HINTERGRUND
DER ERFINDUNGBACKGROUND
THE INVENTION
Ein übliches
Mittel zur Verteilung von Energie auf der ganzen Welt ist die Übertragung
von Gas, gewöhnlich
von Erdgas, wobei in einigen Gebieten der Erde aber auch künstlich
hergestellte Gase zur Verwendung in Häusern und Fabriken übertragen
werden. Gas wird gewöhnlich
durch unterirdische Rohrleitungen mit Verzweigungen übertragen,
die in Häuser
und andere Gebäude
führen,
um dort Energie für
die Raumheizung und Warmwasserzubereitung bereitzustellen. In praktisch
jeder großen
Stadt der Welt gibt es viele tausend Kilometer an Gasrohrleitungen.
Da Gas nur aufgrund seiner hohen Brennbarkeit nutzbar ist, sind
Gaslecks eine ernste Angelegenheit. Aus diesem Grund wurde ein großer Aufwand
für die
Bereitstellung von Messgeräteausrüstungen
betrieben, um kleine Gasmengen nachzuweisen, damit Lecks geortet
werden können
und Reparaturen möglich
sind.A common one
The means of distributing energy around the world is transmission
of gas, usually
of natural gas, although in some areas of the world but also artificial
transferred gases for use in homes and factories
become. Gas becomes common
transmitted through subterranean pipelines with branches,
in houses
and other buildings
to lead,
to get energy for
to provide the space heating and hot water preparation. In practical
every big one
City of the world there are many thousands of kilometers of gas pipelines.
Since gas is usable only because of its high flammability, are
Gas leaks a serious matter. Because of this, a lot of effort
for the
Provision of measuring equipment
operated to detect small amounts of gas, thus locating leaks
can be
and repairs possible
are.
Ein
bekanntes und erfolgreiches System für den Nachweis kleiner Gasmengen
in der Umwelt beinhaltet die Anwendung der Absorptionsspektroskopie.
Im Rahmen dieser Technik wird ein Lichtstrahl einer ausgewählten Frequenz,
die von dem jeweiligen Gas, für
das das Instrument ausgelegt ist, stark absorbiert wird, durch eine
Probe des Gases geleitet. Der Absorptionsgrad des Lichtstrahls wird
als Indikator für
den Konzentrationswert des Gases in der Probe genutzt. Ein Grundelement
von Erdgas und der meisten künstlich
hergestellten Gase für
die Raumheizung und Warmwasserzubereitung auf der ganzen Welt ist
Methan. Durch Initiieren eines Lichtstrahls mit einer Frequenz,
die von Methan stark absorbiert wird, und Leiten des Strahls durch eine
Gasprobe, kann der Konzentrationswert von Methan in der Gasprobe
bestimmt werden.One
well-known and successful system for the detection of small amounts of gas
in the environment involves the application of absorption spectroscopy.
As part of this technique, a light beam of a selected frequency,
that of the particular gas, for
that the instrument is designed to be strongly absorbed by a
Passed sample of the gas. The degree of absorption of the light beam is
as an indicator of
used the concentration value of the gas in the sample. A basic element
of natural gas and most artificial
produced gases for
the space heating and hot water preparation around the world is
Methane. By initiating a light beam with a frequency,
which is strongly absorbed by methane, and passing the jet through a
Gas sample, can be the concentration value of methane in the gas sample
be determined.
Zum
Verbessern der Empfindlichkeit des Nachweises von geringen Konzentrationswerten
von Gas durch spektrale Absorption ist es notwendig, den Lichtstrahl über einen
relativ langen Gasprobenweg zu leiten. Anders ausgedrückt, mit
der Zunahme der Länge
des durch eine Probe strömenden
Lichtstrahls wird die Empfindlichkeit des Instruments für den Nachweis
sehr kleiner Gasanteile erhöht.To the
Improve the sensitivity of detecting low concentration levels
of gas by spectral absorption, it is necessary to use a beam of light over one
to conduct relatively long Gasprobenweg. In other words, with
the increase in length
of the flowing through a sample
Light beam is the sensitivity of the instrument for detection
increased very small proportions of gas.
Es
ist ohne weiteres verständlich,
dass, wenn ein Strahl durch eine sehr lange Röhre geleitet würde, die
eine Gasprobe enthält,
die eine solche lange Röhre
benötigenden
Instrumente extrem unhandlich und daher nicht leicht zu tragen wären. Zur
Lösung
dieses Problems haben andere Systeme entwickelt, bei denen ein Lichtstrahl
wiederholt zwischen gegenüberliegenden
Spiegeln reflektiert wird, um so die Einwirkungsdauer des Strahls
gegenüber
einer Gasprobe zu verlängern,
so dass die Größe des Instrumentes
erheblich reduziert werden kann. Eine typische Absorptionszelle
ist ein länglicher
Zylinder, in dem Spiegel an gegenüberliegenden Enden angeordnet
sind, wobei Licht durch ein Loch in einem der Spiegel in die Zellen
geleitet wird. Für
Hintergrundinformationen über
die Verwendung optischer Vorrichtungen, die mehrere Durchläufe von
Licht innerhalb einer Testzelle mit gegenüberliegenden Spiegeln vorsehen,
wird auf den Artikel mit dem Titel „Long Optical Paths of Large
Aperture" von J.
White J. Opt. Soc. Am. Bd 32, S. 285-288, Mai 1942 verwiesen. Ein
weiteres Beispiel für
Hintergrundinformationen über
dieses Thema hat den Titel „Off-Axis
Paths in Spherical Mirror Interferometers" von Herriott et al. in Applied Optics,
Bd. 3, Seiten 523-526. Ein weiterer Artikel von Herriott et al.
mit dem Titel „Folded
Optical Delay Lines" ist
in Applied Optics, Bd. 4, S. 883-889, Aug. 1965 enthalten. Aufgrund
der frühen
Arbeit von Herriott in der Entwicklung der Lichtabsorptionsspektroskopie
unter Verwendung einer Zelle mit gegenüberliegenden Spiegeln, in der
ein Lichtstrahl wiederholt reflektiert wird, werden solche Instrumente
oft als „Herriott-Zellen" bezeichnet. Die
vorliegende Erfindung betrifft Verbesserungen und Innovationen im
Hinblick auf Konstruktion, Betrieb und Gebrauch von Herriott-Zellen
für den
Nachweis eines gewählten
Gases wie Methan. Insbesondere stellt die vorliegende Erfindung
Verfahren und Systeme zum Nachweisen und Messen des Konzentrationswertes
eines zuvor gewählten
Gases mit einem Instrument bereit, das leichter zu tragen, robuster
und empfindlicher als andere derzeit erhältliche Instrumente und Systeme
ist.It
is easily understood,
that if a beam passed through a very long tube, the
contains a gas sample,
such a long tube
requiring
Instruments are extremely bulky and therefore not easy to carry. to
solution
This problem has been developed by other systems that use a beam of light
repeated between opposite
Reflecting is reflected, so the exposure time of the beam
across from
to extend a gas sample,
so the size of the instrument
can be significantly reduced. A typical absorption cell
is a longish one
Cylinder, arranged in the mirror at opposite ends
are, passing light through a hole in one of the mirrors into the cells
is directed. For
Background information about
the use of optical devices that allow multiple passes of
Provide light inside a test cell with opposing mirrors,
will refer to the article entitled "Long Optical Paths of Large
Aperture "by J.
White J. Opt. Soc. At the. Bd 32, pp. 285-288, May 1942. One
another example of
Background information about
This theme has the title "Off-Axis
Paths in Spherical Mirror Interferometers "by Herriott et al in Applied Optics,
Vol. 3, pages 523-526. Another article by Herriott et al.
titled "Folded
Optical Delay Lines "is
in Applied Optics, Vol. 4, pp. 883-889, Aug. 1965. by virtue of
the early one
Herriott's work in the development of light absorption spectroscopy
using a cell with opposing mirrors in which
a beam of light is reflected repeatedly, become such instruments
often referred to as "Herriott cells"
The present invention relates to improvements and innovations in the art
Regarding the construction, operation and use of Herriott cells
for the
Proof of a selected
Gases such as methane. In particular, the present invention provides
Methods and systems for detecting and measuring the concentration value
a previously chosen one
Gases with an instrument ready, easier to carry, more robust
and more sensitive than other currently available instruments and systems
is.
Für weitere
Hintergrundinformationen über
die grundlegende Materie der vorliegenden Erfindung wird auf die
folgenden zuvor ausgestellten US-Patente und andere Publikationen
verwiesen: For further background information on the basic subject matter of the present invention, reference is made to the following US patents previously issued and other publications:
Andere Publikationen:Other publications:
-
„Folded
Optical Delay Lines",
Herriott et al., Applied Optics, Bd. 4, S. 883-8891, Aug. 1965."Folded
Optical Delay Lines ",
Herriott et al., Applied Optics, Vol. 4, pp. 883-8891, Aug. 1965.
-
"Laser Beams
and Resonators",
Kogelnik et al., Applied Optics, Bd. 5, Nr. 10, S. 1550-1567, Okt. 1996."Laser Beams
and Resonators ",
Kogelnik et al., Applied Optics, Vol. 5, No. 10, pp. 1550-1567, Oct. 1996.
-
"Narrow Optical
Interference Fringes for Certain Setup Conditions in Multipass Absorption
Cells of the Herriott Type",
McManus et al., Applied Optics, 1. März 1990."Narrow Optical
Interference Fringes for Certain Setup Conditions in Multipass Absorption
Cells of the Herriott Type ",
McManus et al., Applied Optics, March 1, 1990.
-
"Measurement
of Water Vapor Pressure and Activity Using Infrared Diode Laser Absorption
Spectroscopy", S.A.
Bone, P.G. Cummins, P.B. Davies, S.A. Johnson, Applied Spectroscopy,
Bd. 47, Nr. 6, 1993."Measurement
of Water Vapor Pressure and Activity Using Infrared Diode Laser Absorption
Spectroscopy ", S.A.
Bone, P.G. Cummins, P.B. Davies, S.A. Johnson, Applied Spectroscopy,
Vol. 47, No. 6, 1993.
-
"Diode-Laser
Absorption Technique for Simultaneous Measurements of Multiple Gas
Dynamic Parameters in High-speed Flows Containing Water Vapor", M.P. Arroyo, S.
Langlois, R.K. Hanson; Applied Optics, Bd. 33, Nr. 15, S. 3296-3307,
1994."Diode-Laser
Absorption Technique for Simultaneous Measurements of Multiple Gas
Dynamic Parameters in High-speed Flows Containing Water Vapor ", M.P. Arroyo, S.
Langlois, R.K. Hanson; Applied Optics, Vol. 33, No. 15, pp. 3296-3307,
1994th
-
"Diode Laser
Measurements of H2O Line Intensities And
Self-Broadening Coefficients in the 1,4 μm Region", S. Langlois, T.P. Birbeck und R.K.
Hanson; Journal of Molecular Spectroscopy, Bd. 163, S. 27-42, 1994."Diode Laser Measurements of H 2 O Line Intensities and Self-Broadening Coefficients in the 1.4 μm Region", S. Langlois, TP Birbeck and RK Hanson; Journal of Molecular Spectroscopy, Vol. 163, pp. 27-42, 1994.
-
"Absorption
Measurements of Water Vapor Concentration, Temperature and Lineshape
Parameters Using a Tunable InGaAsP Diode Laser", M.P. Arroyo and R.K. Hanson; Applied
Optics, Bd. 32, Nr. 30, S. 6104-6116, 1993."Absorption
Measurements of Water Vapor Concentration, Temperature and Lineshape
Parameters Using a Tunable InGaAsP Diode Laser ", M.P. Arroyo and R.K. Hanson; Applied
Optics, Vol. 32, No. 30, p. 6104-6116, 1993.
-
"Infrared Diode
Laser Determination of Trace Moisture in Gasses", J.A. Mucha, L.C. Barbalas, ISA Transactions,
Bd. 25, Nr. 3, S. 25-30, 1986."Infrared diode
Laser Determination of Trace Moisture in Gasses ", J. A. Mucha, L. C. Barbalas, ISA Transactions,
Vol. 25, No. 3, pp. 25-30, 1986.
-
"Application
of Tunable Diode Lasers in Control of High Pure Material Technologies", G.G. Devyatykhh, V.A. Khorshevh,
G.A. Maksimovh, A.I. NadezhdiaskiiA, S.M. Shapinh,
Vorabdruck."Application of Tunable Diode Lasers in Control of High Pure Material Technologies", GG Devyatykh h, VA Khorshev h, GA Maksimov h, AI Nadezhdiaskii A, SM Shapin h, preprint.
-
"Laser Absorption
IR Spectrometer for Molecular Analysis of High Purity Volatile Substances.
Detection of Trace Water Concentrations in Oxygen Argon and Monogermane", G.G. Devyatykh,
G.A. Maksimov, A.I. Nadezhdinskii, V.A. Khorshev, S.H. Shapin; SPIE
Bd. 1724 "Turnable
Diode Laser Applications"."Laser absorption
IR Spectrometer for Molecular Analysis of High Purity Volatile Substances.
Detection of Trace Water Concentrations in Oxygen Argon and Monogermane ", G. G. Devyatykh,
G.A. Maksimov, A.I. Nadezhdinskii, V.A. Khorshev, S.H. shapin; SPIE
Bd. 1724 "Turnable
Diode Laser Applications ".
-
"Application
of FM Spectroscopy in Atmospheric Trace Gas Monitoring: A Study
of Some Factors Influencing the Instrument Design", P. Werle, K. Josek
und F. Slemr, SPIE Bd. 1433 "Measurement
Of Atmospheric Gases",
1991."Application
of FM Spectroscopy in Atmospheric Trace Gas Monitoring: A Study
of Some Factors Influencing the Instrument Design ", P. Werle, K. Josek
and F. Slemr, SPIE Vol. 1433 "Measurement
Of Atmospheric Gases ",
1,991th
-
"Stable Isotope
Analysis using Tunable Diode Laser Spectroscopy", Joseph F. Becker, Todd B. Sauke und
Max. Loewenstein, Applied Optics, Bd. 31, Nr. 12, S. 1921-1927,
1992; "High Sensitivity
Detection of Trace Gases using Sweep Integration and Tunable Diode
Lasers", D.T. Cassidy
und J. Reid, Applied Optics, Bd. 21, Nr. 14, 1982."Stable isotopes
Analysis using Tunable Diode Laser Spectroscopy ", Joseph F. Becker, Todd B. Sauke and
Max. Loewenstein, Applied Optics, Vol. 31, No. 12, pp. 1921-1927,
1992; "High Sensitivity
Detection of Trace Gases using Sweep Integration and Tunable Diode
Lasers ", D.T. Cassidy
and J. Reid, Applied Optics, Vol. 21, No. 14, 1982.
-
"Atmospheric
Pressure Monitoring of Trace Gases using Tunable Diode Lasers", D.T. Cassidy und
J. Reid, Applied Optics, Bd. 21, Nr. 7, 1982."Atmospheric Pressure Monitoring of Trace Gases using Tunable Diode Lasers", DT Cassidy and J. Reid, Ap Plied Optics, Vol. 21, No. 7, 1982.
-
"Near Infrared
Diode Lasers Measure Greenhouse Gases", A. Stanton, C. Hovde, Laser Focus
World, August 1992."Near Infrared
Diode Lasers Measure Greenhouse Gases ", A. Stanton, C. Hovde, Laser Focus
World, August 1992.
-
"Airborne Measurements
of Humidity Using A Single Mode Pb Salt Diode Laser", Joel A. Silver
und Alan C. Stanton, Applied Optics, Bd. 26, Nr. 13, 1987."Airborne Measurements
of Humidity Using A Single Mode Pb Salt Diode Laser ", Joel A. Silver
and Alan C. Stanton, Applied Optics, Vol. 26, No. 13, 1987.
-
"Diode Laser
Spectroscopy for On Line Chemical Analysis", David S. Bomse, David C. Hovde, Daniel
B. Oh. Jocl A. Silver und Alan C. Stanton, SPIE Bd 1681, "Optically Based Method
for Process Analysis",
1992."Diode laser
Spectroscopy for On-Line Chemical Analysis ", David S. Bomse, David C. Hovde, Daniel
Oh. Jocl A. Silver and Alan C. Stanton, SPIE Bd 1681, "Optically Based Method
for Process Analysis ",
1,992th
-
"Two-mirror
Multipass Absorption Cell",
J. Altmann, R. Baumgart und C. Weitkamp; Applied Optics, Bd. 20,
Nr. 6, 1981."Two-mirror
Multipass Absorption Cell ",
J. Altmann, R. Baumgart and C. Weitkamp; Applied Optics, Vol. 20,
No. 6, 1981.
-
"Long Optical
Paths of Large Aperture",
J. White; J. Opt. Soc. Am. Bd. 32, S. 285-288, Mai 1942."Long Optical
Paths of Large Aperture ",
J. White; J. Opt. Soc. At the. Vol. 32, pp. 285-288, May 1942.
-
"Folded Optical
Delay Lines", Herriott
et al.; Applied Optics, Bd. 4, S. 883-889, Aug. 1965."Folded Optical
Delay Lines, "Herriott
et al .; Applied Optics, Vol. 4, pp. 883-889, Aug. 1965.
-
"Off Axis Paths
in Spherical Mirror Interferometers", D. Herriott, H. Kogelnik, R. Komper;
Applied Optics, Bd. 3, Nr. 4, 1964."Off Axis Paths
in Spherical Mirror Interferometers ", D. Herriott, H. Kogelnik, R. Komper;
Applied Optics, Vol. 3, No. 4, 1964.
KURZE ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNGSHORT SUMMARY
THE INVENTION
Ein
Verfahren zum Nachweisen eines zuvor gewählten Gases wie Methan beinhaltet
die Schritte des kontinuierlichen Bewegens eines Stroms von Probengas
durch einen begrenzten Testbereich innerhalb eines Nachweisinstruments.
Eine Lichtquelle wie eine Laseremissionsdiode oder eine Lichtemissionsdiode
wird innerhalb des Prüfinstruments
gespeist, um einen Strahl mit einer Frequenz auszusenden, die von
dem zuvor gewählten
Gas stark absorbiert wird. Der Strahl wird durch den Gasstrom innerhalb
des begrenzten Testbereichs geleitet, indem der Strahl wiederholt
zwischen voneinander beabstandeten Spiegeln in einer Herriott-Zelle
springen gelassen wird, so dass die Wegstreckenlänge des Strahls innerhalb des
Testgases stark ausgedehnt wird. Die Absorption des Strahls wird
gemessen, um einen Hinweis auf die Anwesenheit des zuvor gewählten Gases
zu erhalten.One
Method for detecting a previously selected gas such as methane includes
the steps of continuously moving a stream of sample gas
through a limited test area within a detection instrument.
A light source such as a laser emitting diode or a light emitting diode
will be within the test instrument
fed to emit a beam at a frequency of
the previously selected
Gas is absorbed strongly. The jet is going through the gas flow inside
passed the limited test area by the beam repeated
between spaced mirrors in a Herriott cell
is jumped so that the path length of the beam within the
Test gas is greatly expanded. The absorption of the beam is
measured to indicate the presence of the previously selected gas
to obtain.
Die
Frequenz des von einer typischen Lichtquelle, wie eine Laserdiode
oder Lichtemissionsdiode, ausgestrahlten Lichtes wird von der Temperatur
der Lichtquelle beeinflusst, so dass die Temperatur geregelt werden
muss. In einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung wird der
Probengasstrom, nachdem er den Testbereich passiert hat, an einer
Wärmeregelungsbaugruppe
vorbei geführt.The
Frequency of a typical light source, such as a laser diode
or light emitting diode, emitted light is from the temperature
the light source is affected so that the temperature can be regulated
got to. In one embodiment of the present invention, the
Sample gas stream after it has passed the test area at one
Heat control assembly
passed by.
Die
Wärmeregelungsbaugruppe
beinhaltet einen Kühlkörper mit
Kühlrippen,
die dem Probengasstrom ausgesetzt werden, wobei die Lichtquelle
in Kontakt mit einem Peltier-Element
montiert ist, das wiederum mit dem Kühlkörper in einer Wärmeleitbeziehung
ist. Ein Thermistor fühlt
die Temperatur des Kühlkörpers und
sendet ein Steuersignal zu einem Mikroprozessor, der wiederum Temperaturabgleichbefehle
zu einer Energiequelle sendet, die dann abgeglichenen Strom zum
Peltier sendet, das die Temperatur der Lichtquelle abgleicht.The
Heat control assembly
includes a heat sink with
Cooling fins,
which are exposed to the sample gas stream, the light source
in contact with a Peltier element
mounted, in turn, with the heat sink in a heat conduction relationship
is. A thermistor feels
the temperature of the heat sink and
sends a control signal to a microprocessor, which in turn sends temperature adjustment commands
sends to a power source, which then adjusted current to
Peltier sends, which adjusts the temperature of the light source.
Die
im Gasnachweisinstrument der vorliegenden Erfindung verwendete Herriott-Zelle
wird durch den Einbau eines zentralen Achsenelements, das einen
begrenzten ringförmigen
Testbereich für
das Probengas bietet, durch das sich der Lichtstrahl bewegt, erheblich
verbessert.The
Herriott cell used in the gas detection instrument of the present invention
is achieved by installing a central axis element, the one
limited annular
Test area for
The sample gas through which the light beam moves, significantly
improved.
Es
wird ein System bereitgestellt, das drei Fotodetektoren einsetzt – das heißt: (a)
einen Referenzfotodetektor; (b) einen Mehrwegfotodetektor; und (c)
einen Einzel- oder Direktwegfotodetektor. Durch die Verwendung von
Messungen der drei Referenzfotodetektoren kann die Konzentration
von Gas in der Testprobe mit einer Genauigkeit über einen größeren Bereich
bestimmt werden, als dies typischerweise mit existierenden Messgeräten möglich ist.It
provides a system that uses three photodetectors - that is: (a)
a reference photo detector; (b) a multipath photodetector; and (c)
a single or direct path photodetector. By the use of
Measurements of the three reference photodetectors can increase the concentration
of gas in the test sample with accuracy over a larger area
be determined than is typically possible with existing meters.
Die
hierin verwendete Herriott-Absorptionsspektroskopiezelle ist auf
bedeutende Weise verbessert, einschließlich der Vorkehrung, nach
der ein Lichtstrahl durch eine Apertur in einem ersten Spiegel eintritt
und nach mehreren Durchgängen
durch eine Apertur in einem zweiten Spiegel austritt, um auf einen
Fotodetektor mit Mehrfachdurchgang zu treffen. Gleichzeitig werden
Vorkehrungen für
die Messung der Absorption nach einem einzigen Durchgang des Lichtstrahls
getroffen. Eine Aktivierung des Referenzfotodetektors wird durch
ein Strahlenteilerfenster erreicht.The
Herriott absorption spectroscopy cell used herein is on
significantly improved, including the provision, after
a light beam entering through an aperture in a first mirror
and after several passes
through an aperture in a second mirror leaking to one
Photodetector with multiple pass to meet. At the same time
Arrangements for
the measurement of absorption after a single pass of the light beam
met. Activation of the reference photodetector is by
reaches a beam splitter window.
Die
vorliegende Erfindung stellt ein leicht zu tragendes und dennoch
robustes System bereit, das ohne weiteres zur Montage in einem Fahrzeug
adaptiert werden kann, so dass kontinuierlich Testproben aus der Umgebung
genommen und durch das Testsystem zirkuliert werden können, während sich
das Fahrzeug bewegt, damit ein Bediener ein relativ großes geographisches
Gebiet schnell überprüfen kann.
Dieses in einem Fahrzeug eingesetzte, leicht zu tragende System
liefert Anzeigen, die mit einem globalen Positionierungsmonitor
koordiniert werden, so dass Gasniveauintensitäten eines geographischen Gebiets
schnell und akkurat kartographiert werden können.The present invention provides an easy-to-carry yet robust system that can be readily adapted for mounting in a vehicle so that test samples can be continuously taken from the environment and circulated through the test system while the vehicle is moving Operator can quickly check a relatively large geographical area. This vehicle-mounted, easy-to-carry system provides displays that are coordinated with a global positioning monitor so that gas level intensities of a geographic area can be measured quickly and accurately can be mapped.
Die
Erfindung wird anhand der folgenden ausführlichen Beschreibung und der
Ansprüche
in Verbindung mit den Begleitzeichnungen verständlicher.The
Invention will become apparent from the following detailed description and the
claims
in conjunction with the accompanying drawings more understandable.
KURZBESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGENSUMMARY
THE DRAWINGS
1 ist
eine schematische Darstellung der Grundelemente des Systems der
vorliegenden Erfindung zum Nachweisen von Gas durch Lichtabsorptionsspektroskopie.
Das erfindungsgemäße System
kann zum Nachweisen extrem niedriger Konzentrationen eines ausgewählten Gases
wie Methan eingesetzt werden. Das System ist durch seine Tragfähigkeit
und Robustheit gekennzeichnet. Es kann entweder in eine geschlossene oder
begrenzte Umgebung gebracht oder in einem sich bewegenden Fahrzeug
eingesetzt werden, wodurch Karten erzeugt werden können, die
die Gaskonzentrationswerte geographischer Gebiete darstellen. 1 Figure 4 is a schematic representation of the basic elements of the system of the present invention for detecting gas by light absorption spectroscopy. The system of the invention can be used to detect extremely low concentrations of a selected gas, such as methane. The system is characterized by its capacity and robustness. It can either be placed in a closed or confined environment or used in a moving vehicle, which can generate maps representing the gas concentration values of geographic areas.
2 ist
eine teilweise Querschnittsdarstellung des vorderen Endabschnitts
einer Herriott-Gasnachweiszelle mit Verbesserungen gemäß der vorliegenden
Erfindung. In dieser Figur ist ein Lichtstrahlausrichtungssystem
mit Schwenkplatten dargestellt. 2 Figure 10 is a partial cross-sectional view of the forward end portion of a Herriott gas detection cell with improvements according to the present invention. In this figure, a light beam alignment system is shown with pivot plates.
3 ist
eine Querschnittsdarstellung einer verbesserten Herriott-Zelle zur
Verwendung beim Nachweisen von Gaskonzentrationen durch Lichtabsorptionsspektroskopie,
die die von der vorliegenden Erfindung erbrachten Verbesserungen
darstellt. 3 Figure 4 is a cross-sectional view of an improved Herriott cell for use in detecting gas concentrations by light absorption spectroscopy, which is the improvement provided by the present invention.
4 ist
eine Seitenansicht der in der vorliegenden Erfindung verwendeten
Gasnachweiszelle, die das äußere Erscheinungsbild
der Zelle mit angebrachter Abdeckkomponente darstellt, wobei ein
ringförmig
geformter Gashohlraum in der Zelle vorgesehen ist, durch den das
Probengas strömt. 4 Fig. 10 is a side view of the gas detection cell used in the present invention, illustrating the appearance of the cover-attached cell, wherein an annularly shaped gas cavity is provided in the cell through which the sample gas flows.
5 ist
eine Seitenansicht entlang der Linie 5-5 aus 4, die die
Gasnachweiszelle zeigt, die mit Bezug auf die Ansicht aus 4 um
90° um ihre
Achse gedreht ist. 5 stellt den mittleren Abschnitt
der Zelle im Querschnitt dar, um den ringförmigen Gasprobendurchlass zu
zeigen. 5 is a side view along the line 5-5 off 4 showing the gas detection cell with respect to the view 4 rotated by 90 ° about its axis. 5 represents the central portion of the cell in cross-section to show the annular Gasprobendurchlass.
6 ist
eine Querschnittsansicht entlang der Linie 6-6 aus 5.
In dieser Figur sind die Gehäusehüllen, die
in den 4 und 5 gezeigt werden, nicht dargestellt. 6 is a cross-sectional view taken along the line 6-6 5 , In this figure, the case shells which are in the 4 and 5 are shown, not shown.
7 ist
eine auseinander gezogene Ansicht des vorderen Teils der Zelle,
in dem die Lichtquelle, wie z.B. eine Laserdiode, untergebracht
ist, die die Tragstruktur darstellt, die die Ausrichtung des Strahls
für den Eintritt
in den Probengashohlraum erbringt. 7 FIG. 10 is an exploded view of the front portion of the cell housing the light source, such as a laser diode, that represents the support structure that provides the orientation of the beam for entry into the sample gas cavity.
8 ist
eine schematische Ansicht der Beziehung zwischen einer Laserdiode
und zugehörigen
Elementen, über
die die Temperatur der Diode geregelt wird. 8th Fig. 12 is a schematic view of the relationship between a laser diode and associated elements that regulate the temperature of the diode.
9 ist
eine schematische Darstellung des Wegs, den der Lichtstrahl innerhalb
des ringförmigen Hohlraums
in der Zelle zurücklegt,
wenn der Strahl von gegenüberliegenden
Spiegeln wiederholt reflektiert wird, um sich innerhalb des ringförmig geformten
Probengashohlraums hin und her zu bewegen, wodurch ein Mittel für eine akkurate
Messung der Absorption des Strahls durch das Probengas innerhalb
der Zelle bereitgestellt wird. 9 FIG. 12 is a schematic representation of the path the light beam travels within the annular cavity in the cell as the beam is repeatedly reflected by opposing mirrors to reciprocate within the annularly shaped sample gas cavity, providing a means for accurate measurement of the Absorption of the beam is provided by the sample gas within the cell.
10 ist
ein Blockdiagramm der Komponenten, die zur Regelung der Temperatur
der mit der Herriott-Zelle verwendeten Lichtquelle verwendet werden,
um eine höhere
Genauigkeit des Systems zum Nachweisen eines ausgewählten Gases
zu erreichen. 10 Figure 10 is a block diagram of the components used to control the temperature of the light source used with the Herriott cell to achieve greater accuracy of the system for detecting a selected gas.
11 ist
eine isometrische Außenansicht
einer Gasnachweiszelle mit einem Lichtstrahlausrichtungssystem,
das Schwenkplatten einsetzt. 11 Figure 11 is an external isometric view of a gas detection cell with a light beam alignment system employing pivot plates.
AUSFÜHRLICHE
BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSGESTALTUNGENDETAILED
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS
Die
Zeichnungen, und zunächst 1,
zeigen ein Blockdiagramm der Hauptkomponenten eines Systems, das
zur Umsetzung der erfindungsgemäßen Verfahren
verwendet werden kann. Kernstück
des Systems ist eine Zelle 10, die im Folgenden ausführlich beschrieben
wird und die eine Umgebung bereitstellt, in der ein Lichtstrahl 12 durch
eine Gasprobe strömt
und in der die Absorption des Lichtstrahls gemessen wird.The drawings, and first 1 10, 12 show a block diagram of the major components of a system that can be used to implement the methods of the invention. The heart of the system is a cell 10 , which is described in detail below and which provides an environment in which a light beam 12 flows through a gas sample and in which the absorption of the light beam is measured.
Es
wird die Erfindung beschrieben, bei der ein Lichtstrahl von einer
Laserdiode erzeugt wird, wobei es sich bei dem Lichtstrahl 12 um
einen Laserlichtstrahl handelt. Die Erfindung kann jedoch auch mit
einer Lichtquelle ausgeführt
werden, die einen nichtkohärenten
Lichtstrahl erzeugt. Ein Beispiel für eine nichtkohärente Lichtquelle
ist eine Leuchtdiode (LED). Eine Laserdiode erzeugt einen kohärenten Lichtstrahl,
d.h. einen Strahl aus Licht mit im Wesentlichen gleichmäßiger Frequenz
und mit der Eigenschaft, dass sich der Laserlichtstrahl nicht im
selben Ausmaß wie
ein nichtkohärenter
Lichtstrahl ausbreitet. Die Verwendung eines Laserstrahls, wie ein
von einer Laserdiode erzeugter, ist von Vorteil, allerdings ist
die Verwendung einer Laserdiode nicht notwendig. Laserdioden sind
im Vergleich zu LEDs jedoch teuer. In einigen Anwendungsbereichen
arbeiten LEDs zufriedenstellend. In der gesamten vorliegenden Beschreibung
schließen
die Begriffe „Laserstrahl" oder „Laserdiode" „Lichtstrahl" oder „LED" ein.The invention will be described in which a light beam is generated by a laser diode, wherein the light beam 12 is a laser light beam. However, the invention may also be practiced with a light source that produces a non-coherent light beam. An example of a non-coherent light source is a light emitting diode (LED). A laser diode produces a coherent light beam, ie a beam of light of substantially uniform frequency and having the property that the laser light beam does not propagate to the same extent as a non-coherent light beam. The use of a laser beam, such as one generated by a laser diode, is advantageous, however, the use of a laser diode is not necessary. However, laser diodes are expensive compared to LEDs. LEDs work satisfactorily in some applications. Throughout the present specification, the terms "laser beam" or "laser diode" include "light beam" or "LED".
Die
Zelle 10 trägt
eine Struktur, die eine Laserdiode 14 beinhaltet, die,
wenn sie erregt wird, einen Laserstrahl 12 produziert.
Laserdioden des mit 14 gekennzeichneten Typs sind temperaturempfindlich.
Das heißt,
die Frequenz des von der Diode 14 produzierten Laserlichts
variiert je nach der Temperatur der Diode. Für eine akkurate Messung ist
es wichtig, dass die Frequenz des Laserstrahls 12 innerhalb
eines recht engen Bereichs geregelt wird, was wiederum bedeutet,
dass die Temperatur der Laserdiode 14 geregelt werden muss.
Zu diesem Zweck wird ein Temperaturregelsystem verwendet, das allgemein
mit dem Block 16 dargestellt ist und im Folgenden ausführlich beschrieben
wird.The cell 10 carries a structure that is a laser diode 14 which, when excited, produces a laser beam 12 produced. Laser diodes of the 14 labeled type are temperature sensitive. That is, the frequency of the diode 14 produced laser light varies depending on the temperature of the diode. For an accurate measurement, it is important that the frequency of the laser beam 12 is controlled within a fairly narrow range, which in turn means that the temperature of the laser diode 14 must be regulated. For this purpose, a temperature control system is used, generally with the block 16 is shown and described in detail below.
Die
vorliegende Erfindung funktioniert, indem der Laserstrahl 12 durch
eine Gasprobe bewegt und der Konzentrationswert eines gewählten Gases
in der Gasprobe durch Messen der Absorption des Laserstrahls bestimmt
wird. Diese Technik wird allgemein als „Laserabsorptionsspektroskopie" bezeichnet. Die
Zelle 10, einschließlich
der in Bezug auf sie befestigten Komponenten, bildet ein abstimmbares
Laserdiodenabsorptionsspektroskop. Es sind Durchflusskanäle vorgesehen, über die
eine Gasprobe durch die Zelle 10 bewegt wird. Das Probengas
strömt über einen
Einlass 18 in der Einlassröhre 20 hinein und
strömt
durch den Filter 22 in das Innere der Zelle 10.
Das Gas strömt
durch die Zelle 10 zu einer Auslassröhre 24, die mit dem
Temperaturregelsystem 16 verbunden ist. Gas wird durch
das System mittels einer Gaspumpe 26 zu einer Austragröhre 28 bewegt, über die
die Gasprobe in die Umgebung zurückgeführt wird.The present invention works by the laser beam 12 is moved through a gas sample and the concentration value of a selected gas in the gas sample is determined by measuring the absorption of the laser beam. This technique is commonly referred to as "laser absorption spectroscopy." The cell 10 , including the components attached to them, forms a tunable laser diode absorption spectroscope. There are flow channels through which a gas sample passes through the cell 10 is moved. The sample gas flows through an inlet 18 in the inlet tube 20 into it and flows through the filter 22 into the interior of the cell 10 , The gas flows through the cell 10 to an outlet tube 24 that with the temperature control system 16 connected is. Gas is passed through the system by means of a gas pump 26 to a discharge tube 28 moves, over which the gas sample is returned to the environment.
Der
Laserstrahl 12 strömt
durch ein Fenster (wird anschließend beschrieben). Ein Teil
des Strahls strömt
durch eine Apertur 30 in einem ersten Spiegel 44.
Die Ziffer 12A stellt den ersten Durchgang des Strahls im
Innern der Zelle 10 dar. Ein Teil des Laserstrahls 12 wird
von dem Fenster reflektiert, wobei der reflektierte Strahl mit der
Ziffer 12B angedeutet ist. Ein Fotodetektor 23 ist
so angeordnet, dass er die Interzeption des reflektierten Strahls 12B empfängt und
ein elektrisches Signal erzeugt, das die Intensität des Laserstrahls 12 repräsentiert.
Das elektrische Signal vom Fotodetektor 32 wird über den
Leiter 34 zu einem Verstärker 36 übertragen,
der eine Analog-Digital-Wandlerschaltung 38 speist,
die ein referenziertes Digitaleingangssignal über den Leiter 40 liefert,
der einen Mikroprozessor 42 speist.The laser beam 12 flows through a window (to be described later). Part of the jet flows through an aperture 30 in a first mirror 44 , The numeral 12A represents the first passage of the beam inside the cell 10 dar. A part of the laser beam 12 is reflected from the window, with the reflected beam with the digit 12B is indicated. A photodetector 23 is arranged so that it is the interception of the reflected beam 12B receives and generates an electrical signal indicating the intensity of the laser beam 12 represents. The electrical signal from the photodetector 32 gets over the ladder 34 to an amplifier 36 transmitted, which is an analog-to-digital converter circuit 38 feeds a referenced digital input signal over the conductor 40 which supplies a microprocessor 42 fed.
Die
Zelle 10 ist von einem Typ, der allgemein als „Herriott"-Zelle bekannt ist.
Diese Bezeichnung stammt von dem Erfinder einer Zelle, die gegenüberliegende
Spiegel verwendet, die einen Lichtstrahl zwischen sich hin und her
reflektieren, damit ein relativ langer Weg in einem verhältnismäßig kürzeren Instrument erhalten
werden kann, und in der der Weg in einem kreisförmigen Muster vorliegt. Die
Zelle 10 der vorliegenden Erfindung ist zwar im Allgemeinen
vom „Herriott"-Typ, doch weist
sie viele Verbesserungen und Innovationen auf, die im Folgenden
ausführlich
beschrieben werden.The cell 10 is of a type commonly known as the "Herriott" cell, a name originating from the inventor of a cell using opposing mirrors which reflect a beam of light between itself and thus a relatively long path in a relatively shorter instrument and in which the path is in a circular pattern 10 While the present invention is generally of the Herriott type, it has many improvements and innovations that will be described in detail below.
Die
Zell 10 verwendet einen ersten Spiegel 44 und
einen gegenüberliegenden
zweiten Spiegel 46. Eine kleine Apertur 30 ist
in dem ersten Spiegel 44 vorgesehen, durch die der Laserstrahl
passiert und den Strahl 12A innerhalb der Zelle bildet,
der zuerst auf den zweiten Spiegel 46 trifft. Der Strahl 12A wird
zwischen den Spiegeln 44 und 46 mehrere Male aufeinander
folgend reflektiert, bevor er den zweiten Spiegel 46 durch eine
kleine Apertur 48 verlässt.
Der Austrittsstrahl 50 trifft auf einen zweiten Fotodetektor 52,
der ein Signal an den Leiter 54 anlegt, der eine Verstärkerschaltung 56 speist,
die einen zweiten Analog-Digital-Wandler 58 speist, der
ein Digitalsignal an den Leiter 60 anlegt, der zum Mikroprozessor 42 führt.The cell 10 uses a first mirror 44 and an opposite second mirror 46 , A small aperture 30 is in the first mirror 44 provided, through which the laser beam passes and the beam 12A inside the cell, the first on the second mirror 46 meets. The beam 12A will be between the mirrors 44 and 46 Reflected consecutively several times before passing the second mirror 46 through a small aperture 48 leaves. The exit jet 50 meets a second photodetector 52 that sends a signal to the conductor 54 applies, an amplifier circuit 56 feeds a second analog-to-digital converter 58 feeds a digital signal to the conductor 60 applies to the microprocessor 42 leads.
Die
Verfahren und Systeme zur Umsetzung der erfindungsgemäßen Verfahren
werden zum Nachweisen gewählter
Gase wie Methan, Butan, Propan, Ethan, Sauerstoff, Wasserstoff,
Stickstoff, H2O, Hydrogenfluorid, Hydrogenchlorid,
Hydrogenborid, Hydrogensulfid, Ammoniak, CO, CO2,
NO, NO2 und SF6 verwendet. Das
System kann zum Nachweisen verschiedener ausgewählter Gase adaptiert werden,
indem die Laserdiode durch eine solche ersetzt wird, die die Frequenz
von Licht produziert, die von dem Gas von Interesse am ehesten absorbiert
wird. Wird eine Leuchtdiode (anstelle einer Laserdiode) verwendet,
dann kann das von ihr produzierte breitere Lichtspektrum mehr verschiedene
Gase nachweisen, allerdings gewöhnlich
bei höheren
Konzentrationen. Das System wird in der Form beschrieben, in der
es besonders zum Nachweisen von Methangas von Nutzen ist, da Methan
die Grundkomponente von Erdgas und den meisten künstlich hergestellten Brenngasen
ist. Kommt es in einem Gasverteilungssystem zu einem Leck, so kann
es gewöhnlich
durch Nachweisen der Anwesenheit von Methan geortet werden. Folglich
setzt die Zelle 10 eine Laserdiode 14 ein, die
einen Strahl produziert, der durch eine Frequenz gekennzeichnet
ist, die einem hohen Absorptionsgrad durch Methan entspricht. Probengas
wird durch den Einlass 18 eingesaugt und strömt über die
Einlassröhre 20 in
und durch die Zelle 10, absorbiert, d.h. verringert die
Intensität
des Lichtstrahls 12A im Verhältnis zu der im Probengas enthaltenen
Methanmenge.The methods and systems for practicing the methods of the invention are used to detect selected gases such as methane, butane, propane, ethane, oxygen, hydrogen, nitrogen, H 2 O, hydrogen fluoride, hydrogen chloride, hydrogen boride, hydrogen sulfide, ammonia, CO, CO 2 , NO, NO 2 and SF 6 are used. The system can be adapted to detect various selected gases by replacing the laser diode with one that produces the frequency of light most likely to be absorbed by the gas of interest. If a light-emitting diode (instead of a laser diode) is used, then the wider light spectrum it produces can detect more different gases, but usually at higher con concentrations. The system is described in the form in which it is particularly useful for the detection of methane gas, since methane is the basic component of natural gas and most man-made fuel gases. If a leak occurs in a gas distribution system, it can usually be located by detecting the presence of methane. Consequently, the cell continues 10 a laser diode 14 one which produces a beam characterized by a frequency corresponding to a high degree of absorption by methane. Sample gas is through the inlet 18 sucked in and flows over the inlet tube 20 in and through the cell 10 , that is, reduces the intensity of the light beam 12A in relation to the amount of methane contained in the sample gas.
Der
Lichtstrahl 50 strömt
aus der Apertur 48 in dem zweiten Spiegel 46,
nachdem er viele Male zwischen den Spiegeln 44 und 46 reflektiert
wurde. Im Folgenden wird beschrieben, wie dies erreicht wird. Die Tatsache,
dass der Strahl 12A zwischen seinem Eintritt in die Zelle 10 und
seinem Austritt durch die Apertur 48 mehrere Reflektionen
erfährt,
bedeutet, dass er einen relativ langen Weg zurücklegt, der einem Vielfachen der
Länge der
Zelle 10 entspricht, was wiederum bedeutet, dass reichlich
Gelegenheit zur Absorption des Lichtstrahls durch die Anwesenheit
von Methan in der Gasprobe geboten wird.The light beam 50 flows out of the aperture 48 in the second mirror 46 after many times between the mirrors 44 and 46 was reflected. The following describes how this is achieved. The fact that the beam 12A between his entry into the cell 10 and its exit through the aperture 48 experiencing multiple reflections means that it travels a relatively long distance, many times the length of the cell 10 which, in turn, means there is ample opportunity to absorb the light beam by the presence of methane in the gas sample.
Durch
Vergleichen der Intensität
des Signals auf dem Leiter 34 mit dem auf dem Leiter 54 kann
die Methankonzentration in dem durch die Zelle 10 strömenden Probengas
ermittelt werden. Durch eine akkurate Verarbeitung im Mikroprozessor 42 kann
die in dem durch die Zelle 10 strömenden Probengas enthaltene
Methanmenge mit hoher Genauigkeit bestimmt und zum Beispiel in Teile
je Million Teile ausgedrückt
werden. Die Anwesenheit von Methan kann mit einer Empfindlichkeit
von nur ein paar Teilen je Million Teile oder im Idealfall sogar
mit einer Empfindlichkeit von einem oder weniger als einem Teil
je Million Teile nachgewiesen werden.By comparing the intensity of the signal on the conductor 34 with that on the ladder 54 can the methane concentration in the cell 10 flowing sample gas can be determined. By an accurate processing in the microprocessor 42 Can that be in the cell 10 amount of methane contained in the sample gas is determined with high accuracy and expressed in parts per million The presence of methane can be detected with sensitivity of only a few parts per million parts or, ideally, even with a sensitivity of one or less than one part per million parts.
Wie
zuvor erwähnt,
strömt
der vom Laser 14 ausgehende Strahl 12 durch eine
erste Apertur 30 im ersten Spiegel 44, um den
Strahl 12A in der Zelle zu erzeugen. Wenn der Laserstrahl 12A bei
seiner ersten Passage in der Zelle 10 auf den zweiten Spiegel 46 trifft,
wird der größte Teil
der Strahlintensität
zurück
in Richtung auf den ersten Spiegel 44 reflektiert und anschließend wiederholt
zwischen dem ersten Spiegel 44 und dem zweiten Spiegel 46 reflektiert,
um schließlich
als Austrittsstrahl 50 durch das zweite Fenster 48 auszutreten. Wenn
der Strahl 12A auf den zweiten Spiegel 46 trifft,
gelangt jedoch ein kleiner Teil der Intensität des Strahls durch den Spiegel,
obwohl weder eine Apertur noch ein Fenster vorgesehen ist, da die
meisten Spiegeloberflächen
nicht zu 100 % reflektierend sind. Der Teil des Lichtstrahls 12A,
der durch den zweiten Spiegel 46 geht, erzeugt einen zweiten
Austrittsstrahl 62, der auf einen dritten Fotodetektor 64 trifft.
Dadurch wird ein elektrisches Signal auf dem Leiter 66 erzeugt,
das zu einem dritten Verstärker 68 gesendet
wird, der einen Analog-Digital-Wandler 70 speist, der ein
Digitalsignal über
den Leiter 72 zum Mikroprozessor 42 sendet. Die
Verwendung von zwei separaten Austrittsstrahlen 50 und 62,
die von der Zelle 10 ausgehen, um die Fotodetektoren 52 und 64 zu
aktivieren, ist ein wichtiges Merkmal der vorliegenden Erfindung.
Es ist offensichtlich, dass nur Signale, die auf den den Mikroprozessor 42 speisenden
Leitern 40 und 60 auftreten, zum Messen geringer
Methankonzentrationen in dem durch die Zelle 10 strömenden Gas
erforderlich sind. Der Nachweis sehr geringer Methananteile in dem
Probengas ist wichtig, und dies wird durch die Verwendung eines
langen Lichtwegs für den
Laserstrahl erreicht, bevor der Strahl durch das Fenster 48 austritt;
diese Anordnung ist jedoch nicht erfolgreich, wenn ein Methannachweis
in größerem Maßstab erforderlich
ist. Ist Methan in einem relativ hohen Anteil in dem durch die Zelle
strömenden
Probengas vorhanden, dann wird der Laserstrahl im Wesentlichen vollständig absorbiert,
bevor er durch das Fenster 48 austritt, so dass eine unzureichende
Intensität
des Strahls zur Verwendung bei der Berechnung des prozentualen Anteils
von Methan bei höheren
Konzentrationen in der Gasprobe übrig
bleibt. Dieses Problem wird durch die Verwendung des dritten Fotodetektors 64 gelöst. Der
zweite Austrittsstrahl 62 legt eine relativ kurze Strecke
durch die Gasprobe zurück,
folglich wird der Strahl 62 in einem Grad gedämpft, der
eine Messung ermöglichen
kann, selbst wenn der prozentuale Anteil von Methan im Testgas ein
Vielfaches über
dem liegt, der mit dem Fotodetektor 52 nachweisbar ist.
Mit anderen Worten, durch die Verwendung von zwei separaten Austrittsstrahlen 50 und 62,
einer mit einem kurzen Lichtweg im Testgas und der andere mit einem
langen Lichtweg, entsteht ein System mit stark vergrößertem Konzentrationsbereich
von messbarem Methan.As previously mentioned, it flows from the laser 14 outgoing beam 12 through a first aperture 30 in the first mirror 44 to the beam 12A in the cell. When the laser beam 12A at his first passage in the cell 10 on the second mirror 46 the majority of the beam intensity is returned towards the first mirror 44 reflected and then repeated between the first mirror 44 and the second mirror 46 reflected, finally, as an exit beam 50 through the second window 48 withdraw. If the beam 12A on the second mirror 46 However, a small portion of the intensity of the beam passes through the mirror, although neither an aperture nor a window is provided, since most mirror surfaces are not 100% reflective. The part of the light beam 12A passing through the second mirror 46 goes, creates a second exit jet 62 pointing at a third photodetector 64 meets. This will cause an electrical signal on the conductor 66 generated that to a third amplifier 68 is sent, which is an analog-to-digital converter 70 feeds a digital signal over the conductor 72 to the microprocessor 42 sends. The use of two separate exit jets 50 and 62 that from the cell 10 go out to the photodetectors 52 and 64 to activate is an important feature of the present invention. It is obvious that only signals that are on the the microprocessor 42 feeding ladders 40 and 60 occur to measure low methane concentrations in the cell 10 flowing gas are required. The detection of very low levels of methane in the sample gas is important and this is achieved by using a long path of light for the laser beam before the beam passes through the window 48 exit; however, this arrangement is unsuccessful when methane detection is required on a larger scale. If methane is present in a relatively high proportion in the sample gas flowing through the cell, then the laser beam is substantially completely absorbed before passing through the window 48 so that insufficient beam intensity is left for use in calculating the percentage of methane at higher concentrations in the gas sample. This problem is caused by the use of the third photodetector 64 solved. The second exit jet 62 travels a relatively short distance through the gas sample, hence the beam 62 attenuated to a degree that may allow for measurement, even if the percentage of methane in the test gas is many times greater than that with the photodetector 52 is detectable. In other words, by using two separate exit jets 50 and 62 one with a short light path in the test gas and the other with a long light path, creates a system with a greatly increased concentration range of measurable methane.
In
der bevorzugten Praxis der Erfindung wird der Laserlichtstrahl 12 nicht
durch eine gleichmäßige Spannung
erregt, um einen konstanten Strahl zu produzieren, sondern stattdessen
wird der Laser 14 mit einem sägezahnwellenförmigen Strom
gepulst. Jede Pulsierung der Laserdiode 14 erzeugt einen
Impulslaserstrahl 12, dessen Frequenz über eine ausgewählte Bandbreite
variiert. Jeder Stromimpuls produziert Licht, dessen Frequenz oberhalb
und unterhalb der Frequenz variiert, die die größte Absorption durch das spezifische
Gas durchmacht, auf dessen Nachweis das Instrument ausgelegt ist.In the preferred practice of the invention, the laser light beam becomes 12 not excited by a uniform voltage to produce a constant beam, but instead becomes the laser 14 pulsed with a sawtooth wave current. Every pulsation of the laser diode 14 generates a pulsed laser beam 12 whose frequency varies over a selected bandwidth. Each current pulse produces light whose frequency varies above and below the frequency that is the highest absorption by the specific gas on whose detection the instrument is designed.
Da
der Laser 14 durch eine spezielle Impulsstromwellenform
erregt wird, sind die von den Fotodetektoren 32, 52 und 64 (siehe 1)
erzeugten resultierenden Signale durch diese spezielle Wellenform
gekennzeichnet. Innerhalb des Mikroprozessors 42 wird die
Absorption daher erfasst, indem das Signal der Fotodetektoren 52 und 64 durch
das Signal des Fotodetektors 32 elektronisch dividiert
wird.Because the laser 14 is excited by a special pulse current waveform are those of the Fotodetek tors 32 . 52 and 64 (please refer 1 ) generated resulting signals characterized by this particular waveform. Inside the microprocessor 42 Therefore, the absorption is detected by the signal of the photodetectors 52 and 64 by the signal of the photodetector 32 divided electronically.
Die 2 bis 7 stellen
die Einzelheiten einer bevorzugten Ausgestaltung der Zelle 10 dar.
Wie zuvor erwähnt,
ist die Zelle 10 im Allgemeinen eine Herriott-Zelle, die
jedoch signifikante und wichtige Änderungen, Innovationen und
Verbesserungen aufweist.The 2 to 7 provide the details of a preferred embodiment of the cell 10 As previously mentioned, the cell is 10 generally a Herriott cell, but with significant and important changes, innovations, and improvements.
3 ist
eine Querschnittsansicht, die den Grundaufbau der Zelle 10 darstellt.
Diese Figur zeigt eine Struktur mit einem ersten Spiegel 44 und
einem zweiten Spiegel 46. Ein einzigartiges Merkmal der
Zelle 10, das in den 2, 3, 4 und 6 zu
sehen ist, ist die Verwendung eines zentralen Achsenelements 74 mit
einem ersten Ende 76, das in den ersten Spiegel 44 eingreift,
und einem zweiten Ende 77, das in den zweiten Spiegel 46 eingreift.
Die Außenfläche 78 der
zentralen Achse 74 ist profiliert, das heißt, sie
hat einen geringeren Durchmesser in der Mitte als an den Enden 76 und 77 für Zwecke,
die im Folgenden beschrieben werden. 3 is a cross-sectional view showing the basic structure of the cell 10 represents. This figure shows a structure with a first mirror 44 and a second mirror 46 , A unique feature of the cell 10 that in the 2 . 3 . 4 and 6 can be seen is the use of a central axis element 74 with a first end 76 that in the first mirror 44 engages, and a second end 77 that in the second mirror 46 intervenes. The outer surface 78 the central axis 74 is profiled, that is, it has a smaller diameter in the middle than at the ends 76 and 77 for purposes described below.
Die
zentrale Achse 74 wird von einem Gehäuse 80 umgeben, das
in der illustrierten Anordnung (siehe 4) aus zwei
zusammengehörenden
Teilen 80A und 80B besteht, die zusammenpassen.
Das Gehäuse 80A, 80B weist
eine Innenfläche 82 auf,
die von der Außenfläche 78 der
zentralen Achse beabstandet ist, so dass ein länglicher ringförmiger Bereich 84 entsteht.
Und durch diesen ringförmigen
Bereich 84 bewegt sich das Probengas, in dem die Absorption
von Licht von der Laserdiode stattfindet und durch den die Konzentration
von Methan in der Gasprobe nachgewiesen wird.The central axis 74 is from a housing 80 surrounded in the illustrated arrangement (see 4 ) of two related parts 80A and 80B that fit together. The housing 80A . 80B has an inner surface 82 on, from the outside surface 78 the central axis is spaced, so that an elongated annular portion 84 arises. And through this annular area 84 the sample gas moves, in which the absorption of light from the laser diode takes place and by which the concentration of methane in the gas sample is detected.
Im
ersten Spiegel 44 ist eine erste Apertur 30 ausgebildet,
wie in 2 zu sehen ist. Der Lichtstrahl 12 von
der Laserdiode 14 strömt
zuerst durch eine Linse 86, die in einer Öffnung in
einer Linsentragplatte 89 montiert ist, und trifft auf
ein geneigtes Fenster 88. Am Fenster 88 wird ein
Teil des Strahls 12 reflektiert und erzeugt den Laserstrahl 12B,
der mit Bezug auf 1 erläutert wurde. Der Strahl 12B gehtt
durch eine Linse 90 und trifft auf den ersten Fotodetektor 32.
Der Strahl 12 geht durch das geneigte Fenster 88 und
durch die erste Apertur 30 im ersten Spiegel 44.In the first mirror 44 is a first aperture 30 trained as in 2 you can see. The light beam 12 from the laser diode 14 flows through a lens first 86 lying in an opening in a lens carrying plate 89 is mounted, and meets a tilted window 88 , At the window 88 becomes a part of the beam 12 reflects and generates the laser beam 12B who's referring to 1 was explained. The beam 12B goes through a lens 90 and meets the first photodetector 32 , The beam 12 goes through the inclined window 88 and through the first aperture 30 in the first mirror 44 ,
Wie
auf der linken Seite in 3 zu sehen ist, hat der zweite
Spiegel 46 eine Apertur 48 wie zuvor erwähnt, die
mit einem Durchlass 92 in einem Abdeckelement 94 fluchtet, über die
der Strahl aus der Zelle austritt. Der Fotodetektor 52,
der mit Bezug auf 1 beschrieben wurde, fluchtet
mit dem Durchlass 92. In 3 sind die
Apertur 30 im ersten Spiegel 44 und die Aperaturen 48 im
zweiten Spiegel 46 so dargestellt, als wären sie,
durch eine Längsachse
(nicht dargestellt) der Achse 76 gesehen, in einer vertikalen
Ebene. Dies dient lediglich Illustrationszwecken, da es nicht erforderlich
ist, dass sie in derselben Ebene liegen, und wie in 9 zu
sehen ist, die nun erörtert
wird, sind die Aperturen 30 und 48 typischerweise
nicht in derselben Ebene.As on the left in 3 can be seen, has the second mirror 46 an aperture 48 as previously mentioned, with one passage 92 in a cover 94 Aligns over which the beam exits the cell. The photodetector 52 who's referring to 1 described is aligned with the passage 92 , In 3 are the aperture 30 in the first mirror 44 and the aperatures 48 in the second mirror 46 represented as if they were through a longitudinal axis (not shown) of the axis 76 seen in a vertical plane. This is for illustrative purposes only, as it is not required to be in the same plane as in 9 which is now being discussed are the apertures 30 and 48 typically not in the same plane.
Das
Muster des Lichtlaufs des in die Zelle 10 eintretenden
Strahls ist in 9 dargestellt, in der der erste
Spiegel 44 und der zweite Spiegel 46 durch Kreise
repräsentiert
sind und die kleineren Kreise auf die erste Apertur 30 und
die zweite Apertur 48 hinweisen. Die bei 14 dargestellte
Laserdiode produziert den Laserstrahl 12A wie zuvor beschrieben,
der durch die erste Apertur 30 in die Zelle eintritt. Der
Strahl 12A trifft auf den zweiten Spiegel 46.
Wie zuvor erwähnt,
geht ein Teil des Strahls 12A durch den zweiten Spiegel 46 und erzeugt
den Strahl 62, der auf den dritten Fotodetektor 64 trifft.
Der größte Teil
des Strahls 12A wird wie durch den Pfeil 96 angedeutet
reflektiert. Der Strahl bewegt sich zwischen den Spiegeln 44 und 46 viele
Male hin und her und tritt schließlich aus der Apertur 48 im
zweiten Spiegel 46 aus, wobei der austretende Strahl, der
mit Bezug auf 1 beschrieben wurde, mit der
Ziffer 50 gekennzeichnet ist. Der Strahl 50 trifft
auf den zweiten Fotodetektor 52.The pattern of the light run of the cell 10 entering beam is in 9 shown in the first mirror 44 and the second mirror 46 are represented by circles and the smaller circles on the first aperture 30 and the second aperture 48 clues. The at 14 The illustrated laser diode produces the laser beam 12A as previously described, through the first aperture 30 enters the cell. The beam 12A meets the second mirror 46 , As previously mentioned, part of the beam goes 12A through the second mirror 46 and generates the beam 62 pointing at the third photodetector 64 meets. Most of the beam 12A becomes like the arrow 96 indicated reflected. The beam moves between the mirrors 44 and 46 many times back and forth and finally leaves the aperture 48 in the second mirror 46 out, with the exiting beam, with reference to 1 was described with the numeral 50 is marked. The beam 50 meets the second photodetector 52 ,
9 stellt
graphisch den einzigartigen Weg des Strahls dar, der mehrere Male
zwischen den Spiegeln 44 und 46 innerhalb des
ringförmigen
Bereichs, der die zentrale Achse umgibt, hin und her geht. Diese Anordnung
liefert eine sehr starre Zellstruktur mit einem extrem langen Weg, über den
der Laserstrahl durch den ringförmigen
Bereich strömt,
der ständig
mit Probengas versorgt wird. Dieser lange Weg, der durch mehrere
Reflektionen des Lichtstrahls erreicht wird, bietet eine hohe Empfindlichkeit
bei der Absorption des Laserstrahls, während gleichzeitig ein kompaktes,
robustes und leicht zu tragendes System zum Nachweisen der Anwesenheit
eines gewähltes
Gases wie Methan bereitgestellt wird. 9 Graphically represents the unique path of the beam, which several times between the mirrors 44 and 46 within the annular area surrounding the central axis. This arrangement provides a very rigid cell structure with an extremely long path over which the laser beam passes through the annular area which is constantly supplied with sample gas. This long path, achieved by multiple reflections of the light beam, provides high sensitivity to the absorption of the laser beam while providing a compact, robust and easy-to-carry system for detecting the presence of a selected gas, such as methane.
Wie
in 9 zu sehen ist, tritt der Lichtstrahl 12A in
einem schrägen
Winkel relativ zur imaginären Längsachse
der Achse 74 in die Zelle ein. Dadurch schreitet der Einfallspunkt
des auf die gegenüberliegenden Spiegel 44 und 46 treffenden
Lichtstrahls radial um die Spiegel voran. Die Querschnittsfläche des
ringförmigen Absorptionsbereichs 84,
durch den der Lichtstrahl zwischen den gegenüberliegenden Spiegeln 44 und 46 strömt, ist
an den Spiegeloberflächen
am größten und
am Mittelpunkt zwischen den Spiegeln am kleinsten. Aus diesem Grund
ist der Durchmesser der Achse 74 am Mittelpunkt zwischen
den gegenüberliegenden
Enden 76 und 77 der Achse wie in 3 zu
sehen am kleinsten.As in 9 can be seen, the light beam enters 12A at an oblique angle relative to the imaginary longitudinal axis of the axis 74 into the cell. As a result, the point of incidence of the on the opposite mirror 44 and 46 meeting the light beam radially around the mirror ahead. The cross-sectional area of the annular absorption area 84 through which the light beam between the opposite mirrors 44 and 46 flows, is greatest at the mirror surfaces and smallest at the midpoint between the mirrors. For this reason, the diameter of the axis 74 at the midpoint between the opposite ends 76 and 77 the axis as in 3 to see the smallest.
Die
Laserdiode 14 wird von einer Laserhalterstruktur getragen,
die allgemein mit der Ziffer 98 bezeichnet ist (siehe 4, 5, 6 und 7).
Eine andere Laserhalterstruktur 98A ist in den 2 und 11 dargestellt. 7 ist
eine auseinander gezogene Darstellung wichtiger Teile der Laserhalterstruktur 98,
die an einem Ende der Zelle 10 von Strukturhalterungen 100 getragen
wird, die in den 4 und 5 dargestellt sind.
Wie am besten in 7 zu sehen ist, beinhaltet die
Laserhalterstruktur 98 eine Tragbasis 102 mit
angeformten parallelen Teilen 104 und 106. Das
heißt,
die Tragbasis beinhaltet den angeformten Teil 104, der
mit der Basis 102 um eine vertikale Achse schwenkbar verbunden
ist, wohingegen der Teil 106 an den Teil 104 um eine
horizontale Achse schwenkbar angeformt ist. Durch diese einzigartige
Doppelachsenanordnung kann die Ausrichtung des Strahls von der Laserdiode
sehr genau eingestellt werden, um die in 9 dargestellten
kritischen Wege bereitzustellen, so dass die Mehrfachwege erzeugt
werden können
und der Strahl die Zelle ordnungsgemäß verlässt, um die Fotodioden 52 und 64 zu
schneiden. Eine alternative Ausgestaltung des Zweiachsen-Strahlausrichtungssystems
der vorliegenden Erfindung wird nachfolgend mit Bezug auf die 2 und 11 beschrieben.The laser diode 14 is supported by a laser holder structure, generally with the numeral 98 is designated (see 4 . 5 . 6 and 7 ). Another laser holder structure 98A is in the 2 and 11 shown. 7 is an exploded view of important parts of the laser holder structure 98 at one end of the cell 10 of structural supports 100 is worn in the 4 and 5 are shown. How best in 7 can be seen, includes the laser holder structure 98 a support base 102 with molded parallel parts 104 and 106 , That is, the support base includes the molded part 104 that with the base 102 pivotally connected about a vertical axis, whereas the part 106 to the part 104 is formed pivotably about a horizontal axis. This unique dual-axis arrangement allows the beam to be adjusted very precisely by the laser diode to match the direction of the beam 9 provide critical paths so that the multiple paths can be generated and the beam leaves the cell properly to the photodiodes 52 and 64 to cut. An alternative embodiment of the two-axis beam alignment system of the present invention will be described below with reference to FIGS 2 and 11 described.
Wie
in 7 zu sehen ist, hat ein Austauscherstück 108 einen
angeformten vorwärts
verlaufenden Stopfenteil 110. Das Austauscherstück 108 ist
an der Tragbasis 102 mit einem Raumring 112 befestigt.
Auf der vorderen Oberfläche
des Austauscherstücks 108 befindet
sich ein nicht metallischer Isolator 114. Wie im Folgenden
ausführlicher
beschrieben wird, sind auf der vorderen Oberfläche 116 des Stopfenteils 110 des
Austauscherstücks
eine Peltier-Vorrichtung 118, ein Substrat 120,
ein Thermistor 122 und eine Laserdiode 14 montiert. 8 stellt
schematisch die Strukturbeziehungen zwischen metallischer Senke 110,
Peltier 118, Substrat 120, Thermistor 122 und
Diode 14 dar.As in 7 can be seen, has an exchanger piece 108 a molded forward plug portion 110 , The exchanger piece 108 is at the support base 102 with a space ring 112 attached. On the front surface of the exchanger piece 108 there is a non-metallic insulator 114 , As will be described in more detail below, on the front surface 116 of the plug part 110 of the exchanger piece a Peltier device 118 , a substrate 120 , a thermistor 122 and a laser diode 14 assembled. 8th schematically illustrates the structural relationships between metallic sink 110 , Peltier 118 , Substrate 120 , Thermistor 122 and diode 14 represents.
Wie
in 7 zu sehen ist, beinhaltet das hintere Ende des
Austauschstücks 108 einen
angeformten Röhrenteil 124,
in dem Wärmeaustauschrippen 126 enthalten
sind (siehe 7 und 8). Ein
Widerstand 128 (siehe 8) befindet
sich in einer Wärmeleitbeziehung
zum Stopfenteil 110, der als metallische Wärmesenke
fungiert.As in 7 can be seen, includes the rear end of the replacement piece 108 a molded tubular part 124 in which heat exchange ribs 126 are included (see 7 and 8th ). A resistance 128 (please refer 8th ) is in a heat-conducting relationship to the plug part 110 acting as a metallic heat sink.
Ein
wichtiger Aspekt der Erfindung sind das Verfahren und das System
zur Regelung der Temperatur der Laserdiode 14. Für eine effektive
Messung der Gaskonzentration durch spektrografische Absorption eines Lichtstrahls
ist es wichtig, dass die Frequenz des Lichtstrahls innerhalb eines
engen Bereichs geregelt wird. Eine Laserdiode kann so ausgelegt
sein, dass sie die Lichtfrequenz liefert, die von Methanmolekülen am ehesten
absorbiert wird. Weicht die Frequenz jedoch von der kritischen Absorptionsfrequenz
ab, dann wird die Genauigkeit des Systems herabgesetzt. Ferner wird
die Frequenz von Licht, das von einer Laserdiode ausgestrahlt wird,
durch die Temperatur der Diode beeinflusst. Das erfindungsgemäße System
zur Regelung der Temperatur der Laserdiode 14 ist am besten
in den 8 und 10 illustriert. 10 zeigt
schematisch die Beziehung zwischen der Laserdiode 14 und
ihren Wärmeregelungskomponenten.
Die Laserdiode 14 wird an ein Substrat 120 zum
Beispiel durch Aufbringen eines wärmeübertragenden Klebstoffs befestigt.
Außerdem wird
ein Widerstand 122 am Substrat 120 befestigt.
Das Substrat 120 wird an ein Peltier-Element 118 gebunden,
das als ein thermoelektrisches Kühlelement
fungiert. Das Peltier 118 wird z.B. durch Löten thermisch
an eine metallische Senke 110 gebunden, die der Stopfenteil
des Austauscherstücks 108 ist,
wie in 7 zu sehen ist. Die Metallsenke befindet sich
wiederum im thermischen Kontakt mit einer oder mehreren Wärmeaustauschrippen 126,
wie die 2, 7 und 8 zeigen.
Wie in 8 und im elektrischen Diagramm in 10 zu
sehen, ist mit der Metallsenke 110 auch ein Widerstand 128 in
Wärmekontakt.An important aspect of the invention is the method and system for controlling the temperature of the laser diode 14 , For effective measurement of gas concentration by spectrographic absorption of a light beam, it is important that the frequency of the light beam be controlled within a narrow range. A laser diode can be designed to deliver the light frequency most likely to be absorbed by methane molecules. However, if the frequency deviates from the critical absorption frequency, the accuracy of the system will be degraded. Further, the frequency of light emitted from a laser diode is affected by the temperature of the diode. The inventive system for controlling the temperature of the laser diode 14 is best in the 8th and 10 illustrated. 10 schematically shows the relationship between the laser diode 14 and their thermal control components. The laser diode 14 gets to a substrate 120 attached for example by applying a heat transfer adhesive. There will also be a resistance 122 on the substrate 120 attached. The substrate 120 becomes a Peltier element 118 bonded, which functions as a thermoelectric cooling element. The Peltier 118 For example, it is thermally attached to a metallic sink by soldering 110 bound to the plug part of the exchanger piece 108 is how in 7 you can see. The metal sink is again in thermal contact with one or more heat exchange fins 126 , as the 2 . 7 and 8th demonstrate. As in 8th and in the electrical diagram in 10 to see is with the metal sink 110 also a resistance 128 in thermal contact.
10 zeigt
die elektrischen Wechselbeziehungen der Wärmeregelungskomponenten. Der
Thermistor 122 erzeugt ein Spannungssignal proportional
zur Temperatur des Substrats 120, die wiederum mit der Temperatur
der Laserdiode 14 verknüpft
ist. Ein Signal vom Thermistor 122 wird an die Stromgeneratorschaltung 130 angelegt
und das Signal vom Generator 130 wird an einen Analog-Digital-Wandler 132 angelegt,
dessen Ausgangssignal zu einem Mikroprozessor 138 gesendet
wird. Eine Temperaturauswahlschaltung 136 liefert ein Spannungsausgangssignal,
das direkt mit der gewünschten
Temperatur des Substrats 120 und daher der Laserdiode 14 zusammenhängt und
zu einem Mikroprozessor 138 gesendet wird. Im Mikroprozessor 138 wird
das Signal von der Temperaturauswahlschaltung 136 mit der
vom Thermistor 122 erfassten digital kodierten Temperatur
verglichen, um ein Ausgangssteuersignal an den Leiter 140 anzulegen.
Das Signal am Leiter 140 wird zu einem Wärmemodus-Ein/Aus-Schalter 142 gesendet.
Wenn der Schalter 142 in der „Ein"-Position ist, wird dieses Signal zum
Widerstand 128 gesendet, der die Aufgabe hat, Wärme nach
Bedarf zum Stopfenteil 110 des Wärmeaustauschers zu liefern. 10 shows the electrical correlations of the thermal control components. The thermistor 122 generates a voltage signal proportional to the temperature of the substrate 120 , in turn, with the temperature of the laser diode 14 is linked. A signal from the thermistor 122 is to the power generator circuit 130 applied and the signal from the generator 130 is connected to an analog-to-digital converter 132 whose output signal is applied to a microprocessor 138 is sent. A temperature selection circuit 136 provides a voltage output directly connected to the desired temperature of the substrate 120 and therefore the laser diode 14 related and to a microprocessor 138 is sent. In the microprocessor 138 becomes the signal from the temperature selection circuit 136 with the thermistor 122 detected digitally encoded temperature compared to an output control signal to the conductor 140 to apply. The signal on the conductor 140 becomes a heat mode on / off switch 142 Posted. When the switch 142 in the "on" position is, this signal becomes the resistor 128 which has the task of heat as needed to the plug part 110 to supply the heat exchanger.
Der
Ausgang vom Mikroprozessor 138 wird zu einem Peltier-Steuersignalgenerator 144 gesendet,
der wiederum einen Digital-Analog-Wandler 146 speist, dessen
Ausgang zu einem Peltier-Stromgenerator 148 gesendet wird,
der wiederum einen Steuerstrom zum Peltier-Element 118 liefert.The output from the microprocessor 138 becomes a Peltier control signal generator 144 sent, in turn, a digital-to-analog converter 146 feeds its output to a Peltier power generator 148 which in turn sends a control current to the Peltier element 118 supplies.
Unter
den meisten Betriebsbedingungen hat das erfindungsgemäße Wärmeaustauschsystem
die Aufgabe, die Laserdiode 14 zu kühlen. Das heißt, Laserdioden
erzeugen gewöhnlich
eine beträchtliche
Wärme, so
dass es normalerweise notwendig ist, Wärme von der Laserdiode abzuführen, um
sie innerhalb des gewünschten
Betriebsbereichs zu halten. Aus diesem Grund wird der Widerstand 128 unter
normalen Betriebsbedingungen nicht verwendet, da seine einzige Aufgabe
darin besteht, bei Bedarf Wärme
zum Stopfenteilwärmeaustauscher 110 zu
liefern, damit die Wärme
mit Hilfe des Peltier 118 zum Substrat 120 übertragen
und somit eine warme Umgebung für
die Laserdiode 14 bereitgestellt wird.Under most operating conditions, the heat exchange system according to the invention has the task of the laser diode 14 to cool. That is, laser diodes usually generate significant heat, so it is usually necessary to dissipate heat from the laser diode to keep it within the desired operating range. Because of this, the resistance becomes 128 is not used under normal operating conditions, since its sole purpose is to provide heat to the plug heat exchanger when needed 110 to deliver the heat with the help of the Peltier 118 to the substrate 120 transmit and thus a warm environment for the laser diode 14 provided.
Da
der Laser unter typischen Umgebungstemperaturen normalerweise gekühlt werden
muss, ist ein wichtiger Aspekt der vorliegenden Erfindung das Konzept
der Nutzung des Testgases als Kühlmedium.
Gemäß 1 wird
das Testgas nach dem Strömen
durch die Zelle 10 zum Wärmeregelsystem 16 geleitet,
das in den 8 und 10 dargestellt
ist und dessen Elemente auch in 7 dargestellt
sind. Testgas, das durch die Zelle 10 geführt wird,
in der die Methankonzentration ermittelt wird, wird vorteilhafterweise
auch als Kühlmedium
verwendet. Das Testgas strömt
aus der Zelle 10 durch das Kühlsystem und an den im Röhrenteil 124 des Gehäuses enthaltenen
Kühlrippen 126 vorbei,
wie in 7 illustriert und in 8 schematisch
dargestellt ist.Since the laser must normally be cooled under typical ambient temperatures, an important aspect of the present invention is the concept of using the test gas as the cooling medium. According to 1 the test gas will be after passing through the cell 10 to the thermal control system 16 that is in the 8th and 10 is shown and its elements also in 7 are shown. Test gas that passes through the cell 10 is guided, in which the methane concentration is determined, is advantageously used as a cooling medium. The test gas flows out of the cell 10 through the cooling system and to the tube part 124 the housing contained cooling fins 126 over, as in 7 illustrated and in 8th is shown schematically.
Der
von einer Laserdiode bei ausgewählten
Spannungen aufgenommene Strom kann als Indikator für die Temperatur
der Diode verwendet werden. Das heißt, mit der Zunahme der Temperatur
einer Laserdiode nimmt der Widerstand gegen den Stromfluss zu. Diese
Eigenschaft kann als ein Mittel zum Regeln der Temperatur der Diode
genutzt werden. Wenn der von einer Diode aufgenommene Strom bekannt
ist, kann das in den 8 und 10 offenbarte
Temperaturregelungssystem verwendet werden. Anstelle des Thermistors 122 kann
daher ein Amperemeter in Reihe mit der Laserdiode 14 verwendet
werden, um ein Steuersignal zum Messstromgenerator 130 zu
senden, um ein entsprechendes Signal zu erzeugen, das zum A/D-Wandler 132 und
dann zum Mikroprozessor 138 gesendet wird. Mit der korrekten
Software lenkt der Mikroprozessor eine Temperaturkorrekturmaßnahme durch
die Peltier-Vorrichtung 118 oder den Widerstand 128.
Dieses System hat zwar theoretisch gute Möglichkeiten, doch ist das Erreichen
der erforderlichen Genauigkeit der Diodentemperaturregelung unter
Verwendung von Diodenspannung und Strom in der Praxis schwierig
gewesen.The current consumed by a laser diode at selected voltages can be used as an indicator of the temperature of the diode. That is, as the temperature of a laser diode increases, the resistance to current flow increases. This property can be used as a means of regulating the temperature of the diode. If the current absorbed by a diode is known, this can be done in the 8th and 10 disclosed temperature control system can be used. Instead of the thermistor 122 Therefore, an ammeter can be in series with the laser diode 14 used to send a control signal to the measuring current generator 130 to send a corresponding signal to the A / D converter 132 and then to the microprocessor 138 is sent. With the correct software, the microprocessor directs a temperature correction action through the Peltier device 118 or the resistance 128 , Although theoretically this system has good possibilities, achieving the required diode temperature control accuracy using diode voltage and current has been difficult in practice.
Der
vom ein- und austretenden Probengas der Zelle 10 genommene
Weg ist am besten in 3 in Verbindung mit 1 illustriert.
Nachdem Probengas in die Einlassröhre 20 und durch den
Filter 22 gesaugt wurde, tritt das Gas in die Zelle 10 durch
einen Durchlass 150 ein, der im Abdeckelement 94 gestrichelt
angedeutet ist. Vom Durchlass 150 tritt das Gas in eine
axiale Aussparung 152 im zweiten Ende 77 der zentralen Achse 74 ein.
Mehrere voneinander beabstandete Durchlässe 154 mit kleinem
Durchmesser verlaufen in Radialebenen von der axialen Aussparung 152 zur
Oberfläche 78 der
Achse 74 und verbinden sich mit dem ringförmigen Absorptionsbereich 84.
Die mehreren Öffnungen 154 haben
die Aufgabe, das eintretende Probengas gleichmäßig in ein Ende des Absorptionsbereichs 84 zu
verteilen.The incoming and outgoing sample gas of the cell 10 taken way is best in 3 combined with 1 illustrated. After sample gas into the inlet tube 20 and through the filter 22 was sucked, the gas enters the cell 10 through a passage 150 one in the cover 94 indicated by dashed lines. From the passage 150 the gas enters an axial recess 152 in the second end 77 the central axis 74 one. Several spaced passages 154 with small diameter extend in radial planes of the axial recess 152 to the surface 78 the axis 74 and connect to the annular absorption area 84 , The several openings 154 have the task of introducing the sample gas evenly into one end of the absorption area 84 to distribute.
Das
Gas durchquert den Absorptionsbereich 84 von dem zweiten
Ende 77 zum ersten Ende 76 der Achse 74.
Neben dem ersten Ende 76 der Achse 74 befinden
sich mehrere Durchlässe 156 in
Radialebenen, die mit einer axialen Aussparung 158 in Verbindung
stehen.The gas traverses the absorption area 84 from the second end 77 to the first end 76 the axis 74 , Next to the first end 76 the axis 74 There are several passages 156 in radial planes, with an axial recess 158 keep in touch.
Mit
der axialen Aussparung 158 steht ein Austrittsdurchlass 160 in
Verbindung, über
den das Probengas aus der Zelle 10 strömt. Die mehreren kleinen Durchlässe 156,
die die axiale Aussparung 158 mit dem ringförmigen Absorptionsbereich 84 verbinden,
sind in den 2 und 3 dargestellt.
Probengas strömt nach
dem Verlassen der Zelle 10 durch den Austrittsdurchlass 160 durch
ein Stück
flexible Rohrleitung 162 (siehe 5). Das
hintere Ende des Austauscherstücks 108 wird
mit einer Endkappe 164 geschlossen, die einen radialen
Durchlass 166 hat, in dem ein Ende der flexiblen Röhre 162 wie
in 5 dargestellt aufgenommen wird. Ein zweiter Durchlass 168 in
der Kappe 164 (siehe 7) stellt
eine Verbindung mit der Gaspumpe 26 (siehe 1)
bereit, die z.B. durch eine flexible Röhre 170 erreicht werden
kann, die in 1 zu sehen, aber in den anderen
Figuren nicht zu sehen ist. Probengas wird durch die Wirkung der
Pumpe 26 in den ringförmigen
Absorptionsbereich 84 in einer solchen Weise angesaugt,
dass das Gas gleichmäßig um den
gesamten ringförmigen
Durchlass verteilt wird, so dass mit dem wiederholten Springenlassen
eines Lichtstrahls zwischen gegenüberliegenden Spiegeln 44 und 46 die
Absorbierbarkeit des Lichtstrahls gleichmäßig verteilt ist, und in einer
solchen Anordnung, das in den Endteilen der Achse 74 überaus effektiv
Gasdurchlässe
gebildet werden.With the axial recess 158 is an outlet passage 160 in connection, via which the sample gas from the cell 10 flows. The several small passages 156 that the axial recess 158 with the annular absorption area 84 connect are in the 2 and 3 shown. Sample gas flows after leaving the cell 10 through the outlet passage 160 through a piece of flexible piping 162 (please refer 5 ). The rear end of the exchanger piece 108 comes with an end cap 164 closed, which has a radial passage 166 has, in which one end of the flexible tube 162 as in 5 is recorded represented. A second passage 168 in the cap 164 (please refer 7 ) connects to the gas pump 26 (please refer 1 ) ready, for example, by a flexible tube 170 can be achieved in 1 but can not be seen in the other figures. Sample gas is generated by the action of the pump 26 in the annular absorption area 84 sucked in such a way that the gas is evenly distributed around the entire annular passage, so that with the repeated jumping of a light beam between opposing mirrors 44 and 46 the absorbability of the light beam is evenly distributed, and in such an arrangement that in the end parts of the axis 74 extremely effective gas outlets are formed.
Die
Zelle zum Messen der Konzentration eines zuvor gewählten Gases
wie Methan, die hierin illustriert und beschrieben wird, ist im
Allgemeinen so konfiguriert, dass sie bei oder nahe atmosphärischen
Drücken
arbeitet, allerdings funktioniert das System einwandfrei im Bereich
von etwa 0,1 bis etwa 1,0 atm. Das illustrierte System ist im Grunde
nicht zum Testen von Hochdruckgasproben gedacht.The
Cell for measuring the concentration of a previously selected gas
such as methane, which is illustrated and described herein, is incorporated herein by reference
Generally configured to be at or near atmospheric
To press
works, but the system works perfectly in the area
from about 0.1 to about 1.0 atm. The illustrated system is basically
not intended for testing high pressure gas samples.
Das
erfindungsgemäße Gasnachweissystem
ist besonders zum Prüfen
eines geographischen Gebiets adaptierbar, um mögliche Gaslecks aufzuspüren. Das
vorliegende Gasnachweissystem ist aufgrund des begrenzten ringförmigen Absorptionsbereichs,
der durch die Verwendung einer Mittelachse 74 erreicht
wird, die von Gehäusekomponenten 80A und 80B umgeben
ist, was in einem relativ kleinvolumigen Probengastestbereich mit
relativ langem Weg für
einen durchströmenden
Lichtstrahl resultiert, besonders zur Verwendung als Prüfinstrument
geeignet. Im Testbereich befindliches Probengas wird durch die Dauerwirkung
der Gaspumpe 26 schnell ausgetauscht. Durch die Ausnutzung
der Vorteile dieser einzigartigen Merkmale wird das Gasnachweissystem
der vorliegenden Erfindung so adaptiert, dass es mit einer relativ
hohen Geschwindigkeit (im Vergleich zu existierenden Gasnachweissystemen) über ein
geographisches Gebiet bewegt werden kann. Im Speziellen kann das
hierin beschriebene Gasnachweisinstrument von einem sich bewegenden
Fahrzeug mit einer Geschwindigkeit befördert werden, die die Prüfung eines
relativ großen
geographischen Gebiets auf mögliche
Gaslecks in einer relativ kurzen Zeit ermöglicht.The gas detection system according to the invention is particularly adaptable for testing a geographical area to detect possible gas leaks. The present gas detection system is due to the limited annular absorption area created by the use of a central axis 74 is achieved by housing components 80A and 80B which results in a relatively small volume sample gas test area with a relatively long path for a passing beam of light, particularly suitable for use as a test instrument. Sample gas in the test area is affected by the long-term effect of the gas pump 26 swapped quickly. By taking advantage of these unique features, the gas detection system of the present invention is adapted to be moved at a relatively high speed (as compared to existing gas detection systems) over a geographical area. Specifically, the gas detection instrument described herein may be carried by a moving vehicle at a speed that enables testing of a relatively large geographical area for potential gas leaks in a relatively short time.
Wenn
das erfindungsgemäße System
von einem Fahrzeug transportiert wird, ist es wichtig, dass der in 1 dargestellte
Probengaseinlass 18 aus dem Fahrzeug hinaus verlängert wird,
so dass Gas aus der lokalen Umgebung ständig in das System gesaugt
wird, während
sich das Fahrzeug von einem Teil eines geographischen Gebiets zu
einem anderen bewegt.When the system according to the invention is transported by a vehicle, it is important that the in 1 illustrated sample gas inlet 18 is extended out of the vehicle so that gas from the local environment is constantly sucked into the system as the vehicle moves from one part of one geographic area to another.
Zur
Lieferung genauer Informationen über
Gebiete mit einer möglicherweise
signifikanten Gaskonzentration ist das erfindungsgemäße System
besonders zur Verwendung mit einem glokalen Positionierungssystem 172 wie
in 1 angegeben geeignet. Das globale Positionierungssystem 172 steht
mit dem Mikroprozessor 42 in Verbindung. Ferner kann durch
die Verwendung eines Druckers 174, der mit dem Mikroprozessor 42 und
dem globalen Positionierungssystem 172 gekoppelt ist, eine
Karte erzeugt werden, auf der nachgewiesene Gaskonzentrationswerte
ausgedruckt sind. Ein Benutzer kann ein Gebiet wie ein Betriebsgelände, ein Dorf,
einen Gewerbepark, einen Teil einer größeren Stadt oder jedes beliebige
Gebiet von Interesse prüfen und
eine Karte mit Konzentrationswertangaben für ein bestimmtes Gas wie Methan
erhalten. Auf diese Weise kann ein Benutzer schnell Gebiete ermitteln,
in denen eine erhöhte
Gaskonzentration vorliegt, und das erfindungsgemäße Instrument kann dann zu
diesem Gebiet zurückgebracht
werden, wo es für
eine ausführlichere Untersuchung
herumgetragen (nicht in einem Fahrzeug transportiert) wird, um eventuelle
Gaslecks zu orten.To provide accurate information about areas of potentially significant gas concentration, the system of the present invention is particularly suited for use with a glocal positioning system 172 as in 1 indicated suitable. The global positioning system 172 stands with the microprocessor 42 in connection. Further, by using a printer 174 that with the microprocessor 42 and the global positioning system 172 coupled, a map is generated on which proven gas concentration values are printed. A user may examine an area such as a site, a village, a business park, a part of a larger city, or any area of interest and obtain a map of concentration value information for a particular gas such as methane. In this way, a user can quickly identify areas where there is an increased gas concentration, and the instrument of the invention can then be returned to that area where it is carried around (not transported in a vehicle) for more detailed inspection to locate any gas leaks ,
Die 2 und 11 zeigen
eine alternative Ausgestaltung einer Laserhalterstruktur 98A mit
einer anderen Doppelachsenanordnung zum Ausrichten des Strahls von
der Laserdiode. Eine Strukturhalterung 176 ist am vorderen
Ende der Zelle 10 befestigt. Die Halterung 176 trägt eine
Basisplatte 178 (siehe 11). Eine justierbare
Platte 180 ist schwenkbar mit der Basisplatte 178 über eine
dünne,
flexible erste Scharnierplatte 182 verbunden. Eine zweite
dünne,
flexible Scharnierplatte 184 (siehe 2 und 11)
trägt das
Austauschstück 186 mit
einem röhrenförmigen Teil 188,
der als Wärmeaustauschgehäuse dient,
dessen äußeres Ende durch
eine Endabdeckung 190 geschlossen ist. Der röhrenförmige Teil 188 enthält Wärmeaustauschrippen 126.
Der röhrenförmige Teil 188 hat
Durchlässe 166A und 168A für den Durchfluss
von Probengas, die mit den mit Bezug auf 7 beschriebenen
Durchlässen 166 und 168 übereinstimmen.The 2 and 11 show an alternative embodiment of a laser holder structure 98A with another dual axis arrangement for aligning the beam from the laser diode. A structure holder 176 is at the front end of the cell 10 attached. The holder 176 carries a base plate 178 (please refer 11 ). An adjustable plate 180 is pivotable with the base plate 178 over a thin, flexible first hinge plate 182 connected. A second thin, flexible hinge plate 184 (please refer 2 and 11 ) carries the replacement piece 186 with a tubular part 188 serving as a heat exchange housing, the outer end through an end cover 190 closed is. The tubular part 188 contains heat exchange ribs 126 , The tubular part 188 has passages 166A and 168A for the flow of sample gas with the reference to 7 described passages 166 and 168 to match.
Die
Scharnierplatten 182 und 184 verbiegen sich im
Rahmen ihrer elastischen Grenzen, wenn der Laserstrahl auf die Zelle 10 ausgerichtet
wird, und haben daher die gleiche Aufgabe wie die angeformten Scharniere
der parallelen Teile 104 und 106 der Trägerplatte 102,
wie mit Bezug auf 7 beschrieben. Beide Strukturen
ermöglichen
es der Laserdiode, sich um Achsen zu drehen, die sich in lotrechten
Ebenen befinden. Die Laserhalterstruktur 98A der 2 und 11 wird
gegenüber
der Laserhalterstruktur aus 7 aufgrund
der Wirtschaftlichkeit ihrer Herstellung bevorzugt. Ansonsten funktionieren
die beiden Ausgestaltungen in der gleichen Weise, um dasselbe zu
erreichen und die gleichen Ergebnisse zu erzielen.The hinge plates 182 and 184 bend within their elastic limits when the laser beam hits the cell 10 is aligned, and therefore have the same task as the molded hinges of the parallel parts 104 and 106 the carrier plate 102 as related to 7 described. Both structures allow the laser diode to rotate about axes that are in perpendicular planes. The laser holder structure 98A of the 2 and 11 is opposite to the laser holder structure 7 preferred due to the economy of their production. Otherwise, the two embodiments work in the same way to achieve the same and achieve the same results.
Die
Erfindung wurde zwar mit einem gewissen Grad an Ausführlichkeit
beschrieben, doch sind offensichtlich viele Änderungen bezüglich der
Konstruktionsdetails und Anordnung der Komponenten möglich, ohne vom
Umfang der vorliegenden Erfindung abzuweichen, die in den Ansprüchen definiert
ist.The
Although the invention became with some degree of detail
are described, but obviously many changes in the
Construction details and arrangement of components possible without leaving
To depart from the scope of the present invention, which is defined in the claims
is.