DE19758748C2 - Laser Scanning Microscope - Google Patents
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- DE19758748C2 DE19758748C2 DE19758748A DE19758748A DE19758748C2 DE 19758748 C2 DE19758748 C2 DE 19758748C2 DE 19758748 A DE19758748 A DE 19758748A DE 19758748 A DE19758748 A DE 19758748A DE 19758748 C2 DE19758748 C2 DE 19758748C2
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Abstract
Lasercanmikrokop, DOLLAR A mit einem UV-Laser und einem dem UV-Laser nachgeschalteten Lichtleiter zur Übertrtagung des UV-Laserlichtes auf eine zu untersuchende Probe, wobei das das vom Lichtleiter (14.1) fernzuhaltende UV-Licht in eine Lichtfalle lenkbar ist und als Modulationsmittel ein AOTF(AcoustoOpticalTunableFilter) (32) vorgesehen ist, der das von dem Lichtleiter (14.1) fernzuhaltende UV-Licht in die Lichtfalle ablenkt und das in den Lichtleiter (14.1) einzuspeisende UV-Licht auf konstante Intensität steuert.Laser scanning microscope, DOLLAR A with a UV laser and a light guide connected downstream of the UV laser for transmitting the UV laser light to a sample to be examined, the UV light to be kept away from the light guide (14.1) being steerable into a light trap and used as a modulation means AOTF (AcoustoOpticalTunableFilter) (32) is provided, which deflects the UV light to be kept away from the light guide (14.1) into the light trap and controls the UV light to be fed into the light guide (14.1) to a constant intensity.
Description
Im Handbook of Biological Confocal Microscopy, Second Edition (James B. Pawley), Plenum Press New York and London 1995 ist auf S. 519, Fig. 6 eine Fasereinkopplungsoptik beschrieben.In the Handbook of Biological Confocal Microscopy, Second Edition (James B. Pawley), Plenum Press New York and London 1995 on page 519, Fig. 6 a fiber coupling optics is described.
Auf Seite 595, Fig. 14 wird ein telezentrisches System für mehrere Detektionsstrahlengänge beschrieben.On page 595, Fig. 14, a telecentric system for multiple detection beam paths is described.
US 5283433 zeigt eine Einkoppeloptik für Detektionsstrahlengänge.US 5283433 shows a coupling optics for Detection beam paths.
DE 43 23 129 A1 beschreibt in Spalte 6 zentrierbare und bezüglich ihres Durchmessers variierbare Konfokalblenden. US 5444528, US 5377003, US 5317379, US 5216484 beschreiben die Wirkungsweise eines AOTF.DE 43 23 129 A1 describes in column 6 centerable confocal diaphragms which can be varied in terms of their diameter. US 5444528, US 5377003, US 5317379, US 5216484 describe the mode of action of an AOTF.
US 5081350, EP 283256 A2, WO 90/00754 A1 beschreiben eine Faserverbindung zwischen Laser und Scaneinheit.US 5081350, EP 283256 A2, WO 90/00754 A1 describe one Fiber connection between laser and scanning unit.
In EP 283256 A2 wird ein Mikroskop mit scannender Faser beschrieben, bei der an der Faser ausgangsseitig eine Optik befestigt ist, um das Licht in einem Lichtpunkt zu konvergieren. Zur Überwachung der Laserleistung ist eine Monitordiode vorgesehen.EP 283256 A2 describes a microscope with scanning fiber described in which an optic on the output side of the fiber is attached to the light in a point of light converge. To monitor the laser power is a Monitor diode provided.
In einem Laser-Scanning-Mikroskop werden beleuchtungsseitig mehrere Wellenlängen eingestrahlt und auch mehrere Wellenlängenbänder detektiert.In a laser scanning microscope, the illumination side irradiated several wavelengths and also several Wavelength bands detected.
DE 44 46 185 A1 beschreibt die Einkopplung eines UV- Laserstrahles in eine Lichtleitfaser unter Verwendung magnetooptischer, mechanischer oder elektrooptischer Verschlußmittel.DE 44 46 185 A1 describes the coupling of a UV Using laser beam into an optical fiber magneto-optical, mechanical or electro-optical Closure means.
Aufgabe der Erfindung ist es, die Einkoppelung eines UV- Laserstrahls in ein Laserscanmikroskop zu vereinfachen und zugleich die Stabilität der Anregung zu gewährleisten. The object of the invention is to couple a UV Simplify laser beam in a laser scanning microscope and at the same time to ensure the stability of the excitation.
Die Aufgabe wird bei einem Laserscanmikroskop nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 durch die kennzeichnenden Merkmale gelöst.The task is performed using a laser scanning microscope Preamble of claim 1 by the characterizing Features resolved.
Darstellung der Wirkungsweise und Vorteile der erfindungsgemäßen Lösung anhand der Ausführungsbeispiele gemäß der schematischen Darstellungen Fig. 1-6:Representation of the mode of operation and advantages of the solution according to the invention on the basis of the exemplary embodiments according to the schematic representations FIGS. 1-6:
Es zeigen:Show it:
Fig. 1 eine modulare Anordnung aus Mikroskop M, Scankopf S und Lasereinheit Fig. 1 shows a modular arrangement of microscope M, scan head S and laser unit
Fig. 2 eine Darstellung des Strahlverlaufs im Scankopf S Fig. 2 is an illustration of the beam path in the scan head S
Fig. 3 die optische Wirkung der verschieblichen Kollimationsoptik 16 Fig. 3, the optical effect of the displaceable collimating optics 16
Fig. 4 die optische Wirkung der in Richtung der optischen Achse verschieblichen Pinholes Fig. 4 shows the optical effect of the pinholes displaceable in the direction of the optical axis
Fig. 5 die optische Wirkung der senkrecht zur optischen Achse verschieblichen Pinholes bei verschiedenen reflektierenden Strahlteilern Figure 5 shows the optical effect of the vertically displaceable to the optical axis pinholes at different reflecting beam splitters.
Fig. 6 Scankopf S. Mikroskop M sowie eine Faser hinter dem
Pinhole im Detektionsstrahlengang
Fig. 6 scan head S. microscope M and a fiber behind the pinhole in the detection beam path
-
1. In Fig. 1 sind schematisch eine Mikroskopeinheit M und ein
Scankopf S dargestellt, die eine gemeinsame optische
Schnittstelle über eine Zwischenabbildung Z gemäß Fig. 2
ausweisen.
Der Scankopf S kann sowohl an den Phototubus eines aufrechten Mikroskopes sowie auch vorteilhaft an einen seitlichen Ausgang eines inversen Mikroskopes angeschlossen sein. In Fig. 1 ist ein zwischen Auflichtscan und Durchlichtscan mitttels eines schwenkbaren Spiegels 14 umschaltbarer mikroskopischer Strahlengang dargestellt, mit Lichtquelle 1, Beleuchtungsoptik 2, Strahlteiler 3, Objektiv 4, Probe 5, Kondensor 5, Lichtquelle 7, Empfängeranordnung 8, einer ersten Tubuslinse 9, einem Beobachtungsstrahlengang mit einer zweiten Tubuslinse 10 und einem Okular 11 sowie einem Strahlteiler zur Einkopplung des Scanstrahls.
Ein Lasermodul 13.1, 13.2 nimmt die Laser auf und ist über Lichtleitfasern 14.1, 14.2 mit der Lasereinkoppeleinheit des Scankopfes S verbunden.
Die Einkopplung der Lichtleitfasern 14.1, 14.2 erfolgt mittels einer verschieblichen Kollimationsoptik 16, auf die noch näher eingegangen wird, sowie Strahlumlenkelementen 17.1, 17.2.
Mittels eines teildurchlässigen Spiegels 18 wird ein Überwachungsstrahlengang in Richtung einer Monitordiode 19, der, vorteilhaft auf einem nicht dargestellten drehbaren Filterrad Linienfilter 21 sowie Neutralfilter 20 vorgeordnet sind, ausgeblendet.
Die eigentliche Scaneinheit besteht aus Scanningobjektiv 22, Scanner 23, Hauptstrahlteiler 24 und einer gemeinsamen Abbildungsoptik 25 für Detektionskanäle 26.1-26.4.
Ein Umlenkprisma 27 hinter der Abbildungsoptik 25 spiegelt die vom Objekt 5 kommende Strahlung in Richtung dichroitischer Strahleiler 28 im konvergenten Strahlengang der Abbildungsoptik 25, denen in Richtung und senkrecht zur optischen Achse verstellbare und in ihrem Durchmesser veränderbare Pinholes 29, individuell für jeden Detektionskanal sowie Emissionsfilter 30 und geeignete Empfängerelemente 31 (PMT, Photomultiplier) nachgeordnet sind.
Die Strahlteiler 27, 28 können vorteilhaft, wie in Fig. 5 schematisch dargestellt, als Teilerrad mit mehreren Positionen, motorisch durch Schrittmotoren umschaltbar, ausgebildet sein.1. A microscope unit M and a scan head S are shown schematically in FIG. 1, which have a common optical interface via an intermediate image Z according to FIG. 2.
The scan head S can be connected both to the phototube of an upright microscope and advantageously also to a side outlet of an inverted microscope. In Fig. 1 a switchable between Auflichtscan and transmitted light scanning mitttels a pivotable mirror 14 microscopic beam path is shown, with the light source 1, the illumination optics 2, beam splitter 3, lens 4, sample 5, the condenser 5, the light source 7, receiver arrangement 8, a first tube lens 9, an observation beam path with a second tube lens 10 and an eyepiece 11 and a beam splitter for coupling the scanning beam.
A laser module 13.1 , 13.2 receives the lasers and is connected to the laser coupling unit of the scan head S via optical fibers 14.1 , 14.2 .
The optical fibers 14.1 , 14.2 are coupled in by means of displaceable collimation optics 16 , which will be discussed in more detail below, and beam deflection elements 17.1 , 17.2 .
By means of a partially transparent mirror 18 , a monitoring beam path in the direction of a monitor diode 19 , which is advantageously arranged upstream of a line filter 21 and a neutral filter 20 , which is advantageously arranged on a rotatable filter wheel, not shown.
The actual scanning unit consists of scanning objective 22 , scanner 23 , main beam splitter 24 and a common imaging optics 25 for detection channels 26.1-26.4 .
A deflecting prism 27 behind the imaging optics 25 reflects the radiation coming from the object 5 in the direction of the dichroic beam guide 28 in the convergent beam path of the imaging optics 25 , the pinholes 29 which can be adjusted in the direction and perpendicular to the optical axis and whose diameter can be changed, individually for each detection channel and emission filter 30 and suitable receiver elements 31 (PMT, photomultiplier) are arranged downstream.
The beam splitters 27 , 28 can advantageously, as shown schematically in FIG. 5, be designed as a dividing wheel with a plurality of positions, which can be switched over by stepper motors. -
2. Vorteilhaft erfolgt eine Einkopplung von UV - Strahlung in
Glasfaser 14.1, vorzugsweise einer Single-Mode-Glasfaser
mittel eines AOTF Acousto Optical Tunable Filter, als Strahlablenker, d. h. wenn die Strahlung
nicht den auf Fasereingang fallen soll, wird sie mittels des AOTF
vom Fasereingang, beispielsweise in Richtung einer nicht
dargestellten Lichtfalle, abgelenkt.
Die Einkoppeloptik 33 zur Einkopplung der Laserstrahlung weist zur Einkopplung nicht dargestellte Linsensysteme auf, deren Brennweite durch den Strahlquerschnitt der Laser und die für die optimale Einkopplung erforderliche numerische Apertur festgelegt ist.
Im Lasermodul 13.2, sind Einzel- und Multiwellenlängenlaser vorgesehen, die einzeln oder gemeinsam über einen AOTF in eine oder mehrere Fasern eingekoppelt werden.
Weiterhin kann die Einkopplung auch über mehrere Fasern gleichzeitig erfolgen, deren Strahlung mikroskopseitig nach Durchlaufen einer Anpaßoptik durch Farbvereiniger gemischt wird.
Auch die Mischung der Strahlung verschiedener Laser am Fasereingang ist möglich und kann anhand der schematisch dargestellten, auswechselbar und schaltbar ausgebildeten Teilerspiegel 39 erfolgen.2. Advantageously, UV radiation is coupled into glass fiber 14.1 , preferably a single-mode glass fiber using an AOTF Acousto Optical Tunable Filter, as a beam deflector, ie if the radiation is not supposed to fall on the fiber input, it is transmitted from the fiber input by means of the AOTF , for example in the direction of a light trap, not shown.
The coupling optics 33 for coupling the laser radiation have lens systems, not shown, for coupling, the focal length of which is determined by the beam cross section of the laser and the numerical aperture required for the optimum coupling.
In the laser module 13.2 , single and multi-wavelength lasers are provided, which are coupled individually or together via an AOTF into one or more fibers.
Furthermore, the coupling can also take place simultaneously via a plurality of fibers, the radiation of which is mixed on the microscope side after passing through a matching lens by color combiners.
Mixing of the radiation from different lasers at the fiber input is also possible and can be carried out using the schematically illustrated, replaceable and switchable splitter mirror 39 . -
3. Die in Fig. 2 und 3 divergent aus dem Faserende der Fasern
14.1, 2 an der Scaneinheit S austretende Laserstrahlung
wird mittels der Kollimationsoptik 16 auf einen
Unendlichstrahl kollimiert.
Das erfolgt vorteilhaft mit einer einzelnen Linse, die durch Verschiebung entlang der optischen Achse mittels einer über eine zentrale Ansteuereinheit 34 ansteuerbare Steuereinheit 37 eine Fokussierungsfunktion hat, indem ihr Abstand zum Ende der Lichtleitfaser 14.1, 2 an der Scaneinheit erfindungsgemäß veränderbar ist.
Die Wirkung der Verschiebung der Kollimationsoptik 16 ist schematisch in Fig. 3a und 3b dargestellt.
In Fig. 3a ist der Strahlverlauf für zwei unterschiedliche Wellenlängen, λ1, λ2 dargestellt. Da für eine polychromatische Lichtquelle mittels einer feststehenden Abbildungsoptik in eine Bildebene nur für eine mittlere Wellenlänge des Spektralbereiches abgebildet wird, wird mittels der Ansteuereinheit 37 der Abstand von Faserende und Kollimationsoptik verändert. Für die beiden dargestellten Wellenlängen ergeben sich die Linsenstellungen S1, S2, um für beide Wellenlängen die gleiche Fokuslage zu gewährleisten.
Dadurch wird vorteilhaft bewirkt, daß im Falle der Fluoreszenzmikroskopie die Fluoreszenzstrahlung im Fokus des auf unendlich eingestellten Objektives 4 entsteht und die Anregungsstrahlung in dieselbe Ebene fokussiert wird. Es können auch mehrere Fasern und Faserkollimatoren zur Einstellung unterschiedlicher chromatischer Kompensationen für unterschiedliche Anregungswellenlängen Verwendung finden.
Weiterhin kann hierdurch eine chromatische Korrektion der eingesetzten Optik, insbesondere der Mikroskopobjektive erfolgen. Durch mehrere Einkoppelfasern und Kollimationsoptiken für unterschiedliche Wellenlängen können unabhängig verschiedene chromatische Kompensationen eingestellt werden.
Die variable Kollimation durch Verschiebung der Linse 16 kann auch zur Realisierung eines z-scans verwendet werden, indem mittels der verschieblichen Kollimatorlinse 16 der Fokus im Präparat in z-Richtung verschoben wird und ein optischer Schnitt nach dem anderen detektiert wird. Dies ist in Fig. 3b für eine Wellenlänge λ dargestellt, wobei den Stellungen S1, S2 die Fokuslagen F1, F2 entsprechen.3. The laser radiation emerging from the fiber end of the fibers 14.1 , 2 at the scanning unit S in FIGS . 2 and 3 is collimated to an infinity beam by means of the collimation optics 16 .
This is advantageously done with a single lens, which has a focusing function by displacement along the optical axis by means of a control unit 37 which can be controlled via a central control unit 34 , in that its distance from the end of the optical fiber 14.1 , 2 on the scanning unit can be changed according to the invention.
The effect of the displacement of the collimation optics 16 is shown schematically in FIGS . 3a and 3b.
In Fig. 3a, the beam path for two different wavelengths, λ1, λ2 shown. Since for a polychromatic light source by means of a fixed imaging optics in an image plane is only imaged for a medium wavelength of the spectral range, the distance between the fiber end and the collimation optics is changed by means of the control unit 37 . The lens positions S1, S2 result for the two illustrated wavelengths in order to ensure the same focus position for both wavelengths.
This advantageously has the effect that, in the case of fluorescence microscopy, the fluorescence radiation arises in the focus of the objective 4 set to infinity and the excitation radiation is focused in the same plane. Several fibers and fiber collimators can also be used to set different chromatic compensations for different excitation wavelengths.
Furthermore, a chromatic correction of the optics used, in particular of the microscope objectives, can take place in this way. Different chromatic compensations can be set independently using several coupling fibers and collimation optics for different wavelengths.
The variable collimation by displacement of the lens 16 can also be used for realizing a z-scans by the z-direction is displaced by means of the displaceable collimator lens 16, the focus in the specimen in an optical section and after the other is detected. This is shown in FIG. 3b for a wavelength λ, the positions S1, S2 corresponding to the focus positions F1, F2. -
4. In Fig. 2 dient eine Monitordiode 19 (die auch, hier nicht
dargestellt, eine vorgesetzte Fokussierlinse aufweisen kann)
in Verbindung mit einem linien- oder
bereichsselektiven Filterrad oder Filterschieber 21,
angesteuert von einer Steuereinheit 36, zur permanenten
Überwachung der in das Scanmodul eingekoppelten
Laserstrahlung, insbesondere um die Leistung in einer
bestimmten Laserlinie isoliert zu kontrollieren und
gegebenenfalls mittels eines Regelsignales der
Ansteuereinheit 34 zu stabilisieren
Die Detektion mittels der Monitordiode 19 erfaßt das
Laserrauschen und Variationen aufgrund des mechanisch-
optischen Übertragungssystems.
Aus der detektierten momentanen Laserleistung kann dabei ein Fehlersignal abgeleitet werden, das on-line direkt auf den Laser oder einen dem Laser nachgeschalteten Intensitätsmodulator (ASOM, AOTF, EOM, Shutter) zwecks der Stabilisierung der in das Scanmodul eingestrahlten Laserleistung zurückwirkt.
Durch die Ansteuerung der Filtereinheit 21 kann somit eine wellenlängenweise Stabilisierung der Intensität und Laserleistungskontrolle erfolgen.
Durch eine Verbindung zur Detektion 31 (PMT) und jeweils zur zentralen Ansteuereinheit kann durch Bildung von Signalquotienen/oder Signalsubtraktion des Detektionssignales und des Monitorsignales der Diode 19 eine Rauschverminderung bewirkt werden, indem das entsprechende Sensorsignal eines Detektionskanals pixelweise als Pixel-Bildinformation auf das Signal der Monitordiode normiert wird (z. B. Division), um auf diese Weise Intensitätsfluktuationen im Bild zu verringern.4. In FIG. 2, a monitor diode 19 (which may also have a front focusing lens, not shown here) is used in conjunction with a line- or area-selective filter wheel or filter slide 21 , controlled by a control unit 36 , for permanent monitoring of the scan module Coupled laser radiation, in particular to control the power in a certain laser line in isolation and, if necessary, to stabilize it by means of a control signal from the control unit 34. The detection by means of the monitor diode 19 detects the laser noise and variations due to the mechanical-optical transmission system.
An error signal can be derived from the detected instantaneous laser power, which has an on-line effect directly on the laser or an intensity modulator (ASOM, AOTF, EOM, shutter) connected downstream of the laser for the purpose of stabilizing the laser power radiated into the scan module.
By activating the filter unit 21 , wavelength stabilization of the intensity and laser power control can thus take place.
A connection to the detection 31 (PMT) and in each case to the central control unit can be used to reduce the noise by forming signal quotients / or signal subtraction of the detection signal and the monitor signal of the diode 19 , in that the corresponding sensor signal of a detection channel is pixel-by-pixel as pixel image information on the signal of the Monitor diode is normalized (e.g. division) in order to reduce fluctuations in intensity in the image. -
5. In Fig. 1 sind schematisch in verschiedener Weise
verstellbare Pinholes 29
in den Detektionskanälen 26.1-26.4 dargestellt. Sie können
insbesondere senkrecht zur optischen Achse oder in Richtung
der optischen Achse verschiebbar angeordnet sowie in
bekannter Weise in ihrem Durchmesser, beispielsweise mittels
Scherenmechanismus oder Katzenauge veränderbar sein.
Die Verstellung der Pinholedurchmesser gestattet ihre
Anpassung an die Durchmesser der Airyscheibchen bei
unterschiedlichen Beobachtungswellenlängen.
In Fig. 4 und 5 sind schematisch Ansteuermittel 38 für die Verstellung oder Verschiebung der einzelnen Pinholes dargestellt, die Datenleitungen zur zentralen Ansteuereinheit 34 aufweisen.
Die ansteuerbare Verschiebbarkeit der Pinholes in Richtung der optischen Achse ist in Fig. 4 schematisch dargestellt. Sie ist für den Ausgleich von optischen Fehlern, insbesondere chromatischen Längsaberrtionen, vorteilhaft. Diese Fehler können beim Scanobjektiv 22, aber auch beispielsweise bei der für die Detektionskanäle gemeinsamen Abbildungsoptik 25 auftreten.
Für unterschiedliche Wellenlängen λ1, λ2 ergeben sich durch chromatische Längsabweichungen unterschiedliche Fokuslagen, die unterschiedlichen Pinholelagen P1, P2 entsprechen. Bei Auswechslung abbildender Optik, beispielsweise des Mikroskopobjektives, kann bei bekanntem chromatischen Längsfehler der eingesetzten Optik über die Ansteuereinheit 34 und Steuer- und Verschiebemittel 38 eine automatische Verschiebung der Pinholes entlang der optischen Achse erfolgen. Es kann eine genaue Einstellung auf die verwendete Anregungswellenlänge erfolgen.
Durch eine gemeinsame Abbildungsoptik 25 für alle Detektionskanäle, die vorteilhaft nur aus einem optischen Glied besteht, wird das vom Scanobjektiv 22 erzeugte, im Unendlichen liegende Bild in die Pinholeebene abgebildet. Die gemeinsame Abbildungsoptik 25 bewirkt eine verbesserte Transmissionseffizienz gegenüber bekannten Lösungen. Im Zusammenwirken der Abbildungsoptik mit individuell verstellbaren Pinholes in den einzelnen Detektionskanälen kann dennoch eine genaue Justierung erfolgen. 5. In FIG. 1, pinholes 29 in the detection channels 26.1-26.4 are shown schematically in various ways. In particular, they can be arranged to be displaceable perpendicular to the optical axis or in the direction of the optical axis, and their diameter can be changed in a known manner, for example by means of a scissor mechanism or a cat's eye. The adjustment of the pinhole diameter allows them to be adapted to the diameter of the Airy discs at different observation wavelengths.
In Figs. 4 and 5 drive means 38 are shown schematically for the adjustment or shifting of the individual pinholes, the data lines have to the central control unit 34th
The controllable displaceability of the pinholes in the direction of the optical axis is shown schematically in FIG. 4. It is advantageous for the compensation of optical errors, in particular chromatic longitudinal aberrations. These errors can occur with the scan lens 22 , but also, for example, with the imaging optics 25 common to the detection channels.
For different wavelengths λ1, λ2, chromatic longitudinal deviations result in different focus positions, which correspond to different pinhole positions P1, P2. When imaging optics are replaced, for example the microscope objective, if the chromatic longitudinal error of the optics used is known, the pinholes can be automatically displaced along the optical axis via the control unit 34 and control and displacement means 38 . An exact setting can be made to the excitation wavelength used.
By means of a common imaging optics 25 for all detection channels, which advantageously consists of only one optical element, the image generated by the scanning objective 22 and lying in infinity is imaged in the pinhole plane. The common imaging optics 25 bring about an improved transmission efficiency compared to known solutions. In cooperation with the imaging optics with individually adjustable pinholes in the individual detection channels, an exact adjustment can nevertheless be carried out. -
6. Im Strahlengang können unterschiedliche dichroitische
Strahlteiler 28 eingesetzt werden, je nach verwendeter
Wellenlänge, um nur diese zu sperren und einem
Detektionsstrahlengang zuzuführen
Es sind daher (nicht dargestellte) Teilerrevolver oder
Teileräder in verschiedenen Strahlengängen zur Einschwenkung
unterschiedliche, möglichst kleiner Teiler vorgesehen
insbesondere Teilerräder, deren Radachse in 45 Grad gegen
die optische Achse geneigt ist, so daß die Teiler immer nur
in der Reflexionsebene verschoben werden.
Da die auf den Teilerrädern angebrachten Teiler 28 nicht
genau gleich justiert sein können oder Schwankungen innerhalb
ihrer Justierung oder Standard-Keiltoleranzen
unterschiedliche Strahlablenkwinkel verursachen können,
erfolgt gemäß der Darstellung in Fig. 5 eine Verschiebung
des jeweiligen Pinholes über Steuereinheit 38 senkrecht zur
optischen Achse entsprechend der Strahlablenkung.
Hier sind schematisch zwei durch unterschiedliche Stellungen
von Teilern 28.1, 28.2 auf einem nicht dargestellten durch
eine Steuereinheit 36 angetriebenen Teilerrad dargestellt,
die senkrecht zur optischen Achse verschobene Fokuslagen in
der Ebene der Pinholes 29 bewirken.
