JP2001174507A - Anisotropic conductive sheet for package evaluation and method of package evaluation using the same - Google Patents

Anisotropic conductive sheet for package evaluation and method of package evaluation using the same

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JP2001174507A
JP2001174507A JP35893099A JP35893099A JP2001174507A JP 2001174507 A JP2001174507 A JP 2001174507A JP 35893099 A JP35893099 A JP 35893099A JP 35893099 A JP35893099 A JP 35893099A JP 2001174507 A JP2001174507 A JP 2001174507A
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package
evaluation
conductive sheet
anisotropic conductive
electrode
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JP35893099A
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Yasushi Kanetani
康 金谷
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Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a conductive sheet for package evaluation capable of preventing a defective contact in an electrical connection between a package and a substrate for evaluation, and a method of package evaluation using the conductive sheet. SOLUTION: This anisotropic conductive sheet for package evaluation is provided between a package and a substrate for evaluation and allows the electrodes provided on the surfaces of the package and substrate opposed to each other to be connected electrically to each other when the characteristics of the package having a plurality of electrodes disposed on one surface of a main body as external terminals are evaluated. A bump having a conductivity and an elasticity is formed of at least any one of the surfaces opposed to the package of the anisotropic conductive sheet and substrate for evaluation at a portion corresponding to the electrode position on the package and substrate side.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、パッケージ評価用
の異方性導電シート及びそれを用いたパッケージの評価
方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an anisotropic conductive sheet for evaluating a package and a method for evaluating a package using the anisotropic conductive sheet.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の小型化,高速化,高機
能化に伴ない、パッケージング技術においても小型薄型
化,多ピン化,3次元化への技術開発が展開されてい
る。最近では、特に、半導体チップと同等若しくはそれ
より僅かに大きい本体サイズを有し、外部端子が本体か
ら突出しない構造を備えたパッケージ(例えばチップサ
イズパッケージ(CSP))が広く用いられるようになっ
てきた。
2. Description of the Related Art In recent years, as electronic devices have become smaller, faster, and more sophisticated, technological developments in packaging technology have also been developed to reduce the size, thickness, increase the number of pins, and increase the number of dimensions. In recent years, in particular, a package (for example, a chip size package (CSP)) having a body size equal to or slightly larger than a semiconductor chip and having a structure in which external terminals do not protrude from the body has been widely used. Was.

【0003】図8に、従来のプロセスを用いて、外部端
子が本体の下面側に配列されたパッケージの電気的な特
性(RF又はDC特性)を評価しようとする状態を概略的
に示す。このパッケージ50は、本体の下面側で略面一
に配置された複数の電極パッド51を有するもので、図
では、本体内に所定の回路基板が半田又は樹脂を用いて
ダイボンドされた後の状態にあるパッケージが示されて
いる。パッケージ50の評価プロセスに際して、パッケ
ージ本体は、異方性導電シート55を介して評価用基板
53上に配置され、該評価用基板53に対して付勢させ
られる。この評価用基板53は、上記パッケージ50側
の電極パッド51に対応して、その上面側に複数の電極
54を有している。
FIG. 8 schematically shows a state in which the electrical characteristics (RF or DC characteristics) of a package in which external terminals are arranged on the lower surface side of a main body are to be evaluated using a conventional process. This package 50 has a plurality of electrode pads 51 arranged substantially flush on the lower surface side of the main body. In the figure, a state after a predetermined circuit board is die-bonded in the main body using solder or resin. Is shown. In the process of evaluating the package 50, the package body is disposed on the evaluation substrate 53 via the anisotropic conductive sheet 55 and is urged against the evaluation substrate 53. The evaluation substrate 53 has a plurality of electrodes 54 on the upper surface side corresponding to the electrode pads 51 on the package 50 side.

【0004】ここで用いられる異方性導電シート55
は、絶縁体内で複数の導電性繊維がシートの厚さ方向に
並びまた導電性フィラーを備えた構造(不図示)を有し、
上下方向に加圧された部分のみ導電性を発効する特性を
有するもので、このような特性によって、上記パッケー
ジ50が評価用基板53に対して付勢させられた場合
に、上記異方性導電シート55を介して互いに対応する
パッケージ50側の電極パッド51と評価用基板53側
の電極54とが、電気的に接続させられることになる。
The anisotropic conductive sheet 55 used here
Has a structure (not shown) in which a plurality of conductive fibers are arranged in the thickness direction of the sheet in the insulator and also provided with a conductive filler,
It has the property of activating conductivity only in the part pressed in the vertical direction. Due to such properties, when the package 50 is urged against the evaluation substrate 53, the anisotropic conductive property is obtained. The corresponding electrode pads 51 on the package 50 and the electrodes 54 on the evaluation substrate 53 are electrically connected to each other via the sheet 55.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の評価プロセスにおいて、図9に示すように、パッケ
ージ50の下面側、すなわち電極パッド51が設けられ
た側で、平面性が良好でない場合、パッケージ50が評
価用基板53に対して付勢させられても、各電極パッド
51又は電極54は、上記異方性導電シート55との接
触状態を十分に確保し得ず、特に多数のポートを有する
パッケージを評価する上で接触不良を生じやすいという
問題があった。この問題は、評価用基板53の電極54
が設けられた側で、平面性が良好でない場合(不図示)に
も、上記の場合と同様に生じるものである。また、近年
では、高周波帯MMIC(モノリシックマイクロ波集積
回路)が組み込まれたパッケージに対してソケット方式
の治具を適用する場合が多くなっているが、前述したよ
うな接触不良は、高周波帯において、測定値の再現性不
良や隣接する電極間のアイソレーションの悪化などの問
題を招来する惧れがある。
However, in such a conventional evaluation process, when the flatness is not good on the lower surface side of the package 50, that is, on the side where the electrode pads 51 are provided, as shown in FIG. Even if the package 50 is urged against the evaluation substrate 53, the electrode pads 51 or the electrodes 54 cannot secure a sufficient contact state with the anisotropic conductive sheet 55, and particularly, a large number of ports. However, there is a problem that a contact failure is likely to occur when evaluating a package having the above. This problem is caused by the problem of the electrode 54 of the evaluation substrate 53.
In the case where flatness is not good (not shown) on the side where is provided, the same occurs as in the above case. In recent years, socket type jigs are often applied to packages incorporating a high frequency band MMIC (monolithic microwave integrated circuit). This may cause problems such as poor reproducibility of measured values and deterioration of isolation between adjacent electrodes.

