DE19727956C1 - Optisches Endstück und Verfahren zum Prüfen der Kopplungsfläche eines optischen Endstücks - Google Patents
Optisches Endstück und Verfahren zum Prüfen der Kopplungsfläche eines optischen EndstücksInfo
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Description
Die Erfindung liegt auf dem Gebiet ein- oder mehrkanaliger
optischer Verbindungen, bei deren Realisierung optische End
stücke zum kopplungsfähigen Anschluß eines oder mehrerer
Lichtwellenleiterenden zum Einsatz kommen. Im Rahmen der vor
liegenden Erfindung ist unter einem Lichtwellenleiter ein zur
Führung und Weiterleitung eines optischen Signals geeigneter
Leiter zu verstehen, wie z. B. konfektionierte Lichtwellen
leiter, Lichtwellenleiterbänder oder auf einem Substrat aus
gebildete optische Leiter (sog. wafe guides).
Die Erfindung betrifft ein optisches Endstück zum endseitigen
Anschluß eines oder mehrerer Lichtwellenleiter mit einer
Kopplungsfläche, an der der oder die Lichtwellenleiter en
det/enden.
Ein derartiges, aus der EP 0 712 015 A2 bekanntes Endstück
nimmt mehrere in einer gemeinsamen Ebene parallel angeordnete
Lichtwellenleiterenden auf. Die zur optischen Ankopplung die
nenden Endflächen der Lichtwellenleiter liegen in einer ge
meinsamen Kopplungsfläche des auch als Kopplungskörper oder
Ferrule bezeichneten Endstücks. Über die Endfläche können in
den jeweiligen Lichtwellenleiter optische Signale eines Kopp
lungspartners eingespeist bzw. in dem jeweiligen Lichtwel
lenleiter geführte optische Signale an einen Kopplungspartner
ausgespeist werden. Wegen der vergleichsweise kleinen Dimen
sionen der lichtleitenden Kernquerschnitte bei Lichtwellen
leitern kommt es für geringe Kopplungsverluste - d. h. für
einen hohen sog. Kopplungswirkungsgrad - auf eine optimale
Ausrichtung der Kopplungspartner zueinander an. Gemäß der EP
0 712 015 A2 ist insbesondere bei der optischen Kopplung
zweier gleichartiger Endstücke mit jeweils mehreren Lichtwel
lenleiterenden ein fluchtender, unmittelbarer Körperkontakt
der kopplungspartnerseitigen Lichtwellenleiterendflächen wün
schenswert. Dazu werden u. a. speziell geformte (z. B. ge
wölbte) Kopplungsflächen und die Aufbringung ausreichender
axialer Druckkräfte vorgeschlagen.
Damit noch ungelöst ist jedoch die bei Endstücken sowohl für
ein einziges Lichtwellenleiterende als auch für mehrere
Lichtwellenleiterenden (auch als Mehrfachsteckverbinder oder
MT-Ferrulen bezeichnet) auftretende Problematik der relativ
zu den Lichtwellenleiterenden und der Endstückgeometrie -
insbesondere der Ausrichtmittel oder -flächen des Endstücks -
exakten winkelgerechten Ausbildung der Kopplungsfläche. Wäh
rend bei kreiszylindrischen Steckverbindern mit nur einem
Lichtwellenleiterende und damit einem punktuellen, zentri
schen Kopplungskontakt zur Umgehung dieser Problematik die
Steckerstiftstirnfläche (Kopplungsfläche) ballig geschliffen
werden kann, muß bei einer langgestreckten Kopplungsfläche
besonders dafür gesorgt sein, daß die Kopplungsfläche win
kelgetreu in der nach Bearbeitung der Kopplungsfläche ge
wünschten Soll-Fläche oder bei ebenen Kopplungsflächen in der
Soll-Ebene liegt. Entsteht nämlich nach stirnseitiger Präpa
ration des Endstücks die Kopplungsfläche "windschief", d. h.
nicht zumindest parallel zu der Soll-Fläche, wird der Kopp
lungswirkungsgrad erheblich verschlechtert oder gar eine
optische Übertragung unmöglich. So kann beispielsweise bei
einem gewünschten direkten Kontakt der kopplungspartnersei
tigen Kopplungsflächen aufgrund einer winkelfehlerbehafteten
Kopplungsfläche eines der Kopplungspartner neben einem
teilweisen Kontakt ein unerwünschter Luftspalt im übrigen Be
reich zwischen den beiden Kopplungsflächen entstehen.
