JP2000314776A - Metal detector - Google Patents

Metal detector

Info

Publication number
JP2000314776A
JP2000314776A JP12403099A JP12403099A JP2000314776A JP 2000314776 A JP2000314776 A JP 2000314776A JP 12403099 A JP12403099 A JP 12403099A JP 12403099 A JP12403099 A JP 12403099A JP 2000314776 A JP2000314776 A JP 2000314776A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
magnetic field
influence
noise level
test object
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP12403099A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3665713B2 (en
Inventor
Masayuki Hidaka
雅之 日高
Tadaaki Fuse
匡章 布施
Takatsugu Nozaki
隆次 野崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP12403099A priority Critical patent/JP3665713B2/en
Publication of JP2000314776A publication Critical patent/JP2000314776A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3665713B2 publication Critical patent/JP3665713B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent erroneous determination from being generated by fluctuation of a degree affected to a magnetic field by an inspected object itself, and fluctuation of a noise level. SOLUTION: Determination-objective values as to an inspected object W are stored in order by an affected value storing means 45 as affected values for indicating affected degrees affected to a magnetic field by the inspected object W itself, detection signals when the object W does not exist within the magnetic field are stored in order as noise level values by a noise level storing means 46, and the affected values stored in the affected value storing means 45 and the noise level values stored in the noise level storing means 46 are graphically displayed on an image plane of a display 48 by a display control means 47 to allow discrimination for change with the lapse of time.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、磁界を用いて被検
査体に混入した金属を検出する金属検出機において、常
に最良条件で金属を検出できるようにするための技術に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique for detecting a metal mixed in a test object using a magnetic field so that the metal can always be detected under the best conditions.

【0002】[0002]

【従来の技術】食品等の生産ラインでは、製品に金属が
混入しているか否かをライン上で検査するために、図7
に示す金属検出機1が用いられている。
2. Description of the Related Art In a production line for foods and the like, in order to inspect on a line whether or not metal is mixed in a product, FIG.
The metal detector 1 shown in FIG.

【0003】この金属検出機1は、信号発生器2からの
正弦波信号で送信コイル3を励磁して、被検査体の搬送
路Cへ交番磁界を発生させる。
The metal detector 1 excites the transmission coil 3 with a sine wave signal from the signal generator 2 to generate an alternating magnetic field on the transport path C of the device under test.

【0004】そして、搬送路Cに沿って並んだ2つの受
信コイル4、5で磁界をほぼ等量ずつ受ける。
[0006] The two receiving coils 4 and 5 arranged along the transport path C receive a magnetic field almost equally.

【0005】2つの受信コイル4、5は差動接続されて
おり、交番磁界中に被検査体がないときには2つの受信
コイル4、5に誘起される信号が互いに逆移相でレベル
が等しいためその接続点の電圧はほぼ零となり、交番磁
界中を被検査体が通過するときには、2つのコイルに誘
起される信号が被検査体の通過に伴って個々に変化する
ため接続点に不平衡電圧が発生する。
The two receiving coils 4 and 5 are differentially connected. When there is no test object in an alternating magnetic field, the signals induced in the two receiving coils 4 and 5 are opposite in phase shift and have the same level. The voltage at the connection point is almost zero, and when the device under test passes through the alternating magnetic field, the signals induced in the two coils change individually as the device under test passes. Occurs.

【0006】2つの受信コイル4、5の接続点の電圧は
増幅器6で増幅され、検波回路7に入力される。
The voltage at the connection point between the two receiving coils 4 and 5 is amplified by an amplifier 6 and input to a detection circuit 7.

【0007】検波回路7は、信号発生器2から出力され
た正弦波信号を移相器8を介して受け、この移相器8に
よって移相された正弦波信号によって増幅器6の出力を
乗算検波する。
The detection circuit 7 receives the sine wave signal output from the signal generator 2 via the phase shifter 8, and multiplies the output of the amplifier 6 by the sine wave signal shifted by the phase shifter 8 for detection. I do.

【0008】移相器8には、金属が混入されていない被
検査体が交番磁界を通過するときの検波出力が小さく、
且つ金属が混入されている被検査体が交番磁界を通過す
るときの検波出力が大きくるような移相量が予め設定さ
れている。
The phase shifter 8 has a small detection output when an object to be inspected with no metal mixed therein passes through an alternating magnetic field.
In addition, the phase shift amount is set in advance so that the detection output when the test object containing the metal passes through the alternating magnetic field increases.

【0009】検波回路7の検波出力は、判定対象値検出
手段8に入力される。判定対象値検出手段8は、被検査
体が磁界を通過しているときの検波出力から金属の有無
を判定するための判定対象値、例えば検波信号の最大値
を検出して、判定手段10に出力する。
The detection output of the detection circuit 7 is input to the judgment value detection means 8. The determination target value detection means 8 detects a determination target value for determining the presence or absence of metal from the detection output when the test object passes through the magnetic field, for example, a maximum value of the detection signal, Output.

【0010】判定手段10は、判定対象値検出手段9に
よって検出された判定対象値を予め設定された基準値と
比較する。この基準値は、金属が混入されていない被検
査体をサンプルとして磁界中を通過させたときの検波出
力に基づいて設定されており、実際の運転中に被検査体
が交番磁界を通過したときに検出された判定対象値が、
この基準値以上であればその被検査体に金属が混入され
ていることが判る。
[0010] The judging means 10 compares the judgment object value detected by the judgment object value detecting means 9 with a preset reference value. This reference value is set based on the detection output when a sample to be inspected in which metal is not mixed is passed through a magnetic field as a sample, and when the sample is passed through an alternating magnetic field during actual operation. The judgment target value detected at
If it is equal to or more than this reference value, it can be understood that metal is mixed in the inspection object.

【0011】判定手段10の判定結果は判定結果表示器
11に表示されるとともに、図示しない選別機に出力さ
れ、金属が混入していると判定された被検査体をライン
上から排除させる。
The result of the judgment by the judging means 10 is displayed on a judgment result display 11 and output to a sorter (not shown) to remove the object to be inspected judged to be mixed with metal from the line.

【0012】このように構成された金属検出機では、新
たな品種に対する運転を開始する前に、その品種に対し
て最良の検査条件となるように、移相器8の移相量の調
整および判定基準値の設定等を行っていた。
In the metal detector configured as described above, before starting operation for a new type, adjustment of the phase shift amount of the phase shifter 8 and adjustment of the phase shift amount of the phase shifter 8 are performed so as to obtain the best inspection conditions for the new type. The setting of the judgment reference value was performed.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、金属が
混入されていない被検査体自身が磁界に与える影響は、
同一品種のものであっても生産ロット等の違いによって
変動し、また、水分を多く含むような被検査体では周囲
の温度や湿度等の変化に敏感に反応して磁界に与える影
響が変動し、このような変動により、混入金属の検出を
円滑に行えないという問題があった。
However, the influence of the test object itself, in which metal is not mixed, on the magnetic field is as follows.
Even for the same type of product, it varies depending on the production lot, etc., and the effect on the magnetic field fluctuates in the case of a test object containing a large amount of moisture, responding sensitively to changes in ambient temperature and humidity. However, there is a problem that the detection of the mixed metal cannot be performed smoothly due to such a variation.

【0014】即ち、被検査体自身の磁界に与える影響が
小さいときに、移相量や基準値等を設定して運転を開始
した後に、被検査体自身の磁界に対する特性の変動や環
境変化等によって被検査体自身の磁界に与える影響度合
いが大きくなると、検波出力が傾向的に大きくなり、判
定手段10において金属有りの誤判定が頻発する。
That is, when the influence on the magnetic field of the test object itself is small, the operation is started after setting the phase shift amount, the reference value, and the like, and then the characteristics of the test object itself with respect to the magnetic field, environmental changes, and the like are changed. When the degree of influence on the magnetic field of the test object itself increases, the detection output tends to increase, and erroneous determination of the presence of metal occurs frequently in the determination unit 10.

【0015】このように金属有りの誤判定が頻発した場
合には、ラインから被検査体が排除される確率が高くな
るので、ライン上から排除された多くの被検査体を再検
査しなければならない。
In the case where the erroneous determination of the presence of metal frequently occurs, the probability that the object to be inspected is removed from the line increases, so that many objects to be inspected removed from the line must be re-inspected. No.

