JP2002092059A - System for designing wiring of printed wiring board - Google Patents

System for designing wiring of printed wiring board

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JP2002092059A
JP2002092059A JP2000282749A JP2000282749A JP2002092059A JP 2002092059 A JP2002092059 A JP 2002092059A JP 2000282749 A JP2000282749 A JP 2000282749A JP 2000282749 A JP2000282749 A JP 2000282749A JP 2002092059 A JP2002092059 A JP 2002092059A
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JP
Japan
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wiring
information
condition
design
board
Prior art date
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Application number
JP2000282749A
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Japanese (ja)
Inventor
Seiichi Yamaguchi
聖一 山口
Satoshi Yoshino
悟志 吉野
Tomoki Yamada
智樹 山田
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SOHWA CORP
Original Assignee
SOHWA CORP
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a system for designing the writing of a printed wiring board capable of eliminating any resuming process. SOLUTION: A circuit diagram based on specifications is generated, and NET information 22, component information 23 and manufacture information 24 are collected, the shortage of the component information is checked (25), and when the component information is short, the similar component information is added (26). Then, constraint information 27 including inter-line distance calculation 28, wiring length condition preparation 29, damping resistance value calculation 30 for impedance matching and wiring width calculation 31 is calculated, and its transition to arrangement/wiring processing 32 is performed. The arrangement/wiring processing is generated from the constraint information and the manufacture information 24, and when the result of wiring is compared with the constraint information (33), the constraint information is not fulfilled in most cases. Therefore, relaxing information 34 is added for making up for the difference, and it is verified that the constraint condition is fulfilled (35), and in the case of N.G., the design of the arrangement/wiring processing is changed, and in the case of OK, the data are adopted as board data (36).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、プリント配線基
板の設計システムに関し、特にNET情報や回路素子情
報を含む回路情報を入力し、プリント配線基板設計に必
要な条件を事前に取り決めたアルゴリズム、あるいは変
更可能な制約した因数(緩和情報)をもとに自動抽出す
るコンピュータ・システムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board design system, and more particularly, to an algorithm in which circuit information including NET information and circuit element information is input and conditions necessary for printed wiring board design are determined in advance. The present invention relates to a computer system for automatically extracting based on a variable factor (relaxation information) that can be changed.

【0002】[0002]

【従来の技術】図1に従来のプリント回路基板の設計・
製造フローを示す。従来は、まず製品仕様1に基づき回
路情報(2,3)を作成し、次にパターン情報(4,
5)を作成し、実際の配線板を作る(6)。この場合、
各フェーズでは、それぞれNET情報、部品情報とパタ
ーン情報(配線情報)が組み合わされる。なお、NET
情報とは、回路素子間の接続情報を意味する。
2. Description of the Related Art FIG.
2 shows a manufacturing flow. Conventionally, circuit information (2, 3) is first created based on product specification 1, and then pattern information (4, 3) is created.
5) is prepared, and an actual wiring board is prepared (6). in this case,
In each phase, NET information, component information, and pattern information (wiring information) are combined. NET
The information means connection information between circuit elements.

【0003】しかし、この方法は、回路情報と配線情
報、特に配線情報の設計は、人間の経験やセンスに負う
ところが多く、均質で短時間に処理することが難しいと
いう問題がある。また、近年回路動作周波数が高速化さ
れており、一度設計されたパターン情報が仕様を満足す
るかどうかを事前にシミュレーションで検討し、不都合
があると再設計しなければならず、ますます設計に時間
がかかり生産性が悪いという問題があった。
However, this method has a problem that the design of circuit information and wiring information, particularly wiring information, often depends on human experience and sense, and it is difficult to process the information uniformly and in a short time. In recent years, the circuit operating frequency has been increased, and it is necessary to consider beforehand whether or not the designed pattern information satisfies the specifications by simulation in advance, and to redesign if there is any inconvenience. There is a problem that it takes time and productivity is low.

【0004】また、一般的に動作周波数の高い信号の配
線についてはその条件がいろいろ研究はされているが、
実際の回路ではその他の要素、例えば面積的要素、他の
低速回路の要素、理論的な条件出しをするのに必要な情
報の不足、回路設計とパターン設計の分業化による情報
の流動性の不足等により文献どおり設計することが困難
であった。
In general, various conditions have been studied for the wiring of signals having a high operating frequency.
Other elements in the actual circuit, such as area factors, other low-speed circuit elements, lack of information necessary to set theoretical conditions, lack of information flow due to division of labor between circuit design and pattern design For example, it was difficult to design as described in the literature.

【0005】この従来のプリント回路基板の設計フロー
を図2に示し詳述すると、図2(a)は、配置・配線を
実験によって評価しているが、実験結果が不良の場合は
基板作成をやり直すことになるので、無駄が多い。図2
(b)は、配置・配線をシミュレーションによって評価
しているが、やはり結果が不良の場合は基板作成をやり
直すことになる。シミュレーションにより制約条件を解
析して配置・配線を決めていく図2(c)の場合も、制
約条件を満足するためには繰り返しの作業が必要にな
り、また制約条件の作成に一定の時間を必要とする。
FIG. 2 shows the design flow of this conventional printed circuit board. FIG. 2 (a) shows that the layout and wiring are evaluated by experiments. There is a lot of waste because you have to start over. FIG.
In (b), the placement / wiring is evaluated by simulation, but if the result is still bad, the substrate is created again. In the case of FIG. 2 (c) in which the constraint conditions are analyzed by simulation to determine the placement / wiring, repetitive work is required to satisfy the constraint conditions, and a certain amount of time is required for creating the constraint conditions. I need.

【0006】以下、従来の問題点を整理すると、以下の
通りである。 ・実験やシミュレータなどを利用した解析には専門知識
を有した人間の技術が必要であ り、対応できる量に限
界がある。 ・デザインルールの作成には専門知識を有した人間の判
断が必要であり、対応できる量に限界がある。 ・専門知識を有する人材が不足している。 ・専門知識を有するに到る教育にはコストと時間が必要
である。 ・デザインルールの作成にあたり利用するシミュレータ
などの解析ツールや支援ツールを一人一台設備投資する
必要がある。 ・実験やシミュレータなどを利用した解析やその準備に
は一定の時間が必要であり、一般に製品開発の遅延に繋
がっている。 ・実験やシミュレータなどによる解析結果から判断して
デザインルールを作成するには一定の時間が必要であ
り、一般に製品開発の遅延に繋がっている。 ・解析する人間のレベルにより解析方法や範囲が異な
り、それが品質のバラツキに繋がっている。 ・判断する人間のレベルにより判断内容にもバラツキが
あり、それが品質のバラツキに繋がっている。 ・重複する実験やシミュレータなどを利用した重複した
解析を複数時期や複数箇所や複数製品で発生しており無
駄が生じている。
Hereinafter, problems of the related art will be summarized as follows.・ Experiments and analysis using simulators require human skills with specialized knowledge, and the amount that can be handled is limited. -The creation of design rules requires the judgment of a person with specialized knowledge, and the amount that can be handled is limited.・ Insufficient human resources with specialized knowledge.・ Education to have specialized knowledge requires cost and time.・ Each person needs to invest in analytical tools and support tools, such as simulators, used to create design rules.・ A certain amount of time is required for analysis and preparation using experiments and simulators, which generally leads to delays in product development. -It takes a certain amount of time to create design rules based on the results of analysis by experiments and simulators, which generally leads to delays in product development. -The analysis method and range differ depending on the level of the human being analyzed, which leads to variation in quality. -The content of the judgment varies depending on the level of the person who makes the judgment, which leads to the variation in quality. -Duplicate analyzes using duplicate experiments and simulators are occurring at multiple periods, multiple locations, and multiple products, resulting in waste.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】この発明は、上記やり
直しの過程を無くしたプリント配線基板の配線設計シス
テムを提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a wiring design system for a printed wiring board which eliminates the process of redoing.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題に鑑
みてなされたもので、NET 情報や回路素子情報を含む回
路情報を入力とし配線設計に必要な条件を事前に取り決
めたアルゴリズム又は、変更可能な制約した因数(緩和
情報)を基に出力するコンピュータシステムである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and has been made in consideration of an algorithm or an algorithm in which circuit information including NET information and circuit element information is input and conditions necessary for wiring design are determined in advance. This is a computer system that outputs based on a constrained factor (relaxation information) that can be changed.

【0009】回路設計後に出力される、回路素子間の接
続情報と部品の性能に関わる部品情報及び回路情報(そ
の部品の性質を示す情報)を入力、部品情報に不足が無
いかの判断を行う。一般的に部品情報とは、IBIS,SPICE
モデルと呼ばれる情報であり、前記のシミュレーション
装置等により使用される。もし、部品情報に不足があれ
ば、過去に使用した部品情報を基に類似の部品情報を付
加する。この場合、統計的な手法により付加しても良い
が、そのケースで最も厳しい値としてもよい。
[0009] The connection information between circuit elements and the component information and circuit information (information indicating the properties of the component) output after the circuit design, which are related to the performance of the component, are input, and it is determined whether the component information is sufficient. . Generally, part information is IBIS, SPICE
This is information called a model, and is used by the above-described simulation device or the like. If there is insufficient component information, similar component information is added based on component information used in the past. In this case, the value may be added by a statistical method, but may be set to the strictest value in that case.

