JP2000243693A - Stage device and aligner - Google Patents

Stage device and aligner

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JP2000243693A
JP2000243693A JP11044567A JP4456799A JP2000243693A JP 2000243693 A JP2000243693 A JP 2000243693A JP 11044567 A JP11044567 A JP 11044567A JP 4456799 A JP4456799 A JP 4456799A JP 2000243693 A JP2000243693 A JP 2000243693A
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JP
Japan
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stage
substrate
mask
exposure apparatus
axis direction
Prior art date
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Pending
Application number
JP11044567A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuo Aoki
保夫 青木
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a stage device which is high in stability of stage, and can perform highly accurate positioning and shifting. SOLUTION: This is a stage device which is equipped with a stage shifting in noncontact on the shifting face made on a surface plate 11. A bearing assembly 18 is interposed between the bottom of the stage and the shifting face of the surface plate 11. The air bearing assembly 18 is equipped with an parallel board spring mechanism 21 and an actuator 22 which expands and shrinks in the direction of Z axis, and a controller 23 adjusts the attitude of the stage 15 itself so that the surface of a board 26 retained on the stage 15 may accord with the specified reference by controlling the operation of the actuator 22, based on the focus signal from a focus sensor 35.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、移動対象物を移動
するためのステージ装置及び該ステージ装置を備えた露
光装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a stage device for moving a moving object and an exposure apparatus having the stage device.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、液晶ディスプレイ、半導体デバ
イス、撮像装置(CCD等)、又は薄膜磁気ヘッド等の
マイクロデバイスの製造に使用される露光装置には、フ
ォトマスク(又はレチクル等)又はガラス基板(又はウ
エハ等)を位置決めするためのステージ装置としてマス
クステージ又は基板ステージが使用される。
2. Description of the Related Art For example, a photomask (or a reticle or the like) or a glass substrate (a reticle) is used in an exposure apparatus used for manufacturing a micro device such as a liquid crystal display, a semiconductor device, an imaging device (CCD or the like), or a thin film magnetic head. Alternatively, a mask stage or a substrate stage is used as a stage device for positioning a wafer or the like.

【0003】最近では、マスク及び基板を投影光学系に
対して同期走査することにより、マスクのパターンを逐
次基板上に転写する走査型の露光装置も使用されている
が、かかる走査型の露光装置に使用されるステージ装置
では、マスク及び基板を一定速度で高精度に走査する機
能も求められている。
Recently, a scanning type exposure apparatus which sequentially transfers a mask pattern onto a substrate by synchronously scanning a mask and a substrate with respect to a projection optical system has been used. The stage device used in the above is also required to have a function of scanning the mask and the substrate at a constant speed with high accuracy.

【0004】図4は従来のステージ装置を備えた露光装
置の概略構成を示しており、同図に示す露光装置は、液
晶ディスプレイを製造するための走査型の投影露光装置
である。
FIG. 4 shows a schematic configuration of an exposure apparatus provided with a conventional stage apparatus. The exposure apparatus shown in FIG. 4 is a scanning projection exposure apparatus for manufacturing a liquid crystal display.

【0005】防振装置等を介して床面上に設置された定
盤61上に、X軸方向に延在するガイドビーム62が設
けられており、これを跨ぐように基板ステージ63が設
けられている。基板ステージ63は、複数のエアベアリ
ング64Aにより定盤61上に非接触で載置されている
とともに、エアベアリング64Bによりガイドビーム6
2に沿って非接触で往復移動できるようになっている。
基板ステージ63は不図示の駆動装置(リニアモータ
等)により駆動される。
A guide beam 62 extending in the X-axis direction is provided on a surface plate 61 installed on the floor via a vibration isolator or the like, and a substrate stage 63 is provided so as to straddle the guide beam 62. ing. The substrate stage 63 is placed on the surface plate 61 in a non-contact manner by a plurality of air bearings 64A, and the guide beam 6 is moved by an air bearing 64B.
2 can be reciprocated in a non-contact manner.
The substrate stage 63 is driven by a driving device (such as a linear motor) not shown.

【0006】なお、基板ステージ63を定盤61上に支
持するエアベアリング64Aの数は、4個又は3個が一
般的である。但し、4個の場合は調整が難しく、いずれ
か一つが浮いてしまうという欠点があり、3個の場合に
は、かかる欠点はないが、加速時の姿勢安定性がやや落
ちるという欠点がある。
The number of air bearings 64A for supporting the substrate stage 63 on the surface plate 61 is generally four or three. However, in the case of four, it is difficult to adjust and one of them is floated. In the case of three, there is no such a disadvantage, but there is a disadvantage that the attitude stability during acceleration is slightly lowered.

【0007】基板ステージ63上には、Z軸方向(上下
方向)に変位する複数のアクチュエータ65Aを介して
基板ホルダ65が載置されている。露光対象としての基
板66は、真空吸着により基板ホルダ65の上面に矯正
固定されるようになっている。
On the substrate stage 63, a substrate holder 65 is placed via a plurality of actuators 65A which are displaced in the Z-axis direction (vertical direction). The substrate 66 to be exposed is fixed to the upper surface of the substrate holder 65 by vacuum suction.

【0008】定盤61上には第1コラム72が固定され
ており、第1コラム72上にはさらに第2コラム73が
固定されている。第1コラム72の中央部には投影光学
系67が固定されている。また、第1コラム72には、
該投影光学系67の上側に、エアベアリング等を介して
X軸方向に移動可能にマスクホルダ68が設けられてお
り、このマスクホルダ68はリニアモータ等の駆動装置
を有するステージ装置によりX方向に移動される。マス
クホルダ68には、転写すべき微細パターンが形成され
たマスク69が着脱自在に取り付けられる。
A first column 72 is fixed on the surface plate 61, and a second column 73 is further fixed on the first column 72. A projection optical system 67 is fixed to the center of the first column 72. In the first column 72,
A mask holder 68 is provided above the projection optical system 67 via an air bearing or the like so as to be movable in the X-axis direction. The mask holder 68 is moved in the X direction by a stage device having a driving device such as a linear motor. Be moved. A mask 69 on which a fine pattern to be transferred is formed is detachably attached to the mask holder 68.