【0016】また、被検査体自身の磁界に与える影響が
大きいときに基準値等を設定して運転を開始した場合に
は、被検査体自身の磁界に対する特性の変動や環境変化
等によって被検査体自身の磁界に与える影響が小さくな
っていても大きな基準値で判定をおこなっているため、
高感度で金属の検出ができず、微小な金属を見逃す恐れ
がある。
When the operation is started after setting the reference value or the like when the object to be inspected has a large influence on the magnetic field, the object to be inspected may be changed due to a change in characteristics of the object to the magnetic field, a change in environment, or the like. Even if the influence on the magnetic field of the body itself is small, the judgment is made with a large reference value,
Metals cannot be detected with high sensitivity, and fine metals may be missed.

【0017】また、このように磁界を用い、検波出力の
レベルを基準値と比較して金属の有無を判定する機器で
は、電源ラインから侵入するノイズや他の磁界発生機器
から漏れる磁界の影響を受けやすく、この影響度合いが
変動すると、検波出力の雑音レベルが変動し、前記した
被検査体自身の影響度合いの変動と同様に、誤判定や検
出感度の低下という問題を生じる。
In such a device that uses a magnetic field to determine the presence or absence of metal by comparing the level of the detection output with a reference value, the influence of noise entering from the power supply line and the magnetic field leaking from other magnetic field generating devices is considered. If the degree of influence fluctuates, the noise level of the detection output will fluctuate, and as in the case of the fluctuation of the degree of influence of the test object itself, problems such as erroneous determination and reduction in detection sensitivity will occur.

【0018】本発明は、この問題を解決して、被検査体
自身の磁界に与える影響度合いや雑音の変動等に速やか
に対応できるようにした金属検出機を提供することを目
的としている。
An object of the present invention is to provide a metal detector which solves this problem and can promptly respond to the degree of influence on the magnetic field of the test object itself, fluctuations in noise, and the like.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の請求項1の金属検出機は、被検査体の通過
経路に磁界を発生し、該磁界中を通過した被検査体によ
る磁界の変化を検出し、該検出信号から金属の有無を判
定するための判定対象値を検出し、該検出した判定対象
値と基準値とを比較して被検査体中の金属の有無を判定
する金属検出機において、被検査体についての判定対象
値を、該被検査体自身が磁界に与える影響度合いを示す
影響値として順次記憶する影響値記憶手段と、表示装置
と、前記影響値記憶手段に記憶された影響値を、その経
時的な変化が識別できるように前記表示装置の画面にグ
ラフ表示する表示制御手段とを設けたことを特徴として
いる。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a metal detector which generates a magnetic field in a passage of an object to be inspected and which passes through the magnetic field. The change of the magnetic field due to is detected, a determination target value for determining the presence or absence of metal from the detection signal is detected, and the detected determination target value is compared with a reference value to determine the presence or absence of metal in the test object. An influence value storing means for sequentially storing a value to be determined for an object to be inspected as an influence value indicating a degree of influence of the object to be inspected on a magnetic field; a display device; Display control means for graphically displaying the influence value stored in the means on the screen of the display device so that a change with time can be identified.

【0020】また、本発明の請求項2の金属検出機は、
請求項1記載の金属検出機において、前記磁界中に被検
査体がないときの前記検出信号のレベルを雑音レベル値
として順次記憶する雑音レベル記憶手段を備え、前記表
示制御手段は、前記影響値の他に前記雑音レベル記憶手
段に記憶された雑音レベル値を、その経時的な変化が識
別できるように前記表示装置の画面にグラフ表示するこ
とを特徴としている。
Further, the metal detector according to claim 2 of the present invention comprises:
2. The metal detector according to claim 1, further comprising: noise level storage means for sequentially storing a level of the detection signal when the object to be inspected is not present in the magnetic field as a noise level value, wherein the display control means comprises: In addition to the above, the noise level value stored in the noise level storage means is graphically displayed on a screen of the display device so that a change with time can be identified.

【0021】また、本発明の請求項3の金属検出機は、
被検査体の通過経路に磁界発生部から磁界を発生し、該
磁界中を通過した被検査体による磁界の変化を検出し、
該検出信号から金属の有無を判定するための判定対象値
を検出し、該検出した判定対象値と基準値とを比較して
被検査体中の金属の有無を判定する金属検出機におい
て、被検査体についての判定対象値を、該被検査体自身
が磁界に与える影響度合いを示す影響値として順次記憶
する影響値記憶手段と、前記影響値記憶手段に記憶され
た影響値に基づいて、被検査体による磁界の変化を検出
するための検出条件または判定の基準値を可変制御する
制御手段とを設けたことを特徴としている。
Further, the metal detector according to claim 3 of the present invention comprises:
A magnetic field is generated from a magnetic field generator on a passage of the test object, and a change in the magnetic field due to the test object passing through the magnetic field is detected.
A metal detector that detects a determination target value for determining the presence or absence of a metal from the detection signal and compares the detected determination target value with a reference value to determine the presence or absence of a metal in the test object. Influence value storage means for sequentially storing the determination target value of the test object as an influence value indicating the degree of influence of the test object on the magnetic field; and an influence value based on the influence value stored in the influence value storage means. Control means for variably controlling a detection condition for detecting a change in a magnetic field due to the test object or a reference value for determination is provided.

【0022】また、本発明の請求項4の金属検出機は、
請求項3記載の金属検出機において、前記磁界中に被検
査体がないときの前記検出信号のレベルを雑音レベル値
として順次記憶する雑音レベル記憶手段とを備え、前記
制御手段は、前記影響値記憶手段に記憶された影響値お
よび前記雑音レベル記憶手段に記憶された雑音レベル値
に基づいて、被検査体による磁界の変化を検出するため
の検出条件または判定の基準値を可変制御することを特
徴としている。
Further, the metal detector according to claim 4 of the present invention comprises:
4. The metal detector according to claim 3, further comprising: a noise level storage unit that sequentially stores a level of the detection signal when the test object is not present in the magnetic field as a noise level value, wherein the control unit is configured to control the influence value. Variably controlling a detection condition or a reference value for determination for detecting a change in a magnetic field due to the test object based on the influence value stored in the storage means and the noise level value stored in the noise level storage means. Features.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施の形態を説明する。図1は、実施の形態の金属検出機
20の構成を示す図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a metal detector 20 according to the embodiment.

【0024】この金属検出機20の磁界発生部21は、
信号発生器22から出力される正弦波信号で送信コイル
23を励磁し、被検査体Wの搬送路Cへ交番磁界を発生
している。
The magnetic field generator 21 of the metal detector 20
The transmission coil 23 is excited by a sine wave signal output from the signal generator 22 to generate an alternating magnetic field in the transport path C of the device under test W.

【0025】なお、磁界として交流磁界だけでなく、直
流磁界や、交流磁界と直流磁界とを併有したものを用い
ることもでき、直流磁界を用いる場合には、この磁界発
生部21を永久磁石に置き換えたり、あるいは信号発生
器22から直流の電流を送信コイル22に流せばよく、
この場合、後述する移相器29、移相量設定手段30お
よび検波回路31が不要となり、増幅器28の出力を判
定対象値検出手段40に直接入力すればよい。
The magnetic field may be not only an AC magnetic field but also a DC magnetic field, or a magnetic field having both an AC magnetic field and a DC magnetic field. Or a DC current may be passed from the signal generator 22 to the transmission coil 22.
In this case, a phase shifter 29, a phase shift amount setting means 30, and a detection circuit 31, which will be described later, become unnecessary, and the output of the amplifier 28 may be directly input to the determination target value detection means 40.

【0026】搬送路Cに沿って並んだ2つの受信コイル
24、25は、磁界発生部21が発生した磁界の磁束を
ほぼ等量ずつ受けて、この磁界の被検査体による変化を
検出する。
The two receiving coils 24 and 25 arranged along the transport path C receive the magnetic flux of the magnetic field generated by the magnetic field generating unit 21 at substantially equal amounts, and detect a change in the magnetic field due to the test object.

【0027】送信コイル23と受信コイル24、25の
配置については、対向型と同軸型とがある。対向型の場
合には、図2の(a)のように、搬送路Cを挟んで一方
側に送信コイル23を配置し他方側に2つの受信コイル
24、25を送信コイル23に対向させるように配置す
る。また、同軸型の場合には、図2の(b)のように、
搬送路Cを囲むように送信コイル23を配置し、その前
後に受信コイル24、25を同軸状に配置する。
The arrangement of the transmitting coil 23 and the receiving coils 24 and 25 includes a facing type and a coaxial type. In the case of the opposed type, as shown in FIG. 2A, the transmitting coil 23 is arranged on one side with the transport path C interposed therebetween, and the two receiving coils 24 and 25 are opposed to the transmitting coil 23 on the other side. To place. In the case of the coaxial type, as shown in FIG.
The transmitting coil 23 is arranged so as to surround the transport path C, and the receiving coils 24 and 25 are arranged coaxially before and after the transmitting coil 23.

