回収され、残留する静電潜像は除電光源50
9によって消去される。
The toner remaining on the light receiving member 501 is removed by the cleaning blade 52 of the cleaning unit 507.
1 and the remaining electrostatic latent image is
9 erased.

【0154】以上の様な電子写真装置に関し、本発明に
おいては、電子写真用光受容部材と、除電手段と、帯電
手段と、像露光手段と、現像手段と、転写手段とを含ん
でなり画像形成を行う電子写真装置であって、除電手段
は、波長550nm以上700nm以下の光を用いてお
り、像露光手段は、波長500nm以上700nm以下
の光を用いる電子写真装置が提供される。この様な電子
写真装置は、複写機、プリンター等として好適である。
With respect to the electrophotographic apparatus as described above, the present invention relates to an image forming apparatus including an electrophotographic light receiving member, a charge removing means, a charging means, an image exposing means, a developing means, and a transferring means. In an electrophotographic apparatus for forming, an electrophotographic apparatus using light having a wavelength of not less than 550 nm and not more than 700 nm as an electricity removing means and using light having a wavelength of not less than 500 nm and not more than 700 nm as an image exposing means is provided. Such an electrophotographic apparatus is suitable as a copying machine, a printer, and the like.

【0155】[0155]

【実施例】以下、実施例により本発明の効果を具体的に
説明する。
EXAMPLES The effects of the present invention will be specifically described below with reference to examples.

【0156】<実験例1>図4に示すRF−PCVD法
による光受容部材の製造装置を用い、直径108mmの
鏡面加工を施したアルミニウムシリンダー(導電性支持
体)上に、表1に示す条件で電荷注入阻止層、光導電層
(第一の層領域、第二の層領域)及び表面層の順に成膜
を行って電子写真用光受容部材(実施例1)を作製し
た。
<Experimental Example 1> The conditions shown in Table 1 were applied to a mirror-finished aluminum cylinder (conductive support) having a diameter of 108 mm using the apparatus for manufacturing a light receiving member by the RF-PCVD method shown in FIG. In this manner, a charge injection blocking layer, a photoconductive layer (first layer region, second layer region) and a surface layer were formed in this order to produce a light receiving member for electrophotography (Example 1).

【0157】作製した電子写真用光受容部材(実施例
1)をSIMS(CAMECA社製IMS−4F)によ
り分析し、光導電層のシリコン原子に対する水素原子含
有量(Ch)、及びシリコン原子に対する第13族原子
の含有量(C13)を測定した。表1の光導電層のCh
は導電性支持体側が30原子%、表面側が17原子%で
図2(a)のように変化しており、C13は第一の層領
域では2原子ppm一定であり、第二の層領域では2p
pm→0.7原子ppmと図3(a)のように変化して
いた。
The light-receiving member for electrophotography (Example 1) was analyzed by SIMS (IMS-4F, manufactured by CAMECA), and the hydrogen content (Ch) relative to silicon atoms and the hydrogen content relative to silicon atoms in the photoconductive layer were measured. The content of group 13 atoms (C13) was measured. Ch of the photoconductive layer in Table 1
Is 30 atomic% on the conductive support side and 17 atomic% on the surface side, as shown in FIG. 2 (a). C13 is constant at 2 atomic ppm in the first layer region, and C13 is constant in the second layer region. 2p
pm → 0.7 atomic ppm, as shown in FIG.

【0158】作製した電子写真用光受容部材を電子写真
装置にセットして、以下のように電位特性の評価を行っ
た。
The prepared electrophotographic light-receiving member was set in an electrophotographic apparatus, and the potential characteristics were evaluated as follows.

【0159】実験機としては、キヤノン製NP−665
0をプロセススピード470mm/sec、前露光(波
長700nmのLED)7lux・sec、像露光(波
長680nmのLEDまたは半導体レーザー)と実験用
に改造した装置を使用した。
As an experimental machine, NP-665 manufactured by Canon was used.
0 was a process speed of 470 mm / sec, pre-exposure (700 nm wavelength LED) 7 lux · sec, and image exposure (680 nm wavelength LED or semiconductor laser) and an apparatus modified for experiments were used.

【0160】この実験機に電子写真用光受容部材を配置
し、帯電器の電流値1mAの条件にて、電子写真装置の
現像器位置にセットした表面電位計(TREK社 Mo
del 344)の電位センサーにより光受容部材の表
面電位を測定し、それを帯電能とした。また、像露光
1.5lux・secの時の表面電位を測定し、それを
残留電位とした。更に、暗電位が400Vとなるように
帯電条件を設定し、表面電位が50Vになるときの像露
光量値を感度とした。加えて、前述の条件下で非像露光
状態での表面電位と一旦像露光した後に再度帯電した時
との電位差を測定して、メモリー電位を評価した。
A photoreceptor for electrophotography was placed on this experimental machine, and a surface electrometer (Mounted by TREK, Mo.) was set at the developing device position of the electrophotographic apparatus under the conditions of a current value of the charger of 1 mA.
The surface potential of the light-receiving member was measured by a potential sensor (del 344), and the measured value was used as the charging ability. Further, the surface potential at the time of image exposure of 1.5 lux · sec was measured, and the measured value was regarded as a residual potential. Further, the charging conditions were set so that the dark potential was 400 V, and the image exposure value when the surface potential was 50 V was used as the sensitivity. In addition, the memory potential was evaluated by measuring the potential difference between the surface potential in the non-image exposure state under the above-described conditions and the time when the image was exposed and then charged again.

