JP2001094357A - Linear high output amplifier - Google Patents

Linear high output amplifier

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JP2001094357A
JP2001094357A JP26718599A JP26718599A JP2001094357A JP 2001094357 A JP2001094357 A JP 2001094357A JP 26718599 A JP26718599 A JP 26718599A JP 26718599 A JP26718599 A JP 26718599A JP 2001094357 A JP2001094357 A JP 2001094357A
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秀樹 上綱
Masahiro Muraguchi
正弘 村口
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To miniaturize a linear high output amplifier and to drop voltage of the amplifier. SOLUTION: A unit amplifier cell 25 is arranged so that one terminal of a gate 21 may be connected with a common gate terminal 27 and that the other end may face a common drain terminal 29. A unit, variable resistance cell 28 is arranged between the cell 25 and the terminal 29. Then, a unit cell 11 consists of the cell 25 and the cell 28. This cell 11 is arranged and connected in parallel between the terminal 27 and the terminal 29.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、パーソナル無線通
信、移動通信、衛星通信等のように概ね数百MHz帯以上
で使用される線形高出力増幅装置に係わり、特にバッテ
リ小型化への要求が厳しく低電圧動作が要求される携帯
端末用として好適な線形高出力増幅装置に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a linear high-power amplifying device used in a band of several hundred MHz or more, such as a personal wireless communication, a mobile communication, a satellite communication, etc. The present invention relates to a linear high-power amplifying device suitable for a portable terminal requiring strictly low-voltage operation.

【0002】[0002]

【従来の技術】携帯電話に代表される移動通信サービス
の普及に伴い、携帯端末の一層の小型化・低消費電力化
への要求が高まっている。このため、特に多くの電力を
消費する電力増幅器を小型化・高効率化することならび
に低電圧で動作可能にすることは、極めて重要になって
いる。
2. Description of the Related Art With the spread of mobile communication services represented by mobile phones, there is an increasing demand for further miniaturization and lower power consumption of mobile terminals. For this reason, it is extremely important to reduce the size and efficiency of a power amplifier that consumes a large amount of power and to operate it at a low voltage.

【0003】ところで、一般的に増幅器の高効率化と線
形化はトレードオフの関係にある。このため、効率を向
上したために線形性が損なわれると、相互変調歪みによ
り隣接チャネル漏洩電力の増大を招き、通信品質が劣化
する。従って、線形性を確保しつつ効率を向上すること
が求められている。
In general, there is a trade-off between high efficiency and linearization of an amplifier. Therefore, if the linearity is impaired due to the improvement in efficiency, inter-modulation distortion causes an increase in adjacent channel leakage power, resulting in deterioration of communication quality. Therefore, it is required to improve efficiency while securing linearity.

【0004】これらの問題点を解決するため、増幅器の
バイアスを入力信号の振幅に応じて制御し、線形化する
方法が知られている。この従来の方法は、入力信号の振
幅が小さくなった時に出力電流が小さくなるように制御
することにより、線形性を確保しつつ消費電力を低減し
たり、あるいは、入出力振幅特性の線形化を図ることが
可能な技術である。
In order to solve these problems, a method of controlling the bias of an amplifier in accordance with the amplitude of an input signal and linearizing the same is known. This conventional method controls the output current to decrease when the amplitude of the input signal decreases, thereby reducing power consumption while ensuring linearity or linearizing the input / output amplitude characteristics. It is a technology that can be achieved.

【0005】しかしながら、ゲートバイアスを制御する
構成では、ダイナミックレンジが小さくなり高効率とな
る飽和領域近傍で制御ができず、また、ドレインバイア
スを制御する構成では、DC−DCコンバータによる消
費電力が大きくなるという問題点がある。
However, in the configuration for controlling the gate bias, control cannot be performed in the vicinity of the saturation region where the dynamic range is reduced and the efficiency is high. In the configuration for controlling the drain bias, the power consumption by the DC-DC converter is large. There is a problem that becomes.

【0006】そこで、これらの問題を克服するため、カ
スコード接続FETにおけるゲート接地FETのゲート
バイアスを制御する構成が考案された。1995 IEEE GaAs
ICSymp.Dig.,pp.288-291に記載されたこの構成を図1
4に示す。
To overcome these problems, a configuration has been devised for controlling the gate bias of a common-gate FET in a cascode-connected FET. 1995 IEEE GaAs
This structure described in ICSymp.Dig., Pp.288-291 is shown in FIG.
It is shown in FIG.

【0007】この従来例の増幅装置の動作原理は、ソー
ス接地FET51Aとゲート接地FET51Bからなる
カスコードFET回路51の出力電力をゲート接地FE
T51Bのゲートバイアスで制御できることに基づいて
おり、ゲートバイアス制御法のDC−DCコンバータが
不要という利点と、ドレインバイアス制御法の飽和領域
まで制御可能という利点を合わせた構成といえる。12
A、12Bは整合回路、52は高周波接地用キャパシ
タ、53は高周波カット用チョークインダクタである。
The principle of operation of this conventional amplifying device is that the output power of the cascode FET circuit 51 composed of the common-source FET 51A and the common-gate FET 51B is converted to the common-gate FE.
Based on the fact that control is possible with the gate bias of T51B, it can be said that the configuration combines the advantage of not requiring a DC-DC converter of the gate bias control method with the advantage of being able to control up to the saturation region of the drain bias control method. 12
A and 12B are matching circuits, 52 is a high-frequency grounding capacitor, and 53 is a high-frequency cut choke inductor.

