DE2051052A1 - Testing device for testing etched circuit boards - Google Patents

Testing device for testing etched circuit boards

Info

Publication number
DE2051052A1
DE2051052A1 DE19702051052 DE2051052A DE2051052A1 DE 2051052 A1 DE2051052 A1 DE 2051052A1 DE 19702051052 DE19702051052 DE 19702051052 DE 2051052 A DE2051052 A DE 2051052A DE 2051052 A1 DE2051052 A1 DE 2051052A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
testing
contact
circuit boards
etched circuit
testing device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19702051052
Other languages
German (de)
Inventor
Reinhard 715 7. Murrhardt. H05k 1-07 Schwager
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Original Assignee
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Licentia Patent Verwaltungs GmbH filed Critical Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority to DE19702051052 priority Critical patent/DE2051052A1/en
Publication of DE2051052A1 publication Critical patent/DE2051052A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

Description

Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten Die vorliegende Erfindung befasst sich mit einer Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten der Fernmeldetechnik, bestehend aus einer Vielzahl von rasterartig angeordneten und federnden Kontaktstiften zur elektrischen Kontaktierung mit den ebenfalls rasterartig verteilten Kontaktstellen der Schaltungsplatte. Inspection Apparatus for Inspecting Etched Circuit Boards The present The invention relates to a testing device for testing etched circuit boards telecommunications technology, consisting of a large number of grid-like and resilient contact pins for electrical contact with the likewise grid-like distributed contact points of the circuit board.

Aus der DT-OS 1 800 657 ist eine Kontaktvorrichtung bekannt, die ein Verfahren zur Prüfung geätzter Leiterplatten beschreibt. Bei dieser Anordnung werden die Kontaktpunkte der Leiterplatten über Kontaktstifte mit einer mehrlagigen Leiterplatte verb/unden, die ihrerseits wieder Anschlußstellen für Schaltdrähte besitzt, die zu einem Prüfgerät führen und dort eine Anzeige betätigen. Diese Prüfanordnung ist aufwendig, insbesondere was die Vielzahl der durch die Rasterung vorzusehenden Schaltverbindungen betrifft.From DT-OS 1 800 657 a contact device is known that a Describes procedures for testing etched circuit boards. With this arrangement the contact points of the circuit boards via contact pins with a multi-layer circuit board verb / unden, which in turn has connection points for jumper wires that lead to a test device and there operate a display. These The test arrangement is complex, in particular because of the large number of the rasterized to be provided circuit connections concerns.

Diese aufwendige Prüfanordnung gilt es zu vereinfachen, worin die Aufgabe dieser vorliegenden Erfindung besteht.This complex test arrangement is to be simplified, in which the The object of this present invention is.

Sie wird dadurch gelöst, dass die Kontaktstifte in einer Meßspitzenplatte gehaltert sind und nach beiden Seiten herausragen und dass gegen die eine Seite der Prüfling und gegen die andere Seite eine mit einem Messautomaten elektrisch verbundene Adaptionoplatte kontaktierend gepresst sind. Die eklektrische kontaktierung wird dadurch gewährleistet, dass die Kontaktstifte je eine Kontaktspitze haben, die in axialer Richtung federnd gelagert sind.It is solved in that the contact pins in a measuring tip plate are held and protrude on both sides and that against one side the test object and against the other side one with an automatic measuring machine connected adapter plate are pressed contacting. The eclectic contact this ensures that the contact pins each have a contact tip, which are resiliently mounted in the axial direction.

Anhand der Zeichnung wird die Erfindung an einem Ausfiihrungsbeispiel näher beschrieben. In der Figur der Zeichnung ist ein Ausschnitt der erfindungsgemässen Anordnung abgebildet. In der Neßspitzenplatte 1 sind die kontaktstifte 2 gehaltert und ragen nach beiden Seiten der Neßspitzenplatte heraus. Diese Meßspitzenplatte ist aus einem Isoliermaterial angefertigt. Die Kontaktstifte 2 sind dem genormten Rastermaß entsprechend angeordnet, so dass die dem Rastermaß emäß aufgebaute Prüfplatte 3 mit ihren Schalt- bzw. Lotpunkten und den darauf befindlichen Bauelementen 31 korrespondieren. Die elektrische Kontaktgabe wird durch Kontakt spitzen 4 hergestellt, die axial verschiebbar sind und durch eine Feder 5 gegen die Prüfplatte 3 gedrückt werden, Auf der entgegengesetzten Seite 2 der Meßspitzenplatte 1 sind die Kontaktstifte in gleicher Weise ausgebildet, haben Kontaktspitzen 4', eine weitere Feder 52. Gegen diese wird eine Adaptionsplatte 6 gedrückt, die Mit Leiterbahnen beaufschlagt ist und als geätzte Schaltungsplatte ausgeführt ist. Ihre Leitungszüge sind über Stecker (nicht Abgebildet} mit einem Meßautomaten 7 verbunden, der die Prüfergebnisse direkt zur Anzeige bringt.The invention is illustrated in an exemplary embodiment with the aid of the drawing described in more detail. In the figure of the drawing is a section of the inventive Arrangement shown. In the Neßspitzenplatte 1, the contact pins 2 are supported and protrude on both sides of the tip plate. This measuring tip plate is made of an insulating material. The contact pins 2 are standardized Grid dimension arranged accordingly, so that the test plate constructed according to the grid dimension 3 with their switching or solder points and the components located on them 31 correspond. The electrical contact is made by contact points 4, which are axially displaceable and pressed against the test plate 3 by a spring 5 On the opposite side 2 of the measuring tip plate 1 are the contact pins formed in the same way, have contact tips 4 ', a further spring 52. Against this is pressed an adapter plate 6, which is acted upon with conductor tracks and is designed as an etched circuit board. Your cable runs are via plugs (not shown) connected to a measuring machine 7, which the test results directly brings to the display.

Damit wird der Aufwand an Verdrahtung. der in den Falle notwendig ist, wenn alle kontaktstifte mit dem Prüfautomaten verbunden sind, vermieden. Bei der vorliegenden Erfindung ist jeder Ausführungsform von Prüfplatten 3 jeweils eine genau auf die Prüfplatte abestimmte Adaptionsplatte zugeordnet, Diese Prüfvorrichtung hat den grossen Vorteil, sowohl bei kleinen als auch bei grossen Stückzahlen von Prüfplatten wirtschaftlich zu sein.This reduces the amount of wiring. which is necessary in the event is avoided when all contact pins are connected to the test machine. at According to the present invention, each embodiment of test plates 3 is one Adaptation plate tailored exactly to the test plate, this test device has the big advantage, both for small and large quantities of Test panels to be economical.

Claims (2)

PatentansprücheClaims 1) Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten der Fernmeldetechnik, bestehend aus einer Vielzahl von rAsterartig angeordneten und federnden kontakten zur elektrischen Kontaktierung mit den ebenfalls rasterartig verteilten Kontaktstellen der Schaltungsplatte, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktstifte (2) in einer Menspitzenplattc (1) gehaltert sind und nach beiden Seiten herausragen und dass gegen die eine Seite der Prüfing (3) und gegen die andere Seite eine mit einem Meßautomaten (7) elektrisch verbundene Adaptions platte (6) kontaktierend gespresst sind.1) Testing device for testing etched circuit boards in telecommunications technology, Consists of a large number of spring-loaded contacts arranged in a grid pattern for electrical contact with the contact points, which are also distributed in a grid-like manner the circuit board, characterized in that the contact pins (2) in one Menspitzenplattc (1) are held and protrude on both sides and that against one side of the test piece (3) and against the other side one with a measuring machine (7) electrically connected adapter plate (6) are pressed into contact. 2) Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die kontaktstifte (2) je eine Kontaktspitze (4) haben, die in axialor Richtung federnd (5) gelagert ist. 2) Testing device for testing etched circuit boards Claim 1, characterized in that the contact pins (2) each have a contact tip (4) which is resiliently mounted in the axialor direction (5).
DE19702051052 1970-10-17 1970-10-17 Testing device for testing etched circuit boards Pending DE2051052A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19702051052 DE2051052A1 (en) 1970-10-17 1970-10-17 Testing device for testing etched circuit boards

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19702051052 DE2051052A1 (en) 1970-10-17 1970-10-17 Testing device for testing etched circuit boards

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2051052A1 true DE2051052A1 (en) 1972-04-20

Family

ID=5785417

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19702051052 Pending DE2051052A1 (en) 1970-10-17 1970-10-17 Testing device for testing etched circuit boards

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2051052A1 (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3038665A1 (en) * 1980-10-13 1982-06-16 Riba GmbH, 7801 Schallstadt TEST DEVICE
DE3115787A1 (en) * 1981-03-06 1982-11-04 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Contact device
US4574236A (en) * 1983-10-27 1986-03-04 At&T Technologies, Inc. High frequency test fixture
EP0224471A1 (en) * 1985-11-26 1987-06-03 Alcatel Austria Aktiengesellschaft Device for testing printed-circuit boards
US4837507A (en) * 1984-06-08 1989-06-06 American Telephone And Telegraph Company At&T Technologies, Inc. High frequency in-circuit test fixture
DE19748825B4 (en) * 1997-11-05 2004-09-09 Feinmetall Gmbh Test head with a contacting device

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3038665A1 (en) * 1980-10-13 1982-06-16 Riba GmbH, 7801 Schallstadt TEST DEVICE
US4551673A (en) * 1980-10-13 1985-11-05 Riba-Pruftechnik Gmbh Testing arrangement for printed circuit boards
DE3115787A1 (en) * 1981-03-06 1982-11-04 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Contact device
US4574236A (en) * 1983-10-27 1986-03-04 At&T Technologies, Inc. High frequency test fixture
US4837507A (en) * 1984-06-08 1989-06-06 American Telephone And Telegraph Company At&T Technologies, Inc. High frequency in-circuit test fixture
EP0224471A1 (en) * 1985-11-26 1987-06-03 Alcatel Austria Aktiengesellschaft Device for testing printed-circuit boards
DE19748825B4 (en) * 1997-11-05 2004-09-09 Feinmetall Gmbh Test head with a contacting device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0285799B1 (en) Device for the functional electric testing of wiring arrays, in particular of circuit boards
DE10042224C2 (en) Module test socket for test adapters
DE3701310A1 (en) Contact-making device for making contact with surface-mounted integrated circuits
DE2051052A1 (en) Testing device for testing etched circuit boards
DE3343274A1 (en) CONTACT DEVICE
DE3427540C2 (en)
DE1934752A1 (en) Test adapter for electrical components
DE1233038B (en) Electrical device in which the electrical connections between its components are made by means of circuit boards
EP0238801A1 (en) Polypole electrical coupler
DE2017151A1 (en) Test adapter for circuit cards
EP0158122B1 (en) Programmable plug
DE102005030551B3 (en) Device for transmitting electrical signals between a tester and a test adapter
DE2356840A1 (en) EXTENSION DEVICE FOR CONTACT ELEMENTS OF ELECTRICAL CONNECTORS
DE2214678C3 (en) Plug-in card arrangement for electronic circuits
DE102013214478A1 (en) Multiple circuit board benefit and method of making the same
DE3839539A1 (en) MULTICOMPATIBLE HOLDING DEVICE FOR CHECKING PCBS OR. FLAT ASSEMBLIES, AND FOR CONTACT PIN CARRIER PLATES AND HOLDING PLATES FOR USE IN TEST EQUIPMENT
DE3212403C2 (en) Adapter device for producing a detachable electrical connection between contact elements of a wiring board and associated contact elements of a flat module
DE202009015172U1 (en) Test device for testing populated printed circuit boards
DE3642587A1 (en) DEVICE FOR PRELIMINATING IC COMPONENTS
EP0757413A2 (en) Adapter with a carrier having a connection apparatus
DE3133199C2 (en) Contact base for electrical components
DE1615576B1 (en) Wire holding device
DE1591100A1 (en) Base plate for setting up an electrical circuit
DE102004033302A1 (en) Populated circuit board test unit has needle bed adapter with overlapping metallised connector holes containing test pin holders
DE2536596A1 (en) Circuit board for experimental mock-ups - makes circuit clear and allows connection of instrument