【0161】ドット再現性の評価としては、レーザーの
スポット径に対する光受容部材上のトナー像の大きさを
比較した。スポット径が50μmのレーザーを像露光と
し、光受容部材上に1ドットの静電潜像を作り、平均粒
径が8μmのトナーを用いて光受容部材上にトナー像を
作製した。そして光受容部材上のトナー像の最大径とレ
ーザースポット径の比をドット再現性とした。
The dot reproducibility was evaluated by comparing the size of the toner image on the light receiving member with respect to the laser spot diameter. A laser having a spot diameter of 50 μm was used for image exposure to form a 1-dot electrostatic latent image on the light receiving member, and a toner image was formed on the light receiving member using a toner having an average particle diameter of 8 μm. The ratio between the maximum diameter of the toner image on the light receiving member and the diameter of the laser spot was defined as dot reproducibility.

【0162】なお、ハーフトーン画像、文字原稿及び写
真原稿を用いて画像特性の評価も行った。
The image characteristics were also evaluated using a halftone image, a text original and a photo original.

【0163】評価結果は、表1において光導電層(層膜
厚30μm)が第一の層領域のみから成り、且つ、H2
流量を1100mL/min(normal)一定とし
た以外は、表1に示す条件により製造した電子写真用光
受容部材(電子写真用光受容部材A)、即ちCh及びC
13を一定にした電子写真用光受容部材を基準として、
以下のように相対的に表記した; ◎:電子写真用光受容部材Aよりも20%以上改善 ○:電子写真用光受容部材Aよりも10%〜20%改善 △:電子写真用光受容部材Aと同等 ×:電子写真用光受容部材Aよりも悪化。
The evaluation results are as follows. In Table 1, the photoconductive layer (layer thickness: 30 μm) is composed of only the first layer region, and H 2
An electrophotographic light-receiving member (electrophotographic light-receiving member A) manufactured under the conditions shown in Table 1 except that the flow rate was kept constant at 1100 mL / min (normal), ie, Ch and C
Based on the electrophotographic light-receiving member having a fixed value of 13,
:: 20% or more improvement over light receiving member A for electrophotography ○: 10% to 20% improvement over light receiving member A for electrophotography Δ: Light receiving member for electrophotography ×: worse than light receiving member A for electrophotography.

【0164】結果を表2に示した。表2から明らかなよ
うに、光導電層の水素原子は導電性支持体側から表面側
に向かって減少させ、且つ、第二の層領域において周期
律表第13族に属する原子が導電性支持体側から表面側
に向かって減少させることにより、帯電能、残留電位、
感度、メモリー電位およびドット再現性のいずれをも向
上できることが分かった。また、画像特性においてもハ
ーフトーン画像にムラは無く均一で良好な画像が得られ
ることが分かった。さらに文字原稿を複写したところ、
黒濃度が高く鮮明な画像が得られた。そして写真原稿の
複写においても原稿に忠実で鮮明な画像を得ることがで
きた。
Table 2 shows the results. As is clear from Table 2, the hydrogen atoms of the photoconductive layer are reduced from the conductive support side toward the surface side, and the atoms belonging to Group 13 of the periodic table in the second layer region are changed to the conductive support side. From the surface to the surface side, charging ability, residual potential,
It was found that sensitivity, memory potential and dot reproducibility could all be improved. Also, it was found that a uniform and good image was obtained without unevenness in the halftone image in image characteristics. When I copied the text manuscript further,
A clear image with a high black density was obtained. Also, in copying a photo original, a clear image faithful to the original could be obtained.

【0165】[0165]

【表1】 [Table 1]

【0166】[0166]

【表2】 [Table 2]

【0167】<実験例2>光導電層の導電性支持体側の
Chに対する表面側のChの比(Ch比)を0.35、
0.4、0.6、0.8、0.95及び0.97となる
ようにガス流量、放電電力、支持体温度等を変える以外
は実験例1と同様にして種々の電子写真用光受容部材
(実施例2−1〜実施例2−6)を作製した。
<Experimental Example 2> The ratio (Ch ratio) of Ch on the surface side to Ch on the conductive support side of the photoconductive layer was 0.35,
Various electrophotographic lights in the same manner as in Experimental Example 1 except that the gas flow rate, the discharge power, the temperature of the support, and the like were changed to 0.4, 0.6, 0.8, 0.95, and 0.97. A receiving member (Example 2-1 to Example 2-6) was produced.

【0168】作製した種々の電子写真用光受容部材につ
いて実験例1と同様にして帯電能、残留電位、感度、メ
モリー電位、及びドット再現性について評価を行い、結
果を表3に示した。表3から明らかなように、光導電層
の導電性支持体側のChに対する表面側のChの比が
0.4〜0.95の場合に帯電能、残留電位、感度、メ
モリー電位、及びドット再現性のいずれについても特に
良好であることが分かった。また、画像特性においても
ハーフトーン画像にムラは無く均一で良好な画像が得ら
れることが分かった。さらに文字原稿を複写したとこ
ろ、黒濃度が高く鮮明な画像が得られた。そして写真原
稿の複写においても原稿に忠実で鮮明な画像を得ること
ができた。
The prepared various electrophotographic light-receiving members were evaluated for charging ability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproducibility in the same manner as in Experimental Example 1. The results are shown in Table 3. As is apparent from Table 3, when the ratio of Ch on the surface side to Ch on the conductive support side of the photoconductive layer is 0.4 to 0.95, charging ability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproduction are obtained. All properties were found to be particularly good. Also, it was found that a uniform and good image was obtained without unevenness in the halftone image in image characteristics. Further, when the text original was copied, a clear image having a high black density was obtained. Also, in copying a photo original, a clear image faithful to the original could be obtained.