【0006】なお、例えば特開平5-47428号で
は、電子部品間で電極を良好に接続させる方法として、
多孔性絶縁膜の貫通孔部分に突起電極構造の導電部が形
成されてなる異方性導電膜を用いた電子部品の接続方法
が開示されている。この方法は、異方性導電膜を電子部
品間に介在させて、両電子部品を互いに付勢させた上
で、超音波を印加することにより、上記導電部の表面に
おける自然酸化膜が破壊され、両電極金属の新生面で合
金接合を起こして、確実に接続させるように構成されて
いる。しかし、この場合には、電子部品を接続させる毎
に超音波を印加する必要があるため、作業が面倒であ
る。
[0006] For example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-47428, a method for satisfactorily connecting electrodes between electronic components is as follows.
A connection method of an electronic component using an anisotropic conductive film in which a conductive portion having a protruding electrode structure is formed in a through-hole portion of a porous insulating film is disclosed. According to this method, a natural oxide film on the surface of the conductive portion is destroyed by applying an ultrasonic wave after energizing the two electronic components with an anisotropic conductive film interposed between the electronic components. It is configured so that alloy joining is caused on the new surfaces of both electrode metals to ensure connection. However, in this case, it is necessary to apply an ultrasonic wave every time the electronic component is connected, so that the operation is troublesome.

【0007】そこで、本発明は、上記技術的課題に鑑み
てなされたもので、パッケージと評価用基板との電気的
接続における接触不良を防止し得るパッケージ評価用の
導電シート及びそれを用いたパッケージの評価方法を提
供することを目的とする。
Accordingly, the present invention has been made in view of the above technical problems, and a conductive sheet for evaluating a package and a package using the same, which can prevent contact failure in electrical connection between the package and an evaluation board. The purpose is to provide an evaluation method.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本願の第1の発明は、外
部端子として本体の少なくとも一面側に配置された複数
の電極を有するパッケージの特性を評価するに際して、
該パッケージと評価用基板との間に介在させられ、両者
の対向する面にそれぞれ設けられた電極の対応するもの
同士を電気的に接続させるパッケージ評価用異方性導電
シートにおいて、上記異方性導電シートのパッケージ及
び評価用基板に対向する面の少なくとも一方には、上記
パッケージ又は評価用基板側の電極位置に対応する部位
に、導電性および弾性を有するバンプが形成されている
ことを特徴としたものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for evaluating characteristics of a package having a plurality of electrodes arranged on at least one surface of a main body as external terminals.
The anisotropic conductive sheet for package evaluation, which is interposed between the package and the evaluation substrate and electrically connects corresponding ones of the electrodes provided on the surfaces facing each other, the anisotropic conductive sheet for package evaluation, At least one of the surface of the conductive sheet facing the package and the evaluation substrate has a conductive and elastic bump formed at a position corresponding to the electrode position on the package or the evaluation substrate side. It was done.

【0009】また、本願の第2の発明は、上記パッケー
ジ及び評価用基板側の電極の面積より小さい面積を有す
るバンプが集合してなるバンプ群が、少なくとも上記電
極位置に対応する部位に形成されていることを特徴とし
たものである。
According to a second aspect of the present invention, a bump group formed by assembling bumps having an area smaller than the area of the package and the electrode on the evaluation substrate side is formed at least at a portion corresponding to the electrode position. It is characterized by having.

【0010】更に、本願の第3の発明は、上記バンプ群
が、パッケージ及び評価用基板に対向する面の略全域に
形成されていることを特徴としたものである。
Further, the third invention of the present application is characterized in that the bump group is formed in substantially the entire area of the surface facing the package and the evaluation substrate.

【0011】また、更に、本願の第4の発明は、上記パ
ッケージ及び評価用基板に対向する面の少なくとも一方
で、上記パッケージと評価用基板との間に介在させられ
た状態で、該パッケージの外周部をガイドする外壁部が
設けられていることを特徴としたものである。
Still further, a fourth invention of the present application is directed to a method for manufacturing a semiconductor device, comprising: the package and the evaluation substrate interposed between at least one of the surfaces facing the evaluation substrate and the package. An outer wall portion for guiding the outer peripheral portion is provided.

【0012】また、更に、本願の第5の発明は、外部端
子として本体の一面側に配置された複数の電極を有する
パッケージの特性を評価するに際して、該パッケージ及
び評価用基板の対向する面にそれぞれ設けられた電極の
対応するもの同士を電気的に接続させるパッケージ評価
方法において、上記パッケージと評価用基板との間に、
上記請求項1〜請求項4のいずれか一に記載の異方性導
電シートを介在させ、上記異方性の導電シートに形成さ
れたバンプが上記パッケージ及び評価用基板側の電極に
当接するように、上記パッケージを評価用基板に対して
付勢させることを特徴としたものである。
Further, the fifth invention of the present application is directed to evaluating the characteristics of a package having a plurality of electrodes arranged on one surface side of a main body as external terminals, when evaluating the characteristics of a package and an evaluation substrate on opposing surfaces. In a package evaluation method of electrically connecting corresponding ones of the provided electrodes, between the package and the evaluation substrate,
The bump formed on the anisotropic conductive sheet is brought into contact with the package and the electrode on the evaluation substrate side with the anisotropic conductive sheet according to any one of claims 1 to 4 interposed therebetween. In addition, the package is urged against the evaluation substrate.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、添付図面を参照しながら説明する。 実施の形態1.図1は、本発明の実施の形態1に係る異
方性導電シートを用いて、外部端子が本体の下面側に配
列されたパッケージの電気的な特性(例えばRF又はD
C特性)を評価しようとする状態を概略的に示す断面説
明図である。ここで用いられるパッケージ1は、従来、
表面実装型のマルチポートリードレスパッケージとして
知られるもので、基板上の電極と接続させられる外部端
子として、複数の電極パッド3がパッケージ本体の下面
側に2次元的に配置されている。これらの電極パッド3
は、それぞれ、パッケージ本体の下面と略面一に露出し
ている。図では、本体内に高周波帯用MMIC基板(モ
ノリシックマイクロ波集積回路基板)が半田又は樹脂を
用いてダイボンドされた後の状態にあるパッケージが示
されている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. Embodiment 1 FIG. FIG. 1 shows an electrical characteristic (for example, RF or D) of a package in which external terminals are arranged on the lower surface side of a main body using the anisotropic conductive sheet according to Embodiment 1 of the present invention.
FIG. 4 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state in which C characteristic is to be evaluated. The package 1 used here is conventionally
Known as a surface mount type multiport leadless package, a plurality of electrode pads 3 are two-dimensionally arranged on the lower surface side of the package body as external terminals connected to electrodes on a substrate. These electrode pads 3
Are exposed substantially flush with the lower surface of the package body. The figure shows a package in a state after a high frequency band MMIC substrate (monolithic microwave integrated circuit substrate) is die-bonded using solder or resin in the main body.

