DE3039483C2 - Incremental length or angle measuring device - Google Patents

Incremental length or angle measuring device

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DE3039483C2
DE3039483C2 DE3039483A DE3039483A DE3039483C2 DE 3039483 C2 DE3039483 C2 DE 3039483C2 DE 3039483 A DE3039483 A DE 3039483A DE 3039483 A DE3039483 A DE 3039483A DE 3039483 C2 DE3039483 C2 DE 3039483C2
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Abstract

A position measuring instrument of the type having a scale and a scanning unit is provided with a plurality of reference marks on the scale. An identification mark is associated with each reference mark, and each identification mark is uniquely coded. The scanning unit operates to read the identification marks and to generate identification signals which are applied to a comparator or to a computer. The comparator or computer compares the identification signal corresponding to each reference mark with a set of designation signals. Only if a correspondence is found between the identification signal and one of the designation signals is the reference mark allowed to go into operation. Thus, by merely changing the designation signals electronically, any desired subset of a total number of reference marks can be enabled. The selected reference marks can readily be changed electronically without physical manipulation of the measuring instrument.

Description

a) eine Abtasteinrichtung (A) für die Identifizierungsmerkmale (C\ ... n) ist an ein Vergleichsglied (V, R) angeschlossen, in das jede durch Abtastung der Identifizierungsmerkmale (C\... b) jeweils an der zugehörigen Referenzmarke (Ni ... „) gewonnene Lageinformatkm eingespeist ist;a) a scanning device (A) for the identification features (C \ ... n) is connected to a comparison element (V, R) , in which each of the identification features (C \ ... b) is scanned at the associated reference mark ( Ni ... ") obtained location information km is fed in;

b) das Vergteichsglied (V. R) ist an einen Datenspeicher (S, S') angeschlossen, aus dem vorab ausgewählte, den jeweiligen Identifizierungsmerkmalen (Q ... „) der zugehörigen, auszuwählenden Referenzmarke (Ni ... „) entsprechende, referenzmarkenspezifische Informationen in das Vergleichsglied (V, R) eingespeist sind;b) the comparison element (V. R) is connected to a data memory (S, S ') from which the previously selected, the respective identification features (Q ... ") of the associated reference mark to be selected (Ni ...") corresponding, Reference mark-specific information is fed into the comparison element (V, R);

c) das Vergleichsglied (V, R) ist an eine Verknüpfungsschaltung (U, U') angeschlossen, in die das Vergleichsergebnis und jeder durch Abtastung einer Referenzmarke (Ni... „) gewonnene Impuls (Rs) eingespeist ist;c) the comparison element (V, R) is connected to a logic circuit (U, U ') into which the comparison result and each pulse (Rs) obtained by scanning a reference mark (Ni ... ") is fed;

d) die Verknüpfungsschaltung (U, U') ist an eine Auswerteeinrichtung (Z) angeschlossen, in die in Abhängigkeit von den Verknüpfungsbedingungen ein Referenzimpuls (Rj) zu Steuerungszwecken eingespeist istd) the logic circuit (U, U ') is connected to an evaluation device (Z) into which a reference pulse (Rj) is fed for control purposes as a function of the logic conditions

2. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Vergleichsglied ein Digitalrechner (R) vorgesehen ist, der Zugriff zu einem elektronischen Datenspeicher (S) für Informationen hat die den Identifizierungsmerkmalen der zugehörigen Referenzmarken (N\ ... „) entsprechen, daß ferner eine Auswahleinrichtung (T) zur Auswahl von Referenzmarken (N\ ... „) mit dem Digitalrechner (R) verbunden ist, mit deren Hilfe eine beliebige Einspeicherung von referenzmarkenspezifischen Informationen in den Datenspeicher (SJ erfolgt2. Measuring device according to claim 1, characterized in that a digital computer (R) is provided as a comparison element, which has access to an electronic data memory (S) for information that corresponds to the identification features of the associated reference marks (N \ ... ") Furthermore, a selection device (T) for selecting reference marks (N \ ... ") is connected to the digital computer (R) , with the aid of which information specific to reference marks can be stored in the data memory (SJ)

3. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Komparator (V) als Vergleichsglied über einen Datenspeicher (S') mit einer Auswahleinrichtung (Na) in Verbindung steht, der eine Koinzidenzprüfung zwischen den durch Abtastung der Identifizierungsmerkmale (Q ... Cn) gewonnenen referenzmarkenspezifischen Informationen und den mittels der Auswahleinrichtung (Na) im Datenspeicher (S') anstehenden Informationen vornimmt3. Measuring device according to claim 1, characterized in that a comparator (V) as a comparison element via a data memory (S ') is connected to a selection device (Na) which carries out a coincidence check between the identification features (Q ... C n ) makes reference mark-specific information obtained and the information pending in the data memory (S ') by means of the selection device (Na)

4. Meßeinrichtung nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß den Referenzmarken (N\ .. „) codierte Teilungsfelder als Identifizierungsmerkmale (C\.. n) zugeordnet sind.4. Measuring device according to claim 1 to 3, characterized in that the reference marks (N \ .. ") coded graduation fields are assigned as identification features (C \ .. n).

5. Meßeinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet daß die Identifizierungsmerkmale (Cn) zusätzlich in Dezimalziffern (1,2,3,4) in der Nähe der Referenzmarken (N\.. „) und an der Auswahleinrichtung (T, Na) angebracht sind.5. Measuring device according to claim 4, characterized in that the identification features (C n ) are additionally attached in decimal digits (1,2,3,4) in the vicinity of the reference marks (N \ .. ") and on the selection device (T, Na) are.

6. Meßeinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet daß die Identifizierungsmerkmale (Ci.. a) aus der Lage der Referenzmarken (Ni.. „) zum Nullpunkt der Meßeinrichtung abgeleitet sind, und diese Positionen zusätzlich als Dezimalzahlen in der Nähe der Referenzmarken (Nt.. „) und an der Auswahleinrichtung (T, Na) angebracht sind.6. Measuring device according to claim 4, characterized in that the identification features (Ci .. a) are derived from the position of the reference marks (Ni .. ") to the zero point of the measuring device, and these positions also as decimal numbers near the reference marks (N t .. ") and are attached to the selection device (T, Na) .

7. Meßeinrichtung nach Anspruch 4, drdurch gekennzeichnet daß die Identifizierungsmerkmale (C\.. a) zusätzlich als Farbmarkierungen in der Nähe der Referenzmarken (Ni.. tt) und an der Auswahleinrichtung (T, Na) angebracht sind.7. Measuring device according to claim 4, characterized in that the identification features (C \ .. A) are also attached as color markings in the vicinity of the reference marks (Ni .. tt ) and on the selection device (T, Na).

8. Meßeinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet daß der Speicher (S') und die Auswahleinrichtung (Na) durch einen Codierschalter realisiert werden.8. Measuring device according to claim 3, characterized in that the memory (S ') and the selection device (Na) are realized by a coding switch.

9. Meßeinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet daß der Digitalrechner (R) ein Mikrocomputer ist9. Measuring device according to claim 2, characterized in that the digital computer (R) is a microcomputer

Die Erfindung bezieht sich auf eine inkrementale Län-The invention relates to an incremental land

gen- oder Winkelmeßeinrichtung gemäß den Merkmalen des Oberbegriffs d«s Anspruchs 1.Gen or angle measuring device according to the features of the preamble of claim 1.

In der DE-AS 25 40412 ist beschrieben, daß entlang einer Inkrementalteilung eine Reihe von Referenzmarken in zueinander festgelegten Abständen angebrachtIn DE-AS 25 40412 it is described that along an incremental graduation a number of reference marks are attached to each other at fixed intervals ist Mit am Maßstab oder in seiner unmittelbaren Nähe angeordneten Schaltmitteln (beispielsweise Magnete und Reedschalter) können aus der Reihe der Referenzmarken eine oder mehrere ausgewählt und zur Wirkung gebracht werden. Dazu müssen gemäß dieser DruckWith switching means (for example magnets) arranged on the scale or in its immediate vicinity and reed switches) one or more can be selected from the series of reference marks and used to be brought. To do this, according to this pressure schrift die als IdentifizierungEmerkmale vorgesehenen Magnete entlang der Inkrementalteilung verschoben werden, um der ausgewählten Referenzmarke jeweils einen Magneten zuzuordnen. Mit deA auf diese Weise ausgewählten Referenzmarken können die verschieTFont the intended identification features Magnets are moved along the incremental graduation to the selected reference mark respectively assign a magnet. With deA this way selected reference marks can use the different densten Steuerungsvorgänge im Zähler ausgelöst werden.the most important control processes are triggered in the meter.

Ferner sind Einrichtungen zur Auswertung aller festen Positionen zugeordneten codierten Referenzmarken bekannt und beschrieben z.B. in der DE-PSFurthermore, devices for evaluating all coded reference marks assigned to fixed positions are known and described e.g. in DE-PS 24 16 212 und DE-OS 24 18 909. Diese Positionen sind den Referenzmarken in verschlüsselter Form als Identifizierungsmerkmale aufgeprägt so daß während des Meßvorganges die Referenzmarken abgefragt werden, und der Zählerstand bei jeder der Referenzmarken ge24 16 212 and DE-OS 24 18 909. These positions are imprinted on the reference marks in encrypted form as identification features so that during the Measuring process the reference marks are queried, and the counter reading for each of the reference marks ge gebenenf alls auf den Zahlenwert der zur jeweiligen Re ferenzmarke gehörige Position gestellt wird.if necessary on the numerical value of the respective Re position belonging to the reference mark.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Einrichtung zur Auswahl von Referenzmarken bei inkrementalen Meßeinrichtungen weiter zu verbessern, undThe invention is based on the object of further improving a device for selecting reference marks in incremental measuring devices, and die Auswahl von Referenzmarken einfacher und sicherer zu machen.make the selection of reference marks easier and safer.

Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruches 1 gelöst Die Vorteile der Erfindung liegen um wesentlichenAccording to the invention, this object is achieved by the characterizing features of claim 1 The advantages of the invention are substantial darin, daß die Auswahl der Referenzmarken vom Bedienungspult aus vorgenommen werden kann, und keine mechanischen Manipulationen an dem Meßwertgeber erfolgen müssen. Die erforderlichen Identifizierungsmerkmale (Codespuren) lassen sich ohne großen Mehr-in that the selection of the reference marks can be made from the control panel, and none mechanical manipulations must be carried out on the transducer. The required identification features (code tracks) can be easily identified aufwand bereits bei der Herstellung der Teilung auf der Maßverkörperung aufbringen. Da bei heutigen Meßeinrichtungen im allgemeinen die Auswerteeinrichtung bereits mit Mikrocomputer, Speichern und Schaltpult aus-Apply effort already in the production of the graduation on the measuring standard. Since in today's measuring devices the evaluation device is generally already equipped with a microcomputer, memory and control panel.

3 43 4

gestattet ist, erfordern die gemäß der Erfindung erfor- Der Digitalrechner R ist so programmiert, daß er jedeis permitted, require the required according to the invention. The digital computer R is programmed to each

derlichen elektronischen Bauelemente ebenfalls kaum durch Abtastung der Identifizierungsmerkmale Q .. <Similar electronic components also hardly by scanning the identification features Q .. <

Mehraufwand. gewonnene Information mit dem Speicherinhalt ver-Extra effort. information obtained with the memory content

Durch die Ausgestaltung der Einrichtung gemäß den gleicht Da im Datenspeicher S nur die InformationenAs a result of the configuration of the device according to FIG. 1, only the information in the data memory S is the same

Unteransprüchen ergeben sich weitere Vorteile. 5 der ausgewählten Referenzmarken N1 .. 4 bzw. ihrerFurther advantages result from subclaims. 5 of the selected reference marks N 1 .. 4 or their

Anhand der Zeichnungen soll die Erfindung noch nä- Identifizierungsmerkmale G.. 4 enthalten sind, könnenBased on the drawings, the invention should also be able to contain identification features G .. 4

her erläutert werden. Es zeigt nur diese Informationen aus dem Datenspeicher 5 abge-are explained here. It only shows this information from the data memory 5

F i g. 1 eine schematische Darstellung einer Meßein- fragt werden. Ergibt diese Untersuchung auf GleichheitF i g. 1 is a schematic representation of a measurement query. Results this examination for equality

richtung, ein positives Ergebnis, so liefert der Digitalrechner R direction, a positive result, the digital computer R delivers

Fig. 2 eine weitere schematische Darstellung einer 10 ein Signal,das in eine elektronische Baueinheit t/einge-Fig. 2 shows a further schematic representation of a 10 a signal that is input into an electronic unit t /

Meßeinrichtung, ^ speist wird.Measuring device, ^ is fed.

F ig. 3 die Draufsicht auf eine Maßverkörperung und Die elektronische Baueinheit i/kann eine logischeFig. 3 the top view of a measuring standard and the electronic component i / can be a logical one

das Abtastfeld einer Abtasteinrichtung. Verknüpfungsschaltung z.B. ein Und-Tor sein, so daßthe scanning field of a scanning device. Logic circuit e.g. be an AND gate, so that

In F i g. 1 ist dargestellt, daß eine Maßverkörperung sie nur einen Referenzimpuls Rj an die Auswerteeinrich-A/am Bett Wl einer Werkzeugmaschine fest angebracht 15 tung Z liefert, wenn an ihren beiden Eingängen gleichist Eine am Schlitten W2 der Werkzeugmaschine ange- zeitig ein Signal anliegtIn Fig. 1 shows that a material measure delivers only one reference pulse Rj to the evaluation device A / device Z , which is permanently attached to the bed W1 of a machine tool, when a signal is present at its two inputs at the carriage W 2 of the machine tool

ordnete Abiasteinrichtung A bewegt sich bei Relativbe- Der Referenzimpuls Rj kommt also nur zur Wirkung,The ordered scanning device A moves at a relative position. The reference pulse Rj only comes into effect,

wegungen von Bett Wi und Schlitten W2 entlang der wenn durch Abtastung der Referenzmarke M - · 4 einmovements of bed Wi and carriage W 2 along the if by scanning the reference mark M - · 4 a

Maßverkörperung M und tastet die auf ihr angebrach- Impuls erzeug* wird, und durch Vergleich von Informa- Measuring standard M and probes the pulse generated on it, and by comparing information

ten Markierungen ab. Diese Markierungen und die Ab- 20 tionen aus abgetasteten Identifierungsir«>kmalen Q.. 4th markings. These markings and the portions from scanned identifications are Q. 4

tasteinrichtung A sind in F i g. 3 näher bezeichnet Mit T' und abgespeicherten informationen ein Signal Vj er-feeler device A are shown in FIG. 3 unspecified With T 'and stored information, a signal PY ER-

ist die Gitterteilung der inkrementalen Meßeinrichtung zeugt wird, und sowohl der Impuls Rj als auch das Signalis the grid division of the incremental measuring device is generated, and both the pulse Rj and the signal

bezeichnet, die in bekannter Weise durch die Abtastern- Vj gleichzeitig an der elektronischen Baueinheit U anlie-denotes the anlie- in known manner by the Abtastern- PY simultaneously on the electronic component U

richtung A mittels Abtastfeld Ar abgelesen wird Das gen.direction A is read by means of scanning field Ar The gen.

Abtastfeld Ar besteht aus zwei Teilfeldern, die gegen- 25 Auf dies? Weise lassen sich durch einfache BetätigungScanning field Ar consists of two sub-fields, which are opposite to each other. Way can be set by simple actuation

einander um V4 der Teilungsperiode versetzt sind Da- der Auswahltastatur Tbefiebige Referenzmarken Ni.. 4The selection keyboard Tbefiebige reference marks Ni are offset from one another by V 4 of the graduation period. . 4th

durch werden bei der Teilungsablesung zwei zueinander aus der Reihe von Referenzmarken auswählen,by selecting two from the series of reference marks when reading the division,

um 90° phasenverschobene Abtastsignale erzeugt, die Es ist für den Fachmann selbstverständlich, daß er die90 ° phase-shifted scanning generated, the It is obvious to a person skilled in the art that he

die Richtungserkennung der Relativbewegung der zu- Erfindung auch so ausgestalten kann, daß Referenzim-the direction detection of the relative movement of the invention can also be designed so that reference im-

einander beweglichen Bauteile Wi und W2 ermöglichen. 30 pulse nur zur Wirkung kommen, wenn ein Informations-allow mutually movable components Wi and W 2. 30 pulses only come into effect if an information

Neben der Inkrementalteilung T befindet sich auf der vergleich Ungleichheit ergibt Diese relativ einfacheIn addition to the incremental graduation T, there is a relatively simple inequality on the comparison

Maßverkörperung M eine Reihe von Referenzmarken Maßnahme ist beispielsweise dann sinnvoll, wenn ausMaterial measure M a number of reference marks measure is useful, for example, when off

N\, Ni, M, M, deren Abstände zueinander festgelegt einer Reihe von Referenzmarken sehr viele ausgewählt N \, Ni, M, M, whose distances from one another set a number of reference marks very many selected

sind Jede dieser Referenzmarken ist mit speziellen co- werden sollen. In diesem Fall werden die InformationenEach of these reference marks is intended to be co-ordinated with special. In this case the information

dienen Markierungen C\, Ci, C3, Ca versehen (im Aus- 3s in den Datenspeicher S eingespeichert, die den Identifi-serve marks C \, Ci, C 3, Ca (provided in the off 3s stored in the data memory S, the identifi- the

führungsbeispiel verschlüsselt die Zahl 1,2,3 und 4), die zierungsmerkmalen der nicht gewünschten Referenz·example encodes the numbers 1, 2, 3 and 4), the decorative features of the unwanted reference

die jeweilige Referenzmarke N\.. 4 identifizieren. In der marken entsprechen. Nur wenn der vorbeschriebeneidentify the respective reference mark N \ .. 4. In the brands correspond. Only if the above

Abtasteinrichtung A sind neben dem Abtastfeld Ar für Informationsvergleich Gleichheit ergibt, wird der R^fe-Scanning device A are next to the scanning field Ar for information comparison equality results, the R ^ fe-

die Teilung r'roch Abtastfelder An und Acvorgesehen, renzimpuls unterdrückt, bei Ungleichheit kommen diethe division r'roch scanning fields An and Ac provided, the reference pulse suppressed, in the event of inequality, the

die jeweils die Referenzmarkenspur bzw. die Identifizie- 40 Referenzimpulse zur Wirkung,each of the reference mark track or the identification 40 reference pulses for effect,

rungsmerkmalsspur abtasten. Eine weitere Einrichtung zur Durchführung des erfin-Scan the feature track. Another facility for carrying out the inven-

Bei Relativbewegungen zwischen den Maschinenbau- dungsgemäßen Verfahrens mit ähnlichem GrundaufbauIn the case of relative movements between the mechanical engineering method with a similar basic structure

teilen Wi und W2 werden in der Abtasteinrichtung A ist in F i g. 2 beschrieben.divide Wi and W 2 are in the scanner A is in FIG. 2 described.

Meßsignale erzeugt, die einer Impulsformerstufe / zu- Während des Überstreichens der Referenzmarke geführt werdan. Die Impulse steuern >;inen Vorwärts- 45 Ni .. 4 wird von dem Abtastfeld Ac jeweils das der Rückwärtszähler Z an, der die Position des einen Bau- Referenzmarke Ni .. 4 zugeordnete Identifizierungsteils W) in Bezug auf das zweite Bauteil W2 anzeigt merkmal C\.. 4 abgetastet und die daraus resultierende Jeweils beim Überfahren einer Referenzmarke Ni .. 4 Information — beispielsweise in Form einer Kombinawird in der Abtasteinrichtung A ferner ein Referenzim- tion von Binärsignalen — in einem Komparator V einpuls Rs eraeugt, einer weiteren Impulsformerstufe Jn 50 gespeistMeasurement signals generated which are fed to a pulse shaper stage / while the reference mark is being passed. The pulses control the forward 45 Ni .. 4 from the scanning field Ac in each case the down counter Z , which indicates the position of the identification part W) assigned to a construction reference mark Ni .. 4 in relation to the second component W 2 Characteristic C \ .. 4 scanned and the resulting information each time a reference mark Ni .. 4 is passed over - for example in the form of a combination, a reference simulation of binary signals is also detected in the scanning device A - in a comparator V one- pulse Rs , a further pulse shaper stage Jn 50 fed

zugeführt und von dort aus <m den Eingang einer elek- An weiteren Eingängen des !Comparators V ist einand from there <m the input of an elec- At further inputs of the! Comparator V is a

tronischen Baueinheit i/gelegt elektronischer Speicher S (z. B. RAM) angeschlossen,tronic unit i / laid electronic memory S (e.g. RAM) connected,

Während des Überstreichens der Referenzmarken der sämtliche Identifizierungsmerkmale der auftreten-While the reference marks are being passed over, all identifying features of the

N].. 4 wird von dem Abtastfeld /Ic jeweils das der Refe- den Referenzmarken Ni.. 4 als Kombination von Binär-N] .. 4 is the reference mark Ni .. 4 from the scanning field / Ic as a combination of binary

renzmarke Ni.. 4 zugeordnete Identifizierungsmerkmal 55 Signalen gespeichert enthält An diesen Speicher 5 istReference mark Ni .. 4 associated identification feature 55 contains stored signals to this memory 5 is

Ci.. 4 abgetastet und die daraus gewonnene Information eine Auswahleinrichtung Na angeschlossen, mit der eineCi .. 4 scanned and the information obtained therefrom connected to a selection device Na , with the one

einer Aufbereitungsstufe Jc zugeleitet Anschließend oder mehrere Referenzmarken Ni.. 4 zur Auswertunga processing stage Jc then fed to or several reference marks Ni .. 4 for evaluation

werden diese Informationen in Form von Daten in einen ausgewählt werden können. Die Auswahleinrichtungthis information in the form of data will be selectable in one. The selection device

Digitalrechner R eingelesen. Eine Eingabebaueinheit in Na kann ein Drehschalter oder eine Tastatur sein. WirdDigital computer R read in. An input module in Na can be a rotary switch or a keyboard. Will

Form einer Tastatur T wirkt auf den Digitalrechner R 60 als Auswahleinrichtung Mt ein spezieller CodierschalterIn the form of a keyboard T acts on the digital computer R 60 as a selection device Mt a special coding switch

ein. Im Zusammenwirken mit dem Digitalrechner R verwendet, so kann der elektronische Speicher S entfal-a. Used in conjunction with the digital computer R , the electronic memory S can be omitted.

können über die Tastatur T Informationen in Form von len, da die Codierung der Identifizierungsmerkmalecan use the keyboard T information in the form of len, since the coding of the identifying features

Daten in einen elektronischen Datenspeicher 5 einge- Q .. 4 und der Code des Codierschalters übereinstim-Data entered into an electronic data memory 5- Q .. 4 and the code of the coding switch match.

speichert werden. Diese einzuspeichernden Informati- men.be saved. This information to be stored.

onen entsprechen dem Informationsgehalt von Identifi- 65 Soll beispielsweise die Referenzmarke H3 ausgewähltons correspond to the information content of identifications, for example the reference mark H 3 selected

zierungsmerkmalen C\.. „ derjenigen Referenzmarken werden, so werden aus dem Speicher 5 die Identifizie-Zierungsmerkmalen C \ .. "of those reference marks are, then the identifiers are from the memory 5

Ni .. 4. die aus der Reihe von Referenzmarken Ni .. 4 rungsmerkmale für die Referenzmarke N3 ausgelesenNi .. 4. the information for the reference mark N 3 from the series of reference marks Ni .. 4 read out

auseewählt werden sollen. und in binärer Form in den Komparator V eingespeistshould be selected. and fed into the comparator V in binary form

55

Wird nun die Abtasteinrichtung A entlang der Inkrementalteilung T verfahren, so wird beim Oberstreichen der Referenzmarke /V3 ein Impuls & erzeugt und in derIf the scanning device A is now moved along the incremental graduation T , a pulse & is generated when the reference mark / V 3 is passed and in the

vorbeschriebenen Weise an einen Eingang des logi- ιabove-described way to an input of the logi ι

sehen Verknüpfungsgliedes U gelegt. Gleichzeitig wersee link U placed. At the same time who den die codierten Identifizierungsmerkmale abgetastetwhich the coded identification features are scanned und die dem Code entsprechende Kombination von Binärsignalen über einen zweiten Eingang in den Komparator V eingespeist Der Komparator V vergleicht die Signalkombination und liefert bei Gleichheit einen Impuls Vj an den zweiten Eingang des logischen Verknüpfungsgliedes.and the combination of binary signals corresponding to the code is fed into the comparator V via a second input. The comparator V compares the signal combination and, if they are equal, delivers a pulse Vj to the second input of the logic element.

Nur bei gleichzeitigem Anliegen eines Impulses Rs Only when a pulse Rs is applied at the same time

von der Referenzmarke N3 und eines Impulses V) auf- ifrom the reference mark N3 and a pulse V) to i

grund der Gleichheitsbestätigung der Identifizierungs- 15 'due to the confirmation of identity of the identification 15 '

merkmale aus abgelesenem und gespeichertem Code '.characteristics from read and stored code '.

gelangt ein Referenzimpuls Rj aus dem Verknüpfungs- f' a reference pulse Rj comes from the linkage f '

güed U in die A>>?werteeinrichtung Z und kann dort jjgüed U to the A >>? value facility Z and can there jj

beliebige Steuerbefehle auslösen, zum Beispiel den Vor- <trigger any control commands, for example the pre <

wärts- Rückwärtszähler (Z) auf den Wert »Null« stellen. 20 ;']Set the downward counter (Z) to the value »zero«. 20; ']

Beim Überstreichen anderer als ausgewählter Refe- jWhen crossing over other than the selected reference j

renzmarken kann der Komparator V keinen Impuls V1 The comparator V cannot limit a pulse V 1

liefern, da die Koinzidenz von abgelesenen und von aus "!deliver, since the coincidence of read and from "!

dem Speicher S ausgelesenen Identifizierungsmerkmalen nicht gegeben istthe memory S read out identification features is not given

Eine besonders einfache und sichere Auswahl einer Referenzmarke N\.. 4 aus der Reihe der Referenzmarken kann mit den vorbeschriebenen Einrichtungen erfolgen, wenn am Bett Wx der Werkzeugmaschine die ungefähre Lage einer Referenzmarke M . · 4 gekennA particularly simple and reliable selection of a reference mark N \. . 4 from the series of reference marks can be done with the devices described above if the approximate position of a reference mark M on the bed W x of the machine tool. · 4 marked zeichnet und der jeweiligen Referenzmarke N\.. 4 ent-and the respective reference mark N \ .. 4

sprechend beziffert ist. Am Bett W\ der Werkzeugma- ίis figured speaking. At the bed W \ the tool measure- ί

schine sind hier die der zugehörigen Codeinformation entsprechenden Ziffern 1,2,3 und 4 angebracht, was die Bedienungsperson auch aus größerer Entfernung noch erkennen kann. In gleicher Weise ist an der Auswahleinrichtung Γ bzw. Na eine Bezifferung 1,2,3,4 usw. angebrachtThe corresponding digits 1, 2, 3 and 4 are attached here to the corresponding code information, which the operator can still see from a greater distance. In the same way, numbers 1, 2, 3, 4, etc. are attached to the selection device Γ or Na

Die Kennzeichnung der Referenzmarken kann selbstverständlich auch durch die Anbringung von Positions-The identification of the reference marks can of course also be done by attaching position

bezeirhnungen erfolgen. So kann z. B. die Referenzmar- ;honors take place. So z. B. the reference mark;

ke die 300 mm vom Nullpunkt der Meßeinrichtung angebracht ist die Kennzeichnung »300« tragen, in Übereinstimmung mit der Kennzeichnung an der Auswahleinrichtung T bzw. NA. Das zugehörige codierte Tei- 45 \ lungsfeld an der Referenzmarke enthält in diesem Fall zweckmäßig verschlüsselt die Zahl »300«.ke that is attached 300 mm from the zero point of the measuring device has the marking "300", in accordance with the marking on the selection device T or N A. The corresponding encoded TEI 45 \ lung field at the reference mark in this case contains useful encrypts the number "300".

Ebenso ist die Kennzeichnung durch paarweise Farbmarkierungen möglich.It is also possible to use color markings in pairs.

Die Anzeige def Kennzeichnung der Referenzmarken kann ferner durch alphanumerische Anzeigen in der Auswerteeinrichtung Zeitfolgen.The display def identification of the reference marks can also be done by alphanumeric displays in the Evaluation device time sequences.

Es empfiehlt sich, die vorbeschriebenen Einrichtungen in einem Gehäuse G am Steuerpult der Maschine unterzubringen, so daß die Bedienung der Auswahleinrichtung in bequemer Weise für die Bedienungsperson möglich ist Das Steuerpult kann auch Bestandteil einer numerischen Steuerung sein.It is advisable to accommodate the devices described above in a housing G on the control panel of the machine, so that the operation of the selection device is possible in a comfortable manner for the operator. The control panel can also be part of a numerical control.

Hierzu 2 Blatt ZeichnungenFor this purpose 2 sheets of drawings

6565

Claims (1)

Patentansprüche:Patent claims: * 1. Inkremental Längen- oder Winkelmeßeinrichtung mit einer Anordnung zur Auswahl von Referenzmarken aus einer Vielzahl von Referenzmarken, die entlang einer Gitterteilung angeordnet sind, bei der Refernzmarken durch Lageinformationen abtastbarer Merkmale identifizierbar sind, gekennzeichnet durch die Vereinigung folgender Merkmale:* 1. Incremental length or angle measuring device with an arrangement for selecting reference marks from a large number of reference marks, which are arranged along a grid division in which reference marks can be identified by position information of scannable features, characterized by the combination of the following Characteristics:
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