JP2001244604A - Method of forming through-hole with carbon dioxide gas laser - Google Patents

Method of forming through-hole with carbon dioxide gas laser

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JP2001244604A
JP2001244604A JP2000050777A JP2000050777A JP2001244604A JP 2001244604 A JP2001244604 A JP 2001244604A JP 2000050777 A JP2000050777 A JP 2000050777A JP 2000050777 A JP2000050777 A JP 2000050777A JP 2001244604 A JP2001244604 A JP 2001244604A
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JP
Japan
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copper foil
hole
copper
etching
carbon dioxide
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Application number
JP2000050777A
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Japanese (ja)
Inventor
Nobuyuki Ikeguchi
信之 池口
Sadahiro Kato
禎啓 加藤
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Mitsubishi Gas Chemical Co Inc
Original Assignee
Mitsubishi Gas Chemical Co Inc
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of forming a through-hole to prevent contamination of the surface of copper foil of a copper clad plate on the occasion of forming the through-hole with the carbon dioxide gas laser. SOLUTION: In a method of forming a through-hole on a copper clad plate wherein an etching film or a liquid etching resist (a) is allocated on a copper foil (b) to which the copper foil surface process is executed to enable the formation of a through-hole with the carbon dioxide gas laser, after the film or resist is removed from the area (c) as the target mark, the copper foil of this area is removed by the etching to form a target mark (e), this target mark is read with a CCD camera (d) and an external layer and internal layer copper foils are removed to form a through-hole (f) and/or a blind via hole by direct radiation of the high output carbon dioxide gas laser to the film or resist, and the burs (h) generated on the rear surface of copper foil and copper foil of internal layer are removed by the etching process while maintaining the film or resit as it is. Thereby, in the manufacture of a high density printed circuit board, a through-hole and/or a blind via hole may be formed with direct radiation of carbon dioxide gas laser without any contamination of the copper foil of the surface layer.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、孔部に発生した銅
箔バリの処理を含む、銅張積層板への新規な炭酸ガスレ
ーザーによる貫通孔及び/又はブラインドビア孔の形成
方法に関する。この小径孔が形成された銅張板を用いた
プリント配線板は、高密度の小径の孔を有し、細密なパ
ターンを有する高密度の小型プリント配線板として、新
規な半導体プラスチックパッケージ用等に主に使用され
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming a through hole and / or a blind via hole in a copper-clad laminate by a novel carbon dioxide gas laser, including a treatment of a copper foil burr generated in a hole. A printed wiring board using a copper-clad board with this small-diameter hole formed has a high-density small-diameter hole and a high-density small-sized printed wiring board with a fine pattern. Mainly used.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体プラスチックパッケージ等
に用いられる高密度のプリント配線板においては、貫通
孔はメカニカルドリルであけていた。近年、ますますド
リルの径は小径となり、孔径が0.15mmφ以下となってき
ており、このような小径の孔をあける場合、ドリル径が
細いため、孔あけ時にドリルが曲がる、折れる、加工速
度が遅い等の欠点があり、生産性、信頼性等に問題のあ
るものであった。ブラインドビア孔は、事前に孔あけす
る位置の銅箔をエッチング除去してから、低エネルギー
の炭酸ガスレーザーで孔を形成していた。また、ターゲ
ットマークは、エッチングするときに同時に形成してい
た。この方法では、炭酸ガスレーザーではブラインドビ
ア孔だけしか形成できず、貫通孔はメカニカルドリリン
グ等で別にあけるため、工程が長く、作業効率が悪かっ
た。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a high-density printed wiring board used for a semiconductor plastic package or the like, a through hole is formed by a mechanical drill. In recent years, the diameter of drills has become smaller and smaller, and the hole diameter has been reduced to 0.15 mmφ or less.When drilling such small holes, the drill diameter is small, so the drill bends, breaks, and the processing speed when drilling. It has disadvantages such as slowness, and has problems in productivity, reliability, and the like. The blind via hole has been formed by etching the copper foil at the position where the hole is to be drilled in advance and then using a low-energy carbon dioxide laser. Further, the target mark was formed at the same time as the etching. In this method, only a blind via hole can be formed by a carbon dioxide laser, and a through hole is separately formed by mechanical drilling or the like, so that the process is long and the work efficiency is poor.

【0003】貫通孔形成方法としては、表裏の銅箔にあ
らかじめネガフィルムを使用して所定の方法で同じ大き
さの孔をあけておき、更には内層の銅箔にも同様の孔を
予めエッチングで形成したものを配置しておき、炭酸ガ
スレーザーで表裏を貫通する孔を形成する方法がある。
しかしこの方法では、内層銅箔の位置ズレ、上下のラン
ド銅箔と孔との間に隙間を生じ、接続不良、及び表裏の
ランドが形成できない等の欠点があった。また炭酸ガス
レーザーによる孔あけ時に上に飛散した銅箔、ガラス繊
維、樹脂などの残さが落下して付着するという問題があ
る。残渣を付着したままでの銅メッキは、銅メッキの凹
凸発生、孔の接続信頼性に欠けるという問題があった。
[0003] As a method of forming a through-hole, holes of the same size are formed in advance on a copper foil on the front and back sides using a negative film by a predetermined method. There is a method of arranging those formed in the above and forming a hole penetrating the front and back with a carbon dioxide laser.
However, this method has disadvantages such as misalignment of the inner layer copper foil, gaps between the upper and lower land copper foils and the holes, poor connection, and inability to form front and back lands. In addition, there is a problem that the residue of copper foil, glass fiber, resin, and the like scattered upward when drilling holes by a carbon dioxide laser drops and adheres. Copper plating with the residue adhered has the problems that copper plating unevenness occurs and the connection reliability of holes is lacking.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上の問題
点を解決した銅張板への孔形成方法を提供する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a method for forming a hole in a copper clad board which solves the above problems.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、炭酸ガスレー
ザーによる銅張板への貫通孔及び/又はブラインドビア
孔を形成する方法において、炭酸ガスレーザーを直接照
射して銅箔を加工することが可能な銅箔表面処理を施し
た銅張板の表裏面にエッチングレジスト又は液状エッチ
ングソルダーレジストを付着後、レーザー孔あけ用ター
ゲットマークの箇所だけフィルム又はレジストを除去
し、この部分の銅箔をエッチング除去してターゲットマ
ークを形成するか、内層板に形成されたターゲットマー
クを露出した後、このターゲットマークをCCDカメラで
読み込んで位置を定め、フィルム又はレジストの上から
直接銅箔を孔あけ加工するに十分なエネルギーの炭酸ガ
スレーザービームを照射して、貫通孔及び/又はブライ
ンドビア孔を形成することにより、孔あけ加工時に飛散
した銅、ガラス、樹脂などの残さが板の上に落下してき
ても銅箔との付着を防ぐことができる。その後、フィル
ム又はレジストをそのままにして、孔部に発生した銅箔
バリを薬液によってエッチング除去した後、フィルム又
はレジストを剥離する銅張板への孔形成方法である。本
発明の方法により孔を形成された銅張板はプリント配線
板製造のために使用される。
According to the present invention, there is provided a method of forming a through hole and / or a blind via hole in a copper clad plate by a carbon dioxide gas laser. After attaching an etching resist or liquid etching solder resist to the front and back surfaces of the copper clad board that has been subjected to the copper foil surface treatment, the film or resist is removed only at the target mark for laser drilling, and the copper foil in this part is removed. After removing the target mark by etching or exposing the target mark formed on the inner layer plate, read this target mark with a CCD camera to determine the position, and drilling copper foil directly from the film or resist A carbon dioxide laser beam of sufficient energy to form through holes and / or blind via holes And the copper scattered during drilling, glass, even if residue of such resins have fallen on the plate can be prevented adherence of the copper foil. Thereafter, the film or the resist is left as it is, and after removing the copper foil burrs generated in the holes by etching with a chemical solution, a hole is formed in the copper clad board where the film or the resist is peeled off. The copper-clad board perforated by the method of the present invention is used for manufacturing a printed wiring board.

【0006】銅箔表面処理は、特に限定はなく、炭酸ガ
スレーザーを直接照射して孔加工できるものであれば良
い。好適には、ニッケル処理、ニッケル合金処理、酸化
金属処理、薬液処理等が使用できる。
[0006] The surface treatment of the copper foil is not particularly limited, as long as the hole processing can be performed by directly irradiating a carbon dioxide gas laser. Preferably, nickel treatment, nickel alloy treatment, metal oxide treatment, chemical solution treatment and the like can be used.

