DE102011077087A1 - Method for forming image of body part of patient in medical field, involves removing expected-proportion of scattering radiation portion from total radiation before concluding image processing - Google Patents
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Abstract
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bilderzeugung insbesondere im Bereich der Medizintechnik mit Hilfe einer Strahlungsquelle und einem multipixel Strahlungsdetektor, wobei die von der Strahlungsquelle erzeugte Strahlung auf ein zu untersuchendes Objekt und nachfolgend auf den Strahlungsdetektor trifft. Die Erfindung betrifft weiterhin ein bilderzeugendes Gerät, insbesondere Röntgengerät zur Durchführung dieses Verfahrens. The invention relates to a method for image generation, in particular in the field of medical technology, with the aid of a radiation source and a multipixel radiation detector, wherein the radiation generated by the radiation source impinges on an object to be examined and subsequently on the radiation detector. The invention further relates to an image-forming apparatus, in particular X-ray apparatus for carrying out this method.
Bei einem solchen bildgebenden Verfahren zur Untersuchung von Objekten, im Bereich der Medizintechnik also eines Körperteils eines Patienten, wird aus dem durch das Objekt transmittierten Anteil der Strahlung, die mit einem Strahlungsdetektor messtechnisch erfasst wird, auf die Objektbeschaffenheit oder den Objektaufbau geschlossen. In such an imaging method for the examination of objects, ie in the field of medical technology of a body part of a patient, the object texture or object structure is inferred from the portion of the radiation transmitted through the object, which is detected metrologically with a radiation detector.
Ein Teil der auf das Objekt gerichteten Strahlung wird jedoch bei der Wechselwirkung mit dem Objekt gestreut und gelangt dementsprechend nicht auf direktem Weg von einer Strahlungsquelle, die die Strahlung erzeugt, zum Strahlungsdetektor. Dieser vom Strahlungsdetektor erfasste Streuanteil der Strahlung wirkt als eine Art Hintergrundrauschen und verringert daher das Kontrastauflösevermögen des bildgebenden Verfahrens. However, a portion of the radiation directed to the object is scattered in the interaction with the object and accordingly does not pass directly to the radiation detector from a radiation source which generates the radiation. This scattered portion of the radiation detected by the radiation detector acts as a kind of background noise and therefore reduces the contrast resolving power of the imaging method.
Zur Verbesserung der mit einem solchen bildgebenden Verfahren erzielbaren Bildqualität besteht die Möglichkeit, die mittels Strahlungsdetektor erzeugten Messsignale mit Hilfe eines mathematischen Algorithmus nachzubearbeiten, um die durch den Streuanteil hervorgerufenen Effekte zu verringern. Hierbei wird zunächst ein einfaches Modell des zu untersuchenden Objekts vorgegeben und nachfolgend wird die zu erwartende Streuung der Strahlung an diesem Modell kalkuliert. Der so berechnete Streuanteil der Strahlung wird in der Folge von der messtechnisch erfassten Strahlung abgezogen. Die Effektivität diese Methode zur Verbesserung der Bildqualität hängt unter anderem davon ab, wie gut das zu untersuchende Objekt vom vorgegebenen Modell repräsentiert wird. Dies ist bei einem Patienten als Objekt nur sehr schwer möglich, da – um unnötige Strahlenbelastungen für den Patienten zu vermeiden – vor der Untersuchung des Patienten in der Regel nur wenige Informationen zur Verfügung stehen, um ein geeignetes Modell zu bestimmen. In order to improve the image quality achievable with such an imaging method, it is possible to post-process the measurement signals generated by means of a radiation detector with the aid of a mathematical algorithm in order to reduce the effects caused by the scattering component. Here, a simple model of the object to be examined is first given, and subsequently the expected scattering of the radiation on this model is calculated. The calculated proportion of radiation is deducted as a result from the metrologically detected radiation. The effectiveness of this method of improving the image quality depends, among other things, on how well the object to be examined is represented by the given model. This is very difficult for a patient as an object because in order to avoid unnecessary radiation exposure for the patient, there is generally only a small amount of information available before the examination of the patient in order to determine a suitable model.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine verbesserte Bilderzeugung zu ermöglichen. The invention has for its object to enable improved image formation.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1 sowie durch ein bilderzeugendes Gerät, insbesondere Röntgengerät zur Durchführung des Verfahrens. Die rückbezogenen Ansprüche beinhalten teilweise vorteilhafte und teilweise für sich selbst erfinderische Weiterbildungen dieser Erfindung. This object is achieved by a method having the features of claim 1 and by an image-forming device, in particular X-ray apparatus for performing the method. The dependent claims include in part advantageous and in part self-inventive developments of this invention.