【0009】ランプ等を有する光源71からの照明光
は、第2コラム73にその一部が支持された照明光学系
70により導かれて、マスク69が照明され、該マスク
69に形成されたパターンの像が投影光学系67を介し
て基板66上に結像される。この照明光はY軸方向に細
長いスリット光であり、このスリット光に対して、マス
ク69及び基板66を同期移動することにより、マスク
69上のパターンが基板66上に転写される。
Illumination light from a light source 71 having a lamp or the like is guided by an illumination optical system 70 partially supported by a second column 73 to illuminate a mask 69 and to form a pattern formed on the mask 69. Is formed on the substrate 66 via the projection optical system 67. The illumination light is slit light elongated in the Y-axis direction, and the pattern on the mask 69 is transferred onto the substrate 66 by synchronously moving the mask 69 and the substrate 66 with respect to the slit light.

【0010】ところで、微細パターンを高解像度で基板
66上に結像させるためには、開口数(N.A.)を大
きくする必要があるので、これに伴い焦点深度(D.
O.F)は浅くなる。このため、基板66等を移動する
ステージ装置やその移動の基準となる定盤11等には高
精度、高剛性が要求され、コスト増、重量増の原因とな
っている。
Incidentally, in order to form a fine pattern on the substrate 66 with high resolution, it is necessary to increase the numerical aperture (NA).
O. F) becomes shallow. For this reason, high precision and high rigidity are required for the stage device that moves the substrate 66 and the like and the surface plate 11 and the like that serve as a reference for the movement, which causes an increase in cost and weight.

【0011】かかる点の改善及び露光精度の向上等の観
点から、走査露光中においては、基板66の表面(露光
面)の傾き及びZ軸方向の位置を検出し、上述した複数
のアクチュエータ65Aを全体的にあるいは選択的に作
動することにより、基板66の表面を投影光学系67の
結像面に正確に合わせ込むようにしている。
From the viewpoints of improving such points and improving the exposure accuracy, during scanning exposure, the inclination of the surface (exposed surface) of the substrate 66 and the position in the Z-axis direction are detected, and the plurality of actuators 65A described above are operated. The whole or selective operation ensures that the surface of the substrate 66 is accurately aligned with the image plane of the projection optical system 67.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術によると、基板の姿勢を調整するためのアクチュエー
タはステージとホルダとの間に設けられており、このた
めステージ装置のZ軸方向の寸法が大きくなる、即ち、
定盤表面からホルダ表面までの寸法が大きくなり、重心
が高いために安定性が劣化し、ステージの運動性能に悪
影響を与えている。
However, according to the prior art, the actuator for adjusting the posture of the substrate is provided between the stage and the holder, and therefore, the dimension of the stage device in the Z-axis direction is large. Becomes, that is,
The dimensions from the surface of the surface plate to the surface of the holder are large, and the center of gravity is high, so that the stability is deteriorated and the motion performance of the stage is adversely affected.

【0013】また、マスクや基板を移動するためのステ
ージ装置を備えた露光装置においては、ステージの安定
性が低いと、露光精度が低下し、品質の高いマイクロデ
バイスを製造することができない場合がある。
In an exposure apparatus provided with a stage device for moving a mask or a substrate, if the stability of the stage is low, the exposure accuracy is reduced, and a high-quality micro device may not be manufactured. is there.

【0014】本発明はこのような従来技術の問題点に鑑
みてなされたものであり、ステージの安定性が高いステ
ージ装置を提供することを目的とする。また、高品質な
マイクロデバイスを製造できる露光装置を提供すること
を目的とする。
The present invention has been made in view of such problems of the prior art, and has as its object to provide a stage device having a high stage stability. Another object of the present invention is to provide an exposure apparatus capable of manufacturing a high-quality micro device.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】以下、この項に示す説明
では、理解の容易化のため、本発明の各構成要件に実施
の形態の図に示す参照符号を付して説明するが、本発明
の各構成要件は、これら参照符号によって限定されるも
のではない。
Means for Solving the Problems In the following description, in order to facilitate understanding, each constituent element of the present invention will be described with reference numerals shown in the drawings of the embodiments. The constituent elements of the invention are not limited by these reference numerals.

【0016】本発明によるステージ装置は、定盤(1
1)に形成された移動面を非接触ベアリング(19)を
介して非接触で移動するステージ(15)を備えたステ
ージ装置において、前記移動面とほぼ直交する方向に変
位する変位装置(22)を前記ステージ(15)と前記
非接触ベアリング(19)との少なくとも一方に接続し
たことを特徴とする。
The stage device according to the present invention comprises a platen (1
In a stage apparatus provided with a stage (15) for moving a moving surface formed in 1) in a non-contact manner through a non-contact bearing (19), a displacement device (22) for displacing in a direction substantially orthogonal to the moving surface. Is connected to at least one of the stage (15) and the non-contact bearing (19).

【0017】この場合において、前記ステージ(15)
に保持される移動対象物(26)の所定の基準に対する
傾き及び位置の少なくとも一方を計測する計測装置(3
5)と、前記計測装置(35)の計測結果に基づき、前
記移動対象物(26)が前記所定の基準に整合するよう
に、前記変位装置(22)の変位量をそれぞれ独立的に
制御する制御装置(23)を設けることができる。
In this case, the stage (15)
Measuring device (3) for measuring at least one of the inclination and the position of the moving object (26) held by
5) and independently controlling the displacement amount of the displacement device (22) based on the measurement result of the measurement device (35) such that the moving object (26) matches the predetermined reference. A control device (23) can be provided.

【0018】また、前記変位装置としては、前記ステー
ジ(15)と前記非接触ベアリング(19)との相対姿
勢が維持された状態で相対距離が変更自在となるように
該ステージ(15)と該非接触ベアリング(19)とを
互いに結合する支持装置(21)と、前記ステージ(1
5)と前記非接触ベアリング(19)の相対距離を変更
するアクチュエータ(22)を組み合わせたものを採用
することができる。この場合における前記支持装置とし
ては、互いに略平行に配置された一対の板バネを有する
平行板バネ機構(21)を採用することができる。
[0018] The displacement device may include a stage (15) and a non-contact bearing (19) so that a relative distance between the stage (15) and the non-contact bearing (19) can be changed while maintaining a relative posture. A support device (21) for connecting the contact bearings (19) to each other;
A combination of 5) and an actuator (22) for changing the relative distance between the non-contact bearing (19) can be adopted. In this case, as the supporting device, a parallel leaf spring mechanism (21) having a pair of leaf springs arranged substantially parallel to each other can be adopted.

【0019】本発明によると、ステージと非接触ベアリ
ングとの少なくとも一方に接続した変位装置を設けたの
で、ステージ自体の姿勢を制御することが可能となり、
ステージに直接的に移動対象物(基板、マスク等)を保
持するためのホルダ等を設け、あるいは該ステージ自体
を該ホルダとすることが可能となり、従来技術のよう
に、該ホルダを変位させるための装置を必要としないか
ら、その分だけ、ステージ装置の高さを減少することが
できる。従って、ステージ装置の重心を従来よりも低く
することができ、ステージの安定性が高く位置決めや移
動の精度を向上することができる。
According to the present invention, since the displacement device connected to at least one of the stage and the non-contact bearing is provided, the attitude of the stage itself can be controlled,
It is possible to provide a holder or the like for directly holding a moving object (substrate, mask, etc.) on the stage, or to use the stage itself as the holder, and to displace the holder as in the related art. Since the above device is not required, the height of the stage device can be reduced correspondingly. Therefore, the center of gravity of the stage device can be made lower than before, and the stability of the stage is high and the accuracy of positioning and movement can be improved.

【0020】また、本発明による露光装置は、パターン
が形成されたマスク(30)を介して基板(26)を露
光する露光装置であって、前記マスク(30)及び前記
基板(26)の少なくとも一方を、前記本発明によるス
テージ装置の前記ステージ(15)に保持するようにし
たことを特徴とする。このようなステージ装置を備えた
本発明の露光装置によれば、ステージ装置の安定性が高
く位置決めや移動の精度が高いので、高精度、高品質な
マイクロデバイスを製造することができるようになる。
The exposure apparatus according to the present invention is an exposure apparatus for exposing a substrate (26) through a mask (30) on which a pattern is formed, wherein at least the mask (30) and the substrate (26) are exposed. One is held on the stage (15) of the stage device according to the present invention. According to the exposure apparatus of the present invention including such a stage device, the stability of the stage device is high and the accuracy of positioning and movement is high, so that a high-precision, high-quality micro device can be manufactured. .

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図1は本発明の実施の形態の露光
装置の全体の概略構成を示す正面図、図2はこの露光装
置に採用されたステージ装置の平面図、図3は同じくス
テージ装置の要部を拡大した図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a front view showing the overall schematic configuration of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of a stage apparatus employed in the exposure apparatus, and FIG. FIG.

【0022】この実施の形態における露光装置は、液晶
ディスプレイを製造するため、画面継ぎを行いつつ複数
回の走査露光を行うスキャン型の投影露光装置である。
The exposure apparatus according to the present embodiment is a scan type projection exposure apparatus that performs a plurality of scanning exposures while connecting screens in order to manufacture a liquid crystal display.

【0023】同図において、11は石、セラミックスあ
るいは鉄等の高剛性の部材からなる定盤であり、定盤1
1はピエゾダンパー、空気式ダンパーなどの防振装置1
2を介して床面13上に設置されている。定盤11上に
は、X軸方向(図1の紙面に直交する方向)に延在する
ガイドビーム14が設けられており、その上側に基板ス
テージ15が設けられている。
In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a surface plate made of a highly rigid member such as stone, ceramics or iron.
1 is a vibration isolator 1 such as a piezo damper or a pneumatic damper
It is installed on the floor surface 13 through 2. A guide beam 14 extending in the X-axis direction (a direction orthogonal to the paper surface of FIG. 1) is provided on the surface plate 11, and a substrate stage 15 is provided above the guide beam 14.

【0024】ガイドビーム14は、図2に示されている
ように、複数(この実施の形態では3個)のエアベアリ
ング16Aを介して、定盤11上に非接触で支持されて
おり、Y軸方向(図1の紙面に沿う左右方向)に延在す
るように定盤11上に一体的に取り付けられたガイドレ
ール17に沿って移動できるようになっている。ガイド
ビーム14のガイドレール17に対する摺動部分にも複
数(この実施の形態では4個)のエアベアリング16B
が介装されることにより、非接触で移動できるようにな
っている。ガイドビーム14は、不図示のリニアモータ
等を備えた駆動装置により駆動される。
As shown in FIG. 2, the guide beam 14 is supported on the surface plate 11 through a plurality of (three in this embodiment) air bearings 16A in a non-contact manner. It is configured to be movable along a guide rail 17 integrally mounted on the surface plate 11 so as to extend in the axial direction (the left-right direction along the plane of FIG. 1). A plurality of (four in this embodiment) air bearings 16B are also provided on the sliding portion of the guide beam 14 with respect to the guide rail 17.
By being interposed, it is possible to move in a non-contact manner. The guide beam 14 is driven by a driving device including a linear motor (not shown).

【0025】基板ステージ15は、複数(この実施の形
態では4個)のエアベアリング・アセンブリ18によっ
て、定盤11上にZ軸方向(図1の紙面に沿う上下方
向)に非接触で載置されるとともに、ガイドビーム14
に沿って非接触でX軸方向に往復移動できるようになっ
ている。基板ステージ15は不図示のリニアモータ等を
備えた駆動装置により駆動される。なお、基板ステージ
15を定盤11上に支持するエアベアリング・アセンブ
リ18の数は、この実施の形態では、安定性を考慮して
左右対称となるように4個としているが、3点支持の利
点を考慮してガイドビーム14に対して一方の側に2
個、他方の側に1個の計3個としてもよい。
The substrate stage 15 is mounted on the surface plate 11 by a plurality (four in this embodiment) of air bearing assemblies 18 in a non-contact manner in the Z-axis direction (vertical direction along the plane of FIG. 1). And guide beam 14
Can be reciprocated in the X-axis direction in a non-contact manner along. The substrate stage 15 is driven by a driving device including a linear motor (not shown). In this embodiment, the number of the air bearing assemblies 18 for supporting the substrate stage 15 on the surface plate 11 is four in this embodiment so as to be symmetrical in consideration of stability. 2 on one side with respect to the guide beam 14 taking into account the advantages
And one on the other side, for a total of three.

【0026】エアベアリング・アセンブリ18は、図3
に最も良く示されているように、基板ステージ15をZ
軸方向に浮上させて定盤11上で移動できるようにする
ための例えばエアベアリングなどの非接触ベアリングで
あるベースベアリング19と、ガイドビーム14に沿っ
て非接触移動できるようにするためのエアベアリングで
あるヨーベアリング20と、平行板バネ機構21と、直
動アクチュエータ22とを備えて構成されている。
The air bearing assembly 18 is shown in FIG.
As best shown in FIG.
A base bearing 19 which is a non-contact bearing such as an air bearing for floating on the surface plate 11 by floating in the axial direction, and an air bearing for allowing non-contact movement along the guide beam 14. , A parallel leaf spring mechanism 21, and a linear motion actuator 22.

【0027】ヨーベアリング20はガイドビーム14の
側面に対面するエアパッド部20Aと基板ステージ15
の下面に取り付けるための取付部20Bを有するように
略L字形状に形成された部材であり、ベースベアリング
19は定盤11の表面(移動面)に対面するエアパッド
部19Aとこれに対して立設された立設部19Bを有す
るように同じく略L字形状に形成された部材である。
The yaw bearing 20 includes an air pad portion 20 A facing the side surface of the guide beam 14 and the substrate stage 15.
The base bearing 19 includes an air pad 19A facing the surface (moving surface) of the surface plate 11 and an air pad 19A standing up against the surface. It is also a member formed in a substantially L-shape so as to have the provided standing portion 19B.

【0028】ベースベアリング19は、一対の平行に配
置された板バネを備えた平行板バネ機構21を介して、
ヨーベアリング20に取り付けられている。この平行板
バネ機構21は、ベースベアリング19のエアパッド部
19Aの定盤11に対する対向面と、ヨーベアリング2
0の所定の基準面(この実施の形態では、取付部20B
の基板ステージ15に対する取付面とする)の平行状態
を常に保持した状態でZ軸方向に弾性変形可能であり、
他のX軸方向及びY軸方向には高い剛性を持つ構造を有
している。
The base bearing 19 is connected via a parallel leaf spring mechanism 21 having a pair of parallelly disposed leaf springs.
It is attached to a yaw bearing 20. The parallel leaf spring mechanism 21 includes a surface facing the surface plate 11 of the air pad portion 19 </ b> A of the base bearing 19 and a yaw bearing 2.
0 predetermined reference plane (in this embodiment, the mounting portion 20B
Can be elastically deformed in the Z-axis direction while always maintaining the parallel state of the substrate stage 15).
It has a structure having high rigidity in other X-axis and Y-axis directions.

【0029】また、ベースベアリング19とヨーベアリ
ング20との間には、Z軸方向に伸縮して、これらの相
対位置を変位させる例えばピエゾ素子からなるアクチュ
エータ22が介装されている。このアクチュエータ22
の伸縮方向(Z軸方向)の両端は、この実施の形態では
それぞれベースベアリング19のエアパッド部19A及
びヨーベアリング20の取付部20Bに固定している
が、いずれか一方のみを固定するようにしてもよい。ア
クチュエータ22の作動は、制御装置23からの制御信
号に基づいて制御される。
Between the base bearing 19 and the yaw bearing 20, there is interposed an actuator 22 made of, for example, a piezo element which expands and contracts in the Z-axis direction and displaces their relative positions. This actuator 22
In this embodiment, both ends in the expansion / contraction direction (Z-axis direction) are fixed to the air pad portion 19A of the base bearing 19 and the mounting portion 20B of the yaw bearing 20, respectively, but only one of them is fixed. Is also good. The operation of the actuator 22 is controlled based on a control signal from the control device 23.

【0030】平行板バネ機構21とアクチュエータ22
により、ベースベアリング19のエアパッド部19Aの
定盤11に対する対向面とヨーベアリング20の取付部
20Bの基板ステージ15の下面に対する取付面の相対
位置を、その平行状態を保ったままの状態で自在に変更
することができるようになっており、これらは各エアベ
アリング・アセンブリ18毎に独立的に行うことができ
る。これにより、基板ステージ15の姿勢(基板ステー
ジ15のZ軸方向の位置及びZ軸に直交する面に対する
傾き)を任意に変更調整することができる。なお、アク
チュエータ22としては、ピエゾ素子(圧電素子)に限
られず、ボイスコイルモータ(VCM)、ボールネジと
モータ等による機械的な手段、あるいは空圧、油圧等を
利用したもの等を用いることができる。
Parallel leaf spring mechanism 21 and actuator 22
Thereby, the relative position between the surface of the base pad 19 facing the air pad 19A with respect to the surface plate 11 and the mounting surface of the mounting portion 20B of the yaw bearing 20 with respect to the lower surface of the substrate stage 15 can be freely adjusted while maintaining the parallel state. It can be varied and can be done independently for each air bearing assembly 18. Thereby, the posture of the substrate stage 15 (the position of the substrate stage 15 in the Z-axis direction and the inclination with respect to a plane orthogonal to the Z-axis) can be arbitrarily changed and adjusted. The actuator 22 is not limited to a piezo element (piezoelectric element), but may be a voice coil motor (VCM), a mechanical means such as a ball screw and a motor, or an actuator utilizing pneumatic or hydraulic pressure. .

【0031】基板ステージ15上には、真空吸着用の溝
25を有する基板ホルダ24が直接的に載置固定されて
おり、露光対象(移動対象物)としての基板26(例え
ば、ガラスプレート)は、溝25を介して真空吸着され
ることにより、基板ホルダ24の上面に矯正固定される
ようになっている。
A substrate holder 24 having a groove 25 for vacuum suction is directly mounted and fixed on the substrate stage 15, and a substrate 26 (for example, a glass plate) as an exposure target (moving target) is mounted on the substrate holder 24. By being vacuum-sucked through the groove 25, it is corrected and fixed to the upper surface of the substrate holder 24.

【0032】図1に示されているように、定盤11上に
は第1コラム27が固定されており、第1コラム27上
にはさらに第2コラム28が固定されている。第1コラ
ム27の中央部には投影光学系29が固定されている。
また、第1コラム27には、該投影光学系29の上側に
マスク30を移動するためのステージ装置31が取り付
けられている。このステージ装置31はリニアモータ等
の駆動装置及びエアベアリング等を備えて構成され、マ
スク30を吸着保持したマスクホルダ32をX軸方向に
移動するステージ装置である。マスクホルダ32には、
転写すべき微細パターンが形成されたマスク30が交換
自在に吸着保持される。
As shown in FIG. 1, a first column 27 is fixed on the surface plate 11, and a second column 28 is further fixed on the first column 27. A projection optical system 29 is fixed to the center of the first column 27.
Further, a stage device 31 for moving the mask 30 is attached to the first column 27 above the projection optical system 29. The stage device 31 includes a driving device such as a linear motor, an air bearing, and the like, and is a stage device that moves the mask holder 32 holding the mask 30 by suction in the X-axis direction. In the mask holder 32,
The mask 30 on which the fine pattern to be transferred is formed is exchangeably sucked and held.

【0033】ランプ等を有する光源33からの照明光
は、第2コラム28にその一部が支持された照明光学系
34により導かれて、マスク30が照明される。これに
より、マスク30に形成されたパターンの像が投影光学
系29を介して基板26上に結像される。この照明光は
照明光学系34によりY軸方向に細長いスリット状に整
形されており、このスリット光に対して、マスク30及
び基板26を同期移動することにより、マスク30上の
パターンが基板26上に転写される。
Illumination light from a light source 33 having a lamp or the like is guided by an illumination optical system 34 partially supported by the second column 28 to illuminate the mask 30. Thereby, an image of the pattern formed on the mask 30 is formed on the substrate 26 via the projection optical system 29. The illumination light is shaped into a slit shape elongated in the Y-axis direction by the illumination optical system 34. By moving the mask 30 and the substrate 26 in synchronization with the slit light, the pattern on the mask 30 Is transferred to

【0034】なお、上述した各エアベアリング16A,
16B,19(19A),20(20A)は、エアの噴
出に伴う反発力とエアの吸引に伴う吸引力を適宜に組み
合わせて、これらのバランスにより、摺動面に対して数
ミクロン程度の極めて薄い間隙で対峙した状態を実現す
る非接触ベアリングである。
The above-described air bearings 16A, 16A,
16B, 19 (19A) and 20 (20A) appropriately combine a repulsion force caused by the ejection of air and a suction force caused by suction of air. It is a non-contact bearing that realizes a state of facing with a small gap.

【0035】即ち、エアベアリング(エアパッド部)に
は、複数の陽圧溝(又は孔)及び複数の負圧溝(又は
孔)が形成されており、陽圧溝は図外の陽圧供給源(圧
縮空気供給装置)に連通されており、陽圧供給源が作動
されることにより圧縮空気が陽圧溝に供給され、該エア
パッド部を移動面(摺動面)に対して離間(浮上)させ
る方向に付勢する。一方、負圧溝は図外の負圧供給源
(真空吸引装置)に連通されており、負圧供給源が作動
されることにより負圧溝内の空気が真空吸引され、該エ
アパッド部を該移動面に対して近接させる方向に付勢す
る。
That is, a plurality of positive pressure grooves (or holes) and a plurality of negative pressure grooves (or holes) are formed in the air bearing (air pad portion), and the positive pressure groove is a positive pressure supply source (not shown). (Compressed air supply device), and when the positive pressure supply source is operated, compressed air is supplied to the positive pressure groove, and the air pad is separated (floating) from the moving surface (sliding surface). Energize in the direction to cause. On the other hand, the negative pressure groove is connected to a negative pressure supply source (vacuum suction device) (not shown). When the negative pressure supply source is operated, the air in the negative pressure groove is suctioned by vacuum, and the air pad portion is removed. It is urged in the direction to approach the moving surface.

【0036】陽圧供給源と負圧供給源を適宜に調整制御
して、陽圧溝による反発力と負圧溝による吸引力とを所
定値に保つことにより、エアパッド部と対応する移動面
とが一定のギャップを保った状態で対向することにな
る。この実施の形態では、このギャップは約10μmに
設定した。
The positive pressure supply source and the negative pressure supply source are appropriately adjusted and controlled to maintain the repulsive force of the positive pressure groove and the suction force of the negative pressure groove at a predetermined value, so that the moving surface corresponding to the air pad portion can be adjusted. Will face each other while maintaining a certain gap. In this embodiment, this gap was set to about 10 μm.

【0037】第1コラム27には、投影光学系29を挟
んでY軸方向に離間して、基板ステージ15上の基板ホ
ルダ24に吸着保持された基板26の表面のZ軸方向の
位置を検出する一対のフォーカスセンサ35が取り付け
られている。フォーカスセンサ35は一方の送光部から
射出された検出光を他方の受光部により受光することに
より、基板26の表面のZ軸方向の位置を検出するセン
サであり、その検出値はそれぞれ制御装置23に入力さ
れる。これらの一対のフォーカスセンサ35からのフォ
ーカス信号を解析することにより、基板ステージ15上
の基板26の表面の水平面(X−Y平面)に対する傾き
及びZ軸方向の位置を検出することができる。
The first column 27 is separated in the Y-axis direction with the projection optical system 29 interposed therebetween, and detects the position in the Z-axis direction of the surface of the substrate 26 suction-held by the substrate holder 24 on the substrate stage 15. A pair of focus sensors 35 are mounted. The focus sensor 35 is a sensor that detects the position of the surface of the substrate 26 in the Z-axis direction by receiving the detection light emitted from one of the light transmitting units by the other light receiving unit. 23. By analyzing the focus signals from the pair of focus sensors 35, the inclination of the surface of the substrate 26 on the substrate stage 15 with respect to the horizontal plane (XY plane) and the position in the Z-axis direction can be detected.

【0038】なお、このフォーカスセンサ35はY軸方
向にさらに複数配列してもよく、あるいはこのフォーカ
スセンサ35に追加するかたちで、これらからX軸方向
に離間して同様のフォーカスセンサを設けることができ
る。
A plurality of the focus sensors 35 may be further arranged in the Y-axis direction, or a similar focus sensor may be provided separately from the focus sensors 35 in the X-axis direction. it can.

【0039】走査露光時には、マスク用のステージ装置
31によるマスク30の移動に同期して、基板ステージ
15をX軸方向に移動するが、このときに検出される各
フォーカスセンサ35によるフォーカス信号に基づき、
制御装置23は、各エアベアリング・アセンブリ18に
ついてのアクチュエータ22を独立的に作動させること
により、基板26の表面が所定の基準(例えば、投影光
学系29による結像面)に一致するようにリアルタイム
で制御する。
At the time of scanning exposure, the substrate stage 15 is moved in the X-axis direction in synchronization with the movement of the mask 30 by the mask stage device 31, and based on a focus signal detected by each focus sensor 35 detected at this time. ,
The controller 23 operates the actuators 22 for each of the air bearing assemblies 18 independently so that the surface of the substrate 26 can be adjusted in real time so as to match a predetermined reference (for example, an image plane formed by the projection optical system 29). To control.

【0040】なお、上述した実施の形態においては、走
査露光時にフォーカスセンサ35からのフォーカス信号
に基づき、エアベアリング・アセンブリ18のアクチュ
エータ22をリアルタイムに作動制御するようにした
が、フォーカスセンサ35によるフォーカス信号を検出
しつつ予備走査を実施し、基板26の表面の姿勢に関す
る表面情報を採取して記憶装置に記憶保持しておき、そ
の後に実施する本走査時にこの表面情報に基づき、エア
ベアリング・アセンブリ18のアクチュエータ22を作
動制御するようにしてもよい。
In the above-described embodiment, the actuator 22 of the air bearing assembly 18 is controlled to operate in real time based on the focus signal from the focus sensor 35 during scanning exposure. Preliminary scanning is performed while detecting signals, surface information relating to the attitude of the surface of the substrate 26 is collected and stored in a storage device, and based on this surface information during the subsequent main scanning, the air bearing assembly is used. The operation of the 18 actuators 22 may be controlled.

【0041】また、フォーカスセンサ35がこの実施の
形態のようにY軸方向にのみ設けられており、リアルタ
イムに姿勢制御を行う場合には、ガイドビーム14を挟
んで、一方の側の2個のエアベアリング・アセンブリ1
8についてのアクチュエータ22は互いに同じ制御量で
作動され、同様に他方の側の2個のエアベアリング・ア
センブリ18についてのアクチュエータ22も互いに同
じ制御量で作動される。即ち、基板26の表面のY軸方
向の姿勢のみを制御し、X軸方向の姿勢は制御しない。
一方、X軸方向に離間して同様のフォーカスセンサを設
けた場合や予備走査を実行した後に本走査を実行するよ
うな場合には、基板26の表面のX軸方向の傾斜も判る
ので、X軸方向に沿う方向の姿勢をも制御するようにで
きる。
Also, the focus sensor 35 is provided only in the Y-axis direction as in this embodiment, and when performing posture control in real time, the two Air bearing assembly 1
The actuators 22 for 8 are operated with the same control amount as each other, and similarly, the actuators 22 for the two air bearing assemblies 18 on the other side are also operated with the same control amount. That is, only the attitude in the Y-axis direction of the surface of the substrate 26 is controlled, and the attitude in the X-axis direction is not controlled.
On the other hand, when a similar focus sensor is provided at a distance in the X-axis direction or when the main scanning is performed after the preliminary scanning is performed, the inclination of the surface of the substrate 26 in the X-axis direction can be determined. It is also possible to control the attitude in the direction along the axial direction.

【0042】ここで、微細パターンを高解像度で基板2
6上に結像させるためには、開口数(N.A.)を大き
くする必要があるので、これに伴い焦点深度(D.O.
F)は浅くなり、このため、基板26を移動するステー
ジ装置やその移動の基準となる定盤11等には高精度、
高剛性が要求され、コスト増、重量増の原因となる。
Here, a fine pattern is formed on the substrate 2 at a high resolution.
In order to form an image on the C.6, it is necessary to increase the numerical aperture (NA), and accordingly, the depth of focus (DO.
F) becomes shallower, so that the stage device for moving the substrate 26 and the surface plate 11 as a reference for the movement thereof have high precision,
High rigidity is required, which causes an increase in cost and weight.

【0043】しかし、本実施の形態によると、フォーカ
スセンサ35により検出されたフォーカス信号に基づ
き、各エアベアリング・アセンブリ18のアクチュエー
タ22を選択的に伸縮させることにより、基板ステージ
15上に保持された基板26の表面の姿勢を所定の基準
に一致するように調整するようにしたので、例えば、図
3に示されているように、定盤11の表面(移動面)が
正確にフラットでない場合であっても、基板26の表面
は所定の基準面に一致した状態とすることができる。従
って、定盤等の低コスト化、低重量化を達成しつつ、精
度の良い露光処理を行うことができる。
According to the present embodiment, however, the actuator 22 of each air bearing assembly 18 is selectively expanded and contracted based on the focus signal detected by the focus sensor 35, so that the actuator 22 is held on the substrate stage 15. Since the posture of the surface of the substrate 26 is adjusted to match a predetermined reference, for example, as shown in FIG. 3, when the surface (moving surface) of the surface plate 11 is not exactly flat. Even if there is, the surface of the substrate 26 can be in a state in which it matches a predetermined reference plane. Therefore, accurate exposure processing can be performed while achieving cost reduction and weight reduction of the surface plate and the like.

【0044】また、基板ステージ15の姿勢をエアベア
リング・アセンブリ18のアクチュエータ22を作動さ
せることによって調整するようにしたので、基板ステー
ジ15上に基板26を保持するための基板ホルダ24を
直接的に設けることができ、基板ステージ15自体の姿
勢を調整して基板26の表面を所定の基準に一致させる
ことができるから、従来技術のように、基板ホルダの姿
勢を調整することにより基板の表面の姿勢を調整するも
のと比較して、基板ステージと基板ホルダの間にアクチ
ュエータ等を介在させる必要がないから、その分だけ、
ステージ装置の高さを減少することができる。従って、
ステージ装置の重心を従来よりも低くすることができ、
ステージの安定性が高く位置決めや移動の精度を向上す
ることができる。
Further, since the posture of the substrate stage 15 is adjusted by operating the actuator 22 of the air bearing assembly 18, the substrate holder 24 for holding the substrate 26 on the substrate stage 15 can be directly adjusted. Since the position of the substrate stage 15 can be adjusted to adjust the surface of the substrate 26 to a predetermined standard, the position of the substrate holder can be adjusted by adjusting the position of the substrate holder as in the related art. Since it is not necessary to interpose an actuator or the like between the substrate stage and the substrate holder as compared with the one that adjusts the posture,
The height of the stage device can be reduced. Therefore,
The center of gravity of the stage device can be lower than before,
The stability of the stage is high, and the accuracy of positioning and movement can be improved.

【0045】このようなステージ装置を備えた本実施の
形態の露光装置によれば、基板26を移動するためのス
テージ装置の安定性が高く位置決めや移動の精度が高い
ので、高精度、高品質な液晶ディスプレイを製造するこ
とができるようになる。このような液晶ディスプレイ
は、デバイスの機能・性能設計を行うステップ、この設
計ステップに基づいたマスクを製作するステップ、ガラ
ス基板を制作するステップ、上述の実施の形態の露光装
置によりマスクのパターンを基板に露光転写するステッ
プ、デバイス組み立てステップ(ボンディング工程を含
む)、検査ステップ等を経て製造される。
According to the exposure apparatus of the present embodiment provided with such a stage device, the stage device for moving the substrate 26 has high stability and high positioning and moving accuracy. Liquid crystal displays can be manufactured. Such a liquid crystal display has a step of designing the function and performance of a device, a step of manufacturing a mask based on the design step, a step of manufacturing a glass substrate, and a step of forming a mask pattern by the exposure apparatus of the above-described embodiment. It is manufactured through a step of exposing and transferring to a device, a step of assembling a device (including a bonding process), an inspection step, and the like.

【0046】なお、以上説明した実施の形態は、本発明
の理解を容易にするために記載されたものであって、本
発明を限定するために記載されたものではない。したが
って、上記の実施の形態に開示された各要素は、本発明
の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む
趣旨である。
The embodiments described above are described for facilitating the understanding of the present invention, and are not described for limiting the present invention. Therefore, each element disclosed in the above embodiment is intended to include all design changes and equivalents belonging to the technical scope of the present invention.

【0047】例えば、上述した実施の形態では、フォー
カスセンサ35により基板26の表面のZ軸方向の位置
を検出するようにしているが、これに追加するかたち
で、マスク30の下面(パターン形成面)のZ軸方向の
位置を検出する同様なフォーカスセンサを設けて、これ
らのフォーカスセンサからのフォーカス信号をも加味し
て、制御装置23によりエアベアリング・アセンブリ1
8のアクチュエータ22の作動を制御するようにしても
よい。
For example, in the above-described embodiment, the position of the surface of the substrate 26 in the Z-axis direction is detected by the focus sensor 35, but in addition to this, the lower surface of the mask 30 (pattern forming surface) ) Is provided, and the controller 23 controls the air bearing assembly 1 by taking into account the focus signals from these focus sensors.
The operation of the actuator 22 may be controlled.

【0048】また、上述した実施の形態では負圧による
吸引力と陽圧による反発力の組み合わせによるエアベア
リングとしたが、本発明はこれに限定されることはな
く、磁力による吸引力と陽圧による反発力とを組み合わ
せたもの、負圧による吸引力と磁力による反発力を組み
合わせたものでもよい。また、磁力による吸引力と同じ
く磁力による反発力を組み合わせたものでもよく、加え
て、重力、バネによる付勢力などと、上記の陽圧若しく
は負圧、磁力などを適宜に組み合わせたものでもよい。
In the above-described embodiment, the air bearing is a combination of the suction force by the negative pressure and the repulsion force by the positive pressure. However, the present invention is not limited to this. And a combination of a suction force by a negative pressure and a repulsion force by a magnetic force. Also, a combination of a magnetic attraction force and a magnetic repulsion force may be used. In addition, a gravity, a biasing force of a spring, and the above-described positive or negative pressure, magnetic force, or the like may be appropriately combined.

【0049】さらに、上述した実施の形態では、基板2
6を移動するステージ装置についてのみ本発明のステー
ジ装置を適用した場合について説明したが、マスク30
を移動するステージ装置についても同様に適用すること
ができる。基板ステージ15をX軸方向及びY軸方向に
それぞれ駆動するリニアモータとしては、ムービングコ
イル型及びムービングマグネット型のいずれを使用して
もよい。また、基板ステージの駆動装置として平面モー
タを用いてもよい。
Further, in the above embodiment, the substrate 2
The case where the stage device of the present invention is applied only to the stage device that moves the mask 6 has been described.
Can be similarly applied to a stage device that moves the. As the linear motor that drives the substrate stage 15 in the X-axis direction and the Y-axis direction, either a moving coil type or a moving magnet type may be used. Further, a planar motor may be used as a driving device of the substrate stage.

【0050】また、液晶ディスプレイを製造するための
投影露光装置のみならず、本発明はあらゆる形式の露光
装置に適用することができ、例えば、レチクルとウエハ
とを静止させた状態でレチクルパターンの全面に露光用
照明光を照射して、そのレチクルパターンが転写される
べきウエハ上の1つの区画領域(ショット領域)を一括
露光するステップ・アップ・リピート方式の縮小投影型
露光装置(ステッパー)、レチクルとウエハとを同期移
動して、矩形その他の形状のスリット光で走査・照明し
てウエハ上のショット領域を逐次露光し、順次ウエハを
移動して他のショット領域に対して走査・露光を繰り返
すステップ・アンド・スキャン方式の縮小投影型走査露
光装置(スキャニング・ステッパー)にも同様に適用す
ることができる。
The present invention can be applied not only to a projection exposure apparatus for manufacturing a liquid crystal display, but also to any type of exposure apparatus. For example, when the reticle and the wafer are stationary, the entire surface of the reticle pattern is exposed. Up-repeat type reduction projection type exposure apparatus (stepper) for irradiating exposure light for exposure onto a single area (shot area) on a wafer on which a reticle pattern is to be transferred, and a reticle And the wafer are moved synchronously to scan and illuminate with rectangular or other slit light to sequentially expose the shot areas on the wafer, and sequentially move the wafer to repeat the scanning and exposure for other shot areas The present invention can be similarly applied to a step-and-scan type reduction projection scanning exposure apparatus (scanning stepper).

【0051】露光用照明光としては、水銀ランプから射
出される輝線(例えばg線、i線)、KrFエキシマレ
ーザ(波長248nm)、ArFエキシマレーザ(波長
193nm)、Fレーザ(波長157nm)、Ar
レーザ(波長126nm)又はYAGレーザなどの
高調波のいずれであってもよい。また、露光用照明光と
して、DFB半導体レーザ又はファイバーレーザから発
振される赤外域、又は可視域の単一波長レーザを、例え
ばエルビウム(又はエルビウムとイットリビウムの両
方)がドープされたファイバーアンプで増幅し、非線形
光学結晶を用いて紫外光に波長変換した高調波を用いて
もよい。
[0051] As the exposure illumination light, emission lines (e.g., g-line, i-line), KrF excimer laser (wavelength 248 nm), ArF excimer laser (wavelength 193 nm), F 2 laser (wavelength 157 nm), Ar
Either two lasers (having a wavelength of 126 nm) or harmonics such as a YAG laser may be used. In addition, a single-wavelength laser in the infrared or visible region oscillated from a DFB semiconductor laser or a fiber laser is amplified by, for example, a fiber amplifier doped with erbium (or both erbium and ytterbium) as exposure illumination light. Alternatively, a harmonic converted to ultraviolet light using a nonlinear optical crystal may be used.

【0052】さらに、例えば5〜15nm(軟X線領
域)に発振スペクトルを有するEUV(Extreme
Ultra Violet)光を露光用照明光とし、
反射マスク上での照明領域を円弧スリット状に規定する
とともに、複数の反射光学素子(ミラー)のみからなる
縮小投影光学系を有し、縮小投影光学系の倍率に応じた
速度比で反射マスクとウエハとを同期移動して反射マス
クのパターンをウエハ上に転写するEUV露光装置など
にも、本発明を適用することができる。
Further, for example, EUV (Extreme) having an oscillation spectrum at 5 to 15 nm (soft X-ray region)
Ultra Violet) light as exposure illumination light,
The illumination area on the reflection mask is defined in the shape of a circular arc slit, and a reduction projection optical system including only a plurality of reflection optical elements (mirrors) is provided. The present invention can also be applied to an EUV exposure apparatus or the like that transfers a pattern of a reflection mask onto a wafer by synchronously moving the wafer and the wafer.

【0053】加えて、液晶ディスプレイ、半導体素子、
薄膜磁気ヘッド、撮像素子(CCD等)の製造に用いら
れる投影露光装置のみならず、レチクル、マスクを製造
するために、ガラス基板、又はシリコンウエハ等に回路
パターンを転写する投影露光装置にも本発明を適用でき
る。
In addition, a liquid crystal display, a semiconductor device,
Not only projection exposure equipment used to manufacture thin-film magnetic heads and imaging devices (such as CCDs), but also projection exposure equipment that transfers circuit patterns to glass substrates or silicon wafers to manufacture reticles and masks. The invention can be applied.

【0054】[0054]

【発明の効果】本発明によると、ステージの安定性が高
く、高精度な位置決めや移動を行うことができるステー
ジ装置を提供することができるという効果がある。ま
た、高品質なマイクロデバイスを製造できる露光装置を
提供することができるという効果がある。
According to the present invention, there is an effect that a stage device having high stability of the stage and capable of performing high-precision positioning and movement can be provided. Further, there is an effect that an exposure apparatus capable of manufacturing a high-quality micro device can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態の露光装置の全体の概略
構成を示す正面図である。
FIG. 1 is a front view showing an overall schematic configuration of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の実施の形態のステージ装置の構成を
示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing a configuration of a stage device according to the embodiment of the present invention.

【図3】 本発明の実施の形態のステージ装置の構成を
示す正面図である。
FIG. 3 is a front view showing the configuration of the stage device according to the embodiment of the present invention.

【図4】 従来の露光装置の構成を示す正面図である。FIG. 4 is a front view showing a configuration of a conventional exposure apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11…定盤 14…ガイドビーム 15…基板ステージ 18…エアベアリング・アセンブリ 19…ベースベアリング 20…ヨーベアリング 21…平行板バネ機構 22…アクチュエータ 23…制御装置 24…基板ホルダ 26…基板 29…投影光学系 30…マスク 33…光源 34…照明光学系 35…フォーカスセンサ DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Surface plate 14 ... Guide beam 15 ... Substrate stage 18 ... Air bearing assembly 19 ... Base bearing 20 ... Yaw bearing 21 ... Parallel leaf spring mechanism 22 ... Actuator 23 ... Control device 24 ... Substrate holder 26 ... Substrate 29 ... Projection optics System 30 Mask 33 Light source 34 Illumination optical system 35 Focus sensor

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/30 515G Fターム(参考) 2F078 CA08 CB02 CB13 CC01 5F031 CA05 CA07 HA53 HA57 JA22 JA30 LA02 LA08 LA10 MA27 5F046 AA23 BA04 BA05 CA04 CC01 CC02 CC03 CC05 CC08 CC09 CC10 CC13 CC18 DA05 DB05 DC10 Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI Theme coat II (Reference) H01L 21/30 515G F-term (Reference) 2F078 CA08 CB02 CB13 CC01 5F031 CA05 CA07 HA53 HA57 JA22 JA30 LA02 LA08 LA10 MA27 5F046 AA23 BA04 BA05 CA04 CC01 CC02 CC03 CC05 CC08 CC09 CC10 CC13 CC18 DA05 DB05 DC10

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 定盤に形成された移動面を非接触ベアリ
ングを介して非接触で移動するステージを備えたステー
ジ装置において、 前記移動面とほぼ直交する方向に変位する変位装置を前
記ステージと前記非接触ベアリングとの少なくとも一方
に接続したことを特徴とするステージ装置。
1. A stage device comprising a stage that moves a moving surface formed on a surface plate in a non-contact manner through a non-contact bearing, wherein a displacement device that displaces in a direction substantially orthogonal to the moving surface is provided with the stage. A stage device connected to at least one of the non-contact bearings.
【請求項2】 前記ステージに保持される移動対象物の
所定の基準に対する傾き及び位置の少なくとも一方を計
測する計測装置と、 前記計測装置の計測結果に基づき、前記移動対象物が前
記所定の基準に整合するように、前記変位装置の変位量
をそれぞれ独立的に制御する制御装置と、を備えたこと
を特徴とする請求項1に記載のステージ装置。
2. A measuring device for measuring at least one of an inclination and a position of a moving object held on the stage with respect to a predetermined reference, and the moving object is determined based on a measurement result of the measuring device. 2. The stage device according to claim 1, further comprising: a control device that independently controls a displacement amount of the displacement device so as to match the displacement.
【請求項3】 前記変位装置は、前記ステージと前記非
接触ベアリングとの相対姿勢が維持された状態で相対距
離が変更自在となるように該ステージと該非接触ベアリ
ングとを互いに結合する支持装置と、前記ステージと前
記非接触ベアリングの相対距離を変更するアクチュエー
タを有することを特徴とする請求項2に記載のステージ
装置。
3. A supporting device for coupling the stage and the non-contact bearing to each other so that a relative distance can be changed while maintaining a relative posture between the stage and the non-contact bearing. The stage apparatus according to claim 2, further comprising an actuator for changing a relative distance between the stage and the non-contact bearing.
【請求項4】 前記支持装置は、互いに略平行に配置さ
れた一対の板バネを有する平行板バネ機構であることを
特徴とする請求項3に記載のステージ装置。
4. The stage device according to claim 3, wherein said support device is a parallel leaf spring mechanism having a pair of leaf springs arranged substantially parallel to each other.
【請求項5】 パターンが形成されたマスクを介して基
板を露光する露光装置であって、 前記マスク及び前記基板の少なくとも一方を、請求項1
〜4のいずれか一項に記載のステージ装置の前記ステー
ジに保持するようにしたことを特徴とする露光装置。
5. An exposure apparatus for exposing a substrate through a mask on which a pattern is formed, wherein at least one of the mask and the substrate is exposed.
An exposure apparatus characterized in that the exposure apparatus is held on the stage of the stage apparatus according to any one of (1) to (4).
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