【0014】また、一方、上記パッケージ1の入出力電
流,入出力電圧及び電源等の電気的な特性を評価するた
めの基板7(以下、評価用基板という)は、その上面側
に、複数の電極8を備えている。これらの電極8は、そ
れぞれ、上記パッケージ1の下面側に露出する電極パッ
ド3のいずれかに対応するものである。
On the other hand, a substrate 7 (hereinafter referred to as an evaluation substrate) for evaluating electrical characteristics such as input / output current, input / output voltage, and power supply of the package 1 has a plurality of substrates on its upper surface. An electrode 8 is provided. Each of these electrodes 8 corresponds to one of the electrode pads 3 exposed on the lower surface side of the package 1.

【0015】上記パッケージ1の電気的な特性の評価プ
ロセスに際して、パッケージ本体は、異方性導電シート
5を介して上記評価用基板7上に配置され、異方性導電
シート5に圧着させられるように、評価用基板7に対し
て付勢させられる。パッケージ1と評価用基板7との間
に介在させられる異方性導電シート5は、いわゆる繊維
埋め込み型のもので、ゴム製の絶縁体内に例えば金属繊
維やカーボン繊維などの導電性繊維が埋め込まれてシー
トの厚さ方向に整列させられ、また、導電性フィラーを
備えた構造(不図示)を有し、上下方向に加圧された部分
のみ導電性を発効する特性を有している。
In the process of evaluating the electrical characteristics of the package 1, the package body is placed on the evaluation substrate 7 via the anisotropic conductive sheet 5 and pressed against the anisotropic conductive sheet 5. Then, it is urged against the evaluation substrate 7. The anisotropic conductive sheet 5 interposed between the package 1 and the evaluation substrate 7 is a so-called fiber-embedded type, in which conductive fibers such as metal fibers and carbon fibers are embedded in a rubber insulator. And has a structure (not shown) provided with a conductive filler, and has a property of effecting conductivity only in a vertically pressed portion.

【0016】この実施の形態では、上記異方性導電シー
ト5の上面、すなわち上記パッケージ1に対向する面
で、所定高さの複数のバンプ5aがシート本体と一体的
に形成され、パッケージ1側の各電極パッド3の位置に
対応するように配置されている。また、シート本体と一
体的に形成されたバンプ5aは、前述した異方性導電シ
ート5の構造によって、導電性及び弾性を有している。
In this embodiment, a plurality of bumps 5a having a predetermined height are formed integrally with the sheet body on the upper surface of the anisotropic conductive sheet 5, ie, the surface facing the package 1, and Are arranged so as to correspond to the positions of the respective electrode pads 3. The bumps 5a formed integrally with the sheet body have conductivity and elasticity due to the structure of the anisotropic conductive sheet 5 described above.

【0017】図2は、かかるバンプ5aが形成された異
方性導電シート5を介して、上記パッケージ1が評価用
基板7に対して付勢させられる状態を示す断面説明図で
ある。この評価プロセスに際して、例えばシリコンゴム
などの絶縁材料からなる押圧部材11がパッケージ1の
上面側に垂直に下ろされて、パッケージ1に付勢力が付
与される。この場合には、上記異方性導電シート5上の
各バンプ5aが、対応するパッケージ1側の電極パッド
3に当接し、弾性変形するように、上記評価用基板7に
対してパッケージ1を付勢させる。これにより、パッケ
ージ1側の電極パッド3と異方性導電シート5側のバン
プ5aとの間で十分な接触状態が確保される。また、こ
れに伴なって、異方性導電シート5の下面側では、評価
用基板7側の電極8と異方性導電シート1との間で接触
状態が確保される。
FIG. 2 is an explanatory sectional view showing a state in which the package 1 is urged against the evaluation substrate 7 via the anisotropic conductive sheet 5 on which the bumps 5a are formed. In this evaluation process, the pressing member 11 made of an insulating material such as silicon rubber is vertically lowered on the upper surface side of the package 1 to apply an urging force to the package 1. In this case, the package 1 is attached to the evaluation substrate 7 so that each bump 5a on the anisotropic conductive sheet 5 comes into contact with the corresponding electrode pad 3 on the package 1 side and is elastically deformed. Inspire. Thereby, a sufficient contact state is ensured between the electrode pad 3 on the package 1 side and the bump 5a on the anisotropic conductive sheet 5 side. Accordingly, on the lower surface side of the anisotropic conductive sheet 5, a contact state between the electrode 8 on the evaluation substrate 7 side and the anisotropic conductive sheet 1 is ensured.