【0007】孔形成後の銅張板を銅メッキでメッキアッ
プして得られる両面板を用い、表裏に回路形成を行い、
定法にてプリント配線板とする。表裏の回路を細密にす
るためには、表裏層の銅箔は2〜7μm、好適には3〜5
μmのものを使用することが好ましい。この場合には銅
メッキアップされた場合でもショートやパターン切れ等
の不良の発生もなく、高密度のプリント配線板を作成す
ることができる。更には、加工速度はドリルであける場
合に比べて格段に速く、生産性も良好で、経済性にも優
れているものが得られた。
A circuit is formed on both sides by using a double-sided board obtained by plating up a copper-clad board after forming holes with copper plating.
Printed wiring board by the usual method. In order to make the front and back circuits fine, the copper foil of the front and back layers is 2 to 7 μm, preferably 3 to 5 μm.
It is preferable to use one of μm. In this case, it is possible to produce a high-density printed wiring board without any defect such as short circuit or cut pattern even when copper plating is performed. Furthermore, the processing speed was remarkably faster than that obtained by drilling, and a product having good productivity and excellent economic efficiency was obtained.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本発明は、炭酸ガスレーザーの銅
箔直接孔あけ加工において、銅箔の表面の、銅箔、ガラ
ス繊維、樹脂などの加工物落下による汚染がない銅張板
の孔あけ方法及びその後の銅箔バリ除去の後処理方法に
関するものであり、これを用いてプリント配線板を作成
する。まず炭酸ガスレーザーの直接照射による孔形成が
可能な銅箔表面処理を施した銅箔を使用して得られる多
層板を含む銅張板において、この銅張板表裏面にエッチ
ングフィルム又は液状エッチングソルダーレジストを付
着させ、ターゲットマークの箇所のフィルム又はレジス
トを除去してからエッチングで銅箔を除去してターゲッ
トマークを形成するか、内層板のターゲットマークを露
出した後、この上からターゲットマークをCCDカメラで
読み込んで位置を定め、炭酸ガスレーザーを該フィルム
又はレジストの上から、銅箔を加工するに十分なエネル
ギーの炭酸ガスレーザーを直接照射して銅張板に貫通孔
及び/又はブラインドビア孔をあける。その後、孔部に
発生した銅箔バリをエッチングフィルム又は液状ソルダ
ーレジストを溶解しない薬液によって溶解除去してか
ら、フィルム又はレジストを除去し、一般に公知の方法
でプリント配線板とする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention relates to a method for forming a hole in a copper-clad plate, which is free from contamination due to falling of a workpiece such as a copper foil, a glass fiber, a resin, etc. in a copper foil direct drilling process of a carbon dioxide laser. The present invention relates to an opening method and a post-processing method for removing copper foil burrs thereafter, and a printed wiring board is prepared using the method. First, in a copper-clad board including a multilayer board obtained by using a copper foil subjected to a copper foil surface treatment capable of forming holes by direct irradiation of a carbon dioxide gas laser, an etching film or a liquid etching solder resist is applied to the front and back surfaces of the copper-clad board. After attaching the film, remove the film or resist at the target mark and remove the copper foil by etching to form the target mark, or after exposing the target mark on the inner layer board, the target mark from above with a CCD camera After reading and determining the position, a carbon dioxide laser is irradiated directly from above the film or resist with a carbon dioxide laser having sufficient energy to process the copper foil to make through holes and / or blind via holes in the copper clad plate. . Thereafter, the copper foil burrs generated in the holes are dissolved and removed with an etching film or a chemical solution that does not dissolve the liquid solder resist, and then the film or the resist is removed, and a printed wiring board is formed by a generally known method.

【0009】本発明において、炭酸ガスレーザーを直接
銅箔の上に照射して孔あけ可能な表面処理は特に限定は
ないが、例えば、ニッケル処理又はニッケル合金処理が
挙げられる。ニッケル処理、ニッケルメッキ、ニッケル
蒸着等があり、ニッケル合金処理は、ニッケル−コバル
ト合金等の公知の処理が使用できる。又、黒色酸化銅処
理等の酸化金属処理、CZ処理(メック社)等の薬液処理
が挙げられる。
In the present invention, there is no particular limitation on the surface treatment that can be perforated by directly irradiating a carbon dioxide gas laser onto the copper foil, and examples thereof include nickel treatment and nickel alloy treatment. There are nickel treatment, nickel plating, nickel vapor deposition, and the like. As the nickel alloy treatment, a known treatment such as a nickel-cobalt alloy can be used. In addition, metal oxide treatment such as black copper oxide treatment, and chemical treatment such as CZ treatment (MEC) may be used.

【0010】[0010]

【0011】ターゲットマーク(アラインメントマー
ク)とは、CCDカメラで読取ることが可能な大きさの、
好適には円形状のマークを言う。このマークを最初に読
み込んで自動的に寸法補正を行うようにプログラミング
した機能で寸法補正を行い、所定の位置にレーザーで孔
あけを行う。その結果、孔あけの位置が設計した位置に
あくように自動的に寸法補正され、ズレを生じることな
く、不良の発生がなくなる。孔形状は特に限定しない
が、円形が好ましい。具体的には、ドリルで孔あけして
この孔をターゲットマークとする方法、エッチングで円
形に銅箔を残す方法、銅箔を円形にエッチング除去して
樹脂面を露出してこれをターゲットマークとする方法
等、一般に公知の方法が採用できる。両面銅張板の場合
には、外層に形成する。多層板の場合には、一般に内層
板に形成し、多層成形時の内層板寸法収縮があっても、
CCDカメラでの読み込みで寸法補正が設計時に比べて自
動的に行えるようにする。形成位置は、基板の少なくと
も2隅以上、好適には3隅以上に作成する。
[0011] The target mark (alignment mark) has a size that can be read by a CCD camera.
Preferably, it refers to a circular mark. This mark is read first, the dimension is corrected by a function programmed to automatically perform the dimension correction, and a hole is formed in a predetermined position by a laser. As a result, the dimension is automatically corrected so that the position of the hole is located at the designed position, no deviation occurs, and the occurrence of defects is eliminated. The shape of the hole is not particularly limited, but is preferably circular. Specifically, a method of drilling a hole to make this hole a target mark, a method of leaving a copper foil in a circular shape by etching, a method of exposing a resin surface by etching a copper foil in a circular shape and forming this as a target mark A generally known method such as a method for performing the method can be employed. In the case of a double-sided copper clad board, it is formed on the outer layer. In the case of a multilayer board, it is generally formed on an inner layer board, and even if there is shrinkage of the inner layer plate during multilayer molding,
Dimension correction can be automatically performed by reading with a CCD camera compared to the design. The formation position is formed at least at two corners, preferably at least three corners of the substrate.

【0012】エッチングフィルムとは、銅箔をエッチン
グするときに使用する樹脂フィルムであり、一般には、
紫外線で反応するアクリレート基とカルボキシル基(−
COOH)を分子内に有する樹脂を配合して作成される。こ
のフィルムを銅張板の表面に加熱、ラミネートして接着
させ、このフィルムの上に、銅箔を残す箇所が光を透過
するように作図したネガフィルムを配置し、この上から
紫外線を照射して、その後、アルカリ性の現像液(一般
には1重量%炭酸ナトリウム水溶液)を吹き付け、光が
照射されなかった箇所を溶解除去し、銅箔をエッチング
除去する。炭酸ガスレーザーで孔あけ後にエッチングフ
ィルムをアルカリ性薬液(水酸化ナトリウム水溶液)で
溶解除去する。もちろん、その他の官能基を含むエッチ
ングフィルム等、一般に公知のものが使用可能である。
An etching film is a resin film used for etching a copper foil.
Acrylate groups and carboxyl groups (-
(COOH) in the molecule. This film is heated, laminated and adhered to the surface of the copper-clad board, and a negative film is placed on this film so that the part where the copper foil is left transmits light, and ultraviolet light is irradiated from above. Thereafter, an alkaline developing solution (generally, a 1% by weight aqueous solution of sodium carbonate) is sprayed to dissolve and remove the portions not irradiated with light, and the copper foil is etched and removed. After piercing with a carbon dioxide laser, the etching film is dissolved and removed with an alkaline chemical (aqueous sodium hydroxide solution). Of course, generally known films such as an etching film containing other functional groups can be used.

【0013】液状エッチングソルダーレジストとは、樹
脂はエッチングフィルムと同様に、分子内にアクリレー
ト基及びカルボキシル基を含む樹脂を他の液状の化合物
等に配合して液状とした、銅箔をエッチングするときに
使用する組成物である。これを銅張板の上に塗布し、ネ
ガフィルムを通して紫外線を照射し、紫外線が照射され
なかった箇所をアルカリ性現像液で溶解除去し、その
後、銅箔をエッチング除去する。もちろんこの形態以外
の一般に公知の液状エッチングソルダーレジストも使用
できる。
[0013] A liquid etching solder resist is used for etching a copper foil by mixing a resin containing an acrylate group and a carboxyl group in a molecule with another liquid compound in the same manner as an etching film. It is a composition used for. This is applied on a copper-clad plate, irradiated with ultraviolet rays through a negative film, and the portions not irradiated with the ultraviolet rays are dissolved and removed with an alkaline developer, and then the copper foil is removed by etching. Of course, a generally known liquid etching solder resist other than this form can also be used.

