JP2001035692A - Discharge vessel and plasma radical generator with the discharge vessel - Google Patents

Discharge vessel and plasma radical generator with the discharge vessel

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JP2001035692A
JP2001035692A JP11207851A JP20785199A JP2001035692A JP 2001035692 A JP2001035692 A JP 2001035692A JP 11207851 A JP11207851 A JP 11207851A JP 20785199 A JP20785199 A JP 20785199A JP 2001035692 A JP2001035692 A JP 2001035692A
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discharge
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義式 畑中
Darius Korzec
コルツェック・ダリウス
Jurgen Engeman
エンゲマン・ジュルゲン
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a plasma radical generator capable of generating radicals under discharged plasma condition at high efficiency. SOLUTION: This device has a discharge vessel 31 for generating radicals with high frequency discharge. The discharge vessel 31 consists of a cathode portion 6 located near an entrance for material gas into which high frequency power is supplied, a jet portion 5 located next to the cathode portion 6 and having a smaller sectional area than that of the cathode portion 6, and an anode portion 7 located next to the jet portion 5 and having a larger sectional area than that of the jet portion 5.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、高周波放電によっ
て励起されたガスのラジカル又は励起種を効率よく発生
させるプラズマラジカル生成装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plasma radical generator for efficiently generating radicals or excited species of a gas excited by a high-frequency discharge.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、半導体基板の表面に薄膜を堆積
する場合に、真空蒸着法、スパッタリング法、化学気相
堆積法、分子線エピタキシー法などが用いられる。この
場合において、いずれの方法においても、例えば原料ガ
ス(以下、単に「原料」と称する)を分子状ないしは原
子状にして目的とする表面に堆積している。このとき、
原料を分子状ないしは原子状とするために、熱、光、イ
オン、励起種(ラジカル)等のエネルギーにより原料を
分解して用いる。
2. Description of the Related Art For example, when depositing a thin film on the surface of a semiconductor substrate, a vacuum deposition method, a sputtering method, a chemical vapor deposition method, a molecular beam epitaxy method and the like are used. In this case, in any of the methods, for example, a raw material gas (hereinafter, simply referred to as “raw material”) is deposited on a target surface in a molecular or atomic state. At this time,
In order to make the raw material molecular or atomic, the raw material is decomposed and used by energy such as heat, light, ions, and excited species (radicals).

【0003】上記のように原料を分子状ないしは原子状
に分解する場合に、プラズマにより原料を分解する方法
が知られている。この場合において、プラズマ源は、薄
膜等のプロセッシング部と離れたところにあり、これを
リモートプラズマ法と呼んでいる。図12にリモートプ
ラズマ法に関する概略構成を示す。リモートプラズマ法
では、図12(a)に示すように高周波の電力62によ
り原料ガス12を励起するが、プラズマ発生部(プラズ
マ源)43とプロセッシング部(プロセス容器)17と
が離れることによりイオン、電子の衝突によるプロセッ
シング部17の損傷がない。なお、プロセッシング部1
7ではプロセス用ガスが導入され、プラズマ発生部43
で生成されたラジカル13と反応させて反応物質20を
出す。このリモートプラズマ法は、場合によっては光ト
ラップを利用することにより紫外線の損傷も防ぐことが
できる方法でもある。これは図12(b)に示すように
ラジカル輸送管8を折り曲げる方法によって行われてい
る。
[0003] In the case where the raw material is decomposed into molecules or atoms as described above, a method of decomposing the raw material by plasma is known. In this case, the plasma source is located apart from a processing unit such as a thin film, and this is called a remote plasma method. FIG. 12 shows a schematic configuration relating to the remote plasma method. In the remote plasma method, as shown in FIG. 12A, the source gas 12 is excited by high-frequency electric power 62, but ions and ions are generated by separating the plasma generation unit (plasma source) 43 and the processing unit (process container) 17 from each other. There is no damage to the processing unit 17 due to the collision of electrons. The processing unit 1
7, a process gas is introduced, and the plasma
Reacts with the radicals 13 generated in step (1) to produce a reactant 20. This remote plasma method is also a method that can prevent damage to ultraviolet rays by using an optical trap in some cases. This is performed by bending the radical transport tube 8 as shown in FIG.

【0004】リモートプラズマ法については、畑中他に
よる多くの報告があり(Bulletin ofthe Research insti
tute of Electronics Shizuoka University, Vol. 29,
pp.87-94, 1994)、プラズマ源として様々のものについ
て研究がなされている。例えば、高周波誘導結合型のも
の、及びS. Wickramanayaka他によるこれらの装置に数
kWの大電力を投入し、高励起状態のラジカルを生成し
ようとしたもの(Jpn. J. Appl. Phys, Vol. 30, pp. 28
97-2900, 1991)等がある。また、野村他によって、電子
サイクロトロン共鳴を使ったプラズマ源によって、低い
圧力領域でのリモートプラズマによる薄膜堆積がなされ
ている(J. Appl. Phys. 69, pp. 990-993, 1991)。ま
た、Horowitz (J. Vac. Sci. Tech. A6 (3), pp. 1837-
1844 (1988))はホロカソード法によって高密度プラズマ
を得ることを報告している。なお、多数のホロカソード
を用いたものはVacuum 36, pp. 837-840 (1986)に報告
されている。Bardosらは単一ジェットプラズマをCVD
(Chemical Vapor Deposition)法に用いている(Thin Sol
id Films 158, pp. 265-270 (1988))。しかし、Bardos
らでは小さいオリフィスを持つカソードとアノードの導
電体容器の間で放電させ基板上に膜を堆積させているも
のの、小さい面積しか膜を堆積させることができない。
[0004] There are many reports on the remote plasma method by Hatanaka et al. (Bulletin of the Research Institute)
tute of Electronics Shizuoka University, Vol. 29,
pp.87-94, 1994), and various plasma sources have been studied. For example, high-frequency inductively coupled devices, and those in which high power of several kW is applied to these devices by S. Wickramanayaka et al. To generate radicals in a highly excited state (Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 30, pp. 28
97-2900, 1991). In addition, Nomura et al. Have performed deposition of a thin film by remote plasma in a low pressure region by a plasma source using electron cyclotron resonance (J. Appl. Phys. 69, pp. 990-993, 1991). Also, Horowitz (J. Vac. Sci. Tech. A6 (3), pp. 1837-
1844 (1988)) reported that a high-density plasma was obtained by the holocathode method. The one using a large number of hollow cathodes is reported in Vacuum 36, pp. 837-840 (1986). Bardos et al. CVD single jet plasma
(Chemical Vapor Deposition) method (Thin Sol
id Films 158, pp. 265-270 (1988)). But Bardos
Although they discharge the film between the cathode and anode conductive containers having small orifices and deposit the film on the substrate, they can deposit the film only in a small area.

【0005】Korzecらは、1個又は1個以上のジェット
領域の穴を持つカソードとそれを囲むアノード部とから
できているホロカソード形の放電プラズマ源(Surface a
nd Coatings Technology 93, pp. 128-133 (1997))を報
告している。この主要な部分はすべて導電性の金属でで
きており、広い面積をカバーできるプラズマ源である
が、ジェット部がプラズマ電位を通して電気的に結合す
ることもあり、上記のジェット領域の穴によりプラズマ
の強度が不均一となる。また金属による汚染の問題も解
決していない。さらに入力ガスが必ずしもジェットの穴
部を通らないで流出するロス部分が生ずる等の欠点を有
している。
Have disclosed a hollow cathode type discharge plasma source (Surface a) comprising a cathode having one or more holes in a jet region and an anode surrounding the cathode.
nd Coatings Technology 93, pp. 128-133 (1997)). This main part is all made of conductive metal and is a plasma source that can cover a large area.However, the jet part may be electrically coupled through the plasma potential, and the hole of the jet area described above causes the plasma to be generated. The strength becomes uneven. Nor has the problem of metal contamination been solved. In addition, there is a disadvantage that a loss portion occurs in which the input gas does not necessarily flow through the hole of the jet and flows out.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
プラズマ源によるラジカル(励起種を含む。以下、単に
「ラジカル」と称する)の発生においては、高収率のラ
ジカル生成ができないという問題点を有している。
As described above, in the generation of radicals (including excited species; hereinafter simply referred to as "radicals") by a conventional plasma source, there is a problem that a high yield of radicals cannot be generated. Have a point.