【0169】[0169]

【表3】 [Table 3]

【0170】<実験例3>光導電層の第二の層領域の導
電性支持体側のC13に対する表面側のC13の比(C
13比)を0.02、0.05、0.2、0.4、0.
6及び0.65となるようにガス流量、放電電力、支持
体温度等を変える以外は実験例1と同様にして種々の電
子写真用光受容部材(実施例3−1〜実施例3−6)を
作製した。
<Experimental Example 3> The ratio of C13 on the surface side to C13 on the conductive support side in the second layer region of the photoconductive layer (C
13 ratio) to 0.02, 0.05, 0.2, 0.4, 0.
Various light receiving members for electrophotography (Examples 3-1 to 3-6) in the same manner as in Experimental Example 1 except that the gas flow rate, the discharge power, the temperature of the support, and the like were changed so as to be 6 and 0.65. ) Was prepared.

【0171】作製した種々の電子写真用光受容部材につ
いて実験例1と同様にして帯電能、残留電位、感度、メ
モリー電位、及びドット再現性について評価を行い、結
果を表4に示した。表4から明らかなように光導電層の
第二の層領域において、導電性支持体側のC13に対す
る表面側のC13の比が0.05〜0.6の場合に帯電
能、残留電位、感度、メモリー電位、及びドット再現性
のいずれについても特に良好であることが分かった。ま
た、画像特性においてもハーフトーン画像にムラは無く
均一で良好な画像が得られることが分かった。さらに文
字原稿を複写したところ、黒濃度が高く鮮明な画像が得
られた。そして写真原稿の複写においても原稿に忠実で
鮮明な画像を得ることができた。
With respect to the various electrophotographic light-receiving members thus produced, charging ability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproducibility were evaluated in the same manner as in Experimental Example 1, and the results are shown in Table 4. As is clear from Table 4, in the second layer region of the photoconductive layer, when the ratio of C13 on the surface side to C13 on the conductive support side is 0.05 to 0.6, the chargeability, residual potential, sensitivity, It was found that both the memory potential and the dot reproducibility were particularly good. Also, it was found that a uniform and good image was obtained without unevenness in the halftone image in image characteristics. Further, when the text original was copied, a clear image having a high black density was obtained. Also, in copying a photo original, a clear image faithful to the original could be obtained.

【0172】[0172]

【表4】 [Table 4]

【0173】<実験例4>光導電層のC13が第二の層
領域では2ppm→1ppm(0.167ppm/μm
減少)とし、第一の層領域では6ppm→2ppm
(0.167ppm/μm減少)、5ppm→2ppm
(0.125ppm/μm減少)、3ppm→2ppm
(0.0417ppm/μm減少)、2ppm一定(変
化なし)となるようにガス流量、放電電力、支持体温度
等を変える以外は実験例1と同様にして種々の電子写真
用光受容部材(実施例4−1〜実施例4−4)を作製し
た。また、この時のC13は図3(a)または図3
(b)と変化するように調整した。
<Experimental example 4> In the second layer region, C13 of the photoconductive layer was changed from 2 ppm to 1 ppm (0.167 ppm / μm
6) → 2 ppm in the first layer region
(Reduced by 0.167ppm / μm) 5ppm → 2ppm
(Reduced by 0.125 ppm / μm) 3 ppm → 2 ppm
(Reduced by 0.0417 ppm / μm) Various light receiving members for electrophotography were prepared in the same manner as in Experimental Example 1 except that the gas flow rate, the discharge power, the temperature of the support, etc. were changed so as to be constant at 2 ppm (no change). Example 4-1 to Example 4-4) were produced. Also, C13 at this time is as shown in FIG.
Adjustment was made to change to (b).

【0174】作製した種々の電子写真用光受容部材につ
いて実験例1と同様にして帯電能、残留電位、感度、メ
モリー電位、及びドット再現性について評価を行い、結
果を表5に示した。表5から明らかなように第一の層領
域において、C13は導電性支持体側から表面側に向か
ってほぼ一定、又はC13が支持体側から表面側に向か
って単位膜厚あたりに減少する割合が第二の層領域にお
いて減少する割合よりも小さい場合に帯電能、残留電
位、感度、メモリー電位、及びドット再現性のいずれに
ついても特に良好であることが分かった。また、画像特
性においてもハーフトーン画像にムラは無く均一で良好
な画像が得られることが分かった。さらに文字原稿を複
写したところ、黒濃度が高く鮮明な画像が得られた。そ
して写真原稿の複写においても原稿に忠実で鮮明な画像
を得ることができた。
The prepared various electrophotographic light-receiving members were evaluated for charging ability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproducibility in the same manner as in Experimental Example 1. The results are shown in Table 5. As is clear from Table 5, in the first layer region, C13 is almost constant from the conductive support side to the surface side, or the rate at which C13 decreases per unit film thickness from the support side to the surface side is the second. It was found that when the rate of decrease in the second layer area was smaller than that, the chargeability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproducibility were all particularly good. Also, it was found that a uniform and good image was obtained without unevenness in the halftone image in image characteristics. Further, when the text original was copied, a clear image having a high black density was obtained. Also, in copying a photo original, a clear image faithful to the original could be obtained.

【0175】[0175]

【表5】 [Table 5]

【0176】<実験例5>光導電層の総膜厚は30μm
一定のまま第二の層領域の膜厚を0.3μm、0.5μ
m、2μm、7μm、10μm、15μm及び17μm
と変える以外は実験例1と同様にして種々の電子写真用
光受容部材(実施例5−1〜実施例5−7)を作製し
た。
<Experiment 5> The total thickness of the photoconductive layer was 30 μm.
With the film thickness of the second layer region kept constant, 0.3 μm, 0.5 μm
m, 2 μm, 7 μm, 10 μm, 15 μm and 17 μm
Various light receiving members for electrophotography (Examples 5-1 to 5-7) were produced in the same manner as in Experimental Example 1 except that the above conditions were changed.