【0014】本発明において銅張板とは、少なくとも1
層以上の銅の層、好適には2層以上の銅の層を有する銅
張板、多層板を含む意味で使用される。銅張板としては
基材補強されたもの、フィルム基材のもの、補強基材の
無い樹脂単独のもの等が使用可能である。しかしなが
ら、寸法収縮等の点からガラス布基材銅張板が好まし
い。又、高密度の回路を作成する場合、表層の銅箔は、
最初から薄いものを使用するのが良い。厚さは特に限定
しないが、2〜7μm、好適には3〜5μmの銅箔を使用
するのが好ましい。この場合、銅箔はアルミニウム、銅
箔等のキャリアが付いたものを使用する。あらかじめ銅
張板としてから表層の銅箔の一部を溶解除去して2〜7μ
mまで薄くしたものも使用できる。
In the present invention, at least one copper-clad board is used.
It is used to include a copper-clad board or a multilayer board having two or more copper layers, preferably two or more copper layers. As the copper-clad plate, a substrate-reinforced substrate, a film substrate, a resin alone having no reinforcing substrate, or the like can be used. However, from the viewpoint of dimensional shrinkage and the like, a glass cloth-based copper-clad plate is preferred. Also, when creating a high-density circuit, the surface copper foil is
It is better to use a thin one from the beginning. The thickness is not particularly limited, but it is preferable to use a copper foil of 2 to 7 μm, preferably 3 to 5 μm. In this case, a copper foil with a carrier such as aluminum or copper foil is used. Dissolve and remove a part of the surface copper foil from a copper-clad board in advance and 2 ~ 7μ
m can be used.

【0015】銅張板の基材としては、一般に公知の、有
機、無機の織布、不織布が使用できる。具体的には、無
機の繊維としては、E、S、D、Mガラス等の繊維等が
挙げらる。又、有機繊維としては、全芳香族ポリアミ
ド、液晶ポリエステル、ポリベンザゾールの繊維等が挙
げられる。これらは、混抄でも良い。ポリイミドフィル
ム等のフィルム類も使用可能である。
As the base material of the copper clad board, generally known organic and inorganic woven fabrics and nonwoven fabrics can be used. Specifically, examples of the inorganic fibers include fibers such as E, S, D, and M glass. Examples of the organic fibers include wholly aromatic polyamide, liquid crystal polyester, and polybenzazole. These may be mixed. Films such as a polyimide film can also be used.

【0016】本発明で使用される銅張板の熱硬化性樹脂
組成物の樹脂としては、一般に公知の熱硬化性樹脂が使
用される。具体的には、エポキシ樹脂、多官能性シアン
酸エステル樹脂、多官能性マレイミドーシアン酸エステ
ル樹脂、多官能性マレイミド樹脂、不飽和基含有ポリフ
ェニレンエーテル樹脂等が挙げられ、1種或いは2種類以
上が組み合わせて使用される。出力の高い炭酸ガスレー
ザー照射による加工でのスルーホール形状の点からは、
ガラス転移温度が150℃以上の熱硬化性樹脂組成物が好
ましく、耐湿性、耐マイグレーション性、吸湿後の電気
的特性等の点から多官能性シアン酸エステル樹脂組成物
が好適である。
As the resin of the thermosetting resin composition of the copper clad board used in the present invention, generally known thermosetting resins are used. Specifically, an epoxy resin, a polyfunctional cyanate ester resin, a polyfunctional maleimide-cyanate ester resin, a polyfunctional maleimide resin, an unsaturated group-containing polyphenylene ether resin, and the like, and one or more kinds Are used in combination. From the point of the through hole shape in processing by high output carbon dioxide laser irradiation,
A thermosetting resin composition having a glass transition temperature of 150 ° C. or higher is preferred, and a polyfunctional cyanate resin composition is preferred from the viewpoints of moisture resistance, migration resistance, electrical properties after moisture absorption, and the like.

【0017】本発明の好適な熱硬化性樹脂分である多官
能性シアン酸エステル化合物とは、分子内に2個以上の
シアナト基を有する化合物である。具体的に例示する
と、1,3-又は1,4-ジシアナトベンゼン、1,3,5-トリシア
ナトベンゼン、1,3-、1,4-、1,6-、1,8-、2,6-又は2,7-
ジシアナトナフタレン、1,3,6-トリシアナトナフタレ
ン、4,4-ジシアナトビフェニル、ビス(4-ジシアナトフ
ェニル)メタン、2,2-ビス(4-シアナトフェニル)プロパ
ン、2,2-ビス(3,5-ジブロモー4-シアナトフェニル)プロ
パン、ビス(4-シアナトフェニル)エーテル、ビス(4-シ
アナトフェニル)チオエーテル、ビス(4-シアナトフェニ
ル)スルホン、トリス(4-シアナトフェニル)ホスファイ
ト、トリス(4-シアナトフェニル)ホスフェート、および
ノボラックとハロゲン化シアンとの反応により得られる
シアネート類などである。
The polyfunctional cyanate compound which is a preferred thermosetting resin component of the present invention is a compound having two or more cyanato groups in the molecule. Specific examples include 1,3- or 1,4-dicyanatobenzene, 1,3,5-tricyanatobenzene, 1,3-, 1,4-, 1,6-, 1,8-, 2 , 6- or 2,7-
Dicyanatonaphthalene, 1,3,6-tricyanatonaphthalene, 4,4-dicyanatobiphenyl, bis (4-dicyanatophenyl) methane, 2,2-bis (4-cyanatophenyl) propane, 2,2- Bis (3,5-dibromo-4-cyanatophenyl) propane, bis (4-cyanatophenyl) ether, bis (4-cyanatophenyl) thioether, bis (4-cyanatophenyl) sulfone, tris (4-cy (Anatophenyl) phosphite, tris (4-cyanatophenyl) phosphate, and cyanates obtained by reacting novolak with cyanogen halide.

【0018】これらのほかに特公昭41-1928、同43-1846
8、同44-4791、同45-11712、同46-41112、同47-26853及
び特開昭51-63149号公報等に記載の多官能性シアン酸エ
ステル化合物類も用いら得る。また、これら多官能性シ
アン酸エステル化合物のシアナト基の三量化によって形
成されるトリアジン環を有する分子量400〜6,000 のプ
レポリマーが使用される。このプレポリマーは、上記の
多官能性シアン酸エステルモノマーを、例えば鉱酸、ル
イス酸等の酸類;ナトリウムアルコラート等、第三級ア
ミン類等の塩基;炭酸ナトリウム等の塩類等を触媒とし
て重合させることにより得られる。このプレポリマー中
には一部未反応のモノマーも含まれており、モノマーと
プレポリマーとの混合物の形態をしており、このような
原料は本発明の用途に好適に使用される。一般には可溶
な有機溶剤に溶解させて使用する。
In addition to these, Japanese Patent Publication Nos. 41-1928 and 43-1846
8, polyfunctional cyanate compounds described in JP-A-44-4791, JP-A-45-11712, JP-A-46-41112, JP-A-47-26853 and JP-A-51-63149 can also be used. Further, a prepolymer having a molecular weight of 400 to 6,000 and having a triazine ring formed by trimerization of a cyanato group of these polyfunctional cyanate compounds is used. This prepolymer is obtained by polymerizing the above-mentioned polyfunctional cyanate ester monomer with a catalyst such as an acid such as a mineral acid or a Lewis acid; a base such as a tertiary amine such as sodium alcoholate; or a salt such as sodium carbonate. It can be obtained by: The prepolymer also contains some unreacted monomers and is in the form of a mixture of the monomer and the prepolymer, and such a raw material is suitably used for the purpose of the present invention. Generally, it is used after being dissolved in a soluble organic solvent.

【0019】エポキシ樹脂としては、一般に公知のもの
が使用できる。具体的には、液状或いは固形のビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹
脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、ブタ
ジエン、ペンタジエン、ビニルシクロヘキセン、ジシク
ロペンチルエーテル等の二重結合をエポキシ化したポリ
エポキシ化合物類;ポリオール、水酸基含有シリコン樹
脂類とエポハロヒドリンとの反応によって得られるポリ
グリシジル化合物類等が挙げられる。これらは1種或い
は2種類以上が組み合わせて使用され得る。
As the epoxy resin, a generally known epoxy resin can be used. Specifically, liquid or solid bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, butadiene, pentadiene, vinylcyclohexene, dicyclopentyl ether, etc. And polyglycidyl compounds obtained by reacting a polyol, a hydroxyl-containing silicone resin with an epohalohydrin, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

【0020】ポリイミド樹脂としては、一般に公知のも
のが使用され得る。具体的には、多官能性マレイミド類
とポリアミン類との反応物、特公昭57-005406号公報に
記載の末端三重結合のポリイミド類が挙げられる。これ
らの熱硬化性樹脂は、単独でも使用されるが、特性のバ
ランスを考え、適宜組み合わせて使用するのが良い。
As the polyimide resin, generally known ones can be used. Specific examples include a reaction product of a polyfunctional maleimide and a polyamine, and a polyimide having a terminal triple bond described in JP-B-57-005406. These thermosetting resins may be used alone, but it is preferable to use them in an appropriate combination in consideration of the balance of properties.