【0007】本発明は、上記の事情を考慮してなされた
もので、ラジカルを放電プラズマの状態から高効率に得
るプラズマラジカル生成装置を提供することを目的とす
る。本発明において、ラジカルはCVDのみでなく、固
体表面のクリーニング又はエッチング、又は改質等にも
同様に用いることができる。なお、本発明のプラズマ発
生部は高周波ホロカソードプラズマ源に種別されるもの
である。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a plasma radical generating apparatus for obtaining radicals from a discharge plasma state with high efficiency. In the present invention, radicals can be used not only for CVD, but also for cleaning or etching or modifying a solid surface. The plasma generator of the present invention is classified as a high-frequency hollow cathode plasma source.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するために次のような手段を講じた。
According to the present invention, the following means have been taken in order to solve the above-mentioned problems.

【0009】本発明は、単純ホロカソード形高周波プラ
ズマ放電にジェット部を導入する工夫をすることにより
極めて大きな効果を導き出したものである。すなわち、
本発明のプラズマラジカル生成装置は、高周波放電によ
ってラジカルを生成する放電容器を備えたプラズマラジ
カル生成装置において、前記放電容器が、原料ガスの入
り口付近に位置し前記原料ガスに高周波の電力が供給さ
れるカソード部と、前記カソード部の次段に位置し前記
カソード部よりも小さい断面積を有するジェット部と、
前記ジェット部の次段に位置し前記ジェット部よりも大
きい断面積を有するアノード部とを備えたことを特徴と
する。ここにおいて、高周波放電は容量的に結合された
電極間で発生し、略1MHzから100MHzの高周波
放電を対象としており、この高周波放電により励起され
たガスのラジカルを効率よく生成している。
The present invention derives an extremely large effect by devising a jet part in a simple hollow cathode type high frequency plasma discharge. That is,
The plasma radical generator of the present invention is a plasma radical generator including a discharge vessel that generates radicals by high-frequency discharge, wherein the discharge vessel is located near an inlet of the source gas, and high-frequency power is supplied to the source gas. A cathode portion, a jet portion located at the next stage of the cathode portion and having a smaller cross-sectional area than the cathode portion,
An anode portion located next to the jet portion and having a larger cross-sectional area than the jet portion. Here, the high-frequency discharge is generated between the capacitively coupled electrodes, and is intended for a high-frequency discharge of approximately 1 MHz to 100 MHz, and efficiently generates radicals of a gas excited by the high-frequency discharge.

【0010】このプラズマラジカル生成装置において、
好ましい実施態様は以下の通りである。
In this plasma radical generator,
The preferred embodiment is as follows.

【0011】(1) 放電容器はラジカルの再結合の小
さい絶縁物でできていること。この放電容器は、上記の
ように、電力の供給される電極の付けられたカソード部
と、アノード部とその両者を結合するジェット部とから
なっている。ここで、ジェット部はカソードとアノード
との大きさと特定の関係を有しており、数mmから数c
mの長さと径を持ち、このときカソードとアノードは数
cm〜数十cmである。
(1) The discharge vessel is made of an insulator with a small recombination of radicals. As described above, the discharge vessel includes a cathode portion provided with an electrode to which power is supplied, an anode portion, and a jet portion connecting the both. Here, the jet portion has a specific relationship with the size of the cathode and the anode, and is several mm to several c.
m and the diameter of the cathode and the anode are several cm to several tens cm.

【0012】(2) 前記カソード部に配置されたカソ
ード電極と、前記アノード部に配置されたアノード電極
を挟み込むようにして近接して配置され、放電を発生す
るための電力を供給する整合回路を更に具備すること。
また、放電部にはシールド箱が設けられ、そのシールド
箱はアノードと同電位となり全体を囲むように配置され
ていること。更に、ガスの入力部と出力部はシールド箱
の筐体に穴があけられて結合されていること。
(2) A matching circuit, which is arranged close to the cathode electrode arranged in the cathode section so as to sandwich the anode electrode arranged in the anode section and supplies electric power for generating a discharge. To have more.
In addition, a shield box is provided in the discharge part, and the shield box has the same potential as the anode and is arranged so as to surround the whole. Further, the gas input section and the gas output section shall be connected by making holes in the casing of the shield box.

【0013】(3) 前記原料ガスの入り口の部分の断
面積が、前記ジェット部の断面積よりも小さいこと。こ
のようにすることにより、入り口のガス流速が速くな
り、プラズマがガスの入口側に流出することを防ぐこと
ができる。また、単に、入り口の断面積を小さくするの
ではなく、細い管を束ねるなどのキャピラリー構造とし
ても良い。このキャピラリーの材質は絶縁物であること
が好ましい。また、キャピラリーは管であってもビーズ
状のものであってもよい。
(3) The cross-sectional area at the inlet of the source gas is smaller than the cross-sectional area of the jet section. By doing so, the gas flow velocity at the entrance is increased, and plasma can be prevented from flowing out to the gas entrance side. Further, instead of simply reducing the cross-sectional area of the entrance, a capillary structure such as bundling thin tubes may be used. The material of the capillary is preferably an insulator. The capillary may be a tube or a bead.

【0014】(4) 放電容器は電気的に絶縁物であっ
て石英、アルミナ、パイレックスガラス、テフロン、窒
化珪素、窒化アルミニウム等のようなものであること。
(4) The discharge vessel is an electrically insulating material such as quartz, alumina, Pyrex glass, Teflon, silicon nitride, aluminum nitride and the like.

【0015】(5) 放電容器のジェット部は空冷又は
水冷のできる構造であること。
(5) The jet part of the discharge vessel has a structure capable of air cooling or water cooling.

【0016】(6) 放電容器は円筒形であること。(6) The discharge vessel is cylindrical.

【0017】(7) 2個以上の放電容器におけるアノ
ード及びカソードが、共通のアノード、及びカソードと
して給電できるできること。この時に、1列に整列して
多数の放電容器を同一の電源で給電できること。さら
に、放電容器を平面的に配列して、それらのアノード部
とカソード部に共通に給電できる構造の配置とするこ
と。
(7) The anode and the cathode in two or more discharge vessels can supply power as a common anode and cathode. At this time, a large number of discharge vessels can be supplied with the same power supply in a line. Further, the discharge vessels are arranged in a plane so that the anode part and the cathode part can be commonly supplied with power.

【0018】本発明のプラズマラジカル生成装置によれ
ば、マイクロ波による励起より安価で簡単、また、誘導
結合高周波励起よりも構成が簡単、安価であり、複数放
電容器を配置或いは配列するなどの拡張性が高いという
利点を有する。また、ヘリコンプラズマ、電子サイクロ
トロン共鳴プラズマ励起装置よりも、磁界を用いること
なく、軽量、構造が単純であり安価でもある。更に、単
純な従来のホロカソードプラズマ源と比較して、本発明
では、ジェット部から高密度ラジカルが得られるという
効果を有する。
According to the plasma radical generating apparatus of the present invention, it is cheaper and simpler than microwave excitation, has a simpler and cheaper structure than inductively coupled high-frequency excitation, and has an extended arrangement such as arranging or arranging a plurality of discharge vessels. It has the advantage of high performance. Further, compared to a helicon plasma or an electron cyclotron resonance plasma excitation device, it is light in weight, simple in structure and inexpensive without using a magnetic field. Furthermore, compared with a simple conventional holocathode plasma source, the present invention has an effect that high-density radicals can be obtained from the jet part.

【0019】本発明によれば、すべてのガスはジェット
部の狭い領域を通過するので、この狭い領域が高密度プ
ラズマとなり、高効率で、励起状態の高いラジカルが得
られ、かつ消費電力が小さい。ジェット部の無いものと
比較すると、50Wの電力での本発明のプラズマラジカ
ル生成装置は、200W以上の電力での他のプラズマラ
ジカル生成装置と同等である。
According to the present invention, since all the gas passes through the narrow area of the jet portion, this narrow area becomes high-density plasma, and radicals with high efficiency and high excited state can be obtained, and power consumption is small. . Compared with the one without the jet part, the plasma radical generator of the present invention at a power of 50 W is equivalent to other plasma radical generators at a power of 200 W or more.

【0020】本発明によるアノード領域すなわち、プラ
ズマ源の出口のプラズマ電位は低い値とすることがで
き、かつ出口の口径を大きくすることもできるので、均
一なラジカル源の面積を大きくできる。本発明による絶
縁物容器は、ラジカルの再結合係数が小さいものを使用
することで、高い高密度のラジカルを遠方まで取り出し
輸送することができる。
In the anode region according to the present invention, that is, the plasma potential at the outlet of the plasma source can be set to a low value, and the diameter of the outlet can be increased, so that the area of the uniform radical source can be increased. The insulator container according to the present invention is capable of taking out and transporting high-density radicals to a distant place by using one having a small radical recombination coefficient.