【0177】作製した種々の電子写真用光受容部材につ
いて実験例1と同様にして帯電能、残留電位、感度、メ
モリー電位、及びドット再現性について評価を行い、結
果を表6に示した。表6から明らかなように光導電層の
第二の層領域の膜厚は、0.5μm〜15μmの場合に
帯電能、残留電位、感度、メモリー電位、及びドット再
現性のいずれについても特に良好であることが分かっ
た。また、画像特性においてもハーフトーン画像にムラ
は無く均一で良好な画像が得られることが分かった。さ
らに文字原稿を複写したところ、黒濃度が高く鮮明な画
像が得られた。そして写真原稿の複写においても原稿に
忠実で鮮明な画像を得ることができた。
The prepared various electrophotographic light receiving members were evaluated for charging ability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproducibility in the same manner as in Experimental Example 1. The results are shown in Table 6. As is clear from Table 6, when the film thickness of the second layer region of the photoconductive layer is 0.5 μm to 15 μm, all of the charging ability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproducibility are particularly good. It turned out to be. Also, it was found that a uniform and good image was obtained without unevenness in the halftone image in image characteristics. Further, when the text original was copied, a clear image having a high black density was obtained. Also, in copying a photo original, a clear image faithful to the original could be obtained.

【0178】[0178]

【表6】 [Table 6]

【0179】<実験例6>実験例1の表1に示す条件で
電荷注入阻止層、光導電層(第一の層領域、第二の層領
域)及び表面層の成膜を行って電子写真用光受容部材を
作製した。そして、電子写真装置(実施例6−1〜実施
例6−4)として、前露光(PE)と像露光(IE)の
組み合わせをPE/IE=550nm/500nm、P
E/IE=600nm/550nm、PE/IE=66
0nm/600nm、PE/IE=700nm/700
nmと変化させ、実験例1と同様にして帯電能、残留電
位、感度、メモリー電位、及びドット再現性について評
価を行った。
<Experimental Example 6> Electrophotography was performed by forming a charge injection blocking layer, a photoconductive layer (first layer region, second layer region) and a surface layer under the conditions shown in Table 1 of Experimental Example 1. A light receiving member was prepared. Then, as an electrophotographic apparatus (Example 6-1 to Example 6-4), a combination of pre-exposure (PE) and image exposure (IE) is performed using PE / IE = 550 nm / 500 nm, P
E / IE = 600 nm / 550 nm, PE / IE = 66
0 nm / 600 nm, PE / IE = 700 nm / 700
In the same manner as in Experimental Example 1, the charging ability, the residual potential, the sensitivity, the memory potential, and the dot reproducibility were evaluated.

【0180】その結果、PEとしては550nm〜70
0nmの波長を用い、IEとしては500nm〜700
nmの波長を用いたいずれのPEとIEの組み合わせに
おいても帯電能、残留電位、感度、メモリー電位、及び
ドット再現性いずれについても実験例1と同様に良好で
あることが分かった。また、画像特性においてもハーフ
トーン画像にムラは無く均一で良好な画像が得られるこ
とが分かった。さらに文字原稿を複写したところ、黒濃
度が高く鮮明な画像が得られた。そして写真原稿の複写
においても原稿に忠実で鮮明な画像を得ることができ
た。
As a result, PE was 550 nm to 70 nm.
A wavelength of 0 nm is used, and the IE is 500 nm to 700 nm.
It was found that the charging ability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproducibility were all as good as in Experimental Example 1 in any combination of PE and IE using a wavelength of nm. Also, it was found that a uniform and good image was obtained without unevenness in the halftone image in image characteristics. Further, when the text original was copied, a clear image having a high black density was obtained. Also, in copying a photo original, a clear image faithful to the original could be obtained.

【0181】<実施例7>図4に示す製造装置を用い表
7に示した条件で表面層のシリコン原子及び炭素原子の
含有量を層厚方向に不均一な分布状態とした表面層を有
する光受容部材を電荷注入阻止層、光導電層(第一の層
領域、第二の層領域)及び表面層の順に作製した。表7
の光導電層のChは導電性支持体側が33原子%、表面
側が15原子%であり、C13は第一の層領域では1.
5ppm一定で、第二の層領域では1.5ppm→0.
7ppmであった。そして、Ch及びC13はそれぞれ
図2(b)及び図3(b)と変化するように調整した。
<Embodiment 7> Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 4 and having the surface layer in which the content of silicon atoms and carbon atoms in the surface layer is non-uniformly distributed in the thickness direction under the conditions shown in Table 7. A light receiving member was formed in the order of a charge injection blocking layer, a photoconductive layer (first layer region, second layer region), and a surface layer. Table 7
Of the photoconductive layer is 33 atomic% on the conductive support side and 15 atomic% on the surface side, and C13 is 1.% in the first layer region.
5 ppm constant, 1.5 ppm in the second layer region → 0.
It was 7 ppm. Then, Ch and C13 were adjusted so as to be different from FIGS. 2B and 3B, respectively.

【0182】作製した電子写真用光受容部材を前露光6
60nm、像露光680nmで実験例1と同様にして評
価を行ったところ実験例1の場合と同様に帯電能、残留
電位、感度、メモリー電位、及びドット再現性いずれに
ついても良好であることが分かった。また、画像特性に
おいてもハーフトーン画像にムラは無く均一で良好な画
像が得られることが分かった。さらに文字原稿を複写し
たところ、黒濃度が高く鮮明な画像が得られた。そして
写真原稿の複写においても原稿に忠実で鮮明な画像を得
ることができた。即ち、本発明において表面層のシリコ
ン原子及び炭素原子の含有量を層厚方向に不均一な分布
状態とした表面層を設けた場合においても、良好な電子
写真特性が得られることがわかった。
Pre-exposure 6
Evaluation was performed in the same manner as in Experimental Example 1 at 60 nm and image exposure at 680 nm. As in Experimental Example 1, it was found that the charging ability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproducibility were all good. Was. Also, it was found that a uniform and good image was obtained without unevenness in the halftone image in image characteristics. Further, when the text original was copied, a clear image having a high black density was obtained. Also, in copying a photo original, a clear image faithful to the original could be obtained. That is, it was found that good electrophotographic characteristics were obtained even when the surface layer in which the content of silicon atoms and carbon atoms in the surface layer was unevenly distributed in the layer thickness direction was provided in the present invention.