【0021】本発明の熱硬化性樹脂組成物には、組成物
本来の特性が損なわれない範囲で、所望に応じて種々の
添加物を配合することができる。これらの添加物として
は、不飽和ポリエステル等の重合性二重結合含有モノマ
ー類及びそのプレポリマー類;ポリブタジエン、エポキ
シ化ブタジエン、マレイン化ブタジエン、ブタジエン-
アクリロニトリル共重合体、ポリクロロプレン、ブタジ
エン-スチレン共重合体、ポリイソプレン、ブチルゴ
ム、フッ素ゴム、天然ゴム等の低分子量液状〜高分子量
のelasticなゴム類;ポリエチレン、ポリプロピレン、ポ
リブテン、ポリ-4-メチルペンテン、ポリスチレン、AS
樹脂、ABS樹脂、MBS樹脂、スチレン-イソプレンゴム、
ポリエチレン-プロピレン共重合体、4-フッ化エチレン-
6-フッ化エチレン共重合体類;ポリカーボネート、ポリ
フェニレンエーテル、ポリスルホン、ポリエステル、ポ
リフェニレンサルファイド等の高分子量プレポリマー若
しくはオリゴマー;ポリウレタン等が例示され、適宜使
用される。また、その他、公知の有機、無機の充填剤、
染料、顔料、増粘剤、滑剤、消泡剤、分散剤、レベリン
グ剤、光増感剤、難燃剤、光沢剤、重合禁止剤、チキソ
性付与剤等の各種添加剤が、所望に応じて適宜組み合わ
せて用いられる。必要により、反応基を有する化合物は
硬化剤、触媒が適宜配合される。本発明に使用する銅張
板は、熱硬化性樹脂組成物の中に、絶縁性無機充填剤を
添加できる。特に炭酸ガスレーザー孔あけ用としては、
孔の形状を均質にするために10〜80重量%、好ましく
は、20〜70重量%添加する。絶縁性無機充填剤の種類は
特に限定はない。具体的には、タルク、焼成タルク、水
酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、カオリン、ア
ルミナ、ウオラストナイト、合成雲母等が挙げられ、1
種或いは2種以上を配合して使用する。
Various additives can be added to the thermosetting resin composition of the present invention, if desired, as long as the inherent properties of the composition are not impaired. These additives include polymerizable double bond-containing monomers such as unsaturated polyesters and prepolymers thereof; polybutadiene, epoxidized butadiene, maleated butadiene, butadiene-
Low molecular weight liquid to high molecular weight elastic rubbers such as acrylonitrile copolymer, polychloroprene, butadiene-styrene copolymer, polyisoprene, butyl rubber, fluororubber, natural rubber; polyethylene, polypropylene, polybutene, poly-4-methyl Penten, polystyrene, AS
Resin, ABS resin, MBS resin, styrene-isoprene rubber,
Polyethylene-propylene copolymer, 4-fluoroethylene-
6-fluorinated ethylene copolymers; high molecular weight prepolymers or oligomers such as polycarbonate, polyphenylene ether, polysulfone, polyester, and polyphenylene sulfide; and polyurethane are exemplified and used as appropriate. In addition, other known organic and inorganic fillers,
Various additives such as dyes, pigments, thickeners, lubricants, defoamers, dispersants, leveling agents, photosensitizers, flame retardants, brighteners, polymerization inhibitors, and thixotropic agents may be used as desired. They are used in an appropriate combination. If necessary, the compound having a reactive group is appropriately blended with a curing agent and a catalyst. The copper-clad board used in the present invention can contain an insulating inorganic filler in the thermosetting resin composition. Especially for carbon dioxide laser drilling,
10 to 80% by weight, preferably 20 to 70% by weight is added in order to make the shape of the pores uniform. The kind of the insulating inorganic filler is not particularly limited. Specific examples include talc, calcined talc, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, kaolin, alumina, wollastonite, synthetic mica, and the like.
A mixture of two or more species is used.

【0022】熱硬化性樹脂組成物は、それ自体は加熱に
より硬化するが硬化速度が遅い場合には、作業性、経済
性等に劣るため使用した熱硬化性樹脂に対して公知の熱
硬化触媒を用い得る。使用量は、熱硬化性樹脂100重量
部に対して0.005〜10重量部、好ましくは0.01〜5重量部
である。
The thermosetting resin composition itself is cured by heating, but if the curing rate is low, the workability and the economic efficiency are inferior. Therefore, a known thermosetting catalyst is used for the thermosetting resin used. Can be used. The amount used is 0.005 to 10 parts by weight, preferably 0.01 to 5 parts by weight, per 100 parts by weight of the thermosetting resin.

【0023】炭酸ガスレーザーで貫通孔及び/又はブラ
インドビア孔をあける場合、表面のエッチングフィルム
又は液状エッチングソルダーレジストをそのままにし
て、この上から、好適には10〜60mJの出力の炭酸ガスレ
ーザーを直接照射して、好適には直径80〜180μm
の孔あけを行う。孔あけした銅及び有機物の銅箔汚染防
止の点からは、表面のフィルム又はレジストをそのまま
にして孔あけを行うことにより、飛散した残さがフィル
ム又はレジストの上に落ち、銅箔汚染防止に有効であ
る。炭酸ガスレーザーの波長は、9.3〜10.6μmが使用さ
れる。エネルギーは、好適には10〜60mJで、所定パルス
照射して孔あけする。貫通孔及び/ビア孔をあける場
合、最初から最後まで同一エネルギーを照射して孔あけ
する方法、エネルギーを途中で高くするか、低くして孔
あけする方法、いずれの方法でも良い。
When a through-hole and / or a blind via hole is made by a carbon dioxide gas laser, the etching film or the liquid etching solder resist on the surface is left as it is, and a carbon dioxide laser preferably having an output of 10 to 60 mJ is applied from above. Direct irradiation, preferably 80-180 μm in diameter
Drill holes. In terms of preventing copper foil contamination of perforated copper and organic substances, by performing perforation while leaving the surface film or resist as it is, the scattered residue falls on the film or resist, effective for preventing copper foil contamination It is. The wavelength of the carbon dioxide laser is 9.3 to 10.6 μm. The energy is preferably 10 to 60 mJ, and a predetermined pulse is applied to form holes. In the case of drilling through holes and / or via holes, any of a method of irradiating holes with the same energy from the beginning to the end, and a method of piercing by increasing or decreasing the energy on the way may be used.

【0024】本発明の炭酸ガスレーザーでの孔あけにお
いて、孔周囲に銅箔のバリが発生する。孔部に発生した
銅のバリをエッチング除去する方法としては、特に限定
しないが、例えば、特開平02-22887、同02-22896、同02
-25089、同02-25090、同02-59337、同02-60189、同02-1
66789、同03-25995、同03-60183、同03-94491、同04-19
9592、同04-263488号公報で開示された、薬品で金属表
面を溶解除去する方法(SUEP法と呼ぶ)による。エ
ッチング速度は、一般には0.02〜1.0μm/秒 で行う。ま
た、内層の銅箔バリをエッチング除去する場合、表層の
エッチングフィルム、エッチングレジストそのままにし
て行う。銅箔バリをエッチングで除去後、フィルム又は
レジストを溶解除去してから、高密度のプリント配線板
とする。孔部の銅箔バリを除去しないと、銅メッキの場
合に、特にブラインドビア孔において孔部に張り出した
バリ部の銅メッキが成長して孔を塞ぐことがあり、メッ
キ不良となることがある。
In drilling holes with the carbon dioxide laser of the present invention, burrs of the copper foil are generated around the holes. The method of etching and removing copper burrs generated in the holes is not particularly limited. For example, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 02-22887, 02-22896, and 02
-25089, 02-25090, 02-59337, 02-60189, 02-1
66789, 03-25995, 03-60183, 03-94491, 04-19
9592 and 04-263488, and a method of dissolving and removing a metal surface with a chemical (referred to as a SUEP method). The etching rate is generally 0.02 to 1.0 μm / sec. Further, when the copper foil burr of the inner layer is removed by etching, the etching is performed with the etching film and the etching resist of the surface layer as they are. After removing the copper foil burrs by etching, dissolving and removing the film or resist, a high-density printed wiring board is obtained. If the copper burrs of the holes are not removed, in the case of copper plating, particularly in the blind via holes, the copper plating of the burrs that overhang the holes may grow and close the holes, resulting in poor plating. .

【0025】銅張板の裏面には、孔が貫通した場合のレ
ーザーによるレーザーマシーンのテーブルの損傷を防ぐ
ために、単に金属板を配置することも可能であるが、好
ましくは、金属板の表面の少なくとも一部を接着させた
樹脂層を銅張多層板の裏面銅箔と接着させて配置し、貫
通孔あけ後に金属板を剥離するのが良い。
A metal plate can be simply arranged on the back surface of the copper-clad plate to prevent the laser machine table from being damaged by the laser when the holes penetrate. It is preferable that the resin layer to which at least a part is adhered is adhered to the backside copper foil of the copper-clad multilayer board, and that the metal plate is peeled off after drilling the through holes.