【0021】さらに、高い準位に励起されたラジカルは
寿命時間も長く取ることができ、CVD等、特に、高密
度薄膜、高品質薄膜、堆積速度の向上等に特別の効果も
期待できる。
Furthermore, radicals excited to a high level can have a long lifetime, and can be expected to have a special effect in CVD or the like, particularly in high-density thin films, high-quality thin films, and improved deposition rates.

【0022】また、ジェット部分の存在により、アノー
ド部の圧力とカソード部の圧力に差を持たせることがで
きるので、より高真空で処理を必要とする場合のラジカ
ル源としては好都合な構造となっている。
Further, the presence of the jet portion makes it possible to make a difference between the pressure of the anode portion and the pressure of the cathode portion, so that the structure becomes a convenient structure as a radical source when processing is required at a higher vacuum. ing.

【0023】なお、同筒型の電極で一対の電極を考える
と、その筒の長さは電界が筒の端部より内部に浸入でき
ない程度の長さを持つものであり、表皮効果により、電
極とプラズマとの間に電界が集中してかかり、電力の消
費は主としてここで消費される。電子は電極側とプラズ
マ側を往復運動することにより効率よくイオン化を行い
密度の高いプラズマを生成する。しかし、本発明は、こ
の一般的なホロカソード効果に関するものではなく、径
の小さいジェット領域を付け加えることにより、この領
域ではプラズマの密度が高くなり、かつすべてのガスは
この領域を通過することにより効率よくラジカルを生成
できるようにしている。これにより上記のような効果が
得られる。
Considering a pair of electrodes of the same cylindrical type, the length of the cylinder is such that the electric field cannot penetrate into the inside from the end of the cylinder. An electric field is concentrated between the plasma and the plasma, and power is consumed mainly here. Electrons are efficiently ionized by reciprocating between the electrode side and the plasma side to generate high density plasma. However, the present invention is not concerned with this general holocathode effect, but by adding a jet region of small diameter, the density of the plasma is increased in this region, and all gases pass through this region and the efficiency is increased. It is able to generate radicals well. Thereby, the above-described effects can be obtained.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】図面を参照して本発明の実施の形
態を説明する。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0025】図1は、本発明の一実施形態に係るプラズ
マラジカル生成装置の概略構成を示す図である。なお、
本発明装置と従来の装置との違いを明確にするために、
図2に従来のプラズマラジカル生成装置の概略構成を示
す。図1及び図2から明らかなように、本発明に係るプ
ラズマラジカル生成装置は、従来装置と比べ、ジェット
部とアノード部が追加された構成となっている。以下詳
細に説明する。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a plasma radical generator according to one embodiment of the present invention. In addition,
To clarify the difference between the device of the present invention and the conventional device,
FIG. 2 shows a schematic configuration of a conventional plasma radical generator. As is clear from FIGS. 1 and 2, the plasma radical generator according to the present invention has a configuration in which a jet unit and an anode unit are added, as compared with the conventional device. This will be described in detail below.

【0026】図1において、放電容器31は、ガス入力
部9と、カソード部6と、ジェット部5と、アノード部
7からなり、この放電容器31で生成したラジカルは輸
送管部8を介して図示しないプロセス部(詳細は後述す
る)に導かれる。なお、この放電容器31の壁材は表面
再結合の小さい材料で作られていることが好ましい。ガ
ス入り口部9は、放電容器31と同じ材料で構成されて
おり、原料ガス12の逆流を防ぐために、カソード部6
よりも小さい断面積を有している。なお、ガス入り口部
9についても、詳細は後述する。また、カソード部6と
アノード部7では、放電容器31の周囲にそれぞれカソ
ード電極10とアノード電極11が設けられている。ま
た、カソード電極10には高周波電圧が高周波電源14
によって供給され、アノード電極11は接地電位15に
接続されている。なお、実施形態においては、アノード
電極11は接地されているが、特に接地されていなくて
も良く、固定された電位であって、カソード電極10と
アノード電極11が効率よくカップリングするような電
位に固定されていれば良い。このように、アノード部7
を設けることにより、強いジェット放電を発生させるこ
とができる。なお、高周波電源14から供給された高周
波電圧によってホロカソードプラズマを発生させるの
で、その周波数は、ほぼ1MHzから100MHzであ
ることが好ましい。
In FIG. 1, a discharge vessel 31 comprises a gas input section 9, a cathode section 6, a jet section 5, and an anode section 7, and radicals generated in the discharge vessel 31 are transported through a transport pipe section 8. The process is guided to a process unit (not shown) (to be described in detail later). The wall material of the discharge vessel 31 is preferably made of a material having a small surface recombination. The gas inlet 9 is made of the same material as that of the discharge vessel 31.
It has a smaller cross-sectional area. The details of the gas inlet 9 will be described later. In the cathode section 6 and the anode section 7, a cathode electrode 10 and an anode electrode 11 are provided around the discharge vessel 31, respectively. A high-frequency voltage is applied to the cathode electrode 10 by a high-frequency power source 14.
And the anode electrode 11 is connected to the ground potential 15. In the embodiment, the anode electrode 11 is grounded. However, the anode electrode 11 may not be grounded, and may have a fixed potential such that the cathode electrode 10 and the anode electrode 11 are efficiently coupled. It should just be fixed to. Thus, the anode part 7
, A strong jet discharge can be generated. Since the hollow cathode plasma is generated by the high-frequency voltage supplied from the high-frequency power supply 14, the frequency is preferably approximately 1 MHz to 100 MHz.

【0027】上記のように構成されたプラズマラジカル
生成装置の動作を以下に詳細に説明する。
The operation of the plasma radical generator configured as described above will be described in detail below.

【0028】ガス入力部9に導かれた原料ガス12はカ
ソード部6を通り、ジェット部5、アノード部7と輸送
管部8を通ってプロセス部に結合される。
The raw material gas 12 led to the gas input section 9 passes through the cathode section 6, passes through the jet section 5, the anode section 7 and the transport pipe section 8, and is coupled to the process section.

【0029】カソード部6でホロカソードプラズマが生
成されるが、カソード部6における圧力はホロカソード
の放電開始電圧によって決められる。高周波電源14に
よって給電されたカソード電極10とカソード壁6aと
の容量結合により高密度なホロカソードプラズマ2に電
力が供給される。容量結合により生じた電子電流32は
ジェット部5を通りアノードプラズマ部3及びアノード
壁7aに達する。本発明においては、このジェット部5
を設けて、このジェット部5でのラジカル発生効率を従
来よりも高くしている。この理由は、次の通りである。
ジェット部5では、電子温度(すなわち、電子の速度)
が大きく、(電子の加速電界が強い)衝突励起の場合の
励起エネルギーが大きいので、高い励起状態に励起する
ことができるものと考えられる。また、アノードプラズ
マ部3内のプラズマはリモートプラズマ部4を通過して
プロセス部に導入され、所定の処理が行われる。
Hollow cathode plasma is generated in the cathode section 6, and the pressure in the cathode section 6 is determined by the discharge starting voltage of the hollow cathode. Electric power is supplied to the high-density hollow cathode plasma 2 by capacitive coupling between the cathode electrode 10 and the cathode wall 6a, which are fed by the high frequency power supply 14. The electron current 32 generated by the capacitive coupling reaches the anode plasma section 3 and the anode wall 7a through the jet section 5. In the present invention, the jet unit 5
To increase the radical generation efficiency in the jet unit 5 as compared with the conventional case. The reason is as follows.
In the jet unit 5, the electron temperature (that is, the velocity of the electrons)
Is large, and the excitation energy in the case of collision excitation (where the electron acceleration electric field is strong) is large, so that it can be considered that it can be excited to a high excited state. The plasma in the anode plasma section 3 passes through the remote plasma section 4 and is introduced into the processing section, where predetermined processing is performed.

【0030】上記のように構成された本発明のプラズマ
ラジカル生成装置の等価回路を図3に示す。
FIG. 3 shows an equivalent circuit of the plasma radical generator of the present invention configured as described above.