【0018】この実施の形態では、上記各バンプ5aが
シート5の平面より隆起しているので、上記パッケージ
1側の電極パッド3に接触し易い。このため、図2に示
すように、パッケージ1の下面側で平面性が良好でない
場合にも、パッケージ1側の電極パッド3と異方性導電
シート5側のバンプ5aとの間で十分な接触状態を確保
することができ、これにより、異方性導電シート5の特
性に基づいて、パッケージ1側の電極パッド3と評価用
基板7側の電極8との間で、電気的な接続を実現するこ
とができる。また、このように、高周波帯MMIC(モ
ノリシックマイクロ波集積回路)が組み込まれたパッケ
ージ1と評価用基板7との間での電気接続を確実にする
ことにより、高周波帯において、測定値の再現性不良や
隣接する電極間のアイソレーションの悪化が生じる惧れ
をなくすることができる。更に、上記異方性導電シート
5は、そのバンプ5aが弾性を有し、上記押圧部材11
が取り外された場合に元の形に戻るので、繰返し使用可
能である。
In this embodiment, since each of the bumps 5a protrudes from the plane of the sheet 5, it is easy to come into contact with the electrode pads 3 on the package 1 side. For this reason, as shown in FIG. 2, even when the flatness is not good on the lower surface side of the package 1, sufficient contact between the electrode pads 3 on the package 1 side and the bumps 5a on the anisotropic conductive sheet 5 side is sufficient. As a result, an electrical connection can be realized between the electrode pad 3 on the package 1 and the electrode 8 on the evaluation substrate 7 based on the characteristics of the anisotropic conductive sheet 5. can do. In this way, by ensuring the electrical connection between the package 1 in which the high-frequency band MMIC (monolithic microwave integrated circuit) is incorporated and the evaluation board 7, the reproducibility of the measured values in the high-frequency band is ensured. It is possible to eliminate the possibility that a defect or deterioration of isolation between adjacent electrodes occurs. Further, in the anisotropic conductive sheet 5, the bumps 5a have elasticity, and the pressing members 11
Is returned to its original shape when it is removed, so that it can be used repeatedly.

【0019】なお、この実施の形態1では、上記異方性
導電シート5において、パッケージ1に対向する面にバ
ンプ5aが形成された場合について説明したが、これに
限定されることなく、前述したようなバンプ5aは評価
用基板7に対向する面に形成されてもよい。この場合に
は、上記の場合と同様にして、平面性の良好でない評価
用基板7側の電極8と異方性導電シート5に形成された
バンプ5aとの間で接触状態を確保することができる。
In the first embodiment, the case where the bumps 5a are formed on the surface facing the package 1 in the anisotropic conductive sheet 5 has been described. However, the present invention is not limited to this. Such a bump 5a may be formed on the surface facing the evaluation substrate 7. In this case, as in the case described above, it is possible to secure a contact state between the electrode 8 on the evaluation substrate 7 side having poor flatness and the bump 5 a formed on the anisotropic conductive sheet 5. it can.

【0020】以下、本発明の他の実施の形態について説
明する。なお、以下の説明では、前述した実施の形態1
における場合と同じものについては、同一の符号を付
し、それ以上の説明は省略する。 実施の形態2.図3は、本発明の実施の形態2に係る異
方性導電シートを用いて、パッケージの電気的な特性を
評価しようとする状態を概略的に示す断面説明図であ
る。この場合には、実施の形態1における場合と同様
に、パッケージ1の電気的な特性の評価プロセスに際し
て、パッケージ1と評価用基板7との間に異方性導電シ
ート15が介在させられるが、この実施の形態2では、
異方性導電シート15の両面、すなわち、上記パッケー
ジ1及び評価用基板7に対向する面に、それぞれ、所定
高さのバンプ15a,15bがシート本体と一体的に形
成されている。これらバンプ15a及び15bは、それ
ぞれ、パッケージ1側の各電極パッド3および評価用基
板7側の電極8の位置に対応するように配置されてい
る。
Hereinafter, another embodiment of the present invention will be described. In the following description, the first embodiment described above is used.
The same reference numerals are given to the same components as in the above, and further description is omitted. Embodiment 2 FIG. FIG. 3 is a cross-sectional explanatory view schematically showing a state in which electrical characteristics of a package are to be evaluated using the anisotropic conductive sheet according to Embodiment 2 of the present invention. In this case, anisotropic conductive sheet 15 is interposed between package 1 and evaluation substrate 7 during the process of evaluating the electrical characteristics of package 1 as in the first embodiment. In the second embodiment,
On both surfaces of the anisotropic conductive sheet 15, that is, on the surface facing the package 1 and the evaluation substrate 7, bumps 15a and 15b having a predetermined height are formed integrally with the sheet body. These bumps 15a and 15b are arranged so as to correspond to the positions of the respective electrode pads 3 on the package 1 side and the electrodes 8 on the evaluation substrate 7 side.

【0021】パッケージ1の電気的な特性の評価プロセ
スに際し、パッケージ1が評価用基板7に対して付勢さ
せられると、上記異方性導電シート15の上面側では、
各バンプ15aがパッケージ1側の電極パッド3に当接
し、弾性変形して、パッケージ1側の電極パッド3と異
方性導電シート15側のバンプ15aとの間に十分な接
触状態が確保される。他方、異方性導電シート15の下
面側では、各バンプ15bが評価用基板7側の電極8に
当接し、弾性変形して、評価用基板7側の電極8と異方
性導電シート15側のバンプ15bとの間に十分な接触
状態が確保される。
In the process of evaluating the electrical characteristics of the package 1, when the package 1 is urged against the evaluation substrate 7, the upper surface of the anisotropic conductive sheet 15
Each bump 15a abuts on the electrode pad 3 on the package 1 and is elastically deformed to ensure a sufficient contact state between the electrode pad 3 on the package 1 and the bump 15a on the anisotropic conductive sheet 15 side. . On the other hand, on the lower surface side of the anisotropic conductive sheet 15, each bump 15b abuts on the electrode 8 on the evaluation substrate 7 side and is elastically deformed, so that the electrode 8 on the evaluation substrate 7 side and the electrode 8 on the anisotropic conductive sheet 15 side And a sufficient contact state with the bump 15b.

【0022】これにより、パッケージ1の下面側及び評
価用基板7の上面側で平面性が良好でない場合にも、パ
ッケージ1側の電極パッド3と異方性導電シート5側の
バンプ15aとの間で、また、評価用基板7側の電極8
と異方性導電シート15側のバンプ15bとの間で十分
な接触状態を確保することができ、パッケージ1側の電
極パッド3と評価用基板7側の電極8との間で、一層確
実に電気的な接続を実現することができる。
Accordingly, even when the flatness on the lower surface side of the package 1 and the upper surface side of the evaluation substrate 7 is not good, the gap between the electrode pads 3 on the package 1 and the bumps 15a on the anisotropic conductive sheet 5 can be improved. And the electrode 8 on the evaluation substrate 7 side.
And the bumps 15b on the side of the anisotropic conductive sheet 15 can secure a sufficient contact state, and the electrode pads 3 on the package 1 side and the electrodes 8 on the evaluation board 7 side can be more reliably maintained. Electrical connection can be realized.

【0023】実施の形態3.図4は、本発明の実施の形
態3に係る異方性導電シートを用いて、パッケージの電
気的な特性を評価しようとする状態を概略的に示す断面
説明図である。この実施の形態3では、異方性導電シー
ト25の上面に、パッケージ1側の電極パッド3の面積
よりも小さい面積を有するバンプ27aが集合してなる
バンプ群27が形成されている。これらバンプ群27
は、上記各電極パッド3の位置及びその近傍に対応する
ように複数配置されている。また、上記異方性導電シー
ト25は、前述した実施の形態1における場合と同様の
特性を有するものであり、上記バンプ群27を形成する
バンプ27aは、それぞれ、導電性及び弾性を有してい
る。
Embodiment 3 FIG. FIG. 4 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state in which electrical characteristics of a package are to be evaluated using the anisotropic conductive sheet according to Embodiment 3 of the present invention. In the third embodiment, on the upper surface of the anisotropic conductive sheet 25, a bump group 27 formed by collecting bumps 27a having an area smaller than the area of the electrode pads 3 on the package 1 side is formed. These bump groups 27
Are arranged at positions corresponding to the electrode pads 3 and the vicinity thereof. Further, the anisotropic conductive sheet 25 has the same characteristics as those in the first embodiment, and the bumps 27 a forming the bump group 27 have conductivity and elasticity, respectively. I have.

【0024】図5は、かかるバンプ群27が形成された
異方性導電シート25を介して、上記パッケージ1が評
価用基板7に対して付勢させられる状態を示す断面説明
図である。パッケージ1が評価用基板7に対して付勢さ
せられた場合に、上記異方性導電シート25上に形成さ
れた各バンプ群27において、パッケージ1側の電極パ
ッド3に対向する部位にあるバンプ27aが、該電極パ
ッド3に当接し、弾性変形する。これにより、パッケー
ジ1側の電極パッド3と異方性導電シート25側のバン
プ27aとの間で十分な接触状態が確保される。また、
これに伴ない、異方性導電シート25の下面側では、評
価用基板7側の電極8と異方性導電シート1との間で接
触状態が確保される。
FIG. 5 is an explanatory sectional view showing a state in which the package 1 is urged against the evaluation substrate 7 via the anisotropic conductive sheet 25 on which the bump group 27 is formed. When the package 1 is urged against the evaluation substrate 7, the bumps at the portions of the bump groups 27 formed on the anisotropic conductive sheet 25 that face the electrode pads 3 on the package 1 side 27a comes into contact with the electrode pad 3 and is elastically deformed. This ensures a sufficient contact state between the electrode pads 3 on the package 1 side and the bumps 27a on the anisotropic conductive sheet 25 side. Also,
Accordingly, on the lower surface side of the anisotropic conductive sheet 25, a contact state between the electrode 8 on the evaluation substrate 7 side and the anisotropic conductive sheet 1 is ensured.

【0025】この実施の形態3では、バンプ27aの面
積が電極パッド3のそれよりも小さいため、各バンプ群
27において、少なくとも電極パッド3に対向するバン
プ27aが存在していれば、そのバンプ27aが電極パ
ッド3に接触することができ、パッケージ1側の電極パ
ッド3と異方性導電シート25側のバンプ27aとの間
で接触状態が確保される。すなわち、この場合には、パ
ッケージ1の評価プロセスに際して、パッケージ1に対
する異方性導電シート25の位置決めが比較的容易であ
り、パッケージ1側の電極パッド3と評価用基板7側の
電極8との間で、一層確実に電気的な接続を実現するこ
とができる。また、上記異方性導電シート25は、その
バンプ群27におけるバンプ27aが弾性を有するの
で、繰返し使用可能である。
In the third embodiment, since the area of the bump 27a is smaller than that of the electrode pad 3, if at least the bump 27a facing the electrode pad 3 exists in each bump group 27, the bump 27a Can contact the electrode pads 3, and a contact state is secured between the electrode pads 3 on the package 1 side and the bumps 27 a on the anisotropic conductive sheet 25 side. That is, in this case, the positioning of the anisotropic conductive sheet 25 with respect to the package 1 during the process of evaluating the package 1 is relatively easy, and the electrode pads 3 on the package 1 and the electrodes 8 on the evaluation substrate 7 are relatively easily positioned. Electrical connection can be more reliably realized between them. The anisotropic conductive sheet 25 can be used repeatedly because the bumps 27a in the bump group 27 have elasticity.

【0026】実施の形態4.図6は、本発明の実施の形
態4に係る異方性導電シートを用いて、パッケージの電
気的な特性を評価しようとする状態を概略的に示す断面
説明図である。この異方性導電シート35は、その上面
及び下面に、上記実施の形態3における場合と同様に、
パッケージ1側の電極パッド3の面積より小さい面積を
有するバンプ37a,38aが集合してなるバンプ群3
7,38を有するもので、この実施の形態4では、異方
性導電シート35の上面及び下面の略全域において、上
記バンプ群37,38が形成されている。
Embodiment 4 FIG. 6 is a cross-sectional explanatory view schematically showing a state in which electrical characteristics of a package are to be evaluated using the anisotropic conductive sheet according to Embodiment 4 of the present invention. This anisotropic conductive sheet 35 has an upper surface and a lower surface, as in the third embodiment,
Bump group 3 in which bumps 37a and 38a having an area smaller than the area of electrode pad 3 on package 1 are collected.
In the fourth embodiment, the bump groups 37 and 38 are formed in substantially the entire upper surface and lower surface of the anisotropic conductive sheet 35.

【0027】このように、異方性導電シート35の上面
及び下面の略全域にバンプ群37,38を設けることに
より、パッケージ1側の電極パッド3及び評価用基板7
側の電極8に対する異方性導電シート35のバンプ3
7,38の位置合せはほとんど不要となる。また、この
場合、異方性導電シート35は、電極パッド3又は電極
7の位置が異なる各種のパッケージ1又は評価用基板7
に対応可能である。
As described above, by providing the bump groups 37 and 38 over substantially the entire upper and lower surfaces of the anisotropic conductive sheet 35, the electrode pads 3 on the package 1 side and the evaluation substrate 7 are provided.
Bumps 3 of anisotropic conductive sheet 35 with respect to side electrode 8
The alignment of 7, 38 is almost unnecessary. Further, in this case, the anisotropic conductive sheet 35 is provided with various packages 1 or evaluation substrates 7 having different positions of the electrode pads 3 or the electrodes 7.
It is possible to correspond to.

【0028】実施の形態5.図7は、本発明の実施の形
態5に係る異方性導電シートを用いて、パッケージの電
気的な特性を評価しようとする状態を概略的に示す断面
説明図である。この異方性導電シート45は、実施の形
態1における場合と同様に、その上面に、パッケージ1
側の各電極パッド3の位置に対応して配置されたバンプ
45aを有しており、この実施の形態5では、更に、そ
の上面の周縁部に、所定高さの外壁部45dが設けられ
ている。
Embodiment 5 FIG. 7 is a cross-sectional explanatory view schematically showing a state in which electrical characteristics of a package are to be evaluated using the anisotropic conductive sheet according to Embodiment 5 of the present invention. This anisotropic conductive sheet 45 has a package 1 on its upper surface as in the case of the first embodiment.
In the fifth embodiment, an outer wall portion 45d having a predetermined height is further provided on the peripheral portion of the upper surface in the bump 45a arranged corresponding to the position of each electrode pad 3 on the side. I have.

【0029】この外壁部45dは、パッケージ1の評価
プロセスに際して、上記パッケージ1と評価用基板7と
の間に介在させられる場合に、パッケージ1の外周部を
ガイドして、パッケージ1側の電極パッド3とそれに対
応する異方性導電シート45側のバンプ45aとを正確
に位置決めすることができる。かかる外壁部45dを設
けることにより、パッケージ1に対する異方性導電シー
ト45の位置合せが容易となり、パッケージ1側の電極
パッド3と評価用基板7側の電極8との間で、一層確実
に電気的な接続を実現することができる。この実施の形
態5では、異方性導電シート45の上面に外壁部45d
が形成された場合について説明されているが、これに限
定されることなく、異方性導電シート45の上面に外壁
部45dが形成されるとともに、上記異方性導電シート
45の評価用基板7に対向する面において、該評価用基
板7の外周部をガイドする外壁部が形成されてもよい。
The outer wall portion 45d guides the outer peripheral portion of the package 1 when it is interposed between the package 1 and the evaluation board 7 during the evaluation process of the package 1, and serves as an electrode pad on the package 1 side. 3 and the corresponding bump 45a on the anisotropic conductive sheet 45 side can be accurately positioned. By providing such an outer wall portion 45d, the alignment of the anisotropic conductive sheet 45 with respect to the package 1 is facilitated, and the electrical connection between the electrode pads 3 on the package 1 side and the electrodes 8 on the evaluation substrate 7 side is more reliably achieved. Connection can be realized. In the fifth embodiment, the outer wall portion 45 d
Is described, but the present invention is not limited to this. The outer wall 45d is formed on the upper surface of the anisotropic conductive sheet 45, and the evaluation substrate 7 of the anisotropic conductive sheet 45 is formed. An outer wall portion for guiding the outer peripheral portion of the evaluation substrate 7 may be formed on the surface opposed to.

【0030】なお、本発明は、例示された実施の形態に
限定されるものでなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲
において、種々の改良及び設計上の変更が可能であるこ
とは言うまでもない。
The present invention is not limited to the illustrated embodiment, and it goes without saying that various improvements and design changes can be made without departing from the spirit of the present invention.

【0031】[0031]

【発明の効果】本願の請求項1の発明によれば、外部端
子として本体の少なくとも一面側に配置された複数の電
極を有するパッケージの特性を評価するに際して、該パ
ッケージと評価用基板との間に介在させられ、両者の対
向する面にそれぞれ設けられた電極の対応するもの同士
を電気的に接続させるパッケージ評価用異方性導電シー
トにおいて、上記異方性導電シートのパッケージ及び評
価用基板に対向する面の少なくとも一方には、上記パッ
ケージ又は評価用基板側の電極位置に対応する部位に、
導電性および弾性を有するバンプが形成されているの
で、パッケージ及び評価用基板の平面性が良好でない場
合にも、上記異方性導電シート側のバンプがパッケージ
側の電極及び評価用基板側の電極と接触することがで
き、パッケージ側の電極と評価用基板側の電極との間
で、電気的な接続を確実に実現することができる。この
結果、接触不良に起因する高周波特性の測定値の再現性
不良を防止することができる。また、異方性導電シート
は、上記バンプにおいて弾性を有するので、繰返し使用
可能である。
According to the first aspect of the present invention, when evaluating the characteristics of a package having a plurality of electrodes arranged on at least one surface side of the main body as external terminals, the characteristic between the package and the evaluation board is evaluated. In the anisotropic conductive sheet for package evaluation that is interposed between and electrically connects corresponding ones of the electrodes provided on the surfaces facing each other, the package of the anisotropic conductive sheet and the evaluation substrate At least one of the opposing surfaces has a portion corresponding to an electrode position on the package or evaluation substrate side,
Since bumps having conductivity and elasticity are formed, the bumps on the anisotropic conductive sheet side can be used as the electrodes on the package side and the electrodes on the evaluation substrate side even when the flatness of the package and the evaluation substrate is not good. , And electrical connection can be reliably realized between the electrode on the package side and the electrode on the evaluation substrate side. As a result, it is possible to prevent poor reproducibility of measured values of the high-frequency characteristics due to poor contact. Further, the anisotropic conductive sheet has elasticity in the bumps, and thus can be used repeatedly.

【0032】また、本願の請求項2の発明によれば、パ
ッケージ及び評価用基板側の電極の面積より小さい面積
を有するバンプが集合してなるバンプ群が、少なくとも
上記電極位置に対応する部位に形成されているので、各
バンプ群において、少なくともパッケージ側の電極に対
向するバンプが存在していれば、そのバンプがパッケー
ジ側の電極に接触することができ、パッケージ側の電極
と異方性導電シート側のバンプとの間で接触状態を確保
することができる。すなわち、この発明によれば、パッ
ケージの評価プロセスに際して、パッケージに対する異
方性導電シートの位置決めが比較的容易であり、パッケ
ージ側の電極と評価用基板側の電極との間で、一層確実
に電気的な接続を実現することができる。また、異方性
導電シートは、そのバンプ群におけるバンプが弾性を有
するので、繰返し使用可能である。
Further, according to the invention of claim 2 of the present application, a bump group in which bumps having an area smaller than the area of the package and the electrode on the evaluation substrate side are gathered at least at a portion corresponding to the electrode position. Since each bump group has at least a bump facing the package-side electrode, the bump can contact the package-side electrode, and the package-side electrode and the anisotropic conductive material are formed. A contact state with the bump on the sheet side can be ensured. That is, according to the present invention, during the package evaluation process, the positioning of the anisotropic conductive sheet with respect to the package is relatively easy, and the electrical connection between the package side electrode and the evaluation board side electrode is made more reliable. Connection can be realized. The anisotropic conductive sheet can be used repeatedly because the bumps in the bump group have elasticity.

【0033】更に、本願の請求項3の発明によれば、上
記バンプ群が、パッケージ及び評価用基板に対向する面
の略全域に形成されており、パッケージ側の電極及び評
価用基板側の電極に対する異方性導電シートのバンプの
位置合せがほとんど不要であり、パッケージ側の電極と
評価用基板側の電極との間で、より一層確実に電気的な
接続を実現することができる。また、異方性導電シート
は、電極の位置が異なる各種のパッケージ又は評価用基
板に対応可能である。
Further, according to the invention of claim 3 of the present application, the bump group is formed in substantially the entire area of the surface facing the package and the evaluation substrate, and the electrodes on the package side and the electrodes on the evaluation substrate side are formed. It is almost unnecessary to align the bumps of the anisotropic conductive sheet with respect to the above, and it is possible to more reliably realize the electrical connection between the electrode on the package side and the electrode on the evaluation substrate side. Further, the anisotropic conductive sheet can be used for various packages or evaluation substrates in which the positions of the electrodes are different.

【0034】また、更に、本願の請求項4の発明によれ
ば、上記パッケージ及び評価用基板に対向する面の少な
くとも一方で、上記パッケージと評価用基板との間に介
在させられた状態で、該パッケージの外周部をガイドす
る外壁部が設けられているので、パッケージ側の電極と
それに対応する異方性導電シート側のバンプとを正確に
位置決めするように、パッケージに対する異方性導電シ
ートの位置合せを容易に行うことができる。この結果、
パッケージ側の電極と評価用基板側の電極との間で、一
層確実に電気的な接続を実現することができる。
Further, according to the invention of claim 4 of the present application, at least one of the surfaces facing the package and the evaluation substrate is interposed between the package and the evaluation substrate. Since the outer wall portion for guiding the outer peripheral portion of the package is provided, the anisotropic conductive sheet with respect to the package is positioned so that the electrodes on the package side and the bumps on the anisotropic conductive sheet side corresponding thereto are accurately positioned. Positioning can be easily performed. As a result,
Electrical connection can be more reliably realized between the electrode on the package side and the electrode on the evaluation substrate side.

【0035】また、更に、本願の請求項5の発明によれ
ば、パッケージと評価用基板との間に、本願の請求項1
〜請求項4の発明のいずれか一による異方性導電シート
を介在させ、該異方性導電シートに形成されたバンプが
パッケージ及び評価用基板側の電極に当接するように、
上記パッケージを評価用基板に対して付勢させるので、
異方性導電シート側のバンプとパッケージ及び評価用基
板側の電極との間で十分な接触状態を確保することがで
きる。これにより、上記パッケージ側の電極と評価用基
板側の電極との間で、電気的な接続を確実に実現するこ
とができる。
Further, according to the fifth aspect of the present invention, the first aspect of the present invention is provided between the package and the evaluation board.
The anisotropic conductive sheet according to any one of claims 1 to 4 is interposed, and the bumps formed on the anisotropic conductive sheet are in contact with the package and the electrode on the evaluation substrate side.
Since the above package is urged against the evaluation board,
A sufficient contact state can be secured between the bumps on the anisotropic conductive sheet side and the electrodes on the package and the substrate for evaluation. Thereby, electrical connection can be reliably realized between the electrode on the package side and the electrode on the evaluation substrate side.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態1に係る異方性導電シー
トを用いて、パッケージを評価しようとする状態を概略
的に示す断面説明図である。
FIG. 1 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state in which a package is to be evaluated using an anisotropic conductive sheet according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】 上記異方性導電シートとパッケージとの接触
状態を拡大して示す断面説明図である。
FIG. 2 is an explanatory cross-sectional view showing an enlarged state of contact between the anisotropic conductive sheet and a package.

【図3】 本発明の実施の形態2に係る異方性導電シー
トを用いて、パッケージを評価しようとする状態を概略
的に示す断面説明図である。
FIG. 3 is a cross-sectional explanatory view schematically showing a state where a package is to be evaluated using an anisotropic conductive sheet according to a second embodiment of the present invention.

【図4】 本発明の実施の形態3に係る異方性導電シー
トを用いて、パッケージを評価しようとする状態を概略
的に示す断面説明図である。
FIG. 4 is an explanatory sectional view schematically showing a state in which a package is to be evaluated using an anisotropic conductive sheet according to a third embodiment of the present invention.

【図5】 上記実施の形態3に係る異方性導電シートと
パッケージとの接触状態を拡大して示す断面説明図であ
る。
FIG. 5 is an enlarged sectional explanatory view showing a contact state between an anisotropic conductive sheet and a package according to the third embodiment.

【図6】 本発明の実施の形態4に係る異方性導電シー
トを用いて、パッケージを評価しようとする状態を概略
的に示す断面説明図である。
FIG. 6 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state in which a package is to be evaluated using the anisotropic conductive sheet according to Embodiment 4 of the present invention.

【図7】 本発明の実施の形態5に係る異方性導電シー
トを用いて、パッケージを評価しようとする状態を概略
的に示す断面説明図である。
FIG. 7 is an explanatory sectional view schematically showing a state in which a package is to be evaluated using an anisotropic conductive sheet according to a fifth embodiment of the present invention.

【図8】 従来の異方性導電シートを用いて、パッケー
ジを評価しようとする状態を概略的に示す断面説明図で
ある。
FIG. 8 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state where a package is to be evaluated using a conventional anisotropic conductive sheet.

【図9】 従来の異方性導電シートとパッケージとの接
触状態を拡大して示す断面説明図である。
FIG. 9 is an enlarged cross-sectional explanatory view showing a contact state between a conventional anisotropic conductive sheet and a package.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 パッケージ,3 電極パッド,5 異方性導電シー
ト,5a バンプ,7評価用基板,8 電極,27 バ
ンプ群,45d 外壁部
1 package, 3 electrode pads, 5 anisotropic conductive sheet, 5a bump, 7 evaluation board, 8 electrodes, 27 bump group, 45d outer wall

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 外部端子として本体の少なくとも一面側
に配置された複数の電極を有するパッケージの特性を評
価するに際して、該パッケージと評価用基板との間に介
在させられ、両者の対向する面にそれぞれ設けられた電
極の対応するもの同士を電気的に接続させるパッケージ
評価用異方性導電シートにおいて、 上記異方性導電シートのパッケージ及び評価用基板に対
向する面の少なくとも一方には、上記パッケージ又は評
価用基板側の電極位置に対応する部位に、導電性および
弾性を有するバンプが形成されていることを特徴とする
パッケージ評価用異方性導電シート。
When evaluating the characteristics of a package having a plurality of electrodes arranged on at least one side of a main body as external terminals, the package is interposed between the package and an evaluation board, and is provided on a surface opposed to the two. In the package evaluation anisotropic conductive sheet for electrically connecting corresponding ones of the provided electrodes, at least one of the surface of the anisotropic conductive sheet facing the package and the evaluation substrate includes the package. Alternatively, an anisotropic conductive sheet for package evaluation, wherein bumps having conductivity and elasticity are formed in portions corresponding to electrode positions on the evaluation substrate side.
【請求項2】 上記パッケージ及び評価用基板側の電極
の面積より小さい面積を有するバンプが集合してなるバ
ンプ群が、少なくとも上記電極位置に対応する部位に形
成されていることを特徴とする請求項1記載のパッケー
ジ評価用異方性導電シート。
2. A bump group formed by assembling bumps having an area smaller than the area of the package and the electrode on the evaluation substrate side is formed at least at a portion corresponding to the electrode position. Item 2. An anisotropic conductive sheet for package evaluation according to item 1.
【請求項3】 上記バンプ群が、パッケージ及び評価用
基板に対向する面の略全域に形成されていることを特徴
とする請求項2記載のパッケージ評価用異方性導電シー
ト。
3. The anisotropic conductive sheet for package evaluation according to claim 2, wherein the bump group is formed in substantially the entire area of the surface facing the package and the substrate for evaluation.
【請求項4】 上記パッケージ及び評価用基板に対向す
る面の少なくとも一方で、上記パッケージと評価用基板
との間に介在させられた状態で、該パッケージの外周部
をガイドする外壁部が設けられていることを特徴とする
請求項1〜請求項3のいずれか一にパッケージ評価用異
方性導電シート。
4. An outer wall portion which guides an outer peripheral portion of the package in a state interposed between the package and the evaluation substrate on at least one of the surface facing the package and the evaluation substrate. The anisotropic conductive sheet for package evaluation according to any one of claims 1 to 3, wherein:
【請求項5】 外部端子として本体の一面側に配置され
た複数の電極を有するパッケージの特性を評価するに際
して、該パッケージ及び評価用基板の対向する面にそれ
ぞれ設けられた電極の対応するもの同士を電気的に接続
させるパッケージ評価方法において、 上記パッケージと評価用基板との間に、上記請求項1〜
請求項4のいずれか一に記載の異方性導電シートを介在
させ、 上記異方性の導電シートに形成されたバンプが上記パッ
ケージ及び評価用基板側の電極に当接するように、上記
パッケージを評価用基板に対して付勢させることを特徴
とするパッケージ評価方法。
5. When evaluating characteristics of a package having a plurality of electrodes arranged on one surface side of a main body as external terminals, corresponding ones of the electrodes provided on the opposing surfaces of the package and the evaluation substrate, respectively. A package evaluation method for electrically connecting the package and the evaluation board, between the package and the evaluation board.
The package, wherein the anisotropic conductive sheet according to any one of claims 4 is interposed, so that the bump formed on the anisotropic conductive sheet contacts the package and the electrode on the evaluation substrate side. A package evaluation method, wherein a package is urged against an evaluation substrate.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241291A (en) * 2004-02-24 2005-09-08 Jsr Corp Adapter for circuit board inspection and circuit board inspection device
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