【0026】加工された孔内部の表層、内層銅箔の樹脂
が接着していた面には暑さ1μm程度の樹脂層が銅箔表面
に残存する場合が殆どである。この樹脂層を、エッチン
グ前にデスミア処理等の一般に公知の処理で事前に除去
が可能である。しかし、液が小径の孔内部に到達しない
場合、内層の銅箔表面に残存する樹脂層の除去残が発生
し、銅メッキとの接続不良になる場合がある。従って、
より好適には、まず気相で孔内部を処理して樹脂の残存
層を完全に除去し、次いで孔内部及び表裏の銅箔バリを
エッチング除去する。ブラインドビア孔の場合、銅箔バ
リをエッチング除去後に気相処理、又は液相処理を行っ
てビア孔底部の樹脂残を除去するのが良い。もちろん先
に気相処理を行い、その後銅箔バリを除去することもで
きる。気相処理としては一般に公知の処理が使用可能で
あるが、例えばプラズマ処理、低圧紫外線処理等が挙げ
られる。プラズマは、高周波電源により分子を部分的に
励起し、電離させた低温プラズマを用いる。これは、イ
オンの衝撃を利用した高速の処理、ラジカル種による穏
やかな処理が一般には使用され、処理ガスとして、反応
性ガス、不活性ガスが使用される。反応性ガスとして
は、主に酸素が使用され、化学的に表面処理をする。不
活性ガスとしては、主にアルゴンガスを使用する。この
アルゴンガス等を使用し、物理的な表面処理を行う。物
理的な処理は、イオンの衝撃を利用して表面をクリーニ
ングする。低紫外線は、波長が短い領域の紫外線であ
り、波長として、184.9nm、253.7nm がピークの短波長
域の波長を照射し、樹脂層を分解除去する。
In most cases, a resin layer having a heat of about 1 μm is left on the surface of the copper foil surface on the surface of the inner surface of the processed hole where the resin of the copper foil is adhered. This resin layer can be removed in advance by a generally known treatment such as a desmear treatment before etching. However, when the liquid does not reach the inside of the small-diameter hole, a residue of the resin layer remaining on the surface of the inner copper foil may be left behind, resulting in poor connection with copper plating. Therefore,
More preferably, the inside of the hole is first treated in a gas phase to completely remove the residual layer of the resin, and then the inside of the hole and the copper burrs on the front and back surfaces are removed by etching. In the case of a blind via hole, it is preferable to remove a resin residue at the bottom of the via hole by performing a gas phase treatment or a liquid phase treatment after removing the copper foil burr by etching. Of course, it is also possible to perform the gas phase treatment first and then remove the copper foil burrs. As the gas phase treatment, generally known treatments can be used, and examples thereof include a plasma treatment and a low-pressure ultraviolet treatment. As the plasma, low-temperature plasma in which molecules are partially excited by a high-frequency power source and ionized is used. For this, high-speed processing using ion bombardment and gentle processing using radical species are generally used, and reactive gases and inert gases are used as processing gases. As the reactive gas, oxygen is mainly used, and the surface is chemically treated. As the inert gas, an argon gas is mainly used. Using this argon gas or the like, physical surface treatment is performed. Physical treatment uses ion bombardment to clean the surface. The low ultraviolet ray is an ultraviolet ray having a short wavelength region, and irradiates a short wavelength region having a peak at 184.9 nm and 253.7 nm, and decomposes and removes the resin layer.

【0027】孔内部は、通常の銅メッキを施すことも可
能であるが、また銅メッキで孔内部を一部、好適には80
容積%以上充填することもできる。
The inside of the hole can be subjected to ordinary copper plating.
It can also be filled by volume% or more.

【0028】孔あけにおいては、もちろんエキシマレー
ザー、YAGレーザー等も使用できる。又、各レーザーの
併用も可能である。メカニカルドリルの併用も可能であ
る。
For drilling, an excimer laser, a YAG laser or the like can of course be used. Further, the combined use of the lasers is also possible. A mechanical drill can also be used in combination.

【0029】[0029]

【実施例】以下に実施例、比較例で本発明を具体的に説
明する。尚、特に断らない限り、『部』は重量部を表
す。
The present invention will be specifically described below with reference to examples and comparative examples. Unless otherwise specified, “parts” indicates parts by weight.

【0030】実施例1 2,2-ビス(4-シアナトフェニル)プロパン900部、ビス(4-
マレイミドフェニル)メタン100部を150℃に溶融させ、
撹拌しながら4時間反応させ、プレポリマーを得た。こ
れをメチルエチルケトンとジメチルホルムアミドの混合
溶剤に溶解した。これにビスフェノールA型エポキシ樹
脂(商品名:エピコート1001、油化シェルエポキシ<株>
製)400部、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(商品
名:ESCN-220F、住友化学工業<株>製)600部を加え、均
一に溶解混合した。更に触媒としてオクチル酸亜鉛0.4
部を加え、溶解混合し、これに無機充填剤(商品名:焼成
タルク、日本タルク<株>、平均粒子径4μm)2000部、及
び黒色顔料8部を加え、均一撹拌混合してワニスAを得
た。このワニスを厚さ100μmのガラス織布に含浸し150
℃で乾燥して、ゲル化時間(at170℃)102秒、ガラス布の
含有量が50重量%のプリプレグ(プリプレグB)を作成し
た。
Example 1 900 parts of 2,2-bis (4-cyanatophenyl) propane,
100 parts of (maleimidophenyl) methane are melted at 150 ° C,
The mixture was reacted for 4 hours with stirring to obtain a prepolymer. This was dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone and dimethylformamide. Add bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001, Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.)
) And 600 parts of a cresol novolac type epoxy resin (trade name: ESCN-220F, manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.) were uniformly mixed and dissolved. Further, as a catalyst, zinc octylate 0.4
2,000 parts of an inorganic filler (trade name: calcined talc, Nippon Talc Co., Ltd., average particle size 4 μm), and 8 parts of black pigment, and uniformly stirred and mixed to prepare Varnish A. Obtained. This varnish is impregnated with a 100 μm thick glass woven fabric and
It dried at ° C, and prepared the prepreg (prepreg B) whose gel time (at 170 ° C) was 102 seconds and the content of the glass cloth was 50% by weight.

【0031】厚さ5μmの両面処理銅箔の両面にニッケ
ル合金処理(<株>ジャパンエナージーY処理LD箔とも言
う)を3μm施した電解銅を上記プリプレグB 4枚の
表裏に置き、その外側に1.5mmのステンレス板を配置し
これを15セット熱盤間に入れ、200℃、20kgf/cm2、30mm
Hg以下の真空下で2時間積層成形して両面銅張積層板Cを
得た。この4隅にNCドリルマシーンで孔径0.5mmの孔を
あけ、この表裏に厚さ20μmのエッチングフィルムを95
℃でラミネートして貼り付け、銅張積層板Dを得た。一
方、ポリビニルアルコールを水に溶解した樹脂を厚み50
μmのアルミニウム箔の片面に塗布し、110℃で20分乾燥
して、厚さ20μmの塗膜を有するバックアップシートEを
作成した。
Electrolytic copper obtained by applying a nickel alloy treatment (also referred to as Japan Energy Y-treated LD foil) at 3 μm to both sides of a double-sided treated copper foil having a thickness of 5 μm is placed on the front and back of the four prepregs B. place the stainless steel plate 1.5mm put it between 15 sets hot plates, 200 ℃, 20kgf / cm 2 , 30mm
Laminate molding was performed for 2 hours under a vacuum of not more than Hg to obtain a double-sided copper-clad laminate C. Holes with a hole diameter of 0.5 mm are drilled at the four corners with an NC drill machine.
The laminate was laminated at a temperature of 0 ° C. to obtain a copper-clad laminate D. On the other hand, a resin obtained by dissolving polyvinyl alcohol in water
The solution was applied to one side of a μm aluminum foil and dried at 110 ° C. for 20 minutes to prepare a backup sheet E having a coating film having a thickness of 20 μm.

【0032】上記銅張積層板Dの両面に貼ったエッチン
グフィルムの周囲及び中央の6隅に、孔径0.5mmとなる
ようにフィルムを露光、現像して除去し、エッチングで
銅箔を除去し、ターゲツトマークとした(図1
(1))。この裏面にバックアップシートEを配置し、
ターゲットマークをCCDカメラで読み込み、フィルムの
上から径100μmの孔を50mm角内に900個直接炭酸ガスレ
ーザーで、パルス発振で出力15mJで3ショット、20mJで3
ショット照射して、70ブロックの貫通孔をあけた(図1
(2))。この場合、銅箔のバリの長さの最大値は、表
面で20μm、裏面で24μmであった。下側のバックア
ップシートを除去し、エッチングフィルムをそのままに
してプラズマ処理を施し、SUEP液を高速で吹き付け
て、表裏のバリを溶解除去してほぼ0としてから(図1
(3))エッチングフィルムを溶解除去し、表層のニッ
ケル合金処理を薬液で除去後、銅メッキを15μm付着さ
せ(図1(4))、既存の方法にて回路(ライン/スペー
ス=70/70μm)(図1(5))、ハンダボール用パ
ッド等を形成し、少なくとも半導体チップ部、ボンディ
ング用パッド部、ハンダボールパッド部を除いてメッキ
レジストで被覆し、ニッケル、金メッキを施し、プリン
ト配線板を作成した。このプリント配線板の評価結果を
表1に示す。
The film was exposed and developed so as to have a hole diameter of 0.5 mm at the peripheral and central six corners of the etching film stuck on both sides of the copper-clad laminate D, and the copper foil was removed by etching. Target mark (Fig. 1
(1)). Place the backup sheet E on this back,
The target mark is read with a CCD camera, 900 holes with a diameter of 100 μm from the top of the film are 900 directly within a 50 mm square.
Shot irradiation was performed to open 70 block through holes (Fig. 1
(2)). In this case, the maximum value of the length of the burr of the copper foil was 20 μm on the front surface and 24 μm on the back surface. The lower backup sheet is removed, plasma processing is performed while the etching film is left as it is, and burrs on the front and back are dissolved and removed to almost 0 by spraying a high-speed SUEP solution (FIG. 1).
(3)) After dissolving and removing the etching film and removing the nickel alloy treatment on the surface layer with a chemical solution, copper plating is applied to 15 μm (FIG. 1 (4)), and a circuit (line / space = 70/70 μm) is formed by an existing method. (FIG. 1 (5)), pads for solder balls, etc. are formed, covered with a plating resist except for at least the semiconductor chip portion, the bonding pad portions, and the solder ball pad portions, and plated with nickel and gold. It was created. Table 1 shows the evaluation results of the printed wiring board.

【0033】実施例2 エポキシ樹脂(商品名:エピコート1001、油化シェルエ
ポキシ<株>製> 300部、及びエポキシ樹脂(商品名:ESC
N220F、住友化学工業<株>製)700部、ジシアンジアミド
35部、2-エチル-4-メチルイミダゾール1部をメチルエチ
ルケトンとジメチルホルムアミドの混合溶剤に溶解し、
均一に攪拌混合してワニスFとした。これを厚さ100μm
のガラス織布に含浸、乾燥して、ゲル化時間150秒、ガ
ラス布の含有量48重量%のプリプレグG、厚さ50μmのガ
ラス布に含浸、乾燥させてゲル化時間170秒、ガラス布
の含有量31重量%のプリプレグHを作成した。
Example 2 Epoxy resin (trade name: Epicoat 1001, Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.) 300 parts, and epoxy resin (trade name: ESC
N220F, manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.) 700 parts, dicyandiamide
35 parts, 1 part of 2-ethyl-4-methylimidazole was dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone and dimethylformamide,
Varnish F was obtained by uniformly stirring and mixing. This is 100μm thick
Impregnated in glass woven cloth, dried, gelled for 150 seconds, prepreg G with a glass cloth content of 48% by weight, impregnated in glass cloth with a thickness of 50 μm, dried and gelled for 170 seconds, glass cloth Prepreg H having a content of 31% by weight was prepared.

【0034】このプリプレグGを1枚使用し、上下に一般
の12μmの電解銅箔を置き、190℃、20kgf/cm2、30mmHg
で積層成形し、両面銅張積層板Iを得た。この板の表裏
に回路を形成すると同時に4隅に径0.5mmの銅箔を残し
てターゲットマークを作成後、黒色酸化銅処理を施した
後、上下に上記プリプレグHを各1枚置き、その外側に
35μm銅箔キャリア付き厚さ5μmの電解銅箔を配置
し、同様に積層成形して4層の多層板を作成した。35
μm銅箔キャリアを剥離後、銅箔表面にCZ処理(メック
社)を施し、その上に20μmの液状エッチングレジストを
塗布、乾燥し(図2(1))、内層のターゲットマーク
上のレジストを露光、現像して除去し、この部分の銅箔
をエッチング除去してから、この板の下側にバックアッ
プシートEを配置し(図2(2))、外層銅箔をエッチ
ングした箇所から内層板のターゲットマーク(o)をCCDカ
メラで読み込み、レジストの上から炭酸ガスレーザーの
出力10mJで2ショット、15mJで2ショット照射して貫通
孔をあけた。銅箔バリの最大値は、表面で4μm、裏面で
8μmであった。
Using one piece of this prepreg G, place a general 12 μm electrolytic copper foil on the upper and lower sides, 190 ° C., 20 kgf / cm 2 , 30 mmHg
To form a double-sided copper-clad laminate I. At the same time as forming a circuit on the front and back of this board, leaving a copper foil with a diameter of 0.5 mm at the four corners, creating a target mark, applying black copper oxide treatment, placing one of the prepregs H above and below, Then, a 5 μm-thick electrolytic copper foil with a 35 μm copper foil carrier was arranged in the same manner and laminated and formed in the same manner to form a four-layer multilayer board. 35
After removing the μm copper foil carrier, the surface of the copper foil is subjected to CZ treatment (MEC Corporation), and a 20 μm liquid etching resist is applied thereon and dried (FIG. 2 (1)), and the resist on the target mark of the inner layer is removed. Exposure, development, and removal, the copper foil in this portion is removed by etching, and then a backup sheet E is placed below the plate (FIG. 2 (2)). The target mark (o) was read with a CCD camera, and two shots were irradiated from above the resist with a carbon dioxide laser output of 10 mJ and two shots of 15 mJ to make through holes. The maximum value of copper foil burr is 4 μm on the front and
It was 8 μm.

【0035】更に炭酸ガスレーザーの出力12mJ にて3
ショット照射してビア孔をあけた。液状エッチングフィ
ルムをそのままにして、裏面のバックアップシートだけ
を除去し(図2(3))、SUEPにて内外層に発生した銅箔
のバリをほぼ0になるまで溶解除去し(図3(4))て
から、表裏層の液状エッチングレジストを除去(図3
(5))後、過マンガン酸カリウム水溶液にて処理を行
ない、通常の工程を通して15μmの銅メッキを行い(図
3(6))、ライン/スペース=50/50μmのパターンを
作成し、同様にプリント配線板とした。評価結果を表1
に示す。
Further, at an output of 12 mJ of a carbon dioxide laser,
Via irradiation was performed by shot irradiation. While leaving the liquid etching film as it is, only the back-up sheet on the back side was removed (FIG. 2 (3)), and the burr of the copper foil generated on the inner and outer layers was dissolved and removed by SUEP until it became almost 0 (FIG. )) And then removing the liquid etching resist on the front and back layers (FIG. 3).
(5)) Then, a treatment is performed with an aqueous solution of potassium permanganate, copper plating of 15 μm is performed through a normal process (FIG. 3 (6)), and a pattern of line / space = 50/50 μm is created. It was a printed wiring board. Table 1 shows the evaluation results.
Shown in

【0036】比較例1 一般の電解銅箔を用いて実施例1と同様の両面銅張板を
作成し、これを用いて、銅箔表面に実施例1と同一条件
の炭酸ガスレーザー直接照射したが、孔はあかなかっ
た。
Comparative Example 1 A double-sided copper-clad board similar to that of Example 1 was prepared using a general electrolytic copper foil, and the surface of the copper foil was directly irradiated with a carbon dioxide gas laser under the same conditions as in Example 1 using this. However, there was no hole.

【0037】比較例2 エポキシ樹脂(商品名:エピコート5045)2,000部、ジシ
アンジアミド70部、2ーエチルイミダゾール2部をメチル
エチルケトンとジメチルホルムアミドの混合溶剤に溶解
し、更に実施例1の絶縁性無機充填剤を800部加え、攪
拌混合して均一分散してワニスを得た。これを厚さ100
μmのガラス織布に含浸、乾燥して、ゲル化時間140秒
(at170℃),ガラス含有量52重量%のプリプレグJ、ゲ
ル化間180秒、厚さ50μmのガラスクロスを使用しガラス
含有量35重量%のプリプレグKを得た。このプリプレグJ
を2枚使用し、両面に一般の12μmの電解銅箔を置き、18
0℃、20kgf/cm2、30mmHg以下の真空下で2時間積層成形
して両面銅張積層板Lを得た。この積層板Lの両面に回路
を形成し、黒色酸化銅処理後、その両面にプリプレグK
を各1枚置き、その外側に一般の12μm銅箔を配置し、同
様に積層成形した。これを用い、メカニカルドリルで同
様に孔あけして貫通孔を形成した。炭酸ガスレーザーを
直接照射してもビームが反射してビア孔はあかなかっ
た。SUEP処理を行わず銅メッキを施したが、一部入口の
バリ部が成長して孔を塞ぎ、中に銅メッキが付着しない
部分が出た。これを用いて実験例2と同様にプリント配
線板とした。評価結果を表1に示す。
Comparative Example 2 2,000 parts of an epoxy resin (trade name: Epicoat 5045), 70 parts of dicyandiamide, and 2 parts of 2-ethylimidazole were dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone and dimethylformamide. Was added and mixed with stirring to obtain a varnish. This is thickness 100
Impregnated into glass woven cloth of μm, dried and gelled for 140 seconds (at 170 ° C), prepreg J with glass content of 52% by weight, 180 seconds between gelation, glass content of 50μm thick glass cloth 35% by weight of prepreg K was obtained. This prepreg J
Using two sheets, put a general 12μm electrolytic copper foil on both sides, 18
Laminate molding was performed at 0 ° C., 20 kgf / cm 2 , and a vacuum of 30 mmHg or less for 2 hours to obtain a double-sided copper-clad laminate L. Circuits are formed on both sides of this laminate L, and after black copper oxide treatment, prepreg K
Was placed, and a general 12 μm copper foil was placed on the outside thereof, and laminated and formed in the same manner. Using this, a through hole was similarly formed by a mechanical drill. Even if the carbon dioxide laser was directly irradiated, the beam was reflected and no via hole was formed. Although the copper plating was performed without performing the SUEP treatment, a part of the burr at the entrance grew and closed the hole, and there was a portion where the copper plating did not adhere. Using this, a printed wiring board was formed in the same manner as in Experimental Example 2. Table 1 shows the evaluation results.

【0038】比較例3 実施例2において、両面銅張板I(図4(1))を用
い、内層のスルーホールとなる箇所の銅箔を孔径100μm
となるように上下銅箔をエッチング除去し、回路を形成
した後、銅箔表面を黒色酸化銅処理して、その外側にプ
リプレグHを置き、その外側に一般の12μmの電解銅箔を
配置し、同様に積層成形して4層板を作成した。この多
層板を用い、貫通孔を形成する表面の位置に孔径100μ
mの孔を900個、銅箔をエッチングしてあけた。同様に
裏面にも同じ位置に孔径100μmの孔を900個あけた(図
4(2))。1パターン900個を70ブロック、合計63,00
0の孔を、表面から炭酸ガスレーザーで、出力15mJにて
4ショットかけ、貫通孔をあけた(図4(3))。後は
比較例2と同様にして、SUEP処理を行わずに、デスミア
処理を1回施し、銅メッキを15μm施し(図4
(4))、表裏に回路を形成し、同様にプリント配線板
を作成した。評価結果を表1に示す。
Comparative Example 3 In Example 2, a double-sided copper-clad board I (FIG. 4 (1)) was used, and the copper foil at a portion to be a through hole in the inner layer was formed with a hole diameter of 100 μm.
After etching and removing the upper and lower copper foils to form a circuit, the copper foil surface is treated with black copper oxide, prepreg H is placed on the outside, and a general 12μm electrolytic copper foil is placed on the outside. Similarly, a four-layer plate was formed by lamination molding. Using this multilayer board, a hole diameter of 100μ
900 holes were formed in the copper foil by etching. Similarly, 900 holes having a hole diameter of 100 μm were formed at the same position on the back surface (FIG. 4B). 70 blocks of 900 patterns per pattern, total 63,00
The 0 hole was subjected to four shots from the surface with a carbon dioxide laser at an output of 15 mJ to form a through hole (FIG. 4 (3)). Thereafter, in the same manner as in Comparative Example 2, a desmear treatment was performed once and a copper plating was performed at 15 μm without performing the SUEP treatment (FIG. 4).
(4)) A circuit was formed on the front and back, and a printed wiring board was prepared in the same manner. Table 1 shows the evaluation results.

【0039】 表1 項 目 実 施 例 比 較 例 1 2 2 3 表裏面ランド銅箔 との隙間(μm) 0 0 0 22 内層銅箔と孔壁との ー 0 0 36 孔位置のズレ(μm) ガラス転移温度(℃) 235 160 139 160 スルーホール・ヒー トサイクル試験(%) 100 サイクル 1.1 1.3 1.6 3.9 300 サイクル 1.3 1.7 1.8 6.5 500 サイクル 1.6 1.9 2.6 29.9 パターン切れ、及び 0/200 0/200 55/200 52/200 ショート、個数 孔あけ加工時間(分) 19 14 630 ー 耐マイグレーション性(HAST)(Ω) 常態 5x1011 ー 1x1011 ー 200hrs. 7x108 < 108 500hrs. 6x108 ー 700hrs. 4x108 1000hrs. 2x108 Table 1 Item Practical example Comparative example 1 2 2 3 Gap between front and back land copper foil (μm) 0 0 0 22-0 0 36 Hole position deviation (μm) between inner layer copper foil and hole wall ) Glass transition temperature (℃) 235 160 139 160 Through-hole heat cycle test (%) 100 cycles 1.1 1.3 1.6 3.9 300 cycles 1.3 1.7 1.8 6.5 500 cycles 1.6 1.9 2.6 29.9 Pattern breaks and 0/200 0/200 55 / 200 52/200 short, the number drilling time (min) 19 14 630 over migration resistance (HAST) (Omega) normal 5x10 11 over 1x10 11 over 200hrs. 7x10 8 <10 8 500hrs . 6x10 8 over 700hrs. 4x10 8 1000hrs. 2x10 8

【0040】<測定方法> 1)表裏孔位置の隙間 孔径100又は150μm(メカニカルドリル)の孔を900孔/
ブロック として70ブロック(孔計63,000孔)作成し
た。炭酸ガスレーザー及びメカニカルドリルで孔あけを
行ない、1枚の銅張板に 63,000孔をあけるに要した時
間、表裏ランド用銅箔と孔との隙間、及び内層銅箔と孔
壁とのズレの最大値を示した。 2)ガラス転移温度 DMA法にて測定した。 3)スルーホール・ヒートサイクル試験 各スルーホール孔にランド径250μmを作成し、900孔を
表裏交互につなぎ、1サイクルが、260℃・ハンダ・浸せ
き30秒→室温・5分 で、500サイクルまで実施し、抵抗
値の変化率の最大値を示した。 4)耐マイグレーション性(HAST) 孔径100μm又は150μm(メカニカルドリリング)の銅メ
ッキされた貫通孔をそれぞれ表裏交互に1個ずつ計50個
つなぎ、このつないだもの2組が孔壁間150μmで平行に
なるようにして、合計100セット作成し、130℃、85%R
H、1.8VDC にて所定時間処理後に、取り出し、平行に配
列した貫通孔間の絶縁抵抗値を測定した。 5)回路パターン切れ及びシート 実施例、比較例で孔のあいていない板を作成し、ライン
/スペース=50/50μmの櫛型パターンを作成した
後、拡大鏡でエッチング後の200パターンを目視にて
観察し、パターン切れ及びシートの合計を分子に示し
た。
<Measurement method> 1) Clearance between front and back holes The hole with a hole diameter of 100 or 150 μm (mechanical drill) is 900 holes /
70 blocks (63,000 holes total) were prepared. The time required for drilling 63,000 holes in one copper clad plate using a carbon dioxide laser and a mechanical drill, the gap between the copper foil for front and back lands and the hole, and the gap between the inner layer copper foil and the hole wall were measured. The maximum value was shown. 2) Glass transition temperature Measured by the DMA method. 3) Through hole heat cycle test Create a land diameter of 250 μm for each through hole hole, connect 900 holes alternately front and back, one cycle: 260 ° C, solder, immersion 30 seconds → room temperature, 5 minutes, up to 500 cycles The maximum value of the rate of change of the resistance value was shown. 4) Migration resistance (HAST) 50 through holes of 100μm or 150μm (mechanical drilling) copper plated through holes are connected one by one alternately on both sides, and two sets of these are parallel with a hole wall of 150μm. Make a total of 100 sets, 130 ℃, 85% R
After processing at H, 1.8 VDC for a predetermined time, the samples were taken out and the insulation resistance between through holes arranged in parallel was measured. 5) Circuit pattern cut and sheet A board without holes was prepared in the examples and comparative examples, and a comb pattern of line / space = 50/50 μm was prepared. Then, 200 patterns after etching with a magnifying glass were visually observed. The total number of cut patterns and sheets was shown in the molecule.

【0041】[0041]

【発明の効果】炭酸ガスレーザーを直接銅箔上に照射し
て孔あけ可能な表面処理を銅箔表面に施した銅張板の上
にエッチングフィルム又は液状エッチングソルダーレジ
ストを形成し、ターゲットマークの部分の銅箔をエッチ
ング除去後、そのターゲットマークをCCDカメラで読み
込み、直接、該フィルム又はレジスト上から、銅箔を除
去するに十分な炭酸ガスレーザーエネルギーを照射して
貫通孔及び/又はブラインドビア孔を形成することによ
り、孔あけ時に上に飛散した銅箔、ガラス繊維、樹脂な
どの残さが落下して付着するのを防ぐことができる。ま
た、その後、フィルム又はレジストを付着したまま、孔
部に発生した銅箔バリを薬液で溶解除去した後、フィル
ム又はレジストを除去してから銅メッキを施すことによ
り、その後の銅メッキでの孔部の凸発生がなく、孔信頼
性に優れたものが得られる。また、厚さ2〜7μm、好適
には3〜5μmの銅箔を使用することにより、、その後
の銅メッキをしたもののパターン形成において、細密パ
ターンが形成でき、ショート、パターン切れのない高密
度のプリント配線板を得ることができる。更に孔径80〜
180μmの貫通孔及び/又はブラインドビア孔を炭酸ガス
レーザーで形成するのは、エキシマレーザー、YAGレー
ザー、メカニカルドリリングに比べて格段に加工速度が
速く、生産性について大幅に改善できる。
According to the present invention, an etching film or a liquid etching solder resist is formed on a copper-clad plate which has been subjected to a surface treatment capable of piercing by directly irradiating a carbon dioxide laser on the copper foil to form a target mark. After etching and removing the copper foil from the portion, the target mark is read by a CCD camera and directly irradiated from the film or resist with carbon dioxide laser energy sufficient to remove the copper foil, and the through holes and / or blind vias are exposed. By forming the holes, it is possible to prevent the residue of the copper foil, glass fiber, resin, and the like scattered upward at the time of drilling from dropping and attaching. After that, while the film or the resist is still attached, the copper foil burrs generated in the holes are dissolved and removed with a chemical solution, and then the film or the resist is removed and then plated with copper, so that the holes in the subsequent copper plating are formed. There is no protrusion at the portion, and a material having excellent hole reliability can be obtained. Further, by using a copper foil having a thickness of 2 to 7 μm, preferably 3 to 5 μm, a fine pattern can be formed in the subsequent pattern formation of the copper plating, and a high-density pattern with no short circuit or pattern breakage can be formed. A printed wiring board can be obtained. Further, the hole diameter is 80 ~
Forming the through-holes and / or blind via holes of 180 μm with a carbon dioxide gas laser is much faster than excimer lasers, YAG lasers, and mechanical drilling, and can greatly improve productivity.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例1のエッチングフィルム付き両面銅張積
層板のターゲットマークの箇所のフィルム部分を除去し
(1)、ターゲットマークの箇所の銅箔をエッチング除去
後、CCDカメラでターゲットマークを読み込み、炭酸ガ
スレーザーで貫通孔をエッチングフィルム上からあけ
(2)、SUEPによる銅箔バリのエッチング除去(3)、銅メッ
キ(4)及びパターン形成(5)の工程図である。
FIG. 1 shows the removal of the film portion at the target mark of the double-sided copper-clad laminate with an etching film of Example 1.
(1) After etching and removing the copper foil at the target mark, read the target mark with a CCD camera and drill through holes from the etching film with a carbon dioxide laser.
FIG. 2 (2) is a process diagram of etching removal of copper foil burrs by SUEP (3), copper plating (4), and pattern formation (5).

【図2】実施例2の液状エッチングソルダーレジスト付
き4層板(1)、内層に形成されたターゲットマーク上の
銅箔をエッチング除去後、CCDカメラでターゲットマー
クを読み込み(2)、炭酸ガスレーザーによって貫通孔及
びブラインドビア孔をあけ(3)るまでの工程図である。
[FIG. 2] A four-layer plate with a liquid etching solder resist of Example 2 (1). After removing the copper foil on the target mark formed on the inner layer by etching, the target mark is read by a CCD camera (2). FIG. 7 is a process chart until a through hole and a blind via hole are drilled (3).

【図3】実施例2の液状エッチングソルダーレジストを
そのままにしてSUEPにより銅箔バリをエッチングし
(4)、銅メッキ(5)を行う工程図である。
[FIG. 3] A copper foil burr is etched by SUEP while leaving the liquid etching solder resist of Example 2 as it is.
FIG. 4D is a process diagram of performing copper plating (5).

【図4】比較例3の両面銅張多層板の炭酸ガスレーザー
による孔あけ及び銅メッキの工程図である(SUEP無
し)。
FIG. 4 is a process diagram of drilling and copper plating of a double-sided copper-clad multilayer board of Comparative Example 3 with a carbon dioxide gas laser (without SUEP).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

a 銅張積層板の表裏に付着させたエッチングフィル
ム b ニッケル合金処理をした銅箔 c エッチングフィルムを除去した箇所 d CCDカメラ e 銅箔をエッチング除去したターゲットマーク f 炭酸ガスレーザーであけた貫通孔部 g 飛散した加工残さ h 発生した表層銅箔バリ i SUEP処理された表層銅箔バリ j SUEP処理された貫通孔 k 銅メッキされた貫通孔部 l 貫通孔銅メッキ m 表層パターン n 液状エッチングソルダーレジスト o 内層に形成されたターゲットマーク p 内層パターン q 銅箔除去箇所 r CZ処理された表層銅箔 s ポリビニルアルコール樹脂層 t アルミニウム箔 u 炭酸ガスレーザーで孔あけされたブラインドビア
孔部 v 発生したブラインドビア孔部の銅箔バリ w 発生した内層銅箔バリ x SUEP処理された内層銅箔バリ部 y 銅メッキされたブラインドビア孔 z 貫通孔あけ用にエッチング除去した外層箇所 α 貫通孔あけ用にエッチング除去した内層箇所 β ズレを生じた内層銅箔部 γ 銅メッキされたSUEP処理をしていない貫通孔
a Etching film adhered to the front and back of the copper clad laminate b Copper foil treated with nickel alloy c Location where the etching film was removed d CCD camera e Target mark where the copper foil was removed by etching f Through hole with carbon dioxide gas laser g Scattered processing residue h Surface copper foil burr generated i SUEP treated surface copper burr j SUEP treated through hole k Copper plated through hole l Through hole copper plating m Surface layer pattern n Liquid etching solder resist o Target mark formed on inner layer p Inner layer pattern q Copper foil removed point r CZ treated surface copper foil s Polyvinyl alcohol resin layer t Aluminum foil u Blind via hole drilled by carbon dioxide gas laser v Blind via hole generated Part of copper foil burr w Inner layer copper burr generated x SUEP treated inner layer copper burr part y Blind via hole plated with copper z Outer layer portion removed by etching for drilling through hole a Inner layer portion removed by etching for drilling through hole β Inner layer copper foil portion with displacement γ No copper plated SUEP treatment Through hole

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01S 3/00 H01S 3/00 B H05K 3/24 H05K 3/24 A 3/26 3/26 B // B23K 101:42 B23K 101:42 Fターム(参考) 4E068 AF01 AF02 CA02 DA11 DB01 5E343 AA15 AA17 BB14 BB16 BB24 BB67 BB71 CC22 CC32 DD32 EE36 EE38 GG20 5F072 AA05 YY06 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H01S 3/00 H01S 3/00 B H05K 3/24 H05K 3/24 A 3/26 3/26 B // B23K 101: 42 B23K 101: 42 F term (reference) 4E068 AF01 AF02 CA02 DA11 DB01 5E343 AA15 AA17 BB14 BB16 BB24 BB67 BB71 CC22 CC32 DD32 EE36 EE38 GG20 5F072 AA05 YY06

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 銅張板上にエッチングフィルム又は液状
エッチングソルダーレジスト層を配置し、ターゲットマ
ーク箇所のフィルム又はレジスト層を除去した後、該箇
所の銅箔をエッチング除去してターゲットマークを形成
するか、内層板に形成されたターゲットマークを露出
し、CCDカメラでの該ターゲットマーク読み込みにより
位置を定め、直接、該フィルム又はレジスト上から、銅
箔を除去するに十分な炭酸ガスレーザーエネルギーを照
射して貫通孔及び/又はブラインドビア孔を形成し、次
いで孔部に残存する銅箔バリを薬液でエッチング除去し
た後、表層のフィルム又はレジストを除去することを特
徴とする炭酸ガスレーザーによる孔形成方法。
1. An etching film or a liquid etching solder resist layer is disposed on a copper clad board, and after removing a film or a resist layer at a target mark location, a copper foil at the location is etched away to form a target mark. Alternatively, the target mark formed on the inner layer plate is exposed, the position is determined by reading the target mark with a CCD camera, and a sufficient amount of carbon dioxide laser energy is applied to directly remove the copper foil from the film or resist. Forming a through hole and / or a blind via hole, and then removing a copper foil burr remaining in the hole portion by etching with a chemical solution, and then removing a surface film or a resist, thereby forming a hole by a carbon dioxide gas laser. Method.
【請求項2】 銅張板の銅箔が、ニッケル処理、ニッケ
ル合金処理、酸化金属処理又は薬液処理により表面処理
されたものである請求項1記載の炭酸ガスレーザーによ
る孔形成方法。
2. The method according to claim 1, wherein the copper foil of the copper-clad plate is surface-treated by nickel treatment, nickel alloy treatment, metal oxide treatment or chemical treatment.
【請求項3】 炭酸ガスレーザーの出力が、10〜60mJか
ら選ばれた出力である請求項1又は2記載の炭酸ガスレ
ーザーによる孔形成方法。
3. The method for forming holes according to claim 1, wherein the output of the carbon dioxide laser is an output selected from 10 to 60 mJ.
【請求項4】 銅張板の銅箔が、厚さ2〜7μmである請
求項1,2又は3記載の炭酸ガスレーザーによる孔形成
方法。
4. The method according to claim 1, wherein the copper foil of the copper clad board has a thickness of 2 to 7 μm.
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