【0031】図3によれば、すべての電力は容量35
(すなわち、カソード壁6a)を介して給電され、ジェ
ット部5を通って流れなければならない。そして、アノ
ード電極11のインピーダンス40が小さいと、高い密
度のジェットプラズマが発生される。アノードプラズマ
部3からの電流は主として、アノード壁7aの容量を通
してアノード電極7から接地される。アノード部7の容
量が大きいときは、インピーダンス40は低くなり、ア
ノード部7側のプラズマ電位は低くすることができる。
もし、この電極容量36が小さければ、プラズマポテン
シャルが大きくなり、図示しないプロセス容器に電流が
流れ込み、直接、プラズマとしての働きをするようにな
る。輸送管部のプラズマ抵抗38に比較して、アノード
プラズマ部3の容量インピーダンス40は、輸送管部8
のインピーダンス38が高いときか、又はアノード容量
36が大きいときに実現できる。充分な容量を持たせる
ために、例えばアノード電極11はカソード電極の長さ
と等しいかそれ以上でなければならない。アノード壁7
aの厚さは、カソード壁6aよりも等しいか、より薄い
ものでなければならない。しかし、壁の厚さの限界は機
械的強度によって制限される。
According to FIG. 3, all the power is
(Ie, cathode wall 6 a) and must flow through jet 5. When the impedance 40 of the anode electrode 11 is small, high density jet plasma is generated. The current from the anode plasma section 3 is mainly grounded from the anode electrode 7 through the capacity of the anode wall 7a. When the capacity of the anode unit 7 is large, the impedance 40 is low, and the plasma potential on the anode unit 7 side can be low.
If the electrode capacity 36 is small, the plasma potential becomes large, and a current flows into a process vessel (not shown), which directly acts as plasma. Compared with the plasma resistance 38 of the transport pipe section, the capacitance impedance 40 of the anode plasma section 3 is smaller than that of the transport pipe section 8.
Can be realized when the impedance 38 is high or when the anode capacity 36 is large. In order to have sufficient capacity, for example, the anode electrode 11 must be equal to or longer than the length of the cathode electrode. Anode wall 7
The thickness of a must be equal to or less than the thickness of the cathode wall 6a. However, wall thickness limitations are limited by mechanical strength.

【0032】本発明において、全体のインピーダンスの
主要な部分がジェット部のインピーダンス37によって
代表されるとき、最も効率的な変換効率が得られる。こ
のことは、カソードプラズマ部2のインピーダンス39
とアノードプラズマ部3のインピーダンス40が充分小
さいものでなけれぱならないことを意味する。このと
き、図4に示すカソード部6の長さと直径の比(Lc/
dc)が充分小さくなり、すなわち、典型的な一例では
2より小さい。アノード部7における圧力はいつもカソ
ード部6よりも小さくなり、その部分での電子の平均自
由行程は長くなる。従って、アノード部7の長さと直径
の比(La/da)は、カソード部6のそれより大きく
なり、その最適値は略2〜4である。
In the present invention, the most efficient conversion efficiency is obtained when a major part of the total impedance is represented by the impedance 37 of the jet section. This means that the impedance 39 of the cathode plasma section 2
This means that the impedance 40 of the anode plasma section 3 must be sufficiently small. At this time, the ratio (Lc / Lc) of the length and the diameter of the cathode portion 6 shown in FIG.
dc) is small enough, that is, less than 2 in a typical example. The pressure at the anode section 7 is always lower than at the cathode section 6, and the mean free path of electrons at that section is longer. Therefore, the ratio (La / da) between the length and the diameter of the anode section 7 is larger than that of the cathode section 6, and the optimum value is approximately 2 to 4.

【0033】ジェット部のプラズマインピーダンスを増
加させる方法として、ジェット部5の長さと径の比(L
j/dj)を増加させる方法がある。しかし、ジェット
部5は細かく長いとき、放電開始が困難となるので、所
定以上の比とすることはできない。この理由は、径が小
さくなってくると、電子は再結合に関わるために電子の
加速が制限され、電流が流れにくくなるためである。ま
た、径が小さくなりすぎると、カソード領域の圧力が上
昇して、電子の平均自由行程が小さくなり、ホロカソー
ド効果が期待できなくなる。その結果として、カソード
部6の径を減少させる必要があるが、このときにはカソ
ード電極10の径が小さくなって、プラズマ生成の全体
としての効率が小さくなる。経験的にジェット部5の径
は、カソードとアノードの圧力差において3程度とする
ことが望ましい。カソード部6の最適の径はホロカソー
ド効果の得られる条件から決められるが、それはガスの
種類と圧力によって異なってくる。水素、窒素、酸素の
ような分子状のガスの場合には、カソード部6が例えば
約1Torrの場合には、カソード径は2〜4cmであ
り、約0.1Torrの場合には、約8〜10cmであ
る。放電容器31の圧力が0.1Torr、1Tor
r、10Torrの場合における各部のサイズの例を図
5に示す。ここで、放電容器31の壁圧は2.5mmと
している。図5に示すように、ジェット部はカソードと
アノードとの大きさと特定の関係を有しており、数mm
から数cmの長さと径を持ち、このときカソードとアノ
ードは数cm〜数十cmであることが好ましい。
As a method for increasing the plasma impedance of the jet portion, a ratio of the length to the diameter (L
j / dj). However, when the jet unit 5 is fine and long, it becomes difficult to start discharge, so that the ratio cannot be set to a predetermined value or more. The reason for this is that, as the diameter becomes smaller, the electrons are involved in recombination, which limits the acceleration of the electrons and makes it difficult for the current to flow. If the diameter is too small, the pressure in the cathode region increases, the mean free path of electrons becomes small, and the hollow cathode effect cannot be expected. As a result, it is necessary to reduce the diameter of the cathode portion 6, but at this time, the diameter of the cathode electrode 10 is reduced, and the overall efficiency of plasma generation is reduced. Empirically, it is desirable that the diameter of the jet unit 5 be about 3 in the pressure difference between the cathode and the anode. The optimum diameter of the cathode section 6 is determined based on the conditions under which the hollow cathode effect can be obtained, but it depends on the type of gas and the pressure. In the case of a molecular gas such as hydrogen, nitrogen, or oxygen, the cathode diameter is 2 to 4 cm when the cathode section 6 is, for example, about 1 Torr, and about 8 to 4 cm when the cathode section 6 is about 0.1 Torr. 10 cm. The pressure of the discharge vessel 31 is 0.1 Torr, 1 Torr
FIG. 5 shows an example of the size of each part in the case of r and 10 Torr. Here, the wall pressure of the discharge vessel 31 is 2.5 mm. As shown in FIG. 5, the jet part has a specific relationship with the size of the cathode and the anode, and is several mm.
And a length and a diameter of several cm, and the cathode and the anode are preferably several cm to several tens cm.

【0034】次に、放電容器31に原料ガス12が導入
される入り口部9について記載する。原料ガス12の入
力部9において、図6(a)に示す接続管29の中に部
分放電が発生することがある。入力ガスライン47は通
常ステンレススチール管などの導体であり、通常接地さ
れている。ここで、接続管29がカソードプラズマ2に
よって励起され、このガスライン47との間に放電が生
ずる。ここで生ずる放電がガスライン47に拡大して、
事故が発生する可能性もあるので、この放電を防ぐ方策
が不可欠の問題である。
Next, the inlet 9 through which the raw material gas 12 is introduced into the discharge vessel 31 will be described. At the input section 9 of the source gas 12, partial discharge may occur in the connection pipe 29 shown in FIG. The input gas line 47 is usually a conductor such as a stainless steel tube, and is usually grounded. Here, the connecting pipe 29 is excited by the cathode plasma 2, and a discharge occurs between the connecting pipe 29 and the gas line 47. The discharge generated here spreads to the gas line 47,
Since accidents can occur, measures to prevent this discharge are essential.

【0035】このガス入力部9での放電を避ける方法
は、入力部9の口径(すなわち断面積)をジェット部の
径より充分小さくすることである。一例としては1mm
以下にすることが効果的である。このように、入力部9
の口径を小さくするとガス流量が制限され、プラズマの
入り口方向への逆流を防ぐので、放電がガスラインに達
することはない。従って、図6(b)に示すように細管
を束ねたキャピラリーを挿入してガスが通過する断面積
を減少させることにより目的を達することができる。こ
こで、キャピラリー49は接続管29の中に絶縁物30
内の保護管50の中に固定される。また、キャピラリー
49は、ビーズ状のものを用いて作製しても良い。
A method of avoiding the discharge at the gas input unit 9 is to make the diameter (that is, the sectional area) of the input unit 9 sufficiently smaller than the diameter of the jet unit. One example is 1mm
The following is effective. Thus, the input unit 9
If the diameter is reduced, the gas flow rate is restricted, and backflow of the plasma in the inlet direction is prevented, so that the discharge does not reach the gas line. Therefore, as shown in FIG. 6 (b), the objective can be achieved by inserting a capillary in which thin tubes are bundled to reduce the cross-sectional area through which gas passes. Here, the capillary 49 is placed inside the connecting pipe 29 with the insulator 30.
Is fixed in the protective tube 50 inside. Further, the capillary 49 may be manufactured using a bead-shaped one.