【0028】なお、搬送路Cの搬入側には、磁界中に進
入する被検査体Wを検出するための進入センサ26が設
けられている。この進入センサ26は、光学式(遮光
型、反射型)、機械式のいずれてあってもよい。
An entry sensor 26 for detecting the inspection object W entering the magnetic field is provided on the entrance side of the transport path C. The entry sensor 26 may be any of an optical type (light shielding type, reflection type) and a mechanical type.

【0029】受信コイル24、25は可変抵抗器27を
介して差動接続されている。可変抵抗器27は、交番磁
界を用いた場合に、被検査体Wがその交番磁界中にない
ときに2つの受信コイル24、25に誘起される交流信
号の僅かなレベル差を補正するためのものであり、出力
電圧がゼロとなるように予め調整されている。可変抵抗
器27の出力電圧は、増幅器28で増幅され、検波回路
31に出力される。
The receiving coils 24 and 25 are differentially connected via a variable resistor 27. The variable resistor 27 is used to correct a slight level difference between AC signals induced in the two receiving coils 24 and 25 when the test object W is not in the alternating magnetic field when the alternating magnetic field is used. And is adjusted in advance so that the output voltage becomes zero. The output voltage of the variable resistor 27 is amplified by the amplifier 28 and output to the detection circuit 31.

【0030】一方、信号発生器22から出力された正弦
波信号は移相器29を介して検波回路30へ入力されて
いる。移相器29の移相量は、移相量設定手段30によ
って設定される。
On the other hand, the sine wave signal output from the signal generator 22 is input to the detection circuit 30 via the phase shifter 29. The phase shift amount of the phase shifter 29 is set by the phase shift amount setting means 30.

【0031】検波回路31は、受信コイル24、25、
増幅器28とともに、磁界中を通過した被検査体による
磁界の変化を検出するためのものであり、増幅器28の
出力を移相器29からの正弦波信号によって乗算検波す
る。
The detection circuit 31 includes receiving coils 24, 25,
Along with the amplifier 28, this is for detecting a change in the magnetic field due to the test object passing through the magnetic field. The output of the amplifier 28 is multiplied and detected by a sine wave signal from the phase shifter 29.

【0032】この検波回路31としては、増幅器28の
出力から位相が互いに90°異なる2つの信号成分を検
波出力する2相型のものや、単相型の検波回路を使用で
きる。
As the detection circuit 31, a two-phase detection circuit that detects and outputs two signal components whose phases differ from each other by 90 ° from the output of the amplifier 28, or a single-phase detection circuit can be used.

【0033】2相型の検波回路の場合、図3に示すよう
に、増幅器28の出力と移相器29の出力とをミキサ3
2で乗算し、その出力からLPF(低域通過フィルタ)
33によって磁界周波数成分を除去し、その信号xをA
/D変換器34によってサンプリングし、ディジタル値
Xに変換して順次出力するとともに、増幅器28の出力
と90°移相器36の出力とをミキサ37で乗算し、そ
の出力からLPF38によって磁界周波数成分を除去
し、その信号yをA/D変換器39によってサンプリン
グし、ディジタル値Yに変換して順次出力する。なお、
ここで90°移相器34は移相器29の出力を90°遅
延して出力する。
In the case of a two-phase detection circuit, the output of the amplifier 28 and the output of the phase shifter 29 are connected to the mixer 3 as shown in FIG.
Multiply by 2 and output LPF (low-pass filter)
33, the magnetic field frequency component is removed, and the signal x is converted to A
The output of the amplifier 28 and the output of the 90 ° phase shifter 36 are multiplied by a mixer 37, and the output of the amplifier 28 and the output of a 90 ° phase shifter 36 are multiplied by a mixer 37. , And the signal y is sampled by the A / D converter 39, converted into a digital value Y, and sequentially output. In addition,
Here, the 90 ° phase shifter 34 delays the output of the phase shifter 29 by 90 ° and outputs it.

【0034】この2相型の検波回路31はその一方の検
波出力Xを鉄金属の有無を判定するために用い、他方の
検波出力Yを非鉄金属の有無を判定するために用いるこ
とができる。これは、鉄金属と非鉄金属とで最適な検出
位相がほぼ90°ずれていることを利用したものであ
る。
The two-phase detection circuit 31 can use one detection output X to determine the presence or absence of a ferrous metal, and use the other detection output Y to determine the presence or absence of a non-ferrous metal. This is based on the fact that the optimum detection phases of the ferrous metal and the non-ferrous metal are shifted by about 90 °.

【0035】また、単相型の検波回路の場合には、図3
の回路から90°移相器36、ミキサ37、LPF38
およびA/D変換器39を省略すればよい。
In the case of a single-phase detection circuit, FIG.
90 ° phase shifter 36, mixer 37, LPF 38
And the A / D converter 39 may be omitted.

【0036】なお、移相器29による移相量は、後述す
る判定対象値が、金属が混入していない被検査体に対し
ては小さく、検出対象の金属が混入している被検査体に
対しては大きくなる値に予め設定されている。
The amount of phase shift by the phase shifter 29 is small for an object to be inspected in which metal to be described later is not mixed, and is smaller for an object to be detected in which metal to be detected is mixed. On the other hand, a larger value is set in advance.

【0037】前記移相器29、移相量設定手段30およ
び検波回路31は、前記したように、交番磁界を用いる
場合に必要な構成であり、直流磁界を用いる場合にはこ
れらを省略して、増幅器28の出力を判定対象値検出手
段40に直接入力する。
As described above, the phase shifter 29, the phase shift amount setting means 30, and the detection circuit 31 are necessary components when an alternating magnetic field is used, and are omitted when a DC magnetic field is used. , The output of the amplifier 28 is directly input to the determination target value detection means 40.

【0038】判定対象値検出手段40は、進入センサ2
6からの信号を受け、磁界に対する被検査体の進入が検
知されてから一定時間(被検査体が磁界を通過するまで
の間)検波回路31から出力される信号を監視し、例え
ば検波回路31から出力される信号の最大値等を金属の
有無を判定するための判定対象値として検出する。
The determination target value detection means 40 is provided by the entry sensor 2
6, the signal output from the detection circuit 31 is monitored for a certain period of time (until the test object passes through the magnetic field) after the detection of the entry of the test object into the magnetic field. Is detected as a determination target value for determining the presence or absence of metal.

【0039】ここで、検波回路31が前記2相型の場合
には、2つの検波出力X、Yについてそれぞれの最大値
Xm、Ymと、検波出力X、Yから得られる位相(X/
Yの逆正接値)の最大値φmとを判定対象値として検出
する。
If the detection circuit 31 is of the two-phase type, the maximum values Xm and Ym of the two detection outputs X and Y and the phase (X / Y) obtained from the detection outputs X and Y, respectively.
The maximum value φm of the arc tangent value of Y) is detected as the determination target value.

【0040】また、検波回路31が前記単相型の場合に
は、検波出力Xについての最大値Xmを判定対象値とし
て検出する。
When the detection circuit 31 is of the single-phase type, the maximum value Xm of the detection output X is detected as a judgment target value.

【0041】また、直流磁界を用いる場合には、増幅器
28の出力信号Zのピーク値Zmを判定対象値として検
出する。
When a DC magnetic field is used, the peak value Zm of the output signal Z of the amplifier 28 is detected as a judgment target value.

【0042】判定手段41は、判定対象値検出手段40
が検出した判定対象値を予め基準値設定手段42によっ
て設定された基準値と比較することにより、金属の有無
を判定し、その判定結果信号を出力する。
The judging means 41 includes a judging value detecting means 40
Is compared with a reference value set in advance by the reference value setting means 42 to determine the presence / absence of metal and output a determination result signal.

【0043】前記したように、検波回路31が2相型の
場合には、最大値Xmと基準値Xr、最大値Ymと基準
値Yr、最大値φmと基準値φrとを比較し、いずれか
一つが基準値より大きい場合には金属有りを示す判定信
号を出力し、いずれも基準値以下であれば金属無しを示
す判定信号を出力する。
As described above, when the detection circuit 31 is of the two-phase type, the maximum value Xm and the reference value Xr, the maximum value Ym and the reference value Yr, and the maximum value φm and the reference value φr are compared. If one of them is larger than the reference value, a judgment signal indicating that there is metal is output, and if any one is equal to or less than the reference value, a judgment signal indicating that there is no metal is output.