Hierbei kann mittels der Ansteuereinheit 34 über die Steuereinheiten 36, 38 eine Kopplung der Stellung des Pinholes 29 mit der Teilerradstellung für die Teiler 28 erfolgen, d. h. für alle Teilerkonfigurationen verschiedener Teilerrevolver ist eine optimale Pinholeposiition abgespeichert und abrufbar.
Dies betrifft nicht nur die Stellung eines bestimmten Teilerrades, sonden auch die Stellung mehrerer Teilerräder, so daß immer die jeweils optimale Pinholepositon automatisch eingestellt wird.6. Different dichroic beam splitters 28 can be used in the beam path, depending on the wavelength used, in order to block only these and feed them to a detection beam path. Partial revolvers or part wheels (not shown) are therefore provided in different beam paths for pivoting in different, as small as possible dividers, in particular parting wheels, whose wheel axis is inclined at 45 degrees to the optical axis, so that the dividers are only ever shifted in the reflection plane. Since the dividers 28 attached to the divider wheels cannot be adjusted exactly the same or fluctuations within their adjustment or standard wedge tolerances can cause different beam deflection angles, as shown in FIG. 5, the respective pinhole is shifted via control unit 38 perpendicular to the optical axis in accordance with FIG beam deflection. Here, two different positions of dividers 28.1 , 28.2 are shown schematically on a divider wheel, not shown, driven by a control unit 36 , which cause focus positions in the plane of the pinholes 29 that are displaced perpendicular to the optical axis.
Here, by means of the control unit 34 via the control units 36, 38 coupling the position of the pinhole 29 be made with the Teilerradstellung for the divider 28, that is for all different configurations divider divider turret is stored optimum Pinholeposiition and retrievable.
This affects not only the position of a certain divider wheel, but also the position of several divider wheels, so that the optimal pinhole position is always set automatically. -
7. In Fig. 6 ist schematisch dargestellt, wie am Pinhole 29, am
Ausgang zum PMT hinter dem Pinhole, eine Lichtleitfaser 40
angesetzt werden kann, um durch das Pinhole des
Detektionskanals die Strahlung zu einem externen Sensor 31 zu
leiten.
Dies erfolgt vorteilhaft ohne zusätzliche Koppeloptik dicht hinter dem Pinhole mit Hilfe der Lichtleitfaser 38.
Da die Pinholeöffnung verstellbar ist, wird das Austauschen von Fasern mit unterschiedlichen Kerndurchmessern stark vereinfacht, indem die Pinholegröße an den Kerndurchmesser angepaßt wird.7. FIG. 6 schematically shows how an optical fiber 40 can be attached to the pinhole 29 , at the exit to the PMT behind the pinhole, in order to guide the radiation through the pinhole of the detection channel to an external sensor 31 .
This is advantageously done without additional coupling optics close behind the pinhole with the aid of the optical fiber 38 .
Since the pinhole opening is adjustable, the exchange of fibers with different core diameters is greatly simplified by adapting the pinhole size to the core diameter.
M Mikroskop
S Scankopf
M microscope
S scan head
11
Lichtquelle
light source
22
Beleuchtungsoptik
illumination optics
33
Strahlteiler
beamsplitter
44
Objektiv
lens
55
Probe
sample
66
Kondensor
condenser
77
Lichtquelle
light source
88th
Empfänger
receiver
99
Tubuslinse
tube lens
1010
Tubuslinse
tube lens
1111
Okular
eyepiece
1212
Strahlteiler
beamsplitter
13.113.1
, .
13.213.2
Laser
laser
1414
Lichtleitfasern
optical fibers
1515
schwenkbarer Spiegel
swiveling mirror
1616
Kollimationsoptik
collimating optics
1717
Strahlumlenkelement
beam deflection
1818
teildurchlässiger Spiegel
semi-transparent mirror
1919
Monitordiode
monitor diode
2020
Neutralfilter
neutral density filters
2121
Linienfilter
line filter
2222
Scanobjektiv
scanning objective
2323
Scanner
scanner
2424
Hauptstrahlteiler
Main beam splitter
2525
Abbildungsoptik
imaging optics
26.1-26.426.1-26.4
Detektionskanäle
detection channels
2727
Umlenkprisma
deflecting prism
2828
, .
28.128.1
, .
28.228.2
dichroitische Strahlteiler
dichroic beam splitter
2929
verstellbare Pinholes (Lochblenden)
adjustable pinholes
3030
Emissionsfilter
emission filter
3131
PMT (Photomultiplier)
PMT (photomultiplier)
3232
AOTF (Acousto Optical Tunable Filter)
AOTF (Acousto Optical Tunable Filter)
3333
Einkoppeloptik
coupling optics
3434
zentrale Ansteuereinheit
central control unit
3535
, .
3636
, .
3737
, .
3838
lokale Ansteuereinheiten für Diode local control units for diode
1919
, Filterwechsler . filter changer
2121
, Kollimatoroptik . collimator optics
1616
, verstellbare Pinholes , adjustable pinholes
2929
3939
Strahlteiler
beamsplitter
4040
Lichtleitfaser
S1, S2, F1, F2 Fokusstellungen
P1, P2 Pinholestellungen
optical fiber
S1, S2, F1, F2 focus positions
P1, P2 pinhole positions
Claims (1)
mit einem UV-Laser und einem dem UV-Laser nachgeschalteten Lichtleiter zur Übertragung des UW-Laserlichtes auf eine zu untersuchende Probe
und mit Modulationsmitteln vor dem Lichtleiter, die das UW-Laser licht nur für einen gewünschten Zeitraum in den Lichtleiter einkoppeln und außerhalb dieses Zeitraums von dem Lichtleiter fernhalten,
dadurch gekennzeichnet,
daß das vom Lichtleiter (14 : 1) fernzuhaltende UV-Laserlicht in eine Lichtfalle lenkbar ist
und daß die Modulationsmittel als AOTF (Acousto Optical Tunable Filter)(32) ausgebildet sind, der das von dem Lichtleiter (14.1) fernzuhaltende UW-Laserlicht in die Lichtfalle ablenkt
und das in den Lichtleiter (14.1) einzuspeisende UV-Laserlicht auf konstante Intensität steuert.Laser scanning microscope,
with a UV laser and a light guide downstream of the UV laser for transmitting the UW laser light to a sample to be examined
and with modulation means in front of the light guide, which couple the UW laser light into the light guide only for a desired period of time and keep it away from the light guide outside this period,
characterized by
that the UV laser light to be kept away from the light guide (14: 1) can be steered into a light trap
and that the modulation means are designed as AOTF (Acousto Optical Tunable Filters) ( 32 ) which deflects the UW laser light to be kept away from the light guide ( 14.1 ) into the light trap
and controls the UV laser light to be fed into the light guide ( 14.1 ) to a constant intensity.
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DE19835070B4 (en) * | 1998-08-04 | 2006-03-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Arrangement for adjustable wavelength-dependent detection in a fluorescence microscope |
DE19936573A1 (en) * | 1998-12-22 | 2001-02-08 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Arrangement for the separation of excitation and emission light in a microscope |
DE19919091C2 (en) | 1999-04-27 | 2002-01-17 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Arrangement for setting the laser power and / or the pulse length of a short-pulse laser in a microscope |
DE19949272C2 (en) * | 1999-10-12 | 2003-09-11 | Leica Microsystems | scanning microscope |
DE19951482C2 (en) | 1999-10-26 | 2003-01-09 | Zeiss Carl Jena Gmbh | fluorescence microscope |
DE19951480A1 (en) * | 1999-10-26 | 2001-05-03 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Divider changer in a laser scanning microscope and method for correcting tolerance errors |
US6423960B1 (en) * | 1999-12-31 | 2002-07-23 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Method and system for processing scan-data from a confocal microscope |
US6898367B2 (en) | 2000-06-17 | 2005-05-24 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Method and instrument for microscopy |
DE20122782U1 (en) * | 2000-06-17 | 2007-11-15 | Leica Microsystems Cms Gmbh | lighting device |
DE20122783U1 (en) * | 2000-06-17 | 2007-11-15 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Arrangement for examining microscopic specimens with a scanning microscope and illumination device for a scanning microscope |
DE10115486A1 (en) | 2000-06-17 | 2001-12-20 | Leica Microsystems | Entangled-photon microscope |
DE50108370D1 (en) * | 2000-06-17 | 2006-01-19 | Leica Microsystems | Arrangement for examining microscopic specimens with a scanning microscope |
EP1164402B1 (en) * | 2000-06-17 | 2010-04-28 | Leica Microsystems CMS GmbH | Scanning microscope with multiband illumination and optical element for a scanning microsscope with multiband illumination |
DE20122791U1 (en) * | 2000-06-17 | 2007-11-29 | Leica Microsystems Cms Gmbh | scanning microscope |
DE10029680B4 (en) * | 2000-06-23 | 2016-06-16 | Leica Microsystems Cms Gmbh | The microscope assemblage |
DE10033269B4 (en) * | 2000-07-10 | 2010-07-01 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Device for coupling light of at least one wavelength of a laser light source into a confocal scanning microscope |
DE10038526B4 (en) * | 2000-08-08 | 2004-09-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method and arrangement for recording the wavelength-dependent behavior of an illuminated sample |
DE10125469B4 (en) | 2001-05-25 | 2008-01-10 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Device for determining a light output, microscope and method for microscopy |
DE10142945B4 (en) * | 2001-09-01 | 2004-07-29 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Device for determining a light output and microscope |
DE10151217B4 (en) * | 2001-10-16 | 2012-05-16 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Method for operating a laser scanning microscope |
DE10156506C1 (en) | 2001-11-16 | 2003-05-22 | Leica Microsystems | Multi-color image forming method and microscope |
US6888148B2 (en) * | 2001-12-10 | 2005-05-03 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Arrangement for the optical capture of excited and /or back scattered light beam in a sample |
US6947127B2 (en) | 2001-12-10 | 2005-09-20 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Arrangement for the optical capture of excited and/or back scattered light beam in a sample |
DE10217545A1 (en) * | 2002-04-17 | 2003-11-06 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Microscope with position detection of changers of optical elements |
DE10217544A1 (en) * | 2002-04-17 | 2003-11-06 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Laser scanning microscope with collimator and / or pinhole optics |
DE10222779A1 (en) | 2002-05-16 | 2004-03-04 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method and arrangement for examining samples |
DE10231667A1 (en) * | 2002-07-12 | 2004-01-22 | Olympus Biosystems Gmbh | Lighting device and optical object inspection device |
DE10241472B4 (en) | 2002-09-04 | 2019-04-11 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Method and arrangement for the adjustable change of illumination light and / or sample light with respect to its spectral composition and / or intensity |
DE10302259B3 (en) * | 2003-01-22 | 2004-06-03 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Confocal scanning microscope has acousto-optical component for directing partial beam obtained from illumination beam onto monitoring detector for illumination intensity regulation |
DE10323921A1 (en) * | 2003-05-22 | 2004-12-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Adjustable pinhole, especially for a laser scanning microscope |
DE10324478B3 (en) | 2003-05-30 | 2004-12-09 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Device for determining the light output of a light beam and scanning microscope |
DE10332064A1 (en) * | 2003-07-11 | 2005-01-27 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Arrangement for detecting the illumination radiation in a laser scanning microscope |
DE10332073A1 (en) | 2003-07-11 | 2005-02-10 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Arrangement for the optical detection of light radiation with double objective arrangement excited and / or backscattered in a sample |
DE10332062A1 (en) * | 2003-07-11 | 2005-01-27 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Arrangement in the illumination beam path of a laser scanning microscope |
DE10332063A1 (en) * | 2003-07-11 | 2005-01-27 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Laser Scanning Microscope |
DE10331906B4 (en) * | 2003-07-15 | 2005-06-16 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Light source with a microstructured optical element and microscope with light source |
DE10357584B4 (en) * | 2003-12-08 | 2006-06-14 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Method for separating different emission wavelengths in a scanning microscope |
DE10359734A1 (en) | 2003-12-19 | 2005-08-11 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method for scanner control in at least one scan axis in a laser scanning microscope |
DE102004034977A1 (en) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Scanning microscope and use |
DE102004034979A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method for detecting at least one sample area using a light-scanning microscope with punctiform light source distribution |
DE102004034988A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Scanning microscope and use |
DE102004034951A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method for the image capture of objects by means of a light scanning microscope with line-shaped scanning |
DE102004034975A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method for acquiring images of a sample with a microscope |
DE102004034991A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Zoom optics for a light scanning microscope |
DE102004034970A1 (en) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Scanning microscope and use |
DE102004034996A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Scanning microscope with linear scan |
DE102004034976A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Scanning microscope and use |
DE102004034954A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method for detecting at least one sample area with a light scanning microscope |
DE102004034962A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Microscope with increased resolution |
DE102004034959A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Scanning microscope with point-shaped light source distribution and use |
DE102004034990A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Zoom optics for a light scanning microscope with linear scanning and use |
DE102004034971A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-09 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Scanning microscope with linear scanning and use |
DE102004034956A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method for detecting at least one sample area with a light scanning microscope with linear scanning |
DE102004034987A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Scanning microscope and use |
JP4800655B2 (en) | 2005-04-01 | 2011-10-26 | オリンパス株式会社 | Light measuring device |
DE102005020541A1 (en) * | 2005-05-03 | 2006-11-09 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Laser Scanning Microscope |
DE102005020543A1 (en) | 2005-05-03 | 2006-11-09 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method and device for adjustable change of light |
DE502006004676D1 (en) | 2005-07-22 | 2009-10-08 | Zeiss Carl Microimaging Gmbh | RESOLUTION-INCREASED LUMINESCENCE MICROSCOPY |
US7485875B2 (en) | 2005-07-22 | 2009-02-03 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Resolution-enhanced luminescence microscopy |
DE102005046510B4 (en) | 2005-09-29 | 2022-02-17 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Microscope system for FCS measurements |
DE102005047261A1 (en) | 2005-10-01 | 2007-04-05 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Display image production method, involves producing display image of display image sequence from subsequence of two recorded exposure images of exposure image sequence, where number of display images is less than number of exposure images |
DE102006017705B4 (en) | 2006-04-15 | 2010-01-07 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Spectral analysis unit with a diffraction grating and laser scanning microscope |
DE102006027836B4 (en) | 2006-06-16 | 2020-02-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Microscope with auto focus device |
DE102006034908B4 (en) | 2006-07-28 | 2023-01-26 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Laser Scanning Microscope |
DE102006034906A1 (en) | 2006-07-28 | 2008-01-31 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Laser scanning microscope operating method, involves bringing scanning field produced by light distributions on sample into cover, where sample is detected by using one of light distributions, and detecting reference sample |
DE102006034912A1 (en) * | 2006-07-28 | 2008-01-31 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Laser scanning microscope for fluorescence examination |
DE102006034907A1 (en) * | 2006-07-28 | 2008-01-31 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Laser Scanning Microscope |
DE102006040169A1 (en) * | 2006-08-25 | 2008-02-28 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Confocal scanning microscope with optical output and pinhole assembly for spatial filtering of a light beam |
DE102006045130B4 (en) | 2006-09-25 | 2023-06-22 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Laser scanning microscopy method for analyzing the bleaching behavior of a sample and laser scanning microscope designed therefor and computer program product therefor |
DE102006047911A1 (en) * | 2006-10-06 | 2008-04-10 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Arrangement for splitting detection light |
EP1935498A1 (en) | 2006-12-22 | 2008-06-25 | Universität Leipzig | Device and method for contactless manipulation and alignment of sample particles in a measurement volume with the aid of an inhomogeneous electrical alternating field |
DE102007003134A1 (en) | 2007-01-18 | 2008-07-24 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Laser scanning microscope and beam-blending optical assembly |
DE102007009659B4 (en) | 2007-02-21 | 2024-05-16 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Use of a diode-pumped solid-state laser and laser scanning microscope with a UV illumination beam path |
DE102007009660A1 (en) | 2007-02-21 | 2008-08-28 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Confocal laser microscope |
DE102007025821A1 (en) | 2007-06-02 | 2008-12-04 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Arrangement and method for timing the pulses of a short pulse laser |
DE102007040238A1 (en) | 2007-08-25 | 2009-03-05 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Method for laser scanning microscopy and beam distributor |
DE102007047467A1 (en) | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Arrangement for the optical detection of light radiation excited and / or backscattered in a sample |
DE102007047187A1 (en) | 2007-10-02 | 2009-04-09 | Carl Zeiss Sms Gmbh | Imaging and mask-inspection system for e.g. determining amount of energy delivered by illumination source, has control unit generating signals to control illumination source and/or correction value for image evaluation of imaging beam |
DE102007047183A1 (en) | 2007-10-02 | 2009-04-09 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Mirror staircase to unite multiple light sources and laser scanning microscope |
CN101836152B (en) | 2007-10-31 | 2014-04-16 | 株式会社尼康 | Laser-exciting fluorescence microscope |
DE102008007452A1 (en) | 2008-01-31 | 2009-08-06 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Laser scanning microscope and assembly for non-descanned detection |
DE102008028707A1 (en) | 2008-06-17 | 2009-12-24 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Laser scanning microscope with a laser diode |
DE102008038467A1 (en) | 2008-08-21 | 2010-02-25 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Image evaluation and/or sample i.e. cells, manipulation method for use in e.g. laser scanning microscope, involves changing image object planes as supreme image object planes till minimum or maximum or fixed value is obtained |
DE102008055655B4 (en) | 2008-10-29 | 2021-04-08 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Method for setting a dark signal from a laser source in a laser scanning microscope |
DE102009006729B4 (en) | 2009-01-29 | 2021-12-23 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Laser scanning microscope |
DE102009021993B4 (en) | 2009-05-19 | 2023-11-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Scanning microscope and associated procedures |
DE202009007789U1 (en) | 2009-06-03 | 2009-08-20 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Broadband light source and microscope |
DE102009034347A1 (en) | 2009-07-23 | 2011-01-27 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Laser scanning microscope, has mirror supported in lens frame that is brought into lens revolver of microscope, and lens superordinate to mirror for focusing illumination light on to mirror in illumination direction |
DE102009043747A1 (en) | 2009-09-30 | 2011-03-31 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Method for generating a microscope image and microscope |
DE102009048710B4 (en) * | 2009-10-08 | 2020-04-02 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Laser system for a microscope and method for operating a laser system for a microscope |
DE102009049050B4 (en) * | 2009-10-12 | 2011-07-21 | Leica Microsystems CMS GmbH, 35578 | Method and device for stabilizing a light output of an illumination light beam and microscope |
DE102009050021B4 (en) | 2009-10-16 | 2019-05-02 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Microscope, in particular laser scanning microscope and operating method |
EP2317362B1 (en) | 2009-10-28 | 2020-01-15 | Carl Zeiss Microscopy GmbH | Microscopic method and microscope with improved resolution |
DE102010018967B4 (en) | 2010-04-29 | 2021-11-04 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Arrangements and methods for nonlinear microscopy |
DE102010033722A1 (en) | 2010-08-07 | 2012-02-09 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Method for eliminating unwanted radiation portions from light detected from illuminated sample by laser scanning microscope, involves passing acousto optical tunable filter through two pole components |
DE102010055882A1 (en) | 2010-12-22 | 2012-06-28 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Pinhole for a confocal laser scanning microscope |
DE102011013614A1 (en) | 2011-03-08 | 2012-09-13 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Laser scanning microscope and method of its operation |
JP5616824B2 (en) | 2011-03-10 | 2014-10-29 | オリンパス株式会社 | Microscope equipment |
DE102011104379B4 (en) | 2011-06-18 | 2021-11-25 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Scanning confocal microscope and use, control method and programmable control unit for such a microscope |
DE102011109653B4 (en) | 2011-08-06 | 2021-11-25 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Laser scanning microscope with an illumination array |
DE102012010208A1 (en) | 2012-05-15 | 2013-11-21 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Microscope e.g. laser scanning microscope for modern cell biological research field, has main color divider and deflecting mirror that are arranged on common optical carrier or substrate for mechanical rigid connection |
DE102012016346B4 (en) | 2012-08-16 | 2023-01-05 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Laser Scanning Microscope |
DE102014000473A1 (en) | 2014-01-16 | 2015-07-16 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Laser scanning microscope and amplifier module |
DE102014002328B4 (en) | 2014-02-12 | 2021-08-05 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Scanning multifocal fluorescence microscope |
DE102014009142A1 (en) | 2014-06-20 | 2015-12-24 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Method and device for controlling an acousto-optic component |
DE102014010185A1 (en) | 2014-07-09 | 2016-01-14 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Method for operating a laser scanning microscope |
DE102014110575B4 (en) | 2014-07-25 | 2017-10-12 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Microscope and method for optically examining and / or manipulating a microscopic sample |
DE102015107367A1 (en) | 2015-05-11 | 2016-11-17 | Carl Zeiss Ag | Evaluation of Fluorescence Scanning Microscopy Signals Using a Confocal Laser Scanning Microscope |
JP2017075947A (en) | 2015-10-14 | 2017-04-20 | アッベリオー インストラメンツ ゲーエムベーハーAbberior Instruments GmbH | Scanner head and device with scanner head |
DE102016116309A1 (en) | 2016-05-02 | 2017-11-02 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Lighting module for angle-selective lighting |
DE102019116626B4 (en) | 2019-06-19 | 2021-03-18 | Abberior Instruments Gmbh | Methods and devices for checking the confocality of a scanning and descanning microscope assembly |
DE102022102763A1 (en) | 2022-02-07 | 2023-08-10 | Carl Zeiss Meditec Ag | Microscope and imaging method for a microscope |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0283256A2 (en) * | 1987-03-18 | 1988-09-21 | Tektronix Inc. | Scanning optical microscope |
WO1990000754A1 (en) * | 1988-07-13 | 1990-01-25 | Martin Russell Harris | Scanning confocal microscope |
US5081350A (en) * | 1989-09-22 | 1992-01-14 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Scanning microscope and scanning mechanism for the same |
DE4128506A1 (en) * | 1991-08-28 | 1993-03-04 | Zeiss Carl Fa | Operating spectrometer beyond optics correction range - by adjusting optics spacings to maintain optimal sensitivity |
US5216484A (en) * | 1991-12-09 | 1993-06-01 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Real-time imaging spectrometer |
US5283433A (en) * | 1992-10-05 | 1994-02-01 | The Regents Of The University Of California | Scanning confocal microscope providing a continuous display |
DE4323129A1 (en) * | 1992-07-24 | 1994-02-03 | Zeiss Carl Fa | Microscope with laser illumination - has laser beam input via conventional light inlet and slider with mirror for deflecting light to objective |
US5317379A (en) * | 1992-02-11 | 1994-05-31 | Rosemount Analytical Inc. | Chemical species optical analyzer with multiple fiber channels |
US5377003A (en) * | 1992-03-06 | 1994-12-27 | The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services | Spectroscopic imaging device employing imaging quality spectral filters |
US5444528A (en) * | 1994-07-27 | 1995-08-22 | The Titan Corporation | Tunable spectrometer with acousto-optical tunable filter |
DE19517670A1 (en) * | 1994-06-15 | 1995-12-21 | Zeiss Carl Fa | Surgical microscope mounted laser adaptor appts. |
DE4446185A1 (en) * | 1994-08-25 | 1996-02-29 | Leica Lasertechnik | Device for coupling the light beam from a UV laser into a laser scanning microscope |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL8700612A (en) * | 1987-03-13 | 1988-10-03 | Tno | CONFOCAL LASER SCANNING MICROSCOPE. |
JP2625330B2 (en) * | 1992-09-30 | 1997-07-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | Pinhole position control method for confocal optical system and its control device |
DE19533092A1 (en) * | 1995-09-07 | 1997-03-13 | Basf Ag | Device for parallelized two-photon fluorescence correlation spectroscopy (TPA-FCS) and its use for drug screening |
-
1997
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Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0283256A2 (en) * | 1987-03-18 | 1988-09-21 | Tektronix Inc. | Scanning optical microscope |
WO1990000754A1 (en) * | 1988-07-13 | 1990-01-25 | Martin Russell Harris | Scanning confocal microscope |
US5081350A (en) * | 1989-09-22 | 1992-01-14 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Scanning microscope and scanning mechanism for the same |
DE4128506A1 (en) * | 1991-08-28 | 1993-03-04 | Zeiss Carl Fa | Operating spectrometer beyond optics correction range - by adjusting optics spacings to maintain optimal sensitivity |
US5216484A (en) * | 1991-12-09 | 1993-06-01 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Real-time imaging spectrometer |
US5317379A (en) * | 1992-02-11 | 1994-05-31 | Rosemount Analytical Inc. | Chemical species optical analyzer with multiple fiber channels |
US5377003A (en) * | 1992-03-06 | 1994-12-27 | The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services | Spectroscopic imaging device employing imaging quality spectral filters |
DE4323129A1 (en) * | 1992-07-24 | 1994-02-03 | Zeiss Carl Fa | Microscope with laser illumination - has laser beam input via conventional light inlet and slider with mirror for deflecting light to objective |
US5283433A (en) * | 1992-10-05 | 1994-02-01 | The Regents Of The University Of California | Scanning confocal microscope providing a continuous display |
DE19517670A1 (en) * | 1994-06-15 | 1995-12-21 | Zeiss Carl Fa | Surgical microscope mounted laser adaptor appts. |
US5444528A (en) * | 1994-07-27 | 1995-08-22 | The Titan Corporation | Tunable spectrometer with acousto-optical tunable filter |
DE4446185A1 (en) * | 1994-08-25 | 1996-02-29 | Leica Lasertechnik | Device for coupling the light beam from a UV laser into a laser scanning microscope |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19758745C5 (en) | 2008-09-25 |
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DE19758745C2 (en) | 2003-08-14 |
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DE19702753C2 (en) | 2003-04-10 |
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