JP2001021793A - Auto-focusing device - Google Patents

Auto-focusing device

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JP2001021793A
JP2001021793A JP19673299A JP19673299A JP2001021793A JP 2001021793 A JP2001021793 A JP 2001021793A JP 19673299 A JP19673299 A JP 19673299A JP 19673299 A JP19673299 A JP 19673299A JP 2001021793 A JP2001021793 A JP 2001021793A
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JP
Japan
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objective lens
control
revolver
optical path
automatic focusing
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Application number
JP19673299A
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Japanese (ja)
Inventor
Yusuke Amano
雄介 天野
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Olympus Corp
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Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an auto-focusing device preventing light harmful to a human body from outgoing directly outside an optical instrument, and preventing a light source from being lit uselessly. SOLUTION: This auto-focusing device is provided with a light source 2 for projection and built in or post-attached to an optical instrument 1. The device is provided with a detection means 13 for detecting the presence of an objective lens 6 on a optical path, and an auto-focus controlling means 15 for conducting auto-focusing control and turning off an electric power source for the light source 2 to stop the auto-focusing control when no objective lens 6 exists on the optical path based on a detected result of the detection means 13.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、顕微鏡や光学測定
機器等の光学機器において、標本を観察する際の自動合
焦に用いられる自動合焦装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic focusing device used for automatic focusing when observing a sample in an optical device such as a microscope or an optical measuring device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、光学顕微鏡による標本観察を容易
にするための手段として、観察用光源とは別の光源(例
えば半導体レーザ)からの測定用光束を対物レンズを介
して標本上に集光し、その反射光を再び対物レンズを通
した後、受光装置で受光し、その合焦状態を基に標本に
対する焦点調節を行なう自動合焦装置がある。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a means for facilitating observation of a sample by an optical microscope, a measurement light flux from a light source (for example, a semiconductor laser) different from a light source for observation is focused on the sample via an objective lens. Then, there is an automatic focusing device that receives the reflected light again through the objective lens, receives the reflected light with a light receiving device, and adjusts the focus of the sample based on the focused state.

【0003】この種の合焦装置が、特開平5−1424
62号公報に開示されている。この合焦装置は、光源に
半導体レーザを用いたアクティブタイプのオートフォー
カス(以下AF)ユニットである。このようなレーザを
用いた装置では、装置外部に漏れるレーザ光出力が各種
規格により規定されており、また規格内であっても人体
への悪影響を考えれば、レーザ光が装置外部に漏れるこ
とは極力抑える必要がある。
A focusing device of this kind is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 5-1424.
No. 62 discloses this. This focusing device is an active type autofocus (hereinafter, AF) unit using a semiconductor laser as a light source. In an apparatus using such a laser, the laser light output leaking to the outside of the apparatus is regulated by various standards, and even if the laser light is out of the standards, considering the adverse effect on the human body, the laser light may not leak to the outside of the apparatus. It is necessary to suppress as much as possible.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記のような問題を解
決するために、観察中に対物レンズが外された時にはレ
ーザ光出力をOFFにしたり、シャッタを入れるといっ
た、インターロック機構が考えられる。このようなイン
ターロック機構として、特開平6−250458号公報
に開示されているレーザ走査装置のようにシャッタ機構
を顕微鏡に適用することが考えられるが、標準的な顕微
鏡に付加することは機構上大掛かりになり、またコスト
の面でも不利である。
In order to solve the above-mentioned problems, an interlock mechanism is conceivable in which the laser light output is turned off or a shutter is turned on when the objective lens is removed during observation. As such an interlock mechanism, it is conceivable to apply a shutter mechanism to a microscope like a laser scanning device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-250458. This is expensive and disadvantageous in terms of cost.

【0005】また上記の合焦装置においては、半導体レ
ーザの寿命が合焦装置自体の製品寿命に大きく関与す
る。
In the above-described focusing device, the life of the semiconductor laser greatly affects the product life of the focusing device itself.

【0006】本発明の目的は、人体に有害な光が光学機
器外に直接出ることを防ぐとともに、光源の無駄な点灯
を防ぐ自動合焦装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide an automatic focusing device that prevents light harmful to the human body from directly coming out of an optical device and also prevents unnecessary lighting of a light source.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決し目的を
達成するために、本発明の自動合焦装置は以下の如く構
成されている。
In order to solve the above-mentioned problems and achieve the object, an automatic focusing apparatus according to the present invention is configured as follows.

【0008】(1)本発明の自動合焦装置は、投光用光
源を備え、光学機器に内蔵または後付けされる自動合焦
装置において、光路上の対物レンズの有無を検出する検
出手段と、自動合焦制御を行なうとともに、前記検出手
段の検出結果を基に、前記対物レンズが光路上に無い場
合には前記投光用光源の電源を切り前記自動合焦制御を
中止する自動合焦制御手段と、を備えている。
(1) An automatic focusing device according to the present invention includes a light source for projecting light, and detecting means for detecting presence / absence of an objective lens on an optical path in an automatic focusing device built in or retrofitted into optical equipment; Automatic focusing control for performing automatic focusing control and turning off the power of the light source for projection when the objective lens is not on the optical path based on the detection result of the detecting means and stopping the automatic focusing control. Means.

【0009】(2)本発明の自動合焦装置は上記(1)
に記載の装置であり、かつ前記対物レンズの取付穴を複
数個有し、任意の取付穴を光路上に切換え配置するレボ
ルバと、前記レボルバの回転制御を行なうとともに光路
上に現在配置されている前記取付穴を認識するレボルバ
制御手段と、前記各取付穴毎に対物レンズの有無を予め
設定する設定手段と、をさらに備え、前記検出手段は、
前記設定手段により設定された対物レンズの有無に関す
る設定値と前記レボルバ制御手段からの前記光路上にあ
る取付穴の認識情報とに基づいて光路上の対物レンズの
有無を判断する。
(2) The automatic focusing apparatus according to the present invention has the above-mentioned (1).
And a revolver that has a plurality of mounting holes for the objective lens and switches and arranges an arbitrary mounting hole on the optical path, and is currently disposed on the optical path while performing rotation control of the revolver. Revolver control means for recognizing the mounting holes, and setting means for setting in advance whether or not an objective lens exists for each of the mounting holes, further comprising:
The presence / absence of the objective lens on the optical path is determined based on the set value regarding the presence / absence of the objective lens set by the setting unit and the recognition information of the mounting hole on the optical path from the revolver control unit.

【0010】(3)本発明の自動合焦装置は、投光用光
源を備え、対物レンズを切り換えるレボルバ及び検鏡法
を切り換えるキューブターレットの少なくとも一方を有
する顕微鏡に内蔵または後付けされる自動合焦装置にお
いて、自動合焦制御を行なうとともに、前記投光用光源
の電源を切り自動合焦制御を中止する制御を行なう自動
合焦制御手段と、この自動合焦制御手段による自動合焦
制御動作の施行の有無を、前記レボルバの各対物レンズ
取付穴及び前記キューブターレットにより選択される各
検鏡法の少なくとも一方に対して設定する設定手段と、
前記レボルバ及びキューブターレットの少なくとも一方
の動作制御を行なうとともに、現在光路上にある前記レ
ボルバの取付穴及び前記キューブターレットにより現在
選択されている検鏡法の少なくとも一方を認識する装置
制御手段と、を備え、前記自動合焦制御手段は、前記設
定手段により設定された自動合焦制御動作の施行の有無
に関する設定値及び前記装置制御手段により認識される
現在光路上にある前記取付穴または現在選択されている
前記検鏡法に基づいて自動合焦制御の実行または中止を
行なう。
(3) The automatic focusing apparatus according to the present invention includes a light source for projecting light, and has an automatic focusing built in or retrofitted into a microscope having at least one of a revolver for switching an objective lens and a cube turret for switching a microscopic method. In the apparatus, while performing automatic focusing control, an automatic focusing control means for performing control for turning off the light source for projection and stopping the automatic focusing control, and an automatic focusing control operation by the automatic focusing control means. Setting means for setting the presence or absence of the enforcement for at least one of the respective microscopic methods selected by the respective objective lens mounting holes of the revolver and the cube turret,
A device control means for controlling the operation of at least one of the revolver and the cube turret, and recognizing at least one of a mounting hole of the revolver currently on the optical path and a microscopic method currently selected by the cube turret. The automatic focusing control means includes a setting value relating to whether or not the automatic focusing control operation set by the setting means is performed, and the mounting hole or the currently selected mounting hole on the current optical path recognized by the device control means. The automatic focusing control is executed or stopped based on the microscopic method.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0012】(第1の実施の形態)本第1の実施の形態
は、電動レボルバ装置が装備された光学顕微鏡に、自動
合焦装置であるAFユニットが後付けされた顕微鏡シス
テムを構成する。AFユニットは、AF光学系、AFの
制御を行なうAF制御部、自動焦準の為の電動焦準モー
タ、電動レボルバの各穴毎の対物レンズの有無設定やA
FのON/OFFや対物レンズ切換え等を操作するハン
ドスイッチで構成される。
(First Embodiment) The first embodiment constitutes a microscope system in which an AF unit as an automatic focusing device is attached to an optical microscope equipped with an electric revolver device. The AF unit includes an AF optical system, an AF control unit for controlling AF, an electric focusing motor for automatic focusing, setting of presence / absence of an objective lens for each hole of the electric revolver, and A
It is composed of a hand switch for operating ON / OFF of the F and switching of the objective lens.

【0013】図1は、本第1の実施の形態に係る顕微鏡
システムの全体構成を示す図である。以下、この顕微鏡
システムにおける通常の検鏡方法について説明する。
FIG. 1 is a diagram showing the overall configuration of a microscope system according to the first embodiment. Hereinafter, a normal microscopy method in this microscope system will be described.

【0014】図1に示す顕微鏡システムは、顕微鏡本体
1と、この本体1に対し上下方向に移動可能な焦準機構
に連結されたステージ受け49と、このステージ受け4
9上に配置されたステージ9と、このステージ9に積載
された被写体である試料(サンプル)Sを照明するため
の光源2とを備えている。光源2からの照明光は、開口
絞り3、視野絞り4、コーナーキューブ(例えば、ハー
フミラー)5及び対物レンズ6を介して、試料Sに照射
される。
The microscope system shown in FIG. 1 comprises a microscope main body 1, a stage receiver 49 connected to a focusing mechanism movable vertically with respect to the main body 1, and a stage receiver 4
The stage 9 includes a stage 9 disposed on the stage 9 and the light source 2 for illuminating a sample (sample) S which is a subject mounted on the stage 9. Illumination light from the light source 2 is applied to the sample S via an aperture stop 3, a field stop 4, a corner cube (for example, a half mirror) 5, and an objective lens 6.

【0015】試料Sからの光は、対物レンズ6と鏡筒7
に取り付けられた接眼レンズ8を介して拡大され、検鏡
者はXYハンドル10を操作し、ステージ9を光軸に対
して水平な方向に移動させることにより観察を行なう。
The light from the sample S passes through the objective lens 6 and the lens barrel 7.
The observer operates the XY handle 10 to move the stage 9 in a direction horizontal to the optical axis to perform observation.

【0016】以下、AFによる検鏡方法について説明す
る。AF光学系14とAF制御部15はAFセンサヘッ
ド48に内蔵され、上述した通常検鏡の光学系の上に中
間鏡筒として配置される。
Hereinafter, a microscopy method using AF will be described. The AF optical system 14 and the AF control unit 15 are built in the AF sensor head 48, and are arranged as an intermediate lens barrel on the optical system of the normal microscope described above.

【0017】図2は、AFの光学系の構成を示す図であ
る。図2において図1と同一な部分には同符号を付して
いる。また、各場所での光の偏光状態等、光学系の詳細
な説明は省略する。
FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the AF optical system. 2, the same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. In addition, detailed description of the optical system, such as the polarization state of light at each location, is omitted.

【0018】投光用光源であるレーザーダイオード18
から出射した光は、コリメータレンズ19で平行光束に
された後、ストッパ20により半分の光束になり、偏光
ビームスプリッター21、λ/4板22を通り、ダイク
ロイックミラー23により観察光路に入射された後、コ
ーナーキューブ5と対物レンズ6の瞳の一方の片側を通
過して試料Sに集光する。
Laser diode 18 as light source for light projection
Is converted into a parallel light beam by the collimator lens 19, becomes a half light beam by the stopper 20, passes through the polarizing beam splitter 21, the λ / 4 plate 22, and enters the observation light path by the dichroic mirror 23. Then, the light passes through one side of the corner cube 5 and one of the pupils of the objective lens 6 and is focused on the sample S.

【0019】試料Sからの反射光は、対物レンズ6の瞳
の他方の片側を通り、ダイクロイックミラー23で反射
され、λ/4板22、偏光ビームスプリッター21を通
った後、結像レンズ24で二分割検出器25に集光す
る。
The reflected light from the sample S passes through the other side of the pupil of the objective lens 6, is reflected by the dichroic mirror 23, passes through the λ / 4 plate 22, the polarization beam splitter 21, and then passes through the imaging lens 24. The light is condensed on the split detector 25.

【0020】ここで、試料Sへ集光されるスポット光が
試料表面に正しく集光していないと、二分割検出器25
上のスポット光も同様にずれ、そのずれ量が信号量とし
て検出される。AF制御部15はそのずれ量に伴い、光
学顕微鏡の焦準機構に取り付けられた電動焦準モータ1
6を駆動して標本Sにピントを合わせる。
Here, if the spot light focused on the sample S is not properly focused on the sample surface, the two-part detector 25
The upper spot light is similarly shifted, and the shift amount is detected as a signal amount. The AF control unit 15 adjusts the electric focusing motor 1 attached to the focusing mechanism of the optical microscope according to the amount of the shift.
The sample 6 is driven to focus on the sample S.

【0021】なお、IRカットフィルタ50は、接眼レ
ンズ8を覗いて観察を行なう観察者側にレーザ光の赤外
光成分が進まないよう、赤外光成分を除去するためのも
のである。
The IR cut filter 50 is for removing the infrared light component of the laser light so that the infrared light component does not proceed to the observer who observes the eyepiece lens 8 for observation.

【0022】図3はハンドスイッチ17の外観図であ
り、(a)は背面図、(b)は平面図である。以下、図
1,図3を基に電気回路系について説明する。サンプル
Sの観察は、対物レンズ変換やステージの上下駆動を操
作可能なハンドスイッチ17における焦準ハンドル26
の回転を制御部13内の制御回路13aが検出し、焦準
部に取り付けられている電動焦準モータ16でステージ
受け49を介してステージ9を光軸方向に駆動させて行
なわれる。
FIGS. 3A and 3B are external views of the hand switch 17, wherein FIG. 3A is a rear view and FIG. 3B is a plan view. Hereinafter, the electric circuit system will be described with reference to FIGS. The observation of the sample S is performed by the focusing handle 26 in the hand switch 17 which can operate the objective lens conversion and the vertical drive of the stage.
Is detected by a control circuit 13a in the control unit 13, and the stage 9 is driven in the optical axis direction via a stage receiver 49 by an electric focusing motor 16 attached to the focusing unit.

【0023】また、対物レンズ6は、ハンドスイッチ1
7での検鏡者の操作を制御回路13aが検出し、その操
作に応じて、制御回路13aの制御により電動レボルバ
装置11に内蔵されたレボルバモータ12aが電動でレ
ボルバを回転することで光軸上に挿入される。
The objective lens 6 is a hand switch 1
7, the control circuit 13a detects the operation of the speculum, and in response to the operation, the revolver motor 12a built in the electric revolver device 11 electrically rotates the revolver under the control of the control circuit 13a. Inserted above.

【0024】また、電動レボルバ装置11には、観察光
路上に位置しているレボルバ穴(対物レンズの取付穴)
の種別に応じた信号を送出するレボルバ穴識別センサ1
2bが設けられている。この識別センサ12bは制御回
路13aに接続され、制御回路13aは現在光路上に位
置決めされているレボルバ穴の種類を認識できるように
なっている。
The electric revolver device 11 has a revolver hole (an objective lens mounting hole) located on the observation optical path.
Revolver hole identification sensor 1 that sends out signals according to the type of
2b is provided. The identification sensor 12b is connected to a control circuit 13a, which can recognize the type of the revolver hole currently positioned on the optical path.

【0025】AF制御のON/OFFや各検鏡法間の切
換え(第4の実施の形態に示す電動キューブターレット
の場合)も同様に、検鏡者の操作を制御回路13aが検
出し、その操作に応じてAF制御がON/OFFされ、
検鏡法が切換えられる。
Similarly, the control circuit 13a detects the operation of the speculum by turning on / off the AF control and switching between the speculum methods (in the case of the electric cube turret shown in the fourth embodiment). AF control is turned ON / OFF according to the operation,
The speculum method is switched.

【0026】各レボルバ穴毎の対物レンズの有無設定
は、ディップスイッチ27により、設定モードと通常モ
ードを切換えて行われる。設定モード時に設定されたレ
ボルバ穴毎の設定値は制御部13内の制御回路13aに
記憶され、その設定値は対物レンズ変換時やAF制御開
始時にAF制御部15へ送られる。なお、電源13bは
顕微鏡システム全体の電源である。
The setting of the presence or absence of an objective lens for each revolver hole is performed by switching between a setting mode and a normal mode by a dip switch 27. The set value for each revolver hole set in the setting mode is stored in the control circuit 13a in the control unit 13, and the set value is sent to the AF control unit 15 when converting the objective lens or when starting the AF control. The power supply 13b is a power supply for the entire microscope system.

【0027】焦準ハンドル26の回転によりステージ9
が光軸方向に駆動され、対物レンズ変換ボタン28を押
すことにより、電動で対物レンズの変換動作が行なわれ
る。また、検鏡法切換えボタン29を押すことにより、
各検鏡法に切換えられる(なお、検鏡法の切換えは、電
動キューブターレットが装備されている場合に行なわれ
る)。また、AFボタン30を押すことにより、AF制
御の開始・停止動作が行なわれる。
The rotation of the focusing handle 26 causes the stage 9 to rotate.
Is driven in the direction of the optical axis, and by pressing the objective lens conversion button 28, the conversion operation of the objective lens is performed electrically. Also, by pressing the microscopic method switching button 29,
Switching to each microscopy method is performed (note that the microscopy method is switched when an electric cube turret is provided). Pressing the AF button 30 starts / stops AF control.

【0028】ディップスイッチ27の切換えによる設定
モード時の対物レンズの有無設定は、例えば図3中、対
物レンズ変換ボタン28の右側(→)で、各レボルバ穴
を選択し、左側(←)ボタンで有無の選択する。そし
て、ハンドスイッチ17右上のステージダウンボタン3
1で有無設定の決定・記憶を行なう。このように各ボタ
ンに設定機能が割り当てられている。
The setting of presence / absence of the objective lens in the setting mode by switching the dip switch 27 is performed, for example, by selecting each revolver hole on the right side (→) of the objective lens conversion button 28 in FIG. 3 and pressing the left side (←) button. Select the presence or absence. Then, the stage down button 3 at the upper right of the hand switch 17
In step 1, the presence / absence setting is determined and stored. As described above, the setting function is assigned to each button.

【0029】表示部32には、現在のレボルバ穴番号
や、エラーメッセージ等が示され、検鏡者に検鏡状態を
知らせる。
The display unit 32 indicates the current revolver hole number, an error message, and the like, and informs the examiner of the state of the microscope.

【0030】以上のような構成をなす顕微鏡システムで
は、AFを使用した検鏡を行なう前に、ディップスイッ
チ27の切換えによる設定モードにより、各レボルバ穴
毎に対物レンズの有無をハンドスイッチ17で設定し、
制御部13に設定値を記憶させる。
In the microscope system having the above-described configuration, the presence or absence of the objective lens is set for each revolver hole by the hand switch 17 in the setting mode by switching the dip switch 27 before performing the microscopy using the AF. And
The control unit 13 stores the set value.

【0031】検鏡中、AFボタン30を押してAF制御
を開始した時の光路上のレボルバ穴、またはAF検鏡中
の対物レンズ変換時に光路上に変換されてくるレボルバ
穴に対物レンズ無しと設定されていると、制御部13は
それを検知し、AFを中止する信号をAF制御部15に
送る。これにより、AF制御部15によりレーザダイオ
ード18の電源がOFFにされ、ステージ9の位置はA
F制御開始前の位置で、また対物レンズが変換された場
合は変換前の位置で固定される。その後、AF制御が不
可能である旨のエラーメッセージが表示部32に表示さ
れる。
During the microscopy, the revolver hole on the optical path when the AF button 30 is pressed to start the AF control or the revolver hole converted on the optical path during the conversion of the objective lens during the AF microscopy is set to have no objective lens. If so, the control unit 13 detects this, and sends a signal to stop AF to the AF control unit 15. As a result, the power of the laser diode 18 is turned off by the AF control unit 15, and the position of the stage 9 is set to A
It is fixed at the position before the start of the F control, or at the position before the conversion when the objective lens is converted. Thereafter, an error message indicating that AF control is impossible is displayed on the display unit 32.

【0032】図4は、本第1の実施の形態による顕微鏡
システムにおけるAF制御の動作手順を示すフローチャ
ートである。以下、図4を基にAF制御について説明す
る。
FIG. 4 is a flowchart showing the operation procedure of AF control in the microscope system according to the first embodiment. Hereinafter, the AF control will be described with reference to FIG.

【0033】通常検鏡中、ステップS1で、ハンドスイ
ッチ17のAFボタン30が押されAF制御が開始され
ると、ステップS2で、制御部13は現在のレボルバ穴
における対物レンズの有無を調べ、対物レンズが存在す
る場合は、ステップS3で、そのままAF制御に移行す
る。
During the normal microscopy, when the AF button 30 of the hand switch 17 is pressed in step S1 to start the AF control, in step S2, the control unit 13 checks the presence or absence of the objective lens in the current revolver hole. If there is an objective lens, the process directly proceeds to AF control in step S3.

【0034】上記ステップS2で対物レンズが無い場合
は、AF制御には移行せず、ステップS8で、AF制御
を中止する。この場合、レーザダイオード18の電源は
OFFにされ、ステージ9の位置はAF制御開始前の位
置で固定され、AF制御が不可能である旨が表示部32
にエラーメッセージで表示される(これをエラー処理と
する)。
If there is no objective lens in step S2, the flow does not shift to the AF control, and the AF control is stopped in step S8. In this case, the power of the laser diode 18 is turned off, the position of the stage 9 is fixed at the position before the start of the AF control, and the display unit 32 indicates that the AF control is impossible.
Is displayed as an error message (this is referred to as error processing).

【0035】次に、ステップS4で、AF検鏡中に対物
レンズが変換された場合、ステップS5で、制御部13
は変換後のレボルバ穴における対物レンズの有無を調
べ、対物レンズが存在する場合は、ステップS6で、そ
のままAF制御に移行する。対物レンズが存在しない場
合は、AF制御には移行せず、ステップS7で、AF制
御を中止する。この場合、レーザダイオード18の電源
はOFFにされ、ステージ9の位置は対物レンズ変換前
の位置で固定され、AF制御が不可能である旨が表示部
32にエラーメッセージで表示される(これをエラー処
理とする)。
Next, in step S4, when the objective lens is converted during the AF microscopy, in step S5, the control unit 13
Checks the presence or absence of the objective lens in the revolver hole after the conversion, and if the objective lens exists, proceeds to the AF control as it is in step S6. If there is no objective lens, the flow does not shift to the AF control, and the AF control is stopped in step S7. In this case, the power of the laser diode 18 is turned off, the position of the stage 9 is fixed at the position before the conversion of the objective lens, and an error message indicating that AF control is impossible is displayed on the display unit 32 by an error message. Error processing).

【0036】本第1の実施の形態によれば、AFユニッ
トによるAF検鏡中に、対物レンズ未装着のレボルバ穴
が光路上に位置した場合にも、レーザダイオードの電源
をOFFにするとともにAF制御が自動的に中止され、
レボルバの空穴からレーザ光が直接顕微鏡外に出ること
を防ぐことができる。これにより、人体に有害なレーザ
光に対する安全性が向上する。また、上記空穴の場合に
は、レーザダイオードの無駄な点灯を防ぐことができ、
レーザダイオードの寿命を長めることができる。
According to the first embodiment, even when the revolver hole on which the objective lens is not mounted is located on the optical path during the AF microscopy by the AF unit, the power supply of the laser diode is turned off and the AF is performed. Control is automatically stopped,
The laser beam can be prevented from directly exiting the microscope from the hole of the revolver. Thereby, safety against laser light harmful to the human body is improved. In addition, in the case of the above-mentioned hole, useless lighting of the laser diode can be prevented,
The life of the laser diode can be extended.

【0037】なお、本実施の形態では、レボルバ穴識別
センサ12bからの信号によって光路上のレボルバ穴の
種別を認識するようにしたが、例えばセンサ12bを原
点検出センサとして、原点からの回転方向及び回転量を
ハンドスイッチ17または制御回路13a内部で保持す
ることによって、光路上のレボルバ穴種別を認識するよ
うにすることもできる。
In the present embodiment, the type of the revolver hole on the optical path is recognized based on the signal from the revolver hole identification sensor 12b. By holding the rotation amount in the hand switch 17 or the control circuit 13a, the type of the revolver hole on the optical path can be recognized.

【0038】(第2の実施の形態)図5は、本第2の実
施の形態に係る顕微鏡システムの全体構成を示す図であ
る。なお、図5において図1と同一な部分には同符号を
付してある。
(Second Embodiment) FIG. 5 is a diagram showing the overall configuration of a microscope system according to the second embodiment. In FIG. 5, the same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.

【0039】図5に示す顕微鏡システムの構成は、上記
第1の実施の形態で図1に示した構成に、検出部33を
付加したものである。この検出部33は、本顕微鏡シス
テムに対し着脱可能である。検出部33とAF制御部1
5は導通しており、検出部33からAF制御部15へ光
路上の対物レンズの有無を示す検出信号が送られる。本
第2の実施の形態は、光路上の対物レンズの有無を検出
部33で直接検出し、人体に有害なレーザ光に対する安
全性をさらに高めたものである。
The configuration of the microscope system shown in FIG. 5 is obtained by adding a detection unit 33 to the configuration shown in FIG. 1 in the first embodiment. The detection unit 33 is detachable from the microscope system. Detection unit 33 and AF control unit 1
5 is conducting, a detection signal indicating the presence or absence of the objective lens on the optical path is sent from the detection unit 33 to the AF control unit 15. In the second embodiment, the presence / absence of an objective lens on the optical path is directly detected by the detection unit 33 to further enhance the safety against laser light harmful to the human body.

【0040】図6は、上記検出部33が設けられたレボ
ルバの構成を示す図である。図6に示すように、検出部
33にフォトリフレクタ34を用いている。フォトリフ
レクタ34は、接着等によりセンサ支柱35に取り付け
られている。またフォトリフレクタ34は、対物レンズ
の円筒側面に対し発光部34aからセンサ光34bを発
光し、対物レンズの円筒側面で反射したセンサ光を受光
部34cで受光するような配置で取り付けられている。
FIG. 6 is a diagram showing the configuration of a revolver provided with the detection unit 33. As shown in FIG. 6, a photo reflector 34 is used for the detection unit 33. The photo reflector 34 is attached to the sensor support 35 by bonding or the like. The photo reflector 34 is mounted on the cylindrical side surface of the objective lens so as to emit the sensor light 34b from the light emitting portion 34a and to receive the sensor light reflected on the cylindrical side surface of the objective lens by the light receiving portion 34c.

【0041】センサ支柱35は光軸近傍に位置するよ
う、センサ固定ねじ37とレボルバカバー36に設けら
れた雌ネジ部36aとによりレボルバカバー36に固定
されており、フォトリフレクタ34はAF制御部15と
制御部13に接続されている。
The sensor support 35 is fixed to the revolver cover 36 by a sensor fixing screw 37 and a female screw 36a provided on the revolver cover 36 so that the sensor support 35 is located near the optical axis. And the control unit 13.

【0042】以上のような構成をなす顕微鏡システムで
は、AF検鏡中に光路上に対物レンズが存在しない場
合、フォトリフレクタ34のセンサ光34bは対物レン
ズが無いため受光部34cには戻らず、対物レンズが存
在する場合は、センサ光34bは対物レンズ側面で反射
して受光部34cに戻る。
In the microscope system having the above configuration, when the objective lens does not exist on the optical path during the AF inspection, the sensor light 34b of the photoreflector 34 does not return to the light receiving section 34c because there is no objective lens. When the objective lens exists, the sensor light 34b is reflected on the side surface of the objective lens and returns to the light receiving unit 34c.

【0043】AF制御部15は、フォトリフレクタ34
からの信号を常時検知しており、センサ光34bが受光
部34cに戻らない時は光路上に対物レンズが無いと判
断する。これにより、AF制御部15により直ちにレー
ザダイオード18の電源はOFFにされ、ステージ9の
位置は、AF検鏡中の対物レンズ変換時は変換前の位置
で固定され、通常検鏡からのAF制御開始時はAF制御
開始前のステージ位置で固定される。また、制御部13
もフォトリフレクタ34からの信号を検知しており、A
F制御部15の場合と同様に、光路上に対物レンズが無
いと判断すると、AF制御が不可能である旨のエラーメ
ッセージが表示部32に表示される。
The AF controller 15 includes a photo reflector 34
Is constantly detected, and when the sensor light 34b does not return to the light receiving section 34c, it is determined that there is no objective lens on the optical path. As a result, the power of the laser diode 18 is immediately turned off by the AF control unit 15, the position of the stage 9 is fixed at the position before conversion when the objective lens is converted during the AF speculum, and the AF control from the normal speculum is performed. At the start, it is fixed at the stage position before the start of the AF control. The control unit 13
Also detects the signal from the photoreflector 34, and A
As in the case of the F control unit 15, if it is determined that there is no objective lens on the optical path, an error message indicating that AF control is impossible is displayed on the display unit 32.

【0044】本第2の実施の形態によれば、第1の実施
の形態と同様、AF検鏡中に対物レンズ未装着のレボル
バ穴が光路上に位置した場合にも、レーザダイオードの
電源をOFFにするとともにAF制御が自動的に中止さ
れ、レボルバの空穴からレーザ光が直接顕微鏡外に出る
ことを確実に防ぐことができる。これにより、人体に有
害なレーザ光に対する安全性がさらに向上する。加え
て、空穴の時のレーザダイオードの無駄な点灯を防ぐこ
とができ、レーザダイオードの寿命を長めることができ
る。
According to the second embodiment, similarly to the first embodiment, even when the revolver hole without the objective lens is positioned on the optical path during the AF speculum, the power supply of the laser diode is switched off. When the switch is turned off, the AF control is automatically stopped, and it is possible to reliably prevent the laser beam from directly going out of the microscope from the hole of the revolver. Thereby, the safety against laser light harmful to the human body is further improved. In addition, useless lighting of the laser diode at the time of a hole can be prevented, and the life of the laser diode can be extended.

【0045】また対物レンズの有無を直接検出している
ため、レーザ光に対する安全性をさらに向上させること
ができる。
Further, since the presence or absence of the objective lens is directly detected, the safety against laser light can be further improved.

【0046】加えて検出部が着脱可能であるため、必要
に応じて容易に付加することができる。
In addition, since the detection unit is detachable, it can be easily added as needed.

【0047】なお、本第2の実施の形態では電動レボル
バ装置が装備された構成としたが、通常の手動レボルバ
の場合でも同様の効果を得ることができる。また本第2
の実施の形態では、検出部33であるフォトリフレクタ
34をレボルバの非回転部であるレボルバカバー36に
取り付けているが、検鏡操作に支障が無いならば顕微鏡
の非動作部(アーム部等)に取り付けても構わない。
In the second embodiment, the electric revolver is provided, but the same effect can be obtained in the case of an ordinary manual revolver. The second
In the embodiment, the photoreflector 34 as the detecting unit 33 is attached to the revolver cover 36 as the non-rotating part of the revolver. However, if there is no obstacle to the microscopic operation, the non-operating part (arm part etc.) of the microscope It may be attached to.

【0048】さらに、本第2の実施の形態では検出部3
3を後付けする構成をなしているが、最初からレボルバ
部に検出部33が組み込まれていても、もちろん問題は
ない。一例として、本第2の実施の形態では検出部33
にフォトリフレクタを使用したが、光路上の対物レンズ
を挟んでセンサ光の投光部とそれを受光する受光部が配
置され、対物レンズ自身がセンサ光を遮ることで光路上
の対物レンズの有無を検出するという、フォトインタラ
プタの如きものを使用する構成も考えられる。
Further, in the second embodiment, the detecting unit 3
Although the configuration in which the detector 3 is added later is adopted, there is no problem even if the detection unit 33 is incorporated in the revolver unit from the beginning. As an example, in the second embodiment, the detection unit 33
Although a photoreflector was used, a sensor light projecting part and a light receiving part for receiving it are arranged with the objective lens on the optical path in between, and the objective lens itself blocks the sensor light, so the presence or absence of the objective lens on the optical path , A configuration using a photo interrupter or the like is also conceivable.

【0049】(第3の実施の形態)本第3の実施の形態
は、光路上の対物レンズの有無を直接検出する検出部3
3が着脱可能であるという第2の実施の形態の構成に、
対物レンズ6の外径が装着されている対物レンズ毎に違
う場合(例えば、明視野専用対物レンズと明暗視野兼用
対物レンズが混ざっている場合。明暗視野兼用対物レン
ズの方が外径は大きい。)でも、その外径変化に対応す
る調整機構を備えたことを特徴とする。すなわち、対物
レンズの種類が違っても確実に対物レンズの存在を検出
し、光路上の対物レンズの有無検出をより確実に行な
う。
(Third Embodiment) The third embodiment is directed to a detector 3 for directly detecting the presence or absence of an objective lens on the optical path.
In the configuration of the second embodiment in which 3 is detachable,
When the outer diameter of the objective lens 6 is different for each mounted objective lens (for example, when a bright field dedicated objective lens and a bright / dark field objective lens are mixed. The outer diameter of the bright / dark field objective lens is larger. ) Is characterized in that an adjusting mechanism corresponding to the change in the outer diameter is provided. That is, even if the type of the objective lens is different, the presence of the objective lens is reliably detected, and the presence or absence of the objective lens on the optical path is more reliably detected.

【0050】図7は、本第3の実施の形態に係る対物レ
ンズの外径変化に対応する調整機構付きの検出部が設け
られたレボルバの構成を示す図である。図7において図
6と同一な部分には同符合を付してある。本第3の実施
の形態では、検出部33’に接点素子の接触により導通
がON/OFFする導通センサを用いる。
FIG. 7 is a view showing a configuration of a revolver provided with a detecting section with an adjusting mechanism for changing the outer diameter of the objective lens according to the third embodiment. 7, the same parts as those in FIG. 6 are denoted by the same reference numerals. In the third embodiment, a conduction sensor whose conduction is turned ON / OFF by contact of a contact element is used for the detection unit 33 '.

【0051】図7に示すように、接触することにより導
通がON/OFFする接点素子38aを備えたセンサ支
柱38と、接点素子39aを備えた対物レンズ6との接
触部材39とが、回転軸40を中心に回転するように取
り付けられており、センサ支柱38は光軸近傍に位置す
るよう、センサ固定ねじ37とレボルバカバー36に設
けられた雌ネジ部36aによりレボルバカバー36に固
定され、2つの接点素子38a、39aはそれぞれAF
制御部15と制御部13に接続されている。
As shown in FIG. 7, a sensor column 38 having a contact element 38a whose conduction is turned ON / OFF by contact and a contact member 39 for contacting the objective lens 6 with a contact element 39a are formed by a rotating shaft. The sensor support 38 is fixed to the revolver cover 36 by a sensor fixing screw 37 and a female screw portion 36a provided on the revolver cover 36 so that the sensor support 38 is positioned near the optical axis. The two contact elements 38a and 39a are AF
The control unit 15 and the control unit 13 are connected.

【0052】図8は、検出部33’の構成を詳細に示す
図であり、(a)は正面断面図、(b)は側面断面図、
(c)は平面断面図である。回転軸40は、センサ支柱
38と接触部材39を貫通し、回転可能なように、軸固
定ねじ40aと軸受41により構成されている。また、
センサ支柱38と接触部材39にそれぞれ設けられたば
ね掛け部42とばね43により、光路上に対物レンズが
無い場合、2つの接点素子38aと39aは接触する。
FIGS. 8A and 8B are diagrams showing in detail the structure of the detecting section 33 ', wherein FIG. 8A is a front sectional view, FIG.
(C) is a sectional plan view. The rotating shaft 40 is constituted by a shaft fixing screw 40 a and a bearing 41 so as to be rotatable through the sensor support 38 and the contact member 39. Also,
When there is no objective lens on the optical path, the two contact elements 38a and 39a are in contact with each other by the spring hooks 42 and the springs 43 provided on the sensor support 38 and the contact member 39, respectively.

【0053】以上のような構成をなす調整機構付きの検
出部では、光路上に対物レンズが無い場合は、2つの接
点素子38aと39aが接触することから導通センサは
ONの状態となる。AF制御部15は、この導通センサ
からの信号を常時検知しており、導通がON状態の時は
光路上に対物レンズが無いと判断する。対物レンズが無
い時の作用については、第2の実施の形態のそれと同様
である。
In the detection section with the adjustment mechanism having the above-described configuration, when there is no objective lens on the optical path, the two contact elements 38a and 39a come into contact with each other, so that the conduction sensor is turned on. The AF control unit 15 constantly detects the signal from the conduction sensor, and determines that there is no objective lens on the optical path when the conduction is ON. The operation when there is no objective lens is the same as that of the second embodiment.

【0054】図9の(a),(b)は、外径の異なる対
物レンズに検出部33’を適用した構成を示す側面断面
図である。図9の(a),(b)に示すように、装着さ
れる対物レンズ6の外径が違っていても、対物レンズ6
が光路上に存在している場合は、その挿入方向によらず
2つの接点素子38aと39aが離れて導通センサはO
FFの状態となる。AF制御部15は、導通がOFF状
態の時は光路上に対物レンズが存在すると判断し、AF
制御が可能となる。
FIGS. 9A and 9B are side sectional views showing a configuration in which the detection unit 33 'is applied to objective lenses having different outer diameters. As shown in FIGS. 9A and 9B, even if the outer diameter of the objective lens 6 to be mounted is different,
Is present on the optical path, the two contact elements 38a and 39a are separated irrespective of the insertion direction, and the conduction sensor
The state becomes FF. When the conduction is in the OFF state, the AF control unit 15 determines that the objective lens exists on the optical path,
Control becomes possible.

【0055】本第3の実施の形態によれば、第2の実施
の形態の効果に加えて、対物レンズの外径が装着されて
いる対物レンズ毎に違う場合でも、確実に対物レンズの
存在を検出し、光路上の対物レンズの有無検出をより正
確に行なうことができる。
According to the third embodiment, in addition to the effects of the second embodiment, even if the outer diameter of the objective lens differs for each mounted objective lens, the existence of the objective lens is ensured. And the presence or absence of the objective lens on the optical path can be detected more accurately.

【0056】(第2,第3の実施の形態の変形例)本変
形例は、対物レンズとの接触部材自体が弾力性のある接
点素子であることが特徴であり、外径変化に対応する調
整機構を容易に構成することができる。
(Modifications of Second and Third Embodiments) This modification is characterized in that the contact member itself with the objective lens is a resilient contact element, and it is possible to cope with a change in outer diameter. The adjusting mechanism can be easily configured.

【0057】図10は、本変形例における導通センサ部
の構成を詳細に示す図であり、(a)は側面断面図、
(b)は平面図である。なお、第2の実施の形態、第3
の実施の形態と重複する部分についての説明は省略す
る。それ自身が接点素子であり、外力に対し弾力性に富
む対物レンズとの接触部材44は、接触部材44を挟ん
で2つの接点素子45a,45aを設けたセンサ支柱4
5に、接着等により固定されている。センサ支柱45の
接点素子45a,45aと接触部材44は,それぞれA
F制御部15と制御部13に接続されている。
FIGS. 10A and 10B are diagrams showing in detail the configuration of the conduction sensor section in this modification, in which FIG.
(B) is a plan view. It should be noted that the second embodiment, the third embodiment
The description of the same parts as those of the first embodiment will be omitted. The contact member 44, which itself is a contact element and is highly resilient to external force, with the objective lens is a sensor support 4 having two contact elements 45a, 45a with the contact member 44 interposed therebetween.
5 is fixed by bonding or the like. The contact elements 45a and 45a of the sensor support 45 and the contact member 44
It is connected to the F control unit 15 and the control unit 13.

【0058】以上のような構成をなす導通センサ部で
は、光路上に対物レンズが無い場合は、接触部材44の
弾力性により、センサ支柱45の接点素子45aと接触
部材44は接触せず、導通センサはOFFの状態とな
る。この場合、AF制御部15と制御部13は、導通セ
ンサがOFF状態であるため、光路上に対物レンズが無
いと判断する。また図10の(b)中、点線で示された
接触部材44のように、光路上に対物レンズがある場
合、接触部材44と一方の接点素子45aは接触して、
導通センサはONの状態となり、光路上には対物レンズ
があると判断される。
In the continuity sensor having the above structure, when there is no objective lens on the optical path, the contact element 45a of the sensor support 45 does not contact the contact member 44 due to the elasticity of the contact member 44. The sensor is turned off. In this case, the AF control unit 15 and the control unit 13 determine that there is no objective lens on the optical path because the conduction sensor is in the OFF state. In addition, in FIG. 10B, when the objective lens is on the optical path like the contact member 44 shown by a dotted line, the contact member 44 and one contact element 45a come into contact with each other.
The conduction sensor is turned on, and it is determined that the objective lens is on the optical path.

【0059】対物レンズの有無が判断されてからの作用
については、第3の実施の形態のそれと同様である。
The operation after the presence or absence of the objective lens is determined is the same as that of the third embodiment.

【0060】本変形例によれば、第3の実施の形態の効
果に加えて、対物レンズの外径変化に対する調整機構を
容易に構成することができる。
According to the present modification, in addition to the effects of the third embodiment, an adjusting mechanism for a change in the outer diameter of the objective lens can be easily configured.

【0061】(第4の実施の形態)本第4の実施の形態
は、AFユニットが後付けされた顕微鏡システムに電動
レボルバ装置と電動キューブターレット装置を装備し、
電動レボルバの各レボルバ穴毎、及び電動キューブター
レットの各キューブ毎にAF制御の施行の有無を設定す
ることで、光路上に挿入される対物レンズと各キューブ
による検鏡法の種類の中から、AF制御の施行の有無を
任意に設定できるようにするものである。
(Fourth Embodiment) In a fourth embodiment, a microscope system to which an AF unit is attached is equipped with an electric revolver device and an electric cube turret device.
By setting whether or not to perform AF control for each revolver hole of the electric revolver and for each cube of the electric cube turret, from among the types of microscopy with the objective lens and each cube inserted on the optical path, It is possible to arbitrarily set whether or not to execute the AF control.

【0062】図11は、本第4の実施の形態に係る顕微
鏡システムの全体構成を示す図である。なお、図11に
おいて図1と同一な部分には同符合を付し、第1の実施
の形態と重複する部分の説明は省略する。
FIG. 11 is a diagram showing the overall configuration of a microscope system according to the fourth embodiment. In FIG. 11, the same portions as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and the description of the same portions as those in the first embodiment will be omitted.

【0063】図11に示す顕微鏡システムは、第1の実
施の形態の顕微鏡システムに各検鏡法を電動で切換える
電動キューブターレット装置46が内蔵されている。こ
の電動キューブターレット装置46は、電動レボルバ装
置と同様に、制御部13により制御される。また制御部
13は、ハンドスイッチ17における検鏡者の操作を検
出し、その操作に応じて、電動キューブターレット装置
46に内蔵されたターレットモータ47aの駆動を制御
する。これにより、選択された検鏡キューブが光路上に
挿入される。
The microscope system shown in FIG. 11 has a built-in motorized cube turret device 46 for electrically switching between microscopy methods in the microscope system of the first embodiment. The electric cube turret device 46 is controlled by the control unit 13 similarly to the electric revolver device. Further, the control unit 13 detects the operation of the speculum operator on the hand switch 17 and controls the driving of the turret motor 47 a built in the electric cube turret device 46 in accordance with the operation. Thereby, the selected microscopic cube is inserted into the optical path.

【0064】また、電動レボルバ装置と同じように、選
択された検鏡キューブの種別に応じた信号を出力するキ
ューブ識別センサ47bが設けられている。この識別セ
ンサ47bも制御回路13aに接続され、制御回路13
aは現在選択されている検鏡キューブの種別を認識でき
るようになっている。
As in the case of the electric revolver, a cube identification sensor 47b for outputting a signal corresponding to the type of the selected microscopic cube is provided. This identification sensor 47b is also connected to the control circuit 13a,
a can recognize the type of the currently selected microscopic cube.

【0065】なお、電動キューブターレット装置におい
ても電動レボルバ装置と同じように、センサ47bを原
点検出センサとして原点からの回転方向及び回転量をハ
ンドスイッチ17または制御回路13aで記憶すること
により、検鏡キューブの識別を行なうようにしてもよ
い。
In the case of the electric cube turret device, similarly to the electric revolver device, the rotation direction and the amount of rotation from the origin are stored in the hand switch 17 or the control circuit 13a by using the sensor 47b as the origin detection sensor, so that the microscope can be used. You may make it identify a cube.

【0066】各レボルバ穴毎のAF制御施行の有無設定
は、第1の実施の形態と同様にディップスイッチ27に
より、設定モードと通常モードを切換えて行なわれる。
設定モード時に設定されたレボルバ穴毎の設定値は制御
部13内に記憶され、対物レンズ変換時やAF制御開始
時にAF制御部15にその設定値が送られる。
The setting of whether or not the AF control is performed for each revolver hole is performed by switching the setting mode and the normal mode by the DIP switch 27 as in the first embodiment.
The set value for each revolver hole set in the setting mode is stored in the control unit 13, and the set value is sent to the AF control unit 15 at the time of conversion of the objective lens or at the start of the AF control.

【0067】各キューブ毎のAF制御施行の有無設定も
同様に設定モードで行なわれ、設定されたキューブ毎の
設定値は制御部13内に記憶され、検鏡法切換え時やA
F制御開始時にAF制御部15にその設定値が送られ
る。
The setting of whether or not AF control is performed for each cube is similarly performed in the setting mode, and the set value for each cube is stored in the control unit 13 so as to be used when the microscopic method is switched or A
The set value is sent to the AF control unit 15 at the start of the F control.

【0068】ディップスイッチ切換えによる設定モード
時のレボルバ穴毎、及び各検鏡法毎のAF制御施行の有
無設定は、第1の実施の形態と同様、ハンドスイッチ1
7により行なう。例えば図3中、対物レンズ変換ボタン
28の右側(→)で、各レボルバ穴を選択し、検鏡法切
換えボタン29でそれぞれのキューブ(検鏡法)を選択
し、左側(←)ボタンで施行の有無の選択をし、ハンド
スイッチ17右上のステージダウンボタン31で決定・
記憶を行なう、というように設定機能が各ボタンに割り
当てられている。
As in the first embodiment, the setting of whether or not AF control is to be performed for each revolver hole in the setting mode by switching the dip switch and for each microscopy method is similar to that of the first embodiment.
Step 7 For example, in FIG. 3, each revolver hole is selected on the right side (→) of the objective lens conversion button 28, each cube (microscope method) is selected with the microscopic method switching button 29, and the operation is performed with the left (←) button. The hand switch 17 and press the stage down button 31
A setting function is assigned to each button, such as storing.

【0069】これにより、ある検鏡法のある対物レンズ
(レボルバ穴)の場合AF制御を行なうという指定や、
ある検鏡法の場合全て行なう、またある対物レンズの場
合全て行なうというように、自由度の高い設定が可能と
なる。
Thus, in the case of a certain objective lens (revolver hole) of a certain microscopic method, designation of performing AF control,
Setting with a high degree of freedom is possible, such as performing all in the case of a certain microscopic method and performing all in the case of a certain objective lens.

【0070】表示部32には、現在のレボルバ穴番号や
検鏡法、エラーメッセージ等が表示され、検鏡者に検鏡
状態を知らせる。
The display unit 32 displays the current revolver hole number, the microscopic method, an error message, and the like, and informs the microscopic person of the microscopic state.

【0071】以上のような構成をなす顕微鏡システムで
は、AFを使用した検鏡の前に、ディップスイッチ27
の切換えによる設定モードにより、各レボルバ穴毎、及
び各検鏡法毎にAF制御施行の有無をハンドスイッチ1
7で設定し、制御部13に設定値を記憶させる。
In the microscope system having the above configuration, the dip switch 27 is provided before the microscopy using the AF.
The hand switch 1 determines whether or not AF control is to be performed for each revolver hole and for each microscopy method in a setting mode by switching the mode.
7 and the control unit 13 stores the set value.

【0072】そして検鏡中、AFボタン30を押してA
F制御を開始した場合、現在の検鏡法と光路上のレボル
バ穴が、AF制御を行なわないように設定されている
と、制御部13がそれを検知し、AFを中止する信号が
AF制御部15に送られ、AF制御部15によりレーザ
ダイオード18の電源がOFFにされ、ステージ9の位
置はAF制御開始前の位置で固定される。
During the examination, the AF button 30 is pressed to
When the F control is started, if the current speculum method and the revolver hole on the optical path are set so as not to perform the AF control, the control unit 13 detects that, and a signal for stopping the AF is sent to the AF control. The AF control unit 15 turns the laser diode 18 off, and the position of the stage 9 is fixed at the position before the start of the AF control.

【0073】またAF検鏡中、検鏡法を切換えたり、対
物レンズが変換された場合も同様に、切換え後、及び変
換後の検鏡法と光路上のレボルバ穴がAF制御を行なわ
ないように設定されていれば、制御部13により、AF
を中止する信号がAF制御部15に送られ、AF制御部
15によりレーザダイオード18の電源がOFFにさ
れ、ステージ9の位置は対物レンズ変換前、またはキュ
ーブ切換え前の位置で固定される。
Also, when the microscopy method is switched or the objective lens is converted during the AF microscopy, similarly, the revolver hole on the optical path after the switching and after the conversion does not perform the AF control. Is set to AF by the control unit 13.
Is sent to the AF controller 15, the power of the laser diode 18 is turned off by the AF controller 15, and the position of the stage 9 is fixed at the position before the conversion of the objective lens or before the switching of the cube.

【0074】その後、AF制御が不可能である旨のエラ
ーメッセージが表示部32に表示される。
Thereafter, an error message indicating that AF control is impossible is displayed on the display section 32.

【0075】本第4の実施の形態によれば、AF制御の
施行を、検鏡法及び対物レンズ毎に任意に設定できるた
め、AF検鏡上、AF制御に対応しない対物レンズやA
F制御が不要な対物レンズ、またAF制御が不可能な検
鏡法といった種々の状況が選択された場合でも、不要な
AF制御は行なわず、レーザダイオードの電源がOFF
にされるため、レーザダイオードの無駄な点灯を防ぐこ
とができ、レーザダイオードの寿命を延ばすことができ
る。加えて、不要なAF制御を行なわないので、検鏡効
率を上げることができる。
According to the fourth embodiment, the execution of AF control can be set arbitrarily for each microscopy method and each objective lens.
Even if various conditions such as an objective lens that does not require F control and a speculum method that does not allow AF control are selected, unnecessary AF control is not performed and the power supply of the laser diode is turned off.
Therefore, unnecessary lighting of the laser diode can be prevented, and the life of the laser diode can be extended. In addition, unnecessary AF control is not performed, so that the microscopic efficiency can be increased.

【0076】(第4の実施の形態の変形例)また、AF
を行なわない対物レンズに切り換える際に、AFをOF
Fにするとともに、切り換える前の対物レンズと切換後
の対物レンズとの同焦補正を行なうようにすれば、AF
を行なわない対物レンズに切り換えた時でも、ほぼ焦点
があった状態にすることができる。このような変形例に
よれば、AFに対応しない(AF不能な)対物レンズや
AF制御が不要な対物レンズであっても,ほぼ焦点の合
った観察が行なえるので、検鏡効率が向上する。
(Modification of the Fourth Embodiment)
AF when switching to an objective lens that does not perform
If the objective lens before the switching and the objective lens after the switching are subjected to the parfocal correction, the AF
Even when the objective lens is switched to an object lens that does not perform the above, it is possible to keep the focus substantially on. According to such a modification, even if the objective lens does not support AF (cannot perform AF) or the objective lens does not need AF control, observation can be performed with almost in-focus, so that the microscopic efficiency is improved. .

【0077】なお、同焦補正とは、対物レンズのレボル
バへの取付面から対物レンズ焦点位置までの距離の個体
差によって対物レンズ切換前と切換後とでピントがずれ
てしまうこと(同焦ずれ)を補正して、対物レンズ切換
前後でピントがずれないようにすることである。この場
合、図11の制御部13内に同焦補正制御部13cを設
ける。この同焦補正制御部には個々の対物レンズの同焦
補正データが格納されており、対物レンズ切換時に切換
前と切換後の各対物レンズの同焦ずれ量を演算するか、
またはテーブルから読み出して、その同焦ずれ量だけ焦
準部を移動させて同焦ずれを補正するように電動焦準モ
ータ16を制御する。
The parfocal correction means that the focus deviates before and after the objective lens is switched due to individual differences in the distance from the mounting surface of the objective lens to the revolver to the focal position of the objective lens (parfocal deviation). ) Is corrected so that the focus is not deviated before and after switching the objective lens. In this case, a parallax correction controller 13c is provided in the controller 13 of FIG. The parallax correction control unit stores the parallax correction data of each objective lens, and calculates the amount of parfocal deviation of each objective lens before and after switching when switching objective lenses, or
Alternatively, the electric focusing motor 16 is read out from the table, and the electric focusing motor 16 is controlled so that the focusing unit is moved by the parallax amount and the parallax deviation is corrected.

【0078】(第5の実施の形態)本第5の実施の形態
は、第3の実施の形態と第4の実施の形態を合併させた
もので、光路上の対物レンズの有無を直接検出すること
により、空穴時の顕微鏡外へのレーザ光の漏れを確実に
防止し、さらに各レボルバ穴毎、及び検鏡法毎にAF制
御の施行の有無を任意に設定することにより、レーザの
無駄な点灯を無くして、レーザ寿命の延長とAF検鏡時
の効率向上を図ったものである。
(Fifth Embodiment) The fifth embodiment is a combination of the third and fourth embodiments, and directly detects the presence or absence of an objective lens on the optical path. In this way, it is possible to reliably prevent laser light from leaking out of the microscope at the time of empty holes, and to set whether or not to perform AF control arbitrarily for each revolver hole and for each microscopic method. This eliminates unnecessary lighting and extends the laser life and improves the efficiency during AF microscopy.

【0079】図12は、本第5の実施の形態に係る顕微
鏡システムの全体構成を示す図である。なお、図12に
おいて図1,図11と同一な部分には同符合を付し、第
3の実施の形態及び第4の実施の形態と重複する部分の
説明は省略する。
FIG. 12 is a diagram showing the overall configuration of a microscope system according to the fifth embodiment. In FIG. 12, the same parts as those in FIGS. 1 and 11 are denoted by the same reference numerals, and description of the same parts as those in the third and fourth embodiments will be omitted.

【0080】図12に示す顕微鏡システムは、第4の実
施の形態の構成に、第3の実施の形態に示した光路上の
対物レンズの有無を直接検出する検出部33’を設けた
ものである。通常検鏡、及びAF検鏡中の作用について
は、第4の実施の形態のそれと同様であり、それに加え
て、AF制御が開始された時またはAF検鏡中に対物レ
ンズが変換された場合に、第4の実施の形態の動作より
も優先して第3の実施の形態の動作が行なわれる。
The microscope system shown in FIG. 12 is different from the fourth embodiment in that a detection unit 33 'for directly detecting the presence or absence of an objective lens on the optical path shown in the third embodiment is provided. is there. The operation during the normal microscopy and the AF microscopy is the same as that of the fourth embodiment, and in addition, when the AF control is started or when the objective lens is converted during the AF microscopy. Then, the operation of the third embodiment is performed prior to the operation of the fourth embodiment.

【0081】本第5の実施の形態によれば、光路上の対
物レンズの有無を直接検出することにより、空穴時に顕
微鏡外へレーザ光が直接出ることを確実に防ぐととも
に、各レボルバ穴毎及び検鏡法毎にAF制御の施行の有
無を任意に設定することにより、レーザダイオードの無
駄な点灯を無くすことができる。これにより、人体に有
害なレーザ光に対する安全性の向上、及びレーザ寿命の
延長とAF検鏡時の効率向上を図ることができる。
According to the fifth embodiment, by directly detecting the presence or absence of the objective lens on the optical path, it is possible to reliably prevent the laser light from directly out of the microscope when the hole is empty, By arbitrarily setting whether or not to execute the AF control for each microscopic method, unnecessary lighting of the laser diode can be eliminated. As a result, it is possible to improve the safety against laser light harmful to the human body, extend the laser life, and improve the efficiency during AF microscopy.

【0082】なお、上記各実施の形態において、AFユ
ニットは通常の光学顕微鏡に後付けされる構成とした
が、AFユニットが元々顕微鏡に内蔵されている顕微鏡
システムでも全く同様の効果を得ることができる。
In each of the above embodiments, the AF unit is configured to be retrofitted to an ordinary optical microscope. However, the same effect can be obtained by a microscope system in which the AF unit is originally built in the microscope. .

【0083】また、本発明は上記各実施の形態のみに限
定されず、要旨を変更しない範囲で適宜変形して実施で
きる。第4の実施の形態の変形例として記載した同焦補
正は、他の第1,2,3,5の実施の形態に組み合わせ
てもよい。
The present invention is not limited to the above embodiments, but can be implemented with appropriate modifications without departing from the scope of the invention. The parfocal correction described as a modification of the fourth embodiment may be combined with the other first, second, third, and fifth embodiments.

【0084】(実施の形態のまとめ)上記各実施の形態
によれば、以下のような構成と作用効果を有する。
(Summary of Embodiments) According to each of the above embodiments, the following configuration, operation, and effects are provided.

【0085】(構成) [1]光学顕微鏡に内蔵または後付けされる投光用光源
を備えたAFユニット(自動合焦装置)において、光路
上の対物レンズの有無を判断する検出手段と、この検出
手段からの信号により、検鏡中に対物レンズが光路上に
無い場合には、自動的に投光用光源の電源をOFFにし
てオートフォーカス制御を中止するAF制御部と、を備
えたことを特徴とするAFユニット。
(Structure) [1] In an AF unit (automatic focusing device) provided with a light source for light projection built in or attached to an optical microscope, detection means for judging the presence or absence of an objective lens on an optical path, and this detection An AF control unit for automatically turning off the power of the light source for projection and stopping the auto focus control when the objective lens is not on the optical path during the microscopy according to a signal from the means. A unique AF unit.

【0086】上記AFユニットでは、前記検出手段によ
り対物レンズが光路上に無いと判断された場合には、前
記検出手段から前記AF制御部へAF制御を中止させる
信号が送られることで、AFユニットの前記投光用光源
の電源をOFFにして、AF制御を中止する。これによ
り、前記投光用光源から発せられるレーザ光に対する安
全性が向上し、レーザ寿命を延長することができる。
In the AF unit, when the detecting means determines that the objective lens is not on the optical path, a signal for stopping the AF control is sent from the detecting means to the AF control section, whereby the AF unit is controlled. The power of the light source for projection is turned off, and the AF control is stopped. Thereby, the safety against the laser light emitted from the light source for projection is improved, and the life of the laser can be extended.

【0087】[2]前記光学顕微鏡に電動レボルバ装置
が設けられている場合、前記検出手段は、各レボルバ穴
毎の対物レンズの有無を予め設定可能な設定手段と、前
記設定手段による設定値を記憶し、レボルバの回転動作
を行なうとともに、光路上の対物レンズの有無信号を前
記AF制御部へ送信するレボルバ制御部とで構成される
ことを特徴とする上記[1]に記載のAFユニット。
[2] In the case where the optical microscope is provided with an electric revolver device, the detecting means sets the presence / absence of an objective lens for each revolver hole in advance, and sets the setting value by the setting means. The AF unit according to [1], further comprising a revolver control unit for storing and rotating the revolver, and transmitting a presence / absence signal of an objective lens on an optical path to the AF control unit.

【0088】上記AFユニットでは、前記設定手段によ
り、各レボルバ穴毎に対物レンズの有無を設定及び記憶
させ、検鏡中に対物レンズが挿入されていないレボルバ
穴が光路上に位置した場合には、電動レボルバ装置を制
御するレボルバ制御部から前記AF制御部へAF制御を
中止させる信号が送られ、AFユニットの前記投光用光
源の電源をOFFにして、AF制御を中止する。これに
より、レボルバ穴毎の対物レンズの有無を予め設定し、
当該AFユニットを通常の電動レボルバに容易に付加す
ることができる。
In the AF unit, the setting means sets and stores the presence / absence of an objective lens for each revolver hole. When the revolver hole where no objective lens is inserted in the speculum is located on the optical path, Then, a signal for stopping the AF control is sent from the revolver control unit that controls the electric revolver device to the AF control unit, and the power of the light source for projection in the AF unit is turned off to stop the AF control. With this, the presence or absence of an objective lens for each revolver hole is set in advance,
The AF unit can be easily added to a normal electric revolver.

【0089】[3]前記設定手段は、前記レボルバ制御
部と導通し、各レボルバ穴毎の対物レンズの有無設定を
行なう設定操作部が設けられたハンドスイッチであるこ
とを特徴とする上記[2]に記載のAFユニット。
[3] The setting means is a hand switch which is electrically connected to the revolver control section and is provided with a setting operation section for setting the presence or absence of an objective lens for each revolver hole. An AF unit according to [1].

【0090】上記AFユニットでは、前記設定手段と前
記レボルバ制御部とを導通しているハンドスイッチによ
り、各レボルバ穴毎に対物レンズの有無を設定して記憶
させ、検鏡中に対物レンズが挿入されていないレボルバ
穴位置が光路上に位置した場合には、前記ハンドスイッ
チから前記AF制御部へAF制御を中止させる信号が送
られ、AFユニットの前記投光用光源の電源をOFFに
して、AF制御を中止する。このように設定・制御をハ
ンドスイッチで行なうことで、電動レボルバの構成には
HS(ハンドスイッチ)も含まれることが多いが、実現
が容易になる。
In the AF unit, the presence / absence of an objective lens is set and stored for each revolver hole by a hand switch that electrically connects the setting means and the revolver control unit, and the objective lens is inserted into the microscope. If the revolver hole position is not on the optical path, a signal for stopping the AF control is sent from the hand switch to the AF control unit, the power of the light source for light emission of the AF unit is turned off, The AF control is stopped. By performing setting and control with a hand switch in this manner, the configuration of the electric revolver often includes an HS (hand switch), but is easily realized.

【0091】[4]前記検出手段は、光学顕微鏡の非動
作部に設置され、検鏡中に光路上の対物レンズの有無を
直接検出する検出部を有することを特徴とする上記
[1]に記載のAFユニット。
[4] The above-mentioned [1], wherein the detecting means is provided in a non-operating portion of the optical microscope and has a detecting portion for directly detecting the presence or absence of an objective lens on an optical path during the microscopic examination. The described AF unit.

【0092】上記AFユニットでは、検鏡中に光路上の
対物レンズの有無を直接検出する検出部により、光路上
に対物レンズが存在しない場合には、前記検出部から前
記AF制御部へAF制御を中止させる信号が送られ、A
Fユニットの前記投光用光源の電源をOFFにして、A
F制御を中止する。これにより、光路上の対物レンズの
有無を直接検出でき、安全性のさらなる向上が図られ
る。
In the AF unit, when the objective lens does not exist on the optical path, the detecting section directly detects the presence or absence of the objective lens on the optical path during the speculum. Is sent to stop A
Turn off the power of the light source for light emission of the F unit,
Stop F control. Thereby, the presence or absence of the objective lens on the optical path can be directly detected, and the safety is further improved.

【0093】[5]前記検出部は、光学顕微鏡のレボル
バ回転部以外の部位に対し着脱可能であることを特徴と
する上記[4]に記載のAFユニット。
[5] The AF unit according to the above [4], wherein the detection unit is detachable from a portion other than the revolver rotation unit of the optical microscope.

【0094】上記AFユニットでは、検鏡中に光路上の
対物レンズの有無を直接検出する検出部を、必要なとき
に光学顕微鏡のレボルバ回転部以外の部位に取付ける。
そして、光路上に対物レンズが存在しない場合には、前
記検出手段から前記AF制御部へAF制御を中止させる
信号が送られ、AFユニットの前記投光用光源の電源を
OFFにして、AF制御を中止する。また必要でない時
は、前記検出部を取り外しておく。このように、必要に
合わせて光学顕微鏡に対し検出部の着脱が可能になり、
後付けも容易になる。
In the AF unit, a detection unit for directly detecting the presence or absence of the objective lens on the optical path during the inspection is attached to a part other than the revolver rotation part of the optical microscope when necessary.
If the objective lens does not exist on the optical path, a signal for stopping the AF control is sent from the detection unit to the AF control unit, and the power of the light source for the light emission of the AF unit is turned off to perform the AF control. To stop. When not necessary, the detection unit is removed. In this way, the detection unit can be attached to and detached from the optical microscope as needed.
Retrofitting is also easy.

【0095】[6]前記検出部は、対物レンズの円筒側
面に対し、光軸方向からセンサ光を発光する投光部と、
前記対物レンズの側面で反射したセンサ光を受光する受
光部とで構成されるフォトリフレクタであることを特徴
とする上記[4]または[5]に記載のAFユニット。
[6] The detecting section includes: a light projecting section for emitting sensor light from the optical axis direction to the cylindrical side surface of the objective lens;
The AF unit according to [4] or [5], wherein the AF unit is a photoreflector including a light receiving unit that receives sensor light reflected on a side surface of the objective lens.

【0096】上記AFユニットでは、検鏡中に光路上の
対物レンズが無い場合、前記フォトリフレクタはセンサ
OFFの状態となる。前記AF制御部はセンサ状態を検
知し、センサOFF状態の時、AFユニットの前記投光
用光源の電源をOFFにしてAF制御を中止する。
In the AF unit, when there is no objective lens on the optical path during the microscopic examination, the photoreflector is in the sensor OFF state. The AF control unit detects the sensor state, and when the sensor is in the OFF state, turns off the power of the light projecting light source of the AF unit and stops the AF control.

【0097】[7]前記検出部は、光路上に挿入される
対物レンズとの相対距離を調整可能な調整機構が設けら
れていることを特徴とする上記[4]または[5]に記
載のAFユニット。
[7] The above-mentioned [4] or [5], wherein the detecting section is provided with an adjusting mechanism capable of adjusting a relative distance to an objective lens inserted on an optical path. AF unit.

【0098】上記AFユニットでは、光路上に挿入され
る対物レンズの外径が種類により異なる場合(例えば明
視野対物レンズと、明暗視野対物レンズ)でも、前記検
出部と対物レンズの相対位置が適当に調整され、光路上
の対物レンズの有無が直接検出される。そして、検鏡中
に光路上に対物レンズが存在しない場合には、前記検出
部から前記AF制御部へAF制御を中止させる信号が送
られ、AFユニットの前記投光用光源の電源をOFFに
して、AF制御を中止する。このように、対物レンズの
径変化(BF/DF)に対応した制御を行なうことがで
きる。
In the AF unit, even when the outer diameter of the objective lens inserted on the optical path differs depending on the type (for example, a bright field objective lens and a bright / dark field objective lens), the relative position between the detection unit and the objective lens is appropriate. And the presence or absence of the objective lens on the optical path is directly detected. When the objective lens does not exist on the optical path during the speculum, a signal for stopping the AF control is sent from the detection unit to the AF control unit, and the power supply of the light source for projection of the AF unit is turned off. Then, the AF control is stopped. In this manner, control corresponding to the change in diameter (BF / DF) of the objective lens can be performed.

【0099】[8]前記検出部は、前記調整機構により
保持され、対物レンズが光路上に存在する時は、前記対
物レンズにより位置が移動する接触部材を有し、前記接
触部材の移動により、導通がON/OFFする二つ以上
の接点部を有する導通センサであることを特徴とする上
記[4],[5],[7]のいずれかに記載のAFユニ
ット。
[8] The detection section is held by the adjustment mechanism, and has a contact member whose position is moved by the objective lens when the objective lens is on the optical path. The AF unit according to any one of the above [4], [5], and [7], wherein the AF unit is a conduction sensor having two or more contact portions whose conduction is turned on / off.

【0100】上記AFユニットでは、検鏡中に対物レン
ズが光路上にある場合は、前記対物レンズの存在により
接触部材が移動することで接点部が離れて、導通センサ
がOFFにされる。また、前記AF制御部はセンサ状態
を検知し、前記導通センサがOFF状態の時、AFユニ
ットの前記投光用光源の電源をOFFにしてAF制御を
中止する。なお、対物レンズが光路上に挿入されると、
前記導通センサがON状態となる構成も有り、その場合
は前記導通センサがON状態でAF制御を中止する。
In the AF unit, when the objective lens is on the optical path during the microscopy, the contact member moves due to the presence of the objective lens, so that the contact portion is separated and the conduction sensor is turned off. Further, the AF control unit detects a sensor state, and when the conduction sensor is in the OFF state, turns off the power of the light source for light emission of the AF unit and stops the AF control. When the objective lens is inserted on the optical path,
There is also a configuration in which the conduction sensor is turned on. In that case, the AF control is stopped while the conduction sensor is turned on.

【0101】[9]光学顕微鏡に内蔵または後付けされ
る投光用光源を備えたAFユニットにおいて、前記光学
顕微鏡に電動レボルバ装置及び電動キューブターレット
装置の両方、もしくはどちらか一方が設けられている
時、前記投光用光源の電源をOFFにしてオートフォー
カス制御を中止するオートフォーカス制御部と、このオ
ートフォーカス制御部による制御動作の施行の有無を、
各レボルバ穴毎の対物レンズと各ターレット位置のキュ
ーブに対し、任意に設定可能な設定手段と、この設定手
段による設定値を記憶し、各種光学素子を光路上に挿入
する挿入動作を行なうとともに、光路上に挿入されてい
る光学素子の既設定値による制御動作施行信号を前記オ
ートフォーカス制御部へ送信する電動装置制御部と、を
備えたことを特徴とするAFユニット。
[9] In an AF unit provided with a light source for light projection built in or attached to an optical microscope, when the optical microscope is provided with an electric revolver device and / or an electric cube turret device An autofocus control unit for turning off the power of the light source for projection and stopping the autofocus control, and whether or not a control operation is performed by the autofocus control unit.
With respect to the objective lens for each revolver hole and the cube at each turret position, setting means that can be set arbitrarily, and the setting values stored by the setting means are stored, and an insertion operation of inserting various optical elements into the optical path is performed, An AF unit comprising: an electric device control unit that transmits a control operation execution signal based on a preset value of an optical element inserted on an optical path to the autofocus control unit.

【0102】上記AFユニットでは、前記設定手段によ
り、各レボルバ穴毎の対物レンズと各ターレット位置の
キューブに対し、AF制御の施行の有無を任意に設定及
び記憶させ、検鏡中にAF制御を行なわない様設定され
た光学素子が光路上に挿入された場合には、前記電動レ
ボルバ装置と前記電動キューブターレット装置を制御す
る前記電動装置制御部から、前記AF制御部へAF制御
を中止させる信号が送られ、AFユニットの前記投光用
光源の電源をOFFにして、AF制御を中止する。これ
により、レーザの寿命が延長され、観察時の効率が向上
する。
In the AF unit, the setting means arbitrarily sets and stores whether or not AF control is performed for the objective lens and the cube at each turret position for each revolver hole, and performs AF control during microscopy. When an optical element set not to be performed is inserted in the optical path, a signal for stopping the AF control from the electric device control unit that controls the electric revolver device and the electric cube turret device to the AF control unit. Is sent, the power of the light source for light emission of the AF unit is turned off, and the AF control is stopped. Thereby, the life of the laser is extended, and the efficiency at the time of observation is improved.

【0103】[10]前記設定手段は、前記電動装置制
御部と導通し、前記制御動作の施行の有無設定を行なう
設定操作部が設けられたハンドスイッチであることを特
徴とする上記[9]に記載のAFユニット。
[10] The setting means is a hand switch provided with a setting operation section which is electrically connected to the electric device control section and which sets whether or not to execute the control operation. [9] 2. The AF unit according to 1.

【0104】上記AFユニットでは、ハンドスイッチに
より、前記制御動作の施行の有無設定を行なう。
In the AF unit, whether or not the control operation is performed is set by a hand switch.

【0105】[11]投光用光源を備え、光学機器に内
蔵または後付けされる自動合焦装置において、光路上の
対物レンズの有無を検出する検出手段と、自動合焦制御
を行なうとともに、前記検出手段の検出結果を基に、検
鏡中に前記対物レンズが光路上に無い場合には前記投光
用光源の電源を切り前記自動合焦制御を中止する自動合
焦制御手段と、を具備したことを特徴とする自動合焦装
置。
[11] In an automatic focusing device provided with a light source for projection and built in or retrofitted into an optical apparatus, a detecting means for detecting the presence or absence of an objective lens on an optical path, automatic focusing control, and Automatic focusing control means for turning off the light source for projection when the objective lens is not on the optical path during the microscopy based on the detection result of the detecting means, and suspending the automatic focusing control. An automatic focusing device, characterized in that:

【0106】上記自動合焦装置によれば、光路上に対物
レンズが無い場合に、投光用光源の電源を切るとともに
自動合焦制御が自動的に中止され、人体に有害な光が光
学機器外に直接出ることを防ぐことができる。また、光
路上に対物レンズが無い場合に、前記投光用光源の無駄
な点灯を防ぐことができ、前記投光用光源の寿命を長め
ることができる。
According to the above-mentioned automatic focusing apparatus, when there is no objective lens on the optical path, the power of the light source for projection is turned off and the automatic focusing control is automatically stopped. It can be prevented from going out directly. Further, when there is no objective lens on the optical path, it is possible to prevent the light emitting light source from being wasted, and to prolong the life of the light emitting light source.

【0107】[12]前記検出手段は、前記光学機器に
おけるレボルバの各穴毎に、予め対物レンズの有無を設
定する設定手段と、前記レボルバの回転制御を行なうと
ともに、前記設定手段による前記設定値を前記自動合焦
制御手段へ送るレボルバ制御手段と、を備え、前記自動
合焦制御手段は、前記設定値の示す光路上での対物レン
ズの有無にしたがい自動合焦制御を行なうことを特徴と
する上記[11]に記載の自動合焦装置。
[12] The detecting means sets in advance the presence or absence of an objective lens for each hole of the revolver in the optical device, controls the rotation of the revolver, and sets the set value by the setting means. Revolver control means for sending to the automatic focus control means, wherein the automatic focus control means performs automatic focus control according to the presence or absence of an objective lens on the optical path indicated by the set value. The automatic focusing device according to the above [11].

【0108】上記自動合焦装置によれば、検鏡中に対物
レンズが挿入されていないレボルバ穴が光路上に位置し
た場合には、前記投光用光源の電源を切り、自動合焦制
御を中止することができる。これにより、レボルバ穴毎
の対物レンズの有無を予め設定し、当該自動合焦装置を
通常の電動レボルバに容易に付加することができる。
According to the automatic focusing device, when the revolver hole in which the objective lens is not inserted is located on the optical path during the microscopic examination, the power of the light source for projection is turned off, and the automatic focusing control is performed. Can be stopped. Thus, the presence or absence of an objective lens for each revolver hole can be set in advance, and the automatic focusing device can be easily added to a normal electric revolver.

【0109】[13]投光用光源を備え、レボルバ及び
キューブターレットの少なくとも一方を有する光学機器
に内蔵または後付けされる自動合焦装置において、自動
合焦制御を行なうとともに、前記投光用光源の電源を切
り自動合焦制御を中止する制御を行なう自動合焦制御手
段と、この自動合焦制御手段による自動合焦制御動作の
施行の有無を、前記レボルバの各穴及び前記キューブタ
ーレットによる各検鏡法の少なくとも一方に対し設定す
る設定手段と、前記レボルバ及びキューブターレットの
少なくとも一方の動作制御を行なうとともに、前記設定
手段による設定値を前記自動合焦制御手段へ送る装置制
御手段と、を備え、前記自動合焦制御手段は、前記設定
値の示す光路上での前記各穴または前記各検鏡法におけ
る自動合焦制御動作の施行の有無にしたがい自動合焦制
御を行なうことを特徴とする自動合焦装置。
[13] In an automatic focusing device which is provided with or attached to an optical device having at least one of a revolver and a cube turret, a light source for light projection is provided. Automatic focusing control means for performing control for turning off the power and stopping the automatic focusing control, and whether or not the automatic focusing control operation is performed by the automatic focusing control means is determined by each of the holes of the revolver and the cube turret. Setting means for setting at least one of the mirror method, and device control means for performing operation control of at least one of the revolver and the cube turret and transmitting a set value by the setting means to the automatic focusing control means. The automatic focus control means controls the automatic focus control in each of the holes or the microscopy on the optical path indicated by the set value. Automatic focusing apparatus characterized by performing automatic focus control in accordance with the presence or absence of enforcement.

【0110】上記自動合焦装置によれば、空穴時の光が
顕微鏡外へ直接出ることを確実に防止するとともに、各
レボルバ穴毎、及び検鏡法毎に自動合焦制御の施行の有
無を任意に設定することにより、前記投光用光源の無駄
な点灯を無くすことができる。これにより、人体に有害
な光に対する安全性の向上、及び前記投光用光源の寿命
の延長と自動合焦検鏡時の効率向上を図ることができ
る。
According to the above-mentioned automatic focusing apparatus, it is possible to reliably prevent the light at the time of the empty hole from directly coming out of the microscope, and to perform the automatic focusing control for each revolver hole and each microscopic method. Is set arbitrarily, it is possible to eliminate unnecessary lighting of the light source for light projection. As a result, it is possible to improve the safety against harmful light to the human body, extend the life of the light source for projection, and improve the efficiency at the time of automatic focusing speculum.

【0111】(作用効果)上記[1]〜[8](第1〜
3、5の実施の形態)のAFユニットによれば、AF検
鏡中に、対物レンズ未装着のレボルバ穴が光路上に位置
した場合にも、レーザダイオードの電源OFFと共にA
F制御が自動的に中止され、人体に有害なレーザ光が顕
微鏡外に直接出ることを防ぐことができる。また、光路
上のレボルバ穴が空穴の場合には、レーザダイオードの
無駄な点灯を防ぐことができ、レーザダイオードの寿命
を長めることができる。
(Operation and effect) [1] to [8] (first to first)
According to the AF unit of the third and fifth embodiments), even when the revolver hole without the objective lens is positioned on the optical path during the AF microscopy, the laser diode power is turned off and the A
The F control is automatically stopped, and it is possible to prevent laser light harmful to the human body from directly out of the microscope. Further, when the revolver hole on the optical path is empty, useless lighting of the laser diode can be prevented, and the life of the laser diode can be extended.

【0112】上記[4]〜[8](第2、3の実施の形
態)のAFユニットによれば、対物レンズの有無を直接
検出しているため、レーザ光に対する安全性をさらに向
上させることができる。また検出部が着脱可能であるた
め、必要に応じて容易に付加することができる。
According to the AF units [4] to [8] (the second and third embodiments), the presence / absence of the objective lens is directly detected, so that the safety against laser light is further improved. Can be. Further, since the detection unit is detachable, it can be easily added as necessary.

【0113】上記[7],[8](第3、5の実施の形
態)のAFユニットによれば、対物レンズの外径が装着
されている対物レンズ毎に違う場合でも、確実に対物レ
ンズの存在を検出し、光路上の対物レンズの有無検出を
より正確に行なうことができる。
According to the AF units of [7] and [8] (the third and fifth embodiments), even if the outer diameter of the objective lens differs for each mounted objective lens, the objective lens can be reliably formed. Can be detected, and the presence or absence of the objective lens on the optical path can be detected more accurately.

【0114】上記[9],[10](第4の実施の形
態)のAFユニットによれば、AF制御の施行を検鏡
法、及び対物レンズ毎に任意に設定できるため、AF検
鏡上、AF制御に対応しない対物レンズや、AF制御が
不要な対物レンズ、またAF制御が不可能な検鏡法とい
った種々の状況が選択された場合でも、不要なAF制御
を行なわず、レーザダイオードの電源がOFFにされる
ため、レーザダイオードの無駄な点灯を防ぐことがで
き、レーザダイオードの寿命をさらに延ばすことができ
る。加えて、不要なAF制御を行なわないので、検鏡効
率を上げることができる。
According to the AF units [9] and [10] (fourth embodiment), the execution of AF control can be set arbitrarily for each microscopy method and each objective lens. Even if various conditions such as an objective lens that does not support AF control, an objective lens that does not require AF control, and a speculum method that does not allow AF control are selected, unnecessary AF control is not performed and the laser diode Since the power is turned off, unnecessary lighting of the laser diode can be prevented, and the life of the laser diode can be further extended. In addition, unnecessary AF control is not performed, so that the microscopic efficiency can be increased.

【0115】上記[1]〜[10](第5の実施の形
態)のAFユニットによれば、空穴時のレーザ光が顕微
鏡外へ直接出ることを確実に防止するとともに、各レボ
ルバ穴毎、及び検鏡法毎にAF制御の施行の有無を任意
に設定することにより、レーザの無駄な点灯を無くすこ
とができる。これにより、人体に有害なレーザ光に対す
る安全性の向上、及びレーザ寿命の延長とAF検鏡時の
効率向上を図ることができる。
According to the AF units [1] to [10] (fifth embodiment), it is possible to reliably prevent the laser beam in the empty hole from directly coming out of the microscope, and to prevent the laser beam from being emitted from each of the revolver holes. By setting arbitrarily whether or not AF control is to be performed for each microscopic method, unnecessary lighting of the laser can be eliminated. As a result, it is possible to improve the safety against laser light harmful to the human body, extend the laser life, and improve the efficiency during AF microscopy.

【0116】[0116]

【発明の効果】本発明によれば、アクティブタイプの自
動合焦装置において、光路上に対物レンズ等の光学素子
が装着されてないために起こりうる、人体に有害な光の
漏れに対する安全性を高めることができる。そして、レ
ーザの無駄な点灯を無くし、製品寿命の長いアクティブ
タイプの自動合焦装置を必要最小限のコストで提供する
ことができる。
According to the present invention, in an active type automatic focusing apparatus, safety against harmful light leakage to a human body which can occur because an optical element such as an objective lens is not mounted on an optical path is provided. Can be enhanced. In addition, it is possible to provide an active-type automatic focusing device with a long product life at a minimum necessary cost by eliminating unnecessary lighting of the laser.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態に係る顕微鏡システ
ムの全体構成を示す図。
FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a microscope system according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施の形態に係るAFの光学系
の構成を示す図。
FIG. 2 is a diagram showing a configuration of an AF optical system according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1の実施の形態に係るハンドスイッ
チの外観図。
FIG. 3 is an external view of a hand switch according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1の実施の形態に係る顕微鏡システ
ムにおけるAF制御の動作手順を示すフローチャート。
FIG. 4 is a flowchart showing an operation procedure of AF control in the microscope system according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第2の実施の形態に係る顕微鏡システ
ムの全体構成を示す図。
FIG. 5 is a diagram illustrating an overall configuration of a microscope system according to a second embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第2の実施の形態に係る検出部が設け
られたレボルバの構成を示す図。
FIG. 6 is a diagram showing a configuration of a revolver provided with a detection unit according to a second embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第3の実施の形態に係る対物レンズの
外径変化に対応する調整機構付きの検出部が設けられた
レボルバの構成を示す図。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a revolver provided with a detection unit with an adjustment mechanism corresponding to a change in outer diameter of an objective lens according to a third embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第3の実施の形態に係る検出部の構成
を詳細に示す図。
FIG. 8 is a diagram showing in detail a configuration of a detection unit according to a third embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第3の実施の形態に係る外径の異なる
対物レンズに検出部を適用した構成を示す側面断面図。
FIG. 9 is a side sectional view showing a configuration in which a detection unit is applied to objective lenses having different outer diameters according to a third embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第2,第3の実施の形態の変形例に
係る導通センサ部の構成を詳細に示す図。
FIG. 10 is a diagram showing in detail a configuration of a conduction sensor unit according to a modification of the second and third embodiments of the present invention.

【図11】本発明の第4の実施の形態に係る顕微鏡シス
テムの全体構成を示す図。
FIG. 11 is a diagram showing an overall configuration of a microscope system according to a fourth embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第5の実施の形態に係る顕微鏡シス
テムの全体構成を示す図。
FIG. 12 is a diagram showing an overall configuration of a microscope system according to a fifth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…顕微鏡本体 2…光源 3…開口絞り 4…視野絞り 5…コーナーキューブ 6…対物レンズ 7…鏡筒 8…接眼レンズ 9…ステージ 10…XYハンドル 11…電動レボルバ装置 12a…レボルバモータ 12b…レボルバ穴識別センサ 13…制御部 13a…制御回路 13b…電源 14…AF光学系 15…AF制御部 16…電動焦準モータ 17…ハンドスイッチ 18…レーザーダイオード 19…コリメータレンズ 20…ストッパ 21…偏光ビームスプリッター 22…λ/4板 23…ダイクロイックミラー 24…結像レンズ 25…二分割検出器 26…焦準ハンドル 27…ディップスイッチ 28…対物レンズ変換ボタン 29…検鏡法切換えボタン 30…AFボタン 31…ステージダウンボタン 32…表示部 33,33’…検出部 34…フォトリフレクタ 34a…発光部 34b…センサ光 34c…受光部 35…センサ支柱 36…レボルバカバー 36a…雌ネジ部 37…センサ固定ねじ 38…センサ支柱38 38a…接点素子 39…接触部材 39a…接触部材 40…回転軸 40a…軸固定ねじ 41…軸受 42…ばね掛け部 43…ばね 44…接触部材 45…センサ支柱 45a,45b…接点素子 46…電動キューブターレット装置 47a…ターレットモータ 47b…キューブ識別センサ 48…AFセンサヘッド 49…ステージ受け 50…IRカットフィルタ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Microscope main body 2 ... Light source 3 ... Aperture stop 4 ... Field stop 5 ... Corner cube 6 ... Objective lens 7 ... Lens barrel 8 ... Eyepiece 9 ... Stage 10 ... XY handle 11 ... Electric revolver device 12a ... Revolver motor 12b ... Revolver Hole identification sensor 13 ... Control unit 13a ... Control circuit 13b ... Power supply 14 ... AF optical system 15 ... AF control unit 16 ... Electric focusing motor 17 ... Hand switch 18 ... Laser diode 19 ... Collimator lens 20 ... Stopper 21 ... Polarizing beam splitter Reference Signs List 22 λ / 4 plate 23 Dichroic mirror 24 Imaging lens 25 Two-part detector 26 Focusing handle 27 Dip switch 28 Objective lens conversion button 29 Microscope switching button 30 AF button 31 Stage Down button 32 ... Display unit 33, 33 '... Detection unit 4 Photoreflector 34a Light-emitting part 34b Sensor light 34c Light-receiving part 35 Sensor support 36 Revolver cover 36a Female screw part 37 Sensor fixing screw 38 Sensor support 38 38a Contact element 39 Contact member 39a Contact Member 40 ... Rotating shaft 40a ... Shaft fixing screw 41 ... Bearing 42 ... Spring hook 43 ... Spring 44 ... Contact member 45 ... Sensor support 45a, 45b ... Contact element 46 ... Electric cube turret device 47a ... Turret motor 47b ... Cube identification sensor 48 AF sensor head 49 Stage receiver 50 IR cut filter

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】投光用光源を備え、光学機器に内蔵または
後付けされる自動合焦装置において、 光路上の対物レンズの有無を検出する検出手段と、 自動合焦制御を行なうとともに、前記検出手段の検出結
果を基に、前記対物レンズが光路上に無い場合には前記
投光用光源の電源を切り前記自動合焦制御を中止する自
動合焦制御手段と、 を具備したことを特徴とする自動合焦装置。
1. An automatic focusing device provided with a light source for light projection and built in or retrofitted into optical equipment, detecting means for detecting the presence or absence of an objective lens on an optical path, performing automatic focusing control, and performing the detection. Based on a detection result of the means, when the objective lens is not on the optical path, the power of the light source for projection is turned off, and the automatic focusing control means for stopping the automatic focusing control is provided. Automatic focusing device.
【請求項2】前記対物レンズの取付穴を複数個有し、任
意の取付穴を光路上に切換え配置するレボルバと、 前記レボルバの回転制御を行なうとともに光路上に現在
配置されている前記取付穴を認識するレボルバ制御手段
と、 前記各取付穴毎に対物レンズの有無を予め設定する設定
手段と、 をさらに備え、 前記検出手段は、 前記設定手段により設定された対物レンズの有無に関す
る設定値と前記レボルバ制御手段からの前記光路上にあ
る取付穴の認識情報とに基づいて光路上の対物レンズの
有無を判断することを特徴とする請求項1に記載の自動
合焦装置。
2. A revolver having a plurality of mounting holes for the objective lens and arbitrarily mounting holes on the optical path, and controlling the rotation of the revolver and the mounting holes currently disposed on the optical path. Revolver control means for recognizing the object, and setting means for presetting the presence or absence of an objective lens for each of the mounting holes, further comprising: 2. The automatic focusing device according to claim 1, wherein presence or absence of an objective lens on an optical path is determined based on recognition information of a mounting hole on the optical path from the revolver control unit.
【請求項3】投光用光源を備え、対物レンズを切り換え
るレボルバ及び検鏡法を切り換えるキューブターレット
の少なくとも一方を有する顕微鏡に内蔵または後付けさ
れる自動合焦装置において、 自動合焦制御を行なうとともに、前記投光用光源の電源
を切り自動合焦制御を中止する制御を行なう自動合焦制
御手段と、 この自動合焦制御手段による自動合焦制御動作の施行の
有無を、前記レボルバの各対物レンズ取付穴及び前記キ
ューブターレットにより選択される各検鏡法の少なくと
も一方に対して設定する設定手段と、 前記レボルバ及びキューブターレットの少なくとも一方
の動作制御を行なうとともに、現在光路上にある前記レ
ボルバの取付穴及び前記キューブターレットにより現在
選択されている検鏡法の少なくとも一方を認識する装置
制御手段と、を備え、 前記自動合焦制御手段は、前記設定手段により設定され
た自動合焦制御動作の施行の有無に関する設定値及び前
記装置制御手段により認識される現在光路上にある前記
取付穴または現在選択されている前記検鏡法に基づいて
自動合焦制御の実行または中止を行なうことを特徴とす
る自動合焦装置。
3. An automatic focusing device built in or retrofitted into a microscope having a light source for projecting light and having at least one of a revolver for switching an objective lens and a cube turret for switching a microscopy method. Automatic focus control means for performing control for turning off the power of the light source for projection and stopping automatic focus control; and determining whether or not the automatic focus control operation is performed by the automatic focus control means for each object of the revolver. Setting means for setting at least one of the microscopy methods selected by the lens mounting hole and the cube turret; and controlling the operation of at least one of the revolver and the cube turret, and controlling the operation of the revolver currently on the optical path. Recognize at least one of the currently selected microscopy method by the mounting hole and the cube turret. A device control unit, wherein the automatic focusing control unit is on a current optical path recognized by the device control unit with a set value regarding whether or not the automatic focusing control operation set by the setting unit is performed. An automatic focusing device for performing or stopping automatic focusing control based on a mounting hole or the currently selected microscopic method.
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