DE60124676T2 - Abbildungsvorrichtung und -verfahren - Google Patents

Abbildungsvorrichtung und -verfahren Download PDF

Info

Publication number
DE60124676T2
DE60124676T2 DE60124676T DE60124676T DE60124676T2 DE 60124676 T2 DE60124676 T2 DE 60124676T2 DE 60124676 T DE60124676 T DE 60124676T DE 60124676 T DE60124676 T DE 60124676T DE 60124676 T2 DE60124676 T2 DE 60124676T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
thz
sample
radiation
shows
pulse
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE60124676T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60124676D1 (de
Inventor
c/o TeraView Limited Donald Dominic ARNONE
c/o TeraView Limited Craig Michael CIESLA
c/o TeraView Limited Bryan Edward COLE
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TeraView Ltd
Original Assignee
TeraView Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TeraView Ltd filed Critical TeraView Ltd
Application granted granted Critical
Publication of DE60124676D1 publication Critical patent/DE60124676D1/de
Publication of DE60124676T2 publication Critical patent/DE60124676T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A61B5/05Detecting, measuring or recording for diagnosis by means of electric currents or magnetic fields; Measuring using microwaves or radio waves 
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A61B5/05Detecting, measuring or recording for diagnosis by means of electric currents or magnetic fields; Measuring using microwaves or radio waves 
    • A61B5/0507Detecting, measuring or recording for diagnosis by means of electric currents or magnetic fields; Measuring using microwaves or radio waves  using microwaves or terahertz waves
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A61B5/45For evaluating or diagnosing the musculoskeletal system or teeth
    • A61B5/4538Evaluating a particular part of the muscoloskeletal system or a particular medical condition
    • A61B5/4542Evaluating the mouth, e.g. the jaw
    • A61B5/4547Evaluating teeth
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3581Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4795Scattering, i.e. diffuse reflection spatially resolved investigating of object in scattering medium
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/43Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Rheumatology (AREA)
  • Orthopedic Medicine & Surgery (AREA)
  • Oral & Maxillofacial Surgery (AREA)
  • Dentistry (AREA)
  • Physical Education & Sports Medicine (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Traffic Control Systems (AREA)
  • Vehicle Body Suspensions (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
  • Air Bags (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

  • Die vorliegende Erfindung hat mit dem Gebiet der Untersuchung und Abbildung von Proben in erster Linie unter Verwendung von Strahlung im Frequenzbereich von 25 GHz bis 100 THz zu tun. Dieser Frequenzbereich erstreckt sich vom mittigen Infrarotbereich bis zum und einschließlich des unteren Endes des Mikrowellenbereichs. Dieser Frequenzbereich umfasst den Terahertzbereich (THz) und wird generell als THz-Strahlung bezeichnet.
  • Derartige Strahlung ist nicht ionisierend und, demzufolge, ist sie in medizinischen Anwendungen speziell von Nutzen. Bei jeder Art medizinischer Abbildung wird Strahlung generell vom oder durch den Patienten reflektiert. Strahlung im obigen Frequenzbereich wird generell in Strukturen mit einem hohen Wassergehalt ziemlich stark absorbiert. Daher glaubt man, dass Reflexionsmessungen in solchen Untersuchungen von speziellem Nutzen sind.
  • Reflexionsmessungen in nicht verlustbehafteten Materialien sind früher in der EP 0864857 demonstriert worden. Dieses Dokument erläutert, wie einfache Analyse unter Einsatz von Reflexionsmessungen an nicht verlustbehafteten Materialien durchführen lässt, die scharfe Unregelmäßigkeiten in ihrem Brechungsindex aufweisen. Die Position der dielektrischen Schnittstellen innerhalb einer Floppy Disk wird zur Demonstration des Verfahrens benutzt.
  • Jedoch sind medizinische Proben im Allgemeinen besonders verlustbehaftete Medien, mit anderen Worten, Terahertz-Strahlung wird in derartigen Strukturen stark absorbiert. Außerdem besteht eine Notwendigkeit die Struktur der Probe bestimmen zu können, die keine scharfen Unregelmäßigkeiten in ihrem Brechungsindex aufweist.
  • Mittleman et al "T-Ray Imaging" IEEE Journal of Selected Problems in Quantum Electronics Band 2, Nr. 3 Seiten 679 bis 692 präsentiert einen Abbildungsüberblick unter Verwendung von Terahertz-Strahlung.
  • Die EP 0864857 beschreibt ein Verfahren und eine Vorrichtung für Tomografieabbildung mithilfe von Terahertz-Strahlung.
  • Die WO 00/75641 beschreibt ein Verfahren der Bildung 3-dimensionaler Abbildungen mithilfe von Terahertz-Strahlung.
  • Beim Studieren einer Probe ist es gewöhnlich wünschenswert ein Abbild der Probe zu generieren. Typisch wurden Abbildungen der Probe durch Plotten der Maxima oder Minima der erkannten Terahertz-Strahlung generiert. Es wurde jedoch festgestellt, dass durch Betrachten des elektrischen THz-Felds für eine spezielle Zeitverzögerung ein besserer Kontrast erhältlich ist.
  • Daher präsentiert die vorliegende Erfindung, in einem ersten Gesichtspunkt, ein Verfahren zur Abbildung einer Probe, wobei das Verfahren folgende Schritte umfasst:
    Bestrahlen einer Probe mit einem Impuls elektromagnetischer Strahlung, wobei der Impuls eine Mehrheit von Frequenzen im Bereich von 25 GHz bis 100 THz aufweist; und
    Erkennen der Amplitude der Strahlung; und
    Generieren einer Abbildung der Probe mithilfe der Amplitude der Strahlung, die zu einem bestimmten Zeitpunkt erkannt wird.
  • Um eine Abbildung zu generieren, ist es erforderlich, das THz-Signal von einer Anzahl verschiedener Teile der Probe aus zu messen. Typisch wird der abzubildende Bereich der Probe in eine zweidimensionale Gruppe von Pixelns unterteilt und die Strahlung jedes der Pixel wird erkannt. Um Strahlung von jedem der Pixel zu erkennen, könnte die Probe relativ zum Strahlungstrahl bewegt oder der Strahl relativ zur Probe oder beides, bewegt werden. Als andere Möglichkeit könnte der ganze Bereich der Probe bestrahlt werden und die durch den Bereich der Probe gesendete oder erkannte Strahlung könnte von einer CCD-Kamera oder dergleichen erkannt werden.
  • Der zur Bestrahlung der Probe benutzte Terahertz-Impuls wird sich, aufgrund seiner Passage durch die Probe, ausbreiten. Folglich werden verschiedene Teile des Impulses zu verschiedenen Zeiten erkannt. Wenn man sich die ansteigende Flanke des Impulses eines speziellen Merkmals des Impulses als zu einer Zeit t=0 am Detektor ankommend vorstellen kann, dann werden die anderen Teile des Impulses mit einer Verzögerungszeit "t" am Detektor ankommen.
  • Das Verfahren des ersten Gesichtspunkts der vorliegenden Erfindung generiert eine Abbildung, die ein spezifisches "t" verwendet.
  • Die Strahlung lässt sich zu einer spezifischen Zeit "t" erkennen, dies ist vorteilhaft, da es nicht erforderlich ist Strahlung für jedes "t" zu erkennen und daher wird die Erfassungszeit der Abbildung erheblich verbessert.
  • Als andere Möglichkeit könnte es wünschenswert sein die Strahlung für einen Bereich von "t" zu erkennen und dann ein spezielles "t" selektieren, um die Abbildung zu generieren. Dies ermöglicht eine Abbildung unter Verwendung von "t", als die Scan-Variable scanfähig zu machen. Auf diese Weise könnte jemand, der das Verfahren verwendet, die Abbildung für verschiedene "t" scannen, bis die Abbildung mit dem besten Kontrast erhalten wird.
  • Dieses Verfahren könnte für entweder oder sowohl als auch gesendete Daten oder reflektierte Daten benutzt werden.
  • In einem zweiten Gesichtspunkt stellt die vorliegende Erfindung eine Vorrichtung zur Abbildung einer Probe bereit, die umfasst:
    Mittel zum Bestrahlen einer Probe mit einem Impuls elektromagnetischer Strahlung, wobei der Impuls eine Mehrheit von Frequenzen im Bereich von 25 GHz bis 100 THz aufweist;
    Mittel zum Erkennen der Amplitude der Strahlung, die durch die Probe gesendet oder von dieser reflektiert wird; und
    Mittel zum Generieren einer Abbildung der Probe mithilfe der Amplitude der Strahlung, die zu einem einzigen Zeitpunkt erkannt wird.
  • Die Vorrichtung umfasst vorzugsweise weiter Mittel zur Anzeige einer Mehrheit von Abbildungen, die von verschiedenen Zeitpunkten generiert wurden. Noch bevorzugter umfasst die Vorrichtung optimierende Mittel zum Optimieren der Abbildung unter Verwendung der variablen Parameter der Verzögerungszeit.
  • Die vorliegende Erfindung wird nunmehr unter Bezugnahme auf die folgenden bevorzugten nicht begrenzenden Ausführungsformen beschrieben:
  • Die 1 zeigt ein schematisches Abbildungssystem;
  • Die 2 zeigt ein Beispiel eines Generationsteils zur Verwendung mit dem Abbildungssystem der 1;
  • Die 3 zeigt ein Beispiel eines Erkennungsteils zur Verwendung mit dem Abbildungssystem der 1;
  • Die 4 zeigt ein weiteres Beispiel eines Generators zur Verwendung mit dem Abbildungssystem der 1;
  • Die 5 zeigt ein weiteres Beispiel eines Detektors zur Verwendung mit dem Abbildungssystem der 1;
  • Die 6 zeigt eine schematische Aufzeichnung eines Impulses, der vom Abbildungssystem der 1 erkannt wurde;
  • Die 7 zeigt eine Abbildung eines Hautkarzinoms, die in Übereinstimmung mit einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung produziert wurde;
  • Die 8a und 8b zeigen zwei Abbildungen eines Zahns, die mithilfe eines Verfahrens in Übereinstimmung mit einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung produziert wurden;
  • Die 9a zeigt ein sichtbares Bild einer Scheibe durch einen Zahn, die 9b zeigt eine typische THz-Zeitdomänenaufzeichnung für einen Zahn, die 9c, d und e zeigen Zeitscheibenabbildungen für den Zahn zu verzögerten Zeiten -0,08ps, 0,1ps und 3,34ps;
  • Die 10a bis 10d zeigen vier Abbildungen von Zeitscheiben durch den in der 9a gezeigten Zahn;
  • Die 11a zeigt ein sichtbares Bild eines Zahns, die Abbildung 11b zeigt ein Absorptionsbild des Zahns der 11a, die 11c zeigt ein Laufzeitbild des Zahns der 11a, die 11d bis 11f zeigen Zeitscheiben des Zahns der 11a für die jeweiligen Zeiten -0,1ps, 2,4ps und 3,1ps;
  • Die 12a zeigt ein sichtbares Bild eines Zahns, die 12b zeigt das Absorptionsbild dieses Zahns, die 12c zeigt eine Zeitscheibe durch diesen Zahn und die 12d zeigt ein Bild des Zahns unter Plotten der Zeit des maximalen Peaks des elektrischen Felds zeigt;
  • Die 13 zeigt ein sichtbares Bild eines Zahns und eines THz-Signals vom Zahn;
  • Die 14 zeigt ein sichtbares Bild eines Zahns und zwei THz-Aufzeichnungen von erkrankten und gesunden Teilen des Zahns;
  • Die 15 ist eine schematische Darstellung von Haut und zeigt ein schematisches Signal von der Haut; und
  • Die 16 zeigt eine schematische Schichtstruktur einer Probe, die unter Verwendung eines Verfahrens in Übereinstimmung mit einem Beispiel untersucht werden kann, das zum Verständnis der vorliegenden Erfindung nützlich ist;
  • Die 17 zeigt eine schematische Darstellung einer Variation des Abbildungssystems der 1;
  • Die 18a zeigt ein von der Vorrichtung der 17 gemessenes typisches Signal und die 18b zeigt das entsprechende THz-Leistungsspektrum;
  • Die 19 zeigt eine schematische Darstellung der Hautschichten und einen Eingangsimpuls und reflektierte Impulse;
  • Die 20 ist ein sichtbares Bild eines menschlichen Arms und einer menschlichen Hand, das Punkte am Arms und an der Hand anzeigt, die gemessen werden, um die Ergebnisse in den folgenden Abbildungen zu produzieren;
  • Die 21a ist eine Aufzeichnung einer Zeitdomänen-THz-Wellenform, die vom Unterarm gemessen und mit der von Luft und Wasser verglichen wurde; die 21b ist eine THz-Wellenform, die die reflektierten Impulse vom Unterarm, Handgelenk und Handteller vergleicht;
  • Die 22a ist ein 1 cm × 1 cm Bild der Seite der Hand von der 20; die 22b ist ein Zeitscheibenbild der Hand;
  • Die 23a ist ein Bild des Handtellers der Hand von der 20, die 23b zeigt die entsprechenden Daten von der Handtellerkante des Subjekts;
  • Die 24a ist eine Vergleichsaufzeichnung einer THz-Messung des Unterarms der 20 unter verschiedenen Benetzungsbedingungen; und die 24b zeigt Aufzeichnungen von Messungen des Handtellers und des Unterarms vor und nach der Auftragung von Glycerinlösung; und
  • Die 25 ist eine Vergleichsaufzeichnung der sich verändernden Kennlinien eines Unterarms über einen Zeitraum von 15 Minuten, die 25b ist ein Plot der Maxima der Aufzeichnungen der 25b gegen Zeit.