【0183】[0183]

【表7】 [Table 7]

【0184】<実施例8>図4に示す製造装置を用い表
8に示した条件で表面層のシリコン原子及び炭素原子の
含有量を層厚方向に不均一な分布状態とした表面層を設
けるとともに、全ての層にフッ素原子、ホウ素原子、炭
素原子、酸素原子、窒素原子を含有する光受容部材を電
荷注入阻止層、光導電層(第一の層領域、第二の層領
域)及び表面層の順に作製した。表8の光導電層のCh
は導電性支持体側が35原子%、表面側が17原子%で
あり、C13は第一の層領域では4ppm→3ppm
で、第二の層領域では3ppm→1ppmであった。そ
して、Chは図2(c)或いは(c)と変化させ、それ
ぞれに対してC13は図3(c)或いは(e)と変化さ
せて4通りの電子写真用光受容部材を作製した。
<Embodiment 8> Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 4, under the conditions shown in Table 8, a surface layer is provided in which the content of silicon atoms and carbon atoms in the surface layer is unevenly distributed in the thickness direction. In addition, a light receiving member containing a fluorine atom, a boron atom, a carbon atom, an oxygen atom, and a nitrogen atom in all layers is provided with a charge injection preventing layer, a photoconductive layer (a first layer region, a second layer region) and a surface. The layers were formed in the order of layers. Ch of the photoconductive layer in Table 8
Is 35 atomic% on the conductive support side and 17 atomic% on the surface side, and C13 is 4 ppm → 3 ppm in the first layer region.
Thus, in the second layer region, 3 ppm → 1 ppm. Then, Ch was changed to FIG. 2 (c) or (c), and C13 was changed to FIG. 3 (c) or (e), respectively, to produce four types of electrophotographic light-receiving members.

【0185】作製した電子写真用光受容部材を前露光6
60nm、像露光660nmで実験例1と同様にして評
価を行ったところ実験例1の場合と同様に帯電能、残留
電位、感度、メモリー電位、及びドット再現性いずれに
ついても良好であることが分かった。また、画像特性に
おいてもハーフトーン画像にムラは無く均一で良好な画
像が得られることが分かった。さらに文字原稿を複写し
たところ、黒濃度が高く鮮明な画像が得られた。そして
写真原稿の複写においても原稿に忠実で鮮明な画像を得
ることができた。即ち、表面層のシリコン原子及び炭素
原子の含有量を層厚方向に不均一な分布状態とした表面
層を設けるとともに、全ての層にフッ素原子、ホウ素原
子、炭素原子、酸素原子、窒素原子を含有させた場合に
おいても、良好な電子写真特性が得られることがわかっ
た。
Pre-exposure 6
Evaluation was performed at 60 nm and image exposure at 660 nm in the same manner as in Experimental Example 1. As in Experimental Example 1, it was found that the charging ability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproducibility were all good. Was. Also, it was found that a uniform and good image was obtained without unevenness in the halftone image in image characteristics. Further, when the text original was copied, a clear image having a high black density was obtained. Also, in copying a photo original, a clear image faithful to the original could be obtained. That is, while providing a surface layer in which the content of silicon atoms and carbon atoms in the surface layer is non-uniformly distributed in the thickness direction, fluorine, boron, carbon, oxygen, and nitrogen atoms are present in all the layers. It has been found that good electrophotographic properties can be obtained even in the case of containing.

【0186】[0186]

【表8】 [Table 8]

【0187】<実施例9>図4に示す製造装置を用い、
表9に示した条件で表面層を構成する分子として、炭素
原子の代わりに窒素原子を含有させた光受容部材を電荷
注入阻止層、光導電層(第一の層領域、第二の層領域)
及び表面層の順に作製した。表9の光導電層のChは導
電性支持体側が20原子%、表面側が10原子%であ
り、C13は第一の層領域では3ppm→2ppmで、
第二の層領域では2ppm→0.8ppmであった。そ
して、Chは図2(d)或いは(f)と変化させて4通
りの電子写真用光受容部材を作製した。
<Embodiment 9> Using the manufacturing apparatus shown in FIG.
Under the conditions shown in Table 9, the photoreceptor member containing nitrogen atoms instead of carbon atoms as the molecules constituting the surface layer was used as a charge injection blocking layer, a photoconductive layer (first layer region, second layer region). )
And a surface layer. Ch of the photoconductive layer in Table 9 is 20 atom% on the conductive support side and 10 atom% on the surface side, and C13 is 3 ppm → 2 ppm in the first layer region.
In the second layer region, it was 2 ppm → 0.8 ppm. Then, Ch was changed to FIG. 2D or 2F to produce four types of electrophotographic light-receiving members.

【0188】作製した電子写真用光受容部材を前露光5
50nm、像露光600nmで実験例1と同様にして評
価を行ったところ実験例1の場合と同様に帯電能、残留
電位、感度、メモリー電位、及びドット再現性いずれに
ついても良好であることが分かった。また、画像特性に
おいてもハーフトーン画像にムラは無く均一で良好な画
像が得られることが分かった。さらに文字原稿を複写し
たところ、黒濃度が高く鮮明な画像が得られた。そして
写真原稿の複写においても原稿に忠実で鮮明な画像を得
ることができた。即ち、表面層のを構成する原子とし
て、炭素原子の代わりに窒素原子を含有させた表面層を
設けた場合においても、良好な電子写真特性が得られる
ことがわかった。
The light receiving member for electrophotography was pre-exposed 5
Evaluation was performed in the same manner as in Experimental Example 1 at 50 nm and image exposure at 600 nm. As in Experimental Example 1, it was found that the charging ability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproducibility were all good. Was. Also, it was found that a uniform and good image was obtained without unevenness in the halftone image in image characteristics. Further, when the text original was copied, a clear image having a high black density was obtained. Also, in copying a photo original, a clear image faithful to the original could be obtained. That is, it has been found that good electrophotographic characteristics can be obtained even when a surface layer containing nitrogen atoms instead of carbon atoms as atoms constituting the surface layer is provided.

【0189】[0189]

【表9】 [Table 9]

【0190】<実施例10>図4に示す製造装置を用
い、表10に示した条件で表面層を構成する原子とし
て、窒素原子及び炭素原子を含有させた光受容部材を電
荷注入阻止層、光導電層(第一の層領域、第二の層領
域)及び表面層の順に作製した。表10の光導電層のC
hは導電性支持体側が33原子%、表面側が14原子%
であり、C13は第一の層領域では5ppm→3ppm
で、第二の層領域では3ppm→0.5ppmであっ
た。そして、Ch及びC13はそれぞれ図2(g)及び
図3(g)と変化するように調整した。
Example 10 Using a manufacturing apparatus shown in FIG. 4, a light receiving member containing nitrogen atoms and carbon atoms as atoms constituting a surface layer under the conditions shown in Table 10 was used to form a charge injection preventing layer. A photoconductive layer (first layer region, second layer region) and a surface layer were formed in this order. C of the photoconductive layer in Table 10
h is 33 atomic% on the conductive support side and 14 atomic% on the surface side
And C13 is 5 ppm → 3 ppm in the first layer region.
Thus, in the second layer region, it was 3 ppm → 0.5 ppm. Then, Ch and C13 were adjusted so as to change from FIGS. 2 (g) and 3 (g), respectively.

【0191】作製した電子写真用光受容部材を前露光7
00nm、像露光660nmで実験例1と同様にして評
価を行ったところ実験例1の場合と同様に帯電能、残留
電位、感度、メモリー電位、及びドット再現性いずれに
ついても良好であることが分かった。また、画像特性に
おいてもハーフトーン画像にムラは無く均一で良好な画
像が得られることが分かった。さらに文字原稿を複写し
たところ、黒濃度が高く鮮明な画像が得られた。そして
写真原稿の複写においても原稿に忠実で鮮明な画像を得
ることができた。即ち、表面層を構成する原子として、
窒素原子及び酸素原子を含有させた表面層を設けた場合
においても、良好な電子写真特性が得られることがわか
った。
The light receiving member for electrophotography was pre-exposed 7
Evaluation was performed at 00 nm and image exposure of 660 nm in the same manner as in Experimental Example 1. As in Experimental Example 1, it was found that the charging ability, residual potential, sensitivity, memory potential, and dot reproducibility were all good. Was. Also, it was found that a uniform and good image was obtained without unevenness in the halftone image in image characteristics. Further, when the text original was copied, a clear image having a high black density was obtained. Also, in copying a photo original, a clear image faithful to the original could be obtained. That is, as atoms constituting the surface layer,
It was found that good electrophotographic characteristics were obtained even when a surface layer containing nitrogen atoms and oxygen atoms was provided.

【0192】[0192]

【表10】 [Table 10]

【0193】[0193]

【発明の効果】本発明によれば、高速なプロセススピー
ドにおいて露光光源の波長が短波長から長波長にわたっ
て十分な帯電能を確保するとともに感度を向上し、光メ
モリーの低減及びドット再現性を高次元で成立させ、さ
らに光受容部材の使用環境に対する安定性が向上し、ハ
ーフトーンが鮮明に出てかつ解像力の高い高品質の画像
を安定して得ることができる電子写真用光受容部材が得
られる。
According to the present invention, at a high process speed, the wavelength of the exposure light source can secure sufficient chargeability from short to long wavelengths, improve sensitivity, reduce optical memory, and improve dot reproducibility. The photoreceptor member for electrophotography, which is realized in two dimensions, improves the stability of the photoreceptor member in the use environment, and can stably obtain high-quality images with clear halftones and high resolution. Can be

【0194】従って、本発明の電子写真用光受容部材を
前述のごとき特定の構成としたことにより、a−Siで
構成された従来の電子写真用光受容部材における諸問題
を全て解決することができ、優れた電気的特性、光学的
特性、光導電特性、画像特性、耐久性及び使用環境特性
を実現できる。
Therefore, by adopting the specific configuration as described above for the electrophotographic light receiving member of the present invention, it is possible to solve all the problems of the conventional electrophotographic light receiving member made of a-Si. As a result, excellent electrical characteristics, optical characteristics, photoconductive characteristics, image characteristics, durability and use environment characteristics can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の電子写真用光受容部材の例を説明する
ための模式的断面図である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of an electrophotographic light-receiving member of the present invention.

【図2】本発明における光導電層中の水素原子の含有量
の分布例を説明する模式図である。
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a distribution example of the content of hydrogen atoms in a photoconductive layer according to the present invention.

【図3】本発明における光導電層中の第13族原子の含
有量の分布例を説明する模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a distribution example of the content of Group 13 atoms in a photoconductive layer according to the present invention.

【図4】本発明の電子写真用光受容部材の製造装置の一
例を示す模式的説明図である。
FIG. 4 is a schematic explanatory view showing an example of an apparatus for manufacturing a light receiving member for electrophotography according to the present invention.

