DE102021211127A1 - Device with an application-specific circuit and method for filter characterization of at least a partial area of a filter device of an application-specific circuit - Google Patents

Device with an application-specific circuit and method for filter characterization of at least a partial area of a filter device of an application-specific circuit Download PDF

Info

Publication number
DE102021211127A1
DE102021211127A1 DE102021211127.0A DE102021211127A DE102021211127A1 DE 102021211127 A1 DE102021211127 A1 DE 102021211127A1 DE 102021211127 A DE102021211127 A DE 102021211127A DE 102021211127 A1 DE102021211127 A1 DE 102021211127A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
filter
signal
filter device
application
specific circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE102021211127.0A
Other languages
German (de)
Inventor
Markus Roeleke
Sebastian Ohnewald
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Priority to DE102021211127.0A priority Critical patent/DE102021211127A1/en
Publication of DE102021211127A1 publication Critical patent/DE102021211127A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/0082—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels
    • H04B17/0085—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels using test signal generators
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2837—Characterising or performance testing, e.g. of frequency response
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2839—Fault-finding or characterising using signal generators, power supplies or circuit analysers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung mit einer anwendungsspezifischen Schaltung mit einer in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Filtereinrichtung (10), wobei eine an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordnete Signalerzeugungseinrichtung (12) derart in Bezug zu der Filtereinrichtung (10) angeordnet und dazu ausgelegt und/oder programmiert ist, während eines vorgegebenen oder festgelegten Testintervalls mindestens ein Testsignal an einen Signaleingang (10a) zumindest eines Teilbereichs der Filtereinrichtung (10) auszugeben, und eine an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordnete Auswerteeinrichtung (14) derart in Bezug zu der Filtereinrichtung (10) angeordnet ist und dazu ausgelegt und/oder programmiert ist, während des Testintervalls als Messinformation zu ermitteln, ob das mindestens eine Testsignal an einem Signalausgang (10b) zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung (10) austritt, und unter Berücksichtigung der ermittelten Messinformation mindestens eine Filtercharakteristik zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung (10) festzulegen. Des Weiteren betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Filtercharakterisierung zumindest eines Teilbereichs einer Filtereinrichtung (10) einer anwendungsspezifischen Schaltung und ein Verfahren zum Betreiben einer Filtereinrichtung (10) einer anwendungsspezifischen Schaltung.The invention relates to a device with an application-specific circuit with a filter device (10) arranged in the application-specific circuit, a signal generating device (12) arranged on or in the application-specific circuit being arranged in relation to the filter device (10) and designed for this purpose and/or is programmed to output at least one test signal to a signal input (10a) of at least one portion of the filter device (10) during a predetermined or specified test interval, and an evaluation device (14) arranged on or in the application-specific circuit in relation to the filter device (10) is arranged and is designed and/or programmed to determine as measurement information during the test interval whether the at least one test signal exits at a signal output (10b) of at least the partial area of the filter device (10), and taking into account the measurement information determined at least one filter characteristic of the partial area of the filter device (10). Furthermore, the invention relates to a method for filter characterization of at least a partial area of a filter device (10) of an application-specific circuit and a method for operating a filter device (10) of an application-specific circuit.

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung mit einer anwendungsspezifischen Schaltung. Ebenso betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Filtercharakterisierung zumindest eines Teilbereichs einer Filtereinrichtung einer anwendungsspezifischen Schaltung und ein Verfahren zum Betreiben einer Filtereinrichtung einer anwendungsspezifischen Schaltung.The invention relates to a device with an application-specific circuit. The invention also relates to a method for filter characterization of at least a partial area of a filter device of an application-specific circuit and a method for operating a filter device of an application-specific circuit.

Stand der TechnikState of the art

Aus dem Stand der Technik ist es bekannt, eine anwendungsspezifische Schaltung (Application-Specific Integrated Circuit, ASIC) mit einer in der anwendungsspezifischen Schaltung integrierten Filtereinrichtung auszustatten.It is known from the prior art to equip an application-specific circuit (ASIC) with a filter device integrated in the application-specific circuit.

Offenbarung der ErfindungDisclosure of Invention

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung mit einer anwendungsspezifischen Schaltung mit den Merkmalen des Anspruchs 1, ein Verfahren zur Filtercharakterisierung zumindest eines Teilbereichs einer Filtereinrichtung einer anwendungsspezifischen Schaltung mit den Merkmalen des Anspruchs 9 und ein Verfahren zum Betreiben einer Filtereinrichtung einer anwendungsspezifischen Schaltung mit den Merkmalen des Anspruchs 10.The invention relates to a device with an application-specific circuit having the features of claim 1, a method for filter characterization of at least a portion of a filter device of an application-specific circuit having the features of claim 9, and a method for operating a filter device of an application-specific circuit having the features of claim 10 .

Vorteile der ErfindungAdvantages of the Invention

Die vorliegende Erfindung schafft verlässliche Möglichkeiten zum Untersuchen von Filtereigenschaften zumindest eines Teilbereichs einer Filtereinrichtung einer anwendungsspezifischen Schaltung, mittels welchen mindestens eine Filtercharakteristik zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung bestimmbar sind. Im Unterschied zu einer herkömmlichen Verwendung mindestens einer schaltungsexternen Einheit zur Untersuchung zumindest des Teilbereichs der in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten/integrierten Filtereinrichtung, bei welcher mindestens eine zur Anbindung der mindestens einen schaltungsexternen Einheit an die Filtereinrichtung verwendete schaltungsexterne Leitung aufgrund ihrer Filterwirkung wie ein unerwünschter weiterer „Filter“ wirkt, weshalb auf diese Weise keine/kaum eine verlässliche Charakterisierung der Filtereinrichtung möglich ist, entfällt dieser Nachteil bei einer Verwendung der vorliegenden Erfindung. Durch die Nutzung der an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Signalerzeugungseinrichtung und der an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Auswerteeinrichtung entfällt die herkömmliche Notwendigkeit zur Verwendung mindestens einer schaltungsexternen Leitung mit Filterwirkung, wodurch eine herkömmliche Fehlerquelle bei der Charakterisierung der Filtereinrichtung mittels der vorliegenden Erfindung umgangen ist. Darum realisiert die vorliegende Erfindung Möglichkeiten zur verlässlichen und genauen Festlegung der mindestens einen Filtercharakteristik zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung.The present invention creates reliable options for examining filter properties of at least one sub-area of a filter device of an application-specific circuit, by means of which at least one filter characteristic of at least the sub-area of the filter device can be determined. In contrast to a conventional use of at least one circuit-external unit for examining at least the partial area of the application-specific circuit arranged/integrated filter device, in which at least one circuit-external line used to connect the at least one circuit-external unit to the filter device, due to its filter effect, like an undesired further " Filter” acts, which is why no/hardly any reliable characterization of the filter device is possible in this way, this disadvantage does not apply when the present invention is used. By using the signal generation device arranged on or in the application-specific circuit and the evaluation device arranged on or in the application-specific circuit, the conventional need to use at least one circuit-external line with a filter effect is eliminated, whereby a conventional source of error in the characterization of the filter device is bypassed by means of the present invention . For this reason, the present invention implements options for reliably and precisely defining the at least one filter characteristic of at least the partial area of the filter device.

Schaltungsexterne Leitungen weisen in der Regel Filterwirkungen oder Filtereigenschaften auf. Insbesondere wirkt eine Vielzahl von schaltungsexternen Leitungen wie ein „Tiefpassfilter“, wobei häufig kurze Pulssignale, wie speziell Pulssignale mit einer Pulslänge bis zu 80 ns (Nanosekunden), von der jeweiligen Leitung „gefiltert“ werden. Dieser herkömmliche Nachteil einer Vielzahl von schaltungsexternen Leitungen kann jedoch mittels einer Nutzung der vorliegenden Erfindung umgangen werden.Lines external to the circuit usually have filter effects or filter properties. In particular, a large number of circuit-external lines act like a "low-pass filter", with short pulse signals, especially pulse signals with a pulse length of up to 80 ns (nanoseconds), often being "filtered" by the respective line. However, this conventional disadvantage of a multitude of circuit-external lines can be circumvented using the present invention.

Ein weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung ist, dass durch die Verwendung der an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Signalerzeugungseinrichtung und der an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Auswerteeinrichtung auch während eines Betriebs der jeweiligen anwendungsspezifischen Schaltung problemlos immer wieder die mindestens eine Filtercharakteristik für zumindest den Teilbereich der Filtereinrichtung neu festgelegt werden kann. Auf diese Weise trägt die vorliegende Erfindung zusätzlich zur Steigerung eines Benutzerkomforts für einen Benutzer der jeweiligen Vorrichtung mit der anwendungsspezifischen Schaltung bei.A further advantage of the present invention is that by using the signal generation device arranged on or in the application-specific circuit and the evaluation device arranged on or in the application-specific circuit, the at least one filter characteristic for at least the sub-area can be easily generated again and again even during operation of the respective application-specific circuit of the filter device can be redefined. In this way, the present invention also contributes to increasing user comfort for a user of the respective device with the application-specific circuit.

Bei einer vorteilhaften Ausführungsform der Vorrichtung mit der anwendungsspezifischen Schaltung ist die Auswerteeinrichtung oder eine Filteransteuereinrichtung der Vorrichtung dazu ausgelegt und/oder programmiert, unter Berücksichtigung zumindest der mindestens einen selbstfestgelegten oder von der Auswerteeinrichtung an die Filteransteuereinrichtung bereitgestellten Filtercharakteristik die Filtereinrichtung derart anzusteuern, dass mindestens eine Filtereigenschaft der Filtereinrichtung neu eingestellt ist. Somit kann die mittels der vorliegenden Erfindung ermöglichte verlässliche Festlegung der mindestens einen Filtercharakteristik zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung dazu genutzt werden, die Filtereinrichtung derart anzusteuern, dass ihre mindestens eine Filtereigenschaft mindestens einer Soll-Filtereigenschaft der Filtereinrichtung entspricht. Dies trägt zur Verbesserung der Funktionsweise der Filtereinrichtung, und damit auch zur Verbesserung des Betriebs der anwendungsspezifischen Schaltung bei.In an advantageous embodiment of the device with the application-specific circuit, the evaluation device or a filter control device of the device is designed and/or programmed to control the filter device in such a way that at least one filter property the filter device is reset. The reliable definition of the at least one filter characteristic of at least the partial area of the filter device made possible by the present invention can thus be used to control the filter device in such a way that its at least one filter property corresponds to at least one target filter property of the filter device. This contributes to improving the functioning of the filter device and thus also to improving the operation of the application-specific circuit.

Vorzugsweise ist die Signalerzeugungseinrichtung dazu ausgelegt und/oder programmiert, während des Testintervalls eine Testfolge von Testsignalen mit mindestens einer variierenden Signaleigenschaft an den Signaleingang zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung auszugeben. Die Auswerteeinrichtung kann in diesem Fall anhand der Messinformation verlässlich erkennen, ab welchem und/oder bis zu welchem Grenzwert der mindestens einen Signaleigenschaft zumindest der Teilbereich der Filtereinrichtung die Testsignale mit einer hohen Wahrscheinlichkeit filtert.The signal generation device is preferably designed and/or programmed to send a test sequence of test signals with at least one varying signal property to the signal input of at least the part during the test interval issue area of the filter device. In this case, the evaluation device can use the measurement information to reliably identify from which and/or up to which limit value of the at least one signal property at least the partial area of the filter device filters the test signals with a high degree of probability.

Beispielsweise kann die Signalerzeugungseinrichtung dazu ausgelegt und/oder programmiert sein, während des Testintervalls als Testfolge von Testsignalen mit der mindestens einen variierenden Signaleigenschaft Testsignale, deren Signalintensität, Frequenz, Signaldauer, Tastverhältnis und/oder Pulslänge variiert, an den Signaleingang zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung auszugeben. Damit kann die mindestens eine Filtercharakteristik zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung für eine Vielzahl von Signaleigenschaften bestimmt werden.For example, the signal generating device can be designed and/or programmed to output test signals whose signal intensity, frequency, signal duration, duty cycle and/or pulse length varies during the test interval as a test sequence of test signals with the at least one varying signal property to the signal input of at least the partial area of the filter device . The at least one filter characteristic of at least the partial area of the filter device can thus be determined for a large number of signal properties.

Die Filtereinrichtung kann einen Tiefpassfilter, einen Hochpassfilter, einen Bandpassfilter und/oder einen Pulsunterdrückungsfilter umfassen. Die vorliegende Erfindung ist damit vielseitig einsetzbar.The filter device can include a low-pass filter, a high-pass filter, a band-pass filter and/or a pulse suppression filter. The present invention is therefore versatile.

Insbesondere kann die Filtereinrichtung den Tiefpassfilter umfassen, wobei die Signalerzeugungseinrichtung dazu ausgelegt und/oder programmiert ist, während des Testintervalls als Testfolge von Testsignalen mit der mindestens einen variierenden Signaleigenschaft eine vorgegebene oder festgelegte Gesamtanzahl von Pulssignalen, deren Pulslänge zwischen zwei nachfolgenden Pulssignalen mit einer vorgegebenen Zeitdifferenz zu- oder abnimmt, an den Signaleingang zumindest des Tiefpassfilters der Filtereinrichtung auszugeben, und wobei die Auswerteeinrichtung einen Pulszähler oder Ereigniszähler umfasst, welcher als Messinformation die an dem Signalausgang zumindest des Tiefpassfilters der Filtereinrichtung austretenden Pulssignale zählt. Anhand der während des Testintervalls mittels des Pulszählers oder Ereigniszähler gezählten Anzahl von Pulssignalen kann dann verlässlich festgelegt werden, ab welchem und/oder bis zu welchem Grenzwert der Pulslänge der Tiefpassfilter mit einer hohen Wahrscheinlichkeit filtert.In particular, the filter device can include the low-pass filter, with the signal generating device being designed and/or programmed to generate a predefined or specified total number of pulse signals during the test interval as a test sequence of test signals with the at least one varying signal property, the pulse length of which varies between two subsequent pulse signals with a predefined time difference increases or decreases to the signal input of at least the low-pass filter of the filter device, and wherein the evaluation device comprises a pulse counter or event counter, which counts the pulse signals emerging at the signal output of at least the low-pass filter of the filter device as measurement information. Based on the number of pulse signals counted during the test interval by means of the pulse counter or event counter, it can then be reliably determined from which and/or up to which limit value of the pulse length the low-pass filter filters with a high degree of probability.

Vorteilhafterweise kann die Auswerteeinrichtung (nur) über einen digitalen Testbus mit dem Signalausgang zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung verbunden sein. Dies ist kostengünstig realisierbar.Advantageously, the evaluation device can be connected (only) via a digital test bus to the signal output of at least the partial area of the filter device. This can be implemented inexpensively.

Bevorzugter Weise sind die Signalerzeugungseinrichtung und/oder die Auswerteeinrichtung innerhalb der Filtereinrichtung angeordnet. Auch auf diese Weise kann auf die Verwendung einer Leitungskomponente mit Filterwirkung zwischen der Filtereinrichtung und der Signalerzeugungseinrichtung und/oder zwischen der Filtereinrichtung und der Auswerteeinrichtung verzichtet werden.The signal generation device and/or the evaluation device are preferably arranged within the filter device. In this way, too, the use of a line component with a filter effect between the filter device and the signal generation device and/or between the filter device and the evaluation device can be dispensed with.

Die vorausgehend beschriebenen Vorteile sind auch bei einem Ausführen eines entsprechenden Verfahrens zur Filtercharakterisierung zumindest eines Teilbereichs einer Filtereinrichtung einer anwendungsspezifischen Schaltung gewährleistet. Des Weiteren schafft auch ein Ausführen eines korrespondierenden Verfahrens zum Betreiben einer Filtereinrichtung einer anwendungsspezifischen Schaltung die oben erläuterten Vorteile. Es wird ausdrücklich darauf hingewiesen, dass beide Verfahren gemäß den oben erläuterten Ausführungsformen der anwendungsspezifischen Schaltung weitergebildet werden können.The advantages described above are also guaranteed when executing a corresponding method for filter characterization of at least a partial area of a filter device of an application-specific circuit. Furthermore, executing a corresponding method for operating a filter device of an application-specific circuit also creates the advantages explained above. It is expressly pointed out that both methods can be further developed in accordance with the above-explained embodiments of the application-specific circuit.

Figurenlistecharacter list

Weitere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend anhand der Figuren erläutert. Es zeigen:

  • 1a und 1b schematische Darstellungen einer Ausführungsform der Vorrichtung mit der anwendungsspezifischen Schaltung; und
  • 2 ein Flussdiagramm zum Erläutern einer Ausführungsform des Verfahrens zur Filtercharakterisierung zumindest eines Teilbereichs einer Filtereinrichtung einer anwendungsspezifischen Schaltung.
Further features and advantages of the present invention are explained below with reference to the figures. Show it:
  • 1a and 1b schematic representations of an embodiment of the device with the application-specific circuit; and
  • 2 a flow chart for explaining an embodiment of the method for filter characterization of at least a partial area of a filter device of an application-specific circuit.

Ausführungsformen der ErfindungEmbodiments of the invention

1a und 1b zeigen schematische Darstellungen einer Ausführungsform der Vorrichtung mit der anwendungsspezifischen Schaltung. 1a and 1b 12 show schematic representations of an embodiment of the device with the application-specific circuit.

1a und 1b geben zumindest einen Teilbereich der Vorrichtung mit der anwendungsspezifischen Schaltung wieder. Wie in 1a bildlich wiedergegeben ist, umfasst die anwendungsspezifische Schaltung (Application-Specific Integrated Circuit, ASIC) eine Filtereinrichtung 10, welche in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordnet/integriert ist. Es wird ausdrücklich darauf hingewiesen, dass eine Ausbildbarkeit der Filtereinrichtung 10 auf keinen speziellen Filtertyp beschränkt ist. Die Filtereinrichtung 10 kann beispielsweise einen Tiefpassfilter 10, einen Hochpassfilter, einen Bandpassfilter und/oder einen Pulsunterdrückungsfilter umfassen. Die hier aufgezählten Filtertypen sind jedoch nur beispielhaft zu interpretieren. Außerdem kann die Filtereinrichtung 10 auch mehrere Filtertypen aufweisen. 1a and 1b represent at least a portion of the device with the application-specific circuit. As in 1a is depicted, the application-specific circuit (ASIC) comprises a filter device 10, which is arranged/integrated in the application-specific circuit. It is expressly pointed out that the formability of the filter device 10 is not limited to any specific filter type. The filter device 10 can include, for example, a low-pass filter 10, a high-pass filter, a band-pass filter and/or a pulse suppression filter. However, the filter types listed here are only to be interpreted as examples. In addition, the filter device 10 can also have a number of filter types.

Die Vorrichtung hat auch eine Signalerzeugungseinrichtung 12, welche an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordnet ist. Die Signalerzeugungseinrichtung 12 ist dazu ausgelegt und/oder programmiert, während eines vorgegebenen oder (selbst-)festgelegten Testintervalls mindestens ein Testsignal zu generieren. Außerdem ist die Signalerzeugungseinrichtung 12 so in Bezug zu der Filtereinrichtung 10 angeordnet, dass das mindestens eine generierte Testsignal während des Testintervalls an einen Signaleingang 10a zumindest eines Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 ausgegeben wird. Aufgrund der vorteilhaften Anordnung der Signalerzeugungseinrichtung 12 an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung ist damit eine Führung des mindestens einen Testsignals über eine schaltungsexterne Leitungskomponente mit Filterwirkung an den Signaleingang 10a vermieden. Das mindestens eine Testsignal wird somit „unverfälscht“ und „nicht-leitungsgefiltert“ an den Signaleingang 10a zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 ausgegeben.The device also has a signal generating device 12 which is arranged on or in the application specific circuit. The signal generating device 12 is designed and/or programmed for this purpose, during a specified to generate at least one test signal at a (self-)determined test interval. In addition, the signal generating device 12 is arranged in relation to the filter device 10 such that the at least one generated test signal is output during the test interval to a signal input 10a of at least one subregion of the filter device 10 . Due to the advantageous arrangement of the signal generating device 12 on or in the application-specific circuit, routing of the at least one test signal via a circuit-external line component with a filter effect to the signal input 10a is avoided. The at least one test signal is thus output “unadulterated” and “not line-filtered” at the signal input 10a of at least the partial area of the filter device 10 .

Zusätzlich weist die Vorrichtung auch eine Auswerteeinrichtung 14 auf. Auch die Auswerteeinrichtung 14 ist an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordnet. Außerdem ist die Auswerteeinrichtung 14 so in Bezug zu der Filtereinrichtung 10 angeordnet, dass sie ein Austreten von mittels zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 „gefilterten Signalen“ an einem Signalausgang 10b zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 erkennen/detektieren kann. Zusätzlich ist die Auswerteeinrichtung 14 dazu ausgelegt und/oder programmiert, während des Testintervalls als Messinformation zu ermitteln, ob das mindestens eine Testsignal an dem Signalausgang 10b zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 austritt. Des Weiteren ist die Auswerteeinrichtung 14 dazu ausgelegt/programmiert, unter Berücksichtigung der ermittelten Messinformation mindestens eine Filtercharakteristik zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 festzulegen.In addition, the device also has an evaluation device 14 . The evaluation device 14 is also arranged on or in the application-specific circuit. In addition, the evaluation device 14 is arranged in relation to the filter device 10 such that it can recognize/detect the emergence of “filtered signals” by means of at least the partial area of the filter device 10 at a signal output 10b of at least the partial area of the filter device 10. In addition, the evaluation device 14 is designed and/or programmed to determine as measurement information during the test interval whether the at least one test signal exits at the signal output 10b of at least the partial area of the filter device 10 . Furthermore, the evaluation device 14 is designed/programmed to define at least one filter characteristic of at least the partial area of the filter device 10, taking into account the determined measurement information.

Aufgrund der vorteilhaften Anordnung der Auswerteeinrichtung 14 an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung entfällt eine Notwendigkeit zum Übermitteln des mindestens einen an dem Signalausgang 10b zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 austretenden „gefilterten Signals“ über eine schaltungsexterne Leitungskomponente mit Filterwirkung an die Auswerteeinrichtung 14. Deshalb muss auch nicht befürchtet werden, dass die mindestens eine mittels der Auswerteeinrichtung 14 festgelegte Filtercharakteristik aufgrund einer Filterwirkung einer zwischen der Signalerzeugungseinrichtung 12 und zumindest dem Teilbereich der Filtereinrichtung 10 verlaufenden schaltungsexternen Leitungskomponente oder aufgrund einer Filterwirkung einer zwischen zumindest dem Teilbereich der Filtereinrichtung 10 und der Auswerteeinrichtung 14 verlaufenden schaltungsexternen Leitungskomponente ungenau oder fehlerbehaftet ist. Die hier beschriebene Vorrichtung weist somit mittels ihrer Signalerzeugungseinrichtung 12 und ihrer Auswerteeinrichtung 14 Einrichtungen zum genauen und fehlerfreien Festlegen der mindestens einen Filtercharakteristik zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 auf.Due to the advantageous arrangement of the evaluation device 14 on or in the application-specific circuit, there is no need to transmit the at least one "filtered signal" emerging at the signal output 10b of at least the partial area of the filter device 10 via a circuit-external line component with a filter effect to the evaluation device 14. It is therefore also necessary there is no fear that the at least one filter characteristic specified by means of evaluation device 14 may be damaged due to a filter effect of a circuit-external line component running between signal generating device 12 and at least the partial area of filter device 10 or due to a filter effect of a circuit-external line component running between at least the partial area of filter device 10 and evaluation device 14 line component is inaccurate or faulty. The device described here thus has, by means of its signal generation device 12 and its evaluation device 14 , devices for precisely and error-free defining of the at least one filter characteristic of at least the partial area of the filter device 10 .

Die mindestens eine von der Auswerteeinrichtung 14 festgelegte Filtercharakteristik kann beispielsweise mindestens eine Filter-Kennlinie zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 in Abhängigkeit von mindestens einer Signaleigenschaft eines an zumindest den Teilbereich der Filtereinrichtung 10 bereitgestellten Signals, wie insbesondere einer Signalintensität des Signals, einer Frequenz des Signals, einer Signaldauer des Signals, einem Tastverhältnis des Signals und/oder einer Pulslänge/Pulsdauer Δ des Signals, wiedergeben/sein. Bevorzugter Weise umfasst die mindestens eine von der Auswerteeinrichtung 14 festgelegte Filtercharakteristik mindestens einen Grenzwert der Signalintensität, der Frequenz, der Signaldauer, des Tastverhältnisses und/oder der Pulslänge Δ, ab welchem und/oder bis zu welchem zumindest der Teilbereich der Filtereinrichtung 10 ein an zumindest den Teilbereich der Filtereinrichtung 10 bereitgestelltes Signal filtert. Somit kann die mindestens eine Filtercharakteristik zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 von der Auswerteeinrichtung 14 für eine Vielzahl von Signaleigenschaften ermittelt werden. Die hier aufgezählten Beispiele für die mindestens eine von der Auswerteeinrichtung 14 festgelegte Filtercharakteristik sind jedoch nicht abschließend zu interpretieren.The at least one filter characteristic specified by evaluation device 14 can be, for example, at least one filter characteristic of at least the partial area of filter device 10 as a function of at least one signal property of a signal provided to at least the partial area of filter device 10, such as in particular a signal intensity of the signal, a frequency of the signal , a signal duration of the signal, a duty cycle of the signal and/or a pulse length/pulse duration Δ of the signal. The at least one filter characteristic specified by evaluation device 14 preferably includes at least one limit value for the signal intensity, frequency, signal duration, duty cycle, and/or pulse length Δ, from which and/or up to which at least the partial area of filter device 10 has an at least the sub-area of the filter device 10 provided signal filters. The at least one filter characteristic of at least the partial area of the filter device 10 can thus be determined by the evaluation device 14 for a large number of signal properties. However, the examples listed here for the at least one filter characteristic specified by the evaluation device 14 are not to be interpreted conclusively.

Die Auswerteeinrichtung 14 kann beispielsweise (nur) über einen (nicht skizzierten) digitalen Testbus (DTB, Digital Test Bus) mit dem Signalausgang 10b zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 verbunden sein. Dies ist auf kostengünstige Weise realisierbar. Die Auswerteeinrichtung 14 kann eventuell eine SPI-Schnittstelle (SPI, Serial Peripheral Interface) haben, mittels welcher selbst Testsignale mit einer vergleichsweise kurzen Zeitdauer verlässlich detektierbar werden. Wahlweise können die Signalerzeugungseinrichtung 12 und/oder die Auswerteeinrichtung 14 auch innerhalb der Filtereinrichtung 10 angeordnet sein.The evaluation device 14 can be connected, for example, (only) via a digital test bus (DTB, Digital Test Bus) (not shown) to the signal output 10b of at least the partial area of the filter device 10 . This can be implemented in a cost-effective manner. The evaluation device 14 can possibly have an SPI interface (SPI, Serial Peripheral Interface), by means of which even test signals with a comparatively short duration can be reliably detected. Optionally, the signal generation device 12 and/or the evaluation device 14 can also be arranged within the filter device 10 .

Wie in 1b erkennbar ist, kann die Auswerteeinrichtung 14 beispielsweise einen Flip-Flop 16 aufweisen, mittels welchem selbst vergleichsweise kurze Testsignale an einem Flip-Flop-Eingang 16a in gut detektierbare Signale an einen Flip-Flop-Ausgang 16b umwandelbar sind. Mittels eines optionalen Enable-Signals, welches an einen zusätzlichen Signaleingang 16c des einen Flip-Flops 16 bereitgestellt wird, kann sichergestellt werden, dass der Flip-Flop 16 zwischen zwei nachfolgenden Testsignalen wieder auf Null gestellt wird.As in 1b As can be seen, the evaluation device 14 can have a flip-flop 16, for example, by means of which even comparatively short test signals at a flip-flop input 16a can be converted into easily detectable signals at a flip-flop output 16b. An optional enable signal, which is provided at an additional signal input 16c of one flip-flop 16, can be used to ensure that the flip-flop 16 is set to zero again between two subsequent test signals.

Als vorteilhafte Weiterbildung kann die Auswerteeinrichtung 14 zusätzlich noch dazu ausgelegt und/oder programmiert sein, unter Berücksichtigung zumindest der einen selbstfestgelegten Filtercharakteristik die Filtereinrichtung 10 mittels mindestens eines Steuersignals 18 derart anzusteuern, dass mindestens eine Filtereigenschaft der Filtereinrichtung 10 neu eingestellt ist/wird. Auf diese Weise kann die mindestens eine Filtereigenschaft der Filtereinrichtung 10 so neu eingestellt werden, dass eine Funktionsweise der Filtereinrichtung 10 einem gewünschten Betrieb der anwendungsspezifischen Schaltung entspricht. Insbesondere kann der Auswerteeinrichtung 14 mindestens eine Soll-Filtercharakteristik der Filtereinrichtung 10 vorgegeben sein, wonach die Auswerteeinrichtung 14 die Filtereinrichtung 10 mittels des mindestens einen Steuersignals 18 derart neu einstellt, dass die mindestens eine Filtereigenschaft der Filtereinrichtung 10 der mindestens einen Soll-Filtercharakteristik entspricht. Optionaler Weise kann die Vorrichtung mit der anwendungsspezifischen Schaltung auch eine (nicht dargestellte) Filteransteuereinrichtung aufweisen, welche gegebenenfalls dazu ausgelegt/programmiert ist, unter Berücksichtigung zumindest der mindestens einen von der Auswerteeinrichtung 14 an die Filteransteuereinrichtung bereitgestellten Filtercharakteristik die Filtereinrichtung 10 derart anzusteuern, dass die mindestens eine Filtereigenschaft der Filtereinrichtung 10 neu eingestellt ist/wird. Auch die Filteransteuereinrichtung kann auf diese Weise gewährleisten, dass die mindestens eine Filtereigenschaft der Filtereinrichtung 10 mindestens einer der Filteransteuereinrichtung vorgegebenen Soll-Filtercharakteristik entspricht.As an advantageous development, evaluation device 14 can also be designed and/or programmed to control filter device 10 by means of at least one control signal 18, taking into account at least one self-defined filter characteristic, in such a way that at least one filter property of filter device 10 is/is reset. In this way, the at least one filter property of the filter device 10 can be reset in such a way that a mode of operation of the filter device 10 corresponds to a desired operation of the application-specific circuit. In particular, at least one setpoint filter characteristic of filter device 10 can be specified for evaluation device 14, after which evaluation device 14 readjusts filter device 10 using the at least one control signal 18 such that the at least one filter property of filter device 10 corresponds to the at least one setpoint filter characteristic. Optionally, the device with the application-specific circuit can also have a filter control device (not shown), which is optionally designed/programmed to control the filter device 10, taking into account at least the at least one filter characteristic provided by the evaluation device 14 to the filter control device, in such a way that the at least a filter property of the filter device 10 is/is newly set. The filter control device can also ensure in this way that the at least one filter property of the filter device 10 corresponds to at least one setpoint filter characteristic specified for the filter control device.

Vorzugsweise ist die Signalerzeugungseinrichtung 12 dazu ausgelegt und/oder programmiert, während des Testintervalls eine Testfolge von (mehreren) Testsignalen mit mindestens einer variierenden Signaleigenschaft an den Signaleingang 10a zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung 10 auszugeben. Die Testfolge kann eine der Signalerzeugungseinrichtung 12 fest vorgegebenen Testfolge sein, wobei bevorzugter Weise in diesem Fall auch der Auswerteeinrichtung 14 eine Information bezüglich der mindestens einen variierenden Signaleigenschaft der Testfolge vorliegt. Die Auswerteeinrichtung 14 erkennt in diesem Fall anhand eines „Fehlens“ mindestens eines der Testsignale der Testfolge unter den an dem Signalausgang 10b austretenden „gefilterten Signalen“ leicht und verlässlich, ab welchem und/oder bis zu welchem Grenzwert der mindestens einen Signaleigenschaft zumindest der Teilbereich der Filtereinrichtung 10 mit einer hohen Wahrscheinlichkeit filtert. Die mindestens eine variierende Signaleigenschaft der Testfolge kann beispielsweise eine Signalintensität, eine Frequenz, eine Signaldauer, ein Tastverhältnis und/oder eine Pulslänge Δ der Testsignale der Testfolge sein. Es wird hier jedoch darauf hingewiesen, dass die genannten Beispiele für die mindestens eine variierende Signaleigenschaft der Testfolge nicht abschließend zu interpretieren sind.The signal generation device 12 is preferably designed and/or programmed to output a test sequence of (several) test signals with at least one varying signal property to the signal input 10a of at least the partial area of the filter device 10 during the test interval. The test sequence can be a test sequence predefined for the signal generating device 12, wherein in this case the evaluation device 14 preferably also has information regarding the at least one varying signal property of the test sequence. In this case, the evaluation device 14 easily and reliably recognizes, based on a "missing" at least one of the test signals of the test sequence among the "filtered signals" emerging at the signal output 10b, from which and/or up to which limit value of the at least one signal property at least the partial area of the Filter device 10 filters with a high probability. The at least one varying signal property of the test sequence can be, for example, a signal intensity, a frequency, a signal duration, a duty cycle and/or a pulse length Δ of the test signals of the test sequence. However, it is pointed out here that the examples given for the at least one varying signal property of the test sequence are not to be interpreted conclusively.

Sofern der Signalerzeugungseinrichtung 12 eine Gesamtanzahl von Testsignalen der Testfolge fest vorgegeben ist, ist unter dem Testintervall ein vorgegebenes Zeitintervall zu verstehen. Alternativ kann die Signalerzeugungseinrichtung 12 jedoch auch dazu ausgelegt sein, die Testfolge von Testsignalen solange zu generieren, bis sie von der Auswerteeinrichtung 14 ein Signal bezüglich einer Detektion einer vorgegebenen Soll-Anzahl von Testsignalen mittels der Auswerteeinrichtung 14 empfängt. In diesem Fall ist das Testintervall ein von der Signalerzeugungseinrichtung 12 festgelegtes oder abgewartetes Testintervall.If a total number of test signals of the test sequence is permanently specified for the signal generation device 12, the test interval is to be understood as a specified time interval. Alternatively, however, the signal generation device 12 can also be designed to generate the test sequence of test signals until it receives a signal from the evaluation device 14 relating to a detection of a predefined target number of test signals by the evaluation device 14 . In this case, the test interval is a test interval specified or awaited by the signal generating device 12 .

Bei der Ausführungsform der 1a und 1b ist die Filtereinrichtung 10 beispielhaft ein Tiefpassfilter 10. Für eine effektive Nutzung des Tiefpassfilters 10 ist es vorteilhaft, mit hoher Genauigkeit zu wissen, welchen Bereich von Pulslängen Δ der Tiefpassfilter 10 filtert. Darum ist die Signalerzeugungseinrichtung 12 dazu ausgelegt/programmiert, während des Testintervalls als Testfolge von Testsignalen mit der mindestens einen variierenden Signaleigenschaft eine vorgegebene oder festgelegte Gesamtanzahl von Pulssignalen, deren Pulslänge Δ zwischen zwei nachfolgenden Pulssignalen mit einer vorgegebenen Zeitdifferenz zu- oder abnimmt, an den Signaleingang 10a des Tiefpassfilters 10 auszugeben. Beispielsweise kann die Signalerzeugungseinrichtung 12 eine Testfolge von Testsignalen generieren, deren erstes Testsignal eine Pulslänge Δ von 10 ns (Nanosekunden) und deren letztes Testsignal eine Pulslänge Δ von 100 ns (Nanosekunden) umfasst, wobei die Pulslänge Δ zwischen zwei nachfolgenden Pulssignalen mit der vorgegebenen Zeitdifferenz von 1 ns (Nanosekunden) zunimmt. Auf diese Weise kann die Filtercharakteristik des Tiefpassfilters 10 mit einer Genauigkeit von 1 ns (Nanosekunden) selbst für extrem kurze Pulssignale bestimmt werden.In the embodiment of 1a and 1b For example, the filter device 10 is a low-pass filter 10. For effective use of the low-pass filter 10, it is advantageous to know with great accuracy which range of pulse lengths Δ the low-pass filter 10 filters. For this reason, the signal generating device 12 is designed/programmed during the test interval as a test sequence of test signals with the at least one varying signal property to send a specified or specified total number of pulse signals whose pulse length Δ between two subsequent pulse signals increases or decreases with a specified time difference to the signal input 10a of the low-pass filter 10 to output. For example, the signal generating device 12 can generate a test sequence of test signals, the first test signal of which has a pulse length Δ of 10 ns (nanoseconds) and the last test signal of which has a pulse length Δ of 100 ns (nanoseconds), the pulse length Δ between two subsequent pulse signals with the specified time difference increases from 1 ns (nanoseconds). In this way, the filter characteristic of the low-pass filter 10 can be determined with an accuracy of 1 ns (nanoseconds) even for extremely short pulse signals.

Die Auswerteeinrichtung 14 umfasst einen Pulszähler oder einen Ereigniszähler (Event Monitor), welcher als Messinformation die an dem Signalausgang 10b des Tiefpassfilters 10 austretenden Pulssignale zählt. Die während des Testintervalls mittels des Pulszählers oder Ereigniszählers gezählte Anzahl von Pulssignalen gibt verlässlich darüber Auskunft, bis zu welchem Grenzwert der Pulslänge Δ (Grenz-Pulslänge) der Tiefpassfilter 10 Pulssignale filtert. Es wird hier ausdrücklich nochmals darauf hingewiesen, dass die hier beschriebene Ausbildung der Vorrichtung mit der anwendungsspezifischen Schaltung und ihren Komponenten 10, 12 und 14 die verlässliche Festlegung der Grenz-Pulslänge Δ des Tiefpassfilters 10 in Abhängigkeit von der Pulslänge Δ mit einer hohen Genauigkeit ermöglicht, obwohl kurze Pulssignale mit einer Pulslänge Δ bis zu 80 ns (Nanosekunden) von einer Vielzahl von schaltungsexterne Leitungen, wie sie zum elektrischen Anbinden mindestens einer schaltungsexternen Einheit zur Untersuchung des Tiefpassfilters herkömmlicher Weise notwendig wären, herausgefiltert werden.The evaluation device 14 comprises a pulse counter or an event counter (event monitor), which counts the pulse signals emerging at the signal output 10b of the low-pass filter 10 as measurement information. The number of pulse signals counted during the test interval by means of the pulse counter or event counter provides reliable information about the limit value of the pulse length Δ (limit pulse length) up to which the low-pass filter 10 filters pulse signals. It is expressly pointed out again here that the configuration of the device described here with the application-specific circuit and its components 10, 12 and 14 ensures reliable determination Adjustment of the limit pulse length Δ of the low-pass filter 10 as a function of the pulse length Δ with a high level of accuracy, although short pulse signals with a pulse length Δ of up to 80 ns (nanoseconds) from a large number of circuit-external lines, such as those used for electrically connecting at least one circuit-external Unit for examining the low-pass filter conventionally would be necessary to be filtered out.

2 zeigt ein Flussdiagramm zum Erläutern einer Ausführungsform des Verfahrens zur Filtercharakterisierung zumindest eines Teilbereichs einer Filtereinrichtung einer anwendungsspezifischen Schaltung. 2 shows a flow chart for explaining an embodiment of the method for filter characterization of at least a partial area of a filter device of an application-specific circuit.

In einem Verfahrensschritt S1 des Verfahrens zur Filtercharakterisierung wird mindestens ein Testsignal an einen Signaleingang zumindest des Teilbereichs der in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Filtereinrichtung während eines vorgegebenen oder festgelegten Testintervalls mittels einer an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Signalerzeugungseinrichtung ausgegeben. Wie oben bereits erläutert ist, kann insbesondere eine Testfolge von Testsignalen mit mindestens einer variierenden Signaleigenschaft, speziell eine der Signalerzeugungseinrichtung fest vorgegebene Testfolge von Testsignalen, mittels der Signalerzeugungseinrichtung an den Signaleingang zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung ausgegeben werden. Beispiele für eine derartige Testfolge sind oben schon beschrieben.In a method step S1 of the method for filter characterization, at least one test signal is output to a signal input of at least the partial area of the filter device arranged in the application-specific circuit during a predetermined or specified test interval by means of a signal-generating device arranged on or in the application-specific circuit. As already explained above, a test sequence of test signals with at least one varying signal property, specifically a test sequence of test signals predefined for the signal generating device, can be output by the signal generating device to the signal input of at least the partial area of the filter device. Examples of such a test sequence have already been described above.

Während des Testintervalls wird auch ein Verfahrensschritt S2 ausgeführt, in welchem als Messinformation mittels einer an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Auswerteeinrichtung ermittelt wird, ob das mindestens eine Testsignal an einem Signalausgang zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung austritt.A method step S2 is also carried out during the test interval, in which it is determined as measurement information by means of an evaluation device arranged on or in the application-specific circuit whether the at least one test signal exits at a signal output of at least the partial area of the filter device.

In einem weiteren Verfahrensschritt S3 wird dann mindestens eine Filtercharakteristik zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung unter Berücksichtigung der ermittelten Messinformation festgelegt. Auch der Verfahrensschritt S3 kann mittels der Auswerteeinrichtung ausgeführt werden. Sofern die Testfolge von Testsignalen der Signalerzeugungseinrichtung fest vorgegeben ist, kann eine Information auf der Auswerteeinrichtung hinterlegte/abgespeicherte bezüglich der mindestens einen variierenden Signaleigenschaft der Testfolge zum Ausführen des Verfahrensschritts S3 herangezogen werden.In a further method step S3, at least one filter characteristic of at least the partial area of the filter device is defined, taking into account the determined measurement information. Method step S3 can also be carried out using the evaluation device. If the test sequence of test signals of the signal generation device is fixed, information stored on the evaluation device relating to the at least one varying signal property of the test sequence can be used to carry out method step S3.

Auch das hier beschriebene Verfahren zur Filtercharakterisierung realisiert die oben schon aufgezählten Vorteile. Das Verfahren zur Filtercharakterisierung kann außerdem Teil eines Verfahrens zum Betreiben einer Filtereinrichtung einer anwendungsspezifischen Schaltung sein. In diesem Fall wird nach einem Ausführen der Verfahrensschritte S1 bis S3 noch ein Verfahrensschritt S4 ausgeführt, in welchem die Filtereinrichtung unter Berücksichtigung zumindest der mindestens einen Filtercharakteristik derart angesteuert wird, dass mindestens eine Filtereigenschaft der Filtereinrichtung neu eingestellt wird.The method for filter characterization described here also realizes the advantages already listed above. The method for filter characterization can also be part of a method for operating a filter device of an application-specific circuit. In this case, after method steps S1 to S3 have been carried out, a method step S4 is also carried out, in which the filter device is controlled taking into account at least the at least one filter characteristic such that at least one filter property of the filter device is reset.

Claims (10)

Vorrichtung mit einer anwendungsspezifischen Schaltung mit: einer in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Filtereinrichtung (10); gekennzeichnet, durch eine an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordnete Signalerzeugungseinrichtung (12), welche derart in Bezug zu der Filtereinrichtung (10) angeordnet ist und dazu ausgelegt und/oder programmiert ist, während eines vorgegebenen oder festgelegten Testintervalls mindestens ein Testsignal an einen Signaleingang (10a) zumindest eines Teilbereichs der Filtereinrichtung (10) auszugeben; und eine an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordnete Auswerteeinrichtung (14), welche derart in Bezug zu der Filtereinrichtung (10) angeordnet ist und dazu ausgelegt und/oder programmiert ist, während des Testintervalls als Messinformation zu ermitteln, ob das mindestens eine Testsignal an einem Signalausgang (10b) zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung (10) austritt, und unter Berücksichtigung der ermittelten Messinformation mindestens eine Filtercharakteristik zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung (10) festzulegen.Device with an application specific circuit with: a filter device (10) arranged in the application-specific circuit; marked by a signal generation device (12) arranged on or in the application-specific circuit, which is arranged in relation to the filter device (10) and is designed and/or programmed to send at least one test signal to a signal input (10a) at least during a predetermined or specified test interval to output a portion of the filter device (10); and an evaluation device (14) arranged on or in the application-specific circuit, which is arranged in relation to the filter device (10) and is designed and/or programmed to determine as measurement information during the test interval whether the at least one test signal is at a signal output (10b) of at least the partial area of the filter device (10) and, taking into account the measurement information determined, at least one filter characteristic of at least the partial area of the filter device (10) is defined. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Auswerteeinrichtung (14) oder eine Filteransteuereinrichtung Vorrichtung dazu ausgelegt und/oder programmiert ist, unter Berücksichtigung zumindest der mindestens einen selbstfestgelegten oder von der Auswerteeinrichtung (14) an die Filteransteuereinrichtung bereitgestellten Filtercharakteristik die Filtereinrichtung (10) derart anzusteuern, dass mindestens eine Filtereigenschaft der Filtereinrichtung (10) neu eingestellt ist.device after claim 1 , wherein the evaluation device (14) or a filter control device device is designed and/or programmed to control the filter device (10) in such a way that at least one filter property the filter device (10) is reset. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Signalerzeugungseinrichtung (12) dazu ausgelegt und/oder programmiert ist, während des Testintervalls eine Testfolge von Testsignalen mit mindestens einer variierenden Signaleigenschaft an den Signaleingang (10a) zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung (10) auszugeben.device after claim 1 or 2 , wherein the signal generating device (12) is designed and/or programmed to output a test sequence of test signals with at least one varying signal property to the signal input (10a) of at least the partial area of the filter device (10) during the test interval. Vorrichtung nach Anspruch 3, wobei die Signalerzeugungseinrichtung (12) dazu ausgelegt und/oder programmiert ist, während des Testintervalls als Testfolge von Testsignalen mit der mindestens einen variierenden Signaleigenschaft Testsignale, deren Signalintensität, Frequenz, Signaldauer, Tastverhältnis und/oder Pulslänge variiert, an den Signaleingang (10a) zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung (10) auszugeben.device after claim 3 , wherein the signal generating device (12) is designed and / or programmed during the Testinter to output test signals whose signal intensity, frequency, signal duration, pulse duty factor and/or pulse length varies as a test sequence of test signals with the at least one varying signal property to the signal input (10a) of at least the partial area of the filter device (10). Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Filtereinrichtung (10) einen Tiefpassfilter (10), einen Hochpassfilter, einen Bandpassfilter und/oder einen Pulsunterdrückungsfilter umfasst.Device according to one of the preceding claims, wherein the filter device (10) comprises a low-pass filter (10), a high-pass filter, a band-pass filter and/or a pulse suppression filter. Vorrichtung nach Anspruch 4 und 5, wobei die Filtereinrichtung (10) den Tiefpassfilter (10) umfasst, und die Signalerzeugungseinrichtung (12) dazu ausgelegt und/oder programmiert ist, während des Testintervalls als Testfolge von Testsignalen mit der mindestens einen variierenden Signaleigenschaft eine vorgegebene oder festgelegte Gesamtanzahl von Pulssignalen, deren Pulslänge (Δ) zwischen zwei nachfolgenden Pulssignalen mit einer vorgegebenen Zeitdifferenz zu- oder abnimmt, an den Signaleingang (10a) zumindest des Tiefpassfilters (10) der Filtereinrichtung (10) auszugeben, und wobei die Auswerteeinrichtung (14) einen Pulszähler oder Ereigniszähler umfasst, welcher als Messinformation die an dem Signalausgang (10b) zumindest des Tiefpassfilters (10) der Filtereinrichtung (10) austretenden Pulssignale zählt.device after claim 4 and 5 , wherein the filter device (10) comprises the low-pass filter (10), and the signal generating device (12) is designed and/or programmed to generate a predetermined or fixed total number of pulse signals during the test interval as a test sequence of test signals with the at least one varying signal property Pulse length (Δ) between two subsequent pulse signals increases or decreases with a predetermined time difference, to the signal input (10a) of at least the low-pass filter (10) of the filter device (10), and wherein the evaluation device (14) comprises a pulse counter or event counter, which counts the pulse signals emerging at the signal output (10b) of at least the low-pass filter (10) of the filter device (10) as measurement information. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Auswerteeinrichtung (14) über einen digitalen Testbus mit dem Signalausgang (10b) zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung (10) verbunden ist.Device according to one of the preceding claims, in which the evaluation device (14) is connected to the signal output (10b) of at least the partial area of the filter device (10) via a digital test bus. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Signalerzeugungseinrichtung (12) und/oder die Auswerteeinrichtung (14) innerhalb der Filtereinrichtung (10) angeordnet sind.Device according to one of the preceding claims, wherein the signal generation device (12) and/or the evaluation device (14) are arranged within the filter device (10). Verfahren zur Filtercharakterisierung zumindest eines Teilbereichs einer Filtereinrichtung (10) einer anwendungsspezifischen Schaltung mit den Schritten: Ausgeben mindestens eines Testsignals an einen Signaleingang (10a) zumindest des Teilbereichs der in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Filtereinrichtung (10) während eines vorgegebenen oder festgelegten Testintervalls mittels einer an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Signalerzeugungseinrichtung (12)(S1); Ermitteln als Messinformation während des Testintervalls, ob das mindestens eine Testsignal an einem Signalausgang (10b) zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung (10) austritt, mittels einer an oder in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Auswerteeinrichtung (14)(S2); und Festlegen mindestens einer Filtercharakteristik zumindest des Teilbereichs der Filtereinrichtung (10) unter Berücksichtigung der ermittelten Messinformation (S3).Method for filter characterization of at least a partial area of a filter device (10) of an application-specific circuit with the steps: Outputting at least one test signal to a signal input (10a) of at least the partial area of the filter device (10) arranged in the application-specific circuit during a predetermined or specified test interval by means of a signal-generating device (12) (S1) arranged on or in the application-specific circuit; determining as measurement information during the test interval whether the at least one test signal exits at a signal output (10b) of at least the partial area of the filter device (10) by means of an evaluation device (14) (S2) arranged on or in the application-specific circuit; and Defining at least one filter characteristic of at least the partial area of the filter device (10) taking into account the determined measurement information (S3). Verfahren zum Betreiben einer Filtereinrichtung (10) einer anwendungsspezifischen Schaltung mit den Schritten: Festlegen mindestens einer Filtercharakteristik zumindest eines Teilbereichs der in der anwendungsspezifischen Schaltung angeordneten Filtereinrichtung (10) gemäß dem Verfahren nach Anspruch 9; und Ansteuern der Filtereinrichtung (10) unter Berücksichtigung zumindest der mindestens einen Filtercharakteristik derart, dass mindestens eine Filtereigenschaft der Filtereinrichtung (10) neu eingestellt wird (S4).Method for operating a filter device (10) of an application-specific circuit, comprising the steps of: determining at least one filter characteristic of at least a partial area of the filter device (10) arranged in the application-specific circuit according to the method claim 9 ; and activating the filter device (10), taking into account at least the at least one filter characteristic, in such a way that at least one filter property of the filter device (10) is reset (S4).
DE102021211127.0A 2021-10-04 2021-10-04 Device with an application-specific circuit and method for filter characterization of at least a partial area of a filter device of an application-specific circuit Pending DE102021211127A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102021211127.0A DE102021211127A1 (en) 2021-10-04 2021-10-04 Device with an application-specific circuit and method for filter characterization of at least a partial area of a filter device of an application-specific circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102021211127.0A DE102021211127A1 (en) 2021-10-04 2021-10-04 Device with an application-specific circuit and method for filter characterization of at least a partial area of a filter device of an application-specific circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102021211127A1 true DE102021211127A1 (en) 2023-04-06