Das Verfahren dient zur Bilderzeugung mit Hilfe einer Strahlungsquelle und einem multipixel Strahlungsdetektor, wobei die von der Strahlungsquelle erzeugte Strahlung zunächst auf ein zu untersuchendes Objekt und nachfolgend auf den Strahlungsdetektor trifft. Im Rahmen des Verfahrens wird aus der auf den Strahlungsdetektor auftreffenden und somit signaltechnisch erfassten Strahlung ein Basis-Streuanteil ermittelt, mit dessen Hilfe eine Modellkalkulation vorgenommen wird, um ein Modell des zu untersuchenden Objekts zu bilden. Auf der Basis des Modells wird in der Folge eine Streukalkulation zur Bestimmung des zu erwartenden Streuanteils der auf den Strahlungsdetektor auftreffenden Strahlung vorgenommen und im Vorfeld einer abschließenden Bildaufbereitung wird der zu erwartende Streuanteil von der auf den Strahlungsdetektor auftreffenden Strahlung abgezogen. Bei der abschließenden Bildaufbereitung erfolgt dann je nach Anwendungszweck beispielsweise eine Umwandlung der mit Hilfe des Verfahrens generierten Daten derart, dass sich diese schließlich an einem Monitor graphisch darstellen lassen. Alternativ dienen diese Daten zum Beispiel als Basis für eine Rekonstruktion gemäß dem in der auf die Anmelderin zurückgehenden Offenlegungsschrift
Bei der Anwendung des Verfahrens wird demnach ein Teil der Informationen, die bei der Untersuchung des Objekts mittels Strahlung gewonnen werden, zunächst genutzt, um ein geeignetes Modell für die Streukalkulation zu bestimmen. Damit werden bei diesem Verfahren wesentlich mehr Informationen für das Modell herangezogen, als dies bei bekannten Verfahren der Fall ist. Das Modell für die Streukalkulation wird aus den tatsächlichen Messwerten des zu untersuchenden Objektes bestimmt. Das Modell ist dementsprechend deutlich besser geeignet, um das zu untersuchende Objekt zu repräsentieren, weswegen die auf diesem Modell basierende Streukalkulation sehr viel realistischere Ergebnisse liefert. Dies führt schließlich dazu, dass die Nachbearbeitung der mit Hilfe des Strahlungsdetektors generierten Messsignale effektiver ist und dass das Kontrastauflösevermögen des bildgebenden Verfahrens weiter gesteigert wird. In the application of the method, therefore, a part of the information that is obtained in the examination of the object by means of radiation, first used to determine a suitable model for the scatter calculation. Thus, in this method much more information is used for the model than is the case with known methods. The model for the scatter calculation is determined from the actual measured values of the object to be examined. Accordingly, the model is much better suited to represent the object to be examined, which is why the scatter calculation based on this model gives much more realistic results. This ultimately leads to the fact that the post-processing of the measurement signals generated with the aid of the radiation detector is more effective and that the contrast resolution capability of the imaging method is further increased.
Unter multipixel Strahlungsdetektor wird allgemein ein digitaler Detektor, vorzugsweise ein Röntgendetektor, mit einem Array aus sensoraktiven Elementen (Pixel) verstanden. Als Strahlungsquelle wird vorzugsweise ein Röntgenstrahler eingesetzt. Multipixel radiation detector is generally understood to mean a digital detector, preferably an X-ray detector, with an array of sensor-active elements (pixels). The radiation source used is preferably an X-ray source.
Einer bevorzugten Verfahrensvariante entsprechend wird als Basis-Streuanteil derjenige Strahlungsanteil genutzt, der auf vorgegebene Referenz-Pixel des multipixel Strahlungsdetektors auftrifft. Als Referenz-Pixel werden hierbei vorzugsweise diejenigen Pixel vorgegeben, auf die ausschließlich gestreute Strahlung auftrifft. Dabei ist sicherzustellen, dass auf eine geeignet große Anzahl von Pixeln ausschließlich gestreute Strahlung auftrifft. Diese stark vereinfachte Vorgehensweise erlaubt es, den mathematischen und technischen Aufwand zur Realisierung des Verfahrens gering zu halten. Diese Ausgestaltung beruht auf der Überlegung, dass üblicherweise einige Pixel ausschließlich mit Streustrahlung beaufschlagt werden, die sich eindeutig identifizieren lassen. Beispielsweise lassen sich diese Pixel anhand pixelspezifischer Messwerte identifizieren, die charakteristisch für die Streustrahlung sind. According to a preferred process variant, the basic scatter proportion is the one Used radiation fraction which impinges on predetermined reference pixels of the multipixel radiation detector. As reference pixels in this case preferably those pixels are given, is incident on the only scattered radiation. It must be ensured that only a scattered radiation hits a suitable large number of pixels. This simplistic procedure makes it possible to keep the mathematical and technical effort required to realize the method low. This embodiment is based on the consideration that usually some pixels are only exposed to stray radiation, which can be clearly identified. For example, these pixels can be identified by means of pixel-specific measured values which are characteristic of the scattered radiation.
Üblicherweise ist in den Strahlengang ein strahlbegrenzendes Objekt, wie eine Blende und/oder ein Kollimator, als röntgenabsorbierendes Hindernis eingefügt, die einen Strahlungsbereich auf der Detektorfläche definieren. Messsignale von Pixeln außerhalb dieses Strahlungsbereiches werden in bevorzugter Ausgestaltung der Streustrahlung zugewiesen. Usually, a beam-limiting object, such as a diaphragm and / or a collimator, is inserted in the beam path as an X-ray-absorbing obstacle which defines a radiation area on the detector surface. Measurement signals of pixels outside this radiation range are assigned in a preferred embodiment of the scattered radiation.
Vorzugsweise wird daher allgemein ein röntgenabsorbierendes Hindernis zwischen der Strahlungsquelle und dem Strahlungsdetektor zur Festlegung der Referenz-Pixel genutzt. Bei dem röntgenabsorbierenden Hindernis handelt es sich dabei üblicherweise um einen Kollimator, also insbesondere ein Bauteil, welches von einem Bediener bezüglich seiner Form und/oder seiner Position manipulierbar ist, so dass sich beispielsweise die Anzahl der Referenz-Pixel bei gegebener Gesamtanzahl von Pixeln verändert lässt. Preferably, therefore, an X-ray absorbing barrier between the radiation source and the radiation detector is generally used to define the reference pixels. The x-ray-absorbing obstacle is usually a collimator, ie in particular a component which can be manipulated by an operator with regard to its shape and / or position, so that, for example, the number of reference pixels can be changed for a given total number of pixels ,
Zweckdienlicherweise werden daher als Referenz-Pixel diejenigen Pixel vorgegeben, auf die bei Zugrundelegung von Geometrischer Optik keine Strahlung auf direktem Weg von der Strahlungsquelle zu den entsprechenden Pixeln gelangt, die also außerhalb des zu erwartenden Strahlungsbereiches liegen. Anders ausgedrückt wird davon ausgegangen, dass die Strahlung mangels direktem Zugang zu den Referenz-Pixeln gestreut wurde, und dass dementsprechend die gesamte auf ein derartiges Pixel entfallende Strahlung Teil des Streuanteils ist. Conveniently, therefore, those pixels are predetermined as reference pixels, on the basis of Geometric optics no radiation passes directly from the radiation source to the corresponding pixels, which are therefore outside the expected radiation range. In other words, it is assumed that the radiation was scattered for lack of direct access to the reference pixels, and accordingly that the total of the radiation attributable to such a pixel is part of the scattered fraction.
In einer Ausführungsvariante werden als Referenz-Pixel beispielsweise solche Pixel bestimmt, auf die ein Maß an Strahlung auftrifft, welches unterhalb eines vorgegebenen Schwellwertes liegt. In one embodiment, for example, those pixels are determined as reference pixels, to which a measure of radiation impinges, which lies below a predetermined threshold value.
Vorzugsweise werden jedoch die Referenz-Pixel mathematisch mit Hilfe einer Projektionskalkulation ermittelt. Bei dieser werden die konstruktionsbedingten und daher bekannten Eigenschaften der Strahlungsquelle und des Strahlungsdetektors sowie deren Anordnung zueinander sowie die Anordnung der strahlbegrenzenden Objekte (Blende / Kollimator) berücksichtigt, um eine zu erwartende Schattenbildung auf dem Strahlungsdetektor zu berechnen. Die sich aus den strahlbegrenzenden Objekten ergebende Schattenbildung lässt sich durch eine einfache Projektion ermitteln. Durch diese mathematische Bestimmung werden Falschidentifizierungen von Pixeln als Referenz-Pixel beispielsweise aufgrund von Implantaten im zu untersuchenden Körperteil vermieden. Preferably, however, the reference pixels are determined mathematically with the aid of a projection calculation. In this, the design-related and therefore known properties of the radiation source and the radiation detector and their arrangement to one another and the arrangement of the beam-limiting objects (aperture / collimator) are taken into account in order to calculate an expected shadowing on the radiation detector. The shadowing resulting from the beam-limiting objects can be determined by a simple projection. Due to this mathematical determination, false identifications of pixels as reference pixels, for example due to implants in the body part to be examined, are avoided.
Gemäß einer Weiterentwicklung des Verfahrens werden bei der Projektionskalkulation relative Positions- und Lageänderungen zwischen der Strahlungsquelle und dem Strahlungsdetektor berücksichtigt. Als relative Positionsänderungen sind in diesem Kontext daher vor allem diejenigen relativen Positionsänderungen zu verstehen, die nicht durch einen Verstellmechanismus vorgegeben werden. Sind beispielsweise die Strahlungsquelle und der Strahlungsdetektor durch eine gemeinsame Haltevorrichtung relativ zueinander fest angeordnet, so stehen die relativen Positionsänderungen in diesem Fall zum Beispiel für relative Positionsänderungen, die sich durch eine Verwindung der gemeinsamen Haltevorrichtung ergeben. Ergänzend oder alternativ dazu ist es außerdem vorgesehen, auf diesem Wege relative Positionsänderungen zu berücksichtigen, die sich beispielsweise durch Alterungserscheinungen im Verstellmechanismus ergeben. Durch diese Maßnahme werden daher Abweichungen von einer Soll-Positionierung der einzelnen Komponenten berücksichtigt, die aufgrund beispielsweise von Verwindungen im Tragsystem auftreten. Aufgrund dieser Verwindungen ist eine zuverlässige Berechnung der Abbildung der Kollimatoren im Bild nur begrenzt möglich. According to a further development of the method, relative position and position changes between the radiation source and the radiation detector are taken into account in the projection calculation. As relative position changes are therefore in this context, especially those relative changes in position to understand that are not dictated by an adjustment. If, for example, the radiation source and the radiation detector are fixed relative to one another by a common holding device, the relative position changes in this case are, for example, relative positional changes which result from a distortion of the common holding device. Additionally or alternatively, it is also provided to take into account in this way relative changes in position, resulting for example by aging phenomena in the adjustment. By this measure, deviations from a desired positioning of the individual components are therefore taken into account, which occur due to, for example, torsions in the support system. Due to these distortions, a reliable calculation of the image of the collimators in the image is only possible to a limited extent.
Einer zweckmäßigen Verfahrensvariante entsprechend werden zur Berücksichtigung der relativen Positionsänderungen hinterlegte Kalibrierungsdaten genutzt. Dabei kann es sich um einzelne Parameter, um eine oder mehrere Eichkurven oder um vergleichbare Datensätze handeln, die die Anordnung aus Strahlungsquelle und Strahlungsdetektor näher charakterisieren. Dies beruht auf der Überlegung, dass für definierte Positionen der Strahlungsquelle die Relativpositionen der weiteren Komponenten wie Kollimator und Röntgendetektor definiert sind. Lediglich beim Verstellen der Röntgenanlage können Variationen in der Relativposition auftreten, die jedoch reproduzierbar sind. In accordance with a suitable method variant, calibration data stored in order to take into account the relative position changes are used. These can be individual parameters, one or more calibration curves or comparable data sets which characterize the arrangement of radiation source and radiation detector in more detail. This is based on the consideration that for defined positions of the radiation source the relative positions of the further components such as collimator and X-ray detector are defined. Only when adjusting the X-ray system can variations in the relative position occur, but they are reproducible.
Vorzugsweise werden daher als Kalibrierungsdaten eine Anzahl von relativen Positionen der Strahlungsquelle und des Strahlungsdetektors zueinander in Abhängigkeit von Positionsvorgaben hinterlegt. Dabei ist es insbesondere vorgesehen, die Anordnung aus Strahlungsquelle und Strahlungsdetektor im Rahmen einer Kalibrierungs- oder Eichmessung in diskrete Positionen zu bringen und für jede diskrete Position eine Bestimmung der relativen Positionen der Strahlungsquelle und des Strahlungsdetektor zueinander zu ermitteln. Preferably, therefore, a number of relative positions of the radiation source and of the radiation detector relative to one another are stored as calibration data as a function of position specifications. In this case, it is provided in particular, the arrangement of radiation source and radiation detector in the context of a calibration or To bring calibration measurement in discrete positions and to determine a determination of the relative positions of the radiation source and the radiation detector to each other for each discrete position.
Einer Weiterentwicklung dieser Verfahrensvariante entsprechend sind zwischen 10 und 200 sowie vorzugsweise zwischen 20 und 80 relative Positionen als Kalibrierungsdaten vorgesehen. Bei einer Position, für die keine Kalibrierungsdaten hinterlegt sind, werden dann vorzugsweise relative Positionen durch Interpolation bestimmt. Auf diese Weise lassen sich relative Positionsänderungen zwischen der Strahlungsquelle und dem Strahlungsdetektor verhältnismäßig aufwandsarm berücksichtigen. According to a further development of this method variant, between 10 and 200 and preferably between 20 and 80 relative positions are provided as calibration data. At a position for which no calibration data is stored, then preferably relative positions are determined by interpolation. In this way, relative changes in position between the radiation source and the radiation detector can be considered with relatively little effort.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand einer schematischen Zeichnung näher erläutert. Die einzige Figur zeigt in einer Seitenansicht ein Röntgengerät. The invention will be explained in more detail with reference to a schematic drawing. The single FIGURE shows a side view of an X-ray machine.
Im nachfolgend beschriebenen Ausführungsbeispiel wird das Verfahren zur Bilderzeugung mit Hilfe eines Röntgengerätes
Für den C-Bogen
Darüber hinaus umfasst das Röntgengerät
Mit dem Röntgengerät wird die zu untersuchende Körperregion durchleuchtet. Die auf den Röntgendetektor
Ein Anteil der Röntgenstrahlung wird bei der Wechselwirkung mit der Materie des zu untersuchenden Objekts gestreut, wobei dieser Anteil der Röntgenstrahlung nachfolgend signaltechnisch als Hintergrundrauschen wirkt und somit die Bildqualität, genauer das Kontrastauflösevermögen, reduziert. A portion of the X-ray radiation is scattered in the interaction with the matter of the object to be examined, wherein this portion of the X-ray subsequently signal technology acts as background noise and thus reduces the image quality, more precisely the contrast resolving power.
Aus diesem Grund werden die vom Röntgendetektor
Die durch die Streustrahlung hervorgerufenen Messsignale am Röntgendetektor
Zur rechnerischen Bestimmung der Streustrahlung ist ein mathematisches Modell des zu untersuchenden Objekts erforderlich. Je genauer das mathematische Modell ist, desto besser ist der errechnete Streustrahlungsanteil und umso besser ist das rekonstruierte Bild. For mathematical determination of the scattered radiation, a mathematical model of the object to be examined is required. The more accurate the mathematical model, the better the calculated scattered radiation component and the better the reconstructed image.
Bei dem hier beschriebenen Verfahren zur Bilderzeugung wird zunächst aus bei der Untersuchung des Patienten vom Röntgendetektor
Zur Ermittlung des Modells werden in einem ersten Schritt Referenz-Pixel bestimmt, auf die lediglich Streustrahlung trifft. Dieser Anteil der Streustrahlung wird als Basis-Streuanteil bezeichnet. To determine the model, reference pixels are determined in a first step, to which only scattered radiation hits. This proportion of scattered radiation is referred to as the basic scatter proportion.
Im zweiten Schritt wird aus diesem Basis-Streuanteil das mathematische Modell geformt, und zwar derart, dass der mit dem Modell errechnete Basis-Streuanteil der Referenz-Pixel mit dem tatsächlich gemessenen Basis-Streuanteil zumindest weitgehend übereinstimmt. In the second step, the mathematical model is formed from this basic scatter proportion, in such a way that the base scatter proportion of the reference pixels calculated with the model at least largely coincides with the actually measured basic scatter proportion.
Im dritten Schritt wird schließlich dieses ermittelte Modell für die Kalkulation der zu erwartenden Streustrahlung für alle Pixel des Röntgendetektors
Für die Bestimmung der Referenz-Pixel im ersten Schritt wird der Umstand ausgenutzt, dass der Kollimator
Bei der auf die Referenz-Pixel auftreffenden Röntgenstrahlung handelt es sich bei Zugrundelegung von geometrischer Optik somit ausschließlich um gestreute Röntgenstrahlung. The incident on the reference pixels X-ray radiation is based on geometric optics thus only scattered X-rays.
Die gestreute Röntgenstrahlung oder vielmehr die Messsignale der Referenz-Pixel werden im Rahmen des Verfahrens genutzt, um im zweiten Schritt das Modell des zu untersuchenden Objekts zu generieren und auf Basis des Modells schließlich im dritten Schritt die Streukalkulation zur Bestimmung des zu erwartenden Streuanteils der auf den Röntgendetektor
Die Bestimmung des Modells im zweiten Schritt erfolgt dabei vorzugsweise in einem Iterationsverfahren, bei dem zunächst ein sehr einfaches abgespeichertes Basismodell genutzt wird, um dessen Streuungsverhalten zu simulieren. Das so berechnete Streustrahlungsmuster wird sodann mit den Messsignalen der Referenz-Pixel verglichen. Im Folgenden wird das Basismodell vorzugsweise Schritt für Schritt solange angepasst, bis eine Übereinstimmung des Streustrahlungsmusters mit den Messsignalen der Referenz-Pixel in einem vorgegebenen Maß vorliegt. The determination of the model in the second step is preferably carried out in an iteration method, in which initially a very simple stored base model is used to simulate its scattering behavior. The scattered radiation pattern thus calculated is then compared with the measurement signals of the reference pixels. In the following, the basic model is preferably adjusted step by step until there is a match of the scattered radiation pattern with the measurement signals of the reference pixels to a predetermined extent.
Das auf diese Weise generierte Modell wird dann der Streukalkulation im dritten Schritt zugrunde gelegt, wodurch der damit berechnete Streuanteil der Röntgenstrahlung den tatsächlichen Streuanteil der Röntgenstrahlung recht gut repräsentiert. Berechnet werden dabei die entsprechenden Streuanteile für sämtliche Pixel, also nicht nur für die Referenz-Pixel, und dieser berechnete Streuanteil eines jeden Pixels wird schließlich im Vorfeld einer abschließenden Bildaufbereitung von dem Anteil der Strahlung subtrahiert, der tatsächlich auf das entsprechende Pixel entfallen ist. The model generated in this way is then used as a basis for the scatter calculation in the third step, as a result of which the scattered portion of the X-ray radiation calculated in this way represents the actual scattered portion of the X-radiation quite well. In this case, the corresponding scattering proportions are calculated for all pixels, that is to say not just for the reference pixels, and this calculated scatter proportion of each pixel is finally subtracted from the fraction of the radiation actually attributable to the corresponding pixel in advance of a final image preparation.
Zur Festlegung derjenigen Pixel im ersten Schritt, die als Referenz-Pixel der Bestimmung des Modells zugrunde gelegt werden, erfolgt die Berechnung der zu erwartenden Schattenbildung auf dem Röntgendetektor
Der C-Bogen
Dafür werden im Rahmen einer Kalibrierungs- oder Eichmessung verschiedene Positionen des C-Bogens
Insbesondere wird für jede der Kalibrier-Position eine Projektionskalkulation bestimmt, nämlich in der Regel eine mathematische Matrix, die die Projektion beschreibt. In particular, a projection calculation is determined for each of the calibration positions, namely as a rule a mathematical matrix which describes the projection.
Wird nachfolgend bei einer Untersuchung eines Objektes eine relative Position des C-Bogens
Die Erfindung ist nicht auf das vorstehend beschriebene Ausführungsbeispiel beschränkt. Vielmehr können auch andere Varianten der Erfindung von dem Fachmann hieraus abgeleitet werden, ohne den Gegenstand der Erfindung zu verlassen. Insbesondere sind ferner alle im Zusammenhang mit dem Ausführungsbeispiel beschriebenen Einzelmerkmale auch auf andere Weise miteinander kombinierbar, ohne den Gegenstand der Erfindung zu verlassen. The invention is not limited to the embodiment described above. Rather, other variants of the invention can be derived therefrom by the person skilled in the art without departing from the subject matter of the invention. In particular, all the individual features described in connection with the exemplary embodiment can also be combined with each other in other ways, without departing from the subject matter of the invention.
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 2 2
- Röntgengerät X-ray machine
- 4 4
- Röntgenquelle X-ray source
- 6 6
- Röntgendetektor X-ray detector
- 8 8th
- C-Bogen C-arm
- 10 10
- Kollimator collimator
- 12 12
- Auswerteeinheit/Elektronikeinheit Processor / electronics unit
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- DE 10238322 A1 [0007] DE 10238322 A1 [0007]
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---|---|---|---|
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DE102011077087A DE102011077087A1 (en) | 2011-06-07 | 2011-06-07 | Method for forming image of body part of patient in medical field, involves removing expected-proportion of scattering radiation portion from total radiation before concluding image processing |
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Citations (2)
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---|---|---|---|---|
DE10238322A1 (en) | 2002-08-21 | 2004-03-11 | Siemens Ag | Method for retrospective or window controlled filtering of computer tomography (CT) images e.g. for adapting sharpness and noise, involves automatic computation of CT-image sharpness of selected layer in primary data record |
DE112008002640T5 (en) * | 2007-10-03 | 2010-08-12 | General Electric Company | Correction of the slot collimator spread |
-
2011
- 2011-06-07 DE DE102011077087A patent/DE102011077087A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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