【図5】本発明の電子写真装置を説明するための模式的
断面図である。
FIG. 5 is a schematic sectional view for explaining the electrophotographic apparatus of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 電子写真用光受容部材 101 支持体 102 光受容層 103 光導電層 104 表面層 105 電荷注入阻止層 106 自由表面 111 第一の層領域 112 第二の層領域 501 光受容部材 502 主帯電器 503 静電潜像形成部位 504 現像器 505 転写紙供給系 506(a) 転写帯電器 506(b) 分離帯電器 507 クリーニングローラー 508 搬送系 509 除電光源 510 ハロゲンランプ 511 原稿台 512 原稿 513 ミラー 514 ミラー 515 ミラー 516 レンズユニット 517 CCDユニット 518 レーザーユニット 519 ミラー 520 ブランク露光LED 521 クリーニングブレード 522 レジストローラー 523 定着器 4100 堆積装置 4111 反応容器 4112 円筒状支持体 4113 支持体加熱用ヒーター 4114 原料ガス導入管 4115 マッチングボックス 4116 原料ガス配管 4117 反応容器リークバルブ 4118 メイン排気バルブ 4119 真空計 4200 原料ガス供給装置 4211 マスフローコントローラー 4212 マスフローコントローラー 4213 マスフローコントローラー 4214 マスフローコントローラー 4215 マスフローコントローラー 4216 マスフローコントローラー 4221 原料ガスボンベ 4222 原料ガスボンベ 4223 原料ガスボンベ 4224 原料ガスボンベ 4225 原料ガスボンベ 4226 原料ガスボンベ 4231 原料ガスボンベバルブ 4232 原料ガスボンベバルブ 4233 原料ガスボンベバルブ 4234 原料ガスボンベバルブ 4235 原料ガスボンベバルブ 4236 原料ガスボンベバルブ 4241 ガス流入バルブ 4242 ガス流入バルブ 4243 ガス流入バルブ 4244 ガス流入バルブ 4245 ガス流入バルブ 4246 ガス流入バルブ 4251 ガス流出バルブ 4252 ガス流出バルブ 4253 ガス流出バルブ 4254 ガス流出バルブ 4255 ガス流出バルブ 4256 ガス流出バルブ 4260 補助バルブ 4261 圧力調整器 4262 圧力調整器 4263 圧力調整器 4264 圧力調整器 4265 圧力調整器 4266 圧力調整器 REFERENCE SIGNS LIST 100 light receiving member for electrophotography 101 support 102 light receiving layer 103 photoconductive layer 104 surface layer 105 charge injection blocking layer 106 free surface 111 first layer region 112 second layer region 501 light receiving member 502 main charger 503 Electrostatic latent image forming portion 504 Developing device 505 Transfer paper supply system 506 (a) Transfer charger 506 (b) Separation charger 507 Cleaning roller 508 Transport system 509 Static elimination light source 510 Halogen lamp 511 Document table 512 Document 513 Mirror 514 Mirror 515 Mirror 516 Lens unit 517 CCD unit 518 Laser unit 519 Mirror 520 Blank exposure LED 521 Cleaning blade 522 Registration roller 523 Fixing device 4100 Deposition device 4111 Reaction container 4112 Cylindrical support 41 3 Heater for Support Heater 4114 Source Gas Inlet Pipe 4115 Matching Box 4116 Source Gas Pipe 4117 Reaction Vessel Leak Valve 4118 Main Exhaust Valve 4119 Vacuum Gauge 4200 Source Gas Supply Device 4211 Mass Flow Controller 4212 Mass Flow Controller 4213 Mass Flow Controller 4214 Mass Flow Controller 4215 Mass Flow Controller 4216 Mass flow controller 4221 Source gas cylinder 4221 Source gas cylinder 4223 Source gas cylinder 4224 Source gas cylinder 4225 Source gas cylinder 4226 Source gas cylinder 4231 Source gas cylinder valve 4232 Source gas cylinder valve 4233 Source gas cylinder valve 4234 Source gas cylinder valve 4235 Source gas cylinder Gas valve 4236 Raw material gas cylinder valve 4241 Gas inflow valve 4242 Gas inflow valve 4243 Gas inflow valve 4244 Gas inflow valve 4245 Gas inflow valve 4246 Gas inflow valve 4251 Gas outflow valve 4252 Gas outflow valve 4253 Gas outflow valve 4254 Gas outflow valve 4255 Gas outflow valve 4256 Gas outflow valve 4260 Auxiliary valve 4261 Pressure regulator 4262 Pressure regulator 4263 Pressure regulator 4264 Pressure regulator 4265 Pressure regulator 4266 Pressure regulator

フロントページの続き (72)発明者 青木 誠 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 新納 博明 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 Fターム(参考) 2H035 AA10 AB03 2H068 DA28 DA35 DA41 FA01 FA18 2H076 DA09 DA37 4K030 AA06 AA10 AA17 AA20 BA24 BA30 BA55 BB12 CA02 CA16 FA03 JA06 LA04 LA17 Continuing on the front page (72) Inventor Makoto Aoki 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Canon Inc. (72) Inventor Hiroaki Shinno 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Canon Inc. F term (reference) 2H035 AA10 AB03 2H068 DA28 DA35 DA41 FA01 FA18 2H076 DA09 DA37 4K030 AA06 AA10 AA17 AA20 BA24 BA30 BA55 BB12 CA02 CA16 FA03 JA06 LA04 LA17

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 支持体と、該支持体側から表面側に向か
って少なくとも第一および第二の層領域からなり、第1
3族原子を含有する水素化アモルファスシリコン(a−
Si:H)系の光導電層とを含んでなる電子写真用光受
容部材であって、水素原子の含有量は支持体側から表面
側に向かって減少し、第二の層領域において、第13族
原子の含有量は支持体側から表面側に向かって減少する
ことを特徴とする電子写真用光受容部材。
1. A support comprising: a support; and at least a first and a second layer region from the support side to the surface side.
Hydrogenated amorphous silicon containing group 3 atoms (a-
A photoreceptor member for electrophotography, comprising: a Si: H) -based photoconductive layer, wherein the content of hydrogen atoms decreases from the support side toward the surface side; A light receiving member for electrophotography, wherein the content of group atoms decreases from the support side toward the surface side.
【請求項2】 光導電層において、水素原子の支持体側
の含有量に対する表面側の含有量の比は0.4以上0.
95以下であり、第二の層領域において、第13族原子
の支持体側の含有量に対する表面側の含有量の比は0.
05以上0.6以下であることを特徴とする請求項1記
載の電子写真用光受容部材。
2. In the photoconductive layer, the ratio of the content of hydrogen atoms on the surface side to the content of hydrogen atoms on the support side is 0.4 or more.
95 or less, and in the second layer region, the ratio of the content of group 13 atoms on the surface side to the content on the support side is 0.1%.
2. The electrophotographic light-receiving member according to claim 1, wherein the light-receiving member is from 0.05 to 0.6.
【請求項3】 第一の層領域において、第13族原子の
含有量は支持体側から表面側に向かって一定であること
を特徴とする請求項1又は2記載の電子写真用光受容部
材。
3. The light receiving member for electrophotography according to claim 1, wherein the content of Group 13 atoms in the first layer region is constant from the support side toward the surface side.
【請求項4】 第一の層領域において、第13族原子の
含有量の支持体側から表面側に向かう単位膜厚当たりの
減少率は、第二の層領域における減少率よりも小さいこ
とを特徴とする請求項1又は2記載の電子写真用光受容
部材。
4. The rate of decrease in the content of Group 13 atoms per unit film thickness from the support side to the surface side in the first layer region is smaller than that in the second layer region. The light receiving member for electrophotography according to claim 1 or 2, wherein
【請求項5】 第二の層領域の膜厚は、0.5μm以上
15μm以下であることを特徴とする請求項1乃至4い
ずれかに記載の電子写真用光受容部材。
5. The electrophotographic light-receiving member according to claim 1, wherein the thickness of the second layer region is 0.5 μm or more and 15 μm or less.
【請求項6】 請求項1乃至5いずれかに記載の電子写
真用光受容部材と、除電手段と、帯電手段と、像露光手
段と、現像手段と、転写手段とを含んでなり画像形成を
行う電子写真装置であって、該除電手段は、波長550
nm以上700nm以下の光を用いており、該像露光手
段は、波長500nm以上700nm以下の光を用いる
ことを特徴とする電子写真装置。
6. An image forming apparatus comprising the light receiving member for electrophotography according to claim 1, a charge removing means, a charging means, an image exposing means, a developing means, and a transferring means. An electrophotographic apparatus, wherein the charge removing means has a wavelength of 550.
An electrophotographic apparatus, wherein light having a wavelength of 500 nm or more and 700 nm or less is used as the image exposure means.
JP2000309434A 2000-10-10 2000-10-10 Electrophotographic photoreceptive member and electrophotographic device Pending JP2002116569A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000309434A JP2002116569A (en) 2000-10-10 2000-10-10 Electrophotographic photoreceptive member and electrophotographic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000309434A JP2002116569A (en) 2000-10-10 2000-10-10 Electrophotographic photoreceptive member and electrophotographic device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002116569A true JP2002116569A (en) 2002-04-19

Family

ID=18789591

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000309434A Pending JP2002116569A (en) 2000-10-10 2000-10-10 Electrophotographic photoreceptive member and electrophotographic device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002116569A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011525861A (en) * 2008-06-05 2011-09-29 クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド Low temperature amorphous silicon sacrificial layer for controlled deposition in MEMS devices

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011525861A (en) * 2008-06-05 2011-09-29 クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド Low temperature amorphous silicon sacrificial layer for controlled deposition in MEMS devices

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002123020A (en) Electrophotographic photoreceptor for negative electrification
JPH09311495A (en) Light-accepting member
JP2002091040A (en) Electrophotographic photoreceptor and electrophotographic device
JP3559655B2 (en) Light receiving member for electrophotography
JPH1090929A (en) Electrophotographic light receiving member
JP3862334B2 (en) Light receiving member for electrophotography
JP4235593B2 (en) Light receiving member for electrophotography
JP2002116569A (en) Electrophotographic photoreceptive member and electrophotographic device
JP3437299B2 (en) Image forming method
JP3535664B2 (en) Electrophotographic equipment
JP2000171995A (en) Electrophotographic photoreceptive member
JPH1165146A (en) Light receiving member for electrophotography
JPH1073982A (en) Electrifying device and electrophotographic device using it
JP2001324828A (en) Electrophotographic photoreceptor and method and device for manufacturing the same
JPH0815882A (en) Electrophotographic light receiving member
JPH1165147A (en) Electrophotographic light-receiving member
JP2002139858A (en) Light receiving member for electrophotography and electrophotographic device
JP2001337472A (en) Electrophotographic photoreceptor, process cartridge and electrophotographic device
JPH09297421A (en) Electrophotographic photoreceptive member
JP2001350283A (en) Electrophotographic photoreceptor, method for manufacturing the same and electrophotographic device
JP2001209198A (en) Electrophotographic photoreceptive member, image forming device and image forming method
JP2002311614A (en) Electrophotographic photoreceptive member
JP2001343775A (en) Electrophotographic photoreceptive member and electrophotographic device
JP2000187344A (en) Electrophotographic method and electrophotographic device
JP2002123021A (en) Electrophotographic photoreception member and method for manufacturing the same