  • Die 1 zeigt ein elementares THz-Abbildungssystem; das System lässt sich in drei Hauptteile vereinfachen, einen Generatorteil 31, einen Abbildungsteil 33 und einen Erkennungsteil 35. Die THz-Strahlung wird im Generatorteil 31 unter Verwendung eines THz-Emitters generiert, der von einem sichtbaren Impulslaser 37 versorgt wird.
  • Ein THz-Strahl 39 wird vom Generatorteil 31 emittiert und auf die Probe 41 des Abbildungsteils 33 gerichtet. Der THz-Strahl 39 wird dann von der Probe 41 reflektiert und über weitere Optik 45 in den Erkennungsteil 35 gerichtet. Der THz-Strahl, der von der Probe reflektiert wird, ist der Strahl 39.
  • Der Erkennungsteil liest die Information, die im erkannten THz-Signal über ein sichtbares Lichtsignal und AC-Pockels-Effekt getragen wird. Das sichtbare Licht ist vom Laser 37 über den Strahlenteiler 47 erhältlich. Der Laser 37 ist ein Ti:Saphirlaser, der typisch Wellenlängen im Bereich von 900 nm bis 350 nm, bei einer Impulsbreite von 50 fs und einer Wiederholungsrate von 82 MHz, produziert.
  • Der Strahlteiler 47 teilt den Strahl in einen Bezugsstrahl 55 und einen Strahl für THz-Generation. Dem Bezugsstrahl 55 wird über die Zeitverzögerungsleitung 34 eine Zeitverzögerung hinzugefügt. Das Variieren der Zeitverzögerung über eine Zeitverzögerungsleitung erlaubt das Variieren der Phase des Bezugsstrahls in Bezug auf die des THz-Strahls 39. Dies wird zum Erkennen des THz-Strahls im Erkennungssystem 35 benutzt. Das System (z.B. die Steuerung der Bewegung der Probe 41, die Zeitverzögerung 34 und die Signalverarbeitung) wird vom Computer 36 gesteuert. Details des AC-Pockels-Effekts werden mit Bezugnahme auf die 3 beschrieben.
  • Die 2 zeigt einen Generator, der mit dem Abbildungssystem der 1 verwendet wird. Hier werden, der Einfachheit halber, Details des Erkennungsteils des Systems weggelassen. Diese werden mit Bezugnahme auf die 3 beschrieben.
  • Die 2 zeigt einen THz-Generator, der ein Frequenzumformungselement verwendet, das ein Kristall sein kann, das nichtlineare Eigenschaften dergleichen wie ZnTe aufweist. Die Strahlung, die zum Generieren der THz-Strahlung über ein Frequenzumwandlungselement 315 verwendet wird. Strahlung wird von einem Ti:Saphirkristall 317 zum Frequenzumwandlungselement 315 geliefert. Der Ti:Saphirkristall 317 emittiert einen Pumpstrahl, der Impulse von Strahlung umfasst, als Reaktion auf Strahlung mit dem Laserantriebsstrahl 319. Um effiziente Emission von Laserstrahlung bereitzustellen, ist es wünschenswert den Pumpstrahl 307 kontinuierlich auf den Ti:Saphirkristall 317 zu reflektieren. Deshalb wird der Laserkristall 317 typisch innerhalb eines Laserhohlraums bereitgestellt.
  • Der Antriebsstrahl 319 wird mittels der Spiegel M1 und M2 auf den Kristall 317 gerichtet. Der Antriebsstrahl 319 kann durch den Spiegel M3 hindurchgehen und auf den Laserkristall 317 gelangen. Der Antriebsstrahl 319, der nicht vom Kristall 317 absorbiert wird, wird durch den Spiegel M4 emittiert. Der Spiegel M4 dient dazu, Strahlung wieder auf den Laserkristall 317 zu reflektieren. Diese Strahlung wird dann über den Spiegel M3 auf den Spiegel M5 und auf den Ausgangskoppler 321 reflektiert. Der Ausgangskoppler 321 dient dazu den Pumpstrahl 307 auf das Frequenzumformungselement 315 zu reflektieren, um Terahertz-Strahlung zu produzieren. Der Pumpstrahl ist über die Linse L1 auf das Frequenzumwandlungselement 315 fokussiert. Strahlung, die durch das Frequenzumformungselement 315 gesendet wird, wird durch den Spiegel M6 wieder durch das Frequenzumwandlungselement 315 reflektiert. Diese Strahlung prall dann an den Ausgangskoppler 321.
  • Der Ausgangskoppler 321 sendet Terahertz-Strahlung, aber er reflektiert den größten Teil des Pumpstrahls wieder auf den Spiegel M5, der seinerseits die Strahlung über den Spiegel M3 wieder auf den Laserkristall 317 reflektiert. Mit anderen Worten, der Laserkristall 317 und das Frequenzumformungselement 315 befinden sich alle innerhalb desselben Laserhohlraums, der durch den Spiegel M6, den Ausgangskoppler und die Spiegel M5, M3 und M4 definiert ist. Der Pumpstrahl 307 wird kontinuierlich innerhalb dieses Hohlraums reflektiert, um den Pumpstrahl und den THz-Strahl effizient zu generieren.
  • Der THz-Strahl 53, der vom Ausgangskoppler 321 emittiert wird, wird über THz-Abbildungsoptik (nicht gezeigt) in den Abbildungsteil 33 und auf die Probe 41 gerichtet. Die Probe 41 wird auf eine motorisierte X-Y Translationstisch (nicht gezeigt) platziert, sodass die ganze Probe 41 abgebildet werden kann. (Die Ebene x-y ist orthogonal zur Strahlachse). Die THz-Strahlung, welche die Abbildungsinformation von der Probe trägt, wird über THz-Abbildungsoptik 45 in das THz-Erkennungssystem 35 reflektiert.
  • Der Ausgangskoppler 321 sendet einige sichtbare Strahlung 55 sowie THz-Strahlungals einen Bezugsstrahl 55. Abbildung und elektrooptische Erkennung lässt sich in einer einzelnen stickstoffgespülten Einheit durchführen.
  • Die Probe 41 wird auf einem X-Y motorisierten Translationstisch (nicht gezeigt) montiert, der von einem PC-Computer (nicht gezeigt) gesteuert wird. Jedes Teil (Pixel) des Objekts könnte dann abgebildet werden. Um die räumliche Auflösung des Verfahrens zu verbessern, könnten außerhalb der Bildmitte liegende Parabolspiegel, Kondensorkonen und Linsen verwendet werden, um den Strahl auf einen Beugungsgrenzpunkt zu fokussieren. Durch Montieren der Probe im Nahfeld eines Kondensorkonus könnte die Beugungsgrenze überwunden und eine räumliche Auflösung von ca. 50 μm erzielt werden. Das Abbildungssystem kann mit oder ohne solche Objekte abhängig von der Natur des abzubildenden Objekts und der Natur des Erkennungsschaltkreises funktionieren.
  • Die 3 zeigt das Erkennungssystem im Detail. Der, die Abbildungsinformation tragende, THz-Strahl 39 und ein sichtbarer Lichtstrahl 55 werden in das THz-Erkennungssystem eingegeben. Der sichtbare Lichtstrahl 55 fungiert als ein Bezugsstrahl, der auf den Erkennungskristall 73 auffällt. Der Bezugsstrahl 55 ist linear polarisiert und die Polarisation ist so orientiert, dass sie Komponenten sowohl der ordinären als auch der extraordinären Achse des Erkennungskristalls 73 entlang aufweist. Jede der Achsen weist deutliche Brechungsindexe no und ne entlang der ordinären bzw. der extraordinären Achse Kristalls 73 auf. In der Abwesenheit eines zweiten (THz) Strahlungsstrahls 39 geht der linear polarisierte Bezugsstrahl 55 durch den Erkennungskristall 73 mit vernachlässigbarer Änderung in seiner Polarisation hindurch.
  • Der Anmelder möchte klarstellen, dass der Winkel Θ, durch den die Polarisation rotiert wird, vernachlässigbar ist. Jedoch kann der linear polarisierte Strahl geringfügig elliptisch werden. Dieser Effekt wird durch ein Wellenplättchen variabler Verzögerung, z.B. einem Viertelwellenlängenplättchen 81 kompensiert.
  • Der emittierte Strahl 77 wird in einen zirkular polarisierten Strahl 83 unter Verwendung des Viertelwellenlängenplättchens 81 umgeformt. Dieser wird dann mittels eines Wollaston-Prismas 79 (oder entsprechende Vorrichtung zum Trennen orthogonaler Polarisationskomponenten) in zwei linear polarisierte Strahle geteilt, das die zwei orthogonalen Komponenten des polarisierten Strahls auf eine abgeglichene Fotodiode 85 richtet. Das Signal der abgeglichenen Fotodiode wird mittels des Wellenplättchens 81 so justiert, dass die Differenz in Ausgangsleistungen zwischen den zwei Dioden null ist.
  • Wenn jedoch der Detektor 73 außerdem einen zweiten Strahl 69 (in diesem Fall ein Strahl mit einer Frequency im THz-Bereich) sowie einen Bezugsstrahl erkennt, ist der Winkel Θ, durch den die Polarisation rotiert wird, nicht vernachlässigbar. Der Grund hierfür ist, dass das elektrische THz-Feld den Brechungsindex der sichtbaren (fundamentalen) Strahlung entlang einer der Achsen ne, no modifiziert. Dies führt dazu, dass das sichtbare Feld nach dem Detektor 73 elliptisch ist und daher die durch das Prisma 79 getrennten Polarisationskomponenten nicht gleich sind. Die Differenz in der Spannung zwischen den Ausgangsdioden gibt eine Erkennungsspannung.
  • Der Bezugsstrahl 55 und der THz-Strahl 39 sollten in Phase bleiben sowie sie durch den Kristall 73 hindurchgehen. Ansonsten wird die Polarisationsrotation Θ undeutlich gemacht. Daher weist der Erkennungskristall 73 Phasenanpassungsmittel auf, um ein klares Signal zu produzieren.
  • Andere Generatortypen könnten ebenso zum Einsatz kommen. Die 4 veranschaulicht einen sogenannten fotoleitenden Emitter. Der Emitter umfasst ein Element 91, das einen Halbleiter wie beispielsweise Niedertemperatur-GaAs, GaAs, Si auf Saphire usw. umfasst. Das Halbleiterelement weist ein Paar Elektroden 93a und 93b auf, die sich auf seiner Oberfläche befinden. Die Elektroden 93a und 93b sind an eine Stromversorgung so angeschlossen, dass zwischen den zwei Elektroden 93a und 93b ein Feld generiert werden kann.
  • Die einfachste Elektrodenanordnung ist in der 4 gezeigt. Jedoch könnten die Elektroden dreieckig und in Form eines "Schmetterlings", einer sogenannten Schmetterlingsantenne angeordnet sein oder sie könnten „interdigitated" Elektroden im Zentrum einer Schmetterlingsantenne oder Wendelantenne sein. Als andere Möglichkeit könnten derartige Designs in Übertragungsleitungen auf dem Chip eingebaut sein.
  • Das Halbleiterelement wird von einem Pumpstrahl bestrahlt, der ein Strahlungsimpuls (ca. 70 fs) eines Typs ist, der vom Laser 37 emittiert werden kann. Der Impuls umfasst mindestens zwei Frequenzen ω1 und ω2, deren Differenz eine Frequenz im THz-Betriebszustand gibt. Der Pumpstrahl fällt auf das Halbleiterelement 91 auf den Teil seiner Oberfläche zwischen den Elektroden 93a und 93b auf, d.h., wo das Feld angewandt wird. Die Schwebung, der zwei sichtbaren oder Nah-Infrarot-Frequenzen, im nichtlinearen Bereich des Halbleiterelements, zwischen den zwei Elektroden 93a und 93b, ergibt die Emission von THz-Strahlungvom Halbleiterelement 91. Das Halbleiterelement 23 ist mit einer Linse 95 auf seiner Oberfläche, die der Oberfläche mit den Elektroden gegenüberliegt, versehen, die eines halbkugelförmigen oder anderen Designs sein könnte, um die Emission eines Strahls von THz-Strahlung zuzulassen.
  • Die 5 zeigt ein weiteres Beispiel eines Detektors, der mit dem Abbildungssystem der 1 verwendet werden könnte. Dieser Typ von Detektor ist als ein fotoleitender Detektor bekannt und umfasst ein Erkennungselement, das, beispielsweise, GaAs, Si auf Saphir usw. sein könnte. Die THz-Strahlung fällt auf die hintere Oberfläche des Erkennungselements 96 auf. Die Strahlung wird von der Linse 98 gesammelt, die halbkugelförmig oder einer anderen Form sein könnte. Auf der gegenüberliegenden Seite des Erkennungselements 96 befindet sich ein Elektrodenpaar 97a und 97b. Der Bereich zwischen diesen zwei Elektroden 97a und 97b wird durch Strahlung aus dem sichtbaren Bereich oder Nah-Infrarot-Bereich illuminiert.
  • Die Nah-Infrarot-Strahlung/sichtbare Strahlung illuminiert die Oberfläche des Detektors zwischen den Elektroden 97a und 97b. Die Terahertz-Strahlung, die von der Linse 98 gesammelt wird, induziert einen Fotostrom durch den Bereich zwischen den Elektroden 97a und 97b, der durch die sichtbare Strahlung/Infrarotstrahlung illuminiert wird. Der Strom, der von den Elektroden erkannt werden kann, ist proportional zur Stärke des THz-Felds.
  • Die Elektrode 97a, 97b könnte einer einfachen Diodenformation sein, die in eine Übertragungsleitung eingebettet ist. Als andere Möglichkeit könnten sie dreieckig und in Form eines Schmetterlings zur Formung einer sogenannten Schmetterlingsantenne angeordnet sein. Sie könnten ebenso "interdigitated" Elektroden im Zentrum einer Schmetterlings- oder Wendelantenne sein.
  • Die 6 zeigt eine schematische Aufzeichnung eines von der Probe reflektierten THz-Impulses unter Verwendung des Vorrichtungstyps, der für das Beispiel in der 1 gezeigt ist.
  • Ein oszillierendes elektrisches Feld ist auf der Y-Achse gegen Zeit entlang der X-Achse aufgezeichnet. Typisch haben Verfahren zum Entlocken von Information aus der Aufzeichnung entweder die zeitliche Position der Maxima des elektrischen Felds (T1) oder die zeitliche Position der Minima des elektrischen Felds (T2) benutzt.
  • Wie aus der 6 ersichtlich ist, ändert sich die Größenordnung des gemessenen elektrischen Felds erheblich mit Zeit. Zwischen T1 und T2 besteht nur eine kleine Zeitdifferenz. Bei Betrachten eines Bereichs der Probe wird eine Aufzeichnung, wie die in der 6 Gezeigten, für jeden Punkt der Probe erlangt. Abhängig von der Zusammensetzung der Probe wird sich die Aufzeichnung von Punkt zu Punkt oder Pixel zu Pixel ändern.
  • Die 7 zeigt eine Reflexionsabbildung eines Hautkarzinoms. Die 7a zeigt die THz-Abbildung und die 7b zeigt die Abbildung unter Verwendung sichtbarer Strahlung.
  • Um das Bild in der 7a zu generieren, wird nur reflektierte Strahlung von einer einzigen Verzögerungszeit d.h. einem einzigen Punkt auf der X-Achse der 6, aufgezeichnet. Die Verzögerungszeit könnte das Maxima des elektrischen Felds in einigen Teilen der Probe oder das Minima des elektrischen Felds in anderen Teilen der Probe sein. Es ist ersichtlich, dass dieses Bild guten Kontrast zeigt. Da es nur erforderlich ist das THz-Signal an einer speziellen Verzögerungszeit zu messen, besteht keine Notwendigkeit die Gesamtheit des THz-Impulses kontinuierlich abzutasten. Deshalb lässt sich das Bild mithilfe einer viel kürzeren Erfassungszeit produzieren. Außerdem erfordert das Bild weniger Verarbeitung.
  • Die 8a und 8b zeigen zwei Bilder eines Zahns, die mit THz-Strahlung generiert wurden. Die 8a und 8b wurden auf ähnliche Weise wie die der 7 produziert. Mit anderen Worten, das Bild wurde für eine einzige Zeitverzögerung aufgenommen. Die für die 8a gewählte Zeitverzögerung betrug 0 Pikosekunden.
  • Die 8b zeigt denselben Zahn der 8a, aber hier beträgt die Zeitverzögerung 6,99 Pikosekunden. Es ist ersichtlich, dass das Bild in der 8b weit schärfer als das der 8a ist. Das optimale Bild ist durch Wählen der korrekten Zeitverzögerung erhältlich.
  • Die 9a zeigt ein sichtbares Bild eines Zahns. Der Zahn ist eigentlich eine Scheibe durch einen Zahn, wobei die verschiedenen Bereiche wie der Email-Dentinbereich 201 und der Pulpenhöhlenbereich 203 unterschieden werden können. Der Email-Dentinbereich 201 ist aufgrund von Karies in den Bereichen 205 und 207 verfault.
  • Die 9b zeigt vier THz-Aufzeichnungen, die als Amplituden des erkannten THz-Signals gegen Zeitverzögerung für die drei Bereiche des Zahns und ein Bezugssignal aufgezeichnet sind. Es ist ersichtlich, dass das reflektierte erkannte THz-Signal für die verschiedenen Bereiche ziemlich unterschiedlich ist. Zum Beispiel ist bei der Spitze 209 ersichtlich, dass das im Emailbereich (E) des Zahns aufgenommene Signal dominiert. Ebenso ist bei der Spitze 211 ersichtlich, dass das Dentinsignal (D) dominiert. Bei der Spitze 213 dominiert das Signal, aufgrund von Karies (C), die Aufzeichnung. Das Bezugssignal (R) scheint generell das mit der niedrigsten Spitze zu sein.
  • Durch Betrachten der für verschiedene Zeitverzögerungen erkannten THz-Signale ist es möglich Differenzen, zwischen den verschiedenen Teilen des Zahns zu unterscheiden.
  • Die 9c, 9d und 9e zeigen Bilder des Zahns, die mit Zeiten -0,08 ps, 0,1 ps und 3,34 ps aufgenommen wurden. Diese Zeiten entsprechen der X-Achse der 9b. Die in der 9b zu sehende Aufzeichnung wird für jeden Teil des Zahns der 10a zusammengetragen werden müssen, aber nur für einen einzelnen Punkt auf der X-Achse, denn Betrachten bei einer speziellen Verzögerungszeit wird als Aufnehmen einer Zeitscheibe durch die Spektren bezeichnet.
  • Die verfaulten Bereiche 205 und 207 sind in allen 9c, 9d und 9e zu sehen.
  • Die 10a bis 10d zeigen weitere Zeitscheiben des Zahns der 9a, die nicht optimiert worden sind, um die kariösen Bereiche 205 und 207 zu veranschaulichen. Bei Vergleichen der Zeitscheiben der 10a bis 10d mit denen der 9c bis 9e ist ersichtlich, dass der Kontrast, speziell im Kariesbereich 205 und 207 in den 9c bis 9e im Gegensatz zu den 10a bis 10b viel deutlicher ist.
  • Die 11 zeigt einen Bereich verschiedener Bilder für einen Zahn. Der Zahn, der zum Generieren der Bilder der 11 verwendet wurde, ist anders als der Zahn, der zum Generieren der Bilder der 9 benutzt wurde. Hier ist ein sichtbares Bild einer Scheibe durch den Zahn in der 11a gezeigt. Es ist ersichtlich, dass keine Fäulnis in diesem Zahn vorhanden ist. Die 11b zeigt ein THz-Absorptionsbild des Zahns der 11a. Dies wird ganz einfach durch Messen des elektrischen Felds für jeden Punkt auf dem Zahn am Detektor erlangt. Das hier gezeigte Absorptionsbild ist aus allen der Frequenzen des auffallenden Impulses der THz-Strahlung generiert, d.h., es ist ein panchromatisches Bild.
  • Die 11c ist ein sogenanntes Laufzeitbild. Momentan auf die 9c zurückkommend, welche die THz-Aufzeichnung zeigt, ist ersichtlich, dass ein Maxima des elektrischen Felds vorliegt. Die Laufbildzeit betrachtet dieses Maxima und zeichnet die Änderung in zeitlicher Position dieses Maxima für jeden Punkt im Bereich der abzubildenden Probe auf.
