DE3741708A1 - Device for depositing material from the gas phase - Google Patents

Device for depositing material from the gas phase

Info

Publication number
DE3741708A1
DE3741708A1 DE19873741708 DE3741708A DE3741708A1 DE 3741708 A1 DE3741708 A1 DE 3741708A1 DE 19873741708 DE19873741708 DE 19873741708 DE 3741708 A DE3741708 A DE 3741708A DE 3741708 A1 DE3741708 A1 DE 3741708A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
substrate
gas
holder
heating
coated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19873741708
Other languages
German (de)
Inventor
Roger Dipl Ing Weber
Robert Dipl Phys Dr Huber
Georg Dipl Phys Dr Wahl
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ABB AB
Original Assignee
Asea Brown Boveri AB
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asea Brown Boveri AB filed Critical Asea Brown Boveri AB
Priority to DE19873741708 priority Critical patent/DE3741708A1/en
Publication of DE3741708A1 publication Critical patent/DE3741708A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45519Inert gas curtains
    • C23C16/45521Inert gas curtains the gas, other than thermal contact gas, being introduced the rear of the substrate to flow around its periphery
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4587Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially vertically
    • C23C16/4588Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially vertically the substrate being rotated

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)

Abstract

The object of the invention is to improve a device for individual coating of substrates by depositing material from the gas phase. In the proposed solution, a substrate (5) to be coated is clamped, inside a reaction chamber (3), into a rotating plate-like substrate holder (6). Through a gas douche (9), a gas mixture flows against the face (8) to be coated, and the substrate is heated with an infrared heater (4). Preferably, the holder (6) is of annular design, so that the substrate does not lie on a plate over a large area but is held only at the substrate edge. The invention can be used, in particular, for coating semiconductor wafers. <IMAGE>

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Ma­ terialabscheidung nach einem CVD (chemical vapor deposi­ tion)-Prozeß auf flächigen Substraten, insbesondere Halbleiterwafern nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Flächige Substrate können beispielsweise auch Isolatoren oder Metallteile sein.The invention relates to a device for Ma material deposition after a CVD (chemical vapor deposi tion) process on flat substrates, in particular Semiconductor wafers according to the preamble of claim 1. Two-dimensional substrates can also be insulators, for example or be metal parts.

Eine solche Einrichtung ist aus einer Firmen-Druck­ schrift der Fa. varian GmbH, Stuttgart, zum Produkt "va­ rian Modul 5101 CVD-System" bekannt. Dabei handelt es sich um eine Einrichtung zur Einzelbeschichtung von Wa­ fern. Mit Hilfe einer Belade-Einrichtung werden die Wa­ fer einer Reaktionskammer zugeführt und dort in einer infrarotbeheizten tellerförmigen Halterung gehalten. Die Reaktionskammer enthält eine gegenüber der Waferhalte­ rung angeordnete Vorrichtung zur Gaszufuhr, mit deren Hilfe ein Gasgemisch auf den Wafer geleitet wird, wo sich Material aus dem Gasgemisch abscheidet. Such a facility is from a company printing Written by varian GmbH, Stuttgart, on the product "va rian module 5101 CVD system " a device for individual coating of Wa remote. With the help of a loading device, the wa fer fed to a reaction chamber and there in a infrared heated plate-shaped bracket held. The Reaction chamber contains one opposite the wafer hold tion arranged device for gas supply, with the Help a gas mixture is directed onto the wafer where material separates from the gas mixture.  

Derartige Einrichtungen zur Einzelbeschichtung von Wa­ fern werden aus wirtschaftlichen Gründen so konzipiert, daß der Beschichtungsvorgang, d.h. die erforderliche Verweildauer des Wafers in der Kammer möglichst kurz ist. Außerdem wird im Hinblick auf die vorgesehene Ver­ wendung der Wafer eine möglichst gleichmäßige Beschich­ tung des Wafers angestrebt.Such devices for individual coating of Wa fern are designed for economic reasons that the coating process, i.e. the required Residence time of the wafer in the chamber as short as possible is. In addition, with regard to the proposed Ver coating the wafer as evenly as possible striving for the wafer.

Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, eine bekannte Einrichtung zur Materialabscheidung aus der Gasphase weiter zu verbessern.The invention is therefore based on the object known device for material separation from the To further improve the gas phase.