【0010】以上の情報を基に、配線制約情報を作成す
る。この中には、信号の挙動を決定する配線長を決定す
るのに駆動素子能力と負荷容量を用いる。又、駆動素子
と線路インピーダンスを合わせるため、パターン幅とダ
ンピング抵抗値が決定される。ダンピング抵抗値は、線
路間の実装する位置により可変とする。最後に各パター
ン間の漏話を防止するための間隙を駆動素子能力と配線
長から決定する。
[0010] Based on the above information, wiring constraint information is created. Among them, the driving element capability and the load capacitance are used to determine the wiring length that determines the behavior of the signal. In addition, the pattern width and the damping resistance value are determined in order to match the drive element with the line impedance. The damping resistance value is variable depending on the mounting position between the lines. Finally, a gap for preventing crosstalk between the patterns is determined from the driving element capability and the wiring length.

【0011】以上より得られた各種制約情報により、配
置配線処理を行う。この場合全てが制約条件以内で処理
できれば問題無いが現実的には困難である。そこで制約
条件と結果を比較手段により比較し、緩和情報を付加し
最終的に良否を判断し、製造データへの移行を行う。
The placement and routing process is performed based on the various types of constraint information obtained as described above. In this case, there is no problem if everything can be processed within the constraints, but it is practically difficult. Therefore, the constraint condition and the result are compared by the comparing means, the relaxation information is added, and finally the pass / fail is determined, and the transfer to the manufacturing data is performed.

【0012】この発明のプリント配線基板の配線設計シ
ステムは、デバイスの能力情報から、取り決められた抽
出条件またはその都度取り決める抽出条件を基に設計制
約条件または設計許容条件を抽出し、制約条件を満足で
きなかった処理に対して、緩和情報を付加することによ
りそのプロセスで処理し、上流への帰還処理(すなわ
ち、前のステップからのやり直し)を無くした点に最大
の特徴がある。このようにすることにより、何遍もフィ
ード・バックして配線設計等をやり直す無駄が省け、短
時間で仕様を満足する配線設計が可能となる。
A wiring design system for a printed wiring board according to the present invention extracts a design constraint condition or a design permissible condition from device capability information based on determined extraction conditions or extraction conditions determined each time, and satisfies the restriction conditions. The greatest feature is that the process that could not be performed is processed by adding relaxation information to the process, and the process of returning to the upstream (that is, redoing from the previous step) is eliminated. By doing so, it is possible to eliminate the need to repeatedly feed back and redesign wiring and the like, and to achieve wiring design that satisfies the specifications in a short time.

【0013】すなわち、この発明のプリント配線基板の
設計方法は、製品仕様に基づく回路情報、NET情報、
部品情報から取り決めた抽出条件又はその都度取り決め
る抽出条件を基に設計制約条件または設計許容条件を抽
出して配置・配線処理を行い、上記制約条件または設計
許容条件を満足できなかった配置・配線処理に対して緩
和条件を付加することにより、回路情報や配置・配線の
作り直しをすることなく基板データを作成することを特
徴とする。
That is, the method for designing a printed wiring board according to the present invention includes circuit information, NET information,
Based on the extraction conditions determined from the component information or the extraction conditions determined each time, the design constraints or design permissible conditions are extracted and the placement / routing process is performed. By adding a relaxation condition, the circuit data is created without recreating the circuit information and the arrangement / wiring.

【0014】また、前記制約条件が間隙の算出、配線長
条件の作成、ダンピング抵抗値の算出、配線幅の算出を
含み、まずインピーダンス・マッチングを行うことを特
徴とし、前記設計許容条件が、CLK信号系の送信IC
の出力波形を無視する条件を含むことを特徴とする。
Further, the constraint conditions include calculation of a gap, preparation of a wiring length condition, calculation of a damping resistance value, and calculation of a wiring width, wherein impedance matching is first performed. Signaling transmission IC
Is characterized by including a condition for ignoring the output waveform.

【0015】さらに、前記緩和条件が、多段接続の場合
のCLK信号の各レシーバ・ピンにおける立ち上がり波
形に棚ができないように、配線長を短くするか、バッフ
ァーを追加するか、立ち上がり時間の遅いバッファーを
採用するか、並列終端とする等のいずれかの変更を含む
ことを特徴とする。
Further, the relaxation condition may be such that the rising waveform at each receiver pin of the CLK signal in the case of multi-stage connection does not have a shelf, so that the wiring length is shortened, a buffer is added, or a buffer having a slow rising time is used. Or a change such as a parallel termination.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】図3に、この発明のプリント配線
基板の配線設計システムのフローの概念図が示される。
図3に示すように、制約条件を満足できなかった処理に
対して、緩和情報17を配置14や配線15に付加する
ことにより従来のようにやり直し処理(上流への帰還)
を行うことなく仕様を満足させる。
FIG. 3 is a conceptual diagram showing a flow of a wiring design system for a printed wiring board according to the present invention.
As shown in FIG. 3, for a process that cannot satisfy the constraint condition, the relaxation information 17 is added to the arrangement 14 and the wiring 15 to perform the process again as in the related art (return to the upstream).
Satisfy the specifications without performing.

【0017】図4に、さらに詳細なこの発明のプリント
配線基板の配線設計システムのフローが示される。図1
と同様に、まず仕様に基づき回路図が作成される(過程
20)とNET情報22、部品情報23、製造情報24
が集められ、部品情報の不足がないかどうかチェックさ
れる(過程25)。部品情報が不足している時は類似の
部品情報を付加して用いる(過程26)。次いで、線路
間の間隙の算出28、配線長条件の作成29、インピー
ダンス・マッチングのためのダンピング抵抗値の算出3
0、配線幅の算出31等の制約情報27が計算され、配
置・配線処理32に移行する。当初、配置・配線処理
は、NET情報22、部品情報23、製造情報24から
作成されるが、上記制約情報との比較(過程33)を行
うとたいていの場合1回では上記制約条件を満足しな
い。従って、上記比較の差分を埋めるべく緩和情報34
を加え、制約条件を満たすかどうか検証する(過程3
5)。NGの場合は、後述する設計変更を配置・配線処
理に加え、緩和情報との一致を見たらOKとなり、基板
データとして採用する(過程36)。
FIG. 4 shows a more detailed flow of the printed wiring board wiring design system of the present invention. FIG.
In the same manner as described above, first, a circuit diagram is created based on specifications (step 20), and NET information 22, component information 23, and
Are collected and checked for lack of parts information (step 25). When the component information is insufficient, similar component information is added and used (step 26). Next, calculation of the gap between the lines 28, preparation of the wiring length condition 29, calculation of the damping resistance value for impedance matching 3
The constraint information 27 such as 0 and the calculation 31 of the wiring width is calculated. Initially, the placement / wiring process is created from the NET information 22, the component information 23, and the manufacturing information 24, but when compared with the constraint information (step 33), the constraint condition is not satisfied at most once in most cases. . Therefore, the mitigation information 34 is used to fill the difference of the comparison.
And verify whether the constraints are satisfied (Step 3)
5). In the case of NG, a design change described later is added to the placement / wiring processing, and if a match with the relaxation information is found, the result is OK and adopted as substrate data (step 36).

【0018】このシステムの内部構成が図5に示され
る。図5において、NET情報22は、信号の重要度を
後述するように信号の種類によって判別し、部品情報2
3はLOGICに従って、まずインピーダンス・マッチ
ングが考慮される(37)。次いで接続付加数が複数の
場合に最大配線長抽出を行い(39)、配線方法を抽出
する(40)。なお、接続付加数が1対1接続の場合
は、後述するように緩和条件を満足するものとして最大
配線長を考慮しない。配線方法が決まったら、具体的な
配置・配線に移行する(41)。
FIG. 5 shows the internal configuration of this system. In FIG. 5, the NET information 22 determines the degree of importance of the signal based on the type of the signal as described later.
In accordance with LOGIC 3, impedance matching is first considered (37). Next, when the number of additional connections is plural, the maximum wiring length is extracted (39), and the wiring method is extracted (40). When the number of added connections is one-to-one connection, the maximum wiring length is not considered as satisfying the relaxation condition as described later. When the wiring method is determined, the process shifts to specific arrangement and wiring (41).

【0019】図6には、前記図4の制約情報27の処理
に関するさらに詳細なフローを示す。プリント基板に
は、その層構成42と配線幅43は標準的にほぼ決まっ
ているので、これらを基に線路の特性インピーダンスを
計算する(過程44)。NET情報22、部品情報23
からは、後述する出力インピーダンスの算出(過程4
5)、タイミング情報の算出(過程46),緩和情報の
検討(過程47)が行われる。算出された出力インピー
ダンスと線路の特性インピーダンスが比較され(過程4
8)、インピーダンス・マッチングが検証される(過程
49)。マッチングが取れていないときは、パターン幅
変更(51)、ダンピング抵抗値の変更(52)や追加
(53)、あるいは層構成の変更(54)が検討されイ
ンピーダンス・マッチングが取られる。インピーダンス
・マッチング(整合)が取れると、次に信号の種類に応
じて対応が変わり(過程56)、CLK(クロック信
号)の場合は、CLK信号の配線制約情報に従って配線
長の調整を行う(過程57)。また、信号すべてについ
てタイミング条件を付加し(58)、最後に配線制約情
報の検討を行い(過程59)、制約条件を満足しない部
分については前記緩和条件を加味して制約条件を満足さ
せ、具体的配置・配線を行う(過程60,61)。これ
らが本装置の出力となる。
FIG. 6 shows a more detailed flow relating to the processing of the constraint information 27 of FIG. Since the layer structure 42 and the wiring width 43 of the printed circuit board are almost fixed as a standard, the characteristic impedance of the line is calculated based on these (step 44). NET information 22, parts information 23
From the calculation of the output impedance described later (step 4)
5), calculation of timing information (step 46), and review of relaxation information (step 47) are performed. The calculated output impedance is compared with the characteristic impedance of the line (Step 4).
8) The impedance matching is verified (step 49). If the matching has not been achieved, a change in the pattern width (51), a change (52) or addition (53) in the damping resistance value, or a change (54) in the layer configuration is considered and impedance matching is performed. After the impedance matching (matching) is obtained, the correspondence is changed according to the type of signal (step 56). In the case of CLK (clock signal), the wiring length is adjusted according to the wiring restriction information of the CLK signal (step 56). 57). In addition, timing conditions are added to all signals (58), and finally wiring constraint information is examined (step 59). For parts that do not satisfy the constraint conditions, the constraint conditions are satisfied by taking into account the relaxation conditions. (Steps 60 and 61). These are the outputs of the device.