【0044】また、検波回路31が単相型の場合には最
大値Xmと基準値Xrとを比較し、最大値Xmが基準値
Xrより大きい場合に金属有りを示す判定信号を出力
し、基準値Xr以下であれば、金属無しを示す判定信号
を出力する。また、直流磁界を用いる場合には、増幅器
28の出力信号のピーク値Zmと基準値Zrとを比較す
る。
When the detection circuit 31 is of a single-phase type, the maximum value Xm is compared with a reference value Xr, and when the maximum value Xm is larger than the reference value Xr, a judgment signal indicating the presence of metal is output. If the value is equal to or smaller than the value Xr, a determination signal indicating that there is no metal is output. When a DC magnetic field is used, the peak value Zm of the output signal of the amplifier 28 is compared with the reference value Zr.

【0045】判定結果表示器43は、判定結果をランプ
や文字等で識別表示するものであり、例えば判定手段4
1から金属無しの判定結果信号を受けると緑色のランプ
を点灯させたり、「OK」の文字を表示し、金属有りの
判定結果信号を受けると赤色のランプを点灯させたり、
「NG」の文字を表示する。
The judgment result display 43 is for displaying the judgment result in the form of a lamp, characters, or the like.
When a determination result signal indicating that there is no metal is received from 1, a green lamp is lit, or a character "OK" is displayed. When a determination result signal indicating that there is metal is received, a red lamp is lit.
The character "NG" is displayed.

【0046】一方、影響値記憶手段45は、判定手段4
1によって金属無しと判定されたときの判定対象値を、
被検査体自身による磁界への影響度合いを示す値(以
下、影響値と記す)として内部のメモリ(図示せず)に
順次記憶する。なお、金属有りと判定されときの判定対
象値も含めて記憶してもよい。
On the other hand, the influence value storage means 45 is
The determination target value when it is determined that there is no metal by 1 is
It is sequentially stored in an internal memory (not shown) as a value indicating the degree of influence of the test object itself on the magnetic field (hereinafter referred to as an influence value). In addition, you may store including the determination target value when it is determined that there is metal.

【0047】また、雑音レベル記憶手段46は、進入セ
ンサ26からの信号を受け、磁界中に被検査体が存在し
ていないときに検波回路31から出力される信号(検波
回路31が2相型の場合には信号X、Y、単相型の場合
には信号X)、また直流磁界の場合には磁界中に被検査
体が存在していないときに増幅器28から出力される信
号のピークレベルを雑音レベル値として所定タイミング
毎にメモリ(図示せず)に記憶する。
The noise level storage means 46 receives a signal from the ingress sensor 26 and outputs a signal output from the detection circuit 31 when the device under test does not exist in the magnetic field (when the detection circuit 31 is a two-phase type). In the case of a single-phase type, the signal X and Y, and in the case of a single-phase type, the peak level of the signal output from the amplifier 28 when the test object is not present in the magnetic field. Is stored in a memory (not shown) at predetermined timings as a noise level value.

【0048】表示制御手段47は、影響値記憶手段45
に記憶された影響値と雑音レベル記憶手段46の記憶さ
れた雑音レベル値とを、その大きさの経時的な変動が視
認できるようにグラフ化して表示装置48に表示する。
The display control means 47 includes an influence value storage means 45
And the noise level value stored in the noise level storage means 46 are graphed and displayed on the display device 48 so that the temporal variation of the magnitude can be visually recognized.

【0049】この表示制御手段47は、比較的短時間の
変動傾向が判るように影響値記憶手段45や雑音レベル
記憶手段46の記憶値をそれぞれ1本の棒グラフで表示
する第1の表示モード、比較的長時間の変動傾向が判る
ように複数個の記憶値の平均値あるいは最大値を求め
て、これを1本の棒グラフで表示する第2の表示モー
ド、および影響値記憶手段45に記憶された影響値の個
数と雑音レベル記憶手段46の記憶された雑音レベル値
の個数に応じて、前記第1の表示モードから第2の表示
モードに自動的に移行する第3の表示モードを有してお
り、表示切換手段49によって指定されたモードで表示
を行う。
The display control means 47 is a first display mode for displaying the storage values of the influence value storage means 45 and the noise level storage means 46 in a single bar graph so that the fluctuation tendency in a relatively short time can be recognized. An average value or a maximum value of a plurality of stored values is obtained so that a change tendency over a relatively long time can be recognized, and the average value or the maximum value is stored in the influence value storage means 45 and a second display mode in which the average value or the maximum value is displayed as one bar graph. A third display mode for automatically shifting from the first display mode to the second display mode in accordance with the number of affected values and the number of noise level values stored in the noise level storage means 46. The display is performed in the mode designated by the display switching means 49.

【0050】また、表示装置48として広い表示領域を
有するものを用いれば、影響値と雑音レベル値のグラフ
を同時に表示することが可能であるが、ここでは狭い表
示領域の表示装置48でも影響値と雑音レベル値のグラ
フ表示が可能なように、表示切換手段49によって指定
されたものを選択的に表示させるようにしている。
If a display device having a wide display area is used as the display device 48, it is possible to simultaneously display the graph of the influence value and the noise level value. And the noise level value can be displayed in a graph, and the one designated by the display switching means 49 is selectively displayed.

【0051】表示切換手段49は、操作用のキー(図示
せず)を有し、そのキー操作によって表示制御手段47
の表示モードおよび表示する内容を切り換えさせる。
The display switching means 49 has operation keys (not shown), and the display control means 47 is operated by the key operation.
Switch the display mode and the content to be displayed.

【0052】次のこの金属検出機の動作を説明する。運
転に先立って、金属が混入されていない良品サンプル
と、既知の大きさの金属が混入されている不良品サンプ
ルを用いて、移相器29の移相量および判定手段41の
基準値を設定する。
Next, the operation of the metal detector will be described. Prior to the operation, a phase shift amount of the phase shifter 29 and a reference value of the determination means 41 are set using a good sample in which metal is not mixed and a defective sample in which metal of a known size is mixed. I do.

【0053】そして、運転が開始されて搬送路C上の被
検査体Wが磁界を通過すると、2つの受信コイル24、
25に誘起される電圧が不平衡となり、その不平衡成分
が検波回路31によって検波され、その検波出力から判
定対象値検出手段40によって判定対象値が検出され、
判定手段41において基準値と比較される。
When the operation is started and the test object W on the transport path C passes through the magnetic field, the two receiving coils 24,
The voltage induced at 25 becomes unbalanced, the unbalanced component is detected by the detection circuit 31, and the determination target value is detected by the determination target value detection means 40 from the detection output,
In the judgment means 41, it is compared with a reference value.

【0054】なお、前記したように、直流磁界を用いる
場合には、不平衡成分から判定対象値検出手段40によ
って判定対象値が検出され、判定手段41において基準
値と比較される。
As described above, when the DC magnetic field is used, the judgment target value is detected by the judgment target value detection means 40 from the unbalanced component, and is compared with the reference value by the judgment means 41.

【0055】ここで、検出された判定対象値が基準値以
下であれば、この被検査体Wには金属が混入していない
と判定され、判定結果表示器43は金属無しを示す表示
をする。
Here, if the detected value to be determined is equal to or less than the reference value, it is determined that no metal is mixed in the inspection object W, and the determination result display 43 displays a message indicating that there is no metal. .

【0056】また、検出された判定対象値が基準値より
大であれば、この被検査体Wには金属が混入していると
判定され、判定結果表示器43は金属有りを示す表示を
する。
If the detected value to be determined is larger than the reference value, it is determined that metal is mixed in the inspection object W, and the determination result display 43 displays that metal is present. .

【0057】以下同様に、磁界中を被検査体Wが通過す
る毎に、その被検査体Wの判定対象値の検出および判定
がなされるが、被検査体Wが金属無しの判定を受けた場
合には、その判定対象値が被検査体自身の磁界に与える
影響値として影響値記憶手段45に順次記憶される。ま
た、被検査体Wが磁界中に存在していないときの雑音レ
ベル値が雑音レベル記憶手段46に順次記憶されてい
く。
Similarly, every time the test object W passes through the magnetic field, the detection target value of the test object W is detected and determined. In this case, the determination target value is sequentially stored in the influence value storage unit 45 as an influence value on the magnetic field of the test object itself. The noise level value when the test object W is not present in the magnetic field is sequentially stored in the noise level storage means 46.

【0058】ここで、例えば、検波回路31が2相型
で、表示制御手段47に対して、第1の表示モードが指
定され、且つ一方の検波出力Xについての影響値を表示
させるための指示がなされると、表示制御手段47は、
例えば図4の(a)に示すように、影響値記憶手段45
に記憶された影響値Xm(1)、Xm(2)、…を、そ
の大きさの経時的な変化が視認できるように、棒グラフ
表示する。
Here, for example, the detection circuit 31 is of a two-phase type, and the first display mode is designated to the display control means 47 and an instruction for displaying an influence value on one detection output X is given. Is performed, the display control means 47
For example, as shown in FIG.
Are displayed as bar graphs so that the change over time in the magnitude can be visually recognized.

【0059】また、表示切換手段49によって、他方の
検波出力Yについての影響値を表示させるための指示を
すると、表示制御手段47は、例えば図4の(b)に示
すように、影響値記憶手段45に記憶された影響値Ym
(1)、Ym(2)、…を、その大きさの経時的な変化
が視認できるように棒グラフ表示する。
When the display switching means 49 gives an instruction to display the influence value for the other detection output Y, the display control means 47 stores the influence value, for example, as shown in FIG. Influence value Ym stored in means 45
(1), Ym (2),... Are displayed as bar graphs so that the change with time of the size can be visually recognized.

【0060】また、表示切換手段49によって、位相に
ついての影響値を表示させるための指示をすると、表示
制御手段47は、例えば図4の(c)に示すように、影
響値記憶手段45に記憶された影響値φm(1)、φm
(2)、…を、その大きさの経時的な変化が視認できる
ように、折れ線グラフ表示する。
When the display switching means 49 gives an instruction to display the influence value on the phase, the display control means 47 stores the influence value in the influence value storage means 45, for example, as shown in FIG. Influence values φm (1), φm
(2),... Are displayed in a line graph so that the change over time in size can be visually recognized.

【0061】また、表示切換手段49によって、検波出
力Xの雑音レベル値を表示させるための指示をすると、
表示制御手段47は、例えば図4の(d)に示すよう
に、雑音レベル値記憶手段46に記憶された雑音レベル
値Nx(1)、Nx(2)、…を、その大きさの経時的
な変化が視認できるように棒グラフ表示し、検波出力Y
の雑音レベル値を表示させるための指示をすると、図4
の(e)に示すように、雑音レベル値記憶手段46に記
憶された雑音レベル値Ny(1)、Ny(2)、…を、
その大きさの経時的な変化が視認できるように棒グラフ
表示する。
When the display switching means 49 gives an instruction to display the noise level value of the detection output X,
The display control means 47 converts the noise level values Nx (1), Nx (2),... Stored in the noise level value storage means 46 over time, as shown in FIG. A bar graph is displayed so that various changes can be visually recognized, and the detection output Y
When the user gives an instruction to display the noise level value of FIG.
(E), the noise level values Ny (1), Ny (2),...
A bar graph is displayed so that the change with time of the size can be visually recognized.

【0062】これらの表示から、金属が混入されていな
い被検査体自身の磁界に対する影響および雑音の短時間
における変動状態を把握することができる。
From these displays, it is possible to grasp the influence on the magnetic field of the test object itself in which metal is not mixed and the fluctuation state of noise in a short time.

【0063】また、表示切換手段49によって例えば一
方の検波出力Xと、第2の表示モードが指定された場
合、表示制御手段47は、影響値記憶手段45に記憶さ
れた影響値Xm(1)、Xm(2)、…を、記憶された
順にk個ずつのグループG(1)、G(2)、…に分
け、各グループ内の影響値の最大値(または平均値)M
x(1)、Mx(2)、…を、例えば図5の(a)に示
すように、その大きさの経時的な変化が視認できるよう
に棒グラフ表示する。
When, for example, one of the detection output X and the second display mode is designated by the display switching means 49, the display control means 47 controls the influence value Xm (1) stored in the influence value storage means 45. , Xm (2),... Are divided into k groups G (1), G (2),... In the order stored, and the maximum (or average) M of the influence values in each group is M
.., x (1), Mx (2),... are displayed as bar graphs, for example, as shown in FIG.

【0064】また、第2の表示モードにおいて他方の検
波出力Yが指定されると、表示制御手段47は、影響値
記憶手段45に記憶された影響値Ym(1)、Ym
(2)、…を、k個宛のグループG(1)、G(2)、
…に分け、各グループ内の影響値の最大値(または平均
値)My(1)、My(2)、…を、例えば図5の
(b)に示すように、その大きさの経時的な変化が視認
できるように棒グラフ表示する。
When the other detection output Y is designated in the second display mode, the display control means 47 sets the influence values Ym (1), Ym stored in the influence value storage means 45.
(2), ..., k groups G (1), G (2),
, And the maximum (or average) of the influence values My (1), My (2),... In each group are changed over time, for example, as shown in FIG. A bar graph is displayed so that the change can be visually recognized.

【0065】また、第2の表示モードにおいて位相が指
定されると、表示制御手段47は、影響値記憶手段45
に記憶された影響値φm(1)、φm(2)、…を、k
個宛のグループG(1)、G(2)、…に分け、各グル
ープ内の影響値の最大値(または平均値)Mφ(1)、
Mφ(2)、…を、例えば図5の(c)に示すように、
その大きさの経時的な変化が視認できるように折れ線グ
ラフ表示する。
When the phase is designated in the second display mode, the display control means 47 sets the influence value storage means 45.
The influence values φm (1), φm (2),...
Are divided into groups G (1), G (2),..., The maximum (or average) Mφ (1) of the influence values in each group,
Mφ (2),..., For example, as shown in FIG.
A line graph is displayed so that a change with time of the size can be visually recognized.

【0066】また、第2の表示モードにおいて検波出力
Xの雑音レベルが指定されると、表示制御手段47は、
影響値記憶手段45に記憶された影響値Nx(1)、N
x(2)、…を、記憶された順にk個ずつのグループG
(1)、G(2)、…に分け、各グループ内の影響値の
最大値(または平均値)Mnx(1)、Mnx(2)、
…を、例えば図5の(d)に示すように、その大きさの
経時的な変化が視認できるように棒グラフ表示する。
When the noise level of the detection output X is designated in the second display mode, the display control means 47
The influence value Nx (1), N stored in the influence value storage means 45
x (2),... are stored in k groups G in the order in which they are stored.
(1), G (2),..., And the maximum (or average) influence value Mnx (1), Mnx (2),
Are displayed as a bar graph so that the change with time of the size can be visually recognized, for example, as shown in FIG.

【0067】また、第2の表示モードにおいて検波出力
Yの雑音レベルが指定されると、影響値記憶手段45に
記憶された影響値Ny(1)、Ny(2)、…を、記憶
された順にk個ずつのグループG(1)、G(2)、…
に分け、各グループ内の影響値の最大値(または平均
値)Mny(1)、Mny(2)、…を、例えば図5の
(e)に示すように、その大きさの経時的な変化が視認
できるように棒グラフ表示する。
When the noise level of the detection output Y is designated in the second display mode, the effect values Ny (1), Ny (2),... Stored in the effect value storage means 45 are stored. K groups G (1), G (2),...
, And the maximum value (or the average value) Mny (1), Mny (2),... Of the influence values in each group are changed over time as shown in, for example, FIG. Is displayed in a bar graph so that can be visually recognized.

【0068】これらの表示から、金属が混入されていな
い被検査体自身の磁界に対する影響および雑音の長時間
における変動状態を把握することができる。
From these displays, it is possible to grasp the influence on the magnetic field of the test object itself in which metal is not mixed and the fluctuation state of noise over a long period of time.

【0069】また、表示制御手段47に対して第3の表
示モードが指定されていた場合には、金属無しと判定さ
れた被検査体の影響値が一つの種類について所定個数j
(例えば500個)に達するまでは、前記第1の表示モ
ードで影響値や雑音レベル値をグラフ表示し、所定個数
jに達してからは、前記第2の表示モードで影響値や雑
音レベル値をグラフ表示する。
When the third display mode has been designated for the display control means 47, the influence value of the object to be inspected determined to be free of metal is a predetermined number j for one type.
Until the number reaches 500 (for example, 500), the influence value and the noise level value are graphically displayed in the first display mode, and after reaching the predetermined number j, the influence value and the noise level value are displayed in the second display mode. Is displayed as a graph.

【0070】なお、表示装置48の画面に表示できるグ
ラフの長さは、表示装置48の幅方向のドット数による
限界がある。このため、表示制御手段47は、この限界
に対応する影響値および雑音レベル値が記憶された後
は、新しい方の記憶値を優先して、グラフ表示してい
る。
The length of the graph that can be displayed on the screen of the display device 48 is limited by the number of dots in the width direction of the display device 48. For this reason, after the influence value and the noise level value corresponding to this limit are stored, the display control means 47 displays the graph with priority given to the newer stored value.

【0071】このように、実施形態の金属検出機では、
被検査体自身が磁界に与える影響度合いの変動および雑
音の変動の様子を表示装置48の画面上で常に監視する
ことができる。
As described above, in the metal detector of the embodiment,
The fluctuation of the degree of influence of the test object on the magnetic field and the fluctuation of noise can be constantly monitored on the screen of the display device 48.

【0072】このため、被検査体自身が磁界に与える影
響あるいは雑音レベルが大きくなってきていることを、
金属有りの誤判定が頻発する前に知ることができ、移相
器29の移相量や判定手段41の基準値の再設定操作等
によって誤判定を未然に防止できる。また、被検査体自
身が磁界に与える影響が小さくなってきていることを知
ることができ、これに応じて金属に対する感度が高くな
るように移相器29の移相量や判定手段41の基準値の
再設定することができ、微小金属の見逃しを防止でき
る。
For this reason, the fact that the effect of the test object itself on the magnetic field or the noise level has increased is as follows.
It is possible to know before the erroneous determination of the presence of metal occurs frequently, and it is possible to prevent the erroneous determination beforehand by resetting the phase shift amount of the phase shifter 29 or the reference value of the determination means 41. In addition, it is possible to know that the influence of the test object itself on the magnetic field is decreasing, and accordingly, the phase shift amount of the phase shifter 29 and the reference value of the determination means 41 are increased so that the sensitivity to metal increases. The value can be reset, and the oversight of the minute metal can be prevented.

【0073】また、影響値の変動と雑音レベルの変動と
を比較することで、影響値の変化が雑音の変化に起因す
るものか被検査体自身が磁界に与える影響度合いの変化
に起因するものかを把握することが可能となり、誤った
調整操作を行わずに済む。
By comparing the change in the influence value with the change in the noise level, it is possible to determine whether the change in the influence value is caused by the change in the noise or the change in the degree of influence of the test object on the magnetic field. Can be grasped, and an erroneous adjustment operation need not be performed.

【0074】上記金属検出機20は、被検査体自身が磁
界に与える影響度合いと雑音レベルの変動が確認できる
ように表示装置48にグラフ表示していたが、図6に示
す金属検出機20′のように、影響値記憶手段45に記
憶された影響値および雑音レベル記憶手段46に記憶さ
れた雑音レベル値に基づいて、被検査体による磁界の変
化を検出するための検出条件(この場、合移相器29の
移相量)や判定手段41の基準値を制御手段50によっ
て可変制御することで、被検査体による磁界への影響や
雑音レベルの変動に対し、運転中の調整操作を行うこと
なく常に最良の条件での金属検出が可能である。
The metal detector 20 is graphically displayed on the display device 48 so that the influence of the test object itself on the magnetic field and the fluctuation of the noise level can be confirmed. However, the metal detector 20 'shown in FIG. As described above, based on the influence value stored in the influence value storage means 45 and the noise level value stored in the noise level storage means 46, detection conditions for detecting a change in the magnetic field due to the test object (in this case, The control unit 50 variably controls the phase shift amount of the phase shifter 29) and the reference value of the determination unit 41, so that the adjustment operation during operation can be performed in response to the influence of the test object on the magnetic field and the fluctuation of the noise level. Metal detection under the best conditions is always possible without performing.

【0075】即ち、制御手段50は、移相量設定手段3
0および基準値設定手段42から入力された初期移相量
φ0と初期基準値R0とを移相器29および判定手段4
1にそれぞれ設定する。
That is, the control means 50 controls the phase shift amount setting means 3
0 and the initial phase shift amount φ 0 input from the reference value setting means 42 and the initial reference value R 0
Set each to 1.

【0076】この初期移相量φ0は、例えば金属が混入
されていないサンプルが磁界を通過したときの判定対象
値Za(影響値)が小さく、検出対象の金属が混入され
ているサンプルが磁界を通過したときの判定対象値Zb
が大きくなるように設定され、初期基準値R0は、金属
が混入されていないサンプルについての判定対象値Za
と金属が混入されているサンプルについての判定基準値
Zbのほぼ中間の値に設定されているものとする。
The initial phase shift amount φ0 is such that, for example, the determination target value Za (influence value) when a sample in which metal is not mixed passes through the magnetic field is small, and the sample in which metal to be detected is mixed has a magnetic field. Determination target value Zb when passing
Is set to be large, and the initial reference value R0 is a determination target value Za for a sample in which no metal is mixed.
It is assumed that the threshold value is set to a value approximately in the middle of the determination reference value Zb for the sample mixed with the metal.

【0077】制御手段50は運転が開始された後に、影
響値記憶手段45に順次記憶される影響値と、雑音レベ
ル記憶手段46に順次記憶される雑音レベル値の変動の
傾向をそれぞれ検出する。
After the operation is started, the control means 50 detects the influence value sequentially stored in the influence value storage means 45 and the tendency of the fluctuation of the noise level value sequentially stored in the noise level storage means 46.

【0078】この変動傾向の検出は、例えば、連続して
記憶された複数個(M個)の影響値の平均値(異なる記
憶値についての平均値、または移動平均値であってもよ
い)を順次算出し、その算出された平均値が連続して複
数回(N回)増加した場合には増加傾向、平均値が連続
して複数回(N回)減少した場合には減少傾向と判定す
る。
The detection of the fluctuation tendency is performed, for example, by determining the average value of a plurality of (M) consecutively stored influence values (which may be an average value of different stored values or a moving average value). It is sequentially calculated, and when the calculated average value continuously increases a plurality of times (N times), it is determined to be an increasing tendency, and when the average value continuously decreases a plurality of times (N times), it is determined to be a decreasing tendency. .

【0079】雑音レベル値についても同様に、連続して
記憶された複数個(M′個)の平均値を順次算出し、そ
の平均値が連続して複数回(N′回)増加したときには
増加傾向、平均値が連続して複数回(N′回)減少した
ときには減少傾向と判定し、その平均的な変動量を求め
る。
Similarly, the average value of a plurality of (M ′) consecutively stored noise levels is sequentially calculated. When the average value continuously increases a plurality of times (N ′ times), the average value increases. When the tendency and average value continuously decrease a plurality of times (N 'times), it is determined that the tendency is decreasing, and the average fluctuation amount is obtained.

【0080】なお、影響値と雑音レベル値の平均値の演
算は、ほぼ同一時間帯における変動傾向が求められるよ
うに行う。また、平均値の演算には金属有りと判定され
た被検査体についての影響値は含めない。
The calculation of the average value of the influence value and the noise level value is performed so that the fluctuation tendency in substantially the same time zone is obtained. The calculation of the average value does not include the influence value of the test object determined to have metal.

【0081】ここで、制御手段50は、影響値の変動傾
向と雑音レベルの変動傾向とを比較し、被検査体自身に
よる磁界への影響度合いの変動がある否か、および雑音
レベルの変動があるか否かを判定し、被検査体自身によ
る磁界への影響度合いの変動に対しては、移相器29の
移相量や判定手段41の基準値を可変制御し、雑音レベ
ルの変動に対しては、判定手段41の基準値を可変制御
している。
Here, the control means 50 compares the variation tendency of the influence value with the variation tendency of the noise level, and determines whether there is a variation in the degree of influence on the magnetic field by the test object itself and whether the noise level varies. It is determined whether or not there is a change in the degree of influence of the test object itself on the magnetic field, and the amount of phase shift of the phase shifter 29 and the reference value of the determination means 41 are variably controlled to reduce the noise level. On the other hand, the reference value of the determination means 41 is variably controlled.

【0082】即ち、影響値と雑音レベルがともに増加傾
向で両者の変動量がほぼ対応している場合、あるいは、
両者がともに減少傾向で両者の変動量がほぼ対応してい
る場合には、被検査体自身による磁界への影響度合いは
変化しておらず、雑音レベルの増加または減少に起因し
て影響値が増加または減少したものと判断し、このとき
の影響値の最終平均値と前記した金属が混入されている
サンプルについての判定対象値Zbとのほぼ中間となる
値に基準値を変更する。
That is, when the influence value and the noise level are both increasing, and the fluctuation amounts of the two substantially correspond to each other, or
If both of them tend to decrease and the fluctuations of both correspond roughly, the degree of influence of the test object on the magnetic field has not changed, and the influence value has increased due to the increase or decrease of the noise level. It is determined that the value has increased or decreased, and the reference value is changed to a value that is substantially intermediate between the final average value of the influence values at this time and the determination target value Zb for the sample mixed with the metal.

【0083】また、影響値の変動が増加傾向で雑音レベ
ルの変動が認められない場合には、被検査体自身の磁界
に与える影響が大きくなっていると判断し、被検査体に
よる磁界の変化を検出するための検出条件である移相器
29の移相量を、影響値の増加傾向を抑圧する方向に可
変制御する。なお、この移相量の可変制御で影響値の増
加傾向を十分抑圧できない場合には、前記同様に基準値
を上げるように制御する。
If the fluctuation of the influence value is increasing and no fluctuation of the noise level is recognized, it is determined that the influence on the magnetic field of the test object itself is large, and the change of the magnetic field by the test object is determined. The phase shift amount of the phase shifter 29, which is a detection condition for detecting the phase shift, is variably controlled in a direction to suppress the tendency of the influence value to increase. If the increasing tendency of the influence value cannot be sufficiently suppressed by the variable control of the amount of phase shift, control is performed to increase the reference value in the same manner as described above.

【0084】また、影響値の変動が認められない状態で
雑音レベルの変動が減少傾向にある場合にも、被検査体
自身による磁界への影響が大きくなっていると判断し、
雑音レベルの減少傾向に合わせて影響値が減少するよう
に、移相器29の移相量を可変制御する。なお、この制
御によって影響値が減少する場合には、これに応じて基
準値を下げるように制御する。
Also, when the fluctuation of the noise level tends to decrease in the state where the fluctuation of the influence value is not recognized, it is determined that the influence of the test object itself on the magnetic field is large.
The phase shift amount of the phase shifter 29 is variably controlled so that the influence value decreases in accordance with the noise level decreasing tendency. When the influence value is reduced by this control, control is performed so as to lower the reference value accordingly.

【0085】また、影響値が減少傾向で雑音レベルに変
動が認められない場合には、被検査体自身による磁界へ
の影響度合いが減少しているものとして、この影響値の
減少傾向に合わせて基準値を下げるように制御する。
When the influence value is decreasing and the noise level does not change, it is assumed that the degree of influence of the test object on the magnetic field is decreasing, and the influence value is adjusted in accordance with the decreasing tendency of the influence value. Control to lower the reference value.

【0086】なお、基準値の可変については、前記した
金属が混入されているサンプルについての判定対象値Z
bより低い値が上限値となり、また、移相量についても
上限値や下限値があるので、基準値および移相量がこれ
らの上限値や下限値に達する場合には制御手段50から
アラームを出力して、制御限界に達したことを報知す
る。
Note that the reference value is varied with respect to the determination target value Z for the sample in which the metal is mixed.
Since the value lower than b becomes the upper limit value and the phase shift amount also has the upper limit value and the lower limit value, when the reference value and the phase shift amount reach these upper limit value and lower limit value, the control unit 50 issues an alarm. Output to notify that the control limit has been reached.

【0087】このように、被検査体による磁界の変化を
検出するための検出条件や判定の基準値を、影響値の変
動や雑音レベルの変動に応じて可変制御することによ
り、常に最良の条件で金属の検出を行うことができ、被
検査体自身による磁界への影響度合いの変動や雑音レベ
ルの変動による誤判定を未然に防止できる。
As described above, the detection condition for detecting the change in the magnetic field due to the object to be inspected and the reference value for determination are variably controlled in accordance with the change in the influence value and the change in the noise level, so that the best condition is always obtained. Can be used to detect metal, and erroneous determination due to a change in the degree of influence on the magnetic field or a change in the noise level due to the test object itself can be prevented.

【0088】なお、このように自動的に検出条件や基準
値を可変制御する場合には、影響値や雑音レベル値の表
示機能を省略することも可能であるが、影響値や雑音レ
ベルの表示を前記実施形態と同様に行なうことで、制御
手段50による影響値の変動抑圧効果等を確認したり、
雑音の発生要因等を調べることができ、また、制御手段
50の制御パラメータを調整するときの目安としても利
用できる。
When the detection condition and the reference value are automatically variably controlled as described above, the display function of the influence value and the noise level value can be omitted. Is performed in the same manner as in the above-described embodiment, the effect of suppressing the fluctuation of the influence value by the control unit 50 or the like is confirmed.
It is possible to check the noise generation factor and the like, and it can also be used as a guide when adjusting the control parameters of the control means 50.

【0089】[0089]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項1
の金属検出機は、判定対象値をその被検査体自身が磁界
に与える影響度合いを示す影響値として順次記憶し、こ
れをその経時的な変動が識別できるように表示装置の画
面上にグラフ表示している。
As described above, according to the first aspect of the present invention,
The metal detector sequentially stores the value to be determined as an influence value indicating the degree of influence of the test object itself on the magnetic field, and displays the value on a screen of a display device in a graph so that its variation with time can be identified. are doing.

【0090】このため、被検査体自身が磁界に与える影
響度合いの変動の傾向を簡単に把握でき、その変動によ
る誤判定等が生じる前に適切な処置がおこなえ、常に最
良条件で金属の検出ができる。
For this reason, it is possible to easily grasp the tendency of the variation of the degree of influence of the test object itself on the magnetic field, to take appropriate measures before erroneous determination or the like due to the variation, and to always detect the metal under the best conditions. it can.

【0091】また、請求項2の金属検出機では、影響値
とともに雑音レベルの変動を把握できるようにしたの
で、被検査体自身の磁界に与える影響度合いの変動と雑
音レベルの変動とに基づいて、それらの変動による誤判
定等が生じる前に適切な処置がおこなえ、常に最良条件
で金属の検出ができる。
Further, in the metal detector according to the present invention, since the fluctuation of the noise level can be grasped together with the influence value, the metal detector can be based on the fluctuation of the degree of influence on the magnetic field of the test object itself and the fluctuation of the noise level. Appropriate measures can be taken before erroneous determinations or the like due to such fluctuations occur, and metal can always be detected under the best conditions.

【0092】また、請求項3の金属検出機は、判定対象
値をその被検査体自身が磁界に与える影響度合いを示す
影響値として順次記憶し、その影響値に基づいて、被検
査体による磁界の変化を検出するための検出条件または
判定の基準値を可変制御している。
Further, the metal detector according to claim 3 sequentially stores the value to be determined as an influence value indicating the degree of influence of the test object itself on the magnetic field, and based on the influence value, the magnetic field generated by the test object. Variably controls the detection condition for detecting the change in the threshold value or the reference value for determination.

【0093】このため、運転中に調整操作等をすること
なく被検査体自身による磁界への影響度合いの変動によ
る誤判定を未然に防止でき、常に最良条件で金属の検出
ができる。
For this reason, it is possible to prevent erroneous determination due to a change in the degree of influence on the magnetic field by the test object itself without performing an adjustment operation or the like during driving, and it is possible to always detect metal under the best conditions.

【0094】また、請求項4の金属検出機では、影響値
とともに雑音レベルを順次記憶し、影響値と雑音レベル
とに基づいて被検査体による磁界の変化を検出するため
の検出条件および判定の基準値を可変制御できるように
したので、被検査体自身の磁界に与える影響と雑音によ
る影響とを区別することができ、より正確な制御が行え
る。
Further, in the metal detector according to the present invention, the noise level is sequentially stored together with the influence value, and the detection condition and the judgment condition for detecting the change of the magnetic field due to the test object based on the influence value and the noise level are determined. Since the reference value can be variably controlled, the influence on the magnetic field of the test object itself and the influence of noise can be distinguished, and more accurate control can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態の構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】実施形態の送信コイルと受信コイルの配置の例
を示す図
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of an arrangement of a transmission coil and a reception coil according to the embodiment;

【図3】検波回路の構成例を示すブロック図FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration example of a detection circuit.

【図4】実施形態の動作を説明するための表示例を示す
FIG. 4 is an exemplary view showing a display example for explaining the operation of the embodiment;

【図5】実施形態の動作を説明するための表示例を示す
FIG. 5 is a view showing a display example for explaining the operation of the embodiment;

【図6】本発明の他の実施形態の構成を示すブロック図FIG. 6 is a block diagram showing the configuration of another embodiment of the present invention.

【図7】従来装置の構成を示すブロック図FIG. 7 is a block diagram showing the configuration of a conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20、20′ 金属検出機 21 磁界発生手段 22 信号発生器 23 送信コイル 24、25 受信コイル 26 進入センサ 29 移相器 30 移相量設定手段 31 検波回路 40 判定対象値検出手段 41 判定手段 42 基準値設定手段 43 判定結果表示器 45 影響値記憶手段 46 雑音レベル記憶手段 47 表示制御手段 48 表示装置 49 表示切換手段 50 制御手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 20, 20 'Metal detector 21 Magnetic field generating means 22 Signal generator 23 Transmitting coil 24, 25 Receiving coil 26 Ingress sensor 29 Phase shifter 30 Phase shift amount setting means 31 Detection circuit 40 Judgment value detecting means 41 Judging means 42 Reference Value setting means 43 Judgment result display 45 Influence value storage means 46 Noise level storage means 47 Display control means 48 Display device 49 Display switching means 50 Control means

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野崎 隆次 東京都港区南麻布五丁目10番27号 アンリ ツ株式会社内 Fターム(参考) 2G005 CA02  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Ryuji Nozaki 5-10-27 Minamiazabu, Minato-ku, Tokyo Anritsu Corporation F-term (reference) 2G005 CA02

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被検査体の通過経路に磁界を発生し、該磁
界中を通過した被検査体による磁界の変化を検出し、該
検出信号から金属の有無を判定するための判定対象値を
検出し、該検出した判定対象値と基準値とを比較して被
検査体中の金属の有無を判定する金属検出機において、 被検査体についての判定対象値を、該被検査体自身が磁
界に与える影響度合いを示す影響値として順次記憶する
影響値記憶手段と、 表示装置と、 前記影響値記憶手段に記憶された影響値を、その経時的
な変化が識別できるように前記表示装置の画面にグラフ
表示する表示制御手段とを設けたことを特徴とする金属
検出機。
A magnetic field is generated in a passage of a test object, a change in a magnetic field caused by the test object passing through the magnetic field is detected, and a determination target value for determining the presence or absence of metal from the detection signal is determined. A metal detector for detecting and comparing the detected determination target value with a reference value to determine the presence or absence of metal in the test object, wherein the test target value of the test object is determined by the magnetic field of the test object itself. Value storage means for sequentially storing as an influence value indicating the degree of influence on a display device; and a screen of the display device so that the influence value stored in the influence value storage means can be identified by a change with time. And a display control means for displaying a graph.
【請求項2】前記磁界中に被検査体がないときの前記検
出信号のレベルを雑音レベル値として順次記憶する雑音
レベル記憶手段を備え、 前記表示制御手段は、前記影響値の他に前記雑音レベル
記憶手段に記憶された雑音レベル値を、その経時的な変
化が識別できるように前記表示装置の画面にグラフ表示
することを特徴とする請求項1記載の金属検出機。
2. The apparatus according to claim 1, further comprising noise level storage means for sequentially storing, as a noise level value, the level of the detection signal when the object to be inspected is not present in the magnetic field; 2. The metal detector according to claim 1, wherein the noise level value stored in the level storage means is graphically displayed on a screen of the display device so that a change with time can be identified.
【請求項3】被検査体の通過経路に磁界発生部から磁界
を発生し、該磁界中を通過した被検査体による磁界の変
化を検出し、該検出信号から金属の有無を判定するため
の判定対象値を検出し、該検出した判定対象値と基準値
とを比較して被検査体中の金属の有無を判定する金属検
出機において、 被検査体についての判定対象値を、該被検査体自身が磁
界に与える影響度合いを示す影響値として順次記憶する
影響値記憶手段と、 前記影響値記憶手段に記憶された影響値に基づいて、被
検査体による磁界の変化を検出するための検出条件また
は判定の基準値を可変制御する制御手段とを設けたこと
を特徴とする金属検出機。
3. A method for generating a magnetic field from a magnetic field generator in a path of a test object, detecting a change in a magnetic field caused by the test object passing through the magnetic field, and judging the presence or absence of metal from the detection signal. A metal detector for detecting a value to be determined and comparing the detected value to be determined with a reference value to determine the presence or absence of a metal in the object to be inspected. Influence value storage means for sequentially storing as an influence value indicating the degree of influence of the body itself on the magnetic field; and detection for detecting a change in the magnetic field due to the test object based on the influence value stored in the influence value storage means. A metal detector provided with control means for variably controlling a condition or a reference value for determination.
【請求項4】前記磁界中に被検査体がないときの前記検
出信号のレベルを雑音レベル値として順次記憶する雑音
レベル記憶手段とを備え、 前記制御手段は、前記影響値記憶手段に記憶された影響
値および前記雑音レベル記憶手段に記憶された雑音レベ
ル値に基づいて、被検査体による磁界の変化を検出する
ための検出条件または判定の基準値を可変制御すること
を特徴とする請求項3記載の金属検出機。
4. A noise level storage means for sequentially storing, as a noise level value, the level of the detection signal when the test object is not present in the magnetic field, wherein the control means is stored in the influence value storage means. And variably controlling a detection condition for detecting a change in a magnetic field due to the test object or a reference value for determination based on the influence value and the noise level value stored in the noise level storage means. 3. The metal detector according to 3.
JP12403099A 1999-04-30 1999-04-30 Metal detector Expired - Lifetime JP3665713B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12403099A JP3665713B2 (en) 1999-04-30 1999-04-30 Metal detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12403099A JP3665713B2 (en) 1999-04-30 1999-04-30 Metal detector

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000314776A true JP2000314776A (en) 2000-11-14
JP3665713B2 JP3665713B2 (en) 2005-06-29

Family

ID=14875304

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12403099A Expired - Lifetime JP3665713B2 (en) 1999-04-30 1999-04-30 Metal detector

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3665713B2 (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100650628B1 (en) 2005-10-18 2006-12-01 (주)세바시큐리티 Operating method of gun detecting system
KR100650630B1 (en) 2005-10-18 2006-12-01 (주)세바시큐리티 Method for detecting gun of gun detecting system
JP2007263836A (en) * 2006-03-29 2007-10-11 Anritsu Sanki System Co Ltd Foreign material detector
WO2010150688A1 (en) * 2009-06-25 2010-12-29 Ntn株式会社 Oil check sensor
JP2012519287A (en) * 2009-03-02 2012-08-23 マイクロ−エプシロン・メステヒニク・ゲーエムベーハー・ウント・コンパニー・カー・ゲー Position sensor
JP2016070780A (en) * 2014-09-30 2016-05-09 アンリツインフィビス株式会社 Article inspection device
JP7441097B2 (en) 2019-04-17 2024-02-29 メトラー-トレド・セーフライン・リミテッド How to operate a metal detector, and metal detectors

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100650628B1 (en) 2005-10-18 2006-12-01 (주)세바시큐리티 Operating method of gun detecting system
KR100650630B1 (en) 2005-10-18 2006-12-01 (주)세바시큐리티 Method for detecting gun of gun detecting system
JP2007263836A (en) * 2006-03-29 2007-10-11 Anritsu Sanki System Co Ltd Foreign material detector
JP2012519287A (en) * 2009-03-02 2012-08-23 マイクロ−エプシロン・メステヒニク・ゲーエムベーハー・ウント・コンパニー・カー・ゲー Position sensor
WO2010150688A1 (en) * 2009-06-25 2010-12-29 Ntn株式会社 Oil check sensor
JP2016070780A (en) * 2014-09-30 2016-05-09 アンリツインフィビス株式会社 Article inspection device
JP7441097B2 (en) 2019-04-17 2024-02-29 メトラー-トレド・セーフライン・リミテッド How to operate a metal detector, and metal detectors

Also Published As

Publication number Publication date
JP3665713B2 (en) 2005-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4198712B2 (en) Metal detector
JP2000314776A (en) Metal detector
JP2008256718A (en) Metal detector
JP3779508B2 (en) Metal detector
JP4141987B2 (en) Metal detector
JP4145883B2 (en) Metal detector
JP3658523B2 (en) Metal detector
JP7343262B2 (en) metal detector
JP3089123B2 (en) Metal detector
JPS6078378A (en) Metal detector
JP4156577B2 (en) Metal detector
JP4202344B2 (en) Metal detector
US6479993B1 (en) Method of detecting foreign matter and apparatus therefor
JPH01254857A (en) Eddy current flaw detector
JP2001091662A (en) Metal detector
JP2006038637A (en) Metal detecting apparatus
JP2990469B2 (en) Metal detector
JP2001013260A (en) Foreign matter detector
JPH05100047A (en) Metal detector
JP3096788B2 (en) Metal detector
JP3722220B2 (en) Metal detector
JPS63234173A (en) Partial electric discharge measuring instrument
JP2002168834A (en) Metal detector
JP2006214936A (en) Metal detector
JPH0587942A (en) Metal detector

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040820

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041124

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050119

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050315

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050404

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090408

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090408

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100408

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110408

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120408

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130408

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130408

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140408

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term