【0008】入力信号を分配器1で分配した信号は、整
合回路12Aを介してカスコードFET回路51に入力
する他に、包絡線検波器2に入力されて振幅が検出さ
れ、A/Dコンバータ3でディジタル化され、LUTと
してのROM4でその振幅特性が変換され、D/Aコン
バータ5でアナログ化されてゲート電圧Vcに変換され
る。ここで、ROM4のデータを増幅器の入出力特性が
線形になるように設定しておくことにより、効率が高く
なる飽和領域近傍において歪みを低減することが可能と
なる。
The signal obtained by distributing the input signal by the distributor 1 is input to a cascode FET circuit 51 via a matching circuit 12A, and is also input to an envelope detector 2 where the amplitude is detected and the A / D converter 3 The amplitude characteristic is converted by a ROM 4 as an LUT, and is converted into an analog signal by a D / A converter 5 to be converted into a gate voltage Vc. Here, by setting the data in the ROM 4 so that the input / output characteristics of the amplifier become linear, distortion can be reduced in the vicinity of the saturation region where the efficiency is increased.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来例においては、FETを2個使用するため、FETが
1段の増幅器のほぼ2倍のデバイスサイズが必要な上、
ソース接地とゲート接地の2つのFET51A,51B
に直列にバイアスを供給する必要があるため、低電圧動
作が困難であるという問題点があった。これは、チョー
クインダクタ53を介して印加される電圧(Vdd)が、
ソース接地FET51Aとゲート接地FET51Bで分
圧されることに起因する。
However, in this conventional example, since two FETs are used, a device size that is almost twice as large as that of an amplifier having one FET is required.
Two FETs 51A and 51B having a common source and a common gate
In this case, it is necessary to supply a bias in series. This is because the voltage (Vdd) applied through the choke inductor 53 is
The voltage is divided by the common source FET 51A and the common gate FET 51B.

【0010】例えば、現在携帯端末に広く適用されてい
るLiイオン電池の場合、3V程度の給電となるが、カ
スコードFET回路51の構成で3V動作のパワーアン
プを構成する場合、出力に寄与する後段のゲート接地F
ET51Bの電圧は2V程度以下に制限される。このた
め、3V動作のFET1段の増幅器と同一出力を得よう
とした場合、電流を増大させるためにゲート幅を2倍程
度大きくする必要があり、小型化が困難なこと、ならび
にデバイスサイズに比例するコスト増を招いてしまうと
いう問題点があった。
For example, in the case of a Li-ion battery which is widely applied to portable terminals at present, power is supplied to about 3 V. However, when a power amplifier operating at 3 V is constituted by the cascode FET circuit 51, the latter stage which contributes to the output Gate ground F
The voltage of ET51B is limited to about 2V or less. For this reason, when trying to obtain the same output as that of a single-stage FET 1-stage amplifier operating at 3 V, it is necessary to increase the gate width by about twice in order to increase the current. However, there is a problem that the cost increases.

【0011】一方、低電圧動作のFET増幅器の出力を
制御できる手法として、可変負帰還増幅器の構成があ
る。しかしながら、高出力FETの実現には、比較的小
さな単位セルの直列/並列合成で総ゲート幅の大きいF
ETを構成することが行われるため、人出力間に一括し
て共通の帰還回路で可変負帰還をかけた場合には、(1)
帰還回路の配線長がFETサイズにほぼ比例して長くな
り、これが波長に比べて無視できなくなると、可変負帰
還信号に周波数特性が生じる、(2)小さな単位セル間の
配置間隔に比例して可変負帰還信号に位相差が生じると
いう現象が生じるため、帯域制限を招いたり、線形化制
御が困難になる、という問題点がある。特に、マイクロ
波帯以上の超高周波領域で使用する場合では、周波数が
高くなればなるほどこれが顕著になるという問題点があ
った。
On the other hand, as a method for controlling the output of a low-voltage operation FET amplifier, there is a configuration of a variable negative feedback amplifier. However, in order to realize a high-output FET, a series / parallel combination of relatively small unit cells is used to realize a large total gate width F.
Since ET is configured, if variable negative feedback is applied collectively between human outputs with a common feedback circuit, (1)
If the wiring length of the feedback circuit becomes longer in proportion to the FET size, and this cannot be ignored compared to the wavelength, the frequency characteristic occurs in the variable negative feedback signal. (2) In proportion to the arrangement interval between small unit cells Since a phenomenon occurs in which a phase difference occurs in the variable negative feedback signal, there is a problem that band limitation is caused and linearization control becomes difficult. In particular, in the case of using in an ultra-high frequency region above the microwave band, there is a problem that this becomes more remarkable as the frequency becomes higher.

【0012】本発明の目的は上記従来の問題点を解決
し、携帯端末に容易に適用できる小型で低電圧動作が可
能で経済的な線形高出力増幅装置を提供することにあ
る。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems and to provide an economical linear high-power amplifier which can be easily applied to a portable terminal, can operate at a low voltage, and is economical.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
第1の発明は、入力信号を増幅して出力する可変負帰還
増幅器と、前記入力信号の振幅に応じて前記可変負帰還
増幅器の帰還量を制御するための制御信号を発生する制
御信号発生手段とを備えた線形高出力増幅装置におい
て、前記可変負帰還増幅器は共通入力端子と共通出力端
子との間に並列接続された複数の同一の単位セルを有
し、該各単位セルは、一端の第1の接続点が前記共通入
力端子に接続され他端の第2の接続点が前記共通出力端
子に臨むゲートを備え、ソースが接地されドレインが前
記共通出力端子に接続された増幅用FETと、ソース又
はドレインの一方が前記第2の接続点に接続され他方が
前記共通出力端子に第1のキャパシタを介して接続され
ゲートが前記制御信号発生手段に接続される制御配線に
接続された可変抵抗用FETとを含むよう構成した。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a variable negative feedback amplifier for amplifying and outputting an input signal, and a feedback of the variable negative feedback amplifier according to the amplitude of the input signal. A control signal generating means for generating a control signal for controlling the amount of the variable negative feedback amplifier, wherein the variable negative feedback amplifier is connected in parallel between a common input terminal and a common output terminal. Wherein each of the unit cells includes a gate having a first connection point at one end connected to the common input terminal and a second connection point at the other end facing the common output terminal, and a source connected to ground. And an amplifying FET having a drain connected to the common output terminal, a source or a drain connected to the second connection point, the other connected to the common output terminal via a first capacitor, and a gate connected to the common output terminal. Control signal And configured to include a variable resistor for FET connected to a control line connected to the raw device.

【0014】第2の発明は、第1の発明において、前記
可変抵抗用FETは、前記第2の接続点と前記共通接続
点との間、又は前記増幅用FETと前記共通接続端子と
の間に配置されているよう構成した。
In a second aspect based on the first aspect, the variable resistance FET is connected between the second connection point and the common connection point or between the amplification FET and the common connection terminal. It was configured to be arranged in.

【0015】第3の発明は、第1又は2の発明におい
て、前記第2の接続点又は前記共通出力端子と前記可変
抵抗用FETのソース又はドレインとの間に固定抵抗が
接続されているよう構成した。
In a third aspect based on the first or second aspect, a fixed resistor is connected between the second connection point or the common output terminal and a source or a drain of the variable resistor FET. Configured.

【0016】第4の発明は、第1乃至3の発明におい
て、前記可変抵抗用FETのゲートは、第2のキャパシ
タを介して前記増幅用FETのソースに接続されている
よう構成した。
According to a fourth aspect of the present invention, in the first to third aspects, the gate of the variable resistance FET is connected to the source of the amplification FET via a second capacitor.

【0017】第5の発明は、第4の発明において、前記
第2のキャパシタが、前記各単位セル内において、前記
増幅用FETのソースと前記可変抵抗用FETのゲート
との間に配置されているよう構成した。
In a fifth aspect based on the fourth aspect, the second capacitor is arranged between the source of the amplifying FET and the gate of the variable resistor FET in each of the unit cells. It was configured to be.

【0018】第6の発明は、第1乃至第5の発明におい
て、前記増幅用FETを増幅用バイポーラトランジスタ
に置換し、前記可変抵抗用FETを可変抵抗用バイポー
ラトランジスタに置換した。
According to a sixth aspect, in the first to fifth aspects, the amplifying FET is replaced with an amplifying bipolar transistor, and the variable resistor FET is replaced with a variable resistor bipolar transistor.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】[第1の実施形態]図1は、本発
明の第1の実施形態に係わる線形高出力増幅装置の回路
構成を示す図である。本実施形態の線形高出力増幅装置
は、入力信号を分配する分配器1、入力信号の包絡線の
振幅を検出する包絡線検波器2、包絡線信号をディジタ
ル信号に変換するるA/Dコンバータ3、LUTとして
のROM4、ディジタル信号をアナログの制御電圧Vc
に変換するD/Aコンバータ5を従来例と同様に具備
し、さらにこの制御電圧Vcが入力する制御端子6を備
えた可変負帰還増幅器7を有する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [First Embodiment] FIG. 1 is a diagram showing a circuit configuration of a linear high-power amplifier according to a first embodiment of the present invention. The linear high-power amplifier according to the present embodiment includes a distributor 1 for distributing an input signal, an envelope detector 2 for detecting an amplitude of an envelope of the input signal, and an A / D converter for converting the envelope signal into a digital signal. 3, ROM 4 as LUT, digital signal is converted to analog control voltage Vc
And a variable negative feedback amplifier 7 having a control terminal 6 to which the control voltage Vc is input.

【0020】この可変負帰還増幅器7は、ソース接地の
増幅用FET8、帰還回路を構成する可変抵抗用FET
9、および同様に帰還回路を構成するDCカット用キャ
パシタ10からなる回路を単位セル11として、これを
6個並列に入力側の整合回路12Aと出力側の整合回路
12Bに接続することにより構成されている。また、可
変抵抗用FET9のゲートバイアス端子である制御端子
6は、キャパシタ13を介して高周波的に接地されてい
る。本構成は、増幅器として可変負帰還増幅器7を使用
した以外は図14に示した従来例と同じである。
The variable negative feedback amplifier 7 includes a source-grounded amplification FET 8 and a variable resistance FET constituting a feedback circuit.
9, and a circuit comprising a DC cut capacitor 10 similarly constituting a feedback circuit as a unit cell 11 and connecting six parallel circuits to a matching circuit 12A on the input side and a matching circuit 12B on the output side. ing. The control terminal 6, which is the gate bias terminal of the variable resistance FET 9, is grounded at a high frequency via the capacitor 13. This configuration is the same as the conventional example shown in FIG. 14 except that the variable negative feedback amplifier 7 is used as the amplifier.

【0021】図2に、入出力用の整合回路12A,12
Bを除く可変負帰還増幅器7のパタンレイアウト例を示
す。この可変負帰還増幅器7では、2本のゲート21、
ドレイン22、ソース23、そのソース23間を相互に
接続するエアブリッジ24Aにより2ゲートフインガ型
の単位増幅セル25(前記増幅用FET8)を形成し
て、これを6個並列に配置接続している。
FIG. 2 shows input / output matching circuits 12A and 12A.
7 shows an example of a pattern layout of the variable negative feedback amplifier 7 excluding B. In this variable negative feedback amplifier 7, two gates 21,
A two-gate finger type unit amplification cell 25 (the amplification FET 8) is formed by the drain 22, the source 23, and the air bridge 24A interconnecting the source 23, and six of them are arranged and connected in parallel.

【0022】この単位増幅セル25のゲート21は、第
1のゲート接続点26Aにより配線31を介して共通ゲ
ート端子(共通入力端子)27に接続され、第2のゲー
ト接続点26Bにより配線32を介して単位可変抵抗セ
ル28(前記可変抵抗用FET9)のソースに接続され
ている。この単位可変抵抗セル28も2ゲートフィンガ
型であり、各ドレインは所定の容量値を有するキャパシ
タ10を介して共通ドレイン端子(共通出力端子)29
に接続されている。すなわち、この単位可変抵抗セル2
8は、単位増幅セル25の第2のゲート接続点26Bと
共通ドレイン端子29の間に配置されている。以上によ
り、各々の単位増幅セル25毎にそのドレインからその
ゲートに対して個々の単位可変抵抗セル28により可変
負帰還がかけられる構成となっている。
The gate 21 of the unit amplification cell 25 is connected to a common gate terminal (common input terminal) 27 via a wiring 31 by a first gate connection point 26A, and to a wiring 32 by a second gate connection point 26B. The source is connected to the source of the unit variable resistance cell 28 (the variable resistance FET 9) through the gate. This unit variable resistance cell 28 is also of a two-gate finger type, and each drain is connected to a common drain terminal (common output terminal) 29 via a capacitor 10 having a predetermined capacitance value.
It is connected to the. That is, this unit variable resistance cell 2
8 is arranged between the second gate connection point 26B of the unit amplification cell 25 and the common drain terminal 29. As described above, the variable negative feedback is applied from the drain to the gate of each unit amplification cell 25 by the individual unit variable resistance cell 28 for each unit amplification cell 25.