Family

ID=85570954

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102021211127.0A Pending DE102021211127A1 (en) 2021-10-04 2021-10-04 Device with an application-specific circuit and method for filter characterization of at least a partial area of a filter device of an application-specific circuit

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102021211127A1 (en)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004006323A1 (en) 2004-02-10 2005-08-25 Conti Temic Microelectronic Gmbh Filtering of a sensor signal, that is applied to a motor vehicle safety system, whereby a cut-off frequency is adjusted dependent on the sensor output signal curve

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004006323A1 (en) 2004-02-10 2005-08-25 Conti Temic Microelectronic Gmbh Filtering of a sensor signal, that is applied to a motor vehicle safety system, whereby a cut-off frequency is adjusted dependent on the sensor output signal curve

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3126181B1 (en) Method for checking a connection between a low-voltage supply system and a battery, and motor vehicle
EP3278093B1 (en) Method to control a sensor
DE102009002682B4 (en) Device and method for residual evaluation of a residual for detecting system errors in the system behavior of a system of an aircraft
DE102016113624B4 (en) Motor drive with a function of detecting circuit abnormalities due to the intrusion of foreign matter before a significant abnormality occurs
DE2727201A1 (en) TOUCH CONTROL BUTTONS
DE102014206292B4 (en) Electronic control device
WO2019007878A1 (en) Device and method for checking the functionality of a system resistor of a battery system
EP3233578B1 (en) Monitoring device for at least one ignition circuit for a personal protection means for a vehicle, and method for operating a monitoring device
DE102021211127A1 (en) Device with an application-specific circuit and method for filter characterization of at least a partial area of a filter device of an application-specific circuit
DE19527744A1 (en) Input circuit for wheel rpm sensor used in e.g. ABS of motor vehicle
DE102014113545A1 (en) Device and method for monitoring a process variable of a medium
DE102011081026A1 (en) Method for functional testing of an inertial sensor and inertial sensor
DE102008042847A1 (en) Apparatus and method for checking a frequency modulated clock
DE102007011817A1 (en) Error e.g. assembly error, locating method for printed circuit board, involves obtaining test parameters from correlation analysis of signal subjected in circuit and signal measured at circuit
DE102018212988A1 (en) Error detection method for a particle filter
DE102005058719A1 (en) Autonomous capacitor testing circuit arrangement for motor vehicle, has measuring circuit measuring voltage characteristics at capacitor, and evaluation circuit testing capacitance of capacitor by evaluation of measured characteristics
EP4229491A1 (en) Error analysis in a sensor
WO2004083871A1 (en) Method and device for detecting a rotational speed, especially the rotational speed of the wheel of a vehicle
EP3404430A1 (en) Method for monitoring an operation of a binary interface and related binary interface
WO2022083999A1 (en) Error analysis in a sensor array in respect of unstable errors
DE102008026741B4 (en) Method for detecting the functionality of a lambda probe in a controlled system
EP3404431B1 (en) Method for monitoring an operation of a binary interface and related binary interface
DE19722549A1 (en) Electrical measuring device or electrical measuring method for generating an electrical signal
DE102010003254A1 (en) Method for checking short circuit in control unit of motor car, involves checking whether two signals resting at terminal are equal to or under threshold values in relation to voltages, respectively such that defect of sensor is detected
DE102006042184A1 (en) Circuit arrangement and method for converting a signal

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication