JP2002093347A - Cathode-ray tube and signal detection method in cathode- ray tube - Google Patents

Cathode-ray tube and signal detection method in cathode- ray tube

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JP2002093347A
JP2002093347A JP2000278759A JP2000278759A JP2002093347A JP 2002093347 A JP2002093347 A JP 2002093347A JP 2000278759 A JP2000278759 A JP 2000278759A JP 2000278759 A JP2000278759 A JP 2000278759A JP 2002093347 A JP2002093347 A JP 2002093347A
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JP
Japan
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signal
index
capacitor
envelope
ray tube
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JP2000278759A
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Japanese (ja)
Inventor
Shoichi Muraguchi
昭一 村口
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the phase difference of the electric detection signal and reference signal that are outputted corresponding to the irradiation of the elec tron beam without adopting a complicated circuit structure, and to enable extracting the necessary signal content from the detection signal with good precision. SOLUTION: The capacitor C20 for reference signal output is put adjacent to the capacitor for index signal output and made substantially the same structure. By outputting the reference signal Sref and the index detection signal Sind by practically the same method from the adjacent positions, the amplitude of each vibration can be made nearly the same size and also the phase difference between each signals can be made small. Hence the removal of the unnecessary signal content contained in the index detection signal Sind becomes easy and only the necessary index information signal can be extracted from the index detection signal Sind with good precision.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、各種の画像表示に
利用される陰極線管および陰極線管における画像表示の
補正などに用いられる信号を検出するための信号検出方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cathode ray tube used for displaying various images and a signal detecting method for detecting a signal used for correcting an image display in the cathode ray tube.

【0002】[0002]

【従来の技術】現在、画像表示装置(テレビジョン受像
機や各種のモニタ装置など)には、陰極線管(CRT;
Cathode Ray Tube)が広く使用されている。陰極線管
は、管内(陰極線管内部)に備えられた電子銃から蛍光
面に向けて電子ビームを放射すると共に、電子ビームを
偏向ヨークなどで電磁的に偏向させることにより、管面
に電子ビームの走査に応じた走査画面を形成するもので
ある。
2. Description of the Related Art At present, image display devices (such as television receivers and various monitor devices) are equipped with cathode ray tubes (CRTs).
Cathode Ray Tube) is widely used. The cathode ray tube emits an electron beam toward a phosphor screen from an electron gun provided in the tube (inside the cathode ray tube), and deflects the electron beam electromagnetically with a deflection yoke or the like, so that the electron beam is applied to the tube surface. The scan screen is formed according to the scan.

【0003】陰極線管は、単一の電子銃を備えた構成が
一般的であるが、近年では、複数の電子銃を備えた構成
のものが開発されている。例えば、カラー表示用の陰極
線管であれば、赤(R;Red)、緑(G;Green)および
青(B;Blue)用の3本の電子ビームを放射する電子銃
を、例えば2つ備えたものが開発されている。陰極線管
において複数の電子銃を用いる方式は、複電子銃方式な
どと呼ばれている。複電子銃方式の陰極線管では、複数
の電子銃から放射された複数の電子ビームによって、複
数の分割画面を形成すると共に、これらの複数の分割画
面を繋ぎ合わせることにより単一の画面を形成して画像
表示が行われる。この複電子銃方式の陰極線管に関連す
る技術については、例えば、実公昭39−25641号
公報、特公昭42−4928号公報および特開昭50−
17167号公報などにおいて開示されている。このよ
うな複数の電子銃を備えた陰極線管によれば、単一の電
子銃を用いた陰極線管よりも、奥行きの短縮化を図りつ
つ大画面化を図ることができるなどの利点がある。
[0003] A cathode ray tube is generally provided with a single electron gun, but in recent years, a configuration provided with a plurality of electron guns has been developed. For example, in the case of a cathode ray tube for color display, for example, two electron guns for emitting three electron beams for red (R; Red), green (G; Green) and blue (B; Blue) are provided. Are being developed. A method using a plurality of electron guns in a cathode ray tube is called a double electron gun method or the like. In a multiple electron gun type cathode ray tube, a plurality of divided screens are formed by a plurality of electron beams emitted from a plurality of electron guns, and a single screen is formed by connecting the plurality of divided screens. Image is displayed. Techniques related to the double electron gun type cathode ray tube are disclosed in, for example, Japanese Utility Model Publication No. 39-25641, Japanese Patent Publication No. 42-4928, and Japanese Patent Application Laid-Open No.
No. 17,167, and the like. According to such a cathode ray tube having a plurality of electron guns, there is an advantage that a larger screen can be achieved while shortening the depth than a cathode ray tube using a single electron gun.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来より、
陰極線管は、その使用条件によって画像の表示状態が変
化することが知られている。例えば、陰極線管を利用す
る環境によっては、地磁気などの外部磁場から受ける影
響が異なるため、一般に、「画歪み」と呼ばれる画像の
歪みが生じる。またこの場合、カラー表示用の陰極線管
であれば、管面上において各色用の電子ビームの走査位
置がずれる「ミスコンバージェンス」と呼ばれる色ずれ
なども生じる。このような表示状態の変化は、上述の複
電子銃方式の陰極線管においては、繋ぎ目部分の表示状
態の精度にも悪影響を及ぼす。
By the way, conventionally,
It is known that the display state of an image of a cathode ray tube changes depending on the usage conditions. For example, the effect of an external magnetic field such as terrestrial magnetism differs depending on the environment in which a cathode ray tube is used, so that image distortion generally called “image distortion” occurs. In this case, in the case of a cathode ray tube for color display, a color shift called “misconvergence” occurs in which the scanning position of the electron beam for each color is shifted on the tube surface. Such a change in the display state adversely affects the accuracy of the display state of the joint portion in the above-described double electron gun type cathode ray tube.

【0005】従来、色ずれなどは、例えば、地磁気の方
向を検出するセンサを利用し、その検出値を偏向回路な
どの回路系にフィードバックすることで補正する方法が
ある。しかしながら、このような方法では、一様な地磁
気の影響は補正できるものの、複雑な磁場環境の影響に
伴う細かい補正を行うのは困難であるという問題があ
る。また、画像の歪みや色ずれなどは、地磁気の変化だ
けでなく、回路系や陰極線自体が発する熱などによる経
時変化によっても生ずる。これらに関しても、熱センサ
などを利用し、その検出値を回路系にフィードバックす
ることで補正することが可能である。しかしながら、こ
の場合には、さまざまな位置にセンサを配置する必要性
などがある。
Conventionally, there is a method of correcting color misregistration and the like by using a sensor for detecting the direction of terrestrial magnetism and feeding back the detected value to a circuit system such as a deflection circuit. However, such a method has a problem that, although it is possible to correct the uniform influence of terrestrial magnetism, it is difficult to perform fine correction accompanying the influence of a complicated magnetic field environment. In addition, image distortion and color misregistration are caused not only by changes in geomagnetism but also by changes over time due to heat generated by a circuit system or a cathode ray itself. These can also be corrected by using a heat sensor or the like and feeding back the detected value to a circuit system. However, in this case, it is necessary to arrange the sensors at various positions.

【0006】そこで、本出願人は、先に、特願平11-726
51号などにおいて、電子ビームの走査位置に応じて電気
的な検出信号を出力し、その検出信号を画像の表示状態
の補正に利用する技術を提案している。この提案におい
ては、管内における電子ビームの過走査領域に、インデ
ックス電極と呼ばれる電極を設け、電子ビームの入射に
応じてインデックス電極から電気的な信号を出力するよ
うになっている(以下、このインデックス電極を用いた
信号検出方法を「電気インデックス法」という。)。電
気インデックス法では、インデックス電極において検出
された電気的な信号は、陰極線管を形成する外囲器の一
部を利用して形成されたキャパシタなどを介して外囲器
の外部に出力される。この電気インデックス法を用いる
ことにより、電子ビームの走査の軌跡を直接的に検出す
ることが可能になる。従って、電気インデックス法を利
用することにより、地磁気の方向や熱などを検出して間
接的に画歪みなどを検出する従来の方法に比べて、さま
ざまな要因による表示状態の変化に対応できる。また、
電気インデックス法を利用すれば、さまざまな位置にお
ける電子ビームの軌跡の変位を測定することができるの
で、画像の表示状態の細かい補正を行うことが可能とな
るなどの利点もある。
Therefore, the applicant of the present invention has previously filed Japanese Patent Application No. 11-726.
No. 51 proposes a technique of outputting an electrical detection signal according to the scanning position of an electron beam and using the detection signal to correct the display state of an image. In this proposal, an electrode called an index electrode is provided in an overscan region of the electron beam in the tube, and an electric signal is output from the index electrode according to the incidence of the electron beam (hereinafter, this index is referred to as an index electrode). A signal detection method using electrodes is referred to as an "electric index method." In the electric index method, an electric signal detected at the index electrode is output to the outside of the envelope via a capacitor formed by using a part of the envelope forming the cathode ray tube. By using this electric index method, it is possible to directly detect the trajectory of scanning of the electron beam. Therefore, by using the electric index method, it is possible to cope with a change in the display state due to various factors, as compared with the conventional method of indirectly detecting the image distortion by detecting the direction and heat of the terrestrial magnetism. Also,
If the electric index method is used, the displacement of the trajectory of the electron beam at various positions can be measured, so that there is an advantage that it is possible to finely correct the display state of an image.

【0007】しかしながら、上述した電気インデックス
法により取り出される電気(電圧)信号(以下、「イン
デックス信号」ともいう。)は、図18に示したよう
に、必要とされる電子ビームの軌跡に関連する情報(以
下、「インデックス情報」ともいう。)のみならず、ア
ノード電圧に含まれているさまざまな不要信号成分を含
んだ形で取り出される。図18は、インデックス信号の
波形の一例を示している。符号202で示した部分が、
真に必要とされているインデックス情報を表す信号部分
である。図19は、インデックス情報を表す信号部分2
02を拡大して示している。不要信号成分としては、例
えば、高圧を作りだしているフライバックトランス部や
偏向ヨーク部より発生するH周期(水平周期)パルスな
どがある(図18において符号201を付して示す)。
However, an electric (voltage) signal (hereinafter, also referred to as an "index signal") extracted by the above-described electric index method is related to a required electron beam trajectory as shown in FIG. Not only information (hereinafter also referred to as “index information”) but also various unnecessary signal components included in the anode voltage are extracted. FIG. 18 shows an example of the waveform of the index signal. The part indicated by reference numeral 202 is
It is the signal part that represents the index information that is really needed. FIG. 19 shows a signal part 2 representing index information.
02 is shown in an enlarged manner. The unnecessary signal component includes, for example, an H cycle (horizontal cycle) pulse generated from a flyback transformer section or a deflection yoke section that generates a high voltage (indicated by reference numeral 201 in FIG. 18).

【0008】ここで、図18および図19に示したよう
に、不要信号成分である水平周期パルス信号の値が例え
ば10V(ボルト)以上あるのに対し、必要とされるイ
ンデックス情報を表すパルス信号の値は例えば100m
V程度しかない。このように、必要とされる信号成分の
信号値に比べて、不要信号成分の信号値の方がはるかに
大きいと、SN比(signal-to-noise ratio)の悪化を
まねき、必要とされるインデックス情報の取り出し精度
の劣化をまねくおそれがある。このインデックス情報の
取り出し精度の劣化は、インデックス情報を画像の表示
状態の補正に利用する場合において、その補正の精度に
影響を及ぼすことになり好ましくない。
Here, as shown in FIGS. 18 and 19, while the value of the horizontal period pulse signal, which is an unnecessary signal component, is, for example, 10 V (volt) or more, a pulse signal representing necessary index information is provided. Is, for example, 100 m
Only about V. As described above, if the signal value of the unnecessary signal component is much larger than the signal value of the required signal component, the SN ratio (signal-to-noise ratio) is deteriorated, which is required. There is a possibility that the retrieval accuracy of the index information may be deteriorated. When the index information is used to correct the display state of the image, the deterioration of the index information extraction accuracy adversely affects the accuracy of the correction, which is not preferable.

【0009】インデックス情報を精度良く取り出すため
の方法としては、フィルタなどの回路を利用して余分な
波形成分を除去する方法が考えられる。しかしながら、
フィルタ回路を利用して精度良く信号を抽出するために
は、非常に複雑な回路が必要とされるという問題があ
る。また、回路によりインデックス情報の波形形状が変
化してしまうという問題もある。
As a method of extracting index information with high accuracy, a method of removing an extra waveform component using a circuit such as a filter can be considered. However,
In order to accurately extract a signal using a filter circuit, there is a problem that a very complicated circuit is required. There is also a problem that the waveform of the index information changes depending on the circuit.

【0010】また、他の方法として、インデックス信号
と同様の手段によって、アノード電圧から電気的な信号
を取り出し、その信号をリファレンス信号として使用す
るものが考えられる。この方法では、リファレンス信号
とインデックス信号との差分を取ることによりインデッ
クス情報のみを抽出することが可能とされる。この方法
では、インデックス信号とリファレンス信号とのそれぞ
れに含まれる不要信号成分の波形が一致するように、振
幅と位相とを調整する必要性がでてくる。振幅に関して
は、それぞれの信号の出力手段(例えば外囲器を利用し
て形成したキャパシタ)を実質的に同じ構成にし、出力
に利用するキャパシタンスを等しくするなどの方法を採
ることによって一致させることができる。一方、位相に
ついては、出力手段として利用するキャパシタによる効
果のみならず、信号が通過してくる経路など、いくつか
の発生要因がある。位相を一致させるためには、信号の
出力後にディレイイコライザ(位相のみを変化させて出
力を一定に保つようなもの)などの信号処理回路を配置
して信号処理する方法が考えられる。しかしながら、こ
のような方法では、回路構成が複雑になってしまうとい
う問題がある。
As another method, an electric signal is extracted from the anode voltage by means similar to the index signal, and the extracted signal is used as a reference signal. In this method, it is possible to extract only the index information by taking the difference between the reference signal and the index signal. In this method, it is necessary to adjust the amplitude and the phase so that the waveforms of the unnecessary signal components included in the index signal and the reference signal match. Regarding the amplitude, it is possible to make the output means of each signal (for example, a capacitor formed by using an envelope) substantially the same configuration, and to make them equal by adopting a method such as equalizing the capacitance used for the output. it can. On the other hand, regarding the phase, there are several factors such as a path through which a signal passes, as well as the effect of the capacitor used as the output means. In order to match the phases, a method of arranging a signal processing circuit such as a delay equalizer (which changes only the phase to keep the output constant) after outputting the signal may be considered. However, such a method has a problem that the circuit configuration becomes complicated.

【0011】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、複雑な回路構成を採ることなく、電
子ビームの入射に応じて出力された電気的な検出信号と
リファレンス信号との位相差を減少させ、検出信号から
必要な信号成分を精度良く抽出することを可能にした陰
極線管および陰極線管における信号検出方法を提供する
ことにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object the purpose of eliminating the need for a complicated circuit configuration and for comparing an electrical detection signal and a reference signal output in response to the incidence of an electron beam. It is an object of the present invention to provide a cathode ray tube and a signal detection method in the cathode ray tube which can reduce a phase difference and accurately extract a necessary signal component from a detection signal.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明による陰極線管
は、外囲器と、アノード電圧が供給されるアノード電圧
部と、有効画面領域および有効画面外の過走査領域の走
査を行うための電子ビームを放射する電子銃と、外囲器
の内部における過走査領域に設けられ、電子ビームの入
射に応じて電気的な検出信号を出力する電子ビーム検出
手段とを備えている。本発明による陰極線管は、また、
外囲器の一部を利用して形成され、電子ビーム検出手段
から出力された検出信号を外囲器の外部に出力するよう
構成された第1のキャパシタと、アノード電圧部に接続
されると共に、アノード電圧に応じたリファレンス信号
を外囲器の外部に出力するよう構成された第2のキャパ
シタとを備えている。ここで、本発明による陰極線管
は、第2のキャパシタが、外囲器の一部を利用して実質
的に第1のキャパシタと同一構造で形成されていると共
に、第1のキャパシタと第2のキャパシタとが、検出信
号とリファレンス信号との位相差が所望の範囲内に収ま
る程度に近接して配置されているものである。
A cathode ray tube according to the present invention comprises an envelope, an anode voltage section to which an anode voltage is supplied, and an electronic screen for scanning an effective screen area and an overscan area outside the effective screen. An electron gun that emits a beam and an electron beam detection unit that is provided in an overscanning area inside the envelope and outputs an electrical detection signal in response to the incidence of the electron beam are provided. The cathode ray tube according to the present invention also comprises
A first capacitor formed using a part of the envelope and configured to output a detection signal output from the electron beam detecting means to the outside of the envelope; And a second capacitor configured to output a reference signal corresponding to the anode voltage to the outside of the envelope. Here, in the cathode ray tube according to the present invention, the second capacitor has substantially the same structure as the first capacitor using a part of the envelope, and the second capacitor has the same structure as the first capacitor. Are arranged so close that the phase difference between the detection signal and the reference signal falls within a desired range.

【0013】また、本発明による陰極線管における信号
検出方法は、外囲器と、アノード電圧が供給されるアノ
ード電圧部と、有効画面領域および有効画面外の過走査
領域の走査を行うための電子ビームを放射する電子銃と
を備え、過走査領域を走査する電子ビームの入射に応じ
て電気的な検出信号を外囲器の外部に出力すると共に、
アノード電圧部に供給されたアノード電圧に応じたリフ
ァレンス信号を外囲器の外部に出力するよう構成された
陰極線管に適用される。本発明による信号検出方法は、
このような陰極線管において、検出信号とリファレンス
信号とを、外囲器の一部を利用して実質的に同一方法
で、かつ、その位相差が所望の範囲内に収まる程度に近
接した位置から、外囲器の外部に出力するようにしたも
のである。
The signal detecting method for a cathode ray tube according to the present invention comprises an envelope, an anode voltage section to which an anode voltage is supplied, and an electronic device for scanning an effective screen area and an overscan area outside the effective screen. With an electron gun that emits a beam, and outputs an electrical detection signal to the outside of the envelope according to the incidence of the electron beam that scans the overscan region,
The present invention is applied to a cathode ray tube configured to output a reference signal according to an anode voltage supplied to an anode voltage unit to an outside of an envelope. The signal detection method according to the present invention comprises:
In such a cathode ray tube, the detection signal and the reference signal are substantially the same using a part of the envelope, and from a position that is close enough that the phase difference falls within a desired range. , Output to the outside of the envelope.

【0014】本発明による陰極線管では、電子ビーム検
出手段から出力された検出信号が、外囲器の一部を利用
して形成された第1のキャパシタから外囲器の外部に出
力される。また、アノード電圧部に接続された第2のキ
ャパシタから、アノード電圧に応じたリファレンス信号
が外囲器の外部に出力される。第2のキャパシタは、外
囲器の一部を利用して実質的に第1のキャパシタと同一
構造で形成されていると共に、第1のキャパシタと第2
のキャパシタとが、検出信号とリファレンス信号との位
相差が所望の範囲内に収まる程度に近接して配置されて
いるので、電気的な検出信号とリファレンス信号との位
相差が、必要な信号成分を精度良く抽出することが可能
となる程度に減少させられる。
In the cathode ray tube according to the present invention, the detection signal output from the electron beam detecting means is output to the outside of the envelope from the first capacitor formed using a part of the envelope. Further, a reference signal corresponding to the anode voltage is output from the envelope from the second capacitor connected to the anode voltage section. The second capacitor is formed to have substantially the same structure as the first capacitor by utilizing a part of the envelope, and the first capacitor and the second capacitor are connected to each other.
Are arranged so close that the phase difference between the detection signal and the reference signal falls within a desired range, so that the phase difference between the electrical detection signal and the reference signal causes the required signal component to Is reduced to such an extent that it can be extracted with high accuracy.

【0015】また、本発明による陰極線管における信号
検出方法では、検出信号とリファレンス信号とが、外囲
器の一部を利用して実質的に同一方法で、かつ、その位
相差が所望の範囲内に収まる程度に近接した位置から、
外囲器の外部に出力される。これにより、電気的な検出
信号とリファレンス信号との位相差が、必要な信号成分
を精度良く抽出することが可能となる程度に減少させら
れる。
In the signal detection method for a cathode ray tube according to the present invention, the detection signal and the reference signal are substantially the same using a part of the envelope, and the phase difference is within a desired range. From a position close enough to fit inside,
Output to the outside of the envelope. As a result, the phase difference between the electrical detection signal and the reference signal is reduced to such an extent that necessary signal components can be extracted with high accuracy.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0017】図1(A),(B)に示したように、本実
施の形態に係る陰極線管は、内側に蛍光面11Aが形成
されたパネル部10と、このパネル部10に一体化され
たファンネル部20とを備えている。ファンネル部20
の後端部の左右にはそれぞれ電子銃31L,31Rを内
蔵した細長い形状の2つのネック部30L,30Rが形
成されている。この陰極線管は、パネル部10、ファン
ネル部20およびネック部30L,30Rにより全体的
に2つの漏斗形状の外観が形成される。この陰極線管を
形作る全体的な形状部分は「外囲器」とも呼ばれる。パ
ネル部10およびファンネル部20は、各々の開口部同
士が互いに融着されており、内部は高真空状態を維持す
ることが可能になっている。蛍光面11Aには、電子ビ
ームの入射に応じて発光する蛍光体パターンが形成され
ている。パネル部10の表面は、蛍光面11Aの発光に
より画像が表示される画像表示面(管面)11Bとなっ
ている。
As shown in FIGS. 1A and 1B, the cathode ray tube according to the present embodiment has a panel section 10 having a fluorescent screen 11A formed inside, and is integrated with the panel section 10. And a funnel unit 20. Funnel 20
On the left and right of the rear end, two elongated neck portions 30L and 30R each containing a built-in electron gun 31L and 31R are formed. In this cathode ray tube, a panel portion 10, a funnel portion 20, and neck portions 30L and 30R form an overall appearance of two funnels. The overall shape that forms the cathode ray tube is also called an "envelope". The panel section 10 and the funnel section 20 have their respective openings fused to each other, so that a high vacuum state can be maintained inside. A phosphor pattern that emits light in response to the incidence of an electron beam is formed on the phosphor screen 11A. The surface of the panel section 10 is an image display surface (tube surface) 11B on which an image is displayed by emission of the fluorescent screen 11A.

【0018】パネル部10やファンネル部20などの外
囲器の構成要素は、主としてガラス材料などによって構
成されている。外囲器には、後述するインデックス信号
出力用キャパシタC10およびリファレンス信号出力用
キャパシタC20(図3)が設けられている。なお、図
1では、インデックス信号出力用キャパシタC10のみ
を示し、リファレンス信号出力用キャパシタC20につ
いては、図示を省略している。インデックス信号出力用
キャパシタC10は、本発明における第1のキャパシタ
の一具体例に対応し、リファレンス信号出力用キャパシ
タC20は、本発明における第2のキャパシタの一具体
例に対応するものである。
The components of the envelope such as the panel section 10 and the funnel section 20 are mainly made of a glass material or the like. The envelope is provided with a later-described index signal output capacitor C10 and a reference signal output capacitor C20 (FIG. 3). In FIG. 1, only the index signal output capacitor C10 is shown, and the reference signal output capacitor C20 is not shown. The index signal output capacitor C10 corresponds to one specific example of the first capacitor in the present invention, and the reference signal output capacitor C20 corresponds to one specific example of the second capacitor in the present invention.

【0019】本陰極線管の内部には、蛍光面11Aに対
向するように配置された金属製の薄板よりなる色選別機
構(color selection mechanism)12が配置されてい
る。色選別機構12は、その方式の違いによりアパーチ
ャグリルまたはシャドウマスクなどとも呼ばれる。色選
別機構12は、その外周がフレーム13によって支持さ
れていると共に、フレーム13に設けられた支持ばね1
4を介してパネル部10の内面に取り付けられている。
Inside the cathode ray tube, there is arranged a color selection mechanism 12 made of a thin metal plate arranged so as to face the phosphor screen 11A. The color selection mechanism 12 is also called an aperture grill or a shadow mask depending on the type of the color selection mechanism. The color selection mechanism 12 has an outer periphery supported by a frame 13 and a support spring 1 provided on the frame 13.
4 is attached to the inner surface of the panel unit 10.

【0020】ファンネル部20には、アノード電圧HV
を印加するためのアノード端子(アノードボタン)24
(図6)が設けられている(図1では図示せず)。ファ
ンネル部20から各ネック部30L,30Rにかけての
外周部分には、偏向ヨーク21L,21Rと、コンバー
ゼンスヨーク32L,32Rとが取り付けられている。
偏向ヨーク21L,21Rは、電子銃31L,31Rか
ら放射された各電子ビーム5L,5Rを偏向させるため
のものである。コンバーゼンスヨーク32L,32R
は、各電子銃31L,31Rから放射された各色用の電
子ビームのコンバーゼンス(集中)を行うためのもので
ある。
The funnel section 20 has an anode voltage HV
Terminal (anode button) 24 for applying voltage
(FIG. 6) (not shown in FIG. 1). Deflection yokes 21L, 21R and convergence yokes 32L, 32R are attached to an outer peripheral portion from the funnel portion 20 to each of the neck portions 30L, 30R.
The deflection yokes 21L and 21R deflect the electron beams 5L and 5R emitted from the electron guns 31L and 31R. Convergence yoke 32L, 32R
Are for performing convergence (concentration) of the electron beams for each color emitted from each of the electron guns 31L and 31R.

【0021】ネック部30からパネル部10の蛍光面1
1Aに至る内周面は、導電性の内部導電膜22によって
覆われている。内部導電膜22は、アノード端子24
(図6)に電気的に接続されており、アノード端子24
を介してアノード電圧HVが印加されるようになってい
る。また、ファンネル部20の外周面は、導電性の外部
導電膜23によって覆われている。
The fluorescent screen 1 of the panel section 10 from the neck section 30
The inner peripheral surface reaching 1A is covered with a conductive internal conductive film 22. The internal conductive film 22 includes an anode terminal 24
(FIG. 6), and is electrically connected to the anode terminal 24.
The anode voltage HV is applied via the. The outer peripheral surface of the funnel portion 20 is covered with a conductive external conductive film 23.

【0022】電子銃31L,31Rは、図示しないが、
それぞれR(Red),G(Green)およびB(Blue)用の
3本のカソード(熱陰極)と、各カソードを加熱するた
めのヒータと、カソードの前部に配置された複数のグリ
ッド電極とを有している。電子銃31L,31Rにおい
て、カソードは、ヒータによって加熱されると共に、映
像信号に応じた大きさのカソード駆動電圧が印加される
ことにより、映像信号に応じた量の熱電子を放出するよ
うになっている。グリッド電極は、アノード電圧HVや
フォーカス電圧などが印加されることにより、電子レン
ズ系を形成し、カソードから放射された電子ビームに対
してレンズ作用を及ぼすようなっている。グリッド電極
は、そのレンズ作用により、カソードから放射された個
々の電子ビームの収束などを行うほか、電子ビームの放
出量の制御や加速制御なども行うようになっている。電
子銃31L,31Rから放射された各色用の電子ビーム
は、それぞれ色選別機構12などを通過して蛍光面11
Aの対応する色の蛍光体に照射される。
The electron guns 31L and 31R are not shown,
Three cathodes (hot cathodes) for R (Red), G (Green) and B (Blue), a heater for heating each cathode, and a plurality of grid electrodes disposed in front of the cathodes, respectively. have. In the electron guns 31L and 31R, the cathodes are heated by the heater, and the cathode drive voltage having a magnitude corresponding to the video signal is applied, so that the amount of thermoelectrons corresponding to the video signal is emitted. ing. The grid electrode forms an electron lens system when an anode voltage HV, a focus voltage or the like is applied, and exerts a lens function on an electron beam emitted from a cathode. The grid electrode performs convergence of individual electron beams emitted from the cathode by its lens function, and also controls emission amount of the electron beam and acceleration control. The electron beams for each color emitted from the electron guns 31L and 31R pass through the color selection mechanism 12 and the like, and pass through the fluorescent screen 11R.
A is irradiated to the phosphor of the corresponding color of A.

【0023】ここで、図1(B)および図2を参照し
て、本陰極線管における電子ビームの走査方式の概略を
説明する。本陰極線管は、左側に配置された電子銃31
Lからの電子ビーム5Lによって、画面の約左半分を描
画すると共に、右側に配置された電子銃31Rからの電
子ビーム5Rによって、画面の約右半分を描画するよう
になっている。そして、左右の電子ビーム5L,5Rに
よって形成された各分割画面の端部を、部分的に重ねて
繋ぎ合わせることにより、全体として単一の画面SAを
形成して画像表示を行うようになっている。従って、全
体形成された画面SAの中央部分が、左右の分割画面が
オーバラップする(重複する)領域OLとなる。重複領
域OLにおける蛍光面11Aは、各電子ビーム5L,5
Rに共有されることになる。
Here, referring to FIGS. 1B and 2, an outline of an electron beam scanning method in the present cathode ray tube will be described. The cathode ray tube has an electron gun 31 arranged on the left side.
The electron beam 5L from L draws about the left half of the screen, and the electron beam 5R from the electron gun 31R arranged on the right draws the right half of the screen. Then, the ends of the divided screens formed by the left and right electron beams 5L and 5R are partially overlapped and joined to form a single screen SA as a whole and display an image. I have. Therefore, the central portion of the entire screen SA is an area OL where the left and right divided screens overlap (overlap). The fluorescent screen 11A in the overlapping area OL is provided with the respective electron beams 5L and 5L.
R will be shared.

【0024】図1(B)に示した走査方式は、いわゆる
ライン走査(主走査)を水平方向に行い、いわゆるフィ
ールド走査を垂直偏向方向に上から下に向けて行うよう
にしたものである。図1(B)に示した走査例では、左
側の電子ビーム5Lについては、ライン走査を画像の表
示面側から見て水平偏向方向に右から左(図1(A)の
X2方向)に向けて行っている。一方、右側の電子ビー
ム5Rについては、ライン走査を画像の表示面側から見
て水平偏向方向に左から右(図1(A)のX1方向)に
向けて行っている。従って、図1(B)の走査例では、
全体として、各電子ビーム5L,5Rによるライン走査
が、水平方向に画面中央部分から外側に向けてお互いに
反対方向に行われ、フィールド走査が、一般的な陰極線
管のように、上から下に行われることになる。なお、こ
の走査方式において、電子ビーム5L,5Rによるそれ
ぞれのライン走査を、図1(B)とは逆方向に、画面外
側から画面中央部分に向けて行うようにすることも可能
である。
In the scanning method shown in FIG. 1B, so-called line scanning (main scanning) is performed in the horizontal direction, and so-called field scanning is performed from top to bottom in the vertical deflection direction. In the scanning example shown in FIG. 1B, with respect to the electron beam 5L on the left side, the line scan is directed from right to left in the horizontal deflection direction (X2 direction in FIG. 1A) when viewed from the display surface side of the image. Have gone. On the other hand, for the right electron beam 5R, line scanning is performed from left to right (X1 direction in FIG. 1A) in the horizontal deflection direction when viewed from the image display surface side. Therefore, in the scanning example of FIG.
As a whole, line scanning by each of the electron beams 5L and 5R is performed in the opposite direction from the center of the screen to the outside in the horizontal direction, and the field scanning is performed from top to bottom like a general cathode ray tube. Will be done. In this scanning method, each line scanning by the electron beams 5L and 5R can be performed from the outside of the screen toward the center of the screen in a direction opposite to that of FIG.

【0025】図2に示した走査方式は、図1(B)に示
した走査方式に対して、電子ビーム5L,5Rによるそ
れぞれのライン走査およびフィールド走査をちょうど逆
転させた形となっている。この走査方式は、ライン走査
を縦方向に行っているので、縦走査方式とも呼ばれる。
図2に示した走査例では、各電子ビーム5L,5Rによ
るライン走査を上から下(図2のY方向)に向けて行っ
ている。一方、フィールド走査は、左側の電子ビーム5
Lについては、画像の表示面側から見て右から左(図2
のX2方向)に向けて行い、右側の電子ビーム5Rにつ
いては、画像の表示面側から見て左から右(図2のX1
方向)に向けて行っている。従って、図2の走査例で
は、全体として、各電子ビーム5L,5Rによるフィー
ルド走査が、水平方向に画面中央部分から外側に向けて
お互いに反対方向に行われることになる。なお、この走
査方式において、各電子ビーム5L,5Rによるフィー
ルド走査を、図2とは逆方向に、画面外側から画面中央
部分に向けて行うようにすることも可能である。
The scanning method shown in FIG. 2 is such that the line scanning and the field scanning by the electron beams 5L and 5R are exactly reversed from the scanning method shown in FIG. 1B. This scanning method is also called a vertical scanning method because line scanning is performed in the vertical direction.
In the scanning example shown in FIG. 2, line scanning by each of the electron beams 5L and 5R is performed from top to bottom (Y direction in FIG. 2). On the other hand, the field scan is performed using the electron beam 5 on the left side.
L is viewed from right to left as viewed from the display surface side of the image (FIG. 2).
X2 direction), and the right electron beam 5R is viewed from left to right (X1 in FIG. 2) when viewed from the image display surface side.
Direction). Therefore, in the scanning example of FIG. 2, the field scanning by the electron beams 5L and 5R is performed in the opposite directions from the center of the screen outward in the horizontal direction as a whole. In this scanning method, the field scanning by the electron beams 5L and 5R can be performed from the outside of the screen toward the center of the screen in a direction opposite to that of FIG.

【0026】本陰極線管の管内において、隣接する左右
の分割画面の繋ぎ目側(画面全体のほぼ中央部分)にお
ける電子ビーム5L,5Rの過走査(オーバ・スキャ
ン)領域OSには、長方形の平板状のインデックス電極
70が、蛍光面11Aに対向する位置に設けられてい
る。インデックス電極70は、管内において、重複領域
OLに対応する位置に設けられているともいえる。この
陰極線管の管内において、さらに、インデックス電極7
0と蛍光面11Aとの間には、電子ビーム5L,5Rに
対する遮蔽部材となるビームシールド27が配置されて
いる。なお、図では、ビームシールド27がV字形状で
ある構造の例を示しているが、ビームシールド27の形
状は電子ビーム5L,5Rを遮蔽することが可能な形状
であれば、他の形状であっても良い。ビームシールド2
7は、過走査領域OSを過走査した電子ビーム5L,5
Rが蛍光面11Aに到達して不用意に発光しないよう
に、電子ビーム5L,5Rを遮蔽する機能を有してい
る。このビームシールド27は、例えば、色選別機構1
2を支持するフレーム13を基台にして架設されてい
る。ビームシールド27は、フレーム13を介して内部
導電膜22に電気的に接続されている。これにより、ビ
ームシールド27には、アノード電圧HVが供給され
る。
In the tube of the present cathode ray tube, an overscan area (overscan) area OS of the electron beams 5L and 5R at a joint side (substantially the center of the entire screen) of the adjacent left and right divided screens has a rectangular flat plate. An index electrode 70 is provided at a position facing the fluorescent screen 11A. It can be said that the index electrode 70 is provided at a position corresponding to the overlapping area OL in the tube. In the cathode ray tube, an index electrode 7 is further provided.
A beam shield 27 serving as a shielding member for the electron beams 5L and 5R is arranged between the pixel 0 and the phosphor screen 11A. Although the figure shows an example of a structure in which the beam shield 27 has a V-shape, the shape of the beam shield 27 is not limited as long as it can shield the electron beams 5L and 5R. There may be. Beam shield 2
Reference numeral 7 denotes electron beams 5L, 5 which have overscanned the overscanning area OS.
It has a function of blocking the electron beams 5L and 5R so that R does not reach the phosphor screen 11A and emit light carelessly. The beam shield 27 is, for example, a color selection mechanism 1
It is erected using a frame 13 supporting the base 2 as a base. The beam shield 27 is electrically connected to the internal conductive film 22 via the frame 13. Thereby, the anode voltage HV is supplied to the beam shield 27.

【0027】なお、本実施の形態において、過走査領域
とは、電子ビーム5L,5Rの各々の走査領域におい
て、有効画面を形成する電子ビーム5L,5Rの各々の
走査領域の外側の領域のことをいう。図1においては、
領域SW1が、電子ビーム5Rの水平方向における蛍光
面11A上の有効画面であり、領域SW2が、電子ビー
ム5Lの水平方向における蛍光面11A上の有効画面で
ある。
In the present embodiment, the overscanning area is an area outside each scanning area of the electron beams 5L and 5R forming an effective screen in each scanning area of the electron beams 5L and 5R. Say. In FIG.
The area SW1 is an effective screen on the phosphor screen 11A in the horizontal direction of the electron beam 5R, and the area SW2 is an effective screen on the phosphor screen 11A in the horizontal direction of the electron beam 5L.

【0028】インデックス電極70は、電子ビーム5
L,5Rの入射に応じた電気的な検出信号を出力する機
能を有している。インデックス電極70には、図9
(A)に示したように、長手方向に例えば逆三角形状の
切り欠き孔71が等間隔に複数設けられている。インデ
ックス電極70は、金属などの導電性の物質からなるも
のであり、例えば、フレーム13を基台にして図示しな
い絶縁物を介して架設されている。また、インデックス
電極70は、抵抗R1の一端に電気的に接続されてい
る。抵抗R1の他端は、アノード電圧が供給される部分
(例えばフレーム13など)に電気的に接続されてい
る。従って、インデックス電極70には、抵抗R1を介
してアノード電圧HVが供給される。また、インデック
ス電極70は、後述するインデックス信号出力用キャパ
シタC10の内部電極42にリード線26を介して電気
的に接続されている。なお、管内において、インデック
ス電極70とビームシールド27との間、インデックス
電極70と内部導電膜22との間などには、通常、浮遊
容量が発生している。なお、インデックス電極70に設
ける切り欠き孔の形状や配置関係は、図9(A)に示し
たものに限定されるものではない。
The index electrode 70 is connected to the electron beam 5
It has a function of outputting an electrical detection signal according to the incidence of L, 5R. As shown in FIG.
As shown in (A), a plurality of notched holes 71 having, for example, an inverted triangular shape are provided at equal intervals in the longitudinal direction. The index electrode 70 is made of a conductive material such as a metal, and is, for example, provided on the frame 13 via an insulator (not shown). The index electrode 70 is electrically connected to one end of the resistor R1. The other end of the resistor R1 is electrically connected to a portion (for example, the frame 13) to which an anode voltage is supplied. Therefore, the anode voltage HV is supplied to the index electrode 70 via the resistor R1. The index electrode 70 is electrically connected to an internal electrode 42 of a later-described index signal output capacitor C10 via a lead wire 26. In the tube, a stray capacitance is usually generated between the index electrode 70 and the beam shield 27, between the index electrode 70 and the internal conductive film 22, and the like. Note that the shape and arrangement of the cutout holes provided in the index electrode 70 are not limited to those shown in FIG.

【0029】インデックス電極70において、過走査し
た電子ビーム5L,5Rが入射すると、インデックス電
極70における電位が、通常より電圧降下する。本陰極
線管においては、この電圧降下した信号が、インデック
ス検出信号としてインデックス信号出力用キャパシタC
10を経由して管外に導かれ、主として画像状態の補正
に利用されるようになっている。
When the overscanned electron beams 5L and 5R enter the index electrode 70, the potential at the index electrode 70 drops more than usual. In the present cathode ray tube, this voltage-dropped signal is used as an index detection signal as an index signal output capacitor C.
It is guided out of the tube via 10 and is mainly used for correcting the image state.

【0030】なお、縦走査方式の場合には、例えば図1
0(A)に示したような構造のインデックス電極70A
が設けられる。インデックス電極70Aは、その長手方
向が電子ビーム5L,5Rのライン走査方向(Y方向)
に対して垂直になるように設けられた長方形状の第1の
切り欠き孔131と、電子ビーム5L,5Rのフィール
ド走査方向(図2のX1,X2方向)に対して斜めにな
るように設けられた細長形状の第2の切り欠き孔132
とを有している。第1の切り欠き孔131と第2の切り
欠き孔132は、それぞれ交互に複数配置されている。
図10(A)の例では、インデックス電極70Aの両端
部が双方とも第1の切り欠き孔131が配置されるよう
な構造となっている。インデックス電極70Aにおい
て、第1の切り欠き孔131の隣り合うもの同士は、等
間隔で配置されている。第2の切り欠き孔132につい
ても、隣り合うもの同士が、等間隔で配置されている。
なお、インデックス電極70Aに設ける切り欠き孔の形
状や配置関係は、図10(A)に示したものに限定され
るものではない。
In the case of the vertical scanning method, for example, FIG.
Index electrode 70A having a structure as shown in FIG.
Is provided. The longitudinal direction of the index electrode 70A is the line scanning direction (Y direction) of the electron beams 5L and 5R.
A first cutout hole 131 having a rectangular shape provided to be perpendicular to the first direction, and is provided so as to be oblique to the field scanning direction (X1, X2 direction in FIG. 2) of the electron beams 5L, 5R. Elongated second cutout hole 132
And A plurality of the first notch holes 131 and the second notch holes 132 are alternately arranged.
In the example of FIG. 10A, both ends of the index electrode 70A have a structure in which the first cutout holes 131 are arranged. In the index electrode 70A, adjacent ones of the first cutout holes 131 are arranged at equal intervals. As for the second cutout holes 132, adjacent ones are arranged at equal intervals.
Note that the shape and arrangement of the cutout holes provided in the index electrode 70A are not limited to those shown in FIG.

【0031】図3〜図5は、インデックス信号出力用キ
ャパシタC10およびリファレンス信号出力用キャパシ
タC20の構造について示している。インデックス信号
出力用キャパシタC10およびリファレンス信号出力用
キャパシタC20は、パネル部10やファンネル部20
などの外囲器における誘電性を有する構成要素の一部を
誘電体として利用して形成されている。
FIGS. 3 to 5 show the structure of the index signal output capacitor C10 and the reference signal output capacitor C20. The index signal output capacitor C10 and the reference signal output capacitor C20 are connected to the panel unit 10 and the funnel unit 20.
It is formed by using a part of a component having a dielectric property in an envelope such as the above as a dielectric.

【0032】インデックス信号出力用キャパシタC10
は、インデックス電極70によって発生した電気的なイ
ンデックス検出信号Sindを外囲器の外部に出力するた
めのものである。このインデックス信号出力用キャパシ
タC10は、管外側に設けられたインデックス信号出力
用外部電極41と、管内側に設けられたインデックス信
号出力用内部電極42と、ファンネル部20などの誘電
性を有する構成部分20Aの一部を利用した誘電体部4
3とを有している。外部電極41と内部電極42は、図
3に示したように、誘電体部43を介して互いに対向配
置されている。
Index signal output capacitor C10
Is for outputting the electrical index detection signal S ind generated by the index electrode 70 to the outside of the envelope. The index signal output capacitor C10 includes an index signal output external electrode 41 provided on the outside of the tube, an index signal output internal electrode 42 provided on the inside of the tube, and a dielectric component such as the funnel 20. Dielectric part 4 using part of 20A
And 3. As shown in FIG. 3, the external electrode 41 and the internal electrode 42 are arranged to face each other with the dielectric part 43 interposed therebetween.

【0033】インデックス信号出力用外部電極41は、
図4(A)に示したように、例えばファンネル部20
に、部分的に外部導電膜23を被覆しない、すなわち、
外部導電膜23とは電気的に絶縁された領域23Aを作
り、その領域内に設けられたものである。外部電極41
は、図3に示したように、インデックス検出信号Sind
を出力するための出力端子61に電気的に接続されてい
る。出力端子61に出力されたインデックス検出信号S
indは、後述の信号抽出回路50(図7)に入力され
る。一方、インデックス信号出力用内部電極42は、図
4(B)に示したように、例えばファンネル部20に、
部分的に内部導電膜22を被覆しない、すなわち、内部
導電膜22とは電気的に絶縁された領域22Aを作り、
その領域内に設けられたものである。内部電極42は、
リード線26を介してインデックス電極70に電気的に
接続されている。外部電極41および内部電極42は、
図4(A),(B)に示したように、例えば同一の大き
さの四角形状に形成されている。なお、外部電極41お
よび内部電極42の形状は、四角形状に限定されるもの
ではなく、その他の形状(例えば円形状)であっても良
い。また、外部電極41および内部電極42の大きさ
は、必ずしも同一でなくとも良い。
The index signal output external electrode 41 is
For example, as shown in FIG.
Does not partially cover the external conductive film 23, that is,
The external conductive film 23 is provided with a region 23A which is electrically insulated and provided in the region. External electrode 41
Is the index detection signal S ind as shown in FIG.
Is electrically connected to an output terminal 61 for outputting the same. The index detection signal S output to the output terminal 61
ind is input to a signal extraction circuit 50 (FIG. 7) described later. On the other hand, as shown in FIG. 4B, the index signal output internal electrode 42
Not to partially cover the internal conductive film 22, that is, to form a region 22A electrically insulated from the internal conductive film 22,
It is provided in that area. The internal electrode 42
It is electrically connected to the index electrode 70 via the lead wire 26. The external electrode 41 and the internal electrode 42
As shown in FIGS. 4A and 4B, for example, they are formed in a square shape having the same size. The shapes of the external electrode 41 and the internal electrode 42 are not limited to a square shape, but may be other shapes (for example, a circular shape). Further, the sizes of the external electrode 41 and the internal electrode 42 do not necessarily have to be the same.

【0034】リファレンス信号出力用キャパシタC20
は、リファレンス信号Srefを外囲器の外部に出力する
ためのものである。リファレンス信号Srefは、後述す
るように、インデックス検出信号Sindから、必要とさ
れるインデックス情報信号S2を抽出するために用いら
れる信号である。リファレンス信号出力用キャパシタC
20は、実質的にインデックス信号出力用キャパシタC
10と同一の構造となっている。すなわち、リファレン
ス信号出力用キャパシタC20は、インデックス信号出
力用キャパシタC10と同様に、管外側に設けられたリ
ファレンス信号出力用外部電極44と、管内側に設けら
れたリファレンス信号出力用内部電極45と、ファンネ
ル部20などの誘電性を有する構成部分20Aの一部を
利用した誘電体部46とを有している。外部電極44と
内部電極45は、図3に示したように、誘電体部46を
介して互いに対向配置されている。
Reference signal output capacitor C20
Is for outputting the reference signal Sref to the outside of the envelope. The reference signal Sref is a signal used to extract a required index information signal S2 from the index detection signal Sind , as described later. Reference signal output capacitor C
20 is an index signal output capacitor C substantially.
It has the same structure as 10. That is, similarly to the index signal output capacitor C10, the reference signal output capacitor C20 includes a reference signal output external electrode 44 provided outside the tube, a reference signal output internal electrode 45 provided inside the tube, And a dielectric portion 46 using a part of the dielectric component 20A such as the funnel portion 20. As shown in FIG. 3, the external electrode 44 and the internal electrode 45 are arranged to face each other with the dielectric portion 46 interposed therebetween.

【0035】リファレンス信号出力用外部電極44は、
図4(A)に示したように、例えばファンネル部20
に、部分的に外部導電膜23を被覆しない、すなわち、
外部導電膜23とは電気的に絶縁された領域23Bを作
り、その領域内に設けられたものである。外部電極44
は、図3に示したように、リファレンス信号Srefを出
力するための出力端子62に電気的に接続されている。
出力端子62に出力されたリファレンス信号Srefは、
後述の信号抽出回路50に入力される。一方、リファレ
ンス信号出力用内部電極45は、図4(B)に示したよ
うに、例えばファンネル部20に、部分的に内部導電膜
22を被覆しない、すなわち、内部導電膜22とは電気
的に絶縁された領域22Bを作り、その領域内に設けら
れたものである。この内部電極45は、リード線28を
介してアノード電圧HVが供給されるアノード電圧部
(例えばフレーム13(図1)など)に電気的に接続さ
れている。これにより、リファレンス信号出力用内部電
極45には、リード線28を介してアノード電圧HVが
供給され、リファレンス信号出力用キャパシタC20か
らは、アノード電圧HVを利用したリファレンス信号S
refが出力される。外部電極44および内部電極45
は、図4(A),(B)に示したように、例えば同一の
大きさの四角形状に形成されている。ただし、外部電極
44および内部電極45の形状は、四角形状に限定され
るものではなく、その他の形状(例えば円形状)であっ
ても良い。また、外部電極44および内部電極45の大
きさは、必ずしも同一でなくとも良い。
The reference signal output external electrode 44 is
For example, as shown in FIG.
Does not partially cover the external conductive film 23, that is,
The external conductive film 23 is formed in a region 23B which is electrically insulated and provided in the region. External electrode 44
Is electrically connected to an output terminal 62 for outputting a reference signal Sref , as shown in FIG.
The reference signal S ref output to the output terminal 62 is
The signal is input to a signal extraction circuit 50 described later. On the other hand, as shown in FIG. 4B, the reference signal output internal electrode 45 does not partially cover, for example, the funnel portion 20 with the internal conductive film 22, that is, is electrically connected to the internal conductive film 22. An insulated region 22B is formed and provided in that region. The internal electrode 45 is electrically connected to an anode voltage section (for example, the frame 13 (FIG. 1) or the like) to which the anode voltage HV is supplied via the lead wire 28. As a result, the anode voltage HV is supplied to the reference signal output internal electrode 45 via the lead wire 28, and the reference signal S using the anode voltage HV is supplied from the reference signal output capacitor C20.
ref is output. External electrode 44 and internal electrode 45
Are formed, for example, in a square shape having the same size as shown in FIGS. However, the shape of the external electrode 44 and the internal electrode 45 is not limited to a square shape, and may be another shape (for example, a circular shape). Further, the size of the external electrode 44 and the size of the internal electrode 45 do not necessarily have to be the same.

【0036】なお、図3および図4においては、インデ
ックス信号出力用外部電極41とリファレンス信号出力
用外部電極44とを、互いに異なる位置に形成された絶
縁領域23A,23B内に設けているが、図5(A)に
示したように、2つの外部電極41,44を共通の絶縁
領域23C内に設けるようにしても良い。各内部電極4
2,45についても同様であり、各内部電極42,45
を、図5(B)に示したように、共通の絶縁領域22C
内に設けるようにしても良い。また、図示した例では、
各絶縁領域を矩形状にしているが、各絶縁領域の形状
は、その他の形状(例えば円形状)であっても良い。
In FIGS. 3 and 4, the index signal output external electrode 41 and the reference signal output external electrode 44 are provided in the insulating regions 23A and 23B formed at different positions. As shown in FIG. 5A, the two external electrodes 41 and 44 may be provided in the common insulating region 23C. Each internal electrode 4
The same applies to the internal electrodes 42 and 45.
Is, as shown in FIG. 5B, a common insulating region 22C.
It may be provided inside. Also, in the illustrated example,
Although each of the insulating regions has a rectangular shape, the shape of each of the insulating regions may be another shape (for example, a circular shape).

【0037】ここで、リファレンス信号出力用キャパシ
タC20は、そのキャパシタンスがインデックス信号出
力用キャパシタC10とほぼ同一になるように形成され
ていることが望ましい。各信号出力用キャパシタC1
0,C20のキャパシタンスをほぼ同一にすることによ
り、リファレンス信号Srefとインデックス検出信号Si
ndに含まれている不要信号成分との波形振幅や周波数特
性などが非常に近くなる。その結果、後述の信号抽出回
路50において、インデックス検出信号Sindに含まれ
ている不要信号成分の除去が容易になる。出力用キャパ
シタC10,C20のキャパシタンスは、例えば双方の
電極の大きさなどを調整することにより、ほぼ同一にす
ることができる。本実施の形態では、リファレンス信号
出力用キャパシタC20の構造とインデックス信号出力
用キャパシタC10の構造とを、実質的に同じにしたの
で、それぞれのキャパシタンスを一致させやすくなって
いる。
Here, it is desirable that the reference signal output capacitor C20 is formed so that its capacitance is substantially the same as that of the index signal output capacitor C10. Each signal output capacitor C1
By making the capacitances of 0 and C20 almost the same, the reference signal Sref and the index detection signal S i
The waveform amplitude and frequency characteristics of the unnecessary signal component included in nd become very close. As a result, in the signal extraction circuit 50 described later, it becomes easy to remove unnecessary signal components included in the index detection signal S ind . The capacitances of the output capacitors C10 and C20 can be made substantially the same by adjusting, for example, the size of both electrodes. In the present embodiment, the structure of the reference signal output capacitor C20 and the structure of the index signal output capacitor C10 are substantially the same, so that the respective capacitances can be easily matched.

【0038】図6は、各信号出力用キャパシタC10,
C20の形成位置について説明するための図であり、本
陰極線管を背面から見た状態を示している。図6に示し
たように、アノード端子24は、例えば陰極線管の後部
の真ん中よりやや上に設けられている。管内には、この
アノード端子24からアノード電圧HVが供給される。
各信号出力用キャパシタC10,C20は、リファレン
ス信号Srefとインデックス検出信号Sindに含まれてい
る不要信号成分との位相差が所望の範囲内(後段の信号
抽出回路50(図7)において、インデックス検出信号
indから、必要とされる精度でインデックス情報検出
信号S2を抽出可能な範囲内)に収まる程度に近接して
配置されていることが望ましい。通常、各信号出力用キ
ャパシタC10,C20の形成位置が近いほど、後述す
る理由により、リファレンス信号Srefとインデックス
検出信号Sindに含まれている不要信号成分との位相差
を小さくすることができる。例えば、インデックス信号
出力用キャパシタC10が、陰極線管上部のほぼ中央部
の位置20−1に形成されているとする。この場合に
は、リファレンス信号出力用キャパシタC20を、位置
20−1から離れた位置(例えば陰極線管下部の位置2
0−3)に設けるより、位置20−1に隣接した位置2
0−2に設ける方が、位相差の問題を解決する上では望
ましい。
FIG. 6 shows each signal output capacitor C10,
It is a figure for explaining the formation position of C20, and has shown the state where this cathode ray tube was seen from the back. As shown in FIG. 6, the anode terminal 24 is provided, for example, slightly above the center of the rear part of the cathode ray tube. An anode voltage HV is supplied from the anode terminal 24 into the tube.
Each of the signal output capacitors C10 and C20 has a phase difference between the reference signal Sref and the unnecessary signal component included in the index detection signal Sind within a desired range (in the subsequent signal extraction circuit 50 (FIG. 7), It is desirable that the index information detection signal Sind is disposed so close to the index detection signal S ind as to fall within a range in which the index information detection signal S2 can be extracted with required accuracy. Normally, the closer the formation positions of the signal output capacitors C10 and C20 are, the smaller the phase difference between the reference signal Sref and the unnecessary signal component included in the index detection signal Sind for the reason described later. . For example, it is assumed that the index signal output capacitor C10 is formed at a position 20-1 substantially at the center of the upper part of the cathode ray tube. In this case, the reference signal output capacitor C20 is placed at a position distant from the position 20-1 (for example, at position 2 below the cathode ray tube).
0-3), position 2 adjacent to position 20-1
It is desirable to provide 0-2 in order to solve the problem of the phase difference.

【0039】図7は、リファレンス信号Srefを利用し
て、インデックス検出信号Sindからインデックス情報
信号S2を抽出するための信号抽出回路の構成例を示し
ている。信号抽出回路50は、インデックス検出信号S
indを増幅して出力するインデックス信号用出力回路5
1と、リファレンス信号Srefを増幅して出力するリフ
ァレンス信号用出力回路52とを有している。信号抽出
回路50は、また、出力回路51によって増幅されたイ
ンデックス検出信号Sindと出力回路52によって増幅
されたリファレンス信号Srefとの差分を取って、イン
デックス検出信号Sindに含まれるインデックス情報信
号S2を出力する差分回路53を有している。差分回路
53は、インデックス情報信号S2を出力するための出
力端子63に接続されている。インデックス情報信号S
2は、出力端子63を介して後述のインデックス信号処
理回路105(図8)に入力される。
FIG. 7 shows a configuration example of a signal extraction circuit for extracting the index information signal S2 from the index detection signal S ind using the reference signal S ref . The signal extraction circuit 50 outputs the index detection signal S
Index signal output circuit 5 for amplifying and outputting ind
1 and a reference signal output circuit 52 for amplifying and outputting the reference signal Sref . The signal extraction circuit 50 also calculates the difference between the index detection signal S ind amplified by the output circuit 51 and the reference signal S ref amplified by the output circuit 52, and calculates an index information signal included in the index detection signal S ind. It has a difference circuit 53 that outputs S2. The difference circuit 53 is connected to an output terminal 63 for outputting the index information signal S2. Index information signal S
2 is input to an index signal processing circuit 105 (FIG. 8) described later via an output terminal 63.

【0040】出力回路51は、信号増幅用のアンプAM
P1と、アンプAMP1の入力抵抗Ri1および入力容
量Ci1とを有している。アンプAMP1の入力端子
は、出力端子61に接続されており、インデックス検出
信号Sindが入力されるようになっている。アンプAM
P1の出力端子は、差分回路53の入力端子の一つに接
続されている。入力抵抗Ri1および入力容量Ci1の
一端は、出力端子61とアンプAMP1の入力端子との
間に接続されている。入力抵抗Ri1および入力容量C
i1の他端は、接地されている。
The output circuit 51 is a signal amplification amplifier AM.
P1 and an input resistance Ri1 and an input capacitance Ci1 of the amplifier AMP1. The input terminal of the amplifier AMP1 is connected to the output terminal 61, and receives the index detection signal S ind . Amplifier AM
The output terminal of P1 is connected to one of the input terminals of the difference circuit 53. One end of the input resistance Ri1 and one end of the input capacitance Ci1 are connected between the output terminal 61 and the input terminal of the amplifier AMP1. Input resistance Ri1 and input capacitance C
The other end of i1 is grounded.

【0041】出力回路52は、信号増幅用のアンプAM
P2と、アンプAMP2の入力抵抗Ri2および入力容
量Ci2とを有している。出力回路52は、また、イン
デックス検出信号Sindとリファレンス信号Srefとの信
号波形を調整するための調整用キャパシタC3を有して
いる。アンプAMP2の入力端子は、調整用キャパシタ
C3を介して出力端子62に接続されており、調整用キ
ャパシタC3を介してリファレンス信号Srefが入力さ
れるようになっている。アンプAMP2の出力端子は、
差分回路53のもう一つの入力端子に接続されている。
入力抵抗Ri2および入力容量Ci2の一端は、調整用
キャパシタC3とアンプAMP2の入力端子との間に接
続されている。入力抵抗Ri2および入力容量Ci2の
他端は、接地されている。
The output circuit 52 includes an amplifier AM for signal amplification.
P2 and an input resistance Ri2 and an input capacitance Ci2 of the amplifier AMP2. The output circuit 52 further has an adjusting capacitor C3 for adjusting the signal waveforms of the index detection signal S ind and the reference signal S ref . The input terminal of the amplifier AMP2 is connected to the output terminal 62 via the adjustment capacitor C3, and the reference signal Sref is input via the adjustment capacitor C3. The output terminal of the amplifier AMP2 is
It is connected to another input terminal of the difference circuit 53.
One ends of the input resistance Ri2 and the input capacitance Ci2 are connected between the adjustment capacitor C3 and the input terminal of the amplifier AMP2. The other ends of the input resistance Ri2 and the input capacitance Ci2 are grounded.

【0042】ところで、通常、出力用キャパシタC1
0,C20から出力された段階では、インデックス検出
信号Sindに含まれる不要信号成分の波形振幅とリファ
レンス信号Srefの波形振幅は、出力用キャパシタC1
0,C20のキャパシタンスの違いにより異なってい
る。このため、インデックス検出信号Sindとリファレ
ンス信号Srefとの差分により、必要とされる信号成分
(インデックス情報信号S2)を抽出するためには、各
信号成分の波形の強度を合わせる必要がある。波形の強
度は、例えば各信号出力用キャパシタC10,C20の
外部電極41,44の大きさを調整したり、または各信
号出力用キャパシタC10,C20の出力側に振幅調整
用のキャパシタやアンプ回路を設けることで調整するこ
とが可能である。
By the way, usually, the output capacitor C1
0, C20, the waveform amplitude of the unnecessary signal component included in the index detection signal S ind and the waveform amplitude of the reference signal Sref are equal to the output capacitor C1.
0 and C20 are different depending on the difference in capacitance. Therefore, in order to extract a required signal component (index information signal S2) from the difference between the index detection signal S ind and the reference signal S ref , it is necessary to match the waveform intensities of the signal components. The intensity of the waveform can be adjusted by, for example, adjusting the size of the external electrodes 41 and 44 of the signal output capacitors C10 and C20, or connecting an amplitude adjustment capacitor and an amplifier circuit to the output side of each signal output capacitor C10 and C20. It is possible to adjust by providing.

【0043】信号抽出回路50において、各アンプAM
P1,AMP2および調整用キャパシタC3は、このよ
うな波形振幅を調整する機能を有している。このよう
に、インデックス検出信号Sindに含まれる不要信号成
分の波形振幅とリファレンス信号Srefの波形振幅とを
合わせることにより、差分回路53から良好にインデッ
クス情報信号S2を出力させることができる。なお、図
7に示した回路例では、調整用のアンプをインデックス
信号側の出力回路51とリファレンス信号側の出力回路
52の双方に設けているが、どちらか一方の回路にのみ
アンプを設けるようにしても良い。調整用キャパシタC
3についても、リファレンス信号側の出力回路52では
なく、インデックス信号側の出力回路51に設けるよう
にしても良い。または双方の回路に調整用のキャパシタ
を設けるようにしても良い。
In the signal extraction circuit 50, each amplifier AM
P1, AMP2 and adjustment capacitor C3 have a function of adjusting such a waveform amplitude. Thus, by matching the waveform amplitude of the unnecessary signal component included in the index detection signal S ind with the waveform amplitude of the reference signal Sref , the index information signal S2 can be output from the difference circuit 53 satisfactorily. In the circuit example shown in FIG. 7, the amplifier for adjustment is provided in both the output circuit 51 on the index signal side and the output circuit 52 on the reference signal side, but the amplifier is provided in only one of the circuits. You may do it. Adjustment capacitor C
3 may be provided not in the output circuit 52 on the reference signal side but in the output circuit 51 on the index signal side. Alternatively, a capacitor for adjustment may be provided in both circuits.

【0044】図8は、本陰極線管の信号処理回路を示し
ている。本陰極線管は、アナログ/デジタル(A/D)
変換器101と、メモリ102と、デジタル/アナログ
(D/A)変換器103L,103Rと、変調器104
L,104Rと、ビデオアンプVAMP−L,VAMP
−Rとを備えている。本陰極線管は、また、インデック
ス信号処理回路105と、タイミングジェネレータ10
6と、コンバーゼンス回路107と、偏向回路108と
を備えている。
FIG. 8 shows a signal processing circuit of the present cathode ray tube. This cathode ray tube is analog / digital (A / D)
A converter 101, a memory 102, digital / analog (D / A) converters 103L and 103R, and a modulator 104
L, 104R and video amplifier VAMP-L, VAMP
-R. The cathode ray tube further includes an index signal processing circuit 105 and a timing generator 10.
6, a convergence circuit 107, and a deflection circuit 108.

【0045】A/D変換器101は、入力された映像信
号SVをA/D変換するものである。メモリ102は、
A/D変換器101によってA/D変換された映像信号
SVを一時的に格納するためのものである。メモリ10
2は、例えば、ラインメモリまたはフィールドメモリに
よって構成され、入力された映像信号を、例えば、ライ
ン単位またはフィールド単位毎に格納するようになって
いる。メモリ102における信号の読み出しおよび書き
込み動作は、図示しないメモリコントローラによって制
御されている。
The A / D converter 101 performs A / D conversion on the input video signal SV. The memory 102
This is for temporarily storing the video signal SV that has been A / D converted by the A / D converter 101. Memory 10
2 is constituted by, for example, a line memory or a field memory, and stores an input video signal in, for example, a line unit or a field unit. The reading and writing operations of signals in the memory 102 are controlled by a memory controller (not shown).

【0046】D/A変換器103Lには、メモリ102
に格納された映像信号SVのうち、画面の約左半分を描
画するために必要な信号が入力されるようになってい
る。一方,D/A変換器103Rには、メモリ102に
格納された映像信号SVのうち、画面の約右半分を描画
するために必要な信号が入力されるようになっている。
各D/A変換器103L,103Rは、入力された信号
をD/A変換する。変調器104Lは、D/A変換器1
03Lから出力された映像信号に対して、与えられた変
調信号S3Lに基づく輝度変調を行うようになってい
る。変調器104Rは、D/A変換器103Rから出力
された映像信号に対して、与えられた変調信号S3Rに
基づく輝度変調を行うようになっている。ビデオアンプ
VAMP−L,VAMP−Rは、それぞれ変調器104
L,104Rから出力された輝度変調後の映像信号を増
幅して、各電子銃30L,30Rに出力するようになっ
ている。
The D / A converter 103L has a memory 102
Of the video signal SV stored in the image signal SV, a signal necessary for drawing about the left half of the screen is input. On the other hand, to the D / A converter 103R, of the video signal SV stored in the memory 102, a signal necessary for drawing approximately the right half of the screen is input.
Each of the D / A converters 103L and 103R performs D / A conversion on the input signal. The modulator 104L is a D / A converter 1
The luminance modulation based on the given modulation signal S3L is performed on the video signal output from the 03L. The modulator 104R performs luminance modulation on the video signal output from the D / A converter 103R based on the given modulation signal S3R. The video amplifiers VAMP-L and VAMP-R are respectively connected to the modulator 104.
The video signals after the luminance modulation output from the L and 104R are amplified and output to the electron guns 30L and 30R.

【0047】インデックス信号処理回路105には、信
号抽出回路50の差分回路53から出力されたインデッ
クス情報信号S2が入力される。インデックス信号処理
回路105は、インデックス情報信号S2に基づいて、
左右の分割画面の繋ぎ目部分における輝度の変調制御を
行うための変調信号S3L,S3Rと、画歪みなどの補
正を行うための補正信号S4を出力するようになってい
る。タイミングジェネレータ106は、入力された同期
信号SSに基づいて、A/D変換器101、メモリ10
2、D/A変換器103L,103Rおよびインデック
ス信号処理回路105の各々にタイミング信号を出力す
るようになっている。コンバーゼンス回路107は、イ
ンデックス信号処理回路105からの補正信号S4に基
づいてコンバーゼンスヨーク32L,32Rを制御する
ようになっている。偏向回路108は、インデックス信
号処理回路105からの補正信号S4に基づいて偏向ヨ
ーク21L,21Rを制御するようになっている。
The index signal processing circuit 105 receives the index information signal S 2 output from the difference circuit 53 of the signal extraction circuit 50. The index signal processing circuit 105 calculates the
Modulation signals S3L and S3R for performing luminance modulation control at a joint portion between the left and right divided screens and a correction signal S4 for performing correction of image distortion and the like are output. The timing generator 106 includes an A / D converter 101 and a memory 10 based on the input synchronization signal SS.
2. A timing signal is output to each of the D / A converters 103L and 103R and the index signal processing circuit 105. The convergence circuit 107 controls the convergence yokes 32L and 32R based on the correction signal S4 from the index signal processing circuit 105. The deflection circuit 108 controls the deflection yokes 21L and 21R based on the correction signal S4 from the index signal processing circuit 105.

【0048】次に、上記のような構成の陰極線管の動作
について説明する。
Next, the operation of the cathode ray tube configured as described above will be described.

【0049】A/D変換器101(図8)は、入力され
た映像信号SVをA/D変換する。A/D変換器101
によってディジタル化された映像信号は、図示しないメ
モリコントローラの制御に基づいて、例えば、ライン単
位またはフィールド単位毎にメモリ102に格納され
る。
The A / D converter 101 (FIG. 8) performs A / D conversion on the input video signal SV. A / D converter 101
The video signal digitized by the above is stored in the memory 102 for each line or each field, for example, under the control of a memory controller (not shown).

【0050】ここでは、一例として、各電子ビーム5
L,5Rによって、H/2(1Hは、1水平走査期間)
毎の左右の分割画面を、画面中央部分から画面外側に向
けてお互いに反対方向に水平走査する場合(図1
(B))について説明する。メモリ102に書き込まれ
た1H分の映像信号は、図示しないメモリコントローラ
の制御によってH/2分割される。分割された信号のう
ち、左側の分割画面用の信号は、図示しないメモリコン
トローラの制御によって書き込み時とは逆方向に読み出
されて、D/A変換器103Lに入力される。分割され
た信号のうち、右側の分割画面用の信号は、図示しない
メモリコントローラの制御によって書き込み時と同方向
に読み出されて、D/A変換器103Rに入力される。
D/A変換器103Lは、逆読み出しされたH/2の左
側の分割画面用の信号をアナログ信号に変換して変調器
104Lに出力する。D/A変換器103Rは、書き込
み時と同方向に読み出しされたH/2の右側の分割画面
用の信号をアナログ信号に変換して変調器104Rに出
力する。
Here, as an example, each electron beam 5
H / 2 (1H is one horizontal scanning period) depending on L and 5R
When the left and right divided screens are horizontally scanned in opposite directions from the center of the screen toward the outside of the screen (FIG. 1).
(B)) will be described. The 1H video signal written in the memory 102 is divided into H / 2 under the control of a memory controller (not shown). Among the divided signals, the signal for the divided screen on the left is read out in the opposite direction to that at the time of writing under the control of a memory controller (not shown) and input to the D / A converter 103L. Among the divided signals, the signal for the right divided screen is read out in the same direction as that at the time of writing under the control of a memory controller (not shown) and input to the D / A converter 103R.
The D / A converter 103L converts the reverse-read H / 2 left split screen signal into an analog signal and outputs the analog signal to the modulator 104L. The D / A converter 103R converts the signal for the divided screen on the right side of H / 2 read in the same direction as at the time of writing into an analog signal and outputs the analog signal to the modulator 104R.

【0051】各変調器104L,104Rは、入力され
た映像信号に対して、それぞれ変調信号S3L,S3R
に基づいて輝度変調を行った信号をビデオアンプVAM
P−L,VAMP−Rに出力する。各ビデオアンプVA
MP−L,VAMP−Rに入力された信号は、それぞれ
所定レベルまで増幅され、各電子銃31L,31Rの内
部に配置された図示しないカソードに対して、カソード
駆動電圧として与えられる。これにより、各電子銃31
L,31Rから各電子ビーム5L,5Rが発射される。
なお、本実施の形態における陰極線管は、カラー表示可
能なものであり、実際には、各電子銃31L,31Rに
は、R,G,Bの各色用のカソードが設けられ、各電子
銃31L,31Rからは、それぞれ各色用の電子ビーム
が発射される。各色用の電子ビームは、各色毎に独立に
ビーム電流が制御され、輝度と色度が調整される。
Each of the modulators 104L and 104R applies a modulation signal S3L and S3R to the input video signal, respectively.
A signal subjected to luminance modulation based on the video amplifier VAM
Output to PL and VAMP-R. Each video amplifier VA
The signals input to MP-L and VAMP-R are amplified to predetermined levels, respectively, and applied as cathode drive voltages to cathodes (not shown) arranged inside each of the electron guns 31L and 31R. Thereby, each electron gun 31
Each of the electron beams 5L and 5R is emitted from L and 31R.
The cathode ray tube according to the present embodiment is capable of displaying a color image. Actually, each electron gun 31L, 31R is provided with a cathode for each color of R, G, B, and each electron gun 31L. , 31R emit an electron beam for each color. The beam current of the electron beam for each color is controlled independently for each color, and the luminance and chromaticity are adjusted.

【0052】電子銃31Lから放射された左側の電子ビ
ーム5Lおよび電子銃31Rから放射された右側の電子
ビーム5Rは、それぞれ色選別機構12を通過して蛍光
面11Aに照射される。このとき、電子ビーム5L,5
Rは、それぞれコンバーゼンスヨーク32L,32Rの
電磁的な作用によりコンバーゼンスが行われると共に、
偏向ヨーク21L,21Rの電磁的な作用により偏向さ
れる。これにより、電子ビーム5L,5Rによって蛍光
面11Aの全面が走査され、パネル部10の管面11B
において、画面SA(図1)内に所望の画像が表示され
る。より具体的には、左側の電子ビーム5Lによって、
画面の約左半分が描画されると共に、右側の電子ビーム
5Rによって、画面の約右半分が描画される。そして、
電子ビーム5L,5Rの走査によって形成された左右の
分割画面の端部が部分的に重なるように繋ぎ合わされる
ことにより、全体として単一の画面SAが形成される。
The left electron beam 5L emitted from the electron gun 31L and the right electron beam 5R emitted from the electron gun 31R pass through the color selection mechanism 12 and irradiate the fluorescent screen 11A. At this time, the electron beams 5L, 5
R performs convergence by the electromagnetic action of the convergence yokes 32L and 32R, respectively.
It is deflected by the electromagnetic action of the deflection yokes 21L, 21R. Thus, the entire surface of the fluorescent screen 11A is scanned by the electron beams 5L and 5R, and the tube surface 11B of the panel unit 10 is scanned.
, A desired image is displayed in the screen SA (FIG. 1). More specifically, by the electron beam 5L on the left side,
About the left half of the screen is drawn, and about the right half of the screen is drawn by the right electron beam 5R. And
The left and right divided screens formed by the scanning of the electron beams 5L and 5R are joined so that the ends thereof partially overlap, thereby forming a single screen SA as a whole.

【0053】電子ビーム5L,5Rが、それぞれ過走査
領域OSを走査し、インデックス電極70に入射する
と、インデックス電極70において電圧降下が生じる。
この電圧降下に応じた信号が、インデックス検出信号S
indとして、インデックス信号出力用キャパシタC10
(図3)を経由して管外に出力される。インデックス検
出信号Sindは、出力端子61を介して信号抽出回路5
0のインデックス信号用出力回路51(図7)に入力さ
れる。一方、リファレンス信号出力用キャパシタC20
(図3)からは、アノード電圧HVに応じたリファレン
ス信号Srefが出力される。リファレンス信号Srefは、
出力端子62を介して信号抽出回路50のリファレンス
信号用出力回路52(図7)に入力される。
When the electron beams 5L and 5R scan the overscanning area OS and enter the index electrode 70, a voltage drop occurs at the index electrode 70.
A signal corresponding to the voltage drop is an index detection signal S
as ind , the index signal output capacitor C10
It is output outside the tube via (FIG. 3). The index detection signal S ind is supplied to the signal extraction circuit 5 via the output terminal 61.
0 is input to the index signal output circuit 51 (FIG. 7). On the other hand, the reference signal output capacitor C20
From FIG. 3, a reference signal Sref according to the anode voltage HV is output. The reference signal S ref is
The signal is input to the reference signal output circuit 52 (FIG. 7) of the signal extraction circuit 50 via the output terminal 62.

【0054】インデックス信号用出力回路51は、入力
されたインデックス検出信号Sindを増幅して差分回路
53(図7)に出力する。リファレンス信号用出力回路
52は、入力されたリファレンス信号Srefを増幅して
差分回路53に出力する。このとき、インデックス信号
用出力回路51およびリファレンス信号用出力回路52
において、インデックス検出信号Sindに含まれる不要
信号成分の波形振幅とリファレンス信号Srefの波形振
幅とを合わせるための調整が行われる。差分回路53
は、入力されたインデックス検出信号Sindとリファレ
ンス信号Srefとの差分を取ることにより、インデック
ス検出信号Sindに含まれる不要な信号成分を除去し、
必要とされる信号成分(インデックス情報信号S2)の
みを抽出して出力する。差分回路53から出力されたイ
ンデックス情報信号S2は、出力端子63を介してイン
デックス信号処理回路105に入力される。
The index signal output circuit 51 amplifies the input index detection signal S ind and outputs it to the difference circuit 53 (FIG. 7). The reference signal output circuit 52 amplifies the input reference signal Sref and outputs it to the difference circuit 53. At this time, the index signal output circuit 51 and the reference signal output circuit 52
In, adjustment is performed to match the waveform amplitude of the unnecessary signal component included in the index detection signal S ind with the waveform amplitude of the reference signal Sref . Difference circuit 53
Removes unnecessary signal components included in the index detection signal S ind by taking the difference between the input index detection signal S ind and the reference signal S ref ,
Only necessary signal components (index information signal S2) are extracted and output. The index information signal S2 output from the difference circuit 53 is input to the index signal processing circuit 105 via the output terminal 63.

【0055】インデックス信号処理回路105は、入力
されたインデックス情報信号S2に基づいて、電子ビー
ム5L,5Rの走査位置などの解析を行い、その解析結
果に基づいて、画歪みなどの補正を行うための補正信号
S4を出力する。コンバーゼンス回路107は、インデ
ックス信号処理回路105からの補正信号S4に基づい
てコンバーゼンスヨーク32L,32Rを制御する。ま
た、偏向回路108は、インデックス信号処理回路10
5からの補正信号S4に基づいて偏向ヨーク21L,2
1Rを制御する。これにより、電子ビームの走査位置の
補正が行われ、画歪みなどが補正される。インデックス
信号処理回路105は、また、入力されたインデックス
情報信号S2に基づいて、左右の分割画面の繋ぎ目部分
における輝度の変調制御を行うための変調信号S3L,
S3Rを出力する。変調器104L,104Rは、D/
A変換器103L,103Rから出力された映像信号に
対して、変調信号S3L,S3Rに基づく輝度変調を行
う。これにより、左右の分割画面の繋ぎ目部分における
輝度の補正が行われる。このようにして、左右の分割画
面が、位置的にも輝度的にも適正に繋ぎ合わされて表示
される。
The index signal processing circuit 105 analyzes the scanning positions of the electron beams 5L and 5R based on the input index information signal S2, and corrects image distortion based on the analysis result. Is output. The convergence circuit 107 controls the convergence yokes 32L and 32R based on the correction signal S4 from the index signal processing circuit 105. In addition, the deflection circuit 108 includes the index signal processing circuit 10
5 based on the correction signal S4 from the deflection yoke 21L, 2L.
Control 1R. Thereby, the scanning position of the electron beam is corrected, and image distortion and the like are corrected. The index signal processing circuit 105 also controls the modulation signals S3L, S3L for controlling the modulation of the luminance at the joint between the left and right divided screens based on the input index information signal S2.
Output S3R. The modulators 104L and 104R output D /
The luminance modulation based on the modulation signals S3L and S3R is performed on the video signals output from the A converters 103L and 103R. Thereby, the correction of the luminance at the joint portion between the left and right divided screens is performed. In this way, the left and right split screens are displayed in a manner that they are properly joined in terms of position and brightness.

【0056】次に、図9(A)〜図9(E)を参照して
インデックス電極70からの検出信号を解析することに
より得られるデータについて説明する。
Next, data obtained by analyzing the detection signal from the index electrode 70 will be described with reference to FIGS. 9A to 9E.

【0057】図9(A)〜図9(E)は、インデックス
電極70の構造およびインデックス電極70から出力さ
れる電気的な検出信号の波形の一例を示している。本陰
極線管では、導電性のインデックス電極70に切り欠き
孔71を設けることで、水平方向(ライン走査方向)と
共に垂直方向(フィールド走査方向)における電子ビー
ム5L,5Rの走査位置の検出を可能にしている。な
お、この図では、右側の電子ビーム5Rについてのみ説
明するが、左側の電子ビーム5Lについても同様であ
る。ここでは、電子ビーム5Rについて、ライン走査
が、画面中央部の左から右に行われると共に、フィール
ド走査が上から下(図のY方向)に行われる場合(図1
(B))について説明する。
FIGS. 9A to 9E show an example of the structure of the index electrode 70 and the waveform of an electrical detection signal output from the index electrode 70. FIG. In this cathode ray tube, by providing the cutout hole 71 in the conductive index electrode 70, it is possible to detect the scanning positions of the electron beams 5L and 5R in the horizontal direction (line scanning direction) and the vertical direction (field scanning direction). ing. In this figure, only the right electron beam 5R will be described, but the same applies to the left electron beam 5L. Here, for the electron beam 5R, the line scanning is performed from left to right at the center of the screen, and the field scanning is performed from top to bottom (Y direction in FIG. 1) (FIG. 1).
(B)) will be described.

【0058】図9(A)において、軌跡BYは、画像補
正前の電子ビーム5Rの水平方向の走査開始点の軌跡で
ある。この図の例では、画像補正前の電子ビーム5Rの
軌跡BYが、水平方向の中央部が縮められると共に、水
平方向の上下部が引き延ばされているような糸巻き型
(ピンクッション型)となっている。また、軌跡BY0
は、適正な画像補正がなされているときの電子ビーム5
Rの水平方向の走査開始点の軌跡である。本実施の形態
では、電子ビーム5Rの位置を検出するために、インデ
ックス電極70が設けられた過走査領域OSにおいて、
水平方向に位置検出用の複数の電子ビームB1〜B5
を、少なくとも切り欠き孔71の数に対応した数だけ通
過させるようになっている。以下では、適正な画像補正
がなされているときには、例えば、図示した電子ビーム
B10〜B50のように、複数の切り欠き孔71のほぼ
真ん中に電子ビームが通過するものとして説明する。な
お、位置検出用としてインデックス電極70を通過させ
る電子ビームの本数は、切り欠き孔71の数と同数に限
定されるものではない。
In FIG. 9A, a trajectory BY is a trajectory of a horizontal scanning start point of the electron beam 5R before image correction. In the example of this figure, the trajectory BY of the electron beam 5R before image correction is a pincushion type (pin cushion type) in which the center in the horizontal direction is contracted and the upper and lower parts in the horizontal direction are elongated. Has become. Also, the trajectory BY0
Is the electron beam 5 when the proper image correction is performed.
It is the trajectory of the horizontal scanning start point of R. In the present embodiment, in order to detect the position of the electron beam 5R, in the overscanning region OS provided with the index electrode 70,
A plurality of electron beams B1 to B5 for position detection in the horizontal direction
Through at least the number corresponding to the number of the cutout holes 71. In the following, a description will be given assuming that the electron beam passes almost in the middle of the plurality of cutout holes 71, for example, as shown in the illustrated electron beams B10 to B50 when the appropriate image correction is performed. Note that the number of electron beams passing through the index electrode 70 for position detection is not limited to the same number as the number of the cutout holes 71.

【0059】位置検出用の電子ビームB1〜B5がイン
デックス電極70を通過すると、図9(B)で示したよ
うに、2つのパルス信号を有する検出信号が出力され
る。2つのパルス信号は、切り欠き孔71の両端部の電
極部分を電子ビームB1〜B5が通過することにより出
力される信号である。電子ビームB1〜B5の走査開始
点(時間t=0)から、最初のパルス信号のエッジ部分
までの時間(th1〜th5)は、水平偏向の振幅と画
歪みの状況を表しており、これらの時間が全て一定の時
間th0になると、水平偏向が完全に補正されているこ
とになる。
When the electron beams B1 to B5 for position detection pass through the index electrode 70, a detection signal having two pulse signals is output as shown in FIG. 9B. The two pulse signals are signals output when the electron beams B1 to B5 pass through the electrode portions at both ends of the cutout hole 71. The time (th1 to th5) from the scanning start point of the electron beams B1 to B5 (time t = 0) to the edge portion of the first pulse signal represents the state of the amplitude of horizontal deflection and image distortion. When all the times reach a certain time th0, the horizontal deflection is completely corrected.

【0060】図9(C)は、水平偏向が補正された後に
出力される検出信号を示している。上述のように、イン
デックス電極70において、切り欠き孔71が設けられ
た部分を電子ビームB1〜B5が通過すると、2つのパ
ルス信号が出力されるが、このとき出力されるパルス信
号のパルス間隔(tv1〜tv5)は、切り欠き孔71
に対する上下方向(垂直方向)の位置に対応する。従っ
て、このパルス間隔(tv1〜tv5)が、全て一定の
時間tv0になると、垂直振幅と直線性が調整され、垂
直偏向が完全に補正されていることになる。水平偏向お
よび垂直偏向の双方とも補正されると、図9(D)で示
したように、走査開始点(t=0)から、最初のパルス
信号のエッジ部分までの時間が一定時間th0で、2つ
のパルス間隔が所定の時間tv0である検出信号が出力
される。このとき、図9(E)で示したように、インデ
ックス電極70において、複数の切り欠き孔71のほぼ
真ん中部分を、理想状態の電子ビームB1a〜B5aが
通過することになる。
FIG. 9C shows a detection signal output after the horizontal deflection has been corrected. As described above, when the electron beams B1 to B5 pass through the portion of the index electrode 70 where the cutout holes 71 are provided, two pulse signals are output. tv1 to tv5) are cutout holes 71
Corresponding to the vertical direction (vertical direction). Therefore, when the pulse intervals (tv1 to tv5) all reach the fixed time tv0, the vertical amplitude and the linearity are adjusted, and the vertical deflection is completely corrected. When both the horizontal deflection and the vertical deflection are corrected, as shown in FIG. 9D, the time from the scanning start point (t = 0) to the edge portion of the first pulse signal is constant time th0, A detection signal whose two pulse intervals are the predetermined time tv0 is output. At this time, as shown in FIG. 9E, in the index electrode 70, the electron beams B1a to B5a in the ideal state pass through almost the center of the plurality of cutout holes 71.

【0061】インデックス電極70から出力される検出
信号のパルス信号の解析は、実際には、インデックス信
号処理回路105(図8)が、信号抽出回路50を介し
て取得したインデックス情報信号S2を解析することに
より行われる。インデックス信号処理回路105は、イ
ンデックス情報信号S2の解析に基づいて、補正信号S
4を出力する。偏向回路108は、補正信号S4に基づ
いて偏向ヨーク21Rを制御する。これにより、電子ビ
ーム5Rの走査位置の制御が行われ、画歪み等が補正さ
れるように画像補正がなされる。
In the analysis of the pulse signal of the detection signal output from the index electrode 70, the index signal processing circuit 105 (FIG. 8) actually analyzes the index information signal S2 obtained through the signal extraction circuit 50. This is done by: The index signal processing circuit 105 calculates the correction signal S based on the analysis of the index information signal S2.
4 is output. The deflection circuit 108 controls the deflection yoke 21R based on the correction signal S4. As a result, the scanning position of the electron beam 5R is controlled, and image correction is performed so that image distortion and the like are corrected.

【0062】なお、本陰極線管は、カラー表示可能なも
のであり、調整すべき電子ビーム5Rは、R,G,Bの
各色用のものがあるが、R,G,Bの各色毎に画像デー
タの制御を行えば、コンバーゼンスの補正を自動化でき
る。このような自動制御を行うことで、例えば、図9
(A)に示した軌跡BYのような糸巻き型の画歪みの補
正を自動的に行うことができる。
The cathode ray tube is capable of color display, and there are electron beams 5R to be adjusted for each color of R, G, and B, but an image is formed for each of R, G, and B colors. By controlling the data, the convergence correction can be automated. By performing such automatic control, for example, FIG.
It is possible to automatically correct the pincushion-type image distortion such as the locus BY shown in FIG.

【0063】以上の説明は、右側の電子ビーム5Rにつ
いてのものなので、全画面領域のうちの約右半分の画面
が補正されることになるわけであるが、左側の電子ビー
ム5Lについても同様に行うことで、左側の画面が補正
される。このようにして、左右の分割画面が補正される
ことにより、左右の分割画面が適正に繋ぎ合わされて表
示されることになる。なお、インデックス電極70は、
一つしか設けられていないので、電子ビーム5L,5R
の走査位置を完全に同時に検出することはできない。従
って、左右の分割画面を同時に補正することはできない
が、例えば、ライン操作毎またはフィールド走査毎に電
子ビーム5L,5Rの走査位置を交互に検出して電子ビ
ーム5L,5Rを交互に補正することで、左右の分割画
面を補正することができる。
Since the above description is for the right electron beam 5R, about the right half screen of the entire screen area is corrected, but the left electron beam 5L is similarly corrected. By doing so, the screen on the left is corrected. By correcting the left and right split screens in this manner, the left and right split screens are displayed in a state of being appropriately joined together. The index electrode 70 is
Since only one is provided, the electron beams 5L, 5R
Cannot be detected completely simultaneously. Therefore, the right and left split screens cannot be corrected at the same time. For example, it is necessary to alternately detect the scanning positions of the electron beams 5L and 5R for each line operation or field scan and to correct the electron beams 5L and 5R alternately. Thus, the left and right split screens can be corrected.

【0064】次に、縦走査方式の場合(図2)のインデ
ックス信号の検出動作について説明する。
Next, the detection operation of the index signal in the case of the vertical scanning method (FIG. 2) will be described.

【0065】図10(A)〜図10(G)は、図2に示
した縦走査方式を用いる場合に適用されるインデックス
電極70Aの構造およびこのインデックス電極70Aか
ら出力される検出信号の波形の一例を示している。な
お、図10(A)〜図10(G)において、紙面の左側
が画面の上側に相当し、紙面の右側が画面の下側に相当
する。インデックス電極70Aにおいて、図10(A)
に示したように、ライン走査方向に位置検出用の2つの
電子ビームeB1,eB2が通過したとすると、それぞ
れ図10(B),(C)で示したような検出信号が出力
される。図10(B),(C)において、両端部に示し
た期間TT,TBより電子ビームeB1,eB2のライン
走査の振幅と位置を検出することができる。また、電子
ビームeB1,eB2が、隣り合う切り欠き孔131を
通過している期間T13,T35,T57,T79の不揃いは、
ライン走査の直線性の良否を表している。また、電子ビ
ームeB1,eB2が、斜めの切り欠き孔132を通過
するときに発生するパルス信号(図10(C)において
は、パルスP1〜P4)の位置は、フィールド走査の振
幅の情報を表している。
FIGS. 10A to 10G show the structure of the index electrode 70A applied when the vertical scanning method shown in FIG. 2 is used and the waveform of the detection signal output from the index electrode 70A. An example is shown. In FIGS. 10A to 10G, the left side of the paper corresponds to the upper side of the screen, and the right side of the paper corresponds to the lower side of the screen. In the index electrode 70A, FIG.
Assuming that two electron beams eB1 and eB2 for position detection have passed in the line scanning direction as shown in (1), detection signals as shown in FIGS. 10B and 10C are output, respectively. 10B and 10C, the amplitude and position of the line scanning of the electron beams eB1 and eB2 can be detected from the periods T T and T B shown at both ends. The irregularities of the periods T 13 , T 35 , T 57 , and T 79 during which the electron beams eB 1 and eB 2 pass through the adjacent notches 131 are as follows:
It indicates whether linearity of line scanning is good or bad. The positions of the pulse signals (pulses P1 to P4 in FIG. 10C) generated when the electron beams eB1 and eB2 pass through the oblique cutout 132 indicate information on the amplitude of the field scan. ing.

【0066】図10(E)は、図10(D)に示したよ
うに、糸巻き型の画歪みがある電子ビームeB3が通過
したときにインデックス電極70Aから出力される検出
信号を示している。図10(F)は、図10(D)に示
したように、樽型の画歪みがある電子ビームeB4が通
過したときにインデックス電極70Aから出力される検
出信号を示している。図10(G)は、図10(D)に
示したように、インデックス電極70Aの長手方向のほ
ぼ中心部分を通過する電子ビームeB5があったときに
出力される検出信号を示している。これらの図から分か
るように、インデックス電極70Aからは、通過する電
子ビーム5L,5Rの走査位置および走査タイミングの
違いに応じて異なる波形の検出信号が出力される。従っ
て、例えば、電子ビーム5L,5Rが各切り欠き孔13
1,132を通過するときのパルス信号列の位相を観測
・解析すれば、インデックス電極70A上の各電子ビー
ム5L,5Rの軌道を推定することができる。
FIG. 10E shows a detection signal output from the index electrode 70A when the electron beam eB3 having a pincushion type image distortion passes as shown in FIG. 10D. FIG. 10F shows a detection signal output from the index electrode 70A when the electron beam eB4 having the barrel-shaped image distortion passes as shown in FIG. 10D. FIG. 10 (G) shows a detection signal output when there is an electron beam eB5 passing through a substantially central portion in the longitudinal direction of the index electrode 70A as shown in FIG. 10 (D). As can be seen from these figures, a detection signal having a different waveform is output from the index electrode 70A in accordance with the scanning position and scanning timing of the passing electron beams 5L and 5R. Therefore, for example, the electron beams 5L and 5R are not
By observing and analyzing the phase of the pulse signal train when passing through 1, 132, the trajectory of each electron beam 5L, 5R on index electrode 70A can be estimated.

【0067】インデックス電極70Aから出力される検
出信号のパルス信号列の位相などの解析は、図9のイン
デックス電極70を用いた場合と同様に、インデックス
信号処理回路105(図8)が、信号抽出回路50を介
して取得したインデックス情報信号S2を解析すること
により行われる。
The analysis of the phase of the pulse signal train of the detection signal output from the index electrode 70A is performed by the index signal processing circuit 105 (FIG. 8) in the same manner as in the case of using the index electrode 70 of FIG. This is performed by analyzing the index information signal S2 obtained via the circuit 50.

【0068】なお、インデックス電極70,70Aに設
ける切り欠き孔の形状は、図示したものに限定されず、
他の形状であっても良い。例えば、インデックス電極7
0に設ける切り欠き孔71の形状は、逆三角形状のもの
に限定されず、菱形、円形および楕円形状などの種々の
形状の切り欠き孔を用いることが可能である。また、イ
ンデックス電極70,70Aに設ける切り欠き孔の個数
は、図示した数に限定されるものではなく、図示した数
よりも多いまたは少ない構成であっても良い。ただし、
画像の歪みがより複雑で高次の成分を含むときには、切
り欠き孔の個数を増やして検出精度を高めることが必要
になると考えられる。また、各切り欠き孔同士の間隔
は、必ずしも等間隔でなくとも良い。さらに、以上の説
明では、一つのインデックス電極70,70Aによっ
て、電子ビーム5L,5Rの各々の走査位置を検出する
ようにしたが、インデックス電極70,70Aを複数設
けることで、電子ビーム5L,5Rの走査位置を各々独
立に検出することも可能である。この場合、インデック
ス信号出力用のキャパシタなども、複数設け、それぞれ
の電子ビームによって生じたインデックス検出信号を各
々独立に処理する。インデックス電極70,70Aを複
数設けることで、電子ビーム5L,5Rの走査位置を各
々独立にかつ同時に検出することが可能になると共に、
左右の分割画面を同時に補正することが可能になる。
Note that the shape of the cutout holes provided in the index electrodes 70 and 70A is not limited to that shown in the drawings.
Other shapes may be used. For example, the index electrode 7
The shape of the cutout hole 71 provided at 0 is not limited to an inverted triangular shape, and various shapes of cutout holes such as a rhombus, a circle, and an ellipse can be used. Further, the number of cutout holes provided in the index electrodes 70 and 70A is not limited to the illustrated number, and may be configured to be larger or smaller than the illustrated number. However,
When the image distortion is more complicated and includes higher-order components, it is considered that it is necessary to increase the number of cutout holes to increase the detection accuracy. Further, the intervals between the notch holes do not necessarily have to be equal. Further, in the above description, the scanning positions of the electron beams 5L, 5R are detected by one index electrode 70, 70A. However, by providing a plurality of index electrodes 70, 70A, the electron beams 5L, 5R are detected. Can be detected independently of each other. In this case, a plurality of capacitors for outputting an index signal are provided, and the index detection signals generated by the respective electron beams are independently processed. By providing a plurality of index electrodes 70 and 70A, the scanning positions of the electron beams 5L and 5R can be detected independently and simultaneously, respectively.
The left and right split screens can be corrected simultaneously.

【0069】なお、上述したインデックス情報信号S2
に基づく画像表示の制御を行う時期については任意に設
定することが可能である。例えば、陰極線管の起動時に
行ったり、または、定期的な期間を置いて間欠的に行っ
たり、さらには、常時行うようにすることが選択可能で
ある。また、画像表示の制御を左右の分割画面で交互に
行うようにしても良い。さらに、画像表示の制御結果
を、各電子ビーム5L,5Rの次回のフィールド走査時
において反映させるような、いわゆるフィードバックル
ープの構成とすれば、陰極線管の動作中にその設置位置
や向きが変えられたとしても、地磁気等の外部環境の変
化による画歪み等を自動的に補正することができる。ま
たさらに、各処理回路が経時変化することにより走査画
面が変動するような場合にも、自動的に変動を吸収して
適正な画像が表示されるようにすることが可能である。
なお、各処理回路の動作が安定しており、設置位置も不
変であるならば、陰極線管の起動時にのみ補正を行うだ
けでも充分である。このように、本陰極線管では、地磁
気等の外部環境の変化や各処理回路の経時変動が画像表
示に及ぼす影響が自動的に補正され、左右の分割画面が
適正に繋ぎ合わされて表示される。
The above-mentioned index information signal S2
It is possible to arbitrarily set the timing of controlling the image display based on. For example, it is possible to select the operation to be performed at the time of starting the cathode ray tube, to perform the operation intermittently at regular intervals, or to perform the operation at all times. Further, control of image display may be performed alternately on the left and right divided screens. Furthermore, if a so-called feedback loop is configured to reflect the control result of the image display at the time of the next field scan of each electron beam 5L, 5R, the installation position and the direction can be changed during the operation of the cathode ray tube. Even if such is the case, it is possible to automatically correct image distortion and the like due to changes in the external environment such as geomagnetism. Furthermore, even when the scanning screen fluctuates due to the temporal change of each processing circuit, it is possible to automatically absorb the fluctuation and display an appropriate image.
If the operation of each processing circuit is stable and the installation position is unchanged, it is sufficient to perform the correction only at the time of starting the cathode ray tube. As described above, in the present cathode ray tube, the influence of changes in the external environment such as terrestrial magnetism and the aging of each processing circuit on the image display is automatically corrected, and the left and right divided screens are appropriately connected and displayed.

【0070】次に、リファレンス信号Srefとインデッ
クス検出信号Sindとにおける位相差と、それらの信号
の取り出し方法および各信号出力用キャパシタC10,
C20の形成位置との関係について説明する。
Next, the phase difference between the reference signal Sref and the index detection signal Sind , the method of extracting those signals, and the signal output capacitors C10,
The relationship with the formation position of C20 will be described.

【0071】まず、図11および図12を参照して、本
陰極線管におけるリファレンス信号出力用キャパシタC
20に対する比較例となるリファレンス信号出力用キャ
パシタC21の構造について説明する。既に図3および
図4を用いて説明したように、本陰極線管のリファレン
ス信号出力用キャパシタC20には、管内側に、インデ
ックス信号出力用キャパシタC10と同様の構造の内部
電極45が設けられている。一方、比較例のリファレン
ス信号出力用キャパシタC21は、図11および図12
に示したように、内部導電膜22そのものを内部電極と
して利用して形成されている。このリファレンス信号出
力用キャパシタC21は、図11に示したように、リフ
ァレンス信号出力用外部電極44を、誘電体部46を介
して内部導電膜22に対して対向配置することにより、
電荷を蓄積する能力(キャパシタンス)を持たせたもの
である。内部導電膜22にはアノード端子24(図6)
を介してアノード電圧HVが印加されているので、リフ
ァレンス信号出力用キャパシタC21からは、アノード
電圧HVを利用したリファレンス信号Srefが出力され
る。
First, referring to FIG. 11 and FIG. 12, the reference signal output capacitor C
The structure of the reference signal output capacitor C21 as a comparative example with respect to 20 will be described. As already described with reference to FIGS. 3 and 4, the reference signal output capacitor C20 of the present cathode ray tube is provided with an internal electrode 45 having the same structure as the index signal output capacitor C10 inside the tube. . On the other hand, the reference signal output capacitor C21 of the comparative example is similar to that of FIGS.
As shown in (1), the internal conductive film 22 itself is used as an internal electrode. As shown in FIG. 11, the reference signal output capacitor C21 has the reference signal output external electrode 44 opposed to the internal conductive film 22 with the dielectric portion 46 interposed therebetween.
It has the ability (capacitance) to accumulate charges. An anode terminal 24 (FIG. 6) is provided on the internal conductive film 22.
, The reference signal Sref using the anode voltage HV is output from the reference signal output capacitor C21.

【0072】<位相差の具体例>次に、リファレンス信
号Srefとインデックス検出信号Sindとにおける位相差
の具体例を示す。図13および図14は、リファレンス
信号出力用キャパシタの取り付け位置や構造を種々変え
た場合に得られた、リファレンス信号Srefとインデッ
クス検出信号Sindの信号波形を拡大して示したもので
ある。図13および図14において、横軸は時間(se
c)を示している。縦軸は、各信号の出力値の相対値
(a.u)を示している。図13において、波形151
は、インデックス検出信号Sindを示し、波形152
は、リファレンス信号Srefを示す。図13において、
符号150で示した位置は、インデックス検出信号S
indの波形151のピーク位置を示す。図14におい
て、波形161は、インデックス検出信号Sindを示
し、波形162〜163は、リファレンス信号Sref
示す。図14において、符号160で示した位置は、イ
ンデックス検出信号Sindの波形161のピーク位置を
示す。
<Specific Example of Phase Difference> Next, a specific example of the phase difference between the reference signal Sref and the index detection signal Sind will be described. FIGS. 13 and 14 show enlarged signal waveforms of the reference signal Sref and the index detection signal Sind obtained when the mounting position and the structure of the reference signal output capacitor are variously changed. 13 and 14, the horizontal axis represents time (se
c) is shown. The vertical axis indicates the relative value (au) of the output value of each signal. In FIG. 13, waveform 151
Indicates an index detection signal S ind and a waveform 152
Indicates a reference signal Sref . In FIG.
The position indicated by reference numeral 150 is the index detection signal S
The peak position of the waveform 151 of ind is shown. 14, a waveform 161 indicates the index detection signal S ind , and waveforms 162 to 163 indicate the reference signal S ref . In FIG. 14, the position indicated by reference numeral 160 indicates the peak position of the waveform 161 of the index detection signal S ind .

【0073】図13および図14の信号波形は、以下の
条件で得られたものである。リファレンス信号Sref
取り出し方法としては、図3に示した構造のリファレン
ス信号出力用キャパシタC20を用いた方法(以下、
「取り出し方法B」という。)と、図11に示した構造
のリファレンス信号出力用キャパシタC21を用いた方
法(以下、「取り出し方法A」という。)とについて検
討した。また、リファレンス信号Srefの取り出し位置
(リファレンス信号出力用キャパシタの形成位置)につ
いては、インデックス信号出力用キャパシタC10の形
成位置に対して近接した位置から信号を取り出した場合
と、比較的離れた位置から信号を取り出した場合とにつ
いて検討した。具体的には、図6に示したように、イン
デックス信号出力用キャパシタC10を陰極線管上部の
ほぼ中央部の位置20−1(位置)に形成し、リファ
レンス信号出力用キャパシタを、位置に隣接した位置
20−2(位置)に形成した場合と、位置から離れ
た下部の位置20−3(位置)に形成した場合とにつ
いて検討した。
The signal waveforms of FIGS. 13 and 14 are obtained under the following conditions. As a method of extracting the reference signal Sref , a method using the reference signal output capacitor C20 having the structure shown in FIG.
This is referred to as “removal method B”. ) And a method using the reference signal output capacitor C21 having the structure shown in FIG. 11 (hereinafter, referred to as “extraction method A”). Further, the extraction position of the reference signal S ref (the formation position of the reference signal output capacitor) is different from the position where the signal is extracted from a position close to the formation position of the index signal output capacitor C10 and the position where the signal is relatively distant. And the case where the signal was extracted from the. Specifically, as shown in FIG. 6, the index signal output capacitor C10 is formed at a position 20-1 (position) substantially at the center of the upper part of the cathode ray tube, and the reference signal output capacitor is located adjacent to the position. The case of forming at the position 20-2 (position) and the case of forming at the lower position 20-3 (position) remote from the position were examined.

【0074】なお、アノード電圧HVの発生源(主とし
てフライバックトランス)のあるシャーシ(回路基板)
は、陰極線管の下部に設置した。アノード電圧HVを供
給するアノード端子24は、陰極線管の後部の真ん中よ
りやや上に設けた。陰極線管の画面の大きさは、36イ
ンチのものを使用した。
A chassis (circuit board) having a source of the anode voltage HV (mainly a flyback transformer)
Was installed below the cathode ray tube. The anode terminal 24 for supplying the anode voltage HV was provided slightly above the center of the rear part of the cathode ray tube. The screen size of the cathode ray tube used was 36 inches.

【0075】図16は、位置から、取り出し方法Bに
よってリファレンス信号Srefを取り出した場合に使用
した電極の大きさなどを具体的に示している。図16に
示したように、この場合には、インデックス信号出力用
キャパシタC10の内部電極42とリファレンス信号出
力用キャパシタ20の内部電極45は、それぞれ40m
m四方の正方形のものを使用した。それぞれの電極同士
の間隔は15mmであり、各内部電極の内部導電膜22
からの距離は20mmとした。外部電極41,44につ
いても同様である。他の位置、他の取り出し方法によっ
てリファレンス信号Srefを取り出した場合における電
極の大きさなども図16に示したものと同様である。図
17は、取り出し方法Aを適用した場合における管内側
の電極の大きさなどを具体的に示している。この場合に
も、インデックス信号出力用キャパシタC10の内部電
極42は、40mm四方の正方形のものを使用した。
FIG. 16 specifically shows the size of the electrodes used when the reference signal Sref is extracted from the position by the extraction method B. As shown in FIG. 16, in this case, the internal electrode 42 of the index signal output capacitor C10 and the internal electrode 45 of the reference signal output capacitor 20 are each 40 m in length.
m squares were used. The distance between the electrodes is 15 mm, and the internal conductive film 22 of each internal electrode is
The distance from was set to 20 mm. The same applies to the external electrodes 41 and 44. The size of the electrode when the reference signal Sref is extracted by another position and another extraction method is the same as that shown in FIG. FIG. 17 specifically shows the size of the electrode inside the tube when the extraction method A is applied. Also in this case, the internal electrode 42 of the index signal output capacitor C10 used was a square of 40 mm square.

【0076】図13および図14では、リファレンス信
号Srefについて、取り出し方法A,Bと位置,と
を組み合わせた4通りのものについて検討して得られた
ものである。各組み合わせと図示した信号波形との関係
は、以下のとおりである。また、以下の組み合わせ
(i)〜(iv)におけるインデックス検出信号Sind
対するリファレンス信号Srefの位相差の値を図15に
示す。図15において、−(マイナス)は、位相が進ん
でいることを示し、+(プラス)は、位相が遅れている
ことを示す。位相差の値の単位は、ナノ秒である。
In FIGS. 13 and 14, the reference signal Sref is obtained by examining four combinations of the extraction methods A and B and the position. The relationship between each combination and the illustrated signal waveform is as follows. FIG. 15 shows values of the phase difference of the reference signal Sref with respect to the index detection signal Sind in the following combinations (i) to (iv). In FIG. 15,-(minus) indicates that the phase is advanced, and + (plus) indicates that the phase is delayed. The unit of the phase difference value is nanosecond.

【0077】 (i) 位置かつ取り出し方法B(図13の波形15
2)。 (ii) 位置かつ取り出し方法B(図14の波形16
2)。 (iii) 位置かつ取り出し方法A(図14の波形1
64)。 (iv) 位置かつ取り出し方法A(図14の波形1
63)。
(I) Position and extraction method B (waveform 15 in FIG. 13)
2). (Ii) Position and extraction method B (waveform 16 in FIG. 14)
2). (Iii) Position and extraction method A (waveform 1 in FIG. 14)
64). (Iv) Position and extraction method A (waveform 1 in FIG. 14)
63).

【0078】図13〜図15から分かるように、(i)
の組み合わせの場合には、位相差が非常に少ない。ま
た、(ii)〜(iv)の組み合わせの場合には、(i)
の場合に比べて位相差が大きく生じている。なお、図1
4では、インデックス検出信号Sindのピーク位置から
の位相差を符号162P〜164Pを付して示す。
As can be seen from FIGS. 13 to 15, (i)
In the case of the combination, the phase difference is very small. In the case of the combination of (ii) to (iv), (i)
The phase difference is larger than in the case of (1). FIG.
4, the phase difference from the peak position of the index detection signal S ind is indicated by reference numerals 162P to 164P.

【0079】以上の検討結果から分かるように、リファ
レンス信号Srefをインデックス検出信号Sindに対して
実質的に同一構造、同一方法(取り出し方法B)で取り
出し、かつ、各信号出力用キャパシタの形成位置を近づ
けた場合に、2つの信号間の位相差が少なくなる。この
理由の一つとしては、同じ信号取り出し方法を用いて、
かつ、各電極の取り付け位置を近づけることで、各信号
出力用キャパシタのキャパシタンスや、管内に生じる浮
遊キャパシタの容量値がほぼ同じになるためと考えられ
る。また、信号取り出し位置を近づけることで、不必要
な信号波形(ノイズ)を発生させているアノード電圧H
Vの供給元(アノード端子24)から各信号取り出し位
置までの距離や、アノード電圧HVを作りだしているシ
ャーシ部分から各信号取り出し位置までの距離、さらに
は偏向ヨークからの距離についてもほぼ同じになる。す
なわち、不必要な信号が、外部導電膜23、内部導電膜
22および空気中などを伝って各信号取り出し位置に到
達するまでの経路や距離が、リファレンス信号Sref
インデックス検出信号Sindとでほぼ同じになる。その
結果、不必要な信号が各信号取り出し位置に到達する際
に生じる位相のずれ量が小さくなると考えられる。この
ことは、2種類の信号取り出し方法A,Bについて、信
号取り出し位置が離れている場合(図14の波形16
2,163)の位相ずれ量がほぼ同じになっていること
からも分かる。
As can be seen from the above examination results, the reference signal S ref is extracted from the index detection signal S ind by substantially the same structure and the same method (extraction method B), and the formation of each signal output capacitor is performed. When the positions are brought closer, the phase difference between the two signals decreases. One reason for this is that using the same signal extraction method,
In addition, it is considered that the capacitance of each signal output capacitor and the capacitance value of the floating capacitor generated in the tube become almost the same when the mounting position of each electrode is made closer. Also, by bringing the signal extraction position closer, an anode voltage H that generates an unnecessary signal waveform (noise) is generated.
The distance from the V supply source (anode terminal 24) to each signal extraction position, the distance from the chassis portion producing the anode voltage HV to each signal extraction position, and the distance from the deflection yoke are almost the same. . In other words, the path and the distance until an unnecessary signal reaches each signal extraction position through the external conductive film 23, the internal conductive film 22 and the air are determined by the reference signal Sref and the index detection signal Sind . It will be almost the same. As a result, it is considered that the amount of phase shift that occurs when an unnecessary signal reaches each signal extraction position is reduced. This is the case when the signal extraction positions are distant for the two types of signal extraction methods A and B (waveform 16 in FIG. 14).
2, 163) are almost the same.

【0080】このように、位相差のみを考慮すると、各
信号出力用キャパシタはなるべく近接して設けた方が良
いことが分かる。なお、より正確には、各信号出力用キ
ャパシタの形成位置は、位相差のみを考慮して決めるの
でなく、ノイズ源の存在位置や位相差以外の信号特性を
考慮して総合的に決めることが良いと考えられる。しか
しながら、基本的には、各信号出力用キャパシタはなる
べく近接して設けた方が良いと考えられる。
As described above, considering only the phase difference, it is understood that it is better to provide each signal output capacitor as close as possible. More precisely, the formation position of each signal output capacitor should be determined not only by taking into account only the phase difference but also by taking into account the location of the noise source and signal characteristics other than the phase difference. Considered good. However, basically, it is considered that each signal output capacitor should be provided as close as possible.

【0081】以上説明したように、本実施の形態によれ
ば、リファレンス信号Srefとインデックス検出信号S
indとを、近接した位置から実質的に同一方法で出力す
るようにしたので、各信号の振幅の大きさをほぼ同じく
することができると共に、各信号間の位相差を小さくす
ることができる。これにより、インデックス検出信号S
indに含まれている不要信号成分の除去が容易になり、
インデックス検出信号Sindから、必要とされるインデ
ックス情報信号S2のみを精度良く、SN比の高い状態
で抽出することが可能となる。また、複雑なフィルタ回
路や、ディレイイコライザなどの位相調整手段などを設
ける必要がなくなり、信号処理系の回路構成を簡略化す
ることが可能となる。
As described above, according to the present embodiment, the reference signal S ref and the index detection signal S
Since ind is output from a close position in substantially the same manner, the magnitude of the amplitude of each signal can be made substantially the same, and the phase difference between each signal can be reduced. Thereby, the index detection signal S
Removal of unnecessary signal components included in ind becomes easy,
From the index detection signal S ind , only the required index information signal S2 can be extracted with high accuracy and a high SN ratio. Further, there is no need to provide a complicated filter circuit or a phase adjusting means such as a delay equalizer, and the circuit configuration of the signal processing system can be simplified.

【0082】このように、本実施の形態によれば、複雑
な回路構成を採ることなく、インデックス検出信号S
indから、画像補正などに必要とされる信号成分を精度
良く抽出することが可能となる。これにより、電気イン
デックス法を用いた画像補正システムにおいて、高精度
で再現性の高い画像補正を行うことができる。
As described above, according to the present embodiment, the index detection signal S
From ind , signal components required for image correction and the like can be accurately extracted. This makes it possible to perform highly accurate and highly reproducible image correction in an image correction system using the electric index method.

【0083】なお、本発明は、上記実施の形態に限定さ
れず種々の変形実施が可能である。例えば、上記実施の
形態では、カラー表示可能な陰極線管について説明した
が、本発明は、モノクロ表示を行う陰極線管にも適用す
ることが可能である。また、上記実施の形態では、2つ
の電子銃を備え、2つの走査画面を繋ぎ合わせることに
より単一の画面を形成するようにしたものについて説明
したが、本発明は、3つ以上の電子銃を備え、一つの画
面を3つ以上の走査画面を合成して形成するようにした
ものにも適用することが可能である。また、上記実施の
形態では、分割画面を部分的に重複させて一つの画面を
得るようにしたが、重複領域を設けずに、単に分割画面
の端部を線状に繋ぎ合わせることにより一つの画面を得
るようにしても良い。本発明は、また、複電子銃方式の
陰極線管に限定されず、単一の電子銃のみを備えた一般
的な陰極線管にも適用することが可能である。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made. For example, in the above embodiment, the cathode ray tube capable of color display has been described, but the present invention can be applied to a cathode ray tube which performs monochrome display. Further, in the above-described embodiment, the case where two electron guns are provided and a single screen is formed by joining two scanning screens has been described. However, the present invention provides three or more electron guns. It is also possible to apply the present invention to a configuration in which one screen is formed by combining three or more scanning screens. Further, in the above-described embodiment, one screen is obtained by partially overlapping the divided screens. However, without providing an overlap area, one end is obtained by simply connecting the ends of the divided screens in a line shape. A screen may be obtained. The present invention is not limited to a double electron gun type cathode ray tube, but can be applied to a general cathode ray tube having only a single electron gun.

【0084】[0084]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1ないし3
のいずれか1項に記載の陰極線管によれば、外囲器の一
部を利用して形成され、電子ビーム検出手段から出力さ
れた検出信号を外囲器の外部に出力するよう構成された
第1のキャパシタと、アノード電圧部に接続されると共
に、アノード電圧に応じたリファレンス信号を外囲器の
外部に出力するよう構成された第2のキャパシタとを備
え、第2のキャパシタを、外囲器の一部を利用して実質
的に第1のキャパシタと同一構造で形成すると共に、第
1のキャパシタと第2のキャパシタとを、検出信号とリ
ファレンス信号との位相差が所望の範囲内に収まる程度
に近接して配置するようにしたので、複雑な回路構成を
採ることなく、電子ビームの入射に応じて出力された電
気的な検出信号とリファレンス信号との位相差を減少さ
せることができる。これにより、検出信号から、例えば
画像補正に必要とされる信号成分を精度良く抽出するこ
とが可能になるという効果を奏する。
As described above, claims 1 to 3 are described.
According to the cathode ray tube described in any one of the above, the cathode ray tube is formed using a part of the envelope, and is configured to output the detection signal output from the electron beam detecting means to the outside of the envelope. A first capacitor connected to the anode voltage unit and configured to output a reference signal corresponding to the anode voltage to the outside of the envelope; The first capacitor and the second capacitor are formed to have substantially the same structure as that of the first capacitor using a part of the enclosure, and the phase difference between the detection signal and the reference signal is within a desired range. As a result, the phase difference between the electrical detection signal and the reference signal output in response to the incidence of the electron beam can be reduced without using a complicated circuit configuration. it can Thus, there is an effect that, for example, a signal component required for image correction can be accurately extracted from the detection signal.

【0085】また、請求項4記載の陰極線管における信
号検出方法によれば、検出信号とリファレンス信号と
を、外囲器の一部を利用して実質的に同一方法で、か
つ、その位相差が所望の範囲内に収まる程度に近接した
位置から、外囲器の外部に出力するようにしたので、複
雑な回路構成を採ることなく、電子ビームの入射に応じ
て出力された電気的な検出信号とリファレンス信号との
位相差を減少させることができ、例えば画像補正に必要
とされる信号成分を精度良く抽出することが可能になる
という効果を奏する。
Further, according to the signal detecting method for a cathode ray tube according to the fourth aspect, the detection signal and the reference signal are made substantially the same using a part of the envelope, and the phase difference between the detection signal and the reference signal is obtained. Is output to the outside of the envelope from a position close enough to be within the desired range, so that the electrical detection output in response to the incidence of the electron beam without employing a complicated circuit configuration The phase difference between the signal and the reference signal can be reduced, and for example, it is possible to accurately extract a signal component required for image correction.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態に係る陰極線管の概略を
示す図であり、(B)は、陰極線管における電子ビーム
の走査方向を示す正面図、(A)は、(B)におけるIA
−IA線断面図である。
1A and 1B are diagrams schematically illustrating a cathode ray tube according to an embodiment of the present invention, wherein FIG. 1B is a front view showing a scanning direction of an electron beam in the cathode ray tube, and FIG. IA
FIG. 3 is a sectional view taken along line IA.

【図2】電子ビームの走査方向の他の例を示す説明図で
ある。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing another example of a scanning direction of an electron beam.

【図3】インデックス信号出力用キャパシタとリファレ
ンス信号出力用キャパシタとの構成について示す断面図
である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a configuration of an index signal output capacitor and a reference signal output capacitor.

【図4】図3に示した各信号出力用キャパシタにおける
電極部分の構造を示す図であり、(A)は、外部電極部
分の構造を示し、(B)は、内部電極部分の構造を示し
ている。
4A and 4B are diagrams illustrating a structure of an electrode portion in each signal output capacitor illustrated in FIG. 3, wherein FIG. 4A illustrates a structure of an external electrode portion, and FIG. 4B illustrates a structure of an internal electrode portion; ing.

【図5】各信号出力用キャパシタにおける電極部分の構
造の他の例について示す構造図である。
FIG. 5 is a structural diagram showing another example of the structure of the electrode portion in each signal output capacitor.

【図6】各信号出力用キャパシタの形成位置について説
明するための陰極線管の背面図である。
FIG. 6 is a rear view of the cathode ray tube for explaining a formation position of each signal output capacitor.

【図7】インデックス情報信号を抽出するための回路例
を示す回路図である。
FIG. 7 is a circuit diagram showing a circuit example for extracting an index information signal.

【図8】図1に示した陰極線管における信号処理回路の
構成を示すブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram showing a configuration of a signal processing circuit in the cathode ray tube shown in FIG.

【図9】図1に示した陰極線管におけるインデックス電
極の構造およびこのインデックス電極を用いた位置検出
動作を示す説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing a structure of an index electrode in the cathode ray tube shown in FIG. 1 and a position detecting operation using the index electrode.

【図10】縦方向に主走査を行う場合におけるインデッ
クス電極の構造およびこのインデックス電極を用いた位
置検出動作を示す説明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing a structure of an index electrode and a position detection operation using the index electrode when performing main scanning in a vertical direction.

【図11】図3に示したリファレンス信号出力用キャパ
シタの比較例について示す断面図である。
11 is a sectional view showing a comparative example of the reference signal output capacitor shown in FIG. 3;

【図12】図11に示した各信号出力用キャパシタにお
ける電極部分の構造を示す図であり、(A)は、外部電
極部分の構造を示し、(B)は、内部電極部分の構造を
示している。
12A and 12B are diagrams illustrating a structure of an electrode portion in each of the signal output capacitors illustrated in FIG. 11, wherein FIG. 12A illustrates a structure of an external electrode portion, and FIG. 12B illustrates a structure of an internal electrode portion; ing.

【図13】リファレンス信号とインデックス検出信号と
における位相差が小さい場合の各信号の波形を示す波形
図である。
FIG. 13 is a waveform chart showing the waveform of each signal when the phase difference between the reference signal and the index detection signal is small.

【図14】リファレンス信号とインデックス検出信号と
における位相差が大きい場合の各信号の波形を示す波形
図である。
FIG. 14 is a waveform diagram showing the waveform of each signal when the phase difference between the reference signal and the index detection signal is large.

【図15】インデックス検出信号に対するリファレンス
信号の位相差を、各信号取り出し方法の組み合わせ毎に
具体的な数値で示した説明図である。
FIG. 15 is an explanatory diagram showing a phase difference between a reference signal and an index detection signal by a specific numerical value for each combination of signal extraction methods.

【図16】図13に示した信号波形の取り出しに用いた
各電極の大きさなどの数値を示す説明図である。
16 is an explanatory diagram showing numerical values such as the size of each electrode used for extracting the signal waveform shown in FIG.

【図17】図16とは異なる取り出し方法を適用した場
合における信号出力用キャパシタの内部電極の大きさな
どの具体的な数値を示す説明図である。
FIG. 17 is an explanatory diagram showing specific numerical values such as the size of an internal electrode of a signal output capacitor when a take-out method different from FIG. 16 is applied.

【図18】インデックス電極からの出力信号に含まれる
インデックス情報信号と不要信号成分とについて示す説
明図である。
FIG. 18 is an explanatory diagram showing an index information signal and an unnecessary signal component included in an output signal from an index electrode.

【図19】図18に示したインデックス信号部分の拡大
図である。
19 is an enlarged view of an index signal portion shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

C10…インデックス信号出力用キャパシタ、C20,
C21…リファレンス信号出力用キャパシタ、OS…過
走査領域、Sind…インデックス検出信号、Sr ef…リフ
ァレンス信号、S2…インデックス情報信号、S3L,
S3R…変調信号、S4…補正信号、5L,5R…電子
ビーム、10…パネル部、11A…蛍光面、11B…管
面、13…フレーム、20…ファンネル部、21L,2
1R…偏向ヨーク、22…内部導電膜、23…外部導電
膜、30L,30R…ネック部、31L,31R…電子
銃、32L,32R…コンバーゼンスヨーク、41…イ
ンデックス信号出力用外部電極、42…インデックス信
号出力用内部電極、43,46…誘電体部、44…リフ
ァレンス信号出力用外部電極、45…リファレンス信号
出力用内部電極、50…信号抽出回路、53…差分回
路、70,70A…インデックス電極、105…インデ
ックス信号処理回路、108…偏向回路。
C10: Index signal output capacitor, C20,
C21 ... reference signal output capacitors, OS ... overscan area, S ind ... index detection signal, S r ef ... reference signal, S2 ... index information signals, S3L,
S3R: modulation signal, S4: correction signal, 5L, 5R: electron beam, 10: panel unit, 11A: fluorescent screen, 11B: tube surface, 13: frame, 20: funnel unit, 21L, 2
1R: deflection yoke, 22: internal conductive film, 23: external conductive film, 30L, 30R: neck portion, 31L, 31R: electron gun, 32L, 32R: convergence yoke, 41: index signal output external electrode, 42: index Internal electrodes for signal output, 43, 46: dielectric portion, 44: external electrodes for reference signal output, 45: internal electrodes for reference signal output, 50: signal extraction circuit, 53: difference circuit, 70, 70A: index electrode, 105: index signal processing circuit; 108: deflection circuit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04N 5/68 H04N 5/68 Z 9/16 9/16 9/24 9/24 C ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H04N 5/68 H04N 5/68 Z 9/16 9/16 9/24 9/24 C

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 外囲器と、 アノード電圧が供給されるアノード電圧部と、 有効画面領域および前記有効画面外の過走査領域の走査
を行うための電子ビームを放射する電子銃と、 前記外囲器の内部における前記過走査領域に設けられ、
前記電子ビームの入射に応じて電気的な検出信号を出力
する電子ビーム検出手段と、 前記外囲器の一部を利用して形成され、前記電子ビーム
検出手段から出力された検出信号を前記外囲器の外部に
出力するよう構成された第1のキャパシタと、 前記アノード電圧部に接続されると共に、前記アノード
電圧に応じたリファレンス信号を前記外囲器の外部に出
力するよう構成された第2のキャパシタと を備え、 前記第2のキャパシタが、前記外囲器の一部を利用して
実質的に前記第1のキャパシタと同一構造で形成されて
いると共に、前記第1のキャパシタと前記第2のキャパ
シタとが、前記検出信号と前記リファレンス信号との位
相差が所望の範囲内に収まる程度に近接して配置されて
いることを特徴とする陰極線管。
1. An envelope, an anode voltage section to which an anode voltage is supplied, an electron gun that emits an electron beam for scanning an effective screen area and an overscan area outside the effective screen, Provided in the overscanning area inside the enclosure,
Electron beam detection means for outputting an electrical detection signal in response to the incidence of the electron beam; and a detection signal which is formed using a part of the envelope and is output from the electron beam detection means. A first capacitor configured to output to the outside of the envelope; and a first capacitor connected to the anode voltage unit and configured to output a reference signal corresponding to the anode voltage to outside of the envelope. A second capacitor, wherein the second capacitor is formed to have substantially the same structure as the first capacitor by using a part of the envelope, and the second capacitor has the same structure as the first capacitor. A cathode ray tube, wherein the second capacitor is arranged so close that the phase difference between the detection signal and the reference signal falls within a desired range.
【請求項2】 前記外囲器は、誘電性を有する構成要素
を含んで構成されると共に、内面が、前記導電性の内部
導電膜によって部分的に覆われて構成され、前記第1の
キャパシタは、 前記誘電性を有する構成要素の一部を利用して形成され
た第1の誘電体部と、前記電子ビーム検出手段に接続さ
れると共に、前記外囲器の内面における前記内部導電膜
が設けられていない領域に取り付けられた第1の内部電
極と、前記第1の誘電体部を介して前記第1の内部電極
に対向配置された第1の外部電極とを含んで構成され、 前記第2のキャパシタは、 前記誘電性を有する構成要素の一部を利用して形成され
た第2の誘電体部と、前記アノード電圧部に接続される
と共に、前記外囲器の内面における前記内部導電膜が設
けられていない領域に取り付けられた第2の内部電極
と、前記第2の誘電体部を介して前記内部電極に対向配
置された第2の外部電極とを含んで構成されていること
を特徴とする請求項1記載の陰極線管。
2. The container according to claim 1, wherein the envelope includes a component having a dielectric property, and an inner surface is partially covered with the conductive internal conductive film. A first dielectric portion formed by utilizing a part of the component having the dielectric property, and the internal conductive film on the inner surface of the envelope while being connected to the electron beam detecting means. A first internal electrode attached to a region not provided, and a first external electrode disposed to face the first internal electrode via the first dielectric portion, The second capacitor is connected to a second dielectric portion formed by using a part of the component having the dielectric property and the anode voltage portion, and is provided on the inner surface of the envelope. Attached to the area where the conductive film is not provided 2. The semiconductor device according to claim 1, further comprising a second internal electrode provided and a second external electrode disposed to face the internal electrode via the second dielectric portion. Cathode ray tube.
【請求項3】 前記電子銃を複数備えると共に、前記複
数の電子銃から放射されたそれぞれの電子ビームによっ
て前記有効画面領域および前記過走査領域の走査を行
い、その走査によって形成される複数の分割画面を部分
的に重複させて繋ぎ合わせることにより、単一の画面を
形成して画像表示を行うよう構成されていることを特徴
とする請求項1記載の陰極線管。
3. A plurality of electron guns, wherein the effective screen area and the overscan area are scanned by respective electron beams emitted from the plurality of electron guns, and a plurality of divisions formed by the scanning are performed. 2. The cathode ray tube according to claim 1, wherein a single screen is formed and an image is displayed by partially overlapping and connecting the screens.
【請求項4】 外囲器と、アノード電圧が供給されるア
ノード電圧部と、有効画面領域および前記有効画面外の
過走査領域の走査を行うための電子ビームを放射する電
子銃とを備え、前記過走査領域を走査する前記電子ビー
ムの入射に応じて電気的な検出信号を前記外囲器の外部
に出力すると共に、前記アノード電圧部に供給された前
記アノード電圧に応じたリファレンス信号を前記外囲器
の外部に出力するよう構成された陰極線管における信号
検出方法であって、 前記検出信号と前記リファレンス信号とを、前記外囲器
の一部を利用して実質的に同一方法で、かつ、その位相
差が所望の範囲内に収まる程度に近接した位置から、前
記外囲器の外部に出力するようにしたことを特徴とする
陰極線管における信号検出方法。
4. An envelope, an anode voltage section to which an anode voltage is supplied, and an electron gun for emitting an electron beam for scanning an effective screen area and an overscan area outside the effective screen, Outputting an electrical detection signal to the outside of the envelope in response to the incidence of the electron beam that scans the overscan region, and outputting a reference signal corresponding to the anode voltage supplied to the anode voltage unit. A signal detection method in a cathode ray tube configured to output to the outside of an envelope, wherein the detection signal and the reference signal are substantially the same using a part of the envelope, A signal detection method in a cathode ray tube, wherein the signal is output to the outside of the envelope from a position close enough that the phase difference falls within a desired range.
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