【0020】図7には、周知の線路特性インピーダンス
の計算式(一般式)が示される。出力インピーダンスの
定義等は、図28に示されるように周知である。また、
この発明に用いるマイクロストリップラインやストリッ
プラインの各パラメータの計算式が図29〜図32に示
される。
FIG. 7 shows a known formula (general formula) for calculating the characteristic impedance of a line. The definition of the output impedance and the like are well known as shown in FIG. Also,
The equations for calculating the parameters of the microstrip line and strip line used in the present invention are shown in FIGS.

【0021】図8には、ダンピング抵抗を入れた場合の
インピーダンス・マッチングの概念図を示す。ダンピン
グ抵抗75によって送信ICの出力インピーダンスRs
と線路の特性インピーダンスZoとのミスマッチが調整
される。これらの基本設計が終わったら、以下の緩和条
件を検討し、再度回路の配置・配線に大幅な変更を加え
ずに、基板設計を行う。すなわち、回路配置・配線の基
本構造に大幅な作り直しをしないで何とか仕様を満足さ
せるため、前記「緩和条件」を採用する。
FIG. 8 is a conceptual diagram of impedance matching when a damping resistor is inserted. The output impedance Rs of the transmission IC by the damping resistor 75
And the characteristic impedance Zo of the line are adjusted. After these basic designs are completed, the following relaxation conditions are examined, and the board is designed without making significant changes in circuit layout and wiring again. In other words, the above-mentioned “relaxation condition” is adopted in order to somehow satisfy the specifications without making significant changes to the basic structure of the circuit arrangement and wiring.

【0022】次に、この発明の最大の特徴である緩和情
報について説明する。図9には、緩和情報検討のフロー
チャートを示す。配置・配線処理82は、制約情報81
と照合され、制約情報を満足しなかった配線について緩
和情報84が検討される。これが図6の62の処理であ
る。
Next, the relaxation information which is the most significant feature of the present invention will be described. FIG. 9 shows a flowchart of the mitigation information study. The placement / wiring processing 82 includes the constraint information 81
And the relaxation information 84 is examined for the wiring that does not satisfy the constraint information. This is the process 62 in FIG.

【0023】ところで、図14,図15,図16に示さ
れるように、電子回路に用いられる信号にはCLK信号
(クロック・パルス)と信号パルスとが存在する。一般
に論理回路は、図16に示されるようにCLK信号が入
ってきたときに信号パルスの論理(1,0)を判断し、
論理出力を出すもの(例えば、セット・リセット・フリ
ップ・フロップ回路等)であり、CLK信号はパルスの
立ち上がり、立ち下がり部分で検出されるので、図14
に示されるようにCLK信号は立ち上がり110、立ち
下がり111部分が重要である。すなわち、ノイズが入
って誤動作を起こす領域は図14の116,117の部
分であって、例えばパルスの平坦部分112にノイズが
重畳されても回路動作にはさほど影響がない。この部分
はノイズOK領域となる。一方、CLK以外の信号パル
スは、CLK信号が入ってきたときに(1,0)のいず
れかの状態にあることが重要であるので、CLK信号と
は逆にパルス信号の平坦部分(図15の114)が安定
していることが重要である。従って、上記信号パルスに
はCLK信号の入ってくる時間118の前にSetup
Timeを、またCLK信号の入ってくる時間118
の後にHold Timeが設けられており、この期間
はノイズNG領域となっている。従って、信号パルスの
場合は、立ち上がり113や立ち下がり115の領域は
ノイズOK領域である。また、上記CLK信号と信号パ
ルスは同期を取る必要があるので、それぞれの配線長の
時間遅れが同じになるよう配慮される。なお、上記信号
パルスの平坦部分の波形が乱れるのはクロストークとか
ミス・マッチが原因となるが、インピーダンス・マッチ
ングや線路間の間隔を十分考慮すれば、上記平坦部分の
乱れによる誤動作は殆ど生じない。
As shown in FIGS. 14, 15 and 16, the signals used in the electronic circuit include a CLK signal (clock pulse) and a signal pulse. Generally, a logic circuit determines the logic (1, 0) of a signal pulse when a CLK signal comes in as shown in FIG.
Since a logic output is output (for example, a set / reset / flip / flop circuit) and the CLK signal is detected at the rising and falling portions of the pulse, FIG.
As shown in (1), the rising 110 and falling 111 portions of the CLK signal are important. In other words, the area where noise enters and malfunctions are indicated by reference numerals 116 and 117 in FIG. 14. For example, even if noise is superimposed on the flat portion 112 of the pulse, the circuit operation is not significantly affected. This portion becomes a noise OK area. On the other hand, since it is important that the signal pulse other than CLK is in one of the states (1, 0) when the CLK signal enters, a flat portion of the pulse signal (FIG. 15) is opposite to the CLK signal. It is important that (114) is stable. Therefore, the signal pulse is set up before the time 118 when the CLK signal enters.
Time and the incoming time of the CLK signal 118
Is followed by Hold Time, and this period is a noise NG area. Therefore, in the case of a signal pulse, the region of the rising 113 and the falling 115 is a noise OK region. Further, since the CLK signal and the signal pulse need to be synchronized, care is taken that the time delays of the respective wiring lengths are the same. Note that the waveform of the flat portion of the signal pulse is distorted due to crosstalk or mismatch. However, if impedance matching and the interval between lines are sufficiently considered, malfunctions due to the disturbance of the flat portion almost occur. Absent.

【0024】図33には、これらのタイミングの関係を
具体的な送信ICと受信IC間で表している。図33に
おいて、170は、送信ICのCLK信号(クロック)
であり、これが受信ICに伝搬遅延の後到達すると波形
171となる。同様に、172は送信IC出力端の信号
パルスであり、これが伝搬遅延して173の如く受信I
Cに達する。図33において、fは波長、tPDとは送信
IC(ASIC1)内でCLK信号が出力され、そのC
LK信号に同期して信号パルスが出力されるまでの内部
遅延を意味し、製造条件や使用条件等によりこの内部遅
延にはバラツキがある。従って、maxとminが表示
されている。
FIG. 33 shows the relationship between these timings between a specific transmitting IC and a specific receiving IC. In FIG. 33, reference numeral 170 denotes a CLK signal (clock) of the transmission IC.
When this arrives at the receiving IC after a propagation delay, the waveform becomes a waveform 171. Similarly, reference numeral 172 denotes a signal pulse at the output terminal of the transmitting IC, which delays the propagation and causes
Reach C. In FIG. 33, f is a wavelength, and t PD is a CLK signal output in the transmission IC (ASIC1).
This means an internal delay until a signal pulse is output in synchronization with the LK signal, and the internal delay varies depending on manufacturing conditions, use conditions, and the like. Therefore, max and min are displayed.

【0025】図33(b),(c)は、それぞれのIC
における波形を示したもので、174の点で信号が検出
されるのは前述したとおりである。図33は内部クロッ
クの場合であるが、図34は各ICへのCLK信号が外
部CLK源175から供給される場合であり、同様にA
SIC1に到達するCLK信号とASIC2に到達する
CLK信号との差がSkew Time176と表示さ
れる点を除いて、基本的動作は図33と同じである。
FIGS. 33B and 33C show the respective ICs.
The signal is detected at the point 174 as described above. FIG. 33 shows the case of the internal clock. FIG. 34 shows the case where the CLK signal to each IC is supplied from the external CLK source 175.
The basic operation is the same as in FIG. 33 except that the difference between the CLK signal reaching SIC1 and the CLK signal reaching ASIC2 is displayed as Skew Time 176.

【0026】さて、プリント配線基板の回路の線路は分
布定数線路で形成されており、その一般形が図10
(a)に示される。図10(a)において、90は送信
IC( ドライバ)、92,94は受信IC(レシー
バ)、91,93は線路上に設けられた分岐ピンであ
る。図において、送信ICの出力端は線路インピーダン
スとマッチングが取れている。従って、送信ICの出力
端には、電源電圧Vccの1/2の出力が生じる。1対1
接続の場合、図13(d)に示されるように、該出力は
線路上を伝搬し(106)、最終端105はオープンと
なっているので最終端で全反射され反射波107とな
る。すなわち、図10(b)に戻って、進行波95は最
終端Cで全反射し、該全反射によって最終端での信号電
圧はVccとなる。全反射された反射波は後退波96とな
って上記送信ICの出力端の方に伝搬する。この時のC
LK信号(クロック信号)の立ち上がり部分の波形の様
子を図11(a)、(b)に示す。
The circuit line of the printed wiring board is formed of a distributed constant line, and its general form is shown in FIG.
It is shown in FIG. In FIG. 10A, 90 is a transmitting IC (driver), 92 and 94 are receiving ICs (receivers), and 91 and 93 are branch pins provided on a line. In the figure, the output terminal of the transmission IC matches the line impedance. Therefore, an output of 1/2 of the power supply voltage Vcc is generated at the output terminal of the transmission IC. One-on-one
In the case of connection, as shown in FIG. 13D, the output propagates on the line (106), and since the final end 105 is open, it is totally reflected at the final end to become a reflected wave 107. That is, returning to FIG. 10B, the traveling wave 95 is totally reflected at the final end C, and the signal voltage at the final end becomes Vcc due to the total reflection. The totally reflected reflected wave becomes a backward wave 96 and propagates toward the output terminal of the transmission IC. C at this time
FIGS. 11A and 11B show waveforms at the rising portion of the LK signal (clock signal).