Die Aufgabe der Erfindung besteht daher in der Schaffung ei
nes optischen Endstücks und eines Verfahrens zum Prüfen der
Kopplungsfläche eines optischen Endstücks, wobei durch einfa
che Maßnahmen während und nach der Bildung und/oder Behand
lung der Kopplungsfläche (Kopplungsflächenpräparation) eine
Abweichung (Fehlwinkel) der entstehenden Kopplungsfläche von
einer vorgegebenen Soll-Fläche erkennbar ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei einem Endstück der
eingangs genannten Art dadurch gelöst, daß das Endstück zu
mindest eine Prüfstruktur mit zumindest zwei Flächenab
schnitten aufweist, daß beide Flächenabschnitte in einem dem
Betrage nach gleichen, von 90° verschiedenen Winkel zu einer
Soll-Fläche stehen, wobei bei winkelfehlerfreier Ausbildung
die Kopplungsfläche zumindest parallel zu der Soll-Fläche
entsteht, und daß die Flächenabschnitte bei winkelfehlerhaf
ter Ausbildung der Kopplungsfläche unterschiedlich sind.
Vorzugsweise werden bereits bei der Herstellung des bevorzugt
als Präzisionskunststoffteil ausgebildeten Endstücks die
Prüfstrukturen im Bereich der Kopplungsfläche formtechnisch
ausgebildet. Dies ermöglicht, die Prüfstruktur in bezug auf
die Achsen der Lichtwellenleiterenden bzw. auf die Flächen
normale der Soll-Fläche äußerst präzise und reproduzierbar
auszubilden. Nach dem anschließenden Einbringen und Fixieren
der Lichtwellenleiterenden wird die Kopplungsfläche bei
spielsweise durch Trennverfahren, Polieren und/oder andere
oder ergänzende z. B. auch microspanabhebende Verfahren der
art erzeugt oder präpariert, daß zumindest der kopplungsrele
vante, die Lichtwellenleiterendflächen einschließende Bereich
in der für die Kopplung optimalen Soll-Fläche oder zumindest
parallel zu dieser liegt.
Infolge fehlerhafter Präparation auftretende Fehlwinkel füh
ren jedoch zu einer von der Soll-Lage abweichenden Ist-Lage
der in diesem Fall auch als windschief bezeichneten Kopp
lungsfläche. Die fehlerhafte Präparation beeinflußt auch die
an der Kopplungsfläche endende Prüfstruktur, so daß eine
leicht erkennbare unterschiedliche Bearbeitung zumindest von
den auszuwertenden Flächenabschnitten der Prüfstruktur er
folgt.
Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Endstücks be
steht damit darin, daß bereits während der Präparation
(beispielsweise während des Polierprozesses) eine sich ab
zeichnende Fehlstellung der Kopplungsfläche erkennbar und
ggf. korrigierbar ist. Vorteilhafterweise ermöglicht die
Prüfstruktur eine einfache Auswertung sowohl mit bloßem Auge
als auch meßtechnisch, so daß unmittelbar sowohl eine quali
tative Aussage - dahingend, ob die Kopplungsfläche in der
oder außerhalb der Soll-Fläche liegt als - auch bedarfsweise
ein Ermitteln der auftretenden Fehlwinkel ermöglicht ist.
Eine Ausgestaltungsmöglichkeit des erfindungsgemäßen End
stücks besteht darin, die Prüfstruktur als Kegel oder Kegel
stumpf auszubilden. Bei einer fehlerhaften Präparation der
Kopplungsfläche würden dann die die Gerade mit dem größten
Fehlwinkel schneidenden Flächenabschnitte der Kegelform am
unterschiedlichsten berarbeitet. Dabei ergibt sich nämlich
anstelle der - bei fehlerfreier Bearbeitung - keisrunden
Kopf- oder Fußfläche des Kegelstumpfes eine elliptische Flä
che, deren längere Hauptachse einen Rückschluß auf den größ
ten Fehlwinkel zuläßt.