【0036】なお、放電容器31は、電気的に絶縁物で
あって石英、アルミナ、パイレックスガラス、テフロ
ン、窒化珪素、窒化アルミニウム等のようなものである
ことが好ましく、円筒形又はそれに近い形であれば良
い。また、放電容器31のジェット部5は高温になる可
能性が高いので、空冷又は水冷のできる構造であること
が好ましい。
The discharge vessel 31 is preferably an electrically insulating material such as quartz, alumina, Pyrex glass, Teflon, silicon nitride, aluminum nitride or the like. I just want it. Further, since the temperature of the jet part 5 of the discharge vessel 31 is likely to be high, it is preferable that the jet part 5 has a structure capable of air cooling or water cooling.

【0037】以下、本発明に係るプラズマラジカル生成
装置の上記の放電容器31を適用した例を示す。
Hereinafter, an example in which the above-described discharge vessel 31 of the plasma radical generating apparatus according to the present invention is applied will be described.

【0038】(適用例1)本発明のプラズマラジカル生
成装置の放電容器31を適用したプロセス装置の構成を
図7に示す。上記の実施形態では、特に放電容器31に
重点をおいて説明したが、図7では、その周辺機器(例
えば、電源、シールド箱、プロセス部など)も併せて示
されている。
(Application Example 1) FIG. 7 shows a configuration of a process apparatus to which the discharge vessel 31 of the plasma radical generator of the present invention is applied. Although the above embodiment has been described with particular emphasis on the discharge vessel 31, FIG. 7 also shows peripheral devices (for example, a power supply, a shield box, and a process unit).

【0039】図7において、供給される高周波電力は、
カソード電極10の最も近くに接地されるとき、電力効
率は最も良くなる。整合回路42の容量22、負荷容量
23、及びコイル24からなる整合回路42は放電容器
31のジェット部5、カソード部6及びアノード部7の
周囲に配置されている。高周波電力は接栓21から加え
られる。可変容量22、23のチューニングはそれぞれ
回転軸22a、23aによってなされる。コイルは図示
のように2つの部分に分割され、空間的配置のバランス
の良いようにされる。これは、極めてコンパクトな形に
でき、しかも効率の良い配置である。
In FIG. 7, the supplied high frequency power is
When grounded closest to the cathode electrode 10, the power efficiency is highest. The matching circuit 42 including the capacitance 22, the load capacitance 23, and the coil 24 of the matching circuit 42 is arranged around the jet unit 5, the cathode unit 6, and the anode unit 7 of the discharge vessel 31. High frequency power is applied from the plug 21. The tuning of the variable capacitors 22 and 23 is performed by the rotating shafts 22a and 23a, respectively. The coil is divided into two parts as shown, so that the spatial arrangement is well balanced. This is a very compact and efficient arrangement.

【0040】プラズマラジカル輸送管8は、プラズマ源
43とプロセス容器17とを結ぶものである。プロセス
容器17は基板19の付いた基板支持台18の近くに置
かれる。プロセスガス44を分散させる分配システム4
5を通してプロセスガス44が導入されることによっ
て、ラジカルの科学的エネルギー、物理的エネルギー
は、プロセスガスの分解のためのエネルギーとして消費
されることとなる。反応生成物20は真空ポンプ46で
引き取られる。このプラズマ装置からの水素ラジカルの
測定結果を図8に示す。図8は通常のホロカソードプラ
ズマ装置を使ったときのラジカルの濃度と本発明にかか
る装置を使ったときのラジカルの濃度との比較を示す図
である。この測定はNOガスを滴定ガスとしてホロカ
ソード出力端からガラス管中をラジカルを輸送し、その
途中で数カ所で滴定ガスを注入して測定したものであ
る。図8によれば、本発明にかかるラジカルは、減衰が
少なく、寿命が長いことが示されている。このことは、
より高い励起状態にすることができる結果であると解釈
される。また、このラジカル源では、近くで使用すると
きパワー効率が1.6倍、遠方で使用するときは、4倍
のパワー効率が得られている。この結果は、ラジカル源
としては、有用な結果である。
The plasma radical transport tube 8 connects the plasma source 43 to the process vessel 17. The process vessel 17 is placed near a substrate support 18 with a substrate 19. Distribution system 4 for dispersing process gas 44
By introducing the process gas 44 through 5, the scientific energy and physical energy of the radicals are consumed as energy for the decomposition of the process gas. The reaction product 20 is collected by a vacuum pump 46. FIG. 8 shows the measurement results of hydrogen radicals from this plasma device. FIG. 8 is a diagram showing a comparison between the concentration of radicals when using the ordinary hollow cathode plasma apparatus and the concentration of radicals when using the apparatus according to the present invention. In this measurement, NO 2 gas was used as a titration gas, radicals were transported from the output end of the hollow cathode through the glass tube, and the titration gas was injected at several points along the way. FIG. 8 shows that the radical according to the present invention has little attenuation and a long life. This means
It is interpreted as a result that a higher excited state can be obtained. In addition, this radical source has a power efficiency of 1.6 times when used near, and a power efficiency of 4 times when used far. This result is a useful result as a radical source.

【0041】(適用例2)本発明に係る放電容器31を
1つ用いてプロセスに使用した適用例を上記の適用例1
に示したが、複数個の放電容器31をライン状に並べて
使用することもできる。図9に、放電容器31(31a
−31e)を複数個一列に整列させた場合を示す。図9
において、図7と同じ部分には、同じ符号を付し、詳細
な説明は省略する。図9においては、各放電容器31a
−31eのアノード部とカソード部の電極を共有する形
で連結し、アノード電極52とカソード電極51を共通
としてカソード電極51のみに高周波を一つの電源14
から給電している。このようにすることにより、図示し
ないインピーダンス整合回路も1つの整合回路によって
調整することができる。また、すべての放電容器31は
同一のプロセス容器17に結合され、プロセス容器17
内の基板固定台18を移動させることにより大面積の薄
膜堆積、又はプラズマプロセス装置を作ることができ
る。
(Application Example 2) An application example in which one discharge vessel 31 according to the present invention is used in a process is shown in Application Example 1 described above.
However, a plurality of discharge vessels 31 can be used in a line. FIG. 9 shows a discharge vessel 31 (31a).
-31e) shows a case where a plurality of -31e) are arranged in a line. FIG.
In FIG. 7, the same portions as those in FIG. 7 are denoted by the same reference numerals, and detailed description will be omitted. In FIG. 9, each discharge vessel 31a
-31e are connected in such a manner that the electrodes of the anode section and the cathode section are shared, so that the anode electrode 52 and the cathode electrode 51 are shared and a high frequency is applied to only the cathode electrode 51 by one power supply 14.
Powered by By doing so, an impedance matching circuit (not shown) can be adjusted by one matching circuit. Also, all the discharge vessels 31 are connected to the same process vessel 17,
By moving the substrate fixing table 18 in the inside, a large-area thin film deposition or plasma processing apparatus can be manufactured.

【0042】図10は、図9のA−A矢視図であって、
帯状のストライプ電極を用いてカソード及びアノードを
連続して構成する方法を示したものである。例えば、帯
状の銅等で放電容器を挟み込むようにして、構成するこ
とにより、簡単に電極を共有することができる。例え
ば、図10に示すように、上部電極帯56と下部電極帯
55とで放電容器を挟み込むようにして、この上部及び
下部電極帯55及び56を複数の放電容器に共通接続さ
れるように構成している。ここで、すべてのカソード壁
57a−57eの径、アノード壁58a−58cの径、
及び容器の厚さは同じ寸法であることが好ましい。ま
た、ジェット壁59a−59cの径も同じ寸法であるこ
とが好ましい。また、ジェット部59a−59cも同じ
寸法でなければならない。
FIG. 10 is a view taken along the line AA of FIG.
This shows a method of continuously forming a cathode and an anode using a strip-shaped stripe electrode. For example, by configuring the discharge vessel to be sandwiched between strip-shaped copper or the like, the electrodes can be easily shared. For example, as shown in FIG. 10, the discharge vessel is sandwiched between the upper electrode strip 56 and the lower electrode strip 55 so that the upper and lower electrode strips 55 and 56 are commonly connected to a plurality of discharge vessels. are doing. Here, the diameters of all the cathode walls 57a-57e, the diameters of the anode walls 58a-58c,
And the thickness of the container is preferably of the same dimensions. Further, it is preferable that the diameters of the jet walls 59a to 59c are the same. Also, the jet sections 59a-59c must have the same dimensions.

