DE1250921B - - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/04—Measuring peak values or amplitude or envelope of ac or of pulses
Description
AUSLEGESCHRIFTEDITORIAL
DeutscheKl.: 21 e-36/01 German class: 21 e- 36/01
Nummer: 1 250 921Number: 1 250 921
Aktenzeichen: W 34444 IX d/21 eFile number: W 34444 IX d / 21 e
1 250 921 Anmeldetag: 9. Mai 19631 250 921 Filing date: May 9, 1963
Auslegetag: 28. September 1967Opening day: September 28, 1967
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen des Spitzen-Spitzenwertes von Wechselspannungen verhältnismäßig tiefer Frequenz, welchen eine Störspannung sehr tiefer Frequenz überlagert ist, wobei der Signalweg zwischen der Signalquelle und der eigentlichen Meßeinrichtung mit Hilfe eines Schalters aufgetrennt werden kann.The invention relates to a method for measuring the peak-to-peak value of alternating voltages relatively low frequency, on which an interference voltage of very low frequency is superimposed, with the signal path between the signal source and the actual measuring device with the help of a switch can be separated.
Bei bekannten Meßinstrumenten zum Ermitteln des Spitzenwertes (oder des Spitzen-Spitzenwertes) von Wechselspannungen liegt an einem Kondensator (oder an zwei Kondensatoren) dauernd die zu messende Spannung. Soll nun der Spitzen-Spitzenwert einer Wechselspannung V1 = f (t) gemessen werden (F i g. 1), welcher eine Störspannung V11 — f (/) überlagert ist, dann schaltet man bekanntermaßen, um Fehlmessungen zu vermeiden, vor den eigentlichen Spannungsmesser einen Hochpaß. Dieser ist so ausgelegt, daß die Störspannung V2 = f(t) von dem Spannungsmesser ferngehalten wird. Dieses (selektive) Meßverfahren ist allerdings nicht bei jeder beliebigen Frequenz brauchbar. Insbesondere bei tiefen Frequenzen in der Größenordnung von 1 Hz, denen z. B. eine Störspannung von 0,1 Hz überlagert ist, ist diese Meßmethode wegen der komplizierten und aufwendigen Filter oft nicht anwendbar.In known measuring instruments for determining the peak value (or the peak-peak value) of alternating voltages, the voltage to be measured is continuously applied to one capacitor (or to two capacitors). If the peak-to-peak value of an alternating voltage V 1 = f (t) is now to be measured (FIG. 1), on which an interference voltage V 11 - f (/) is superimposed, it is known to switch in front of the actual voltmeter a high pass. This is designed so that the interference voltage V 2 = f (t) is kept away from the voltmeter. However, this (selective) measuring method cannot be used at any frequency. In particular at low frequencies in the order of 1 Hz, where z. B. an interference voltage of 0.1 Hz is superimposed, this measurement method is often not applicable because of the complicated and expensive filter.
Eine bekannte Vorrichtung zur Messung der Amplitude elektrischer Impulse (deutsche Auslegeschrift 1 138 158) enthält einen Schalter, mit dem der Signalweg zwischen der Signalquelle und der eigentlichen Meßeinrichtung periodisch aufgetrennt wird, wobei der Schalter einen Stromfluß in beiden Richtungen ermöglicht und von den zu messenden Impulsen fremdgesteuert ist. Diese bekannte Vorrichtung hat den Nachteil, daß der zwar nur nach dem Beginn eines Impulses schließende und vor dem Ende eines Impulses wieder öffnende Schalter bei jedem einzelnen auftretenden Impuls in dieser Weise betätigt wird, so daß die Anordnung praktisch kontinuierlich arbeitet und tieffrequente Störspannungen nicht eliminiert.A known device for measuring the amplitude of electrical impulses (German Auslegeschrift 1 138 158) contains a switch that controls the signal path between the signal source and the actual Measuring device is periodically separated, the switch allowing current to flow in both directions and is externally controlled by the pulses to be measured. This known device has the disadvantage that the only closes after the beginning of a pulse and before the end of a pulse re-opening switch is actuated in this way for each individual impulse that occurs, so that the arrangement works practically continuously and does not eliminate low-frequency interference voltages.
Mit dem Verfahren nach der Erfindung kann der Spitzen-Spitzenwert von Wechselspannungen verhältnismäßig tiefer Frequenz, welchen eine Störspannung sehr tiefer Frequenz überlagert ist, bei geringem Aufwand dadurch bestimmt werden, daß der Spitzen-Spitzenwert nicht kontinuierlich, sondern zu beliebig wählbaren, z. B. mehrere Perioden auseinanderliegenden Zeitpunkten nur während einer halben Periode der zu untersuchenden Spannung in an sich bekannter Weise durch Aufladen eines Kondensators auf den positiven Scheitelwert und eines weiteren Kondensators auf den negativen Scheitelwert sowie anschließendes Addieren der beiden Werte gemessen wird.With the method according to the invention, the peak-to-peak value of AC voltages can be relatively low frequency, on which an interference voltage of very low frequency is superimposed, with little effort can be determined by the fact that the peak-to-peak value is not continuous, but too arbitrary selectable, e.g. B. points in time that are several periods apart only during half a period the voltage to be examined in a known manner by charging a capacitor to the positive peak value and a further capacitor to the negative peak value as well as subsequent Adding the two values is measured.
Verfahren zum Messen der Amplitude von
WechselspannungenMethod of measuring the amplitude of
Alternating voltages
Anmelder:Applicant:
Wandel u. Goltermann, ReutlingenWandel and Goltermann, Reutlingen
Als Erfinder benannt:
Dipl.-Ing. Albin Lang, PfullingenNamed as inventor:
Dipl.-Ing. Albin Lang, Pfullingen
An Hand der F ig. 2 bis 4 soll das erfindungsgemäße Verfahren und zwei Anordnungen zur Durchführung desselben beschrieben werden.On the basis of fig. 2 to 4 are intended to describe the method according to the invention and two arrangements for carrying it out of the same to be described.
In Fig. 2 ist eine Wechselspannung V1 = f(t) dargestellt, deren Spitzen-Spitzenwert t/ss gemessen wer-In Fig. 2 an alternating voltage V 1 = f (t) is shown, the peak-to-peak value t / ss of which are measured
ao den soll. Der Einfluß der Störspannung V2 = f{t), welche eine wesentlich tiefere Frequenz hat, soll eliminiert werden. Dazu soll eine Anordnung gemäß Fig. 3 verwendet werden: Im Ausgangszustand sind in dieser Schaltung die Tore T1, T2, T3 und Ti (elek- ao the should. The influence of the interference voltage V 2 = f (t), which has a much lower frequency, should be eliminated. An arrangement according to FIG. 3 is to be used for this purpose: In the initial state, the gates T 1 , T 2 , T 3 and T i (electrical
»5 tronische Schalter) nichtleitend. D"ie Steuerung aller Tore, die im folgenden der besseren Übersichtlichkeit wegen nicht näher erläutert wird, kann über das Steuergerät S von der zu messenden Spannung V1 = f(t) oder von der zu messenden und der Störspannung erfolgen. Zum Zeitpunkt 1 (Fig. 2) beispielsweise werden die Tore T2 und T3 leitend, so daß die Kondensatoren C1 und C2 sich über die Widerstände R1 und R2 entladen. Nach Ablauf der Zeit tk (F i g. 2) öffnen (nichtleitend) diese Tore wieder selbsttätig. Vom Zeitpunkt 2 bis zum Zeitpunkt 3 ist das Tor T1 geschlossen (leitend) und der Kondensator C1 lädt sich auf den Wert Vs t auf. Vom Zeitpunkt 3 bis 4 ist das Tor T1 wieder geöffnet und vom Zeitpunkt 4 bis 5 emeut geschlossen, wodurch sich C2 über die Diode D9 auf die Spannung Vs , auflädt. Vom Zeitpunkt5 bis 6 ist T4 geschlossen, und es wird mit einem hochohmigen Meßinstrument M die über den Kondensatoren C1 und C2 stehende Spannung Vsl + Vs9 = Vss gemessen. — Die nächste Messung kann z. B. nach einigen Perioden entsprechend vorgenommen werden. »5 tronic switches) non-conductive. D "ie control of all the gates which will be explained below for a better clarity unspecified, can be measured and be made of the noise voltage on the control unit S of the voltage to be measured V 1 = f (t) or from the. At time 1 ( Fig. 2) for example, the gates of T 2 and T are conductive so that the capacitors C 1 and C 2 discharge 3 via the resistors R 1 and R 2. After the time t k (F i g. 2) open ( From time 2 to time 3 , gate T 1 is closed (conductive) and capacitor C 1 charges to the value V s t . From time 3 to 4 , gate T 1 is open again and closed again from time 4 to 5 , as a result of which C 2 is charged to voltage V s via diode D 9. From time 5 to 6, T 4 is closed and a high-resistance measuring instrument M is used to measure the capacitors across capacitors C 1 and C 2 standing voltage V sl + V s9 = V ss measured - The next measurement can, for example, after be made according to some periods.
Sollen kleine Wechselspannungen V1 = f{t) gemessen werden, dann stört die verhältnismäßig große Durchlaßspannung der Dioden D1 und D2 in F i g. 3.If small alternating voltages V 1 = f (t) are to be measured, the relatively high forward voltage of the diodes D 1 and D 2 in FIG. 3.
In diesem Fall ist es vorteilhaft, wie in F i g. 4 gezeigt, an Stelle dieser Dioden Schalter (Tore) T5 und Tb zu verwenden. Enthalten die Schalter T5 und T0 In this case, it is advantageous as shown in FIG. 4 to use switches (gates) T 5 and T b instead of these diodes. Contain switches T 5 and T 0
709 649/150709 649/150
Claims (5)
Deutsche Auslegeschriften Nr. 1 025 516, 138 158. Considered publications:
German Auslegeschriften No. 1 025 516, 138 158.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1250921B true DE1250921B (en) | 1967-09-28 |
Family
ID=604449
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEW34444A Pending DE1250921B (en) |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1250921B (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4057754A (en) * | 1976-05-06 | 1977-11-08 | Westinghouse Electric Corporation | Apparatus to measure the eccentricity of a shaft |
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EP0021340A2 (en) * | 1979-06-23 | 1981-01-07 | Kistler Instrumente AG | Apparatus for measuring and evaluating the peak values of a pulsatory voltage signal |
DE3206268A1 (en) * | 1982-02-20 | 1983-09-01 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Arrangement for forming the actual current values of currents with harmonics |
DE3627610A1 (en) * | 1986-08-14 | 1988-02-25 | Max Planck Gesellschaft | SYNCHRONIZED MEASURING AMPLIFIER |
-
0
- DE DEW34444A patent/DE1250921B/de active Pending
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