Eine besonders gute Erkennbarkeit einer fehlerhaft bearbeite
ten Kopplungsfläche ist nach einer bevorzugten Fortbildung
der Erfindung dadurch erreichbar, daß die Prüfstruktur zwei
Teilstrukturen umfaßt; diese sind nach einer weiteren vor
teilhaften Ausbildung der Erfindung symmetrisch zur Längssym
metrieebene der Soll-Fläche ausgebildet.
Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, daß
die Prüfstruktur oder die Teilstrukturen Ausnehmungen sind.
Eine alternative bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung sieht
vor, daß die Prüfstruktur oder die Teilstrukturen Erhebungen
sind. Bei dieser Ausgestaltung können die Prüfstruktur bzw.
die Teilstrukturen weitestgehend unabhängig von der weiteren
Beschaffenheit des die Kopplungsfläche umgebenden Stirnbe
reichs des Endstücks ausgebildet werden.
Im Hinblick auf die leichte Erkennbarkeit einer windschief
ausgebildeten Kopplungsfläche haben sich Prüfstrukturen oder
Teilstrukturen als besonders günstig erwiesen, die eine pyra
miden- oder pyramidenstumpfförmige oder eine kegel- oder ke
gelstumpfförmige Gestalt haben.
Konstruktiv bevorzugt ist eine Ausgestaltung der Erfindung
derart, daß die Ausnehmungen oder Erhebungen zur Aufnahme von
Zentriermitteln ausgebildet sind. Die Ausnehmungen können da
bei Zentriermittel fixieren oder beim Kopplungsvorgang mit
Zentriermitteln eines Kopplungspartners zusammenwirken.
Unter Anwendung des der Erfindung zugrundeliegenden Prinzips
sieht ein Verfahren zum Prüfen der Kopplungsfläche eines op
tischen Endstücks zum endseitigen Anschluß eines oder mehre
rer Lichtwellenleiter auf winkelkorrekte Ausbildung in bezug
auf eine Soll-Fläche erfindungsgemäß vor, daß das Endstück
mit zumindest einer Prüfstruktur versehen wird und daß zumin
dest zwei Flächenabschnitte der Prüfstruktur bei der Bear
beitung oder Erzeugung der Kopplungsfläche mitbearbeitet wer
den, wobei die Flächenabschnitte derart gestaltet werden, daß
bei winkelfehlerhafter Abweichung der erzeugten Kopplungs
fläche von der Soll-Fläche durch die Prüfstruktur eine op
tisch erkennbare Fehlanzeige bewirkt wird.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend anhand
einer Zeichnung näher erläutert; dabei zeigen:
Fig. 1A, 1B und 1C ein erfindungsgemäßes Endstück mit feh
lerhaft ausgebildeter Kopplungsfläche in perspektivischer An
sicht, im Längsschnitt und in stirnseitiger Ansicht,
Fig. 2A, 2B und 2C ein gleichartiges Endstück mit winkel
fehlerfrei ausgebildeter Kopplungsfläche,
Fig. 3 ein weiteres Endstück,
Fig. 4 ein Endstück mit einer erhabenen Prüfstruktur,
Fig. 5 eine weitere Variante eines Endstücks mit einer al
ternativen Prüfstruktur,
Fig. 6A, 6B und 6C ein Endstück mit kegelstumpfförmiger
Prüfstruktur
Fig. 7A und 7B das Endstück nach den Fig. 6A bis 6C
nach (fehlerhafter) Endflächenbearbeitung und
Fig. 8A bis 8C eine weitere Ausführungsform eines End
stücks nach der Stirnflächenpräparation.
Das in den Fig. 1A bis 1C gezeigte Endstück umfaßt einen
Kopplungskörper 1, der ein im Präzisionsspritzguß hergestell
ter Kunststoffkörper mit einer Vielzahl in Richtung seiner
Längsachse 2 durchgehenden parallelen Bohrungen 3 zur Auf
nahme einer gleichen oder geringeren Anzahl von Lichtwellen
leitern 4 ist. Die Lichtwellenleiter 4 treten aus dem rück
wärtigen Ende 1a des Endstücks 1 aus und verlaufen beispiels
weise in einem gemeinsamen Lichtwellenleiterband 5. Die von
dem Endstück 1 aufgenommenen Lichtwellenleiter 4 enden mit
ihren kopplungsseitigen Stirnflächen 4a an einer Kopplungs
fläche 1b des Endstücks 1. Die Kopplungsfläche 1b kann in ih
rer Struktur zum unmittelbaren körperlichen Kontakt mit einem
nicht dargestellten Kopplungspartner ausgebildet sein, wie
beispielsweise in der EP 0 712 015 A2 ausführlich beschrie
ben. Für eine hochwertige optische Kopplung ist jedoch Vor
aussetzung, daß die Kopplungsfläche 1b zumindest entlang ei
ner die Stirnflächenzentren der Lichtwellenleiter durchzie
henden Linie 6 bzw. in dem die Stirnflächen umfassenden
Kopplungsflächenbereich 7 in Körperkontakt mit der entspre
chenden Kopplungsfläche des Kopplungspartners gelangt. Dies
ist nur gewährleistet, wenn die Kopplungsfläche vorgabengemäß
- d. h. in einer Soll-Fläche oder Soll-Ebene - entsteht oder
zumindest parallel, aber nicht winkelschief zu dieser ausge
bildet wird.
Zur näheren Erläuterung der der Erfindung zugrundeliegenden
Problematik ist zunächst in den Fig. 1A bis 1C ein End
stück mit einer fehlerhaft präparierten Kopplungsfläche 1b
dargestellt. Wie besonders deutlich aus Fig. 1B hervorgeht,
ist zwischen der ausgebildeten Kopplungsfläche 1b und der
Soll-Fläche SF (Fläche bzw. Ebene, in der idealerweise die
gewünschte Kopplungsfläche liegen sollte) ein Winkel α ≠ 0
eingeschlossen. Im vorliegenden Fall wird die Kopplungsfläche
1b daher auch als windschief bezeichnet. Aufgrund der in der
optischen Verbindungstechnik üblicherweise sehr geringen Di
mensionen ist eine solche winkelfehlerhafte Ausbildung der
Kopplungsfläche nicht ohne weiteres erkennbar, sondern macht
sich ungünstigstenfalls erst bei Abschlußprüfungen oder im
Betrieb durch schlechte Kopplungswirkungsgrade bemerkbar.
Erfindungsgemäß weist das Endstück eine Prüfstruktur 12 auf,
die im ersten Ausführungsbeispiel zwei symmetrisch zur Längs
symmetrieebene L der Soll-Fläche SF angeordnete pyramiden
stumpfförmige Vertiefungen (Teilstrukturen) 14a, 14b umfaßt.
Die Längssymmetrieebene L steht senkrecht zur Soll-Fläche SF.
Jede Teilstruktur 14a, 14b umfaßt einen Flächenabschnitt 15a,
15b; beide Flächenabschnitte weisen eine zur Längssymme
trieebene L entgegengesetzt spiegelsymmetrische Orientierung
auf. Die Flächenabschnitte 15a, 15b schließen dadurch jeweils
den nach dem Betrage nach gleichen von 90° verschiedenen Win
kel mit der Soll-Fläche SF ein. Die schrägen Flächenab
schnitte 15a, 15b erfahren bei einer fehlerhaften Präparation
der Kopplungsfläche 1b einen unterschiedlich starken Abtrag.
Wie insbesondere aus den Fig. 1A und 1C in der
stirnseitigen Ansicht deutlich wird, ergeben sich damit aus
den ursprünglich gleichartigen Teilstrukturen unterschiedlich
tief reichende Flächenabschnitte 15a, 15b. Dadurch stellt
sich die jeweilige Fußfläche der pyramidenstumpffartigen
Vertiefung 14a, 15b verzerrt und erkennbar unterschiedlich
dar. Auf diese Weise ist bereits während des Präparationspro
zesses eine fehlerhafte Bearbeitung erkennbar.
Die Fig. 2A bis 2C zeigen ein Endstück, das konzeptionell
mit dem in den Fig. 1A bis 1C dargestellten Endstück über
einstimmt; hier ist die Koppelfläche jedoch fehlerfrei bear
beitet worden. Daher liegt die gewünschte Kopplungsfläche 1b'
in der Soll-Fläche SF (Soll-Ebene), so daß die Endflächen 4a
der Lichtwellenleiter 4 tatsächlich alle in der "idealen"
Kopplungsfläche liegen. Die Prüfstruktur 12' mit symmetrisch
zur Längssymmetrieebene L ausgebildeten pyramidenstumpfförmi
gen Teilstrukturen 14a', 14b' ist in vorbeschriebener Weise
ausgebildet. Bei der fehlerfreien Endflächenpräparation sind
die schrägen Flächen 15a', 15b' gleichstark abgetragen
(verkürzt) worden, so daß sich das z. B. in Fig. 2C erkenn
bare symmetrische stirnseitige Bild des Endstückes ergibt.
Mit bloßem Auge ist die gleichartige Geometrie der verbliebe
nen Teilstrukturen 14a', 14b' und insbesondere deren Fußflä
chen 16a, 16b erkennbar, so daß zumindest qualitativ unmit
telbar auf eine winkelkorrekte Ausbildung der Kopplungsfläche
1b' geschlossen werden kann. Zur meßtechnischen Ableitung der
Fehlerhaftigkeit können die in Fig. 1C mit 17a und 17b
bemaßten Grenzlinien der Fußflächen 16a, 16b der Teilstruktu
ren 14a, 14b herangezogen werden. Daraus läßt sich in Kennt
nis der ursprünglichen Teilstrukturengeometrie der Winkelfeh
ler bestimmen.
Fig. 3 zeigt eine Abwandlung des zuvor beschriebenen Aus
führungsbeispiels dahingehend, daß nach Präparation der Kopp
lungsfläche 1b'' in die Teilstrukturen 14a'' und 14b'' in nicht
mehr erkennbare Bohrungen unmittelbar Ausrichtmittel in Form
von Zentrierstiften 18, 19 eingesetzt sind. Vorteilhafter
weise dienen die Teilstrukturen damit als Einfädelhilfe für
die Ausrichtmittel; durch die Prüfstruktur ist kein zusätz
licher Platzbedarf im Stirnbereich des Endstücks erforder
lich.
Während bei den vorbeschriebenen Ausführungsbeispielen die
Prüfstruktur als Vertiefungen ausgebildet sind, deren Fuß
flächen an der Kopplungsfläche enden, zeigt Fig. 4 ein al
ternatives Ausführungsbeispiel, bei dem die Prüfstruktur als
Erhebung 20 ausgebildet ist. Beiderseits einer Linie 21, auf
der die Lichtwellenleiterendflächen 22 liegen, sind Zentrier
mittel 23, 24 (nach Bearbeitung der Kopplungsfläche 25) ein
gesetzt. Die Erhebung 20 weist zumindest an zwei gegenüber
liegenden Seiten zwei Flächenabschnitte 20a, 20b auf, die ei
nen dem Betrage nach gleichen Winkel mit der Soll-Fläche SF'
für die Kopplungsfläche 25 einschließen. Auch hier kommt bei
einer fehlerhaften Kopplungsflächenpräparation das der Erfin
dung übergeordnete Prinzip einer ungleichmäßigen Endform der
Prüfstruktur bzw. der Flächenabschnitte 20a bzw. 20b zum Tra
gen. Im Falle einer (wie in der Fig. 1A bis 1C dargestell
ten) zur Soll-Fläche SF' schiefwinkligen Ausbildung der Kopp
lungsfläche 25 würden beispielsweise die Begrenzungslinien
27, 28 des Flächenabschnittes 20b enger zusammenrücken als
die entsprechenden Begrenzungslinien 29, 30 des Flächenab
schnittes 20a. Dies ist bei stirnseitiger Betrachtung des
Endstückes leicht erkennbar. Für den Fall, daß auch eine Ver
kippung der Kopplungsfläche 25 um eine Horizontalachse H zu
befürchten ist, kann die Prüfstruktur 20 auch entsprechende
Flächenabschnitte 32, 33 aufweisen. Bei einer windschiefen
Bearbeitung um die Achse H würden entsprechend die Begren
zungslinien der Flächenabschnitte 32 und 33 unterschiedlich
dicht zusammenrücken.
Fig. 5 zeigt eine Ausgestaltung eines erfindungsgemäßen End
stückes, bei dem die Prüfstruktur zur Erzielung einer beson
ders feinen Auflösung aus zwei langgestreckten wannenartigen
Vertiefungen 40, 41 gebildet ist, die jeweils spiegelsymme
trisch aufeinanderzulaufende schräge Flächenabschnitte, z. B.
40a, 41a; 40b, 41b, aufweisen.
Als sehr geeignet erweisen sich Prüfstrukturen mit einer ke
gel- oder kegelstumpfförmigen Gestalt, deren Längsachse senk
recht auf der gewünschten Soll-Fläche steht. Die Prüfstruktur
kann auch von einer einzigen Erhebung oder Vertiefung mit ke
gel- oder kegelstumpfförmiger Gestalt gebildet sein. Wie die
Fig. 6A bis 6C dazu schematisch zeigen, sind kegel
stumpfförmige Erhebungen 50a, 50b vorgesehen, die - wie durch
die Linie 51 in Fig. 6B angedeutet - in einem nachfolgenden
Poliervorgang der Kopplungsfläche 52 mitbearbeitet werden.
Bei fehlerfreier Präparation wären zwei gleiche kreisrunde
Deckflächen erkennbar, die parallel zu den ursprünglichen
Oberseiten 53a, 53b der Kegelstümpfe 50a, 50b entstehen wür
den.
Die Fig. 7A und 7B zeigen das vorbeschriebene Endstück mit
den Prüfstrukturen 50a, 50b nach einer fehlerhaften Stirnflä
chenbearbeitung. Man erkennt aufgrund der schiefwinkligen Be
arbeitung (entlang der in Fig. 6B gestrichelt dargestellten
Linie 51') jeweils unterschiedlich starke Materialabträge,
die zu unterschiedlich großen Deckflächen 53a' und 53b' füh
ren. Dies läßt leicht auf eine fehlerhafte Kopplungsflächen
präparation schließen. In entsprechender Weise würde bei ei
ner als Vertiefung ausgebildeten kegelförmigen oder kegel
stumpfförmigen Prüfstruktur die Fußfläche des Kegelstumpfes
bei fehlerhafter Präparation unterschiedliche Größe annehmen.
Die Fig. 8A bis 8C zeigen eine weitere Variante, bei der
zwei angefaste zylindrische Zapfen 60, 61 mit je einer schie
fen längsspiegelsymmetrischen Anfasung als Prüfstruktur vor
gesehen sind. In den Figuren sind die beiden Flächenab
schnitte (Anfasungen), die mit der Soll-Fläche den jeweils
gleichen Winkel einschließen, mit 62a, 62b bezeichnet. Bei
fehlerhafter Bearbeitung (wie dargestellt) der Kopplungsflä
che 63 nehmen die Teilstrukturen 60, 61 die in Fig. 8B dar
gestellte Gestalt an. Bei symmetrischer Anordnung zur Längs
symmetrieebene L und gleicher Ausgestaltung der Teilstruktu
ren 60, 61 weisen beide Flächen 61a, 61b die gleiche Form nur
bei fehlerfreier Bearbeitung der Kopplungsfläche 63 auf. Auch
dies ist einfach feststellbar.
Bei der Herstellung eines optischen Endstücks und der Prüfung
von dessen Kopplungsfläche, beispielsweise gemäß den Fig.
2A bis 2C, wird zunächst das Endstück 1 im Präzisionsspritz
gußverfahren aus Kunststoff hergestellt. Zum leichteren Ein
bringen der Lichtwellenleiter 4 (Fig. 2B) kann das Endstück
mehrteilig sein. Die in paralleler Anordnung gehaltenen
Lichtwellenleiterenden werden soweit eingebracht und fixiert,
daß ihre Endflächen mit der Kopplungsfläche des Endstücks ab
schließen oder aus dieser heraustreten. Anschließend wird die
Kopplungsfläche beispielsweise durch Polieren derart behan
delt, daß die Lichtwellenleiter-Endflächen in der gewünschten
Soll-Fläche liegen. Dabei wird die im Bereich der Kopplungs
fläche vorgesehene Prüfstruktur zwangsweise mitbearbeitet,
wobei zumindest die beiden Flächenabschnitte bei fehlerhafter
Präparation - d. h. einer Ausbildung der Kopplungsfläche
windschief zu der gewünschten Soll-Fläche - eine unterschied
liche Gestalt aufweisen. Daraus ergibt sich unmittelbar eine
die Fehlpräparation anzeigende Prüfstruktur.
Claims (9)
1. Optisches Endstück (1) zum endseitigen Anschluß eines oder
mehrerer Lichtwellenleiter (4) mit einer Kopplungsfläche
(1b), an der der oder die Lichtwellenleiter (4) endet/enden,
dadurch gekennzeichnet, daß
das Endstück (1) zumindest eine Prüfstruktur (12) mit
zumindest zwei Flächenabschnitten (15a, 15b) aufweist, daß
beide Flächenabschnitte (15a, 15b) in einem dem Betrage nach
gleichen, von 90° verschiedenen Winkel zu einer Soll-Fläche
(SF) stehen, wobei bei winkelfehlerfreier Ausbildung die
Kopplungsfläche (1b) zumindest parallel zu der Soll-Fläche
(SF) entsteht, und daß die Flächenabschnitte (15a, 15b) bei
winkelfehlerhafter Ausbildung der Kopplungsfläche (1b)
unterschiedlich sind.
2. Endstück nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Prüfstruktur (12) zwei Teilstrukturen (14a, 14b) umfaßt.
3. Endstück nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Teilstrukturen (14a, 14b) symmetrisch zur Längssymme
trieebene (L) der Soll-Fläche (SF) ausgebildet sind.
4. Endstück nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Prüfstruktur (12) oder die Teilstrukturen (14a, 14b) Aus
nehmungen sind.
5. Endstück nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Prüfstruktur oder die Teilstrukturen Erhebungen (20)
sind.
6. Endstück nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Prüfstruktur (12) oder die Teilstrukturen (14, 14b) eine
pyramiden- oder pyramidenstumpfförmige Gestalt haben.
7. Endstück nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Prüfstruktur (50a, 50b) oder die Teilstrukturen eine
kegel- oder kegelstumpfförmige Gestalt haben.
8. Endstück nach einem der Ansprüche 4 bis 7,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Ausnehmungen oder Erhebungen zur Aufnahme von
Zentriermitteln (18, 19) ausgebildet sind.
9. Verfahren zum Prüfen der Kopplungsfläche eines optischen
Endstücks zum endseitigen Anschluß eines oder mehrerer
Lichtwellenleiter (4) auf winkelkorrekte Ausbildung in bezug
auf eine Soll-Fläche (SF),
- 1. bei dem das Endstück (1) mit zumindest einer Prüfstruktur (12) versehen wird und
- 2. bei dem zumindest zwei Flächenabschnitte (15a, 15b) der Prüfstruktur (12) bei der Bearbeitung oder Erzeugung der Kopplungsfläche (1b) mitbearbeitet werden, wobei die Flächenabschnitte (15a, 15b) derart gestaltet werden,
- 3. daß bei winkelfehlerhafter Abweichung der erzeugten Kopp lungsfläche (1b) von der Soll-Fläche (SF) durch die Prüfstruktur (12) eine optisch erkennbare Fehlanzeige bewirkt wird.
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