【0043】図10の複数個の放電容器31の電極を共
有化して、カソード電極などに同時に給電する方法は2
次元平面的に拡張することができる。その配置例を図1
1(a)と図11(b)に示す。これは帯状電極を切断
することなく連結できるようにするための配置例であ
る。
The method of sharing the electrodes of the plurality of discharge vessels 31 shown in FIG. 10 and simultaneously supplying power to the cathode electrode and the like is as follows.
It can be extended in a two-dimensional plane. Figure 1 shows an example of the layout
1 (a) and FIG. 11 (b). This is an example of an arrangement for connecting the strip electrodes without cutting them.

【0044】本発明は、上記の発明の実施の形態に限定
されるものではなく、本発明の要旨を変更しない範囲で
種々変形して実施できるのは勿論である。
The present invention is not limited to the above embodiments of the present invention, but can be, of course, carried out in various modifications without departing from the spirit of the present invention.

【0045】[0045]

【発明の効果】本発明によれば次のような効果が得られ
る。
According to the present invention, the following effects can be obtained.

【0046】上記のように、本発明のプラズマラジカル
生成装置によれば、簡単な構成で、高効率及び高密度の
ラジカルを生成できる。
As described above, according to the plasma radical generator of the present invention, highly efficient and high-density radicals can be generated with a simple configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係るプラズマラジカル生
成装置の概略構成を示す図。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a plasma radical generator according to an embodiment of the present invention.

【図2】従来のプラズマラジカル生成装置の概略構成を
示す図。
FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of a conventional plasma radical generator.

【図3】本発明のプラズマラジカル生成装置の等価回路
を示す図。
FIG. 3 is a diagram showing an equivalent circuit of the plasma radical generator of the present invention.

【図4】本発明のプラズマラジカル生成装置のサイズに
関する記号を示す図。
FIG. 4 is a diagram showing symbols related to the size of the plasma radical generator of the present invention.

【図5】放電容器の圧力に従う各部のサイズの例を示す
図。
FIG. 5 is a diagram showing an example of the size of each part according to the pressure of the discharge vessel.

【図6】ガス入力部の構成例を示す図。FIG. 6 is a diagram showing a configuration example of a gas input unit.

【図7】本発明のプラズマラジカル生成装置の放電容器
を適用したプロセス装置の構成を示す図。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a process apparatus to which a discharge vessel of the plasma radical generator according to the present invention is applied.

【図8】通常のホローカソード型と本発明のプラズマラ
ジカル生成装置とのラジカルの寿命の比較を示す図。
FIG. 8 is a diagram showing a comparison of the radical lifetime between a normal hollow cathode type and the plasma radical generator of the present invention.

【図9】複数の放電容器を一列に並べた例を示す図。FIG. 9 is a diagram showing an example in which a plurality of discharge vessels are arranged in a line.

【図10】図9のA−A矢視図であって、帯状のストラ
イプ電極を用いてカソード及びアノードを連続して構成
する方法を示した図。
FIG. 10 is a view taken in the direction of arrows AA in FIG. 9 and shows a method of continuously forming a cathode and an anode by using strip-shaped stripe electrodes.

【図11】カソード電極などに同時に給電する方法を2
次元平面的に拡張した例を示す図。
FIG. 11 shows two methods for simultaneously supplying power to a cathode electrode and the like.
The figure which shows the example extended in the two-dimensional plane.

【図12】リモートプラズマ法に関する概略構成を示す
図。
FIG. 12 is a diagram showing a schematic configuration relating to a remote plasma method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ジェットプラズマ部 2…カソードプラズマ部 3…アノードプラズマ部 4…リモートプラズマ部 5…ジェット部 6…カソード部 6a…カソード壁 7…アノード部 7a…アノード壁 8…輸送管部 9…ガス入力部 10…カソード電極 11…アノード電極 12…原料ガス 13…ラジカルと励起種の流れ 14…高周波電源 15…接地電位 15a…プロセス容器を通しての接地 16…放電容器を支持する筐体 17…プロセス容器 18…基板支持台 19…基板 20…反応物質 21…電源結合接栓 22…調整用容量 22a…容量調節用軸 23…負荷容量 23a…負荷容量調節用軸 24…コイル 25…調節用容量の接地結合 26…高周波電源供給結合 27…負荷容量のカソード電極結合 28…アノード電極の筐体への接続 29…接続管 30…絶縁物 31(31a−31e)…放電容器 32…電子流 33…ジェット部の容器壁 34…高周波に対するプラズマの電気的等価回路 35…カソード電極とカソードプラズマの間の容量(キ
ャパシタンス) 36…アノード電極とアノードプラズマ部の間の容量
(キャパシタンス) 37…ジェット部のインピーダンス 38…輸送部分のプラズマインピーダンス 39…カソードプラズマのインピーダンス 40…アノードプラズマのインピーダンス 41…冷却用ファン 42…整合回路 40…プラズマ源 44…プロセス用ガス 45…分配システム 46…真空ポンプ 47…ガスライン 48…部分放電 49…絶縁用キャピラリー細管 50…絶縁物支持管 51…共通カソード電極 52…共通アノード電極 55…下部アノード電極帯 56…上部アノード電極帯 57(57a−57e)…一列に連結したプラズマソー
スのカソード部の容器壁 58(58a−58e)…一列に連結したプラズマソー
スのアノード部の容器壁 59(59a−59e)…一列に連結したプラズマソー
スのジェット部の容器壁 60(60a−60e)…一列に連結したジェットプラ
ズマ 61…高周波電源の結合の最適値 62…電磁気的エネルギー 63…ガス入力口 64…ラジカル輸送管部 Lr…ラジカル輸送管部の長さ La…アノード部の長さ Lc…カソード部の長さ Lj…ジェット部の長さ Ar…ラジカル輸送部の断面積 Aa…アノード部の断面積 Ac…カソード部の断面積 Aj…ジェット部の断面積 Ag…ガス入力部の断面積 dr…ラジカル輸送部の直径 da…アノード部の直径 dc…カソード部あ直径 dj…ジェット部の直径 dg…ガス入力口の直径 ta…アノード部の容器壁の厚さ tC…カソード部の容器壁の厚さ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Jet plasma part 2 ... Cathode plasma part 3 ... Anode plasma part 4 ... Remote plasma part 5 ... Jet part 6 ... Cathode part 6a ... Cathode wall 7 ... Anode part 7a ... Anode wall 8 ... Transport pipe part 9 ... Gas input part DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Cathode electrode 11 ... Anode electrode 12 ... Raw material gas 13 ... Flow of radicals and excited species 14 ... High frequency power supply 15 ... Ground potential 15a ... Grounding through a process vessel 16 ... Housing supporting a discharge vessel 17 ... Process vessel 18 ... Substrate support 19 ... Substrate 20 ... Reactant 21 ... Power supply connection plug 22 ... Adjustment capacity 22a ... Capacity adjustment axis 23 ... Load capacity 23a ... Load capacity adjustment axis 24 ... Coils 25 ... Adjustment capacity ground connection 26 ... High-frequency power supply coupling 27 ... Cathode coupling of load capacitance 28 ... Connection of anode electrode to housing 29 ... Connection DESCRIPTION OF SYMBOLS 30 ... Insulator 31 (31a-31e) ... Discharge container 32 ... Electron flow 33 ... Container wall of a jet part 34 ... Electric equivalent circuit of plasma with respect to high frequency 35 ... Capacity (capacitance) between cathode electrode and cathode plasma 36 ... Capacitance (capacitance) between the anode electrode and the anode plasma part 37: Impedance of jet part 38: Plasma impedance of transport part 39: Impedance of cathode plasma 40: Impedance of anode plasma 41: Cooling fan 42 ... Matching circuit 40: Plasma Source 44 ... Processing gas 45 ... Distribution system 46 ... Vacuum pump 47 ... Gas line 48 ... Partial discharge 49 ... Insulating capillary tube 50 ... Insulator support tube 51 ... Common cathode electrode 52 ... Common anode electrode 55 ... Lower anode electrode band 5 ... Upper anode electrode band 57 (57a-57e). Container wall 58 (58a-58e) of cathode portion of plasma source connected in line. 59. Container walls 59 (59a-59e) of anode portion of plasma source connected in line. Vessel walls 60 (60a-60e) of jet sections of plasma sources connected in a row 60—Jet plasma connected in a row 61—Optimum value of coupling of high-frequency power supply 62—Electromagnetic energy 63—Gas input port 64—Radical transport pipe section Lr: length of radical transport tube section La: length of anode section Lc: length of cathode section Lj: length of jet section Ar: sectional area of radical transport section Aa: sectional area of anode section Ac: cathode section Cross-sectional area Aj: Cross-sectional area of jet part Ag: Cross-sectional area of gas input part dr: Diameter of radical transport part da: Diameter of anode part dc ... diameter of cathode part dj ... diameter of jet part dg ... diameter of gas input port ta ... thickness of container wall of anode part tC ... thickness of container wall of cathode part