【0023】なお、単位増幅セル25のドレイン22と
共通ドレイン端子29はエアブリッジ24Bで接続され
ている。また、単位可変抵抗セル28のゲートは第3の
ゲート接続点26Cにより制御配線30に接続され、さ
らにこの制御配線30を介して制御端子6に接続されて
いる。この制御配線30は、単位可変抵抗セル28の寄
生容量の影響による位相変化量を減少させるため、所定
の容量値のキャパシタ13と接地配線33を介してソー
ス23に接続され、高周波的に接地されている。また、
この制御配線30を下層配線で形成し、第2のゲート接
続点26Bと単位可変抵抗セル28のソースを接続する
配線32を上層配線で形成することにより、制御電圧の
印加を可能にしている。
The drain 22 of the unit amplification cell 25 and the common drain terminal 29 are connected by an air bridge 24B. The gate of the unit variable resistance cell 28 is connected to the control wiring 30 via a third gate connection point 26C, and further connected to the control terminal 6 via the control wiring 30. The control wiring 30 is connected to the source 23 via the capacitor 13 having a predetermined capacitance value and the ground wiring 33, and is grounded at a high frequency in order to reduce the amount of phase change due to the influence of the parasitic capacitance of the unit variable resistance cell 28. ing. Also,
The control wiring 30 is formed by a lower wiring, and the wiring 32 connecting the second gate connection point 26B and the source of the unit variable resistance cell 28 is formed by an upper wiring, whereby a control voltage can be applied.

【0024】また、前記した可変抵抗用FET9で実現
する可変抵抗値は概ね数百Ω以上であるため、その可変
抵抗用FET9としての単位可変抵抗セル29のゲート
幅は増幅用FET8としての単位増幅セル25のゲート
幅に比べて大幅に小さくすることができる。
Since the variable resistance realized by the variable resistance FET 9 is approximately several hundred ohms or more, the gate width of the unit variable resistance cell 29 as the variable resistance FET 9 is limited to the unit amplification as the amplification FET 8. It can be made much smaller than the gate width of the cell 25.

【0025】以上により、本可変負帰還増幅器7では、
(1)ほぼ増幅用FETのサイズで全体を構成できるた
め、装置の小型化、簡易化を図ることができる、(2)増
幅用の素子はソース接地FET一段で構成しているた
め、低電圧動作が可能である、(3)単位増幅セルの共通
ドレイン端子側に第2のゲート接続点を設け、そのゲー
ト接続点と共通ドレイン端子の間に可変抵抗用FETか
らなる可変負帰還回路を配置しているため、単位増幅セ
ルのゲート幅の大小に関係なく、その単位可変抵抗セル
を最短に接続できる、(4)特に半導体基板上にFET、
抵抗、キャパシタ等を一体的に形成するMMICの場
合、単位セルの数の大小に関係なく、各単位増幅セル毎
に設けた可変負帰還用の単位可変抵抗セルの物理的な長
さを全く同一にできる、のような特徴点がある。
As described above, in the present variable negative feedback amplifier 7,
(1) The whole device can be configured with almost the size of the amplifying FET, which makes it possible to reduce the size and simplification of the device. (2) Since the amplifying device is composed of a single-source FET, low voltage (3) A second gate connection point is provided on the common drain terminal side of the unit amplification cell, and a variable negative feedback circuit composed of a variable resistance FET is arranged between the gate connection point and the common drain terminal. Therefore, regardless of the size of the gate width of the unit amplification cell, the unit variable resistance cell can be connected to the shortest. (4) FET, especially on a semiconductor substrate,
In the case of an MMIC in which a resistor, a capacitor, and the like are integrally formed, the physical lengths of the unit variable resistance cells for variable negative feedback provided for each unit amplification cell are exactly the same, regardless of the number of unit cells. There are features like

【0026】このため、小型化、経済化ならびにバッテ
リへの負担軽減を要求される携帯端末に容易に適用可能
となっている。また、上記の(3)、(4)の効果により、出
力を増大するために単位増幅セル25のゲート幅を長く
したり単位セル11の数を増やした場合においても、超
高周波領域に至るまで帰還回路のインダクタンスの影響
を大幅に低減でき、かつ各単位増幅セル25間で帰還振
幅/位相を同一に保つことができるため、高出力化、高
周波化にも容易に対応できる。
For this reason, the present invention can be easily applied to a portable terminal which is required to be reduced in size and economy and to reduce the burden on a battery. Also, due to the effects of the above (3) and (4), even when the gate width of the unit amplification cell 25 is increased or the number of the unit cells 11 is increased in order to increase the output, even up to the ultra-high frequency region. Since the influence of the inductance of the feedback circuit can be greatly reduced and the feedback amplitude / phase can be kept the same between the unit amplification cells 25, it is possible to easily cope with higher output and higher frequency.

【0027】図3は、図2のパタンで実際に試作した本
発明の可変負帰還増幅回路7の入力電力に対する利得の
帰還量依存性を測定した特性を示す図である。この図3
に示すように、可変負帰還効果により利得を制御できる
ことがわかる。ここで、図中の●印に示すように、入力
レベルに応じて帰還量を制御すれば、矢印で示したよう
にAM−AM変換特性を大幅に改善でき、増幅器の線形
化を達成できることがわかる。
FIG. 3 is a diagram showing characteristics obtained by measuring the dependence of the gain on the amount of feedback with respect to the input power of the variable negative feedback amplifier circuit 7 of the present invention actually manufactured using the pattern of FIG. This figure 3
It can be seen that the gain can be controlled by the variable negative feedback effect as shown in FIG. Here, if the feedback amount is controlled in accordance with the input level, as indicated by the mark in the figure, the AM-AM conversion characteristic can be greatly improved as indicated by the arrow, and the linearization of the amplifier can be achieved. Understand.

【0028】したがって、図1に示したように、包絡線
検波器2で検出された振幅を、A/Dコンバータ3、R
OM4、D/Aコンバータ5を経て制御電圧Vcに変換
する際、ROM4のデータを可変負帰還増幅器7のAM
−AM変換特性(入力信号レベル/利得特性)が線形に
なるように設定しておくことにより、効率が高くなる飽
和領域近傍においても歪みを低減することが可能とな
る。
Therefore, as shown in FIG. 1, the amplitude detected by the envelope detector 2 is converted to the A / D converter 3, R
When converting the data into the control voltage Vc via the OM 4 and the D / A converter 5, the data in the ROM 4
By setting the AM conversion characteristic (input signal level / gain characteristic) to be linear, distortion can be reduced even in the vicinity of the saturation region where the efficiency is high.

【0029】図4は、可変負帰還増幅器7の変形例のパ
タンレイアウトを示す図であり、1ゲートフィンガ型で
ソース接地FET8の単位増幅セル25’と可変抵抗用
FET9の単位可変抵抗セル28’を形成することによ
り単位セル11を構成し、この単位セル11を6並列し
たものである。なお、ここでは単位増幅セル25’のド
レイン22はキャパシタ10の下面において共通ドレイ
ン端子29に直接的に接続されている。また、単位可変
抵抗セル28’では、ドレインが単位増幅セル25’の
ゲートに、ソースがキャパシタ10を介して単位増幅セ
ル25’のドレインに接続されているが、可変抵抗用F
ETではソースとドレインを入れ替えても同一の機能が
実現できるので、問題ない。
FIG. 4 is a diagram showing a pattern layout of a modified example of the variable negative feedback amplifier 7, in which a single-gate finger type unit amplification cell 25 'of a common source FET 8 and a unit variable resistance cell 28' of a variable resistance FET 9 are shown. Are formed to form a unit cell 11, and the unit cells 11 are arranged in six rows. Here, the drain 22 of the unit amplification cell 25 ′ is directly connected to the common drain terminal 29 on the lower surface of the capacitor 10. In the unit variable resistance cell 28 ′, the drain is connected to the gate of the unit amplification cell 25 ′, and the source is connected to the drain of the unit amplification cell 25 ′ via the capacitor 10.
In ET, there is no problem because the same function can be realized even if the source and drain are switched.

【0030】[第2の実施形態]図5,図6は、本発明
の第2の実施形態に係わる可変負帰還増幅器7の等価回
路を示す図である。本実施形態の特徴は、可変抵抗用F
ET9のソース・ドレイン間に並列に所定の抵抗値を持
つ固定抵抗14を配置接続して単位セル11A(図5)
を構成し、又は可変抵抗用FET9のソースと増幅用F
ET8のゲートとの間に固定抵抗15に配置接続して単
位セル11B(図6)を構成していることである。
[Second Embodiment] FIGS. 5 and 6 are diagrams showing equivalent circuits of a variable negative feedback amplifier 7 according to a second embodiment of the present invention. The feature of this embodiment is that the variable resistor F
A fixed resistor 14 having a predetermined resistance value is arranged and connected in parallel between the source and the drain of the ET 9 to unit cell 11A (FIG. 5).
Or the source of the variable resistance FET 9 and the amplification F
That is, a unit cell 11B (FIG. 6) is arranged and connected to the fixed resistor 15 between the unit cell 11B and the gate of the ET8.

【0031】これにより、利得可変範囲は減少するもの
の、可変抵抗用FET9の寄生容量の影響による位相変
化量をさらに減少させることができるため、可変負帰還
動作の安定化を図ることができる。
Thus, although the variable gain range is reduced, the amount of phase change due to the influence of the parasitic capacitance of the variable resistor FET 9 can be further reduced, so that the variable negative feedback operation can be stabilized.

【0032】図7は、直列接続の固定抵抗15を付加し
た図6に対応した実施の形態の可変負帰還増幅器7のパ
タンレイアウト例を示す図である。ここでは、図2に示
したパタンレイアウトにおいて、第2のゲート接続点2
6Bと単位可変抵抗セル28(9)のソースに接続され
た配線32との間に固定抵抗15を配置した構成となっ
ている。
FIG. 7 is a diagram showing an example of a pattern layout of the variable negative feedback amplifier 7 of the embodiment corresponding to FIG. 6 to which a fixed resistor 15 connected in series is added. Here, in the pattern layout shown in FIG. 2, the second gate connection point 2
The configuration is such that the fixed resistor 15 is arranged between 6B and the wiring 32 connected to the source of the unit variable resistance cell 28 (9).

【0033】このようなパタンレイアウトにすることに
より、第1の実施形態と同様に、単位可変抵抗セル28
(9)を最短で単位増幅セル25のドレイン・ゲート間
に配置できる。このため単位可変抵抗セル28(9)の
物理長をほとんど無視でき、インダクタンスや位相回り
の影響のない理想的な可変負帰還特性を広帯域に実現す
ることが可能になる。なお、固定抵抗15は共通ドレイ
ン端子29と単位可変抵抗セル28(9)のドレインと
の間に接続することもできる。
By adopting such a pattern layout, the unit variable resistance cell 28 can be formed similarly to the first embodiment.
(9) can be arranged between the drain and the gate of the unit amplification cell 25 at the shortest. Therefore, the physical length of the unit variable resistance cell 28 (9) can be almost ignored, and an ideal variable negative feedback characteristic free from the influence of inductance and phase rotation can be realized in a wide band. Note that the fixed resistor 15 can be connected between the common drain terminal 29 and the drain of the unit variable resistance cell 28 (9).

【0034】図8は、図7の構成を1ゲートフィンガ型
の単位増幅セル25’(8)、単位可変抵抗セル28’
(9)に変形したパタンレイアウトの例であり、図7の
構成と全く同様な効果が実現できる。
FIG. 8 shows the configuration of FIG. 7 in which a one-gate finger type unit amplification cell 25 '(8) and a unit variable resistance cell 28' are used.
This is an example of the pattern layout modified in (9), and the same effect as the configuration in FIG. 7 can be realized.

【0035】また、図9は図5に示した並列接続の固定
抵抗14を使用する場合のパタンレイアウトを示す図
で、1ゲートフィンガ型の単位増幅セル25’(8)、
単位可変抵抗セル28’(9)に適用して、その単位可
変抵抗セル28’(9)と共通ドレイン端子29との間
に固定抵抗14を配置して接続したものである。41,
42は固定抵抗14を単位可変抵抗セル28’(9)の
ソース・ドレイン間に接続するための配線である。
FIG. 9 is a diagram showing a pattern layout when the parallel-connected fixed resistor 14 shown in FIG. 5 is used. The one-gate finger type unit amplification cell 25 '(8),
This is applied to the unit variable resistance cell 28 '(9), and the fixed resistance 14 is arranged and connected between the unit variable resistance cell 28' (9) and the common drain terminal 29. 41,
Reference numeral 42 denotes a wiring for connecting the fixed resistor 14 between the source and the drain of the unit variable resistance cell 28 '(9).

【0036】[第3の実施形態]図10、図11、図1
2は、本発明の第3の実施形態に係わる可変負帰還増幅
器7の等価回路を示す図である。ここで、図10は図1
の可変負帰還増幅器7を発展させ、図11および図12
は、図5および図6の可変負帰還増幅器7を発展させた
形態を示している。
[Third Embodiment] FIGS. 10, 11, and 1
FIG. 2 is a diagram showing an equivalent circuit of the variable negative feedback amplifier 7 according to the third embodiment of the present invention. Here, FIG.
The variable negative feedback amplifier 7 of FIG.
5 shows a form in which the variable negative feedback amplifier 7 shown in FIGS. 5 and 6 is developed.

【0037】本実施形態の特徴は、各々の単位セル11
C(11D,11Eも同じ)の可変抵抗用FET9のゲ
ートをキャパシタ13aにより高周波的に接地したもの
である。これにより、単位セル11C、11D、11E
の数の増大に伴い制御端子6(制御配線30)の物理長
が長くなることに起因するインダクタンス成分を無視で
きる程度にまで低減できるため、より一層、可変抵抗用
FET9の寄生容量の影響を低減できる。
The feature of this embodiment is that each unit cell 11
The gate of the variable resistance FET 9 of C (same for 11D and 11E) is grounded at a high frequency by a capacitor 13a. Thereby, the unit cells 11C, 11D, 11E
The inductance component caused by the increase in the physical length of the control terminal 6 (the control wiring 30) with the increase in the number of the resistors can be reduced to a negligible level, so that the influence of the parasitic capacitance of the variable resistance FET 9 is further reduced. it can.

【0038】図13は図12に対応した可変負帰還増幅
器7のパタンレイアウトを示す図である。ここでは、図
8に示したパタンレイアウト中で、単位可変抵抗セル2
8’(9)のゲートをキャパシタ13aを介して最短距
離で同一単位セル11E内の単位増幅セル25’(8)
のソース22に接続した構成となっている。このような
パタンレイアウトにすることにより、全ての単位可変抵
抗セル28’(9)のゲートを同一の接続距離でかつ最
短に高周波的に接地することが可能になる。
FIG. 13 is a diagram showing a pattern layout of the variable negative feedback amplifier 7 corresponding to FIG. Here, in the pattern layout shown in FIG.
The gate of 8 '(9) is connected to the unit amplification cell 25' (8) in the same unit cell 11E at the shortest distance via the capacitor 13a.
Is connected to the source 22 of the first embodiment. By adopting such a pattern layout, it becomes possible to ground the gates of all the unit variable resistance cells 28 '(9) at the same connection distance and at the shortest frequency with high frequency.

【0039】したがって、各々の単位セル11Eの可変
負帰還制御を全く同一にできる上、可変抵抗用FET9
の寄生容量の影響を大幅に除去した極めて理想的な可変
負帰還を実現することが可能になる。なお、図としては
示さないが、図7に示した2ゲートフインガ構成にも同
様に適用可能である。
Therefore, the variable negative feedback control of each unit cell 11E can be made exactly the same, and the variable resistor FET 9
It is possible to realize an extremely ideal variable negative feedback, in which the influence of the parasitic capacitance is largely removed. Although not shown in the drawing, the present invention can be similarly applied to the two-gate finger configuration shown in FIG.

【0040】[その他の実施形態]なお、図1に示した
実施形態の線形高出力増幅装置においては、入力信号の
包絡線の振幅を高出力増幅器の前段で検出しているが、
増幅器の前段に限定されるものではなく、増幅器の内部
や出力段で検出しても構わない。また、入力信号のレベ
ル検出は、包絡線検波によらず、そのレベルをそのまま
検出して制御信号としても良い。
[Other Embodiments] In the linear high-power amplifier of the embodiment shown in FIG. 1, the amplitude of the envelope of the input signal is detected before the high-power amplifier.
The detection is not limited to the stage preceding the amplifier, and may be detected inside the amplifier or at the output stage. Also, the level of the input signal may be detected as it is without using the envelope detection and used as the control signal.

【0041】また、上記すべての実施形態においては、
トランジスタとしてFETを使用しているが、パイポー
ラトランジスタを用いても当然ながら同様な効果が期待
できる。このとき、ゲートはベースと、ドレインはコレ
クタと、ソースはエミッタと、共通ゲート端子は共通ベ
ース端子と、共通ドレイン端子は共通コレクタ端子と、
それぞれ置換される。
In all of the above embodiments,
Although an FET is used as the transistor, a similar effect can be expected by using a bipolar transistor. At this time, the gate is a base, the drain is a collector, the source is an emitter, the common gate terminal is a common base terminal, the common drain terminal is a common collector terminal,
Will be replaced respectively.

【0042】[0042]

【発明の効果】以上から本発明によれば、(1)ほぼ増幅
用素子のサイズで可変負帰還増幅器を構成できるため装
置の小型化、簡易化を図ることができる、(2)増幅用の
素子は一段で構成しているため低電圧動作が可能であ
る、(3)可変抵抗セルが単位増幅セルと共通出力端子と
の間に設けられることになるため、単位増幅セルのサイ
ズの大小に関係なく、その単位可変抵抗セルを最短に接
続できる、(4)半導体基板上に増幅素子、抵抗、キャパ
シタ等を一体的に形成するMMICの場合では、単位セ
ルの数の大小に関係なく単位可変抵抗セルの物理的な長
さを全く同一にできる、のような特徴点がある。
As described above, according to the present invention, (1) the variable negative feedback amplifier can be constituted by the size of the amplifying element substantially, so that the device can be reduced in size and simplified. Low voltage operation is possible because the element is configured in one stage. (3) Since the variable resistance cell is provided between the unit amplification cell and the common output terminal, the size of the unit amplification cell can be reduced. Irrespective of the number of unit cells, the unit variable resistance cell can be connected as short as possible. (4) In the case of an MMIC in which an amplifier, a resistor, a capacitor, etc. are integrally formed on a semiconductor substrate, the unit variable There is a feature that the physical lengths of the resistance cells can be made exactly the same.

【0043】従って、電力増幅装置の小型化、経済化、
低歪み化、高効率化ならびにバッテリへの負担軽減を達
成できることに加えて、出力を増大するため単位セルの
サイズを大きくしたりセル数を増やした場合において
も、超高周波領域に至るまで帰還回路のインダクタンス
の影響を大幅に低力でき、かつ単位セル間で帰還振幅/
位相を同一に保つことができるため、高出力化、高周波
化にも容易に対応できる。
Therefore, the power amplifier can be reduced in size and economy,
In addition to achieving low distortion, high efficiency, and reduced burden on the battery, even if the unit cell size is increased or the number of cells is increased to increase the output, the feedback circuit extends to the ultra-high frequency range. Can greatly reduce the effect of inductance, and the feedback amplitude /
Since the phases can be kept the same, it is possible to easily cope with higher output and higher frequency.

【0044】以上から、本発明の線形電力増幅装置は、
パーソナル無線通信、移動通信、衛星通信等に使用され
る概ね数百MHz帯以上の高出力増幅器の広帯域化・低歪
み化・低コスト化に寄与できる携帯端末用の高出力増幅
器の小型化、経済化に寄与するところが大である。
From the above, the linear power amplifier of the present invention is
Miniaturization and economy of high-power amplifiers for portable terminals that can contribute to broadband, low distortion, and low cost of high-power amplifiers of approximately several hundred MHz band or more used for personal wireless communication, mobile communication, satellite communication, etc. It greatly contributes to the development.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第1の実施形態の線形高出力増幅装
置のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a linear high-power amplifier according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 図1の可変負帰還増幅器に2ゲートフィンガ
型の単位セルを使用したパタンレイアウト図である。
2 is a pattern layout diagram using a two-gate finger type unit cell in the variable negative feedback amplifier of FIG. 1;

【図3】 図1の可変負帰還増幅器の入力信号に対する
利得の特性図である。
FIG. 3 is a characteristic diagram of gain with respect to an input signal of the variable negative feedback amplifier of FIG. 1;

【図4】 図1の可変負帰還増幅器に1ゲートフィンガ
型の単位セルを使用したパタンレイアウト図である。
FIG. 4 is a pattern layout diagram using a one-gate finger type unit cell in the variable negative feedback amplifier of FIG. 1;

【図5】 第2の実施形態の可変負帰還増幅器の回路図
である。
FIG. 5 is a circuit diagram of a variable negative feedback amplifier according to a second embodiment.

【図6】 第2の実施形態の変形例の可変負帰還増幅器
の回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram of a variable negative feedback amplifier according to a modification of the second embodiment.

【図7】 図6の可変負帰還増幅器に2ゲートフィンガ
型の単位セルを使用したパタンレイアウト図である。
7 is a pattern layout diagram using a two-gate finger type unit cell in the variable negative feedback amplifier of FIG. 6;

【図8】 図6の可変負帰還増幅器に1ゲートフィンガ
型の単位セルを使用したパタンレイアウト図である。
8 is a pattern layout diagram using a one-gate finger type unit cell for the variable negative feedback amplifier of FIG. 6;

【図9】 図5の可変負帰還増幅器に1ゲートフィンガ
型の単位セルを使用したパタンレイアウト図である。
9 is a pattern layout diagram using a one-gate finger type unit cell for the variable negative feedback amplifier of FIG. 5;

【図10】 第3の実施形態の可変負帰還増幅器の回路
図である。
FIG. 10 is a circuit diagram of a variable negative feedback amplifier according to a third embodiment.

【図11】 第3の実施形態の変形例の可変負帰還増幅
器の回路図である。
FIG. 11 is a circuit diagram of a variable negative feedback amplifier according to a modification of the third embodiment.

【図12】 第3の実施形態の別の変形例の可変負帰還
増幅器の回路図である。
FIG. 12 is a circuit diagram of a variable negative feedback amplifier according to another modification of the third embodiment.

【図13】 図11の可変負帰還増幅器に1ゲートフィ
ンガ型の単位セルを使用したパタンレイアウト図であ
る。
FIG. 13 is a pattern layout diagram using a one-gate finger type unit cell for the variable negative feedback amplifier of FIG. 11;

【図14】 従来の線形高出力増幅装置のブロック図で
ある。
FIG. 14 is a block diagram of a conventional linear high-power amplifier.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:分配器、2:包絡線検波器、3:A/Dコンバー
タ、4:ROM、5:D/Aコンバータ、6:制御端
子、7:可変負帰還増幅器、8:増幅用FET、9:可
変抵抗用FET、10:キャパシタ、11、11A〜1
1E:単位セル、12A,12B:整合回路、13:キ
ャパシタ、14,15:固定抵抗、21:ゲート、2
2:ドレイン、23:ソース、24A、24B:エアー
ブリッジ、25:単位増幅セル、26A、26B、26
C:ゲート接続点、27:共通ゲート端子(共通入力端
子)、28:単位可変抵抗セル、29:共通ドレイン端
子(共通出力端子)、30:制御配線、31,32:配
線、33:接地配線、41,42:配線。
1: distributor, 2: envelope detector, 3: A / D converter, 4: ROM, 5: D / A converter, 6: control terminal, 7: variable negative feedback amplifier, 8: amplifying FET, 9: Variable resistance FET, 10: capacitor, 11, 11A-1
1E: unit cell, 12A, 12B: matching circuit, 13: capacitor, 14, 15: fixed resistance, 21: gate, 2
2: drain, 23: source, 24A, 24B: air bridge, 25: unit amplification cell, 26A, 26B, 26
C: gate connection point, 27: common gate terminal (common input terminal), 28: unit variable resistance cell, 29: common drain terminal (common output terminal), 30: control wiring, 31, 32: wiring, 33: ground wiring , 41, 42: wiring.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // H01L 21/06 21/8232 Fターム(参考) 5F102 FA07 GA01 GA16 GA17 GB01 GC01 GD01 GS09 GV01 5J090 AA01 AA21 AA41 CA21 CA36 CA62 CA87 CA92 FA10 FA15 FA17 GN06 HA09 HA25 HA27 HA29 HN13 KA29 KA34 KA55 MA13 MA19 QA03 SA14 TA01 TA02 5J092 AA01 AA21 AA41 CA21 CA36 CA62 CA92 FA10 FA15 FA17 GR09 HA09 HA25 HA27 HA29 KA29 KA34 KA55 MA13 MA19 QA03 SA14 TA01 TA02 VL08 5J100 JA01 KA05 LA11 QA01 SA01──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI theme coat ゛ (reference) // H01L 21/06 21/8232 F term (reference) 5F102 FA07 GA01 GA16 GA17 GB01 GC01 GD01 GS09 GV01 5J090 AA01 AA21 AA41 CA21 CA36 CA62 CA87 CA92 FA10 FA15 FA17 GN06 HA09 HA25 HA27 HA29 HN13 KA29 KA34 KA55 MA13 MA19 QA03 SA14 TA01 TA02 5J092 AA01 AA21 AA41 CA21 CA36 CA62 CA92 FA10 FA15 FA17 GR09 HA09 HA25 HA27 HA19 KA29 KA29 KA29 5J100 JA01 KA05 LA11 QA01 SA01

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】入力信号を増幅して出力する可変負帰還増
幅器と、前記入力信号の振幅に応じて前記可変負帰還増
幅器の帰還量を制御するための制御信号を発生する制御
信号発生手段とを備えた線形高出力増幅装置において、 前記可変負帰還増幅器は共通入力端子と共通出力端子と
の間に並列接続された複数の同一の単位セルを有し、 該各単位セルは、一端の第1の接続点が前記共通入力端
子に接続され他端の第2の接続点が前記共通出力端子に
臨むゲートを備え、ソースが接地されドレインが前記共
通出力端子に接続された増幅用FETと、 ソース又はドレインの一方が前記第2の接続点に接続さ
れ他方が前記共通出力端子に第1のキャパシタを介して
接続されゲートが前記制御信号発生手段に接続される制
御配線に接続された可変抵抗用FETとを含むことを特
徴とする線形高出力増幅装置。
A variable negative feedback amplifier for amplifying and outputting an input signal; and control signal generating means for generating a control signal for controlling a feedback amount of the variable negative feedback amplifier in accordance with an amplitude of the input signal. Wherein the variable negative feedback amplifier has a plurality of identical unit cells connected in parallel between a common input terminal and a common output terminal, and each of the unit cells has a first terminal at one end. An amplifying FET having a connection point of 1 connected to the common input terminal and a second connection point of the other end facing the common output terminal, a source grounded and a drain connected to the common output terminal; A variable resistor having one of a source and a drain connected to the second connection point, the other connected to the common output terminal via a first capacitor, and a gate connected to a control wiring connected to the control signal generation means; for Linear high-power amplifier apparatus characterized by comprising a ET.
【請求項2】請求項1において、前記可変抵抗用FET
は、前記第2の接続点と前記共通接続点との間、又は前
記増幅用FETと前記共通接続端子との間に配置されて
いることを特徴とする線形高出力増幅装置。
2. The variable resistance FET according to claim 1, wherein
Is disposed between the second connection point and the common connection point or between the amplifying FET and the common connection terminal.
【請求項3】請求項1又は2において、前記第2の接続
点又は前記共通出力端子と前記可変抵抗用FETのソー
ス又はドレインとの間に固定抵抗が接続されていること
を特徴とする線形高出力増幅装置。
3. The linear circuit according to claim 1, wherein a fixed resistor is connected between the second connection point or the common output terminal and a source or a drain of the variable resistor FET. High power amplifier.
【請求項4】請求項1乃至3において、前記可変抵抗用
FETのゲートは、第2のキャパシタを介して前記増幅
用FETのソースに接続されていることを特徴とする線
形高出力増幅装置。
4. A linear high-power amplifier according to claim 1, wherein a gate of said variable resistor FET is connected to a source of said amplifier FET via a second capacitor.
【請求項5】請求項4において、前記第2のキャパシタ
が、前記各単位セル内において、前記増幅用FETのソ
ースと前記可変抵抗用FETのゲートとの間に配置され
ていることを特徴とする線形高出力増幅装置。
5. The device according to claim 4, wherein the second capacitor is arranged between the source of the amplifying FET and the gate of the variable resistor FET in each of the unit cells. Linear high power amplifier.
【請求項6】前記増幅用FETを増幅用バイポーラトラ
ンジスタに置換し、前記可変抵抗用FETを可変抵抗用
バイポーラトランジスタに置換したことを特徴とする請
求項1乃至5に記載の線形高出力増幅装置。
6. The linear high-power amplifier according to claim 1, wherein said amplifying FET is replaced with an amplifying bipolar transistor, and said variable-resistance FET is replaced with a variable-resistance bipolar transistor. .
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