  • Wie bei den Absorptionsbildern und sichtbaren Bildern sind die Pulpenhöhle 203 und der Emailbereich 201 leicht zu unterscheiden.
  • Die 11d, 11e und 11f zeigen Zeitscheiben (ähnlich denen, die für die 9c bis 9Ee beschrieben sind) für Verzögerungszeiten -0,1 ps, 2,4 ps bzw. 3,1 ps. Es ist ersichtlich, dass sich der Kontrast des Email-Dentinbereichs 201 mit der Pulpenhöhle 203 zwischen den drei Abbildungen dramatisch ändert. Außerdem ist keine Andeutung von Karies in irgendeinem der Emailbereiche in allen der Zeitscheiben vorhanden.
  • Die 12 zeigt einen weiteren Zahn. Die 12a zeigt ein sichtbares Bild des Zahns, wiederum lassen sich der Email-Dentinbereich 201 und die Wurzel-/Pulpenhöhle 203 leicht bestimmen. Der Zahn weist einen Kariesbereich 205 auf, der auf dem sichtbaren Bild 203 nicht leicht zu sehen ist.
  • Die 12b zeigt das Absorptionsbild, das auf dieselbe Weise wie in der 11B erhalten wurde. Die 12c zeigt eine Zeitscheibe. In beiden 12c und 12b sind die Kariesbereiche 205 leicht zu sehen. Die 12d zeigt ein Bild, das durch Aufzeichnen der Maxima des elektrischen Felds für jeden Punkt der Probe, die bestrahlt wird, aufgezeichnet wurde. Der Email-Dentinbereich 201 ist zu sehen. Der Kariesbereich 205 ist jedoch sehr schwach und deshalb viel schwächer als die in der 12c gezeigte Zeitscheibe. Die Erfassungszeit für die Zeitscheibe kann sehr schnell sein, weil es nur erforderlich ist, das reflektierte elektrische THz-Feld für einen einzelnen Zeitpunkt zu erkennen.
  • Die 13 zeigt ein weiteres sichtbares Bild eines Zahns. Die 13a zeigt ein sichtbares Bild, wogegen die 13b eine einzige Aufzeichnung des reflektierten elektrischen THz-Felds gegen Zeit zeigt. Das THz-Bild ist entlang eines Verlaufs 101 des Zahns aufgenommen. Es gibt drei starke Merkmale im reflektierten THz. Die erste Spitze 103 ist auf Reflexion des THz von der Email-/Luftoberfläche zurückzuführen. Die zweite Spitze 105 ist auf Reflexion des THz von der Email-/Dentinschnittstelle e-d im Zahn zurückzuführen. Die dritte und schwächste Reflexion ist auf die Dentin-/Pulpenhöhlenschnittstelle d-p des Zahns zurückzuführen.
  • Die 14a zeigt ein sichtbares Bild einer Scheibe eines Zahns. Der Zahn weist einen gesunden Bereich 109 und einen verfaulten Bereich 111 auf. Die 14b zeigt einen in der Zeitdomäne im gesunden Bereich 109 gemessenen THz-Impuls. Die 14c zeigt einen in der Zeitdomäne für den ungesunden Bereich, der aufgrund von Karies 111 verfault ist, gemessenen THz-Impuls. Zurückkommend auf das sichtbare Bild der Zahnscheibe in der 14a sind zwei Schnittstellen zu sehen. Die Erste ist die Email-/Luftschnittstelle 113, die Zweite ist die Email-/Dentinschnittstelle 115. In der THz-Aufzeichnung lassen sich die zwei Spitzen 117 und 119 des gesunden Bereichs leicht unterscheiden. Die obere Spitze 117 soll auf die Reflexion des THz an der Schnittstelle 113 zurückzuführen sein, die zweite Spitze 119 ist auf die Reflexion von THz an der Schnittstelle 115 zurückzuführen.
  • Im THz-Impuls des ungesunden Bereichs scheint die Spitze, aufgrund der Reflexion von der Schnittstelle 113, fast der gleichen Höhe wie die entsprechende Spitze in der 14b zu sein.
  • Jedoch scheint die zweite Spitze, die auf die Reflexion von der Schnittstelle 115 zurückzuführen ist, viel kleiner zu sein. Der Grund hierfür ist, dass ein Bereich des Zahns, der wegen Karies verfault ist, THz weit stärker absorbiert als ein Bereich, der nicht verfault ist. Daher penetriert weniger THz bis zur Schnittstelle 115 und THz, das von dieser Schnittstelle reflektiert wird, wird außerdem stärker absorbiert als im Fall des gesunden Zahns. Deshalb ist die Spitze 119 in der Aufzeichnung des ungesunden Bereichs erheblich reduziert.
  • Ungeachtet dessen, ob der Zahn gesund ist oder nicht sollte die Höhe der Spitze von der Schnittstelle 113 in beiden Aufzeichnungen b und c identisch sein. Jedoch werden sie, wegen ihren verschiedenen Positionen am Zahn, möglicherweise Schmutz an der Oberfläche des Zahns, fast immer verschieden sein. Daher sollte, um die Anwesenheit von Karies zu erkennen, das Verhältnis der Spitzenhöhen 117 und 119 zwischen einem gesunden Bereich und einem ungesunden Bereich verglichen werden.
  • Diese Art von Analyse findet nicht nur auf Zähne Anwendung. Die 15 zeigt eine schematische Darstellung einer gesunden Hautfläche und einer ungesunden Hautfläche. Die 15b zeigt den THz-Impuls, der von einem gesunden Hautbereich reflektiert worden ist, die 15c zeigt einen THz-Impuls in der Zeitdomäne, der von einem ungesunden Teil der Haut reflektiert worden ist.
  • In der 15a sind eine Haut-/Luftschnittstelle 121 und eine Haut-/Fettschnittstelle 123 gezeigt. Es liegt ein gesunder Bereich 125 und ein ungesunder Bereich 127 vor, der den Tumor 129 enthält. Die 15b zeigt einen THz-Zeitdomänenimpuls für den gesunden Bereich 125. Die erste Spitze 131 ist auf die Reflexion von der Schnittstelle 121 zurückzuführen. Die zweite Spitze 133 ist auf die Reflexion von der Haut-/Fettschnittstelle 123 zurückzuführen. Die 15c zeigt eine ähnliche Aufzeichnung, außer, dass sie hier im ungesunden Bereich 127 aufgenommen ist. Die Spitze 131 bleibt praktisch gleich. Jedoch ist die Größe der Spitze 133, aufgrund der Absorption durch den Tumor 129, erheblich reduziert.
  • Durch Aufzeichnen des Verhältnisses der Reflexion von der ersten Schnittstelle 121 zur zweiten Schnittstelle 123, über die Haut, lässt sich der laterale Umfang des Tumors, wie in der 15d gezeigt, bestimmen.
  • Es ist ebenso möglich Information über die Tiefe einer Probe mithilfe von Reflexionsmessung zu erhalten, die keine besonders stark definierten Schnittstellen bzw. Grenzflächen aufweist. Verlustbehaftete Materialien, wie biologische Proben, besitzen einen relativ großen Absorptionskoeffizienten, der dominiert wie Strahlung von der Probe reflektiert wird.
  • Die 16 zeigt einen auf eine Probe auffallenden THz-Impuls. Der THz-Impuls pflanzt sich in der x-Richtung fort und wird vom Objekt in einen sich gegenläufig fortpflanzenden Impuls zerstreut (reflektiert) oder reflektiert.
  • Um die Sache zu vereinfachen, wird die folgende Analyse nur eine räumliche Dimension (x) in Betracht ziehen (d.h. für den Fall eines kollimierten THz-Strahlwegs). Es wird außerdem angenommen, dass das Objekt in der Ebene y-z über die Dimensionen des THz-Strahls gleichförmig ist. Unter Voraussetzung der hier beschriebenen 1-D-Analyse könnte, um Information über die Struktur des Objekts in der x-Richtung bereitzustellen, die Variation des Objekts in den Richtungen y-z durch Scannen des Objekts durch den THz-Strahl in der Ebene y-z (oder, als andere Möglichkeit, Scannen des THz-Strahls über das Objekt) erhalten werden.
  • Die Analyse lässt sich dazu verwenden zu bestimmen, wie sowohl die Absorption als auch der Brechungsindex innerhalb der Probe räumlich variiert. In der Praxis variieren sowohl der Absorptionskoeffizient als auch der Brechungsindex ebenso mit der Frequenz. Die folgende Analyse nimmt an, dass der Frequenzgang des Brechungsindexes bekannt ist und auch, dass der Absorptionskoeffizient nicht mit der Frequenz variiert.
  • Da das elektrische Feld, aufgrund des reflektierten THz-Impulses vielleicht nur an diskreten Zeitpunkten gemessen werden kann, müssen alle der Integraltransformierten unten durch die geeignete diskrete Transformierte ersetzt werden. um mit dem endlichen Datensatz zu funktionieren.
  • Die auffallenden und reflektierten THz-Impulse sind durch elektrische Felder T(x,t) bzw. R(x,t) gekennzeichnet. Die Größen in Klammern zeigen an, dass T und R beide Funktionen von Position, x, und Zeit, t, sind. Es wird angenommen werden, dass alle elektrischen Felder entlang einer ähnlichen Achse senkrecht zur x-Richtung polarisiert sind und deshalb können sie als skalare Größen geschrieben werden (d.h. Richtungsabhängigkeit ignorieren):
    Figure 00110001
    wo i die imaginäre Einheit √-1 ist. Die Wellen werden in ihrer komplexen Form geschrieben; die wahren elektrischen Felder werden durch Nehmen des Realteils der komplexen Wellen erhalten. Tω und Rω sind die komplexen Amplituden der jeweiligen auffallenden und reflektierten Wellen an jeder Frequenzkomponente f wo f = 2π/ω und diese Größen sind ebenso Funktionen der Position x. Die ω-Tiefzahlen zeigen an, dass eine Größe eine Funktion von ω ist. k ist der Wellenvektor jeder Frequenzkomponente der Welle und wird definiert durch
    Figure 00110002
    wo c die Lichtgeschwindigkeit in einem Vakuum ist, nω und αω der Brechungsindex und Absorptionskoeffizienten des Objekts bei Winkelfrequenz ω sind. Somit könnten sowohl nω als auch αω Funktionen von Position und Frequenz sein. Dieses sind die Materialparameter, die das Objekt kennzeichnen.
  • Die Fortpflanzung und Kopplung von Energie zwischen den auffallenden und reflektierten Wellen wird durch zwei gekoppelte Differenzialgleichungen erster Ordnung beschrieben (leicht aus Maxwell's Gleichungen abgeleitet):
    Figure 00120001
  • Die linken Seiten der obigen Gleichungen beschreiben die Fortpflanzung der zwei sich gegenläufig fortpflanzenden Wellen. Die rechten Seiten stellen die "Kopplungs"-Bedingungen bereit, die Energie von einem Strahl zum Anderen bei der Anwesenheit eines Streuungspotenzials transferieren. In diesem Fall wird das Streuungspotenzial durch einen räumlich variierenden Wellenvektor k bereitgestellt. Das heißt, dk:dx muss Nichtnull sein, damit Photonen von der auffallenden Welle auf die reflektierte Welle transferiert werden und umgekehrt. Wo dk:dx = 0, gibt es keine Kopplung zwischen den Strahlen und die auffallenden und reflektierten Wellen pflanzen sich unabhängig fort.