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【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成12年3月17日(2000.3.1
7)
[Submission date] March 17, 2000 (2003.
7)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】発明の名称[Correction target item name] Name of invention

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【発明の名称】 放電容器及びその放電容器を
備えたプラズマラジカル生成装置
Patent application title: Discharge Vessel and Plasma Radical Generator Having the Discharge Vessel

【手続補正2】[Procedure amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】特許請求の範囲[Correction target item name] Claims

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【特許請求の範囲】[Claims]

【手続補正3】[Procedure amendment 3]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0009[Correction target item name] 0009

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0009】本発明は、単純ホロカソード形高周波プラ
ズマ放電にジェット部を導入する工夫をすることにより
極めて大きな効果を導き出したものである。すなわち、
本発明の放電容器は、原料ガスからプラズマラジカルを
生成するための筒状の放電容器であって、前記原料ガス
の入り口付近に配置され、前記放電容器の外側に前記放
電容器を取り囲むように配置されたカソード電極を有
、前記原料ガスに前記カソード電極から高周波の電力
供給することによってプラズマを生成するためのカソ
ード部と、前記カソード部の後段に配置され、前記放電
容器の外側に前記放電容器を取り囲むように配置された
アノード電極を有するアノード部と、前記カソード部と
前記アノード部との間に配置されて前記カソード部と前
記アノード部とを結合する部分であって、くびれた構造
を有し、前記くびれた構造によって前記生成されたプラ
ズマを高密度にすることによって高密度ラジカルを生成
するジェット部とを備えたことを特徴とする。ここにお
いて、高周波放電は容量的に結合された電極間で発生
し、略1MHzから100MHzの高周波放電を対象と
しており、この高周波放電により励起されたガスのラジ
カルを効率よく生成している。
The present invention derives an extremely large effect by devising a jet part in a simple hollow cathode type high frequency plasma discharge. That is,
The discharge vessel of the present invention converts plasma radicals from a raw material gas.
A cylindrical discharge vessel for generating the source gas;
Near the entrance of the discharge vessel and outside the discharge vessel.
With a cathode electrode arranged to surround the container.
And a high-frequency power from the cathode electrode to the source gas.
A cathode <br/> over de portion for generating a plasma by supplying, disposed downstream of the cathode unit, the discharge
Placed outside the vessel to surround the discharge vessel
An anode section having an anode electrode , and the cathode section;
The cathode unit is disposed between the anode unit and the anode unit.
The part that joins the anode part and has a constricted structure
And the plug generated by the constricted structure.
Generates high-density radicals by increasing the density of the zuma
And a jetting part . Here, the high-frequency discharge is generated between the capacitively coupled electrodes, and is intended for a high-frequency discharge of approximately 1 MHz to 100 MHz, and efficiently generates radicals of a gas excited by the high-frequency discharge.

【手続補正4】[Procedure amendment 4]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0010[Correction target item name] 0010

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0010】この放電容器及びこの放電容器を備えた
ラズマラジカル生成装置において、好ましい実施態様は
以下の通りである。
[0010] In this discharge vessel and the plasma radical generator provided with the discharge vessel , preferred embodiments are as follows.

【手続補正5】[Procedure amendment 5]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0018[Correction target item name] 0018

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0018】本発明の放電容器及びこの放電容器を備え
プラズマラジカル生成装置によれば、マイクロ波によ
る励起より安価で簡単、また、誘導結合高周波励起より
も構成が簡単、安価であり、複数放電容器を配置或いは
配列するなどの拡張性が高いという利点を有する。ま
た、ヘリコンプラズマ、電子サイクロトロン共鳴プラズ
マ励起装置よりも、磁界を用いることなく、軽量、構造
が単純であり安価でもある。更に、単純な従来のホロカ
ソードプラズマ源と比較して、本発明では、ジェット部
から高密度ラジカルが得られるという効果を有する。
The discharge vessel of the present invention and the discharge vessel
According to the plasma radical generating apparatus, it is inexpensive and simpler than microwave excitation, simpler and cheaper than inductively coupled high-frequency excitation, and has high expandability such as disposing or arranging a plurality of discharge vessels. Having. Further, compared to a helicon plasma or an electron cyclotron resonance plasma excitation device, it is light in weight, simple in structure and inexpensive without using a magnetic field. Furthermore, compared with a simple conventional holocathode plasma source, the present invention has an effect that high-density radicals can be obtained from the jet part.

【手続補正6】[Procedure amendment 6]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0046[Correction target item name] 0046

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0046】上記のように、本発明の放電容器及びこの
放電容器を備えたプラズマラジカル生成装置によれば、
簡単な構成で、高効率及び高密度のラジカルを生成でき
る。
As described above, the discharge vessel of the present invention and this discharge vessel
According to the plasma radical generator equipped with a discharge vessel ,
With a simple configuration, radicals of high efficiency and high density can be generated.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 高周波放電によってラジカルを生成する
放電容器を備えたプラズマラジカル生成装置において、 前記放電容器が、原料ガスの入り口付近に位置し前記原
料ガスに高周波の電力が供給されるカソード部と、前記
カソード部の次段に位置し前記カソード部よりも小さい
断面積を有するジェット部と、前記ジェット部の次段に
位置し前記ジェット部よりも大きい断面積を有するアノ
ード部とを備えたことを特徴とするプラズマラジカル生
成装置。
1. A plasma radical generator comprising a discharge vessel for generating radicals by high-frequency discharge, wherein the discharge vessel is located near an inlet of a source gas, and a cathode unit is supplied with high-frequency power to the source gas. A jet section located next to the cathode section and having a smaller cross-sectional area than the cathode section; and an anode section located next to the jet section and having a larger cross-sectional area than the jet section. A plasma radical generator characterized by the following.
【請求項2】 請求項1記載のプラズマラジカル生成装
置において、前記カソード部に配置されたカソード電極
と、前記アノード部に配置されたアノード電極を挟み込
むようにして近接して配置され、放電を発生するための
電力を供給する整合回路を更に具備することを特徴とす
るプラズマラジカル生成装置。
2. The plasma radical generating apparatus according to claim 1, wherein a discharge is generated by disposing the cathode electrode disposed on the cathode section and the anode electrode disposed on the anode section so as to sandwich the anode electrode. A plasma radical generator, further comprising a matching circuit for supplying power for performing the operation.
【請求項3】 請求項1記載のプラズマラジカル生成装
置において、前記原料ガスの入り口の部分の断面積が、
前記ジェット部の断面積よりも小さくし、細管を束ねた
キャピラリー構造とすることを特徴とするプラズマラジ
カル生成装置。
3. The plasma radical generator according to claim 1, wherein a cross-sectional area of an inlet portion of the source gas is:
A plasma radical generator having a capillary structure smaller than the cross-sectional area of the jet portion and having a bundle of thin tubes.
【請求項4】 請求項1記載のプラズマラジカル生成装
置において、前記放電容器は電気的に絶縁物であって、
石英、アルミナ、パイレックスガラス、テフロン、窒化
珪素のいずれかを含むような材料からなり、前記放電容
器のジェット部は空冷又は水冷のできる構造であること
を特徴とするプラズマラジカル生成装置。
4. The plasma radical generator according to claim 1, wherein the discharge vessel is an electrically insulating material,
A plasma radical generator comprising a material containing any of quartz, alumina, pyrex glass, Teflon, and silicon nitride, wherein a jet part of the discharge vessel has a structure capable of air cooling or water cooling.
【請求項5】 請求項1記載のプラズマラジカル生成装
置において、複数の前記放電容器が列状又は面的に配列
され、少なくとも2つの前記放電容器のアノード部及び
カソード部を共通のアノード及びカソードとして給電す
ることによって、少なくとも2つ以上の前記放電容器を
同一の電源で給電するようにしたことを特徴とするプラ
ズマラジカル生成装置。
5. The plasma radical generator according to claim 1, wherein the plurality of discharge vessels are arranged in a line or in a plane, and the anode and cathode of at least two of the discharge vessels are used as a common anode and cathode. A plasma radical generator, wherein at least two or more of the discharge vessels are supplied with the same power supply by supplying power.
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Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007095536A (en) * 2005-09-29 2007-04-12 Univ Nagoya Radical generator
JP2008544534A (en) * 2005-06-21 2008-12-04 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Two-step cleaning method for optical surface of irradiation unit
JP2009510714A (en) * 2005-06-13 2009-03-12 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. Lithographic apparatus and cleaning method therefor
JP2009517880A (en) * 2005-12-02 2009-04-30 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. Lithographic apparatus including a cleaning device and method for cleaning an optical element
JP2010505261A (en) * 2006-09-27 2010-02-18 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. Radiation system and lithographic apparatus including the same
US8186322B2 (en) 2006-09-20 2012-05-29 Imagineering, Inc. Ignition apparatus, internal-combustion engine, ignition plug, plasma equipment, exhaust gas degradation apparatus, ozone generating/sterilizing/disinfecting apparatus, and odor eliminating apparatus
JP2013030478A (en) * 2011-06-24 2013-02-07 Saga Univ Plasma processing apparatus
JP2014527259A (en) * 2011-06-30 2014-10-09 アドバンスト・エナジー・インダストリーズ・インコーポレイテッド Emission plasma source
US20170309458A1 (en) 2015-11-16 2017-10-26 Agc Flat Glass North America, Inc. Plasma device driven by multiple-phase alternating or pulsed electrical current
JP2019501496A (en) * 2015-12-18 2019-01-17 エージーシー フラット グラス ノース アメリカ,インコーポレイテッドAgc Flat Glass North America,Inc. Holocathode ion source and method for extracting and accelerating ions
WO2019155725A1 (en) * 2018-02-06 2019-08-15 株式会社島津製作所 Mass spectrometry method and mass spectrometer
US10438778B2 (en) 2008-08-04 2019-10-08 Agc Flat Glass North America, Inc. Plasma source and methods for depositing thin film coatings using plasma enhanced chemical vapor deposition
JP2019191081A (en) * 2018-04-27 2019-10-31 株式会社島津製作所 Analyzer
US10573499B2 (en) 2015-12-18 2020-02-25 Agc Flat Glass North America, Inc. Method of extracting and accelerating ions
US10586685B2 (en) 2014-12-05 2020-03-10 Agc Glass Europe Hollow cathode plasma source
US10755901B2 (en) 2014-12-05 2020-08-25 Agc Flat Glass North America, Inc. Plasma source utilizing a macro-particle reduction coating and method of using a plasma source utilizing a macro-particle reduction coating for deposition of thin film coatings and modification of surfaces
JP2021523515A (en) * 2018-05-04 2021-09-02 東京エレクトロン株式会社 Radical source containing plasma

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5194026B2 (en) * 2007-11-22 2013-05-08 株式会社アドテック プラズマ テクノロジー Plasma processing equipment

Cited By (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009510714A (en) * 2005-06-13 2009-03-12 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. Lithographic apparatus and cleaning method therefor
JP2008544534A (en) * 2005-06-21 2008-12-04 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Two-step cleaning method for optical surface of irradiation unit
JP2007095536A (en) * 2005-09-29 2007-04-12 Univ Nagoya Radical generator
JP2009517880A (en) * 2005-12-02 2009-04-30 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. Lithographic apparatus including a cleaning device and method for cleaning an optical element
US8186322B2 (en) 2006-09-20 2012-05-29 Imagineering, Inc. Ignition apparatus, internal-combustion engine, ignition plug, plasma equipment, exhaust gas degradation apparatus, ozone generating/sterilizing/disinfecting apparatus, and odor eliminating apparatus
US8240293B2 (en) 2006-09-20 2012-08-14 Imagineering, Inc. Ignition apparatus, internal-combustion engine, ignition plug, plasma equipment, exhaust gas degradation apparatus, ozone generating/sterilizing/disinfecting apparatus, and odor eliminating apparatus
US8327816B2 (en) 2006-09-20 2012-12-11 Imagineering, Inc. Ignition apparatus, internal-combustion engine, ignition plug, plasma equipment, exhaust gas degradation apparatus, ozone generating/sterilizing/disinfecting apparatus, and odor eliminating apparatus
US9151265B1 (en) 2006-09-20 2015-10-06 Imagineering, Inc. Ignition apparatus, internal-combustion engine, ignition plug, plasma equipment, exhaust gas degradation apparatus, ozone generating/sterilizing/disinfecting apparatus, and odor eliminating apparatus
US8464695B2 (en) 2006-09-20 2013-06-18 Imagineering, Inc. Ignition apparatus, internal-combustion engine, ignition plug, plasma equipment, exhaust gas degradation apparatus, ozone generating/sterilizing/disinfecting apparatus and odor eliminating apparatus
US8800537B2 (en) 2006-09-20 2014-08-12 Imagineering, Inc. Ignition apparatus, internal-combustion engine, ignition plug, plasma equipment, exhaust gas degradation apparatus, ozone generating/sterilizing/disinfecting apparatus and odor eliminating apparatus
EP3404253A1 (en) 2006-09-20 2018-11-21 Imagineering, Inc. Ignition apparatus and internal-combustion engine
JP2010505261A (en) * 2006-09-27 2010-02-18 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. Radiation system and lithographic apparatus including the same
JP2011228742A (en) * 2006-09-27 2011-11-10 Asml Netherlands Bv Optical sensor device and method of detecting euv radiation
US10580625B2 (en) 2008-08-04 2020-03-03 Agc Flat Glass North America, Inc. Plasma source and methods for depositing thin film coatings using plasma enhanced chemical vapor deposition
US10438778B2 (en) 2008-08-04 2019-10-08 Agc Flat Glass North America, Inc. Plasma source and methods for depositing thin film coatings using plasma enhanced chemical vapor deposition
US10580624B2 (en) 2008-08-04 2020-03-03 Agc Flat Glass North America, Inc. Plasma source and methods for depositing thin film coatings using plasma enhanced chemical vapor deposition
JP2013030478A (en) * 2011-06-24 2013-02-07 Saga Univ Plasma processing apparatus
JP2014527259A (en) * 2011-06-30 2014-10-09 アドバンスト・エナジー・インダストリーズ・インコーポレイテッド Emission plasma source
US10225919B2 (en) 2011-06-30 2019-03-05 Aes Global Holdings, Pte. Ltd Projected plasma source
US11875976B2 (en) 2014-12-05 2024-01-16 Agc Flat Glass North America, Inc. Plasma source utilizing a macro-particle reduction coating and method of using a plasma source utilizing a macro-particle reduction coating for deposition of thin film coatings and modification of surfaces
US10755901B2 (en) 2014-12-05 2020-08-25 Agc Flat Glass North America, Inc. Plasma source utilizing a macro-particle reduction coating and method of using a plasma source utilizing a macro-particle reduction coating for deposition of thin film coatings and modification of surfaces
US10586685B2 (en) 2014-12-05 2020-03-10 Agc Glass Europe Hollow cathode plasma source
US10559452B2 (en) 2015-11-16 2020-02-11 Agc Flat Glass North America, Inc. Plasma device driven by multiple-phase alternating or pulsed electrical current
US20170309458A1 (en) 2015-11-16 2017-10-26 Agc Flat Glass North America, Inc. Plasma device driven by multiple-phase alternating or pulsed electrical current
US10573499B2 (en) 2015-12-18 2020-02-25 Agc Flat Glass North America, Inc. Method of extracting and accelerating ions
JP2019501496A (en) * 2015-12-18 2019-01-17 エージーシー フラット グラス ノース アメリカ,インコーポレイテッドAgc Flat Glass North America,Inc. Holocathode ion source and method for extracting and accelerating ions
JPWO2019155725A1 (en) * 2018-02-06 2020-12-17 株式会社島津製作所 Mass spectrometry method and mass spectrometer
JP7147789B2 (en) 2018-02-06 2022-10-05 株式会社島津製作所 Mass spectrometry method and mass spectrometer
US11804369B2 (en) 2018-02-06 2023-10-31 Shimadzu Corporation Mass spectrometry method and mass spectrometer
WO2019155725A1 (en) * 2018-02-06 2019-08-15 株式会社島津製作所 Mass spectrometry method and mass spectrometer
JP2019191081A (en) * 2018-04-27 2019-10-31 株式会社島津製作所 Analyzer
JP7036380B2 (en) 2018-04-27 2022-03-15 株式会社島津製作所 Analysis equipment
JP2021523515A (en) * 2018-05-04 2021-09-02 東京エレクトロン株式会社 Radical source containing plasma
JP7220944B2 (en) 2018-05-04 2023-02-13 東京エレクトロン株式会社 Radical source containing plasma

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JP3069700B1 (en) 2000-07-24

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