Diese Aufgabe wird bei einer Einrichtung nach dem Ober­ begriff des Anspruchs 1 durch dessen kennzeichnende Merkmale gelöst.This task is done at a facility according to the waiter Concept of claim 1 by its characterizing Features solved.

Die mit der Erfindung vorgeschlagene Ausführung der Sub­ strathalterung als Drehteller hat den Vorteil, daß eine besonders gleichmäßige Beschichtung erzielt wird, da nicht ganz ideale Verhältnisse in der Gasanströmung und der Beheizung ausgeglichen werden. Nach einer bevorzug­ ten Ausgestaltung wird die Halterung als bodenloser Tel­ ler, also nur als Spannring für das Substrat ausgeführt. Dadurch wird ein Temperaturschock vermieden, den ein Substrat erfährt, das auf eine bereits heiße Spannvor­ richtung aufgelegt wird. Außerdem trägt die damit er­ zielte direkte Infrarotbestrahlung des Substrats zu ei­ ner kürzeren Aufheizzeit und damit einer Beschleunigung des Beschichtungsprozesses bei. Eine Ausführung der Vor­ richtung zur Gaszufuhr als Gasdusche trägt weiterhin zu einer schnellen und gleichmäßigen Beschichtung bei.The proposed embodiment of the sub strathalterung as a turntable has the advantage that a particularly uniform coating is achieved because not quite ideal conditions in the gas flow and the heating can be compensated. After one preferred th embodiment is the bracket as a bottomless phone ler, so only designed as a clamping ring for the substrate. This avoids a temperature shock, the one Substrate experiences that on an already hot clamping device direction is placed. He also wears it with it aimed at direct infrared radiation of the substrate shorter heating-up time and thus acceleration of the coating process. An execution of the pre The direction of gas supply as a gas shower continues to increase a quick and even coating.

Die Erfindung wird anhand eines in der Zeichnung darge­ stellten Ausführungsbeispiels näher erläutert. The invention is based on a Darge in the drawing presented embodiment explained in more detail.  

In der Zeichnung ist schematisch der Aufbau einer erfin­ dungsgemäßen Einrichtung zur Substratbeschichtung nach einem CVD-Verfahren dargestellt. Die Zeichnung zeigt ein Trägerteil 1, das gemeinsam mit einem haubenförmigen Oberteil 2 eine abgeschlossene Reaktionskammer 3 bildet. Der Trägerteil 1 enthält in einem mittleren Bereich eine Anordnung von Infrarotheizungsmodulen 4. Parallel zu den Heizungsmodulen 4 ist ein zu beschichtendes Substrat 5 angeordnet, das in einer drehbaren, ringförmigen Sub­ strathalterung 6 gehalten wird. Das Substrat 5 wird um eine Drehachse 7 während des Beschichtungsvorganges ge­ dreht, wobei die Achse 7 senkrecht zu einer Hauptfläche des Substrats 5 angeordnet ist. Eine dazu erforderliche Lagerung und Antriebseinrichtung für die Substrathalte­ rung 6 ist nicht dargestellt. Parallel zu der zu be­ schichtenden Fläche 8 des Substrats 5 ist in einem Ab­ stand zum Substrat 5 eine Gasdusche 9 angeordnet. Der Gasdusche 9 ist über eine Gasleitung 10 ein Gasgemisch zugeführt, das die auf dem Substrat abzuscheidenden Ma­ terialien enthält und an der Gasdusche 9 über mehrere düsenartige Auslässe 11 auf das Substrat gerichtet aus­ strömt.In the drawing, the structure of an inventive device for substrate coating according to a CVD method is shown schematically. The drawing shows a carrier part 1 which, together with a hood-shaped upper part 2, forms a closed reaction chamber 3 . The carrier part 1 contains an arrangement of infrared heating modules 4 in a central region. In parallel to the heating modules 4 , a substrate 5 to be coated is arranged, which is held in a rotatable, annular substrate holder 6 . The substrate 5 is rotated about an axis of rotation 7 during the coating process, the axis 7 being arranged perpendicular to a main surface of the substrate 5 . A necessary storage and drive device for the substrate holding tion 6 is not shown. Parallel to the forming layer to be surface 8 of the substrate 5 is in a stand from the substrate 5, a gas nozzle disposed. 9 The gas shower 9 is supplied via a gas line 10, a gas mixture which contains the materials to be deposited on the substrate and flows from the gas shower 9 through a plurality of nozzle-like outlets 11 directed onto the substrate.

In einem Bereich zwischen der Substrathalterung 6 und der Gasdusche 9 sind mehrere Strahlungsbleche 12 ange­ ordnet. Diese Strahlungsbleche 12 weisen einen nicht dargestellten großen Ausschnitt auf, so daß der Gasstrom von der Gasdusche 9 zur Substratfläche 8 nicht behindert wird. Die Strahlungsbleche 12 haben die Aufgabe, die hauptsächlich von der Halterung 6 ausgehende Wärmestrah­ lung abzuschirmen, wodurch sich eine Energieeinsparung für die Infrarotheizung 4 ergibt und vor allem auch eine Aufheizung des Oberteils 2 und sonstiger Komponenten der Einrichtung verringert wird. Außerdem wird durch z.B. Wasserkühlung des Oberteils 2 und der Gasdusche 9 dafür gesorgt, daß diese Einrichtungsteile eine niedrige Temperatur annehmen und dadurch eine Materialabscheidung möglichst vermieden wird.In an area between the substrate holder 6 and the gas shower 9 , a plurality of radiation plates 12 are arranged. These radiation sheets 12 have a large section, not shown, so that the gas flow from the gas shower 9 to the substrate surface 8 is not hindered. The radiation plates 12 have the task of shielding the heat radiation emanating mainly from the holder 6 , which results in energy savings for the infrared heater 4 and, above all, heating of the upper part 2 and other components of the device is reduced. In addition, for example, water cooling of the upper part 2 and the gas shower 9 ensures that these parts of the device assume a low temperature and that material separation is avoided as far as possible.

Weiterhin sind in der Zeichnung eine Dichtungseinrich­ tung 13 zwischen dem Trägerteil 1 und dem Oberteil 2 der Reaktionskammer 3 dargestellt und Rohrdurchführungen 14 im Trägerteil 1 für den Anschluß einer zur Durchführung des CVD-Prozesses erforderlichen Vakuumpumpe. Schließ­ lich wird durch den mittleren Teil des Trägerteils 1 und die Substrathalterung 6 mit Substrat 5 ein Heizungsraum 15 gebildet, in dem die Heizungsmodule 4 angeordnet sind. Durch den Trägerteil 1 mündet in diesen Heizungs­ raum 15 ein Anschlußrohr 16 für die Zufuhr von Inertgas. Das Inertgas wird mit leichtem Überdruck gegenüber dem Gasdruck in der Reaktionskammer 3 zugeführt, füllt den Heizungsraum 15 aus und gelangt über Undichtigkeiten an der sich drehenden Substrathalterung 6 und auch während des Substratwechsels in den übrigen Raum der Reaktions­ kammer 3 und wird schließlich mit dem Gasgemisch über die Rohrdurchführung 14 abgesaugt. Mit der beschriebenen Inertgas-Spülung wird erreicht, daß das über die Leitung 10 zugeführte Gasgemisch weitgehend von den Heizungsmo­ dulen 4 und von der Unterseite des Substrats 5 fernge­ halten wird und dadurch eine Materialabscheidung unter­ bleibt.Furthermore, a Dichtungseinrich device 13 between the carrier part 1 and the upper part 2 of the reaction chamber 3 are shown in the drawing and pipe bushings 14 in the carrier part 1 for the connection of a vacuum pump required to carry out the CVD process. Finally, a heating chamber 15 is formed by the central part of the carrier part 1 and the substrate holder 6 with substrate 5 , in which the heating modules 4 are arranged. Through the support part 1 opens into this heating room 15, a connecting pipe 16 for the supply of inert gas. The inert gas is supplied with a slight overpressure compared to the gas pressure in the reaction chamber 3 , fills the heating chamber 15 and passes through leaks on the rotating substrate holder 6 and also during the substrate change in the remaining space of the reaction chamber 3 and is finally over with the gas mixture sucked off the pipe bushing 14 . With the described inert gas flushing it is achieved that the gas mixture supplied via the line 10 is largely held by the Heizungsmo modules 4 and from the underside of the substrate 5 Fernge and thereby a material deposition remains.

In einer praktisch ausgeführten Einrichtung enthält das Oberteil 2 zweckmäßig wenigstens eine schleusenartige Öffnung, über die mit Hilfe einer Substrate-Wechselein­ richtung beschichtete Substrate entnommen und unbe­ schichtete Substrate zugeführt werden. Nachdem ein Sub­ strat in die Halterung eingesetzt ist, beginnt sich die Halterung mit dem Substrat zu drehen, die Infrarothei­ zung erhitzt das Substrat und auf der zu beschichtenden Fläche scheidet sich Material aus dem über die Gasdusche zuströmenden Gas ab. Eine Drehzahl von etwa 1 bis 30 U/min für die Substrathalterung ist geeignet. Nach Abschluß des Prozesses wird das beschichtete Substrat entnommen.In a practically executed device, the upper part 2 expediently contains at least one lock-like opening, through which coated substrates are removed with the aid of a substrate-changing device and uncoated substrates are supplied. After a substrate is inserted into the holder, the holder begins to rotate with the substrate, the infrared heating heats the substrate and material separates from the gas flowing in via the gas shower on the surface to be coated. A speed of about 1 to 30 rpm is suitable for the substrate holder. After the process is complete, the coated substrate is removed.

Claims (3)

1. Einrichtung zur Materialabscheidung aus der Gasphase nach einem CVD-(chemical vapor deposition)-Prozeß auf flächigen Substraten, insbesondere Halbleiterwafern, bestehend aus mindestens einer Reaktionskammer mit einer Halterung für die zu beschichtenden Substrate, einer Vorrichtung für die Zufuhr eines Gasgemisches und aus einer Infrarotheizeinrichtung zur Beheizung der Sub­ strathalterung mit dem Substrat, dadurch gekennzeichnet, daß die Substrathalterung (6) mittels einer Lager- und Antriebseinrichtung in einer Drehachse (7) senkrecht zu einer Hauptfläche des Substrats (5) drehbar ausgeführt ist und während des Beschichtungsvorganges in Umdrehung versetzt ist.1. Device for material deposition from the gas phase after a CVD (chemical vapor deposition) process on flat substrates, in particular semiconductor wafers, consisting of at least one reaction chamber with a holder for the substrates to be coated, a device for supplying a gas mixture and one Infrared heating device for heating the substrate holder with the substrate, characterized in that the substrate holder ( 6 ) is rotatable by means of a bearing and drive device in an axis of rotation ( 7 ) perpendicular to a main surface of the substrate ( 5 ) and rotated during the coating process is. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Substrathalterung (6) ringförmig aus­ geführt ist und ein darin gehaltenes Substrat (5) direkt und vollflächig der Infrarotstrahlung der Heizeinrich­ tung (4) ausgesetzt ist.2. Device according to claim 1, characterized in that the substrate holder ( 6 ) is guided in a ring and a substrate ( 5 ) held therein is directly and completely exposed to the infrared radiation of the heating device ( 4 ). 3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Vorrichtung für die Zufuhr des Gasgemisches eine wassergekühlte Gasdusche (9) ist, also eine Gasverteileinrichtung aus der über mehrere düsenar­ tige Auslässe (11) das Gas auf das Substrat (5) gerich­ tet ausströmt.3. Device according to claim 1 or 2, characterized in that the device for the supply of the gas mixture is a water-cooled gas shower ( 9 ), that is a gas distribution device from which via several nozzle-type outlets ( 11 ) the gas on the substrate ( 5 ) flows out.
DE19873741708 1987-12-09 1987-12-09 Device for depositing material from the gas phase Withdrawn DE3741708A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19873741708 DE3741708A1 (en) 1987-12-09 1987-12-09 Device for depositing material from the gas phase

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19873741708 DE3741708A1 (en) 1987-12-09 1987-12-09 Device for depositing material from the gas phase

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3741708A1 true DE3741708A1 (en) 1989-06-22

Family

ID=6342202

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19873741708 Withdrawn DE3741708A1 (en) 1987-12-09 1987-12-09 Device for depositing material from the gas phase

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3741708A1 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3930301A1 (en) * 1988-09-12 1990-03-15 Mitsubishi Electric Corp DEVICE FOR PRODUCING THIN LAYERS
DE4035951C1 (en) * 1990-11-09 1991-06-06 Abb Patent Gmbh, 6800 Mannheim, De CVD process for coating plastics - by depositing substrate from silane and oxygen enriched with ozone
EP0448346A1 (en) * 1990-03-19 1991-09-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Vapor-phase deposition apparatus and vapor-phase deposition method
DE19825381A1 (en) * 1998-05-28 1999-12-02 Inst Halbleiterphysik Gmbh Handling thin, large diameter silicon wafers during semiconductor processing

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD106417A1 (en) * 1972-12-27 1974-06-12
DE3634129A1 (en) * 1985-10-07 1987-05-07 Epsilon Ltd Partnership METHOD AND REACTOR FOR CHEMICAL EVAPORATION

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD106417A1 (en) * 1972-12-27 1974-06-12
DE3634129A1 (en) * 1985-10-07 1987-05-07 Epsilon Ltd Partnership METHOD AND REACTOR FOR CHEMICAL EVAPORATION

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3930301A1 (en) * 1988-09-12 1990-03-15 Mitsubishi Electric Corp DEVICE FOR PRODUCING THIN LAYERS
EP0448346A1 (en) * 1990-03-19 1991-09-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Vapor-phase deposition apparatus and vapor-phase deposition method
US5474612A (en) * 1990-03-19 1995-12-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Vapor-phase deposition apparatus and vapor-phase deposition method
DE4035951C1 (en) * 1990-11-09 1991-06-06 Abb Patent Gmbh, 6800 Mannheim, De CVD process for coating plastics - by depositing substrate from silane and oxygen enriched with ozone
DE19825381A1 (en) * 1998-05-28 1999-12-02 Inst Halbleiterphysik Gmbh Handling thin, large diameter silicon wafers during semiconductor processing
DE19825381B4 (en) * 1998-05-28 2004-10-28 Institut für Halbleiterphysik Frankfurt (Oder) GmbH Process for handling wafers of large diameter during an annealing process

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1948845A1 (en) Cvd reactor with slidingly mounted susceptor holder
DE69805327T2 (en) FAST HEAT TREATMENT SYSTEM WITH GAS-DRIVEN ROTATING SUBSTRATE
DE3317349C2 (en)
DE69534965T2 (en) deposition method
CN103582532B (en) Monobasal treatment system side by side
DE19640247C2 (en) Gas distribution system for chemical vapor deposition equipment
US20050230260A1 (en) Plating apparatus and method
WO2001061071B1 (en) Condensation coating method
EP0124829A1 (en) Beam heating evaporation apparatus for the vapour coating of several materials
DD206687A3 (en) METHOD AND DEVICE FOR FUELING LP CVD PROCESSES IN A PIPE REACTOR
DE2849240A1 (en) CVD COATING DEVICE FOR SMALL PARTS
US3643625A (en) Thin-film deposition apparatus
DE3540628C2 (en) Making an epitaxial film by chemical vapor deposition
EP1554417A1 (en) Hydride vpe reactor
DE3741708A1 (en) Device for depositing material from the gas phase
CN1083296C (en) Method for forming thin film of ultra-fine particles, and apparatus for the same
DE102005056536A1 (en) Chemical vapor deposition reactor for production of semiconductor devices has encapsulated electrical resistance heater
DE3538261C2 (en)
EP3475472A1 (en) Method and device for producing coated semiconductor wafers
CA2270807A1 (en) Closed chamber method and apparatus for the coating of liquid films
DE4035951C1 (en) CVD process for coating plastics - by depositing substrate from silane and oxygen enriched with ozone
US5425810A (en) Removable gas injectors for use in chemical vapor deposition of aluminium oxide
DE202009018759U1 (en) coating plant
DE3002643A1 (en) METHOD FOR APPLYING COVER LAYERS TO REFLECTIVE SURFACES, AND SYSTEM FOR REALIZING THEM
WO1999042636A1 (en) Cvd reactor and use thereof

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8139 Disposal/non-payment of the annual fee