  • In einem verlustbehafteten, dispergierenden Medium α≠=0 und wo nω, frequenzabhängig ist.
  • Es wird angenommen, dass das Streuungspotenzial durch einen räumlich variierenden Koeffizienten, Δ(x) so bereitgestellt wird, dass k = k'Δ
    Figure 00120002
    wo k' der räumliche Durchschnitt von k ist und k' unabhängig von x ist. (k' bleibt eine Funktion von ω, wogegen Δ unabhängig von ω) ist.
  • Um räumliche Information abzuleiten (d.h. Information darüber wie Δ in Bezug auf x variiert), ist es erforderlich die spektralen Kennlinien des Materials im voraus zu wissen (d.h. zu wissen wie nω, von ω abhängt). Eine funktionelle Form von nω (ω) und auch der Koeffizient α werden angenommen. Für den Zweck der Abbildung könnte dies aus dem räumlich durchschnittlichen THz-Reflexionsvermögen der Probe berechnet werden (d.h. derart, dass Strukturinformation gemittelt wird). Die Ableitung der spektralen Kennlinien einer Probe durch THz-Rflexion ist anderswo in der Literatur beschrieben worden und wird hier nicht reproduziert.
  • Für ein verlustbehaftetes Medium wo α/2 >> nω/c (wie biologische Medien auf Wasserbasis) ist eine reale räumliche Variation in Δ auf eine räumliche Variation im Absorptionskoeffizienten des Mediums zurückzuführen. Früher sind nur eine räumliche Variation im Brechungsindex in Betracht gezogen worden.
  • Überdies wird angenommen, dass die räumliche Variation von k viel kleiner als der absolute Wert von k ist, d.h. dk:dx << k und, dass der Verlust von Energie von der auffallenden Welle, aufgrund von Reflexion, viel kleiner als der Verlust durch Absorption ist. Diese Bedingungen sind für die meisten biologischen Proben oder Proben mit hohem Wassergehalt geeignet. Bei dieser Annäherung ist die räumliche Abhängigkeit der auffallenden Welle unabhängig von der räumlichen Variation von k und ist durch Folgendes gegeben
    Figure 00130001
    wo Tx=0 die Amplitude des auffallenden elektrischen Felds bei der Position x=0 ist und eine Funktion von ω ist.
  • Die räumliche Abhängigkeit der reflektierten Welle könnte jetzt durch eine einzige Differenzialgleichung beschrieben werden:
    Figure 00130002
  • Die Gleichung 2 könnte (beispielsweise, durch das Verfahren von Laplace-Transformation) gelöst werden, um Rω zu erhalten:
    Figure 00130003
  • Da es notwendig ist die reflektierte Welle an einem Punkt zu messen, setzen wir x=0, um Folgendes zu erhalten
    Figure 00130004
  • Dieser Ausdruck könnte invertiert werden, um F(x) unter der Annahme zu erhalten, dass F unabhängig von
    Figure 00130005
    ist. Dies trifft nicht strikt auf Systeme zu, wo die Absorption eine Funktion von Frequenz ist. Durch Machen dieser Annahme wird die Analyse vereinfacht; der Effekt der endlichen Frequenzabhängigkeit vom Absorptionskoeffizienten ist primär die räumliche Auflösung (in der x-Richtung) des endlichen Ergebnisses, bei Frequenzen, wo die Frequenzabhängigkeit signifikant ist.
  • Durch inverse Fourier-Transformation der Gleichung 3 erhalten wir
    Figure 00130006
  • Die räumliche Abhängigkeit des Parameters Δ(x) enthält die strukturelle Information über das Object, das wir zu deduzieren versuchen. Dies erhält man durch Umstellen der Gleichung 4 und Integrieren über die Position x.
  • Figure 00140001
  • Der Faktor Rx=0, ω wird durch Fourier-Transformation des gemessenen reflektierten elektrischen THz-Felds R(t) erhalten (d.h. wie bei Punkt x=0 gemessen, was der Oberfläche des Medium oder der Probe enspricht):
    Figure 00140002
  • Der Faktor Tx=0,·ω wird durch Fourier-Transformation eines THz-Bezugsimpulses erhalten. Der THz-Bezugsimpuls könnte durch Messen des von einer Probe bekannten Reflexionsvermögens wie, beispielsweise, eines Silberspiegels reflektierten THz-Impulses erhalten werden. Der von einem Silberspiegel reflektierte THz-Impuls ist eine exakte Reproduktion des auffallenden THz-Impulses d.h., Tsilver(t) = Rsilver(t)
  • Eine ähnliche Transformation wird an T(t) durchgeführt:
    Figure 00140003
  • In der Praxis muss der auffallende THz-Impulseine endliche Bandbreite haben; das heißt, Tx=0,ω wird unter den Geräuschpegel der Messvorrichtung bei Frequenzen über Schwellwert ωmax fallen. Gleichermaßen wird Tx=0, ω unter das Messgeräusch bei Frequenzen unterhalb Minimumschwellwert, ωmin fallen. Um Artefakte, aufgrund von Geräusch, auszuschließen wo Tx=0, ω klein geworden ist, haben wir eine Fenstertechnikfunktion W(ω) eingeschlossen. Diese Funktion hat die Eigenschaft, dass sie bei sowohl hohen als auch niedrigen Frequenzen schneller als Tx=0, ω auf null abfällt.
  • Beispielsweise könnten wir wählen, dass Wω = W(ω) eine Rechteckimpulsfunktion sein soll:
    Figure 00140004
  • Das Ergebnis ist
  • Figure 00140005
  • dnω : dω könnte direkt aus der früher bestimmten funktionellen Form von nω berechnet werden.
  • Die Gleichung 6 konstituiert das Hauptergebnis. Δ(x) wird durch numerische Auswertung der Gleichung 6 erhalten, sobald alle der konstituierenden Faktoren bestimmt worden sind. Da Δ komplex ist, könnten entweder der reale oder der imaginäre Teil der Funktion aufgezeichnet werden, um ein Bild oder Kombination zu formen. Δ, das auf diese Weise erhalten wird, wird – angesichts der oben beschriebenen Annäherungen, nur als eine Annäherung an die exakte strukturelle Form der Probe betrachtet.
  • Die 17 zeigt ein Abbildungssystem, das der 1 ähnlich ist. Um unnötige Wiederholung zu vermeiden, werden gleiche Bezugszeichen verwendet, um gleiche Merkmale zu bezeichnen. Ein Ti:Saphirlasersystem 37 (kohärent Reg A9000), das mit einer 250-kHz-Wiederholungsrate arbeitet, wird zum Bereitstellen der Eingangsstrahlung verwendet. Die Strahlung wird mithilfe des Strahlteilers 47 geteilt, um einen Sondenstrahl 55 und einen Pumpstrahl 39 zu produzieren. Der Pumpstrahl wird zuerst durch eine 1-ns-Verzögerungsleitung 401 geleitet. Dies ist eine statische Verzögerungsleitung und wird dazu verwendet, Feineinstellungen an der Weglänge vorzunehmen. Der Pumpstrahl wird dann in eine 150 ps Scanning-Verzögerungsleitung 403 mit einer Scanning-Frequenz von 20 Hz geleitet. Die Scanning-Verzögerungsleitung hat einen Linearpositionsausgang, sodass es möglich ist, die Position der Verzögerungsleitung zu kennen, wenn jede Messung vorgenommen wird. Der Pumpstrahl wird dann durch einen 64-kHz-Modulator 405 gespeist, der den Strahl bei dieser Frequenz zerstückelt, um eine Frequenz zur Erkennung unter Verwendung von Lock-in-Verfahren bereitzustellen.
  • Der Pumpstrahl 39 wird dann auf die GaAs-Antenne 407 geleitet. Die Antenne ist auf 1,1 kV vorgespannt und Durchschnittsleistungen von über 1 nW sind Generator. Die Leistung des Pumpstrahls 39, die zur Antenne geliefert wird, beträgt 1 bis 2 μJ. Solche Antennen sind im Detail in J.T.Darrow und B.B. Hu und X.-C. Zhang und D.H. Auston 1990, Optics Lett., 15(6), Seiten 323-5, Z.G. Lu und P.Campbell und X.-C. Zhang, 1997 Appl. Phys. Lett., 71(5), Seiten 593-5 und G. Mouret und W. Chen und D. Boucher und R. Bocquet und P Mounaix und D. Theron und D. Lippens, 1998, Microwave und optical technol. lett., 17(1), Seiten 23-7 beschrieben. In der speziellen Antenne dieses Beispiels werden eine Antikoronabeschichtung aus Acryl und ein100 KΩ Reihenwiderstand verwendet, um dielektrischen Durchschlag der Vorrichtung zu unterdrücken und Leistungsverlust in das GaAs (Galliumarsenid) zu reduzieren. Die emittierten THz-Impulse werden von der Antenne 407 über außerhalb der Bildmitte liegende Parabolspiegel 409 auf die Probe 411 geleitet. Die von der Probe reflektierte Strahlung wird dann über den Parabolspiegel 413 gesammelt und in den Detektor 35 geleitet. Der Detektor ist des EOS-Typs, der mit Bezugnahme auf die 3 beschrieben ist. Im speziellen Beispiel der 17 wird der reflektierte THz-Strahl auf 1 mm starkes ZnTe-Kristall kollinear mit der Sonde 55 geleitet.
  • Wo nichtplanare weiche Materialien, zum Beispiel, menschliche Haut gemessen werden, wird ein Quarzfenster verwendet, um die Haut zur Verbesserung des Bilds abzuflachen.
  • Die 18a zeigt eine typische Aufzeichnung des THz-Signals (beliebige Einheiten) gegen Verzögerungszeit des optischen Impulses (gemessen durch die 150 ps Scanning-Verzögerungsleitung) die mithilfe der Vorrichtung der 17 erhältlich ist. Die kleineren Oszillierungen nach dem Hauptimpuls sind auf atmosphärische Wasserdampfabsorption und Dispergierung in den THz-Strahlweg zurückzuführen. Ein kleines Signal ist bei 10 ps nach dem Hauptimpuls, aufgrund von Rückstrahlung vom GaAs-Antennensubstrat, zu sehen. Das Verhältnis des Nutz- zum Störsignal für eine typische THz-Wellenform (gemessen mit einem Metallspiegel anstelle einer Probe) ist für einen einzelnen Verzögerungsleitungs-Scan größer als 6000 zu 1. Dies ist für eine Erfassungszeit von 50 ms typisch.
  • Die Bandbreitengruppe, die aus der Fourier-Transformation der Zeitdomänen-Wellenform der 18a erhalten wird, ist in der 18b gezeigt. Die 18b zeigt das THz- Leistungsspektrum. Das Spektrum erreicht seinen Höhepunkt bei 300 GHz mit nützlicher Leistung bis über 3 THz. Der große THz-Durchsatz des Systems erlaubt das Reduzieren der Erfassungszeit für 3D-Datensätze auf nur einige Minuten.
  • Die 19 ist eine schematische Darstellung der äußersten Schichten menschlicher Haut. Das Stratum Corneum (die Hornschicht/Oberhaut) 421 ist die äußerste Hautschicht, die mittlere Schicht ist die Epidermis 423 und die innerste Schicht, die für diese Experimente von Interesse ist, ist die Dermis bzw. Unterhaut 425. Wenn ein einzelner THz-Impuls 427 von der Haut reflektiert wird, treten mehrfache Reflexionen aufgrund der Stratum Corneum/Luftschnittstelle 429, Stratum Corneum/Epidermisschnittstelle 431 und der Epidermis/Dermisschnittstelle 433 auf. Das Signal jeder dieser Schnittstellen ist im Ausgangsimpuls 435 zu sehen.
  • Die in den 20 bis 25 gezeigten Daten stammen von dem in der 20 gezeigten menschlichen Arm. Punkt a zeigt das mittige innere Forum, Punkt b zeigt die Innenseite des Handgelenks, Punkt c zeigt den Handteller, Punkt d zeigt die Handkante und Punkt zeigt die Fingerspitze des zweiten Fingers. THz-Strahlung ist nicht ionisierend und es kommen niedrige durchschnittliche Leistungen zum Einsatz (typisch 1 mW). Deshalb wird kurzes Aussetzen gegenüber der Strahlung nicht für gefährlich gehalten.
  • Die 21a zeigt eine Zeitdomänen-THz-Wellenform, die von Punkt a auf der 20 erhalten wurde. Die Zeitdomänenwellenform ist verarbeitet worden, um einige unerwünschten Artefakten zu entfernen. Die Oszillationen folgen dem Hauptimpuls wegen des entfernten atmosphärischen Wassers durch "Deconvolving" des Datensatzes, der, in Abwesenheit der Probe, mit der Bezugsimpulswellenform erhalten wurde. Der Datensatz wird außerdem spektral gefiltert, um Außerbandstörung durch Anwendung eines Bandpassfilters zu entfernen, wobei der Bandpass eingestellt ist, dem des Bezugsimpulses zu entsprechen.
  • In der 21a sind die Daten für Punkt a als eine massive Linie gezeigt. Diese wird mit einer gestrichelten Linie verglichen, die Daten für Luft (in Abwesenheit der Probe gemessen) zeigt und einer punktierten Linie, welche die von einer reinen Wasserprobe erhaltene Wellenform zeigt.
  • Die THz-Wellenform in der Abwesenheit der Probe (gestrichelte Linie) zeigt einen Gaußschen Impuls, der Reflexion von der oberen Fläche des Fensters (Fenster-Luft-Schnittstelle) entspricht. Die Breite dieses Gaußschen Impulses zeigt die temporale Auflösung an, die mit der Technologie wie durch die Bandbreite des THz-Impulses bestimmt, erhältlich ist.
  • Die vom Wasser erhaltene Wellenform ist in der Polarität dem probelosen Fall, wie für eine Reflexion von einem höheren Brechungsindexdielektrikum erwartet, entgegengesetzt. Nach der anfänglichen Transiente zeigt Wasser ein gedämpftes Abklingen zurück auf null über einen Zeitraum von 1 bis 2 ps.
  • Die THz-Wellenform des Unterarms zeigt ab einem Punkt eine positive Spitze bei null optischer Verzögerung, was der Anwesenheit der relativ dehydrierten Stratum Corneum Schicht entspricht. Für Verzögerungswerte größer als dies scheint die THz-Wellenform im Wesentlichen gleich der für Wasser zu sein. Dies deutet darauf hin, dass in der oberen Hautschicht ein hoher Wassergehalt vorhanden ist. Die Bandbreite des Systems ist bis auf eine Tiefenauflösung von ca. 40 μm in die Haut effizient. Das Stratum Corneum des Unterarms beträgt typisch 10 bis 20 μm. Die positive Spitze kann als ein Maß des Dehydrierungsvolumens des Stratum Corneums genommen werden. Die Stratum Corneum Dicke lässt sich in diesem Fall nicht vom Dehydrierungsgrad unterscheiden.
  • Die 21b zeigt eine Prozesswellenform für Haut bei Punkt a (massive Linie), Punkt b (gestrichelte Linie) und Punkt c (punktierte Linie). Es gibt wenige reproduzierbare Unterschiede zwischen den Scans für den Unterarm und das Handgelenk. Aber der Handteller gibt deutlich verschiedene Ergebnisse. In diesem Fall gibt es ein differenzielles Merkmal, aufgrund von Reflexion der Lederhautoberfläche, gefolgt mit einer längeren Verzögerung von einer breiteren negativen Transiente, aufgrund der Stratum Corneum-Epidermis-Schnittstelle. Diese Transiente zeigt die Feuchtigkeitsabklingung auf null, die für die wasserähnliche Epidermis erwartet wird. Das Stratum Corneum hat eine Dicke von 100 bis 150 μm am Handteller, was dick genug ist, damit seine inneren und äußeren Grenzflächen getrennt sind.
  • Die 22a und b zeigt Abbildungen, die durch Raster-Scanning einer Fläche von 1 cm × 1 cm der Handkante des Subjekts (Punkt d) in der 20 erhalten wurden.
  • Die 22a wird durch Aufzeichnen des Spitzenwerts der verarbeiteten THz-Wellenform generiert, die der Außenfläche der Stratum Corneum entlang der Z-Achse (d.h. aus dem Handteller) über den ganzen 1 cm × 1 cm Bereich entspricht. Typische Merkmale der Hautoberfläche (Linien, Falten usw.) sind offensichtlich. Die 22b zeigt im Wesentlichen eine Zeitscheibenabbildung wo die THz-Wellenformwerte mit einer Zeitverzögerung, die der Stratum Corneum-Epidermis-Schnittstelle entsprechen, aufgezeichnet sind. Dies lässt zu, dass Variationen in der Stratum Corneum Dicke über den gescannten Bereich zu sehen sind. (Niedrige x-Werte gehen in Richtung der Handtellerseite, während die höheren Werte in Richtung des Handrückens gehen).
  • In den Daten beider 22a und 22b sind die reflektierten THz-Wellenformen über ein räumliches Intervall von 3 Wellenformen pro Millimeter entlang zwei Achsen erfasst. Dies entspricht grob der beugungsbegrenzten Auflösung, die in diesem Frequenzbetriebszustand erzielbar ist. Die 23a und 23b zeigen Scheiben durch einen 3D-Datensatz. Die Grauskala zeigt die THz-Amplitude an und ist gegen optische Verzögerung (vertikaler Zugriff) und x-Position über die horizontale Achse aufgezeichnet. Eine Tiefenkalibrierung wird von der optischen Verzögerungszeit, beruhend auf einem angenommenen Brechungsindex von n=2 für Hautgewebe über den THz-Betriebszustand, erhalten. Die Abbildungen zeigen die Stratum Corneum/Epidermis-Schnittstelle sowie die Stratum Corneum-Oberfläche. Die 23a ist an Punkt c aufgenommen, wogegen die 23b an Punkt d aufgenommen ist.
  • Die Empfindlichkeit von THz gegenüber Absorption ist in der 24a gezeigt. Hier wurden die reflektiven Teile des Unterarms der 20 vor und in Intervallen nach Hydrieren der Stratum Corneum durch Anwendung von wassergetränkter Gaze gemessen. Die Aufzeichnung "a" zeigt ein THz-Signal vor dem Entfernen der Gaze, die Aufzeichnung "b" zeigt das Signal unmittelbar nach dem Entfernen der Gaze. Hier ist zu sehen, dass die THz-Wellenform bei null optischer Verzögerung stark unterdrückt ist, was nahezu saturierte Hydrierung der Stratum Corneum anzeigt und die Aufzeichnungen "c" bis "e" zeigen dieselbe Messung jeweils fünf Minuten, zehn Minuten und fünfzehn Minuten nach Entfernen der Gaze. Der durchtränkte Hautbereich wird einer Umgebungsatmosphäre (23°C) ausgesetzt. Die Nullverzögerungsspitze erstreckt sich über eine Kennlinienzeit von 15 Minuten. Es ist interessant festzustellen, dass obwohl sich die positive Spitze nach der anfänglichen Hydrierung deckt, das folgende Minimum zuerst in Tiefe durch Hydrierung reduziert wird und anschließend zunimmt, um negativer als vor der Hydrierung zu werden.
  • Die 24b zeigt die Änderung im Hydrierungspegel der Lederhautschicht, die durch Aufbringen von 60 Milligramm von 10%iger Glycerinlösung produziert wurde. Die punktierte Linie zeigt die Wellenform vor dem Aufbringen des Glycerins. Die massive Linie zeigt die Wellenform 8 Minuten nach dem Aufbringen der Lösung. Die obere Aufzeichnung für Punkt "c" (Handteller), wogegen die untere Aufzeichnung für Punkt "a" (Unterarm) ist.
  • Für Glycerinergebnisse zeigt der Unterarm dieselbe Unterdrückung der Nullverzögerungsspitze wie jene, die unter Verwendung reinen Wassers erzielt wurden. Eigentlich scheint die Nullverzögerungsspitze stärker unterdrückt als im Fall reinen Wassers nach einer Trockenzeit von fünf Minuten. Dies deutet auf verbessertes Rückhaltevermögen von Wasser in Anwesenheit von Glycerin hin. Im Hydrierungspegel des Handtellers ist wenig Änderung zu sehen. Jedoch sind kleine Änderungen in den Merkmalen einer späteren Zeitverzögerung zu sehen.
  • Die 25a veranschaulicht den Effekt von Obstruktion der Stratum Corneum-Schnittstelle durch das Quarzfenster. Hier wurden die THz-Messungen in Intervallen von 45 Sekunden über einen Zeitraum von 15 Minuten vorgenommen, wobei die Haut kontinuierlich mit dem Quarz in Berührung war. Die Scans sind voneinander entlang der X-Achse versetzt, wobei die neuesten Zeiten rechts liegen. Die Größe der Nullverzögerungsspitze nimmt mit einer exponentiellen Abklingform ab.
  • Die Spitze-Spitzewerte für jede Wellenform sind als eine Funktion von Zeit in der 25b aufgezeichnet. Ein exponentielles Abklingen ist den Daten angepasst. Es wurde festgestellt, dass die Zeitkonstante für das Abklingen 3,1 Minuten beträgt.

Claims (7)

  1. Abbildungsverfahren einer Probe (41), wobei das Verfahren folgende Schritte umfasst: Bestrahlen einer Probe (41) mit einem Impuls elektromagnetischer Strahlung (39), wobei besagter Impuls eine Vielzahl von Frequenzen im Bereich von 25 GHz bis 100 THz aufweist; und Erkennen der Amplitude der Strahlung, die von der Probe (41) zurückgestrahlt oder übertragen wird, dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren weiter umfasst: Generieren einer Abbildung der Probe (41) mithilfe der Amplitude der Strahlung, die an einem einzigen Zeitpunkt erkannt wird.
  2. Verfahren nach Anspruch l, wobei die Amplitude der Strahlung für einen Zeitraum erkannt wird und die Abbildung für einen einzigen Zeitpunkt generiert wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, wobei der Schritt des Generierens der Abbildung den Schritt des Generierens einer Vielzahl von Abbildungen für eine Vielzahl verschiedener Zeitpunkte umfasst.
  4. Verfahren nach Anspruch 3, das weiter den Schritt des Optimierens des Kontrasts der erzeugten Abbildung, unter Verwendung von Zeitpunkten als einen Optimierparameter, umfasst.
  5. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Strahlung nur für einen einzigen Zeitpunkt erkannt wird.
  6. Vorrichtung zum Generieren einer Abbildung einer Probe (41), wobei die Vorrichtung umfasst: Mittel (31) zum Bestrahlen einer Probe (41) mit einem Impuls elektromagnetischer Strahlung (39), wobei besagter Impuls eine Vielzahl von Frequenzen im Bereich von 25 GHz bis 100 THz aufweist; und Mittel (35) zum Erkennen der Amplitude der Strahlung, die von der Probe (41) zurückgestrahlt oder übertragen wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung weiter umfasst: Mittel (36) zum Generieren einer Abbildung der Probe mithilfe der Amplitude der Strahlung, die an einem einzigen Zeitpunkt erkannt wird.
  7. Vorrichtung nach Anspruch 6, wobei die Vorrichtung weiter Mittel (36) zur Anzeige einer Vielzahl von Abbildungen umfasst, die zu verschiedenen Zeitpunkten generiert wurden.
DE60124676T 2000-03-03 2001-03-05 Abbildungsvorrichtung und -verfahren Expired - Fee Related DE60124676T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB0005225A GB2360186B (en) 2000-03-03 2000-03-03 Apparatus and method for investigating a sample
GB0005225 2000-03-03
PCT/GB2001/000956 WO2001065240A1 (en) 2000-03-03 2001-03-05 Imaging apparatus and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60124676D1 DE60124676D1 (de) 2007-01-04
DE60124676T2 true DE60124676T2 (de) 2007-09-13

Family

ID=9886960

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60124676T Expired - Fee Related DE60124676T2 (de) 2000-03-03 2001-03-05 Abbildungsvorrichtung und -verfahren

Country Status (8)

Country Link
US (1) US10076261B2 (de)
EP (1) EP1259795B1 (de)
JP (1) JP2003525447A (de)
AT (1) ATE346286T1 (de)
AU (1) AU2001237568A1 (de)
DE (1) DE60124676T2 (de)
GB (3) GB2360186B (de)
WO (1) WO2001065240A1 (de)

Families Citing this family (111)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0122052D0 (en) * 2001-09-12 2001-10-31 Teraview Ltd Imaging apparatus and method
WO2003023383A2 (en) * 2001-09-12 2003-03-20 Teraview Limited Imaging apparatus and method
US7505811B2 (en) 2001-11-19 2009-03-17 Dune Medical Devices Ltd. Method and apparatus for examining tissue for predefined target cells, particularly cancerous cells, and a probe useful in such method and apparatus
US8116845B2 (en) 2005-08-04 2012-02-14 Dune Medical Devices Ltd. Tissue-characterization probe with effective sensor-to-tissue contact
US6813515B2 (en) 2002-01-04 2004-11-02 Dune Medical Devices Ltd. Method and system for examining tissue according to the dielectric properties thereof
GB2385415B (en) * 2002-02-15 2005-09-14 Teraview Ltd An analysis apparatus and method
GB2397207B (en) * 2003-01-10 2005-04-13 Teraview Ltd Imaging techniques and associated apparatus
US7534207B2 (en) * 2003-02-07 2009-05-19 Alfred E. Mann Institute For Biomedical Engineering At The University Of Southern California Implantable device with sensors for differential monitoring of internal condition
US6909094B2 (en) 2003-02-12 2005-06-21 Philip Norris Usa Inc. System and method for terahertz imaging using a single terahertz detector
DE10309845A1 (de) * 2003-03-06 2004-09-16 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Verfahren und Vorrichtung zum berührungsfreien Identifizieren von chemischen Substanzen
JP2004286716A (ja) * 2003-03-25 2004-10-14 Institute Of Physical & Chemical Research テラヘルツ波分光計測によるターゲット判別方法及び装置
GB2402471B (en) 2003-06-02 2006-01-18 Teraview Ltd An analysis method and apparatus
GB2405466B (en) 2003-08-27 2006-01-25 Teraview Ltd Method and apparatus for investigating a non-planner sample
JP4209765B2 (ja) * 2003-12-26 2009-01-14 潤一 西澤 テラヘルツ波画像装置
US7643869B1 (en) * 2004-03-17 2010-01-05 Dabiri Ali E Apparatus for non-invasive cancerous tissue diagnosis and tomography using terahertz imaging
US20100160774A1 (en) * 2004-03-17 2010-06-24 Ali Dabiri Method and apparatus for non-invasive cancerous tissue diagnosis and tomography using terahertz imaging
US9750425B2 (en) 2004-03-23 2017-09-05 Dune Medical Devices Ltd. Graphical user interfaces (GUI), methods and apparatus for data presentation
US7904145B2 (en) 2004-03-23 2011-03-08 Dune Medical Devices Ltd. Clean margin assessment tool
JP4620959B2 (ja) * 2004-03-26 2011-01-26 キヤノン株式会社 生体情報モニタ装置
GB2414294B (en) * 2004-05-20 2006-08-02 Teraview Ltd Apparatus and method for investigating a sample
CA2567967C (en) 2004-05-26 2016-08-02 Picometrix, Llc Terahertz imaging in reflection and transmission mode for luggage and personnel inspection
CN101076295A (zh) * 2004-08-13 2007-11-21 生物激光科技公司 使用激励脉冲和返回脉冲之间的时间差的龋齿检测
GB2418337B (en) 2004-09-17 2008-07-16 Tera View Ltd An imaging apparatus and method
US7991242B2 (en) 2005-05-11 2011-08-02 Optosecurity Inc. Apparatus, method and system for screening receptacles and persons, having image distortion correction functionality
CA2608119A1 (en) 2005-05-11 2006-11-16 Optosecurity Inc. Method and system for screening luggage items, cargo containers or persons
KR20070034169A (ko) * 2005-09-23 2007-03-28 삼성전자주식회사 테라헤르츠파를 이용한 혈중 성분 농도 측정 장치 및 방법
US20070184402A1 (en) * 2006-01-03 2007-08-09 Dmitri Boutoussov Caries detection using real-time imaging and multiple excitation frequencies
GB0718706D0 (en) 2007-09-25 2007-11-07 Creative Physics Ltd Method and apparatus for reducing laser speckle
US7899232B2 (en) 2006-05-11 2011-03-01 Optosecurity Inc. Method and apparatus for providing threat image projection (TIP) in a luggage screening system, and luggage screening system implementing same
US8494210B2 (en) 2007-03-30 2013-07-23 Optosecurity Inc. User interface for use in security screening providing image enhancement capabilities and apparatus for implementing same
DE102006042642B4 (de) * 2006-09-12 2010-06-24 Batop Gmbh Terahertz Time-Domain Spektrometer
EP1935337A1 (de) * 2006-12-21 2008-06-25 Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Ein elektromagnetisches bilderzeugendes System, ein Verfahren und ein Computerprogrammprodukt
GB2446166B (en) * 2007-01-29 2010-05-12 Teraview Ltd A pharmaceutical analysis method and apparatus
JP2008197080A (ja) * 2007-02-15 2008-08-28 Tohoku Univ 虫歯の検出方法および装置
US8147423B2 (en) 2007-03-01 2012-04-03 Dune Medical Devices, Ltd. Tissue-characterization system and method
US7897924B2 (en) * 2007-04-12 2011-03-01 Imra America, Inc. Beam scanning imaging method and apparatus
US7641343B1 (en) * 2007-07-26 2010-01-05 Motamedi Manouchehr E Method and apparatus for early diagnosis of Alzheimer's using non-invasive eye tomography by terahertz
GB0818775D0 (en) 2008-10-13 2008-11-19 Isis Innovation Investigation of physical properties of an object
WO2010091190A2 (en) * 2009-02-04 2010-08-12 The General Hospital Corporation Apparatus and method for utilization of a high-speed optical wavelength tuning source
US11726332B2 (en) 2009-04-27 2023-08-15 Digilens Inc. Diffractive projection apparatus
US9335604B2 (en) 2013-12-11 2016-05-10 Milan Momcilo Popovich Holographic waveguide display
US10795160B1 (en) 2014-09-25 2020-10-06 Rockwell Collins, Inc. Systems for and methods of using fold gratings for dual axis expansion
US11320571B2 (en) 2012-11-16 2022-05-03 Rockwell Collins, Inc. Transparent waveguide display providing upper and lower fields of view with uniform light extraction
US8233204B1 (en) 2009-09-30 2012-07-31 Rockwell Collins, Inc. Optical displays
US11300795B1 (en) 2009-09-30 2022-04-12 Digilens Inc. Systems for and methods of using fold gratings coordinated with output couplers for dual axis expansion
US8659826B1 (en) 2010-02-04 2014-02-25 Rockwell Collins, Inc. Worn display system and method without requiring real time tracking for boresight precision
DE102010010285B4 (de) * 2010-03-04 2012-03-22 Technische Universität Carolo-Wilhelmina Zu Braunschweig Probenuntersuchung mittels Terahertz-Spektroskopie
DE102010032382A1 (de) 2010-07-27 2012-02-02 Batop Gmbh Fasergekoppeltes Terahertz Time-Domain Spektrometer
US9274349B2 (en) 2011-04-07 2016-03-01 Digilens Inc. Laser despeckler based on angular diversity
JP5710355B2 (ja) * 2011-04-18 2015-04-30 株式会社東芝 テラヘルツ波を用いた検査装置及び検査方法
JP5300915B2 (ja) 2011-05-12 2013-09-25 株式会社アドバンテスト 電磁波測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体
WO2016020630A2 (en) 2014-08-08 2016-02-11 Milan Momcilo Popovich Waveguide laser illuminator incorporating a despeckler
US10670876B2 (en) 2011-08-24 2020-06-02 Digilens Inc. Waveguide laser illuminator incorporating a despeckler
EP2748670B1 (de) 2011-08-24 2015-11-18 Rockwell Collins, Inc. Tragbare datenanzeige
KR101973221B1 (ko) 2011-09-07 2019-04-26 라피스캔 시스템스, 인코포레이티드 적하목록 데이터를 이미징/검출 프로세싱에 통합시키는 x-선 검사시스템
GB201116518D0 (en) 2011-09-23 2011-11-09 Isis Innovation Investigation of physical properties of an object
US9366864B1 (en) 2011-09-30 2016-06-14 Rockwell Collins, Inc. System for and method of displaying information without need for a combiner alignment detector
US8634139B1 (en) 2011-09-30 2014-01-21 Rockwell Collins, Inc. System for and method of catadioptric collimation in a compact head up display (HUD)
US9507150B1 (en) 2011-09-30 2016-11-29 Rockwell Collins, Inc. Head up display (HUD) using a bent waveguide assembly
US9715067B1 (en) 2011-09-30 2017-07-25 Rockwell Collins, Inc. Ultra-compact HUD utilizing waveguide pupil expander with surface relief gratings in high refractive index materials
JP5749628B2 (ja) * 2011-10-27 2015-07-15 株式会社東芝 テラヘルツ波を用いた検査装置、及び検査方法
US20150010265A1 (en) 2012-01-06 2015-01-08 Milan, Momcilo POPOVICH Contact image sensor using switchable bragg gratings
JP2013174548A (ja) * 2012-02-27 2013-09-05 Otsuka Denshi Co Ltd 測定装置および測定方法
US9228878B2 (en) * 2012-03-19 2016-01-05 Advanced Energy Industries, Inc. Dual beam non-contact displacement sensor
JP2013195176A (ja) 2012-03-19 2013-09-30 Canon Inc 電磁波パルス測定装置及び方法、及びそれを用いた応用装置
US9523852B1 (en) 2012-03-28 2016-12-20 Rockwell Collins, Inc. Micro collimator system and method for a head up display (HUD)
CN103562802B (zh) 2012-04-25 2016-08-17 罗克韦尔柯林斯公司 全息广角显示器
US9933684B2 (en) 2012-11-16 2018-04-03 Rockwell Collins, Inc. Transparent waveguide display providing upper and lower fields of view having a specific light output aperture configuration
DE102012023947B4 (de) 2012-12-03 2016-11-24 Leibniz-Institut für Photonische Technologien e. V. Verfahren und Anordnung zur nichtinvasiven, zerstörungsfreien Identifikation von Vogelembryogeschlechtern durch die Vogeleischale hindurch
US20140198195A1 (en) * 2013-01-17 2014-07-17 Electronics And Telecommunications Research Institute Terahertz health checker
CN103169450B (zh) * 2013-03-08 2014-12-10 深圳先进技术研究院 THz针移动一体机
US9674413B1 (en) 2013-04-17 2017-06-06 Rockwell Collins, Inc. Vision system and method having improved performance and solar mitigation
WO2015015138A1 (en) 2013-07-31 2015-02-05 Milan Momcilo Popovich Method and apparatus for contact image sensing
JP6245600B2 (ja) * 2013-08-30 2017-12-13 国立研究開発法人物質・材料研究機構 偏光感受性テラヘルツ波検出器
US9244281B1 (en) 2013-09-26 2016-01-26 Rockwell Collins, Inc. Display system and method using a detached combiner
US10732407B1 (en) 2014-01-10 2020-08-04 Rockwell Collins, Inc. Near eye head up display system and method with fixed combiner
US9519089B1 (en) 2014-01-30 2016-12-13 Rockwell Collins, Inc. High performance volume phase gratings
US9244280B1 (en) 2014-03-25 2016-01-26 Rockwell Collins, Inc. Near eye display system and method for display enhancement or redundancy
WO2016020632A1 (en) 2014-08-08 2016-02-11 Milan Momcilo Popovich Method for holographic mastering and replication
US10241330B2 (en) 2014-09-19 2019-03-26 Digilens, Inc. Method and apparatus for generating input images for holographic waveguide displays
US10088675B1 (en) 2015-05-18 2018-10-02 Rockwell Collins, Inc. Turning light pipe for a pupil expansion system and method
US9715110B1 (en) 2014-09-25 2017-07-25 Rockwell Collins, Inc. Automotive head up display (HUD)
EP3245444B1 (de) 2015-01-12 2021-09-08 DigiLens Inc. Umweltisolierte wellenleiteranzeige
US9632226B2 (en) 2015-02-12 2017-04-25 Digilens Inc. Waveguide grating device
US11366316B2 (en) 2015-05-18 2022-06-21 Rockwell Collins, Inc. Head up display (HUD) using a light pipe
US10126552B2 (en) 2015-05-18 2018-11-13 Rockwell Collins, Inc. Micro collimator system and method for a head up display (HUD)
US10247943B1 (en) 2015-05-18 2019-04-02 Rockwell Collins, Inc. Head up display (HUD) using a light pipe
US10108010B2 (en) 2015-06-29 2018-10-23 Rockwell Collins, Inc. System for and method of integrating head up displays and head down displays
EP3359999A1 (de) 2015-10-05 2018-08-15 Popovich, Milan Momcilo Wellenleiteranzeige
US10598932B1 (en) 2016-01-06 2020-03-24 Rockwell Collins, Inc. Head up display for integrating views of conformally mapped symbols and a fixed image source
GB2564038B (en) 2016-02-22 2021-11-10 Rapiscan Systems Inc Systems and methods for detecting threats and contraband in cargo
EP3433659A1 (de) 2016-03-24 2019-01-30 DigiLens, Inc. Verfahren und vorrichtung zur bereitstellung einer polarisationsselektiven holografischen wellenleitervorrichtung
EP3433658B1 (de) 2016-04-11 2023-08-09 DigiLens, Inc. Holographische wellenleitervorrichtung für die projektion von strukturiertem licht
DE102016105599A1 (de) * 2016-04-14 2017-10-19 Inoex Gmbh Terahertz-Messvorrichtung zur Vermessung von Prüfobjekten sowie ein Terahertz-Messverfahren
EP3548939A4 (de) 2016-12-02 2020-11-25 DigiLens Inc. Wellenleitervorrichtung mit gleichmässiger ausgabebeleuchtung
US10545346B2 (en) 2017-01-05 2020-01-28 Digilens Inc. Wearable heads up displays
US10295824B2 (en) 2017-01-26 2019-05-21 Rockwell Collins, Inc. Head up display with an angled light pipe
GB2559164B (en) 2017-01-27 2021-11-10 Teraview Ltd Method and system for measuring coating thicknesses
US10942430B2 (en) 2017-10-16 2021-03-09 Digilens Inc. Systems and methods for multiplying the image resolution of a pixelated display
WO2019136476A1 (en) 2018-01-08 2019-07-11 Digilens, Inc. Waveguide architectures and related methods of manufacturing
CN115356905A (zh) 2018-01-08 2022-11-18 迪吉伦斯公司 波导单元格中全息光栅高吞吐量记录的系统和方法
US11402801B2 (en) 2018-07-25 2022-08-02 Digilens Inc. Systems and methods for fabricating a multilayer optical structure
KR102075356B1 (ko) * 2018-08-27 2020-02-10 한양대학교 산학협력단 시편 두께 측정 장치 및 시편 두께 측정 방법
KR20210138609A (ko) 2019-02-15 2021-11-19 디지렌즈 인코포레이티드. 일체형 격자를 이용하여 홀로그래픽 도파관 디스플레이를 제공하기 위한 방법 및 장치
KR20210134763A (ko) 2019-03-12 2021-11-10 디지렌즈 인코포레이티드. 홀로그래픽 도파관 백라이트 및 관련된 제조 방법
KR20220038452A (ko) 2019-07-29 2022-03-28 디지렌즈 인코포레이티드. 픽셀화된 디스플레이의 이미지 해상도와 시야를 증배하는 방법 및 장치
KR20220054386A (ko) 2019-08-29 2022-05-02 디지렌즈 인코포레이티드. 진공 브래그 격자 및 이의 제조 방법
CN112212984B (zh) * 2020-09-30 2022-11-01 上海理工大学 一种提高太赫兹被动成像单元灵敏度的调制解调方法
US11692883B2 (en) 2020-10-28 2023-07-04 Advanced Energy Industries, Inc. Fiber optic temperature probe
CN114587586B (zh) * 2022-03-21 2022-11-11 黄伟 一种牙体、牙髓损伤无创分层显示设备及系统
GB2617330A (en) 2022-03-31 2023-10-11 Teraview Ltd Method, system and sensor for analysing a sample, and process for manufacturing an electrode

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0299465B1 (de) * 1987-07-14 1993-09-29 Hamamatsu Photonics K.K. Einrichtung zum Abtasten, Analysieren und Anzeigen eines elektrischen Signals
US5413098A (en) * 1991-12-24 1995-05-09 Sextant Medical Corporation Path constrained spectrophotometer and method for determination of spatial distribution of light or other radiation scattering and absorbing substances in a radiation scattering medium
US5623145A (en) * 1995-02-15 1997-04-22 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for terahertz imaging
US5710430A (en) * 1995-02-15 1998-01-20 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for terahertz imaging
US5789750A (en) * 1996-09-09 1998-08-04 Lucent Technologies Inc. Optical system employing terahertz radiation
US5939721A (en) * 1996-11-06 1999-08-17 Lucent Technologies Inc. Systems and methods for processing and analyzing terahertz waveforms
US6078047A (en) * 1997-03-14 2000-06-20 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for terahertz tomographic imaging
US6208886B1 (en) * 1997-04-04 2001-03-27 The Research Foundation Of City College Of New York Non-linear optical tomography of turbid media
US6356349B1 (en) * 1998-07-10 2002-03-12 Massachusetts Institute Of Technology Polariton wave imaging
JP2004500546A (ja) * 1999-06-04 2004-01-08 テラビュー リミテッド 3次元画像形成
JP4833478B2 (ja) * 1999-12-28 2011-12-07 ピコメトリックス インコーポレイテッド テラヘルツ放射により物質の状態の変化を監視するためのシステムおよび方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP1259795B1 (de) 2006-11-22
GB2360186B (en) 2003-05-14
US20030149346A1 (en) 2003-08-07
GB2372929B (en) 2003-03-12
GB2360186A (en) 2001-09-12
DE60124676D1 (de) 2007-01-04
GB0005225D0 (en) 2000-04-26
GB0207459D0 (en) 2002-05-08
EP1259795A1 (de) 2002-11-27
GB2372930B (en) 2003-03-19
JP2003525447A (ja) 2003-08-26
ATE346286T1 (de) 2006-12-15
GB2372929A (en) 2002-09-04
AU2001237568A1 (en) 2001-09-12
WO2001065240A1 (en) 2001-09-07
GB2372930A (en) 2002-09-04
GB0207462D0 (en) 2002-05-08
US10076261B2 (en) 2018-09-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60124676T2 (de) Abbildungsvorrichtung und -verfahren
DE69433677T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung eines streuenden Mediums
DE69928392T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der charakteristischen inneren verteilung von einem streuenden/absorbierenden körper
EP0618439B1 (de) Bildgebender optischer Aufbau zur Untersuchung stark streuenden Medien
DE69738173T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Gewinnung von Informationen über die optische Absorption eines streuenden Mediums
DE60011389T2 (de) Optisches kohärenzmikroskop und verfahren zur schnellen 3d-in-vivo -visualisierung biologischer funktionen
EP1157297B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur objektabbildung
EP0772768A1 (de) Apparat und methode zur optischen charakterisierung von struktur und zusammensetzung einer streuenden probe
DE69737544T2 (de) Messung der Absorption eines streuenden Mediums
Ferguson et al. Towards functional 3D T-ray imaging
DE4445683A1 (de) Verfahren zur Untersuchung eines streuenden Mediums mit intensitätsmoduliertem Licht
DE102016103311A1 (de) Verfahren zur optischen Infrarotstreuungs-Rasternahfeldmikroskopie mit Hochgeschwindigkeits-Punktspektroskopie
DE2657899A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur darstellung und kenntlichmachung von koerpern mittels ultraschall
DE112015006288B4 (de) Optische Messvorrichtung und optisches Messverfahren
DE102010042469A1 (de) Terahertzwellen-Vorrichtung
DE2554898C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur akustischen Abbildung
DE69925930T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der inneren eigenschaften eines streuenden absorbers
DE69929224T2 (de) Verfahren zum örtlichen und oberflächigen messen der streu- und absorptionseigenschaften von trüben medien
DE102006047476A1 (de) Verfahren und Anordnung zum Abbilden eines Objekts mit Licht und Scherkräften
DE112017008083B4 (de) Ferninfrarotlichtquelle und ferninfrarotspektrometer
DE102007011820B4 (de) Verfahren zum schnellen Messen von Proben mit geringem optischen Wegunterschied mittels elektromagnetischer Strahlung im Terahertz-Bereich
Shon et al. High speed terahertz pulse imaging in the reflection geometry and image quality enhancement by digital image processing
EP2828612B1 (de) Verfahren zur reduktion der dimensionalität eines von den optischen eigenschaften einer probe abgeleiteten räumlich registrierten signals und vorrichtung hierzu
DE10104631B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Identifikation der Oberfläche und latenter oberflächennaher Strukturen eines Prüfobjekts
DE102010050595B4 (de) Verfahren zum Detektieren organischer Materialien unter Verwendung der Terahertz-Spektroskopie

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee