DE19633686A1 - Distances and-or spatial coordinates measuring device for moving objects - Google Patents

Distances and-or spatial coordinates measuring device for moving objects

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Abstract

The appliance consists of a light source (1) illuminating a lens system (2) for generating a light pattern (6) on the surface of the object. A camera generates images of the object form which an evaluator determines the distances and/or spatial coordinates by triangulation. For generating the light pattern the lens system has at least one arrangement (3) made up of several mirrors (4). These can be adjusted individually into at least two predetermined positions of tilt. In this way the incident light falling on the mirrors can be reflected in a predetermined direction

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Ver­ fahren zur Vermessung von Entfernungen und/oder räum­ lichen Koordinaten von Gegenständen und/oder deren zeitlicher Änderung nach den Oberbegriffen der An­ sprüche 1 und 6.The invention relates to a device and a Ver drive to measure distances and / or space coordinates of objects and / or their change over time according to the generic terms of the An sayings 1 and 6.

Derartige Vorrichtungen und Verfahren werden insbe­ sondere im Maschinenbau, Automobilbau, Keramikindu­ strie, Schuhindustrie, Schmuckindustrie, Dentaltech­ nik und Humanmedizin (Orthopädie) und weiteren Berei­ chen verwendet.Such devices and methods are esp especially in mechanical engineering, automobile construction, ceramic indu strie, shoe industry, jewelry industry, dental tech nics and human medicine (orthopedics) and other areas chen used.

Die steigenden Forderungen nach einer weitgehend vollständigen Qualitätkontrolle im laufenden Produk­ tionsprozeß sowie nach der Digitalisierung der Raum­ form von Prototypen machen die Aufnahme von Oberflä­ chentopografien zu einer immer häufiger gestellten Meßaufgabe. Dabei stellt sich die Aufgabe, die Koor­ dinaten einzelner Punkte der Oberfläche der zu ver­ messenden Gegenstände in kurzer Zeit zu bestimmen. Es gibt unterschiedliche Ansätze, sowohl das Zeit- als auch das Antastproblem durch den Einsatz optischer Meßverfahren zu lösen. Der Vorteil optischer Meßver­ fahren liegt in der berührungslosen und damit rück­ wirkungsfreien Messung sowie darin, daß die Informa­ tionen über das Objekt in bildhafter Form und damit leicht verständlich vorliegen. Zu diesen optischen Meßverfahren gehört die Streifenprojektionstechnik einschließlich der Gray-Code-Technik, das Moir´-Ver­ fahren, das holografische und Speckle-Contouring so­ wie die Fotogrammetrie.The increasing demands for a largely complete quality control in the running product tion process and after digitization of the room prototypes take up the surface  Chentopographies on an increasingly frequently asked Measurement task. The task arises, the Koor Dinates individual points on the surface of the ver to determine measuring objects in a short time. It are different approaches, both the time and also the probing problem due to the use of optical Solve measuring method. The advantage of optical measuring driving lies in the contactless and thus back ineffective measurement and that the informa ions about the object in pictorial form and thus are easy to understand. To these optical The strip projection technique belongs to measuring methods including the Gray code technique, the Moir'-Ver drive, the holographic and speckle contouring like that like photogrammetry.

Charakteristisch für diese Verfahren ist, daß die interessierenden Meßgrößen, die Raumkoordinaten der Oberfläche von Gegenständen, indirekt aus Phasenmeß­ werten in Schnittlinienbildern von Lichtmustern, bei­ spielsweise Streifenmustern, die auf das Objekt pro­ jiziert werden, aus Phasenmeßwerten in Moir´s, aus Koordinaten der Durchstoßungspunkten von Beobach­ tungsstrahlen durch die Empfängerebene und/oder aus Parametern bestimmt werden, die die Geometrie der Meßanordnung, d. h. die Lichtquellen, optischen Bau­ elemente sowie die Bildaufzeichnungsvorrichtung cha­ rakterisieren. Sind die Geometrieparameter der Meß­ anordnung bekannt, kann man aus drei linear vonein­ ander unabhängigen Phasenmeßwerten und/oder Bild- bzw. Pixelkoordinaten die Koordinaten der Meßpunkte auf der Oberfläche des Gegenstandes in einem Sensorkoor­ dinatensystem durch Triangulation berechnen. It is characteristic of these processes that the Measured variables of interest, the spatial coordinates of the Surface of objects, indirectly from phase measurement evaluate in cut line images of light patterns, at for example stripe patterns that per object be extracted from phase measurements in Moir´s Coordinates of the observation points of Obach tion beams through the receiver plane and / or out Parameters that determine the geometry of the Measuring arrangement, d. H. the light sources, optical construction elements and the image recording device cha characterize. Are the geometry parameters of the meas known arrangement, you can linearly from three other independent phase measurements and / or image or Pixel coordinates the coordinates of the measuring points the surface of the object in a sensor bog Calculate the dinate system by triangulation.  

Zur Erzeugung der Lichtmuster werden unterschiedliche Projektionstechniken eingesetzt, beispielsweise pro­ grammierbare LCD-Projektoren, verschiebliche Glasträ­ ger mit unterschiedlichen Gitterstrukturen in einem Projektor, eine Kombination eines elektrisch schalt­ baren Gitters und einer mechanischen Verschiebeein­ richtung oder auch die Projektion von Einzelgittern auf der Basis von Glasträgern.Different are used to generate the light patterns Projection techniques used, for example pro grammable LCD projectors, sliding glass stripes with different lattice structures in one Projector, a combination of an electric switch bar and a mechanical shift direction or the projection of individual grids on the basis of glass supports.

Aus der DE 42 38 581 A1 ist ein Verfahren zur Erzeu­ gung von Linienmustern unter Einsatz eines aus Flüs­ sigkristallzellen aufgebauten Verlaufsgitters be­ kannt. Dieses Gitter wird zwischen die Lichtquelle und den Gegenstand, der vermessen werden soll, ge­ bracht, so daß der Gegenstand mit dem gewünschten Verlaufsgitter beleuchtet wird. Nachteilig an derar­ tigen LCD-Projektoren ist, daß die Breite der auf lös­ baren Einzelstrukturen im allgemeinen < 50 µm ist und sich daher eine relativ große Bauweise ergibt. Wei­ terhin sind bei Einsatz von LCD-Gittern Schaltzeiten von < 200 ms zwischen zwei unterschiedlichen Projek­ tionsstrukturen aufgrund der relativ langsamen Um­ orientierung der einzelnen Flüssigkristalle kaum rea­ lisierbar. Aus demselben Grund sind beim Wechsel zwi­ schen verschiedenen Lichtmustern störende Relaxa­ tionserscheinungen zu beobachten.DE 42 38 581 A1 describes a method for generating line patterns using one of rivers sig crystal cells constructed gradient mesh knows. This grid is between the light source and the object to be measured, ge brings so that the object with the desired Gradient grid is illuminated. A disadvantage of derar term LCD projectors is that the width of the resolution baren individual structures is generally <50 microns and there is therefore a relatively large construction. Wei furthermore, switching times are when using LCD grids of <200 ms between two different projects tion structures due to the relatively slow Um orientation of the individual liquid crystals hardly rea lisable. For the same reason, when switching between Relaxa interfering with different light patterns to observe symptoms.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Vor­ richtung und ein Verfahren zur Verfügung zu stellen, mit dem beliebige strukturierte Lichtmuster auf Ge­ genständen mit hoher räumlicher Auflösung sowie kur­ zen Wechselzeiten zwischen verschiedenen Lichtmustern erzeugt werden können. The object of the present invention is to provide a to provide direction and a method with any structured light pattern on Ge objects with high spatial resolution and cure zen changing times between different light patterns can be generated.  

Diese Aufgabe wird durch die Vorrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie das Verfahren nach dem Oberbegriff des Anspruchs 6 in Verbindung mit ihren kennzeichnenden Merkmalen gelöst.This task is performed by the device according to the Preamble of claim 1 and the method according to the preamble of claim 6 in conjunction with solved their characteristic features.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist durch eine An­ ordnung aus mehreren Spiegeln gekennzeichnet, die einzeln, gegebenenfalls durch eine Steuerschaltung einzeln ansteuerbar, in verschiedene Kippstellungen gebracht werden können. Erfindungsgemäß sind unter dem Begriff "Spiegel" jegliche reflektiven optischen Bauelemente zu verstehen. Durch die Auswahl der Kipp­ stellungen der einzelnen Spiegel werden die von der Lichtquelle erzeugten Lichtstrahlen in unterschiedli­ che Richtungen reflektiert. Durch geeignete Ansteue­ rung der einzelnen Spiegel kann auf dem zu vermessen­ den Gegenstand ein lediglich durch die Größe und An­ zahl der Spiegel in der Auflösung bestimmtes Licht­ muster erzeugt werden, wobei jeder von einem Spiegel reflektierte und auf den Gegenstand auftreffende Lichtstrahl einen Lichtpunkt bzw. -fleck zu dem Lichtmuster beiträgt. Soll ein reflektierter Licht­ strahl keinen Lichtpunkt erzeugen, so kann der Spie­ gel so eingestellt werden, daß der reflektierte Lichtstrahl an dem Gegenstand vorbei geführt wird.The device according to the invention is by an order characterized from several mirrors that individually, possibly by a control circuit individually controllable, in different tilt positions can be brought. According to the invention are under the term "mirror" any reflective optical Understand components. By choosing the tilt positions of the individual mirrors are those of the Light source generated light rays in different ways directions reflected. Through suitable control The individual mirror can be measured on the the object only by the size and type number of mirrors in the resolution specific light patterns are created, each from a mirror reflected and striking the object Beam of light a point of light or spot to that Light pattern contributes. Should be a reflected light beam can not generate a spot of light, so the game gel can be set so that the reflected Beam of light is guided past the object.

Durch die erfindungsgemäße Vorrichtung ist es folg­ lich möglich, ohne mechanischen Umbau unterschied­ lichste Lichtmuster, im allgemeinen Gitterstrukturen, auf den zu vermessenden Gegenstand zu projizieren und damit Triangulationsverfahren, beispielsweise die Streifenprojektionstechnik einschließlich der Gray- Code-Technik, das Moir´-Verfahren sowie die Fotogram­ metrie sowie Kombinationen dieser Verfahren anzuwen­ den. It follows from the device according to the invention possible, without mechanical modification light patterns, generally lattice structures, project onto the object to be measured and thus triangulation processes, for example the Fringe projection technology including the gray Code technology, the Moir method and the photo frame metry and combinations of these methods the.  

Die Lichtausbeute bei der Generierung von struktu­ rierten Lichtmustern aus dem von einer Lichtquelle erzeugten und auf die Anordnung von Spiegeln proji­ zierten Licht ist erheblich höher als beim Einsatz von Flüssigkristall-Gittern, da zur Generierung der Lichtmuster keine absorbierenden Strukturen sondern reflektierende Spiegel in den Strahlengang eingesetzt werden.The luminous efficacy when generating struktu generated light patterns from that of a light source generated and projected on the arrangement of mirrors graced light is considerably higher than when used of liquid crystal gratings, since it is used to generate the Light patterns not absorbing structures but reflective mirrors used in the beam path will.

Vorteilhafte Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahrens und der erfindungsgemäßen Vorrichtung wer­ den in den abhängigen Ansprüchen gegeben.Advantageous further developments of the invention Method and the device according to the invention who given in the dependent claims.

Die oben beschriebenen Verfahren, die mit Hilfe einer Triangulation zur Bestimmung von räumlichen Koordina­ ten von Gegenständen verwendet werden, können mit Hilfe des erfindungsgemäßen Verfahrens besonders vor­ teilhaft verwendet und auch miteinander kombiniert werden. Die Verwendung von Anordnungen mit Mikrospie­ geln, sogenannte Mikrospiegelarrays, ermöglicht nied­ rige Schaltzeiten von unter 10 µs, so daß eine Pro­ jektion in Zeiten schneller als Videoechtzeit möglich ist und auch bewegte Objekte bei Einsatz von Hochgeschwindigkeitskameras zur Datenaufnahme vermes­ sen werden können. Mikrospiegelarrays, die bisher ausschließlich im Bereich der Telekommunikation ein­ gesetzt werden, besitzen derzeit einen Flächen Füll­ faktor von 95%, d. h. verspiegelte Fläche zu Gesamt­ fläche des Arrays, und zeigen damit eine bessere Flä­ chennutzung als herkömmliche Gitter erzeugende Ele­ mente. Weiterhin können die Mikrospiegel so klein erzeugt werden, daß eine sehr hohe räumliche und, aufgrund der geringen Schaltzeiten, zeitliche Auflö­ sung erreicht wird. The procedures described above using a Triangulation to determine spatial coordina objects can be used with With the help of the method according to the invention partly used and also combined with each other will. The use of microspie arrays gel, so-called micromirror arrays, enables low switching times of less than 10 µs, so that a Pro injection at times faster than real-time video is and also moving objects when using High-speed cameras for data acquisition can be sen. Micromirror arrays, so far exclusively in the field of telecommunications currently have an area fill factor of 95%, d. H. mirrored area to total area of the array, and thus show a better area use as conventional grid-producing elements ment. Furthermore, the micromirrors can be so small be generated that a very high spatial and, due to the short switching times, temporal resolution solution is reached.  

Besonders kurze Schaltzeiten lassen sich erzielen, wenn die Mikrospiegel um eine Achse um einen fest vorgegebenen Winkel zwischen zwei Stellungen gekippt werden. In diesem Falle wird die Anordnung von Mikro­ spiegeln so bezüglich der Lichtquelle und des zu ver­ messenden Objektes ausgerichtet, daß in einer der Kippstellungen das einfallende Licht von dem Mikro­ spiegel auf den Gegenstand und in der anderen Kipp­ stellung das einfallende Licht an dem Gegenstand vor­ bei reflektiert wird. Durch eine geeignete Ansteue­ rung der einzelnen Mikrospiegel können so Zeilen und Spalten bzw. weitere beliebige Formen von Hell- und Dunkelbereichen erzeugt werden.Particularly short switching times can be achieved when the micromirror is fixed around an axis around one predetermined angle between two positions will. In this case, the arrangement of micro so reflect with respect to the light source and the ver measuring object aligned that in one of the Tilt the incident light from the mic mirror on the object and in the other tilt position the incident light on the object at being reflected. With a suitable control lines and Columns or any other forms of light and Dark areas are generated.

Im folgenden werden beispielhafte Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Vorrichtung und des erfindungs­ gemäßen Verfahrens dargestellt.The following are exemplary embodiments the device of the invention and the fiction according to the procedure.

Fig. 1 zeigt den Beleuchtungsteil einer er­ findungsgemäßen Vorrichtung. Fig. 1 shows the lighting part of a device according to the invention.

Fig. 1 zeigt die Erzeugung eines Kreuzgitters 6 aus Hell- und Dunkelbereichen mit dem Beleuchtungsteil einer erfindungsgemäßen Vorrichtung. Ein Projektor 1 erzeugt als Lichtquelle einen Lichtstrahl, der quer zu seiner Ausbreitungsrichtung flächig ausgedehnt ist. Dieser Lichtstrahl wird durch eine Kondensorlin­ se 2 auf eine Anordnung 3 aus Mikrospiegeln 4 proji­ ziert. An diesen Mikrospiegeln wird das einfallende Licht reflektiert und über ein weiteres optisches System 5 auf das zu vermessende Objekt abgebildet. Jeder einzelne Mikrospiegel kann um eine Achse um einen fest vorgegebenen Winkel ± α gekippt werden. Jeder Spiegel kann folglich zwei Kippstellungen ein­ nehmen. Derartige Anordnungen werden daher auch als digitale Mikrospiegelarrays abgezeichnet. Fig. 1 shows the generation of a cross grating 6 of the light and dark with the illumination part of a device according to the invention. A projector 1 generates a light beam as a light source, which is extended across the surface in a direction transverse to its direction of propagation. This light beam is projected by a condenser lens 2 onto an arrangement 3 of micromirrors 4 . The incident light is reflected on these micromirrors and imaged onto the object to be measured via a further optical system 5 . Each individual micromirror can be tilted around an axis by a predetermined angle ± α. Each mirror can therefore take two tilt positions. Such arrangements are therefore also shown as digital micromirror arrays.

Die Ansteuerung jedes Mikrospiegels erfolgt unabhän­ gig vom Nachbarspiegel mit Hilfe einer Schaltelektro­ nik, die wiederum durch einen Mikroprozessor gesteu­ ert werden kann.Each micromirror is controlled independently gig from the neighboring mirror with the help of a switching electric nik, which in turn is controlled by a microprocessor can be learned.

Je nach eingestellter Kippstellung des Mikrospiegels lenkt dieser das auf ihn auftreffende Licht in die Pupille des optischen Abbildungssystems 5 oder daran vorbei. Bei Reflexion in die Pupille des Abbildungs­ systems erscheint der damit ausgeleuchtete Objektbe­ reich hell (Kippwinkel + α), in anderem Fall er­ scheint der entsprechende Objektbereich dunkel (Kipp­ winkel - α). Durch die freie Adressierbarkeit jedes Mikrospiegels sind folglich beliebige strukturierte Lichtmuster, beispielsweise aus einzelnen Lichtflecken von einzelnen Mikrospiegeln aufgebaute Streifen­ muster oder Kreuzgitter, generierbar und können auf das zu vermessende Objekt projiziert werden.Depending on the set tilt position of the micromirror, it directs the light striking it into the pupil of the optical imaging system 5 or past it. When reflected into the pupil of the imaging system, the object area illuminated with it appears bright (tilt angle + α), in other cases the corresponding object area appears dark (tilt angle - α). Due to the free addressability of each micromirror, any structured light pattern, for example stripe patterns or cross gratings composed of individual light spots from individual micromirrors, can be generated and can be projected onto the object to be measured.

Die Meßwertaufzeichnung, das heißt die Bestimmung der Intensitätsverteilung des von dem Gegenstand in eine CCD-Kamera gestreuten und/oder reflektierten Lichtes, erfolgt synchronisiert mit der Ansteuerung der ein­ zelnen Mikrospiegel 4 der digitalen Mikrospiegelan­ ordnung 3.The measured value recording, that is to say the determination of the intensity distribution of the light scattered and / or reflected by the object in a CCD camera, takes place synchronized with the activation of an individual micromirror 4 of the digital micromirror arrangement 3 .

Dadurch ist eine Berechnung der Objektpunktkoordina­ ten unter Verwendung der ansonsten bekannten Phase-Shift-Technik, der Gray-Code-Technik, der Phase-Step- Technik oder fotogrammetrischer Verfahren bzw. Kom­ binationen dieser einzelnen Techniken und Verfahren möglich. In dem in Fig. 1 gezeigten Beispiel wird ein Kreuzgitter aus dunklen Linien auf den zu vermessen­ den Gegenstand projiziert. Da jeder einzelne Mikro­ spiegel getrennt von den anderen Mikrospiegeln ange­ steuert werden kann, kann jedoch jedes beliebige Lichtpunktmuster auf dem Gegenstand erzeugt werden.This makes it possible to calculate the object point coordinates using the otherwise known phase shift technique, the Gray code technique, the phase step technique or photogrammetric methods or combinations of these individual techniques and methods. In the example shown in FIG. 1, a cross grid of dark lines is projected onto the object to be measured. Since each individual micromirror can be controlled separately from the other micromirrors, however, any light spot pattern can be generated on the object.

Claims (17)

1. Vorrichtung zur Vermessung von Entfernungen und/oder räumlichen Koordinaten von Gegenständen und/oder deren zeitlicher Änderung mit minde­ stens einer Lichtquelle (1) zur Erzeugung von Licht, einer von der Lichtquelle (1) beleuchte­ ten abbildenden Optik (2, 3) zur Erzeugung struk­ turierter Lichtmuster (6) auf der Oberfläche der Gegenstände, einer Aufnahmevorrichtung zur Er­ zeugung von Bildern der Oberfläche der Gegen­ stände und einer Auswerteeinheit zur Bestimmung der Entfernungen und/oder räumlichen Koordinaten durch Triangulation aus den genannten Bildern, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung des Lichtmusters auf der Ober­ fläche der Gegenstände die abbildende Optik (2, 3) mindestens eine Anordnung (3) aus mehreren Spiegeln (4) aufweist, die einzeln in eine vor­ bestimmte von mindestens zwei voneinander ver­ schiedenen Kippstellungen so einstellbar sind, daß jeder Spiegel (4) das auf ihn auftreffende Licht in eine vorbestimmte Richtung reflektiert.1. Device for measuring distances and / or spatial coordinates of objects and / or their change over time with at least one light source ( 1 ) for generating light, one of the light source ( 1 ) illuminated th imaging optics ( 2 , 3 ) for Generation of structured light patterns ( 6 ) on the surface of the objects, a recording device for generating images of the surface of the objects and an evaluation unit for determining the distances and / or spatial coordinates by triangulation from the images mentioned, characterized in that for generation of the light pattern on the upper surface of the objects, the imaging optics ( 2 , 3 ) has at least one arrangement ( 3 ) of several mirrors ( 4 ) which are individually adjustable in a predetermined of at least two mutually different tilt positions so that each mirror ( 4 ) reflects the light incident on it in a predetermined direction. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Projektionsvorrichtung (2, 3) mindestens drei Anordnungen (3) aus mehreren Spiegeln (4) aufweist, wobei die mindestens eine Lichtquelle und die mindestens drei Anordnungen so aufeinander ausgerichtet sind, daß jede der mindestens drei Anordnungen mit Licht anderer Wellenlänge belichtet wird. 2. Device according to claim 1, characterized in that the projection device ( 2 , 3 ) has at least three arrangements ( 3 ) from a plurality of mirrors ( 4 ), wherein the at least one light source and the at least three arrangements are aligned so that each which is exposed to at least three arrays with light of a different wavelength. 3. Vorrichtung nach mindestens einem der vorherge­ henden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die mindestens eine Anordnung (3) eine zweidi­ mensionale Anordnung aus mehreren Spiegeln (4) ist.3. Device according to at least one of the preceding claims, characterized in that the at least one arrangement ( 3 ) is a two-dimensional arrangement of several mirrors ( 4 ). 4. Vorrichtung nach mindestens einem der vorherge­ henden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Spiegel (4) Mikrospiegel sind.4. The device according to at least one of the preceding claims, characterized in that the mirrors ( 4 ) are micromirrors. 5. Vorrichtung nach mindestens einem der vorherge­ henden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Spiegel in zwei, um einen vorbestimmten Win­ kel gegeneinander gekippte Stellungen einstell­ bar sind.5. Device according to at least one of the previous existing claims, characterized in that the mirrors in two to a predetermined win Set the tilted positions against each other are cash. 6. Verfahren zur Vermessung von Entfernungen und/ oder räumlichen Koordinaten von Gegenständen und/oder deren zeitlicher Änderung indem ein quer zur Strahlrichtung ausgedehnter Lichtstrahl erzeugt und zur Erzeugung strukturierter Licht­ muster bezüglich seines Querschnitts bereichs­ weise in seiner Intensität moduliert wird, wobei der modulierte Lichtstrahl auf die Oberfläche der Gegenstände projiziert und Bilder der Ober­ fläche des Gegenstandes aufgezeichnet werden und aus diesen Bildern mittels räumlicher Triangu­ lation die Entfernungen und/oder räumlichen Ko­ ordinaten und/oder deren zeitliche Änderung be­ stimmt werden, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung der strukturierten Lichtmuster der Lichtstrahl bezüglich seines Querschnitts bereichsweise in unterschiedliche vorbestimmte Richtungen reflektiert wird. 6. Method for measuring distances and / or spatial coordinates of objects and / or their change over time by a Light beam extended transversely to the beam direction generated and to produce structured light pattern regarding its cross-sectional area is modulated in intensity, whereby the modulated light beam on the surface the objects are projected and pictures of the waiters area of the object are recorded and from these images using spatial triangu lation the distances and / or spatial co ordinates and / or their changes over time be true characterized, that to generate the structured light pattern the light beam with respect to its cross section in certain predetermined areas Directions is reflected.   7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekenn­ zeichnet, daß strukturierte Lichtmuster (6) un­ terschiedlicher Periode, Form, Grauwertvertei­ lung und/oder Farbe nacheinander erzeugt und auf die Oberfläche des Gegenstandes projiziert wer­ den, die Schnittlinienbilder der Lichtmuster mit der Oberfläche des Gegenstandes aufgezeichnet werden und aus den Schnittlinienbildern die räumlichen Koordinaten bestimmt werden.7. The method according to claim 6, characterized in that structured light patterns ( 6 ) un different period, shape, gray value distribution and / or color successively generated and projected onto the surface of the object who the cut line images of the light pattern with the surface of the object are recorded and the spatial coordinates are determined from the cut line images. 8. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß additive Kreuzgitter als strukturierte Lichtmuster (6) erzeugt werden und die räumlichen Koordinaten mit dem Verfahren der Streifenprojektion und/ oder mittels der Photogrammetrie bestimmt wer­ den.8. The method according to at least one of claims 6 and 7, characterized in that additive cross gratings are generated as structured light patterns ( 6 ) and the spatial coordinates are determined using the method of stripe projection and / or by means of photogrammetry. 9. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß Rechteckgit­ ter unterschiedlicher Periode als strukturierte Lichtmuster erzeugt werden und die räumlichen Koordinaten mit dem Gray-Code-Verfahren bestimmt werden.9. The method according to at least one of claims 6 and 7, characterized in that rectangular grid different period than structured Light patterns are generated and the spatial Coordinates determined using the Gray code method will. 10. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß sinusförmige Gitter mit unterschiedlicher Periode als struk­ turierte Lichtmuster erzeugt werden und die räumlichen Koordinaten mit dem Mehr-Wellenlän­ gen-Verfahren bestimmt werden.10. The method according to at least one of claims 6 and 7, characterized in that sinusoidal Lattice with different periods as a struc tured light patterns are generated and the spatial coordinates with the multi-wavelength gene method can be determined. 11. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß nacheinander strukturierte Lichtmuster mit zueinander jeweils phasenverschobener sinusförmiger Intensitätsver­ teilung erzeugt und auf die Oberfläche des Ge­ genstandes projiziert werden.11. The method according to at least one of claims 6 and 7, characterized in that successively structured light patterns with each other  phase-shifted sinusoidal intensity ver division generated and on the surface of the Ge be projected. 12. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß in zeitlicher Abfolge Lichtmuster aus Rechteckgittern und/oder phasenverschobenen sinusförmigen Gittern erzeugt und auf die Oberfläche des Gegenstandes proji­ ziert werden.12. The method according to at least one of claims 6 and 7, characterized in that in temporal Sequence of light patterns from rectangular grids and / or phase-shifted sinusoidal gratings and projected onto the surface of the object be decorated. 13. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß Lichtmuster mit stochastischer Struktur erzeugt und auf die Oberfläche des Gegenstandes projiziert werden und daß die räumlichen Koordinaten nach dem Ver­ fahren der Photogrammetrie über ein Korrela­ tionsverfahren bestimmt werden.13. The method according to at least one of claims 6 and 7, characterized in that light patterns with a stochastic structure and on the Surface of the object to be projected and that the spatial coordinates after Ver drive the photogrammetry over a correla tion process can be determined. 14. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß nacheinander Lichtmuster mit Licht unterschiedlicher Wellen­ längen erzeugt werden.14. The method according to at least one of claims 6 to 13, characterized in that successively Light pattern with light from different waves lengths are generated. 15. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtmu­ ster farbkodierte Lichtmuster erzeugt werden.15. The method according to at least one of claims 6 to 14, characterized in that as Lichtmu most color-coded light patterns are generated. 16. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtmu­ ster durch eine Kombination aus codiertem Licht­ ansatz und Phaseshiftverfahren codiert werden.16. The method according to at least one of claims 6 to 15, characterized in that the Lichtmu by a combination of coded light approach and phase shift method are coded. 17. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß durch drei Anordnungen (3) einzeln ansteuerbarer und kipp­ barer Spiegel (4) gleichzeitig drei Lichtmuster unterschiedlicher Farben erzeugt und auf die Oberfläche des Gegenstandes projiziert werden.17. The method according to at least one of claims 6 to 16, characterized in that by three arrangements ( 3 ) individually controllable and tiltable mirror ( 4 ) three light patterns of different colors are simultaneously generated and projected onto the surface of the object.
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