【0027】図11(a)において、A1は送信ICの
出力端における出力波形であり、その大きさは前述の如
く1/2Vccである。B1は、この出力がB点に達した
ときの波形であり、前記A1がA,B間の伝搬時間だけ
遅れて出現する。C1は同じく上記進行波のC点に生じ
る波形であり、A〜C間の伝搬時間分遅れて出現する。
C2は、そのC点に生じた波形が全反射によって生じた
波形である。当然のことながら、時間遅れはない。前記
入力波形が1/2Vccであるので、反射波はこれに重畳
されてC2のように1/2Vccから立ち上がり1/2V
ccの大きさ、すなわちVccまでの電圧波形となる。B2
は、この反射波がB点に達したときの波形である。該波
形は、C2よりC〜B間の伝搬時間だけ遅れて生じる。
同様に、A2は、この反射波がA点に達したときの波形
である。該波形は、C2よりC〜A間の伝搬時間だけ遅
れて生じる。
In FIG. 11A, A1 is an output waveform at the output terminal of the transmitting IC, and its magnitude is 1/2 Vcc as described above. B1 is a waveform when this output reaches point B, and A1 appears with a delay of the propagation time between A and B. C1 is a waveform generated at the point C of the traveling wave, and appears with a delay of the propagation time between A and C.
C2 is a waveform generated at the point C by total reflection. Naturally, there is no time delay. Since the input waveform is V Vcc, the reflected wave is superimposed on this and rises from V Vcc as shown by C 2 1 / V
The voltage waveform has a magnitude of cc, that is, a voltage waveform up to Vcc. B2
Is a waveform when the reflected wave reaches the point B. The waveform occurs after C2 by a propagation time between C and B.
Similarly, A2 is a waveform when the reflected wave reaches point A. The waveform occurs after C2 by a propagation time between C and A.

【0028】図12は、上記進行波と反射波が各点で合
成される様子を示す。図12のA,B,Cは、それぞれ
前記A,B,C点の合成波形である。すなわち、AはA
1+A2、BはB1+B2、CはC1+C2である。図
から、A点,B点にはパルスの立ち上がり特性の棚の部
分97,98が生じているのが分かる。C点の99の場
合は、時間遅れがないので進行波と反射波が単純加算さ
れた波形となる。
FIG. 12 shows how the traveling wave and the reflected wave are combined at each point. A, B, and C in FIG. 12 are composite waveforms at the points A, B, and C, respectively. That is, A is A
1 + A2, B is B1 + B2, and C is C1 + C2. From the figure, it can be seen that the points 97 and 98 of the pulse rising characteristics occur at the points A and B. In the case of point C, 99, there is no time delay, so that the waveform is a waveform obtained by simply adding the traveling wave and the reflected wave.

【0029】前述の如く、CLK信号の場合、この立ち
上がり又は立ち下がり部分で論理(1,0)を検出する
ので、CLK信号に上記棚の部分ができるのは誤動作の
元となり、配線設計では避けなければならない。ただ
し、該波形が問題となるのはレシーバー・ピン(例え
ば、前記B,C点)であって、送信ICの出力端Aでの
波形の崩れは回路動作に影響はない。従って、この発明
では送信ICの出力端Aでの波形の崩れは無視する設計
となっている。これがこの発明における「緩和条件」の
基本である。
As described above, in the case of the CLK signal, since the logic (1, 0) is detected at the rising or falling portion, the formation of the above-mentioned shelf portion in the CLK signal is a cause of malfunction, and should be avoided in the wiring design. There must be. However, the waveform is a problem at the receiver pins (for example, the points B and C), and the waveform collapse at the output terminal A of the transmission IC does not affect the circuit operation. Therefore, in the present invention, the collapse of the waveform at the output terminal A of the transmission IC is designed to be ignored. This is the basis of the "relaxation condition" in the present invention.

【0030】前記棚部分のできる理由を図13を用いて
説明すると、図13(d)において、送信出力端又は最
初の受信端(PP)104から進行(106)し、最終
端105で反射されてPP点に戻る(107)の総時間
をTpdとし、前記図11(a)の立ち上がり時間をT
r/2とすると、図13(c)のようにTpd=Tr/
2の場合は、進行波と反射波の位相は一致し、きれいな
立ち上がり波形103となる。また、Tpd<Tr/2
の場合は、同図(b)のように進行波と反射波が一部分
重なり、重なった部分で合成電圧102となるが、図1
3(a)のような棚部分が生じないので問題はない。問
題は図13(a)の波形が生じる場合である。なお、上
記Tpdは、送信出力端又は最初の受信端(PP)から
最終端までの線路長によって決まる。
The reason why the shelf portion can be formed will be described with reference to FIG. 13. In FIG. 13 (d), the light proceeds from the transmission output end or the first reception end (PP) 104 (106) and is reflected at the final end 105. The total time of returning to the PP point (107) is defined as Tpd, and the rise time in FIG.
Assuming that r / 2, Tpd = Tr / as shown in FIG.
In the case of 2, the phases of the traveling wave and the reflected wave match, and a clear rising waveform 103 is obtained. Also, Tpd <Tr / 2
In the case of FIG. 1, the traveling wave and the reflected wave partially overlap as shown in FIG.
There is no problem because no shelf portion as shown in FIG. The problem is when the waveform of FIG. The Tpd is determined by the line length from the transmission output end or the first reception end (PP) to the last end.

【0031】従って、Tpd≦Tr/2であれば波形に
棚はできない。すなわち、図13(d)において、プロ
ーブ・ポイント(PP)→最終端の配線は、Tpd≦T
r/2であれば波形に棚ができない。この棚部分が生じ
るとなぜ回路に誤動作を生じるかは以下のとおりであ
る。
Therefore, if Tpd ≦ Tr / 2, no shelf can be formed in the waveform. That is, in FIG. 13D, the wiring at the probe point (PP) → the last end is Tpd ≦ T
If r / 2, no shelf can be formed in the waveform. The reason why the circuit malfunctions when this shelf portion occurs is as follows.

【0032】一般にパルス入力の論理(1,0)、すな
わちON−OFFの判定は図14のVIHとVILを上回っ
ている又は下回っているかで判定している。ところで、
前記立ち上がりの棚部分は実際には図13(e)の10
8に示す如く、一旦棚部分で下がりそれから2段目の立
ち上がりが生じるのでVIHとVIL間の論理不確定領域内
のある閾値を挟んでクロスする点が2,3個所生じてし
まう。これはその度に検出パルスが生じる(一般的にハ
ザード現象という。)ことを意味し、これは回路の誤動
作の原因となるのである。
[0032] it is determined generally logic pulse input (1,0), that is, whether the determination of the ON-OFF is below or exceeds the V IH and V IL of FIG. by the way,
The rising shelf portion is actually 10 in FIG.
As shown in FIG. 8, the first drop occurs at the shelf portion and then the second rise occurs, so that a few crossing points occur across a certain threshold in the logic uncertainty region between V IH and V IL . This means that a detection pulse is generated each time (generally called a hazard phenomenon), which causes a malfunction of the circuit.

【0033】前述の如く、該波形の棚部分が問題となる
のはパルスを検出するレシーバー・ピンの部分である。
従って、送信ICの出力端とレシーバー・ピンが1対1
接続の場合、レシーバー・ピンにおいて、前記立ち上が
り波形の棚部分が生じないのでタイミングが満足でき、
送信ICのA点の波形を無視すればタイミングを満足で
きる条件で最大配線長の考慮を行わなくてもよい。しか
し、例えば図10(a)に示す如く、送信ICの出力端
とレシーバー・ピンが1対複数の接続の場合、レシーバ
ー・ピンCにおいては、前記と同様に前記立ち上がり波
形の棚部分が生じないのでタイミングが満足できるが、
B点にはC点からの反射波に時間遅れが生じているの
で、B、C間の配線長が長いとそれぞれの波形が図11
にB1,B2と示される如くなり、合成波形が図12の
Bの如くなり棚部分が生じてしまう。
As mentioned above, the problem of the shelf portion of the waveform is that of the receiver pin for detecting the pulse.
Therefore, the output terminal of the transmission IC and the receiver pin have a one-to-one correspondence.
In the case of connection, the timing can be satisfied because no shelf portion of the rising waveform occurs at the receiver pin,
If the waveform at the point A of the transmitting IC is ignored, the maximum wiring length need not be considered under the condition that the timing can be satisfied. However, for example, as shown in FIG. 10A, when the output terminal of the transmission IC and the receiver pin are connected in a one-to-many connection, a shelf portion of the rising waveform does not occur at the receiver pin C as described above. So the timing is satisfactory,
Since the reflected wave from point C has a time delay at point B, if the wiring length between B and C is long, the respective waveforms are changed as shown in FIG.
As shown in FIG. 12B, the combined waveform becomes B1 and B2, and a shelf portion occurs.

【0034】以上の前提を基に、この発明の主題である
「緩和条件」の具体的説明を行う。図17に配線長の
「緩和条件」検討のフローチャートを示す。インピーダ
ンス・マッチングを考慮した回路の設計が定まる(過程
130)と、前記最大配線長(l)が計算される(過程
131)。最大配線長とは、前記CLK信号の立ち上が
りに棚部分の生じない最大遅延時間となる配線長のこと
である。次いで、回路より抽出された最大配線長を考慮
しながら配置作業が行われる(過程132)。次に、C
LK信号の各配線のマンハッタン長(lm )が計算され
る(過程133)。ここで「マンハッタン長」とは次の
ようなものである。
Based on the above assumptions, a specific description will be given of the "relaxation condition" which is the subject of the present invention. FIG. 17 shows a flowchart for studying the “relaxation condition” of the wiring length. When the circuit design considering the impedance matching is determined (step 130), the maximum wiring length (l) is calculated (step 131). The maximum wiring length is a wiring length that has a maximum delay time in which no shelf portion occurs at the rise of the CLK signal. Next, a placement operation is performed in consideration of the maximum wiring length extracted from the circuit (step 132). Next, C
The Manhattan length (lm) of each line of the LK signal is calculated (step 133). Here, the “Manhattan length” is as follows.

【0035】一般に、回路基板は層構造をなし、例えば
上層をX軸方向の配線、下層をY軸方向の配線とし、こ
れらをスルーホールで結んで目的の配線を実現する。こ
の時、斜めの配線は他の配線の邪魔になるので極く短い
場合を除いて原則として採用しない。従って、配線はま
ずX軸またはY軸方向に導き、その後直角にY軸方向ま
たはX軸方向に配線するのが一般的である。従って、上
記X軸上の配線の長さとY軸上の配線の長さを加算した
ものが通常配線長となり、これを「マンハッタン長」と
いう。
In general, a circuit board has a layered structure. For example, the upper layer is a wiring in the X-axis direction, the lower layer is a wiring in the Y-axis direction, and these are connected by through holes to realize a desired wiring. At this time, since the oblique wiring obstructs other wiring, it is not adopted in principle except for an extremely short wiring. Therefore, it is general that the wiring is first guided in the X-axis or Y-axis direction, and then wired at right angles in the Y-axis direction or the X-axis direction. Accordingly, the sum of the length of the wiring on the X axis and the length of the wiring on the Y axis is the normal wiring length, which is called "Manhattan length".

【0036】次に、l<lm の場合(過程134)、該
配線が多段接続かどうかが検証され(過程135)、1
対1接続の場合は緩和条件を満たすものとして配線をそ
のまま採用する。多段接続の場合は、最初の受信端から
最後の受信端までの配線長を短くする検討がなされる
(過程136)。これは前記図10(a)を例にとる
と、CLK信号の立ち上がりに棚部分が生じて問題とな
るのはB点であるので、B〜C間の配線長を短くすれば
B点のCLK信号の立ち上がりに棚部分が生じなくなる
ので緩和条件を満たすことになるからである。このよう
にして最初の受信端から最後の受信端間までの配線長が
l以下とし得るならば緩和条件を満たし、該配線を採用
する。
Next, if l <lm (step 134), it is verified whether the wiring is a multi-stage connection (step 135).
In the case of one-to-one connection, the wiring is adopted as it is because it satisfies the relaxation condition. In the case of multi-stage connection, consideration is given to reducing the wiring length from the first receiving end to the last receiving end (step 136). In the case of FIG. 10A as an example, since the point where the leading edge of the CLK signal has a ledge and causes a problem is point B, if the wiring length between B and C is shortened, the CLK at point B is reduced. This is because the rising portion of the signal no longer has a shelf portion, which satisfies the relaxation condition. In this way, if the wiring length from the first receiving end to the last receiving end can be 1 or less, the relaxation condition is satisfied and the wiring is adopted.

【0037】一方、該配線が困難な場合は、配線中にバ
ッファーを一つ追加して最初の受信端から最後の受信端
間が最大配線長以下になるように設計を変える(過程1
38)。バッファーの追加は、前記図10(a)の場合
は、B〜C間に行われる。これを図35に示す。
On the other hand, if the wiring is difficult, one buffer is added to the wiring and the design is changed so that the distance from the first receiving end to the last receiving end is equal to or less than the maximum wiring length (step 1).
38). The addition of the buffer is performed between B and C in the case of FIG. This is shown in FIG.

【0038】図35において、バッファーDを追加する
と、Dからの反射波が前記棚を作らない遅延でB点に達
するので、前記制約条件が満足される。すなわち、B〜
C間の配線長が実質的にB〜D間と短くなる効果があ
る。または、並列終端方式(過程140)を採用しても
よい。並列終端方式は特殊な解決方法であり、図36に
示される如く最終端を線路インピーダンス180で終端
するものである。終端のやり方は、図38に示される。
この場合、ドライバ183と線路インピーダンスのマッ
チングは取らない。
In FIG. 35, when the buffer D is added, the reflected wave from D reaches the point B with a delay that does not form the shelf, so that the above constraint is satisfied. That is, B ~
There is an effect that the wiring length between C is substantially shortened between B and D. Alternatively, a parallel termination scheme (step 140) may be employed. The parallel termination method is a special solution in which the terminal end is terminated with a line impedance 180 as shown in FIG. The termination scheme is shown in FIG.
In this case, matching between the driver 183 and the line impedance is not performed.

【0039】図36においてドライバ183の出力イン
ピーダンスは40Ωであるが、途中に取り付けられる線
路184,182の特性インピーダンスは65Ωのもの
である。
In FIG. 36, the output impedance of the driver 183 is 40Ω, but the characteristic impedance of the lines 184 and 182 attached on the way is 65Ω.

【0040】図37(a)〜(f)には上記線路182
の長さを種々変えた場合の各波形が示される。波形19
0,191間は殆ど遅延がないが、波形192は線路1
82の長さを長くするとどんどん遅れていく様子が分か
る。しかし、前記のように反射波が生じないので、受信
IC181の点で前記のようなCLK信号の波形に棚は
生じない。また、整合終端となり前記反射波生じないの
で前記と同様にドライバ183と線路インピーダンスの
マッチングを取るとCLK信号は1/2Vccしか電圧が
出ないが、上記のようにドライバ183と線路インピー
ダンスのマッチングは取らないので、配線条件によって
閾値以上の電圧まで電圧が生じるのである。あるいは、
バッファーをもっと立ち上がりの遅いものに変更する
(過程142)。バッファーの立ち上がりが遅ければ、
図11(a)のパルス立ち上がり時間Tr/2が遅くな
り、図13における許容し得るTpdを大きくすること
ができる。すなわち、最大配線長が大きくできる。な
お、上記136,138,140、142の調整手段
は、場合に応じて順番を入れ替えてもよい。
FIGS. 37A to 37F show the above-mentioned line 182.
Each waveform is shown when the length of is varied. Waveform 19
Although there is almost no delay between 0 and 191, the waveform 192 is
It can be seen that the longer the length of 82 is, the more it is delayed. However, since no reflected wave is generated as described above, no shelf occurs in the waveform of the CLK signal as described above at the receiving IC 181. In addition, since the reflected wave is not generated due to the matching termination, if the line impedance is matched with the driver 183 in the same manner as described above, only a voltage of 1/2 Vcc is output as the CLK signal. Since it is not taken, a voltage is generated up to a voltage higher than the threshold value depending on the wiring conditions. Or
The buffer is changed to one with a slower rise (step 142). If the buffer rises slowly,
The pulse rise time Tr / 2 in FIG. 11A is delayed, and the allowable Tpd in FIG. 13 can be increased. That is, the maximum wiring length can be increased. The order of the adjustment means of 136, 138, 140 and 142 may be changed as occasion demands.

【0041】以下、具体的な実施例について数値をいれ
て説明する。図18は、インピーダンス・マッチングを
行うための具体例である。まず、送信IC特性の確認を
行う。なお、図18における表151は、IBISモデ
ルにより記述された送信ICの部品情報である。例え
ば、最上段152の例でいうと、Vccが1.4000
(V)の場合、標準的には3.916×e-2(A)の電
流が流れることを意味する。なお、e+00は、e0
意味である。
Hereinafter, specific embodiments will be described with numerical values. FIG. 18 is a specific example for performing impedance matching. First, the transmission IC characteristics are confirmed. The table 151 in FIG. 18 is the component information of the transmission IC described by the IBIS model. For example, in the example of the uppermost stage 152, Vcc is 1.4000
In the case of (V), it means that a current of 3.916 × e −2 (A) typically flows. Here, e + 00 means e 0 .

【0042】図18(a)の場合、Vcc/2となる送信
ICの出力インピーダンスは約40Ωである。これはこ
の例では、Vccを3.3Vとしたので、これに対するV
cc/2が近い1.6Vの値で計算したものである。
In the case of FIG. 18A, the output impedance of the transmitting IC which becomes Vcc / 2 is about 40Ω. This is because Vcc is set to 3.3 V in this example,
It is calculated at a value of 1.6 V where cc / 2 is close.

【0043】次に、層構成から各配線幅における特性イ
ンピーダンス(Zo)を計算し、必要に応じてダンピン
グ抵抗150を挿入する。各配線の特性インピーダンス
は、前記図29〜32により計算される。例えば、線路
幅を154のように広くするとZ0 が40Ωとなりマッ
チングが取れるが、配置・配線の面積的制約から困難と
なる場合153のように線路幅を小さくすると75Ωと
なってしまうので、送信ICの出力側にダンピング抵抗
150を挿入して155の点でのマッチングを取る必要
がある。
Next, the characteristic impedance (Zo) at each wiring width is calculated from the layer structure, and a damping resistor 150 is inserted as needed. The characteristic impedance of each wiring is calculated according to FIGS. For example, if the line width is widened as in 154, Z 0 is 40Ω and matching can be achieved. However, if it is difficult due to restrictions on the layout and wiring area, if the line width is reduced as in 153, it will be 75Ω. It is necessary to insert a damping resistor 150 on the output side of the IC to match at point 155.

【0044】図19は、配線制約情報(CLK信号)に
関する具体的な検討例である。まず、部品情報からドラ
イバの立ち上がり時間を確認する。図19において、表
160はIBISモデルにより表示された立ち上がり時
間である。Rampは該立ち上がり時間の表示項目を意
味する。因みに、表の上段のrはrise(立ち上が
り)、下段のfはfall(立ち下がり)を意味し、上
段は標準的(typical)には951.044ピコ
秒で1.01742V立ち上がることを意味する。これ
よりTr≒1.585(nS)が求まる。
FIG. 19 shows a specific example of study on the wiring constraint information (CLK signal). First, the rise time of the driver is confirmed from the component information. In FIG. 19, Table 160 shows the rise times displayed by the IBIS model. Ramp means a display item of the rise time. Incidentally, r in the upper part of the table means rise (rise), f in the lower part means fall (fall), and the upper part means that the voltage rises 1.01742 V at 951.044 picoseconds in a typical manner. From this, Tr ≒ 1.585 (nS) is obtained.

【0045】また、基板材質の比誘電率から伝搬遅延速
度(nS/ft)を算出する。各数値は図20に示され
るとおりである。図19の場合、ドライバの波形が崩れ
ても問題ない場合、Tr/4はBC間に適用され、ドラ
イバの波形が崩れて問題ある場合、Tr/4はAC間に
適用される。
The propagation delay speed (nS / ft) is calculated from the relative permittivity of the material of the substrate. Each numerical value is as shown in FIG. In the case of FIG. 19, Tr / 4 is applied between the BC when there is no problem even if the driver waveform is distorted, and Tr / 4 is applied between AC when the driver waveform is distorted and problematic.

【0046】前述の如く、T<Tr/4が最大配線長の
算出式である。ただし、Tは配線の伝搬遅延時間、Tr
は出力パルスの立ち上がり時間である。計算は以下のと
おりである。
As described above, T <Tr / 4 is a formula for calculating the maximum wiring length. Here, T is the propagation delay time of the wiring, Tr
Is the rise time of the output pulse. The calculation is as follows.

【0047】Tr=1.585(nS)から、T<1.
585/4 すなわち、T<0.39625(nS) (イ)マイクロストリップラインの場合、 S≒1.73(nS/ft)≒0.144(nS/in
ch) 従って、T<0.39625(nS)を満足する配線長
は 0.39625/0.144=2.7517…(inc
h)≒69.8941(mm) (ロ)ストリップラインの場合、 S≒2.20(nS/ft)≒0.183(nS/in
ch) 従って、T<0.39625(nS)を満足する配線長
は 0.39625/0.183=2.1653…(inc
h)≒54.9986(mm) となる。
From Tr = 1.585 (nS), T <1.
585/4 That is, T <0.39625 (nS) (a) In the case of a microstrip line, S ≒ 1.73 (nS / ft) ≒ 0.144 (nS / in
ch) Therefore, the wiring length satisfying T <0.39625 (nS) is 0.39625 / 0.144 = 2.7517... (inc
h) ≒ 69.8941 (mm) (b) In the case of a strip line, S ≒ 2.20 (nS / ft) ≒ 0.183 (nS / in
ch) Therefore, the wiring length satisfying T <0.39625 (nS) is 0.39625 / 0.183 = 2.1653... (inc
h) ≒ 54.9998 (mm).

【0048】図20には、上記図19に用いる伝搬遅延
の計算結果が示される。なお、プリント配線基板の層構
造について説明しておくと、層構成は基板の実装密度、
配線密度によって異なるが、図20の実施例の場合、6
層基板を示している。TOP〜BOTTOMは、基板の
L1〜L6層を表す。図において、Sは信号層(信号線
を配線する層)、PはPlane層(電源・GNDなど
ベタによって処理する層)、Tは銅箔の厚さ、Hは絶縁
層の厚さである。
FIG. 20 shows a calculation result of the propagation delay used in FIG. The layer structure of the printed wiring board will be described.
Although it depends on the wiring density, in the case of the embodiment of FIG.
3 shows a layer substrate. TOP to BOTTOM represent the L1 to L6 layers of the substrate. In the figure, S is a signal layer (a layer for laying signal lines), P is a Plane layer (a layer processed by a solid such as a power supply / GND), T is a thickness of a copper foil, and H is a thickness of an insulating layer.

【0049】図に示される如く、伝搬時間は比誘電率E
rによって計算される。図21には、NET情報と部品
情報から立ち上がり/立ち下がり時間及び出力インピー
ダンスの抽出例が示される。なお、ドライバ・ピンと
は、送信ICのある出力ピンのことであり、ドライバの
型名とは送信ICのデバイスの種類のことである。ま
た、I/Oバッファーとは、駆動素子のことである。図
21(a)の表もIBISモデルに基づき表示されてい
る。例えばNET1の場合、送信ICの型名は「TC7
4LCX244FT」であり、該送信IC(IC1)の
3番ピンにはI/Oバッファーとして型名「LCX_T
RI」のものがついていることを意味する。図21
(b)は、上記図21(a)のそれぞれについて出力イ
ンピーダンスを計算したものである。
As shown in the figure, the propagation time depends on the relative permittivity E
It is calculated by r. FIG. 21 shows an example of extraction of the rise / fall time and output impedance from NET information and component information. Note that a driver pin is an output pin having a transmission IC, and a driver model name is a device type of the transmission IC. The I / O buffer is a driving element. The table of FIG. 21A is also displayed based on the IBIS model. For example, in the case of NET1, the model name of the transmission IC is "TC7
4LCX244FT ", and the third pin of the transmission IC (IC1) has a model name" LCX_T "as an I / O buffer.
RI ”means that it is on. FIG.
(B) is a calculation of the output impedance for each of FIG. 21 (a).

【0050】図22には、図20の伝搬遅延と図21の
立ち上がり/立ち下がり特性から、前述の如く最大配線
長を計算し、配線長制約条件を出したものである。図2
3は、ライン幅と層構成により特性インピーダンスが計
算され、図21の出力インピーダンスからマッチングさ
せるための理想のダンピング抵抗値を求める例が示され
る。インピーダンスがマッチングしていない場合、オー
バーシュートやアンダーシュートが生じてしまうので、
線路幅やダンピング抵抗値を調整する。図24には、ラ
イン幅とダンピング抵抗値を変更することでインピーダ
ンス・マッチングを行う例が示される。変更例が図24
(a)に対比させて図24(b)に示される。例えば、
図24(b)の170の場合、線路幅を変えずにダンピ
ング抵抗のみでマッチングを取っているが、171の場
合は線路幅を0.5mmと変更してマッチングを取ってい
る。また、172の場合は、線路幅も変更し、ダンピン
グ抵抗も用いている。このようにして入力ICの定格を
満足させて設計を終了する。
In FIG. 22, the maximum wiring length is calculated from the propagation delay of FIG. 20 and the rise / fall characteristics of FIG. FIG.
3 shows an example in which the characteristic impedance is calculated based on the line width and the layer configuration, and an ideal damping resistance value for matching from the output impedance in FIG. 21 is obtained. If the impedance is not matched, overshoot or undershoot will occur,
Adjust the line width and damping resistance. FIG. 24 shows an example in which impedance matching is performed by changing the line width and the damping resistance value. FIG. 24 shows a modification example.
FIG. 24B shows a comparison with FIG. For example,
In the case of 170 in FIG. 24B, matching is performed only by the damping resistance without changing the line width. In the case of 171, matching is performed by changing the line width to 0.5 mm. In the case of 172, the line width is also changed and a damping resistor is used. In this way, the design is completed when the rating of the input IC is satisfied.

【0051】図25には、タイミング情報の検討例が示
される。NET情報と部品情報から送信ICの内部遅延
時間と受信ICのSetup/Hold時間が抽出され
る。CLKの配線長情報との突き合わせが行われ、タイ
ミングを満足する配線長情報を算出する。
FIG. 25 shows an example of studying the timing information. The internal delay time of the transmitting IC and the setup / hold time of the receiving IC are extracted from the NET information and the component information. CLK is compared with wiring length information, and wiring length information that satisfies the timing is calculated.

【0052】以上の配線制約情報、インピーダンス・マ
ッチング情報及びタイミング情報を設計CADに取り込
み、図26に示す如く配線設計が行われる。図27にそ
の完成された基板例を示す。該基板は特性が保証されて
おり、従来のように作り直しの作業が省けるので非常に
効率がよい。
The above-described wiring constraint information, impedance matching information, and timing information are fetched into design CAD, and wiring design is performed as shown in FIG. FIG. 27 shows an example of the completed substrate. The characteristics of the substrate are guaranteed, and the reworking operation as in the conventional case can be omitted, so that the efficiency is very high.

【0053】[0053]

【発明の効果】以上のとおり、この発明のよるプリント
配線基板の設計方法を採用すると、 ・従来、実験やシミュレータなどを利用した解析には専
門知識を有した人間の技術が必要であり、対応できる量
に限界があったが、この発明の手法を用いると、特に専
門性を要求されずに基板設計が容易にできる。
As described above, when the method for designing a printed wiring board according to the present invention is adopted, the following techniques are required:-Conventionally, analysis using experiments, simulators, and the like requires human skills with expertise. Although there is a limit to the amount that can be obtained, the use of the method of the present invention facilitates substrate design without requiring specialty.

【0054】・従来のデザインルールの作成には専門知
識を有した人間の判断が必要であり、対応できる量に限
界があったが、この発明の手法を用いると、特に専門性
を要求されずにデザインルールが作成でき、基板設計が
容易にできる。
The creation of the conventional design rules requires the judgment of a person having specialized knowledge, and there is a limit to the amount that can be dealt with. However, when the method of the present invention is used, no specialty is required. The design rules can be created in advance, and the board design can be facilitated.

【0055】・従来の方法は、専門知識を必要とし、専
門知識を有する人材が不足しているし、専門知識を有す
るに到る教育にはコストと時間が必要であるが、この発
明の手法を用いると、特に専門性を要求されずに基板設
計が容易にできるので、特に専門的人材を必要としな
い。
The conventional method requires specialized knowledge, lacks the human resources having the specialized knowledge, and costs and time are required for the education to have the specialized knowledge. With the use of, the board design can be facilitated without requiring any specialty, so that no special human resources are required.

【0056】・従来の方法はデザインルールの作成にあ
たり利用するシミュレータなどの解析ツールや支援ツー
ルを一人一台設備投資する必要があったが、この発明の
手法を用いるとこのような支援ツールを特に必要としな
い。
In the conventional method, it is necessary to invest in an analysis tool and a support tool such as a simulator used for creating a design rule for each person. However, when the method of the present invention is used, such a support tool is particularly required. do not need.

【0057】・同様に、シミュレータなどを利用した解
析やその準備には一定の時間が必要であり、一般に製品
開発の遅延に繋がっているが、この発明の手法を用いる
とこのような支援ツールを特に必要としない。また、実
験やシミュレータなどによる解析結果から判断してデザ
インルールを作成するには一定の時間が必要であり、一
般に製品開発の遅延に繋がっているが、この発明の手法
にはかかる問題が生じない。
Similarly, a certain period of time is required for analysis and preparation using a simulator or the like, which generally leads to delay in product development. Not required. Also, it takes a certain amount of time to create design rules based on the results of analysis by experiments and simulators, which generally leads to a delay in product development. However, the problem of the present invention does not occur. .

【0058】・従来の方法は解析する人間のレベルによ
り解析方法や範囲が異なり、また判断する人間のレベル
により判断内容にもバラツキがあり、それが品質のバラ
ツキに繋がっているが、この発明の手法を用いると、特
に専門性を要求されずに基板設計が容易にできるので、
作成者によるバラツキが生じない。
In the conventional method, the analysis method and the range are different depending on the level of the person to be analyzed, and the judgment contents are also different depending on the level of the person to be judged, which leads to the fluctuation of the quality. By using the method, you can easily design the board without requiring specialty,
There is no variation by the creator.

【0059】・従来の方法は、重複する実験やシミュレ
ータなどを利用した重複した解析を複数時期や複数箇所
や複数製品で発生しており無駄が生じているが、この発
明の手法にはかかる問題が生じない。
In the conventional method, duplicate experiments using duplicate experiments and simulators are performed at a plurality of timings, at a plurality of locations, and at a plurality of products, resulting in waste. Does not occur.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来のプリント回路基板の設計・製造フローを
示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a flow of designing and manufacturing a conventional printed circuit board.

【図2】従来のプリント回路基板の設計フローを示す図
である。
FIG. 2 is a diagram showing a design flow of a conventional printed circuit board.

【図3】この発明のプリント回路基板の設計フローを示
す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a design flow of the printed circuit board of the present invention.

【図4】この発明のプリント配線基板の詳細な配線設計
システムのフローである。
FIG. 4 is a flowchart of a detailed wiring design system for a printed wiring board according to the present invention.

【図5】この発明のプリント配線基板の配線設計システ
ムの内部構成を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an internal configuration of a printed wiring board wiring design system of the present invention.

【図6】図4の制約情報の処理に関するさらに詳細なフ
ローである。
FIG. 6 is a more detailed flow relating to processing of constraint information of FIG. 4;

【図7】特性インピーダンスの算出式を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a calculation formula of a characteristic impedance.

【図8】インピーダンス・マッチングの説明図である。FIG. 8 is an explanatory diagram of impedance matching.

【図9】この発明の緩和条件検討のフローチャートであ
る。
FIG. 9 is a flow chart for studying relaxation conditions according to the present invention.

【図10】配線の反射を説明する図である。FIG. 10 is a diagram illustrating reflection of wiring.

【図11】CLK信号の進行波、反射波を説明する図で
ある。
FIG. 11 is a diagram illustrating a traveling wave and a reflected wave of a CLK signal.

【図12】CLK信号の立ち上がり波形を説明する図で
ある。
FIG. 12 is a diagram illustrating a rising waveform of a CLK signal.

【図13】同じくCLK信号の立ち上がり波形を説明す
る図である。
FIG. 13 is a diagram illustrating a rising waveform of a CLK signal.

【図14】CLK信号の説明模式図である。FIG. 14 is an explanatory schematic diagram of a CLK signal.

【図15】CLK信号以外の信号パルスの説明模式図で
ある。
FIG. 15 is an explanatory schematic diagram of signal pulses other than the CLK signal.

【図16】タイミングを説明する図である。FIG. 16 is a diagram illustrating timing.

【図17】配線長の緩和条件検討のフローチャートであ
る。
FIG. 17 is a flowchart for studying conditions for relaxing the wiring length.

【図18】インピーダンス・マッッチングの検討例を示
す図である。
FIG. 18 is a diagram showing a study example of impedance matching.

【図19】配線長の検討例を示す図である。FIG. 19 is a diagram showing an example of studying a wiring length.

【図20】伝搬遅延時間の検討例を示す図である。FIG. 20 is a diagram illustrating an example of studying a propagation delay time.

【図21】立ち上がり時間の検討例を示す図である。FIG. 21 is a diagram illustrating a study example of rise time.

【図22】配線制約条件の検討例を示す図である。FIG. 22 is a diagram illustrating an example of studying wiring constraint conditions.

【図23】インピーダンス・マッッチングの検討例を示
す図である。
FIG. 23 is a diagram showing a study example of impedance matching.

【図24】インピーダンス・マッッチングの検討例を示
す図である。
FIG. 24 is a diagram showing a study example of impedance matching.

【図25】タイミング情報の検討例を示す図である。FIG. 25 is a diagram showing a study example of timing information.

【図26】CADへの取り込みのための模式図である。FIG. 26 is a schematic diagram for incorporation into CAD.

【図27】完成した基板例を示す図である。FIG. 27 is a diagram showing an example of a completed substrate.

【図28】出力インピーダンスの一般式を示す図であ
る。
FIG. 28 is a diagram showing a general expression of output impedance.

【図29】特性インピーダンスの計算式を示す図であ
る。
FIG. 29 is a diagram showing a calculation formula of characteristic impedance.

【図30】特性インピーダンスの計算式の他の例を示す
図である。
FIG. 30 is a diagram showing another example of the calculation formula of the characteristic impedance.

【図31】特性インピーダンスの計算式の他の例を示す
図である。
FIG. 31 is a diagram illustrating another example of the calculation formula of the characteristic impedance.

【図32】特性インピーダンスの計算式の他の例を示す
図である。
FIG. 32 is a diagram illustrating another example of the calculation formula of the characteristic impedance.

【図33】送信ICと受信IC間のタイムチャートを示
す図である。
FIG. 33 is a diagram showing a time chart between a transmission IC and a reception IC.

【図34】送信ICと受信IC間のタイムチャートの他
の例を示す図である。
FIG. 34 is a diagram showing another example of the time chart between the transmission IC and the reception IC.

【図35】バッファー追加の模式図である。FIG. 35 is a schematic diagram of buffer addition.

【図36】並列終端方式の説明図である。FIG. 36 is an explanatory diagram of a parallel termination method.

【図37】並列終端方式の波形図である。FIG. 37 is a waveform diagram of the parallel termination method.

【図38】並列終端の説明図である。FIG. 38 is an explanatory diagram of a parallel termination.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 回路図 2 回路図CAD 3 回路情報 4 配置配線CAD 5 パターン情報 11 回路 13 制約条件 14 配置 15 配線 17 緩和条件 27 制約情報 22 NET情報 23 部品情報 42 層構成 43 配線幅 75 ダンピング抵抗 90 送信IC 92 受信IC 94 受信IC 101棚部分 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit diagram 2 Circuit diagram CAD 3 Circuit information 4 Arrangement wiring CAD 5 Pattern information 11 Circuit 13 Restriction condition 14 Arrangement 15 Wiring 17 Relaxation condition 27 Restriction information 22 NET information 23 Component information 42 Layer configuration 43 Wiring width 75 Damping resistance 90 Transmission IC 92 Receiving IC 94 Receiving IC 101 Shelf part

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成12年9月26日(2000.9.2
6)
[Submission date] September 26, 2000 (2009.2)
6)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0043[Correction target item name] 0043

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0043】次に、層構成から各配線幅における特性イ
ンピーダンス(Zo)を計算し、必要に応じてダンピン
グ抵抗150を挿入する。各配線の特性インピーダンス
は、前記図29〜32により計算される。例えば、線路
幅を154のように広くするとZoが40Ωとなりマッ
チングが取れるが、配置・配線の面積的制約から困難と
なる場合153のように線路幅を小さくすると75Ωと
なってしまうので、送信ICの出力側にダンピング抵抗
150を挿入して155の点でのマッチングを取る必要
がある。
Next, the characteristic impedance (Zo) at each wiring width is calculated from the layer structure, and a damping resistor 150 is inserted as needed. The characteristic impedance of each wiring is calculated according to FIGS. For example, if the line width is widened as 154, Zo becomes 40Ω and matching can be achieved. However, if it becomes difficult due to restrictions on the layout and wiring area, if the line width is reduced as 153, it becomes 75Ω. , It is necessary to insert a damping resistor 150 at the output side and match at point 155.

【手続補正2】[Procedure amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】図18[Correction target item name] FIG.

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図18】インピーダンス・マッチングの検討例を示す
図である。
FIG. 18 is a diagram illustrating a study example of impedance matching.

【手続補正3】[Procedure amendment 3]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】図23[Correction target item name] FIG.

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図23】インピーダンス・マッチングの検討例を示す
図である。
FIG. 23 is a diagram showing a study example of impedance matching.

【手続補正4】[Procedure amendment 4]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】図24[Correction target item name] FIG.

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図24】インピーダンス・マッチングの検討例を示す
図である。
FIG. 24 is a diagram showing a study example of impedance matching.

【手続補正5】[Procedure amendment 5]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図5[Correction target item name] Fig. 5

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図5】 FIG. 5

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉野 悟志 神奈川県横浜市港北区新横浜3−23−3 新横浜東武AKビル 株式会社ソーワコー ポレーション内 (72)発明者 山田 智樹 神奈川県横浜市港北区新横浜3−23−3 新横浜東武AKビル 株式会社ソーワコー ポレーション内 Fターム(参考) 5B046 AA08 BA05 BA06 JA03 KA05 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Satoshi Yoshino 3-23-3 Shin-Yokohama, Kohoku-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Inside Shin-Yokohama Tobu AK Building SOWA CORPORATION (72) Inventor Tomoki Yamada Shin-Yokohama, Kohoku-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 3-23-3 Shin-Yokohama Tobu AK Building F-term in Sowa Corporation (reference) 5B046 AA08 BA05 BA06 JA03 KA05

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 製品仕様に基づく回路情報、NET情
報、部品情報から取り決めた抽出条件又はその都度取り
決める抽出条件を基に設計制約条件または設計許容条件
を抽出して配置・配線処理を行い、上記制約条件または
許容条件を満足できなかった配置・配線処理に対して緩
和条件を付加することにより、回路情報や配置・配線の
基本的な作り直しをすることなく部分的設計変更で基板
データを作成することを特徴とするプリント配線基板の
設計方法。
1. A design constraint condition or a design permissible condition is extracted based on an extraction condition determined from circuit information, NET information, and component information based on a product specification or an extraction condition determined each time. By adding relaxation conditions to the placement / wiring processing that did not satisfy the constraints or allowable conditions, the board data is created by a partial design change without basic reworking of circuit information and placement / wiring A method for designing a printed wiring board, characterized in that:
【請求項2】 前記制約条件が間隙の算出、配線長条件
の作成、ダンピング抵抗値の算出、配線幅の算出を含
み、まずインピーダンス・マッチングを行うことを特徴
とする前記請求項1記載のプリント配線基板の設計方
法。
2. The print according to claim 1, wherein the constraint conditions include calculation of a gap, creation of a wiring length condition, calculation of a damping resistance value, and calculation of a wiring width, and first perform impedance matching. Wiring board design method.
【請求項3】 前記許容条件が、CLK信号系の送信I
Cの出力波形を無視する条件を含むことを特徴とする前
記請求項1または2記載のプリント配線基板の設計方
法。
3. The system according to claim 1, wherein said permissible condition is a transmission I of a CLK signal system.
3. The method for designing a printed wiring board according to claim 1, wherein a condition for ignoring the output waveform of C is included.
【請求項4】 前記緩和条件が、多段接続の場合のCL
K信号の各レシーバ・ピンにおける立ち上がり波形に棚
ができないように、配線長を短くするか、バッファーを
追加するか、立ち上がり時間の遅いバッファーを採用す
るか、並列終端とする等のいずれかの変更を含むことを
特徴とする前記請求項1〜3の内、いずれか1項記載の
プリント配線基板の設計方法。
4. The method according to claim 1, wherein the relaxing condition is a multi-stage connection.
Any change such as shortening the wiring length, adding a buffer, using a buffer with a slow rise time, or using parallel termination so that there is no shelf in the rising waveform at each receiver pin of the K signal The method for designing a printed wiring board according to any one of claims 1 to 3, further comprising:
【請求項5】 NET情報DB、部品情報DBを有し、
製品仕様に基づく回路情報を基にインピーダンスをマッ
チングさせる手段、CLK信号系について最大配線長を
抽出する手段および求められた個々の配線長の配線方法
を抽出する手段を設け、まずインピーダンスをマッチン
グさせて基本的回路配置及び配線を定め、次いで上記最
大配線長を満足させる緩和条件を抽出して上記配置及び
配線に部分的変更を加えることにより基板の設計を行う
ことを特徴とするプリント配線基板設計装置。
5. It has a NET information DB and a parts information DB,
A means for matching impedance based on circuit information based on product specifications, a means for extracting a maximum wiring length for a CLK signal system, and a means for extracting a wiring method for each determined wiring length are provided. A printed circuit board designing apparatus, which determines a basic circuit layout and wiring, and then extracts a relaxation condition that satisfies the maximum wiring length, and designs a board by partially changing the layout and wiring. .
【請求項6】 前記インピーダンス・マッチングの設計
が、間隙の算出、配線長条件の作成、ダンピング抵抗値
の算出、配線幅の算出等により行われることを特徴とす
る前記請求項5記載のプリント配線基板設計装置。
6. The printed wiring according to claim 5, wherein the design of the impedance matching is performed by calculating a gap, creating a wiring length condition, calculating a damping resistance value, calculating a wiring width, and the like. Board design equipment.
【請求項7】 前記緩和条件が、CLK信号系の送信I
Cの出力波形を無視する条件を含むことを特徴とする前
記請求項5または6記載のプリント配線基板設計装置。
7. The transmission condition of a CLK signal system is defined as the relaxing condition.
7. The printed wiring board designing apparatus according to claim 5, wherein a condition for ignoring the output waveform of C is included.
【請求項8】 前記緩和条件が、多段接続の場合のCL
K信号の各レシーバ・ピンにおける立ち上がり波形に棚
ができないように、配線長を短くするか、バッファーを
追加するか、立ち上がり時間の遅いバッファーを採用す
るか、並列終端とする等のいずれかの変更を含むことを
特徴とする前記請求項5〜7の内、いずれか1項記載の
プリント配線基板の設計装置。
8. When the relaxation condition is a multi-stage connection,
Any change such as shortening the wiring length, adding a buffer, using a buffer with a slow rise time, or using parallel termination so that there is no shelf in the rising waveform at each receiver pin of the K signal The printed wiring board designing apparatus according to any one of claims 5 to 7, further comprising:
【請求項9】 層構成及び配線幅から線路の特性インピ
ーダンスを算出する過程、NET情報及び部品情報から
出力インピーダンス、タイミング情報及び緩和情報を算
出する各過程、上記線路の特性インピーダンスと出力イ
ンピーダンスを比較し、インピーダンス・マッチングを
行う過程、信号の種類に応じCLK信号の場合は配線制
約情報から配線長を算出してこれにタイミング条件を付
加し、CLK信号以外の場合はタイミング条件のみを付
加する過程、これら情報から回路の配置を定める過程及
び配線を定める過程からなり、上記配置及び配線に前記
緩和情報を加味して部分的設計変更を加え、基板設計を
決定する過程からなるプリント基板の配線設計用電子プ
ログラムを含むことを特徴とする磁気記録媒体。
9. A process of calculating a characteristic impedance of a line from a layer configuration and a wiring width, a process of calculating output impedance, timing information, and relaxation information from NET information and component information, and comparing the characteristic impedance of the line with the output impedance. A step of performing impedance matching, a step of calculating a wiring length from wiring restriction information in the case of a CLK signal according to the type of signal and adding a timing condition thereto, and a step of adding only a timing condition in cases other than the CLK signal. A process of determining a circuit layout from the information and a process of determining a wiring, and performing a partial design change in consideration of the relaxation information to the above-described layout and wiring, and a process of determining a board design. A magnetic recording medium characterized by including an electronic program for use.
【請求項10】 前記緩和条件が、CLK信号系の送信
ICの出力波形を無視する条件を含み、特に多段接続の
場合のCLK信号の各レシーバ・ピンにおける立ち上が
り波形に棚ができないように、配線長を短くするか、バ
ッファーを追加するか、立ち上がり時間の遅いバッファ
ーを採用するか、並列終端とする等のいずれかの変更を
行う過程を含むことを特徴とする前記請求項9記載のプ
リント配線基板の配線設計用電子プログラムを含むこと
を特徴とする磁気記録媒体。
10. The relaxing condition includes a condition for ignoring an output waveform of a transmission IC of a CLK signal system. In particular, in a case of multi-stage connection, wiring is performed so that a rising waveform at each receiver pin of a CLK signal cannot have a shelf. 10. The printed wiring according to claim 9, comprising a step of making any change such as shortening the length, adding a buffer, adopting a buffer having a slow rise time, or using parallel termination. A magnetic recording medium comprising an electronic program for wiring design of a substrate.
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